KR20090055179A - 번인 테스트를 위한 개별 전류 설정 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

번인 테스트시 테스트 대상 및 테스트 대상의 실장 개수에 따라 공급 전류를 가변시킬 수 있는 개별 전류 설정 장치 및 방법을 제시한다.
본 발명의 개별 전류 설정 장치는 복수의 슬롯에 각각 장착된 번인보드를 테스트하는 번인 테스트를 위한 것으로, 구동회로로부터 전류를 공급받고, 운용자 컴퓨터로부터 테스트 대상 디바이스(DUT)의 종류 및 번인보드별 DUT의 개수를 전송받아, DUT의 종류 및 번인보드별 DUT의 개수에 따라 각각의 슬롯으로 제공할 전류값을 산출하여 상기 슬롯에 제공함으로써, 각각의 디바이스에 전류가 과다하게 공급되는 것을 방지할 수 있다.
번인 테스트, 전류 제한

Description

번인 테스트를 위한 개별 전류 설정 장치 및 방법{Apparatus and Method for Individual Current Setting for Burn-In Test}
본 발명은 전류 조절 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 번인 테스트시 테스트 대상 및 테스트 대상의 실장 개수에 따라 공급 전류를 가변시킬 수 있는 개별 전류 설정 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 반도체 메모리 소자를 최종 출시하기 전에 제품이 사용될 조건보다 악화된 조건에서 반도체 메모리 소자의 이상 유무를 판별하는 번인 테스트가 수행되며, 번인 테스트를 수행함에 의해 반도체 메모리 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있고 생산성을 확보할 수 있다.
이러한 번인 테스트시에는 하나의 구동 회로로부터 동시에 복수의 슬롯으로 동일한 전류가 공급되며, 구동 회로로부터 과다한 전류가 흘러 테스트 대상 디바이스(Device Under Test; DUT)가 손상되지 않도록 하기 위하여 전류 제한 회로가 이용된다.
도 1은 일반적인 번인 테스트 장치의 전류 제한 기능을 설명하기 위한 도면이다.
도시한 것과 같이, 구동 회로(1)로부터의 출력 전류는 전류 제한 회로(11)를 통해 각각의 슬롯(2)으로 공급된다.
슬롯(2)에는 번인보드(3a, 3b, 3c)가 장착되어, 번인보드(3a, 3b, 3c)에 실장된 DUT(4a, 4b, 4c)가 테스트되게 되며, 번인 테스트시에는 한번에 동일한 종류의 DUT(4a, 4b, 4c)가 테스트되는 것이 일반적이다.
전류 제한 회로(11)는 DUT의 종류에 따라 설정된 전류값을 각각의 슬롯(2)으로 공급하는데, 이와 같이 함으로써 DUT(4a, 4b, 4c)에 과다한 전류가 흘러 디바이스가 손상되는 것을 방지할 수 있다. 예를 들어, DUT당 과전류 제한치를 100㎃라하고, 하나의 번인보드(3a, 3b, 3c)에 장착되는 DUT의 개수가 200개라 하면, 각 슬롯(2)으로 20A의 전류가 공급되는 것이다.
그런데, 실제 제품 양산시에는 번인보드의 각 소켓에 DUT가 모두 실장되지 않는 경우도 있으며, 이 경우 과전류가 공급되어 DUT가 파손될 수 있다.
즉, 슬롯당 20A의 전류가 공급되는 상태에서, 특정 슬롯(2)에 장착되는 번인보드(3c)에 DUT(4c)가 100개만 실장되어 있다면, DUT당 200㎃의 전류가 흐르게 되므로, 전류 제한 회로(11)가 유명무실한 상황이 되는 것이다.
이와 같이, 현재는 동일한 조건으로 제한된 전류가 슬롯을 통해 번인보드로 공급되기 때문에 번인보드에 적량 미만의 DUT가 실장된 경우, 과전류에 의해 DUT가 손상되는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 번인 테스트를 수행하기 전 번인보드에 장착되는 테스트 대상 디바이스의 종류 및 개수에 따라 전류 제한치를 독립적으로 설정할 수 있는 개별 전류 설정 장치를 제공하는 데 그 기술적 과제가 있다.
본 발명의 다른 기술적 과제는 번인보드가 탑재되는 슬롯별로 전류값을 설정하여 테스트 대상 디바이스를 안정적으로 구동할 수 있도록 하는 데 있다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 장치는 복수의 슬롯에 각각 장착된 번인보드를 테스트하는 번인 테스트를 위한 개별 전류 설정 장치로서, 구동회로로부터 전류를 공급받고, 운용자 컴퓨터로부터 테스트 대상 디바이스(DUT)의 종류 및 상기 번인보드별 DUT의 개수를 전송받아, 상기 DUT의 종류 및 상기 번인보드별 DUT의 개수에 따라 상기 각각의 슬롯으로 제공할 전류값을 산출하여 상기 슬롯에 제공하는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 방법은 복수의 슬롯에 각각 장착된 번인보드를 테스트하는 번인 테스트를 위한 개별 전류 설정 방법으로서, 테스트 대상 디바이스(DUT)별 허용 전류값을 저장하는 제 1 단계; 상기 번인보드별 실장 DUT의 개수를 확인하는 제 2 단계; 및 상기 DUT의 허용 전류값과 상기 번인보드별 실장 DUT의 개수에 따라 상기 슬롯별로 공급할 전류값을 산출하는 제 3 단계; 를 포함한다.
본 발명에 의하면 번인 테스트를 위한 전류 공급시 각각의 슬롯에서 테스트할 디바이스의 개수에 따라 슬롯별로 전류 공급치를 변경함으로써, 각각의 디바이스에 전류가 과다하게 공급되는 것을 방지할 수 있다.
이에 따라, 반도체 메모리 소자의 생산성을 향상시킬 수 있음은 물론 번인 테스트 결과의 신뢰성이 향상된다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 구체적으로 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도시한 것과 같이, 본 발명의 개별 전류 설정 장치(10)는 구동회로(20)로부터 전류를 공급받는 한편, 운용자 컴퓨터인 PC(30)로부터 테스트 대상 디바이스(DUT)의 종류 및 개수를 입력받는다.
개별 전류 설정 장치(10)는 PC(30)로부터 전송된 DUT의 종류 및 개수에 따라 각각의 슬롯으로 제공할 전류값을 산출하며, 산출 결과에 따라 구동회로(20)로부터의 전류값을 제어한다.
도 3을 참조하여 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
도 3은 도 2에 도시한 개별 전류 설정 장치의 상세 구성도로서, 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 장치(10)는 DUT별 전류값 설정부(110), DUT 개수 설정부(120), 슬롯별 전류 설정부(130) 및 전류값 조절부(140)를 포함하여 이루어진다.
DUT별 전류값 설정부(110)는 DUT별 허용 전류값을 기 저장하고 있으며, DUT 개수 설정부(120)는 PC(30)로부터 현재 테스트할 번인보드별 DUT의 개수를 전송받아 저장한다.
본 발명의 바람직한 실시예에서, PC(30)는 번인 테스트 수행 전에 이루어지는 접촉 테스트(Contact test)를 통해 번인보드별 DUT의 개수를 확인하고, 이를 개별 전류 설정 장치(10)로 제공한다. 여기에서, 접촉 테스트란 테스트할 디바이스가 번인보드에 정확하게 장착되어 있는지 확인하는 테스트를 의미한다. 즉, 번인 테스트를 위해 필연적으로 행해지는 접촉 테스트를 통해, 번인보드별로 실장된 DUT의 개수를 확인하는 것이다.
슬롯별 전류 설정부(130)는 DUT별 전류값 설정부(110)에서 저장하고 있는 허용 전류값 및 DUT 개수 설정부(120)에서 저장하고 있는 번인보드별 DUT의 개수에 따라 각 슬롯으로 공급해야 할 전류값을 산출한다.
예를 들어, 허용 전류값이 100㎃인 DUT를 48매의 번인보드에 각각 실장하여 테스트하며, 각 번인보드에 실장될 수 있는 DUT의 개수가 200개인 경우를 가정한다. 이러한 조건에서 47개의 번인보드에는 200개의 DUT가 실장되어 있고, 나머지 하나의 번인보드에는 100개의 DUT만이 실장되어 있다면, 100개의 DUT가 실장된 번인보드로 공급되는 전류값은 47개의 번인보드로 공급되는 전류값과 달라야 한다.
따라서, 슬롯별 전류 설정부(130)는 DUT별 허용 전류값과 번인보드별 DUT의 개수를 승산하여, 47개의 번인보드에는 20A(100㎃*200)의 전류가 필요하며, 나머지 하나의 번인보드는 10A(100㎃*100)의 전류가 필요한 것으로 산출하는 것이다.
전류값 조절부(140)는 구동회로(20)로부터 전류를 공급받아, 슬롯별 전류 설정부(130)에서 산출한 슬롯별 전류값에 따라 전류값을 제어하여 슬롯으로 공급한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 방법을 설명하기 위한 흐름도로서, 도 3을 재참조하여 설명하면 다음과 같다.
번인 테스트가 수행되기 전, DUT별 전류값 설정부(110)는 디바이스별로 허용 전류값을 데이터베이스화하여 저장하고 있다(S101).
아울러, 번인 테스트가 개시되면, PC는 접촉 테스트를 통해 DUT가 번인 보드에 정확하게 실장되어 있는지 확인하게 되며, 이 과정에서 각 번인보드별로 실장된 DUT의 개수가 확인되어져, DUT 개수 설정부(120)에 저장된다(S103).
이후, 슬롯별 전류 설정부(130)는 해당 DUT의 허용 전류값과 번인보드별 실장 DUT의 개수를 승산하여, 각각의 슬롯을 공급할 전류값을 산출한다(S105).
그리고, 구동회로로부터 개별 전류 설정 장치(10)로 전류가 공급되면, 전류값 조절부(140)는 슬롯별 전류 설정부(130)에서 산출한 전류값에 따라 전류값을 변경하여 해당 슬롯으로 공급한다(S107).
이와 같이, 본 발명에서는 테스트할 모든 슬롯으로 동일하게 제한된 전류를 공급하는 것이 아니라, 각 슬롯에 장착된 번인보드가 실장하고 있는 DUT의 개수에 따라 공급할 전류값을 변경할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
본 발명은 번인 테스트 장치에 적용할 수 있으며, 이 경우 테스트 대상 디바이스에 적정한 전류가 인가되어 디바이스의 손상을 방지할 수 있다.
또한, 번인 테스트 장치 외의 과전류로부터 소자를 보호할 필요가 있는 장치에서 각 소자의 특성에 따라 개별적으로 전류 공급량을 제어하게 되면, 장치의 동작 특성 및 수율을 개선할 수 있다.
도 1은 일반적인 번인 테스트 장치의 전류 제한 기능을 설명하기 위한 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 장치를 설명하기 위한 도면,
도 3은 도 2에 도시한 개별 전류 설정 장치의 상세 구성도,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 의한 개별 전류 설정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명>
10 : 개별 전류 설정 장치 20 : 구동 회로
30 : PC 40 : 슬롯
110 : DUT별 전류값 설정부 120 : DUT 개수 설정부
130 : 슬롯별 전류 설정부 140 : 전류값 조절부

Claims (8)

  1. 복수의 슬롯에 각각 장착된 번인보드를 테스트하는 번인 테스트를 위한 개별 전류 설정 장치로서,
    구동회로로부터 전류를 공급받고, 운용자 컴퓨터로부터 테스트 대상 디바이스(DUT)의 종류 및 상기 번인보드별 DUT의 개수를 전송받아, 상기 DUT의 종류 및 상기 번인보드별 DUT의 개수에 따라 상기 각각의 슬롯으로 제공할 전류값을 산출하여 상기 슬롯에 제공하는 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 개별 전류 설정 장치는, 상기 DUT별 허용 전류값을 저장하는 DUT별 전류값 설정부;
    상기 운용자 컴퓨터로부터 번인보드별 DUT의 개수를 전송받는 DUT 개수 설정부;
    상기 DUT별 전류값 설정부의 허용 전류값 및 상기 DUT 개수 설정부에서 전송받은 번인보드별 DUT의 개수에 따라 상기 슬롯별로 공급해야 할 전류값을 산출하는 슬롯별 전류 설정부; 및
    상기 슬롯별 전류 설정부에서 산출한 슬롯별 전류값에 따라 전류값을 제어하여, 상기 각각의 슬롯으로 공급하는 전류값 조절부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 슬롯별 전류 설정부는, 상기 DUT별 허용 전류값과 상기 번인보드별 DUT의 개수를 승산하여, 상기 슬롯별로 공급할 전류값을 산출하는 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 개별 전류 설정 장치는, 상기 운용자 컴퓨터로부터 접촉 테스트를 통해 산출된 번인보드별 DUT 개수를 전송받는 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 장치.
  5. 복수의 슬롯에 각각 장착된 번인보드를 테스트하는 번인 테스트를 위한 개별 전류 설정 방법으로서,
    테스트 대상 디바이스(DUT)별 허용 전류값을 저장하는 제 1 단계;
    상기 번인보드별 실장 DUT의 개수를 확인하는 제 2 단계; 및
    상기 DUT의 허용 전류값과 상기 번인보드별 실장 DUT의 개수에 따라 상기 슬롯별로 공급할 전류값을 산출하는 제 3 단계;
    를 포함하는 개별 전류 설정 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 3 단계는, 상기 DUT의 허용 전류값과 상기 번인보드별 실장 DUT의 개수를 승산하여, 상기 슬롯별로 공급할 전류값을 산출하는 단계인 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 3 단계 이후, 구동회로로부터 전류가 공급됨에 따라, 상기 제 3 단계에서 산출한 전류값에 따른 전류를 상기 슬롯별로 공급하는 제 4 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 방법.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 2 단계는, 접촉 테스트를 통해 상기 번인보드별 실장 DUT의 개수를 확인하는 단계인 것을 특징으로 하는 개별 전류 설정 방법.
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