JPH0560610A - 光電検出装置 - Google Patents
光電検出装置Info
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- JPH0560610A JPH0560610A JP21967691A JP21967691A JPH0560610A JP H0560610 A JPH0560610 A JP H0560610A JP 21967691 A JP21967691 A JP 21967691A JP 21967691 A JP21967691 A JP 21967691A JP H0560610 A JPH0560610 A JP H0560610A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 同型の光電子増倍管を同じ条件で使用すると
同じ電圧値を出力するよう、特性の補正をする光電検出
装置を提供する。 【構成】 基準光照射部２と、基準光の照射状態でＣＰ
Ｕ５がＤ／Ａ変換器１２に対して最小と最大の制御デー
タを別々に加えた場合に基準特性の光電子増倍管が出力
する出力信号値ＭＤm ，ＭＤM を記憶するメモリ４と、
Ｄ／Ａ変換器１２が前記最小の制御データを受る状態
で、光電子増倍管１が第１の出力信号値ＭＤ m を出力し
ていない場合に、ＭＤm の出力信号が得られるようＤ／
Ａ変換器１２の出力を補正するアナログ信号補正手段１
３、１４他と、Ｄ／Ａ変換器１２の出力が補正されてい
る状態でＤ／Ａ変換器１２が最大の制御データを受けた
場合に、光電子増倍管が第２の出力信号値ＭＤM を出力
していないなら、ＭＤM の出力信号が得られるようＤ／
Ａ変換器１２の変換比を補正する変換比補正手段１５、
１６他とで構成される。
同じ電圧値を出力するよう、特性の補正をする光電検出
装置を提供する。 【構成】 基準光照射部２と、基準光の照射状態でＣＰ
Ｕ５がＤ／Ａ変換器１２に対して最小と最大の制御デー
タを別々に加えた場合に基準特性の光電子増倍管が出力
する出力信号値ＭＤm ，ＭＤM を記憶するメモリ４と、
Ｄ／Ａ変換器１２が前記最小の制御データを受る状態
で、光電子増倍管１が第１の出力信号値ＭＤ m を出力し
ていない場合に、ＭＤm の出力信号が得られるようＤ／
Ａ変換器１２の出力を補正するアナログ信号補正手段１
３、１４他と、Ｄ／Ａ変換器１２の出力が補正されてい
る状態でＤ／Ａ変換器１２が最大の制御データを受けた
場合に、光電子増倍管が第２の出力信号値ＭＤM を出力
していないなら、ＭＤM の出力信号が得られるようＤ／
Ａ変換器１２の変換比を補正する変換比補正手段１５、
１６他とで構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、細胞分析装置などで
使用される光電子増倍管のゲインを自動的に補正したう
えで光電子を検出する装置に関する。
使用される光電子増倍管のゲインを自動的に補正したう
えで光電子を検出する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光電子増倍管を使用した光電検出装置
は、細胞分析装置の検出部などに使用されるが、その構
成は、例えば図４に示す通りである。この光電検出装置
は、測定光を受ける光電子増倍管２１と、光電子増倍管
２１の出力信号を受ける信号処理部２２と、光電子増倍
管２１の駆動部２３とで構成される。
は、細胞分析装置の検出部などに使用されるが、その構
成は、例えば図４に示す通りである。この光電検出装置
は、測定光を受ける光電子増倍管２１と、光電子増倍管
２１の出力信号を受ける信号処理部２２と、光電子増倍
管２１の駆動部２３とで構成される。
【０００３】そして、信号処理部２２は、光電子増倍管
２１の出力電圧を取り込んで保持するサンプルホールド
回路２４と、サンプルホールド回路２４の出力電圧をデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器２５と、Ａ／Ｄ変換
器２５からのデジタル信号を受けるＣＰＵ２６で構成さ
れている。また、光電子増倍管の駆動部２３は、光電子
増倍管２１に高電圧を出力する高圧コンバータ２７と、
ＣＰＵ２６から制御データを受けて、高圧コンバータ２
７にアナログ信号を加えるＤ／Ａ変換器２８とで構成さ
れている。尚、Ｄ／Ａ変換器２８がデジタル信号（制御
データ）をアナログ信号に変換する場合において、１ビ
ットのデジタルデータが何ボルトのアナログ電圧に変換
されるかの変換比は、基準電源２９からＤ／Ａ変換器２
８に供給される電圧値で定まる。
２１の出力電圧を取り込んで保持するサンプルホールド
回路２４と、サンプルホールド回路２４の出力電圧をデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器２５と、Ａ／Ｄ変換
器２５からのデジタル信号を受けるＣＰＵ２６で構成さ
れている。また、光電子増倍管の駆動部２３は、光電子
増倍管２１に高電圧を出力する高圧コンバータ２７と、
ＣＰＵ２６から制御データを受けて、高圧コンバータ２
７にアナログ信号を加えるＤ／Ａ変換器２８とで構成さ
れている。尚、Ｄ／Ａ変換器２８がデジタル信号（制御
データ）をアナログ信号に変換する場合において、１ビ
ットのデジタルデータが何ボルトのアナログ電圧に変換
されるかの変換比は、基準電源２９からＤ／Ａ変換器２
８に供給される電圧値で定まる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光電子増倍
管のゲインの印加電圧に対する特性は、個々の光電子増
倍管ごとにばらつくのが実情である。図５は、光電子増
倍管に加わる印加電圧とゲインの関係を図示したもので
あって、例えば、図５の（ｂ）が標準となる光電子増倍
管の基準特性とすると、個々の光電子増倍管の特性は
（ａ）または（ｃ）のようにばらついている。
管のゲインの印加電圧に対する特性は、個々の光電子増
倍管ごとにばらつくのが実情である。図５は、光電子増
倍管に加わる印加電圧とゲインの関係を図示したもので
あって、例えば、図５の（ｂ）が標準となる光電子増倍
管の基準特性とすると、個々の光電子増倍管の特性は
（ａ）または（ｃ）のようにばらついている。
【０００５】しかし、従来の装置には、このゲインのば
らつきを補正する手段がなかったので、１台の装置に同
型の光電子増倍管を複数個使用した場合、各光電子増倍
管に同じレベルの印加電圧を与え、かつ、同じ測定光を
照射したとしても、光電子増倍管の出力は各検出器ごと
に相違していた。また、異なる装置における検出器にお
いても、光電子増倍管のゲインのばらつきにより、出力
に差が生じることになる。
らつきを補正する手段がなかったので、１台の装置に同
型の光電子増倍管を複数個使用した場合、各光電子増倍
管に同じレベルの印加電圧を与え、かつ、同じ測定光を
照射したとしても、光電子増倍管の出力は各検出器ごと
に相違していた。また、異なる装置における検出器にお
いても、光電子増倍管のゲインのばらつきにより、出力
に差が生じることになる。
【０００６】この発明は、この問題点に着目してなされ
たものであって、同型の光電子増倍管を同じ条件で使用
した場合には常に同じ電圧値を出力するよう、光電子増
倍管の特性を補正することのできる光電検出装置を提供
することを目的とする。
たものであって、同型の光電子増倍管を同じ条件で使用
した場合には常に同じ電圧値を出力するよう、光電子増
倍管の特性を補正することのできる光電検出装置を提供
することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する
為、この発明にかかる光電検出装置は、測定光を受ける
光電子増倍管と、この光電子増倍管の出力信号を受ける
信号入力部と、前記光電子増倍管に高電圧を印加する高
電圧印加部と、制御データを受けこれを所定の変換比に
よってアナログ信号に変換して前記高電圧印加部に加え
るＤ／Ａ変換部と、この装置全体の動作を制御する制御
部とを備える光電検出装置において、前記光電子増倍管
に基準光を照射する基準光照射部と、この基準光が光電
子増倍管に照射されている状態で、前記制御部が前記Ｄ
／Ａ変換部に対して第１の制御データと第２の制御デー
タとを別々に加えた場合に、その各制御データに対して
光電子増倍管が本来出力すべき第１と第２の出力信号値
を記憶する信号値記憶手段と、前記制御部が前記Ｄ／Ａ
変換部に対して第１の制御データを加えた状態におい
て、光電子増倍管の出力値が前記第１の出力信号値でな
い場合に、前記光電子増倍管が前記第１の出力信号値を
出力するよう、前記Ｄ／Ａ変換部の出力アナログ信号に
補正を加えるアナログ信号補正手段と、このアナログ信
号補正手段によって、前記Ｄ／Ａ変換部の出力アナログ
信号が補正されている状態で、前記制御部が前記Ｄ／Ａ
変換部に対して第２の制御データを加えた場合に、光電
子増倍管の出力値が前記第２の出力信号値でないなら、
前記光電子増倍管が前記第２の出力信号値を出力するよ
う前記Ｄ／Ａ変換部の変換比を補正する変換比補正手段
とを特徴的に備えている。
為、この発明にかかる光電検出装置は、測定光を受ける
光電子増倍管と、この光電子増倍管の出力信号を受ける
信号入力部と、前記光電子増倍管に高電圧を印加する高
電圧印加部と、制御データを受けこれを所定の変換比に
よってアナログ信号に変換して前記高電圧印加部に加え
るＤ／Ａ変換部と、この装置全体の動作を制御する制御
部とを備える光電検出装置において、前記光電子増倍管
に基準光を照射する基準光照射部と、この基準光が光電
子増倍管に照射されている状態で、前記制御部が前記Ｄ
／Ａ変換部に対して第１の制御データと第２の制御デー
タとを別々に加えた場合に、その各制御データに対して
光電子増倍管が本来出力すべき第１と第２の出力信号値
を記憶する信号値記憶手段と、前記制御部が前記Ｄ／Ａ
変換部に対して第１の制御データを加えた状態におい
て、光電子増倍管の出力値が前記第１の出力信号値でな
い場合に、前記光電子増倍管が前記第１の出力信号値を
出力するよう、前記Ｄ／Ａ変換部の出力アナログ信号に
補正を加えるアナログ信号補正手段と、このアナログ信
号補正手段によって、前記Ｄ／Ａ変換部の出力アナログ
信号が補正されている状態で、前記制御部が前記Ｄ／Ａ
変換部に対して第２の制御データを加えた場合に、光電
子増倍管の出力値が前記第２の出力信号値でないなら、
前記光電子増倍管が前記第２の出力信号値を出力するよ
う前記Ｄ／Ａ変換部の変換比を補正する変換比補正手段
とを特徴的に備えている。
【０００８】
【作用】基準光照射部は、所定の基準光を光電子増倍管
に照射する。信号値記憶手段は、光電子増倍管の第１と
第２の出力信号値を記憶している。ここで、第１の出力
信号値とは、制御部がＤ／Ａ変換部に対して第１の制御
データを加えた場合に、基準の特性を有する光電子増倍
管が出力するだろう電圧値をいう。また、第２の出力信
号値とは、制御部がＤ／Ａ変換部に対して第２の制御デ
ータを加えた場合に、基準の特性を有する光電子増倍管
が出力するだろう電圧値をいう。
に照射する。信号値記憶手段は、光電子増倍管の第１と
第２の出力信号値を記憶している。ここで、第１の出力
信号値とは、制御部がＤ／Ａ変換部に対して第１の制御
データを加えた場合に、基準の特性を有する光電子増倍
管が出力するだろう電圧値をいう。また、第２の出力信
号値とは、制御部がＤ／Ａ変換部に対して第２の制御デ
ータを加えた場合に、基準の特性を有する光電子増倍管
が出力するだろう電圧値をいう。
【０００９】アナログ信号補正手段は、制御部が前記第
１の制御データを出力している状態における光電子増倍
管の出力を受け、この出力値が前記第１の出力信号値と
一致するか否かを判定する。そして、もし出力値が前記
第１の出力信号値と一致しなければ、前記Ｄ／Ａ変換部
のアナログ出力信号に適当な補正値を増減して、光電子
増倍管の出力が前記第１の出力信号値と一致するように
制御する。
１の制御データを出力している状態における光電子増倍
管の出力を受け、この出力値が前記第１の出力信号値と
一致するか否かを判定する。そして、もし出力値が前記
第１の出力信号値と一致しなければ、前記Ｄ／Ａ変換部
のアナログ出力信号に適当な補正値を増減して、光電子
増倍管の出力が前記第１の出力信号値と一致するように
制御する。
【００１０】以上の動作の結果、光電子増倍管の特性
は、少なくとも一か所で、基準特性の光電子増倍管の特
性と一致する。次に、変換比補正手段は、制御部が前記
第２の制御データを出力している状態における光電子増
倍管の出力を受け、この出力値が前記第２の出力信号値
と一致するか否かを判定する。そして、もし出力値が前
記第２の出力信号値と一致しなければ、前記Ｄ／Ａ変換
部の変換比を補正して、光電子増倍管の出力を前記第２
の出力信号値と一致させる。つまり、実際に使用されて
いる光電子増倍管は、第１と第２の制御データに対する
上記２点において、基準の特性を有する光電子増倍管の
特性と一致するので、結果として、各光電子増倍管ごと
の特性のばらつきが除去される。
は、少なくとも一か所で、基準特性の光電子増倍管の特
性と一致する。次に、変換比補正手段は、制御部が前記
第２の制御データを出力している状態における光電子増
倍管の出力を受け、この出力値が前記第２の出力信号値
と一致するか否かを判定する。そして、もし出力値が前
記第２の出力信号値と一致しなければ、前記Ｄ／Ａ変換
部の変換比を補正して、光電子増倍管の出力を前記第２
の出力信号値と一致させる。つまり、実際に使用されて
いる光電子増倍管は、第１と第２の制御データに対する
上記２点において、基準の特性を有する光電子増倍管の
特性と一致するので、結果として、各光電子増倍管ごと
の特性のばらつきが除去される。
【００１１】
【実施例】以下、実施例によって、この発明を更に詳細
に説明する。図１は、この発明にかかる光電検出装置の
一実施例を示すブロック図である。この装置は、測定光
などを受ける光電子増倍管１と、光電子増倍管１に所定
の光を照射する基準光照射部２と、光電子増倍管１の出
力信号を処理する信号入力部３と、基準特性の光電子増
倍管の特性を記憶するメモリ４と、この装置全体の動作
を制御するＣＰＵ５と、光電子増倍管のゲインを補正す
る補正部６と、光電子増倍管１に高電圧を印加する高圧
コントローラ７とで構成されている。
に説明する。図１は、この発明にかかる光電検出装置の
一実施例を示すブロック図である。この装置は、測定光
などを受ける光電子増倍管１と、光電子増倍管１に所定
の光を照射する基準光照射部２と、光電子増倍管１の出
力信号を処理する信号入力部３と、基準特性の光電子増
倍管の特性を記憶するメモリ４と、この装置全体の動作
を制御するＣＰＵ５と、光電子増倍管のゲインを補正す
る補正部６と、光電子増倍管１に高電圧を印加する高圧
コントローラ７とで構成されている。
【００１２】基準光照射部２は、ＬＥＤ８と、ＬＥＤ８
を駆動するＬＥＤドライバ９とで構成されている。な
お、ＬＥＤドライバ９は、ＣＰＵ５で制御される。信号
入力部３は、光電子増倍管１の出力信号を取り込んで保
持するサンプルホールド回路１０と、サンプルホールド
回路１０の出力をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器１１と
で構成され、Ａ／Ｄ変換器１１の出力データは、ＣＰＵ
５に入力される。
を駆動するＬＥＤドライバ９とで構成されている。な
お、ＬＥＤドライバ９は、ＣＰＵ５で制御される。信号
入力部３は、光電子増倍管１の出力信号を取り込んで保
持するサンプルホールド回路１０と、サンプルホールド
回路１０の出力をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器１１と
で構成され、Ａ／Ｄ変換器１１の出力データは、ＣＰＵ
５に入力される。
【００１３】補正部６は、ＣＰＵ５からの制御データを
受け、これをアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器
（Ａ）１２と、このＤ／Ａ変換器（Ａ）１２の出力に所
定値を加える加算器１３と、この所定値を供給するＤ／
Ａ変換器（Ｃ）１４と、Ｄ／Ａ変換器（Ａ）がＤ／Ａ変
換する場合の基準電圧を供給するＤ／Ａ変換器（Ｂ）１
５とで構成されている。ここで、基準電源（Ｂ）１６
は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５に対して基準電圧を供給し
ている。そして、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｂ）１５
に対してデジタルデータが加えられると、Ｄ／Ａ変換器
（Ｂ）１５は、基準電源（Ｂ）１６の電圧値によって決
まる変換比に基づき、前記デジタルデータに対応したア
ナログ信号を出力する。また、基準電源（Ｃ）１７は、
Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対して基準電圧を供給してい
る。そして、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対
してデジタルデータが加えられると、Ｄ／Ａ変換器
（Ｃ）１４は、基準電源（Ｃ）１７の電圧値に応じた変
換比に基づき、前記デジタルデータに対応したアナログ
信号を出力する。
受け、これをアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器
（Ａ）１２と、このＤ／Ａ変換器（Ａ）１２の出力に所
定値を加える加算器１３と、この所定値を供給するＤ／
Ａ変換器（Ｃ）１４と、Ｄ／Ａ変換器（Ａ）がＤ／Ａ変
換する場合の基準電圧を供給するＤ／Ａ変換器（Ｂ）１
５とで構成されている。ここで、基準電源（Ｂ）１６
は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５に対して基準電圧を供給し
ている。そして、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｂ）１５
に対してデジタルデータが加えられると、Ｄ／Ａ変換器
（Ｂ）１５は、基準電源（Ｂ）１６の電圧値によって決
まる変換比に基づき、前記デジタルデータに対応したア
ナログ信号を出力する。また、基準電源（Ｃ）１７は、
Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対して基準電圧を供給してい
る。そして、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対
してデジタルデータが加えられると、Ｄ／Ａ変換器
（Ｃ）１４は、基準電源（Ｃ）１７の電圧値に応じた変
換比に基づき、前記デジタルデータに対応したアナログ
信号を出力する。
【００１４】また、メモリ４は、基準特性の光電子増倍
管が出力するだろう第１と第２の出力信号値ＭＤm とＭ
ＤM を記憶している。ここで第１の出力信号値ＭＤm と
は、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ａ）１２に加える制御
データが最小値（すなわち、零）であって、かつ、ＣＰ
Ｕ５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に加えるデジタルデー
タが中間レベルの値である状態において、ＣＰＵ５が、
基準の特性を有する光電子増倍管から受け取る出力信号
値をいう。また、第２の出力信号値ＭＤM とは、ＣＰＵ
５からＤ／Ａ変換器（Ａ）１２に加える制御データが最
大値であって、かつ、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｂ）
１５に加えるデジタルデータを中間値である状態におい
て、ＣＰＵ５が、基準の特性を有する光電子増倍管から
受け取る出力信号値をいう。
管が出力するだろう第１と第２の出力信号値ＭＤm とＭ
ＤM を記憶している。ここで第１の出力信号値ＭＤm と
は、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ａ）１２に加える制御
データが最小値（すなわち、零）であって、かつ、ＣＰ
Ｕ５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に加えるデジタルデー
タが中間レベルの値である状態において、ＣＰＵ５が、
基準の特性を有する光電子増倍管から受け取る出力信号
値をいう。また、第２の出力信号値ＭＤM とは、ＣＰＵ
５からＤ／Ａ変換器（Ａ）１２に加える制御データが最
大値であって、かつ、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｂ）
１５に加えるデジタルデータを中間値である状態におい
て、ＣＰＵ５が、基準の特性を有する光電子増倍管から
受け取る出力信号値をいう。
【００１５】図２は、以上のように構成される光電検出
装置において、ゲイン補正をする場合の処理を説明した
フローチャートである。以下、図２に従って処理内容を
説明する。ＣＰＵ５は、ＬＥＤドライバ９を動作させて
光電子増倍管１に対して基準光を照射する（ステップＳ
Ｔ（以下ＳＴと略す）１）。
装置において、ゲイン補正をする場合の処理を説明した
フローチャートである。以下、図２に従って処理内容を
説明する。ＣＰＵ５は、ＬＥＤドライバ９を動作させて
光電子増倍管１に対して基準光を照射する（ステップＳ
Ｔ（以下ＳＴと略す）１）。
【００１６】そして、ＣＰＵ５はＤ／Ａ変換器（Ａ）１
２に対しては最小の制御データ（すなわち零）を、また
Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対しては中間レベルのデジタ
ルデータを供給する（ＳＴ２）。すると、Ｄ／Ａ変換器
（Ａ）１２の出力は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５の出力値
に拘わらず零ボルトとなり、また、Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）
のアナログ出力は中間値となる。加算器１３は、中間値
であるＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４のアナログ出力値と、零
ボルトであるＤ／Ａ変換器（Ａ）１２の出力値を加算す
る。そして、加算器１３の出力は、高圧コントローラ７
に加わり、高圧コントローラ７の出力電圧が光電子増倍
管１に印加される（以上ＳＴ２）。
２に対しては最小の制御データ（すなわち零）を、また
Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対しては中間レベルのデジタ
ルデータを供給する（ＳＴ２）。すると、Ｄ／Ａ変換器
（Ａ）１２の出力は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５の出力値
に拘わらず零ボルトとなり、また、Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）
のアナログ出力は中間値となる。加算器１３は、中間値
であるＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４のアナログ出力値と、零
ボルトであるＤ／Ａ変換器（Ａ）１２の出力値を加算す
る。そして、加算器１３の出力は、高圧コントローラ７
に加わり、高圧コントローラ７の出力電圧が光電子増倍
管１に印加される（以上ＳＴ２）。
【００１７】次に、ＣＰＵ５は、この状態における光電
子増倍管１の出力信号ＳＤm を取り込む（ＳＴ３）。具
体的には、サンプルホールド１０が保持する信号をＡ／
Ｄ変換器１１がデジタル信号に変換して、その変換値Ｓ
Ｄm をＣＰＵ５が受け取る（ＳＴ３）。続いて、ＣＰＵ
５は、いま受け取ったサンプリングデータＳＤm とメモ
リ４に記憶している第１の出力信号値ＭＤm との大小比
較をする（ＳＴ４）。第１の出力信号値ＭＤm とは、基
準特性の光電子増倍管が今と同じ動作条件で動作した場
合に出力するだろう出力信号値である。従って、今は、
最小の制御データに対する光電子増倍管の特性を、基準
となる光電子増倍管の特性と比較していることになる
（ＳＴ４）。
子増倍管１の出力信号ＳＤm を取り込む（ＳＴ３）。具
体的には、サンプルホールド１０が保持する信号をＡ／
Ｄ変換器１１がデジタル信号に変換して、その変換値Ｓ
Ｄm をＣＰＵ５が受け取る（ＳＴ３）。続いて、ＣＰＵ
５は、いま受け取ったサンプリングデータＳＤm とメモ
リ４に記憶している第１の出力信号値ＭＤm との大小比
較をする（ＳＴ４）。第１の出力信号値ＭＤm とは、基
準特性の光電子増倍管が今と同じ動作条件で動作した場
合に出力するだろう出力信号値である。従って、今は、
最小の制御データに対する光電子増倍管の特性を、基準
となる光電子増倍管の特性と比較していることになる
（ＳＴ４）。
【００１８】以上の比較において、実際の出力信号値
（サンプリングデータ）ＳＤm が、基準特性の光電子増
倍管の出力信号値ＭＤm より大きい場合は、ＣＰＵ５か
らＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に加えているデジタルデータ
を減少させて、Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４のアナログ出力
値を小さくする（ＳＴ５）。この結果、加算器１３の出
力は減少して光電子増倍管１への印加電圧は減少するの
で、光電子増倍管の出力は減少して基準の特性に近づく
ことになる。ＳＴ５の処理が終わるとＳＴ３の処理に戻
り、サンプリングデータＳＤm と第１の出力信号値ＭＤ
m とが再び比較がされ（ＳＴ４）、両データが一致する
までＳＴ５，ＳＴ３，ＳＴ４の処理が繰り返される。そ
して、もし両データが一致すれば、その状態で、ＣＰＵ
５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４への出力状態（出力され
るデジタルデータ）が固定化される。
（サンプリングデータ）ＳＤm が、基準特性の光電子増
倍管の出力信号値ＭＤm より大きい場合は、ＣＰＵ５か
らＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に加えているデジタルデータ
を減少させて、Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４のアナログ出力
値を小さくする（ＳＴ５）。この結果、加算器１３の出
力は減少して光電子増倍管１への印加電圧は減少するの
で、光電子増倍管の出力は減少して基準の特性に近づく
ことになる。ＳＴ５の処理が終わるとＳＴ３の処理に戻
り、サンプリングデータＳＤm と第１の出力信号値ＭＤ
m とが再び比較がされ（ＳＴ４）、両データが一致する
までＳＴ５，ＳＴ３，ＳＴ４の処理が繰り返される。そ
して、もし両データが一致すれば、その状態で、ＣＰＵ
５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４への出力状態（出力され
るデジタルデータ）が固定化される。
【００１９】ＳＴ４の比較において、実際の出力信号値
（サンプリングデータ）ＳＤm が、基準特性の光電子増
倍管の出力信号値ＭＤm より小さい場合は、ＣＰＵ５か
らＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に加えているデジタルデータ
を増加させて、Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４のアナログ出力
値を大きくする（ＳＴ６）。この結果、加算器１３の出
力は増加して光電子増倍管１への印加電圧は増加するの
で、光電子増倍管の出力は増加して基準の特性に近づく
ことになる。そして、ＳＴ６の処理が終わるとＳＴ３の
処理に戻り、サンプリングデータＳＤm と第１の出力信
号値ＭＤm とが再び比較がされ（ＳＴ４）、両データが
一致するまでＳＴ６，ＳＴ３，ＳＴ４の処理が繰り返さ
れる。そして、もし両データが一致すれば、その状態
で、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４への出力状態
（出力されるデジタルデータ）が固定化される。
（サンプリングデータ）ＳＤm が、基準特性の光電子増
倍管の出力信号値ＭＤm より小さい場合は、ＣＰＵ５か
らＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４に加えているデジタルデータ
を増加させて、Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４のアナログ出力
値を大きくする（ＳＴ６）。この結果、加算器１３の出
力は増加して光電子増倍管１への印加電圧は増加するの
で、光電子増倍管の出力は増加して基準の特性に近づく
ことになる。そして、ＳＴ６の処理が終わるとＳＴ３の
処理に戻り、サンプリングデータＳＤm と第１の出力信
号値ＭＤm とが再び比較がされ（ＳＴ４）、両データが
一致するまでＳＴ６，ＳＴ３，ＳＴ４の処理が繰り返さ
れる。そして、もし両データが一致すれば、その状態
で、ＣＰＵ５からＤ／Ａ変換器（Ｃ）１４への出力状態
（出力されるデジタルデータ）が固定化される。
【００２０】ＳＴ３〜ＳＴ６の処理により、サンプリン
グデータＳＤm と第１の出力信号値ＭＤm とが一致する
とＳＴ７に移り、ＣＰＵ５は、Ｄ／Ａ変換器（Ａ）１２
に加える制御データを最大値に変更し、Ｄ／Ａ変換器
（Ｂ）１５に対しては中間レベルのデジタルデータを加
える（ＳＴ７）。なお、この状態においてＣＰＵ５は、
Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対して、上記したＳＴ３〜Ｓ
Ｔ６の処理で決定されたデジタルデータを加えている。
ＣＰＵ５は、以上の条件で光電子増倍管１を動作させ、
光電子増倍管１からのサンプリングデータＳＤM を取り
込む（ＳＴ８）。
グデータＳＤm と第１の出力信号値ＭＤm とが一致する
とＳＴ７に移り、ＣＰＵ５は、Ｄ／Ａ変換器（Ａ）１２
に加える制御データを最大値に変更し、Ｄ／Ａ変換器
（Ｂ）１５に対しては中間レベルのデジタルデータを加
える（ＳＴ７）。なお、この状態においてＣＰＵ５は、
Ｄ／Ａ変換器（Ｃ）１４に対して、上記したＳＴ３〜Ｓ
Ｔ６の処理で決定されたデジタルデータを加えている。
ＣＰＵ５は、以上の条件で光電子増倍管１を動作させ、
光電子増倍管１からのサンプリングデータＳＤM を取り
込む（ＳＴ８）。
【００２１】そして、このサンプリングデータＳＤ
M を、メモリ４に記憶している第２の出力信号値ＭＤM
と大小比較する（ＳＴ９）。第２の出力信号値ＭＤM と
は、今と同じ動作条件で基準特性の光電子増倍管が動作
した場合に、ＣＰＵ５がその光電子増倍管から受け取る
だろう出力信号値である。従って、今は、最大の制御デ
ータに対する光電子増倍管の特性を、基準となる光電子
増倍管の特性と比較していることになる（ＳＴ９）。
M を、メモリ４に記憶している第２の出力信号値ＭＤM
と大小比較する（ＳＴ９）。第２の出力信号値ＭＤM と
は、今と同じ動作条件で基準特性の光電子増倍管が動作
した場合に、ＣＰＵ５がその光電子増倍管から受け取る
だろう出力信号値である。従って、今は、最大の制御デ
ータに対する光電子増倍管の特性を、基準となる光電子
増倍管の特性と比較していることになる（ＳＴ９）。
【００２２】ＳＴ９での比較の結果、サンプリングデー
タＳＤM が第２の出力信号値ＭＤM より大きければ、Ｃ
ＰＵ５は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５へのデジタルデータ
を減少させる（ＳＴ１０）。Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５へ
のデジタルデータが減少するとＤ／Ａ変換器（Ｂ）１５
のアナログ出力電圧も減少するが、このアナログ出力電
圧は、Ｄ／Ａ変換器（Ａ）１２の変換比を決める基準電
圧となっている。従って、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５のア
ナログ出力電圧が減少したことによってＣＰＵ５からの
制御データ（今は最大の値）は、より小さい変換比でア
ナログ変換され、結局、光電子増倍管１への印加電圧は
減少することになる。そして、ＳＴ１０の処理の後ＳＴ
８に戻り、ＳＴ８〜ＳＴ１０の処理を繰り返してゆく
と、やがて両データが一致するので、その状態で、ＣＰ
Ｕ５からＤ／Ａ変換器（Ｂ）１５へ出力するデジタルデ
ータを固定化する（ＳＴ１０，ＳＴ８，ＳＴ９）。
タＳＤM が第２の出力信号値ＭＤM より大きければ、Ｃ
ＰＵ５は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５へのデジタルデータ
を減少させる（ＳＴ１０）。Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５へ
のデジタルデータが減少するとＤ／Ａ変換器（Ｂ）１５
のアナログ出力電圧も減少するが、このアナログ出力電
圧は、Ｄ／Ａ変換器（Ａ）１２の変換比を決める基準電
圧となっている。従って、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５のア
ナログ出力電圧が減少したことによってＣＰＵ５からの
制御データ（今は最大の値）は、より小さい変換比でア
ナログ変換され、結局、光電子増倍管１への印加電圧は
減少することになる。そして、ＳＴ１０の処理の後ＳＴ
８に戻り、ＳＴ８〜ＳＴ１０の処理を繰り返してゆく
と、やがて両データが一致するので、その状態で、ＣＰ
Ｕ５からＤ／Ａ変換器（Ｂ）１５へ出力するデジタルデ
ータを固定化する（ＳＴ１０，ＳＴ８，ＳＴ９）。
【００２３】ＳＴ９での比較の結果、サンプリングデー
タＳＤM が第２の出力信号値ＭＤM より小さい場合も同
様であって、ＣＰＵ５は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５への
デジタルデータを増加させながら（ＳＴ１１）、ＳＴ
８，ＳＴ９の処理を繰り返す。この場合は、より大きい
変換比でアナログ変換され、結局、光電子増倍管１への
印加電圧は増加することになる。このようにして、Ｄ／
Ａ変換器（Ｂ）１５へのデジタルデータを増加してゆく
と、やがてサンプリングデータＳＤM と第２の出力信号
値ＭＤM が一致するので、その状態でＣＰＵ５からＤ／
Ａ変換器（Ｂ）１５へ出力するデジタルデータを固定化
する（ＳＴ１１，ＳＴ８，ＳＴ９）。
タＳＤM が第２の出力信号値ＭＤM より小さい場合も同
様であって、ＣＰＵ５は、Ｄ／Ａ変換器（Ｂ）１５への
デジタルデータを増加させながら（ＳＴ１１）、ＳＴ
８，ＳＴ９の処理を繰り返す。この場合は、より大きい
変換比でアナログ変換され、結局、光電子増倍管１への
印加電圧は増加することになる。このようにして、Ｄ／
Ａ変換器（Ｂ）１５へのデジタルデータを増加してゆく
と、やがてサンプリングデータＳＤM と第２の出力信号
値ＭＤM が一致するので、その状態でＣＰＵ５からＤ／
Ａ変換器（Ｂ）１５へ出力するデジタルデータを固定化
する（ＳＴ１１，ＳＴ８，ＳＴ９）。
【００２４】このようにして、最小と最大の制御データ
に対する出力信号値ＳＤm とＳＤM がそれぞれＭＤm と
ＭＤM に一致するよう補正され、光電子増倍管のゲイン
特性が基準となる光電子増倍管の特性と一致する。そこ
で、ＣＰＵ５は、ＬＥＤ８を消灯させ、光電子増倍管１
のゲイン特性の補正処理を終わる（ＳＴ１２）。尚、補
正処理が終わった後は、光電子増倍管１に測定光を照射
して、この装置本来の処理を開始する。
に対する出力信号値ＳＤm とＳＤM がそれぞれＭＤm と
ＭＤM に一致するよう補正され、光電子増倍管のゲイン
特性が基準となる光電子増倍管の特性と一致する。そこ
で、ＣＰＵ５は、ＬＥＤ８を消灯させ、光電子増倍管１
のゲイン特性の補正処理を終わる（ＳＴ１２）。尚、補
正処理が終わった後は、光電子増倍管１に測定光を照射
して、この装置本来の処理を開始する。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、この発明にかかる
光電検出装置では、本来の処理に先立って光電子増倍管
のゲイン特性の補正がされる。その為、この装置では光
電子増倍管ごとの特性のばらつきが除去され、同じ測定
条件なら常に同じ値を検出できる。
光電検出装置では、本来の処理に先立って光電子増倍管
のゲイン特性の補正がされる。その為、この装置では光
電子増倍管ごとの特性のばらつきが除去され、同じ測定
条件なら常に同じ値を検出できる。
【００２６】また、システムを起動するごとに光電子増
倍管の補正をすれば、経時変化の少ない検出装置を実現
できる。
倍管の補正をすれば、経時変化の少ない検出装置を実現
できる。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１の装置の動作を説明するフローチャートの
一部である。
一部である。
【図３】図１の装置の動作を説明するフローチャートの
残りの一部である。
残りの一部である。
【図４】従来の光電検出装置のブロック図である。
【図５】光電子増倍管のゲイン特性を図示したものであ
る。
る。
１ 光電子増倍管 ２ 基準光照射部 ３ 信号入力部 ４ メモリ（信号値記憶手段） ５ ＣＰＵ（制御手段） ７ 高圧コントローラ（高電圧印加部） １２ Ｄ／Ａ変換部
Claims (1)
- 【請求項１】測定光を受ける光電子増倍管と、この光電
子増倍管の出力信号を受ける信号入力部と、前記光電子
増倍管に高電圧を印加する高電圧印加部と、制御データ
を受けこれを所定の変換比によってアナログ信号に変換
して前記高電圧印加部に加えるＤ／Ａ変換部と、この装
置全体の動作を制御する制御部とを備える光電検出装置
において、 前記光電子増倍管に基準光を照射する基準光照射部と、 この基準光が光電子増倍管に照射されている状態で、前
記制御部が前記Ｄ／Ａ変換部に対して第１の制御データ
と第２の制御データとを別々に加えた場合に、その各制
御データに対して光電子増倍管が本来出力すべき第１と
第２の出力信号値を記憶する信号値記憶手段と、 前記制御部が前記Ｄ／Ａ変換部に対して第１の制御デー
タを加えた状態において、光電子増倍管の出力値が前記
第１の出力信号値でない場合に、前記光電子増倍管が前
記第１の出力信号値を出力するよう、前記Ｄ／Ａ変換部
の出力アナログ信号に補正を加えるアナログ信号補正手
段と、 このアナログ信号補正手段によって、前記Ｄ／Ａ変換部
の出力アナログ信号が補正されている状態で、前記制御
部が前記Ｄ／Ａ変換部に対して第２の制御データを加え
た場合に、光電子増倍管の出力値が前記第２の出力信号
値でないなら、前記光電子増倍管が前記第２の出力信号
値を出力するよう前記Ｄ／Ａ変換部の変換比を補正する
変換比補正手段とを備えることを特徴とする光電検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21967691A JPH0560610A (ja) | 1991-08-30 | 1991-08-30 | 光電検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21967691A JPH0560610A (ja) | 1991-08-30 | 1991-08-30 | 光電検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0560610A true JPH0560610A (ja) | 1993-03-12 |
Family
ID=16739233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21967691A Pending JPH0560610A (ja) | 1991-08-30 | 1991-08-30 | 光電検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0560610A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010197403A (ja) * | 2003-08-13 | 2010-09-09 | Luminex Corp | フロー・サイトメータ・タイプ測定システムの１つまたは複数のパラメータを制御するための方法 |
-
1991
- 1991-08-30 JP JP21967691A patent/JPH0560610A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010197403A (ja) * | 2003-08-13 | 2010-09-09 | Luminex Corp | フロー・サイトメータ・タイプ測定システムの１つまたは複数のパラメータを制御するための方法 |
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