KR101009618B1 - Ｌｅｄ 검사장치 - Google Patents

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류득현
배정태
이석호
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Abstract

본 발명은 LED 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 검사를 마친 LED 칩을 그 등급에 따라 분류 배출함에 있어서 그 분류 배출 시간을 단축시킬 수 있음은 물론, LED 칩을 동시에 2개씩 검사하거나 또는 1개씩 검사하는 모드를 설정할 수 있는 LED 검사장치에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명에 따른 LED 검사장치는 반 원통형상으로 이루어진 분배 몸체와, 상기 분배 몸체의 내주면으로부터 외주면까지 관통하여 형성되되, 상기 분배 몸체의 전면(全面)에 걸쳐 일정 간격마다 구비된 등급 분류공과, 검사가 마쳐진 상기 LED 칩을 공급받아, 상기 등급 분류공 중 어느 하나를 통해 배출하는 분류 로봇 및 상기 LED 칩을 2개씩 검사하는 검사 모드 및 상기 LED 칩을 1개씩 검사하는 검사 모드 중 어느 하나의 모드를 설정하는 모드 설정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
LED, 검사, 등급, 분류, 반 원통형, 분배 몸체, 모드 설정부

Description

ＬＥＤ 검사장치{Inspection apparatus for light emitting diode}
본 발명은 LED 검사장치에 관한 것으로, 특히 검사를 마친 LED 칩을 그 등급에 따라 분류 배출함에 있어서 그 분류 배출 시간을 단축시킬 수 있음은 물론, LED 칩을 동시에 2개씩 검사하거나 또는 1개씩 검사하는 모드를 설정할 수 있는 LED 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 LED(Light Emitting Diode)는 대량 생산에 적합하면서도 불량율을 감소시킬 수 있도록 생산된 LED 칩을 검사하여 불량품을 자동으로 선별 및 제거함은 물론, 그 품질에 따라 LED 칩의 등급을 분류한다.
이를 위해 종래에는 칩 피더(feeder)로부터 공급된 LED 칩을 스테이지에 올려 놓은 상태에서 검사 대상 LED 칩에 동작 전원을 인가하여 LED 칩이 발광하도록 하고, 이때 LED 칩의 발광상태를 카메라로 촬영하여 해당 엘이디 칩을 검사한다.
한편, 종래에는 이상과 같이 검사된 LED 칩을 그 등급별로 분류 및 수집하기 위해서, 상기 등급과 동일한 개수의 등급 분류공이 형성되어 있는 분배 몸체를 구 비하고, 분류 로봇을 이용하여 상기 분배 몸체의 등급 분류공 중 어느 하나를 통해 LED 칩을 등급별로 배출하였다.
그러나, 이상과 같은 분배 몸체가 평판 형상으로 이루어져 있는 경우에는, 상기 분류 로봇이 분배 몸체의 중심점으로부터 각 지점까지의 이동거리가 길어서 이동시간이 길고, 그에 따라 LED 칩의 분류 배출에 많은 시간이 필요하므로 대량 생산에 적합하지 않다는 문제점이 있었다.
이에, 분배 몸체를 반 구(hemi-sphere) 형상으로 제작하여 사용하기도 하였는데, 이러한 반 구 형상의 분배 몸체는 반 구의 중심점으로부터 각 지점까지의 이동 거리가 동일하고 그 이동 거리도 짧다는 장점은 있으나, 그 제작이 극히 어렵다는 문제점이 있었다.
뿐만 아니라, 종래에는 필요에 따라서 LED 칩을 1개씩 검사하여 그 검사 신뢰도 및 정확성이 높아지도록 하거나, 또는 LED 칩을 2개씩 검사하여 대량 생산에 적합하도록 하는 모드 중 어느 하나를 선택할 수 있게 하는 수단을 구비하고 있지 않았다는 문제점이 있었다.
본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 검사를 마친 LED 칩을 그 등급에 따라 분류 배출함에 있어서 그 분류 배출 시간을 단축시킬 수 있음은 물론, LED 칩을 동시에 2개씩 검사하거나 또는 1개씩 검사하는 모드를 설정할 수 있는 LED 검사장치를 제공하고자 한다.
이를 위해, 본 발명에 따른 LED 검사장치는, LED 칩을 검사하여 등급을 분류하고, 그 등급에 따라 분류 수집하는 LED 검사장치에 있어서, 반 원통형상으로 이루어진 분배 몸체와; 상기 분배 몸체의 내주면으로부터 외주면까지 관통하여 형성되되, 상기 분배 몸체의 전면(全面)에 걸쳐 일정 간격마다 구비된 등급 분류공; 및 검사가 마쳐진 상기 LED 칩을 공급받아, 상기 등급 분류공 중 어느 하나를 통해 배출하는 분류 로봇;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 검사 대상 LED 칩을 공급하는 칩 피더(chip feeder)와; 테두리를 따라서 상기 LED 칩이 안착되는 안착부가 일정 간격마다 구비되어 있으며, 서보 모터에 의해 일정 각도씩 회전하는 원형 스테이지와; 상기 칩 피더에서 LED 칩을 공급받아 상기 원형 스테이지의 안착부에 올려 놓는 이송 암과; 상기 원형 스테이지에 놓인 LED 칩의 양극에 전원을 인가하여, 상기 LED 칩이 발광되도록 하는 측정 지그부와; 상기 측정 지그부에 의해 발광된 LED 칩을 촬영함으로써, LED 칩의 등급을 분류할 수 있도록 하는 측정 센서부; 및 상기 측정 센서부에 의해 검사를 마친 LED 칩을 상기 분류 로봇으로 배출하는 칩 배출부;를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 칩 피더는 상기 LED 칩을 동시에 2개씩 공급하는 2열 공급식 칩 피더이고, 상기 이송 암은 상기 2열 공급식 칩 피더에서 공급된 LED 칩을 동시에 2개씩 이송하도록 2개의 이송 흡착노즐을 구비하며, 상기 측정 지그부와, 측정 센서부 및 칩 배출부는 각각 복수개인 것이 바람직하다.
또한, 상기 LED 칩을 2개씩 검사하는 모드 및 상기 LED 칩을 1개씩 검사하는 모드 중 어느 하나의 모드를 설정하는 모드 설정부를 더 포함하는 것이 바람직하다.
이상과 같은 본 발명에 따른 LED 검사장치에 의하면, 검사를 마친 LED 칩을 그 등급에 따라 분류 배출함에 있어서 그 분류 배출 시간을 단축시킬 수 있음은 물론, LED 칩을 동시에 2개씩 검사하거나 또는 1개씩 검사하는 모드를 설정할 수 있게 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 LED 검사장치에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 LED 검사장치를 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명 에 따른 LED 검사장치를 나타낸 평면도이고, 도 3은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 피더를 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 피더의 라인 피더를 나타낸 사시도이고, 도 5는 본 발명에 따른 LED 검사장치의 원형 스테이지를 나타낸 사시도이고, 도 6은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 이송 암을 나타낸 사시도이고, 도 7은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 측정 지그부를 나타낸 사시도이고, 도 8은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 측정 센서부를 나타낸 정면도이고, 도 9는 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 배출부를 나타낸 사시도이고, 도 10은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 분류 배출 로봇부를 나타낸 사시도이고, 도 11은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 배출 상태를 나타낸 상태도이다.
먼저, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LED 검사장치(100)는, 검사 대상 LED 칩을 공급하는 칩 피더(chip-feeder)(110)와, 일정 각도씩 회전하며 LED 칩의 검사가 이루어지는 원형 스테이지(120)와, LED 칩을 상기 칩 피더(110)로부터 원형 스테이지(120)로 이송하는 이송 암(130)과, 상기 원형 스테이지(120)에 놓인 LED 칩에 전원을 인가하여 발광시키는 측정 지그부(140)와, 상기 발광된 LED 칩을 촬영하여 검사하는 측정 센서부(150)와, 상기 측정 센서부(150)에 의해 검사를 마친 LED 칩을 배출하는 칩 배출부(160)와, 상기 칩 배출부(160)로부터 LED 칩을 공급받아 그 LED 칩의 등급에 따라 분류 배출하는 분류 배출 로봇부(170)와, 상기 분류 배출 로봇부(170)로부터 LED 칩을 공급받아 등급별로 수집하는 배출 박스(180) 및 모터 등 각종 전기기구가 내부에 구비된 전장 박스(190)를 포함한다.
따라서, 이송 암(130)에 의해 칩 피더(110)에서 공급된 LED 칩을 원형 스테이지(120)에 올려놓으면, 측정 지그부(140)가 원형 스테이지(120)에 놓인 LED 칩에 전원을 인가하여 LED 칩이 발광되도록 하고, 측정 센서부(150)가 LED 칩의 발광 상태를 촬영하여 해당 LED 칩의 등급 검사를 수행할 수 있게 한다.
그리고, 이상과 같이 등급 검사를 마친 LED 칩이 칩 배출부(160)를 통해 분류 배출 로봇부(170)로 배출되면, 분류 배출 로봇부(170)는 검사를 통해 분류된 LED 칩의 등급에 따라 LED 칩을 배출 박스(180)로 분류 배출한다.
특히, LED 칩을 등급에 따라 분류 배출함에 있어서, 그 전면(全面)에 걸쳐 분류 등급 수와 동일한 개수의 등급 분류공(도 10의 174a 참조)을 구비한 분배 몸체(도 10의 174 참조)가 사용되는데, 본 발명은 종래 기술과 차별적으로 이러한 분배 몸체(174)가 반 원통형상으로 이루어져 있어서, 종래 평판 형상의 분배 몸체(미도시)에 비해서는 중심점으로부터의 이동거리를 줄여 분류 시간을 줄이고, 종래 반 구형상의 분배 몸체(미도시)에 비해서는 그 제작을 용이하게 한다.
뿐만 아니라, 본 발명은 LED 칩을 2개씩 검사하는 모드 및 LED 칩을 1개씩 검사하는 모드 중 어느 하나의 모드를 설정하는 모드 설정부(미도시)를 더 포함하고 있어서, LED 칩을 2개씩 검사하여 대량 생산에 적합하도록 하거나, 또는 LED 칩을 1개씩 검사하여 검사 신뢰성을 향상시키는 것을 선택할 수 있게 한다.
좀더 구체적으로 설명하면, 상기 칩 피더(110)는 검사 대상 LED 칩을 공급하 는 것으로, 도 3에 도시된 바와 같이, 호퍼(hopper)(111)와, 보조정렬기(112) 및 라인 피더(line feeder)(113)를 포함한다.
따라서, 호퍼(111)에 일시 저장되어 있던 LED 칩들이 보조정렬기(112)로 투입되면, 투입된 LED 칩들이 진동중인 보조정렬기(112)를 통해 진동 정렬된 다음 라인 피더(113)를 통해서 원형 스테이지(120) 측을 향해 공급된다.
이때, 라인 피더(113)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 그 길이 방향을 따라 칩 이송홈(113a)이 2열로 구비되어 있어서 LED 칩을 동시에 2개씩 배출할 수 있도록 되어 있고, 각 칩 이송홈(113a)의 종단부에는 피더 흡착노즐(113b)이 설치되어 있어서 LED 칩을 라인 피더(113)의 종단부에 일시적으로 흡착 대기시킬 수 있게 한다.
또한, 필요에 따라서는 칩 피더의 측부에 이오나이저(ionizer)(IO) 및 칩 피더 콘트롤러(FC)를 설치하여 이오나이저(IO)에 의해 LED 칩에서 정전기가 발생하는 방지함은 물론, 칩 피더 콘트롤러(FC)에 의해 엘이디 칩이 정량 및 정속도로 공급되도록 제어한다.
상기 원형 스테이지(120)는 LED 칩의 검사가 이루어지는 곳으로, 도 5에 도시된 바와 같이, 원형의 프레임(121)의 테두리를 따라서는 일정 간격마다 칩 안착부(122)가 설치되어 있고, 칩 안착부(122)의 일측에는 고정 흡착노즐(123)이 설치되어 있어서 검사기간 동안 LED 칩을 견고히 흡착할 수 있게 한다.
또한, 원형 프레임(120)의 하측에는 서보 모터(servo motor)(124)가 설치되 어 있어서, 제어 펄스의 입력시마다 당해 원형 스테이지(120)를 일정 각도씩 회전시킨다. 따라서, 칩 안착부(122)에 안착되어 있는 LED 칩을 측정 지그부(140)와, 측정 센서부(150) 및 칩 배출부(160)를 향해 회전 이동시킨다.
또한, 원형 프레임(120)의 일측에는 LED 칩이 칩 안착부(122)에 정상적으로 위치하고 있는지를 판단하는 칩 유무 감지센서(125)가 설치되는데, 이때 칩 유무 감지 센서(125)를 LED 칩의 검사 전후 위치에 각각 설치하여, 검사 전후에 걸쳐 LED 칩의 존재 유무를 판단할 수 있게 한다.
상기 이송 암(130)은 LED 칩을 칩 피더(110)로부터 원형 스테이지(120)의 칩 안착부(122)로 이송하는 것으로, 도 6에 도시된 바와 같이, 서보모터(131)와, CAM(Computer Aided Manufacturing) 모듈(132)과, LM(Linear Motion) 가이드(133)와, 진공 유니트(134) 및 이송 흡착노즐(135)을 포함한다.
따라서, 진공 유니트(134)에 의해 진공 흡입력을 발생시키는 이송 흡착노즐(135)이 LED 칩을 흡착하고, LED 칩을 흡착한 이송 흡착노즐(135)이 서보모터(131)와, CAM 모듈(132) 및 LM 가이드(133)에 의해 구동되어 그 LED 칩을 원형 스테이지(120)의 칩 안착부(122)로 이송한다.
특히, 본 발명은 이송 흡착노즐(135)을 2개 구비하고 있어서 전술한 칩 피더(110)의 라인 피더(113)에서 동시에 2개씩 공급된 LED 칩을 동시에 원형 스테이지(120)로 공급한다.
따라서, 차후 LED 칩을 동시에 2개씩 검사할 수 있도록 한다. 또한, LED 칩 을 1개씩 검사하는 경우에는 각각 개별적으로 제어되는 진공 유니트(134)에 의해 어느 하나의 이송 흡착노즐(135)을 통해 LED 칩을 1개씩 이송하기도 한다.
상기 측정 지그부(140)는 원형 스테이지(120)에 놓인 LED 칩에 전원을 인가하여 해당 LED 칩이 발광되도록 하는 것으로, 도 7에 도시된 바와 같이, 서보모터(141) 및 상기 서보모터(141)에 의해 구동되어 LED 칩의 양측 전극을 향해 수평 이동하는 한 쌍의 측정 프로브(probe)(142a, 142b)를 구비한다.
따라서, 측정 프로브(142a, 142b)가 이동하여 LED 칩의 양측 전극에 접촉된 상태에서 측정 프로브(142a, 142b)에서 약 3.0[v]의 동작전원을 인가하면, LED 칩이 발광되어 그 발광 상태의 분석을 통해 해당 LED 칩의 등급을 검사할 수 있게 한다.
또한, 필요에 따라서는 LED 칩의 발광 상태 이외에 LED 칩의 내부저항, 열저항 및 그 외 다양한 전기적 특성을 부가적으로 검사하기도 한다.
상기 측정 센서부(150)는 측정 지그부(140)에 의해 발광된 LED 칩을 촬영하여 검사가 이루어질 수 있게 하는 것으로, 도 8에 도시된 바와 같이, 촬영 카메라(151) 및 상기 촬영 카메라(151)의 지지 프레임에 연결된 조정 블럭(152)을 포함한다.
따라서, 촬영 카메라(151)를 통해 발광 중인 LED 칩을 촬영하여 도시 생략된 분석부로 제공하면, 분석부는 촬영된 영상을 신호처리한 후 휘도와, 파장 및 색좌 표 컬러 등을 분석하여 LED 칩의 등급을 매길 수 있도록 한다. 본 발명에서의 등급은 일 예로 256개이며, LED 칩은 그 256 단계의 등급 중 어느 하나의 등급으로 판정된다.
또한, LED 칩의 촬영은 LED 칩의 직상부에서 촬영하는 것이 바람직하므로, 조정 블럭(152)을 좌우 방향으로 조정하여 이상과 같이 촬영 카메라(151)가 LED 칩의 직상부에 위치하도록 한다.
상기 칩 배출부(160)는 측정 센서부(150)에 의해 검사를 마친 LED 칩을 배출하는 것으로, 도 9에 도시된 바와 같이, 칩 흡입구(161) 및 상기 칩 흡입구(161)를 통해 흡입된 LED 칩을 분류 배출 로봇부(170)로 배출하는 배출 호스(162)를 포함한다.
칩 배출시 원형 스테이지(120)의 칩 안착부(122)에 놓여진 LED 칩을 고정하기 위한 고정 흡착노즐(123)은 동작을 멈추고, 반대로 칩 배출부(160)의 칩 흡입구에서는 흡입력을 발생시켜 LED 칩을 원형 스테이지(120)로부터 분류 배출 로봇부(170)로 배출한다.
상기 분류 배출 로봇부(170)는 칩 배출부(160)로부터 칩을 공급받아 LED 칩의 등급에 따라 분류 배출하는 것으로, 도 10에 도시된 바와 같이, 주행용 서보모터(171)와, 회전용 서보모터(172)와, 상기 주행용 서보모터(171) 및 회전용 서보모터(172)에 의해 수평 주행(M1) 및 회전(M2)하는 분류 프레임(173) 및 상기 분류 프 레임(173)을 관통하여 형성되되, 상술한 칩 배출부(160)의 배출 호스(162)와 연결된 분류 배출관(173a)으로 이루어진 분류 로봇을 포함한다.
또한, 분류 배출 로봇부(170)는 상기 분류 로봇의 하측에 설치된 분배 몸체(174)를 더 포함하는데, 이러한 분배 몸체(174)는 반 원통형상으로 이루어져 있으며, 분배 몸체(174)에는 그 내주면으로부터 외주면까지 관통하여 형성되되, 당해 분배 몸체(174)의 전면(全面)에 걸쳐 일정 간격마다 구비된 등급 분류공(174a)을 포함한다.
따라서, 주행용 서보모터(171) 및 회전용 서보모터(172)에 의해 분류 배출관(173a)을 분배 몸체(174)에 구비된 복수개의 등급 분류공(174a) 중 어느 하나의 직상부에 위치시킨 한 상태에서, 칩 배출부(160)로부터 LED 칩이 배출되면, 그 LED 칩이 분류 배출관(173a)을 통해 LED 칩의 등급에 해당하는 등급 분류공(174a)으로 투입된다.
상기 배출 박스(180)는 분류 배출 로봇부(170)로부터 LED 칩을 공급받아 등급별로 LED 칩을 수집하는 것으로, 도 11에 도시된 바와 같이, 내부가 LED 칩의 등급별로 구획된 수납부(181)와, 상기 수납부(181)의 상부에 설치된 수납판(182) 및 상기 수납판(182)에 형성된 분류 수납공(182a)을 포함한다.
도 11에서 수납판(182)은 2개로 이루어져 있으며, 2개의 수납판(182)에는 각각 128개의 분류 수납공(182a)이 형성되어 있어서, 총 256개(128×2)의 등급으로 구분되는 LED 칩을 분류 수납할 수 있으며, 이러한 배출 박스(180)를 2개 구비하여 LED 칩을 동시에 2개 검사한 후 동시에 분류 수납한다.
물론, 그에 따라 배출 박스(180)의 상부에 설치된 분류 배출 로봇부(170)는 4개이다.
단, 분류 배출 로봇부(170)의 배출 몸체에 형성된 등급 분류공(174a)과 배출 박스(180)의 수납판(182)에 형성된 분류 수납공(182a)은 연결 호스(미도시)에 의해 서로 연결되는데, 연결 호스는 등급 분류공(174a) 및 분류 수납공(182a)의 수와 동일하여, 등급 분류공(174a)과 분류 수납공(182a)을 일 대 일로 연결한다.
한편, 본 발명은 전술한 바와 같이 칩 피더(110)는 LED 칩을 동시에 2개씩 공급하는 2열 공급식 칩 피더(110)이고, 이송 암(130)은 상기 2열 공급식 칩 피더(110)에서 공급된 LED 칩을 동시에 2개씩 이송하도록 2개의 이송 흡착노즐(135)을 구비하며, 상기 측정 지그부(140)와, 측정 센서부(150) 및 칩 배출부(160)는 각각 복수개이어서, 2개의 LED 칩을 동시에 검사 및 분류 수집하고, LED 칩의 대량 생산에 적합하도록 한다.
그러나, 필요에 따라서는 LED 칩을 1개씩 검사하여 검사 신뢰성을 높여야 하는 경우도 있다. 이에, 본 발명은 LED 칩을 2개씩 검사하는 모드 및 상기 LED 칩을 1개씩 검사하는 모드 중 어느 하나의 모드를 설정하는 모드 설정부(미도시)를 더 포함하는 것이 바람직한데, 모드 설정부는 장비의 제어부(미도시)에 일체로 구비될 수 있다.
이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 설명하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 LED 검사장치는 검사를 마친 LED 칩을 그 등급에 따라 분류 배출함에 있어서 그 분류 배출 시간을 단축시킬 수 있음은 물론, LED 칩을 동시에 2개씩 검사하거나 또는 1개씩 검사하는 모드를 설정할 수 있게 한다.
도 1은 본 발명에 따른 LED 검사장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 LED 검사장치를 나타낸 평면도이다.
도 3은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 피더를 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 피더의 라인 피더를 나타낸 사시도이다.
도 5는 본 발명에 따른 LED 검사장치의 원형 스테이지를 나타낸 사시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 이송 암을 나타낸 사시도이다.
도 7은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 측정 지그부를 나타낸 사시도이다.
도 8은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 측정 센서부를 나타낸 정면도이다.
도 9는 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 배출부를 나타낸 사시도이다.
도 10은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 분류 배출 로봇부를 나타낸 사시도이다.
도 11은 본 발명에 따른 LED 검사장치의 칩 배출 상태를 나타낸 상태도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
110: 칩 피더 120: 원형 스테이지
130: 이송 암 140: 측정 지그부
150: 측정 센서부 160: 칩 배출부
170: 분류 배출 로봇부 174: 분배 몸체
180: 배출 박스 190: 전장 박스

Claims (4)

  1. LED 칩을 검사하여 등급을 분류하고, 그 등급에 따라 분류 수집하는 LED 검사장치에 있어서,
    반 원통형상으로 이루어진 분배 몸체와;
    상기 분배 몸체의 내주면으로부터 외주면까지 관통하여 형성되되, 상기 분배 몸체의 전면(全面)에 걸쳐 일정 간격마다 구비된 등급 분류공; 및
    검사가 완료된 상기 LED 칩을 공급받아, 상기 등급 분류공 중 어느 하나를 통해 배출하는 분류 로봇;을 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    검사 대상 LED 칩을 공급하는 칩 피더(chip feeder)와;
    테두리를 따라서 상기 LED 칩이 안착되는 안착부가 일정 간격마다 구비되어 있으며, 서보 모터에 의해 일정 각도씩 회전하는 원형 스테이지와;
    상기 칩 피더에서 LED 칩을 공급받아 상기 원형 스테이지의 안착부에 올려 놓는 이송 암과;
    상기 원형 스테이지에 놓인 LED 칩의 양극에 전원을 인가하여, 상기 LED 칩이 발광되도록 하는 측정 지그부와;
    상기 측정 지그부에 의해 발광된 LED 칩을 촬영함으로써, LED 칩의 등급을 분류할 수 있도록 하는 측정 센서부; 및
    상기 측정 센서부에 의해 검사를 마친 LED 칩을 상기 분류 로봇으로 배출하는 칩 배출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 칩 피더는 상기 LED 칩을 동시에 2개씩 공급하는 2열 공급식 칩 피더이고,
    상기 이송 암은 상기 2열 공급식 칩 피더에서 공급된 LED 칩을 동시에 2개씩 이송하도록 2개의 이송 흡착노즐을 구비하며,
    상기 측정 지그부와, 측정 센서부 및 칩 배출부는 각각 복수개인 것을 특징으로 하는 LED 검사장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 LED 칩을 2개씩 검사하는 모드 및 상기 LED 칩을 1개씩 검사하는 모드 중 어느 하나의 모드를 설정하는 모드 설정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 검사장치.
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