JP2002335220A - 受信回路試験システム及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 利得切替レベルの近傍への光入力信号のレベ
ル設定精度確保、試験時間の削減の両立を図る。 【解決手段】 利得切替レベルの近傍で受信回路２１の
試験を行うための受信回路試験システムに、試験すべき
範囲が一定周期の変調振幅となるように、受信回路への
バースト状の入力信号を変調する入力信号形成部１３、
１４、１５と、変調された入力信号を任意レベルに減衰
させる可変減衰部１２と、受信回路の利得を選択するデ
ィジタルの利得選択信号を積分し、積分結果に基づい
て、可変減衰部の減衰量を制御し、変調された入力信号
の平均レベルが利得切替レベルになるようにする減衰器
制御部１１とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は加入者系の光伝送の光受
信回路試験システムに関する。特に、本発明は、試験が
行われる利得切替レベル近傍に受信レベルを設定する精
度の確保、試験時間の削減を目的とする光受信回路試験
システム及び方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】加入者系の伝送システムでは、局側１に
対して加入者Ｎの構成をとるＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ
Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）システムがよく使わ
れる。このようなＰＯＮシステムおいて、加入者から局
側への上り信号を１波長で伝送する方法として、時分割
多元接続（ＴＤＭＡ：Ｔｉｍｅ ＤｉｖｉｓｉｏｎＭｕ
ｔｉｐｌｅ Ａｃｃｅｓｓ）方式での伝送がある。この
場合、局側で受信する光信号はバースト信号になる。

【０００３】加入者毎に送信信号強度、伝送損失が異な
るため、局側の光受信回路は、各加入者に併せて、受信
回路の利得を合わせる自動利得制御回路（ＡＧＣ回路）
が必要となる。伝送効率を良くするために、バースト信
号の先頭に付加するプリアンブルビットを少なくする必
要があり、光受信回路はＡＧＣ回路の高速応答が求めら
れる。

【０００４】さらに、高速に利得を最適化する方法とし
て、ディジタル的に利得を切り替える方法が知られてい
る。光伝送システムでは、光受信回路のフロントエンド
にトランスインピーダンスアンプを良く用いるが、この
光受信回路でディジタル的に利得を切り替えるには、ト
ランスインピーダンス抵抗を複数用意し、入力された信
号レベルに合わせて、適切な抵抗を選択することが行わ
れる。

【０００５】このように利得を切り替えるトランスイン
ピーダンス抵抗を有する光受信回路は、次のような特性
を持っている。すなわち、受信可能な光入力範囲（ダイ
ナミックレンジ）の中に、利得が切り替わる利得切替レ
ベルが生じることである。この切替レベルより光入力信
号が大きい場合、小さい場合とでは、光受信回路の特性
が異なり、光受信回路内での信号振幅、信号の位相も大
きく変わる。

【０００６】そのため、光受信回路の特性試験の際に
は、利得切替レベル近傍の光入力信号レベルの特性を詳
細に試験しなければならない。さらに、利得切替レベル
は入力ダイナミックレンジ内であるので、伝送特性試験
で、エラーフリーを確認する必要がある。利得切替レベ
ル近傍の特性試験では、以下のような構成が一般的であ
る。

【０００７】図７は本発明の前提となる光受信回路試験
システムの概略構成を説明するブロック図である。な
お、全図を通して同一の構成要素には同一の番号、符号
を付して説明を行う。本図に示すように、試験の対象で
ある光受信回路２１には受光素子２２が設けられ、受光
素子２２はバースト状の光入力信号１７を入力し、受光
電流に変換する。

【０００８】受光素子２２の出力側にはプリアンプ２３
が接続され、プリアンプ２３は受光素子２２により変換
された受光電流を電圧信号に変換する。プリアンプ２３
はトランスインピーダンスアンプとなっており、電流−
電圧変換利得を決めるインピーダンス抵抗２４が複数並
列に接続されており、各インピーダンス抵抗２４には１
つを除きＦＥＴ（電界効果トランジスタ）２５が直列に
接続され、利得をディジタル的に切り替える。ここで
は、一例として、並列に接続される２つのインピーダン
ス抵抗２４と、そのうち１つのトランスインピーダンス
抵抗に直列接続されるＦＥＴ（電界効果トランジスタ）
２５が示される。

【０００９】プリアンプ２３の出力側にはレベル識別回
路２６が接続され、レベル識別回路２６はプリアンプ２
３の出力振幅を判断する。この出力振幅の判断はバース
ト信号ごとに実施され、図には記載していないリセット
信号で初期化される。以下の説明では、バースト状の信
号、リセット信号は省略する。レベル識別回路２６の出
力側には利得制御回路２７が接続され、利得制御回路２
７はプリアンプ２３に判断された出力振幅のレベルに基
づいて適切なトランスインピーダンス抵抗になるよう
に、ＦＥＴ２５をＯＮ／ＯＦＦさせる。

【００１０】光受信回路２１の利得制御回路２７からは
どのトランスインピーダンス抵抗を選択したかを示す利
得選択信号１９が出力される。プリアンプ２３の出力側
にはポストアンプ２８が接続され、ポストアンプ２８は
プリアンプ２３の出力信号を増幅し、受信出力信号１８
を出力する。光受信回路試験システムには光信号発生装
置１４が設けられ、光信号発生装置１４はバースト光信
号を生成する。

【００１１】光信号発生装置１４の出力側には光可変減
衰器１２が接続され、光可変減衰器１２は光信号発生装
置１４からのバースト光信号のレベルを可変にし光入力
信号１７を形成し、光受信回路２１の受光素子２２に出
力する。さらに、光可変減衰器１２は光受信回路２１の
利得制御回路２７から利得選択信号１９を入力し、利得
選択信号１９を基に減衰量を制御し、光入力信号１７を
利得切替レベルの近傍に一定に保つ。

【００１２】さらに、光受信回路試験システムには受信
特性試験装置１０が設けられ、受信特性試験装置１０
は、光受信回路２１のポストアンプ２８から受信出力信
号１８を入力し、利得切替レベルという特異点の近傍の
特性を調べることを目的とする。図８は図７の各部の信
号又は動作を説明する図である。本図（ａ）に示すよう
に、光信号発生装置１４の光送信信号の出力レベルは一
定であるとする。

【００１３】本図（ｂ）に示すように、光可変減衰器１
２では、例えば、減衰量を大から小に変化させる。本図
（ｃ）に示すように、光可変減衰器１２から光受信回路
２１への光入力信号１７の出力レベルは小から大に変化
する。本図（ｄ）に示すように、利得制御回路２７では
プリアンプ２３の出力を監視し、レベル識別回路２６の
しきい値を越えると、ＦＥＴ２５をＯＦＦからＯＮにす
る信号を形成する。

【００１４】本図（ｅ）に示すように、利得制御回路２
７により、プリアンプ２３の利得が小さくなり、プリア
ンプ２３の出力の変化が小さくなる。利得切替レベルの
近傍の特性試験では、以下のような手順が一般的であ
る。

【００１５】図９は利得切替レベル近傍の特性試験時の
手順を説明するフローチャートである。本図に示すよう
に、ステップＳ５１において、各々の光受信回路２１の
利得切替レベルを調べる光入力信号１７のレベルを「利
得切替レベル＆ｐｌｕｓｍｎ；α」まで光可変減衰器１
２で可変させる（α：微小シフトレベル）。

【００１６】ステップＳ５２において、光可変減衰器１
２では減衰量に対して光入力信号１７のレベルを監視す
る。ステップＳ５３において、光可変減衰器１２では利
得制御回路２７の利得切替を監視する。ステップＳ５４
において、光可変減衰器１２では、利得切替があると、
その時点の光入力信号１７のレベルを利得切替レベルと
して、さらに、利得切替レベル±αを利得切替レベルの
近傍点として減衰Ａ，Ｂ（図８（ｂ）参照）を設定す
る。この特性試験は利得切替レベルという特異点の近傍
の特性を調べる目的であるので、微小シフトレベルαの
値はなるべく小さいことが望ましい。

【００１７】ステップＳ５５において、設定された利得
切替レベルの近傍点で光受信回路２１のエラーフリーを
確認する（ビットレート、誤り率規格によるが、数秒か
ら数分必要である。図１０は光入力信号１７の再調整を
説明するフローチャートである。本図に示すように、ス
テップＳ６１において、特性試験が開始する。

【００１８】ステップＳ６２、ステップＳ６３におい
て、光入力信号１７のレベル変化の有無、利得切替の有
無を監視する。信号源である光信号発生装置１４の出力
パワーのドリフト、測定系の損失ドリフト、光受信回路
２１におけるレベル識別回路２６のしきい値のドリフト
が起因して、常に受信出力信号１８のレベルが変動して
いるためである。

【００１９】上記のレベル変化、利得切替が無ければ、
ステップＳ６５に進む。ステップＳ６４において、上記
のレベル変化、利得切替があれば、再調整して、ステッ
プＳ６１に戻る。ステップＳ６５において、特性試験が
終了していなければ、ステップＳ６２に戻り、終了して
いれば、処理を終了する。

【００２０】

【発明が解決しょうとする課題】上記の光受信回路試験
システムでは、微小シフトレベルαの値を小さくし、か
つ、そのαの値を精度良く維持するために、エラーフリ
ーの特性確認中、各種ドリフトに対して、常に光入力信
号１７の調整が必要となる。このため、光可変減衰器１
２で光入力信号１７の光レベルの微調整を行った場合、
光減衰器の応答速度から、測定時間も増えることにな
る。

【００２１】このため、上記のような原因により、上記
の従来の光受信回路試験システムによる利得切替レベル
特性試験では、利得切替レベルの近傍への「光入力信号
のレベル設定精度確保」、「試験時間の削減」の両立に
問題があった。したがって、本発明は上記問題点に鑑み
て、利得切替レベルの近傍への光入力信号のレベル設定
精度確保、試験時間の削減の両立を図れる光受信回路試
験システム及び方法を提供することを目的とする。

【００２２】

【課題を解決するための手段】本発明は前記問題点を解
決するために、利得切替レベルの近傍で受信回路の試験
を行うための受信回路試験システムに、試験すべき範囲
が一定周期の変調振幅となるように、前記受信回路への
バースト状の入力信号を変調する入力信号形成部と、変
調された前記入力信号を任意レベルに減衰させる可変減
衰部と、前記受信回路の利得を選択するディジタルの利
得選択信号を積分し、積分結果に基づいて、前記可変減
衰部の減衰量を制御し、変調された入力信号の平均レベ
ルが利得切替レベルになるようにする減衰器制御部とを
備えることを特徴とする光受信回路試験システムを提供
する。

【００２３】この手段により、変調された入力信号の平
均レベルを利得切替レベルにし、試験すべき光入力信号
のレベルの範囲を狭く設定することが可能になるので、
利得切替レベルの近傍への光入力信号のレベル設定精度
確保、試験時間の削減の両立を図ることが可能になっ
た。好ましくは、前記減衰器制御部は、前記受信回路へ
の入力信号のレベルが利得制御のしきい値を上下すると
きに発生するディジタルの前記利得選択信号である
「Ｈ」、「Ｌ」信号に関し、「Ｈ」、「Ｌ」信号の時間
幅が互いに等しいときの積分値を基準にし、基準の前記
積分値と比較して積分値の大小に応じて可変減衰部の減
衰量の増加、減少を行う。

【００２４】この手段により、受信回路への入力信号の
ドリフト、測定系の損失ドリフト、受信回路におけるレ
ベル識別回路２６のしきい値のドリフトが生じても、変
調された入力信号の平均レベルを利得切替レベルに一致
させることが迅速に可能になる。好ましくは、前記入力
信号を変調する変調信号が三角波、正弦波、のこぎり
波、方形波のうち１つの波形を有する。

【００２５】この手段により、試験の目的に合わせて、
最適な波形を選択することが可能になる。好ましくは、
前記減衰器制御部は、前記受信回路への入力信号が光入
力信号である場合、トランスインピーダンスアンプの電
流−電圧変換利得の選択信号を、前記受信回路の利得を
選択する信号として、積分する。

【００２６】この手段により、光入力信号のレベルに応
じて利得選択信号が「Ｈ」信号、「Ｌ」信号と変わるの
で、この変化の頻度が大きくなると、「Ｈ」信号、
「Ｌ」信号の幅が互いに接近し、光入力信号のレベルが
利得切替レベルに近づくことになる。好ましくは、前記
トランスインピーダンスアンプの電流−電圧変換利得を
固定し、次段に利得切替アンプを接続する。

【００２７】この手段により、受信回路の構成に応じて
適用可能になる。好ましくは、前記受信回路は、加入者
系の光伝送において、１つの局に対してＮの加入者の構
成をとるＰＯＮシステム又はＡＤＳシステムの局の受信
回路である。この手段により、加入者系の光伝送システ
ムに本発明が広範に適用可能になる。

【００２８】さらに、本発明は、利得切替レベルの近傍
で受信回路の試験を行うための受信回路試験方法におい
て、試験すべき範囲が一定周期の変調振幅となるよう
に、前記受信回路へのバースト状の入力信号を変調させ
る工程と、前記入力信号を任意レベルに減衰させる工程
と、前記受信回路の利得を選択する信号を積分し、積分
結果に基づいて、前記入力信号のレベルの減衰量を制御
し、変調された入力信号の平均レベルを利得切替レベル
にする工程とを備えることを特徴とする光受信回路試験
方法を提供する。

【００２９】この手段により、上記発明と同様に、変調
された入力信号の平均レベルを利得切替レベルにし、試
験すべき光入力信号のレベルの範囲を狭く設定すること
が可能になるので、利得切替レベルの近傍への光入力信
号のレベル設定精度確保、試験時間の削減の両立を図る
ことが可能になった。

【００３０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図１は本発明に係る光受信
回路試験システムの概略構成を示すブロック図である。
本図に示すように、図７と比較して、光信号発生装置１
４と光可変減衰器１２の間に電界吸収型（ＥＡ）光変調
器１３が設けられ、ＥＡ光変調器１３は光信号発生装置
１４からのバースト光信号に対して光入力レベルの変調
を行う。

【００３１】ＥＡ光変調器１３には変調信号発振器１５
が接続され、変調信号発振器１５はシンセサイザ等で構
成され、光受信回路２１に影響を与えない範囲で、試験
に適した周期、波形の変調周波数、変調波形を有する変
調信号１６でＥＡ光変調器１３の変調度を制御する。さ
らに、光可変減衰器１２と光受信回路２１の利得制御回
路２７との間には減衰器制御装置１１が設けられ、減衰
器制御装置１１は光受信回路２１の利得制御回路２７か
ら出力される利得選択信号１９の積分処理を基に光可変
減衰器１２の減衰量を制御する。

【００３２】図２は光受信回路試験システムの動作を説
明するタイムチャートである。本図（ａ）に示すよう
に、変調信号発振器１５の変調信号１６としては、波形
の一例として、三角波を用いる。また、変調振幅は、試
験すべき光入力信号１７のレベル範囲、例えば、利得切
替レベル＆ｐｌｕｓｍｎ；α＝０．１ｄＢになるように
設定される振幅である。

【００３３】本図（ｂ）に示すように、利得制御回路２
７ではプリアンプ２３の出力信号のレベルとレベル識別
回路２６のしきい値とが比較される。本図（ｃ）に示す
ように、、プリアンプ２３の出力信号のレベルがレベル
識別回路２６のしきい値よりも大きい場合には「Ｈ
（高）」、小さい場合には「Ｌ（低）」のディジタルの
利得選択信号１９が形成され、外部に出力される。減衰
器制御装置１１は、利得選択信号１９の信号を積分処理
し、この積分処理を基に光可変減衰器１２を制御する。

【００３４】本図（ｄ）に示すように、光可変減衰器１
２の減衰量の制御により、光入力信号１７の平均値は利
得切替レベルに常に維持される。図３は光信号発生装置
１４の光送信出力パワーのドリフトに起因する場合の利
得選択信号１９のレベルを説明するタイムチャートであ
る。本図（ａ）に示すように、光信号発生装置１４の光
送信出力パワーのドリフトで、光信号発生装置１４の光
送信出力パワーが大きくなり、プリアンプ２３の出力信
号レベルがレベル識別回路２６のしきい値よりも大きく
なったとする。

【００３５】本図（ｂ）に示すように、この場合には、
利得制御回路２７の利得選択信号１９は「Ｈ」となる。
この逆の場合もある。図４はレベル識別回路２６のしき
い値のドリフトに起因する場合の利得選択信号１９のレ
ベルを説明するタイムチャートである。本図（ａ）に示
すように、レベル識別回路２６のしきい値のドリフト
で、レベル識別回路２６のしきい値が大きくなり、プリ
アンプ２３の出力信号レベルよりも大きくなったとす
る。

【００３６】本図（ｂ）に示すように、この場合には、
利得制御回路２７の利得選択信号１９は「Ｌ」となる。
この逆の場合もある。図５は減衰器制御装置１１の減衰
制御を説明するフローチャートである。本図に示すよう
に、ステップＳ７１において、光可変減衰器１２の減衰
量初期値を設定する。

【００３７】ステップＳ７２において、利得選択信号１
９の積分を行う。ステップＳ７３において、積分値が、
利得選択信号１９の「Ｈ」信号の幅と「Ｌ」信号の幅が
等しい場合の積分値をＶ０とし、これと等しいか否かを
判断する。等しい場合には、図２に示すように、プリア
ンプ２３の出力信号レベルの平均値がレベル識別回路２
６のしきい値に等しく、且つ光入力信号１７のレベルの
平均値が利得切替レベルに等しくなっている。

【００３８】等しい場合、処理を終了する。ステップＳ
７４において、積分値がＶ０よりも大きいか否かを判断
する。ステップＳ７５において、積分値がＶ０よりも大
きい場合には、光可変減衰器１２の減衰量を増加してス
テップＳ７２に進み、以上の処理を繰り返すことによ
り、プリアンプ２３の出力信号レベルの平均値がレベル
識別回路２６のしきい値に近づく。

【００３９】なお、積分値がＶ０よりも大きい場合に
は、図３に示すように、プリアンプ２３の出力信号レベ
ルの平均値がレベル識別回路２６のしきい値よりも大き
く、同様に、光入力信号１７のレベルの平均値も利得切
替レベルよりも大きくなっている。ステップＳ７６にお
いて、積分値がＶ０よりも小さい場合には、光可変減衰
器１２の減衰量を減少してステップＳ７２に進み、以上
の処理を繰り返すことにより、プリアンプ２３の出力信
号レベルの平均値がレベル識別回路２６のしきい値に近
づく。

【００４０】なお、積分値がＶ０よりも小さい場合に
は、図４に示すように、プリアンプ２３の出力信号レベ
ルの平均値がレベル識別回路２６のしきい値よりも小さ
く、同様に、光入力信号１７のレベルの平均値も利得切
替レベルよりも小さくなっている。したがって、本発明
によれば、光入力信号１７のレベルをＥＡ光変調器１
３、減衰器制御装置１１の２系統で制御することによ
り、光信号発生装置１４の光送信出力パワー、測定系の
損失、光受信回路２１のレベル識別回路２６のしきい値
が時間と共に変動しても、光受信回路２１に入力される
光入力信号１７のレベルを利得切替レベルに迅速に一致
させることができる。

【００４１】この光入力信号１７の制御は、利得制御回
路２７の信号を積分化した後で行われるので、一般的な
光可変減衰器１２が使用可能であり、応答速度の問題は
無視できる。そのため、受信特性試験中もリアルタイム
で光入力信号１７のレベルを制御でき、光レベル調整の
ための時間は不要である。

【００４２】また、測定したい光受信レベルは、ＥＡ光
変調器１３により制御されており、上記の光入力信号１
７を基準に微小シフトしたレベルに正確に設定できる。
これらのことから、本発明の測定系を用いることによ
り、利得切替レベル近傍の特性試験において、「光レベ
ル設定精度の確保」、「試験時間の削減」の両立が可能
である。

【００４３】なお、上記の例では、トランスインピーダ
ンスアンプにおいては電流−電圧変換利得を複数持つ構
成になっているが、他の構成として、トランスインピー
ダンスアンプの利得は固定にして、次段に利得切替アン
プを接続する構成も考えられる。これにより、受信回路
の構成に応じて適用可能になる。さらに、上記の例で
は、変調信号発振器１５のシンセサイザからの波形を三
角波としているが、試験の目的に合わせて正弦波、のこ
ぎり波、方形波など任意の波形を選択することもでき
る。

【００４４】以上では、ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ Ｏｐ
ｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）システムについて説明を
行ったが、同様に、ＡＤＳ（Ａｃｔｉｖｅ Ｄｏｕｂｌ
ｅＳｔａｒ）システムにも、以下のように、本発明を広
範に適用可能である。図６は図１の変形例である光受信
回路試験システムの概略構成を示すブロック図である。
本図に示すように、図１と比較して、受信回路４１には
電気信号の入力信号３７を入力するフロントエンドアン
プ４２、フロントエンドアンプ４２の出力側に接続され
利得をディジタル的に切り替える利得可変アンプ４３、
利得可変アンプ４３の出力側に接続され入力された信号
の振幅により適切な利得を選択するように利得可変アン
プ４３の利得を制御し且つ利得選択信号３９を形成し外
部に出力する利得制御回路４５、利得可変アンプ４３の
出力側に接続され受信出力信号３８を形成し外部に出力
するポストアンプ４４が設けられる。

【００４５】受信回路試験システムにはバースト信号を
生成する信号発生装置３４、信号発生装置３４の出力側
に接続されバースト信号を変調する変調器３３、変調器
３３の入力側に接続され変調信号３６を形成する変調信
号発振器３５、変調器３３の出力側に接続され変調され
たバースト信号を減衰し受信回路４１の入力信号３７を
形成する可変減衰器３２、受信回路４１のポストアンプ
４４の出力側に接続され受信出力信号３８を入力し受信
回路４１のエラーフリーを確認する受信特性試験装置３
０、受信回路４１の利得制御回路４５の出力側に接続さ
れ利得選択信号３９を積分して可変減衰器３２の減衰量
を制御する減衰器制御装置３１が設けられる。

【００４６】この測定系では、前述と同様に、変調器３
３で入力信号３７に変調をかけ、受信回路４１から出力
される利得選択信号３９をモニタし、入力信号３７を減
衰制御し、入力信号３７を利得切替レベルに一致させる
ことにより、受信レベルを制御することにより、利得切
替レベルの近傍の試験を行うレベル範囲を設定してい
る。

【００４７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
試験すべき範囲が一定周期の変調振幅となるように、受
信回路へのバースト状の入力信号を変調させ、入力信号
を任意レベルに減衰させ、受信回路の利得を選択するデ
ィジタルの利得選択信号を積分し、積分結果に基づい
て、入力信号のレベルの減衰量を制御し、変調された入
力信号の平均レベルを利得切替レベルにするようにした
ので、変調された入力信号の平均レベルを利得切替レベ
ルにし、試験すべき光入力信号のレベルの範囲を狭く設
定することが可能になるので、利得切替レベルの近傍へ
の光入力信号のレベル設定精度確保、試験時間の削減の
両立を図ることが可能になった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光受信回路試験システムの概略構
成を示すブロック図である。

【図２】光受信回路試験システムの動作を説明するタイ
ムチャートである。

【図３】光信号発生装置１４の光送信出力パワーのドリ
フトに起因する場合の利得選択信号１９のレベルを説明
するタイムチャートである。

【図４】レベル識別回路２６のしきい値のドリフトに起
因する場合の利得選択信号１９のレベルを説明するタイ
ムチャートである。

【図５】減衰器制御装置１１の減衰制御を説明するフロ
ーチャートである。

【図６】図１の変形例である光受信回路試験システムの
概略構成を示すブロック図である。

【図７】本発明の前提となる光受信回路試験システムの
概略構成を説明するブロック図である。

【図８】図７の各部の信号又は動作を説明する図であ
る。

【図９】利得切替レベル近傍の特性試験時の手順を説明
するフローチャートである。

【図１０】光入力信号１７の再調整を説明するフローチ
ャートである。

【符号の説明】

１０…受信特性試験装置 １１…減衰器制御装置 １２…光可変減衰器 １３…ＥＡ光変調器 １４…光信号発生装置 １５…変調信号発振器 １６…変調信号 １７…光入力信号 １８…受信出力信号 １９…利得選択信号 ２１…光受信回路 ２２…受光素子 ２３…プリアンプ ２４…インピーダンス抵抗 ２５…ＦＥＴ ２６…レベル識別回路 ２７…利得制御回路 ２８…ポストアンプ ３０…受信特性試験装置 ３１…減衰器制御装置 ３２…可変減衰器 ３３…変調器 ３４…信号発生装置 ３５…変調信号発振器 ３７…入力信号 ３８…受信出力信号 ３９…利得選択信号 ４１…受信回路 ４２…フロントエンドアンプ ４３…利得可変アンプ ４４…ポストアンプ ４５…利得制御回路

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 利得切替レベルの近傍で受信回路の試験
   を行うための受信回路試験システムにおいて、 試験すべき範囲が一定周期の変調振幅となるように、前
   記受信回路へのバースト状の入力信号を変調する入力信
   号形成部と、 変調された前記入力信号を任意レベルに減衰させる可変
   減衰部と、 前記受信回路の利得を選択するディジタルの利得選択信
   号を積分し、積分結果に基づいて、前記可変減衰部の減
   衰量を制御し、変調された入力信号の平均レベルが利得
   切替レベルになるようにする減衰器制御部とを備えるこ
   とを特徴とする光受信回路試験システム。
2. 【請求項２】 前記減衰器制御部は、前記受信回路への
   入力信号のレベルが利得制御のしきい値を上下するとき
   に発生するディジタルの前記利得選択信号である
   「Ｈ」、「Ｌ」信号に関し、「Ｈ」、「Ｌ」信号の時間
   幅が互いに等しいときの積分値を基準にし、基準の前記
   積分値と比較して積分値の大小に応じて可変減衰部の減
   衰量の増加、減少を行うことを特徴とする、請求項１に
   記載の光受信回路試験システム。
3. 【請求項３】 前記入力信号を変調する変調信号が三角
   波、正弦波、のこぎり波、方形波のうち１つの波形を有
   することを特徴とする、請求項１に記載の光受信回路試
   験システム。
4. 【請求項４】 前記減衰器制御部は、前記受信回路への
   入力信号が光入力信号である場合、トランスインピーダ
   ンスアンプの電流−電圧変換利得の選択信号を、前記受
   信回路の利得を選択する信号として、積分することを特
   徴とする、請求項１に記載の光受信回路試験システム。
5. 【請求項５】 前記トランスインピーダンスアンプの電
   流−電圧変換利得を固定し、次段に利得切替アンプを接
   続することを特徴とする、請求項４に記載の光受信回路
   試験システム。
6. 【請求項６】 前記受信回路は、加入者系の光伝送にお
   いて、１つの局に対してＮの加入者の構成をとるＰＯＮ
   システム又はＡＤＳシステムの局の受信回路であること
   を特徴とする、請求項１に記載の光受信回路試験システ
   ム。
7. 【請求項７】 利得切替レベルの近傍で受信回路の試験
   を行うための受信回路試験方法において、 試験すべき範囲が一定周期の変調振幅となるように、前
   記受信回路へのバースト状の入力信号を変調させる工程
   と、 変調された前記入力信号を任意レベルに減衰させる工程
   と、 前記受信回路の利得を選択するディジタルの利得選択信
   号を積分し、積分結果に基づいて、前記入力信号のレベ
   ルの減衰量を制御し、変調された入力信号の平均レベル
   を利得切替レベルにする工程とを備えることを特徴とす
   る光受信回路試験方法。