JPH01160237A - 光送信回路及び光受信回路の試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 光送信回路及び光受信回路の試験方式に関し、識別レベ
ル変動に対する余裕度及び識別タイミング変動に対する
余裕度に対し夫々試験が出来る、光送信回路及び光受信
回路の試験方式の提供を目的とし、 パルス列を発生するパルスパターン発生器の出力を光送
信回路に入力し、該光送信回路の出力を光受信回路に入
力し、該光受信回路の出力を、送信パルス列と比較しビ
ット誤り率を測定する誤り率検出器に入力する構成にし
、且つ該光受信回路の識別器の識別レベル及び識別タイ
ミングを、識別レベル可変回路及び識別位相可変回路に
より可変出来るように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、光送信回路及び光受信回路の試験方式に関す
る。

光送信回路及び光受信回路の特性試験としては、所定の
ビット誤り率（現在は通常１０−■が用いられる）にな
る迄の余裕度を求めて試験をしているが、この余裕度と
しては、識別レベル変動に対する余裕度及び識別タイミ
ング変動に対する余裕度、即ちアイパターンを用いた表
現とすれば振幅方向。

時間方向の余裕度を別々に試験出来試験の信顛度が高い
ことが望ましい。

〔従来の技術〕

以下従来例を図を用いて説明する。

第４図は従来例の説明図で、（Ａ）は構成を示し、（Ｂ
）は特性図を示し、（Ｃ）はアイパターンで表現した余
裕度を示す。

従来、光送信回路及び光受信回路の特性試験を行うには
、第４図（Ａ）に示す如く、パルスパターン発生器ｌよ
りのパルス列を光送信回路２に入力し、出力を光カップ
ラ１１に入力し、又光カン１ラ１１には干渉波発生器１
０よりの干渉波を入力して重畳し、重畳された出力を可
変減衰器１２を介して光受信回路３に入力し、出力を、
送信パルス列と比較しビット誤り率を測定する誤り率検
出器４に入力する構成としておく。

光受信回路を試験する時は、特性の良い光送信回路を用
い、干渉波を入力せず可変減衰器１２を可変し、光受信
回路３に入力するレベルを変え、第４図（Ｂ）の実線に
示す如き、レベル変化に対するビット誤り率特性を求め
、これよりビット誤り率が１０−１１　　（現在の所定
値）になるレベルａを求めておく。

次に、光送信回路２の出力レベルと干渉波レベルとの比
が、例えば１０：１とし、可変減衰器１２を可変し、ビ
ット誤り率が１０−■になるｂ点を求め、ａ点とｂ点間
のレベルの値（劣化量）が所定の値以下になるかどうか
で良否の判定をしている。

又光送信回路の試験を行うには、光受信回路を特性の良
いものとし、試験する光送信回路を第４図の光送信回路
２とし、上記と同じことを繰り返し、ビット誤り率が１
０−■になるｂ点を求め、ａ点とｂ点間のレベルの値（
劣化量）が所定の値以下になるかどうかで良否の判定を
している。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、従来の試験方式では、余裕度として所定
の値以上あったとしても、アイパターンを用いて説明す
ると、第４図（Ｃ）のイに示す如く、縦方向の、識別レ
ベル変動に対する余裕度はあるも、横方向の識別タイミ
ング変動に対する余裕度が少ない場合もあり、又第４図
（Ｃ）の口に示す如く、横方向の識別タイミング変動に
対する余裕度はあるも、縦方向の、識別レベル変動に対
する余裕度は少ない場合もあり、これでは、試験の信頼
性が低い問題点がある。

本発明は、識別レベル変動に対する余裕度及び識別タイ
ミング変動に対する余裕度に対し夫々試験が出来る、光
送信回路及び光受信回路の試験方式の提供を目的として
いる。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理ブロック図である。

第１図に示す如く、パルス列を発生するパルスパターン
発生器１の出力を光送信回路２に入力し、該光送信回路
２の出力を光受信回路３に入力し、該光受信回路３の出
力を、送信パルス列と比較しビット誤り率を測定する堺
り率検出器４に入力する構成にし、 且つ該光受信回路３の識別器の識別レベル及び識別タイ
ミングを、識別レベル可変回路５及び識別位相可変回路
６により可変出来るようにしておく。

そして、識別レベルと識別タイミングを別々に所定のビ
ット誤り率に低下する迄可変して、識別レベル変動に対
する余裕度及び識別タイミング変動に対する余裕度を別
々に求める試験が出来るように構成する。

〔作　用〕

本発明によれば、光受信回路の試験を行う時は、光送信
回路を特性の良いものとし、光送信回路を試験する時は
、光受信回路を特性の良いものとし、光受信回路の識別
器の識別レベルを識別レベル可変回路５により可変し、
所定のビット誤り率に低下する迄の範囲（識別レベル変
動に対する余裕度）を求め、又識別器の識別タイミング
を識別位相可変回路６にて可変し、所定のビット誤り率
に低下する迄の範囲（識別タイミング変動に対する余裕
度）を求め、所定の値以上であるかで良否を判定する。

即ち、識別レベル変動に対する余裕度及び識別タイミン
グ変動に対する余裕度が共に判り、これを用いて良否の
判定を行っているので試験の信頼性は高くなる。

〔実施例〕

以下本発明の１実施例に付き図に従って説明する。

第２図は本発明の実施例のブロン゛り図、第３図は本発
明の場合のアイパターンで表現した余裕度を示す図であ
る。

第２図では、パルスパターン発生器１の出力に、光送信
回路２を接続し、光送信回路２の出力に光受信回路３を
接続し、光受信回路３の出力に誤り率検出器４を接続す
る。

又光受信回路３では、等化増幅器７の出力の、クロック
を抽出するクロック抽出回路９にて抽出された、第３図
（Ｂ）に示す識別点を定めるタイミングクロックの位相
を可変する為に、可変遅延回路６を介して識別器８に供
給するようにし、又識別器８の識別レベルを、可変識別
レベル発生器５にて、第３図（Ａ）のイに示す識別レベ
ルである直流電圧を可変識別レベル発生器５にて可変出
来るようにしである。

第２図にて、光受信回路の試験を行う時は、光送信回路
２を特性の良いものとし、試験する光受信回路３の識別
器８の識別レベルを、可変識別レベル発生器５にて第３
図（Ａ）のイに示す、アイパターンで表現すると真中の
点より、上下に可変し、ビット誤り率がＩＱ−１１に低
下する点口、へを求る。

次に、識別するタイミング点を、可変遅延回路６にて、
第３図（Ｂ）のへに示す、アイパターンで表現すると真
中の点より左右に可変し、ビット誤り率が１０−１に低
下する点二、ホを求る。

この求めた、口、への幅は識別レベル変動に対する余裕
度であり、二、ホの幅は識別タイミング変動に対する余
裕度であるので、これ等の幅が所定の幅以上であるかで
良否を判定する。

光送信回路を試験する時は、光受信回路３を特性の良い
ものとし、上記と同じ動作を行い、識別レベル変動に対
する余裕度及び識別タイミング変動に対する余裕度を求
め、この余裕度の幅が所定の幅以上であるかで良否を判
定する。

即ち、識別レベル変動に対する余裕度及び識別タイミン
グ変動に対する余裕度を別々に求め、夫々を所定の値と
比較して良否を判定しているので、試験の信頼度が向上
する。

〔発明の効果〕 以上詳細に説明せる如く本発明によれば、識別レベル変
動に対する余裕度及び識別タイミング変動に対する余裕
度を別々に求め、夫々を所定の値と比較して良否を判定
しているので、試験の信頼度が向上する効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明の実施例のブロック図、第３図は本発明
の場合のアイパターンで表現した余裕度を示す図、 第４図は従来例の説明図である。 図において、 １はパルスパターン発生器、 ２は光送信回路、 ３は光受信回路、 ４は誤り率検出器、 ５は識別レベル可変回路、可変識別レベル発生器、６は
識別位相可変回路、可変遅延回路、７は等化増幅回路、 ８は識別器、 ９はクロック抽出回路、 １０は干渉波発生器、 １１は光カップラ、 １２は可変減衰器を示す。 小発帆の原薙フ゛団ンフロ 牛　１　の 千多朗の亥１’Ｅのア“ロッフ■ 峯　２　の （Ａ’） ＩＰ、、す（日月／Ｓｆち４≧φアイノ＼°ターンＺ′
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Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 パルス列を発生するパルスパターン発生器（１）の出力
   を光送信回路（２）に入力し、該光送信回路（２）の出
   力を光受信回路（３）に入力し、該光受信回路（３）の
   出力を、送信パルス列と比較しビット誤り率を測定する
   誤り率検出器（４）に入力する構成にし、 且つ該光受信回路（３）の識別器の識別レベル及び識別
   タイミングを、識別レベル可変回路（５）及び識別位相
   可変回路（６）により可変出来るようにしておき、 識別レベルと識別タイミングを別々に所定のビット誤り
   率に低下する迄可変して、識別レベル変動に対する余裕
   度及び識別タイミング変動に対する余裕度を求めて試験
   を行うようにしたことを特徴とする光送信回路及び光受
   信回路の試験方式。