CN114047424B - 一种二极管智能检测设备 - Google Patents

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Abstract

一种二极管智能检测设备,包括收集结构、检测结构、输送结构、安装架,安装架上有收集结构,收集结构包括若干收集盒,检测结构包括稳压直流电源、两块弧形检测板、检测触点,输送结构包括两根输送带、导体块,检测结构还包括支撑块、接触块、分类结构,安装架上有两块支撑块,支撑块侧壁有分类结构,另设有动力装置与收集结构相连。本装置通过旋转的稳压直流电源与呈梯次对称分布的检测触点多次接触,从而检测出引脚位于两侧的二极管的导通电阻,同时还解决了该类二极管正负极引脚需要人工区分的问题,此外,旋转的收集盒与旋转的稳压直流电源能够引起检测区域空间内的空气流动,从而降低温度对二极管导通电阻的影响,提高检测的准确性。

Description

一种二极管智能检测设备
技术领域
本发明属于电子元件检测领域,具体地说是一种二极管智能检测设备。
背景技术
二极管是一种单向导通的电子元件,导通电阻是二极管的一个重要使用参数,通常在检测二极管的导通电阻时,需要区分二极管的正负极,而后再通过各种测试仪器测试其导通电阻,尤其是引脚位于二极管管体两侧的一种对称的二极管,不便使用形状上的区别来对待测二极管的正负极进行检测,对于上述问题,现设计一种二极管智能检测设备。
发明内容
本发明提供一种二极管智能检测设备,用以解决现有技术中的缺陷。
本发明通过以下技术方案予以实现:
一种二极管智能检测设备,包括收集结构、检测结构、输送结构、安装架,安装架上转动连接有收集结构,收集结构包括若干开口始终向上的收集盒,收集结构能够通过转动收集盒从而利用不同收集盒收集对应分类的二极管,检测结构包括稳压直流电源、两块弧形检测板、检测触点,所述的稳压直流电源与收集结构固定相连并同步旋转,所述的安装架上固定安装有两块不相互接触的中心对称放置的弧形检测板,两块弧形检测板的凹面中心对称安装有若干检测触点,中心对称的两个检测触点电阻值相同,每块弧形检测板上的数个检测触点的电阻值沿稳压直流电源的旋转方向依次呈梯度降低,稳压直流电源的正负极均连接有接触棒,两个接触棒能够分别与不同弧形检测板上对应对称的检测触点相接触,所述的输送结构包括两根平行的间歇性同步运作的输送带、导体块,输送带固定设置于收集结构上方,若干导体块均匀分布地固定安装在输送带上,两块对应同步运作的导体块能够分别托举二极管的正负极从而配合输送带运送二极管,所述的检测结构还包括支撑块、接触块、分类结构,安装架顶部固定安装有两块支撑块,两块支撑块分别位于两条输送带外侧,两块收集块相近一侧侧壁上均对应导体块固定安装有接触块,两块接触块通过导线与两块弧形检测板一一对应导通,运作至收集结构上方相对应的两块导体块能够与接触块接触并导通,支撑块侧壁安装有分类结构,所述的分类结构能够根据通过接触块的电流大小从而使不同导通电阻的二极管的正极或负极引脚脱离导体块,从而使对应的二极管落入对应分类的收集盒中,另设有动力装置与收集结构相连,动力装置能驱动收集结构旋转。
如上所述的一种二极管智能检测设备,所述的安装架包括底板,底板顶面固定安装三块竖直且相互平行支撑板,相邻的两块支撑板上开设同轴导向通孔,两个导向通孔中转动连接有同一根转轴,转轴与中部与收集结构固定连接,转轴一端连接动力装置,转轴另一端连接稳压直流电源,该两块支撑板顶部之间分别连接有两块连接板,连接板顶部固定安装有支撑块,稳压直流电源位于两块支撑板之间,且不在连接板正下方。
如上所述的一种二极管智能检测设备,所述的收集结构包括两块相互平行的环形板,两块环形板的内圆面均与转轴固定连接,收集盒位于两块环形板之间,收集盒顶部均开设通口,收集盒朝向环形板一侧的侧壁上部开设有圆孔,圆孔中穿过有圆杆,圆杆与对应一侧的环形板的侧壁固定连接。
如上所述的一种二极管智能检测设备,所述的分类结构包括电磁铁、衔铁、分离板、撞击块,一块所述的支撑块远离接触块一侧侧壁上方固定安装有电磁铁,该侧壁下方铰接连接有分离板且其铰接轴上套设扭簧,分离板表面安装有撞击块,当分离板朝向二极管引脚方向旋转时,撞击块能够将二极管对应一端的引脚推落导体块,分离板表面固定安装有衔铁,所述的电磁铁的线圈连通在对应一侧的接触块及导线之间,电磁铁的线圈通电后能够产生足够的磁性引力克服扭簧扭力并吸引衔铁。
如上所述的一种二极管智能检测设备,接近电磁铁一侧的所述的输送带侧壁安装有导向板。
本发明的优点是:使用本装置进行二极管检测时,将待检测二极管的正负极引脚分别置于输送带上对应同步运作的导体块上,输送带依次输送对应同步运作的导体块上的二极管,导体块在输送至收集结构上方时分别与对应一侧的接触块接触并导通,两块接触块分别通过导线与对应的弧形检测板相连,同时,动力装置驱动收集结构与稳压直流电源同步转动,使与稳压直流电源的相连通的两个接触棒分别与不同弧形检测板上对应对称的检测触点相接触,通过输送带与动力装置的速度控制,使两个接触棒优先与电阻值最大的接触触点相接触,此时稳压直流电源、接触棒、接触触点、弧形检测板、导线、接触块、导体块、二极管之间形成导电回路,二极管与接触触点在回路中串联,即导电回路中主要的电阻元件为二极管与对应的接触触点,当二极管在导电回路中正向导通时,稳压直流电源提供的电流克服二极管与对应接触触点的电阻后所达到的电流大小值满足分类结构启动的标准值时,分类结构则使该二极管脱离导体块,从而使该二极管落入下方对应的收集盒中,若达到的电流大小值不满足分类结构启动的标准时,动力装置继续控制收集结构与稳压直流电源转动,使另一个收集盒转动至该二极管底部,并使两根接触棒分别与电阻值依次降低的不同弧形检测板上对应对称的检测触点接触,由于首次检测时二极管的导通电阻与接触触点的电阻和过大,因此导电回路中的电流大小不足以达到分类结构启动的标准,此时呈阶梯式降低接触触点的电阻,则满足分类结构启动标准的二极管导通电阻阻值上限阶梯式提高,同时同步旋转对应的收集盒,使位于不同阶梯段导通电阻阻值的二极管分别落入对应的收集盒内,当首次测试时二极管在导电回路中反向截止,此时两根接触棒继续随动力装置旋转,而后同时脱离首次接触的弧形检测板,并分别同时与对应的另一块弧形检测板接触,从而使稳压直流电源的电流输出方向反向,从而使被检测的二极管变为正向导通的状态,并重复上述的检测过程,若稳压直流电源旋转一周后,被测二极管仍不满足分类结构启动的标准,则该被测二极管认定为不合格品,输送带将其输送走并继续输送下一个检测品,重复上述的检测过程;本发明结构巧妙、设计合理,通过旋转的稳压直流电源与呈梯次对称分布的检测触点多次接触,从而检测出引脚位于两侧的二极管的导通电阻,并将其按照导通电阻阻值分类收集,同时还解决了该类二极管正负极引脚需要人工区分的问题,此外,旋转的收集盒与旋转的稳压直流电源能够引起检测区域空间内的空气流动,从而降低温度对二极管导通电阻的影响,提高检测的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的结构示意图;图2为图1沿A-A的剖视图;图3为图1的B向视图的放大图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
一种二极管智能检测设备,如图所示,包括收集结构、检测结构、输送结构、安装架,安装架上转动连接有收集结构,收集结构包括若干开口始终向上的收集盒1,收集结构能够通过转动收集盒1从而利用不同收集盒1收集对应分类的二极管,检测结构包括稳压直流电源2、两块弧形检测板3、检测触点4,所述的稳压直流电源2与收集结构固定相连并同步旋转,所述的安装架上固定安装有两块不相互接触的中心对称放置的弧形检测板3,两块弧形检测板3的凹面中心对称安装有若干检测触点4,中心对称的两个检测触点4电阻值相同,每块弧形检测板3上的数个检测触点4的电阻值沿稳压直流电源2的旋转方向依次呈梯度降低,稳压直流电源2的正负极均连接有接触棒5,两个接触棒5能够分别与不同弧形检测板3上对应对称的检测触点4相接触,所述的输送结构包括两根平行的间歇性同步运作的输送带6、导体块7,输送带6固定设置于收集结构上方,若干导体块7均匀分布地固定安装在输送带6上,两块对应同步运作的导体块7能够分别托举二极管的正负极从而配合输送带6运送二极管,所述的检测结构还包括支撑块8、接触块9、分类结构,安装架顶部固定安装有两块支撑块8,两块支撑块8分别位于两条输送带6外侧,两块收集块6相近一侧侧壁上均对应导体块7固定安装有接触块9,两块接触块9通过导线与两块弧形检测板3一一对应导通,运作至收集结构上方相对应的两块导体块7能够与接触块9接触并导通,支撑块8侧壁安装有分类结构,所述的分类结构能够根据通过接触块9的电流大小从而使不同导通电阻的二极管的正极或负极引脚脱离导体块7,从而使对应的二极管落入对应分类的收集盒1中,另设有动力装置与收集结构相连,动力装置能驱动收集结构旋转。使用本装置进行二极管检测时,将待检测二极管的正负极引脚分别置于输送带6上对应同步运作的导体块7上,输送带6依次输送对应同步运作的导体块7上的二极管,导体块7在输送至收集结构上方时分别与对应一侧的接触块9接触并导通,两块接触块9分别通过导线与对应的弧形检测板3相连,同时,动力装置驱动收集结构与稳压直流电源2同步转动,使与稳压直流电源2的相连通的两个接触棒5分别与不同弧形检测板3上对应对称的检测触点4相接触,通过输送带6与动力装置的速度控制,使两个接触棒5优先与电阻值最大的接触触点4相接触,此时稳压直流电源2、接触棒5、接触触点4、弧形检测板3、导线、接触块9、导体块7、二极管之间形成导电回路,二极管与接触触点4在回路中串联,即导电回路中主要的电阻元件为二极管与对应的接触触点4,当二极管在导电回路中正向导通时,稳压直流电源2提供的电流克服二极管与对应接触触点4的电阻后所达到的电流大小值满足分类结构启动的标准值时,分类结构则使该二极管脱离导体块7,从而使该二极管落入下方对应的收集盒1中,若达到的电流大小值不满足分类结构启动的标准时,动力装置继续控制收集结构与稳压直流电源2转动,使另一个收集盒1转动至该二极管底部,并使两根接触棒5分别与电阻值依次降低的不同弧形检测板3上对应对称的检测触点4接触,由于首次检测时二极管的导通电阻与接触触点4的电阻和过大,因此导电回路中的电流大小不足以达到分类结构启动的标准,此时呈阶梯式降低接触触点4的电阻,则满足分类结构启动标准的二极管导通电阻阻值上限阶梯式提高,同时同步旋转对应的收集盒1,使位于不同阶梯段导通电阻阻值的二极管分别落入对应的收集盒1内,当首次测试时二极管在导电回路中反向截止,此时两根接触棒5继续随动力装置旋转,而后同时脱离首次接触的弧形检测板3,并分别同时与对应的另一块弧形检测板3接触,从而使稳压直流电源2的电流输出方向反向,从而使被检测的二极管变为正向导通的状态,并重复上述的检测过程,若稳压直流电源2旋转一周后,被测二极管仍不满足分类结构启动的标准,则该被测二极管认定为不合格品,输送带6将其输送走并继续输送下一个检测品,重复上述的检测过程;本发明结构巧妙、设计合理,通过旋转的稳压直流电源2与呈梯次对称分布的检测触点4多次接触,从而检测出引脚位于两侧的二极管的导通电阻,并将其按照导通电阻阻值分类收集,同时还解决了该类二极管正负极引脚需要人工区分的问题,此外,旋转的收集盒1与旋转的稳压直流电源2能够引起检测区域空间内的空气流动,从而降低温度对二极管导通电阻的影响,提高检测的准确性。
具体而言,如图所示,本实施例所述的安装架包括底板,底板顶面固定安装三块竖直且相互平行支撑板,相邻的两块支撑板上开设同轴导向通孔,两个导向通孔中转动连接有同一根转轴,转轴与中部与收集结构固定连接,转轴一端连接动力装置,转轴另一端连接稳压直流电源2,该两块支撑板顶部之间分别连接有两块连接板,连接板顶部固定安装有支撑块8,稳压直流电源2位于两块支撑板之间,且不在连接板正下方。安装架对检测设备起到保护作用,同时能防止人员接触稳压直流电源造成触电危险,此外支撑板还具有空气导流的作用,能够配合旋转的收集盒1与稳压直流电源2检测设备的温度,提高检测精度。
具体的,如图所示,本实施例所述的收集结构包括两块相互平行的环形板10,两块环形板10的内圆面均与转轴固定连接,收集盒1位于两块环形板10之间,收集盒1顶部均开设通口11,收集盒1朝向环形板10一侧的侧壁上部开设有圆孔,圆孔中穿过有圆杆12,圆杆12与对应一侧的环形板10的侧壁固定连接。收集盒1朝向环形板10一侧的侧壁上部开设有圆孔,通过偏离收集盒1侧壁的几何中心设置圆孔,使环形板10无论旋转至哪个角度,收集盒1顶部的通口11始终朝上,有助于稳定准确的收集检测的二极管。
进一步的,如图所示,本实施例所述的分类结构包括电磁铁13、衔铁14、分离板15、撞击块16,一块所述的支撑块8远离接触块9一侧侧壁上方固定安装有电磁铁13,该侧壁下方铰接连接有分离板15且其铰接轴上套设扭簧,分离板15表面安装有撞击块16,当分离板15朝向二极管引脚方向旋转时,撞击块16能够将二极管对应一端的引脚推落导体块7,分离板15表面固定安装有衔铁14,所述的电磁铁13的线圈连通在对应一侧的接触块9及导线之间,电磁铁13的线圈通电后能够产生足够的磁性引力克服扭簧扭力并吸引衔铁14。当通过导电回路中的电流强度达到足够标准,电磁铁13能够产生足够的磁场引力吸引衔铁14,撞击块16随分离板15一同旋转,并在撞击块16达到最上方时撞击二极管对应一端的引脚,从而将二极管对应一端的引脚推落导体块7,使导通电阻符合标准的二极管落入下方对应的收集盒1中。
更进一步的,如图所示,本实施例接近电磁铁13一侧的所述的输送带6侧壁安装有导向板17。符合标准的二极管引脚离开导体块7后能够沿导向板17的板面下滑进入收集盒1内,能够防止二极管跌出收集盒1内。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种二极管智能检测设备,其特征在于:包括收集结构、检测结构、输送结构、安装架,安装架上转动连接有收集结构,收集结构包括若干开口始终向上的收集盒(1),收集结构能够通过转动收集盒(1)从而利用不同收集盒(1)收集对应分类的二极管,检测结构包括稳压直流电源(2)、两块弧形检测板(3)、检测触点(4),所述的稳压直流电源(2)与收集结构固定相连并同步旋转,所述的安装架上固定安装有两块不相互接触的中心对称放置的弧形检测板(3),两块弧形检测板(3)的凹面中心对称安装有若干检测触点(4),中心对称的两个检测触点(4)电阻值相同,每块弧形检测板(3)上的数个检测触点(4)的电阻值沿稳压直流电源(2)的旋转方向依次呈梯度降低,稳压直流电源(2)的正负极均连接有接触棒(5),两个接触棒(5)能够分别与不同弧形检测板(3)上对应对称的检测触点(4)相接触,所述的输送结构包括两根平行的间歇性同步运作的输送带(6)、导体块(7),输送带(6)固定设置于收集结构上方,若干导体块(7)均匀分布地固定安装在输送带(6)上,两块对应同步运作的导体块(7)能够分别托举二极管的正负极从而配合输送带(6)运送二极管,所述的检测结构还包括支撑块(8)、接触块(9)、分类结构,安装架顶部固定安装有两块支撑块(8),两块支撑块(8)分别位于两条输送带(6)外侧,两块收集块(6)相近一侧侧壁上均对应导体块(7)固定安装有接触块(9),两块接触块(9)通过导线与两块弧形检测板(3)一一对应导通,运作至收集结构上方相对应的两块导体块(7)能够与接触块(9)接触并导通,支撑块(8)侧壁安装有分类结构,所述的分类结构能够根据通过接触块(9)的电流大小从而使不同导通电阻的二极管的正极或负极引脚脱离导体块(7),从而使对应的二极管落入对应分类的收集盒(1)中,另设有动力装置与收集结构相连,动力装置能驱动收集结构旋转。
2.根据权利要求1所述的一种二极管智能检测设备,其特征在于:所述的安装架包括底板,底板顶面固定安装三块竖直且相互平行支撑板,相邻的两块支撑板上开设同轴导向通孔,两个导向通孔中转动连接有同一根转轴,转轴与中部与收集结构固定连接,转轴一端连接动力装置,转轴另一端连接稳压直流电源(2),该两块支撑板顶部之间分别连接有两块连接板,连接板顶部固定安装有支撑块(8),稳压直流电源(2)位于两块支撑板之间,且不在连接板正下方。
3.根据权利要求2所述的一种二极管智能检测设备,其特征在于:所述的收集结构包括两块相互平行的环形板(10),两块环形板(10)的内圆面均与转轴固定连接,收集盒(1)位于两块环形板(10)之间,收集盒(1)顶部均开设通口(11),收集盒(1)朝向环形板(10)一侧的侧壁上部开设有圆孔,圆孔中穿过有圆杆(12),圆杆(12)与对应一侧的环形板(10)的侧壁固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种二极管智能检测设备,其特征在于:所述的分类结构包括电磁铁(13)、衔铁(14)、分离板(15)、撞击块(16),一块所述的支撑块(8)远离接触块(9)一侧侧壁上方固定安装有电磁铁(13),该侧壁下方铰接连接有分离板(15)且其铰接轴上套设扭簧,分离板(15)表面安装有撞击块(16),当分离板(15)朝向二极管引脚方向旋转时,撞击块(16)能够将二极管对应一端的引脚推落导体块(7),分离板(15)表面固定安装有衔铁(14),所述的电磁铁(13)的线圈连通在对应一侧的接触块(9)及导线之间,电磁铁(13)的线圈通电后能够产生足够的磁性引力克服扭簧扭力并吸引衔铁(14)。
5.根据权利要求4所述的一种二极管智能检测设备,其特征在于:接近电磁铁(13)一侧的所述的输送带(6)侧壁安装有导向板(17)。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100069136A (ko) * 2008-12-16 2010-06-24 미래산업 주식회사 발광소자 테스트 핸들러 및 발광소자 분류방법
KR101009618B1 (ko) * 2009-07-30 2011-01-21 윈텍 주식회사 Led 검사장치
CN205229400U (zh) * 2015-11-16 2016-05-11 如皋市大昌电子有限公司 一种二极管电气性能检测装置
CN208969199U (zh) * 2018-09-30 2019-06-11 贵阳学院 一种半导体测试治具
CN109917265A (zh) * 2019-04-09 2019-06-21 安徽本松电子科技有限公司 一种工程机械专用保护二极管检测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100069136A (ko) * 2008-12-16 2010-06-24 미래산업 주식회사 발광소자 테스트 핸들러 및 발광소자 분류방법
KR101009618B1 (ko) * 2009-07-30 2011-01-21 윈텍 주식회사 Led 검사장치
CN205229400U (zh) * 2015-11-16 2016-05-11 如皋市大昌电子有限公司 一种二极管电气性能检测装置
CN208969199U (zh) * 2018-09-30 2019-06-11 贵阳学院 一种半导体测试治具
CN109917265A (zh) * 2019-04-09 2019-06-21 安徽本松电子科技有限公司 一种工程机械专用保护二极管检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"车用二极管自动检测与分选装置的设计与应用";金天 等;《科技创新与应用》;20170131;第117-118页 *

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Application publication date: 20220215

Assignee: YANCHENG XIRUN SEMICONDUCTOR Co.,Ltd.

Assignor: BINHAI YIRUN ELECTRONICS CO.,LTD.

Contract record no.: X2023980052842

Denomination of invention: A diode intelligent detection device

Granted publication date: 20220809

License type: Exclusive License

Record date: 20231219