WO2008149419A1 - アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2008149419A1 WO2008149419A1 PCT/JP2007/061343 JP2007061343W WO2008149419A1 WO 2008149419 A1 WO2008149419 A1 WO 2008149419A1 JP 2007061343 W JP2007061343 W JP 2007061343W WO 2008149419 A1 WO2008149419 A1 WO 2008149419A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- eye margin
- program
- margin computing
- feature points
- computed
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31711—Evaluation methods, e.g. shmoo plots
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
シミュレータにより生成された波形信号から切り出される波形信号片を重畳することで生成されるアイパターンの中心位置を算出し、その中心位置にアイパターンの品質評価基準となるマスクを配置することを想定して、マスクの持つ各特徴点の時間座標値および電圧座標値を算出する。そして、時間軸上に存在しない特徴点を処理対象として、処理対象の特徴点の電圧座標値とその処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の電圧座標値とに基づいて、電圧軸方向のマージンを算出し、さらに、時間軸上に存在する特徴点を処理対象として、処理対象の特徴点の時間座標値とその処理対象の特徴点に対応付けられる波形信号片個所の時間座標値とに基づいて、時間軸方向のマージンを算出する。この構成に従って、シミュレータにより生成されるアイパターンが品質評価基準となるマスクに対して持っているマージンを高精度かつ自動的に算出することを実現する。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2007/061343 WO2008149419A1 (ja) | 2007-06-05 | 2007-06-05 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
PCT/JP2008/059879 WO2008149764A1 (ja) | 2007-06-05 | 2008-05-29 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2009517819A JP4613301B2 (ja) | 2007-06-05 | 2008-05-29 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US12/591,843 US8243995B2 (en) | 2007-06-05 | 2009-12-02 | Apparatus and method for eye margin calculating, and computer-readable recording medium recording program therefof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2007/061343 WO2008149419A1 (ja) | 2007-06-05 | 2007-06-05 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2008149419A1 true WO2008149419A1 (ja) | 2008-12-11 |
Family
ID=40093255
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2007/061343 WO2008149419A1 (ja) | 2007-06-05 | 2007-06-05 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
PCT/JP2008/059879 WO2008149764A1 (ja) | 2007-06-05 | 2008-05-29 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2008/059879 WO2008149764A1 (ja) | 2007-06-05 | 2008-05-29 | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8243995B2 (ja) |
JP (1) | JP4613301B2 (ja) |
WO (2) | WO2008149419A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102664689A (zh) * | 2012-03-26 | 2012-09-12 | 华为技术有限公司 | 眼图质量的判断方法及装置 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102130729A (zh) * | 2011-03-16 | 2011-07-20 | 福建星网锐捷网络有限公司 | 眼图优化方法、装置及网络设备 |
US8995514B1 (en) * | 2012-09-28 | 2015-03-31 | Xilinx, Inc. | Methods of and circuits for analyzing a phase of a clock signal for receiving data |
CN107273602A (zh) * | 2017-06-09 | 2017-10-20 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种提升pcie眼图裕量的仿真方法 |
CN109862206B (zh) * | 2019-02-28 | 2020-08-04 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 信号传输方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01160237A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Fujitsu Ltd | 光送信回路及び光受信回路の試験方式 |
JPH06237231A (ja) * | 1993-01-11 | 1994-08-23 | Nec Corp | 波形識別装置 |
JP2001144819A (ja) * | 1999-11-12 | 2001-05-25 | Anritsu Corp | ディジタル信号の品質評価装置 |
JP2004357050A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Mitsubishi Electric Corp | 波形品質評価システム及び波形品質評価方法 |
JP2006090788A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Fujitsu Ltd | 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5491722A (en) * | 1992-12-21 | 1996-02-13 | Communications Technology Corporation | Eye pattern margin measurement and receiver stress detection device |
JP3376315B2 (ja) * | 1999-05-18 | 2003-02-10 | 日本電気株式会社 | ビット同期回路 |
US6430715B1 (en) * | 1999-09-17 | 2002-08-06 | Digital Lightwave, Inc. | Protocol and bit rate independent test system |
JP3892256B2 (ja) * | 2000-09-08 | 2007-03-14 | 富士通株式会社 | 信号波形シミュレーション装置、信号波形シミュレーション方法および信号波形シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP4828730B2 (ja) | 2001-07-05 | 2011-11-30 | 富士通株式会社 | 伝送装置 |
-
2007
- 2007-06-05 WO PCT/JP2007/061343 patent/WO2008149419A1/ja active Application Filing
-
2008
- 2008-05-29 WO PCT/JP2008/059879 patent/WO2008149764A1/ja active Application Filing
- 2008-05-29 JP JP2009517819A patent/JP4613301B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-12-02 US US12/591,843 patent/US8243995B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01160237A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Fujitsu Ltd | 光送信回路及び光受信回路の試験方式 |
JPH06237231A (ja) * | 1993-01-11 | 1994-08-23 | Nec Corp | 波形識別装置 |
JP2001144819A (ja) * | 1999-11-12 | 2001-05-25 | Anritsu Corp | ディジタル信号の品質評価装置 |
JP2004357050A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Mitsubishi Electric Corp | 波形品質評価システム及び波形品質評価方法 |
JP2006090788A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Fujitsu Ltd | 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102664689A (zh) * | 2012-03-26 | 2012-09-12 | 华为技术有限公司 | 眼图质量的判断方法及装置 |
CN102664689B (zh) * | 2012-03-26 | 2014-07-09 | 华为技术有限公司 | 眼图质量的判断方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2008149764A1 (ja) | 2010-08-26 |
JP4613301B2 (ja) | 2011-01-19 |
US8243995B2 (en) | 2012-08-14 |
US20100080421A1 (en) | 2010-04-01 |
WO2008149764A1 (ja) | 2008-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2008149419A1 (ja) | アイマージン算出装置、アイマージン算出方法、アイマージン算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
MX2019001082A (es) | Dispositivo de soldadura. | |
WO2016073332A3 (en) | System and method of active torch marker control | |
WO2016050216A3 (zh) | 一种净化机器人多点净化的方法 | |
MY189802A (en) | Laser processing apparatus | |
PH12018501780A1 (en) | Work analysis assistance device, work analysis assistance method, computer program and information storage medium | |
SG10201709790WA (en) | Capacitive sensing circuits and methods for determining eyelid position using the same | |
WO2016094862A3 (en) | Autonomous brain-machine interface | |
EP2241964A3 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and information processing program | |
EP3106944A3 (en) | Method for controlling shape measuring apparatus | |
DE502006002717D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum steuern einer mehrzahl von lautsprechern mittels einer graphischen benutzerschnittstelle | |
JP2013021467A5 (ja) | ||
EP3621038A3 (en) | Methods and devices for replacing expression, and computer readable storage media | |
WO2009054102A1 (ja) | 欠陥分類方法及びその装置 | |
WO2014190340A3 (en) | Modifying learning capabilities of learning devices | |
GB2540106A (en) | Robust index correction of an angular encoder using analog signals | |
WO2012150846A3 (ko) | 벽 등반 인쇄 방법 및 시스템 | |
EP3182365A3 (en) | Writing board detection and correction | |
WO2015149928A3 (en) | Method and device for online evaluation of a compressor | |
WO2015142948A3 (en) | Methods and systems of preventing an automated routine from passing a challenge-response test | |
MX2014012857A (es) | Generacion automatizada y actualizacion dinamica de reglas. | |
JP2019162692A5 (ja) | ||
EP2645696A3 (en) | Threshold matrix generation method, image data generation method, image data generation apparatus, image recording apparatus, and threshold matrix | |
JP2016136111A5 (ja) | 形状エラー判定装置、判定結果画像生成装置、及び形状エラー判定方法 | |
JP2020021518A5 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 07744700 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 07744700 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: JP |