KR100736756B1

KR100736756B1 - 탐침장치용 프로브

Info

Publication number: KR100736756B1
Application number: KR1020060049761A
Authority: KR
Inventors: 이채윤
Original assignee: 리노공업주식회사
Priority date: 2006-06-02
Filing date: 2006-06-02
Publication date: 2007-07-11

Abstract

본 발명은 임의의 전기소자가 납땜된 디바이스를 검사하는데 이용되는 탐침장치용 프로브에 관한 것으로, 상기 프로브는 탐침대상 디바이스의 납땜부와 접촉되는 플런저 헤드를 포함하여 이루어지되, 상기 플런저 헤드는 상기 납땜부와 접촉되는 다수개의 니들 및 상기 납땜부를 관통하여 돌출된 전기소자의 리드가 삽입되는 공간이 형성되도록 상기 다수개의 니들을 고정하는 부시로 이루어진 것을 기술적 요지로 하여, 디바이스가 탐침장치와 안정적으로 접속될 수 있도록 함으로써, 신호전달이 보다 안정적으로 정확히 이루어질 수 있도록 한다.

플런저, 탐침, 탐침장치, 니들

Description

탐침장치용 프로브{Probe}

도 1 및 도 2는 종래기술에 따른 탐침장치용 프로브와 디바이스의 접속상태를 설명하기 위한 도,

도 3은 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브가 탐침장치에 결합된 측면도,

도 4a는 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브의 헤드 정면도,

도 4b는 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브의 헤드 단면도,

도 5는 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브와 디바이스의 접속상태를 설명하기 위한 도이다.

<도면에 사용된 주요 부호에 대한 설명>

10 : 검사용 PCB 20, 30 : 디바이스

21 : IC 31 : IC소켓

31a : IC소켓리드 31b : 납땜부

200 : 플런저 210 : 헤드

211 : 부시 211a : 니들삽입홈

211b : 니들고정돌기 213 : 니들

215 : IC소켓리드 삽입홈 230: 몸체

300 : 외통

본 발명은 탐침장치용 프로브에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디바이스의 납땜부상에 돌출된 전기소자의 리드가 삽입될 수 있는 리드삽입홈이 플런저의 헤드에 형성된 탐침장치용 프로브에 관한 것이다.

일반적으로, 전자제품 내에는 다수의 칩이 장착되어 있으며, 이들 칩은 전자제품의 성능을 결정하는 중요한 역할을 한다. 칩은 반도체의 얇고 작은 조각판 표면에 구성된 논리 소자로 인해 각각 다양한 기능을 수행하게 되는 집적회로로, 회로기판으로부터 전해진 전기적 신호 등이 버스를 통해 전송되어 이러한 작용이 이루어지게된다.

회로기판(PCB, printed circuit board)은 절연체인 에폭시 또는 베이클라이트 수지 등으로 만든 얇은 기판에 전도체인 구리가 회로배선을 형성하며 도포된 형태로 구성되어 있으며, 집적회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 회로배선 상에 납땜됨으로써 이 인쇄회로기판에 설치된다.

마이크로 칩(Micro-chip)은 이러한 회로기판의 전자회로가 고밀도로 집적되어 만들어진 칩으로, 전자제품에 칩이 장착되어 조립완성되기 전에 정상적인 상태인지를 확인하기 위하여 검사장치에 의하여 검사되는 과정을 필수적으로 거치게 된다.

이러한 검사 방법으로 칩을 검사용 소켓장치에 장착함으로써 검사를 수행하 는 방법이 있으며, 이러한 소켓장치 내에서 칩의 파손 없이 검사가 이루어지도록 하기위해 검사용 탐침장치가 장착되어 사용된다.

검사용 회로기판상에는 상부에 검사대상물인 마이크로칩이 놓여져 검사를 받을 수 있도록 검사용 소켓이 장착되어있으며, 검사용 소켓에는 다수개의 검사용 탐침장치가 장착되어 마이크로 칩에 접촉하게 된다.

전류가 상기 검사대상용 마이크로 칩의 여러지점에 접촉된 탐침장치의 상부말단부로부터 탐침장치 몸체부 및 탐침장치 하단부의 접촉핀을 통해 회로기판 측으로 흐름으로써, 검사대상용 칩의 검사가 이루어진다.

한편, 상술한 검사용 회로기판은 마이크로칩 뿐만 아니라 각종 전기소자들이 납땜된 디바이스도 검사할 수 있는바, 마이크로칩을 검사할 때와 마찬가지로 탐침장치의 플런저 헤드에 디바이스의 납땜부를 접촉시킴으로써 달성된다.

도 1 및 도 2는 종래기술에 따른 탐침장치용 프로브와 디바이스의 접속상태를 설명하기 위한 도이다.

먼저 도 1은 디바이스(20)에 납땜된 각종 전기소자 및 IC(21)의 리드(21a)가 디바이스(20)의 하면 납땜부(31b)를 관통하여 돌출되지 않은 경우를 나타내는바, 디바이스(20)는 납땜부(31b)가 플런저(110)의 헤드(111)에 접속되도록 검사용 탐침장치 (100)상에 놓여지게 되며, 이로써 디바이스(20)는 검사용 PCB(10)와 전기적으로 연결되게 된다. 이때 플런저(110)의 헤드(111)는 납땜부(31a) 표면에 형성될 수 있는 플럭스에 의해 납땜부(31a)와의 접속이 방해되지 않도록 뾰족한 다수개의 돌기가 형성된 형태로 함으로써 달성된다.

한편, 디바이스(20)에 전기소자(21)가 납땜될 때 전기소자(21)의 리드(21a)가 납땜부(31b)를 뚫고 돌출될 수도 있는바, 도 2는 디바이스(30)에 납땜된 IC소켓(31)의 리드(31a)가 디바이스(30)의 하면 납땜부(31b)를 관통하여 돌출된 경우를 나타낸다.

도 2에 도시된 바와 같이 IC소켓리드(31a)가 디바이스(30)의 납땜부(31b)를 뚫고 돌출된 경우 플런저(110)의 헤드(111)는 납땜부(31b)까지 도달하지 못하고 IC소켓리드(31a)의 단부와만 접촉된다.

따라서 종래 탐침장치용 프로브에 따르면 전기소자의 리드가 납땜부를 뚫고 돌출되지 않은 경우에는 플런저의 헤드가 납땜부에 안정적으로 접속되는 반면에 전기소자의 리드가 납땜부를 뚫고 돌출된 경우에는 플런저의 헤드가 납땜부까지 도달하지 못하고 전기소자의 리드에 불안정하게 접촉되는 문제점이 있었다.

상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 본 발명은, 납땜부상에 돌출된 전기소자의 리드가 삽입될 수 있는 리드삽입홈이 플런저의 헤드에 형성되도록 한 구조의 탐침장치용 프로브를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상술한 바와 같은 목적 달성을 위한 본 발명은, 탐침장치용 프로브에 있어서, 상기 프로브는 탐침대상 디바이스의 납땜부와 접촉되는 플런저 헤드를 포함하여 이루어지되,상기 플런저 헤드는 상기 납땜부와 접촉되는 다수개의 니들 및 상기 납땜부를 관통하여 돌출된 전기소자의 리드가 삽입되는 공간이 형성되도록 상기 다 수개의 니들을 고정하는 부시로 이루어진 것을 특징으로 하는 탐침장치용 프로브를 기술적 요지로 한다.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명을 다음의 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브가 탐침장치에 결합된 측면도 이다.

도 3에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 플런저(200)는 크게 프로브의 외통(300)에 유동가능하게 삽입되는 몸체(230) 및 몸체(230)와 결합되며, 디바이스의 납땜부와 접속되는 헤드(210)로 구성된다.

전술한 구성에서 헤드(210)는 납땜부에 접속되는 다수개의 니들(213) 및 다수개의 니들(213)을 소정 모양으로 밀착 고정하는 부시(211)로 이루어지는바, 니들(213)은 납땜부(31b) 상면에 형성될 수 있는 플럭스를 뚫고 납땜부(31b)에 잘 박히도록 끝이 뾰족한 송곳모양으로 형성시키는 것이 바람직하며, 부시(211)는 납땜부(31b)를 관통하여 돌출된 IC소켓리드(31a)가 니들(213) 사이로 삽입될 수 있도록 니들(213)을 원형태로 고정시킴으로써 달성된다.

도 4a는 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브의 헤드 정면도이며, 도 4b는 본 발명에 따른 탐침장치용 프로브의 헤드 단면도인바, 부시(211)에 니들(213)을 삽입한 후 밀착 압축시킨 상태를 나타낸다.

도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이 부시(211)는 상면이 개구된 원통형태로 이루어지며, 내부 하면에는 니들고정돌기(211b)가 형성되어 있고, 니들고정돌 기(211b)와 외면 사이에 형성된 도넛 형태의 니들삽입홈(211a)에는 다수개의 니들(213)이 삽입된다.

따라서 도 5에 도시된 바와 같이 니들(213)이 모여 형성되는 공간 즉, IC소켓리드 삽입홈(215)의 하부에는 니들고정돌기(211b)가 위치하며, 이 공간에 납땜부(31b)를 관통하여 돌출된 IC소켓리드(31a)가 삽입되게 됨으로써, 니들(213)이 납땜부(31b)에 안정적으로 접속되게 된다.

특히 부시(211)의 니들삽입홈(211a)은 내부 하면에 돌출된 니들고정돌기(211b)와 부시(211)의 외면사이의 도넛모양의 공간으로 달성되는바, 니들(213)이 삽입된 이후에는 니들(213)이 니들삽입홈(211a)에서 이탈되지 않도록 부시(211)의 외면을 내부 중심방향 즉, 니들삽입홈(211a) 방향으로 압축시켜 니들(213)이 밀착 고정되도록 한다.

도 5에 도시된 바와 같이 디바이스(30)에 납땜된 IC소켓(31)의 리드(31a)가 디바이스(30)의 하면 납땜부(31b)를 관통하여 돌출된 경우에, 본 발명에 따른 플런저(200)는 니들(213)에 의해 형성된 공간(215)에 IC소켓리드(31a)가 삽입되면서 니들(213)이 납땜부(31b)에 안정적으로 접속되게 된다.

본 발명의 탐침장치용 프로브는 전술한 실시예에 국한되지 않고 플런저가 양방향으로 구비된 더블 엔디드에 적용시키는 등 본 발명의 기술 사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수가 있다.

상술한 바와 같은 구성에 의한 본 발명의 탐침장치용 프로브에 따르면, 전기소자의 리드가 납땜부를 관통하여 돌출된 상태에서도 니들이 납땜부에 안정적으로 접속될 수 있는 효과가 있다.

Claims

탐침장치용 프로브에 있어서,

상기 프로브는 탐침대상 디바이스의 납땜부(31b)와 접촉되는 플런저 헤드(210)를 포함하여 이루어지되,

상기 플런저 헤드(210)는 상기 납땜부(31b)와 접촉되는 다수개의 니들(213) 및 상기 납땜부(31b)를 관통하여 돌출된 전기소자의 리드(31a)가 삽입되는 공간이 형성되도록 상기 다수개의 니들(213)을 고정하는 부시(211)로 이루어진 것을 특징으로 하는 탐침장치용 프로브.
제1항에 있어서,

상기 부시(211)는 상면이 개구된 원통형태로 이루어지되, 상기 원통의 내부 하면에는 상기 리드(31a)의 직하방 위치에 니들고정돌기(211b)가 형성되어 있으며, 상기 니들고정돌기(211b)와 상기 원통의 외면 사이의 도넛모양 공간에 상기 다수개의 니들(213)이 밀착 고정되는 것을 특징으로 하는 탐침장치용 프로브.
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