JP4613301B2 - アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 Download PDF

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Description

本発明は、信号波形解析結果のひとつであるアイパターンが品質評価基準となるマスクに対して持っているマージンを自動算出するアイマージン算出装置およびその方法と、そのアイマージン算出装置の実現に用いられるアイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体とに関する。
近年、デジタル電子機器に求められる情報処理量は増加の一途をたどっており、これに伴ってデジタル電子機器内の信号速度が高速になってきている。これから、製品設計段階で実施されるシミュレーションについても高速信号に対応するものが多くなっている。
そのようなシミュレーションを行うシミュレータの機能のひとつとして、信号波形解析結果をアイパターンにして表示するという機能があり、このアイパターンを定量的に評価する技術の構築が求められている。
シミュレータにより生成されるアイパターンは、シミュレータにより生成された波形信号から順次切り出される規定の長さを持つ波形信号片を重畳することで生成されるものであり、例えば、２クロック周期分の長さを持つ波形信号片を順次切り出して重畳する場合には、図１８に示すようなパターン形状を示す。
受信デバイスを提供するメーカは、受信デバイスの仕様として、例えば図１９に示すような形状のマスクを提示して、受信デバイスの使用に際して、このマスクがアイパターンの開口の中に収まることを要求する。
ここで、図１９に示すマスクは、図１９（ａ）に示すように、図中に示すα（時間値），β（時間値），γ（電圧値）を指定することで、その形状を規定できるものであり、これにより、図１９（ｂ）に示すように、マスクの中心位置が指定されることになるとともに、図１９（ｃ）に示すように、マスクの持つ各特徴点ｒ点，ｓ点，ｔ点，ｕ点，ｐ点，ｑ点のマスク位置（時間座標値および電圧座標値）が指定されることになる。
このマスクの提示を受けて、受信デバイスを使用するメーカの設計者は、設計段階において、シミュレータにより受信デバイスの受信する波形信号を生成すると、その波形信号から規定の長さを持つ波形信号片を順次切り出して重畳することでアイパターンを生成して、その生成したアイパターンの開口の中にマスクが収まるのか否かをチェックし、マスクが収まらない場合には、マスクが収まるようにと動作周波数や伝送路などの設計変更を行うようにしている。
このチェックを行う場合、従来では、生成したアイパターンをディスプレイに表示するとともに、そのアイパターンに対してのマスクを時間軸方向に移動可能な形態でディスプレイに表示するようにして、設計者がマスクを最もマージンが大きくなると思われる時間位置に移動させて、その時間位置で、アイパターンとマスクとの間の距離として定義されるマージン（アイパターンがマスクに対して持つマージン）を目視により測定するようにしている。
しかしながら、このような従来技術に従っていると、設計者であるユーザがマスクの位置合わせを行わなくてはならないことから、ユーザに対して多大な負荷を強いるという問題があるとともに、ユーザの違いによるマージン測定のばらつきが大きいという問題がある。
このようなことを背景にして、本発明者の一人は、下記に示す特許文献１で、アイパターンの内側のプロットを作成することで、マスクとの間のマージンを自動測定できるようにして、マスクを時間軸の一定方向に任意のステップずつ移動させ、各移動先でマージンを求めるようにして、隣接する移動先の間でのマージンの差分値がプラスからマイナスに転ずる直前のマスク位置を最適と判断して、そのときのマージンを最終的なマージンと判断するという発明を開示した。
また、下記に示す特許文献２には、本発明に関連する技術として、アイパターンの有効領域内における最もエラー発生の低い識別点を自動測定して、その識別点を最適点として再生制御を行うという伝送装置に係る発明が記載されている。
また、下記に示す特許文献３には、本発明に関連する技術として、入力データのジッタ分布に依存することなく、アイ開口部の中心位相を抽出して、最適なリタイミングマージンを確保するというビット同期回路に係る発明が記載されている。
特開２００６−９０７８８号公報 特開２００３−１８１４０号公報 特開２０００−３３２７３６号公報
従来技術では、シミュレータにより生成したアイパターンとマスクとの間のマージンを測定する場合、生成したアイパターンをディスプレイに表示するとともに、そのアイパターンに対してのマスクを時間軸方向に移動可能な形態でディスプレイに表示するようにして、設計者がマスクを最もマージンが大きくなると思われる時間位置に移動させて、その時間位置で、アイパターンとマスクとの間のマージンを目視により測定するようにしている。
しかしながら、このような従来技術に従っていると、設計者であるユーザがマスクの位置合わせを行わなくてはならないことから、ユーザに対して多大な負荷を強いるという問題があるとともに、ユーザの違いによるマージン測定のばらつきが大きいという問題がある。
このようなことを背景にして、本発明者の一人は、特許文献１で、アイパターンの内側のプロットを作成することで、マスクとの間のマージンを自動測定できるようにして、マスクを時間軸の一定方向に任意のステップずつ移動させ、各移動先でマージンを求めるようにして、隣接する移動先の間でのマージンの差分値がプラスからマイナスに転ずる直前のマスク位置を最適と判断して、そのときのマージンを最終的なマージンと判断するという発明を開示した。
しかしながら、この発明で得ることができる最適なマスク位置は、実際に受信デバイスが動作する際に要求されるマスク位置とは限らない。これから、この発明で求めたマージンが常に正確なマージンを示しているとは言えないという問題がある。
なお、特許文献２や特許文献３に記載された発明は、受信デバイスが実際に動作している状態を改善すべくなされた発明であり、本発明が解決課題とするシミュレータにより生成されるアイパターンの開口の大きさを自動評価することを実現する発明ではない。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、電子機器の製品設計段階で実施されるシミュレータにより生成されるアイパターンが品質評価基準となるマスクに対して持っている正確なマージンを自動算出することを実現する新たなアイマージン算出技術の提供を目的とする。
この目的を達成するために、本発明のアイマージン算出装置は、シミュレータにより生成された波形信号から切り出される規定の長さを持つ波形信号片を重畳することで生成されるアイパターンと、そのアイパターンに要求される開口の大きさを示すマスクとの間のマージンを自動算出することを実現するために、（１）各々が時間座標値及び電圧座標値を有する前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持つ波形信号片箇所の中における、最少の時間座標値と最大の時間座標値との中間位置を求めることにより、アイパターンの中心位置を算出する第１の算出手段と、（２）第１の算出手段の算出した中心位置にマスクの中心位置を配置した場合における、マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する第２の算出手段と、（３）マスクの持つ特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、前記処理対象である特徴点に最も近い時間位置にある波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の電圧座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、電圧軸方向のマージンを算出する第３の算出手段と、（４）マスクの持つ特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持ち、かつ、前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも前の時間位置にある場合には前記中心位置よりも前の時間位置を持ち前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも後の時間位置にある場合には前記中心位置よりも後の時間位置を持つ波形信号片箇所の中における、その電圧座標値が最も０に近い波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の時間座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、時間軸方向のマージンを算出する第４の算出手段とを備えるように構成する。
この構成を採るときに、第１の算出手段は、各波形信号片の持つ時間軸近傍の波形信号部分を抽出して、その抽出した波形信号部分の時間座標値に含まれる最小時間および最大時間を検出し、その検出した最小時間および最大時間に基づいてアイパターンの中心位置を算出することがある。
また、第３の算出手段は、処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値として、処理対象の特徴点を挟む形で隣接する２つの波形信号片個所を直線補間することで得た処理対象の特徴点の時間座標値上の電圧座標値を用いることがある。
また、第４の算出手段は、処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値として、時間軸を挟む形で隣接する２つの波形信号片個所を直線補間することで得た時間軸上の座標値を用いることがある。
ここで、以上の各処理手段はコンピュータプログラムでも実現できるものであり、このコンピュータプログラムは、適当なコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して提供されたり、ネットワークを介して提供され、本発明を実施する際にインストールされてＣＰＵなどの制御手段上で動作することにより本発明を実現することになる。
このように構成される本発明のアイマージン算出装置では、シミュレータにより生成された波形信号から規定の長さを持つ波形信号片を順次切り出して重畳することでアイパターンを生成すると、先ず最初に、各波形信号片の持つ時間軸近傍の波形信号部分を抽出して、その抽出した波形信号部分の時間座標値に含まれる最小時間および最大時間を検出し、その検出した最小時間と最大時間との間の中間位置を求めることで、アイパターンの中心位置を算出する。
高速データ通信を司る受信デバイスにはクロック・データ・リカバリ（以下、ＣＤＲと略記することがある）と呼ばれるデータ抽出タイミングの最適化を図る回路が組み込まれており、このＣＤＲの特性から、判断基準となるマスクはアイパターン開口の時間軸上の中心位置に配置する必要がある。
これから、先ず最初に、アイパターン開口の時間軸上の中心位置を割り出すことで、アイパターンの中心位置を算出するのである。
続いて、算出したアイパターンの中心位置にマスクの中心位置を配置することを想定して、その配置下でのマスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する。
例えば、受信デバイスを提供するメーカから図１９に示すようなマスクが提示される場合には、アイパターンの中心位置として算出した位置にこのマスクの中心位置を配置することを想定して、その配置下でのマスクの持つ各特徴点ｒ点，ｓ点，ｔ点，ｕ点，ｐ点，ｑ点の時間座標値および電圧座標値を算出するのである。
続いて、マスクの持つ特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、処理対象の特徴点の電圧座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、処理対象の特徴点について電圧軸方向のマージンを算出して、それらのマージンをそのまま電圧軸方向のマージンとして算出したり、それらのマージンの中の最小のものを特定してそれを電圧軸方向のマージンとして算出する。
また、例えば、処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値として、処理対象の特徴点を挟む形で隣接する２つの波形信号片個所を直線補間することで得た処理対象の特徴点の時間座標値上の電圧座標値を用いるようにして、その電圧座標値と処理対象の特徴点の電圧座標値との最小距離を求めることで処理対象の特徴点についての電圧軸方向のマージンを算出して、それらのマージンをそのまま電圧軸方向のマージンとして算出したり、それらのマージンの中の最小のものを特定してそれを電圧軸方向のマージンとして算出する。
続いて、マスクの持つ特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、処理対象の特徴点の時間座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、処理対象の特徴点について時間軸方向のマージンを算出して、それらのマージンをそのまま時間軸方向のマージンとして算出したり、それらのマージンの中の最小のものを特定してそれを時間軸方向のマージンとして算出する。
また、例えば、処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値として、時間軸を挟む形で隣接する２つの波形信号片個所を直線補間することで得た時間軸上の座標値を用いるようにして、その時間座標値と処理対象の特徴点の時間座標値との最小距離を求めることで処理対象の特徴点についての時間軸方向のマージンを算出して、それらのマージンをそのまま時間軸方向のマージンとして算出したり、それらのマージンの中の最小のものを特定してそれを時間軸方向のマージンとして算出する。
以上に説明したように、本発明によれば、電子機器の製品設計段階で実施されるシミュレータにより生成されるアイパターンが品質評価基準となるマスクに対して持っているマージンを自動算出することができるようになる。
そして、本発明によれば、このマージンの自動算出にあたって、受信デバイスに組み込まれるクロック・データ・リカバリの特性を考慮して、品質評価基準となるマスクをアイパターン開口の時間軸上の中心位置に配置してマージンを算出するようにすることから、実際に受信デバイスが動作する際に要求される正確なマージンを算出することができるようになる。
本発明のアイパターン評価装置の一実施形態例である。 データ列ファイルの記憶するデータ列の説明図である。 プロットデータファイルの記憶するプロットデータの説明図である。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン中心位置の算出処理の説明図である。 マスク作成処理の説明図である。 プロットデータの時間位置の説明図である。 プロットデータ抽出処理の説明図である。 プロットデータ抽出処理の説明図である。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン評価部の実行するフローチャートである。 アイパターン中心位置の算出処理の説明図である。 アイパターンの説明図である。 マスクの説明図である。 本発明のアイパターン評価装置の他の実施形態例を示す図である。 マスク配置位置設定画面の例を示す図である。 マスクの配置位置に関するモードの設定処理フローの一例を示す図である。 マージン算出処理フローの一例を示す図である。 マスクの配置位置の初期設定例を説明する図である。 配置位置対応時間軸マージンの算出例を説明する図である。 マスクの配置位置の移動を説明する図である。 マージン算出処理フローの一例を示す図である。 マスクの配置位置の初期設定例を説明する図である。 配置位置対応時間軸マージンの算出例を説明する図である。 マスクの配置位置の移動を説明する図である。 マージン算出処理フローの一例を示す図である。 マスクの配置位置の初期設定例を説明する図である。 マスクの配置位置の移動を説明する図である。
符号の説明
１ アイパターン評価装置
１０ データ列ファイル
１１ 伝送路モデル記憶部
１２ 波形シミュレータ
１３ プロットデータファイル
１４ マスクスペック記憶部
１５ アイパターン評価部
１６ ディスプレイ
１５０ 波形表示部
１５１ マージン算出部
以下、実施の形態に従って本発明を詳細に説明する。
図１に、本発明を具備するアイパターン評価装置１の一実施形態例を図示する。
本実施形態例のアイパターン評価装置１は、データ列ファイル１０と、伝送路モデル記憶部１１と、波形シミュレータ１２と、プロットデータファイル１３と、マスクスペック記憶部１４と、アイパターン評価部１５と、ディスプレイ１６とを備える。
データ列ファイル１０は、図２に示すような１か０をとる信号の時系列データで構成されるデータ列を記憶する。
伝送路モデル記憶部１１は、設計対象装置の備える受信デバイスに接続される伝送路の数学的モデルを記憶する。
波形シミュレータ１２は、伝送路モデル記憶部１１の記憶する伝送路モデルに基づいて、データ列ファイル１０の記憶するデータ列の伝送波形をシミュレートすることで、時間と波形電圧値との対応関係について記述するプロットデータを生成する。
プロットデータファイル１３は、波形シミュレータ１２の生成した図３に示すようなプロットデータを記憶する。
マスクスペック記憶部１４は、アイパターンの品質評価基準となる図１９に示すようなマスクのスペックを記憶する。
アイパターン評価部１５は、プロットデータファイル１３の記憶するプロットデータから２クロック周期分の長さを持つ波形信号片を順次切り出してディスプレイ１６に重畳表示することで、図１８に示すようなアイパターンを生成してディスプレイ１６に表示する波形表示部１５０と、波形表示部１５０の生成するアイパターンがマスクスペック記憶部１４の記憶するマスクに対して持っているマージンを算出してその算出結果をディスプレイ１６に表示するマージン算出部１５１とを備えることで、アイパターンを生成してディスプレイ１６に表示するとともに、アイパターンがマスクに対して持っているマージンを算出してその算出結果をディスプレイ１６に表示する。
図４ないし８に、アイパターン評価部１５の実行するフローチャートの一例を図示する。
ここで、図４に示すフローチャートは、アイパターン評価部１５の実行する全体的な処理についてのフローチャートである。また、図５および図６に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートのステップＳ１０で実行する処理についての詳細なフローチャートである。また、図７に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートのステップＳ３０で実行する処理についての詳細なフローチャートである。また、図８に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートのステップＳ４０で実行する処理についての詳細なフローチャートである。
次に、これらのフローチャートに従って、図１のように構成される本実施形態例のアイパターン評価装置１の実行する処理について詳細に説明する。
〔１〕全体的な処理
アイパターン評価部１５は、アイパターンがマスクに対して持っているマージンを算出する場合には、図４のフローチャートに示すように、先ず最初に、ステップＳ１０で、アイパターン開口の時間軸上の中心位置を割り出すことで、アイパターンの中心位置を算出する。
続いて、ステップＳ２０で、算出したアイパターンの中心位置にマスクの中心位置を配置することを想定して、その配置下でのマスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出することでマスクを作成する。
受信デバイスを提供するメーカから図１９に示すようなマスクが提示される場合には、アイパターンの中心位置として算出した位置にこのマスクの中心位置を配置することを想定して、その配置下でのマスクの持つ各特徴点ｒ点，ｓ点，ｔ点，ｕ点，ｐ点，ｑ点の時間座標値および電圧座標値を算出するのである。
続いて、ステップＳ３０で、時間軸上に存在しないマスクの持つ各特徴点について電圧軸マージンを算出して、それに基づいて、最終的な電圧軸マージンを算出する。
受信デバイスを提供するメーカから図１９に示すようなマスクが提示される場合には、時間軸上に存在しない各特徴点ｒ点，ｓ点，ｔ点，ｕ点について電圧軸マージンを算出して、それに基づいて、最終的な電圧軸マージンを算出するのである。
続いて、ステップＳ４０で、時間軸上に存在するマスクの持つ各特徴点について時間軸マージンを算出して、それに基づいて、最終的な時間軸マージンを算出する。
受信デバイスを提供するメーカから図１９に示すようなマスクが提示される場合には、時間軸上に存在する各特徴点ｐ点，ｑ点について時間軸マージンを算出して、それに基づいて、最終的な時間軸マージンを算出するのである。
続いて、ステップＳ５０で、ステップＳ３０で算出した最終的な電圧軸マージンと、ステップＳ４０で算出した最終的な時間軸マージンとをディスプレイ１６に表示して、処理を終了する。
〔１−１〕アイパターン中心位置の算出処理
次に、図５および図６のフローチャートに従って、図４のフローチャートのステップＳ１０で実行するアイパターン中心位置の算出処理について説明する。
アイパターン評価部１５は、図４のフローチャートのステップＳ１０に進むことでアイパターン中心位置の算出処理に入ると、図５および図６のフローチャートに示すように、先ず最初に、ステップＳ１００で、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から電圧値（電圧座標値）が±Ｖthに入るプロットデータを抽出する。ここで、Ｖthはゼロ値近傍に設定される閾値である。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１００で抽出することになる電圧値が±Ｖthに入るプロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１０１で、抽出したプロットデータの中から最小の時間値（時間座標値）を持つものを抽出して、その時間値を変数“最小時間”に代入する。
続いて、ステップＳ１０２で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ１０３に進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から電圧値が±Ｖthに入るプロットデータを抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１０３で抽出することになる電圧値が±Ｖthに入るプロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１０４で、抽出したプロットデータの中から最小の時間値を持つものを抽出する。
続いて、ステップＳ１０５で、抽出したプロットデータの時間値が変数“最小時間”の値よりも小さいのか否かを判断し、続くステップＳ１０６で、小さいという判断結果が得られたのかを判断する。
この判断処理に従って、抽出したプロットデータの時間値が変数“最小時間”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ１０７に進んで、抽出したプロットデータの時間値に従って変数“最小時間”の値を書き換えてから、ステップＳ１０２の処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、抽出したプロットデータの時間値が変数“最小時間”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ１０７の処理を行わずに、直ちにステップＳ１０２の処理に戻る。
このようにして、ステップＳ１０２〜ステップＳ１０７の処理を繰り返していくことで、ステップＳ１０２で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ１０８に進んで、変数“最小時間”の値を最小時間として決定する。
続いて、ステップＳ１０９で、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から電圧値が±Ｖthに入るプロットデータを抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１０９で抽出することになる電圧値が±Ｖthに入るプロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１１０で、抽出したプロットデータの中から最大の時間値を持つものを抽出して、その時間値を変数“最大時間”に代入する。
続いて、ステップＳ１１１で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ１１２に進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から電圧値が±Ｖthに入るプロットデータを抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１１２で抽出することになる電圧値が±Ｖthに入るプロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１１３で、抽出したプロットデータの中から最大の時間値を持つものを抽出する。
続いて、ステップＳ１１４で、抽出したプロットデータの時間値が変数“最大時間”の値よりも大きいのか否かを判断し、続くステップＳ１１５で、大きいという判断結果が得られたのか否かを判断する。
この判断処理に従って、抽出したプロットデータの時間値が変数“最大時間”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ１１６に進んで、抽出したプロットデータの時間値に従って変数“最大時間”の値を書き換えてから、ステップＳ１１１の処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、抽出したプロットデータの時間値が変数“最大時間”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ１１６の処理を行わずに、直ちにステップＳ１１１の処理に戻る。
このようにして、ステップＳ１１１〜ステップＳ１１６の処理を繰り返していくことで、ステップＳ１１１で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ１１７に進んで、変数“最大時間”の値を最大時間として決定する。
続いて、ステップＳ１１８で、ステップＳ１０８で決定した最小時間とステップＳ１１７で決定した最大時間との間の中間位置を求めて、それをアイパターンの中心位置と決定して、処理を終了する。
このようにして、アイパターン評価部１５は、図４のフローチャートのステップＳ１０に進むことでアイパターン中心位置の算出処理に入ると、ステップＳ１００〜ステップＳ１０８の処理に従って、図９中に示す最小時間の時間座標値を求めるとともに、ステップＳ１０９〜ステップＳ１１７の処理に従って、図９中に示す最大時間の時間座標値を求めて、その２つの中間位置（＝（最小時間＋最大時間）／２）を求めることで、図９中に示すアイパターンの中心位置を算出するように処理するのである。
〔１−２〕マスク作成処理
図４のフローチャートのステップＳ１０の処理に従ってアイパターンの中心位置が算出されると、前述したように、図４のフローチャートのステップＳ２０の処理に従って、算出したアイパターンの中心位置にマスクの中心位置を配置することで、図１０に示すような形でマスクが作成されることになる。
〔１−３〕電圧軸マージンの算出処理
次に、図７のフローチャートに従って、図４のフローチャートのステップＳ３０で実行する電圧軸マージンの算出処理について説明する。
この電圧軸マージンの算出処理に入る前に、図４のフローチャートのステップＳ２０の処理に従って、マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値が算出されており、この電圧軸マージンの算出処理では、それらの特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点について図７のフローチャートの処理を実行して、その実行により求められる各特徴点の電圧軸マージンから最終的な電圧軸マージンを算出するという処理を実行する。
すなわち、受信デバイスを提供するメーカから図１９に示すようなマスクが提示される場合には、各特徴点ｒ点，ｓ点，ｔ点，ｕ点について図７のフローチャートの処理を実行して、その実行により求められる各特徴点の電圧軸マージンから最終的な電圧軸マージンを算出するという処理を実行するのである。
アイパターン評価部１５は、時間軸上に存在しない１つの特徴点を選択して、それについて電圧軸マージンの算出処理に入ると、図７のフローチャートに示すように、先ず最初に、ステップＳ３００で、特徴点に最も近いプロットデータの時間位置を特定する。
図３に示すように、各周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）は一定の時間間隔でサンプリングされた波形電圧値で構成されて、その先頭からの相対的な時間値に従ってアイパターンを形成すべくプロットされることになり、これにより、図１１に示すように、特徴点に最も近いプロットデータの時間位置が一意に決められることから、その時間位置を特定するのである。
続いて、ステップＳ３０１で、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その読み出したプロットデータの中から、特徴点のマスク電圧の正負に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
図１９に示す特徴点ｒ点，ｓ点のマスク電圧は正の電圧であることから、図１２（ａ）に示すように、正の電圧値を持つプロットデータ部分を処理対象として抽出し、一方、図１９に示す特徴点ｔ点，ｕ点のマスク電圧は負の電圧であることから、図１２（ｂ）に示すように、負の電圧値を持つプロットデータ部分を処理対象として抽出するのである。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ３０１で抽出することになる処理対象のプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ３０２で、ステップＳ３０１で抽出したプロットデータ部分を処理対象として、そのプロットデータ部分に含まれているステップＳ３００で特定した時間位置にあるプロットデータを抽出することで、特徴点に最も近い時間位置のプロットデータの電圧値を抽出する。
続いて、ステップＳ３０３で、特徴点のマスク電圧と抽出した電圧値との差分電圧値を算出して、変数“最小差分電圧値”に代入する。このとき、抽出した電圧値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分電圧値の符号を負とし、抽出した電圧値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分電圧値の符号を正として、差分電圧値を算出する。
続いて、ステップＳ３０４で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ３０５に進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、ステップＳ３０１の処理と同様の処理に従って、その読み出したプロットデータの中から、特徴点のマスク電圧の正負に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ３０５で抽出することになる処理対象のプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ３０６で、ステップＳ３０５で抽出したプロットデータ部分を処理対象として、そのプロットデータ部分に含まれているステップＳ３００で特定した時間位置にあるプロットデータを抽出することで、特徴点に最も近い時間位置のプロットデータ電圧値を抽出する。
続いて、ステップＳ３０７で、特徴点のマスク電圧値と抽出した電圧値との差分電圧値を算出する。このとき、抽出した電圧値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分電圧値の符号を負とし、抽出した電圧値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分電圧値の符号を正として、差分電圧値を算出する。
続いて、ステップＳ３０８で、算出した差分電圧値が変数“最小差分電圧値”の値よりも小さいのか否かを判断し、続くステップＳ３０９で、小さいという判断結果が得られたのか否かを判断する。このとき、通常の数学的論理に従って、正の符号の差分電圧値よりも負の符号の差分電圧値の方が小さいと判断し、また、両方とも負の符号の差分電圧値である場合には、絶対値の大きい差分電圧値の方が小さいと判断することで、この判断処理を実行する。
この判断処理に従って、算出した差分電圧値が変数“最小差分電圧値”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ３１０に進んで、算出した差分電圧値に従って変数“最小差分電圧値”の値を書き換えてから、ステップＳ３０４の処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、算出した差分電圧値が変数“最小差分電圧値”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ３１０の処理を行わずに、直ちにステップＳ３０４の処理に戻る。
このようにして、ステップＳ３０４〜ステップＳ３１０の処理を繰り返していくことで、ステップＳ３０４で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ３１１に進んで、変数“最小差分電圧値”の値を、処理を行った特徴点の電圧軸マージンとして決定する。
時間軸上に存在しない特徴点が複数ある場合には、アイパターン評価部１５は、それらの各特徴点についてこの図７のフローチャートの処理を実行し、これにより、それらの各特徴点について電圧軸方向のマージンを算出することになる。
これから、アイパターン評価部１５は、このようにして算出した各特徴点についての電圧軸方向のマージンに基づいて、例えば、それらのマージンの中の最小のものを特定して、それを電圧軸方向のマージンとして決定することになる。
前述したように、プロットデータがアイパターンに入り込む場合には、差分電圧値の符号を負として算出し、プロットデータがアイパターンに入り込まない場合には、差分電圧値の符号を正として算出するようにしていることから、各特徴点について算出した電圧軸方向のマージンの最小のものを特定して、それを最終的な電圧軸マージンとする場合、プロットデータがアイパターンに入り込む場合には、最もアイパターンに入り込んだ差分電圧値が最終的な電圧軸マージンとして算出され、プロットデータがアイパターンに入り込まない場合には、最もアイパターンに近づく差分電圧値が最終的な電圧軸マージンとして算出されることになる。
〔１−４〕時間軸マージンの算出処理
次に、図８のフローチャートに従って、図４のフローチャートのステップＳ４０で実行する時間軸マージンの算出処理について説明する。
この時間軸マージンの算出処理に入る前に、図４のフローチャートのステップＳ２０の処理に従って、マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値が算出されており、この時間軸マージンの算出処理では、それらの特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点について図８のフローチャートの処理を実行して、その実行により求められる各特徴点の時間軸マージンから最終的な時間軸マージンを算出するという処理を実行する。
すなわち、受信デバイスを提供するメーカから図１９に示すようなマスクが提示される場合には、各特徴点ｐ点，ｑ点について図８のフローチャートの処理を実行して、その実行により求められる各特徴点の時間軸マージンから最終的な時間軸マージンを算出するという処理を実行するのである。
アイパターン評価部１５は、時間軸上に存在する１つの特徴点を選択して、それについて時間軸マージンの算出処理に入ると、図８のフローチャートに示すように、先ず最初に、ステップＳ４００で、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その読み出したプロットデータの中から、電圧値が±Ｖthに入り、かつ特徴点の時間位置に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
図１９に示す特徴点ｐ点の時間位置はアイパターンの中心位置よりも時間的に前側であることから、図１３（ａ）に示すように、電圧値が±Ｖthに入り、かつアイパターンの中心位置よりも時間的に前にあるプロットデータ部分を処理対象として抽出し、一方、図１９に示す特徴点ｑ点の時間位置はアイパターンの中心位置よりも時間的に後側であることから、図１３（ｂ）に示すように、電圧値が±Ｖthに入り、かつアイパターンの中心位置よりも時間的に後にあるプロットデータ部分を処理対象として抽出するのである。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ４００で抽出することになるプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ４０１で、ステップＳ４００で抽出したプロットデータ部分を処理対象として、そのプロットデータ部分に含まれている電圧値が最もゼロに近いプロットデータを特定して、そのプロットデータの時間値を抽出する。
続いて、ステップＳ４０２で、特徴点の時間値と抽出した時間値との差分時間値を算出し、変数“最小差分時間値”に代入する。このとき、抽出した時間値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分時間値の符号を負とし、抽出した時間値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分時間値の符号を正として、差分時間値を算出する。
続いて、ステップＳ４０３で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ４０４に進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、ステップＳ４００の処理と同様の処理に従って、その読み出したプロットデータの中から、電圧値が±Ｖthに入り、かつ特徴点の時間位置に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ４０４で抽出することになるプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ４０５で、ステップＳ４０４で抽出したプロットデータ部分を処理対象として、そのプロットデータ部分に含まれている電圧値が最もゼロに近いプロットデータを特定して、そのプロットデータの時間値を抽出する。
続いて、ステップＳ４０６で、特徴点の時間値と抽出した時間値との差分時間値を算出する。このとき、抽出した時間値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分時間値の符号を負とし、抽出した時間値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分時間値の符号を正として、差分時間値を算出する。
続いて、ステップＳ４０７で、算出した差分時間値が変数“最小差分時間値”の値よりも小さいのか否かを判断し、続くステップＳ４０８で、小さいという判断結果が得られたのか否かを判断する。このとき、通常の数学的論理に従って、正の符号の差分時間値よりも負の符号の差分時間値の方が小さいと判断し、また、両方とも負の符号の差分時間値である場合には、絶対値の大きい差分時間値の方が小さいと判断することで、この判断処理を実行する。
この判断処理に従って、算出した差分時間値が変数“最小差分時間値”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ４０９に進んで、算出した差分時間値に従って変数“最小差分時間値”の値を書き換えてから、ステップＳ４０３の処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、算出した差分時間値が変数“最小差分時間値”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ４０９の処理を行わずに、直ちにステップＳ４０３の処理に戻る。
このようにして、ステップＳ４０３〜ステップＳ４０９の処理を繰り返していくことで、ステップＳ４０３で、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ４１０に進んで、変数“最小差分時間値”の値を、処理を行った特徴点の時間軸マージンとして決定する。
時間軸上に存在する特徴点が複数ある場合には、アイパターン評価部１５は、それらの各特徴点についてこの図８のフローチャートの処理を実行し、これにより、それらの各特徴点について時間軸方向のマージンを算出することになる。
これから、アイパターン評価部１５は、このようにして算出した各特徴点について時間軸方向のマージンに基づいて、例えば、それらのマージンの中の最小のものを特定して、それを時間軸方向のマージンとして決定することになる。
前述したように、プロットデータがアイパターンに入り込む場合には、差分時間値の符号を負として算出し、プロットデータがアイパターンに入り込まない場合には、差分時間値の符号を正として算出するようにしていることから、各特徴点について算出した時間軸方向のマージンの最小のものを特定して、それを最終的な時間軸マージンとする場合、プロットデータがアイパターンに入り込む場合には、最もアイパターンに入り込んだ差分時間値が最終的な時間軸マージンとして算出され、プロットデータがアイパターンに入り込まない場合には、最もアイパターンに近づく差分時間値が最終的な時間軸マージンとして算出されることになる。
このようにして、アイパターン評価部１５は、図４ないし８のフローチャートを実行することで、シミュレータにより生成されるアイパターンが品質評価基準となるマスクに対して持っているマージンを自動的に算出することを実現するのである。
そして、アイパターン評価部１５は、このマージンの算出にあたって、受信デバイスに組み込まれるクロック・データ・リカバリの特性を考慮して、品質評価基準となるマスクをアイパターン開口の時間軸上の中心位置に配置してマージンを算出することで、実際に受信デバイスが動作する際に要求される正確なマージンの算出を実現するのである。
以上に説明した実施形態例では、特徴点に最も近いプロットデータを抽出することで、アイパターン中心位置の算出処理（〔１−１〕で説明した処理）、電圧軸マージンの算出処理（〔１−３〕で説明した処理）および時間軸マージンの算出処理（〔１−４〕で説明した処理）を実行するという構成を採ったが、マージン算出処理の精度を高めるために、直線補間手法に従って特徴点位置におけるプロットデータの時間値や電圧値を推定して、それに基づいて、アイパターン中心位置の算出処理や電圧軸マージンの算出処理や時間軸マージンの算出処理を実行する方法を用いるようにしてもよい。
図１４ないし１７に、この方法を用いる場合に、アイパターン評価部１５の実行するフローチャートの一例を図示する。
ここで、図１４および図１５に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートのステップＳ１０で実行する処理についての詳細なフローチャートである。また、図１６に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートのステップＳ３０で実行する処理についての詳細なフローチャートである。また、図１７に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートのステップＳ４０で実行する処理についての詳細なフローチャートである。
次に、これらのフローチャートに従って、この方法を用いる場合に実行するアイパターン評価装置１の実行する処理について詳細に説明する。
〔２−１〕アイパターン中心位置の算出処理
アイパターン評価部１５は、図１４および図１５のフローチャートに従ってアイパターンの中心位置を算出する場合には、図４のフローチャートのステップＳ１０に進むことでアイパターン中心位置の算出処理に入ると、先ず最初に、ステップＳ１００ａで、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータを抽出する。
続いて、ステップＳ１０１ａで、抽出した２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して時間軸との交点を算出し、その算出した時間値を変数“最小時間”に代入する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１００ａで抽出することになる０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１０２ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ１０３ａに進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータを抽出する。
続いて、ステップＳ１０４ａで、抽出した２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して時間軸との交点を算出することで、その交点の時間値を算出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１０３ａで抽出することになる０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１０５ａで、算出した交点の時間値が変数“最小時間”の値よりも小さいのか否かを判断し、続くステップＳ１０６ａで、小さいという判断結果が得られたのかを判断する。
この判断処理に従って、算出した交点の時間値が変数“最小時間”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ１０７ａに進んで、算出した交点の時間値に従って変数“最小時間”の値を書き換えてから、ステップＳ１０２ａの処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、算出した交点の時間値が変数“最小時間”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ１０７ａの処理を行わずに、直ちにステップＳ１０２ａの処理に戻る。
このようにして、ステップＳ１０２ａ〜ステップＳ１０７ａの処理を繰り返していくことで、ステップＳ１０２ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ１０８ａに進んで、変数“最小時間”の値を最小時間として決定する。
続いて、ステップＳ１０９ａで、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータを抽出する。
続いて、ステップＳ１１０ａで、抽出した２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して時間軸との交点を算出し、その算出した時間値を変数“最大時間”に代入する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１０９ａで抽出することになる０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１１１ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ１１２ａに進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その中から０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータを抽出する。
続いて、ステップＳ１１３ａで、抽出した２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して時間軸との交点を算出することで、その交点の時間値を算出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ１１２ａで抽出することになる０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータが存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ１１４ａで、算出した交点の時間値が変数“最大時間”の値よりも大きいのか否かを判断し、続くステップＳ１１５ａで、大きいという判断結果が得られたのかを判断する。
この判断処理に従って、算出した交点の時間値が変数“最大時間”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ１１６ａに進んで、算出した交点の時間値に従って変数“最大時間”の値を書き換えてから、ステップＳ１１１ａの処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、算出した交点の時間値が変数“最大時間”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ１１６ａの処理を行わずに、直ちにステップＳ１１１ａの処理に戻る。
このようにして、ステップＳ１１１ａ〜ステップＳ１１６ａの処理を繰り返していくことで、ステップＳ１１１ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ１１７ａに進んで、変数“最大時間”の値を最大時間として決定する。
続いて、ステップＳ１１８ａで、ステップＳ１０８ａで決定した最小時間とステップＳ１１７ａで決定した最大時間との間の中間位置を求めて、それをアイパターンの中心位置として処理を終了する。
このようにして、アイパターン評価部１５は、図４のフローチャートのステップＳ１０に進むことでアイパターン中心位置の算出処理に入ると、直線補間手法に従って時間軸と交差するプロットデータの時間値を推定することで、図９中に示す最小時間の時間座標値および最大時間の時間座標値を求めて、図９中に示すアイパターンの中心位置を算出するように処理するのである。
〔２−２〕マスク作成処理
図４のフローチャートのステップＳ１０の処理に従ってアイパターンの中心位置が算出されると、前述したように、図４のフローチャートのステップＳ２０の処理に従って、算出したアイパターンの中心位置にマスクの中心位置を配置することで、図１０に示すような形でマスクが作成されることになる。
〔２−３〕電圧軸マージンの算出処理
アイパターン評価部１５は、図１６のフローチャートに従って電圧軸マージンを算出する場合には、図４のフローチャートのステップＳ３０に進むことで、時間軸上に存在しない１つの特徴点を選択して、それについて電圧軸マージンの算出処理に入ると、先ず最初に、ステップＳ３００ａで、特徴点に隣接する２つのプロットデータの時間位置を特定する。
図３に示すように、各周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）は一定の時間間隔でサンプリングされた波形電圧値で構成されて、その先頭からの相対的な時間値に従ってアイパターンを形成すべくプロットされることになり、これにより、特徴点に隣接する２つのプロットデータの時間位置が一意に決められることから、その時間位置を特定するのである。
続いて、ステップＳ３０１ａで、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その読み出したプロットデータの中から、特徴点のマスク電圧の正負に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
図１９に示す特徴点ｒ点，ｓ点のマスク電圧は正の電圧であることから、図１２（ａ）に示すように、正の電圧値を持つプロットデータ部分を処理対象として抽出し、一方、図１９に示す特徴点ｔ点，ｕ点のマスク電圧は負の電圧であることから、図１２（ｂ）に示すように、負の電圧値を持つプロットデータ部分を処理対象として抽出するのである。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ３０１ａで抽出することになる処理対象のプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ３０２ａで、ステップＳ３０１ａで抽出したプロットデータ部分を処理対象として、そのプロットデータ部分に含まれているステップＳ３００ａで特定した時間位置にある２つの連続プロットデータを抽出して、その２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して特徴点の時間位置との交点を算出することで、その交点の電圧値を算出する。
続いて、ステップＳ３０３ａで、特徴点のマスク電圧と算出した交点の電圧値との差分電圧値を算出し、変数“最小差分電圧値”に代入する。このとき、算出した交点の電圧値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分電圧値の符号を負とし、算出した交点の電圧値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分電圧値の符号を正として、差分電圧値を算出する。
続いて、ステップＳ３０４ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ３０５ａに進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、ステップＳ３０１ａの処理と同様の処理に従って、その読み出したプロットデータの中から、特徴点のマスク電圧の正負に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ３０５ａで抽出することになる処理対象のプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ３０６ａで、ステップＳ３０５ａで抽出したプロットデータ部分を処理対象として、そのプロットデータ部分に含まれているステップＳ３００ａで特定した時間位置にある２つの連続プロットデータを抽出して、その２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して特徴点の時間位置との交点を算出することで、その交点の電圧値を算出する。
続いて、ステップＳ３０７ａで、特徴点のマスク電圧と算出した交点の電圧値との差分電圧値を算出する。このとき、算出した交点の電圧値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分電圧値の符号を負とし、算出した交点の電圧値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分電圧値の符号を正として、差分電圧値を算出する。
続いて、ステップＳ３０８ａで、算出した差分電圧値が変数“最小差分電圧値”の値よりも小さいのか否かを判断し、続くステップＳ３０９ａで、小さいという判断結果が得られたのか否かを判断する。このとき、通常の数学的論理に従って、正の符号の差分電圧値よりも負の符号の差分電圧値の方が小さいと判断し、また、両方とも負の符号の差分電圧値である場合には、絶対値の大きい差分電圧値の方が小さいと判断することで、この判断処理を実行する。
この判断処理に従って、算出した差分電圧値が変数“最小差分電圧値”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ３１０ａに進んで、算出した差分電圧値に従って変数“最小差分電圧値”の値を書き換えてから、ステップＳ３０４ａの処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、算出した差分電圧値が変数“最小差分電圧値”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ３１０ａの処理を行わずに、直ちにステップＳ３０４ａの処理に戻る。
このようにして、ステップＳ３０４ａ〜ステップＳ３１０ａの処理を繰り返していくことで、ステップＳ３０４ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ３１１ａに進んで、変数“最小差分電圧値”の値を、処理を行った特徴点の電圧軸マージンとして決定する。
時間軸上に存在しない特徴点が複数ある場合には、アイパターン評価部１５は、それらの各特徴点についてこの図１６のフローチャートの処理を実行し、これにより、それらの各特徴点について電圧軸方向のマージンを算出することになる。
これから、アイパターン評価部１５は、このようにして算出した各特徴点について電圧軸方向のマージンに基づいて、例えば、それらのマージンの中の最小のものを特定して、それを電圧軸方向のマージンとして決定することになる。
〔２−４〕時間軸マージンの算出処理
アイパターン評価部１５は、図１７のフローチャートに従って時間軸マージンを算出する場合には、図４のフローチャートのステップＳ４０に進むことで、時間軸上に存在する１つの特徴点を選択して、それについて時間軸マージンの算出処理に入ると、先ず最初に、ステップＳ４００ａで、プロットデータファイル１３から開始周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、その読み出したプロットデータの中から、特徴点の時間位置に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
図１９に示す特徴点ｐ点の時間位置はアイパターンの中心位置よりも時間的に前側であることから、図１３（ａ）に示すように、アイパターンの中心位置よりも時間的に前にあるプロットデータ部分を処理対象として抽出し、一方、図１９に示す特徴点ｑ点の時間位置はアイパターンの中心位置よりも時間的に後側であることから、図１３（ｂ）に示すように、アイパターンの中心位置よりも時間的に後ろにあるプロットデータ部分を処理対象として抽出するのである。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ４００ａで抽出することになる処理対象のプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ４０１ａで、ステップＳ４００ａで抽出したプロットデータ部分を処理対象として、抽出したプロットデータ部分の中から０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータを抽出して、その２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して時間軸との交点を算出することで、その交点の時間値を算出する。
続いて、ステップＳ４０２ａで、特徴点の時間値と算出した交点の時間値との差分時間値を算出し、変数“最小差分時間値”に代入する。このとき、算出した交点の時間値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分時間値の符号を負とし、算出した交点の時間値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分時間値の符号を正として、差分時間値を算出する。
続いて、ステップＳ４０３ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）まで処理を行ったのか否かを判断して、最終周期のプロットデータまで処理を行っていないことを判断するときには、ステップＳ４０４ａに進んで、プロットデータファイル１３から次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出し、ステップＳ４００ａの処理と同様の処理に従って、その読み出したプロットデータの中から、特徴点の時間位置に応じて処理対象のプロットデータ部分を抽出する。
ここで、図１８から分かるように、ステップＳ４０４ａで抽出することになる処理対象のプロットデータ部分が存在しない場合があるが、この場合には、次の周期のプロットデータ（２クロック周期分のプロットデータ）を読み出していくことになる。
続いて、ステップＳ４０５ａで、ステップＳ４００ａで抽出したプロットデータ部分を処理対象として、抽出したプロットデータ部分の中から０Ｖ（時間軸）を交差する２つの連続プロットデータを抽出して、その２つの連続プロットデータの直線補間式を導出して時間軸との交点を算出することで、その交点の時間値を算出する。
続いて、ステップＳ４０６ａで、特徴点の時間値と算出した交点の時間値との差分時間値を算出する。このとき、算出した交点の時間値がアイパターンに入り込む場合には、算出する差分時間値の符号を負とし、算出した交点の時間値がアイパターンに入り込まない場合には、算出する差分時間値の符号を正として、差分時間値を算出する。
続いて、ステップＳ４０７ａで、算出した差分時間値が変数“最小差分時間値”の値よりも小さいのか否かを判断し、続くステップＳ４０８ａで、小さいという判断結果が得られたのか否かを判断する。このとき、通常の数学的論理に従って、正の符号の差分時間値よりも負の符号の差分時間値の方が小さいと判断し、また、両方とも負の符号の差分時間値である場合には、絶対値の大きい差分時間値の方が小さいと判断することで、この判断処理を実行する。
この判断処理に従って、算出した差分時間値が変数“最小差分時間値”の値よりも小さいことを判断するときには、ステップＳ４０９ａに進んで、算出した差分時間値に従って変数“最小差分時間値”の値を書き換えてから、ステップＳ４０３ａの処理に戻る。
一方、この判断処理に従って、算出した差分時間値が変数“最小差分時間値”の値よりも大きいことを判断するときには、ステップＳ４０９ａの処理を行わずに、直ちにステップＳ４０３ａの処理に戻る。
このようにして、ステップＳ４０３ａ〜ステップＳ４０９ａの処理を繰り返していくことで、ステップＳ４０３ａで、プロットデータファイル１３に記憶される最終周期のプロットデータまで処理を行ったことを判断すると、ステップＳ４１０ａに進んで、変数“最小差分時間値”の値を、処理を行った特徴点の時間軸マージンとして決定する。
時間軸上に存在する特徴点が複数ある場合には、アイパターン評価部１５は、それらの各特徴点についてこの図１７のフローチャートの処理を実行し、これにより、それらの各特徴点について時間軸方向のマージンを算出することになる。
これから、アイパターン評価部１５は、このようにして算出した各特徴点について時間軸方向のマージンに基づいて、例えば、それらのマージンの中の最小のものを特定して、それを時間軸方向のマージンとして決定することになる。
このようにして、アイパターン評価部１５は、図１４ないし１７のフローチャートを実行する場合には、直線補間手法に従って特徴点位置におけるプロットデータの時間値や電圧値を推定して、それに基づいて、アイパターン中心位置の算出処理や電圧軸マージンの算出処理や時間軸マージンの算出処理を実行することから、シミュレータにより生成されるアイパターンがマスクに対して持っているマージンを高精度に算出することができるようになる。
図１乃至１９を参照して前述したアイマージンの算出処理においては、受信デバイスを提供するメーカから提示されるマスク（図１９を参照）の中心位置をアイパターンの中心位置に配置して、アイパターンとマスクとの間のマージンを算出する。すなわち、電圧軸方向のマスクの中心位置をゼロ値に固定し、時間軸方向のマスクの中心位置をアイパターンの１周期の中心の位置に固定している。このようなアイマージンの算出処理は、一般的な受信デバイスのクロックデータリカバリ回路、差動入力バッファの機能に対応するものである。
しかし、マスクの規定方法は、業界内で統一されているわけではなく、例えば、マスクの配置位置を固定せずに動かして算出されるマージンが受信デバイスの仕様を満たすことを要求するメーカもある。
上述したような、マスクの中心位置をアイパターンの中心位置に配置してマージンを算出する手法では、算出されたマージンが受信デバイスの仕様を満たさない場合、伝送路の要素部品に高価なものを用いる等して、伝送路の設計変更をし、受信デバイスの仕様を満たすマージンを確保する必要がある。
ここで、マスクの配置位置を固定せずに、マスクの配置位置を移動させながらマージンを算出し、算出されたマージンが最大である配置位置におけるマージンをユーザに提供することができれば、過剰なマージンの確保を防止することができ、その結果、伝送路の要素部品により安価なものを採用できる可能性が増え、コストダウン設計をもたらすことができる。以下に説明する本発明のアイパターン評価装置の他の実施形態例は、マスクの配置位置を移動させながらマージンを算出することを可能とする。
図２０は、本発明のアイパターン評価装置の他の実施形態例を示す図である。図２０に示すアイパターン評価装置２は、データ列ファイル１０、伝送路モデル記憶部１１、波形シミュレータ１２、プロットデータファイル１３、マスクスペック記憶部１４、ディスプレイ１６、マスク配置位置設定部２１、アイパターン評価部２２を備える。また、アイパターン評価部２２は、波形表示部１５０、マージン算出部２２０を備える。図２０に示すアイパターン評価装置２の構成要素のうち、図１を参照して前述したアイパターン評価装置１の構成要素と同一の符号が付けられたものは、アイパターン評価装置１の構成要素と同様である。
マスク配置位置設定部２１は、ユーザの指定入力に従って、マスクの（中心の）配置位置に関するモードを設定する。具体的には、マスク配置位置設定部２１は、図２１を参照して後述するマスク配置位置設定画面をディスプレイ１６に表示し、該マスク配置位置設定画面上におけるユーザの選択操作に応じて、マスクの配置位置に関するモードを設定する。すなわち、マスク配置位置設定部２１は、マスクの配置位置をアイパターンの中心の位置とするモード（第１のモード）に設定するか、又はマスクの配置位置に制限を設けないモードに設定する。マスクの配置位置に制限を設けないモードは、例えば、マスクの電圧軸方向（電圧軸に沿った方向）の配置位置（マスクの電圧軸方向の中心位置）をゼロ値に固定するがマスクの時間軸方向（時間軸に沿った方向）の配置位置に制限を設けないモード（第２のモード）、マスクの時間軸方向の配置位置（マスクの時間軸方向の中心位置）をアイパターンの１周期の中心位置に固定するがマスクの電圧軸方向の配置位置に制限を設けないモード（第３のモード）、マスクの時間軸方向の配置位置及び電圧軸方向の配置位置に制限を設けないモード（第４のモード）である。マスクの電圧軸方向の中心位置は、例えば、マスク上の最大電圧座標値と最小電圧座標値とを加えて２で除算して得られる電圧座標値に対応するマスク上の点の電圧軸方向の位置である。また、マスクの時間軸方向の中心位置は、例えば、マスク上の最大時間座標値と最小時間座標値とを加えて２で除算して得られる時間座標値に対応するマスク上の点の時間軸方向の位置である。
アイパターン評価部２２は、アイパターンを生成してディスプレイ１６に表示するとともに、波形表示部１５０が生成するアイパターンがマスクスペック記憶部１４が記憶するマスクに対して持っているマージンを算出してその算出結果をディスプレイ１６に表示する。アイパターン評価部２２が備える波形表示部１５０は、図１を参照して前述した波形表示部１５０と同様に、プロットデータファイル１３の記憶するプロットデータから２クロック周期分の長さを持つ波形信号片を順次切り出してディスプレイ１６に重畳表示することで、前述した図１８に示すようなアイパターンを生成してディスプレイ１６に表示する。
マージン算出部２２０は、マスク配置位置設定部２１によって、マスクの配置位置に関するモードが上記第１のモードに設定された場合に、例えば前述した図７又は図１６に示すフローチャートに従って、マスクの特徴点の電圧軸マージン（特徴点の電圧座標値と該特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値との差分）を算出して、それに基づいて最終的な電圧軸マージンを算出して出力する。また、マージン算出部２２０は、例えば前述した図８又は図１７に示すフローチャートに従って、マスクの特徴点の時間軸マージン（特徴点の時間座標値と該特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値との差分）を算出して、それに基づいて最終的な時間軸マージンを算出して出力する。
また、マージン算出部２２０は、マスク配置位置設定部２１によって、マスクの配置位置に関するモードがマスクの配置位置に制限を設けないモードに設定された場合に、マスクの配置位置を移動させながら、波形表示部１５０の生成するアイパターンがマスクスペック記憶部１４の記憶するマスクに対して持っているマージンを算出してその算出結果をディスプレイ１６に表示する。具体的には、マスク配置位置設定部２１によって、マスクの配置位置に関するモードが上記第２のモードに設定された場合に、マージン算出部２２０は、マスクの電圧軸方向の配置位置をゼロ値に固定したままマスクの時間軸方向の配置位置を時間軸に沿って１ステップ（所定の時間）ずつ移動させる。例えば、マージン算出部２２０は、マスクの時間軸方向の配置位置を、マスクの一部がアイパターンの開口に入り始める位置に初期設定し、該初期設定された配置位置から該マスクがアイパターンに出始める配置位置まで、該マスクの時間軸方向の配置位置を移動させる。
マージン算出部２２０は、移動先の各配置位置におけるマスクの各特徴点の時間軸マージン（特徴点の時間座標値と該特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値との差分）を算出する。マージン算出部２２０は、該時間軸マージンが最小である特徴点の時間軸マージンが最大となるマスクの配置位置を選択配置位置として選択する。そして、マージン算出部２２０は、該選択された選択配置位置における最終的な時間軸マージンと最終的な電圧軸マージンとを算出してその算出結果をディスプレイ１６に出力する。マージン算出部２２０は、選択配置位置における各特徴点の時間軸マージンのうち最小のものを最終的な時間軸マージンとする。また、マージン算出部２２０は、選択配置位置における各特徴点の電圧軸マージンのうち最小のものを最終的な電圧軸マージンとする。
マスク配置位置設定部２１によって、マスクの配置位置に関するモードが上記第３のモードに設定された場合、マージン算出部２２０は、マスクの時間軸方向の配置位置をアイパターンの１周期の中心位置に固定したままマスクの電圧軸方向の配置位置を電圧軸に沿って所定のステップ（所定の電圧値）ずつ移動させる。例えば、マージン算出部２２０は、マスクの電圧軸方向の配置位置を、マスクの一部がアイパターンの開口に入り始める位置に初期設定し、該初期設定された配置位置から該マスクがアイパターンから出始める配置位置まで、該マスクの電圧軸方向の配置位置を移動させる。マージン算出部２２０は、移動先の各配置位置におけるマスクの各特徴点の電圧軸マージン（特徴点の電圧座標値と該特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値との差分）を算出する。マージン算出部２２０は、該電圧軸マージンが最小である特徴点の電圧軸マージンが最大となるマスクの配置位置を選択配置位置として選択する。そして、マージン算出部２２０は、選択されたマスクの配置位置における最終的な時間軸マージンと最終的な電圧軸マージンとを算出してその算出結果をディスプレイ１６に出力する。
マスク配置位置設定部２１によって、マスクの配置位置に関するモードが上記第４のモードに設定された場合、マージン算出部２２０は、マスクの配置位置を電圧軸及び時間軸に沿って所定のステップずつ移動させる。マージン算出部２２０は、マスクの配置位置を電圧軸に沿って移動させる際には、マスクの電圧軸方向の配置位置を所定の電圧値分移動させ、マスクの配置位置を時間軸に沿って移動させる際には、マスクの時間軸方向の配置位置を所定の時間分移動させる。マージン算出部２２０は、例えば、マスクがアイパターンの開口内の全領域を通過することになるまで、マスクの配置位置を移動させる。マスクの配置位置の移動経路は、予め決められた任意の経路とすることができる。そして、マージン算出部２２０は、移動先の各配置位置におけるマスクの各特徴点の電圧軸マージンと時間軸マージンとの二乗和を算出する。マージン算出部２２０は、二乗和が最小である特徴点に対応する二乗和が最大となるマスクの配置位置を選択配置位置として選択する。そして、マージン算出部２２０は、選択された選択配置位置における最終的な時間軸マージンと最終的な電圧軸マージンとを算出して、その算出結果をディスプレイ１６に出力する。
図２１は、マスク配置位置設定画面の例を示す図である。図２１に示すマスク配置位置設定画面上には、マスク１００と、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けるか否かを設定するための領域（時間軸方向配置位置制限設定領域）２００と、マスクの電圧軸方向の配置位置に制限を設けるか否かを設定するための領域（電圧軸方向配置位置制限設定領域）２０１とが表示される。図２１中のマスク１００上の、ｒ点、ｓ点、ｐ点、ｑ点、ｔ点、ｕ点は、マスク１００の特徴点である。ユーザが、時間軸方向配置位置制限設定領域２００に記述された「１周期の中心」を選択すると、マスクの時間軸方向の配置位置をアイパターンの１周期の中心位置に固定することが設定され、ユーザが、「なし」を選択すると、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けないことが設定される。ユーザが、電圧軸方向配置位置制限設定領域２０１に記述された「０Ｖ中心」を選択すると、マスクの電圧軸方向の配置位置がゼロ値（０Ｖ）に固定することが設定され、ユーザが、「なし」を選択すると、マスクの電圧軸方向の配置位置に制限を設けないことが設定される。
すなわち、ユーザが、時間軸方向配置位置制限設定領域２００に記述された「１周期の中心」と電圧軸方向配置位置制限設定領域２０１に記述された「０Ｖ中心」を選択すると、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを前述した第１のモードに設定する。ユーザが、時間軸方向配置位置制限設定領域２００に記述された「なし」と電圧軸方向配置位置制限設定領域２０１に記述された「０Ｖ中心」を選択すると、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを前述した第２のモードに設定する。ユーザが、時間軸方向配置位置制限設定領域２００に記述された「１周期の中心」と電圧軸方向配置位置制限設定領域２０１に記述された「なし」を選択すると、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを前述した第３のモードに設定する。ユーザが、時間軸方向配置位置制限設定領域２００に記述された「なし」と電圧軸方向配置位置制限設定領域２０１に記述された「なし」を選択すると、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを前述した第４のモードに設定する。
図２２は、マスクの配置位置に関するモードの設定処理フローの一例を示す図である。マスク配置位置設定部２１は、図２１に示すマスク配置位置設定画面上におけるユーザの選択操作に従って、マスクの電圧軸方向の配置位置、時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたか否かを判断し、マスクの配置位置に関するモードを該判断結果に応じたモードに設定する。まず、マスク配置位置設定部２１が、マスクの電圧軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたか（図２１中の電圧軸方向配置位置制限設定領域２０１に記述された「０Ｖ中心」が選択されたか）を判断する（ステップＳ５００）。マスク配置位置設定部２１が、マスクの電圧軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されていないと判断した場合はステップＳ５０４に進む。マスク配置位置設定部２１が、マスクの電圧軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたと判断した場合、マスク配置位置設定部２１が、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたか（時間軸方向配置位置制限設定領域２００に記述された「１周期の中心」が選択されたか）を判断する（ステップＳ５０１）。マスク配置位置設定部２１が、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたと判断した場合、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを第１のモードに設定する（ステップＳ５０２）。マスク配置位置設定部２１が、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されていないと判断した場合、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを第２のモードに設定する（ステップＳ５０３）。
ステップＳ５０４において、マスク配置位置設定部２１が、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたかを判断する（ステップＳ５０４）。マスク配置位置設定部２１が、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されたと判断した場合、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを第３のモードに設定する（ステップＳ５０５）。マスク配置位置設定部２１が、マスクの時間軸方向の配置位置に制限を設けることが選択されていないと判断した場合、マスク配置位置設定部２１が、マスクの配置位置に関するモードを第４のモードに設定する（ステップＳ５０６）。
以下に、マスクの配置位置について設定されたそれぞれのモードに応じたマージン算出処理について説明する。マスク配置位置設定部２１がマスクの配置位置に関するモードを第１のモードに設定した場合、マージン算出部２２０は、前述した図７又は図１６に示すフローチャート、図８又は図１７に示すフローチャートに従ってマージン算出処理を実行し、該実行結果に基づいて最終的なマージンを算出して出力する。従って、マスク配置位置設定部２１がマスクの配置位置に関するモードを第１のモードに設定した場合のマージン算出処理についての説明は省略する。
図２３は、マスクの配置位置について第２のモードが設定された場合のマージン算出部によるマージン算出処理フローの一例を示す図である。なお、例えば、マスクの配置位置が、該マスクがアイパターンの開口に収まらないような配置位置である場合は、マージン算出部２２０は、後述するステップＳ６０２における配置位置対応時間軸マージンの算出処理を実行しないものとする。
まず、マージン算出部２２０が、マスクの配置位置を初期設定する（ステップＳ６０１）。具体的には、マージン算出部２２０が、図２４中に示すように、マスク１００の電圧軸方向の中心位置（特徴点ｐ点及び特徴点ｑ点の電圧軸方向の位置）をゼロ値（０Ｖ）に設定するとともに、マスク１００の時間軸方向の中心位置（ｐ点の時間座標値とｑ点の時間座標値とを加えて２で除算して得られる時間座標値に対応するマスク上の点の時間軸方向の位置）を、マスク１００の一部がアイパターンの開口に入り始める位置に配置する。図２４中の点線部の時間座標値が、マスク１００の時間軸方向の中心位置を示す。なお、この例では、図２６を参照して後述するように、ステップＳ６０３において、マスク１００を右方向に移動させるものとする。
マージン算出部２２０が、現在のマスクの配置位置に対応する時間軸マージン（配置位置対応時間軸マージン）を算出する（ステップＳ６０２）。具体的には、マージン算出部２２０が、現在の配置位置のマスクの各特徴点の時間軸マージン（特徴点の時間座標値と該特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値との差分）を算出し、算出された時間軸マージンが最小である特徴点の時間軸マージンを配置位置対応時間軸マージンとする。
例えば、マスクの現在の配置位置が、図２５中に示すような配置位置であるとする。マージン算出部２２０は、ｒ点の時間軸マージンｍｒ、ｓ点の時間軸マージンｍｓ、ｐ点の時間軸マージンｍｐ、ｑ点の時間軸マージンｍｑ、ｔ点の時間軸マージンｍｔ、ｕ点の時間軸マージンｍｕを算出する。マージン算出部２２０は、例えば、図８に示すフローチャートを参照して前述した特徴点の時間軸マージンの決定処理と同様の処理を実行して、ｍｐ、ｍｑを算出する。また、マージン算出部２２０は、例えば、各周期のプロットデータについて、電圧座標値がｒ点の電圧座標値に最も近い波形信号片個所の時間座標値を特定し、該特定された時間座標値とｒ点の時間座標値との差分を算出し、算出された各差分のうちの最小値をｍｒとして算出する。マージン算出部２２０は、上記ｍｒの算出手法と同様の手法を用いて、ｍｓ、ｍｔ、ｍｕを算出する。そして、マージン算出部２２０は、算出されたｍｒ、ｍｓ、ｍｐ、ｍｔ、ｍｕのうち、最も値が小さいｍｐを現在のマスクの配置位置に対応する時間軸マージン（配置位置対応時間軸マージン）とする。
なお、マージン算出部２２０が、電圧軸座標がマスクの電圧方向の中心位置に該当するｐ点とｑ点についてのみ時間軸マージンを算出し、値が小さいほうの時間軸マージンを配置位置対応時間軸マージンとするようにしてもよい。
次に、マージン算出部２２０が、マスクの配置位置を時間軸方向に１ステップ移動させる（ステップＳ６０３）。図２６は、マスクの配置位置の移動を説明する図である。マージン算出部２２０は、マスク１００の電圧軸方向の中心位置（特徴点ｐ点及び特徴点ｑ点の電圧軸方向の位置）を０Ｖに固定したまま、図２６中の点線で示すルートに沿って、１ステップずつ、マスク１００がアイパターンの開口１０１から出始めるまで、例えば図中の矢印の方向（右方向）にマスク１００を移動させる。
マージン算出部２２０が、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了するかを判断する（ステップＳ６０４）。具体的には、マージン算出部２２０は、マスクの配置位置が、該マスクがアイパターンの開口から出始める配置位置であるかを判断する。マスクの配置位置が、該マスクがアイパターンの開口から出始める配置位置である場合、マージン算出部２２０は、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了すると判断する。
マスクの配置位置が、該マスクがアイパターンの開口から出始める配置位置でない場合、マージン算出部２２０は、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了しないと判断する。
マージン算出部２２０が、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了しないと判断した場合は、ステップＳ６０２に戻る。マージン算出部２２０が、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了すると判断した場合、マージン算出部２２０は、算出された配置位置対応時間軸マージンのうち、最も大きい配置位置対応時間軸マージンに対応するマスクの配置位置を選択配置位置として選択する（ステップＳ６０５）。そして、マージン算出部２２０は、選択配置位置における時間軸マージン、電圧軸マージンを算出する（ステップＳ６０６）。具体的には、マージン算出部２２０は、選択配置位置における各特徴点の時間軸マージンのうち最小のものを、該選択配置位置における時間軸マージンとして算出する。また、マージン算出部２２０は、該選択配置位置における各特徴点の電圧軸マージンのうち最小のものを、該選択配置位置における電圧軸マージンとして算出する。
図２７は、マスクの配置位置について第３のモードが設定された場合のマージン算出部によるマージン算出処理フローの一例を示す図である。なお、例えば、マスクの配置位置が、該マスクがアイパターンの開口に収まらないような配置位置である場合は、マージン算出部２２０は、後述するステップＳ７０２における配置位置対応電圧軸マージンの算出処理を実行しないものとする。
まず、マージン算出部２２０が、マスクの配置位置を初期設定する（ステップＳ７０１）。具体的には、マージン算出部２２０が、例えば、図２８中に示すように、マスク１００の時間軸方向の中心位置をアイパターンの１周期の中心位置（図２８中の点線に対応する時間軸方向の位置）に設定するとともに、マスク１００の電圧軸方向の配置位置を、マスク１００の一部がアイパターンの開口に入り始める位置に設定する。なお、この例では、図３０を参照して後述するように、ステップＳ７０３において、マスク１００を上方向に移動させるものとする。
マージン算出部２２０が、現在のマスクの配置位置に対応する電圧軸マージン（配置位置対応電圧軸マージン）を算出する（ステップＳ７０２）。具体的には、マージン算出部２２０が、現在の配置位置のマスクの各特徴点の電圧軸マージン（特徴点の電圧座標値と該特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値との差分）を算出し、算出された電圧軸マージンが最小である特徴点の電圧軸マージンを配置位置対応電圧軸マージンとする。
例えば、マスクの現在の配置位置が、図２９中に示すような配置位置であるとする。マージン算出部２２０は、ｒ点の電圧軸マージンｍｒ’、ｓ点の電圧軸マージンｍｓ’、ｐ点の電圧軸マージンｍｐ’、ｑ点の電圧軸マージンｍｑ’、ｔ点の電圧軸マージンｍｔ’、ｕ点の電圧軸マージンｍｕ’を算出する。マージン算出部２２０は、例えば、図７に示すフローチャートを参照して前述した特徴点の電圧軸マージンの決定処理と同様の処理を実行して、ｍｒ’、ｍｓ’、ｍｔ’、ｍｕ’を算出する。また、マージン算出部２２０は、例えば、各周期のプロットデータについて、時間座標値がｐ点の時間座標値に最も近い波形信号片個所の電圧座標値を特定し、該特定された電圧座標値とｐ点の電圧座標値との差分を算出し、算出された各差分のうちの最小値をｍｐ’として算出する。マージン算出部２２０は、上記ｍｐ’の算出手法と同様の手法を用いてｍｑ’を算出する。そして、マージン算出部２２０は、算出されたｍｒ’、ｍｓ’、ｍｐ’、ｍｔ’、ｍｕ’のうち、最も値が小さいｍｔ’を現在のマスクの配置位置に対応する電圧軸マージン（配置位置対応電圧軸マージン）とする。
なお、マージン算出部２２０が、電圧軸座標がマスクの電圧方向の中心位置に該当しない特徴点であるｒ点、ｓ点、ｔ点、ｕ点についてのみ電圧軸マージンを算出し、算出された電圧軸マージンのうち、最も値が小さい電圧軸マージンを配置位置対応電圧軸マージンとするようにしてもよい。
次に、マージン算出部２２０が、マスクの配置位置を電圧軸方向に１ステップ移動させる（ステップＳ７０３）。図３０は、マスクの配置位置の移動を説明する図である。マージン算出部２２０は、マスク１００の時間軸方向の中心位置をアイパターンの１周期の中心位置に固定したまま、図３０中の点線で示すルートに沿って、１ステップずつ、マスク１００がアイパターンの開口１０１から出始めるまで、例えば図中の矢印の方向（上方向）にマスク１００を移動させる。
マージン算出部２２０が、配置位置対応電圧軸マージンの算出を終了するかを判断する（ステップＳ７０４）。具体的には、マージン算出部２２０は、マスクの配置位置が、マスク１００がアイパターンの開口１０１から出始める配置位置であるかを判断する。マスクの配置位置が、マスク１００がアイパターンの開口１０１から出始める配置位置である場合、マージン算出部２２０は、配置位置対応電圧軸マージンの算出を終了すると判断する。
マスクの配置位置が、マスク１００がアイパターンの開口１０１から出始める配置位置でない場合、マージン算出部２２０は、配置位置対応電圧軸マージンの算出を終了しないと判断する。
マージン算出部２２０が、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了しないと判断した場合は、ステップＳ７０２に戻る。マージン算出部２２０が、配置位置対応時間軸マージンの算出を終了すると判断した場合、マージン算出部２２０は、算出された配置位置対応電圧軸マージンのうち、最も大きい配置位置対応電圧軸マージンに対応するマスクの配置位置を選択配置位置として選択する（ステップＳ７０５）。そして、マージン算出部２２０は、選択配置位置における時間軸マージン、電圧軸マージンを算出する（ステップＳ７０６）。マージン算出部２２０は、選択配置位置における各特徴点の時間軸マージンのうち最小のものを該選択配置位置における時間軸マージンとして算出する。また、マージン算出部２２０は、該選択配置位置における各特徴点の電圧軸マージンのうち最小のものを該配置位置における電圧軸マージンとして算出する。
図３１は、マスクの配置位置について第４のモードが設定された場合のマージン算出部によるマージン算出処理フローの一例を示す図である。なお、例えば、マスクの配置位置が、該マスクがアイパターンの開口に収まらないような配置位置である場合は、マージン算出部２２０は、後述するステップＳ８０２における時間軸マージンと電圧軸マージンの算出処理、ステップＳ８０３における配置位置対応二乗和の算出処理を実行しないものとする。
まず、マージン算出部２２０が、マスクの配置位置を初期設定する（ステップＳ８０１）。具体的には、マージン算出部２２０が、例えば、図３２中に示すように、マスク１００の電圧軸方向の中心位置、マスク１００の時間軸方向の中心位置を、予め決められた任意の配置位置に設定する。
マージン算出部２２０が、現在の配置位置のマスクの各特徴点についての時間軸マージンと電圧軸マージンとを算出する（ステップＳ８０２）。そして、マージン算出部２２０が、算出された時間軸マージンと電圧軸マージンとの二乗和を算出し、算出された二乗和が最小である特徴点に対応する二乗和を、現在のマスクの配置位置に対応する二乗和（配置位置対応二乗和）として算出する（ステップＳ８０３）。次に、マージン算出部２２０が、マスクの配置位置を時間軸方向又は電圧軸方向に１ステップ移動させる（ステップＳ８０４）。図３３は、マスクの配置位置の移動を説明する図である。マージン算出部２２０は、例えば、図３３中の点線の矢印で示すルートに沿って、１ステップずつ、マスク１００がアイパターンの開口１０１の全ての領域を通過することになるまでマスク１００を移動させる。
マージン算出部２２０が、配置位置対応二乗和の算出を終了するかを判断する（ステップＳ８０５）。具体的には、マージン算出部２２０は、該マスクがアイパターンの開口１０１の全ての領域を通過したかを判断する。マージン算出部２２０が、マスク１００がアイパターンの開口１０１の全ての領域を通過したと判断した場合、マージン算出部２２０は、配置位置対応二乗和の算出を終了すると判断する。
マージン算出部２２０が、マスク１００が通過していないアイパターンの開口１０１の領域があると判断した場合、マージン算出部２２０は、マージン算出部２２０は、配置位置対応時間二乗和の算出を終了しないと判断する。
マージン算出部２２０が、配置位置対応二乗和の算出を終了しないと判断した場合は、ステップＳ８０２に戻る。マージン算出部２２０が、配置位置対応二乗和の算出を終了すると判断した場合、マージン算出部２２０は、上記ステップＳ８０３において算出された、配置位置対応二乗和のうち、最も大きい配置位置対応二乗和に対応するマスクの配置位置を選択配置位置として選択する（ステップＳ８０６）。そして、マージン算出部２２０は、選択配置位置における時間軸マージン、電圧軸マージンを算出する（ステップＳ８０７）。具体的には、マージン算出部２２０は、選択配置位置における各特徴点の時間軸マージンのうち最小のものを、該選択配置位置における時間軸マージンとして算出する。また、マージン算出部２２０は、該選択配置位置における各特徴点の電圧軸マージンのうち最小のものを、該選択配置位置における電圧軸マージンとして算出する。
本発明は、電子機器の製品設計段階で実施されるシミュレータにより生成されるアイパターンが品質評価基準となるマスクに対して持っているマージンを求めるときに利用されるものであり、アイパターンがマスクに対して持っている正確なマージンの自動算出を実現する。

Claims (7)

  1. シミュレータにより生成された波形信号から切り出される規定の長さを持つ波形信号片を重畳することで生成されるアイパターンと、そのアイパターンに要求される開口の大きさを示すマスクとの間のマージンを算出するアイマージン算出装置であって、
    各々が時間座標値及び電圧座標値を有する前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持つ波形信号片箇所の中における、最少の時間座標値と最大の時間座標値との中間位置を求めることにより、前記アイパターンの中心位置を算出する第１の算出手段と、
    前記中心位置に前記マスクの中心位置を配置した場合における、前記マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する第２の算出手段と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、前記処理対象である特徴点に最も近い時間位置にある波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の電圧座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、電圧軸方向のマージンを算出する第３の算出手段と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持ち、かつ、前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも前の時間位置にある場合には前記中心位置よりも前の時間位置を持ち前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも後の時間位置にある場合には前記中心位置よりも後の時間位置を持つ波形信号片箇所の中における、その電圧座標値が最も０に近い波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の時間座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、時間軸方向のマージンを算出する第４の算出手段とを備えることを、
    特徴とするアイマージン算出装置。
  2. 請求項１に記載のアイマージン算出装置において、
    前記第１の算出手段は、各波形信号片の持つ時間軸近傍の波形信号部分を抽出して、その抽出した波形信号部分の時間座標値に含まれる最小時間および最大時間を検出し、その検出した最小時間および最大時間に基づいて前記アイパターンの中心位置を算出することを、
    特徴とするアイマージン算出装置。
  3. 請求項１または２に記載のアイマージン算出装置において、
    前記第３の算出手段は、前記処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値として、処理対象の特徴点を挟む形で隣接する２つの波形信号片個所を直線補間することで得た処理対象の特徴点の時間座標値上の電圧座標値を用いることを、
    特徴とするアイマージン算出装置。
  4. 請求項１または２に記載のアイマージン算出装置において、
    前記第４の算出手段は、前記処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値として、時間軸を挟む形で隣接する２つの波形信号片個所を直線補間することで得た時間軸上の座標値を用いることを、
    特徴とするアイマージン算出装置。
  5. シミュレータにより生成された波形信号から切り出される規定の長さを持つ波形信号片を重畳することで生成されるアイパターンと、そのアイパターンに要求される開口の大きさを示すマスクとの間のマージンを算出するアイマージン算出方法であって、
    各々が時間座標値及び電圧座標値を有する前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持つ波形信号片箇所の中における、最少の時間座標値と最大の時間座標値との中間位置を求めることにより、前記アイパターンの中心位置を算出する過程と、
    前記中心位置に前記マスクの中心位置を配置した場合における、前記マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する過程と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、前記処理対象である特徴点に最も近い時間位置にある波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の電圧座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、電圧軸方向のマージンを算出する過程と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持ち、かつ、前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも前の時間位置にある場合には前記中心位置よりも前の時間位置を持ち前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも後の時間位置にある場合には前記中心位置よりも後の時間位置を持つ波形信号片箇所の中における、その電圧座標値が最も０に近い波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の時間座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、時間軸方向のマージンを算出する過程とを備えることを、
    特徴とするアイマージン算出方法。
  6. シミュレータにより生成された波形信号から切り出される規定の長さを持つ波形信号片を重畳することで生成されるアイパターンと、そのアイパターンに要求される開口の大きさを示すマスクとの間のマージンを算出するアイマージン算出装置の実現に用いられるアイマージン算出プログラムであって、
    コンピュータを、
    各々が時間座標値及び電圧座標値を有する前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持つ波形信号片箇所の中における、最少の時間座標値と最大の時間座標値との中間位置を求めることにより、前記アイパターンの中心位置を算出する第１の算出手段と、
    前記中心位置に前記マスクの中心位置を配置した場合における、前記マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する第２の算出手段と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、前記処理対象である特徴点に最も近い時間位置にある波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の電圧座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、電圧軸方向のマージンを算出する第３の算出手段と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持ち、かつ、前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも前の時間位置にある場合には前記中心位置よりも前の時間位置を持ち前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも後の時間位置にある場合には前記中心位置よりも後の時間位置を持つ波形信号片箇所の中における、その電圧座標値が最も０に近い波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の時間座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、時間軸方向のマージンを算出する第４の算出手段として機能させるためのアイマージン算出プログラム。
  7. シミュレータにより生成された波形信号から切り出される規定の長さを持つ波形信号片を重畳することで生成されるアイパターンと、そのアイパターンに要求される開口の大きさを示すマスクとの間のマージンを算出するアイマージン算出装置の実現に用いられるアイマージン算出プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
    コンピュータを、
    各々が時間座標値及び電圧座標値を有する前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持つ波形信号片箇所の中における、最少の時間座標値と最大の時間座標値との中間位置を求めることにより、前記アイパターンの中心位置を算出する第１の算出手段と、
    前記中心位置に前記マスクの中心位置を配置した場合における、前記マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する第２の算出手段と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、前記処理対象である特徴点に最も近い時間位置にある波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の電圧座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、電圧軸方向のマージンを算出する第３の算出手段と、
    前記特徴点の内の時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、前記アイパターンの複数の波形信号片箇所において、予め定められた範囲の電圧座標値を持ち、かつ、前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも前の時間位置にある場合には前記中心位置よりも前の時間位置を持ち前記処理対象である特徴点が前記中心位置よりも後の時間位置にある場合には前記中心位置よりも後の時間位置を持つ波形信号片箇所の中における、その電圧座標値が最も０に近い波形信号片箇所を、前記処理対象である特徴点に対応付けられる波形信号片箇所として特定し、処理対象の特徴点の時間座標値とその特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、時間軸方向のマージンを算出する第４の算出手段として機能させるためのアイマージン算出プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102130729A (zh) * 2011-03-16 2011-07-20 福建星网锐捷网络有限公司 眼图优化方法、装置及网络设备
CN102664689B (zh) * 2012-03-26 2014-07-09 华为技术有限公司 眼图质量的判断方法及装置
US8995514B1 (en) * 2012-09-28 2015-03-31 Xilinx, Inc. Methods of and circuits for analyzing a phase of a clock signal for receiving data
CN107273602A (zh) * 2017-06-09 2017-10-20 郑州云海信息技术有限公司 一种提升pcie眼图裕量的仿真方法
CN109862206B (zh) * 2019-02-28 2020-08-04 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 信号传输方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01160237A (ja) * 1987-12-17 1989-06-23 Fujitsu Ltd 光送信回路及び光受信回路の試験方式
JPH06237231A (ja) * 1993-01-11 1994-08-23 Nec Corp 波形識別装置
JP2001144819A (ja) * 1999-11-12 2001-05-25 Anritsu Corp ディジタル信号の品質評価装置
JP2004357050A (ja) * 2003-05-29 2004-12-16 Mitsubishi Electric Corp 波形品質評価システム及び波形品質評価方法
JP2006090788A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Fujitsu Ltd 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5491722A (en) * 1992-12-21 1996-02-13 Communications Technology Corporation Eye pattern margin measurement and receiver stress detection device
JP3376315B2 (ja) * 1999-05-18 2003-02-10 日本電気株式会社 ビット同期回路
US6430715B1 (en) * 1999-09-17 2002-08-06 Digital Lightwave, Inc. Protocol and bit rate independent test system
JP3892256B2 (ja) * 2000-09-08 2007-03-14 富士通株式会社 信号波形シミュレーション装置、信号波形シミュレーション方法および信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP4828730B2 (ja) * 2001-07-05 2011-11-30 富士通株式会社 伝送装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01160237A (ja) * 1987-12-17 1989-06-23 Fujitsu Ltd 光送信回路及び光受信回路の試験方式
JPH06237231A (ja) * 1993-01-11 1994-08-23 Nec Corp 波形識別装置
JP2001144819A (ja) * 1999-11-12 2001-05-25 Anritsu Corp ディジタル信号の品質評価装置
JP2004357050A (ja) * 2003-05-29 2004-12-16 Mitsubishi Electric Corp 波形品質評価システム及び波形品質評価方法
JP2006090788A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Fujitsu Ltd 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム

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