KR20070082981A - 표시 장치 및 그의 감지부 검사 방법 - Google Patents

표시 장치 및 그의 감지부 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 표시 장치에 관한 것이다. 상기 표시 장치는 복수의 제1 표시 신호선, 복수의 제2 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소, 소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신호선에 평행한 제1 감지 신호선, 소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 제2 감지 신호선, 제1 검사 신호를 전달하는 제1 검사선, 제2 검사 신호를 전달하는 제2 검사선, 상기 제1 검사선, 상기 제2 검사선 및 상기 제1 감지 신호선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자, 상기 제1 스위칭 소자, 상기 제2 검사선 및 상기 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선에 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자, 제3 검사 신호를 전달하는 제3 검사선, 제4 검사 신호를 전달하는 제4 검사선, 상기 제3 검사선, 상기 제4 검사선 및 상기 제2 감지 신호선에 연결되어 있는 제3 스위칭 소자, 그리고 상기 제3 스위칭 소자, 상기 제4 검사선 및 상기 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수 의 제2 표시 신호선에 연결되어 있는 복수의 제4 스위칭 소자를 포함한다.
표시장치, 액정표시장치, LCD, 압력감지부, 기둥형간격재, 간격재, 컬럼스페 이서, 검사장치, 압력센서, 센서. 터치스크린,

Description

표시 장치 및 그의 감지부 검사 방법 {DISPLAY DEVICE AND TESTING METHOD OF SENSING UNIT THEREOF}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도로서, 화소 관점에서 도시한 액정 표시 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블럭도로서, 감지부 관점에서 도시한 액정 표시 장치의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 감지부에 대한 등가 회로도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 압력 감지부의 단면을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 세로 및 가로 감지 데이터선, 세로 및 가로 감지 데이터선에 연결된 세로 및 가로축 검사 회로, 영상 데이터선 및 영상 주사선, 화소, 그리고 감지부의 배열을 도시한 개략도이다.
도 8은 세로 감지 데이터선에 연결된 감지부를 검사하기 위한 세로축 검사 회로의 개략적인 회로도이다.
도 9는 가로 감지 데이터선에 연결된 감지부를 검사하기 위한 가로축 검사 회로의 개략적인 회로도이다.
도 10은 도 8에서 EA1 부분에 대한 액정 표시 장치의 배치도이다.
도 11은 도 10의 액정 표시 장치를 XI-XI 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 12는 도 8에서 EA2 부분에 대한 액정 표시 장치의 배치도이다.
도 13은 도 12의 액정 표시 장치를 XIII-XIII 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 14는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 세로축 검사 회로부에 대한 배치도이다.
도 15는 도 14의 세로축 검사 회로부를 XV-XV 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 16은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 가로축 검사 회로부에 대한 배치도이다.
도 17은 도 16의 가로축 검사 회로부를 XVII-XVII 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 18은 도 16의 가로축 검사 회로부를 XVIII-XVIII 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
본 발명은 표시 장치 및 그의 감지부 검사 방법에 관한 것이다.
표시 장치 중 대표적인 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD)는 화소 전극 및 공통 전극이 구비된 두 표시판과 그 사이에 들어 있는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 갖는 액정층을 포함한다. 화소 전극은 행렬의 형태로 배열되어 있고 박막 트랜지스터(TFT) 등 스위칭 소자에 연결되어 한 행씩 차례로 영상 데이터 전압을 인가 받는다. 공통 전극은 표시판의 전면에 걸쳐 형성되어 있으며 공통 전압을 인가 받는다. 화소 전극과 공통 전극 및 그 사이의 액정층은 회로적으로 볼 때 액정 축전기를 이루며, 액정 축전기는 이에 연결된 스위칭 소자와 함께 화소를 이루는 기본 단위가 된다.
이러한 액정 표시 장치에서는 두 전극에 전압을 인가하여 액정층에 전계를 생성하고, 이 전계의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 얻는다.
터치 스크린 패널(touch screen panel)은 화면 위에 손가락 또는 펜 등을 접촉해 문자나 그림을 쓰고 그리거나, 아이콘을 실행시켜 컴퓨터 등의 기계에 원하는 명령을 수행시키는 장치를 말한다. 터치 스크린 패널이 부착된 액정 표시 장치는 사용자의 손가락 또는 터치 펜(touch pen) 등이 화면에 접촉하였는지 여부 및 접촉 위치 정보를 알아낼 수 있다.
한편, 이러한 액정 표시 장치에 내장된 감지 소자나 이들에 연결되어 있는 신호선 등을 검사하기 위한 VI(visual inspection) 검사가 이루어지고 있다. 하지만, 별도의 검사 장치를 이용해야 하므로 검사 비용과 검사 동작이 번거롭다.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 용이하게 감지 소자의 검사 동작을 용이하게 하기 위한 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 감지 소자를 내장한 표시 장치의 불량률을 줄이는 것이다.
본 발명의 한 특징에 따른 표시 장치는, 복수의 제1 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소, 소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신호선에 평행한 복수의 제1 감지 신호선, 소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 복수의 제2 감지 신호선, 상기 제1 감지 신호선에 연결되어 있는 복수의 제1 감지부, 상기 제2 감지 신호선에 연결되어 있는 복수의 제2 감지부, 각 제1 감지 신호선과 해당 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선(이하, '제1 표시 신호선군'이라 함)에 연결되어 있고, 제1 및 제2 검사 신호가 인가되며, 상기 제1 감지부의 상태에 따라 상기 화소의 휘도 상태를 변화시켜 상기 제1 감지부의 상태를 검사하는 복수의 제1 검사 회로, 그리고 각 제2 감지 신호선과 해당 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제2 표시 신호선(이하, '제2 표시 신호선군'이라 함)에 연결되어 있고, 제3 및 제4 검사 신호가 인가되며, 상기 제2 감지부의 상태에 따라 상기 화소의 동작 여부가 정해져 상기 제2 감지부의 상태를 검사하는 복수의 제2 검사 회로를 포함한다.
상기 제1 검사 회로 각각은, 제1 표시 신호선군에 각각 연결되어 있고 상기 제1 검사 신호에 따라 동작 상태가 변하는 복수의 제1 스위칭 소자, 그리고 상기 복수의 제1 스위칭 소자와 제1 감지 신호선에 연결되어 있고, 상기 제1 검사 신호에 따라 동작하여 제2 검사 신호의 전압을 상기 제1 표시 신호선군에 연결된 화소에 인가하는 제2 스위칭 소자를 포함할 수 있다.
상기 제2 검사 회로 각각은, 제2 표시 신호선군에 각각 연결되어 있고 상기 제3 검사 신호에 따라 동작 상태가 변하는 복수의 제3 스위칭 소자, 그리고 상기 복수의 제3 스위칭 소자와 제3 감지 신호선에 연결되어 있고, 상기 제3 검사 신호에 따라 동작하여 제4 검사 신호의 전압을 상기 제2 표시 신호선군에 연결된 화소에 인가하는 제4 스위칭 소자를 포함할 수 있다.
상기 제1 및 제3 검사 신호는 게이트 온 전압일 수 있고, 상기 제2 검사 신호는 블랙 계조를 나타내는 데이터 전압일 수 있다.
상기 제4 검사 신호는 게이트 온 전압일 수 있다.
상기 제1 및 제2 검사 회로는 가장 자리 영역에 형성되어 있는 것이 바람직하다.
상기 감지부는 압력 센서인 것이 좋다.
본 발명의 다른 특징에 따른 표시 장치는, 복수의 제1 표시 신호선, 상기 제 1 표시 신호선과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소, 소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신호선에 평행한 제1 감지 신호선, 소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 제2 감지 신호선, 상기 화소와 이격되어 있고 제1 검사 신호를 전달하는 제1 검사선, 상기 제1 검사선에 이격되어 있고 제2 검사 신호를 전달하는 제2 검사선, 상기 제1 검사선, 상기 제2 검사선 및 상기 제1 감지 신호선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자, 상기 제1 스위칭 소자, 상기 제2 검사선 및 상기 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선에 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자, 상기 화소와 이격되어 있고 제3 검사 신호를 전달하는 제3 검사선, 상기 제3 검사선에 이격되어 있고 제4 검사 신호를 전달하는 제4 검사선, 상기 제3 검사선, 상기 제4 검사선 및 상기 제2 감지 신호선에 연결되어 있는 제3 스위칭 소자, 그리고 상기 제3 스위칭 소자, 상기 제4 검사선 및 상기 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제2 표시 신호선에 연결되어 있는 복수의 제4 스위칭 소자를 포함한다.
상기 제1 및 제2 감지 신호선에 각각 연결된 감지부를 더 포함할 수 있고, 이때, 감지부는 압력 센서인 것이 좋다.
본 발명의 또 다른 특징에 따른 검사 방법은, 복수의 제1 표시 신호선, 복수의 제2 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소, 소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신호선에 평행한 적어도 하나의 제1 감지 신호선, 소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 적어도 하나의 제2 감지 신호선, 제1 검사선, 제2 검사선, 상기 제1 검사선에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제2 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며 상기 제1 감지 신호선에 출력 단자가 연결되어 있는 제1 스위칭 소자, 상기 제1 스위칭 소자에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제2 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며, 상기 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선에 각각 출력 단자가 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자, 제3 검사선, 제4 검사선, 상기 제3 검사선에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제4 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며 상기 제2 감지 신호선에 출력 단자가 연결되어 있는 제3 스위칭 소자, 그리고 상기 제3 스위칭 소자에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제4 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며, 상기 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제2 표시 신호선에 각각 출력 단자가 연결되어 있는 복수의 제4 스위칭 소자를 포함하는 표시 장치의 감지부 검사 방법으로서, 제1 검사선에 제1 크기의 제1 검사 신호를 인가하고 상기 제2 검사선에 제2 크기의 제2 검사 신호를 인가하여 상기 제1 내지 제2 스위칭 소자를 턴온시킴으로써, 상기 화소에 제1 검사 신호를 인가하는 단계, 상기 제2 검사 신호의 상태를 제2 크기보다 낮은 제3 크기로 바꾸는 단계, 제3 검사선에 제4 크기의 제3 검사 신호를 인가하고 상기 제4 검사선에 상기 제2 크기의 제4 검사 신호를 인가하여 상기 제3 내지 제4 스위칭 소자를 턴온시킴으로써, 상기 화소에 제4 검사 신호를 인가하는 단계, 그리고 상기 제4 검사 신호의 상태를 상기 제2 크기에 서 상기 제3 크기로 바꾸는 단계를 포함한다.
상기 제2 크기는 게이트 온 전압의 크기와 같을 수 있다.
상기 제3 크기는 게이트 오프 전압의 크기의 같을 수 있다.
상기 제1 크기는 블랙 계조를 나타내는 데이터 전압의 크기와 동일할 수 있으며, 상기 제4 크기는 게이트 온 전압의 크기와 같을 수 있다.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
이제 본 발명의 표시 장치에 대한 한 실시예인 액정 표시 장치에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도로서, 화소 관점에서 도시한 액정 표시 장치의 블록도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다. 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도로서, 감지부 관점에서 도시한 액정 표시 장치의 블록도이 다. 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 압력 감지부에 대한 등가 회로도이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 압력 감지부의 단면을 개략적으로 도시한 도면이다. 또한 도 6은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략도이다.
도 1 및 도 3을 참고하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치는 액정 표시판 조립체(liquid crystal panel assembly)(300) 및 이에 연결된 영상 주사부(400), 영상 데이터 구동부(500) 및 감지 신호 처리부(800), 영상 데이터 구동부(500)에 연결된 계조 전압 생성부(550), 감지 신호 처리부(800)에 연결된 접촉 판단부(700), 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부(600)를 포함한다.
도 1 내지 도 4를 참고하면, 액정 표시판 조립체(300)는 복수의 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)과 이에 연결되어 있으며 대략 행렬의 형태로 배열된 복수의 화소(PX), 그리고 복수의 감지 신호선(SY1-SYN, SX1-SXM)과 이에 연결되어 있으며 대략 행렬의 형태로 배열된 복수의 감지부(SU)를 포함한다. 반면, 도 2를 참고하면, 액정 표시판 조립체(300)는 서로 마주하는 박막 트랜지스터 표시판(100) 및 공통 전극 표시판(200)과 그 사이에 들어 있는 액정층(3), 그리고 두 표시판(100, 200) 사이에 간극(間隙)을 만들며 어느 정도 압축 변형되는 기둥형 간격재(도시하지 않음)를 포함한다.
신호선(G1-Gn, D1-Dm)은 영상 주사 신호를 전달하는 복수의 영상 주사선(G1-Gn)과 영상 데이터 신호를 전달하는 영상 데이터선(D1-Dm)을 포함하며, 감지 신호선 (SY1-SYN, SX1-SXM)은 감지 데이터 신호를 전달하는 복수의 가로 감지 데이터선(SY1-SYN) 및 복수의 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)을 포함한다.
영상 주사선(G1-Gn) 및 가로 감지 데이터선(SY1-SYN)은 대략 행 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하고, 영상 데이터선(D1-Dm) 및 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)은 대략 열 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하다.
각 화소(PX), 예를 들면 i번째(i=1, 2,..., n) 영상 주사선(Gi)과 j번째(j=1, 2,..., m) 영상 데이터선(Dj)에 연결된 스위칭 소자(Q)와 이에 연결된 액정 축전기(liquid crystal capacitor)(Clc) 및 유지 축전기(storage capacitor)(Cst)를 포함한다. 유지 축전기(Cst)는 필요에 따라 생략할 수 있다.
스위칭 소자(Q)는 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되어 있는 박막 트랜지스터 등의 삼단자 소자로서, 그 제어 단자는 영상 주사선(Gj)과 연결되어 있고, 입력 단자는 영상 데이터선(Dj)과 연결되어 있으며, 출력 단자는 액정 축전기(Clc) 및 유지 축전기(Cst)와 연결되어 있다. 이때 박막 트랜지스터는 비정질 규소(amorphous silicon) 또는 다결정 규소(poly crystalline silicon)를 포함한다.
액정 축전기(Clc)는 박막 트랜지스터 표시판(100)의 화소 전극(191)과 공통 전극 표시판(200)의 공통 전극(270)을 두 단자로 하며 두 전극(191, 270) 사이의 액정층(3)은 유전체로서 기능한다. 화소 전극(191)은 스위칭 소자(Q)에 연결되며 공통 전극(270)은 공통 전극 표시판(200)의 전면에 형성되어 있고 공통 전압(Vcom)을 인가 받는다. 도 2에서와는 달리 공통 전극(270)이 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되는 경우도 있으며 이때에는 두 전극(191, 270) 중 적어도 하나가 선형 또는 막대형으로 만들어질 수 있다.
액정 축전기(Clc)의 보조적인 역할을 하는 유지 축전기(Cst)는 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비된 별개의 신호선(도시하지 않음)과 화소 전극(191)이 절연체를 사이에 두고 중첩되어 이루어지며 이 별개의 신호선에는 공통 전압(Vcom) 따위의 정해진 전압이 인가된다. 그러나 유지 축전기(Cst)는 화소 전극(191)이 절연체를 매개로 바로 위의 전단 영상 주사선과 중첩되어 이루어질 수 있다.
한편, 색 표시를 구현하기 위해서는 각 화소(PX)가 기본색(primary color) 중 하나를 고유하게 표시하거나(공간 분할) 각 화소(PX)가 시간에 따라 번갈아 기본색을 표시하게(시간 분할) 하여 이들 기본색의 공간적, 시간적 합으로 원하는 색상이 인식되도록 한다. 기본색의 예로는 적색, 녹색, 청색 등 삼원색을 들 수 있다. 도 2는 공간 분할의 한 예로서 각 화소(PX)가 화소 전극(191)에 대응하는 공통 전극 표시판(200)의 영역에 기본색 중 하나를 나타내는 색 필터(230)를 구비함을 보여주고 있다. 도 2와는 달리 색 필터(230)는 박막 트랜지스터 표시판(100)의 화소 전극(191) 위 또는 아래에 형성할 수도 있다.
액정 표시판 조립체(300)의 바깥 면에는 빛을 편광시키는 적어도 하나의 편광자(도시하지 않음)가 부착되어 있다.
감지부(SU)는 도 4 및 도 5에 도시한 구조를 가질 수 있다.
도 4 및 도 5에 도시한 감지부(SU)는 도면 부호 SL로 나타낸 가로 또는 세로 감지 데이터선(이하 감지 데이터선이라 함)에 연결되어 있는 스위치(SWT)를 포함하는 압력 감지부이다.
스위치(SWT)는 공통 전극 표시판(200)의 공통 전극(270)과 박막 트랜지스터 표시판(100)의 감지 데이터선(SL)을 두 단자로 하며, 두 단자 중 적어도 하나는 돌출해 있어서 사용자의 접촉에 의하여 두 단자가 물리적, 전기적으로 연결된다. 이에 따라 공통 전극(270)으로부터의 공통 전압(Vcom)이 감지 데이터 신호로서 감지 데이터선(SL)에 출력된다.
이러한 압력 감지부(SU)의 단면 구조를 도 5를 참고로 하여 좀더 상세하게 살펴보면 다음과 같다.
도 5에 도시한 것처럼, 하부 표시판(100)인 박막 트랜지스터 표시판에는 투명한 유리 또는 플라스틱 등으로 만들어진 절연 기판(110) 위에 영상 주사선(G1-Gm) 및 가로 감지 데이터선(SY1-SYN), 영상 데이터선(D1-Dm) 및 세로 감지 데이터선(SX1-SXM), 그리고 스위칭 소자(Q) 등이 형성되어 있는 화소층(120)이 형성되어 있고, 그 위에 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 연결되어 있는 접촉 부재(130)가 형성되어 있다. 화소 전극(191)은 접촉 부재(130)와 함께 형성된다. 접촉 부재(130)는 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide) 등의 투명한 도전체로 만들어질 수 있다.
하부 표시판(100)과 마주하는 상부 표시판(200)인 공통 전극 표시판에는 투 명한 유리 또는 플라스틱 등으로 만들어진 절연 기판(210) 위에 차광 부재(light blocking member), 복수의 색 필터(color filter) 및 덮개막(overcoat) 등이 형성되어 있는 색필터층(240)이 형성되어 있다. 이때, 덮개막은 복수의 감지용 돌출부(245)를 포함한다.
감지용 돌출부(245)는 하부 표시판(100)의 화소층(120)에 형성되어 있는 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 대응되게 형성되어 있다.
색필터층(240) 위에는 공통 전극(270)이 형성되어 있다. 공통 전극(270)에는 공통 전압(Vcom)이 인가된다.
공통 전극(270) 위에는 감광성 물질로 이루어진 복수의 기둥형 간격재(320)가 형성되어 있다.
기둥형 간격재(320)는 액정 표시판 조립체(300)에 균일하게 산포되어 있고 하부 표시판(100)과 상부 표시판(200)을 지지하여 둘 사이에 간극을 만든다. 두 표시판(100, 200)은 컬럼 스페이서(320) 대신에 비즈 스페이서(beads spacer)(도시하지 않음)에 의하여 지지될 수도 있다.
표시판(100, 200)의 안쪽 면 위에는 액정층을 배향하기 위한 배향막(alignment layer)(도시하지 않음)이 도포되어 있으며, 표시판(100, 200)의 바깥쪽 면에는 하나 이상의 편광자(polarizer)(도시하지 않음)가 구비되어 있다.
액정 표시 장치는 또한 하부 표시판(100)과 상부 표시판(200)을 결합하는 밀봉재(sealant)(도시하지 않음)를 더 포함할 수 있다. 밀봉재는 상부 표시판(200) 의 가장자리에 위치한다.
감지용 돌출부(245)를 둘러싼 공통 전극(270)과 화소층(120)에 형성된 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 연결된 접촉 부재(130)는 도 4에 스위치(SWT)를 이룬다.
가로 감지 데이터선(SY1-SYN)을 통하여 흐르는 감지 데이터 신호를 분석하여 접촉점의 Y 좌표를 판단할 수 있으며, 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)을 통하여 흐르는 감지 데이터 신호를 분석하여 접촉점의 X 좌표를 판단할 수 있다.
압력 감지부(SU)는 인접한 두 화소(PX) 사이에 배치된다. 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 각각 연결되어 있으며, 이들이 교차하는 영역에 인접하여 배치되어 있는 한 쌍의 감지부(SU)의 밀도는 예를 들면, 도트(dot) 밀도의 약 1/4일 수 있다. 여기서 하나의 도트는, 예를 들면 나란히 배열되어 있으며 적색, 녹색, 청색 등 삼원색을 표시하는 3 개의 화소(PX)를 포함하고, 하나의 색상을 표시하며, 액정 표시 장치의 해상도를 나타내는 기본 단위가 된다. 그러나 하나의 도트는 4개 이상의 화소(PX)로 이루어질 수도 있으며, 이 경우 각 화소(PX)는 삼원색과 백색(white) 중 하나를 표시할 수 있다.
한 쌍의 감지부(SU) 밀도가 도트 밀도의 1/4인 예로는 한 쌍의 감지부(SU)의 가로 및 세로 해상도가 각각 액정 표시 장치의 가로 및 세로 해상도의 1/2인 경우를 들 수 있다. 이 경우, 감지부(SU)가 없는 화소행 및 화소열도 있을 수 있다.
감지부(SU) 밀도와 도트 밀도를 이 정도로 맞추면 문자 인식과 같이 정밀도 가 높은 응용 분야에도 이러한 액정 표시 장치를 적용할 수 있다. 물론 감지부(SU)의 해상도는 필요에 따라 더 높거나 낮을 수도 있다.
다시 도 1 및 도 3을 참고하면, 계조 전압 생성부(550)는 화소의 투과율과 관련된 두 벌의 계조 전압 집합(또는 기준 계조 전압 집합)을 생성한다. 두 벌 중 한 벌은 공통 전압(Vcom)에 대하여 양의 값을 가지고 다른 한 벌은 음의 값을 가진다.
영상 주사부(400)는 액정 표시판 조립체(300)의 영상 주사선(G1-Gn)에 연결되어 스위칭 소자(Q)를 턴 온시키는 게이트 온 전압(Von)과 턴 오프시키는 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 영상 주사 신호를 영상 주사선(G1-Gn)에 인가한다.
영상 데이터 구동부(500)는 액정 표시판 조립체(300)의 영상 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 있으며, 계조 전압 생성부(550)로부터의 계조 전압을 선택하고 이를 영상 데이터 신호로서 영상 데이터선(D1-Dm)에 인가한다. 그러나 계조 전압 생성부(550)가 모든 계조에 대한 전압을 모두 제공하는 것이 아니라 정해진 수의 기준 계조 전압만을 제공하는 경우에, 영상 데이터 구동부(500)는 기준 계조 전압을 분압하여 전체 계조에 대한 계조 전압을 생성하고 이 중에서 영상 데이터 신호를 선택한다.
감지 신호 처리부(800)는 액정 표시판 조립체(300)의 감지 데이터선(SY1- SYN, SX1-SXM)에 연결되어 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)을 통하여 출력되는 감지 데이터 신호를 입력받아 신호 처리를 행하여 디지털 감지 신호(DSN)를 생성한다.
접촉 판단부(700)는 CPU(central processor unit)등으로 이루어질 수 있고, 감지 신호 처리부(800)로부터 디지털 감지 신호(DSN)를 받아 압력 감지부(SU)의 접촉 여부 및 접촉 위치를 판단한다.
신호 제어부(600)는 영상 주사부(400), 영상 데이터 구동부(500), 계조 전압 생성부(550), 그리고 감지 신호 처리부(800) 등의 동작을 제어한다.
이러한 구동 장치(400, 500, 550, 600, 700, 800) 각각은 적어도 하나의 집적 회로 칩의 형태로 액정 표시판 조립체(300) 위에 직접 장착되거나, 가요성 인쇄 회로막(flexible printed circuit film)(도시하지 않음) 위에 장착되어 TCP(tape carrier package)의 형태로 액정 표시판 조립체(300)에 부착되거나, 별도의 인쇄 회로 기판(printed circuit board)(도시하지 않음) 위에 장착될 수도 있다. 이와는 달리, 이들 구동 장치(400, 500, 550, 600, 700, 800)가 신호선(G1-Gn, D1-Dm, SY1-SYN, SX1-SXM) 및 박막 트랜지스터(Q) 따위와 함께 액정 표시판 조립체(300)에 집적될 수도 있다.
도 6을 참고하면, 액정 표시판 조립체(300)는 표시 영역(P1), 가장자리 영역(P2) 및 노출 영역(P3)으로 나뉘어 있다. 표시 영역(P1)에는 화소(PX), 감지부(SU) 및 신호선(G1-Gn, D1-Dm, SY1-SYN, SX1-SXM)의 대부분이 위치한다. 공통 전극 표시판(200)의 색필터층(240)에 형성된 차광 부재(도시하지 않음)는 가장자리 영역 (P2)의 대부분을 덮고 있어서 외부로부터의 광을 차단한다. 공통 전극 표시판(200)은 박막 트랜지스터 표시판(100)보다 크기가 작아서 박막 트랜지스터 표시판(100)의 일부가 노출되어 노출 영역(P3)을 이루며, 노출 영역(P3)에는 단일 칩(610)이 실장되고 FPC 기판(flexible printed circuit board)(620)이 부착된다.
단일 칩(610)은 액정 표시 장치를 구동하기 위한 구동 장치들, 즉, 영상 구동부(400), 영상 데이터 구동부(500), 계조 전압 생성부(550), 신호 제어부(600), 접촉 판단부(700), 그리고 감지 신호 처리부(800)를 포함한다. 이러한 구동 장치(400, 500, 550, 600, 700, 800)를 단일 칩(610) 안에 집적함으로써 실장 면적을 줄일 수 있으며, 소비 전력도 낮출 수 있다. 물론 필요에 따라, 이들 중 적어도 하나 또는 이들을 이루는 적어도 하나의 회로 소자가 단일 칩(610) 바깥에 있을 수 있다.
영상 신호선(G1-Gn, D1-Dm) 및 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)은 노출 영역(P3)에까지 연장되어 해당 구동 장치(400, 500, 800)와 연결된다.
FPC 기판(620)은 외부 장치로부터 신호를 받아들여 단일 칩(610) 또는 액정 표시판 조립체(300)에 전달하며, 외부 장치와의 접속을 용이하게 하기 위하여 끝단은 통상 커넥터(도시하지 않음)로 이루어진다.
그러면 이러한 액정 표시 장치의 표시 동작 및 감지 동작에 대하여 좀더 상세하게 설명한다.
신호 제어부(600)는 외부 장치(도시하지 않음)로부터 입력 영상 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 입력 제어 신호를 수신한다. 입력 영상 신호(R, G, B)는 각 화소(PX)의 휘도(luminance) 정보를 담고 있으며 휘도는 정해진 수효, 예를 들면 1024(＝210), 256(＝28) 또는 64(＝26) 개의 계조(gray)를 가지고 있다. 입력 제어 신호의 예로는 수직 동기 신호(Vsync)와 수평 동기 신호(Hsync), 메인 클록(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE) 등이 있다.
신호 제어부(600)는 입력 영상 신호(R, G, B)와 입력 제어 신호를 기초로 입력 영상 신호(R, G, B)를 액정 표시판 조립체(300) 및 영상 데이터 구동부(500)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리하고 영상 주사 제어 신호(CONT1) 및 영상 데이터 제어 신호(CONT2) 등을 생성한 후, 영상 주사 제어 신호(CONT1)를 영상 주사부(400)로 내보내고, 영상 데이터 제어 신호(CONT2)와 처리한 영상 신호(DAT)를 영상 데이터 구동부(500)로 내보낸다.
영상 주사 제어 신호(CONT1)는 주사 시작을 지시하는 주사 시작 신호(STV)와 게이트 온 전압(Von)의 출력을 제어하는 적어도 하나의 클록 신호를 포함한다. 영상 주사 제어 신호(CONT1)는 또한 게이트 온 전압(Von)의 지속 시간을 한정하는 출력 인에이블 신호(OE)를 더 포함할 수 있다.
영상 데이터 제어 신호(CONT2)는 한 화소행의 영상 데이터(DAT)의 전송 시작을 알리는 수평 동기 시작 신호(STH)와 영상 데이터선(D1-Dm)에 영상 데이터 신호를 인가하라는 로드 신호(LOAD) 및 데이터 클록 신호(HCLK)를 포함한다. 영상 데이터 제어 신호(CONT2)는 또한 공통 전압(Vcom)에 대한 영상 데이터 신호의 전압 극성( 이하 공통 전압에 대한 영상 데이터 신호의 전압 극성을 줄여 영상 데이터 신호의 극성이라 함)을 반전시키는 반전 신호(RVS)를 더 포함할 수 있다.
신호 제어부(600)로부터의 영상 데이터 제어 신호(CONT2)에 따라, 영상 데이터 구동부(500)는 한 화소행의 화소(PX)에 대한 디지털 영상 신호(DAT)를 수신하고, 각 디지털 영상 신호(DAT)에 대응하는 계조 전압을 선택함으로써 디지털 영상 신호(DAT)를 아날로그 영상 데이터 신호로 변환한 다음, 이를 해당 영상 데이터선(D1-Dm)에 인가한다.
영상 주사부(400)는 신호 제어부(600)로부터의 영상 주사 제어 신호(CONT1)에 따라 게이트 온 전압(Von)을 영상 주사선(G1-Gn)에 인가하여 이 영상 주사선(G1-Gn)에 연결된 스위칭 소자(Q)를 턴 온시킨다. 그러면, 영상 데이터선(D1-Dm)에 인가된 영상 데이터 신호가 턴 온된 스위칭 소자(Q)를 통하여 해당 화소(PX)에 인가된다.
화소(PX)에 인가된 영상 데이터 신호의 전압과 공통 전압(Vcom)의 차이는 액정 축전기(Clc)의 충전 전압, 즉 화소 전압으로서 나타난다. 액정 분자들은 화소 전압의 크기에 따라 그 배열을 달리하며, 이에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 편광이 변화한다. 이러한 편광의 변화는 액정 표시판 조립체(300)에 부착된 편광자에 의하여 빛의 투과율 변화로 나타나며, 이를 통하여 원하는 영상을 표시할 수 있다.
1 수평 주기[1H"라고도 쓰며, 수평 동기 신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신 호(DE)의 한 주기와 동일함]를 단위로 하여 이러한 과정을 되풀이함으로써, 모든 영상 주사선(G1-Gn)에 대하여 차례로 게이트 온 전압(Von)을 인가하여 모든 화소(PX)에 영상 데이터 신호를 인가하여 한 프레임(frame)의 영상을 표시한다.
한 프레임이 끝나면 다음 프레임이 시작되고 각 화소(PX)에 인가되는 영상 데이터 신호의 극성이 이전 프레임에서의 극성과 반대가 되도록 영상 데이터 구동부(500)에 인가되는 반전 신호(RVS)의 상태가 제어된다("프레임 반전"). 이때, 한 프레임 내에서도 반전 신호(RVS)의 특성에 따라 한 영상 데이터선을 통하여 흐르는 영상 데이터 신호의 극성이 바뀌거나(보기: 행반전, 점반전), 한 화소행에 인가되는 영상 데이터 신호의 극성도 서로 다를 수 있다(보기: 열반전, 점반전).
감지 신호 처리부(800)는 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)을 통하여 흐르는 감지 데이터 신호를 변환하여 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 연결된 압력 감지부(SU)의 X축 및 Y축 접촉 위치에 해당하는 디지털 감지 신호(DSN)를 생성한 후, 접촉 판단부(700)에 전달한다.
접촉 판단부(700)는 디지털 감지 신호(DSN)를 받아 압력 감지부(SU)의 접촉 여부 및 접촉 위치를 알아내고 이를 외부 장치로 전송하며, 외부 장치는 이에 기초한 영상 신호(R, G, B)를 액정 표시 장치에 전송하여, 사용자에 의해 선택된 명령이나 메뉴 등에 대응하는 화면을 표시한다.
다음, 도 7 내지 도 9를 참고로 하여 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 연결된 감지부의 동작을 검사하는 방법에 대하여 설명한다.
도 7은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 세로 및 가로 감지 데이터선, 세로 및 가로 감지 데이터선에 연결된 세로 및 가로축 검사 회로, 영상 데이터선 및 영상 주사선, 화소, 그리고 감지부의 배열을 도시한 개략도이다. 도 8은 세로 감지 데이터선에 연결된 감지부를 검사하기 위한 세로축 검사 회로의 개략적인 회로도이고, 도 9는 가로 감지 데이터선에 연결된 감지부를 검사하기 위한 가로축 검사 회로의 개략적인 회로도이다.
먼저, 도 7을 참고로 하여 본 발명의 한 실시예에 따라 영상 주사선 및 영상 데이터선에 연결된 화소(PX), 이들 화소 및 세로 및 가로 감지 데이터선에 연결된 검사 회로의 배열에 대하여 설명한다.
도 7에 도시한 액정 표시 장치에서, 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)과 이들 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)에 연결된 감지부(SU)는 2 도트(이하, '기준 도트'라 한다)마다 하나씩 형성되어 있지만, 이러한 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)과 감지부(SU)의 배열은 단지 하나의 예이므로 기준 도트의 개수는 변경 가능하다. 또한 가로 및 세로 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)이 형성되어 있지 않은 도트 사이에는 더미 세로 및 가로 감지 데이터선(DSY, DSX)이 형성되어 있어 감지 데이터선(SY1-SYN, SX1-SXM)이 형성되어 있는 도트 사이와 그렇지 않은 도트 사이의 간격을 거의 동일하게 유지한다.
도 7 및 도 8을 참고로 하여, 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)에 연결된 감지부(SU)를 검사하는 세로축 검사 회로부에 대하여 설명한다.
도 7 및 도 8에 도시한 것처럼, 세로축 검사 회로부는 복수의 세로축 검사 회로(XU1-XUM)를 포함하고 있다.
도 7에서 영상 데이터선(D1-Dm)은 각각 6개의 영상 데이터선으로 이루어진 복수의, 예를 들어 M개의 영상 데이터선군(D11-D16, D21-D26,...,DM1-DM6)으로 다시 나눌 수 있고, 각 영상 데이터선군(D11-D16, D21-D26,...,DM1-DM6)은 하나의 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)에 연결된 하나의 세로축 검사 회로에 연결되어 있다. 이때, 각 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)이 해당 영상 데이터선군의 대략 가운데 부분에 위치하는 것이 감지부의 감도 등에 유리하다.
복수의 세로축 검사 회로는 연결되는 영상 데이터선군과 세로 감지 데이터선만 달라질 뿐 모두 동일한 구조로 이루어져 있으므로, p번째(p=1, 2,..., M) 세로 감지 데이터선(SXp)에 연결된 p번째 감지 회로(XUp)에 대해서만 설명한다.
p번째 감지 회로(XUp)는 트랜지스터(DTp1-DTp6)와 이들 트랜지스터(DTp1-DTp6)에 연결된 트랜지스터(DTp)를 포함한다.
트랜지스터(DTp)는 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되어 있는 박막 트랜지스터 등의 삼단자 소자로서, 그 입력 단자는 제1 세로축 검사 신호가 인가되는 제1 세로축 검사선(DV11)에 입력 단자가 연결되어 있고 제어 단자는 제2 세로축 검사 신호가 인가되는 제2 세로축 검사선(DV12)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 세로 감지 데이터선(SXp)에 연결되어 있다.
트랜지스터(DTp1-DTp6) 역시 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되어 있는 박막 트랜지스터 등의 삼단자 소자로서, 그 입력 단자는 트랜지스터(DTp)의 출력 단자에 공통으로 연결되어 있고, 제어 단자는 제2 세로축 검사선(DV12)에 연결되어 있으며 출력 단자는 기준 도트의 각 화소에 연결된 p번째 영상 데이터선군(Dp1-Dp6)에 각각 연결되어 있다.
다음, 도 7 및 도 9를 참고로 하여 가로 감지 데이터선(SY1-SYN)에 연결된 감지부(SU)를 검사하는 세로축 검사 회로부에 대하여 설명한다.
도 7 및 도 9에 도시한 것처럼, 가로축 검사 회로부는 복수의 가로축 검사 회로(YU1-YUN)를 포함하고 있다.
도 7에서 영상 주사선(G1-Gn)은 각각 6개의 영상 주사선으로 이루어진 복수의, 예를 들어 N개의 영상 주사선군(G11-G16, GD21-G26,...,GN1-GN6)으로 다시 나눌 수 있고, 각 영상 주사선군(G11-G16, G21-G26,...,GN1-GN6)은 하나의 가로 감지 데이터선(SY1-SYN)에 연결된 하나의 가로축 검사 회로에 연결되어 있다. 이때, 각 가로 감지 데이터선(SY1-SYN)이 해당 영상 주사선군(G11-G16, G21-G26,...,GN1-GN6)의 대략 가운 데 부분에 위치하는 것이 감지부의 감도 등에 유리하다.
복수의 가로축 검사 회로는 연결되는 영상 주사선군(G11-G16, G21-G26,...,GN1-GN6)과 가로 감지 데이터선(SY1-SYN)만 달라질 뿐 모두 동일한 구조로 이루어져 있으므로, q번째(q=1, 2,..., M) 가로 감지 데이터선(SYq)에 연결된 q번째 감지 회로(XUq)에 대해서만 설명한다.
도 7 및 도 9에 도시한 것처럼, q번째 감지 회로(YUq)는 트랜지스터(GTq1-GTq6)와 이들 트랜지스터(GTq1-GTq6)에 연결된 트랜지스터(GTq)를 포함한다.
트랜지스터(GTq)는 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되어 있는 박막 트랜지스터 등의 삼단자 소자로서, 그 입력 단자는 제1 가로축 검사 신호가 인가되는 제1 가로축 검사선(DV21)에 입력 단자가 연결되어 있고 제어 단자는 제2 가로축 검사 신호가 인가되는 제2 가로축 검사선(DV22)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 가로 감지 데이터선(SYq)에 연결되어 있다.
트랜지스터(GTl1-GTl6) 역시 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되어 있는 박막 트랜지스터 등의 삼단자 소자로서, 그 입력 단자는 트랜지스터(GTq)의 출력 단자에 공통으로 연결되어 있고, 제어 단자는 제2 가로축 검사선(DV22)에 연결되어 있으며 출력 단자는 기준 도트의 각 화소에 연결된 q번째 영상 주사선군(Gq1-Gq6)에 각각 연결되어 있다.
도 7에서 영상 데이터선(D11-D16, D21-D26,...,DM1-DM6)은 화소(PX)의 왼쪽에 각각 배치되어 있고, 영상 주사선(G11-G16, G21-G26,..., GN1-GN6)은 화소의 아래쪽에 배치되어 있지만, 이에 한정되지 않고 영상 데이터선(D11-D16, D21-D26,...,DM1-DM6) 및 영상 주사선(G11-G16, G21-G26,..., GN1-GN6)과 화소(PX)와의 연결 관계는 변경 가능하다.
더욱이, 세로축 검사 회로부는 액정 표시 장치의 위쪽에 형성되어 있고, 가로축 검사 회로부는 액정 표시 장치의 오른쪽에 형성되어 있으나 이들 세로 및 가로축 검사 회로부의 형성 위치는 이에 한정되지 않고 변경 가능하다. 또한 세로 및 가로축 검사 회로부 모두 가장 자리 영역(P2)에 형성되어 있으나 이에 한정되지 않는다.
다음, 이러한 세로 및 가로축 검사 회로(XU1-XUM, YU1-YUN)를 이용한 감지부(SU)의 검사 동작에 대하여 설명한다.
감지부(SU)를 검사하기 전, 화소(PX), 감지 주사선(G1-Gn) 및 영상 데이터선(D1-Dm)의 상태는 모두 정상인 것으로 가정한다.
그러면, 세로 감지 데이터선(SXp)에 연결된 감지부(SU)를 검사하는 방법을 먼저 설명한다.
세로 감지 데이터선(SXp)을 검사할 경우, 별도의 검사 장치를 통해 각 영상 주사선(G11-G16, G21-G26,...)에는 이미 게이트 온 전압(Von)이 인가되고 있다.
다음, 별도의 검사 장치를 이용하여, 제2 세로축 검사선(DV12)에 트랜지스터(DTp, DTp1-DTp6)의 턴온시키는 약 20V 정도의 제2 세로축 검사 신호를 제2 세로축 검사선(DV12)에 인가하여 각 트랜지스터(DTp, DTp1-DTp6)를 턴온 시킨다. 그런 다음, 블랙 계조와 같은 소정 계조를 표시하는 전압, 예를 들어 약 5V 정도의 제1 세로축 검사 신호를 영상 데이터 전압으로서 제1 세로축 검사선(DV11)에 인가하여 턴온된 트랜지스터(DTp, DTp1-DTp6)를 통해 해당 데이터선(Dk1-Dk6)에 인가한다. 따라서 액정 표시 장치의 화소는 블랙 계조를 표시한다.
이런 상태에서, 검사자의 손가락 등을 통한 외부로부터의 압력이 가해지지 않았는데, 적어도 하나의 세로축 감지 회로(XUp)에 연결된 화소군이 블랙이 아닌 다른 계조, 예를 들면 화이트 계조를 표시하여 화이트의 세로줄 무늬가 발생하면, 그 세로축 감지 회로(XUp)에 포함된 세로 감지 데이터선(SXp)에 연결된 감지부(SU)를 비정상 상태로 판단한다. 즉, 공통 전극 표시판(200)의 감지용 돌출부(245) 위에 형성된 공통 전극(270)이 감지용 돌출부(245)와 마주보는 접촉 부재(130)와 쇼트되어 접촉 부재(130)에 연결된 세로축 감지 회로(XUp)에 공통 전압(Vcom)이 전달된 상태로 판단한다. 이로 인해, 세로축 감지 회로(XUp)에 연결된 영상 데이터선군(Dp1-Dp6)에 공통 전압(Vcom)이 전달되어 영상 데이터선군(Dp1-Dp6)에 연결된 화소군 은 공통 전압(Vcom)의 크기에 해당하는 계조를 표시하므로, 세로 감지 데이터선(SXp)에 연결된 감지부(SU)를 비정상 상태로 판단한다.
이와 같이 세로 감지 데이터선(SXp)에 연결된 감지부(SU)의 검사 동작이 완료되면, 제2 세로축 감지선(DV12)에 트랜지스터(DTp, DTp1-DTp6)를 턴오프 시키는 게이트 오프 전압(Voff) 등을 인가한다.
다음, 가로 감지 데이터선(SYq)을 검사하는 동작에 대하여 설명한다.
가로 감지 데이터선(SYq)을 검사할 경우, 별도의 검사 장치를 통해 각 영상 데이터선(D11-D16, DG21-D26,...)에는 이미 소정 계조를 나타내는 영상 데이터 전압이 인가되고 있다.
이런 상태에서, 별도의 검사 장치를 이용하여, 트랜지스터(GTq, GTlq1-GTq6)를 턴온시키는 크기의 제2 가로축 검사 신호를 제2 가로축 검사선(GV22)에 인가하여 각 트랜지스터(GTk, GTq1-GTq6)를 턴온시키고, 제1 가로축 검사선(DV21)에 각 화소(PX)의 스위칭 소자(Q)를 턴온시키는 게이트 온 전압(Von)의 해당하는 크기의 제1 가로축 검사 신호를 인가한다. 이로 인해, 턴온된 트랜지스터(GTq, GTq1-GTq6)를 통해 해당 영상 주사선군(Gq1-Gq6)에 인가한다. 따라서 각 영상 주사선(Gq1-Gq6)에 연결된 화소(PX)에는 영상 데이터 전압이 인가되어 소정 계조를 표시한다.
하지만, 외부로부터의 압력이 인가되지 않은 상태에서 적어도 하나의 가로축 감지 회로(YUq)에 연결된 화소군이 주변과 다른 계조를 표시하여 가로줄 무늬가 발생하면, 그 가로축 감지 회로(YUq)에 포함된 가로 감지 데이터선(SYq)에 연결된 감지부(SU)를 비정상 상태로 판단한다. 즉, 감지용 돌출부(245) 위에 형성된 공통 전극(270)이 마주하는 해당 접촉 부재(130)와 쇼트되어, 접촉 부재(130)에 연결된 가로 감지 데이터선(SYq)에 공통 전압(Vcom)이 전달되고, 이로 인해, 해당 가로축 감지 회로(YUq)에 연결된 영상 주사선군(Gq1-Gq6)에 정상적인 게이트 온 전압(Von)이 인가되지 않고 공통 전압(Vcom)이 인가된 상태로 판단한다. 따라서 해당 가로축 감지 회로(YUq)에 연결된 화소군은 정상적으로 동작하지 않아 정상적인 계조 표시가 이루어지지 않는다. 따라서 가로축 감지 회로(YUq)에 포함된 가로 감지 데이터선(SYq)에 연결된 감지부(SU)를 비정상 상태로 판단한다.
이와 같이 가로 감지 데이터선(SYq)에 연결된 감지부(SU)의 검사 동작이 완료되면, 제2 가로축 감지선(DV22)에 트랜지스터(GTq, GTq1-GTq6)를 턴오프 시키는 게이트 오프 전압(Voff) 등을 인가한다.
이와 같이, 화소를 이용하여 각 세로 및 가로 감지 데이터선(SXp, SYq)에 연결된 감지부(SU)의 불량 상태가 화소를 통해 표시되므로, 별도의 확인 장비가 불필요하고 검사 효율이 향상된다.
이러한 복수의 검사선(DV11, DV12, DV21, DV22), 세로 및 가로축 검사 회로 (XUp, YUq) 및 감지부 등을 구비한 액정 표시 장치에 대하여 도 10 내지 도 18을 참고로 하여 상세하게 설명한다.
도 10은 도 8에서 EA1 부분에 대한 액정 표시 장치의 배치도이고, 도 11은 도 10의 액정 표시 장치를 XI-XI 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 12는 도 8에서 EA2 부분에 대한 액정 표시 장치의 배치도이고, 도 13은 도 12의 액정 표시 장치를 XIII-XIII 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 14는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 세로축 검사 회로부에 대한 배치도이고, 도 15는 도 14의 세로축 검사 회로부를 XV-XV 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다. 또한 도 16은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 가로축 검사 회로부에 대한 배치도이고, 도 17은 도 16의 가로축 검사 회로부를 XVII-XVII 선을 따라 잘라 도시한 단면도이며, 도 18은 도 16의 가로축 검사 회로부를 XVIII-XVIII 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
이미 설명한 것처럼, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치는 박막 트랜지스터 표시판(100)과 이와 마주보고 있는 공통 전극 표시판(200) 및 그 사이에 주입되어 있는 액정층(3)으로 이루어진다. 또한 박막 트랜지스터 표시판(100)은 임 도 7을 참고로 하여 설명한 것처럼, 박막 트랜지스터 표시판(100)은 복수의 화소(PX) 등이 형성되어 있는 부분(이하, '화소부'라 칭함), 복수의 데이터선(D1-Dm) 및 세로 감지 데이터선(SX1-SXM)에 연결되어 있는 세로축 감지 회로부 및 복수의 영상 주사선(G1-Gn) 및 가로 감지 데이터선(SY1-SYN)에 연결되어 있는 가로축 감지 회로부 등으로 나눠진다.
먼저, 하부 표시판인 박막 트랜지스터 표시판(100)의 화소부에 대하여 설명한다.
투명한 유리 또는 플라스틱 따위로 만들어진 절연 기판(110) 위에 복수의 영상 주사선(gate line)(121), 복수의 가로 감지 데이터선(126) 및 복수의 더미 가로 감지 데이터선(도시하지 않음), 복수의 유지 전극선(131) 및 복수의 섬형 차광 부재(135a-135c)가 형성되어 있다.
영상 주사선(121)은 영상 주사 신호를 전달하며, 주로 가로 방향으로 뻗어 있다. 각 영상 주사선(121)은 위로 돌출한 복수의 게이트 전극(124)과 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함한다.
가로 감지 데이터선(126)은 감지 데이터 신호를 전달하며 영상 주사선(121)과 나란하게 뻗어 있다. 각 가로 감지 데이터선(126)은 세로 방향으로 소정 길이 연장되어 있고 폭이 넓은 끝 부분을 포함하는 연장부(127)를 포함한다.
더미 가로 감지 데이터선은 영상 주사선(121)과 나란하게 뻗어 있으며, 가로 감지 데이터선(126)이 형성되지 않은 도트 사이에 형성되어 있다.
각 유지 전극선(131)은 공통 전압(Vcom) 따위의 마리 정해진 전압을 인가 받으며 영상 주사선(121)과 거의 나란하게 뻗은 복수의 줄기선(131a), 줄기선(131)에서 위로 돌출한 복수의 확장부(134), 확장부(134)와 줄기선으로부터 갈라져 위쪽으로 소정 거리 뻗어 있으며 빛샘을 방지하는 복수의 제1 내지 제3 돌출부(133a- 133c)를 포함한다. 제1 및 제2 돌출부(133a, 133b)는 소정 거리를 두고 서로 인접하게 위치하며 소정 거리 뻗다가 안쪽으로 경사지게 굴곡된 후 다시 위로 소정 거리만큼 뻗어 있다. 제1 및 제2 돌출부(133a, 133b) 사이에 형성된 공간은 세로축 및 가로축 감지부(SU)가 형성되는 감지부 형성부로서 동작한다. 가로 감지 데이터선(126)의 연장부(127)는 감지부 형성부 내에 위치한다.
제1 및 제2 돌출부(133a, 133b)의 가로 폭은 거의 유사하고, 제3 돌출부(133c)의 가로 폭보다 작다.
섬형 차광 부재(135a-135c)는 빛샘을 방지하며, 세로 방향으로 긴 대략 직사각형을 갖고 가로 감지 데이터선(126)을 사이에 두고 세로 방향으로 제1 돌출부(133a)와 인접해 있는 제1 섬형 차광 부재(135a), 가로 감지 데이터선(126)을 사이에 두고 세로 방향으로 제2 돌출부(133b)와 인접해 있는 제2 섬형 차광 부재(135b) 및 가로 감지 데이터선(126)을 사이에 두고 세로 방향으로 제3 돌출부(133c)와 인접해 있는 제3 섬형 차광 부재(135c)를 포함한다. 제1 및 제2 차광 부재(135a, 135b)의 가로 폭은 거의 유사하고, 제3 차광 부재(135c)의 가로 폭보다 작다.
복수의 영상 주사선(121), 복수의 가로 감지 데이터선(126), 복수의 유지 전극선(131) 및 복수의 섬형 차광 부재(135a-135c)는 알루미늄(Al)이나 알루미늄 합금 등 알루미늄 계열 금속, 은(Ag)이나 은 합금 등 은 계열 금속, 구리(Cu)나 구리 합금 등 구리 계열 금속, 몰리브덴(Mo)이나 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열 금속, 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta) 및 티타늄(Ti) 따위로 만들어질 수 있다. 그러나 이들은 물리적 성질이 다른 두 개의 도전막(도시하지 않음)을 포함하는 다중막 구조를 가질 수도 있다. 이 중 한 도전막은 신호 지연이나 전압 강하를 줄일 수 있도록 비저항(resistivity)이 낮은 금속, 예를 들면 알루미늄 계열 금속, 은 계열 금속, 구리 계열 금속 등으로 만들어진다. 이와는 달리, 다른 도전막은 다른 물질, 특히 ITO(indium tin oxide) 및 IZO(indium zinc oxide)와의 물리적, 화학적, 전기적 접촉 특성이 우수한 물질, 이를테면 몰리브덴 계열 금속, 크롬, 탄탈륨, 티타늄 등으로 만들어진다. 이러한 조합의 좋은 예로는 크롬 하부막과 알루미늄 (합금) 상부막 및 알루미늄 (합금) 하부막과 몰리브덴 (합금) 상부막을 들 수 있다. 그러나 복수의 영상 주사선(121), 복수의 가로 감지 데이터선(126), 복수의 유지 전극선(131) 및 복수의 섬형 차광 부재(135a-135c)는 이외에도 여러 가지 다양한 금속 또는 도전체로 만들어질 수 있다.
복수의 영상 주사선(121), 복수의 가로 감지 데이터선(126), 복수의 유지 전극선(131) 및 복수의 섬형 차광 부재(135a-135c)의 측면은 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 그 경사각은 약 30° 내지 약 80°인 것이 바람직하다.
복수의 영상 주사선(121), 복수의 가로 감지 데이터선(126), 복수의 유지 전극선(131) 및 복수의 섬형 차광 부재(135a-135c) 위에는 질화규소(SiNx) 또는 산화규소(SiOx) 따위로 만들어진 게이트 절연막(gate insulating layer)(140)이 형성되어 있다.
게이트 절연막(140) 위에는 수소화 비정질 규소(hydrogenated amorphous silicon)(비정질 규소는 약칭 a-Si로 씀) 또는 다결정 규소(polysilicon) 등으로 만들어진 복수의 섬형 반도체(154)가 형성되어 있다. 반도체(154)는 게이트 전극 (124) 위에 위치한다.
반도체(154) 위에는 복수의 섬형 저항성 접촉 부재(ohmic contact)(163, 165)가 형성되어 있다. 저항성 접촉 부재(163, 165)는 인 따위의 n형 불순물이 고농도로 도핑되어 있는 n+ 수소화 비정질 규소 따위의 물질로 만들어지거나 실리사이드(silicide)로 만들어질 수 있다. 저항성 접촉 부재(163, 165)는 쌍을 이루어 반도체(154) 위에 배치되어 있다.
반도체(154)와 저항성 접촉 부재(163, 165)의 측면 역시 기판(110)면에 대하여 경사져 있으며 그 경사각은 30°내지 80°정도이다.
저항 접촉 부재(163, 165) 및 게이트 절연막(140) 위에는 복수의 영상 데이터선(data line)(171)과 복수의 드레인 전극(drain electrode)(175), 그리고 복수의 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선(174a)이 형성되어 있다.
영상 데이터선(171)은 영상 데이터 신호를 전달하며 주로 세로 방향으로 뻗어 영상 주사선(121), 가로 감지 데이터선(126)과 더미 가로 감지 데이터선(174a), 그리고 유지 전극선(131)과 교차한다. 각 영상 데이터선(171)은 유지 전극선(131)의 돌출부(133b)의 굴곡부를 따라가며 세로 방향으로 뻗어 있다. 또한 각 영상 데이터선(171)은 이들과 교차하는 부근에서 너비가 넓어져 이들을 폭넓게 덮고 있는 복수의 차광용 확장부를 포함하고, 게이트 전극(124)을 향하여 뻗은 복수의 소스 전극(source electrode)(173)과 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함한다.
드레인 전극(175)은 영상 데이터선(171)과 분리되어 있으며 게이트 전극 (124)을 중심으로 소스 전극(173)과 마주한다. 각 드레인 전극(175)은 확장부(177)를 포함한 넓은 한 쪽 끝 부분과 막대형인 다른 쪽 끝 부분을 포함한다. 확장부(177)는 유지 전극선의 확장부(134)와 중첩하며, 막대형 끝 부분은 구부러진 소스 전극(173)으로 일부 둘러싸여 있다.
하나의 게이트 전극(124), 하나의 소스 전극(173) 및 하나의 드레인 전극(175)은 반도체(154)의 돌출부와 함께 하나의 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널(channel)은 소스 전극(173)과 드레인 전극(175) 사이의 반도체(154)에 형성된다. 이 박막 트랜지스터는 스위칭 소자(Q)로서 기능한다.
세로 감지 데이터선(174)은 감지 데이터 신호를 전달하며 주로 세로 방향으로 뻗어 영상 주사선(121), 가로 감지 데이터선(126)과 더미 가로 감지 데이터선 및 유지 전극선(131)과 교차한다. 각 세로 감지 데이터선(174)은 영상 데이터선(171)에 인접하게 왼쪽에 형성되어 있고, 유지 전극선(131)의 돌출부(133a)의 굴곡부를 따라가며 세로 방향으로 뻗어 있다. 각 세로 감지 데이터선(174)은, 유지 전극선의 인접한 두 돌출부(133a, 133b) 사이에서, 대략 직사각형 형상을 갖는 제1 확장부(176a)와 대략 정사각형 형상을 갖는 제2 확장부(176b)를 포함하고, 이들 제1 및 제2 확장부(176a, 176b)는 감지부 형성부 내에 위치한다.
또한 각 세로 감지 데이터선(174)은 영상 주사선(121), 가로 감지 데이터선(126)과 더미 가로 감지 데이터선 및 유지 전극선(131)과 교차하는 부근에서 너비가 넓어져 이들을 폭넓게 덮고 있는 복수의 차광용 확장부를 포함한다.
더미 세로 감지 데이터선(174a)은 영상 데이터선(171)과 나란하게 뻗어 있으며, 세로 감지 데이터선(174)이 형성되지 않은 도트 사이에 형성되어 있고, 유지 전극선(131)의 돌출부(133a)의 굴곡부를 따라가며 세로 방향으로 뻗어 있다. 각 더미 세로 감지 데이터선(174a)은 인접한 두 돌출부(133a, 133b) 사이에 차광 역할을 하는 확장부를 더 포함하여, 제1 및 제2 확장부(176a, 176b)가 형성되어 있는 도트 사이와 그렇지 않은 도트 사이의 휘도 차이를 보상할 수 있다.
영상 데이터선(171) 및 드레인 전극(175), 그리고 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선(174a)은 몰리브덴, 크롬, 탄탈륨 및 티타늄 등 내화성 금속(refractory metal) 또는 이들의 합금으로 만들어지는 것이 바람직하며, 내화성 금속막(도시하지 않음)과 저저항 도전막(도시하지 않음)을 포함하는 다중막 구조를 가질 수 있다. 다중막 구조의 예로는 크롬 또는 몰리브덴 (합금) 하부막과 알루미늄 (합금) 상부막의 이중막, 몰리브덴 (합금) 하부막과 알루미늄 (합금) 중간막과 몰리브덴 (합금) 상부막의 삼중막을 들 수 있다. 그러나 데이터선(171) 및 드레인 전극(175), 그리고 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선(174a)은 이외에도 여러 가지 다양한 금속 또는 도전체로 만들어질 수 있다.
영상 데이터선(171) 및 드레인 전극(175), 그리고 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 감지 데이터선(174a) 또한 그 측면이 기판(110) 면에 대하여 30° 내지 80° 정도의 경사각으로 기울어진 것이 바람직하다.
저항성 접촉 부재(163, 165)는 그 아래의 반도체(154)와 그 위의 데이터선(171) 및 드레인 전극(175) 사이에만 존재하며 이들 사이의 접촉 저항을 낮추어 준 다. 섬형 반도체(154)에는 소스 전극(173)과 드레인 전극(175) 사이를 비롯하여 데이터선(171) 및 드레인 전극(175)으로 가리지 않고 노출된 부분이 있다.
영상 주사선(121), 가로 감지 데이터선(126) 및 더미 가로 감지 데이터선, 그리고 유지 전극선(131)이 영상 데이터선(171), 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선(174a)과 만나는 부분에, 복수의 섬형 반도체가 형성되어 표면의 프로파일을 부드럽게 함으로써 영상 데이터선(171), 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선(174a)이 단선되는 것을 방지할 수 있다.
영상 데이터선(171) 및 드레인 전극(175), 그리고 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 감지 데이터선(174a), 그리고 노출된 반도체(154) 부분 위에는 보호막(passivation layer)(180)이 형성되어 있다. 보호막(180)은 무기 절연물 또는 유기 절연물 따위로 만들어지며 표면이 평탄할 수 있다. 무기 절연물의 예로는 질화규소와 산화규소를 들 수 있다. 유기 절연물은 감광성(photosensitivity)을 가질 수 있으며 그 유전 상수(dielectric constant)는 약 4.0 이하인 것이 바람직하다. 그러나 보호막(180)은 유기막의 우수한 절연 특성을 살리면서도 노출된 반도체(154) 부분에 해가 가지 않도록 하부 무기막과 상부 유기막의 이중막 구조를 가질 수 있다.
보호막(180)에는 드레인 전극(175)과 세로 감지 데이터선(174)의 제1 확장부(176a)를 각각 드러내는 복수의 접촉 구멍(contact hole)(187, 186)이 형성되어 있으며, 보호막(180)과 게이트 절연막(140)에는 가로 감지 데이터선(126)의 연장부(127)의 적어도 일부를 드러내는 복수의 접촉 구멍(188)이 형성되어 있다.
보호막(180) 위에는 복수의 화소 전극(pixel electrode)(191), 복수의 제1 및 제2 접촉 부재(86, 88)가 형성되어 있다. 이들은 ITO 또는 IZO 등의 투명한 도전 물질이나 알루미늄, 은, 크롬 또는 그 합금 등의 반사성 금속으로 만들어질 수 있다.
화소 전극(191)은 접촉 구멍(187)을 통하여 드레인 전극(175)과 물리적·전기적으로 연결되어 있으며, 드레인 전극(175)으로부터 영상 데이터 전압을 인가 받는다. 영상 데이터 전압이 인가된 각 화소 전극(191)은 공통 전압(Vcom)을 인가 받는 공통 전극 표시판(200)의 공통 전극(common electrode)(270)과 함께 전기장을 생성함으로써 두 전극(191, 270) 사이의 액정층(3)의 액정 분자의 방향을 결정한다. 이와 같이 결정된 액정 분자의 방향에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 편광이 달라진다. 각 화소 전극(191)과 공통 전극(270)은 액정 축전기(Clc)를 이루어 박막 트랜지스터가 턴 오프된 후에도 인가된 전압을 유지한다.
각 화소 전극(191) 및 이와 각각 연결된 드레인 전극(175)의 넓은 끝 부분(177)은 유지 전극선의 확장부(134)와 중첩하여 유지 축전기(Cst)를 이루며, 유지 축전기(Cst)는 액정 축전기(Clc)의 전압 유지 능력을 강화한다.
화소 전극(191)은 영상 데이터선(171), 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선과 중첩되어 개구율(aperture ratio)을 높이고 있으나, 중첩되지 않을 수도 있다.
제1 접촉 부재(86)는 세로 감지 데이터선(174)의 제1 확장부(176a)의 대부분을 덮고 있으며, 접촉 구멍(186)을 통하여 제1 확장부(176a)와 물리적·전기적으로 연결되어 있다.
제2 접촉 부재(88)는 세로 감지 데이터선(174)의 제2 확장부(176b)와 접촉 구멍(188)을 포함한 가로 감지 데이터선(126)의 연장부(127)의 폭이 넓은 끝 부분을 대부분 덮고 있으며, 접촉 구멍(188)을 통하여 가로 감지 데이터선(126)이 연장부(127)와 물리적·전기적으로 연결되어 있다.
다음, 박막 트랜지스터 표시판(100)의 세로축 감지 회로부에 대하여 설명한다.
박막 트랜지스터 표시판(100)에는 투명한 유리 또는 플라스틱 따위로 만들어진 절연 기판(110) 위에 영상 주사선(121) 등과 함께 형성되는 제1 세로축 검사선(123)과 제2 세로축 검사선(128)이 형성되어 있다.
제1 세로축 검사선(123)은 제1 세로축 검사 신호를 전달하며, 주로 가로 방향으로 뻗어 있다. 제1 세로축 검사선(123)은 아래로 돌출하고 세로축 검사 회로마다 하나씩 형성된 복수의 돌출부(125)를 포함한다. 또한 제1 세로축 검사선(123)은 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.
제2 세로축 검사선(128)은 제2 세로축 검사 신호를 전달하며 제1 세로축 검사선(123)과 거의 평행하게 뻗어 있다. 제2 세로축 검사선(128)은 위로 돌출하고 세로축 검사 회로부마다 하나씩 형성된 게이트 전극(128a), 세로 방향으로 연장된 세로 줄기부(128b), 세로 줄기부(128b)와 연결되어 있고 가로 방향으로 연장된 가로 줄기부(128c) 및 인접한 세로 줄기부(128b) 사이에 형성되어 있고 가로 줄기부 (128c)에서 위쪽으로 돌출한 복수의 게이트 전극(128d)을 포함한다. 제2 세로축 검사선(128)은 또한 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.
제1 세로축 검사선(123)과 제2 세로축 검사선(128)의 측면은 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 그 경사각은 약 30° 내지 약 80°인 것이 바람직하다.
제1 세로축 검사선(123)과 제2 세로축 검사선(128) 위에는 게이트 절연막(140)이 형성되어 있고, 게이트 절연막(140) 위에는 복수의 섬형 반도체(155, 156)가 형성되어 있다.
섬형 반도체(155)는 게이트 전극(128a) 위에 형성되어 있고, 섬형 반도체(156)는 게이트 전극(128d) 위에 형성되어 있다.
반도체(155, 156) 위에는 섬형 저항성 접촉 부재(163a, 163b, 165a, 165b)가 형성되어 있다. 섬형 저항성 접촉 부재(163a, 165a)는 섬형 반도체(155) 위에 형성되어 있고, 섬형 저항성 접촉 부재(163b, 165b)는 섬형 반도체(156) 위에 형성되어 있다.
반도체(155, 156)와 저항성 접촉 부재(163a, 163b, 165a, 165b)의 측면 역시 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 경사각은 약 30° 내지 약 80°이다.
노출된 반도체(155, 156) 부분, 저항성 접촉 부재(163a, 163b, 165a, 165b) 및 게이트 절연막(140) 위에는 소스 전극(173a), 세로 감지 데이터선(174)에 연결되어 있는 세로 감지 신호 출력선(172) 및 각 영상 데이터선(171)과 연결되어 있는 복수의 드레인 전극(175b)이 형성되어 있다. 이들(173a, 172, 175b)은 영상 데이 터선(171) 등과 함께 형성된다.
소스 전극(173a)은 넓은 끝 부분과 게이트 전극(128a)을 향하여 뻗어있는 막대형 부분을 포함한다.
세로 감지 신호 출력선(172)은 세로 감지 데이터선(174)에 연결되어 있고, 게이트 전극(128a)을 중심으로 소스 전극(173a)과 마주하는 드레인 전극(175a), 각 게이트 전극(128d) 위에 형성되어 있고 두 개의 가지로 나눠져 각 대응하는 막대형의 드레인 전극(175b)을 에워싸고 있다. 세로 감지 신호 출력부(172)는 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.
게이트 전극(128a), 소스 전극(173a) 및 드레인 전극(175a)은 반도체(155)와 함께 하나의 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널은 소스 전극(173a)과 드레인 전극(175a) 사이의 반도체(155)에 형성된다. 이 박막 트랜지스터는 트랜지스터(DTp)로서 기능한다.
또한 하나의 게이트 전극(128d), 하나의 소스 전극(173b) 및 하나의 드레인 전극(175b)은 반도체(156)와 함께 하나의 박막 트랜지스터를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널은 소스 전극(173b )과 드레인 전극(175b) 사이의 반도체(156)에 형성된다. 이들 박막 트랜지스터는 트랜지스터(DTp1-DTp6)로서 기능한다.
소스 전극(178), 세로 감지 신호 출력선(172) 및 복수의 드레인 전극(175b)의 측면은 또한 기판(110) 면에 대하여 30° 내지 80° 정도의 경사각으로 기울어 진 것이 바람직하다.
이미 설명한 것처럼, 저항성 접촉 부재(163a, 163b, 165a, 165b)는 그 하부의 반도체(155, 156)와 그 상부의 도전체(173a, 175a, 173b, 175b) 사이에만 존재하며 접촉 저항을 낮추어 주는 역할을 한다.
제1 세로축 검사선(123) 및 제2 세로축 검사선(128)과 소스 전극(173a), 세로 감지 신호 출력선(172) 및 복수의 드레인 전극(175b)이 만나는 부분에 복수의 섬형 반도체가 형성되어 표면의 프로파일을 부드럽게 함으로써 소스 전극(173a), 세로 감지 신호 출력선(172) 및 복수의 드레인 전극(175b)이 단선되는 것을 방지할 수 있다.
세로 감지 신호 출력선(172) 및 복수의 드레인 전극(175b), 노출된 반도체(155, 156) 및 게이트 절연막(140) 위에는 보호막(180)이 형성되어 있다.
보호막(180)에는 소스 전극(173a)을 드러내는 접촉 구멍(185b)이 형성되어 있고, 보호막(180)과 게이트 절연막(140)에는 제1 세로축 검사선(123)의 돌출부(125)를 드러내는 접촉 구멍(185a)이 형성되어 있다.
보호막(180) 위에는 화소 전극(191) 등과 함께 형성되는 연결 부재(89)가 형성되어 있다.
연결 부재(89)는 접촉 구멍(185a, 185b)을 통하여 제1 세로축 검사선(123)의 돌출부(125)와 소스 전극(173a)을 연결한다.
다음, 박막 트랜지스터 표시판(100)의 가로축 감지 회로부에 대하여 설명한다.
박막 트랜지스터 표시판(100)에는 투명한 유리 또는 플라스틱 따위로 만들어진 절연 기판(110) 위에 영상 주사선(121) 등과 함께 형성되는 가로 감지 신호 출력선(122)과 섬형의 게이트 전극(124a, 124b)이 형성되어 있다.
가로 감지 신호 출력선(122)은 가로 감지 데이터선(126)에 연결되어 있고, 좌측으로 돌출한 돌출부(126a)와 우측으로 돌출한 돌출부(126b)를 포함한다. 또한 가로 감지 신호 출력선(122) 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.
게이트 전극(124a)은 직사각형 형상으로 이루어져 있고, 가로축 검사 회로마다 하나씩 형성되어 있다. 게이트 전극(124b)은 양 끝 부분이 가로 방향으로 넓게 확장되어 있다.
가로 감지 신호 출력선(122)과 게이트 전극(124a, 124b)의 측면은 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 그 경사각은 약 30° 내지 약 80°인 것이 바람직하다.
가로 감지 신호 출력선(122)과 게이트 전극(124a, 124b) 위에는 게이트 절연막(140)이 형성되어 있고, 게이트 절연막(140) 위에는 복수의 섬형 반도체(158, 159)가 형성되어 있다.
섬형 반도체(158)는 게이트 전극(124a) 위에 형성되어 있고, 섬형 반도체(159)는 게이트 전극(124b) 위에 형성되어 있다.
반도체(158, 159) 위에는 섬형 저항성 접촉 부재(163c, 163d 165c, 165d)가 형성되어 있다. 섬형 저항성 접촉 부재(163c, 165c)는 섬형 반도체(158) 위에 형성되어 있고, 섬형 저항성 접촉 부재(163d, 165d)는 섬형 반도체(159) 위에 형성되 어 있다.
반도체(158, 159)와 저항성 접촉 부재(163c, 163d 165c, 165d)의 측면 역시 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 경사각은 약 30° 내지 약 80°이다.
노출된 반도체(158, 159) 부분, 저항성 접촉 부재(163c, 163d, 165c, 165d) 및 게이트 절연막(140) 위에는 제1 가로축 검사선(172a), 제2 가로축 검사선(172b), 소스 전극(173d), 드레인 전극(175c, 175d)이 형성되어 있다. 이들(172a, 172b 175c, 175d)은 영상 데이터선(171) 등과 함께 형성된다.
제1 가로축 검사선(172a)은 제1 가로축 검사 신호를 전달하며, 주로 가로 방향으로 뻗어 있다. 제1 가로축 검사선(172a)은 드레인 전극(175c)과 마주보게 형성되어 있는 소스 전극(173c)을 포함한다. 또한 제1 가로축 검사선(172a)은 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.
제2 가로축 검사선(172b)은 제2 가로축 검사 신호를 전달하며 제1 가로축 검사선(172a)과 거의 평행하게 뻗어 있다. 제2 가로축 검사선(172b)은 위로 돌출한 돌출부(172c), 세로 방향으로 연장된 세로 줄기부(172d), 그리고 인접한 세로 줄기부(172d) 사이에 형성되어 있고 가로 방향으로 연장된 가로 줄기부(172e)를 포함한다. 제2 가로축 검사선(172b)은 또한 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.
소스 전극(173d)은 가로 방향으로 뻗은 줄기부, 이 줄기부에서 뻗어 나와 직사각형 형상을 갖는 복수의 확장부 및 아래로 돌출된 돌출부(173c)를 포함한다.
드레인 전극(175c)은 게이트 전극(124a)을 중심으로 소스 전극(173c)과 마주하고, 넓은 한쪽 끝 부분을 포함하고 있다.
드레인 전극(175d)은 게이트 전극(124b)을 사이에 두고 소스 전극(173d)의 확장부와 마주하고, 넓은 한쪽 끝 부분을 포함하고 있다.
게이트 전극(124a), 소스 전극(173c) 및 드레인 전극(175c)은 반도체(158)와 함께 하나의 박막 트랜지스터를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널은 소스 전극(173c)과 드레인 전극(175c) 사이의 반도체(158)에 형성된다. 이 박막 트랜지스터가 박막 트랜지스터(GTq)로서 기능한다.
하나의 게이트 전극(124b), 하나의 소스 전극(173d) 및 하나의 드레인 전극(175d)은 반도체(159)와 함께 하나의 박막 트랜지스터를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널은 소스 전극(173d)과 드레인 전극(175d) 사이의 반도체(159)에 형성된다. 이 박막 트랜지스터가 박막 트랜지스터(GTq1-GTq6)로서 기능한다.
제1 가로축 검사선(172a), 제2 가로축 검사선(172b), 소스 전극(173d), 드레인 전극(175c, 175d)의 측면은 또한 기판(110) 면에 대하여 30° 내지 80° 정도의 경사각으로 기울어진 것이 바람직하다.
이미 설명한 것처럼, 저항성 접촉 부재(163c, 163d, 165c, 165d)는 그 하부의 반도체(158, 159)와 그 상부의 도전체(173c, 175c, 173d, 175d) 사이에만 존재하며 접촉 저항을 낮추어 주는 역할을 한다.
가로 감지 신호 출력선(122)과 섬형의 게이트 전극(124a, 124b)과 제1 가로 축 검사선(172a), 제2 가로축 검사선(172b), 소스 전극(173d) 및 드레인 전극(175c, 175d)이 만나는 부분에 복수의 섬형 반도체가 형성되어 표면의 프로파일을 부드럽게 함으로써 제1 가로축 검사선(172a), 제2 가로축 검사선(172b), 소스 전극(173d), 드레인 전극(175c, 175d)이 단선되는 것을 방지할 수 있다.
제1 가로축 검사선(172a), 제2 가로축 검사선(172b), 소스 전극(173d), 드레인 전극(175c, 175d) 노출된 반도체(158, 159) 및 게이트 절연막(140) 위에는 보호막(180)이 형성되어 있다.
보호막(180)에는 드레인 전극(175c, 175d), 돌출부(172c), 소스 전극(173d)의 돌출부를 각각 드러내는 접촉 구멍(184g, 184c, 184e, 184a)이 형성되어 있고, 보호막(180)과 게이트 절연막(140)에는 게이트 전극(124a, 124b), 돌출부(126a, 126b) 및 영상 주사선(121)을 각각 드러내는 접촉 구멍(184f, 184h, 184b, 184i, 184d)이 형성되어 있다.
보호막(180) 위에는 화소 전극(191) 등과 함께 형성되는 연결 부재(89a, 89b, 89c, 89d, 89e)가 형성되어 있다.
연결 부재(89a)는 접촉 구멍(184a, 184b)을 통하여 소스 전극(173d)의 확장부와 가로 감지 신호 출력선(122)의 돌출부(126b)를 연결한다.
연결 부재(89b)는 접촉 구멍(184c, 184d)을 통하여 드레인 전극(175d)과 영상 주사선(121)을 연결한다.
연결 부재(89c)는 접촉 구멍(184f, 184e)을 통하여 게이트 전극(124a)과 제2 가로축 검사선(172b)의 돌출부(172c)를 연결한다.
또한 연결 부재(89d)는 접촉 구멍(184h, 184g)을 통하여 가로 감지 신호 출력선(122)의 돌출부(126a)와 드레인 전극(175c)을 연결한다.
연결 부재(89e)는 접촉 구멍(184i)을 통하여 제2 가로축 검사선의 가로 줄기부(172e)와 게이트 전극(124b)을 연결한다.
다음, 공통 전극 표시판(200)의 구조에 대하여 설명하기로 한다.
이미 도 5를 참고로 하여 설명한 것처럼, 공통 전극 표시판(200)은 투명 유리 또는 플라스틱 따위로 만들어진 절연 기판(210) 위에 블랙 매트릭스(black matrix)라고도 하는 차광 부재(light blocking member)(220)가 형성되어 있다. 차광 부재(220)는 화소 전극(191)과 마주하고 화소 전극(191)과 거의 동일한 모양을 가지는 복수의 개구부를 가지고 있으며, 화소 전극(191) 사이의 빛샘을 막는다. 차광 부재(220)는 영상 주사선(121), 가로 감지 데이터선(126), 더미 가로 감지 데이터선(126a) 및 영상 데이터선(171), 세로 감지 데이터선(174) 및 더미 세로 감지 데이터선(174a)에 대응하는 부분과 박막 트랜지스터에 대응하는 부분으로 이루어질 수 있다.
기판(210) 위에는 또한 복수의 색 필터(230)가 형성되어 있다. 색 필터(230)는 차광 부재(220)로 둘러싸인 영역 내에 대부분 존재하며, 어느 한 방향으로 길게 뻗을 수 있다. 각 색 필터(230)는 적색, 녹색 및 청색 등 기본색(primary color) 중 하나를 표시할 수 있다.
색필터(230) 및 차광 부재(220) 위에는 감지용 돌출부(245)를 구비한 덮개막(overcoat)(250)이 형성되어 있다. 덮개막(250)은 (유기) 절연물로 만들어질 수 있으며, 색필터(230)가 노출되는 것을 방지하고 평탄면을 제공한다.
감지용 돌출부(245)는 박막 트랜지스터 표시판(100)에 형성된 제1 접촉 부재(86)에 대향하게 형성되어 있는 제1 감지용 돌출부(245a)와 박막 트랜지스터 표시판(100)에 형성된 제2 접촉 부재(88)에 대향하게 형성되어 있는 제2 감지용 돌출부(245a)를 포함한다.
제1 및 제2 감지용 돌출부(245a, 245b)는 박막 트랜지스터 표시판(100)에 형성된 세로 감지 데이터선(176)의 제1 및 제2 확장부(176a, 176b) 내에 각각 포함되게 배치되어 있다.
덮개막(250) 위에는 공통 전극(270)이 형성되어 있다. 공통 전극(270)은 ITO 또는 IZO 등의 투명한 도전체 따위로 만들어진다.
표시판(100, 200)의 안쪽 면 위에는 배향막이 도포되어 있으며, 표시판(100, 200)의 바깥쪽 면에는 하나 이상의 편광자가 구비되어 있다.
액정 표시 장치는 또한 하부 표시판(100)과 상부 표시판(200)을 결합하는 밀봉재(sealant)(도시하지 않음)를 더 포함할 수 있다. 밀봉재는 상부 표시판(200)의 가장자리에 위치한다.
제1 감지용 돌출부(245a)를 둘러싼 공통 전극(270)과 제1 접촉 부재(86)는 세로축 감지부의 스위치(SWT)를 형성하며, 외부 압력에 의해 공통 전극(270)과 제1 접촉 부재(86)가 접촉되면, 공통 전극(270)을 통해 인가되는 공통 전압(Vcom)이 제1 접촉 부재(86)와 접촉 구멍(186)을 통해 제1 확장부(176a)를 거쳐 세로 감지 데이터선(176)에 전달된다.
또한 제2 감지용 돌출부(245b)를 둘러싼 공통 전극(270)과 제2 접촉 부재(88)는 가로축 감지부의 스위치(SWT)를 형성하며, 외부 압력에 의해 공통 전극(270)과 제2 접촉 부재(88)가 접촉되면, 공통 전극(270)을 통해 인가되는 공통 전압(Vcom)이 제2 접촉 부재(88)와 접촉 구멍(188)을 통해 연장부(127)를 거쳐 가로 감지 데이터선(126)에 전달된다.
덮개막(250)는 필요에 따라 생략할 수 있으며,이 경우, 감지용 돌출부(245a, 124b)는 차광 부재(220)나 색필터(230) 위에 형성될 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 실시예에서는 5매 마스크를 사용하여 이루어지는 구조에 대하여 설명하였지만, 3매 마스크 또는 4매 마스크를 사용하는 구조에 대하여도 적용될 수 있음은 당연하다.
본 발명의 실시예에서, 감지부로서 압력 감지부를 설명하였으나 이에 한정되지 않으며, 외부로부터 인가되는 압력에 따라 정전 용량이 변하는 가변 축전기를 이용한 감지부나 빛의 세기에 따라 출력 신호가 변하는 광 센서 등을 이용할 수도 있다. 또한 본 발명의 표시 장치는 두 종류 이상의 감지부를 포함하여 접촉 판단의 정확도를 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에서는 표시 장치로서 액정 표시 장치를 설명하였으나 이에 한정되지 않으며, 플라스마 표시 장치(plasma display device), 유기 발광 표시 장치(organic light emitting display) 등과 같은 표시 장치에서도 동일하게 적용할 수 있다.
이러한 본 발명에 의하면, 표시 장치의 표시부를 이용하여 내장된 감지부의 검사 결과를 확인한다. 이로 인해, 검사결과를 확인하기 위한 별도의 장비가 필요 없으므로, 검사 동작이 용이하여 검사 효율이 증가한다. 또한 검사 비용도 감소한다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (16)

  1. 복수의 제1 표시 신호선,
    상기 제1 표시 신호선과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선,
    상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소,
    소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신호선에 평행한 복수의 제1 감지 신호선,
    소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 복수의 제2 감지 신호선,
    상기 제1 감지 신호선에 연결되어 있는 복수의 제1 감지부,
    상기 제2 감지 신호선에 연결되어 있는 복수의 제2 감지부,
    각 제1 감지 신호선과 해당 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선(이하, '제1 표시 신호선군'이라 함)에 연결되어 있고, 제1 및 제2 검사 신호가 인가되며, 상기 제1 감지부의 상태에 따라 상기 화소의 휘도 상태를 변화시켜 상기 제1 감지부의 상태를 검사하는 복수의 제1 검사 회로, 그리고
    각 제2 감지 신호선과 해당 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제2 표시 신호선(이하, '제2 표시 신호선군'이라 함)에 연결되어 있고, 제3 및 제4 검사 신호가 인가되며, 상기 제2 감지부의 상태에 따라 상기 화소의 동작 여부가 정해져 상기 제2 감지부의 상태를 검사하는 복수의 제2 검사 회로
    를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 제1 검사 회로 각각은,
    제1 표시 신호선군에 각각 연결되어 있고 상기 제1 검사 신호에 따라 동작 상태가 변하는 복수의 제1 스위칭 소자, 그리고
    상기 복수의 제1 스위칭 소자와 제1 감지 신호선에 연결되어 있고, 상기 제1 검사 신호에 따라 동작하여 제2 검사 신호의 전압을 상기 제1 표시 신호선군에 연결된 화소에 인가하는 제2 스위칭 소자
    를 포함하는 표시 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에서,
    상기 제2 검사 회로 각각은,
    제2 표시 신호선군에 각각 연결되어 있고 상기 제3 검사 신호에 따라 동작 상태가 변하는 복수의 제3 스위칭 소자, 그리고
    상기 복수의 제3 스위칭 소자와 제3 감지 신호선에 연결되어 있고, 상기 제3 검사 신호에 따라 동작하여 제4 검사 신호의 전압을 상기 제2 표시 신호선군에 연결된 화소에 인가하는 제4 스위칭 소자
    를 포함하는 표시 장치.
  4. 제3항에서,
    상기 제1 및 제3 검사 신호는 게이트 온 전압인 표시 장치.
  5. 제4항에서,
    상기 제2 검사 신호는 블랙 계조를 나타내는 데이터 전압인 표시 장치.
  6. 제4항에서,
    상기 제4 검사 신호는 게이트 온 전압인 표시 장치.
  7. 제3항에서,
    상기 제1 및 제2 검사 회로는 가장 자리 영역에 형성되어 있는 표시 장치.
  8. 제1항에서,
    상기 감지부는 압력 센서인 표시 장치.
  9. 복수의 제1 표시 신호선,
    상기 제1 표시 신호선과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선,
    상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소,
    소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신 호선에 평행한 제1 감지 신호선,
    소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 제2 감지 신호선,
    상기 화소와 이격되어 있고 제1 검사 신호를 전달하는 제1 검사선,
    상기 제1 검사선에 이격되어 있고 제2 검사 신호를 전달하는 제2 검사선,
    상기 제1 검사선, 상기 제2 검사선 및 상기 제1 감지 신호선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자,
    상기 제1 스위칭 소자, 상기 제2 검사선 및 상기 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선에 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자,
    상기 화소와 이격되어 있고 제3 검사 신호를 전달하는 제3 검사선,
    상기 제3 검사선에 이격되어 있고 제4 검사 신호를 전달하는 제4 검사선,
    상기 제3 검사선, 상기 제4 검사선 및 상기 제2 감지 신호선에 연결되어 있는 제3 스위칭 소자, 그리고
    상기 제3 스위칭 소자, 상기 제4 검사선 및 상기 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제2 표시 신호선에 연결되어 있는 복수의 제4 스위칭 소자
    를 포함하는 표시 장치.
  10. 제9항에서,
    상기 제1 및 제2 감지 신호선에 각각 연결된 감지부를 더 포함하는 표시 장치.
  11. 제10항에서,
    상기 감지부는 압력 센서인 표시 장치.
  12. 복수의 제1 표시 신호선, 복수의 제2 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 화소, 소정 개수의 인접한 화소의 열마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제1 표시 신호선에 평행한 적어도 하나의 제1 감지 신호선, 소정 개수의 인접한 화소의 행마다 하나씩 형성되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 평행한 적어도 하나의 제2 감지 신호선, 제1 검사선, 제2 검사선, 상기 제1 검사선에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제2 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며 상기 제1 감지 신호선에 출력 단자가 연결되어 있는 제1 스위칭 소자, 상기 제1 스위칭 소자에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제2 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며, 상기 제1 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제1 표시 신호선에 각각 출력 단자가 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자, 제3 검사선, 제4 검사선, 상기 제3 검사선에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제4 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며 상기 제2 감지 신호선에 출력 단자가 연결되어 있는 제3 스위칭 소자, 그리고 상기 제3 스위칭 소자에 입력 단자가 연결되어 있고, 상기 제4 검사선에 제어 단자가 연결되어 있으며, 상기 제2 감지 신호선에 인접한 소정 개수의 제2 표시 신호선에 각각 출력 단자가 연결되어 있는 복수의 제4 스위칭 소자를 포함하는 표시 장치의 감지부 검사 방법으로서,
    제1 검사선에 제1 크기의 제1 검사 신호를 인가하고 상기 제2 검사선에 제2 크기의 제2 검사 신호를 인가하여 상기 제1 내지 제2 스위칭 소자를 턴온시킴으로써, 상기 화소에 제1 검사 신호를 인가하는 단계,
    상기 제2 검사 신호의 상태를 제2 크기보다 낮은 제3 크기로 바꾸는 단계,
    제3 검사선에 제4 크기의 제3 검사 신호를 인가하고 상기 제4 검사선에 상기 제2 크기의 제4 검사 신호를 인가하여 상기 제3 내지 제4 스위칭 소자를 턴온시킴으로써, 상기 화소에 제4 검사 신호를 인가하는 단계, 그리고
    상기 제4 검사 신호의 상태를 상기 제2 크기에서 상기 제3 크기로 바꾸는 단계
    를 포함하는 감지부 검사 방법.
  13. 제12항에서,
    상기 제2 크기는 게이트 온 전압의 크기와 같은 감지부 검사 방법.
  14. 제13항에서,
    상기 제3 크기는 게이트 오프 전압의 크기의 같은 감지부 검사 방법.
  15. 제14항에서,
    상기 제1 크기는 블랙 계조를 나타내는 데이터 전압의 크기와 동일한 감지부 검사 방법.
  16. 제14항에서,
    상기 제4 크기는 게이트 온 전압의 크기와 같은 감지부 검사 방법.
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US11/616,389 US7365562B2 (en) 2006-02-20 2006-12-27 Display device and method of testing sensing unit thereof
CN2006101566816A CN101025880B (zh) 2006-02-20 2006-12-30 显示装置和测试显示装置的感应单元的方法
JP2007037707A JP5025281B2 (ja) 2006-02-20 2007-02-19 表示装置及びその感知部検査方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9207375B2 (en) 2009-09-21 2015-12-08 Samsung Display Co., Ltd. Display panel and liquid crystal display comprising the same

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190357827A1 (en) 2003-08-01 2019-11-28 Dexcom, Inc. Analyte sensor
US8364231B2 (en) 2006-10-04 2013-01-29 Dexcom, Inc. Analyte sensor
US8532730B2 (en) 2006-10-04 2013-09-10 Dexcom, Inc. Analyte sensor
KR101129618B1 (ko) * 2005-07-19 2012-03-27 삼성전자주식회사 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법
TWI291047B (en) * 2005-08-08 2007-12-11 Ind Tech Res Inst Method and apparatus for inspection flexible display medium layer
KR101321373B1 (ko) * 2007-03-16 2013-10-28 삼성전자주식회사 멀티 디스플레이 장치
KR100902245B1 (ko) * 2008-01-18 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
KR101564332B1 (ko) * 2008-10-28 2015-10-30 삼성전자주식회사 액정 표시 장치에 일체화된 터치 스크린 패널과 그 제조 방법 및 터치 센싱 방법
US9149220B2 (en) 2011-04-15 2015-10-06 Dexcom, Inc. Advanced analyte sensor calibration and error detection
KR101571683B1 (ko) * 2008-12-24 2015-12-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이의 제조 방법
KR101022105B1 (ko) * 2009-01-16 2011-03-17 삼성모바일디스플레이주식회사 터치 스크린 패널 및 그 제조방법
CN101825782B (zh) * 2009-03-06 2012-02-29 北京京东方光电科技有限公司 基板测试电路及基板
KR101735569B1 (ko) * 2010-02-24 2017-05-25 삼성디스플레이 주식회사 터치 센서를 내장한 액정 표시 장치
US8907991B2 (en) * 2010-12-02 2014-12-09 Ignis Innovation Inc. System and methods for thermal compensation in AMOLED displays
TWI595403B (zh) * 2011-03-29 2017-08-11 元太科技工業股份有限公司 觸控式彩色面板、觸控式電泳彩色顯示面板及其裝置
US9122361B2 (en) * 2011-05-19 2015-09-01 Qualcomm Technologies, Inc. Touch panel testing using mutual capacitor measurements
JP6022164B2 (ja) * 2012-01-24 2016-11-09 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
KR101881084B1 (ko) * 2012-04-25 2018-08-20 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 검사 방법
KR101443986B1 (ko) * 2012-12-27 2014-09-23 삼성전기주식회사 터치 패널
KR20150009862A (ko) * 2013-07-17 2015-01-27 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
US20150052747A1 (en) * 2013-08-22 2015-02-26 Chih-Chung Lin Manufacturing method of touch substrate
TWI498576B (zh) * 2013-11-01 2015-09-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 顯示面板及其測試方法
CN103914179B (zh) * 2013-12-30 2017-11-10 上海天马微电子有限公司 触控显示面板及其控制电路
CN103970353B (zh) * 2014-04-29 2016-10-05 京东方科技集团股份有限公司 一种触控显示面板及触控显示装置
CN104035217B (zh) * 2014-05-21 2016-08-24 深圳市华星光电技术有限公司 显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板
EP3040764B1 (en) * 2014-12-31 2018-06-06 LG Display Co., Ltd. In-cell touch liquid crystal display apparatus
KR102343803B1 (ko) * 2015-06-16 2021-12-29 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그의 검사방법
CN104914606A (zh) * 2015-06-16 2015-09-16 深圳市华星光电技术有限公司 一种触控面板及其驱动方法
CN104964745B (zh) 2015-07-20 2017-08-04 京东方科技集团股份有限公司 屏幕按压发黄判定方法及判定装置
CN105677128B (zh) * 2016-03-21 2019-05-10 京东方科技集团股份有限公司 3d触控面板及其制备方法、触控驱动装置、显示装置
CN106205030B (zh) * 2016-07-25 2019-01-29 京东方科技集团股份有限公司 一种警报电路、集成电路板及警报系统
CN107402674B (zh) * 2017-07-28 2020-06-26 上海天马微电子有限公司 压力触控检测电路、方法和显示面板
CN107656169B (zh) * 2017-11-02 2021-03-16 厦门天马微电子有限公司 显示面板、显示装置和显示面板的检测方法
CN107863054A (zh) * 2017-11-07 2018-03-30 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种修复感测信号线的方法、装置和显示装置
CN108227326A (zh) * 2018-02-01 2018-06-29 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制造方法、触控显示面板
CN108335658B (zh) * 2018-03-15 2021-08-06 京东方科技集团股份有限公司 显示面板和显示测试装置

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000207128A (ja) * 1999-01-18 2000-07-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 透明タッチパネルおよびそれを用いた電子機器
JP3683742B2 (ja) 1999-04-28 2005-08-17 三菱電機株式会社 タッチパネル付きモニタ装置およびタッチパネル付きモニタ装置のタッチパネル検査方法
JP2001042296A (ja) 1999-07-30 2001-02-16 Sony Corp 液晶表示装置
JP2001265248A (ja) * 2000-03-14 2001-09-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
US6762735B2 (en) * 2000-05-12 2004-07-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro luminescence display device and method of testing the same
US6876355B1 (en) * 2000-05-18 2005-04-05 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Touch screen structure to prevent image distortion
JP2002022789A (ja) 2000-07-05 2002-01-23 Oht Inc 検査装置及び検査方法
KR100900537B1 (ko) * 2002-08-23 2009-06-02 삼성전자주식회사 액정 표시 장치, 그 검사 방법 및 제조 방법
KR100469356B1 (ko) 2002-11-15 2005-02-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 터치패널 검사용 지그
US7265572B2 (en) * 2002-12-06 2007-09-04 Semicondcutor Energy Laboratory Co., Ltd. Image display device and method of testing the same
KR100989334B1 (ko) * 2003-02-28 2010-10-25 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 이의 제조방법
KR100942503B1 (ko) 2003-05-06 2010-02-12 삼성전자주식회사 표시장치의 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법
KR100951357B1 (ko) * 2003-08-19 2010-04-08 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR20050021080A (ko) 2003-08-26 2005-03-07 삼성전자주식회사 터치 패널의 불량 검출 방법
TWI239403B (en) * 2003-08-26 2005-09-11 Chunghwa Picture Tubes Ltd A combining detection circuit for a display panel
JP2005099543A (ja) * 2003-09-26 2005-04-14 Toppoly Optoelectronics Corp 平面表示器の測定装置およびその操作方法
KR100964576B1 (ko) 2003-10-08 2010-06-21 삼성전자주식회사 액정표시패널용 광 센서 검사 장치 및 그 방법
KR100971659B1 (ko) 2003-10-22 2010-07-22 삼성전자주식회사 액정표시패널 검사용 광원 장치
JP2006091239A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに検査方法
JP4241671B2 (ja) * 2005-06-13 2009-03-18 ソニー株式会社 画素不良検査方法、画素不良検査プログラム及び記憶媒体
JP4372070B2 (ja) * 2005-09-12 2009-11-25 東芝モバイルディスプレイ株式会社 平面表示装置及びその調整方法
KR20070077282A (ko) * 2006-01-23 2007-07-26 삼성전자주식회사 표시 장치, 액정 표시판 조립체, 및 표시 장치의 검사 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9207375B2 (en) 2009-09-21 2015-12-08 Samsung Display Co., Ltd. Display panel and liquid crystal display comprising the same

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