JP3892256B2 - 信号波形シミュレーション装置、信号波形シミュレーション方法および信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、ディファレンシャル信号(差動信号)や一般信号のランダムパターン解析、スキュー解析、ジッタ解析、アイパターン解析等の信号解析に用いられる信号波形シミュレーション装置、信号波形シミュレーション方法および信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関するものである。
【0002】
近時では、ネットワーク機器やパーソナルコンピュータに代表される情報機器の高周波数化の発展が目覚ましく、メガヘルツ領域から新たにギガヘルツ領域に到達しつつある。これに伴って、プリント基板の配線パターンを伝送する高周波信号においても、様々なノイズの影響を考慮した波形解析が求められている。
【0003】
【従来の技術】
集積回路などの回路設計者は、回路の設計にあたって回路動作が目的の仕様に適合するように、回路を構成する回路素子の選択や、回路素子の特性を左右するパラメータの値を選択している。
【0004】
コンピュータ技術が発達した現在では、通常、回路設計に回路シミュレータを使用する。この回路シミュレータは、実際の回路を作成しなくても回路動作をコンピュータ上で模擬し、回路動作を設計者に示すものであり、1972年にカリフォルニア大学バークレー校で開発されたSPICE2というソフトウェアにより動作するものが一般に知られている。
【0005】
例えば、上述した回路シミュレータを用いた解析では、解析対象である回路を構成する各回路素子間の接続データおよびデバイスパラメータに基づいて、シミュレーションを実行し、各回路素子の所定の動作状態におけるノイズ量をそれぞれ予測し、その予測したノイズ量を表示出力または印刷出力する。
【0006】
また、従来では、ランダムパターンの波形を擬似的に生成し、このランダムパターンを当該回路に伝送させた場合の反射特性を解析するというランダムパターン解析が行われている。このランダムパターンの波形は、図26(a)に示したように、ネガティブ波形70とポジティブ波形71とからなるディファレンシャル波形である。
【0007】
このディファレンシャル波形は、ノイズがネガティブ波形70およびポジティブ波形71の双方に重畳された場合であっても、ネガティブ波形70とポジティブ波形71との差分を採ることにより、ノイズをキャンセルできることから、耐ノイズ性が高い波形である。また、ディファレンシャル波形においては、ポジティブ波形71が0Vの場合、ビット0と定義され、ポジティブ波形71が3Vの場合、ビット1と定義される。
【0008】
ここでいうランダムパターンとは、上記ビット1とビット0とがランダムに組み合わされたものであって、特定の組み合わせの場合に反射特性が悪化する可能性が高いものである。従って、故意にランダムパターンを当該回路に擬似的に伝送させることにより、反射特性の優劣を判定することができるのである。
【0009】
従来の回路シミュレータでランダムパターンの波形を生成する場合には、図26(b)に示したようにポジティブ波形71(Pos_Wave)およびネガティブ波形70(Neg_Wave)の立ち上がりおよび立ち下がりタイミングをきめ細かく手動で設定する必要がある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前述したように、従来の回路シミュレータは、100MHz程度までの波形解析に威力を発揮し、様々な設計者に絶大な支持を受けていた。ここで、近時、情報機器の高周波数化の発展が目覚ましく、メガヘルツ領域から新たにギガヘルツ領域に到達しつつあるため、プリント基板の配線パターンを伝送する高周波信号においても、様々なノイズの影響を考慮した波形解析が求められている。
【0011】
しかしながら、従来の回路シミュレータでは、高周波のディファレンシャル信号(差動信号)や一般信号のスキュー解析、ジッタ解析、アイパターン解析等という信号解析に容易に対応できないという問題があった。
【0012】
また、従来の回路シミュレータでは、図26(a)および(b)を参照して説明したように、ポジティブ波形71およびネガティブ波形70の立ち上がり、立ち下がりタイミングをきめ細かく手動で設定しなければならないため、非常に面倒でかつ時間がかかり、容易にランダムパターン解析を行うことができないという問題があった。
【0013】
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、高周波のディファレンシャル波形や一般信号波形のランダムパターン解析、スキュー解析、ジッタ解析、アイパターン解析等を容易に行うことができる信号波形シミュレーション装置、信号波形シミュレーション方法および信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーション装置であって、前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成手段と、前記波形生成手段によって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加手段と、前記スキュー付加手段によってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成手段とを備えたことを特徴とする。
【0015】
また、本発明は、回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーション装置の信号波形シミュレーション方法であって、前記信号波形シミュレーション装置は、前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成ステップと、前記波形生成ステップによって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加ステップと、前記スキュー付加ステップによってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成ステップとを実行することを特徴とする。
【0016】
また、本発明は、回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーションプログラムであって、前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成ステップと、前記波形生成ステップによって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加ステップと、前記スキュー付加ステップによってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とする。
【0017】
また、本発明は、回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成ステップと、前記波形生成ステップによって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加ステップと、前記スキュー付加ステップによってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル 波形を生成するディファレンシャル波形生成ステップとをコンピュータに実行させるための信号波形シミュレーションプログラムを記録したことを特徴とする。
【0018】
かかる発明によれば、信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成し、生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加し、それぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を信号解析シミュレーションモデルに入力し、信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成することとしたので、ポジティブ波形およびネガティブ波のそれぞれに対して所定の位相差であるスキューを付加することによって、実際の回路上で発生するスキューを模擬した信号波形シミュレーションを効率的に行うことができる。
【0019】
また、本発明は、予め設定されたジッタ加算値に基づいて、前記ポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、波形のゆらぎであるジッタを生じさせるジッタ解析手段と、前記ディファレンシャル波形を分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するアイパターン解析手段とをさらに備えたことを特徴とする。
【0020】
本発明によれば、予め設定されたジッタ加算値に基づいて、ポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、波形のゆらぎであるジッタを生じさせたうえで、ディファレンシャル波形を分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成することとしたので、実際の回路上で発生するジッタを模擬したうえで、アイパターンを用いた信号波形シミュレーションを効率的に行うこととができる。
【0021】
また、本発明は、前記アイパターン解析手段は、前記ディファレンシャル波形について、前記ポジティブ波形と前記ネガティブ波形との交点から前記ディファレンシャル波形の半波長の位置を基準位置とし、前記基準位置を中心とした1波長以上の分割幅で該ディファレンシャル波形を分割することを特徴とする。
【0022】
本発明によれば、ディファレンシャル波形について、ポジティブ波形とネガティブ波形との交点からディファレンシャル波形の半波長の位置を基準位置とし、この基準位置を中心とした1波長以上の分割幅でディファレンシャル波形を分割することとしたので、アイパターン解析時におけるアイの位置を中央付近に固定することによって、アイパターン解析を効率的に行うことができる。
【0023】
また、本発明は、予め設定された基準値に基づいて、前記アイパターン波形の良否判定を行う良否判定手段をさらに備えたことを特徴とする。
【0024】
本発明によれば、予め設定された基準値に基づいて、アイパターン波形の良否判定を行うこととしたので、利用者の技術レベルの高低に依存しない画一的な良否判定によって、アイパターン解析を効率的に行うことができる。
【0025】
また、本発明は、前記良否判定手段は、前記アイパターン波形と、予め記憶部に記憶した所定の面積を有する基準アイパターンとを重ね合わせ、前記アイパターン波形が前記基準アイパターンとの重複部分を有する場合に、前記アイパターン波形の良否を否と判定することを特徴とする。
【0026】
本発明によれば、アイパターン波形と、予め記憶部に記憶した所定の面積を有する基準アイパターンとを重ね合わせ、アイパターン波形が基準アイパターンとの重複部分を有する場合に、アイパターン波形の良否を否と判定することとしたので、生成したアイパター ン波形と、予め用意した基準アイパターンとが重なるか否かでアイパターン波形の良否を判定することによって、アイパターン解析を効率的に行うことができる。
【0027】
また、本発明は、前記ディファレンシャル波形生成手段は、前記ディファレンシャル波形を生成する場合に、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれについて、所定の部分を前記ディファレンシャル波形の生成対象から除外することを特徴とする。
【0028】
本発明によれば、ディファレンシャル波形を生成する場合に、信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれについて、所定の部分を前記ディファレンシャル波形の生成対象から除外することとしたので、たとえば、波形の初期部分のように、ポジティブ波形およびネガティブ波形が不安定な領域をディファレンシャル波形の生成対象から除外することによって、高精度な信号波形シミュレーションを行うことができる。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明にかかる信号波形シミュレーション装置、信号波形シミュレーション方法および信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の一実施の形態について詳細に説明する。
【0030】
図1は、本発明にかかる一実施の形態の構成を示すブロック図である。この図には、例えば、高周波の回路設計に適用される信号波形シミュレーション装置の構成が図示されている。この信号波形シミュレーション装置は、設計すべき回路(例えば、プリント基板回路)を伝送する高周波信号に関するランダムパターン解析、アイパターン解析、ジッタ解析、スキュー解析等を実行する装置である。
【0031】
図1において、入力部1は、設計すべき回路の配線データ、パラメータ、各種コマンド等を入力するためのものである。図2は、上記回路の一例としての信号伝送回路20を示す図である。同図に示した信号伝送回路20は、送受信回路30と送受信回路50との間でプリント配線40(伝送路)を介して、双方向の信号伝送が可能な回路である。
【0032】
プリント配線40では、ドライバ31から送信された送信信号DS1 とドライバ51から送信された送信信号DS2 との重畳信号が伝送される。このプリント配線40の特性インピーダンスは、Z0 とされている。送受信回路30において、ドライバ31は、プリント配線40を介して送信信号DS1 を送受信回路50へ送信する回路である。
【0033】
このドライバ31の出力抵抗は、出力抵抗Rout1 とされている。補正回路33は、送信信号DS1 を補正信号としてレシーバ32へ出力する。レシーバ32は、プリント配線40からの上記重畳信号(送信信号DS1 +送信信号DS2 )と、補正回路33により生成された補正信号(送信信号DS1 )との差分をとることにより、送信信号DS2 を受信信号DR2 として受信する。
【0034】
送受信回路50において、ドライバ51は、プリント配線40を介して送信信号DS2 を送受信回路30へ送信する回路である。このドライバ51の出力抵抗は、出力抵抗Rout2 とされている。補正回路53は、送信信号DS2 を補正信号としてレシーバ52へ出力する。レシーバ52は、プリント配線40からの重畳信号(送信信号DS1 +送信信号DS2 )と、補正回路53により生成された補正信号(送信信号DS2 )との差分をとることにより、送信信号DS1 を受信信号DR1 として受信する。また、信号伝送回路20においては、信号の反射を防止すべく、特性インピーダンスZ0 と出力抵抗Rout1(出力抵抗Rout2 )との整合を採る必要がある。
【0035】
図1に戻り、制御部2は、各部を制御するものであり、主として信号解析のための制御を行う。この制御部2の動作の詳細については、後述する。記憶部3は、配線データ、パラメータ等を記憶する。配線モデル作成部4は、上記配線データに基づいて、信号解析用の配線モデルを作成する。
【0036】
ランダムパターン解析部5は、ランダムパターン(図5参照)と呼ばれる0と1とのランダムな組み合わせからなるビット列の信号に基づいてランダムパターン解析を行う。アイパターン解析部6は、ランダムパターンを1データ幅(UI:Unit Interval)毎に重ねて、アイパターン(図12(a)および(b)参照)を生成し、このアイパターンの解析を行う。
【0037】
ジッタ解析部7は、図10(a)に示したネガティブ波形70およびポジティブ波形71からなるランダムパターン波形に擬似的にジッタ(図10(b)参照)を生じさせるというジッタ解析を行う。スキュー解析部8は、図7(a)および図8(a)に示したネガティブ波形70とポジティブ波形71との間にスキュー(位相差)を擬似的に生じさせるというスキュー解析を行う。判定部9は、ディファレンシャル波形、アイパターン等が所定の基準を満たしているか否かを判定する。表示部10は、上述した一連の解析結果を表示するディスプレイである。バス11は、装置各部を接続する。
【0038】
つぎに、前述した一実施の形態の動作について、図3に示したフローチャートを参照しつつ説明する。同図に示したステップSA1では、シミュレーション対象の回路に関する配線パターンの設計が行われ、この配線パターンに対応するパラメータが入力部1より入力される。ここで、入力部1からは、後述する各種判定に用いられるつぎのパラメータも入力される。
【0039】
・VIDMX:Magnitude differential Input Voltage(|VID|)のMAX(最大
値)(図6(c)参照)
単位:[V]小数点以下3桁まで指定可能
・VIDMN:Magnitude differential Input Voltage(|VID|)のMIN(最小
値)(図6(c)参照)
単位:[V]小数点以下3桁まで指定可能
・|VID|_WD:ディファレンシャル電圧振幅|VID|判定時間幅であり、ランダ
ムパターンの1データ幅(UI:Unit Interval)の何%の時間幅で
あるかを表す(図6(c)参照)
単位:[%]小数点以下3桁まで指定可能
・VICMX:Common mode Input Voltage(VIC:コモンモード電圧振幅)のMAX
(最大値)(図6(a)参照)
単位:[V]小数点以下3桁まで指定可能
・VICMN:Common mode Input Voltage(VIC)のMIN(最小値)(図6(a)
参照)
単位:[V]小数点以下3桁まで指定可能
・EYEXA:X-axis Eye Diagram Mask EYEXAのMIN(最小値)(図13(a)
参照)
単位:[ps]整数指定
・EYEXB:X-axis Eye Diagram Mask EYEXBのMIN(最小値)(図13(a)
参照)
単位:[ps]整数指定
・EYEYA:Y-axis Eye Diagram Mask EYEYAのMIN(最小値)(図13
(a)参照)
単位:[V]小数点以下3桁まで指定可能
【0040】
そして、制御部2は、パラメータを記憶部3に格納するとともに、配線モデル作成部4を起動させる。ステップSA2では、配線モデル作成部4は、上記パラメータに基づいて、配線パターンをモデル化する配線モデル化処理を実行する。ステップSA3では、前述したランダムパターンを生成するための処理が実行される。具体的には、ユーザは、図4(a)に示したフォーマットのランダムパターン生成コマンド60を入力する。このランダムパターン生成コマンド60は、図4(d)に示したランダムなビット列63に対応する図5(a)に示したランダムパターン波形を生成するためのコマンドである。
【0041】
ランダムパターン生成コマンド60において、EYEBIT[Input Bit Pattern]は、ランダムパターン波形に対応するランダムビット(0と1とのランダムな組み合わせ)を設定するものである。一実施の形態では、ユーザが指定し易いように、[Input Bit Pattern]、図4(b)に示したランダムビットパターンフォーマット61が用意されている。
【0042】
BITWIDTH[Bit-Width]は、図4(d)に示したランダムなビット列63における1ビット幅を設定するものである。EYEEVENT[Eye Pattern Event]は、EYEBIT[Input Bit Pattern]で設定されたビットパターンの繰り返し回数を設定するものである。図4(c)には、ランダムパターン生成コマンド62の設定例が図示されている。
【0043】
そして、上記ランダムパターン生成コマンド62が入力されると、ランダムパターン解析部5は、ステップSA4では、図5(a)に示したポジティブ波形71およびネガティブ波形70からなるランダムパターン波形および図5(b)に示したディファレンシャル波形72を生成する。これらのランダムパターン波形およびディファレンシャル波形72は、ランダムパターンビットに対応している。ディファレンシャル波形72は、ポジティブ波形71とネガティブ波形70との差(ポジティブ波形71−ネガティブ波形70)をとった波形である。このランダムパターンの解析結果は、後述するステップSA11で表示部10に表示される。
【0044】
ステップSA5では、制御部2は、入力部1よりスキュー解析コマンドが入力されたか否かを判断し、この判断結果が「No」である場合、ステップSA7の判断を行う。一方、ステップSA5の判断結果が「Yes」である場合、制御部2は、スキュー解析部8を起動させる。これにより、ステップSA6では、スキュー解析部8は、図5(a)に示したランダムパターン波形においてポジティブ波形71またはネガティブ波形70をスキューさせるというスキュー解析処理を実行する。
【0045】
ポジティブ波形71をスキューさせる場合、ユーザは、図7(b)に示したようにポジティブ波形71(Pos_Wave)およびネガティブ波形70(Neg_Wave)の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングを設定する。この場合、図7(a)に示したように、ポジティブ波形71(Pos_Wave)の位相が、ネガティブ波形70(Neg_Wave)の位相より100ps(Skew_Max)遅れるように設定される。
【0046】
一方、ネガティブ波形70をスキューさせる場合、ユーザは、図8(b)に示したようにポジティブ波形71(Pos_Wave)およびネガティブ波形70(Neg_Wave)の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングを設定する。この場合、図8(a)に示したように、ネガティブ波形70(Neg_Wave)の位相が、ポジティブ波形71(Pos_Wave)の位相より100ps(Skew_Max)遅れるように設定される。このスキュー解析結果は、後述するステップSA11で表示部10に表示される。
【0047】
ステップSA7では、制御部2は、入力部1よりジッタ加算コマンド(図9参照)が入力されたか否かを判断し、この判断結果が「No」である場合、ステップSA9の判断を行う。一方、ステップSA7の判断結果が「Yes」である場合、制御部2は、ジッタ解析部7を起動させる。これにより、ステップSA8では、ジッタ解析部7は、図10(a)および(b)に示したランダムパターン波形においてポジティブ波形71およびネガティブ波形70にジッタを生じさせるというジッタ解析処理を実行する。
【0048】
この場合、ユーザにより、図9(a)に示したジッタ加算コマンド80が入力される。このジッタ加算コマンド80において、ADDJITTER[Jitter_Value]は、図10(a)に示したネガティブ波形70およびポジティブ波形71に加算するジッタの値(ps)を指定するものであり、図10(b)に示したJV(ジッタ加算値)に相当する。図9(b)には、指定例としてのジッタ加算コマンド81が図示されている。
【0049】
そして、ジッタ解析部7は、ジッタ加算コマンド80を実行することにより、図10(b)に示したように、ネガティブ波形70およびポジティブ波形71を同図左右方向にジッタ加算値JV(合計2JV)だけ振ることにより、ジッタを生じさせる。このジッタ解析結果は、後述するステップSA11で表示部10に表示される。この場合、ジッタ解析部7は、図10(b)に示したようにジッタが生じている部分を明確にするため、太線90も表示させる。
【0050】
また、図11(a)〜(c)には、別の波形に関するジッタ解析処理の例が図示されている。この場合、ジッタ解析部7は、図11(a)に示した波形100を所定のジッタ加算値JVだけ図11(b)に示したように左右方向に振る。波形101は、波形100が同図左方向に最大振られた場合の波形であり、波形102は、波形100が同図右方向に最大振られた場合の波形である。この場合、ジッタ解析部7は、図11(c)に示したようにジッタが生じている部分を明確にするため、同図太線で示した包らく線103も表示させる。
【0051】
ステップSA9では、制御部2は、入力部1よりアイパターン解析コマンドが入力されたか否かを判断し、この判断結果が「No」である場合、ステップSA10の処理を実行する。一方、ステップSA9の判断結果が「Yes」である場合、制御部2は、判定部9を起動させる。これにより、判定部9は、ステップSA12〜ステップSA14までのアイパターンの良否判定処理を実行する。
【0052】
ここでは、つぎの3つのケースについて良否判定される。
(ケース1)スキュー解析が行われていないランダムパターン波形に対するアイパターン
解析処理
(ケース2)図7(a)に示したようにポジティブ波形71がネガティブ波形70に対し
てSkew_MAX分だけ遅れたランダムパターン波形に対するアイパター
ン解析処理
(ケース3)図8(a)に示したようにネガティブ波形70がポジティブ波形71に対し
てSkew_MAX分だけ遅れたランダムパターン波形に対するアイパター
ン解析処理
【0053】
さらに、アイパターンの良否判定では、上記(ケース1)〜(ケース3)のそれぞれのランダムパターン波形に対してジッタ解析処理が行われたケースも判定される。
【0054】
ステップSA12では、アイパターン解析部6は、図12(a)に示したように、波形を1データ幅(UI_1、UI_2、・・・、UI_n)でフレーム分割するという分割処理を実行する。ステップSA13では、アイパターン解析部6は、フレーム分割された波形を図12(b)および図13(b)に示したように重ね、アイパターン波形を表示部10に表示させる。
【0055】
図12(b)に示したアイパターン波形110は、図12(a)に示したフレーム分割されたディファレンシャル波形72を重ねたものである。図13(b)に示したアイパターン波形130は、図12(a)に示したフレーム分割されたランダムパターン波形(ネガティブ波形70およびポジティブ波形71)を重ねたものである。
【0056】
ステップSA14では、判定部9は、図13(b)および図13(c)に示したアイパターン波形130およびアイパターン波形110の良否を図13(a)に示した基準アイパターン120に基づいて判定する。これらのアイパターン波形130およびアイパターン波形110は、目(内側部分)の面積が広い程、判定結果としては良いことになる。
【0057】
具体的には、判定部9は、アイパターン波形130またはアイパターン波形110の目の部分が基準アイパターン120に少しでも入り込んでいる場合、判定結果を「否」とする。この場合、判定部9は、アイパターン波形130またはアイパターン波形110を構成するビットのうち、エラーとなったビットとその前後2ビットに対応する波形を表示させる。
【0058】
一方、判定部9は、アイパターン波形130またはアイパターン波形110の目の部分が基準アイパターン120に入り込んでいない場合、判定結果を「良」とする。ステップSA11では、上述した解析結果が表示部10に表示される。
【0059】
一方、ステップSA9の判断結果が「No」である場合、ステップSA10では、判定部9は、図5(a)に示したランダムパターン波形および図5(b)に示したディファレンシャル波形72の良否判定を行う。ここでは、つぎの3つのケースについて良否判定される。
(ケース1)スキュー解析が行われていない場合の良否判定
(ケース2)図7(a)に示したようにポジティブ波形71がネガティブ波形70に対し
てSkew_MAX分だけ遅れた場合の良否判定
(ケース3)図8(a)に示したようにネガティブ波形70がポジティブ波形71に対し
てSkew_MAX分だけ遅れた場合の良否判定
【0060】
さらに、一実施の形態では、上記(ケース1)〜(ケース3)のそれぞれのランダムパターン波形に対してジッタ解析処理が行われたケースの良否判定も行われる。
【0061】
具体的には、判定部9は、図5(a)に示した(((ポジティブ波形71の値)+(ネガティブ波形70の値))/2)の値(以下、VIC(コモンモード電圧振幅)と称する)が、予め設定されたVICレンジ(VICMN〜VICMX)に入っているか否かを判定する。VICがVICレンジに入っている場合には、良否判定結果が「良」とされ、VICがVICレンジに入っていない場合には、良否判定結果が「否」とされる。
【0062】
つぎに、判定部9は、図5(b)に示したディファレンシャル電圧振幅|VID|((ポジティブ波形71の値)−(ネガティブ波形70の値))が、図6(c)に示した基準範囲73、すなわち|VID|_WD内の全てにおいてVIDMN〜VIDMXの間にあるか否かを判定する。|VID|が基準範囲73内にある場合、良否判定結果が「良」とされ、|VID|が基準範囲73内にない場合、良否判定結果が「否」とされる。
【0063】
ステップSA11では、図6(a)および図6(b)に示したランダムパターン波形およびディファレンシャル波形72が表示部10に表示されるとともに、ステップSA10の良否判定結果が表示される。
【0064】
さて、上述した一実施の形態では、図4(c)に示したランダムパターン生成コマンド62により生成されるポジティブ波形71およびネガティブ波形70(図5(a)参照)からなるランダムパターン波形およびディファレンシャル波形72(図5(b)参照)に基づいて、アイパターンの良否についての判定を行う例について説明した。
【0065】
すなわち、図4(c)に示したランダムパターン生成コマンド62の場合には、「1011011100」(EYEBIT)というビットパターンが500回(EYEEVENT)繰り返されたランダムパターン波形およびディファレンシャル波形が生成される。
【0066】
ここで、図2に示したプリント配線40(伝送路)に、例えば、カップリングコンデンサのキャパシタンス成分等が含まれている場合には、過渡現象として、図14(a)および図14(b)に示したようにランダムパターン波形およびディファレンシャル波形において不安定領域が生じることがある。この不安定領域は、上述したビットパターンの繰り返し初期段階で生じることが多く、アイパターン判定に際して、悪影響を与える。
【0067】
以下では、不安定領域がアイパターン判定に与える悪影響について説明する。図14(a)には、繰り返し初期段階でのネガティブ波形140およびポジティブ波形141からなるランダムパターン波形が図示されている。ここでいう初期段階とは、繰り返し回数1〜3までの過渡期T(時刻t0〜時刻t1)をいう。なお、時刻t1以降では、ランダムパターン波形が安定する。
【0068】
従って、過渡期Tにおいては、「1011011100」(繰り返し回数1)、「1011011100」(繰り返し回数2)および「1011011100」(繰り返し回数3)という都合30ビット(1データ幅UI_1〜UI_n)のビットパターンが存在する。
【0069】
ここで、同図に示したランダムパターン波形は、図5(a)に示した安定領域におけるランダムパターン波形と比較して明らかなように、振幅が不安定であってかつ歪んでおり、アイパターン判定に適さない。
【0070】
一方、図14(b)に示したディファレンシャル波形142は、図14(a)に示したネガティブ波形140およびポジティブ波形141との差(ポジティブ波形141−ネガティブ波形140)をとった波形である。このディファレンシャル波形142も、ランダムパターン波形(図14(a)参照)と同様にして、図5(b)に示した安定領域におけるディファレンシャル波形と比較して明らかなように、振幅が不安定であってかつ歪んでおり、アイパターン判定に適さない。
【0071】
ここで、アイパターン判定を行う場合、図3に示したステップSA12では、アイパターン解析部6は、ランダムパターン波形(図14(a)参照)およびディファレンシャル波形(図14(b)参照)を1データ幅(UI_1、UI_2、・・・、UI_n)でフレーム分割するという分割処理を実行する。
【0072】
ステップSA13では、アイパターン解析部6は、フレーム分割されたランダムパターン波形およびディファレンシャル波形を図15(a)および図15(b)に示したように重ね、アイパターン波形143およびアイパターン波形144を表示部10に表示させる。
【0073】
図15(a)に示したアイパターン波形143は、図14(a)に示したフレーム分割されたランダムパターン波形(ネガティブ波形140およびポジティブ波形141)を重ねたものである。一方、図15(b)に示したアイパターン波形144は、図14(b)に示したフレーム分割されたディファレンシャル波形142を重ねたものである。
【0074】
これらのアイパターン波形143およびアイパターン波形144では、目が潰れていることから、前述したような正確なアイパターンの良否判定を行うことができないのである。
【0075】
そこで、一実施の形態では、ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形のうち、不安定領域(過渡期T:図14(a)および図14(b)参照)を判定対象、表示対象から除外する設定が行われる。
【0076】
具体的には、図3に示したステップSA3では、ユーザは、図16(a)に示したフォーマットのランダムパターン生成コマンド150を入力する。このランダムパターン生成コマンド150は、ランダムなビット列にランダムパターン波形を生成するためのコマンドである。
【0077】
ランダムパターン生成コマンド150において、EYEBIT[Input Bit Pattern]、BITWIDTH[Bit-Width]およびEYEEVENT[Eye Pattern Event]は、ランダムパターン生成コマンド60(図4(a)参照)のEYEBIT[Input Bit Pattern]、BITWIDTH[Bit-Width]およびEYEEVENT[Eye Pattern Event]と同義である。
【0078】
すなわち、ランダムパターン生成コマンド150のEYEBIT[Input Bit Pattern]は、ランダムパターン波形に対応するランダムビット(0と1とのランダムな組み合わせ)を設定するものである。一実施の形態では、ユーザが指定し易いように、[Input Bit Pattern]、図16(b)に示したランダムビットパターンフォーマット151が用意されている。
【0079】
BITWIDTH[Bit-Width]は、ランダムなビット列における1ビット幅を設定するものである。EYEEVENT[Eye Pattern Event]は、EYEBIT[Input Bit Pattern]で設定されたビットパターンの繰り返し回数を設定するものである。
【0080】
DUMMYEVENT[Dummy Event]は、ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形を非表示としかつアイパターン判定を行わない期間を、ビットパターンの繰り返し回数で設定するものである。ただし、DUMMYEVENT[Dummy Event]で設定された期間において、内部処理としての波形解析は実行される。図16(c)には、ランダムパターン生成コマンド152の設定例が図示されている。
【0081】
このランダムパターン生成コマンド152では、1ビット幅(BITWIDTH)が1250である「1011011100」(EYEBIT)というビットパターンが103回(DUMMYEVENT+EYEEVENT)繰り返されたランダムパターン153(ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形)が生成される。
【0082】
このランダムパターン153においては、イベント数=3(繰り返し回数1〜3)のランダムパターン(以下、ダミーイベントと称する)については、ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形が表示部10(図1参照)に表示されず、かつアイパターン判定が行われない。
【0083】
一方、ダミーイベント以降のイベント数=100(繰り返し回数4〜103)のランダムパターンについては、ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形が表示部10に表示され、かつアイパターン判定が行われる。
【0084】
ここで、上記ランダムパターン生成コマンド152が入力されると、図3に示したステップSA4では、ランダムパターン解析部5は、ランダムパターン153(図16(c)参照)に対応するランダムパターン波形およびディファレンシャル波形を生成する。従って、ここで生成されたランダムパターン波形およびディファレンシャル波形は、不安定領域(繰り返し回数1〜3)と安定領域(繰り返し回数4〜103)とを備えている。
【0085】
また、ランダムパターンの解析結果は、後述するステップSA11で表示部10に表示される。ただし、表示部10には、上記不安定領域(図14(a)および図14(b)参照)を除く、安定領域(図18(a)および図18(b)参照)のランダムパターン波形およびディファレンシャル波形が表示される。
【0086】
図18(a)には、繰り返し回数が4以降のネガティブ波形160およびポジティブ波形161からなるランダムパターン波形が図示されている。このランダムパターン波形は、図14(a)に示した不安定領域におけるランダムパターン波形と比較して明らかなように、振幅が安定しており、かつ波形が整っている。
【0087】
一方、図18(b)には、図18(a)に示したネガティブ波形160およびポジティブ波形161との差(ポジティブ波形161−ネガティブ波形160)をとったディファレンシャル波形162が図示されている。このディファレンシャル波形162も、ランダムパターン波形(図18(a)参照)と同様にして、振幅が安定しており、かつ波形が整っている。
【0088】
ここで、アイパターン判定を行う場合、図3に示したステップSA12では、アイパターン解析部6は、ランダムパターン波形(図18(a)参照)およびディファレンシャル波形(図18(b)参照)を1データ幅(UI_n+1、・・・)でフレーム分割するという分割処理を実行する。
【0089】
ステップSA13では、アイパターン解析部6は、フレーム分割された波形を図19(a)および図19(b)に示したように重ね、アイパターン波形を表示部10に表示させる。
【0090】
図19(a)に示したアイパターン波形163は、図18(a)に示したフレーム分割されたランダムパターン波形(ネガティブ波形160およびポジティブ波形161)を重ねたものである。図19(b)に示したアイパターン波形164は、図18(b)に示したフレーム分割されたディファレンシャル波形162を重ねたものである。
【0091】
これらのアイパターン波形163およびアイパターン波形164は、図15(a)および図15(b)に示したアイパターン波形143およびアイパターン波形144と比較して明らかなように、目がはっきりしており、アイパターン判定が可能である。
【0092】
ステップSA14では、判定部9は、前述したように、図19(a)および図19(b)に示したアイパターン波形163およびアイパターン波形164の良否を図13(a)に示した基準アイパターン120に基づいて判定する。以後、前述した動作が実行される。
【0093】
なお、図16(a)においてDUMMYEVENT=0が設定された場合には、繰り返し回数1以降のすべてのビットパターンに対応するランダムパターン波形およびディファレンシャル波形についての表示およびアイパターン波形の判定が行われる。図17には、DUMMYEVENT=0に対応するランダムパターン生成コマンド154の設定例が図示されている。
【0094】
このランダムパターン生成コマンド154では、1ビット幅(BITWIDTH)が1250である「1011011100」(EYEBIT)というビットパターンが100回(EYEEVENT)繰り返されたランダムパターン155(ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形)が生成される。
【0095】
このランダムパターン155においては、ダミーイベントが存在せず、イベント数=100(繰り返し回数1〜100)のランダムパターンに対応するランダムパターン波形およびディファレンシャル波形が表示部10に表示され、かつアイパターン判定が行われる。
【0096】
また、上述した一実施の形態では、ステップSA12(図3参照)の分割処理で、図12(a)に示したように、波形を1データ幅(UI_1、UI_2、・・・、UI_n)でフレーム分割する例について説明した。このフレーム分割における分割起点は、ネガティブ波形70とポジティブ波形71とのクロスポイントである。
【0097】
ここで、図2に示したプリント配線40(伝送路)の伝送路特性が悪化した場合には、ランダムパターン波形およびディファレンシャル波形に位相ズレや歪みが生じることがある。このような位相ズレや歪みが生じたランダムパターン波形およびディファレンシャル波形から生成されるアイパターン波形では、図20(a)および図20(b)に示したように、目の位置が中心位置からずれたり、目が欠けたりするため、アイパターンの良否判定を行うことができなくなる。
【0098】
図20(a)に示したアイパターン波形170は、ランダムパターン波形に対応している。一方、図20(b)に示したアイパターン波形171は、ディファレンシャル波形に対応している。
【0099】
このような問題が生じた場合には、一実施の形態では、図21および図22に示したように、フレーム分割の幅を1データ幅UIよりも広く採ることにより、良否判定可能なアイパターン波形を生成する。
【0100】
具体的には、図3に示したステップSA12では、アイパターン解析部6は、図21に示したポジティブ波形180およびネガティブ波形181からなるランダムパターン波形と、ディファレンシャル波形182とを、1データ幅の2倍の分割幅(F1、F2、・・・、Fn)でフレーム分割するという分割処理を実行する。
【0101】
例えば、分割幅F2の場合、アイパターン解析部6は、分割起点Pa(ポジティブ波形180とネガティブ波形181とのクロスポイント)を左へ1データ幅UI/2だけ移動させ、新分割起点Pa'を設定する。この分割起点Paは、図12(a)における分割起点である。
【0102】
つぎに、アイパターン解析部6は、新分割起点Pa'から、2倍の1データ幅UIを有する分割幅F2を設定する。この設定では、この分割幅F2が、1ビット分のランダムパターン波形およびディファレンシャル波形182に対応する1データ幅UI_2よりも広いため、位相ズレや歪みによるアイパターン波形への悪影が吸収される。なお、その他の分割幅F1、分割幅F3〜分割幅Fnについても、上述した分割幅F2と同様に設定される。
【0103】
ステップSA13では、アイパターン解析部6は、分割幅F1〜Fnでそれぞれフレーム分割された波形を重ね、図23(a)および図23(b)に示したアイパターン波形193およびアイパターン波形194を表示部10に表示させる。同図に示したアイパターン波形193およびアイパターン波形194は、2倍の1データ幅UI(2UI)の幅を有しており、そのうち1データ幅UIの部分が目がはっきりしており、アイパターンの良否判定が可能な波形である。以後、前述した動作と同様にして、アイパターンの良否判定が行われる。
【0104】
なお、一実施の形態では、図22に示したように、図3に示したステップSA12で、図22に示したネガティブ波形190およびポジティブ波形191からなるランダムパターン波形の左側部分と、ディファレンシャル波形192の左側部分とを、上述した分割手法に基づいて、1データ幅の2倍の分割幅(F1、F2、・・・、Fn)でフレーム分割してもよい。
【0105】
例えば、同図に示した分割幅F6の場合、アイパターン解析部6は、分割起点Pb(ネガティブ波形190とネガティブ波形191とのクロスポイント)を左へ1データ幅UI/2だけ移動させ、新分割起点Pb'を設定する。
【0106】
つぎに、アイパターン解析部6は、新分割起点Pb'から、2倍の1データ幅UIを有する分割幅F6を設定する。この設定では、この分割幅F6が、1ビット分のランダムパターン波形およびディファレンシャル波形192に対応する1データ幅UI_6よりも広いため、位相ズレや歪みによるアイパターン波形への悪影が吸収される。なお、その他の分割幅F1〜F5、分割幅Fnについても、上述した分割幅F6と同様に設定される。
【0107】
ステップSA13では、アイパターン解析部6は、分割幅F1〜Fnでそれぞれフレーム分割された波形を重ね、図23に示したアイパターン波形193およびアイパターン波形194を表示部10に表示させる。この場合のアイパターン波形も、目がはっきりしており、アイパターンの良否判定が可能な波形である。以後、前述した動作と同様にして、アイパターンの良否判定が行われる。
【0108】
ここで、図18(a)および図18(b)に示したランダムパターン波形およびディファレンシャル波形162に対して、図21および図23における分割処理を適用した場合にも、図24に示したアイパターン波形195およびアイパターン波形196が生成される。同図に示したアイパターン波形195およびアイパターン波形196も、2倍の1データ幅UI(2UI)の幅を有しており、そのうち1データ幅UIの部分が目がはっきりしており、アイパターンの良否判定が可能な波形である。
【0109】
なお、一実施の形態においては、ランダムパターン波形、ディファレンシャル波形のいずれか一方に対応するアイパターン波形を選択的に良否判定するようにしてもよい。
【0110】
以上説明したように、一実施の形態によれば、高周波回路に関するパラメータ(設計情報)に基づいて、配線モデルを生成し、ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、配線モデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成した後、予め設定されるスキュー幅(Skew_MAX)に基づいて、ランダムパターン波形またはディファレンシャル波形をスキューさせるようにしたので、高周波のディファレンシャル波形や一般信号波形のランダムパターン解析、スキュー解析を容易に行うことができる。
【0111】
また、一実施の形態によれば、予め設定されるジッタ加算値(JV)に基づいて、ランダムパターン波形にジッタを生じさせ、ランダムパターン波形またはディファレンシャル波形をフレーム分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するようにしたので、高周波のディファレンシャル波形や一般信号波形のジッタ解析、アイパターン解析を容易に行うことができる。
【0112】
また、一実施の形態によれば、ステップSA10、ステップSA14で説明したように、予め設定された基準値に基づいて、ディファレンシャル波形またはアイパターン波形の良否判定を行うようにしたので、高周波回路設計に良否判定結果を即時にフィードバックすることができる。
【0113】
また、一実施の形態によれば、高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成し、ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成し、ランダムパターン波形またはディファレンシャル波形の解析に際して、図16(c)に示したDUMMYEVENTで、解析対象から除外する範囲(例えば、解析に悪影響を与える範囲)を設定するようにしたので、解析精度を高めることができる。
【0114】
また、一実施の形態によれば、DUMMYEVENTで設定された範囲外(例えば、アイパターンの良否判定が可能な範囲)を対象として、予め設定された基準値に基づいて、ランダムパターン波形またはディファレンシャル波形に対応するアイパターン波形の良否判定を行うようにしたので、アイパターンの良否判定の精度を高めることができる。
【0115】
また、一実施の形態によれば、図21および図22を参照して説明したように、ランダムパターン波形またはディファレンシャル波形を、1ビット分の波形を含みかつ1データ幅UI以上の分割幅(2倍の1データ幅UI)でフレーム分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するようにしたので、位相ズレや歪み等の影響を低減し、良否判定可能なアイパターン波形を得ることができ、良否判定精度を高めることができる。
【0116】
以上本発明にかかる一実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成例はこの一実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等があっても本発明に含まれる。たとえば、前述した一実施の形態においては、図1に示した信号波形シミュレーション装置の機能を実現するための信号波形シミュレーションプログラムを図25に示したコンピュータ読み取り可能な記録媒体300に記録して、この記録媒体300に記録された信号波形シミュレーションプログラムを同図に示したコンピュータ200に読み込ませ、実行することにより信号波形シミュレーション装置の機能を実現するようにしてもよい。
【0117】
図25に示したコンピュータ200は、上記信号波形シミュレーションプログラムを実行するCPU201と、キーボード、マウス等の入力装置202と、各種データを記憶するROM(Read Only Memory)203と、演算パラメータ等を記憶するRAM(Random Access Memory)204と、記録媒体300から信号波形シミュレーションプログラムを読み取る読取装置205と、ディスプレイ、プリンタ等の出力装置206と、装置各部を接続するバスBUとから構成されている。
【0118】
CPU201は、読取装置205を経由して記録媒体300に記録されている信号波形シミュレーションプログラムを読み込んだ後、信号波形シミュレーションプログラムを実行することにより、前述した信号波形シミュレーション装置の機能を実現する。なお、記録媒体300には、光ディスク、フロッピーディスク、ハードディスク等の可搬型の記録媒体が含まれることはもとより、ネットワークのようにデータを一時的に記録保持するような伝送媒体も含まれる。
【0119】
また、上述した一実施の形態では、ディファレンシャル波形の場合について説明したが、これに限られることなく、一般信号波形の解析にも適用可能である。
【0120】
(付記1)高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成手段と、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析手段と、
予め設定されるスキュー幅に基づいて、前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形をスキューさせるスキュー解析手段と、
を備えたことを特徴とする信号波形シミュレーション装置。
(付記2)予め設定されるジッタ加算値に基づいて、前記ランダムパターン波形にジッタを生じさせるジッタ解析手段と、
前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形をフレーム分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するアイパターン解析手段とを備えたことを特徴とする付記1に記載の信号波形シミュレーション装置。
(付記3)予め設定された基準値に基づいて、前記ディファレンシャル波形または前記アイパターン波形の良否判定を行う良否判定手段を備えたことを特徴とする付記2に記載の信号波形シミュレーション装置。
(付記4)高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成工程と、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析工程と、
予め設定されるスキュー幅に基づいて、前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形をスキューさせるスキュー解析工程と、
を含むことを特徴とする信号波形シミュレーション方法。
(付記5)高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成させるモデル生成工程と、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析させるランダムパターン解析工程と、
予め設定されるスキュー幅に基づいて、前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形をスキューさせるスキュー解析工程と、
をコンピュータに実行させるための信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
(付記6)高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成手段と、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析手段と、
前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形において、解析対象から除外する範囲を設定する設定手段と、
を備えたことを特徴とする信号波形シミュレーション装置。
(付記7)前記設定手段により設定された範囲外を対象として、予め設定された基準値に基づいて、前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形に対応するアイパターン波形の良否判定を行う良否判定手段を備えたことを特徴とする付記6に記載の信号波形シミュレーション装置。
(付記8)高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成手段と、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析手段と、
前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形を、1ビット分の波形を含みかつ1データ幅以上の分割幅でフレーム分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するアイパターン解析手段と、
を備えたことを特徴とする信号波形シミュレーション装置。
(付記9)前記アイパターン波形の良否判定を行う良否判定手段を備えたことを特徴とする付記8に記載の信号波形シミュレーション装置。
(付記10)コンピュータを、
高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成手段、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析手段、
予め設定されるスキュー幅に基づいて、前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形をスキューさせるスキュー解析手段、
として機能させるための信号波形シミュレーションプログラム。
(付記11)コンピュータを、
高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成手段、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析手段、
前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形において、解析対象から除外する範囲を設定する設定手段、
として機能させるための信号波形シミュレーションプログラム。
(付記12)コンピュータを、
高周波回路の設計情報に基づいて、信号解析シミュレーションモデルを生成するモデル生成手段と、
ランダムパターン波形のビット情報を含むコマンドに基づいて、前記信号解析シミュレーションモデルを伝送する擬似的なランダムパターン波形およびこれに対応するディファレンシャル波形を生成しこれらを解析するランダムパターン解析手段、
前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形において、解析対象から除外する範囲を設定する設定手段、
前記ランダムパターン波形または前記ディファレンシャル波形を、1ビット分の波形を含みかつ1データ幅以上の分割幅でフレーム分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するアイパターン解析手段、
として機能させるための信号波形シミュレーションプログラム。
【0121】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成し、生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加し、それぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を信号解析シミュレーションモデルに入力し、信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成することとしたので、ポジティブ波形およびネガティブ波のそれぞれに対して所定の位相差であるスキューを付加することによって、実際の回路上で発生するスキューを模擬した信号波形シミュレーションを効率的に行うことができるという効果を奏する。
【0122】
また、本発明によれば、予め設定されたジッタ加算値に基づいて、ポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、波形のゆらぎであるジッタを生じさせたうえで、ディファレンシャル波形を分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成することとしたので、実際の回路上で発生するジッタを模擬したうえで、アイパターンを用いた信号波形シミュレーションを効率的に行うこととができるという効果を奏する。
【0123】
また、本発明によれば、ディファレンシャル波形について、ポジティブ波形とネガティブ波形との交点からディファレンシャル波形の半波長の位置を基準位置とし、この基準位置を中心とした1波長以上の分割幅でディファレンシャル波形を分割することとしたので、アイパターン解析時におけるアイの位置を中央付近に固定することによって、アイパターン解析を効率的に行うことができるという効果を奏する。
【0124】
また、本発明によれば、予め設定された基準値に基づいて、アイパターン波形の良否判定を行うこととしたので、利用者の技術レベルの高低に依存しない画一的な良否判定によって、アイパターン解析を効率的に行うことができるという効果を奏する。
【0125】
また、本発明によれば、アイパターン波形と、予め記憶部に記憶した所定の面積を有する基準アイパターンとを重ね合わせ、アイパターン波形が基準アイパターンとの重複部分を有する場合に、アイパターン波形の良否を否と判定することとしたので、生成したアイパターン波形と、予め用意した基準アイパターンとが重なるか否かでアイパターン波形の良否を判定することによって、アイパターン解析を効率的に行うことができるという効果を奏する。
【0126】
また、本発明によれば、ディファレンシャル波形を生成する場合に、信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれについて、所定の部分を前記ディファレンシャル波形の生成対象から除外することとしたので、たとえば、波形の初期部分のように、ポジティブ波形およびネガティブ波形が不安定な領域をディファレンシャル波形の生成対象から除外することによって、高精度な信号波形シミュレーションを行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明にかかる一実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図2】 同一実施の形態における信号伝送回路20を示す図である。
【図3】 同一実施の形態の動作を説明するフローチャートである。
【図4】 同一実施の形態におけるランダムパターンの生成方法を説明する図である。
【図5】 同一実施の形態におけるランダムパターン波形を示す図である。
【図6】 同一実施の形態におけるランダムパターン波形を示す図である。
【図7】 同一実施の形態におけるスキュー解析を説明する図である。
【図8】 同一実施の形態におけるスキュー解析を説明する図である。
【図9】 同一実施の形態におけるジッタ解析時のコマンドを説明する図である。
【図10】 同一実施の形態におけるジッタ解析を説明する図である。
【図11】 同一実施の形態におけるジッタ解析を説明する図である。
【図12】 同一実施の形態におけるアイパターン解析を説明する図である。
【図13】 同一実施の形態におけるアイパターン解析を説明する図である。
【図14】 同一実施の形態におけるランダムパターン波形の不安定領域を示す図である。
【図15】 図14に示したランダムパターン波形に対応するアイパターン波形を示す図である。
【図16】 同一実施の形態におけるランダムパターン波形の別の生成方法を説明する図である。
【図17】 図16(a)においてDUMMYEVENT=0が設定された場合を説明する図である。
【図18】 同一実施の形態におけるランダムパターン波形の安定領域を示す図である。
【図19】 図18に示したランダムパターン波形に対応するアイパターン波形を示す図である。
【図20】 図5に示したランダムパターン波形が歪んだ場合のアイパターン波形を示す図である。
【図21】 同一実施の形態における分割処理を説明する図である。
【図22】 同一実施の形態における分割処理を説明する図である。
【図23】 図21および図22における分割処理で生成されるアイパターン波形を示す図である。
【図24】 図21および図22における分割処理を図18に示したランダムパターン波形に適用した場合のアイパターン波形を示す図である。
【図25】 同一実施の形態の変形例を示すブロック図である。
【図26】 従来のランダムパターン波形の生成方法を説明する図である。
【符号の説明】
2 制御部
4 配線モデル作成部
5 ランダムパターン解析部
6 アイパターン解析部
7 ジッタ解析部
8 スキュー解析部
9 判定部
200 コンピュータ
201 CPU
300 記録媒体
Claims (9)
- 回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーション装置であって、
前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成手段と、
前記波形生成手段によって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加手段と、
前記スキュー付加手段によってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成手段と
を備えたことを特徴とする信号波形シミュレーション装置。 - 予め設定されたジッタ加算値に基づいて、前記ポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、波形のゆらぎであるジッタを生じさせるジッタ解析手段と、前記ディファレンシャル波形を分割したものを重ねることにより、アイパターン波形を生成するアイパターン解析手段とをさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の信号波形シミュレーション装置。
- 前記アイパターン解析手段は、前記ディファレンシャル波形について、前記ポジティブ波形と前記ネガティブ波形との交点から前記ディファレンシャル波形の半波長の位置を基準位置とし、前記基準位置を中心とした1波長以上の分割幅で該ディファレンシャル波形を分割することを特徴とする請求項2に記載の信号波形シミュレーション装置。
- 予め設定された基準値に基づいて、前記アイパターン波形の良否判定を行う良否判定手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1、2または3に記載の信号波形シミュレーション装置。
- 前記良否判定手段は、前記アイパターン波形と、予め記憶部に記憶した所定の面積を有する基準アイパターンとを重ね合わせ、前記アイパターン波形が前記基準アイパターンとの重複部分を有する場合に、前記アイパターン波形の良否を否と判定することを特徴とする請求項4に記載の信号波形シミュレーション装置。
- 前記ディファレンシャル波形生成手段は、前記ディファレンシャル波形を生成する場合に、前記信号波形シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれについて、所定の部分を前記ディファレンシャル波形の生成対象から除外することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の信号波形シミュレーション装置。
- 回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーション装置の信号波形シミュレーション方法であって、
前記信号波形シミュレーション装置は、
前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成ステップと、
前記波形生成ステップによって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加ステップと、
前記スキュー付加ステップによってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレ ーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成ステップと
を実行することを特徴とする信号波形シミュレーション方法。 - 回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーションプログラムであって、
前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成ステップと、
前記波形生成ステップによって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加ステップと、
前記スキュー付加ステップによってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成ステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とする信号波形シミュレーションプログラム。 - 回路の設計情報に基づいて信号解析シミュレーションモデルを生成し、前記信号解析シミュレーションモデルの出力信号波形の解析を行う信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
前記信号解析シミュレーションモデルに入力するランダム波形として、ディファレンシャル信号の波形を構成するポジティブ波形およびネガティブ波形を生成する波形生成ステップと、
前記波形生成ステップによって生成されたポジティブ波形およびネガティブ波形のそれぞれに対して、所定の位相差であるスキューを付加するスキュー付加ステップと、
前記スキュー付加ステップによってそれぞれ位相差が与えられたポジティブ波形およびネガティブ波形を前記信号解析シミュレーションモデルに入力し、前記信号解析シミュレーションモデルから出力されたポジティブ波形とネガティブ波形との差分に基づいてディファレンシャル波形を生成するディファレンシャル波形生成ステップと
をコンピュータに実行させるための信号波形シミュレーションプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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