KR20060119865A

KR20060119865A - 시험 방법, 통신 디바이스, 및 시험 시스템

Info

Publication number: KR20060119865A
Application number: KR1020067002459A
Authority: KR
Inventors: 다이스케 와타나베
Original assignee: 주식회사 아도반테스토
Priority date: 2003-08-04
Filing date: 2004-07-30
Publication date: 2006-11-24
Also published as: JPWO2005013573A1; EP1667389A1; KR101103094B1; WO2005013573A1; US20060209710A1; CN100514946C; US7477684B2; CN1830187A; JP4388931B2

Abstract

본 발명의 통신 디바이스의 시험 방법은, 기준 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를 송신하여 수신하는 단계와, 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시키는 단계와, 시험 신호를 지연시키는 단계와, 지연된 시험 신호를 기대값과 비교하여 비교 결과를 출력하는 단계와, 지연 시간을 변화시키면서, 상기 단계를 반복하여 수행하고, 지연 시간마다 비교 결과를 격납하는 단계와, 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여 시험 신호의 아이 개구도를 검출하는 단계와, 검출된 아이 개구도에 기초하여 통신 디바이스의 양부 판정을 수행하는 단계를 포함한다.

통신, 디바이스, 시험

Description

시험 방법, 통신 디바이스, 및 시험 시스템{TESTING METHOD, COMMUNICATION DEVICE AND TESTING SYSTEM}

본 발명은, 시험 방법, 통신 디바이스, 및 시험 시스템에 관한 것이다. 특히, 본 발명은, 실동작 주파수로 통신 디바이스를 시험하는 시험 방법에 관한 것이다.

종래에는, 통신 디바이스에 내장된 시험 신호 생성기 및 기대값 비교기를 사용하여 신호 전송에 있어서의 비트 에러(bit error)를 검출하고, 통신 디바이스의 양부를 판정하는 시험 방법이 알려져 있다. 이 시험 방법에 있어서, 송신측의 통신 디바이스는, 시험 신호를 생성하여 수신측의 통신 디바이스에 송신하고, 수신측의 통신 디바이스는, 송신측의 통신 디바이스로부터 송신된 시험 신호를 기대값과 비교하고, 송신측 또는 수신측의 통신 디바이스의 양부 판정을 수행하고 있다. 현시점에서 선행 기술 문헌의 존재를 인식하고 있지 않으므로, 선행 기술 문헌에 관한 기재를 생략한다.

[발명이 해결하고자 하는 과제]

종래의 시험 방법에 있어서, 수신측의 통신 디바이스는, 송신측의 통신 디바이스로부터 송신된 시험 신호를, 시험 신호의 데이터 유닛의 주기인 유닛 간격(unit interval)의 실질적 중앙에 있어서 기대값과 비교하고, 그 비교 결과로부터 비트 에러를 검출한다. 이 때문에, 비트 에러의 판정 기준에 지터 특성의 요소가 고려되지 않는다. 따라서, 약간의 외란 요소에 의하여 비트 에러가 발생하는 등의 통신 디바이스에 있어서 정확하게 비트 에러를 검출할 수 없고, 정밀도 높은 시험을 수행하기가 곤란하였다.

여기서 본 발명은, 상기의 과제를 해결할 수 있는 시험 방법, 통신 디바이스, 및 시험 시스템을 제공하는 것을 그 목적으로 한다. 이 목적은 청구의 범위에 있어서의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의하여 달성된다. 또한, 종속항은 본 발명의 더욱 유리한 구체예를 규정한다.

[과제를 해결하기 위한 수단]

본 발명의 제1 형태에 의하면, 통신 디바이스를 시험하는 시험 방법에 있어서, 기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생 단계와, 기준 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성 단계와, 시험 신호 생성 단계에 있어서 생성된 시험 신호를 송신부가 송신하는 송신 단계와, 송신 단계에 있어서 송신부가 송신한 시험 신호를 수신부가 수신하는 수신 단계와, 수신 단계에 있어서 수신부가 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생 단계와, 수신 단계에 있어서 수신부가 수신한 시험 신호를 기준 클록에 대하여 지연시키는 지연 단계와, 지연 단계에 있어서 지연된 시험 신호를, 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 기대값과 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 출력하는 비교 단계와, 지연 단계에 있어서 시험 신호가 지연된 지연 시간에 대응시켜, 비교 단계에 있어서의 비교 결과를 격납하는 비교 결과 격납 단계와, 지연 단계에 있어서의 시험 신호의 지연의 지연 시간을 변화시키면서, 지연 단계, 비교 단계, 및 비교 결과 격납 단계를 반복하여 수행하며, 지연 시간마다 비교 결과를 격납하는 반복 단계와, 반복 단계에 있어서 격납한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 지연 단계에 있어서 지연된 시험 신호와 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 검출 단계와, 검출 단계에 있어서 검출된 지연 시간의 범위에 기초하여, 수신부 또는 송신부의 양부 판정을 수행하는 판정 단계를 포함한다.

반복 단계는, 소정 시간마다 지연 단계에 있어서의 시험 신호의 지연의 지연 시간을 변화시키는 단계를 포함하며, 비교 단계는, 소정 시간내에 있어서 시험 신호가 포함하는 복수의 데이터 유닛을 기대값과 순차적으로 비교하는 단계를 포함하며, 비교 결과 격납 단계는, 복수의 데이터 유닛의 적어도 하나가 기대값과 불일치하는 경우에, 수신 단계에 있어서 수신부가 수신한 시험 신호가 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 비교 결과를 격납하는 단계를 포함하여도 좋다. 반복 단계는, 지연 단계에 있어서의 지연의 지연 시간을, 시험 신호 생성 단계에 있어서 생성된 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 주기 이상의 범위에서 변화시키는 단계를 포함하여도 좋다. 판정 단계는, 검출 단계에 있어서 검출된 지연 시간의 범위가, 미리 정해진 규정값 이상인가 아닌가에 기초하여, 수신부 또는 송신부의 양부 판정을 수행하는 단계를 포함하여도 좋다. 통신 디바이스는, 복수의 수신부 또는 복수의 송신부를 포함하며, 검출 단계는, 복수의 수신부 또는 복수의 송신부에 관한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 복수의 수신부 또는 복수의 송신부의 전부에 있어서, 지연 단계에 있어서 지연된 시험 신호와 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 단계를 포함하여도 좋다.

본 발명의 제2 형태에 의하면, 통신 디바이스를 시험하는 시험 방법에 있어서, 기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생 단계와, 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 생성하는 지연 클록 생성 단계와, 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성 단계와, 시험 신호 생성 단계에 있어서 생성된 시험 신호를 송신부가 송신한 송신 단계와, 송신 단계에 있어서 송신부가 송신한 시험 신호를 수신부가 수신하는 수신 단계와, 수신 단계에 있어서 수신부가 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생 단계와, 수신 단계에 있어서 수신부가 수신한 시험 신호를, 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 기대값과 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 출력하는 비교 단계와, 지연 클록 생성 단계에 있어서 기준 클록이 지연된 지연 시간에 대응시켜, 비교 단계에 있어서의 비교 결과를 격납하는 비교 결과 격납 단계와, 지연 클록 생성 단계에 있어서의 기준 클록의 지연의 지연 시간을 변화시키면서, 시험 신호 생성 단계, 송신 단계, 수신 단계, 비교 단계, 및 비교 결과 격납 단계를 반복하여 수행하며, 지연 시간마다 비교 결과를 격납하는 반복 단계와, 반복 단계에 있어서 격납한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 수신 단계에 있어서 수신부가 수신한 시험 신호와 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 검출 단계와, 검출 단계에 있어서 검출된 지연 시간의 범위에 기초하여, 수신부 또는 송신부의 양부 판정을 수행하는 판정 단계를 포함한다.

본 발명의 제3 형태에 의하면, 통신 디바이스에 있어서, 기준 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를 수신하는 수신부와, 지연 시간을 순차적으로 변화시키면서, 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 발생시키는 가변 지연부와, 가변 지연부가 발생시킨 지연 클록에 기초하여, 수신부가 수신한 시험 신호를 지연시키는 시험 신호 지연부와, 수신부가 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생부와, 시험 신호 지연부가 지연시킨 시험 신호를, 기대값 발생부가 발생시킨 기대값과 순차적으로 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 순차적으로 출력하는 기대값 비교부를 포함한다.

가변 지연부에 의한 기준 클록의 지연 시간을 소정 시간마다 변화시키는 가변 지연 제어부와, 기대값 비교부가 순차적으로 출력한 비교 결과를 소정 시간마다 보유하고, 당해 소정 시간 내에 있어서 시험 신호가 기대값과 불일치하는 것을 나타내는 비교 결과를 기대값 비교부가 적어도 하나 출력한 경우, 시험 신호가 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 비교 결과를 출력하는 비교 결과 보유부를 더 포함하여도 좋다.

비교 결과 보유부가 출력한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 시험 신호 지연부가 지연시킨 시험 신호와 기대값 발생부가 발생시킨 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 아이(EYE) 개구도(開口度) 검출부와, 아이 개구도 검출부가 검출한 지연 시간의 범위에 기초하여, 당해 통신 디바이스의 양부 판정을 수행하는 양부 판정부를 더 포함하여도 좋다.

가변 지연부는, 수신부가 수신한 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 주기 이상의 가변 범위를 포함하여도 좋다. 기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생부와, 기준 클록 발생부가 발생시킨 기준 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성부와, 수신부에 전기적으로 접속되며, 시험 신호 생성부가 생성한 시험 신호를 수신부에 대하여 송신하는 송신부를 더 포함하여도 좋다.

본 발명의 제4 형태에 의하면, 통신 디바이스에 있어서, 지연 시간을 순차적으로 변화시키면서, 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 발생시키는 가변 지연부와, 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성부와, 시험 신호 생성부가 생성한 시험 신호를 송신하는 송신부와, 송신부에 전기적으로 접속되며, 송신부가 송신한 시험 신호를 수신하는 수신부와, 수신부가 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시킨 기대값 발생부와, 수신부가 수신한 시험 신호를, 기대값 발생부가 발생시킨 기대값과 순차적으로 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 순차적으로 출력하는 기대값 비교부를 포함한다.

본 발명의 제5 형태에 의하면, 기준 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를 송신하는 송신 유닛을 시험하는 시험 시스템에 있어서, 송신 유닛이 송신한 시험 신호를 수신하는 수신부와, 지연 시간을 순차적으로 변화시키면서, 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 발생시키는 가변 지연부와, 가변 지연부가 발생시킨 지연 클록에 기초하여, 수신부가 수신한 시험 신호를 지연시키는 시험 신호 지연부와, 수신부가 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생부와, 시험 신호 지연부가 지연시킨 시험 신호를, 기대값 발생부가 발생시킨 기대값과 순차적으로 비교하며, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 순차적으로 출력하는 기대값 비교부와, 가변 지연부에 의한 기준 클록의 지연 시간을 소정 시간마다 변화시키는 가변 지연 제어부와, 기대값 비교부가 순차적으로 출력한 비교 결과를 소정 시간마다 보유하고, 당해 소정 시간내에 있어서 시험 신호가 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 비교 결과를 기대값 비교부가 적어도 하나 출력한 경우, 시험 신호가 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 비교 결과를 출력하는 비교 결과 보유부와, 비교 결과 보유부가 출력한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 시험 신호 지연부가 지연시킨 시험 신호와 기대값 발생부가 발생시킨 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 아이 개구도 검출부와, 아이 개구도 검출부가 검출한 지연 시간의 범위에 기초하여, 송신 유닛의 양부 판정을 수행하는 양부 판정부를 포함한다.

수신부, 기대값 비교부, 기대값 발생부 및 비교 결과 보유부를 포함하는 수신 유닛을 더 포함하고, 수신 유닛은, 당해 시험 시스템에 대하여 탈착 가능하게 설치되어도 좋다.

또한, 상기의 발명의 개요는, 본 발명의 필요한 특징의 전체를 열거한 것은 아니며, 이들의 특징군의 서브콤비네이션도 또한 발명이 될 수 있다.

[발명의 효과]

본 발명의 시험 방법에 의하면, 시험 신호의 지연 시간을 변화시키면서, 시험 신호와 기대값과의 비교를 수행함으로써, 지터 특성의 영향이 고려된 아이(EYE) 개구도(開口度)를 검출할 수 있으며, 통신 디바이스의 양부 판정을 아이 개구도(開口度)에 기초하여 정밀도 높게 수행할 수 있다.

도 1은, 시험 시스템 10의 구성의 일례를 도시한 도면이다.

도 2는, 아이 개구도의 검출 방법의 일례를 도시한 도면이다.

도 3은, 시험 시스템 10에 의한 통신 디바이스의 시험 방법의 일례를 도시한 도면이다.

도 4는, 수신 유닛 40을 복수 포함하는 통신 디바이스의 구성의 일례를 도시한 도면이다.

도 5는, 비교 결과 격납부 220의 구성의 일례를 도시한 도면이다.

도 6은, 시험 시스템 60의 구성의 일례를 도시한 도면이다.

도 7은, 시험 시스템 70의 구성의 일례를 도시한 도면이다.

<부호의 설명>

10 시험 시스템

20 시험 제어 장치

30 송신 유닛

40 수신 유닛

60 시험 시스템

62 송신 유닛

64 수신 유닛

66 시험 제어 장치

70 시험 시스템

72 송신 유닛

74 수신 유닛

76 시험 제어 장치

200 기준 클록 발생부

210 제어 신호 송신부

220 비교 결과 격납부

230 아이 개구도 검출부

240 양부 판정부

250 가변 지연 제어부

260 가변 지연부

300 시험 신호 생성부

310 논리곱 회로

320 논리합 회로

330 드라이버

340 가변 지연 제어부

350 가변 지연부

400 수신기

410 가변 지연 제어부

420 가변 지연부

430 시험 신호 지연부

440 기대값 발생부

450 기대값 비교부

460 비교 결과 보유부

500 유닛 간격

520 아이 개구도

이하, 발명의 실시 형태를 통하여 본 발명을 설명하지만, 이하의 실시 형태는 청구의 범위에 기재된 발명을 한정하는 것은 아니며, 또 실시 형태 중에서 설명 되어 있는 특징의 조합의 전부가 발명의 해결 수단으로 필수적인 것으로 한정되지는 않는다.

도 1은, 본 발명의 제1 실시 형태에 관한 시험 시스템 10의 구성의 일례를 도시한 도면이다. 본 실시 형태에 관한 시험 시스템 10은, 송신 유닛 30 및/또는 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스에 대하여 실제 동작 주파수에서의 신호 전송 시험을 수행함으로써, 통신 디바이스의 실제 동작 주파수에서의 아이 개구도를 의사적으로 검출하고, 통신 디바이스의 양부 판정을 수행하는 것을 목적으로 한다.

시험 시스템 10은, 시험 신호를 생성하여 송신하는 송신 유닛 30과, 송신 유닛 30이 송신한 시험 신호를 수신하여 기대값과 비교하는 수신 유닛 40과, 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40에 의한 시험 동작을 제어하는 시험 제어 장치 20을 포함한다. 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40은, 하나의 통신 디바이스 상에 설치되며, 소위 루프 백(loop back) 접속에 의하여 전기적으로 접속되어도 좋으며, 서로 다른 통신 디바이스에 각각 설치되어, 통신 디바이스 사이에서 전기적으로 접속되어도 좋다.

시험 제어 장치 20은, 기준 클록 발생부 200 및 제어 신호 송신부 210을 포함한다. 기준 클록 발생부 200은, 기준 클록을 발생시키고, 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40에 공급한다. 예를 들면, 기준 클록 발생부 200은, 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40의 실제 동작 주파수의 기준 클록을 발생시킨다. 기준 클록 발생부 200은, 예를 들면, 퍼포먼스 보드(performance board) 위에 갖추어진 수정 발진기나 신호 생성기나, 시험 시스템 10 내부에 편입된 발진 회로이다. 또한, 기준 클록 발생부 200은, 송신 유닛 30 및/또는 수신 유닛 40이 설치된 통신 디바이스 상에 설치되어 도 좋으며, 시험 제어 장치 20은, 통신 디바이스 상에 설치된 기준 클록 발생부 200이 발생시킨 기준 클록의 주파수 등의 제어를 수행하여도 좋다. 제어 신호 송신부 210은, 송신 유닛 30에 시험 신호의 송신을 지시하여야 할 제어 신호를 생성하여 송신 유닛 30으로 송신한다. 예를 들면, 제어 신호 송신부 210은, 시험 동작시에는 논리값 1의 제어 신호를 송신하고, 통상 동작을 수행하는 비시험 동작시에는 논리값 0의 제어 신호를 송신한다.

송신 유닛 30은, 시험 신호 생성부 300, 논리곱 회로 310, 논리합 회로 320, 및 드라이버 330을 포함한다. 시험 신호 생성부 300은, 기준 클록 발생부 200이 발생시킨 기준 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하고, 논리곱 회로 310으로 출력한다. 예를 들면, 시험 신호 생성부 300은, LFSR(Linear Feedback Shift Register)와 같은 PRBS(Pseudo Random Bit Stream or Sequences) 발생기 등의 패턴 생성 다항식 회로이다.

논리곱 회로 310은, 제어 신호 송신부 210으로부터 송신된 제어 신호와, 시험 신호 생성부 300이 생성한 시험 신호와의 논리곱 연산을 수행하며, 논리합 회로 320으로 출력한다. 즉, 제어 신호가 논리값 1인 시험 동작시에 있어서, 논리곱 회로 310은, 시험 신호 생성부 300이 생성한 시험 신호를 논리합 회로 320으로 출력한다. 한편, 제어 신호가 논리값 0인 비시험 동작시에 있어서, 논리곱 회로 310은, 항상 논리값 0을 논리합 회로 320으로 출력한다. 그리고, 논리합 회로 320은, 비시험 동작시에 있어서 송신 유닛 30 내부에서 생성된 전송 신호와, 논리곱 회로 310의 출력의 논리합 연산을 수행하여, 드라이버 330으로 출력한다. 즉, 시험 동 작시에 있어서, 논리합 회로 320은, 논리곱 회로 310으로부터 출력된 시험 신호를 드라이버 330으로 출력한다. 한편, 비시험 동작시에 있어서, 논리합 회로 320은, 송신 유닛 30 내부에서 생성된 전송 신호를 드라이버 330으로 출력한다. 드라이버 330은, 본 발명의 송신부의 일예이며, 논리합 회로 320으로부터 수취한 송신 신호 또는 시험 신호를 수신 유닛 40으로 송신한다.

수신 유닛 40은, 수신기 400, 가변 지연 제어부 410, 가변 지연부 420, 시험 신호 지연부 430, 기대값 발생부 440, 기대값 비교부 450, 및 비교 결과 보유부 460을 포함한다. 수신기 400은, 본 발명의 수신부의 일예이며, 드라이버 330이 송신한 전송 신호 또는 시험 신호를 수신한다. 가변 지연 제어부 410은, 가변 지연부 420에 의한 기준 클록의 지연 시간을 제어한다. 가변 지연 제어부 410은, 시험 제어 장치 20의 지시가 있을 때마다, 또는 미리 정해진 소정 시간마다 지연 시간을 변경하여 설정하여도 좋다. 가변 지연부 420은, 예를 들면 가변 지연 회로이며, 기준 클록 발생부 200으로부터 수신된 기준 클록을 가변 지연 제어부 410의 제어에 기초하여 지연시켜 지연 클록을 생성한다. 또한, 가변 지연부 420은, 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 주기인 유닛 간격 이상의 가변 범위를 가지는 것이 바람직하다.

시험 신호 지연부 430은, 예를 들면 플립플롭 회로이며, 가변 지연부 420이 생성한 지연 클록에 기초하여, 수신기 400이 수신한 시험 신호를 지연시키고, 기대값 비교부 450으로 출력한다. 기대값 발생부 440은, 수신기 400이 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을, 기준 클록 발생부 200이 발생시킨 기준 클록에 기초하여 발 생시키고, 기대값 비교부 450으로 출력한다. 기대값 비교부 450은, 시험 신호 지연부 430이 출력한 시험 신호를, 기대값 발생부 440이 발생시킨 기대값과 순차적으로 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 비교 결과 보유부 460으로 순차적으로 출력한다. 예를 들면, 기대값 비교부 450은, 시험 신호와 기대값의 배타적 논리합을 출력하는 배타적 논리합 회로이다. 비교 결과 보유부 460은, 기대값 비교부 450이 순차적으로 출력한 시험 신호와 기대값의 비교 결과를 소정 시간마다 보유하고, 소정 시간 내에 있어서 시험 신호가 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 비교 결과를 기대값 비교부 450이 적어도 하나 출력한 경우에, 시험 신호가 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 비교 결과를 출력하고, 비교 결과 격납부 220에 공급한다.

또한, 시험 제어 장치 20은, 비교 결과 격납부 220, 아이 개구도 검출부 230, 및 양부 판정부 240을 더 포함한다. 비교 결과 격납부 220은, 기대값 비교부 450에 의한 시험 신호와 기대값의 비교 결과를, 당해 시험 신호가 지연된 지연 시간에 대응시켜 격납한다. 아이 개구도 검출부 230은, 비교 결과 격납부 220이 격납하는 지연 시간마다의 지연된 시험 신호와 기대값의 비교 결과에 기초하여, 지연된 시험 신호와 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 아이 개구도로서 검출한다. 복수의 아이 개구도가 검출된 경우에는, 아이 개구도 검출부 230은, 복수의 아이 개구도 중에서 가장 좁은 아이 개구도를 검출 결과로 하여도 좋다. 양부 판정부 240은, 아이 개구도 검출부 230이 검출한 아이 개구도에 기초하여, 송신 유닛 30 또는 수신 유닛 40의 적어도 일방의 양부 판정을 수행한다. 구체적으로는, 양부 판정부 240은, 아이 개구도가 미리 정해진 규정값 이상인가 아닌가에 기초하여 양부 판정을 수행한다.

또한, 도 1에 있어서 가변 지연부 420은 지연 클록을 시험 신호 지연부 430에 공급하지만, 다른 실시예에 있어서는, 가변 지연부 420은 지연 클록을 기대값 발생부 440에 공급하고, 기대값 발생부 440이 지연 클록에 기초하여 기대값을 발생시켜도 좋다. 또한, 기대값 발생부 440과 기대값 비교부 450의 사이에 플립플롭 회로를 배치하고, 가변 지연부 420은 지연 클록을 플립플롭 회로에 공급하며, 기대값 발생부 440이 발생시킨 기대값을 플립플롭 회로가 지연 클록에 기초하여 지연시켜 기대값 비교부 450에 공급하여도 좋다. 또한, 송신 유닛 30 또는 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스는, 시험 제어 장치 20이 포함하는 각 구성 요소를 포함하고, 자기 진단(BIST) 기능을 가져도 좋다.

본 실시 형태의 시험 시스템 10에 의하면, 시험 신호의 지연 시간을 변화시키면서, 시험 신호와 기대값의 비교를 수행함으로써, 지터 특성의 영향이 고려된 아이 개구도를 검출할 수 있다. 이렇게, 지터 특성을 고려한 시험을 수행할 수 있으므로, 작은 외란 요소에 의하여 비트 에러가 발생하는 통신 디바이스를 불량으로서 검출하는 것과 같이, 보다 정밀도가 높은 시험 결과를 얻을 수 있다. 또한, 본 실시 형태의 시험 시스템 10에 의하면, 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40의 논리 회로를 실제 동작 주파수에서 동작시킴으로써, 기존의 IC 테스터를 사용하여, 소위 앳 스피드 시험(At-speed test; 피시험 디바이스의 실제 동작 속도에서의 시험)을 실현할 수 있다.

또한, 본 실시 형태의 시험 시스템 10에 있어서, 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스는 피시험 디바이스이며, 시험 제어 장치 20을 포함하는 시험 장치의 테스트 헤드에 대하여 탈착 가능하게 설치된다. 즉, 고속으로 동작하는 것이 필요한 시험 신호 지연부 430, 기대값 비교부 450, 및 비교 결과 보유부 460을 포함하는 수신 유닛 40은, 시험 시스템 10에 대하여 탈착 가능하게 설치된다. 그 때문에, 시험 제어 장치 20은, 비교적 저속으로 동작할 수 있으면 소망의 기능을 발휘할 수 있으므로, 시험 제어 장치 20을 저렴하게 제조하여 제공할 수 있다.

도 2는, 본 실시 형태에 관한 아이 개구도의 검출 방법의 일례를 도시한 도면이다. 도 2(a)는, 수신기 400이 수신한 시험 신호를 복수 중첩시킨 아이·다이어그램(Eye·Diagram)의 일예를 도시한다. 수신기 400은, 송신 유닛 30에 있어서 시험 신호 생성부 300이 생성하여 드라이버 330이 송신한 시험 신호에, 여러가지 외란 요소를 원인으로 하는 지터 성분이 중첩된 것을 수신한다.

도 2(b)는, 가변 지연부 420이 생성한 지연 클록의 클록 스위프의 모양의 일예를 도시한다. 시험 신호 지연부 430은, 가변 지연부 420이 지연 시간을 변화시키면서 순차적으로 생성한 지연 클록에 기초하여, 수신기 400이 수신한 시험 신호를 지연시켜 기대값 비교부 450으로 공급한다. 지연 시간을 변화시키면서 기대값 비교부 450에 시험 신호를 공급함으로써, 의사적으로 시험 신호가 포함된 복수의 데이터 유닛에 있어서의 복수의 서로 다른 타이밍에 있어서, 시험 신호와 기대값을 비교시킨다. 예를 들면, 가변 지연부 420은, 유닛 간격 500을 수십등분한 분해능 을 가지며, 하나의 유닛 간격 500에 있어서 시험 신호와 기대값과의 비교를 수십회 수행시킨다. 구체적으로는, 유닛 간격 500이 500ps인 경우, 가변 지연부 420은, 10ps 정도의 분해능을 가지는 것이 바람직하다.

도 2(c)는, 가변 지연부 설정 지연 시간과 기대값 비교부 450의 비교 결과와의 관계의 일례를 도시한다. 비교 결과 격납부 220은, 가변 지연부 420에 의한 지연 시간인 가변 지연부 설정 지연 시간에 대응시켜, 기대값 비교부 450의 비교 결과를 격납한다. 여기에서는, 시험 신호가 포함하는 복수의 데이터 유닛에 있어서의 복수의 서로 다른 타이밍 중에서, 시험 신호와 기대값이 일치하지 않는 타이밍의 기대값 비교부 450에 의한 비교 결과를 ERROR로서, 시험 신호와 기대값이 일치하는 타이밍의 기대값 비교부 450에 의한 비교 결과를 NO ERROR로 표시한다. 아이 개구도 검출부 230은, 비교 결과 격납부 220이 격납한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 시험 신호와 기대값이 일치(NO ERROR)하는 지연 시간의 범위, 즉 지터 성분이 시험 신호의 전송에 영향을 주지 않은 지연 시간의 범위를 아이 개구도 520으로서 검출한다.

본 실시 형태의 시험 시스템 10에 의하면, 가변 지연부 420에 의한 기준 클록의 지연 시간을 변화시킴으로써, 의사적으로 시험 신호를 포함하는 데이터 유닛에 있어서의 복수의 서로 다른 타이밍에 있어서 시험 신호와 기대값과의 비교가 가능하므로, 시험 신호의 아이 개구도 520을 정확하게 특정할 수 있다. 또한, 아이 개구도 520에 기초하여 송신 유닛 30 또는 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스의 양부 판정을 수행함으로써, 작은 외란 요소에 의하여 비트 에러가 발생하는 통 신 디바이스의 불량을 정밀도 높게 검출할 수 있다.

도 3은, 본 실시 형태에 관한 시험 시스템 10에 의한 통신 디바이스의 시험 방법의 일례를 도시한 도면이다. 우선 시험 제어 장치 20에 있어서, 제어 신호 송신부 210은, 송신 유닛 30으로부터 시험 신호를 송신시켜야 할 송신 유닛 30으로 제어 신호를 송신한다(S300). 또한, 기준 클록 발생부 200은, 기준 클록을 발생시키고, 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40으로 공급한다(S305). 또한, 시험 제어 장치 20은, 수신 유닛 40이 갖는 가변 지연 제어부 410에 지연 시간을 설정한다(S310).

또한, 송신 유닛 30에 있어서, 시험 신호 생성부 300은, 기준 클록 발생부 200으로부터 기준 클록을 수취하면, 기준 클록에 기초하여 시험 신호를 생성한다(s315). 그리고, 드라이버 330은, S315에 있어서 시험 신호 생성부 300에 의하여생성된 시험 신호를 수신 유닛 40으로 송신한다(S320).

또한, 수신 유닛 40에 있어서, 기대값 발생부 440은, 기준 클록 발생부 200으로부터 기준 클록을 수취하면, S335에 있어서 수신기 400이 수신하여야 할 시험 신호의 기대값을 기준 클록에 기초하여 발생시킨다(S325). 또한, 가변 지연 제어부 410은, 시험 제어 장치 20에 의하여 설정된 지연 시간에 기초하여, 가변 지연부 420을 제어하고, 가변 지연부 420은, 기준 클록을 지연시킨 지연 클록을 생성한다(S330). 그리고, 수신기 400은, S320에 있어서 드라이버 330이 송신한 시험 신호를 수신한다(S335). 그리고, 시험 신호 지연부 430은, 가변 지연부 420이 생성한 지연 클록에 기초하여, S335에 있어서 수신기 400이 수신한 시험 신호를 기준 클록에 대하여 지연시킨다(S340). 그리고, 기대값 비교부 450은, S340에 있어서 지연 된 시험 신호를, S325에 있어서 발생된 기대값과 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 출력한다(S345). 그리고, 비교 결과 보유부 460은, 기대값 비교부 450에 의한 비교 결과를 보유한다(S350).

다음으로, 시험 제어 장치 20이 가변 지연 제어부 410에 설정한 지연 시간에 의하여 지연된 시험 신호와 기대값과의 비교를 개시하여서부터, 소정의 시간이 경과하였는가 어떤가를 판단한다(S355). 그리고, 소정의 시간이 경과하지 않는다고 판단한 경우(S355-NO), 가변 지연부 420에 의한 지연 시간을 보유한 채로, S345 및 S350을 반복하여 수행한다. 즉, 소정의 시간 내에 있어서 수신기 400이 수신한 시험 신호가 포함된 복수의 데이터 유닛을, 유닛 간격 500 내의 동일한 타이밍에서 기대값과 순차적으로 비교하여 비교 결과를 보유한다. 한편, 소정의 시간이 경과하고 있다고 판단된 경우(S355-YES), 비교 결과 보유부 460은, 반복하여 수행된 시험 신호와 기대값의 비교 결과 중에서, 복수의 데이터 유닛의 적어도 하나가 불일치한다는 것을 가리키는 경우에는 시험 신호와 기대값이 불일치한다는 것을 가리키는 비교 결과를 출력하고, 전체 비교 결과가 일치를 가리키는 경우에는 시험 신호와 기대값이 일치한다는 것을 가리키는 비교 결과를 출력한다(S360).

다음으로, 시험 제어 장치 20에 있어서, 비교 결과 격납부 220은, S340에 있어서 시험 신호가 지연된 지연 시간에 대응되어, S360에 있어서 비교 결과 보유부 460이 출력한 비교 결과를 격납한다(S370). 그리고, 시험 제어 장치 20은, 가변 지연 제어부 410에 설정한 지연 시간의 소정의 범위 내에서의 변화가 완료되었는가 아닌가를 판단한다(S375). 지연 시간의 소정의 범위 내에서의 변화가 완료되어 있 지 않은 경우(S375-NO), 시험 제어 장치 20은, 가변 지연 제어부 410에 새로운 지연 시간을 설정하고, 가변 지연부 420에 의한 시험 신호의 지연 시간을 변경하고, S310~S370을 다시 수행시킨다. 그리고, 지연 시간의 소정의 범위 내에서의 변화가 완료될 때까지, 즉 유닛 간격 500 이상의 범위까지 지연 시간을 변화시키면서, S310~S370을 반복하여 수행하고, 비교 결과 격납부 220은, 지연 시간마다 비교 결과를 격납한다. 한편, 지연 시간의 소정의 범위 내에서의 변화가 완료되어 있는 경우(S375-YES), 아이 개구도 검출부 230은, 비교 결과 격납부 220이 격납한 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, S340에 있어서 지연된 시험 신호와, S325에 있어서 발생된 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 아이 개구도로서 검출한다(S380). 그리고, 양부 판정부 240은, S380에 있어서 검출된 아이 개구도가 미리 정해진 규정값 이상인가 아닌가에 기초하여, 드라이버 330 또는 수신기 400을 포함하는 통신 디바이스의 양부 판정을 수행한다(S385).

본 실시 형태의 시험 방법에 의하면, 시험 신호의 지연 시간을 일정하게 한 채로 시험 신호와 기대값을 복수회 비교하고, 또한 지연 시간을 변화시켜서부터 일정하게 한 채로 시험 신호와 기대값을 복수회 비교하는 것을 반복함으로써, 지터 성분에 의한 비트 에러를 정확하게 측정할 수 있으므로, 지터 특성의 영향이 고려된 아이 개구도를 정밀도 높게 검출할 수 있다.

도 4는, 본 실시 형태에 관한 수신 유닛 40을 복수 포함하는 통신 디바이스의 구성의 일례를 도시한 도면이다. 도 5는, 본 실시 형태에 관한 비교 결과 격납부 220의 구성의 일례를 도시한 도면이다. 시험 시스템 10은, 복수의 송신 유닛 30 또는 복수의 수신 유닛 40을 포함하여도 좋다. 즉, 시험 시스템 10은, 복수의 송신 유닛 30 또는 복수의 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스를 시험하여도 좋다. 복수의 송신 유닛 30 및 복수의 수신 유닛 40의 각각은, 도 1 내지 도 3에 개시된 송신 유닛 30 및 수신 유닛 40과 동일한 구성 및 기능을 가지므로 설명을 생략한다.

S370에 있어서, 비교 결과 격납부 220은, 시험 신호를 지연시킨 지연 시간에 대응시켜, 복수의 수신 유닛 40이 각각 포함하는 복수의 비교 결과 보유부 460의 각각으로부터 출력된 시험 신호와 기대값의 비교 결과를 격납한다. 그리고, S380에 있어서, 아이 개구도 검출부 230은, 복수의 송신 유닛 30이 각각 포함하는 복수의 드라이버 330, 또는 복수의 수신 유닛 40이 각각 포함하는 복수의 수신기 400에 관하여 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 복수의 드라이버 330 또는 복수의 수신기 400의 전체에 있어서, S340에 있어서 지연된 시험 신호와 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 아이 개구도로서 검출한다. 그리고, S385에 있어서, 양부 판정부 240은, 아이 개구도 검출부 230이 검출한 아이 개구도가, 미리 정해진 규정값 이상인가 아닌가에 기초하여, 복수의 송신 유닛 30 또는 복수의 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스의 양부 판정을 수행한다.

구체적으로는, 도 5에 도시된 바와 같이, 비교 결과 격납부 220은, 복수의 드라이버 330 또는 복수의 수신기 400의 각각의 채널에 관하여, 시험 신호 지연부 430에 의한 지연 시간마다의, 시험 신호와 기대값의 비교 결과를 격납한다. 본 실시예에서는, 가변 지연 제어부 410은, 0ps로부터 10ps 마다 지연 시간을 설정하고, S310~S370을 반복하여 수행하고 있다. 1 채널에서는 지연 시간 0~80ps까지의 범위에서 비교 결과가 불일치한다는 것을 나타내며, 2 채널에서는 지연 시간 0~20ps까지의 범위에서 비교 결과가 불일치한다는 것을 나타내며, 3 채널에서는 지연 시간 0~40ps까지의 범위에서 비교 결과가 불일치한다는 것을 나타낸다. 따라서, 아이 개구도 검출부 230은, 비교 결과 격납부 220이 격납한 비교 결과에 기초하여, 전체 채널에 있어서 비교 결과가 일치한다는 것을 나타내는 최소의 지연 시간인 90ps를 아이 개구도 520의 일단으로서 검출한다.

이상과 같이, 본 실시 형태에 관한 시험 방법에 의하면, 복수의 송신 유닛 30 또는 복수의 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스의 시험에 있어서, 복수의 채널의 전부에 있어서 정상으로 동작할 수 있는 아이 개구도 520을 적확하게 검출할 수 있다. 그 때문에, 복수의 송신 유닛 30 또는 복수의 수신 유닛 40을 포함하는 통신 디바이스의 양부 판정을 정밀도 높게 수행할 수 있다.

도 6은, 본 발명의 제2 실시 형태에 관한 시험 시스템 60의 구성의 일례를 도시한 도면이다. 제1 실시 형태의 시험 시스템 10에서는, 송신 유닛 30에 있어서 기준 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를, 수신 유닛 40에 있어서 지연 클록에 기초하여 지연시키고, 기준 클록에 기초하여 발생된 기대값과 비교함으로써, 시험 신호의 아이 개구도를 검출하였으나, 제2 실시 형태의 시험 시스템 60에서는, 송신 유닛 62에 있어서 지연 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를, 수신 유닛 64에 있어서 기준 클록에 기초하여 발생된 기대값과 비교함으로써, 시험 신호의 아이 개구도를 검출한다. 이제, 이하에 설명하는 부분을 제외하고, 제2 실시 형태의 시험 시 스템 60은, 제1 실시 형태의 시험 시스템 10과 동일한 구성 및 기능을 가지므로 설명을 생략한다.

송신 유닛 62는, 제1 실시 형태의 송신 유닛 30의 구성에 추가하여, 가변 지연 제어부 340 및 가변 지연부 350을 포함한다. 가변 지연 제어부 340은, 가변 지연부 350에 의한 기준 클록의 지연 시간을 제어한다. 가변 지연 제어부 340은, 시험 제어 장치 20의 지시가 있을 때마다, 또는 미리 정해진 소정 시간마다 지연 시간을 변경하여 설정하여도 좋다. 가변 지연부 350은, 예를 들면 가변 지연 회로이며, 기준 클록 발생부 200으로부터 수신한 기준 클록을 가변 지연 제어부 340의 제어에 기초하여 지연시켜 지연 클록을 생성한다. 이제, 가변 지연부 350은, 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 유닛 간격 이상의 가변 범위를 갖는 것이 바람직하다. 그리고, 시험 신호 생성부 300은, 가변 지연부 350이 출력한 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성한다. 이렇게, 가변 지연부 350에 의한 기준 클록의 지연 시간을 변화시키면서, 시험 신호의 생성, 시험 신호의 송신, 시험 신호의 수신, 시험 신호와 기대값의 비교, 및 비교 결과의 격납을 반복하여 수행함으로써, 시험 제어 장치 66은, 제1 실시 형태의 시험 제어 장치 20과 유사하게 지터 특성의 영향이 고려된 아이 개구도를 검출할 수 있다.

또한, 도 6에 있어서 시험 신호 생성부 300은, 가변 지연부 350이 생성한 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하지만, 다른 예에 있어서는, 시험 신호 생성부 300과 드라이버 330의 사이에 플립플롭 회로를 배치하고, 플립플롭 회로에 가변 지연부 350이 생성한 지연 클록을 공급하고, 시험 신호 생성부 300이 기준 클록에 기초하여 생성한 시험 신호를 플립플롭 회로가 지연 클록에 기초하여 지연시켜 드라이버 330에 공급하여도 좋다.

또한, 본 실시 형태의 시험 시스템 60에 있어서, 송신 유닛 62 및 수신 유닛 64를 포함하는 통신 디바이스는 피시험 디바이스이며, 시험 제어 장치 66을 포함하는 시험 장치의 테스터 헤드에 대하여 탈착 가능하게 설치된다. 즉, 고속으로 동작하는 것이 필요한 기대값 비교부 450 및 비교 결과 보유부 460을 포함하는 수신 유닛 64는, 시험 시스템 60에 대하여 탈착 가능하게 설치된다. 그 때문에, 시험 제어 장치 66은, 비교적 저속으로 동작하는 것이 가능하다면 소망의 기능을 발휘할 수 있으므로, 시험 제어 장치 66을 저렴하게 제조하여 제공할 수 있다.

도 7은, 본 발명의 제3 실시 형태에 관한 시험 시스템 70의 구성의 일례를 도시한 도면이다. 제1 실시 형태의 시험 시스템 10은, 수신 유닛 40이 가변 지연 제어부 410 및 가변 지연부 420을 포함하며, 기준 클록 발생부 200이 발생시킨 기준 클록을 가변 지연부 420이 지연시켜 지연 클록을 생성하여 시험 신호 지연부 430에 공급하였으나, 제3 실시 형태의 시험 시스템 70에서는, 시험 제어 장치 76이 가변 지연 제어부 250 및 가변 지연부 260을 포함하고, 기준 클록 발생부 200이 발생시킨 기준 클록을 가변 지연부 260이 지연시켜 지연 클록을 생성하여 수신 유닛 74가 포함하는 시험 신호 지연부 430에 공급한다. 또한, 이하에 설명하는 부분을 제외하고, 제3 실시 형태의 시험 시스템 70은, 제1 실시 형태의 시험 시스템 10과 동일한 구성 및 기능을 가지므로 설명을 생략한다.

시험 제어 장치 76은, 제1 실시 형태의 시험 제어 장치 20의 구성에 추가하 여, 가변 지연 제어부 250 및 가변 지연부 260을 포함한다. 가변 지연 제어부 250은, 가변 지연부 260에 의한 기준 클록의 지연 시간을 제어한다. 가변 지연 제어부 250은, 미리 정해진 소정 시간마다 지연 시간을 변경하여 설정하여도 좋다. 가변 지연부 260은, 예를 들면 가변 지연 회로이며, 기준 클록 발생부 200으로부터 수신한 기준 클록을 가변 지연 제어부 250의 제어에 기초하여 지연시켜 지연 클록을 생성한다. 또한, 가변 지연부 260은, 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 유닛 간격 이상의 가변 범위를 포함하는 것이 바람직하다. 그리고, 시험 신호 지연부 430은, 가변 지연부 260이 생성한 지연 클록에 기초하여, 수신 유닛 74가 포함하는 수신기 400이 수신한 시험 신호를 지연시키고, 기대값 비교부 450으로 출력한다. 이렇게, 시험 제어 장치 76이 가변 지연 제어부 250 및 가변 지연부 260을 포함하고, 기준 클록의 지연 시간을 변화시키면서 지연 클록을 생성함으로써, 시험 제어 장치 76은, 가변 지연 제어부 및 가변 지연부를 포함하지 않는 통신 디바이스에 관하여, 제1 실시 형태의 시험 제어 장치 20과 유사하게 지터 특성의 영향이 고려된 아이 개구도를 검출할 수 있다.

또한, 도 7에 있어서 가변 지연부 260은 지연 클록을 시험 신호 지연부 430에 공급하지만, 다른 실시예에 있어서는, 가변 지연부 260은 지연 클록을 기대값 발생부 440으로 공급하고, 기대값 발생부 440이 지연 클록에 기초하여 기대값을 발생시켜도 좋다. 또한, 기대값 발생부 440과 기대값 비교부 450의 사이에 플립플롭 회로를 배치하고, 가변 지연부 420은 지연 클록을 플립플롭 회로에 공급하고, 기대값 발생부 440이 발생시킨 기대값을 플립플롭 회로가 지연 클록에 기초하여 지연시 켜 기대값 비교부 450으로 공급하여도 좋다. 또한, 가변 지연부 260은, 지연 클록을 시험 신호 생성부 300으로 공급하고, 시험 신호 생성부 300이 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하여도 좋다. 또한, 시험 신호 생성부 300과 드라이버 330의 사이에 플립플롭 회로를 배치하고, 플립플롭 회로에 가변 지연부 260이 생성한 지연 클록을 공급하고, 시험 신호 생성부 300이 기준 클록에 기초하여 생성한 시험 신호를 지연 클록에 기초하여 플립플롭 회로가 지연시켜 드라이버 330으로 공급하여도 좋다.

또한, 본 실시 형태의 시험 시스템 70에 있어서, 송신 유닛 72 및 수신 유닛 74를 포함하는 통신 디바이스는, 피시험 디바이스이며, 시험 제어 장치 76을 포함하는 시험 장치의 테스터 헤드에 대하여 탈착 가능하게 설치된다. 즉, 고속으로 동작하는 것이 필요한 시험 신호 지연부 430, 기대값 비교부 450, 및 비교 결과 보유부 460을 포함하는 수신 유닛 74는, 시험 시스템 70에 대하여 탈착 가능하게 설치된다. 그 때문에, 시험 제어 장치 76은, 비교적 저속으로 동작할 수 있으면 소망의 기능을 발휘할 수 있으므로, 시험 제어 장치 76을 저렴하게 제조하여 공급할 수 있다.

이상 본 발명의 실시 형태를 이용하여 설명하였으나, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시의 형태에 기재된 범위로는 한정되지 않는다. 상기 실시의 형태에, 다양한 변경 또는 개량을 가할 수 있다. 그러한 변경 또는 개량을 가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있다는 것이, 청구의 범위의 개재로부터 명백하다.

상기 설명으로부터 명백한 바와 같이, 시험 신호의 지연 시간을 변화시키면서, 시험 신호와 기대값과의 비교를 수행함으로써, 지터 특성의 영향이 고려된 아이 개구도를 검출할 수 있으며, 통신 디바이스의 양부 판정을 아이 개구도에 기초하여 정밀도 높게 수행할 수 있다.

Claims

통신 디바이스를 시험하는 시험 방법에 있어서,

기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생 단계와,

상기 기준 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성 단계와,

상기 시험 신호 생성 단계에 있어서 생성된 상기 시험 신호를 송신부가 송신하는 송신 단계와,

상기 송신 단계에 있어서 상기 송신부가 송신한 상기 시험 신호를 수신부가 수신하는 수신 단계와,

상기 수신 단계에 있어서 상기 수신부가 수신하여야 할 상기 시험 신호의 기대값을 상기 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생 단계와,

상기 수신 단계에 있어서 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호를 상기 기준 클록에 대하여 지연시키는 지연 단계와,

상기 지연 단계에 있어서 지연된 상기 시험 신호를, 상기 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 상기 기대값과 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 출력하는 비교 단계와,

상기 지연 단계에 있어서 상기 시험 신호가 지연된 지연 시간에 대응시켜, 상기 비교 단계에 있어서의 상기 비교 결과를 격납하는 비교 결과 격납 단계와,

상기 지연 단계에 있어서의 상기 시험 신호의 지연의 상기 지연 시간을 변화시키면서, 상기 지연 단계, 상기 비교 단계, 및 상기 비교 결과 격납 단계를 반복 하여 수행하며, 상기 지연 시간마다 상기 비교 결과를 격납하는 반복 단계와,

상기 반복 단계에 있어서 격납한 상기 지연 시간마다의 상기 비교 결과에 기초하여, 상기 지연 단계에 있어서 지연된 상기 시험 신호와 상기 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 상기 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 검출 단계와,

상기 검출 단계에 있어서 검출된 상기 지연 시간의 범위에 기초하여, 상기 수신부 또는 상기 송신부의 양부 판정을 수행하는 판정 단계

를 포함하는 시험 방법.
제1항에 있어서,

상기 반복 단계는, 소정 시간마다 상기 지연 단계에 있어서의 상기 시험 신호의 지연의 상기 지연 시간을 변화시키는 단계를 포함하며,

상기 비교 단계는, 상기 소정 시간내에 있어서 상기 시험 신호가 포함하는 복수의 데이터 유닛을 상기 기대값과 순차적으로 비교하는 단계를 포함하며,

상기 비교 결과 격납 단계는, 상기 복수의 데이터 유닛의 적어도 하나가 상기 기대값과 불일치하는 경우에, 상기 수신 단계에 있어서 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호가 상기 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 상기 비교 결과를 격납하는 단계를 포함하는 시험 방법.
제1항에 있어서,

상기 반복 단계는, 상기 지연 단계에 있어서의 상기 지연의 상기 지연 시간을, 상기 시험 신호 생성 단계에 있어서 생성된 상기 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 주기 이상의 범위에서 변화시키는 단계를 포함하는 시험 방법.
제1항에 있어서,

상기 판정 단계는, 상기 검출 단계에 있어서 검출된 상기 지연 시간의 범위가, 미리 정해진 규정값 이상인가 아닌가에 기초하여, 상기 수신부 또는 상기 송신부의 양부 판정을 수행하는 단계를 포함하는 시험 방법.
제1항에 있어서

상기 통신 디바이스는, 복수의 상기 수신부 또는 복수의 상기 송신부를 포함하며,

상기 검출 단계는, 상기 복수의 수신부 또는 상기 복수의 송신부에 관한 상기 지연 시간마다의 상기 비교 결과에 기초하여, 상기 복수의 수신부 또는 상기 복수의 송신부의 전부에 있어서, 상기 지연 단계에 있어서 지연된 상기 시험 신호와 상기 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 상기 기대값이 일치하는 상기 지연 시간의 범위를 검출하는 단계를 포함하는 시험 방법.
통신 디바이스를 시험하는 시험 방법에 있어서,

기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생 단계와,

상기 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 생성하는 지연 클록 생성 단계와,

상기 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성 단계와,

상기 시험 신호 생성 단계에 있어서 생성된 상기 시험 신호를 송신부가 송신한 송신 단계와,

상기 송신 단계에 있어서 상기 송신부가 송신한 상기 시험 신호를 수신부가 수신하는 수신 단계와,

상기 수신 단계에 있어서 상기 수신부가 수신하여야 할 상기 시험 신호의 기대값을 상기 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생 단계와,

상기 수신 단계에 있어서 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호를, 상기 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 상기 기대값과 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 출력하는 비교 단계와,

상기 지연 클록 생성 단계에 있어서 상기 기준 클록이 지연된 지연 시간에 대응시켜, 상기 비교 단계에 있어서의 상기 비교 결과를 격납하는 비교 결과 격납 단계와,

상기 지연 클록 생성 단계에 있어서의 상기 기준 클록의 지연의 상기 지연 시간을 변화시키면서, 상기 시험 신호 생성 단계, 상기 송신 단계, 상기 수신 단계, 상기 비교 단계, 및 상기 비교 결과 격납 단계를 반복하여 수행하며, 상기 지연 시간마다 상기 비교 결과를 격납하는 반복 단계와,

상기 반복 단계에 있어서 격납한 상기 지연 시간마다의 상기 비교 결과에 기초하여, 상기 수신 단계에 있어서 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호와 상기 기대값 발생 단계에 있어서 발생된 상기 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 검출 단계와,

상기 검출 단계에 있어서 검출된 상기 지연 시간의 범위에 기초하여, 상기 수신부 또는 상기 송신부의 양부 판정을 수행하는 판정 단계

를 포함하는 시험 방법.
통신 디바이스에 있어서,

기준 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를 수신하는 수신부와,

지연 시간을 순차적으로 변화시키면서, 상기 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 발생시키는 가변 지연부와,

상기 가변 지연부가 발생시킨 상기 지연 클록에 기초하여, 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호를 지연시키는 시험 신호 지연부와,

상기 수신부가 수신하여야 할 상기 시험 신호의 기대값을 상기 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생부와,

상기 시험 신호 지연부가 지연시킨 상기 시험 신호를, 상기 기대값 발생부가 발생시킨 상기 기대값과 순차적으로 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 순차적으로 출력하는 기대값 비교부

를 포함하는 통신 디바이스.
제7항에 있어서,

상기 가변 지연부에 의한 상기 기준 클록의 상기 지연 시간을 소정 시간마다 변화시키는 가변 지연 제어부와,

상기 기대값 비교부가 순차적으로 출력한 상기 비교 결과를 상기 소정 시간마다 보유하고, 당해 소정 시간 내에 있어서 상기 시험 신호가 상기 기대값과 불일치하는 것을 나타내는 상기 비교 결과를 상기 기대값 비교부가 적어도 하나 출력한 경우, 상기 시험 신호가 상기 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 상기 비교 결과를 출력하는 비교 결과 보유부를 더 포함하는 통신 디바이스.
제8항에 있어서,

상기 비교 결과 보유부가 출력한 상기 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 상기 시험 신호 지연부가 지연시킨 상기 시험 신호와 상기 기대값 발생부가 발생시킨 상기 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 아이(EYE) 개구도(開口度) 검출부와,

상기 아이 개구도 검출부가 검출한 상기 지연 시간의 범위에 기초하여, 당해 통신 디바이스의 양부 판정을 수행하는 양부 판정부를 더 포함하는 통신 디바이스.
제7항에 있어서,

상기 가변 지연부는, 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호가 포함하는 데이터 유닛의 주기 이상의 가변 범위를 포함하는 통신 디바이스.
제7항에 있어서,

상기 기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생부와,

상기 기준 클록 발생부가 발생시킨 상기 기준 클록에 기초하여 상기 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성부와,

상기 수신부에 전기적으로 접속되며, 상기 시험 신호 생성부가 생성한 상기 시험 신호를 상기 수신부에 대하여 송신하는 송신부를 더 포함하는 통신 디바이스.
통신 디바이스에 있어서,

지연 시간을 순차적으로 변화시키면서, 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 발생시키는 가변 지연부와,

상기 지연 클록에 기초하여 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성부와,

상기 시험 신호 생성부가 생성한 상기 시험 신호를 송신하는 송신부와,

상기 송신부에 전기적으로 접속되며, 상기 송신부가 송신한 상기 시험 신호를 수신하는 수신부와,

상기 수신부가 수신하여야 할 상기 시험 신호의 기대값을 상기 기준 클록에 기초하여 발생시킨 기대값 발생부와,

상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호를, 상기 기대값 발생부가 발생시킨 상기 기대값과 순차적으로 비교하고, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 순차적으로 출력하는 기대값 비교부

를 포함하는 통신 디바이스.
기준 클록에 기초하여 생성된 시험 신호를 송신하는 송신 유닛을 시험하는 시험 시스템에 있어서,

상기 송신 유닛이 송신한 상기 시험 신호를 수신하는 수신부와,

지연 시간을 순차적으로 변화시키면서, 상기 기준 클록을 지연시켜 지연 클록을 발생시키는 가변 지연부와,

상기 가변 지연부가 발생시킨 상기 지연 클록에 기초하여, 상기 수신부가 수신한 상기 시험 신호를 지연시키는 시험 신호 지연부와,

상기 수신부가 수신하여야 할 상기 시험 신호의 기대값을 상기 기준 클록에 기초하여 발생시키는 기대값 발생부와,

상기 시험 신호 지연부가 지연시킨 상기 시험 신호를, 상기 기대값 발생부가 발생시킨 상기 기대값과 순차적으로 비교하며, 일치하는가 아닌가를 나타내는 비교 결과를 순차적으로 출력하는 기대값 비교부와,

상기 가변 지연부에 의한 상기 기준 클록의 상기 지연 시간을 소정 시간마다 변화시키는 가변 지연 제어부와,

상기 기대값 비교부가 순차적으로 출력한 상기 비교 결과를 상기 소정 시간마다 보유하고, 당해 소정 시간내에 있어서 상기 시험 신호가 상기 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 상기 비교 결과를 상기 기대값 비교부가 적어도 하나 출력한 경우, 상기 시험 신호가 상기 기대값과 불일치한다는 것을 나타내는 상기 비교 결과를 출력하는 비교 결과 보유부와,

상기 비교 결과 보유부가 출력한 상기 지연 시간마다의 비교 결과에 기초하여, 상기 시험 신호 지연부가 지연시킨 상기 시험 신호와 상기 기대값 발생부가 발생시킨 상기 기대값이 일치하는 지연 시간의 범위를 검출하는 아이 개구도 검출부와,

상기 아이 개구도 검출부가 검출한 상기 지연 시간의 범위에 기초하여, 상기 송신 유닛의 양부 판정을 수행하는 양부 판정부

를 포함하는 시험 시스템.
제13항에 있어서,

상기 수신부, 상기 기대값 비교부, 및 상기 비교 결과 보유부를 포함하는 수신 유닛을 더 포함하고,

상기 수신 유닛은, 당해 시험 시스템에 대하여 탈착 가능하게 설치되는 시험 시스템.