CN211374973U - 一种电路板检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出一种电路板检测设备,包括:机架,机架上包括至少三个检测工位;ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置,ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置装设在机架内并分别分布在至少三个检测工位的对应位置上,ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置上均安装有检测探针,检测探针分别在对应的检测工位上操作;传送装置设置在机架上,且在至少三个检测工位之间传送工件;ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置向控制装置发送电信号或接收所述控制装置输出或发送的电信号。本实用新型提供中,ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置集联在同一设备上,节省占用空间,简化人工操作工序,更加适应自动化生产。
Description
技术领域
本实用新型涉及电路板检测领域,特别涉及一种电路板检测设备。
背景技术
目前,电路板生产完成后需要对电路板进行ICT测试(自动在线测试)、耐高压测试及FCT测试(功能测试),以检测PCB的功能、耐压能力以及电路故障情况,保证PCB板合格。现有技术中,ICT测试、耐高压测试及FCT测试分别利用ICT测试仪、耐高压测试仪及FCT测试仪进行检测,即对PCB板进行单机单工位检测,工作效率低。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种电路板检测设备,旨在解决现有技术中PCB板的ICT测试、耐高压测试及FCT测试均为单机单工位检测,工作效率低的问题。
为实现上述目的,本实用新型提出一种电路板检测设备,所述电路板检测设备包括:
机架,所述机架上包括至少三个检测工位;
ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置均装设在所述机架内并分别分布在至少三个所述检测工位的对应位置上,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置上均安装有检测探针,所述检测探针分别在对应的检测工位上操作;
传送装置,所述传送装置设置在所述机架上,且在至少三个所述检测工位之间传送工件;
控制装置,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置均与所述控制装置电连接,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置向所述控制装置发送电信号或接收所述控制装置输出或发送的电信号。
可选的,所述传送装置包括两条传送带及传送驱动件,两条所述传送带连接所述传送驱动件;两条所述传送带平行设置形成传送通道,所述传送驱动件安装在所述机架上,至少三个所述检测工位位于所述传送通道上。
可选的,所述传送装置还包括升降驱动件,所述机架上设置有传送轨道,两条所述传送带设置在所述传送轨道上,所述升降驱动件连接所述传送轨道以驱动所述传送轨道升降。
可选的,所述检测探针包括上探针与下探针,所述上探针与所述下探针分别位于所述传送通道的两侧,且所述上探针与所述下探针垂直于所述传送通道的传送方向。
可选的,所述传送装置还包括阻挡件,所述阻挡件位于两所述传送带之间的对应于所述检测工位的位置,其中,每一所述检测工位至少设有一所述阻挡件。
可选的,所述电路板检测设备还包括位置传感器,所述位置传感器与所述控制装置电连接,所述位置传感器包括发送件与接收件,所述发送件与所述接收件分别安装在所述传送装置的两侧并与所述传送装置上的检测工位一一对应。
可选的,所述电路板检测设备还包括移动组件,所述移动组件连接在所述机架与所述耐高压检测装置之间。
可选的,所述移动组件包括连接块及滑动块,所述滑动块连接所述耐高压检测装置,所述连接块固定在所述机架上,所述连接块与所述滑动块以导轨结构形成滑动连接。
可选的,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置以及所述FCT检测装置中至少一装置上安装有探针驱动件,以驱动所述检测探针靠近或远离所述检测工位。
可选的,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置中的至少一装置上安装有探针支架,所述检测探针装设在所述探针支架上,所述探针驱动件为升降气缸,所述升降气缸的活塞连接所述探针支架。
本实用新型技术方案通过在机架上设置至少三个检测工位,将ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置装设在机架内并分别分布在至少三个检测工位的对应位置上,且ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置上均安装有检测探针,检测探针分别在对应的检测工位上操作,传送装置设置在机架上,且在至少三个检测工位之间传送工件,ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置均与控制装置电连接,并向控制装置发送电信号或接收控制装置的电信号。从而使得ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置集联在同一设备上,能够节省设备占用空间,简化人工操作工序,更加适应自动化生产,有利于提高生产效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型电路板检测设备的机架的结构示意图;
图2为本实用新型电路板检测设备中ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置的安装结构示意图;
图3为本实用新型电路板检测设备的耐高压检测装置的结构示意图;
图4为本实用新型电路板检测设备的耐高压检测装置的部分结构示意图;
图5为本实用新型电路板检测设备的传送装置的安装结构示意图;
图6为本实用新型电路板检测设备中阻挡气缸与PCB定位板的安装结构示意图;
图7为本实用新型电路板检测设备中检测探针与探针支架的安装结构示意图。
附图标号说明:
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
如图1-7所示,为实现上述目的,本实用新型提出一种电路板检测设备,所述电路板检测设备包括:机架1(如图1所示),所述机架1上包括至少三个检测工位;ICT检测装置4(自动在线测试)、耐高压检测装置3及FCT(功能测试)检测装置(如图2所示),所述ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5均装设在所述机架1内并分别分布在至少三个所述检测工位的对应位置上,所述ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5上均安装有检测探针7,所述检测探针7分别在对应的检测工位上操作;传送装置2,所述传送装置2设置在所述机架1上,且在至少三个所述检测工位之间传送工件;控制装置8,所述ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5均与所述控制装置8电连接,所述ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5向所述控制装置8发送电信号或接收所述控制装置8输出或发送的电信号。
在本实施例中,机架1上设有至少三个检测工位,进行ICT检测的为ICT检测工位,进行耐高压检测的为耐高压检测工位,进行FCT检测的为FCT检测工位,PCB板6放置在传送装置2上,由传送装置2将PCB板6传送到各个检测工位。ICT检测工位对应的位置上设有ICT检测装置4,ICT检测装置4上安装有检测探针7,当PCB板6进入ICT检测工位时,ICT检测装置4上的检测探针7向ICT检测工位上的PCB板6进行检测,在具体的实施中,检测探针7与PCB板6上的电路连接线接触,以检测PCB板6上的线路开路、短路以及所有零件的焊接情况,ICT检测装置4与控制装置8电连接,并将检测结果(如断路点、开路位置或零件故障等)传送给控制装置8。检测探针7与ICT检测装置4的主体为活动连接,使得检测探针7可在PCB板6上的各个检测点之间切换,由于PCB板6上分布有各类元器件,因此,检测探针7在各个检测点切换时需要涉及的活动方式包括:相对PCB板6的水平移动、垂直移动或转动,具体可根据需要设置。
当PCB板6进入耐高压检测工位时,耐高压检测装置3上的检测探针7朝向PCB板6运动,耐高压检测装置3上的检测探针7向PCB板6上的检测点施加强电压,并将检测结果传送至控制装置8,受潮或具有局部缺陷的电路段无法承受这种高电压,从而能够检测出PCB板6是否合格。
当PCB板6进入FCT检测工位时,FCT检测装置5上的检测探针7向PCB板6运动,并与PCB板6上的检测点接触,用于测试FCT性能的检测点在PCB板6的电路连接线上,FCT检测装置5上的检测探针7与检测点接触以获得PCB板6的性能参数(如,响应速度)是否符合设计要求,FCT检测装置5与控制装置8电连接,控制装置8接收FCT检测装置5发送的检测参数。
ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5中的一个或多个装置上可安装PCB定位板41(如图6所示),以进一步固定PCB高,使检测探针7能够对检测点进行精准探测。
相对于现有技术中的ICT检测、耐高压检测及FCT检测分别独立进行而言,本实施例中将ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5集联在同一设备上的方式能够节省设备占用空间,简化人工操作工序,更加适应自动化生产,有利于提高生产效率。
进一步的,所述传送装置2包括两条传送带(图中未标示)及传送驱动件16,所述两条传送带连接所述传送驱动件16;两条所述传送带平行设置形成传送通道(图中未标示),所述传送驱动件16安装在所述机架1上,所述至少三个检测工位位于所述传送通道上。
传送装置2包括两条传送带,两条传送带并排平行形成传送通道,ICT检测工位、耐高压检测工位及FCT检测工位均位于该传送通道上。传送驱动件16安装在机架1上,两条传送带均与传送驱动件16连接,由传送驱动件16提供动力,该传送驱动件16可以为电机,也可以为气缸。
两条传送带的间距可根据PCB板6的具体尺寸进行调整,因此,本实施例提出的电路板检测设备能够适应多种规格的PCB板6,覆盖的PCB尺寸范围广。
具体的,如图5所示,所述传送装置2还包括升降驱动件21,所述机架1上设置有传送轨道(图中未标示),两条所述传送带设置在所述传送轨道上,所述升降驱动件21连接所述传送轨道以驱动所述传送轨道升降。
升降驱动件21与传送轨道连接,在具体的实施中,传送轨道分为两条,两条传送带分别辅设在所述两条传送轨道上,升降驱动件21将传送轨道向垂直于传送通道的传送方向上升降。
检测探针7往往具备一定的弹性,可进行伸缩,因此,当PCB板6在检测工位上就位后,升降驱动件21将PCB向靠近检测探针7的方向推动一定的距离,使检测探针7处于压缩状态,保证PCB板6与检测探针7接触充分。可以理解的,升降驱动件21为电机或气缸。
检测探针7安装在探针连接块32上,以使检测探针7能够延伸到检测点的上方。
为保证精准检测,ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT(功能测试)检测装置5中的一个或多个安装有PCB盖31,PCB盖31用于压住PCB板,以防止PCB板移动。
在本实施例中,传送轨道可以与传送带一同沿传送通道运动,也可以仅仅只在升降驱动件21的驱动下作垂直于传送通道的传送方向作升降运动,当传送轨道不可与传送带同向运动时,传送轨道上可以设置滚轮,以减小传送带与传送轨道之间的阻力。传送带与传送轨道可以由多段拼接形成,每一段对应一检测工位,当PCB板6进入或即将进入该检测工位对应的分段时,该检测工位对应传送轨道作升降运动以承接PCB板6,此时,每一段传送轨道均具有独立的升降驱动件21提供动力。
所述检测探针7包括上探针(图中未标示)与下探针(图中未标示),所述上探针与所述下探针分别位于所述传送通道的两侧,且所述上探针与所述下探针垂直于所述传送通道的传送方向。
作为一种实施例,检测探针7包括上探针对下探针,上探针与下探针相对设置,分别位于传送通道的两侧,并与传送通道的传送方向垂直。上探针与下探针分别对PCB板6的正反两面进行检测,以提高检测的准确性,升降驱动件21可驱动传送轨道向上探针靠近或向下探针靠近。
可选的,所述传送装置2还包括阻挡件12,所述阻挡件12位于两所述传送带之间的对应于所述检测工位的位置,其中,每一所述检测工位至少设有一所述阻挡件12。
阻挡件12位于两传送带之间,每一检测工位至少设有一个阻挡件12,用于使PCB板6停滞在检测工位供检测探针7检测。当PCB板6进入该阻挡件12对应的检测工位时,阻挡件12上升,将PCB板6阻挡在检测工位上,此时,传送带可以停止运动,也可以依旧保持运动,检测完成后,阻挡件12下降,放PCB板6离开检测工位。阻挡件12的升降由阻挡气缸121驱动(如图6所示),阻挡气缸121也可以替换成阻挡电机,由阻挡电机驱动阻挡件12的升降。
所述电路板检测设备还包括位置传感器,所述位置传感器与所述控制装置8电连接,所述位置传感器包括发送件(图中未标示)与接收件(图中未标示),所述发送件与所述接收件分别安装在所述传送装置的两侧并与传送装置2上的检测工位一一对应
在具体的实施中,位置传感器可以为光电传感器14,光电传感器14发出的检测信号与两传送带平行,当PCB板6到达检测工位时,检测信号被PCB板6挡住,接收件无法接收到发送件发出的光电信息,光电传感器14则向控制装置8发出检测到PCB板6的信号,此时,控制装置8控制阻挡件12上升将PCB板6阻挡在该检测工位上,当控制装置8接收到PCB板6检测完成后,控制阻挡件12下降,PCB板6从该检测工位离开流向下一个检测工位。
在一可选实施例中,可在传送通道上设置定位件,定位件的设置与检测工位的位置对应,定位件与控制装置8电连接,当控制装置8收到光电传感器14发出PCB板6进入检测工位的信号时,控制装置8控制定位块11向PCB板6伸出,以固定PCB板6,以使检测探针7能够对准PCB板6上的检测点。
可选的,所述电路板检测设备还包括移动组件13,所述移动组件13连接在所述机架1及所述耐高压检测装置3之间。
如图3、4所示,移动组件13连接在检测设备与机架1之间,耐高压检测装置3可沿移动组件13移动,以检测PCB板6上不同位置的耐高压性能。
在一实施例中,所述移动组件13包括连接块131及滑动块131,所述滑动块131连接所述耐高压检测装置3,所述连接块131固定在所述机架1上,所述连接块131与所述滑动块131以导轨结构形成滑动连接。
连接块131固定在机架1上,滑动块131固定在耐高压检测装置3上,滑动块131上可开设导轨,连接块131设置导轨槽,使得滑动块131与连接块131之间形成滑动连接。
可选的,所述ICT检测装置4、所述耐高压检测装置3以及所述FCT检测装置5中至少一装置上安装有探针驱动件(图中未标示),以驱动所述检测探针7靠近或远离所述检测工位。
探针驱动件与探针连接,探针靠近或远离PCB板6的运动由探针驱动件驱动。可以理解的,探针驱动件也可以驱动探针在PCB板6上的不同检测点之间移动。
所述ICT检测装置4、所述耐高压检测装置3及所述FCT检测装置5中的至少一装置上安装有探针支架71,所述检测探针7装设在所述探针支架71上,所述探针驱动件为升降气缸,所述升降气缸的活塞连接所述探针支架71。
如图7所示,在较佳实施例中,ICT检测装置4、耐高压检测装置3及FCT检测装置5上均安装有探针支架71,探针支架71用于安装检测探针7,探针驱动件为升降气缸,升降气缸的活塞连接探针支架71,使得探针支架71可靠近或远离PCB板6。
此外,机架1上还可以安装报警装置15,当检测到有不合格产品时,报警装置15发出警示信号。报警装置15可以为蜂鸣器或是LED灯。
以上所述仅为本实用新型的可选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种电路板检测设备,其特征在于,所述电路板检测设备包括:
机架,所述机架上包括至少三个检测工位;
ICT检测装置、耐高压检测装置及FCT检测装置,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置均装设在所述机架内并分别分布在至少三个所述检测工位的对应位置上,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置上均安装有检测探针,所述检测探针分别在对应的检测工位上操作;
传送装置,所述传送装置设置在所述机架上,且在至少三个所述检测工位之间传送工件;
控制装置,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置均与所述控制装置电连接,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置向所述控制装置发送电信号或接收所述控制装置输出或发送的电信号。
2.根据权利要求1所述的电路板检测设备,其特征在于,所述传送装置包括两条传送带及传送驱动件,两条所述传送带连接所述传送驱动件;两条所述传送带平行设置形成传送通道,所述传送驱动件安装在所述机架上,至少三个所述检测工位位于所述传送通道上。
3.根据权利要求2所述的电路板检测设备,其特征在于,所述传送装置还包括升降驱动件,所述机架上设置有传送轨道,两条所述传送带设置在所述传送轨道上,所述升降驱动件连接所述传送轨道以驱动所述传送轨道升降。
4.根据权利要求2所述的电路板检测设备,其特征在于,所述检测探针包括上探针与下探针,所述上探针与所述下探针分别位于所述传送通道的两侧,且所述上探针与所述下探针垂直于所述传送通道的传送方向。
5.根据权利要求2所述的电路板检测设备,其特征在于,所述传送装置还包括阻挡件,所述阻挡件位于两所述传送带之间的对应于所述检测工位的位置,其中,每一所述检测工位至少设有一所述阻挡件。
6.根据权利要求1-5任一项所述的电路板检测设备,其特征在于,所述电路板检测设备还包括位置传感器,所述位置传感器与所述控制装置电连接,所述位置传感器包括发送件与接收件,所述发送件与所述接收件分别安装在所述传送装置的两侧并与所述传送装置上的检测工位一一对应。
7.根据权利要求1所述的电路板检测设备,其特征在于,所述电路板检测设备还包括移动组件,所述移动组件连接在所述机架与所述耐高压检测装置之间。
8.根据权利要求7所述的电路板检测设备,其特征在于,所述移动组件包括连接块及滑动块,所述滑动块连接所述耐高压检测装置,所述连接块固定在所述机架上,所述连接块与所述滑动块以导轨结构形成滑动连接。
9.根据权利要求1所述的电路板检测设备,其特征在于,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置以及所述FCT检测装置中至少一装置上安装有探针驱动件,以驱动所述检测探针靠近或远离所述检测工位。
10.根据权利要求9所述的电路板检测设备,其特征在于,所述ICT检测装置、所述耐高压检测装置及所述FCT检测装置中的至少一装置上安装有探针支架,所述检测探针装设在所述探针支架上,所述探针驱动件为升降气缸,所述升降气缸的活塞连接所述探针支架。
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