KR20070065152A - 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조 - Google Patents

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 직접회로에 형성된 리드가 삽입되어 납땜되기 위해 장착홀이 형성되고, 상기 장착홀과 연결된 검사배선의 끝단부에는 테스트 포인트가 형성되되, 상기 테스트 포인트는 상측이 오목한 형상을 갖도록 하여, 검사 장비에 구비된 검사용 핀이 테스트 포인트에 접촉하여 이탈되는 것을 억제하여 줌으로써, 안정적인 검사가 진행된다.

집적회로, 인쇄회로기판, 테스트 포인트, 검사용 핀

Description

인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조{A TEST POINT STRUCTURE OF PCB}

도 1은 종래 인쇄회로기판과 집적회로의 결합 관계를 나타내는 도면.

도 2는 본 발명에 따른 테스트 포인트를 구비한 인쇄회로기판을 나타내는 도면.

도 3은 본 발명에 따른 테스트 포인트의 실시예.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*

20 : 인쇄회로기판 22 : 검사배선

23 : 테스트 포인트 24 : 돌기

31 : 검사용 핀

본 발명은 테스트 포인트의 상측 부분이 오목한 형상을 갖도록 하여 검사용 핀과 테스트 포인트의 접촉 상태가 안정적으로 유지됨으로써, 검사의 정확도를 높 이는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조에 관한 것이다.

일반적으로 인쇄회로기판은 집적 회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 납땜되는 얇은 판을 지칭한다.

이러한 인쇄회로기판은 회로가 내장되어 대부분의 전자제품에 사용되고 있다.

통상 사용되고 있는 인쇄회로기판이 만들어지는 순서는 다음과 같다.

절연체인 에폭시 수지 또는 베이클라이트 수지로 만든 얇은 기판에 구리박을 붙인 후에, 계속하여 구리박으로 남아 있기를 원하는 회로 배선에는 레지스트를 인쇄한다.

그리고 구리를 녹일 수 있는 식각액에 인쇄된 기판을 담그면 레지스트가 묻지 않은 부분은 녹는다.

그 후에 레지스트를 제거하면 구리박이 원하는 형태로 남아 있다.

이때, 부품을 꽂아야 하는 부분에는 구멍을 뚫고 납이 묻으면 안 되는 곳에는 푸른색의 납 레지스트를 인쇄한다.

한편, 집적회로(集積回路;integrated circuit)는 많은 전자회로 소자가 하나의 기판(基板:substrate) 위 또는 기판 자체에 분리가 불가능한 상태로 결합되어 있는 초소형 구조의 기능적인 복합적 전자소자 또는 시스템을 말한다.

이러한 집적회로는 통상 각 측면에 리드가 돌출 형성되고, 인쇄회로기판에 형성된 구멍에 상기 각 리드를 삽입한 다음, 인두를 사용하여 각 리드를 인쇄회로기판에 접합하게 된다.

도 1은 종래 인쇄회로기판과 집적회로의 결합 관계를 나타내는 도면이다.

도시된 바와 같이, 집적회로(10)는 평평한 사각 형상의 몸체(11) 각 측면에 리드(12)가 돌출 형성된다.

그리고, 인쇄회로기판(13)에는 상기 집적회로(10)가 장착되는데, 상기 각 리드(12)가 납땜되기 위한 장착홀(14)이 형성된다.

따라서, 상기 인쇄회로기판(13)의 장착홀(14)에 집적회로(10)의 각 리드(12)를 꽂은 다음, 인두를 사용하여 납땜한다.

상기 장착홀(14)에는 전기적 신호가 이동하기 위한 재질로 성형된다.

즉, 상기 인쇄회로기판(13)의 각 장착홀(14)은 회로배선과 연결되어, 인쇄회로기판(13)에 장착된 집적회로(10)와 신호를 송수신할 수 있게 된다.

한편, 상기 인쇄회로기판(13)에 장착된 집적회로(10)의 정상작동 유무를 판별하기 위해, 상기 각 장착홀(14)과 연결된 별도의 검사배선(15)이 구비되고, 상기 검사배선(15)의 끝단부에는 테스트포인트(16)가 형성된다.

상기 테스트포인트(16)는 동박처리를 하여 지그 테스트(jig test)가 가능하게 되는바, 검사장치에 형성된 다수의 핀이 상기 테스트포인트(16)와 접촉하여 전압을 걸어주어, 상기 집적회로(10)가 정상적으로 작동하는지 확인할 수 있게 된다.

특히, 상기 테스트포인트(16)는 각종 집적회로(10)를 테스트하기 위해 사용하는바, 검사하고자 하는 집적회로(10)를 테스트 포인트(16)를 구비한 인쇄회로기판(13)에 장착하고, 검사장치를 통해 각 테스트 포인트(16)와 접촉하여 집적회로(10)의 정상 작동 유무를 판별할 수 있게 된다.

그러나, 상기한 테스트포인트는 단지 원형으로 이루어지기 때문에, 검사장치가 정확하지 않으면, 검사용 핀이 테스트 포인트를 정확하게 접지하지 못하는 문제점이 있다.

특히, 검사자가 직접 검사용 핀을 테스트 포인트에 접촉시키는 경우, 검사자의 손 떨림으로 인해 검사용 핀이 테스트 포인트에서 이탈되어 검사가 원활히 이루어지지 못하는 문제점이 있다.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명은 테스트 포인트가 오목한 형상을 가지도록 하여, 검사용 핀이 테스트 포인트와 접촉한 상태에서 쉽게 이탈되지 않도록 함을 목적으로 한다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 직접회로에 형성된 리드가 삽입되어 납땜되기 위해 장착홀이 형성되고, 상기 장착홀과 연결된 검사배선의 끝단부에는 테스트 포인트가 형성되되, 상기 테스트 포인트는 상측이 오목한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조를 제공한다.

상기한 테스트 포인트 구조는 상측이 오목한 형상을 함으로써, 검사 장비에 구비된 검사용 핀이 테스트 포인트에 접촉하여 이탈되는 것을 억제하여 줌으로써, 안정적인 검사가 진행된다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.

또한, 본 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 단지 예시로 제시된 것이며, 종래 구성과 동일한 부분은 동일한 부호 또는 명칭을 사용한다.

도 2는 본 발명에 따른 테스트 포인트를 구비한 인쇄회로기판을 나타내는 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 테스트 포인트의 실시예이다.

도시한 바와 같이, 인쇄회로기판(20)에는 집적회로(10)의 몸체(11) 측면에 형성된 리드(12)가 장착되기 위한 장착홀(21)이 형성되는바, 상기 장착홀(21)에 각 리드(12)가 삽입된 다음 납땜 작업을 하여, 인쇄회로기판(20)과 집적회로(10)가 결합된다.

상기 인쇄회로기판(20)에는 각 장착홀(21)과 연결되어 전기적 신호를 송수신 할 수 있는 검사배선(22)이 형성되고, 상기 검사배선(22)의 끝단부에는 테스트 포인트(23)가 형성된다.

상기 테스트 포인트(23)는 동박 처리를 통해 전기적 신호의 응답성을 높여주는바, 상측면은 도면과 같이 오목한 형상을 갖도록 한다.

즉, 상기 인쇄회로기판(20)에 장착된 집적회로(10)를 테스트하기 위해, 별도의 검사장비(미도시)에서 인출된 검사용 핀(31)이 상기 테스트 포인트(23)에 접촉하게 되는데, 상기 테스트 포인트(23)의 상측이 오목한 형상을 가짐으로 해서, 검사용 핀(31)과 테스트 포인트(23)의 접촉 안정성을 향상시킨다.

특히, 검사자가 직접 검사용 핀(31)을 가지고 테스트 포인트(23)에 접촉하는 경우, 오목한 형상의 테스트 포인트(23)로 인해 검사용 핀(31)이 테스트 포인트 (23)에서 이탈되지 않고 안정적을 접촉된 상태를 유지할 수 있게 된다.

한편, 상기 테스트 포인트(23)의 상측에는 돌기(24)가 돌출 형성되는바, 이러한 돌기(24)는 검사자가 직접 검사용 핀(31)을 가지고 테스트 포인트(23)에 접촉시키는 과정에서, 검사용 핀(31)의 측면이 돌기(24)에 걸리도록 하여, 검사용 핀(31)의 접촉 안정성을 더욱 더 향상시키게 된다.

상기한 바와 같이 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조는 상측이 오목한 형상을 갖도록 하여, 검사장비에서 인출된 검사용 핀이 테스트 포인트에 접촉된 상태를 안정적으로 유지하도록 하는 효과가 있다.

이로 인해, 검사의 정확도를 높이며, 검사자는 수월하게 디버깅을 할 수 있는 이점이 있다.

Claims (2)

1. 직접회로에 형성된 리드가 삽입되어 납땜되기 위해 장착홀이 형성되고, 상기 장착홀과 연결된 검사배선의 끝단부에는 테스트 포인트가 형성되되,

   상기 테스트 포인트는 상측이 오목한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조.
2. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 포인트의 상측에는 검사용 핀의 이탈 방지를 위해 돌기가 추가로 돌출 형성되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 포인트 구조.

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