KR20110110315A - 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터의 제어 방법 - Google Patents

유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터의 제어 방법 Download PDF

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Abstract

유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 여러 방법이 제공된다. 일 실시 형태는 샘플 마이크로스피어의 측정 중 측정 시스템의 파라미터(들)를 모니터하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 상기 모니터링에 기초하여 실시간으로 파라미터(들)를 변경하는 단계를 포함한다. 다른 방법은 측정 시스템에 근사한 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 이러한 한 방법은 경험적으로 얻은 데이터를 사용하여 온도에 대한 애벌란취 포토 다이오드(avalanche photo diode)의 바이어스 전압을 변경하는 단계를 포함한다. 다른 방법은 특성 그래프를 사용하여 온도에 대한 광전자증배관(photomultiplier tube)의 출력 신호를 변경하는 단계를 포함한다. 어떤 방법은 유세포 분석기식 측정 시스템를 흐르게 될, 샘플 마이크로스피어를 포함하는 유체의 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 그 온도에서 유체의 점성으로부터 측정 시스템에서 샘플 마이크로스피어의 속도를 결정하는 단계를 포함한다.

Description

유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터의 제어 방법{METHODS FOR CONTROLLING ONE OR MORE PARAMETERS OF A FLOW CYTOMETER TYPE MEASUREMENT SYSTEM}
본 발명은 일반적으로 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법에 관한 것이다. 어떤 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터(들)의 모니터링에 기초하여 실시간으로 그 파라미터들을 변경하는 단계를 포함하는 방법에 관한 것이다.
이하의 설명 및 예들은 배경 기술에서 기술되지만 선행기술로 인정되지 않는다.
일반적으로, 유세포 분석기(flow cytometers)는 폴리스티렌 비드 또는 세포들이 유동 챔버를 선형적으로 통과할 때 그것들을 여기(勵起)시키는 레이저의 형광 강도를 측정한다. 그러나, 유세포 분석기는 또한 다른 입자의 하나 이상의 특성을 측정하는데 사용될 수 있다. 일부 장치는 입자들에 의해 여기 공급원에 대해 90° 또는 180°으로 산란된 빛의 정도를 측정, 입자 "정체(identity)"인 분류를 정하는데 사용되는 둘 이상의 형광 측정 및 "리포터(reporters)"로 알려지고, 일반적으로 흥미있는 화학 반응을 정량하는데 사용되는 부가적인 형광 측정을 실행하도록 형상된다. 각각의 형광 측정은 서로 다른 파장에서 이루어진다.
유세포 분석기식 측정 시스템의 측정 능력이 향상됨에 따라, 유세포 분석기로 유용한 측정을 할 수 있는 활용폭은 상당히 증가하였다. 예를 들어, 유세포 분석기는 생물학적 분석(예를 들어, 치환 또는 경쟁분석, 비경쟁 분석, 효소 분석), 핵산 분석 및 조합화학(combinatorial chemistry)과 같은 활용을 위해 자료를 제공하는데 상당히 유용하게 되었다. 특히, 유세포 분석기 측정의 인기는 다른 분석법(예를 들어, 종래 병소 감염 진단 테스트, 즉 ELISA)과 비교되는 속도로 인하여 상당히 증가하였다.
정상적인 상황 하에서, 유세포 분석기의 교정은 정확하고 신뢰할 수 있는 분석 결과를 보장하기 위하여 적절한 사용 및 측정을 위해 기구를 준비하는 하나 이상의 예비 단계와 같이 일아난다. 또한, 만약 각 유세포 분석기의 형광 채널이 같은 것을 판독하도록 교정되지 않으면, 샘플들 사이에 변화의 원인에 대한 보장은 없다. 만약 확고하고 완전한 교정 방법이 사용되지 않으면 하나의 기구는 같은 샘플에 대해 서로 다른 날에 다른 판독 결과를 제공할 것이다. 유사하게, 심지어 적절하게 설정된 경우라도 어떤 두 기구가 같은 결과를 제공하리라는 보장이 없다면, 비록 유세포 분석기가 샘플에서 세포를 확인하고 구별하는 더 나은 측정을 제공할 수 있다 하더라도 임상 기구로서 그 용도는 감소할 수 있다.
따라서, 유세포 분석기를 교정하기 위한 서로 다른 많은 방법들이 개발되었다. 처음에는, 교정의 정확성을 높이기 위하여 교정에 조작자의 관여 정도가 줄어든 교정 방법을 개발하기 위하여 상당한 노력이 이루어졌다. 이러한 노력은 많은 분야에서 유세포 분석기 교정의 많은 단계의 자동화를 이끌었다. 또한, 다른 방식으로 교정의 정확성을 향상시키기 위하여 많은 노력이 행해졌다. 예를 들어, 이러한 노력은 정형적이고 일정한 특성을 가진 교정 표준을 사용하는 것과 같이 교정에서 발전을 유도하였다. 특히, 생물학적 샘플의 특성은 시간에 따라 변할 수 있기 때문에 유세포 분석기를 위한 생물학적 교정 표준은 더 안정한 성질을 가진 축합 교정 표준(예를 들어, 중합 마이크로스피어 또는 입자)으로 일반적으로 대체되었다. 또한, 일반적으로 교정 마이크로스피어는 시험 마이크로스피어의 성질에 실질적으로 비슷한(즉, 가능한 한 비슷한) 성질(예를 들어, 크기, 부피, 표면 특성, 입자 특성, 굴절 지수, 형광 등)을 가진다. 이러한 교정 마이크로스피어는 테스트 동안 기대되는 값에 가능한 한 가까운 값에서 교정을 실행함으로써 유세포 분석기의 정확성을 증가시킨다고 믿어졌다.
유세포 분석기의 교정을 향상시키려는 시도는 교정이 원인인 유세포 분석기의 파라미터의 수를 증가시켰다. 예를 들어, 레이저 여기(laser excitation), 검출기 및 유세포 분석기 측정 시스템의 전자 장치는 시간에 따라 변하고, 이는 최종 측정에 영향을 미친다. 따라서, 교정 방법은 일반적으로 이러한 또는 때때로 유세포 분석기의 다른 파라미터들의 원인이다.
제어하기 더 어려운 다른 파라미터들은 또한 유세포 분석기의 측정에 영향을 끼친다. 이러한 파라미터들 중 하나는 샘플 속도이다. 샘플 속도를 측정하는 방법의 일 예는 Ortyn 외의 미국 특허 No. 6,532,061에 기술되어 있으며, 이들의 전체 명세서는 여기서 참조로 사용된다. 본 방법에서, 물체는 유동 유체에 포함되고 민감하거나 측정 부피를 통해 흐르게 된다. 이러한 각각의 실시 형태의 경우, 실질적으로 일정한 피치를 가진 광학 격자는 움직이는 물체로부터 수용된 빛을 조절하기 위해 사용된다. 조절된 빛은 전기 신호로 전환되고, 그 전기 신호는 물체의 속도를 측정하기 위하여 디지털화된 다음 고속 퓨리에 변환(FFT)을 사용하여 처리된다. 그러나, 샘플 속도를 측정하기 위한 Ortyn 외에 의해 기술된 방법 및 시스템에는 여러 단점이 있다. 예를 들어, 본 방법은 상당히 복잡한 광학 격자 및 소프트웨어를 필요로 한다. 또한, 광학 격자를 위해 필요한 정확성 및 제조의 복잡성으로 인해, 광학 격자는 비용이 상당히 고가일 수 있다. 또한, 샘플 속도 측정은 예를 들어 움직이는 물체에 의해 검출된 빛의 광학 왜곡으로 인해 다소 부정확할 수 있다.
그러나, 유세포 분석기 측정에서 가장 중요한 에러는 일반적으로 온도 변화에 의해 유발된다. 또한, 유세포 분석기에 의해 실행되는 측정에 대한 온도 변화의 영향은 현재 사용 가능한 교정 방법으로 적절히 설명되지 않는다는 것이 밝혀졌다. 예를 들어, 비록 다수의 파라미터를 교정하기 위해 시도했던 Ortyn 외에 의해 기술된 방법 및 시스템은 온도 변화 및 그것이 유세포 분석기의 측정에 어떻게 영향을 미치는지 고려하지 않았다. 따라서, 비록 서로 다른 많은 교정 방법을 이용할 수 있지만, 이러한 방법 각각에 대한 부가적인 개선책은 서로 다른 유세포 분석기 측정 동안 또는 개별적인 유세포 분석기 측정 동안 온도 변화를 더 정확히 고려함으로써 만들어질 수 있다.
따라서, 유세포 분석기 측정 시스템의 구성 요소에 기여하는 적어도 주요한 에러를 제어하는 방법을 개발하는 것이 바람직할 수 있으며, 이는 실시간 교정 계획을 만드는 것과 결합될 수 있다.
상기한 것처럼, 유세포 분석기에서 가장 중요한 에러 원인은 일반적으로 온도 변화에 의해 유발된다. 온도는 측정되는 양이고, 그 효과 뒤의 물리적 현상은 알려져 있기 때문에, 이러한 가장 중요한 에러 원인을 줄이거나 아예 없앨 수도 있다.
여러 가지 측정 에러 원인 및 그 측정 에러 원인에 대한 실시간 교정 기술이 확인되었다. 또한, 측정되는 직경과 적어도 조금 다른 직경을 통해서 특징적으로 확인할 수 있고, 마이크로스피어 샘플 혼합물에 혼합될 수 있는 교정 마이크로스피어를 사용하는 실시간 미세 조절법이 개발되었다. 미세 조정법의 부가 특징은 시스템 헬스(health)의 실시간 확인, 하나 이상의 채널에서 비-선형성의 교정 및/또는 유세포 분석기 측정 시스템의 유용한 리포터 동적 구간의 상당한 연장을 포함할 수 있다. 기술된 실시 형태는 기본적으로 온도로 인한 시스템 변화를 보정하기에 유용하고, 따라서 작동의 교정 범위를 연장한다.
또한, 여기서는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법의 여러 가지 서로 다른 실시 형태가 기술된다. 각 방법은 개별적으로 사용되고 실행될 수 있다. 또한, 둘 이상의 방법이 예를 들어 측정 시스템의 여러 구성 요소의 변화성 및/또는 측정 시스템의 원하는 정확성에 따라 함께 사용되거나 실행될 수 있다.
본 발명의 일 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법에 관한 것이다. 본 방법은 측정 시스템으로 샘플 마이크로스피어를 측정하는 동안 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 상기 모니터링에 기초하여 실시간으로 하나 이상의 파라미터를 변경하는 단계를 포함한다.
일 실시 형태에서, 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 단계는 교정 마이크로스피어의 측정을 통하여 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 단계를 포함할 수 있다. 교정 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어의 직경과 다른(예를 들어, 보다 작은) 직경을 가진다. 일부 실시 형태에서, 하나 이상의 파라미터들은 측정 시스템의 검출기에 의해 생성되는 출력 신호를 포함할 수 있다. 이 출력 신호는 샘플 마이크로스피어에 의해 산란되는 빛에 반응한다.
다른 실시 형태에서, 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 단계는 교정 마이크로스피어의 측정을 통하여 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 단계를 포함할 수 있다. 이 실시 형태에서, 교정 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어의 직경과 다른(예를 들어, 보다 작은) 직경을 가지고, 교정 마이크로스피어의 적어도 일부는 다른 스펙트럼 어드레스(spectral address)를 가진다. 이러한 일 실시 형태에서, 하나 이상의 파라미터는 측정 시스템의 역동 구역을 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 파라미터(들)를 변경하는 단계는 측정 시스템의 하나 이상의 채널의 선형 역동 구역을 연장하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 부가 실시 형태에서, 하나 이상의 파라미터는 측정 시스템 헬스를 포함할 수 있다. 측정 시스템 헬스는 분류 채널의 헬스, 리포터 채널의 헬스 또는 그것들의 조합을 포함할 수 있다. 일부 실시 형태에서, 하나 이상의 파라미터는 샘플 마이크로스피어의 측정에서 선형성을 포함할 수 있다. 이러한 실시 형태에서, 상기 측정은 분류 채널의 측정, 리포터 채널의 측정 또는 그 조합을 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 파라미터(들)를 변경하는 단계는 측정에서 어떤 비-선형성을 실질적으로 교정하는 단계를 포함할 수 있다.
일부 실시 형태에서, 파라미터(들)는 측정 시스템의 애벌란취 포토 다이오드(avalanche photo diode)의 파라미터를 포함할 수 있다. 이러한 일 실시 형태에서, 본 방법은 또한 경험적으로 얻은 데이터를 사용하여 파라미터(들)를 변경하는데 사용되는 교정 인자를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 파라미터(들)는 측정 시스템의 광전자증배관(photomultiplier tube)의 파라미터를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태에서, 파라미터(들)는 샘플 마이크로스피어의 속도를 포함할 수 있다. 이러한 일 실시 형태에서, 파라미터(들)를 모니터하는 단계는 샘플 마이크로스피어가 배치된 유체의 온도를 모니터하는 단계와 그 온도로부터 샘플 마이크로스피어의 속도를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 일부 실시 형태에서, 본 방법은 또한 샘플 마이크로스피어의 측정 전에 하나 이상의 파라미터를 교정하는 단계를 포함할 수 있다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기서 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 다른 방법에 관한 것이다. 본 방법은 유세포 분석기식 측정 시스템에 근사한 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 온도로 인한 애벌란취 포토 다이오드의 이득(gain)에서 변화를 실질적으로 교정하기 위하여 경험적으로 얻은 데이터를 사용하여 그 온도에 대한 측정 시스템의 애벌란취 포토 다이오드의 바이어스 전압(bias voltage)을 변경하는 단계를 포함한다.
일 실시 형태에서, 본 방법은 실질적으로 일정한 빛을 하나 이상의 온도에서 애벌란취 포토 다이오드에 적용함으로써 경험적으로 얻은 데이터를 생성하는 단계 및 하나 이상의 온도에서 복합 바이어스 전압을 위한 애벌란취 포토 다이오드의 출력 전류를 기록하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 파라미터(들)를 변경하는 단계는 샘플 측정이 측정 시스템에 의해 실행되기 전에 실행된다. 이러한 실시 형태에서, 바이어스 전압은 샘플 측정을 중 실질적으로 일정할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 파라미터(들)를 모니터하는 단계 및 파라미터(들)를 변경하는 단계는 실시간으로 실행된다.
일부 실시 형태에서, 본 방법은 또한 알려진 강도의 빛을 방출하는 교정 마이크로스피어가 측정 시스템으로 측정되는 동안 애벌란취 포토 다이오드에서 미리 정해진 신호 레벨이 획득될 때까지 애벌란취 포토 다이오드의 바이어스 전압을 변경하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 일 실시 형태에서, 본 방법은 애벌란취 포토 다이오드의 역 바이어스 전압, 미리 정해진 신호 레벨에서 바이어스 전압 및 온도로부터 애벌란취 포토 다이오드의 대응하는 상대 전류를 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다. 본 방법의 실시 형태는 또한 대응하는 상대 전류, 온도, 역 바이어스 전압 및 경험적으로 얻은 데이터를 사용하여 바이어스 전압을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 다른 방법에 관한 것이다. 본 방법은 유세포 분석기식 측정 시스템에 근사한 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 광전자증배관의 이득에서 변화를 실질적으로 교정하기 위하여 광전자증배관을 위한 특성 그래프를 사용하여 온도에 대응하는 측정 시스템의 광전자증배관의 출력 신호를 변경하는 단계를 포함한다. 광전자증배관의 이득은 온도에 반응하여 거의 선형적으로 변한다. 일부 실시 형태에서, 광전자증배관은 측정 시스템의 리포터 채널의 일부이다. 다른 실시 형태에서, 광전자증배관의 특성 그래프는 검출 파장 및 광전자증배관의 캐소드(cathode) 구조에 따라 변한다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 또 다른 방법에 관한 것이다. 이 방법은 첫 번째 값 및 두 번째 값에서 측정 시스템의 광전자증배관의 전압을 설정하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 첫 번째 값 및 두 번째 값에서 광전자증배관의 출력 전류를 결정하는 단계를 포함한다. 또한, 본 방법은 첫 번째 값 및 두 번째 값에서 출력 전류의 로그(log)에 대한 첫 번째 값 및 두 번째 값의 로그로부터 광전자증배관의 교정 전압을 결정하는 단계를 포함한다. 본 방법은 교정 전압을 광전자증배관에 부가하는 단계를 더 포함한다. 본 방법은 또한 광전자증배관의 하나 이상의 파라미터들이 미리 정해진 허용 범위 내에 있는지를 결정하기 위해 광전자증배관을 시험하는 단계를 포함한다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 다른 방법에 관한 것이다. 이 방법은 연속 추정(successive approximation)를 사용하여 측정 시스템의 검출기의 교정 전압을 측정하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 교정 전압을 검출기에 적용하는 단계를 포함한다. 일 실시 형태에서, 검출기는 애벌란취 포토 다이오드를 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 검출기는 광전자증배관을 포함할 수 있다.
일 실시 형태에서, 본 방법은 교정 전압을 검출기의 파손 전압과 비교하고 만약 교정 전압이 파손 전압을 초과한다면 교정 전압의 측정을 반복하는 단계를 포함할 수 있다. 본 발명의 다른 실시 형태는 검출기 신호 레벨을 측정하기 위하여 검출기 샘플을 수집하고 처리하는 단계를 포함한다. 이러한 일 실시 형태에서, 본 방법은 검출기 신호 레벨을 교정 목표 신호 레벨과 비교하여, 만약 검출기 신호 레벨이 교정 목표 신호 레벨 이상이면 검출기의 바이어스 전압을 줄이고 교정 전압의 측정을 반복하는 단계를 포함한다. 이러한 다른 실시 형태에서, 본 방법은 검출기 신호 레벨을 교정 목표 신호 레벨과 비교하여, 만약 검출기 신호 레벨이 교정 목표 신호 레벨의 미리 정해진 범위 내에 있지 않다면 모든 원하는 검출기 전압 레벨이 시도될 때까지 교정 전압의 측정을 반복하는 단계를 포함한다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 다른 방법에 관한 것이다. 본 방법은 유세포 분석기식 측정 시스템를 통해 흐르는 유체의 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 샘플 마이크로스피어는 이 유체에 배치된다. 본 방법은 또한 그 온도에서 유체의 점성으로부터 측정 시스템에서 샘플 마이크로스피어의 속도를 결정하는 단계를 포함한다.
일 실시 형태에서, 본 방법은 또한 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어 중 하나가 검출 장치의 검출 창(detection window)에 존재하는 시간의 길이를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 일부 실시 형태에서, 본 방법은 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어 중 하나가 검출 장치의 하나의 검출 창에서 다른 검출 창으로 이동하는데 걸리는 시간의 길이를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 본 방법은 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어 중 하나가 언제 검출 방법의 검출 창에 존재하는지를 측정하는 단계를 포함할 수 있다. 또 다른 실시 형태에서, 본 방법은 속도를 보정하기 위하여 측정 시스템의 하나 이상의 검출 창을 위한 샘플링 간격을 조절하는 단계를 포함할 수 있다.
부가 실시 형태에서, 파라미터(들)를 모니터하는 단계 및 속도를 결정하는 단계는 측정 시스템의 샘플 마이크로스피어의 측정을 실행하기 전에 실행된다. 일부 실시 형태에서, 본 방법은 속도로부터 측정 시스템의 출력 신호의 하나 이상의 특성을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 일 실시 형태에서, 본 방법은 교정 인자를 사용하여 속도로 인한 에러에 대한 출력 신호를 교정하는 단계를 포함한다. 이 교정 인자는 경험적인 측정을 사용하여 결정된다. 다른 실시 형태에서, 측정 시스템은 샘플 마이크로스피어의 측정 중 유체의 압력을 실질적으로 일정하게 유지하도록 형성된다.
일 실시 형태에서, 속도를 결정하는 단계는 표, 포아즈이유 방정식(Poiseuille's equation) 또는 미리 정해진 온도에 대한 속도값에서 속도를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 일부 실시 형태에서, 본 방법은 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어의 측정 중 유체의 압력을 조절하는 단계를 포함할 수 있다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 다른 방법에 관한 것이다. 본 방법은 마이크로스피어가 유세포 분석기식 측정 시스템의 첫 번째 검출 창에서 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 시간을 측정하는 단계를 포함한다. 본 발명은 또한 그 시간이 실질적으로 일정하게 되도록 측정 시스템의 적용 압력을 변경하는 단계를 포함한다. 일 실시 형태에서, 그 시간은 평균 시간이다. 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어 또는 교정 마이크로스피어일 수 있다. 시간을 측정하는 단계는 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛을 측정하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 실시 형태에서, 시간을 측정하는 단계는 하나의 검출기로 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛을 측정하는 단계를 포함할 수 있다. 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛은 하나의 빔스플리터(beamsplitter)에 의해 하나의 검출기로 유도될 수 있다. 본 발명은 실시간으로 실행되거나 그렇지 않을 수 있다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
다른 실시 형태는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 다른 방법에 관한 것이다. 본 방법은 마이크로스피어가 유세포 분석기식 측정 시스템의 첫 번째 검출 창에서 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 평균 시간을 측정하는 단계를 포함한다. 이 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어, 교정 마이크로스피어 또는 교정 및 샘플 마이크로스피어를 포함할 수 있다. 본 방법은 또한 참조 마이크로스피어가 첫 번째 창에서 두 번째 창으로 이동하는데 걸리는 참조 시간에 대해 평균 시간을 비교하는 단계를 포함한다. 또한, 본 방법은 평균 시간과 참조 시간 사이의 차이가 미리 정해진 값보다 큰 경우 측정 시스템의 적용 압력을 변경하는 단계를 포함한다.
일 실시 형태에서, 적용 압력을 변경하는 단계는 평균 시간이 참조 시간보다 큰 경우 적용 압력을 증가시키는 단계를 포함한다. 선택적으로, 적용 압력을 변경하는 단계는 평균 시간이 참조 시간보다 작은 경우 적용 압력을 감소시키는 단계를 포함한다. 일부 실시 형태에서, 미리 정해진 값은 측정 시스템의 알려진 시간 변화 메카니즘을 보정하도록 선택된다. 본 방법은 실시간으로 실행되거나 그렇지 않을 수 있다. 본 방법의 상기한 각 실시 형태는 여기에 기술된 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 목적들 및 장점들은 첨부된 도면을 참조한 이하의 상세한 설명으로부터 명백해 질 것이다.
도 1은 본 발명의 방법을 실행하는데 사용될 수 있는 측정 시스템의 일 예를 도시한 개략적인 다이어그램;
도 2는 온도의 함수로서, 130 볼트의 역 바이어스 전압(V60)을 가진 ADP의 반응을 도시한 복합 바이어스 커브의 일 예를 도시한 그래프;
도 3은 시간의 함수로서 여러 PMT의 반응을 도시한 그래프;
도 4는 PMT 바이어스 전압 로그의 함수로서 PMT 이득의 로그의 일 예를 도시한 그래프;
도 5는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법의 일 예를 도시한 흐름도;
도 6은 여기서 기술되는 본 방법을 적어도 하나를 실행하는데 사용될 수 있는 측정 시스템 일부의 일 예의 단면을 도시한 개략적인 다이어그램; 및
도 7은 본 발명의 실시 형태 중 하나에서 측정될 수 있는 펄스 트레인(즉, 다른 시간에 측정된 산란된 빛)을 도시한 도면이다.
본 발명은 여러 변형 및 대체 가능한 형태로 변형될 수 있으며, 특정 실시 형태를 도면에서 일 예로 도시하였고 이하에서 상세히 기술할 것이다. 그러나, 본 발명에 관한 도면 및 상세한 설명이 본 발명의 특정 형태를 한정하는 것은 아니며, 첨부된 청구항에 의해 한정된 본 발명의 개념 및 범위 내에서 모든 변형 형태, 등가물 및 대안들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.
유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법의 여러 가지 서로 다른 실시예들을 기술한다. 상기한 것처럼, 각각의 방법은 개별적으로 사용될 수 있고 실행될 수 있다. 또한, 둘 이상의 방법은 예를 들어 측정 시스템의 여러 구성 요소에서 변화성 및/또는 측정 시스템의 원하는 정확성에 따라 함께 사용되거나 또는 실행될 수 있다.
비록 실시예들이 마이크로스피어 또는 폴리스티렌 비드에 관하여 기술되었지만, 측정 시스템 및 방법은 극미립자, 금 나노입자, 비드, 마이크로비드, 라텍스 입자, 라텍스 비드, 형광 비드, 형광 입자, 착색 입자, 착색 비드 및 세포를 이용하여 사용될 수 있다. 마이크로스피어는 분자 반응의 매개체로 작용할 수 있다. 적절한 마이크로스피어, 비드 및 입자의 예들은 미국 특허 No.5,736,330(Fulton), 미국 특허 No. 5,981,180(Chandler 외), 미국 특허 No. 6,057,107(Fulton), 미국 특허 No. 6,268,222(Chandler 외), 미국 특허 No. 6,449,562(Chandler 외), 미국 특허 No. 6,514,295(Chandler 외), 미국 특허 No. 6,524,793(Chandler 외) 및 미국 특허 No. 6,528,165(Chandler 외)에 기술되어 있으며, 이들의 전체 명세서는 특히 여기서 참조로 사용된다. 이하에 기술된 측정 시스템 및 방법은 이러한 특허에 기술된 어떤 마이크로스피어, 비드 및 입자를 사용할 수 있다. 또한, 유세포 분석기에 사용되는 마이크로스피어는 루미넥스코퍼레이션(Luminex Corp., Austin, Texas)과 같은 제조업체에 의해 제조될 수 있다. "비드" 및 "마이크로스피어"라는 용어는 본 명세서에서 서로 호환성 있게 사용된다.
도 1은 본 발명의 방법을 실행하기 위해 사용될 수 있는 측정 시스템의 일 예를 도시한다. 특히, 도 1에 도시된 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터는 본 발명에 따라 측정되고, 모니터되며, 변경되고 및/또는 제어될 수 있다. 도시된 도면들은 크기에 맞게 도시되지 않았다. 특히, 도면들의 일부 구성 요소의 크기는 그 구성 요소의 특징을 강조하기 위하여 상당히 과장되었다. 측정 시스템의 일부 구성 요소는 명확화를 위해 도면에 포함하지 않았다.
도 1에서, 측정 시스템은 마이크로스피어(10)가 흐르는 큐벳(12)의 단면을 통과하는 면을 따라 도시된다. 일 실시예에서, 상기 큐벳은 표준 유세포 분석기에서 사용되는 것과 같은 표준 수정 큐벳일 수 있다. 그러나, 어떤 다른 적절한 형태의 조망 또는 전달 챔버도 분석을 위해 샘플을 전달하는데 사용될 수 있다. 상기 측정 시스템은 광원(14)을 포함한다. 광원(14)은 레이저와 같이 관련 분야에 알려진 어떤 적절한 광원을 포함할 수 있다. 상기 광원은 청색광 또는 녹색광과 같은 하나 또는 그 이상의 파장을 가진 빛을 방출하도록 형상될 수 있다. 광원(14)은 마이크로스피어가 큐벳을 통과하여 흐를 때 그것들을 비추도록 형상될 수 있다. 상기 일루미네이션(illumination)은 마이크로스피어가 하나 이상의 파장 또는 파장 밴드를 가진 형광 빛을 방출하게 할 수 있다. 일부 실시예에서, 상기 시스템은 빛을 광원에서 마이크로스피어 또는 흐름 통로에 집중시키도록 형상된 하나 이상의 렌즈(도시하지 않음)를 포함할 수 있다. 상기 시스템은 또한 하나 이상의 광원을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 광원은 서로 다른 파장 또는 파장 밴드(예를 들어, 청색광 및 녹색광)를 가진 빛으로 마이크로스피어를 비치도록 형상될 수 있다. 일부 실시예에서, 광원은 마이크로스피어를 서로 다른 방향에서 비추도록 형상될 수 있다.
마이크로스피어로부터 전방으로 산란된 빛은 접힘 거울(18) 또는 다른 적절한 빛 방향 결정 요소에 의해 검출 장치(16)로 향할 수 있다. 선택적으로, 상기 검출 장치(16) 전방으로 산란된 빛의 경로에 똑바로 위치할 수 있다. 이러한 식으로, 상기 접힘 거울 또는 다른 빛 방향 결정 요소는 상기 시스템에서 포함되지 않을 수 있다. 일 실시예에서, 전방으로 산란된 빛은 도 1에 도시된 것처럼, 광원(14)에 의한 일루미네이션 방향으로부터 약 180°로 마이크로스피어에 의해 산란된 빛일 수 있다. 전방으로 산란된 빛의 각도는 광원에서의 입사광이 상기 검출 장치의 감광성 표면에 영향을 미치지 않도록 일루미네이션 방향에 대해 정확히 180°가 아닐 수 있다. 예를 들어, 전방으로 산란된 빛은 마이크로스피어에 의해 일루미네이션 방향에 대해 180°보다 작거나 또는 큰 각도로 산란된 빛일 수 있다(예를 들어, 약 170°, 약 175°, 약 185° 또는 약 190°의 각도로 산란된 빛).
마이크로스피어에 의해 일루미네이션 방향에 대해 약 90°로 산란된 빛 역시 수집될 수 있다. 일 실시예에서, 그 산란된 빛은 하나 이상의 빔스플리터 또는 색선별거울(dichroic mirror)에 의해 하나 이상의 빔으로 분리될 수 있다. 예를 들어, 일루미네이션 방향에 대해 약 90°로 산란된 빛은 빔스플리터(20)에 의해 서로 다른 두 개의 빛의 빔으로 분리될 수 있다. 두 개의 서로 다른 빛의 빔은 네 개의 서로 다른 빛의 빔을 생성하도록 빔스플리터(22,24)에 다시 분리될 수 있다. 각각의 빛의 빔은 하나 이상의 검출기를 포함할 수 있는 서로 다른 검출 장치로 향할 수 있다. 예를 들어, 네 개의 빛의 빔 중 하나는 검출 장치(26)으로 향할 수 있다. 상기 검출 장치(26)은 마이크로스피어에 의해 산란된 빛을 검출하도록 형상될 수 있다.
검출 장치(16) 및/또는 다른 검출 장치(26)에 의해 검출된 산란된 빛은 일반적으로 광원에 의해 비춰진 입자의 부피에 비례할 수 있다. 따라서, 검출 장치(16) 및/또는 다른 검출 장치(26)의 출력 신호는 일루미네이션 구역 또는 검출 창에 있는 입자의 직경을 측정하는데 사용될 수 있다. 또한, 검출 장치(16) 및/또는 다른 검출 장치(26)의 출력 신호는 뭉쳐지거나 또는 거의 동시에 일루미네이션 구역을 통과하는 하나의 입자 이상을 확인하는데 사용될 수 있다. 따라서, 이러한 입자들은 다른 샘플 마이크로스피어 및 교정 마이크로스피어와 구별될 수 있다. 또한, 검출 장치(16) 및/또는 다른 검출 장치(26)의 출력 신호는 기술된 것처럼 크기에 기초하여 샘플 마이크로스피어와 교정 마이크로스피어를 구별하는데 사용될 수 있다.
다른 세 빛의 빔은 검출 장치(28,30,32)로 향할 수 있다. 상기 검출 장치(28,30,32)는 마이크로스피어에 의해 방출된 형광을 검출하도록 형상될 수 있다. 각각의 검출 장치는 다른 파장 또는 다른 파장 구역의 형광을 검출하도록 형상될 수 있다. 예를 들어, 검출 장치 중 하나는 녹색 형광을 검출하도록 형상될수 있다. 다른 검출 장치는 노란-오렌지색 형광을 검출하도록 형상될 수 있고, 다른 검출 장치는 적색 형광을 검출하도록 형상될 수 있다.
일부 실시 형태에서, 스펙트럼 필터(34,36,38)는 제각기 검출 장치(28,30,32)에 연결될 수 있다. 상기 스펙트럼 필터는 검색 시스템이 검출하도록 형상된 파장의 형광을 제외한 파장의 형광을 차단하도록 형상될 수 있다. 또한, 하나 이상의 렌즈(도시하지 않음)는 각각의 검출 장치에 광학적으로 연결될 수 있다. 상기 렌즈는 산란된 빛 또는 방출된 형광을 검출기의 감광성 표면에 집중시키도록 형상될 수 있다.
검출기의 출력 전류는 그것에 영향을 미치는 형광 빛에 비례하고 전류 펄스를 만든다. 상기 전류 펄스는 전압 펄스로 전환될 수 있고, 저역통과여파기(low pass filter)로 걸러진 다음 A/D 변환기에 의해 디지털화될 수 있다. DSP와 같은 프로세서(40)는 형광의 크기를 나타내는 숫자를 제공하기 위하여 펄스 이하의 전 구역을 합친다. 또한, 상기 프로세서는 여기에 기술된 부가 기능을 실행할 수 있다(예를 들어, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 것, 모니터된 파라미터(들)를 기초로 하나 이상의 파라미터를 실시간으로 변경하는 것 등). 도 1에 도시된 것처럼, 프로세서(40)는 전송 부재(42)를 통해 검출기(26)에 연결될 수 있다. 프로세서(40)는 또한 전송 부재(42) 및 A/D 변환기와 같은 하나 이상의 다른 구성 요소(도시하지 않음)를 통해 비직접적으로 검출기(26)에 연결될 수 있다. 상기 프로세서는 유사한 방식으로 검출 장치의 다른 검출기에 연결될 수 있다.
일부 실시예에서, 마이크로스피어에 의해 방출된 형광에서 발생한 출력 신호는 마이크로스피어의 정체 및 마이크로스피어의 표면에서 일어나는 반응에 관한 정보를 결정하기 위해 사용될 수 있다. 예를 들어, 두 검출 장치의 출력 신호들은 마이크로스피어의 정체를 결정하는데 사용될 수 있고, 다른 검출 장치의 출력 신호들은 마이크로스피어의 표면에서 발생하는 반응을 결정하는데 사용될 수 있다. 따라서, 검출기 및 스펙트럼 필터의 선택은 마이크로스피어에 통합되거나 결합된 염료의 형태 및/또는 측정될 반응에 따라 다양할 수 있다(즉, 반응에 관계된 반응물에 통합되거나 결합된 염료(들)).
샘플 마이크로스피어의 정체를 결정하기 위해 사용되는 검출 장치(예를 들어, 검출 장치(28,30))은 APDs, PMT 또는 다른 광검출기 일 수 있다. 상기 APDs는 기술된 것처럼 온도의 함수로서 이득 변화에 대해 실시간으로 교정될 수 있다. 마이크로스피어의 표면에서 일어나는 반응을 확인하는데 사용되는 검출 장치(예를 들어, 검출 장치(32))은 PMT, APD 또는 다른 형태의 광검출기 일 수 있다. 상기 PMT는 기술된 것처럼 PMT의 출력 신호에 적용될 수 있는 PMT 특성 그래프에서 유도된 간단한 배율기를 사용하여 교정될 수 있다. 상기 검출기 및 측정 시스템은 기술된 것처럼 형상될 수 있다.
도 1의 시스템은 서로 다른 염료 특징을 가진 마이크로스피어를 구별하기 위해 두 개의 서로 다른 검출 창을 가진 두 검출 장치를 포함하는 것으로 도시되었지만, 상기 장치는 이러한 둘 이상의 검출 창(즉,검출 창(3), 다른 검출 창(4) 등)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서, 상기 시스템은 부가 빔스플리터 및 다른 검출 창을 가진 부가 검출 장치를 포함할 수 있다. 또한, 스펙트럼 필터 및/또는 렌즈는 각각의 부가 검출 장치에 연결될 수 있다.
다른 실시에에서, 상기 장치는 마이크로스피어의 표면에서 반응한 서로 다른 물질을 구별하도록 형상된 둘 이상의 검출 장치를 포함할 수 있다. 서로 다른 반응 물질은 마이크로스피어의 염료 특징과는 다른 염료 특징을 가질 수 있다.
본 명세서에 기술된 방법을 실행하는데 사용될 수 있는 측정 시스템의 다른 예는 미국 특허 No. 5,981,180(Chandler 외), 미국 특허 No. 6,046,807(Chandler), 미국 특허 No. 6,139,800(Chandler), 미국 특허 No. 6,336,354(Chandler), 미국 특허 No. 6,411,904(Chandler), 미국 특허 No. 6,449,562(Chandler 외) 및 미국 특허 No. 6,524,793(Chandler 외)에 기술되어 있으며, 이들의 전체 명세서는 여기서 참조로 사용된다. 여기에 기술된 측정 시스템은 이러한 특허에서 기술된 것처럼 다르게 형상될 수 있다.
유세포 분석기식 측정 시스템에서, 산란된 빛 및 비드 정체 검출은 일반적으로 광센서로서 애벌란취 포토 다이오드(APDs)를 사용하여 실행된다. APDs는 출력 전류값 또는 "이득(gain)"이 역 바이어스 전압의 활용을 통해 넓은 범위에서 다양할 수 있기 때문에 다른 검출기보다 바람직하다. 일정한 수의 입력 광자의 결과로써 흐르는 전자로 표현될 수 있는 이득은 가해진 바이어스 전압의 크기에 비례한다.
유감스럽게도, 입력 광자에서 출력 전자로의 전환은 상당히 온도 의존적이다. 따라서, APD는 상당히 온도 의존적이고 유세포 분석기식 측정 시스템에서 어떤 다른 구성 요소보다 훨씬 더 그러하다.
따라서, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하기 위한 방법의 일 실시예는 유세포 분석기식 측정 시스템에 근사한 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 또한 온도에 응하여 측정 시스템의 APD의 바이어스 전압을 변경하는 단계를 포함한다.
각 APD는 실질적으로 동일한 일루미네이션하에 실리콘 다이오드의 출력 전류보다 60배나 더 큰 출력 전류를 달성하는 역 바이어스 전압(V60)에 따라 제조자에 의해 등급이 매겨진다. 각각의 장치에 따라서, V60은 몇 십 볼트에서 100 볼트 이상까지 분류할 수 있다.
APD의 출력은 온도에 대하여 비선형이기 때문에, 일정한 보정 인자는 APD의 전체 작동 범위에서 사용될 수 없다. 온도에 대해 전류 출력의 경험적인 측정은 종합적인 보정 방법을 개발하는데 활용될 수 있다. 즉, 달리 표현하면 APD의 파라미터(들)를 변경하는데 사용되는 교정 인자는 경험적으로 얻은 데이터를 사용하여 결정될 수 있다. 특히, APD의 바이어스 전압은 온도로 인한 애벌란취 포토 다이오드의 이득에서 변화를 실질적으로 교정하기 위하여 경험적으로 얻은 데이터를 사용하여 변경될 수 있다.
APD의 반응을 경험적으로 얻은 데이터와 특징지우기 위하여, 실질적으로 일정한 빛 수준이 하나 이상의 온도에서 APD에 적용된다. 하나 이상의 정해진 온도에서, APSS는 복합 바이어스 전압을 위해 기록된다. 온도는 변하고(예를 들어, 전체 정도 증가), 전류 측정은 복합 바이어스 전압에서 다시 반복된다. (도 2에 도시된 것과 같은)결과로서 생기는 데이터 컬렉션은 시간에 대한 특정 V60 장치의 전류 형태에 대하여 일루미네이션을 전체적으로 기술한다. 다수의 다른 장치의 반응을 얻기 위하여, 이러한 측정은 다른 V60 등급으로 APDs에서 반복될 수 있다.
일 실시예에서, 바이어스 그패프 표는 다음의 방식으로 온도에 대하여 교정하는데 활용될 수 있다. 초기 장치 교정 동안, 알려진 강도의 빛을 방출하는 교정 마이크로스피어는 장치에 주입된다. 상기 교정 마이크로스피어는 장치를 통해 흐르고, 교정 마이크로스피어가 측정 시스템에 의해 측정되는 동안, 바이어스 전압은 APD로부터 미리 정해진 신호 레벨이 획득될 때까지 변한다. 검출기를 위한 V60, 미리 정해진 신호 레벨에서 바이어스 전압 및 온도는 APD 전류 판독을 표에 삽입하기 위하여(R 값) APD 반응표에서 지수로서 사용될 수 있다.
다른 실시예에서, 바이어스 그래프 표는 다음의 방식으로 만들어질 수 있다. 발광 다이오드(LED)와 같은 일정한 빛을 방출하는 공급원은 광섬유 케이블을 통해 멀리 떨어져서 APD의 감광성 구역을 비치는데 사용될 수 있다. 그런 다음 APD는 APD가 노출되는 주위 온도를 변화시키는 능력을 가진 주위 챔버에 위치할 수 있다. 그런 다음 측정 시스템은 온도 및 APD의 바이어스 전압이 변하는 동안 APD의 전류 출력(R 값)을 기록할 것이다.
일반적인 샘플 행정 동안, 유세포 분석기식 측정 시스템에 근사한 온도는 모니터될 수 있다. 그런 다음 바이어스 전압은 원했던 상대 전류, 온도 및 경험에서 얻은 데이터를 사용하여 결정될 수 있다. 예를 들어, R 값, 측정된 온도 및 V60 파라미터는 대응하는 바이어스 전압을 찾기 위하여 APD 반응표에서 입력값으로 사용될 수 있다. 만약 측정된 온도가 표 엔트리 사이에 있다면, 가장 근접한 온도 엔트리에 대응하는 판독은 가장 좋은 바이어스 전압을 찾기 위하여 삽입될 수 있다. 상기 표로부터 획득된 바이어스 전압은 온도에 대한 이득 변화를 교정하기 위하여 APD에 적용된다. 샘플 행정은 일반적으로 지속 시간이 2분보다 적고 온도는 그 시간 동안 거의 변하지 않기 때문에, 샘플 행정의 초기에 단일 바이어스 교정을 하고 행정의 지속 시간 동안 상기 바이어스를 유지하기에 충분하다. 즉, 바이어스 전압은 샘플 측정이 측정 시스템에 의해 실행되기 전에 변경될 수 있고, 바이어스 전압은 샘플 측정 동안에 실질적으로 일정할 수 있다. 그러나, 측정 시스템에 근사한 온도가 샘플 행정 동안의 시간에 모니터되고, 따라서 APD의 바이어스 전압이 변경될 수 있는 것도 가능하다. 이러한 방식으로, 온도를 모니터하는 단계 및 APD의 바이어스 전압을 변경하는 단계는 실시간으로 실행될 수 있다.
일부 유세포 분석기 측정 시스템의 리포터 채널은 감광성 검출기로서 광전자증배관(photomultiplier tube:PMT)을 포함한다. 상기 리포터 채널은 마이크로스피어의 표면에서 발생하는 반응에 관계된 물질 또는 마이크로스피어의 표면에 결합된 물질을 확인하기 위해 사용되는 채널로서 일반적으로 정의될 수 있다. PMT는 광음극(photocathode)을 비추는 빛의 양, 가해진 바이어스 전압 및 PMT에서 내부 다이노드의 수에 비례하여 전류를 발생시킨다. 유세포 분석기에서, PMT 바이어스 전압은 주어진 형광 빛의 값에서 전류 출력을 표준화하기 위하여 "대조"점으로 사용될 수 있다. 교정 과정 동안 표준화된 전압을 찾기 위해 최근에 사용되는 방법은 측정이 이루어지고, 경험에서 나온 추측은 원하는 값에 더 가까운 출력을 초래할 것 같은 PMT 바이어스 설정에 대해서 이루어진다는 점에서 경험적이다. 종종, 출력 에러값이 수용할 수 있는 범위 내에 있기 전에 많은 반복이 필요하다. 따라서, 교정 시간을 줄여서 가장 좋은 PMT 전압을 찾기 위해 사용되는 교정 반응물의 양을 줄이는 것이 바람직할 것이다. 현재에 이용할 수 있는 것을 넘어서 교정 과정을 가속화하는 여러 다른 방법들이 이하에서 기술된다.
온도에 대한 실질적인 선형 반응 때문에, PMT는 APD보다 온도 변화에 대해 보정하는 것이 훨씬 더 간단하다. 예를 들어, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법의 일 예는 유세포 분석기식 측정 시스템에 근사한 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. PMT의 상대적으로 완만한 온도 변화율 때문에 정확한 위치는 중요하지 않지만, 상기 온도는 일반적으로 가능한 한 PMT 가장 가까이에서 측정된다. 본 방법은 또한 온도로 인한 PMT 출력 신호의 이득에서 실질적으로 변화를 교정하기 위하여 PMT를 위한 특성 그래프를 사용하여 온도에 응하여 측정 시스템의 PMT의 출력 신호를 변경하는 단계를 포함한다. PMT의 이득은 온도에 대해 거의 선형적으로 변할 것이다. 또한, PMT에 대한 특성 그래프는 검출 파장 및 캐소드 구조로 변할 것이다. 이러한 방식으로, 주어진 검출 파장 및 캐소드(cathode) 구조에서 온도에 대한 PMT 반응은 도 3에 도시된 것처럼, "광전자증배관 - 활용 원리", Hamamatsu Photonics K.K.,1994에서 취해지는 간단한 선형 관계를 통해 표현될 수 있으며, 이는 특히 여기서 참조로 사용된다.
PMT 이득은 상기에 논의한 APD보다 훨씬 더 적게 온도에 의하여 변하기 때문에, 이득을 바꾸거나 또는 바이어스 전압을 결정함으로써 장치를 보정할 필요가 없다. 대신, 도 3에 도시된 것과 같은 PMT 특성 그래프로부터 유도된 간단한 배율기를 사용하는 것으로 충분하고, 이는 리포팅 소프트웨어를 통하여 최종 PMT 판독에 적용될 수 있다.
PMT를 교정하기 위하여, 알려진 형광 분량을 가진 교정 마이크로스피어는 기구에 존재하고, 일반적인 샘플이 하는 것처럼 시스템을 통해 흐른다. 교정 마이크로스피어가 측정 시스템에 의해 측정되는 동안, 바이어스 전압은 미리 정해진 신호 레벨이 획득될 때까지 변한다.
본 방법은 일련의 마이크로스피어 판독의 통계가 계산되고 만약 원하는 허용 오차가 달성되면 과정을 종결하는데 사용되는 반복 과정이다. 만약 에러가 충분히 작지 않다면, 앞선 두 반복에서의 결과는 다음 PMT 바이어스 설정을 예상하는데 사용될 수 있다. 선의 식, y = m*x + b는 그 과정에서 사용되며, 여기서 기울기(m)는 이전의 바이어스 및 결과로 생기는 형광 측정으로 정의된다. 만약 전류 이득에 대한 PMT 바이어스 전압의 전이 함수가 선형이었다면, 최종 해결책은 바로 달성될 수 있고 하나의 부가 측정으로 시험될 수 있다. 그러나, 전류 이득 전이 함수에 대한 PMT 바이어스는 증가하는 바이어스 전압과 기하급수적으로 증가하기 때문에, 선형 방법은 단지 그래프의 상대적으로 짧은 단편에서 작용하고, 따라서 최종 허용 오차 요구를 만족시키기 위해서 여러 번의 반복이 필요하다.
흥미롭게도, 이득에 대한 PMT 전압이 로그-로그 그래프(도 4 참조)로 도시될 때, 전이 함수는 직선으로 나타난다. 도 4의 데이터는 "광전자증배관 - 활용 원리", Hamamatsu Photonics K.K.,1994에서 취해졌다.
앞서 진술한 것처럼, 내부 다이노드 카운트 및 가해진 바이어스 전압은 PMT의 전류 증폭을 지배한다. 빛의 고정값에서, 식 1에 도시된 것처럼 출력 전류는 V의 N 거듭제곱에 비례하고, 여기서 V는 가해진 바이어스 전압이고, N은 다이노드의 수이며 A는 PMT의 여러 물리적 측면을 아우르는 비례 상수이다.
i = A * VN (1)
상기 식 1의 양 측에 로그를 취하면 그 결과는 다음과 같다:
log(i) = N * log(V) + log(A) (2)
y = log(i), m = N, x = log(V) 및 b = log(A)로 해서 간단하고 친숙한 1차 선형 방정식으로 다시 표현하면 다음과 같다:
y = m*x + b (3)
이러한 로그 변형을 하면, 겨우 세 개의 샘플 측정으로 간략화된 교정 공정을 실행하는 것이 가능하다.
예를 들어, 일 실시예에서, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법은 측정 시스템의 PMT 전압을 첫 번째 값 및 두 번째 값으로 설정하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 PMT의 출력 전류를 첫 번째 값 및 두 번째 값에서 측정하는 단계를 포함한다. 또한, 본 방법은 첫 번째 및 두 번째 값에서 출력 전류의 로그에 대하여 첫 번째 및 두 번째 값의 로그로부터 PMT의 교정 전압을 결정하는 단계를 포함한다. 본 방법은 교정 전압을 PMT에 적용하는 단계 및 PMT의 하나 이상의 파라미터가 미리 정해진 허용 오차 내에 존재하는 지를 결정하기 위하여 PMT를 테스트하는 단계를 더 포함한다.
이러한 방법의 특정예는 이하의 1 단계 내지 7 단계에서 설명된다.
1. PMT 전압을 근사값 또는 그 범위의 하한(V=VL)에 설정하고 측정을 얻는다(i=iL).
2. PMT 전압을 근사값 또는 그 범위의 상한(V=VH)에 설정하고 측정을 얻는다(i=iH).
3. 네 개 모두에 로그를 취한다.
4. 기울기(m) 및 절편(b)을 계산한다.
5. 목표 PMT 설정(로그 스페이스)Xcal을 해결한다.
6. PMT 교정 전압 Vcal을 얻기 위하여 Xcal의 항-로그를 취한다.
7. Vcal을 적용하고 원하는 허용 오차가 달성되는지 여부를 결정하기 위해 측정한다.
본 방법은 시험되었고 매 시간 허용 오차 내에 성공적으로 수렴되었다. 만약 허용 오차가 달성되지 않았다면, 수용할 수 있는 해답은 이전에 계산된 Vcal, ical 및 VH, iH를 사용하여 로그에서 새로운 기울기 및 절편을 발생시킴으로써 결과가 나올 것 같다. Vcal, ical 지점은 상대적으로 최종 PMT에 가까울 것 같고, 새로운 선을 따르는 단지 짧은 횡단선은 수용할 수 있는 답을 얻기 위하여 필요할 수 있다. 이 경우, 네 개의 샘플 측정은 적절한 교정 전압을 찾는데 사용될 수 있다.
유세포 분석기식 측정 시스템의 검출기를 교정하는 다른 방법은 바람직하게는 연속 추정을 이용함으로써 교정 반복을 감소시킨다. 일 실시예에서, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법은 도 5의 50 단계에서 도시된 것처럼 연속 추정을 이용하여 측정 시스템의 검출기의 교정 전압을 결정하는 단계를 포함한다. 모든 가능한 교정 전압이 성공적인 교정을 달성하지 못하고 검출기에 적용되었을 때, 본 방법은 52 단계에 도시된 것처럼 교정 실패를 방출할 것이다. 검출기는 APD, PMT 또는 측정 시스템에 적절한 어떤 다른 검출기일 수 있기 때문에, 각 검출기 전압은 54 단계에 도시된 것처럼 검출기 전압 한계에 비교될 수 있다. 만약 교정 전압이 전압 한계를 초과한다면, 서로 다른 교정 전압은 적어도 50 단계를 반복함으로써 결정될 수 있다.
56,58,60 단계들에 도시된 것처럼, 본 방법은 교정 전압을 검출기에 적용하고, 검출기로부터 데이터를 수집하며 수집된 데이터로 막대 그래프를 만드는 단계, 상기 막대 그래프 피크값을 교정 목표 피크값과 비교하는 단계를 포함할 수 있다. 만약 막대 그래프 피크값이 교정 표적 피크값에 충분히 가까우면, 62 단계에 도시된 것처럼 교정은 종료된다.
본 방법은 또한 64 단계에 도시된 것처럼, 막대 그래프 피크값이 교정 목표 피크값 이상인지를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 64 단계의 결과는 50 단계에서 연속 추정법에 의해 발생한 다음 교정 전압을 수정하는데 사용될 수 있다.
비록 본 방법은 상기에서 막대 그래프로 기술되었지만, 본 방법은 어떤 적절한 통계 측정치를 사용하여 실행될 수 있다. 예를 들어, 검출기 신호 레벨을 결정하는 어떤 적절한 방법은 사용될 수 있고, 필요하지 않을 수도 있지만 평균, 중간값 등과 같은 비드 샘플의 컬렉션으로부터 측정을 결정하는 통계 방법을 포함할 수 있다.
특히, 연속 추정은 지휘어로 비트(bits)를 설정하고 명백히 함으로써 측정값을 목표값과 같게 만들기 위하여 N 번 시도된다. 일 실시예에서, 본 방법은 검출기 신호 레벨을 결정하기 위하여 검출기 샘플을 수집하고 처리하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 일 실시예에서, 본 방법은 검출기 신호 레벨을 교정 목표 신호 레벨에 비교하는 단계를 포함할 수 있고, 만약 검출기 신호 레벨이 교정 목표 신호 레벨 이상이라면, 검출기 바이어스 전압을 줄이고 교정 전압의 결정을 반복하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 다른 실시예에서, 본 방법은 검출기 신호 레벨을 교정 목표 신호 레벨에 비교하는 단계를 포함하고 만약 검출기 신호 레벨이 교정 목표 신호 레벨의 미리 정해진 구역 내에 있지 않다면, 모든 원하는 검출기 전압 레벨이 시도될 때까지 교정 전압의 결정을 반복하는 단계를 포함한다.
이러한 방법의 일 특정예는 이하의 단계를 포함할 수 있다.
1. 비트 마스크 및 DacCmd 값을 2N으로 초기화한다. 12 비트 Dac("디지털-아날로그변환기")에서, N=12. 본 실시예에서 비트 마스크 = 4096, DacCmd 값 = 4096. Dac은 Analog Device, Inc., Norwood, Massachusetts에서 상업적으로 이용할 수 있는 것과 같은 어떤 적절한 Dac을 포함할 수 있다.
2. DacCmd에서 대응하는 비트를 깨끗이 하기 위하여 전류 마스트 비트를 이용한다. 우리는 목표를 넘게 운전하거나 또는 검출기 최대 전압 한계를 넘어서 운전한다.
3. 마스크 원 비트를 오른쪽으로 옮긴다(예를 들어, 다음의 가장 중요한 비트로 옮긴다).
4. 만약 마스크가 0이면, 모든 가능한 비트는 시험되었고 충분한 조정은 달성되지 않는다. 본 방법은 12 단계로 향한다.
5. 또는 다음의 가장 중요한 비트를 설정하기 위하여 마스크를 DacCmd로 보낸다.
6. 이러한 DacCmd 이중값에 대응하는 검출기 전압을 결정한다. 상기 검출기 전압을 검출기 고장 또는 최대 전압과 비교한다. 만약 전압이 검출기 고장 전압을 초과한다면, 2 단계로 돌아가라.
7. DacCmd 값(예를 들어, 전압)을 측정 시스템으로 보낸다.
8. 효과 달성을 위해 전압 변화를 기다린다.
9. 이 채널을 위해 새로운 막대 그래프 피크값을 교정 목표 피크값과 비교한다. 만약 막대 그래프 피크가 교정 목표 이상이면, 2 단계로 돌아가라.
10. 만약 막대 그래프 피크가 원하는 표적에 충분히 가깝지 않다면, 3 단계로 돌아가라.
11. 교정 통과, 방법 완료.
12. 교정 실패, 방법 완료.
1-12 단계에 기술된 예시적인 방법은 여기서 기술한 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
일부 유세포 분석기 측정 시스템은 비드들이 두 검출 창을 통과할 때 각각의 측정을 위해 비드를 분리시키기 위하여 유체 정역학적 집중 기술을 사용한다. 상기 검출 창은 고정된 크기를 가지며 물리적으로 분리된다. 예를 들어, 측정 시스템에서 광원의 일루미네이션 장소 사이의 거리는 분리를 한정한다.
잠재되어 있는 유체 수송의 속도의 변화는 비드가 검출 창에 존재하는 시간 및 하나의 창에서 다음 창으로 통과하는데 걸리는 분리 시간의 길이를 변화시킨다. 최종 판독은 비드가 각 검출 창에 존재하는 시간의 길이에 비례한다. 또한, 시스템은 두 번째 검출 창이 활성일 때를 결정하기 위하여 내부 창 통과 시간을 사용한다(즉, 비드가 측정을 위해 두 번째 검출 창에 위치할 때). 만약 사실상 비드 존재에 대해 샘플 측정의 타임 와이즈(time-wise) 정렬이 교정 동안 획득된 값과 다르다면 또는 일루미네이션 창에서 지속(거주) 시간이 다르다면, 측정 정확도는 품질이 떨어질 것이다.
만약 측정 시스템가 샘플 마이크로스피어의 측정 동안 유체의 압력을 실질적으로 일정하게 유지하도록 형상된다면, 온도의 영향은 유체의 속도에서 변화를 통해 속도 변화에 가장 큰 원인이다. 점성의 정의는 흐름에 대한 유체의 저항성의 측정이다. 단위 시간당 P 압력으로 R 반경 및 L 길이의 튜브를 통해 흐르는 유체의 부피는 포아즈이쥬 방정식을 사용하여 표현될 수 있다:
V/T = (π*R4*P)/(8*N*/L) (4)
식 중, V/T는 단위 시간당 부피(속도에 비례)이고, N은 포이즈 단위의 점성이다. 둥근 모양보다는 직사각형 모양인 흐름 챔버의 모세관은 단순한 튜브로서 취급될 수 있다. 따라서, 비드 속도는 상기 포아즈이유 방정식에서 정의된 것처럼 유체 수송의 점성에 역비례한다.
유세포 분석기 측정 시스템의 비드 수송체로서 사용되는 유체의 주요 성분은 물이다. 15℃ 내지 30℃의 작동 온도 범위에서, 점성은 1.139 내지 0.7975 센티푸아즈까지 변하고, 이는 중요한 43% 변화이다. 상기 점성값은 Handbook of Chemistry & Physics, 61번째 판, "물 0 내지 100℃의 점성"으로부터 얻었다. 외장 및 샘플 유체의 속도는 또한 비드의 속도가 변하는 것처럼 약 43% 변한다. 따라서, 작동 온도는 측정될 수 있고 유체의 점성을 결정하는데 사용될 수 있다. 따라서, 유체의 속도는 표, 포아즈이쥬 방정식 또는 온도에 대해 미리 정해진 속도값으로부터 정해질 수 있다. 어떤 실시예에서, 본 방법은 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어의 측정 동안 유체의 압력을 조절하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 유체의 점성은 비드 속도를 결정하는데 사용될 수 있다. 이러한 것처럼, 통과 시간은 실시간으로 끌어낼 수 있고 교정될 수 있다. 만약 유체의 온도가 샘플 측정 동안에 실질적으로 변하지 않는다면, 온도를 모니터하는 단계 및 속도를 결정하는 단계는 측정 시스템으로 샘플 마이크로스피어의 측정을 실행하는 단계 이전에 실행될 수 있다. 그러나, 본 방법의 단계들은 또한 실시간으로 실행될 수 있다.
따라서, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 한 방법은 유세포 분석기식 측정 시스템를 통해 흐르는 유체의 온도를 모니터하는 단계를 포함한다. 샘플 마이크로스피어는 유체에 배치된다. 본 방법은 또한 온도에서 유체의 점성으로부터 측정 시스템에서 샘플 마이크로스피어의 속도를 결정하는 단계를 포함한다. 일부 실시예에서, 본 방법은 또한 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어 중 하나가 측정 시스템의 검출 창에 존재하는 시간의 길이를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 본 방법은 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어 중 하나가 검출 장치의 하나의 검출 창으로부터 검출 장치의 다른 검출 창으로 이동하는데 걸리는 시간의 길이를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 또한, 본 방법은 속도에 기초하여 샘플 마이크로스피어 중 하나가 측정 시스템의 검출 창에 언제 존재하는지를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 또한, 본 방법은 속도를 보정하기 위하여 측정 시스템의 하나 이상의 창을 위한 샘플링 간격을 조절하는 단계를 포함할 수 있다.
내부 창 통과 시간은 측정될 수 있고 시스템의 비휘발성 기억장치 또는 초기 교정 공정 동안 시스템을 제어하는 컴퓨터에 저장될 수 있다. 측정된 통과 시간은 두 번째 검출 창의 샘플링 간격을 적절히 맞추기 위하여 연속하는 샘플 주행 동안 사용될 수 있다. 내주 창 통과 시간은 점성 변화를 보정하기 위하여 짧아지거나 길어질 수 있다. 장치가 흐름 온도에 대해 교정되는 온도는 가해진 교정 양을 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 온도 대 점성 인자의 간단한 표는 장치를 제어하는 컴퓨터 또는 장치의 비휘발성 기억장치에 저장될 수 있다. 양쪽의 경우에, 통과 시간 교정 인자는 표에서 계산될 수 있고 샘플 주행 시작 전에 가해질 수 있다. 선택적으로, 관련 분야에 알려진 어떤 다른 적절한 방법은 교정 인자를 결정하는데 사용될 수 있다.
본 발명은 또한 속도로부터 측정 시스템의 출력 신호의 하나 이상의 성질을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 비드가 검색 창에 존재하는 시간의 길이는 검출기의 출력 전기 펄스의 크기 및 형태를 결정한다. 상기 펄스는 그런 다음 아날로그 로패스필터(analog low-pass filter)를 통과하고, 이는 크기를 줄이고 펄스 너비를 널리고자 하는 크기 및 형태에 상당한 영향을 가진다. 후-필터 펄스는 디지털화되고, 펄스 아래의 면적은 측정되어 거의 빛 수준에 비례하는 값이 된다.
또한, 본 방법은 교정 인자를 사용하여 속도로 인한 에러의 출력 신호를 교정하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 교정 인자는 경험적인 측정을 사용하여 결정될 수 있다. 흐름 속도 변화로 인한 펄스 너비 변화에 대한 교정 인자의 표는 경험적인 측정을 사용하여 구성될 수 있다. 상기 표는 장치의 메모리 또는 장치에 연결된 제어 컴퓨터에 저장될 수 있다.
온도 변화로 인한 속도 변화를 보정하기 위한 다른 방법은 속도 변화에 비례하여 가해진 유체 압력을 변화시키는 것이다. 속도는 일정하게 되고, 따라서 검출 창 각각 또는 사이의 시간은 상당하게 변하지 않을 것이다. 본 방법은 실시간 또는 샘플 주행 전에 직접적으로 포아즈이쥬 방정식을 사용하여 실행될 수 있고, 또는 포아즈이쥬 방정식에서 계산된 미리 정해진 표를 통해, 또는 적절한 압력을 역동적으로 설정하기 위하여 다른 방법을 통해 실행될 수 있다.
이러한 방법들은 일정한 압력 구성에서 상당한 향상을 제공하는 것으로 증명되었지만, 온도 변화에 대한 부가적인 보정이 바람직할 수 있다. 따라서, 상기한 방법과 개별적으로 사용될 수 있거나 또는 미세한 조절 메카니즘을 제공하기 위하여 상기한 방법과 함께 사용될 수 있는 다른 방법이 기술된다. 상기한 방법과 달리, 본 방법은 광학 메카니즘을 사용한다. 또한, 본 방법은 측정 및 제어 알고리즘을 사용할 수 있다. 그러나, 기술한 것처럼 부가된 광학 메카니즘 및 알고리즘에도 불구하고 본 방법은 상대적으로 비용이 비싸지 않고 빠르다.
일루미네이션 지점(예를 들어, 레이저 지점) 사이의 거리는 유세포 분석기식 측정 시스템의 광학 요소들이 조립될 때 처음으로 설정된다. 일루미네이션 지점(예를 들어, 또는 광 빔) 사이의 거리가 감소함에 따라, 비드 수송 시간에 대한 속도 변화의 효과는 최소화되고, 이는 비드가 검출 창들 사이의 더 짧은 거리를 이동하기 때문이다.
최소 분리 거리는 각 광 빔의 수직 일루미네이션 특성에 의해 한정된다(즉, 마이크로스피어가 측정 시스템를 통해 흐르는 방향에 실질적으로 평행한 방향에서 각 빔의 특성). 예를 들어, 빔 강도가 피크에서 쇼울더(shoulder)까지 급격히 떨어지면 2차 최대값은 없고, 한 광원에서의 빛은 다른 광원의 일루미네이션 지점에 흘러 넘치지 않을 것이기 때문에 빔을 상대적으로 더 가까이 위치시키는 것이 가능하다. 광 빔이 서로 겹치지 않도록 조심해야 하는데 이는 이러한 겹침이 분류와 리포터 채널 사이에 복잡한 보정 구조를 필요로 하여 결과적으로 민감도 손실을 초래하기 때문이다.
상기한 것처럼, 비드 통과 시간을 일루미네이션 지점 사이에서 실질적으로 일정하게 유지하는 것이 중요한데, 대신 속도 및 마이크로스피어가 각각의 일루미네이션 창에서 소비하는 시간을 고정하는 것이 중요하다.
실질적으로 일정한 비드 통과 시간을 유지하는 한 방법은 비드가 실시간에 두 검출 창을 통과하고 그 통과 시간을 일정하게 유지하는데 필요한 적용 압력을 제어하는데 걸리는 평균 시간을 측정하는 것과 관련이 있다. 일 실시예에 따르면, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법은 마이크로스피어가 유세포 분석기식 측정 시스템의 첫 번째 검출 창으로부터 측정 시스템의 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 시간을 측정하는 단계를 포함한다. 일 실시예에서, 상기 시간은 평균 시간일 수 있다. 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어 또는 교정 마이크로스피어일 수 있다. 시간을 측정하는 단계는 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛을 측정하는 단계를 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 시간을 측정하는 것은 한 검출기를 가지는 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛을 측정하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 일 실시예에서, 첫 번째 및 두 번째 창에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛은 하나의 빔스플리터에 의해 하나의 검출기로 향할 수 있다. 본 방법은 또한 시간이 실질적으로 일정하도록 측정 시스템의 적용 압력을 변경하는 단계를 포함한다. 본 방법은 실시간으로 실행될 수 있다. 상기한 실시예는 여기서 기술한 어떤 다른 단계(들)를 포함할 수 있다.
유감스럽게도, 대부분의 유세포 분석기식 측정 시스템의 전류 광학 디자인은 전에는 알려지지 않은 형광 방출이 비드로부터 비드까지 일정하지 않고, 일부 비드에서 0일 수 있기 때문에 일반적으로 단지 리포터 형광이 측정되는 두 번째 검출 창을 통과하는 모든 비드를 검출하는 것을 불가능하게 한다. 명백한 해결책은 비드에 의해 산란된 두 번째 일루미네이션 공급원의 빛을 측정하기 위하여 부가적인 광학 검출기를 부가하는 것이지만, 이러한 부가는 부가적인 일렉트로닉스 및 디지털 처리 체인이 새로운 신호를 처리하기 위해 첨가되어야 하기 때문에 시스템의 비용을 상승시킨다.
제안된 해결책은 검출 창 둘 다에서 산란된 빛을 측정하기 위하여 같이 산란된 빛 검출기를 사용하기 때문에 간단하면서도 비용이 비싸지 않다. 전류 광학 레이아웃은 두 번째(리포터) 창에서 산란된 빛이 산란 검출기에 도달하는 것을 방지하기 때문에, 검출기가 비드에서 방출되거나 반사된 모든 빛을 수용하도록 재배치하는 것이 필요하다. 만약 이것이 이루어진다면, 각각의 광원에서의 산란에 거의 비례하는 뚜렷한 피크는 하부 일렉트로닉스에 의해 개별적으로 식별될 것이다.
도 6은 여기에 기술한 방법을 실행하기 위해 사용될 수 있는 측정 시스템의 일 예를 도시한다. 도 6에 도시된 것처럼, 상기 측정 시스템은 광원들(70,72)을 포함한다. 예를 들어, 광원(70)은 약 639 ㎚ 파장을 가진 빛을 방출하는 레이저일 수 있다. 상기 레이저는 측정 시스템의 분류 채널을 위한 일루미네이션을 제공하기에 적절할 수 있다. 예를 들어 광원(72)는 약 532 ㎚ 파장을 가진 빛을 방출하는 레이저일 수 있다. 상기 레이저는 측정 시스템의 리포터 채널을 위한 일루미네이션을 제공하기에 적절할 수 있다. 각 레이저의 일루미네이션 구역은 비드 흐름축(도시하지 않음)을 따라 일치하지 않는다. 상기한 예를 대신하여 다른 광원도 사용될 수 있다. 예를 들어, 광원 및 광원의 파장은 측정될 샘플에 따라 다양할 수 있다.
도 6에 도시된 것처럼, 양 광원(70,72)은 큐벳(74)을 비춘다. 특히, 광원들(70,72)은 비드(76)가 큐벳(74)을 통해 흐를 때 상기 비드를 비추도록 형상된다. 도 6에 더 도시된 것처럼, 광원들(70,72)은 일루미네이션의 실질적인 반대각에서 비드를 비추도록 형상될 수 있다. 그러나, 광원은 일루미네이션의 어떤 적절한 각도에서 비드를 비출 수 있다.
양 광원에 의한 일루미네이션으로 인해 비드에 의해 산란된 빛은 렌즈(78)에 의해 수집될 수 있다. 상기 렌즈(78)는 관련 분야에 알려진 어떤 적절한 렌즈(들)를 포함할 수 있다. 또한, 렌즈(78)는 반사 수집체로 대체될 수 있거나 또는 본 장치에 포함되지 않을 수도 있다. 비록 렌즈(78)가 (광원(70,72)에 대하여) 약 90°의 수집각에서 빛을 모으는 것으로 도시되었지만, 렌즈는 광원과의 관계에서 어떤 적절한 수집각으로 배열될 수 있다.
렌즈(78)에 의해 수집된 빛은 빔스플리터(80)로 향한다. 상기 빔스플리터(80)는 유리판 또는 이색성 필터와 같은 관련 분야에 알려진 어떤 적절한 광학 구성 요소를 포함할 수 있다. 빔스플리터(80)는 렌즈에 의해 수집된 빛의 일부가 검출기(82)로 향하도록 형상될 수 있다. 상기 검출기(82)는 양(또는 복합) 광원에 의한 일루미네이션으로 비드에 의해 산란된 빛을 검출하도록 형상될 수 있다. 이러한 식으로, 상기 제공된 광원의 예에 대하여 검출기(82)는 비드에 의해 산란된 약 532 ㎚ 및 약 639 ㎚ 파장을 가진 빛을 검출하도록 형상될 수 있다. 상기 검출기는 CCD 장치와 같은 관련 분야에 알려진 어떤 적절한 검출기를 포함할 수 있다.
따라서, 검출기(82)는 단일 비드의 두 개의 서로 다른 산란 신호를 검출할 것이다. 상기 산란 신호는 서로 다른 파장에서 검출될 것이고, 광원의 파장에 기초하여 결정될 것이다. 각 광원은 비드가 큐벳을 통과할 때 서로 다른 시간에 비드를 비추기 때문에, 다른 산란 신호들이 검출되는 시간은 비드 또는 마이크로스피어가 측정 시스템의 첫 번째 검출 창에서 검출 장치의 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 시간을 측정하는데 사용될 수 있다.
또한, 빔스플리터(80)는 렌즈에 의해 수집된 빛의 다른 일부를 전송하도록 형상될 수 있다. 상기 전송된 빛의 일부는 광학 구성 요소(84)에 의해 시스템의 검출 부시스템의 분류부(86)로 향하게 된다. 광학 구성 요소(84)는 예를 들어 접힘 거울, 이색성 빔스플리터, 부분 전달 거울, 또는 관련 분야에 알려진 어떤 다른 적절한 요소를 포함할 수 있다. 선택적으로, 광학 구성 요소(84)는 예를 들어 검출 부시스템 분류부의 배치에 따라 장치에 포함되지 않을 수 있다. 상기 검출 부시스템의 분류부는 관련 분야에 알려진 어떤 적절한 구성 요소를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 검출 부시스템의 분류부는 도 1에 도시된 것처럼 형상될 수 있다. 빔스플리터(80)에 의해 전달된 빛의 다른 일부는 검출 부시스템의 리포터 채널(도시하지 않음)로 향할 수 있다. 이러한 시스템은 분류를 위해 첫 번째 일루미네이션 구역, 리포터 신호를 위해 두 번째 일루미네이션 구역을 사용하지만, 이러한 기술을 사용하는 장치에서 용도는 이러한 측정에 제한되지 않는다. 형광 또는 산란된 빛은 형광 리포터의 측정 또는 세포, 비드 또는 다른 입자 내의 다른 염색과 같은 다른 목적을 위해 사용될 수 있다.
빔스플리터(80)에 의해 검출기(82)로 향하는 어떤 형광 방출은 산란 신호에 더해질 것이지만, 그 크기는 산란된 빛보다 작기 때문에 거의 문제가 되지 않는다. 상기한 것처럼, 도 6에 도시된 실행은 산란된 빛을 재배치된 검출기로 다시 향하게 하기 위하여 파장 의존적인 빔스플리터일 수 있는 빔스플리터(80)를 사용하고 분류부에 가해지는 스펙트럼을 변경하지 않는다. 명백히, 다른 실시예도 가능하다. 예를 들어, 어떤 부가적인 부분이 포함되지 않게 검출기를 배열하는 것도 수용될 수 있다. 도 6에 도시된 시스템은 여기에 기술된 것처럼 또한 형상될 수 있다.
유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법의 다른 실시예는 마이크로스피어가 유세포 분석기식 측정 시스템의 첫 번째 검출 창에서 측정 시스템의 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 평균 시간을 측정하는 단계를 포함한다. 상기 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어, 교정 마이크로스피어 또는 그 조합을 포함할 수 있다. 상기 방법은 또한 평균 시간을 참조 마이크로스피어가 첫 번째 검출 창에서 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸렸던 참조 시간과 비교하는 단계를 포함한다. 본 방법은 참조 시간을 측정하는 단계를 포함하거나 포함하지 않을 수 있다. 또한, 본 방법은 만약 평균 시간과 참조 시간 사이의 차이가 미리 정해진 값보다 더 크다면 측정 시스템의 적용 압력을 변경하는 단계를 포함한다. 일부 실시예에서, 상기 미리 정해진 값은 측정 시스템의 알려진 시간 변화 메카니즘을 보정하기 위하여 선택될 수 있다. 일 실시예에서, 적용 압력을 변경하는 단계는 만약 평균 시간이 참조 시간보다 더 크다면 적용 압력을 증가시키는 단계를 포함한다. 다른 실시예에서, 적용 압력을 변경하는 단계는 만약 평균 시간이 참조 시간보다 더 작다면 적용 압력을 감소시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 본 방법은 실시간으로 실행될 수 있다.
상기 방법은 연속 산란 펄스 사이의 시간이 실질적으로 일정하도록 시스템 압력을 직접적으로 제어하여 기술을 제공한다. 본 기술은 전자 하드웨어(예를 들어, 계산기, 디지털 비교기 등) 또는 디지털 신호 프로세서 또는 다른 적절한 프로세서에 의해 측정된 샘플된 신호를 사용하는 소프트웨어를 사용하여 이행될 수 있다. 양쪽 실시예에서, 본 방법은 유사하고 같은 결과가 획득된다. 알고리즘에 대한 높은 수준의 설명이 이하 1-6 단계에서 제공되고, 펄스 트레인의 일 예는 도 7에 도시된다.
1. 시스템이 알려진 압력 및 온도에서 교정될 때, 연속적인 산란 펄스 피크 사이의 평균 통과 시간은 측정되고 후에 참조를 위해 보관된다.
2. 전형적인 샘플 인식 동안, 붉은 레이저로부터 첫 번째 산란 펄스(또는 비드를 최초 비추는 어떤 다른 광원)는 타이머를 시작한다. 예를 들어, 도 7에 도시된 것처럼 t1에서 639 ㎚의 파장을 가진 레이저에 의한 일루미네이션에 대응하는 산란 펄스가 검출된다. 따라서, 상기 타이머는 t1에서 시작한다.
3. 두 번째 산란 펄스가 도착할 때, 타이머는 멈춘다. 예를 들어, 532 ㎚의 파장을 가진 레이저에 의한 일루미네이션에 대응하는 산란 펄스가 도 7에 도시된 것처럼 t2에서 검출될 때, 타이머는 멈춘다.
4. 타이머의 값은 교정 공정 동안 측정되었던 통과 시간과 비교된다.
5. 만약 타이머 값이 교정 시간보다 상당히 더 크다면, 압력원(예를 들어, 펌프)의 하나 이상의 파라미터는 그 압력을 증가시키기 위하여 변경된다. 압력원의 파라미터(들)는 프로세서에 의해 변경될 수 있다. 선택적으로, 만약 t2와 t1 사이의 차이가 tcal보다 더 크다면 압력원의 압력은 증가될 수 있다. tcal은 비드의 통과 시간에서 수용할 수 있는 변화를 한정하는 미리 정해진 값일 수 있다.
6. 만약 타이머 값이 조정 시간보다 상당히 더 작다면, 압력원의 하나 이상의 파라미터는 그 압력을 줄이기 위하여 변경될 수 있다. 상기 하나 이상의 파라미터는 프로세서에 의해 변경될 수 있다. 선택적으로, 만약 t2와 t1 사이의 차이가 tcal보다 더 작다면 압력원의 압력은 감소될 수 있다. 단계 5 및 6에서 사용되는 tcal은 같은 값을 가질 수 있다.
이러한 "제어 시스템"을 상대적으로 안정하게 유지하기 위하여, 고려될 수 있는 여러 가지 것들이 있다. 예를 들어, 본 방법은 본 장치가 그 장치를 통과하는 모든 비드에 대해 양 또는 음의 압력 교정을 만들기 위해 제어되지 않도록 실행될 수 있다. 몇몇 평균 방법은 적어도 부분적으로 샘플 코어에서 속도 경사의 결과라고 믿어지는 "비드 지터(bead jitter)"라고 불리는 알려진 시간 변화 메카니즘을 보정하기 위하여 사용될 수 있다. 또한, 압력 교정을 유발하는 시간 에러의 시초는 주의깊게 선택되어야 한다. 에러의 크기는 압력 교정의 양을 결정하는 컨트롤러(controller)에 입력으로서 가장 잘 사용될 수 있다. 종래 통합-차이 컨트롤러는 가장 잘 행동하는 작동을 위해 사용될 수 있는 가능성이 있다.
상기에 나열한 교정 인자는 샘플 마이크로스피어의 측정에 앞서 측정 에러의 주요한 일부를 교정하는데 사용될 수 있지만, 섬세한 교정은 상기 기술이 실행된 후에 존재할 수 있는 잔류 에러를 보상할 측정 공정 동안에 만들어질 수 있다. 예를 들어, 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 한 방법은 측정 시스템에 의한 샘플 마이크로스피어의 측정 동안 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 모니터하는 단계를 포함한다. 본 방법은 또한 모니터된 파라미터(들)에 기초하여 실시간으로 하나 이상의 파라미터를 변경하는 단계를 포함한다. 예를 들어, 상기한 것처럼 모니터되고 변경된 하나 이상의 파라미터는 측정 시스템의 PMT의 파라미터를 포함할 수 있다. 또한, 본 설명에서 확인된 이러한 것을 제외한 에러원은 이러한 절차를 사용하여 제거될 수 있다
유세포 분석기식 측정 시스템은 마이크로스피어 내부의 둘 이상의 염료에 대한 측정된 정체에 기초하여 시스템을 통과하는 마이크로스피어를 확인한다. 이런 확인 기술은 모든 채널(리포터 및 분류 둘 다)에서 알려진 양의 형광 강도를 가진 교정 마이크로스피어를 확인하는데 또한 사용될 수 있다. 교정 마이크로스피어 측정이 알려진 후, 미세 교정 인자는 샘플 마이크로스피어 측정을 위해 리포터 및/또는 분류 채널에 적용될 수 있다.
이러한 기술의 복잡성은 교정 마이크로스피어를 샘플 마이크로스피어와 구별할 때 생길 수 있다. 예를 들어, 교정 마이크로스피어를 위한 새로운 스펙트럼 어드레스는 염료값 조합에 기초하여 발생할 수 있지만, 이는 N-1에 의한 시스템의 복잡하게 하는 능력을 줄일 것이다. 다른 기술은 교정 마이크로스피어의 직경을 샘플 마이크로스피어의 직경보다 더 크게하거나 더 작게 함으로써 교정 마이크로스피어를 확인하는 것이다.
측정 시스템은 일루미네이션 면에 대해 90°에서 마이크로스피어에 의해 산란된 빛을 측정할 수 있다. 산란된 빛의 정도는 그룹으로 함께 뭉치거나 일루미네이션 구역을 실질적으로 동시에 통과할 수 있는 복합 마이크로스피어를 확인하는데 사용된다. 예를 들어, 산란된 빛은 일반적으로 일루미네이션 구역에 존재하는 모든 입자의 부피에 비례한다; 따라서, 복합 마이크로스피어는 단일 마이크로스피어보다 더 큰 산란 신호를 가질 것이다. 대다수의 마이크로스피어는 단일 물체로서 일루미네이션 구역을 통과하기 때문에, 집단을 조사함으로써 단일 비드에 속하지 않는 이러한 집단을 확인하는 것은 쉽다. 일반적으로, 둘 및 때때로 세 개의 마이크로스피어가 뭉쳐서 단일 마이크로스피어에 의해 생산된 것보다 더 높은 산란 신호를 생산한다. 단일 마이크로스피어의 산란 신호 레벨은 일반적으로 평가 포맷이 산란 신호에 효과를 가질 때 평가 개발 동안 측정된다.
샘플 마이크로스피어의 직경보다 더 작거나 또는 더 큰 직경을 가진 교정 마이크로스피어를 사용하는 것은 일루미네이션 구역을 통과할 수 있는 어떤 복합 마이크로스피어 조합으로부터 교정 마이크로스피어를 확인하는 것이 더 쉽기 때문에 바람직하다. 따라서, 측정 시스템의 파라미터(들)를 모니터하는 것은 샘플 마이크로스피어보다 더 작은 직경을 가진 교정 마이크로스피어의 측정을 이용하여 실행될 수 있다. 또한, 모니터되고 변경된 하나 이상의 파라미터는 측정 시스템의 검출기에 의해 생산된 출력 신호를 포함할 수 있고, 이는 샘플 마이크로스피어에 의해 산란된 빛에 대한 반응이다. 예를 들어, 만약 샘플 마이크로스피어 직경에 대한 교정 마이크로스피어 직경의 비율이 알려진다면, 산란 측정값을 미세 조정하기 위하여 교정 마이크로스피어를 사용하는 것이 또한 가능하다.
적어도 일부의 교정 마이크로스피어는 또한 다른 스펙트럼 어드레스를 가질 수 있다. 이러한 방식으로, 일련의 서로 다른 교정 마이크로스피어는 상기 교정 방법을 향상시키기 위하여 사용될 수 있다. 예를 들어, 첫 번째 판별 기준으로 직경을 사용함으로써, 교정 마이크로스피어의 스펙트럼 어드레스는 샘플 스페이스처럼 교정 스페이스에서 두 번째 판별 기준일 수 있다. 마이크로스피어의 정체를 식별하기 위하여 분류 스페이스에 충분히 분리된 복합 교정 레벨을 가지는 것은 다음의 실행에서 사용될 수 있다.
예를 들어, 모니터되고 변경될 수 있는 하나 이상의 파라미터는 샘플 마이크로스피어의 측정에서 선형성을 포함할 수 있다. 측정 시스템의 파라미터(들)가 모니터되고 변경되는 동안의 측정은 측정 시스템의 분류 채널의 측정을 포함할 수 있다. 그 실시예에서 측정 시스템의 파라미터(들)를 변경하는 것은 바람직하게는 측정에서 어떤 비-선형성을 교정한다. 이러한 방식으로, 복합 교정 레벨은 분류 구역에서 비-선형성을 검출하고 교정하는데 사용될 수 있다. 전류 측정 시스템은 단일점 교정을 사용하고, 시스템 비-선형성으로 인한 이러한 에러는 교정될 수 없다. 두 측면으로 표현된 두-염색 비드 시스템에서, 이러한 비-선형성은 분류 마이크로스피어의 관찰된 위치에 기초하여 평면에서 분류 공간의 모핑(morphing)으로써 생각될 수 있다. 비-선형성을 교정하는 것은 그 면에서 마이크로스피어의 분류 정확성을 향상한다. 이러한 기술은 비슷한 효과를 지닌 어떤 차원으로 신장될 수 있다.
복합 교정 레벨은 리포터 신호에서 비-선형성을 검출하고 교정하는데 사용될 수 있다. 상기한 기술과 유사하게, 리포터 채널은 전류 측정 시스템에서 단일 조정점을 만날 수 있다. 리포터 채널에서 비-선형성을 검출하고 교정하는 것은 상기한 것처럼 실행될 수 있다. 예를 들어, 측정 시스템의 파라미터(들)가 모니터되고 변경되는 동안 측정은 측정 시스템의 리포터 채널의 측정을 포함할 수 있다. 또한, 측정 시스템의 파라미터(들)가 모니터되고 변경되는 동안 측정은 측정 시스템의 리포터 채널 및 분류 채널의 측정을 포함할 수 있다. 이러한 방식으로, 분류 및 리포터 채널에서 비-선형성은 실질적으로 동시에 모니터되고 교정될 수 있다.
다른 실시예에서, 모니터되고 변경될 수 있는 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터는 측정 시스템의 역동 범위(dynamic range)를 포함한다. 예를 들어, 복합 교정 레벨은 시스템의 역동 범위의 실시간 측정을 위해 사용될 수 있다. 측정 시스템은 한정된 선형 구역을 가진다. 하나 이상의 독특하게 확인된 교정 마이크로스피어에 서로 다른 리포터 교정 레벨을 활용함으로써, 시스템이 신호 클리핑으로 인해 비선형이 되는 검출의 하한 및/또는 상한을 확인하는 것이 가능하다.
일부 실시예에서, 복합 교정 레벨은 분류 시스템 헬스의 결정하기 위해 사용될 수 있다. 이러한 방식으로, 모니터되고 변경된 하나 이상의 파라미터는 측정 시스템 헬스를 포함할 수 있다. 상기 측정 시스템 헬스는 분류 채널의 헬스, 리포터 채널의 헬스 또는 그 조합을 포함할 수 있다. 예를 들어, 만약 상기한 개별적인 해결책 컬렉션이 온도 또는 다른 영향에 대해 시스템을 보정하는데 실패한다면, 교정 마이크로스피어 형광 분류 정도는 그 기대값에서 훨씬 더 멀어질 것이다. 역치값은 정해질 수 있고, 교정 마이크로스피어 형광 분류 정도는 상기 역치값과 비교될 수 있다. 만약 교정 마이크로스피어 형광 분류 정도가 역치값의 선택된 측에 마주친다면, 경고는 시스템 작동자에게 전달되거나 또는 결과가 의심나는 측정 시스템에 연결된 컴퓨터에 보내질 수 있다. 상기 경고는 시각적 출력 신호 및/또는 들을 수 있는 출력 신호일 수 있다. 이러한 방식으로, 복합 교정 레벨은 리포터 시스템 헬스를 결정하기 위해 사용될 수 있다. 분류 시스템 헬스의 결정과 비슷하게, 리포터 시스템에서 고칠 수 없는 에러가 확인될 수 있고 시스템 작동자에게 보고되거나 측정 시스템와 연결된 컴퓨터에 보고될 수 있다.
또한, 복합 교정 레벨은 리포터 채널의 선형 동적 구역을 신장하는데 사용될 수 있다. 이러한 방식으로, 측정 시스템의 파라미터(들)를 변경하는 단계는 측정 시스템의 리포터 채널의 선형 역동 구역을 신장하는 것을 포함할 수 있다. 비선형 구역에 존재하는 밝은 교정 마이크로스피어의 여러 값을 포함함으로써, 그 선형 등가물에 대해 사실상 측정된 형광 레벨을 지도 그리는 것이 가능하다. 측정된 그래프에서 기대되는 그래프까지 부드러운 맵핑은 각각의 교정 마이크로스피어 값 사이에 삽입함으로써 교정 데이터로부터 구성될 수 있다. 따라서, 장치의 선형의 유용한 측정 구역은 비선형 구역에서 샘플 마이크로스피어가 상기 그래프를 사용하여 조절된다면 상당히 신장될 수 있다.
상기 설명에서, 여러 가지 측정 에러 원인 및 각각에 대한 실시간 교정 기술이 확인되었다. 또한, 마이크로스피어 샘플 혼합물에 포함될 수 있는 작은 직경의 교정 마이크로스피어를 사용하는 실시간 미세 조절법이 개발되었다. 미세 조절 과정의 부가된 특징은 시스템 헬스의 실시간 확인, 하나 이상의 채널에서 비-선형성의 교정 및 측정 시스템의 유용한 리포터 역동 구역의 상당한 신장을 포함한다.
여기에 기술된 방법과 같은 방법을 실행하는 프로그램 지시는 캐리어 매질에 전송되거나 저장될 수 있다. 상기 캐리어 매질은 전선, 케이블 또는 선이 없는 전송 링크와 같은 전송 매질 또는 이러한 선, 케이블 또는 링크를 따른 신호 전달일 수 있다. 상기 캐리어 매질은 판독전용 기억장치(Read Only Memory: ROM), 임의접근 기억장치(Random Access Memory: RAM), 자기디스크 또는 광디스크 또는 자기테이프와 같은 저장 매질일 수 있다.
실시예에서, 프로세서는 상기 실시예에 따른 컴퓨터-실행 방법을 실행하기 위하여 프로그램 지시를 실행하도록 형상될 수 있다. 상기 프로세서는 디지털신호처리 칩 또는 FPGA를 사용하는 정교한 처리 보드, 개인 컴퓨터 시스템, 본체 컴퓨터 시스템, 워크스테이션, 네트워크 기구, 인터넷 기구, 개인 휴대용 정보 단말기("PDA"), 텔레비젼 시스템 또는 다른 장치를 포함하여 여러 형태를 가질 수 있다. 일반적으로, "컴퓨터 시스템"이라는 용어는 하나 이상의 디지털 신호 처리 요소 또는 다른 처리 요소를 가진 어떤 장치들을 포함하도록 폭넓게 한정될 수 있다.
프로그램 지시 사항은 처리-기초 기술, 구성 요소-기초 기술 및/또는 물체-시초 기술 등등을 포함하는 여러 방법 중에서 실행될 수 있다. 예를 들어, 프로그램 지시 사항은 액티브 액스 콘트롤스(ActiveX controls), C++ objects, JavaBeans, Microsoft Foundation Classes("MFC") 또는 다른 기술 또는 방법을 사용하여 실행된다. FPGA 실행의 경우, VHDL과 같은 고차원 언어의 사용은 장치 내에 박힌 신호 처리 회로를 디자인하기 위해 사용될 수 있다.
본 발명으로 이득을 보는 관련 분야의 숙련된 자는 본 발명이 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법을 제공하기 위한 것임을 알 것이다. 본 발명의 다양한 측면에서의 다른 변형 형태들 및 대체 실시예들은 발명의 상세한 설명을 통해 관련 분야의 숙련된 자에게 용이하게 이해될 수 있을 것이다. 따라서, 이러한 본 발명의 설명은 예시된 바와 같이 해석되어야 하며 관련 분야의 숙련된 자가 일반적인 방법으로 본 발명을 실시할 수 있도록 하기 위함이다. 이상에서 설명되고 도시된 본 발명의 형태들은 현재 바람직한 실시예들이다. 구성 요소들 및 재료들은 여기에서 예시되고 설명된 바와 같이 변경될 수 있으며 구성 부품 및 절차들 역시 바뀔 수 있다. 그리고 본 발명의 일부 특징들은 독립적으로 활용될 수 있으며, 이와 같은 모든 것은 당업자가 용이하게 알 수 있을 것이다. 후술하는 청구항에 기재된 본 발명의 개념 및 범위를 벗어나지 않는 가운데 구성 요소들이 변화될 수 있다.

Claims (13)

  1. 마이크로스피어가 유세포 분석기식 측정 시스템의 첫 번째 검출 창에서 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 시간을 측정하는 단계; 및
    상기 시간이 실질적으로 일정하게 되도록 측정 시스템의 적용 압력을 변경하는 단계;를 포함하는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 시간은 평균 시간을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어 또는 교정 마이크로스피어를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 측정 단계는 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란되는 빛을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 측정 단계는 하나의 검출기로 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란되는 빛을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 첫 번째 및 두 번째 검출 창에서 마이크로스피어에 의해 산란되는 빛은 하나의 빔스플리터(beamsplitter)에 의해 하나의 검출기로 유도되는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    실시간으로 실행되는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 마이크로스피어가 유세포 분석기식 측정 시스템의 첫 번째 검출 창에서 상기 측정 시스템의 두 번째 검출 창으로 이동하는데 걸리는 평균 시간을 측정하는 단계;
    상기 평균 시간을 참조 마이크로스피어가 첫 번째 검출 창에서 두 번째 검출 창까지 이동하는데 걸리는 참조 시간과 비교하는 단계; 및
    상기 평균 시간과 참조 시간 사이의 차이가 미리 정해진 값보다 크면 측정 시스템의 적용 압력을 변경하는 단계;를 포함하는 유세포 분석기식 측정 시스템의 하나 이상의 파라미터를 제어하는 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 변경 단계는 평균 시간이 참조 시간보다 큰 경우 적용 압력을 증가시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 변경 단계는 평균 시간이 참조 시간보다 작은 경우 적용 압력을 감소시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 미리 정해진 값은 상기 측정 시스템의 알려진 시간 변화 메카니즘을 보정하도록 선택되는 것을 특징으로 하는 방법.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 마이크로스피어는 샘플 마이크로스피어, 교정 마이크로스피어 또는 교정 및 샘플 마이크로스피어를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  13. 제8항에 있어서,
    실시간으로 실행되는 것을 특징으로 하는 방법.
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Families Citing this family (74)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7304310B1 (en) * 2003-11-21 2007-12-04 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for inspecting a specimen using light scattered in different wavelength ranges
CA2553025A1 (en) * 2004-01-14 2005-07-28 Luminex Corporation Methods and systems for dynamic range expansion
KR20060123539A (ko) * 2004-01-14 2006-12-01 루미넥스 코포레이션 측정시스템의 하나 이상의 매개변수를 변경하는 방법
US7477363B2 (en) * 2004-04-08 2009-01-13 Nihon Kohden Corporation Flow cytometer
US7917250B2 (en) * 2004-08-24 2011-03-29 Waters Technologies Corporation Devices, systems and methods for flow-compensating pump-injector synchronization
US8486371B2 (en) * 2004-09-17 2013-07-16 The Regents Of The University Of Michigan Quantitative two-photon flow cytometry
WO2007005974A2 (en) * 2005-07-01 2007-01-11 Honeywell International, Inc. A flow metered analyzer
US7996188B2 (en) 2005-08-22 2011-08-09 Accuri Cytometers, Inc. User interface for a flow cytometer system
US8303894B2 (en) 2005-10-13 2012-11-06 Accuri Cytometers, Inc. Detection and fluidic system of a flow cytometer
US8017402B2 (en) 2006-03-08 2011-09-13 Accuri Cytometers, Inc. Fluidic system for a flow cytometer
US7776268B2 (en) 2005-10-13 2010-08-17 Accuri Cytometers, Inc. User interface for a fluidic system of a flow cytometer
JP4745030B2 (ja) 2005-11-15 2011-08-10 シスメックス株式会社 血液分析装置
US7857005B2 (en) 2005-12-07 2010-12-28 Accuri Cytometers, Inc. Pulsation attenuator for a fluidic system
US7328722B2 (en) 2005-12-07 2008-02-12 Accuri Cytometers, Inc. Pulsation attenuator for a fluidic system
US8149402B2 (en) 2006-02-22 2012-04-03 Accuri Cytometers, Inc. Optical system for a flow cytometer
US8283177B2 (en) 2006-03-08 2012-10-09 Accuri Cytometers, Inc. Fluidic system with washing capabilities for a flow cytometer
US7780916B2 (en) 2006-03-08 2010-08-24 Accuri Cytometers, Inc. Flow cytometer system with unclogging feature
US7981661B2 (en) 2006-04-17 2011-07-19 Accuri Cytometers, Inc. Flow cytometer system with sheath and waste fluid measurement
WO2007137119A2 (en) 2006-05-17 2007-11-29 Luminex Corporation Chip-based flow cytometer type systems for analyzing fluorescently tagged particles
US8077310B2 (en) * 2006-08-30 2011-12-13 Accuri Cytometers, Inc. System and method of capturing multiple source excitations from a single location on a flow channel
US8715573B2 (en) 2006-10-13 2014-05-06 Accuri Cytometers, Inc. Fluidic system for a flow cytometer with temporal processing
US8445286B2 (en) 2006-11-07 2013-05-21 Accuri Cytometers, Inc. Flow cell for a flow cytometer system
US7739060B2 (en) * 2006-12-22 2010-06-15 Accuri Cytometers, Inc. Detection system and user interface for a flow cytometer system
CN101965508B (zh) * 2007-09-17 2013-11-27 卢米尼克斯股份有限公司 识别流中的微粒的系统和方法
US8432541B2 (en) 2007-12-17 2013-04-30 Accuri Cytometers, Inc. Optical system for a flow cytometer with an interrogation zone
US7843561B2 (en) 2007-12-17 2010-11-30 Accuri Cytometers, Inc. Optical system for a flow cytometer with an interrogation zone
US8134698B1 (en) 2008-03-14 2012-03-13 Kla-Tencor Corporation Dynamic range extension in surface inspection systems
FR2933192B1 (fr) * 2008-06-25 2010-09-17 Horiba Abx Sas Dispositif et procede de mesure electro optique destines a la classification et au comptage d'elements microscopiques.
CA2979457C (en) * 2008-07-17 2020-04-28 Luminex Corporation Methods, storage mediums, and systems for configuring classification regions within a classification matrix of an analysis system and for classifying particles of an assay
US8037354B2 (en) 2008-09-18 2011-10-11 Honeywell International Inc. Apparatus and method for operating a computing platform without a battery pack
ES2945686T3 (es) 2009-05-13 2023-07-05 Sartorius Bioanalytical Instr Inc Medición y control de flujo para cuantificación mejorada de partículas en citometría de flujo
US8004674B2 (en) 2009-06-02 2011-08-23 Accuri Cytometers, Inc. Data collection system and method for a flow cytometer
US8507279B2 (en) 2009-06-02 2013-08-13 Accuri Cytometers, Inc. System and method of verification of a prepared sample for a flow cytometer
CN102575984B (zh) 2009-08-17 2016-01-06 马尔文仪器有限公司 以经改良单光散射模式检测复杂流体的基于动态光散射的微流变性
JP5478990B2 (ja) * 2009-08-25 2014-04-23 シスメックス株式会社 検体分析装置及びコンピュータプログラム
WO2011097032A1 (en) 2010-02-05 2011-08-11 Cytonome/St, Llc Multiple flow channel particle analysis system
WO2011106402A1 (en) 2010-02-23 2011-09-01 Accuri Cytometers, Inc. Method and system for detecting fluorochromes in a flow cytometer
US9551600B2 (en) 2010-06-14 2017-01-24 Accuri Cytometers, Inc. System and method for creating a flow cytometer network
US8767069B2 (en) * 2010-06-30 2014-07-01 Luminex Corporation Apparatus, system, and method for increasing measurement accuracy in a particle imaging device using light distribution
CN101977023B (zh) * 2010-09-02 2012-07-04 索尔思光电（成都）有限公司 一种雪崩二极管的调试和补偿方法
ES2897531T3 (es) 2010-10-25 2022-03-01 Accuri Cytometers Inc Sistemas e interfaz de usuario para la recopilación de un conjunto de datos en un citómetro de flujo
US8528427B2 (en) 2010-10-29 2013-09-10 Becton, Dickinson And Company Dual feedback vacuum fluidics for a flow-type particle analyzer
CN102122187B (zh) * 2010-11-19 2013-05-01 深圳市共进电子股份有限公司 光模块生产中对雪崩二极管进行快速调试的方法及装置
US8957385B2 (en) 2010-11-29 2015-02-17 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Radiation detection system, a radiation sensing unit, and methods of using the same
US20140220621A1 (en) 2011-08-25 2014-08-07 Sony Corporation Of America Characterization of motion-related error in a stream of moving micro-entities
CA2853093C (en) 2011-10-21 2020-01-14 Acea Biosciences, Inc. System and method for detecting multiple-excitation-induced light in a flow channel
EP2795290B1 (en) * 2011-12-20 2021-03-03 Becton Dickinson and Company Method, system, computer-readable storage medium and cell sorter to improve yield of sorted particles
JP5859329B2 (ja) * 2012-02-02 2016-02-10 アズビル株式会社 微生物検出装置の校正支援装置及び微生物検出装置の校正支援方法
AU2013202804A1 (en) 2012-06-14 2014-01-16 Gen-Probe Incorporated Use of a fluorescent material to detect failure or deteriorated performance of a fluorometer
US8921277B2 (en) 2012-09-26 2014-12-30 Palo Alto Research Center Incorporated Multiplexed flow assay based on absorption-encoded micro beads
JP2014209090A (ja) * 2013-03-29 2014-11-06 シスメックス株式会社 細胞分析方法及び装置
US10261080B2 (en) 2013-11-19 2019-04-16 Acea Biosciences, Inc. Optical detection system for flow cytometer, flow cytometer system and methods of use
EP3071951B1 (en) 2013-11-19 2019-10-30 ACEA Biosciences, Inc. Optical engine for flow cytometer, flow cytometer system and methods of use
AU2015225730A1 (en) * 2014-03-06 2016-10-27 Life Technologies Corporation Systems and methods for diagnosing a fluidics system and determining data processing settings for a flow cytometer
CN106255873B (zh) * 2014-04-10 2019-06-04 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种进行自动补偿的方法、装置及相应的流式细胞分析仪
JP2016156696A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 アズビル株式会社 粒子検出装置
JP6623551B2 (ja) * 2015-05-15 2019-12-25 ソニー株式会社 情報処理装置、情報処理システム及び情報処理方法
JP6719203B2 (ja) * 2015-12-25 2020-07-08 リオン株式会社 生物粒子計数器の校正方法および生物粒子計数器の校正装置
EP3392645A4 (en) 2016-01-22 2018-10-24 Sony Corporation Microparticle measurement device, information processing device, and information processing method
CN111257582A (zh) 2016-03-18 2020-06-09 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析仪及其样本分析方法
JP7068292B2 (ja) * 2016-07-15 2022-05-16 アジレント・テクノロジーズ・インク フローサイトメーターのための光学検出システム、フローサイトメーターのシステムおよび使用方法
WO2018105607A1 (ja) * 2016-12-09 2018-06-14 コニカミノルタ株式会社 測定装置、測定異常検知方法、およびプログラム
US11754504B2 (en) 2017-09-19 2023-09-12 Beckman Coulter, Inc. System for analog light measuring and photon counting in chemiluminescence measurements
CN109030321B (zh) * 2018-05-23 2020-09-15 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 用于流式细胞仪的数据处理方法
US11852578B2 (en) * 2018-07-20 2023-12-26 Sony Corporation Microparticle measurement spectrometer, microparticle measurement device using the microparticle measurement spectrometer, and method for calibrating microparticle measurement photoelectric conversion system
US11131618B2 (en) * 2018-08-10 2021-09-28 Cytek Biosciences, Inc. Smart flow cytometers with self monitoring and self validation
AU2019355429B2 (en) 2018-10-02 2023-07-20 Idexx Laboratories, Inc. Methods, devices, kits and compositions for detecting tapeworm
US11137337B2 (en) 2019-01-21 2021-10-05 Essen Instruments, Inc. Flow cytometry with data analysis for optimized dilution of fluid samples for flow cytometry investigation
CN109799181A (zh) * 2019-01-29 2019-05-24 桂林优利特医疗电子有限公司 一种基于额定数量的血细胞计数装置和方法
US11709116B2 (en) 2020-02-04 2023-07-25 Sartorius Bioanalytical Instruments, Inc. Liquid flourescent dye concentrate for flow cytometry evaluation of virus-size particles and related products and methods
EP4139656A4 (en) * 2020-04-20 2023-11-01 Becton, Dickinson and Company DEVICE AND METHOD FOR THE QUANTITATIVE CHARACTERIZATION OF A LIGHT DETECTOR
CN116583735A (zh) * 2020-10-30 2023-08-11 贝克顿·迪金森公司 用于表征和编码光检测系统的方法和系统
WO2023287568A1 (en) * 2021-07-13 2023-01-19 Becton, Dickinson And Company Methods for determining a photodetector gain correction factor for optical signals in a flow cytometer
WO2023238564A1 (ja) * 2022-06-10 2023-12-14 ソニーグループ株式会社 情報処理システム、情報処理方法、情報処理装置、及びプログラム

Family Cites Families (76)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4937231Y1 (ko) * 1970-01-14 1974-10-11
US3826364A (en) * 1972-05-22 1974-07-30 Univ Leland Stanford Junior Particle sorting method and apparatus
JPS5027587A (ko) * 1973-07-10 1975-03-20
JPS55140915A (en) * 1979-04-20 1980-11-04 Toshiba Corp Temperature compensating device
JPS60140139A (ja) * 1983-12-27 1985-07-25 Toa Medical Electronics Co Ltd 粒子計数装置
JPS6152714A (ja) * 1984-08-22 1986-03-15 Canon Inc サンプル液流速調節装置
US4767206A (en) * 1984-12-24 1988-08-30 Flow Cytometry Standards Corporation Calibration method for flow cytometry using fluorescent microbeads and synthesis thereof
US5380663A (en) * 1984-12-24 1995-01-10 Caribbean Microparticles Corporation Automated system for performance analysis and fluorescence quantitation of samples
US5084394A (en) * 1984-12-24 1992-01-28 Vogt Robert F Method for corrective calibration of a flow cytometry using a mixture of fluorescent microbeads and cells
US4868126A (en) * 1985-12-11 1989-09-19 Flow Cytometry Standards Corporation Method of calibrating a fluorescent microscope using fluorescent calibration microbeads simulating stained cells
JPS62165141A (ja) * 1986-01-17 1987-07-21 Japan Spectroscopic Co 微小粒子分析装置
US4704891A (en) * 1986-08-29 1987-11-10 Becton, Dickinson And Company Method and materials for calibrating flow cytometers and other analysis instruments
JPS6449937A (en) * 1987-08-20 1989-02-27 Minolta Camera Kk Optical densitometer
US5760900A (en) * 1989-03-18 1998-06-02 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for optically measuring specimen
US5030002A (en) * 1989-08-11 1991-07-09 Becton, Dickinson And Company Method and apparatus for sorting particles with a moving catcher tube
JP3084295B2 (ja) * 1991-02-27 2000-09-04 シスメックス株式会社 フローイメージサイトメータ
JP3075367B2 (ja) * 1991-04-05 2000-08-14 シスメックス株式会社 粒子分析方法及び装置
JPH0510946A (ja) * 1991-07-03 1993-01-19 Fuji Electric Co Ltd 細胞解析装置
JPH0560610A (ja) * 1991-08-30 1993-03-12 Omron Corp 光電検出装置
JP3102925B2 (ja) * 1991-09-20 2000-10-23 シスメックス株式会社 粒子分析装置
JP3111706B2 (ja) * 1992-02-18 2000-11-27 株式会社日立製作所 粒子分析装置及び粒子分析方法
DE69326731T2 (de) * 1992-09-04 2000-05-18 Becton Dickinson Co Kontroll-Teilchen für die Zellzählung und Instrumentenlinearität
JPH06186156A (ja) * 1992-10-21 1994-07-08 Toa Medical Electronics Co Ltd 粒子分析装置
JP3218108B2 (ja) * 1993-02-10 2001-10-15 シスメックス株式会社 イメージングフローサイトメータ
US5682038A (en) * 1995-04-06 1997-10-28 Becton Dickinson And Company Fluorescent-particle analyzer with timing alignment for analog pulse subtraction of fluorescent pulses arising from different excitation locations
US5650847A (en) * 1995-06-14 1997-07-22 Erkki Soini Method and device for determination of parameters of individual microparticles
CA2227895C (en) * 1995-10-11 2012-07-17 Luminex Corporation Multiplexed analysis of clinical specimens apparatus and methods
US5736330A (en) 1995-10-11 1998-04-07 Luminex Corporation Method and compositions for flow cytometric determination of DNA sequences
US5981180A (en) * 1995-10-11 1999-11-09 Luminex Corporation Multiplexed analysis of clinical specimens apparatus and methods
JPH09126989A (ja) * 1995-11-07 1997-05-16 Hitachi Ltd フロー式粒子画像解析装置
ATE291225T1 (de) * 1995-12-05 2005-04-15 Gamera Bioscience Corp Vorrichtung und verfahren zum bewegen von fluiden mittels zentrifugalbeschleunigung bei der automatischen laborbehandlung
JPH09288053A (ja) * 1996-02-22 1997-11-04 Hitachi Ltd 粒子分析装置
WO1998000231A1 (en) * 1996-06-28 1998-01-08 Caliper Technologies Corporation High-throughput screening assay systems in microscale fluidic devices
US6558916B2 (en) * 1996-08-02 2003-05-06 Axiom Biotechnologies, Inc. Cell flow apparatus and method for real-time measurements of patient cellular responses
US6449562B1 (en) 1996-10-10 2002-09-10 Luminex Corporation Multiplexed analysis of clinical specimens apparatus and method
US5915925A (en) * 1997-01-07 1999-06-29 North, Jr.; Howard L. Pulseless liquid supply system for flow cytometry
JP3305232B2 (ja) * 1997-06-03 2002-07-22 シスメックス株式会社 粒子測定装置
US6183697B1 (en) * 1997-05-27 2001-02-06 Sysmex Corporation Particle measuring apparatus
US6074879A (en) * 1997-06-23 2000-06-13 Bayer Corporation Synthetic polymer particles for use as standards and calibrators in flow cytometry
US6139800A (en) 1997-06-23 2000-10-31 Luminex Corporation Interlaced lasers for multiple fluorescence measurement
US6019735A (en) * 1997-08-28 2000-02-01 Visco Technologies, Inc. Viscosity measuring apparatus and method of use
JP3494559B2 (ja) * 1997-09-16 2004-02-09 株式会社日立製作所 フロー式粒子画像解析方法及び装置
WO1999019515A1 (en) 1997-10-14 1999-04-22 Luminex Corporation Precision fluorescently dyed particles and methods of making and using same
US6630352B1 (en) * 1997-12-22 2003-10-07 3M Innovative Properties Company Sterilant challenge device for a sterilization monitoring system
CA2318779C (en) * 1998-01-22 2009-08-25 Luminex Corporation Microparticles with multiple fluorescent signals
US6248590B1 (en) * 1998-02-27 2001-06-19 Cytomation, Inc. Method and apparatus for flow cytometry
CA2328408C (en) 1998-05-14 2005-02-15 Luminex Corporation Zero dead time architecture and method for flow cytometer
US6592822B1 (en) * 1998-05-14 2003-07-15 Luminex Corporation Multi-analyte diagnostic system and computer implemented process for same
CA2331896C (en) * 1998-05-14 2009-09-15 Luminex Corporation Diode laser based measurement apparatus
US6256096B1 (en) * 1999-01-11 2001-07-03 Softray Flow cytometry apparatus and method
AU4651200A (en) * 1999-04-21 2000-11-02 Chromagen A novel scanning spectrophotometer for high throughput fluorescence detection
JP2000346805A (ja) * 1999-06-09 2000-12-15 Shimadzu Corp 蛍光分光光度計
US6372506B1 (en) * 1999-07-02 2002-04-16 Becton, Dickinson And Company Apparatus and method for verifying drop delay in a flow cytometer
EP1208382B1 (en) 1999-08-17 2006-04-26 Luminex Corporation Encapsulation of fluorescent particles
US7024316B1 (en) * 1999-10-21 2006-04-04 Dakocytomation Colorado, Inc. Transiently dynamic flow cytometer analysis system
US6549275B1 (en) * 2000-08-02 2003-04-15 Honeywell International Inc. Optical detection system for flow cytometry
US6597438B1 (en) * 2000-08-02 2003-07-22 Honeywell International Inc. Portable flow cytometry
US6382228B1 (en) * 2000-08-02 2002-05-07 Honeywell International Inc. Fluid driving system for flow cytometry
JP4194233B2 (ja) * 2000-08-18 2008-12-10 シスメックス株式会社 シース液供給装置および供給方法並びに試料分析装置
JP4994560B2 (ja) 2000-08-25 2012-08-08 アムニス コーポレイション 細胞などの小さな移動物体の速度測定
JP2002202254A (ja) * 2000-10-30 2002-07-19 Dkk Toa Corp 光測定方法及び装置
JP2002195932A (ja) * 2000-12-22 2002-07-10 Sysmex Corp フローサイトメータ
ES2405320T3 (es) * 2001-05-17 2013-05-30 Beckman Coulter, Inc. Citómetro de flujo con un sistema de alienación óptica automatizado activo
US20030048433A1 (en) * 2001-06-01 2003-03-13 Jean-Marie Desjonqueres Cytometer signal processing system and method
US6618140B2 (en) * 2001-06-18 2003-09-09 Amnis Corporation Spectral deconvolution of fluorescent markers
CN1200111C (zh) * 2001-06-20 2005-05-04 朱纪军 一种基于微流控技术的流式细胞仪
US20030110840A1 (en) * 2001-07-24 2003-06-19 Arriaga Edgar A. Systems and methods for detecting a particle
JP2003287491A (ja) * 2002-01-28 2003-10-10 Sysmex Corp 粒子分析装置および粒子分析方法
CN1313837C (zh) * 2002-02-21 2007-05-02 英弘精机株式会社 气象观测激光雷达系统
CN1423130A (zh) * 2002-04-26 2003-06-11 帕弗瑞生物技术(北京)有限公司 流式测定固定补体抗体的hla交叉配型方法和试剂盒
US6941005B2 (en) * 2002-11-01 2005-09-06 Coulter International Corp. Monitoring and control of droplet sorting
US6897954B2 (en) * 2002-12-20 2005-05-24 Becton, Dickinson And Company Instrument setup system for a fluorescence analyzer
EP2306174B1 (en) * 2003-03-28 2016-05-11 Inguran, LLC Flow cytometry nozzle for orienting particles and corresponding method
KR20060123539A (ko) * 2004-01-14 2006-12-01 루미넥스 코포레이션 측정시스템의 하나 이상의 매개변수를 변경하는 방법
US7232687B2 (en) * 2004-04-07 2007-06-19 Beckman Coulter, Inc. Multiple sorter monitor and control subsystem for flow cytometer
CN101147055A (zh) * 2005-01-31 2008-03-19 伊利诺伊大学评议会 用于表征清澈和混浊介质中的颗粒的方法和设备

Also Published As

Publication number Publication date
AU2010202160A1 (en) 2010-06-17
JP2010190909A (ja) 2010-09-02
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KR101149880B1 (ko) 2012-05-24
AU2010202159B2 (en) 2012-06-21
KR101166180B1 (ko) 2012-07-18
EP2275799B1 (en) 2019-05-15
WO2005017499A3 (en) 2005-08-18
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