KR20100100198A - Vision inspection apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 비전검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 트레이에 적재된 전자부품의 외관을 검사하는 비전검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a vision inspection apparatus, and more particularly, to a vision inspection apparatus for inspecting the appearance of electronic components loaded on a tray.
반도체패키지 등과 같은 전자부품은 수율 향상 및 제품에 대한 신뢰성을 높이기 위하여 제조공정 중, 또는 출하 전에 전기적 테스트, 외관검사 등 다양한 테스트를 거치게 된다.Electronic components such as semiconductor packages undergo various tests such as electrical tests and external inspections during the manufacturing process or before shipping to improve yield and increase reliability of the product.
반도체패키지의 경우 웨이퍼 상의 가공공정, 절단공정, 패키징공정 등 수없이 많은 공정들을 통하여 제조되는데, 불량임에도 불구하고 후속공정을 수행하게 되는 경우 불필요한 공정을 수행하게 되어 전체적인 제조비용을 상승시키는 문제점이 있는바 주요 공정 전에 상기와 같은 테스트를 수행하여 양호한 전자부품만을 선별하여 후속 공정을 수행토록 함으로써 상기와 같은 문제점을 방지할 수 있다.Semiconductor packages are manufactured through numerous processes such as processing on wafers, cutting processes, packaging processes, etc., but if the subsequent processes are performed in spite of defects, there is a problem of increasing the overall manufacturing cost by performing unnecessary processes. Such a problem can be prevented by performing the above test before the main process and selecting only good electronic components to perform the subsequent process.
또한, 대부분의 전자부품은 시장에 출하되기 전에 각종 테스트를 거쳐 양품만이 출하되도록 함으로써 제품에 대한 신뢰성을 향상시키고 있다.In addition, most electronic parts have been tested before being shipped to the market to ensure that only good products are shipped, thereby improving reliability of the product.
종래의 비전검사장치는 전자부품이 적재된 트레이가 가이드레일을 따라서 상하 방향으로 이동하게 되고, 트레이에 적재된 전자부품의 검사를 위해 카메라가 좌 우로 이동하며 검사를 실시하게 된다. 이와 같이, 전자부품이 적재된 트레이가 이동하며 검사를 시행하기 때문에 트레이 수용홈의 공차로 인하여 트레이에 적재된 전자부품의 위치가 변동됨에 따라 측정시 불량이 발생하는 문제점이 있다. 이를 상세히 설명하면 다음과 같다In the conventional vision inspection apparatus, the tray on which the electronic component is loaded is moved up and down along the guide rail, and the camera is moved left and right to inspect the electronic component loaded on the tray. As described above, since the tray on which the electronic component is loaded moves and performs inspection, a defect occurs in measurement as the position of the electronic component loaded in the tray is changed due to the tolerance of the tray receiving groove. Detailed description thereof is as follows.
도 1은 종래의 비전검사장치의 일예를 보여주는 평면도이다.1 is a plan view showing an example of a conventional vision inspection apparatus.
한편, 상기와 같이 전자부품에 대한 테스트 중 그 외관을 검사하는 종래의 비전검사장치는 도 1에 도시된 바와 같이, 트레이이송장치(미도시)에 의하여 전자부품이 적재된 트레이(5)를 가이드레일(1a)을 따라서 트레이(5)를 로딩하기 위한 트레이로딩장치(1)와, 픽커(6)에 의하여 이송된 전자부품의 비전검사를 위한 카메라(2), 비전검사를 마친 전자부품을 분류하기 위하여 전자부품의 이송을 위한 픽커(7) 및 트레이(5)의 이송을 위한 트레이이송장치(미도시), 트레이(5)가 가이드레일(4a)을 따라서 자동으로 이송되는 소팅부(4) 등을 구비하여야 한다.On the other hand, the conventional vision inspection device for inspecting the appearance of the electronic component test as described above, as shown in Figure 1, guide the
그러나 상기와 같은 구성을 가지는 종래의 비전검사장치는 트레이로딩장치(1) 및 소팅부(4) 모두가 가이드레일(1a, 4a) 및 트레이를 자동으로 이송하기 위한 트레이이송장치를 구비하여야 하며, 비전검사 후 별도로 픽커(7)를 포함하는 소팅부(4)와 같은 소팅장치를 별도로 구비하는 등 그 구성이 매우 복잡할 뿐만 아니라, 제조비용이 고가인 문제점이 있다.However, the conventional vision inspection apparatus having the configuration as described above should include a tray transporting device for automatically transporting the
특히 종래의 비전검사장치는 전자부품이 대량으로 생산되는 경우 고가의 비전검사장치의 사용이 가능하나, 그 생산수량이 상대적으로 적은 경우 고가의 비전검사장치를 사용하게 되면 전체적인 제조비용을 상승시키게 되므로 채산성을 저하 시키는 문제점이 있다.In particular, the conventional vision inspection apparatus can use expensive vision inspection apparatus when a large number of electronic components are produced, but if the production quantity is relatively small, the use of expensive vision inspection apparatus increases the overall manufacturing cost. There is a problem of lowering profitability.
또한, 종래의 비전검사장치는 그 구성이 복잡할 뿐만 아니라 크기도 상대적으로 크므로 설치를 위한 공간을 상대적으로 많이 차지하게 된다.In addition, the conventional vision inspection device is not only complicated in configuration but also relatively large in size, thus occupying a relatively large space for installation.
그런데 전자부품의 경우 공정의 신뢰성을 향상시키기 위하여 비전검사장치는 먼지 등의 발생을 최소화하는 클린룸 내에 설치되는바, 장치의 크기가 커지게 되면 상대적으로 클린룸에서 더 많은 면적의 요구하게 되므로 전자부품에 대한 평당 생산량을 저하시키는 문제점이 있다.However, in the case of electronic components, the vision inspection device is installed in a clean room to minimize the generation of dust, etc. in order to improve the reliability of the process. There is a problem of lowering the yield per square foot for parts.
한편 종래의 비전검사장치는 트레이(5)를 가이드레일에 의해 도 1의 도면을 기준으로 상하로 이동시키면서 카메라(2)를 좌우로 이동시켜 비전검사대상인 트레이(5)에 적재된 전자부품들의 이미지를 획득하여, 획득된 이미지를 분석함으로써 비전검사를 수행하고 있다.Meanwhile, in the conventional vision inspection apparatus, the
상기한 바와 같이 트레이(5)가 이동되는 경우 트레이(5)의 수용홈 내에서 전자부품과의 공차로 인해 전자부품들이 미세하게 움직이기 때문에 전자부품들의 위치가 변동되어 측정오차를 유발하거나, 전자부품의 정확한 이미지를 측정할 수 없는 등 비전검사의 신뢰도를 저하시키거나 비전검사가 원활하게 수행되지 못하는 문제점이 있다.As described above, when the
본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위하여, 구조가 간단하여 장치가 차지하는 면적을 현저하게 줄일 수 있을 뿐만 아니라 그 제조비용을 현저하게 절감할 수 있는 비전검사장치를 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide a vision inspection apparatus that can not only significantly reduce the area occupied by the device due to its simple structure, but also significantly reduce its manufacturing cost.
본 발명의 다른 목적은 트레이의 이송을 위한 구성 및 전자부품의 이송을 위한 구성을 최소화함으로써 장치의 크기 및 제조비용을 현저하게 절감할 수 있는 비전검사장치를 제공하는 데 있다.Another object of the present invention to provide a vision inspection apparatus that can significantly reduce the size and manufacturing cost of the device by minimizing the configuration for the transfer of trays and the configuration for the transfer of electronic components.
본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 전자부품들이 적재된 2개 이상의 트레이들과; 상기 트레이들에 적재된 전자부품들의 비전검사를 수행하는 비전검사부와; 상기 비전검사 결과에 따라 상기 트레이들 사이에서 양품과 불량품의 전자부품들을 서로 교환하는 덤핑부를 포함하며, 상기 덤핑부는 적어도 하나의 트레이에 양품의 전자부품을 적재하고, 적어도 하나의 다른 트레이에 불량품의 전자부품을 적재하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치를 개시한다.The present invention has been created to achieve the object of the present invention as described above, two or more trays on which electronic components are loaded; A vision inspection unit which performs vision inspection of electronic components loaded on the trays; A dumping part for exchanging good and defective electronic parts between the trays according to the vision inspection result, wherein the dumping part loads the good electronic parts in at least one tray and replaces the defective goods in at least one other tray. Disclosed is a vision inspection apparatus for loading an electronic component.
상기 비전검사부와 상기 덤핑부는 독립적으로 구동되거나 적어도 하나의 축에 고정되어 연동될 수 있다.The vision inspection unit and the dumping unit may be driven independently or may be interlocked and fixed to at least one shaft.
상기 덤핑부는 전자부품들을 픽앤플레이스(Pick and Place)하는 복수의 픽커 들을 포함하여 구성될 수 있다.The dumping unit may be configured to include a plurality of pickers that pick and place electronic components.
본 발명은 또한 전자부품들이 적재된 트레이들이 각각 안착되는 복수의 제1트레이안착부들과; 빈 트레이가 안착되는 적어도 하나의 제2트레이안착부와; 상기 트레이들에 적재된 전자부품들의 비전검사를 수행하는 비전검사부와; 상기 비전검사 결과에 따라 양품과 불량품의 전자부품들을 적어도 어느 하나의 제1트레이안착부들 및 제2트레이안착부로 분류하는 덤핑부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치를 개시한다.The present invention also includes a plurality of first tray seating parts, each of which has trays on which electronic components are loaded; At least one second tray seat on which the empty tray is seated; A vision inspection unit which performs vision inspection of electronic components loaded on the trays; Disclosed is a vision inspection apparatus comprising a dumping portion that classifies good and defective electronic components into at least one first tray seating portion and a second tray seating portion according to the vision inspection result.
상기 덤핑부는 상기 제1트레이안착부들에 안착된 적어도 하나의 트레이에 양품의 전자부품을 적재하고, 상기 제2트레이안착부에 안착된 빈 트레이에 불량품의 전자부품을 적재하도록 구성될 수 있다.The dumping part may be configured to load good electronic components in at least one tray seated on the first tray seats, and to load bad electronic parts in an empty tray seated on the second tray seat.
상기 덤핑부는 상기 제1트레이안착부들에 안착된 적어도 하나의 트레이에 불량품의 전자부품을 적재하고, 상기 제2트레이안착부에 안착된 빈 트레이에 양품의 전자부품을 적재하도록 구성될 수 있다.The dumping part may be configured to load a defective electronic component on at least one tray seated on the first tray seating portions, and to load a good quality electronic component on an empty tray seated on the second tray seating portion.
상기 덤핑부는 상기 제1트레이안착부들에 안착된 적어도 하나의 트레이에 양품의 전자부품을 적재하고, 적어도 하나의 다른 트레이에 불량품의 전자부품을 적재도록 구성될 수 있다.The dumping part may be configured to load a good electronic component on at least one tray seated on the first tray seats, and to load a defective electronic component on at least one other tray.
상기 덤핑부는 상기 제2트레이안착부에 안착된 적어도 하나의 빈 트레이에 양품의 전자부품을 적재하고, 적어도 하나의 다른 빈 트레이에 불량품의 전자부품을 적재하도록 구성될 수 있다.The dumping part may be configured to load a good electronic component on at least one empty tray seated on the second tray seating portion, and to load a defective electronic component on at least one other empty tray.
본 발명에 따른 비전검사장치는 상기 전자부품들이 적재된 트레이들이 적재 되는 적어도 하나의 제1트레이적재부와; 상기 빈 트레이가 적재되는 적어도 하나의 제2트레이적재부와; 상기 양품의 전자부품들이 적재된 트레이가 적재되는 적어도 하나의 양품트레이적재부와; 상기 불량품의 전자부품들이 적재된 트레이가 적재되는 적어도 하나의 불량품트레이적재부와; 상기 제1트레이안착부들, 제2트레이안착부, 제1트레이적재부, 제2트레이적재부, 양품트레이적재부 및 불량품트레이적재부 사이에서 트레이들을 이송하는 트레이이송부를 더 포함할 수 있다.The vision inspection apparatus according to the present invention comprises: at least one first tray loading portion on which trays on which the electronic components are stacked are stacked; At least one second tray loading portion on which the empty tray is stacked; At least one article tray loading section on which a tray on which the electronic parts of the article are loaded is loaded; At least one defective tray loading portion on which a tray on which the defective electronic parts are stacked is loaded; The apparatus may further include a tray transfer unit configured to transfer trays between the first tray seating units, the second tray seating unit, the first tray seating unit, the second tray seating unit, the goods tray loading unit, and the defective tray loading unit.
본 발명은 또한 비전검사를 위한 전자부품이 적재된 트레이가 안착되는 하나 이상의 제1트레이안착부와; 상기 제1트레이안착부의 트레이에 적재된 전자부품의 제1비전검사를 수행하는 제1비전검사부를 포함하는 제1검사부와; 상기 제1비전검사를 마친 트레이를 전달받아 트레이에 적재된 전자부품의 적재상태를 반전시키는 반전부와; 상기 반전부에 의하여 반전된 트레이가 안착되는 2개 이상의 제2트레이안착부들과; 상기 제2트레이안착부에 안착된 트레이에 적재된 전자부품의 제2비전검사를 수행하는 제2비전검사부와, 상기 제2비전검사 후 제1 및 제2 비전검사결과에 따라서 상기 제2트레이안착부들의 트레이에 적재된 전자부품들을 양품과 불량품으로 분류하는 덤핑부를 포함하는 제2검사부와; 상기 제1검사부, 상기 반전부 및 상기 제2검사부 사이에서 트레이를 이송하는 트레이이송부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치를 개시한다.The present invention also includes at least one first tray seating unit on which a tray loaded with electronic components for vision inspection is mounted; A first inspection unit including a first vision inspection unit for performing a first vision inspection of the electronic component loaded on the tray of the first tray seating unit; An inverting unit which receives the tray that has completed the first vision inspection and inverts the loading state of the electronic components loaded in the tray; Two or more second tray seats on which the tray inverted by the inverter is seated; A second vision inspection unit configured to perform a second vision inspection of the electronic components loaded on the tray seated on the second tray seating unit, and the second tray seat according to the first and second vision inspection results after the second vision inspection; A second inspection part including a dumping part for classifying the electronic parts loaded on the trays of the parts into good and bad parts; Disclosed is a vision inspection apparatus comprising a tray transfer unit for transferring a tray between the first inspection unit, the inversion unit, and the second inspection unit.
상기 반전부는 트레이 반전 전에 뒤집어진 상태의 트레이를 픽업하는 트레이픽업부와, 상기 트레이이송부에 의하여 이송된 트레이와 상기 트레이픽업부에 의하여 픽업된 트레이를 포갠 후 포개진 한 쌍의 트레이를 뒤집어 트레이에 적재된 전 자부품의 적재상태를 반전시키는 반전장치를 포함할 수 있다.The inversion unit picks up the tray in an inverted state before the tray inversion, the tray transported by the tray transporting unit and the tray picked up by the tray pick-up unit, and then stacks a pair of nested trays on the tray. It may include a reverse device for reversing the loading state of the loaded electronic component.
상기 제2검사부의 상기 제2트레이안착부는 상기 반전부로부터 트레이를 전달받아 제2비전검사를 수행하는 하나 이상의 제1서브트레이안착부와, 상기 제2비전검사 후 상기 제1서브트레이안착부로부터 트레이를 전달받아 제1비전검사 및 제2비전검사 결과에 따라서 상기 덤핑부에 의하여 전자부품들이 소팅되는 하나 이상의 제2서브트레이안착부를 포함할 수 있다.The second tray seating part of the second inspection part receives one or more first sub tray seating parts that receive a tray from the inverting part and performs a second vision test, and from the first sub tray seating part after the second vision test. The tray may include one or more second sub tray seating units in which the electronic parts are sorted by the dumping part according to the first vision test and the second vision test.
상기 제1서브트레이안착부는 상기 제1검사부와 인접되어 상기 제1검사부 및 상기 제2서브트레이안착부 사이에 배치될 수 있다.The first sub tray seating part may be disposed between the first test part and the second sub tray seating part adjacent to the first test part.
상기 제1트레이안착부와 상기 제2트레이안착부는 상기 제1비전검사부 및 상기 제2비전검사부가 배치되는 방향과 수직으로 복수개로 배치될 수 있다.The first tray seating portion and the second tray seating portion may be arranged in plurality in a direction perpendicular to the direction in which the first vision inspection portion and the second vision inspection portion are disposed.
상기 제2트레이안착부는 제2비전검사 후 제1비전검사 및 제2비전검사 결과에 따라서 상기 덤핑부에 의하여 전자부품들이 소팅되도록 구성될 수 있다.The second tray seating unit may be configured to sort the electronic components by the dumping unit according to the first vision inspection and the second vision inspection after the second vision inspection.
본 발명에 따른 비전검사장치는 상기 제1트레이안착부 또는 제2트레이안착부로 트레이를 공급하거나 트레이들이 적재되는 트레이적재부를 추가로 포함할 수 있다.The vision inspection apparatus according to the present invention may further include a tray loading part for supplying a tray to the first tray seating portion or the second tray seating portion or stacking the trays.
상기 트레이적재부는 상기 제1트레이안착부로 트레이를 공급하는 제1트레이적재부와, 빈 트레이들이 적재되는 제2트레이적재부와, 제1 및 제2비전검사 후의 트레이들이 적재되는 제3트레이적재부를 포함할 수 있다.The tray loading portion includes a first tray loading portion for supplying a tray to the first tray seating portion, a second tray loading portion for loading empty trays, and a third tray loading portion for loading trays after the first and second vision inspections. It may include.
상기 트레이적재부는 상기 제1 및 제2트레이안착부들의 하측에 위치되며, 상기 트레이이송부는 X-Z방향로봇 또는 X-Y-Z방향로봇을 포함할 수 있다.The tray loading portion may be located below the first and second tray seating portions, and the tray transfer portion may include an X-Z direction robot or an X-Y-Z direction robot.
본 발명에 따른 비전검사장치는 비전검사를 위한 복수개의 전자부품들이 적재된 2개 이상의 트레이를 고정시킨 상태에서 비전검사장치에 의하여 비전검사를 수행한 후에 그 검사결과에 따라서 양품 및 불량의 전자부품을 각 트레이로 소팅하도록 구성됨으로써, 종래의 복잡한 비전검사장치에 비하여 구조의 단순화 및 소형화가 가능한 이점이 있다.Vision inspection apparatus according to the present invention after performing the vision inspection by the vision inspection device in a state in which two or more trays are loaded with a plurality of electronic components for vision inspection, according to the inspection result of the good and defective electronic components It is configured to sort to each tray, there is an advantage that the structure can be simplified and downsized as compared to the conventional complex vision inspection apparatus.
특히 본 발명은 비전검사장치를 소형화함으로써 그 제조비용을 현저하게 절감하는 한편 장치가 차지하는 설치공간 또한 절감함으로써 전자부품의 생산을 위한 전체 공간을 보다 효율적으로 활용할 수 있게 하는 이점이 있다.In particular, the present invention has the advantage of significantly reducing the manufacturing cost by miniaturizing the vision inspection device while reducing the installation space occupied by the device, thereby making it possible to utilize the entire space for the production of electronic components more efficiently.
또한, 본 발명에 따른 비전검사장치는 그 크기를 소형화함으로써 전자부품에 대한 전체 평당 생산량을 현저하게 향상시킬 수 있는 이점이 있다.In addition, the vision inspection apparatus according to the present invention has the advantage that can be significantly improved the total output per square sheet of electronic components by miniaturizing the size.
또한 본 발명에 따른 비전검사장치는 비전검사의 대상인 전자부품을 이동시키지 않고, 비전검사부를 구성하는 카메라만을 이동시켜 비전검사를 수행함으로써 전자부품을 안정된 상태로 유지시킬 뿐아니라 안정적으로 비전검사를 수행할 수 있게 되어 비전검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있으며 비전검사를 보다 원활하게 수행할 수 있는 이점이 있다.In addition, the vision inspection apparatus according to the present invention performs vision inspection by moving only the camera constituting the vision inspection unit without moving the electronic components, which is the object of vision inspection, to maintain the electronic components in a stable state and stably perform vision inspection. By doing so, the reliability of vision inspection can be improved and the vision inspection can be performed more smoothly.
이하 본 발명에 따른 비전검사장치를 실시예 및 첨부된 도면을 참조하여 상 세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a vision inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to embodiments and the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 비전검사장치를 보여주는 사시도이고, 도 3a 내지 도 3c는 도 2의 비전검사장치의 작동을 보여주는 평면도들이다.2 is a perspective view showing a vision inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention, Figures 3a to 3c are plan views showing the operation of the vision inspection apparatus of FIG.
본 발명의 제1실시예에 따른 비전검사장치는 도 2에 도시된 바와 같이, 본체(100)와; 본체(100) 상에 고정 설치된 트레이안착부(110)에 안착되어 비전검사를 위한 전자부품(10)이 적재된 2개 이상의 트레이(20)들과; 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)의 비전검사를 수행하는 비전검사부(300)와; 트레이(20)들 사이에서 양품과 불량품의 전자부품(10)들을 교환하는 덤핑부(200)를 포함한다.Vision inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention, as shown in Figure 2, the
먼저, 비전검사의 대상이 되는 전자부품(10)은 PGA, BGA 등의 IC칩과 같은 반도체패키지, DDI 등의 응용칩, 인쇄회로기판(PCB) 등으로, 외관검사를 요하는 대상은 모두 포함할 수 있다.First, the
상기 트레이(20)는 복수개의 전자부품(10)들의 적재 및 운반을 위한 구성으로서, 전자부품(10)의 종류에 따라서 다양한 규격 및 구조를 가질 수 있으며, 전자부품(10)들을 수용할 수 있는 가로 및 세로의 배열로 수용홈들이 형성될 수 있다.The
상기 본체(100)는 각 구성요소들이 설치되는 구성으로서, 상면을 형성하는 상판부(101) 및 상판부(101)를 지지하는 지지부(102)를 포함하여 구성될 수 있으며, 프레임 구조를 이루는 등 다양한 구조를 이룰 수 있다.The
상기 트레이안착부(110)는 도 2에 도시된 바와 같이, 본체(100)의 상판부(101) 상에 고정설치되며, 트레이(20)가 안정적으로 안착될 수 있도록 트레이(20)를 측방에서 지지하는 복수개의 가이드부재(111)들이 설치될 수 있다. 이때 상기 트레이안착부(110)는 비전검사 후 작업자에 의하여 수동으로 다른 트레이(20)로 교체될 수 있다.As shown in FIG. 2, the
상기 비전검사부(300)는 검사대상인 전자부품(10)의 상면, 저면 등 외관에 대한 이미지를 획득하고 획득된 이미지를 분석하여 불량여부를 검사하는 등 전자부품(10)의 비전검사를 수행하는 장치로서, 카메라와 같은 이미지획득장치(미도시) 및 이미지분석장치(미도시)로 구성될 수 있다.The
상기 비전검사부(300)는 트레이안착부(110) 상부에서 이동하면서 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)을 촬영할 수 있도록 본체(100)에 설치되며, 도 2에 도시된 바와 같이, X-Y방향으로 이동하도록 X-Y로봇(320)에 설치될 수 있다.The
한편, 상기 본체(100)는 비전검사 후 트레이(20)들 사이에서 전자부품(10)을 픽업하여 다른 트레이(20)로 이송하여 트레이(20)들 사이에서 양품과 불량품의 전자부품(10)들을 교환하는 덤핑부(200)가 설치된다.Meanwhile, the
상기 덤핑부(200)는 소위 전자부품(10)을 픽앤플레이스(pick and place)하는 구성이면 어떠한 구성도 가능하며, 일예로서 진공압에 의하여 전자부품(10)을 픽업하는 흡착헤드(미도시)와 흡착헤드를 상하로 이동시키기 위한 승강구동장치를 포함하여 구성되는 덤핑부(210)를 포함하여 구성될 수 있다.The dumping unit 200 may be any configuration as long as it is configured to pick and place the
상기 덤핑부(210)는 전자부품(10)의 트레이(20)로부터의 픽업기능과, 트레이(20)로의 적재(플레이스) 기능을 수행하여야 하므로 2개 이상으로 설치됨이 바람직하며, 제조비용 및 구조의 단순화를 고려하여 2개로 구성됨이 바람직하다.Since the dumping
상기와 같이 2개의 픽커(211)들로 구성된 덤핑부(210)는 트레이(20)에서 전 자부품(10)을 픽업하고 교체될 전자부품(10)이 적재된 다른 트레이(20)로 이동한 후에 다른 픽커(211)로 교체될 전자부품(10)을 픽업한 후 먼저 픽업된 전자부품(10)을 내려놓는 동작을 반복하여 수행한다.The dumping
한편, 상기 덤핑부(210)는 비전검사부(300)와 같이 트레이안착부(110)의 상부에서 이동하면서 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)을 이송할 수 있도록 본체(100)에 설치되며, 도 2에 도시된 바와 같이, X-Y방향으로 이동하도록 X-Y로봇(320)에 설치될 수 있다.On the other hand, the dumping
이때 상기 비전검사부(300)와 덤핑부(210)는 하나의 축에 고정되어 연동되거나 독립적으로 구동될 수 있다.In this case, the
한편, 상기 트레이안착부(110)는 비전검사 및 "불량으로 판정된 전자부품(10)의 소팅"을 위하여 2개 이상이 설치됨이 바람직하며 그 작동태양에 따라서 다양한 구성이 가능하다.On the other hand, two or more
먼저, 상기 트레이안착부(110)들 각각은 도 3a에 도시된 바와 같이, 비전검사될 전자부품(10)들이 적재된 트레이(20)가 안착되며, 비전검사 후, 도 3b와 도 3c에 도시된 바와 같이, 트레이안착부(110)들에 안착된 트레이(20)들에서 양호한 전자부품(10; 도 3a 내지 도 3c에서 G로 표시)과 불량인 전자부품(10; 도 3a 내지 도 3c에서 R로 표시)을 트레이(20)들 간 전자부품(10)의 교환에 의하여 소팅될 수 있도록, 트레이안착부(110)들 중 일부의 트레이(20)에는 양호한 전자부품(10; G)들만 적재되고 나머지 다른 트레이안착부(110)들의 트레이(20)에는 불량인 전자부품(10; R)이 적재될 수 있다.First, as shown in FIG. 3A, each of the
예를 들면, 도 2 내지 도 3c에 도시된 바와 같이, 상기 트레이안착부(110)는 2개로 배치되며, 비전검사 후 왼쪽에 위치된 트레이(20)는 덤핑부(210)의 교환에 의하여 양호한 전자부품(10; G)만이 적재되고 오른쪽에 위치된 트레이(20)는 불량인 전자부품(10; R)만이 적재되도록 구성될 수 있다.For example, as illustrated in FIGS. 2 to 3C, the
즉, 상기 트레이안착부(110)들은 비전검사될 전자부품(10)들이 적재된 트레이(20)들이 안착되는 하나 이상의 제1트레이안착부(왼쪽 트레이안착부)와, 비전검사 후 덤핑부(210)에 의하여 다른 제1트레이안착부(110)에 안착된 트레이(20)들로부터 불량인 전자부품(10)과 양호한 전자부품(10)을 교환하는 하나 이상의 제2트레이안착부(오른쪽 트레이안착부)를 포함하여 구성될 수 있다.That is, the
이때 상기 제1트레이안착부 및 제2트레이안착부의 위치는 고정되는 것이 아니라 편의상 설정된 것으로 작동방식에 따라서 다양한 구성이 가능함은 물론이다.In this case, the positions of the first tray seat and the second tray seat are not fixed, but are set for convenience, and various configurations are possible according to an operation method.
여기서 불량인 전자부품(10)은 그 수가 상대적으로 적으므로 도 3b에 도시된 바와 같이, 왼쪽의 트레이안착부(110)에 위치된 트레이(20)가 양호한 전자부품(10)들로만 채워지는 경우 왼쪽의 트레이안착부(110)에 위치된 트레이(20)가 반복하여 교체된다.Since the number of defective
한편, 도 3c에 도시된 바와 같이, 오른쪽의 트레이안착부(110)에 위치된 트레이(20)에 불량인 전자부품(10)들이 모두 채워진 경우 작업자는 비전검사될 전자부품(10)이 적재된 다른 트레이(20)로 교환한다.Meanwhile, as shown in FIG. 3C, when all of the defective
한편, 상기 트레이안착부(110)에 안착된 트레이(20)는 작업자에 의하여 매번 교체되는 것이 아니라 일정 개수의 트레이(20)들을 적재하고, 각각의 트레이안착 부(110)에 트레이(20)들이 자동으로 공급될 수 있다.Meanwhile, the
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 비전검사장치를 보여주는 사시도이고, 도 5a 내지 도 5d는 도 4의 비전검사장치의 작동을 보여주는 평면도들이고, 도 6은 도 4의 비전검사장치의 트레이적재부를 보여주는 일부사시도이다.Figure 4 is a perspective view showing a vision inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention, Figures 5a to 5d is a plan view showing the operation of the vision inspection device of Figure 4, Figure 6 is a tray of the vision inspection device of Figure 4 Partial perspective view showing the payload.
본 발명의 제2실시예는 제1실시예의 구성에서 트레이안착부(110)의 배치가 다르며, 아울러 트레이(20)를 자동으로 이송하기 위한 트레이이송장치가 추가되는 것이 다른바 설명의 편의상 상이한 구성 및 추가되는 구성에 대하여만 설명하기로 한다.In the second embodiment of the present invention, the arrangement of the
본 발명의 제2실시예에 따른 비전검사장치에서, 상기 트레이안착부(400)들은 비전검사될 전자부품(10)들이 적재된 트레이(20)들이 안착되는 하나 이상의 제1트레이안착부(410)와, 빈 트레이(20)가 안착되는 하나 이상의 제2트레이안착부(420)를 포함하여 구성될 수 있다.In the vision inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention, the
이때 상기 제1트레이안착부(410)는 도 4 및 도 5a 내지 도 5d에 도시된 바와 같이, 2개 이상이 설치될 수 있으며, 제1트레이안착부(410)에 안착된 트레이(20)에서 불량인 전자부품(10)-불량품-이 제2트레이안착부(420)의 트레이(20)로 이송된 빈자리에 다른 제1트레이안착부(410)에 안착된 트레이(20)에서 양호한 전자부품(10)-양품-이 적재될 수 있다.In this case, as illustrated in FIGS. 4 and 5A through 5D, two or more
한편, 상기 제1트레이안착부(410) 및 제2트레이안착부(420)는 덤핑부(210)의 소팅결과에 따라서 다양한 실시예가 가능하며, 각각 양품 및 불량품, 불량품 및 양품이 적재되도록 구성될 수 있다. On the other hand, the first
또한, 복수개의 트레이(20)들이 안착된 경우 제1트레이안착부(410) 및 제2트레이안착부(420) 모두 양품들만이 적재되는 트레이(20) 및 불량품들만이 적재되는 트레이(20)를 포함할 수 있다.In addition, when the plurality of
한편, 상기 제2트레이안착부(420)는 처음에 빈 트레이(20)가 안착되며, 빈 트레이(20)에는 제1트레이안착부(410)에 안착된 트레이(20)에서 불량의 전자부품(10)들이 채워진다. 물론 상기 제2트레이안착부(420)에도 비전검사될 전자부품(10)들이 적재된 트레이(20)가 안착될 수도 있다.On the other hand, the
한편, 상기 본체(100)에는 트레이(20)를 자동으로 이송할 수 있도록, 트레이안착부(400)로 안착될 트레이(20)들이 적재된 트레이적재부(500)와; 트레이적재부(500)와 트레이안착부(400) 사이에서 트레이(20)를 이송하는 트레이이송부(580)가 추가로 설치될 수 있다.On the other hand, the
상기 트레이적재부(500)는 도 4 및 도 6에 도시된 바와 같이, 복수개의 트레이(20)들이 적재되어 트레이안착부(400)와 트레이(20)를 공급하거나 인출할 수 있는 구성으로서, 비전검사될 트레이(20)들이 적재되어 제1트레이안착부(410)로 트레이(20)를 공급하는 제1트레이적재부(510)와, 빈 트레이들이 적재되는 제2트레이적재부(520)와, 비전검사 및 소팅을 마친 트레이(20)들이 적재되는 제3트레이적재부(530)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIGS. 4 and 6, the
상기 제1트레이적재부(510)는 비전검사 및 소팅될 전자부품(10)들이 적재된 트레이(20)가 적재되는 구성으로서, 하나 이상으로 설치될 수 있다.The first
상기 제2트레이적재부(520)는 비전검사 및 소팅과정에서 비워진 트레이(20) 의 적재 또는 불량의 전자부품(10)들이 다 채워진 후 제2트레이안착부(420)로 공급하도록 구성된다.The second
상기 제3트레이적재부(530)는 비전검사 후 그 검사결과에 따라서 전자부품(10)의 소팅 후에 트레이(20)를 적재하기 위한 구성으로서, 양호한 전자부품(10)들이 채워지는 트레이(20)들이 적재되는 하나 이상의 굿트레이적재부(531)와, 불량의 전자부품(10)들이 채워진 트레이(20)들이 적재되는 하나 이상의 리젝트레이적재부(532)들을 포함하여 구성될 수 있다.The third
한편, 상기 트레이적재부(500)는 본체(100) 내부 트레이안착부(400)의 하측에 설치되어, 트레이(20)가 적층될 수 있도록 저면을 형성하는 저면부(501)와, 트레이(20)가 안정적으로 적재될 수 있도록 각 모서리를 가이드하는 가이드부재(502)들을 포함할 수 있다. 이때 상기 트레이안착부(400)는 제1실시예와는 달리 트레이이송부(580)에 의하여 트레이(20)의 공급이 원활하도록 본체(100)의 상면(101)에 형성된 창 형태로 구성되며, 트레이이송부(580)의 트레이(20) 공급 후 트레이(20)를 고정할 수 있도록 트레이고정부(401)를 포함하여 구성될 수 있다.On the other hand, the
아울러, 상기 트레이적재부(500)는 외부에 노출되지 않도록 본체(100) 내부에 수납된 상태로 설치되며, 작업자가 손잡이(503) 등을 잡아 트레이(20)들을 인출할 수 있도록 본체(100)에 슬라이딩이 가능하도록 설치될 수 있다.In addition, the
상기 트레이이송부(580)는 트레이적재부(500)와 트레이안착부(400) 사이에서 트레이(20)를 이송하도록 하기 위한 구성으로, 트레이(20)를 이송하기 위한 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.The
상기 트레이이송부(580)는 도 6에 도시된 바와 같이, 트레이(20)를 픽업하는 트레이픽업부(581)와, 트레이픽업부(581)를 트레이적재부(500)와 트레이안착부(400) 사이에서 트레이(20)를 이동시키는 픽업구동부(582)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 6, the
상기 픽업구동부(582)는 트레이픽업부(581)를 X-Z방향으로 이동시키기 위한 구성으로서, X-Z방향로봇으로 구성될 수 있다. 물론 트레이(20)의 배치에 따라서 픽업구동부(582)는 X-Y-Z방향로봇을 포함할 수 있다.The
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 제2실시예에 따른 비전검사장치의 작동에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the vision inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention having the configuration as described above in detail as follows.
먼저, 상기 제1트레이적재부(510)에는 비전검사될 트레이(20)들이 적재되고, 빈트레적재부(520)에는 소정 개수의 빈 트레이(20)들이 적재된다.First, the
트레이(20)의 적재를 마치면 트레이이송부(580)는 비전검사될 전자부품(10)이 적재된 트레이(20)를 제1트레이적재부(510)로부터 제1트레이안착부(410)로 공급하고, 빈 트레이(20)를 제2트레이안착부(420)에 공급한다.When the
트레이(20)의 공급이 완료되면, 비전검사부(300) 및 덤핑부(210)는 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)의 비전 검사 및 소팅작업을 수행한다.When the supply of the
상기 트레이안착부(400)는 작동방식에 따라서 다양한 구성이 가능하며, 상술한 바와 같이, 하나 이상의 제1트레이안착부(410)와, 하나 이상의 제2트레이안착부(420)를 포함하여 구성될 수 있다. 예를 들면 상기 트레이안착부(400)는 도 4 내지 도 5d에 도시된 바와 같이, 2개의 제1트레이안착부(410)와, 하나의 제2트레이안 착부(420)를 포함하여 구성될 수 있다.The
먼저, 도 5a 도시된 바와 같이, 상기 2개의 제1트레이안착부(410)에는 비전검사될 트레이(20)가 각각 안착되고, 제2트레이안착부(420)에는 빈 트레이(20)가 안착된다.First, as shown in FIG. 5A, the
트레이(20)의 안착이 완료되면 비전검사부(300)는 X-Y로봇(320)의 이동에 의하여 제1트레이안착부(410)의 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)들에 대한 비전검사를 수행한다.When the seating of the
비전검사부(300)의 비전검사를 완료하면 도 5a와 같이 각 전자부품(10)들의 검사결과에 따라서 제1트레이안착부(410)의 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)들에 불량인 전자부품(10)들을 제2트레이안착부(420)에 안착된 트레이(20)에 이송한다.When the vision inspection of the
덤핑부(210)는 도 5b에 도시된 바와 같이, 불량인 전자부품(10)들의 이송과 함께 2개 중 어느 하나의 제1트레이안착부(410)의 트레이(20; 오른쪽 트레이)에서 양호한 전자부품(10)을 다른 제1트레이안착부(410)의 트레이(20; 왼쪽 트레이)로 이송한다.As shown in FIG. 5B, the dumping
도 5b에 도시된 바와 같이, 제1트레이안착부(410)의 트레이(20; 왼쪽 트레이)에 양호한 전자부품(10)이 모두 채워지면, 굿트레이적재부(531)로 트레이(20)를 이송하고, 다시 새로운 트레이(20)를 제1트레이적재부(510)로부터 제1트레이안착부(410)로 공급한다. As shown in FIG. 5B, when all of the good
한편, 도 5c에 도시된 바와 같이, 제1트레이안착부(410)의 트레이(20; 오른쪽 트레이)에 양호한 전자부품(10)들이 모두 이송되어 비워지는 경우 빈 트레 이(20)는 제2트레이적재부(520)에 적재하고, 제1트레이적재부(510)로부터 새로운 트레이(20)를 제1트레이안착부(410)로 공급할 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 5C, when all of the good
한편, 도 5d에 도시된 바와 같이, 상기 제2트레이안착부(420)의 트레이(20)에 불량인 전자부품(10)들이 모두 채워지면 제3트레이적재부(530)의 리젝트레이적재부(532)로 트레이(20)를 이송하고, 다시 새로운 빈 트레이(20)를 제2트레이적재부(520)로부터 제2트레이안착부(420)로 공급한다.On the other hand, as shown in Figure 5d, when the
한편, 본 발명에 따른 비전검사장치는 필요에 따라서 전자부품(10)의 저면 및 상면, 즉 양면 모두를 검사하도록 구성될 수 있다.On the other hand, the vision inspection apparatus according to the present invention can be configured to inspect both the bottom and the top, that is, both sides of the
도 7은 본 발명의 제3실시예에 따른 비전검사장치를 보여주는 사시도이고, 도 8은 도 7의 비전검사장치의 일부를 보여주는 정면도이고, 도 9는 도 7의 비전검사장치의 평면도이고, 도 10a 내지도 10c는 도 7의 비전검사장치의 반전장치의 작동을 보여주는 일부 정면도이다.7 is a perspective view showing a vision inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention, FIG. 8 is a front view showing a part of the vision inspection apparatus of FIG. 7, FIG. 9 is a plan view of the vision inspection apparatus of FIG. 7, and FIG. 10A to 10C are partial front views illustrating the operation of the reversing apparatus of the vision inspection apparatus of FIG. 7.
본 발명의 제3실시예에 따른 비전검사장치는 1차로 비전검사(제1비전검사)를 수행하고 전자부품(10)을 반전시킨 후 2차로 비전검사(제2비전검사)를 수행하도록 구성된다. 여기서 제2비전검사는 제2실시예에서와 유사한 구성을 가지는바, 편의상 유사한 구성에 대하여는 동일한 도면부호를 부여하고 자세한 설명은 생략한다.The vision inspection apparatus according to the third embodiment of the present invention is configured to perform vision inspection (first vision inspection) firstly, invert the
본 발명의 제3실시예에 따른 비전검사장치는 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 본체(100)와; 본체(100)에 설치되어 제1비전검사를 수행하는 제1검사부와; 본체(100)에 설치되어 제1검사부에서 제1비전검사를 마친 트레이(20)를 전달받아 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)의 적재상태를 반전시키는 반전부(700)와; 본 체(100)에 설치되어 제2비전검사 및 소팅작업을 수행하는 제2검사부와; 트레이(20)를 이송하는 하나 이상의 트레이이송부(780, 580)를 포함하여 구성될 수 있다.Vision inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention, as shown in Figure 7 to 9, the
상기 트레이이송부(780, 580)는 제1검사부의 제1트레이안착부(810) 및 제2검사부의 제2트레이안착부(820), 반전부(700) 및 트레이적재부(500) 사이에서 트레이(20)를 이송하기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하며, 제3실시예에서와 동일하거나 유사한 구성을 가질 수 있다. 여기서 도면부호 도면부호 781는 트레이(20)를 픽업하는 트레이픽업부를 가리킨다.The
이때 상기 트레이이송부(780, 580)는 도 7에 도시된 바와 같이, 제1검사부 및 제2검사부 모두에서 트레이(20)의 이송이 이루어질 수 있음을 고려하여 공정의 원활한 수행을 위하여 제1검사부 및 제2검사부 각각에 별도로 설치될 수 있다.At this time, the
또한, 상기 트레이이송부(780, 580)는 제1트레이안착부(810)가 복수개로 구성되어 가로방향은 물론 세로방향으로 배치되는 경우 제1트레이안착부(810)의 배치에 따라서 X-Z방향 또는 X-Y-Z방향으로 이동이 가능하도록 X-Z방향로봇 또는 X-Y-Z방향로봇을 포함할 수 있다.In addition, the
상기 제1검사부는 본체(100) 상에 고정 설치되어 제1비전검사를 위한 전자부품(10)이 적재된 트레이(20)가 안착되는 하나 이상의 제1트레이안착부(810)와; 제1트레이안착부(810)의 상부에서 이동하면서 제1트레이안착부(810)에 안착된 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)에 대한 제1비전검사를 수행하는 제1비전검사부(630)를 포함하여 구성될 수 있다.At least one first
상기 제1트레이안착부(810)는 후술하는 제2검사부의 제2트레이안착부(820)들 과 유사한 구성을 가지며, 제1비전검사의 원활한 수행을 위하여 2개 또는 그 이상으로 구성됨이 바람직하다. 이때 상기 제1트레이안착부(810)는 복수개로 구성된 경우 가로방향 또는 세로방향으로 배치될 수 있으며, 장치의 크기를 고려하여 제1검사부 및 제2검사부가 배치되는 방향을 가로방향(X축 방향)이라고 할 때 그 방향과 수직 즉, 세로방향(Y축 방향)으로 배치되는 것이 바람직하다.The
상기 제1비전검사부(630)는 제1 및 제2실시예에서의 비전검사부와 유사한 구성을 가지며, 검사대상인 전자부품(10)의 외관에 대한 이미지를 획득하고 획득된 이미지를 분석하여 불량여부를 검사하는 장치로서, 카메라와 같은 이미지획득장치(미도시) 및 이미지분석장치(미도시)로 구성될 수 있다.The first
또한, 상기 제1비전검사부(630)는 제1트레이안착부(810)의 상부에서 이동하면서 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)을 촬영할 수 있도록 본체(100)에 설치되며, 도 7에 도시된 바와 같이, X-Y방향으로 이동하도록 X-Y로봇(620)에 설치될 수 있다.In addition, the first
상기 제2검사부는 앞서 설명한 바와 같이, 제3실시예와 유사한 구성을 가지며, 본체(100) 상에 고정 설치되어 반전부(700)에 의하여 반전된 트레이(20)가 안착되는 2개 이상의 제2트레이안착부(820)들과; 제2트레이안착부(820)들 상부에서 이동하면서 제2트레이안착부(820)들에 안착된 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)에 대한 제2비전검사를 수행하는 제2비전검사부(300)와, 제2트레이안착부(820)들의 상부에서 이동하면서 제2트레이안착부(820)들의 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)을 제2트레이안착부(820)들의 다른 트레이(20)로 이동시키는 덤핑부(210)를 포함하여 구성될 수 있다.As described above, the second inspecting unit has a configuration similar to that of the third embodiment, and two or more second fixing units installed on the
상기 제2검사부의 구성은 제3실시예와 유사한 구성을 가지는바 자세한 설명은 생략한다. 다만, 제2검사부에서 비전검사결과에 따른 소팅작업이 수행되는바 제1비전검사결과 및 제2비전검사결과에 따라서 소팅과정을 수행할 수 있도록 제2트레이안착부(820)의 배치가 달라질 수 있다.The second inspection unit has a configuration similar to that of the third embodiment, and thus a detailed description thereof will be omitted. However, since the sorting operation is performed according to the vision inspection result in the second inspection unit, the arrangement of the
예를 들면, 상기 제2트레이안착부(820)들은 비전검사될 전자부품(10)들이 적재된 트레이(20)들이 각각 안착되는 하나 이상의 제1서브트레이안착부(821)와, 비전검사 후 제1서브트레이안착부(821)로부터 트레이(20)를 전달받아 덤핑부(210)에 의하여 양품의 전자부품(10)과 불량품의 전자부품(10)을 소팅하는 복수개의 제2서브트레이안착부(822)들을 포함하여 구성될 수 있다.For example, the second tray seats 820 may include one or more first sub tray seats 821 on which the
상기 제1서브트레이안착부(821)는 제2비전검사 및 소팅과정을 모두 수행하도록 구성되거나, 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 제2비전검사 만을 수행하도록 구성될 수 있으며 제1검사부의 제1트레이안착부(810)와 유사한 구성을 가질 수 있다.The first sub
그리고 상기 제1서브트레이안착부(821)는 제1비전검사 및 반전과정을 거친 후 트레이(20)가 이송됨을 고려하여 제1검사부와 바로 인접되어 배치됨이 바람직하다. 즉, 상기 제1검사부 및 제2서브트레이안착부(822) 사이에 배치될 수 있다.In addition, the first sub
상기 제2서브트레이안착부(822)는 제1비전검사 및 제2비전검사 결과에 따라 제1비전검사 후 불량(R1), 제2비전검사 후 불량(R2) 등으로 선별할 수 있도록 구성되며, 소팅방식에 따라서 트레이 일부가 고정되는 등 다양한 구성이 가능하며, 양 품 및 불량품의 전자부품(10)들을 분류할 수 있도록 복수개로 구성된다.The second sub
예를 들면, 상기 제3트레이안착부(822)는 도 7 및 도 9에 도시된 바와 같이,제1서브트레이안착부(821)로부터 트레이(20)를 공급받는 하나 이상의 제2-1 내지 제2-3서브트레이안착부(822a, 822a, 822a)들로 구성되고, 덤핑부(210)에 의하여 하나 이상의 제2-1서브트레이안착부(831a)에는 양품의 전자부품(10)이, 제2-2서브트레이안착부(822b)에는 제1비전검사에 따른 제1불량의 전자부품(10)이, 제2-3서브트레이안착부(822c)에는 제2검사부에 따른 제2불량의 전자부품(10)이 적재될 수 있다.For example, as illustrated in FIGS. 7 and 9, the
한편, 상기 제2서브트레이안착부(822)는 장치의 오작동 또는 초기화 등을 위하여 전자부품(10)이 임시로 적재될 수 있는 버퍼트레이부(424)를 추가로 포함할 수 있다.The second sub
상기 제2트레이안착부(820)는 앞서 설명한 제1검사부의 제1트레이안착부(810)의 배치와 유사하게 복수개로 구성된 경우 가로방향 또는 세로방향으로 배치될 수 있으며, 장치의 크기를 고려하여 제1검사부 및 제2검사부가 배치되는 방향을 가로방향(X축 방향)이라고 할 때 세로방향(Y축 방향)으로 배치되는 것이 바람직하다.The
한편, 상기 비전검사부(300)와 덤핑부(210)는 제1 및 제2트레이안착부(810, 820)의 구성 및 배치에 따라서 제2실시예와 동일한 구성을 가질 수 있으며, 제2트레이안착부(820)가 제1서브트레이안착부(821) 및 제2서브트레이안착부(822)로 분리되어 구성된 경우 덤핑부(210) 및 비전검사부(300)는 별도의 X-Y로봇(620, 640)들 에 의하여 서로 독립적으로 구동되도록 구성될 수 있다.On the other hand, the
한편 상기 제2비전검사부(300)는 제1비전검사부(610)과 유사한 구성 또는 제2실시예에서와 유사한 구성을 가지는 등 다양한 구성이 가능하며, 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, X-Y방향으로 이동하도록 X-Y로봇(640)에 설치될 수 있다. 이때 제1비전검사부(610)의 이동을 위한 X-Y로봇(620) 및 제2비전검사부(300)의 이동을 위한 X-Y로봇(640)은 그 이동을 가이드하기 위한 가이드레일(650)을 공유할 수 있다.Meanwhile, the second
또한 상기 덤핑부(210)는 제2실시예에서와 같이, 제2서브트레이안착부(822)의 상부에서 이동하면서 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)을 이송할 수 있도록 본체(100)에 설치되며, 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, X-Y방향으로 이동하도록 X-Y로봇(320)에 설치될 수 있다.In addition, as in the second embodiment, the dumping
한편, 상기 본체(100)에는 제2실시예에서와 같이, 트레이(20)를 자동으로 이송할 수 있도록, 제1 및 제2트레이안착부(810, 820)로 안착될 트레이(20)들이 적재된 트레이적재부(500)가 추가로 설치될 수 있다.Meanwhile, as in the second embodiment,
상기 트레이적재부(500)는 제2실시예와 유사한 구성을 가지며, 복수개의 트레이(20)들이 적재되어 제1검사부의 제1트레이안착부(810)와 트레이(20)를 공급하거나 인출할 수 있는 구성으로서, 비전검사될 트레이(20)들이 적재되어 제1검사부의 제1트레이안착부(810)로 트레이(20)를 공급하는 제1트레이적재부(510)와, 빈 트레이들이 적재되는 제2트레이적재부(520)와, 비전검사 및 소팅을 마친 트레이(20)들이 적재되는 제3트레이적재부(530)를 포함하여 구성될 수 있다.The
여기서 상기 제3트레이적재부(530)는 비전검사가 제1비전검사 및 제2비전검사로 이루어짐을 고려하여 양호한 전자부품(10)이 적재된 트레이(20)가 적재되는 굿트레이적재부(531)와 함께, 제1비전검사 후 불량(R1)인 전자부품(10)이 적재된 트레이(20) 및 제2비전검사 후 불량(R2)인 전자부품(10)이 적재된 트레이(20)가 별도로 적재될 수 있도록 제1리젝트레이적재부(532) 및 제2리젝트레이적재부(533)을 포함하여 구성될 수 있다.The third
또한, 상기 트레이적재부(500)는 제1비전검사 후, 반전 후에 임시로 트레이(20)가 적재될 수 있도록 버퍼트레이적재부(미도시)를 추가로 포함할 수 있다.In addition, the
한편, 상기 반전부(700)는 전자부품(10)의 일면(상면 또는 하면)을 검사하는 제1비전검사 후 비전검사되지 않은 다른 면(하면 또는 상면)을 검사하는 제2비전검사가 가능하도록 제1검사부에서 제1비전검사를 마친 트레이(20)를 전달받아 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)의 적재상태를 반전시키는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.Meanwhile, the
상기 반전부(700)는 도 10a 내지 도 10c에 도시된 바와 같이, 트레이(20) 반전 전에 임시트레이(21)를 픽업하는 트레이픽업부(322)와 트레이이송부(780)에 의하여 이송된 트레이(20)와 트레이픽업부(322)에 의하여 픽업된 임시트레이(21)를 포갠 후 포개진 임시트레이(21) 및 트레이(20)를 뒤집어 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)들을 임시트레이(21)에 반전시켜 적재하는 반전장치(720)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIGS. 10A to 10C, the
상기 트레이픽업부(322)는 반전장치(720)의 반전 전후에 임시트레이(21)를 픽업하기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하며, 트레이(20)의 반전 전에는 임시트레이(21)를 픽업하고 있다가 임시트레이(21) 및 트레이(20)가 반전된 후에는 전자제품(10)이 비워진 트레이(20)를 또 다른 임시트레이로서 사용할 수 있도록 픽업한다.The
상기 반전장치(720)는 트레이(20) 및 임시트레이(21)를 포개진 상태로 회전시키기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하며, 트레이이송부(780)에 의하여 이송된 트레이(20)와 트레이픽업부(322)에 의하여 픽업된 임시트레이(21)를 서로 포갠 후 포개진 임시트레이(21) 및 트레이(20)를 고정하기 위한 트레이고정부(721)와, 포개진 임시트레이(21) 및 트레이(20)를 회전시키기 위한 트레이회전부(722)를 포함하여 구성될 수 있다.The reversing
한편, 상기 전자부품(10)이 적재되는 트레이(20)는 다양한 구조를 가질 수 있으며, 상하면 모두가 사용가능한 구조를 가질 수 있으며 상면에 적재된 전자부품(10)을 반전 후에는 저면에 적재되는 구조를 가질 수 있다.Meanwhile, the
이때 상기 트레이픽업부(322)에 픽업되는 임시트레이(21)는 항상 포개질 트레이(20)와 같은 면을 향하도록 픽업하여야 한다. 따라서 반전장치(720)에 의하여 반전된 후의 트레이(20)는 뒤집어진 상태이므로 반전장치(720)의 반전 후 임시트레이(21)로 사용되는 트레이(20)는 반전될 수 있다.At this time, the
한편, 상기 반전부(700)의 반전장치(720)에 의하여 반전된 전자제품(10)들이 적재된 임시트레이(21)는 다른 트레이이송장치(580)에 의하여 반전된 상태로 제2검사가 수행될 수 있도록 제2검사부로 이송된다.On the other hand, the
상기와 같은 구성을 가지는 제3실시예에 따른 비전검사장치에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the vision inspection apparatus according to the third embodiment having the above configuration in detail as follows.
먼저, 제2실시예에서와 같이, 상기 제1트레이적재부(510)에는 비전검사될 트레이(20)들이 적재되고, 빈트레적재부(520)에는 소정 개수의 빈 트레이(20)들이 적재된다.First, as in the second embodiment, the
트레이(20)의 적재를 마치면 먼저 제1검사부의 트레이이송부(780)는 비전검사될 전자부품(10)이 적재된 트레이(20)를 제1트레이적재부(510)로부터 제1트레이안착부(810)로 공급한다.After the stacking of the
제1트레이안착부(810)로의 트레이(20)의 로딩이 완료되면 제1검사부의 제1비전검사부(630)는 제1비전검사를 수행한다.When loading of the
제1비전검사가 완료되면 트레이이송부(780)는 제1트레이안착부(810)로부터 트레이(20)를 인출하여 반전부(700)로 이송한다. 이때 제1트레이안착부(810)가 2개 이상으로 구성된 경우 어느 하나의 제1트레이안착부(810)에서 트레이(20)를 인출한 경우 제1비전검사부(630)는 다른 제1트레이안착부(810)의 트레이(20)에 적재된 전자부품(10)들을 검사하면 되므로 제1비전검사를 끊김 없이 연속적으로 수행할 수 있다.When the first vision inspection is completed, the
한편, 트레이이송부(780)는 트레이(20)를 반전부(700)로 이송한 후 검사될 다른 트레이(20)를 제1트레이적재부(610)로부터 제1트레이안착부(810)로 공급한다.On the other hand, the
한편, 제1비전검사를 마친 트레이(20)를 전달받은 반전부(700)는 뒤집어진 트레이(20)를 포갠 후 반전함으로써 전자부품(10)의 적재상태를 반전시킨다.On the other hand, the inverting
그리고 반전부(700)에 의하여 트레이(20)의 반전이 완료된 후에는 제2검사부의 트레이이송부(580)가 이동하여 반전된 전자부품(10)이 적재된 트레이(20)를 전달받아 제2검사부의 제2트레이안착부(820)로 이송한다.After the inversion of the
트레이(20)가 제2검사부의 제2트레이안착부(820), 특히 제1서브트레이안착부(821)로 이송된 후에는 제2검사부(300)는 앞서 설명한 제2실시예에서와 유사하게 작동한다.After the
- 제2비전검사 및 소팅과정-Second Vision Inspection and Sorting Process
제2검사부의 제2트레이안착부(820) 중 제1서브트레이안착부(821)에 트레이(20)가 안착되면 제2비전검사부(300)는 제2비전검사를 수행한다. When the
그리고 제2비전검사 후 트레이(20)는 트레이이송부(580)에 의하여 제2서브트레이안착부(822)로 이송된 후 제1비전검사 및 제2비전검사결과에 따라서 덤핑부(210)를 사용하여 전자부품(10)들을 소팅된다.After the second vision test, the
상기 소팅과정은 제2서브트레이안착부(822)의 숫자 및 배치에 따라서 다양한 구성이 가능하다.The sorting process may be variously configured according to the number and arrangement of the second sub
일례로, 제2서브트레이안착부(822)는 앞서 설명한 바와 같이 제2-1 내지 제2-3서브트레이안착부(822a, 822b, 822c)들로 구성될 수 있으며, 상기 제2-1 내지 제2-3서브트레이안착부(822a, 822b, 822c)에는 소팅될 트레이(20)가 제1서브트레이안착부(821)로부터 지속적으로 공급받도록 구성될 수 있다.For example, as described above, the second sub
그리고 이때 제2-1서브트레이안착부(822a)에는 소팅에 의하여 양품의 전자부품(10)이, 제2-2서브트레이안착부(822b)에는 제1비전검사에 따른 불량1의 전자부 품(10)이, 제2-3서브트레이안착부(822c)에는 제2비전검사에 따른 불량2의 전자부품(10)이 적재될 수 있다.At this time, the
한편, 상기 덤핑부(210)의 소팅과정은 다음과 같다.Meanwhile, the sorting process of the dumping
먼저, 상기 덤핑부(210)는 제2-1서브트레이안착부(822a)에 적재된 불량(제1비전검사에 따른 불량1, 제2비전검사에 따른 불량2)의 전자부품(10)을 픽업하고 제2-2서브트레안착부(822b) 또는 제2-3서브트레이안착부(822c)로 이동한다.First, the dumping
그리고 상기 덤핑부(210)는 제2-2서브트레이안착부(822b) 또는 제2-3서브트레이안착부(822c)의 트레이(20)에서 양품의 전자부품(10)을 픽업한 후 빈자리에 제1비전검사에 따른 불량1 또는 제2비전검사에 따른 불량2의 전자부품(10)을 적재한다.The dumping
그리고 상기 덤핑부(210)는 다시 제2-1서브트레이안착부(822a)로 이동한 후 제2-2서브트레이안착부(822b) 또는 제2-3서브트레이안착부(822c)에서 픽업된 양품의 전자부품(10)을 빈자리에 적재한다.The dumping
상기와 같은 덤핑부(210)의 소팅과정을 거쳐 각 제2-1서브트레이안착부(822a), 제2-2서브트레이안착부(822b) 및 제2-3서브트레이안착부(822c)의 각 트레이(20)에 양품, 불량1 및 불량2의 전자부품(10)이 모두 채워지면 다른 트레이(20)로 교체되거나 후술하는 트레이적재부(500)로 이동된다.Through the sorting process of the dumping
한편, 각 제2-1 내지 제2-3서브트레이안착부(822a, 822b, 822c)들은 빈 트레이가 추가로 필요한 경우 제2트레이적재부(520)로부터 공급받을 수 있다.On the other hand, each of the 2-1 to 2-3 sub-tray mounting portion (822a, 822b, 822c) can be supplied from the second
한편, 소팅과정까지 마친 트레이(20)는 제2서브트레이안착부(822)로부터 트 레이적재부(500)들로 적재된다.Meanwhile, the
즉, 제2-1트레이안착부(822a)의 트레이(20)는 양호한 전자부품(10)들로 채워지면 굿트레이적재부(531)로 적재되며, 제2-2 및 제2-3서브트레이안착부(822b, 822c)의 트레이(20)는 불량1 및 불량2의 전자부품(10)들로 채워지면 리젝트레이적재부(532, 533)들로 적재된다.That is, the
여기서 리젝트레이적재부(532, 533) 중 어느 하나는 제1비전검사에서 불량1로 검사된 트레이(20)가 적재되며, 나머지 하나는 제2비전검사에서 불량2로 검사된 트레이(20)가 적재될 수 있다.Here, any one of the reject
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시적으로 설명하였으나, 본 발명의 범위는 이와 같은 특정 실시예에만 한정되는 것은 아니며, 특허청구범위에 기재된 범주 내에서 적절하게 변경 가능한 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described above by way of example, the scope of the present invention is not limited to these specific embodiments, and may be appropriately changed within the scope described in the claims.
도 1은 종래의 비전검사장치의 일예를 보여주는 평면도이다.1 is a plan view showing an example of a conventional vision inspection apparatus.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 비전검사장치를 보여주는 사시도이다.2 is a perspective view showing a vision inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
도 3a 내지 도 3c는 도 2의 비전검사장치의 작동을 보여주는 평면도들이다.3A to 3C are plan views illustrating the operation of the vision inspection apparatus of FIG. 2.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 비전검사장치를 보여주는 사시도이다.4 is a perspective view showing a vision inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.
도 5a 내지 도 5d는 도 4의 비전검사장치의 작동을 보여주는 평면도들이다.5A through 5D are plan views illustrating the operation of the vision inspection apparatus of FIG. 4.
도 6은 도 4의 비전검사장치의 트레이적재부를 보여주는 일부사시도이다.6 is a partial perspective view showing a tray loading part of the vision inspection apparatus of FIG.
도 7은 본 발명의 제3실시예에 따른 비전검사장치를 보여주는 사시도이다.7 is a perspective view showing a vision inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention.
도 8은 도 7의 비전검사장치의 일부를 보여주는 정면도이다.8 is a front view illustrating a part of the vision inspection apparatus of FIG. 7.
도 9는 도 7의 비전검사장치의 평면도이다.9 is a plan view of the vision inspection apparatus of FIG.
도 10a 내지도 10c는 도 7의 비전감사장치의 반전장치의 작동을 보여주는 일부 정면도이다.10A to 10C are partial front views illustrating the operation of the inverting device of the vision audit device of FIG. 7.
***** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ********** Explanation of symbols for main parts of drawing *****
10: 전자부품 20: 트레이10: electronic component 20: tray
100: 본체 210: 덤핑부100: main body 210: dumping part
300: 비전검사부300: vision inspection
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