JPH07140212A - 電子光学式モジュールを試験する自動システムとそれに対応する方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】電子光学式モデュールを試験するための自動式
のコンピュータで制御されるシステムとそれに対応する
方法を開示する。 【構成】電子コンピュータ７０と前記コンピュータと通
信することができ電気パターンを発生するパターン発生
手段１２０と、前記コンピュータおよび前記パターン発
生手段と通信することができ、前記パターン発生手段か
らの電気パターンに応じて光パターンを発生する、電子
光学式手段とを備えるシステムで、他の電気パターンと
比較する、比較手段を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子光学式モジュール
を試験する自動システムとそれに対応する方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】通信システム、たとえば音声、ビデオ、
またはデータを通信するシステムの製造および使用に携
わる人は、そのようなシステムの伝送媒体として光ケー
ブルを使用することにますます関心を深めている。光フ
ァイバ・ケーブルが関心を集めているのは、その潜在的
帯域幅（すなわち情報伝達能力）が極めて広いためであ
る。また、光ケーブルを用いる通信システムは、伝送媒
体として電気ケーブルを用いるシステムに発生する恐れ
のある電磁干渉に抵抗する。さらに、光ファイバ・ケー
ブルを使用する通信システムは、電気ケーブルを使用す
るシステムよりも安全であるとみなされている。なぜな
ら、光ファイバ・ケーブルの方が、一般に許可を受けて
いない職員が、検出されずに光ファイバ・ケーブルを盗
聴またはアクセスするのが難しいからである。

【０００３】伝送媒体として光ファイバ・ケーブルを使
用する典型的な通信システムは、たとえば、隣接する各
１コンピュータ対が、２本の光ファイバ、すなわち送信
用光ファイバと受信用光ファイバを含む光ファイバ・ケ
ーブルによって相互接続された、複数のコンピュータを
含むものである。明らかに、各コンピュータは情報すな
わちデータを電気の形で生成し受信する。したがって、
各コンピュータは、通常コンピュータのプリント回路板
またはプリント回路カード上に実装された、電子光学式
モジュールをも備えている。このような電子光学式モジ
ュールは、コンピュータが生成する電気信号を光信号に
変換し、変換された光信号は、送信用光ファイバを介し
て隣接するコンピュータに送信される。また、電子光学
式モジュールは、受信用光ファイバを介してコンピュー
タに送信された光信号を、対応する電気信号に変換す
る。

【０００４】前述の種類の電子光学式モジュールは、必
然的に電子光学式送信機構および電子光学式受信機構を
含む。すなわち、そのようなモジュールは通常、送信機
構光学サブアセンブリ（ＴＯＳＡ）と、受信機構光学サ
ブアセンブリ（ＲＯＳＡ）と、多数の半導体集積回路デ
バイスを担持するピン付きセラミック基板を備えてい
る。これらの集積回路デバイスには、送信機構関連機能
を実行するもの（これらを以下、送信機構ＩＣと示す）
や、受信機構関連機能を実行するもの（これらを以下、
受信機構ＩＣと示す）がある。ＴＯＳＡは、送信機構Ｉ
Ｃに電気的に接続されており、半導体レーザや発光ダイ
オード（ＬＥＤ）などの電子光学式トランスジューサを
含む。このような電子光学式トランスジューサは、送信
機構ＩＣで生成されたディジタル電気信号を対応するデ
ィジタル光信号に変換する働きをする。このＴＯＳＡと
送信機構ＩＣの組合せが、モジュールの送信機構を構成
する。同様に、ＲＯＳＡは、受信機構ＩＣに電気的に接
続されており、ＰＩＮフォトダイオードなどの電子光学
式トランスジューサを含む。このような電子光学式トラ
ンスジューサは、受信されたディジタル光信号を、受信
機構ＩＣに伝送される対応するディジタル電気信号に変
換する働きをする。このＲＯＳＡと受信機構ＩＣの組合
せが、モジュールの受信機構を構成する。

【０００５】コンピュータによって電子光学式モジュー
ルに伝送される電気データは通常並列形で伝送されるの
に対し、電子光学式モジュールの送信機構は電気データ
を受信し、対応する光データを直列形で生成することし
かできない。したがって、モジュールを実装したプリン
ト回路板またはプリント回路ボードは通常、いわゆるシ
リアライザ半導体集積回路デバイスを含む。このシリア
ライザ半導体集積回路デバイスは、並列電気データを直
列電気データに変換する働きをする。同様に、電子光学
式モジュールの受信機構は、光データを直列形で受信
し、それを対応する直列電気データに変換することしか
できないが、この電気データは並列形でコンピュータに
伝送される。したがって、モジュールを実装したプリン
ト回路板またはプリント回路カードは通常、いわゆるデ
シリアライザ半導体集積回路デバイスを含む。デシリア
ライザ半導体集積回路デバイスは、直列データを並列デ
ータに変換する働きをする。

【０００６】光ファイバ・ケーブルおよび電子光学式モ
ジュールを使用する通信システムは、電子光学式モジュ
ールを含めてその構成要素が対応する動作指定に従って
動作する場合にかぎって効果的に動作することができ
る。したがって、電子光学式モジュールを試験して、こ
れらのモジュールがこのような指定に適合しているか否
かを確認し、モジュールの非適合性の原因となる製造工
程のエラーを検出して是正することが重要になってい
る。

【０００７】前述の動作指定では通常、電子光学式モジ
ュールの送信機構および受信機構の性能を特徴付ける、
一定のパラメータに対して制限を課している。たとえ
ば、送信機構は、通常送信機構平均出力、送信機構立上
り／立下り時間、送信機構消光比、送信機構デューティ
・サイクルひずみ、送信機構データ依存ジッタなどのパ
ラメータによって特徴付けられる。これらのパラメータ
のすべてについて、以下に本発明に関連して定義する。
また、受信機構は、受信機構感度、受信機構パルス幅ひ
ずみ、受信機構信号検出しきい値、受信機構信号検出ア
サート／ディアサート時間などのパラメータによって通
常特徴付けられる。これらのパラメータも以下で定義す
る。重要なことであるが、本発明が出現するまで、これ
らのパラメータを測定するために考え出された試験はす
べて手動であり、したがって実施するのに法外な時間が
必要であった。たとえば、前記のすべてのパラメータを
手動で測定しようとすると、通常数時間かかる。そのた
め、電子光学式モジュールの製造業者が、製造した電子
光学式モジュールをすべて試験する場合はもちろんのこ
と、そのようなモジュールの統計的に有意な部分だけで
も試験して、対応する指定に適合しないものを除去する
ことは、実際的でなく、莫大なコストがかかった。。

【０００８】前述の点を例証すると、たとえば、従来の
手動技法を使用して受信機構の感度を測定するには、ま
ず、対応するアイ・パターンを手動で決定する必要があ
る。すなわち、ディジタル電気直列パターン発生機構
（一種のディジタル信号生成機構）は内部クロックを有
するが、これを試験中の受信機構に光ファイバを介して
光学的に接続された半導体レーザまたはＬＥＤに電気的
に接続する。受信機構の出力を、ディジタル・オシロス
コープに電気的に接続する。さらに、直列パターン発生
機構の内部クロックの出力を、手動で調整可能な時間遅
延装置を介して、同じディジタル・オシロスコープに電
気的に接続する。次に、直列パターン発生機構を使用し
て、対応する通信システムで使用される伝送速度（ビッ
ト伝送速度）で、擬ランダム・ディジタル電気信号を半
導体レーザまたはＬＥＤに送る。半導体レーザまたはＬ
ＥＤが、対応する擬ランダム・ディジタル光信号を生成
し、この信号が光ファイバを介して受信機構に送られ
る。さらに、受信機構によって生成される擬ランダム・
ディジタル電気信号がディジタル・オシロスコープに送
られ、ディジタル・オシロスコープが、直列パターン発
生機構の内部クロックによって生成される方形波クロッ
ク・パルスによってトリガされる。言うまでもなく、こ
れらの方形波パルスの伝送速度（ビット伝送速度）は、
擬ランダム・ディジタル電気信号の伝送速度と同じであ
る。

【０００９】各クロック・パルスがディジタル・オシロ
スコープをトリガすると、擬ランダム・ディジタル電気
信号における、受信機構によって生成され、トリガ・パ
ルスの後に発生する部分が、オシロスコープ上に表示さ
れ、前に表示されていた部分に重なる。オシロスコープ
を調整して、重なったディジタル信号における、単一電
気パルスの幅に対応するセグメントだけを表示させる
と、図１に示すような電圧交差のパターンが生成され
る。このパターンは、アイ・パターンと呼ばれ、受信機
構によって生成される擬ランダム・ディジタル電気信号
に関連する電圧変化の数を示す。アイ・パターンの幅
が、受信機構によって生成される擬ランダム・ディジタ
ル信号の各パルスをエラーなしでサンプリングできる時
間間隔に関係することに留意されたい。すなわち、アイ
・パターンが広いほど、時間間隔が長くなり、逆も同様
である。これは、プリント回路板またはプリント回路ボ
ード上に実装されたデシリアライザ半導体集積回路デバ
イスでは重要である。というのは、このデバイスは通
常、特定の時間間隔にわたって受信機構で生成される電
気パルスをサンプリングすることしかできず、エラーを
避けるには、アイ・パターンの幅をこのデシリアライザ
時間間隔以上にする必要があるからである。

【００１０】受信機構の感度を考慮に入れると、この項
は、受信機構が指定されたビット・エラー率（ＢＥＲ）
を検出し維持できる、最も弱い光信号の平均出力を示す
ことに留意されたい。したがって、原則として、受信機
構感度は、前述の装置にディジタル電気直列パターン比
較機構を追加すれば測定できる。この比較機構は、受信
機構で生成される擬ランダム・ディジタル電気信号を直
列パターン発生機構で生成される信号と比較し、光出力
を変えながらエラーのあるビット数をカウントすること
ができるものである。すなわち、受信機構の電気出力を
直列パターン比較機構に接続し、直列パターン発生機構
の内部クロックの電気出力を直列パターン比較機構に接
続し、時間遅延装置を、アイ・パターンの中心に対応す
る設定に手動で調整することが可能である。そうすれ
ば、レーザまたはＬＥＤの指定された平均光出力におい
て、十分な数のビットを累積し、対応するエラーのビッ
ト数をカウントすることができる。希望のＢＥＲが達成
されない場合は、光出力を増減し、前述の手順を繰り返
すことが可能である。しかし、（現在、多数のコンピュ
ータ・システムで必要とされている）１０^-12ないし１
０^-15のＢＥＲを達成する必要がある場合、必然的に少
なくとも１０¹²ないし１０¹⁵ビットを累積しなければな
らず、そうすると軽く数時間ないし数日かかることにな
る。

【００１１】受信機構感度を測定するのに必要な時間を
短縮するために、受信機構の雑音が、実際はガウス雑音
であり、温度が一定ならば一定であると従来から仮定さ
れている。したがって、受信機構に関連する信号対雑音
パラメータＱは、受信される平均光出力Ｐ（ミリワット
単位で表す）に対して直線に増加することになる。ここ
で、以下の数式が成り立つ。

【数１】

【００１２】言い換えると、図２に示すように、Ｑの対
数（底１０）は、デシベル（ｄＢ）単位で表されたＰに
正比例することになる。また、前述の仮定から、ｌｏｇ
Ｑ対Ｐ（ｄＢ単位で表す）の勾配は、ｌｏｇＱの値が約
０．６７７ないし約０．８４７の範囲である場合は０．
０９４６ｄＢ^-1に等しいことになり、また実際にそのよ
うに考えられてきた。さらに、ＢＥＲは付加誤差関数を
介してＱに関係付けられることになる。すなわち、次の
数式が成立する。

【数２】

【００１３】したがって、Ｐが特定の値のときにＢＥＲ
を測定した場合、数式２から対応するＱの値を求めるこ
とができる。さらに、この１つのデータ点と前述の勾配
を使用し、外挿によって、ｌｏｇＱ対Ｐ（ｄＢ単位で表
す）のプロットを得ることができる。

【００１４】従来、時間を節約するために、受信機構感
度の手動測定時には、前述の装置を使用して、かなり低
い平均光出力Ｐに対応するＢＥＲを測定している。Ｐが
かなり低いので、ＢＥＲはかなり高い値、たとえば１０
^-8になり、したがって、かなり少数、たとえば１０⁸個
のビットを累積するだけでよいことになる。これには、
かなり短時間しかかからない。従来は、数式２を使用し
て対応するＱの値を計算し、ｌｏｇＱ対Ｐ（ｄＢ単位）
の勾配が０．０９４６ｄＢ^-1であるとの仮定に基づい
て、試験中の受信機構のｌｏｇＱ対Ｐ（ｄＢ単位）のプ
ロットを得ていた。所望のＢＥＲを達成するのに必要な
出力レベルを求めるには、対応するＱの値について数式
２を解く。従来は、このＱの値を使用し、ｌｏｇＱ対Ｐ
（ｄＢ単位）のプロットによって対応するＰの値を求め
ていた。

【００１５】前述の、時間を節約する手順を使用して
も、受信機構感度を手動で測定するには依然として約３
０分かかる。残念ながら、これは、各電子光学式モジュ
ールをすべて試験するにはかかりすぎである。そればか
りか、統計的に有意な数のモジュールを試験するにもか
かりすぎである。

【００１６】したがって、一般に光ファイバ通信システ
ム、特に電子光学式モジュールの開発および製造に携わ
る人は、試験時間が比較的短くて済む電子光学式モジュ
ールの試験システムおよび方法を追求してきたが、現在
のところ成功していない。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明は、電子光学式モ
ジュールを試験するための自動式のコンピュータで制御
されるシステムとそれに対応する方法に関する。このシ
ステムは、電子光学式モジュールの送信機構または受信
機構、あるいはその両方に関連する様々なパラメータを
自動的に測定することができる。これらのパラメータに
は、送信機構平均出力、送信機構立上り／立下り時間、
送信機構消光比、送信機構デューティ・サイクルひず
み、および送信機構データ依存ジッタが含まれる。ま
た、受信機構感度、受信機構パルス幅ひずみ、受信機構
信号検出しきい値、および受信機構信号検出アサート・
ディアサート時間も含まれる。この自動システムは、約
３分でこれらのパラメータをすべて、容易に測定するこ
とができる。この結果、電子光学式モジュールの製造業
者が、製造したすべてのモジュール、または統計的に有
意な数のモジュールを、かなり短時間、たとえば３分
で、かつかなり低コストで試験することが可能となっ
た。

【００１８】

【実施例】本発明は、電子光学式モジュールを試験する
ための自動式のコンピュータで制御されるシステムとそ
れに対応する方法に関する。重要なことであるが、本発
明のシステムおよび方法によって、かなり短時間、たと
えば３分で、かつかなり低コストで電子光学式モジュー
ルを試験することができる。

【００１９】本発明の好ましい実施例である自動コンピ
ュータ制御システム１０を図３に示す。自動コンピュー
タ制御システム１０は、試験すべき電子光学式モジュー
ル２０（自動コンピュータ制御システム１０の一体部分
ではない）に関連する様々なパラメータ（以下に詳細に
説明する）を測定するのに役立つ。図３に示すように、
電子光学式モジュール２０は送信機構３０または受信機
構４０、あるいはその両方を含むものと仮定する。

【００２０】大部分のそのような電子光学式モジュール
と同様に、電子光学式モジュール２０の送信機構ＩＣお
よび受信機構ＩＣもエミッタ結合論理回路を用いている
と仮定する。電子光学式モジュール２０の送信機構ＩＣ
への入力は差分信号でなければならず、電子光学式モジ
ュール２０の受信機構ＩＣからの出力も差分出力でなけ
ればならないことに留意されたい。すなわち、送信機構
ＩＣへの入力は、入力信号（図３ではＩと示す）と、同
じ入力信号の反転形（図３ではＩバーで示す）との組合
せであり、受信機構ＩＣの出力は、出力信号（図３では
Ｏで示す）と、同じ出力信号の反転形（図３ではＯバー
で示す）との組合せであると仮定する。しかし、本発明
の自動コンピュータ制御システム１０の構成要素は、差
分入力ではなく信号入力を使用する。したがって、自動
コンピュータ制御システム１０は、電子光学式モジュー
ル２０の送信機構ＩＣへの信号入力を差分入力に変換す
る働きをする信号入力差分出力エミッタ結合論理駆動機
構５０（必要に応じて省略される）を含む。また、自動
コンピュータ制御システム１０は、他のシステム構成要
素との通信のために電子光学式モジュール２０の受信機
構ＩＣを緩衝する働きをするエミッタ結合論理駆動機構
５５を含む。１つの有用なエミッタ結合論理駆動機構５
０、５５は、米国カリフォルニア州サニーベイルのシグ
ネティックス（Signetics）社から販売されているエミ
ッタ結合駆動機構モデル１００１１４である。

【００２１】重要なことであるが、図３の左下隅に示す
ように、自動コンピュータ制御システム１０は、ＩＢＭ
からＰＳ／２の商標で販売されているパーソナル・コン
ピュータなどの、電子パーソナル・コンピュータ（Ｐ
Ｃ）７０を含む。ＰＣ７０はさらに、ＰＳ／２の８０型
バージョンであることが好ましい。本発明のシステムの
動作に際しては、後述の、本発明に関連するコンピュー
タ・プログラムがＰＣ７０にロードされ、自動コンピュ
ータ制御システム１０の様々な構成要素を制御する働き
をする。

【００２２】ＰＣ７０は、米国テキサス州オースチンの
ナショナル・インストルメンツ（National Instrument
s）社から販売されているバス・モデルＭＣ−ＧＰＩＢ
などの、汎用インタフェース・バス８０を介して、自動
コンピュータ制御システム１０のほぼすべての構成要素
にコマンドを送り、該構成要素から情報を受け取る。た
だし、一定の制御信号が、ＰＣ７０によって、ナショナ
ル・インストルメンツ社から販売されているバス・モデ
ルＭＣ−ＤＩＤＯ−３２Ｆなどの、いわゆるデータ入出
力バス９０を介して、自動コンピュータ制御システム１
０の一定の構成要素に送られる。これについては、以下
でさらに詳細に説明する。

【００２３】試験すべき電子光学式モジュール２０に関
して、本発明の自動コンピュータ制御システム１０は、
試験中の電子光学式モジュール２０に電力を供給する働
きをする、米国カリフォルニア州サンタクララのヒュー
レット・パッカード（Hewlett-Packard）社から販売さ
れているプログラマブル電源モデル６６２４Ａなどの、
プログラマブル電源６０を含むことに留意されたい。こ
の電源６０は、汎用インタフェース・バス８０を介して
ＰＣ７０と通信する。また、ＰＣ７０は、データ入出力
バス９０を介して、電子光学式モジュール２０の送信機
構３０にエネーブル制御信号（図３ではＤＩＤＯ １で
示す）を送信することに留意されたい。さらに、従来通
り、電子光学式モジュール２０が送信機構ＩＣおよび受
信機構ＩＣを実装したピン付きセラミック基板を含む場
合、１本の基板ピンは通常、受信機構４０への入力信号
が受信機構しきい値レベルを下回ることを示す電圧信号
の提供専用とする。そのような場合、受信機構信号検出
しきい値信号と呼ばれるこの電圧信号（図３ではＤＩＤ
Ｏ ４と示す）は、データ入出力バス９０を介してＰＣ
７０に送られる。

【００２４】図３の左上隅に示すように、本発明の自動
コンピュータ制御システム１０は、ヒューレット・パッ
カード社から販売されているプログラマブル電源モデル
６６２４Ａなどの、プログラマブル電源１００を含む。
この電源１００は、汎用インタフェース・バス８０を介
してＰＣ７０と通信し、マルチバイブレータ１１０に電
力を供給する働きをする。マルチバイブレータ１１０
は、プログラマブル電源１００から電力を供給される
と、後述の直列パターン発生機構にエネーブル・クロッ
ク信号およびディスエーブル・クロック信号を送る。こ
れらのクロック信号も、やはり後述のプログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０に送られる。

【００２５】やはり図３の左上隅に示し、かつ前述した
ように、本発明の自動コンピュータ制御システム１０
は、内部クロック１３０を有する直列パターン発生機構
１２０も含む。直列パターン発生機構１２０は、汎用イ
ンタフェース・バス８０を介してＰＣ７０と通信し、い
わゆる(２⁷)−１擬ランダム・パターンやその他のユー
ザ定義パターンなど、均一で等間隔な方形波のディジタ
ル電気信号または擬ランダム・ディジタル電気信号を、
当該の伝送速度、たとえば毎秒２００メガバイト（Ｍｂ
／ｓ）で生成する働きをする（(２⁷)−１擬ランダム・
パターンの詳細は、たとえば、"Error Rate Measuring
Equipment, ＭＥ５２２Ａ"と題する、日本のアンリツ社
発行の操作マニュアル（３−２１および３−２２ペー
ジ）を参照されたい）。そのような有用な直列パターン
発生機構の１つは、日本、東京のアンリツ社から販売さ
れている直列パターン発生機構モデルＭＥ５２２Ａであ
る。直列パターン発生機構１２０の内部クロック１３０
が、均一な方形波パターンまたは擬ランダム・パターン
の伝送速度と同じ伝送速度で、等間隔な方形波クロック
・パルスを生成する働きをすることに留意されたい。

【００２６】直列パターン発生機構１２０は、ヒューレ
ット・パッカード社から販売されているマイクロ波スイ
ッチ・モデル３４５３０Ａなどのマイクロ波スイッチ１
４０に電気的に接続されている。このマイクロ波スイッ
チ１４０は、直列パターン発生機構１２０で生成された
ディジタル電気信号を、２つの出力ポート１４２、１４
４のどちらかに出力することができる。出力ポートの選
択は、ヒューレット・パッカード社から販売されている
スイッチ制御装置モデル３４８８Ａなどのスイッチ制御
装置１５０によって制御される。スイッチ制御装置１５
０は、汎用インタフェース・バス８０を介してＰＣ７０
によって制御される。

【００２７】マイクロ波スイッチ１４０の出力ポート１
４２は、汎用インタフェース・バス８０を介してＰＣ７
０と通信する半導体レーザやＬＥＤなどの発光電子光学
式トランスジューサ１６０に電気的に接続されている。
たとえば、半導体レーザを使用する場合、そのような有
用な半導体レーザの１つとして、ヒューレット・パッカ
ード社から販売されている半導体レーザ・モデル８１５
５Ａがある。この特定の半導体レーザは、１３００ｎｍ
の波長および２００Ｍｂ／ｓの伝送速度でディジタル光
信号を放出することができる。重要なことであるが、こ
の特定の半導体レーザの消光比（この用語については、
以下に定義する）は約９．０であるのに対し、電子光学
式モジュールで使用される大部分の半導体レーザの最小
消光比は通常約４．０である。このことの重要性につい
ては、以下で説明する。

【００２８】直列パターン発生機構１２０で生成される
ディジタル電気信号に応答して発光電子光学式トランス
ジューサ１６０によって生成されるディジタル光信号
は、光ファイバ、たとえば９．０マイクロメートルの径
を有する単一モード光ファイバを介して光減衰器１７０
に送られる。光減衰器１７０は、汎用インタフェース・
バス８０を介してＰＣ７０と通信する。そのような有用
な光減衰器の１つは、ヒューレット・パッカード社から
販売されている光減衰器モデル８１５７Ａである。光減
衰器１７０は、減衰された光信号を、他の光ファイバを
介して、カナダ、オタワのＪＤＳファイテル社（JDS Fi
tel,Inc.）から販売されている光スプリッタ・モデルＡ
ＣＳ１９Ｃ−１．３−９などの光スプリッタ１８０に送
る。光スプリッタ１８０は、着信光信号を２つの信号に
分割する働きをする。すなわち、着信光信号の９０％は
光ファイバを介して電子光学式モジュール２０の受信機
構４０に送られるが、着信光信号の１０％は他の光ファ
イバを介して光スイッチ２００の光入力ポート２０２に
送られる。そのような有用な光スイッチの１つは、ＪＤ
Ｓファイテル社から販売されている光スイッチ・モデル
ＣＣ−Ｓ−９−５−Ｌ−Ｒ−ＤＯ−Ｒである。光スイッ
チはまた、光入力ポート２０２と光入力ポート２０４を
介して光信号を受信することができる。入力ポートの選
択は、スイッチ制御装置１５０から受信される制御信号
によって決定される。光スイッチ２００の光出力は、光
ファイバ２０５を介して光出力メータ２１０に送られ
る。そのような有用な光出力メータの１つは、ヒューレ
ット・パッカード社から販売されている光出力メータ・
モデル８１５２Ａである。

【００２９】前述のように、光スプリッタ１８０は、受
信した光信号の９０％を電子光学式モジュール２０の受
信機構４０に送る働きをする。受信機構４０は、対応す
る差分出力を生成する。この差分出力は、出力Ｏと、対
応する反転出力Ｏバーを含む。この差分出力は、エミッ
タ結合論理駆動機構５５によって緩衝され、エミッタ結
合論理駆動機構５５の反転出力は５０オームの負荷で終
端する。次に、エミッタ結合論理駆動機構５５のデータ
出力は直列パターン比較機構２２０に送られる。直列パ
ターン比較機構２２０は、受信機構４０で生成されたデ
ィジタル電気信号を、直列パターン発生機構１２０で生
成された対応するディジタル電気信号と比較する働きを
する。そのような有用な直列パターン比較機構の１つ
は、アンリツ社から販売されている直列パターン比較機
構モデルＭＥ５２２Ａ ＲＸである。直列パターン比較
機構２２０は、信号パターン発生機構１２０の内部クロ
ック１３０から時間遅延装置２３０を介してクロック信
号を受信するので、直列パターン発生機構１２０と同期
した状態のままとなる。そのような有用な時間遅延装置
の１つとして、ヒューレット・パッカード社から販売さ
れているいわゆるメインフレーム装置モデル８０８０Ａ
と、いわゆる差込み式部品モデル８０９２Ａおよび８０
９３Ａがある。この時間遅延装置によって実現される時
間遅延は、この装置の前部にあるボタンを押すことによ
って決定される。人間が介入しなくて済むように、時間
遅延装置上のスイッチは電子機械的継電器２４０によっ
て電気的に閉じられている。電子機械的継電器２４０
は、ＰＣ７０からデータ入出力バス９０を介して制御信
号（図３にＤＩＤＯ ２およびＤＩＤＯ ３で示す）を
受信する。

【００３０】図３に示すように、受信機構４０によって
生成される出力ＯおよびＯバーはどちらも、１０ｘオシ
ロスコープ・プローブを介してプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０に送られる。このプログラ
マブル・ディジタル・オシロスコープ２５０は、汎用イ
ンタフェース・バス８０を介してＰＣ７０と通信し、直
列パターン発生機構１２０の内部クロック１３０からの
クロック信号と、マルチバイブレータ１１０からのクロ
ック信号を受信する。そのような有用なプログラマブル
・ディジタルオシロスコープの１つは、米国オレゴン州
ビーバートンのテクトロニクス（Tektronix）社から販
売されているオシロスコープ・モデルＣＳＡ ４０４で
ある。

【００３１】前述のように、マイクロ波スイッチ１４０
は、直列パターン発生機構１２０で生成されたディジタ
ル電気信号を出力ポート１４２と出力ポート１４４のど
ちらかに切り替えることができる。図３に示すように、
出力ポート１４４は電気的に接続されており、したがっ
て直列パターン発生機構１２０で生成されたディジタル
電気信号を信号入力差分出力エミッタ結合論理駆動機構
５０に送る働きをする。信号入力差分出力エミッタ結合
論理駆動機構５０は、受信したディジタル電気信号を差
分形で電子光学式モジュール２０の送信機構ＩＣに送る
働きをする。

【００３２】送信機構３０は、ディジタル電気信号を受
信すると、対応するディジタル光信号を生成する。ディ
ジタル光信号は、光ファイバ２６５を介して自動コンピ
ュータ制御システム１０の光スプリッタ２６０に送られ
る。この光スプリッタ２６０は光スプリッタ１８０と同
じである。すなわち、光スプリッタ２６０は入射光信号
の１０％を光スイッチ２００の入力ポート２０４に送
り、入射光信号の９０％をオシロスコープ２５０の光入
力ポート２５１に送る。

【００３３】本発明の自動コンピュータ制御システム１
０の動作に際しては、たとえば、電子光学式モジュール
２０の送信機構４０に対して試験を実行するとき、直列
パターン発生機構１２０は、ＰＣ７０の制御下でディジ
タル電気信号を生成する。このディジタル電気信号は、
マイクロ波スイッチ１４０を介して電子光学式トランス
ジューサ１６０に送られる。電子光学式トランスジュー
サ１６０は、対応するディジタル光信号を生成する。こ
のディジタル光信号は、光減衰器１７０を介して光スプ
リッタ１８０に送られる。光スプリッタ１８０は、入射
ディジタル光信号の１０％を、光スイッチ２００に送
り、次いで光出力メータ２１０に送る。これと同時に、
光スプリッタ１８０は、入射ディジタル光信号の９０％
を光ファイバ４５を介して受信機構４０に送る。する
と、受信機構４０は対応するディジタル電気信号を生成
する。このディジタル電気信号は、エミッタ結合論理駆
動機構５５を介して直列パターン比較機構２２０に送ら
れる。

【００３４】電子光学式モジュール２０の送信機構３０
に対して試験を実行する場合、直列パターン発生機構１
２０は、ＰＣ７０の制御下でディジタル電気信号を生成
する。このディジタル電気信号は、マイクロ波スイッチ
１４０を介して信号入力差分出力エミッタ結合論理駆動
機構５０に送られる。送信機構３０は、対応するディジ
タル光信号を生成し、このディジタル光信号は光スプリ
ッタ２６０に送られる。光スプリッタ２６０は、入射デ
ィジタル光信号の１０％を光スイッチ２００に送り、つ
いで光出力メータ２１０に送る。光スプリッタ２６０は
また、入射ディジタル光信号の９０％をプログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０の光入力ポート２
５１に送る。

【００３５】前述のように、本発明の自動コンピュータ
制御システム１０は、ＰＣ７０によって制御される。こ
の点に関して、本発明は、ＰＣ７０にロードされるコン
ピュータ・プログラムも含む。このコンピュータ・プロ
グラムは、本発明に関連する試験方法を実施する働きを
する。このコンピュータ・プログラムは多数のサブルー
チンを含み、その各々が、特定の受信機構パラメータま
たは特定の送信機構パラメータを測定する際に使用され
る。個々に有用なこれらのサブルーチンの各々につい
て、以下に、サブルーチンＡ、サブルーチンＢなどと題
する添付のリストを参照して説明する。ただし、これら
のリストは、対応するソース・コード行を含んでいな
い。読者が理解するのは非常に難しいと思われるからで
ある。その代わりに、これらのリストは、対応するソー
ス・コードについて説明するコメント行を含んでおり、
これらのコメント行が一種の擬似コードの働きをする。

【００３６】添付のサブルーチンＡは、本発明に関連す
る、受信機構感度を測定する方法を実施するために使用
される。このサブルーチンについて説明する前に、従来
のこのような方法と異なり、このサブルーチンの基礎と
なる測定方法では、Ｑ対Ｐ（ミリワット単位で表す）の
勾配が、従来の方法のように理論上予測される勾配であ
ると仮定していないことに留意されたい。この仮定を行
わないのは、電子光学式モジュールの製造に使用される
工程の誤差などの様々な因子によって、理論的に予測さ
れる勾配と異なる勾配がしばしば発生するからである。
したがって、光出力の３つの異なる値に対応するビット
・エラー率（ＢＥＲ）を測定する。次に、数式２の積分
をこの積分の整級数表記の最初の３つの項によって近似
する、数式２のあるバージョンを使用して、３つの対応
するＱの値を算出する。この計算では、Ｑは大きい値で
あると仮定する（この点に関しては、アブラモヴィッツ
（Abramowitz）およびステグン（Stegun）編の、"Handb
ook of Mathematical Functions"と題する数学ハンドブ
ック中の式２６．２．１２を参照されたい）。すなわ
ち、以下の式を使用して３つのＱの値を算出する。

【数３】

【００３７】すると、これらの３つのＱの計算値および
対応するＰの値が３つのデータ点を表し、これらのデー
タ点に対して、線形最小二乗近似を適用する。したがっ
て、Ｑ対Ｐの勾配は、実際には、理論から導くのではな
く経験によって求める。次に、数式３を使用して、所望
のＢＥＲに対応するＱの値を計算する。次に、このＱの
計算値に線形最小二乗近似を外挿して、対応するＰの値
を求める。

【００３８】重要なことであるが、サブルーチンＡは、
受信機構感度を、対応するアイ・パターンのちょうど中
心で決定することはない。その代わりに、アイ・パター
ンの中心を定め、アイ・パターンの幅が十分大きいと仮
定した後、受信機構感度も、たとえばアイ・パターンの
中心から−０．７ナノ秒および＋０．７ナノ秒の所で測
定する。アイ・パターンの中心からのこのような変位
は、試験中のモジュールと共に使用するデシリアライザ
集積回路デバイスが、モジュールの受信機構によって生
成される電気パルスをサンプリングできる時間間隔に適
合するように選択する。

【００３９】次に、サブルーチンＡを参照すると、ステ
ップ（１）は、試験中の装置（ＤＵＴ）に適切な電圧、
たとえば５．０Ｖで電力を供給するように指示する、Ｐ
Ｃ７０から電源６０へのコマンドである。

【００４０】ステップ（２）は、直列パターン発生機構
１２０の出力が出力ポート１４２に伝られるようにマイ
クロ波スイッチ１４０をセットし、光スイッチ２００へ
の入力が入力ポート２０２を介して行われるように光ス
イッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ７０から
スイッチ制御装置１５０へのコマンドである。

【００４１】ステップ（３）は、当該の伝送速度、たと
えば２００Ｍｂ／ｓ（メガバイト／秒）で、等間隔な方
形波を生成するよう指示する、ＰＣ７０から直列パター
ン発生機構１２０へのコマンドである。このコマンドの
結果、発光電子光学式トランスジューサ１６０が、対応
する等間隔な光方形波を生成し、この方形波が、試験中
の電子光学式モジュール２０の受信機構４０によって受
信される。

【００４２】ステップ（４）は、電子光学式モジュール
２０の受信機構４０からの入力を搬送する入力チャネル
に切り替えるよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブ
ル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドで
ある。

【００４３】ステップ（５）は、受信機構チャネル範囲
（ボルト／ディビジョン単位、たとえば０．２ボルト／
ディビジョン）およびオフセット（オシロスコープのセ
ンター・グラティキュールに対応する電圧、たとえば
０．３３５ボルト）を指定する、ＰＣ７０からプログラ
マブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマン
ドである。

【００４４】ステップ（６）は、入力波形の前縁をトリ
ガ・オンするよう、すなわち波形の前縁に応答して波形
を表示するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドであ
る。

【００４５】ステップ（７）は、オシロスコープ・タイ
ム・ベース、すなわちナノ秒／ディビジョン（たとえば
１．０ナノ秒／ディビジョン）および遅延、すなわちオ
シロスコープが波形トレースを開始する前に遅延すべき
時間の長さ（たとえば、０．０ナノ秒遅延）を定義する
よう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタ
ル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【００４６】ステップ（８）は、平均モードを使用する
よう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタ
ル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。平均モ
ードとは、比較的平滑な波形を生成するために、それぞ
れ現在の点とそれに対応する前の点との平均である点か
ら成る波形をオシロスコープで表示することである。

【００４７】ステップ（９）は、受信機構４０の電気出
力が、発光電子光学式トランスジューサ１６０で生成さ
れる方形波光パルスに応答して切り替えられるように、
受信機構波形に対応する上部電圧および下部電圧を決定
するよう指示する、ＰＣ７０からオシロスコープ２５０
へのコマンドである。

【００４８】ステップ（１０）は、直列パターン発生機
構１２０の内部クロック１３０からクロック・パルスを
受信するよう指示する、ＰＣ７０からオシロスコープ２
５０へのコマンドである。

【００４９】ステップ（１１）は、（２⁷）−１擬ラン
ダム・パターンを生成するよう指示する、ＰＣ７０から
直列パターン発生機構１２０へのコマンドである。

【００５０】ステップ（１２）は、着信信号を（２⁷）
−１擬ランダム・パターンと比較するよう指示する、Ｐ
Ｃ７０から直列パターン比較機構２２０へのコマンドで
ある。

【００５１】ステップ（１３）は、通常モード、すなわ
ち持続モードを使用するよう指示する、ＰＣ７０からプ
ログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０への
コマンドである。持続モードでは、古い波形の上に新し
い波形が重ねられてアイ・パターンを生成する。

【００５２】ステップ（１４）は、直列パターン発生機
構１２０の内部クロック１３０からのクロック・パルス
に応答してトリガするよう指示する、ＰＣ７０からプロ
グラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコ
マンドである。

【００５３】ステップ（１５）は、直列パターン比較機
構２２０のしきい電圧を０．０ボルトに定義する、ＰＣ
７０から直列パターン比較機構２２０へのコマンドであ
る。

【００５４】ステップ（１６）は、受信した光出力を
（たとえば、ワットの代わりに）ｄＢ単位で送るよう指
示する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンド
である。

【００５５】ステップ（１７）は、光出力メータが、受
信機構４０で受信した出力をＰＣ７０に自動的に送るよ
うに、受信機構４０に送られた光出力と光出力メータ２
１０の差に関する基準出力レベルを定義する、ＰＣ７０
から光出力メータ２１０へのコマンドである。この基準
出力レベルは、後述の較正手順に従って決定される。

【００５６】ステップ（１８）は、光出力メータ２１０
に、ＰＣ７０からコマンドを受信した際にトリガするよ
う、すなわち光出力読取り値を得て、この読取り値をＰ
Ｃ７０に送るよう指令する、ＰＣ７０から光出力メータ
２１０へのコマンドである。

【００５７】ステップ（１９）は、電子光学式モジュー
ル２０の受信機構４０に対応するアイ・パターンの幅を
求め、アイ・パターンの中心における受信機構しきい値
出力を求めるよう指示する、ＰＣ７０から複数のシステ
ム構成要素への一連のコマンドを含む。すなわち、ステ
ップ（１９ａ）は、たとえば１．０秒の期間にわたって
受信機構４０からのすべての着信ビットをサンプリング
するよう指示する、直列パターン比較機構２２０へのコ
マンドである。ステップ（１９ｂ）は、アイ・パターン
の（以前の経験に基づく）推定中心に対応して、たとえ
ば−３．８ナノ秒の時間遅延を生成するように時間遅延
装置２３０を調整するよう指示する、電子機械式継電器
装置２４０への制御信号を含む。ステップ（１９ｃ）
は、オシロスコープ・スクリーン上にアイ・パターン全
体が表示される入力光出力、たとえば−３２ｄＢで受信
機構しきい値出力が測定されるように、受信機構４０に
送られる光出力を減衰するよう指示する、光減衰器１７
０へのコマンドである。ステップ（１９ｄ）は、直列パ
ターン比較機構２２０がアイ・パターンの中心のエラー
を検出するまで、たとえば０．２ｄＢ刻みで受信機構４
０への出力を減分するよう指示する、ＰＣ７０から光減
衰器１７０へのコマンドである。エラーが検出される
と、光減衰器１７０は、受信機構４０への光出力を０．
３ｄＢだけ増加して、アイ・パターンの中心のあらゆる
エラーが除去され、その結果得られる出力がアイ・パタ
ーンの中心における受信機構しきい値出力を構成するよ
うにする。これは、アイ・パターンの中心が、受信され
た光出力の関数になるという点で重要である。したがっ
て、アイ・パターンの中心は、後述のＢＥＲ測定点に十
分近い受信機構しきい値出力で測定される。ステップ
（１９ｅ）は、アイ・パターンの幅を得るための一連の
コマンドを含む。すなわち、ステップ（１９ｅ−１）
は、たとえば１．０秒の期間にわたって受信機構４０か
らのすべての着信ビットをサンプリングするよう指示す
る、ＰＣ７０から直列パターン比較機構２２０へのコマ
ンドである。ステップ（１９ｅ−２）は、アイ・パター
ンの右縁にほぼ対応する時間遅延を生成するように時間
遅延装置２３０を調整するよう指示する、ＰＣ７０から
電子機械式継電器２４０へのコマンドである。アイ・パ
ターンの幅は通常１．４ナノ秒であり、この右縁はアイ
・パターンの中心から約０．７ナノ秒の所にある。ステ
ップ（１９ｅ−３）は、アイ・パターンの右側縁が見つ
かるまで、すなわち直列パターン比較機構２２０が最初
にエラーを検出するまで、たとえば０．１ナノ秒刻みで
時間遅延を増分または減分し続けるように時間遅延装置
２３０を調整するよう指示する、ＰＣ７０から電子機械
式継電器２４０へのコマンドである。ステップ（１９ｅ
−４）および（１９ｅ−５）は、アイ・パターンの左縁
を求める働きをする。ステップ（１９ｅ−６）では、ア
イ・パターンの右縁および左縁に対応する時間遅延がセ
ーブされる。ステップ（１９ｆ）は説明不要である。

【００５８】ステップ（２０）は、アイ・パターンの中
心から−０．７ナノ秒の時間遅延を達成するように時間
遅延装置２３０を調整するよう指示する、ＰＣ７０から
電子機械式継電器２４０へのコマンドである。

【００５９】ステップ（２１）は、直列パターン比較機
構２２０がＢＥＲを１０^-7ないし１０^-8の範囲内で測定
する出力レベルを得るための一連のコマンドを含む。す
なわち、ステップ（２１ａ）は、たとえば１．０秒の期
間にわたって受信機構４０からのすべてのビットをサン
プリングするよう指示する、ＰＣ７０から直列パターン
比較機構２２０へのコマンドである。ステップ（２１
ｂ）は、直列パターン比較機構２２０がたとえば１０^-2
未満のＢＥＲを測定するまで、受信機構４０への光出力
を増分または減分し続けるよう指示する、ＰＣ７０から
光減衰器１７０へのコマンドである。ステップ（２１
ｃ）では、ＢＥＲが１０^-7ないし１０^-8の範囲内である
かどうか検査する。この範囲内でなく、たとえば最初の
ＢＥＲが５ｘ１０^-4より大きい場合は、ステップ（２１
ｄ）で、受信機構４０への光出力をたとえば０．４ｄＢ
だけ増加させる。ステップ（２１ｅ）では、再びＢＥＲ
が１０^-7ないし１０^-8の範囲内であるかどうか検査す
る。範囲内でない場合は、ステップ（２１ｆ）で、最初
の２つのＢＥＲ測定値に対応するＱの値を、数式３を使
って算出する。この計算では、Ｑの値を推定し、数式３
の左辺と右辺の差がゼロ、または実質的にゼロになるま
で左辺から右辺を減算し続ける。次に、対応するＰの値
に関して２つのＱの計算値に直線を適合させる。次に、
数式３を使って、たとえば１０^-8のＢＥＲに対応するＱ
の値を算出する。前述の、ＱとＰの直線関係を外挿し、
最後のＱの計算値に対応するＰの値を求める。この最後
のＰの値が、ＢＥＲが１０^-8の時の受信機構感度とな
る。ステップ（２１ｇ）では、必要に応じて、前記の手
順を微調整する。

【００６０】ステップ（２２）では、ステップ（２１）
で求めた１０^-8のＢＥＲに対応する出力レベルを０．４
ｄＢずつ２回減分して、以後のステップで使用する、３
つの出力レベルの合計を得る。

【００６１】ステップ（２３）では、ステップ（２２）
で求めた３つの出力レベルをセーブする。

【００６２】ステップ（２４）は、２．０秒の期間にわ
たって受信機構４０からのすべてのビットをサンプリン
グするよう指示する、ＰＣ７０から直列パターン比較機
構２２０へのコマンドである。

【００６３】ステップ（２５）では、ステップ（２２）
の３つの出力レベルに対応するＢＥＲを測定する。

【００６４】ステップ（２６）では、数式３を使って、
ＢＥＲの３つの測定値に対応するＱの値を計算する。こ
れらの３つのＱの値および対応する３つのＰの値が、３
つのデータ点を定義し、これに線形最小二乗近似を適用
する。次に、数式３を使って、所望のＢＥＲの値、たと
えば１０^-15に対応するＱの値を算出する。次に、この
Ｑの値に線形最小二乗近似を外挿して、対応するＰの値
を求める。

【００６５】ステップ（２７）に取り入れられた本発明
の重要な態様は、受信機構感度が、その測定に使用され
る電子光学式トランスジューサ１６０に関連する消光比
の関数であることの認識である。本発明のもう１つの重
要な態様は、第１の消光比を使用して行った受信機構感
度測定に補正係数（ＣＲ）を加えることにより、第２の
消光比に対応する受信機構感度の値が容易に求められる
ことの発見である。さらに、前記のＣＲが次式で与えら
れることも分かった。

【数４】 ＣＲ＝１０＊ｌｏｇ((ＬＳＥＲ２＋１)/(ＬＳＥＲ２−１))−１０＊ｌｏｇ((Ｌ ＳＥＲ１＋１)/(ＬＳＥＲ１−１))， （ ４）

【００６６】上式で、ＬＳＥＲ１は受信機構感度の測定
に使用する消光比であり、ＬＳＥＲ２は、受信機構感度
が望まれる消光比である。この点に関して、たとえば電
子光学式トランスジューサ１６０が、従来のような４．
０ではなく９．０の消光比を示す半導体レーザである場
合、ステップ（２７）において、ステップ（２６）で測
定した受信機構感度にＣＲを加える。この場合、ＣＲは
次式で与えられる。

【数５】 ＣＲ＝１０＊ｌｏｇ((４＋１)/(４−１))−１０＊ｌｏｇ((９＋１)/(９−１)) （５ ）

【００６７】ＣＲはｄＢ単位であり、やはりｄＢ単位で
表される受信機構感度測定値に加えらることに留意され
たい。また、受信機構感度の測定に使用する消光比の値
自体は、後述の対応する較正手順を使用して測定される
ことにも留意されたい。

【００６８】ステップ（２８）では、ステップ（２６）
の３つのデータ点と線形最小二乗近似の相関を計算す
る。たとえば、３つのデータ点がすべて線形最小二乗近
似に該当する場合、相関は１．０になる。相関は少なく
とも０．９８であることが好ましい。さらに、線形最小
二乗近似の勾配を求める。

【００６９】ステップ（２９）では、上で求めた受信機
構感度を、対応する指定と比較する。

【００７０】ステップ（３０）ないし（３８）はステッ
プ（２０）ないし（２９）と同じである。ただし、時間
遅延は＋０．７ナノ秒に相当する。

【００７１】添付のサブルーチンＢは、本発明に関連す
る、受信機構パルス幅ひずみ（ＲＰＷＤ）を測定する方
法を実施するのに使用される。この受信機構パラメータ
は以下のように定義される。

【数６】 ＲＰＷＤ＝（（Ｔｐ−Ｔｎ）／（Ｔｐ＋Ｔｎ））×１００， （６）

【００７２】上式で、Ｔｐは受信機構４０で生成される
正のパルスの幅を示し、Ｔｎは受信機構４０で生成され
る負のパルスの幅を示す。この場合、受信機構４０が、
均一で等間隔な方形波によって当該伝送速度で光学的に
駆動されている間に、各パルスの幅を、パルスの上端と
下端のちょうど中間に当たる電圧レベルで測定する。

【００７３】サブルーチンＢを参照すると、ステップ
（１）および（２）は説明不要である。

【００７４】ステップ（３）は、当該の伝送速度、たと
えば２００Ｍｂ／ｓで、均一で等間隔な方形波を生成す
るよう指示する、ＰＣ７０から直列パターン発生機構１
２０へのコマンドである。その結果、発光電子光学式ト
ランスジューサ１６０が、対応する均一で等間隔な方形
波を生成し、この方形波が、試験中の電子光学式モジュ
ール２０の受信機構４０によって受信される。

【００７５】ステップ（４）は説明不要である。

【００７６】ステップ（５）は、たとえば０．２ボルト
／ディビジョンなどの受信機構チャネル範囲を指定す
る、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル・オシロ
スコープ２５０へのコマンドであ。さらに、プログラマ
ブル・ディジタル・オシロスコープ２５０の中央グラテ
ィキュールに対応する電圧として、たとえば０．３３５
ボルトのオフセットが指定される。

【００７７】ステップ（６）は説明不要である。

【００７８】ステップ（７）は、たとえば２．０ナノ秒
／ディビジョンなどのタイム・ベースと、たとえば０．
０ナノ秒などの遅延を指定する、ＰＣ７０からプログラ
マブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマン
ドである。

【００７９】ステップ（８）、（９）、（１０）は説明
不要である。

【００８０】ステップ（１１）は、所望の光出力、たと
えば−２３ｄＢで試験が実施されるように、受信機構４
０に送られる光出力を減衰するよう指示する、ＰＣ７０
から光減衰器１７０へのコマンドである。

【００８１】ステップ（１２）および（１３）は説明不
要である。

【００８２】ステップ（１４）は、波形の上端と下端の
電圧差が十分である、たとえば少なくとも０．０８ボル
トであるかどうかをプログラマブル・ディジタル・オシ
ロスコープ２５０に検査するよう指令する、ＰＣ７０か
らプログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０
へのコマンドである。

【００８３】ステップ（１５）では、ＴｐおよびＴｎを
測定する。すなわち、ステップ（１５ａ）ないし（１５
ｅ）では、隣接する受信機構パルスを検査して、正のパ
ルス（すなわち、上向きの前縁をもつパルス）と、負の
パルス（すなわち、下向きの前縁をもつパルス）を区別
する。この区別に基づき、正のパルスの幅を測定してＴ
ｐを求め、負のパルスの幅を測定してＴｎをめる。

【００８４】ステップ（１６）では、数式５を使ってＲ
ＰＷＤを算出する。

【００８５】添付のサブルーチンＣは、本発明に関連す
る、受信機構信号検出しきい値（ＲＳＤＴ）を測定する
方法を実施するために使用される。

【００８６】ステップ（１）ないし（６）は説明不要で
ある。

【００８７】ステップ（７）は、ＲＳＤＴ電圧信号（Ｄ
ＩＤＯ４）が検出されるまで、受信機構４０への光出力
を、たとえば０．２ｄＢ刻みで減分し続けるよう指示す
る、ＰＣ７０から光減衰器１７０へのコマンドである。
受信機構４０に結合される光出力の対応する値がＲＳＤ
Ｔを構成する。

【００８８】ステップ（９）では、ＲＳＤＴにＣＲを加
え、ステップ（１０）では合格／不合格の判定を下す。

【００８９】添付のサブルーチンＤは、本発明に関連す
る、受信機構信号検出アサート時間（Ｔａ）および受信
機構信号検出ディアサート時間（Ｔｄ）を測定する方法
を実施するために使用される。すなわち、この方法によ
れば、直列パターン発生機構１２０を使用して、当該の
伝送速度、たとえば２００Ｍｂ／ｓで（２⁷）−１擬ラ
ンダム・パターンを生成する。この擬ランダム・パター
ンを電子光学式トランスジューサ１６０に送り、電子光
学式トランスジューサ１６０は、対応する擬ランダム光
パターンを生成して受信機構４０に送る。直列パターン
発生機構１２０が動作している間は、プログラマブル電
源１００を使用して、マルチバイブレータ１１０に電力
が供給される。マルチバイブレータ１１０は、エネーブ
ル・クロック信号およびディスエーブル・クロック信号
を、たとえば２００ヘルツの周波数で直列パターン発生
機構１２０に送信する。これらのクロック信号を、擬ラ
ンダム・パターンと共に図４に示す。図４では、クロッ
ク信号を文字Ａで示し、擬ランダム・パターンを文字Ｂ
で示してある。図のように、マルチバイブレータ１１０
が正のパルス（必然的に、直列パターン発生機構１２０
で生成されるどのパルスよりもはるかに長い）を生成す
ると、直列パターン発生機構１２０が使用可能になる。
同様に、マルチバイブレータ１１０が負のパルスを生成
すると、直列パターン発生機構１２０は使用不能にな
る。

【００９０】図４は、マルチバイブレータ１１０で生成
されるエネーブル・クロック信号およびディスエーブル
・クロック信号と、直列パターン発生機構１２０で生成
される擬ランダム・パターンを示すだけでなく、ＲＳＤ
Ｔ電圧の生成専用のモジュール・ピンによって生成され
る電圧信号も示している。この電圧信号は文字Ｃで示し
てある。図４に示すように、マルチバイブレータ１１０
からのディスエーブル・クロック・パルスによって直列
パターン発生機構１２０が使用不能になると、ＲＳＤＴ
電圧信号の対応する応答に遅れが発生する。この遅れを
Ｔｄと定義する。同様に、図４に示すように、マルチバ
イブレータ１１０からのエネーブル・クロック・パルス
によって直列パターン発生機構１２０が使用可能になる
ときも、ＲＳＤＴ電圧信号の対応する応答に遅れが発生
する。この遅れをＴａと定義する。

【００９１】サブルーチンＤを参照すると、ステップ
（１）は説明不要である。

【００９２】ステップ（２）は説明不要である。ただ
し、「ゲート同期」とは、マルチバイブレータ１１０で
生成されたクロック・パルスがプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０をトリガすることを意味す
る。

【００９３】ステップ（３）は、プログラマブル電源１
００をオンにし、それによってマルチバイブレータ１１
０に電力を供給するよう指示する、ＰＣ７０からのコマ
ンドである。

【００９４】ステップ（４）では、「ゲート」とはマル
チバイブレータ１１０を指し、対応する「ゲート」入力
チャネル２５２の範囲は、たとえば０．０５ボルト／デ
ィビジョン、対応するオフセットは、たとえば０．０ボ
ルトである。

【００９５】ステップ（５）ではステップ（１３）用の
チャネル範囲およびオフセット、すなわちＲＳＤＴ電圧
信号が送られる、プログラマブル・ディジタル・オシロ
スコープ２５０の上部「ゲート」入力チャネル２５２と
下部「ゲート」入力チャネル２５２の差を指定する。こ
のチャネル範囲は、たとえば０．２ボルト／ディビジョ
ンであり、対応するオフセットはたとえば３．４５ボル
トである。

【００９６】ステップ（６）では、オシロスコープ２５
０に、「ゲート」波形に応答しててトリガするよう指令
する。

【００９７】ステップ（７）では、プログラマブル・デ
ィジタル・オシロスコープ２５０のタイム・ベースおよ
び遅延を指定する。これらはそれぞれ、たとえば１００
マイクロ秒／ディビジョンおよび−５００マイクロ秒で
あり、このような値の場合、「ゲート」波形とＲＳＤＴ
波形の両方を同時に表示することができる。

【００９８】ステップ（８）ないし（１０）は説明不要
である。

【００９９】ステップ（１１）では、試験中に受信機構
４０に結合される、たとえば−２７ｄＢの光出力を指定
する。

【０１００】ステップ（１２）は説明不要である。

【０１０１】ステップ（１３）では、プログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０によって上部「ゲー
ト」波形電圧と下部「ゲート」波形電圧の差を求め、こ
の差が、たとえば０．０４ボルトより大きいことを確認
する。

【０１０２】ステップ（１４）では、プログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０によって上部ＲＳＤ
Ｔ波形電圧と下部ＲＳＤＴ波形電圧の差を求め、この差
が、たとえば０．１５ボルトより大きいことを確認す
る。

【０１０３】ステップ（１５）では、「ゲート」波形お
よびＲＳＤＴ波形の正の（上向きの）前縁を識別する。

【０１０４】ステップ（１６）では、ステップ（１５）
で得た結果をマイクロ秒単位に変換し、セーブする。

【０１０５】ステップ（１７）では、Ｔａを算出し、対
応する指定に適合しているかどうか検査する。

【０１０６】ステップ（１８）では、「ゲート」波形お
よびＲＳＤＴ波形の負の（下向きの）前縁を識別する。

【０１０７】ステップ（１９）では、ステップ（１８）
で得た結果をマイクロ秒単位に変換し、セーブする。

【０１０８】ステップ（２０）では、Ｔｄを算出し、対
応する指定に適合しているかどうか検査する。

【０１０９】添付のサブルーチンＥは、本発明に関連す
る、送信機構平均出力を測定する方法を実施するために
使用される。この点に関して、電子光学式モジュール２
０の送信機構３０がディジタル光信号を生成していると
き、送信機構３０が比較的高い光出力と比較的低い出力
の間で切り替わり、送信機構平均出力がこの２つの光出
力の平均を示すことに留意されたい。

【０１１０】サブルーチンＥを参照すると、ステップ
（１）は説明不要である。

【０１１１】ステップ（２）は、直列パターン発生機構
１２０の出力が出力ポート１４４に送られるようにマイ
クロ波スイッチ１４０をセットし、光スイッチへの入力
が入力ポート２０４を介して行われるように光スイッチ
２００をセットするよう指示する、ＰＣ７０からスイッ
チ制御装置１５０へのコマンドである。

【０１１２】ステップ（３）は、（２⁷）−１擬ランダ
ム・パターンを生成するよう指示する、ＰＣ７０から直
列パターン発生機構１２０へのコマンドである。その結
果、電子光学式モジュール２０の送信機構３０が、対応
する擬ランダム光パターンを生成し、その光パターン
が、光スイッチ２００を介して光出力メータ２１０に送
られる。

【０１１３】ステップ（４）は説明不要である。

【０１１４】ステップ（５）は、光出力メータ２１０が
送信機構３０で生成された平均光出力をＰＣ７０に送る
ように、送信機構３０で生成される平均光出力と、光出
力メータ２１０に送られる平均光出力の差に関する基準
平均出力レベルを定義する、ＰＣ７０から光出力メータ
２１０へのコマンドである。

【０１１５】ステップ（６）は、連続的にトリガするよ
う、すなわち平均光出力を常に監視するよう指示する、
ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１１６】ステップ（７）は、送信機構３０で生成さ
れた平均光出力の最新の値を要求する、ＰＣ７０から光
出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１１７】ステップ（８）は、送信機構が実際に動か
ないかどうかについての検査である。すなわち、平均光
出力の最新値がたとえば−５０ｄＢ未満である場合、送
信機構は実際に動かないと見なされる。

【０１１８】ステップ（９）では、平均光出力の最も新
しい測定値と対応する指定を比較する。

【０１１９】添付のサブルーチンＦは、本発明に関連す
る、送信機構立上り時間および立下り時間を測定する方
法を実施するために使用される。この点に関して、送信
機構立上り時間とは、送信機構が均一で等間隔な方形波
電気パルスによって当該の伝送速度で駆動されるとき、
送信機構光パルスの上向きの部分がパルス基線に対して
パルス頂部線の２０％から８０％まで立ち上がるのに要
する時間の長さを示すことに留意されたい。同様に、送
信機構立下り時間とは、送信機構が前述のように駆動さ
れるとき、送信機構光パルスの下向きの部分がパルス基
線に対してパルス頂部線の８０％から２０％まで立ち下
がるのに要する時間の長さを示すことに留意されたい。

【０１２０】サブルーチンＦを参照すると、ステップ
（１）ないし（３）は説明不要である。

【０１２１】ステップ（４）では、送信機構波形がスク
リーンに適合するように、送信機構チャネル範囲および
オフセットがプログラマブル・ディジタル・オシロスコ
ープ２５０によって自動的に選択されることに留意され
たい。ただし、送信機構チャネル範囲は通常０．０００
１ボルト／ディビジョンになるように選択され、オフセ
ットが０．０ボルトであることにも留意されたい。さら
に、ステップ（４）に示すように、結合は交流式なの
で、この波形は０．０ボルトの周りでスイングする。

【０１２２】ステップ（５）は説明不要である。

【０１２３】ステップ（６）では、タイム・ベースはた
とえば２．０ナノ秒／ディビジョンであり、遅延はたと
えば０．０ナノ秒である。

【０１２４】ステップ（７）および（８）は説明不要で
ある。

【０１２５】ステップ（９）では、十分な振幅とはたと
えば０．００００１ボルトである。

【０１２６】ステップ（１０）ないし（１４）は説明不
要である。

【０１２７】添付のサブルーチンＧは、本発明に関連す
る、送信機構消光比を測定する方法を実施するために使
用される。この点に関して、前述のように、送信機構３
０は光パルスを生成するとき、比較的高い光出力レベル
と比較的低い光出力レベルの間で切り替わる。また、送
信機構消光比とは、当該伝送速度で送られる均一で等間
隔な方形波パルスによって送信機構が電気的に駆動され
るときの、これらの出力レベルの比率を示すことに留意
されたい。

【０１２８】サブルーチンＧを参照すると、ステップ
（１）および（２）は説明不要である。

【０１２９】ステップ（３）では、方形波の伝送速度は
たとえば４０Ｍｂ／ｓである。

【０１３０】ステップ（４）では、送信機構波形がスク
リーンに適合するように、送信機構チャネル範囲および
オフセットがプログラマブル・ディジタル・オシロスコ
ープ２５０によって自動的に選択される。また結合は直
流式である。

【０１３１】ステップ（５）は説明不要である。

【０１３２】ステップ（６）では、タイム・ベースはた
とえば１０ナノ秒／ディビジョンであり、遅延はたとえ
ば０．０ナノ秒である。

【０１３３】ステップ（７）および（８）は説明不要で
ある。

【０１３４】ステップ（９）では、十分な振幅とはたと
えば０．００００１ボルトである。

【０１３５】ステップ（１０）ないし（１２）は説明不
要である。

【０１３６】添付のサブルーチンＨは、本発明に関連す
る、送信機構デューティ・サイクルひずみ（ＴＤＣＤ）
を測定する方法を実施するために使用される。この送信
機構パラメータは以下のように定義される。

【数７】 ＴＤＣＤ＝（Ｔｐ'−Ｔｎ'）／２， （６）

【０１３７】上式で、Ｔｐ'は送信機構３０で生成され
る正のパルスの幅を示し、Ｔｎ'は送信機構３０で生成
される負のパルスを示す。各パルスの幅は、送信機構３
０が均一で等間隔な方形波によって当該の伝送速度で電
気的に駆動されている間に、パルスの上端と下端のちょ
うど中間の電圧レベルで測定される。

【０１３８】サブルーチンＨを参照すると、ステップ
（１）および（２）は説明不要である。

【０１３９】ステップ（３）では、伝送速度は、たとえ
ば２００Ｍｂ／ｓである。

【０１４０】ステップ（４）では、送信機構波形がスク
リーンに適合するように、送信機構チャネル範囲および
オフセットがプログラマブル・ディジタル・オシロスコ
ープ２５０によって自動的に選択される。また結合は交
流式である。

【０１４１】ステップ（５）は説明不要である。

【０１４２】ステップ（６）では、タイム・ベースはた
とえば２ナノ秒／ディビジョンであり、遅延はたとえば
０．０ナノ秒である。

【０１４３】ステップ（７）および（８）は説明不要で
ある。

【０１４４】ステップ（９）では、十分な振幅とはたと
えば０．００００１ボルトである。

【０１４５】ステップ（１０）では、プログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０の基準電圧を０．０
ボルトに設定する。

【０１４６】ステップ（１１）および（１２）は説明不
要である。

【０１４７】添付のサブルーチンＩは、本発明に関連す
る、二乗平均平方根送信機構データ依存ジッタ（ＴＤＤ
Ｊ）を測定する方法を実施するために使用される。この
点に関しては、図５に示すように、この送信機構パラメ
ータでは、送信機構３０がＫ２８．５パターンと呼ばれ
るディジタル・パターンで電気的に駆動されるとき、送
信機構３０に関連するアイ・パターンが形成されること
に留意されたい（Ｋ２８．５パターンに関しては、たと
えばＡ．Ｘ．ウィドマー（Widmer）らの論文、"A DC-Ba
lance, Partitioned-Block, 8B/10B Transmission Cod
e"（IBM Journalof Research and Development、第２７
巻、第５号、１９８３年９月）を参照されたい）。ま
た、やはり図５に示すように、このパラメータではさら
に、送信機構アイ・パターンの一端にあるＸ字形電圧交
差の中心の周囲にボックスが形成され、Ｘの中心を横切
る電圧交差の数に関するヒストグラムが形成される。Ｔ
ＤＤＪは、このヒストグラムに関連する標準偏差であ
る。

【０１４８】サブルーチンＩを参照すると、ステップ
（１）および（２）は説明不要である。

【０１４９】ステップ（３）では、方形波パターンの伝
送速度はたとえば２００Ｍｂ／ｓである。

【０１５０】ステップ（４）では、タイム・ベースはた
とえば２ナノ秒／ディビジョンであり、遅延はたとえば
０．０ナノ秒である。

【０１５１】ステップ（５）では、送信機構波形がスク
リーンに適合するように、チャネル範囲およびオフセッ
トがプログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５
０によって自動的に選択される。また結合は交流式であ
る。

【０１５２】ステップ（６）ないし（８）は説明不要で
ある。

【０１５３】ステップ（９）では、十分な振幅とはたと
えば０．００００１ボルトである。

【０１５４】ステップ（１０）は、Ｋ２８．５パターン
を生成するよう指示する、ＰＣ７０から直列パターン発
生機構１２０へのコマンドである。

【０１５５】ステップ（１１）は、アイ・パターンを生
成するために、通常獲得モードすなわち持続モードに切
り替えるよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドであ
る。

【０１５６】ステップ（１２）は、直列パターン発生機
構１２０の内部クロック１３０で生成されたクロック・
パルスをトリガ・オフし、特に、負のクロック・パルス
遷移をトリガ・オフするよう指示する、ＰＣ７０からプ
ログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０への
コマンドである。

【０１５７】ステップ（１３）では、オシロスコープ・
スクリーン上のアイ・パターンの一端にあるＸ字形電圧
交差の中心の周囲にボックスを形成する。すなわち、ス
テップ（１３ａ）では、画素が照明された回数を示す色
を各画素に割り当てる。ステップ（１３ｂ）では、垂直
電圧スケールを、電圧の相対電圧値ではなく絶対電圧値
に設定する。ステップ（１３ｃ）では、ボックスの右辺
および左辺を定義し、スクリーン上の水平タイム・スケ
ールを０％から１００％に延ばして、スクリーン・ディ
スプレイ全体を包含する。ステップ（１３ｄ）では、送
信機構波形の上端および下端を測定し、遠端パラメータ
を波形の高さの６８％に設定し、近端パラメータを波形
の１５％に設定し、半値パラメータを波形の高さの５０
％に設定する。ステップ（１３ｅ）では、プログラマブ
ル・ディジタル・オシロスコープ２５０がループする。
すなわち、たとえばボックス内の点が少なくとも５０個
見つかるまで、点の数をカウントし続ける。ステップ
（１３ｆ）では、プログラマブル・ディジタル・オシロ
スコープ２５０が内部プログラムを使用してＴＤＤＪ測
定を実行する。すなわち、プログラマブル・ディジタル
・オシロスコープ２５０が、前述のヒストグラムに関連
する標準偏差を測定する。ステップ（１３ｆ）では、ス
テップ（１３ｅ）のＴＤＤＪ測定の結果をピコ秒単位に
変換する。

【０１５８】ステップ（１４）は説明不要である。

【０１５９】本発明の自動コンピュータ制御システム１
０に関連する重要な利点は、該システム１０に関連する
光ファイバがモジュールの試験中に物理的に移動される
ことがないことである。その結果、本発明の自動コンピ
ュータ制御システム１０は、１日に約１回較正するだけ
でよい。これは従来の手動システムとは対象的である。
手動システムでは、光ファイバが繰り返し移動されるの
で、各試験の間にシステムを較正しなければならない。
この違いは、本発明の自動コンピュータ制御システム１
０を使用すると電子光学式モジュール２０がはるかに迅
速に試験できる理由の１つである。

【０１６０】本開示の最後に、本発明の自動コンピュー
タ制御システム１０に関連して使用する較正手順につい
て、以下に、対応する較正サブルーチンを参照しながら
説明する。

【０１６１】光出力メータ較正手順に関するサブルーチ
ンＪを参照すると、ステップ（１）は、較正手順の準備
として、光出力メータ較正値および光出力メータ基準値
を０．０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７０から光
出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１６２】ステップ（２）は、較正係数をたとえば−
０．０９ｄＢの光ヘッド・レンズ損失の値に設定するよ
う指示する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマ
ンドである。

【０１６３】ステップ（３）は、たとえば１３０９ナノ
メートルなど、較正測定を行う波長を設定するよう指示
する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンドで
ある。

【０１６４】ステップ（４）では、以下フロア・レーザ
源と呼ぶ安定したレーザ源に接続された、以下フロア光
ファイバと呼ぶ３メートルの光ファイバの出力として、
たとえば−５．０ｄＢの光出力をタイプ入力するようオ
ペレータに要求するメッセージを、ＰＣ７０ディスプレ
イ上に表示する。光出力測定は、以下フロア出力メータ
と呼ぶ精密出力メータを使用して行うものとする。

【０１６５】ステップ（５）では、フロア・レーザの光
ファイバを光出力メータ２１０に接続するようオペレー
タに要求するメッセージをＰＣ７０ディスプレイ上に表
示する。次に、ＰＣ７０は、光出力メータ２１０に、現
光出力メータ読取り値をＰＣ７０に送るよう指令する。

【０１６６】ステップ（６）では、フロア・レーザ源光
出力と、ステップ（５）で得られた光出力メータ２１０
読取り値の差を算出し、この差に光ヘッド・レンズ損失
を加算する。

【０１６７】ステップ（７）は、ステップ６で算出され
た値を較正値として記憶するよう指示する、ＰＣ７０か
ら光出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１６８】ステップ（８）は、現光出力をＰＣ７０に
送るよう指示する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へ
のコマンドである。

【０１６９】ステップ（９）では、フロア・レーザ出力
と、光出力メータ２１０から受け取った出力との差を算
出する。次に、この差を対応する指定と比較して、値を
セーブすべきかどうか判定する。

【０１７０】送信機構フィクスチャ較正手順に関するサ
ブルーチンＫを参照すると、ステップ（１）は、較正手
順の準備として、光出力メータ較正値および光出力メー
タ基準値を０．０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７
０から光出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１７１】ステップ（２）は、光出力メータ２１０
に、その表示を連続的に更新し、ＰＣ７０から要求があ
ったとき現表示値を返すよう指令する、ＰＣ７０から光
出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１７２】ステップ（３）は、基準出力レベルを０．
０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７０から光出力メ
ータ２１０へのコマンドである。

【０１７３】ステップ（４）は、たとえば１３０９ナノ
メートルなど、較正測定を行う波長を設定するよう指示
する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンドで
ある。

【０１７４】ステップ（５）では、フロア光ファイバ
を、たとえば一端にＦＣコネクタを備え、他端に二重レ
セプタクルを備えた二重ファイバである較正ファイバの
ＦＣ端に接続し、較正ファイバの二重レセプタクルをシ
ステムの二重コネクタに接続して、送信機構ファイバ２
６５を光出力メータ２１０に接続するようオペレータに
要求するメッセージを、ＰＣ７０ディスプレイ上に表示
する。次に、ＰＣ７０は、光出力メータ２１０に、現行
光出力読取り値をＰＣ７０に送るよう指令する。

【０１７５】ステップ（６）では、フロア・レーザ源光
出力と光出力メータ２１０読取り値との光出力の差を算
出する。これは、送信機構ファイバ／フィクスチャ損失
として知られている。

【０１７６】ステップ（７）では、計算の結果を対応す
る指定と比較して、値をセーブすべきかどうか判定し、
結果を表示する。

【０１７７】送信機構リンク較正手順に関するサブルー
チンＬを参照すると、ステップ（１）は、光スイッチ２
００への入力が入力ポート２０４を介して行われるよう
に光スイッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ７
０からスイッチ制御装置１５０へのコマンドである。

【０１７８】ステップ（２）は、較正手順の準備とし
て、光出力メータ較正値および光出力メータ基準値を
０．０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７０から光出
力メータ２１０へのコマンドである。

【０１７９】ステップ（３）は、光出力メータ２１０
に、その表示を連続的に更新し、ＰＣ７０から要求があ
ったとき現表示値を返すよう指令する、ＰＣ７０から光
出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１８０】ステップ（４）は、基準出力レベルを０．
０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７０から光出力メ
ータ２１０へのコマンドである。

【０１８１】ステップ（５）は、たとえば１３０９ナノ
メートルなど、較正測定を行う波長を設定するよう指示
する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンドで
ある。

【０１８２】ステップ（６）では、送信機構ファイバ２
６５を光スプリッタ２６０に接続し、光出力メータ・フ
ァイバ２０５を光出力メータ２１０に接続するようオペ
レータに要求するメッセージをＰＣ７０ディスプレイ上
に表示する。次に、ＰＣ７０は、光出力メータ２１０
に、現光出力メータ読取り値をＰＣ７０に送るよう指令
する。

【０１８３】ステップ（７）では、フロア・レーザ源か
らファイバ／フィクスチャ損失を引いた値と、ステップ
（６）で得られた光出力との、光出力の差を算出する。
これは、送信機構リンク損失として知られている。

【０１８４】ステップ（８）は、基準値をステップ
（７）で得られた値に設定するよう指示する、ＰＣ７０
から光出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１８５】ステップ（９）は、現光出力読取り値をＰ
Ｃ７０に送るよう指示する、ＰＣ７０から光出力メータ
２１０へのコマンドである。

【０１８６】ステップ（１０）では、計算結果を対応す
る指定と比較して、値をセーブすべきかどうか判定し、
結果を表示する。

【０１８７】受信機構リンク較正手順に関するサブルー
チンＭを参照すると、ステップ（１）は、直列パターン
発生機構１２０の出力が出力ポート１４２に送られるよ
うにマイクロ波スイッチ１４０をセットし、光スイッチ
２００への入力が入力ポート２０２を介して行われるよ
うに光スイッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ
７０からスイッチ制御装置１５０へのコマンドを示す。

【０１８８】ステップ（２）は、較正手順の準備とし
て、光出力メータ較正値および光出力メータ基準値を
０．０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７０から光出
力メータ２１０へのコマンドである。

【０１８９】ステップ（３）は、光出力メータ２１０
に、その表示を連続的に更新し、ＰＣ７０から要求があ
ったとき現表示値を返すよう指令する、ＰＣ７０から光
出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１９０】ステップ（４）は、基準出力レベルを０．
０ｄＢに設定するよう指示する、ＰＣ７０から光出力メ
ータ２１０へのコマンドである。

【０１９１】ステップ（５）は、たとえば１３００ナノ
メートルなど、較正測定を行う波長を設定するよう指示
する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンドで
ある。

【０１９２】ステップ（６）は、減衰を０．０ｄＢに設
定するよう指示する、ＰＣ７０から光減衰器１７０への
コマンドである。

【０１９３】ステップ（７）では、二重コネクタ４５の
受信側を光出力メータ２１０に接続するようオペレータ
に要求するメッセージをＰＣ７０ディスプレイ上に表示
する。次に、ＰＣ７０は、光出力メータ２１０に、現光
出力メータ読取り値をＰＣ７０に送るよう指令する。

【０１９４】ステップ（８）では、光出力メータ・ファ
イバ２０５を光出力メータ２１０に接続するようオペレ
ータに要求するメッセージをＰＣ７０ディスプレイ上に
表示する。次に、ＰＣ７０は、光出力メータ２１０に、
現光出力メータ読取り値をＰＣ７０に送るよう指令す
る。

【０１９５】ステップ（９）では、ステップ（７）およ
び（８）で得られた読取り値の間の光出力の差を算出す
る。これは、受信機構リンク損失として知られている。

【０１９６】ステップ（１０）は、基準値を、ステップ
（９）で得た値に設定するよう指示する、ＰＣ７０から
光出力メータ２１０へのコマンドである。

【０１９７】ステップ（１１）は、現光出力読取り値を
ＰＣ７０に送るよう指示する、ＰＣ７０から光出力メー
タ２１０へのコマンドである。

【０１９８】ステップ（１２）では、計算結果を対応す
る指定と比較して、値をセーブすべきかどうか判定し、
結果を表示する。

【０１９９】周波数生成機構較正手順に関するサブルー
チンＮを参照すると、ステップ（１）では、たとえば、
所望の周波数１００ＭＨｚ±１％、所望の電圧振幅１．
０ボルト±１０％、所望の電圧オフセット０．０ボルト
±１０％など、結果を比較する際の限界を決定する。

【０２００】ステップ（２）は、直列パターン発生機構
１２０の出力が出力ポート１４４に送られるようにマイ
クロ波スイッチ１４０をセットし、光スイッチ２００へ
の入力が入力ポート２０４を介して行われるように光ス
イッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ７０から
スイッチ制御装置１５０へのコマンドを示す。

【０２０１】ステップ（３）は、通常モードすなわち持
続モードを使用するよう指示する、ＰＣ７０からオシロ
スコープ２５０へのコマンドを示す。このモードでは、
古い波形の上に新しい波形を重ねて、アイ・パターンを
生成する。

【０２０２】ステップ（４）は、受信機構チャネル範囲
（ボルト／ディビジョン単位、たとえば０．２ボルト／
ディビジョン）およびオフセット（オシロスコープ２５
０の中央グラティキュールに対応する電圧、たとえば
０．０ボルト）を指定する、ＰＣ７０からプログラマブ
ル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドで
ある。

【０２０３】ステップ（５）は、入力波形の前縁をトリ
ガ・オンするよう、すなわち波形の前縁に応答して波形
を表示するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドであ
る。

【０２０４】ステップ（６）は、オシロスコープ・タイ
ム・ベース、すなわちナノ秒／ディビジョン（たとえば
３．０ナノ秒／ディビジョン）および遅延、すなわち波
形トレースを開始する前にオシロスコープ２５０が遅延
すべき時間の長さ（たとえば０．０ナノ秒遅延）を定義
するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディ
ジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２０５】ステップ（７）は、平均モードを使用する
よう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタ
ル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。平均モ
ードとは、波形を平滑化するために、それぞれ現在の点
およびそれと対応する前の点の平均である点から構成さ
れる波形をプログラマブル・ディジタル・オシロスコー
プ２５０が表示することである。

【０２０６】ステップ（８）では、周波数生成機構１５
０の出力をプログラマブル・ディジタル・オシロスコー
プ２５０のチャネルに接続するようオペレータに要求す
るメッセージをＰＣ７０ディスプレイ上に表示する。

【０２０７】ステップ（９）は、波形の周波数（ステッ
プ９ａ）、波形の電圧振幅（ステップ９ｂ）、および波
形の電圧オフセット（９ｃ）を要求する、ＰＣ７０から
オシロスコープ２５０への複数のコマンドから構成され
る。この時点で、オペレータは、すべてのパラメータが
ステップ１で算出した指定内に収まるまで、周波数生成
機構１５０を調整する必要がある。パラメータが満足に
調整されると、オペレータはキーボードの終了キー、た
とえばEnterキーを押し（ステップ９ｄ）、値をセーブ
する。

【０２０８】オシロスコープ較正手順に関するサブルー
チンＯを参照すると、ステップ（１）では、チャネル２
５１の入力から光ファイバを取り外し、その入力を保護
キャップで覆うようオペレータに要求するメッセージを
ＰＣ７０ディスプレイ上に表示する。次に、チャネル２
５１を較正するよう指示するコマンドが、ＰＣ７０から
プログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０に
送られる。

【０２０９】ステップ（２）では、プログラマブル・デ
ィジタル・オシロスコープ２５０のチャネル２５６から
ケーブルを取り外し、チャネル２５６からオシロスコー
プ較正出力にスペア・ケーブルを接続するようオペレー
タに要求するメッセージをＰＣ７０ディスプレイ上に表
示する。次に、チャネル２５６を較正するよう指示する
コマンドが、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル
・オシロスコープ２５０に送られる。

【０２１０】ステップ（３）では、ステップ（２）の方
法を使用してチャネル２５５を較正する。

【０２１１】ステップ（４）では、ステップ（２）の方
法を使用してチャネル２５３を較正する。

【０２１２】ステップ（５）では、ステップ（２）の方
法を使用してチャネル２５４を較正する。

【０２１３】ステップ（６）では、較正の結果を表示す
る。

【０２１４】レーザ源消光比較正手順に関するサブルー
チンＰを参照すると、ステップ（１）は、光スイッチ２
００への入力が入力ポート２０４を介して行われるよう
に光スイッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ７
０からスイッチ制御装置１５０へのコマンドを示す。

【０２１５】ステップ（２）は、直列パターン発生機構
１２０の出力が出力ポート１４２に送られるようにマイ
クロ波スイッチ１４０をセットするよう指示する、ＰＣ
７０からスイッチ制御装置１５０へのコマンドである。

【０２１６】ステップ（３）は、当該の伝送速度、たと
えば２００Ｍｂ／ｓで、等間隔な方形波を生成するよう
指示する、ＰＣ７０から直列パターン発生機構１２０へ
のコマンドである。その結果、発光電子光学式トランス
ジューサ１６０は、対応する等間隔な光方形波を生成す
る。

【０２１７】ステップ（４）は、通常モードすなわち持
続モードを使用するよう指示する、ＰＣ７０からオシロ
スコープ２５０へのコマンドを示す。このモードでは、
古い波形の上に新しい波形を重ねて、アイ・パターンを
生成する。

【０２１８】ステップ（５）は、受信機構チャネル範囲
（ボルト／ディビジョン単位、たとえば０．００００５
ボルト／ディビジョン）およびオフセット（オシロスコ
ープ２５０の中央グラティキュールに対応する電圧、た
とえば０．０００１５ボルト）を指定する、ＰＣ７０か
らプログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０
へのコマンドである。

【０２１９】ステップ（６）は、入力波形の前縁をトリ
ガ・オンするよう、すなわち波形の前縁に応答して波形
を表示するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドであ
る。

【０２２０】ステップ（７）は、オシロスコープ・タイ
ム・ベース、すなわちナノ秒／ディビジョン（たとえば
５．０ナノ秒／ディビジョン）および遅延、すなわち波
形トレースを開始する前にオシロスコープ２５０が遅延
すべき時間の長さ（たとえば−５．０ナノ秒遅延）を定
義するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・デ
ィジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２２１】ステップ（８）は、受信した光出力を（た
とえば、ワット単位の代わりに）ｄＢ単位で送るよう指
示する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンド
である。

【０２２２】ステップ（９）は、受信機構４０で受信し
た出力を光出力メータ２１０がＰＣ７０に自動的に送る
ように、受信機構４０に送られた光出力と光出力メータ
２１０の差に関する基準出力レベルを定義するよう指示
する、ＰＣ７０から光出力メータ２１０へのコマンドで
ある。

【０２２３】ステップ（１０）は、光出力メータ２１０
に、ＰＣ７０からコマンドを受け取ったときトリガする
よう、すなわち光出力読取り値を得てこの読取り値をＰ
Ｃ７０に送るよう指令する、ＰＣ７０から光出力メータ
２１０へのコマンドである。

【０２２４】ステップ（１１）は、次のステップを実行
するために発光電子光学式トランスジューサ１６０の出
力を使用不能にするよう指示する、ＰＣ７０から発光電
子光学式トランスジューサ１６０へのコマンドである。

【０２２５】ステップ（１２）では、発光電子光学式ト
ランスジューサ１６０を光スプリッタ２６０の入力に接
続するようオペレータに要求するメッセージをＰＣ７０
ディスプレイ上に表示する。

【０２２６】ステップ（１３）は、発光電子光学式トラ
ンスジューサ１６０の出力を使用可能にするよう指示す
る、ＰＣ７０から発光電子光学式トランスジューサ１６
０へのコマンドである。

【０２２７】ステップ（１４）は、平均モードを使用す
るよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。平均
モードとは、波形を平滑化するために、それぞれ現在の
点およびそれと対応する前の点の平均である点から構成
される波形をオシロスコープ２５０が表示することであ
る。

【０２２８】ステップ（１５）は、発光電子光学式トラ
ンスジューサ１６０の上部電圧および下部電圧を決定す
るよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２２９】ステップ（１６）では、波形の振幅を求
め、対応する指定、たとえば「０．００００１ボルトよ
り大」と比較する。

【０２３０】ステップ（１７）では、以下の式を使用し
て発光電子光学式トランスジューサ１６０の消光比を算
出する。

【数８】 ＥＲ＝（上端レベル電圧）／（下端レベル電圧）

【０２３１】ステップ（１８）では、計算結果を対応す
る指定と比較して、値をセーブすべきかどうか判定し、
結果を表示する。

【０２３２】データ依存ジッタ較正手順に関するサブル
ーチンＱを参照すると、ステップ（１）は、手順のこの
部分がオシロスコープ・チャネル２５６に関し、２つの
部分のうち最初のものであることを示す。

【０２３３】ステップ（２）は、直列パターン発生機構
１２０の出力が出力ポート１４４に送られるようにマイ
クロ波スイッチ１４０をセットし、光スイッチ２００へ
の入力が入力ポート２０４を介して行われるように光ス
イッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ７０から
スイッチ制御装置１５０へのコマンドを示す。

【０２３４】ステップ（３）は、当該の伝送速度、たと
えば２００Ｍｂ／ｓで等間隔な方形波を生成するよう指
示する、ＰＣ７０から直列パターン発生機構１２０への
コマンドを示す。

【０２３５】ステップ（４）は、通常モードすなわち持
続モードを使用するよう指示する、ＰＣ７０からプログ
ラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマ
ンドを示す。このモードでは、古い波形の上に新しい波
形を重ねて、アイ・パターンを生成する。

【０２３６】ステップ（５）は、受信機構チャネル範囲
（ボルト／ディビジョン単位、たとえば０．０２ボルト
／ディビジョン）およびオフセット（プログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０の中央グラティキュ
ールに対応する電圧、たとえば０．０ボルト）を指定す
る、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル・オシロ
スコープ２５０へのコマンドである。

【０２３７】ステップ（６）は、入力波形の前縁をトリ
ガ・オンするよう、すなわち波形の前縁に応答して波形
を表示するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドであ
る。

【０２３８】ステップ（７）は、オシロスコープ・タイ
ム・ベース、すなわちナノ秒／ディビジョン（たとえば
１０．０ナノ秒／ディビジョン）および遅延、すなわち
波形トレースを開始する前にプログラマブル・ディジタ
ル・オシロスコープ２５０が遅延すべき時間の長さ（た
とえば０．０ナノ秒遅延）を定義する、ＰＣ７０からプ
ログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０への
コマンドである。

【０２３９】ステップ（８）では、オシロスコープ・チ
ャネル２５６から、送信機構非反転入力（Ｉ）に対応す
るモジュール・ソケット２０上のピンまで１０Ｘプロー
ブを接続し、かつオシロスコープ・チャネル２５５か
ら、送信機構反転入力（Ｉバー）に対応するモジュール
・ソケット２０上のピンまで１０Ｘプローブを接続する
ようオペレータに要求するメッセージをＰＣ７０ディス
プレイ上に表示する。

【０２４０】ステップ（９）は、平均モードを使用する
よう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタ
ル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。平均モ
ードとは、波形を平滑化するために、それぞれ現在の点
とそれに対応する前の点との平均である点から構成され
る波形をプログラマブル・ディジタル・オシロスコープ
２５０が表示することである。

【０２４１】ステップ（１０）は、発光電子光学式トラ
ンスジューサ１６０の上部電圧および下部電圧を決定す
るよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２４２】ステップ（１１）では、波形の振幅を求
め、対応する指定、たとえば「０．０４ボルトより大」
と比較する。

【０２４３】ステップ（１２）は、直列パターン発生機
構１２０の出力が出力ポート１４４に送られるようにマ
イクロ波スイッチ１４０をセットし、光スイッチ２００
への入力が入力ポート２０４を介して行われるように光
スイッチ２００をセットするよう指示する、ＰＣ７０か
らスイッチ制御装置１５０へのコマンドを示す。

【０２４４】ステップ（１３）は、Ｋ２８．５パターン
を生成するよう指示する、ＰＣ７０から直列パターン発
生機構１２０へのコマンドである。

【０２４５】ステップ（１４）は、通常モードを使用す
るよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２４６】ステップ（１５）は、直列パターン発生機
構１２０の内部クロック１３０からのクロック応答に応
答してトリガするよう指示する、ＰＣ７０からプログラ
マブル・・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマ
ンドである。

【０２４７】ステップ（１６）は、オシロスコープ・タ
イム・ベース、すなわちナノ秒／ディビジョン（たとえ
ば０．５ナノ秒／ディビジョン）および遅延、すなわち
波形トレースを開始する前にプログラマブル・ディジタ
ル・オシロスコープ２５０が遅延すべき時間の長さ（た
とえば０．０ナノ秒遅延）を定義する、ＰＣ７０からプ
ログラマブルディジタル・オシロスコープ２５０へのコ
マンドである。

【０２４８】ステップ（１７）は、プログラマブル・デ
ィジタル・オシロスコープ２５０が組込みプログラムを
実行して、チャネル２５６の波形に存在するジッタを求
めるよう指示する、ＰＣ７０からオシロスコープ２５０
へのコマンドであり、次に、測定されたジッタの値を返
すよう指示するコマンドが、ＰＣ７０からプログラマブ
ル・ディジタル・オシロスコープ２５０に送信される。

【０２４９】ステップ（１８）では、測定されたジッタ
を対応する指定と比較し、結果を表示する。

【０２５０】ステップ（１９）では、オシロスコープ・
チャネル２５５を使用してステップ（２）ないし（１
７）を繰り返す。

【０２５１】ステップ（２０）では、チャネル２５５の
測定されたジッタ結果を対応する指定と比較して、値を
セーブすべきかどうか判定し、結果を表示する。最終的
なデータ依存ジッタ測定値は、２つのチャネルの平均ジ
ッタを得ることによって決定する。

【０２５２】デューティ・サイクルひずみ較正手順に関
するサブルーチンＲを参照すると、。ステップ（１）
は、直列パターン発生機構１２０の出力が出力ポート１
４４に送られるようにマイクロ波スイッチ１４０をセッ
トし、光スイッチ２００への入力が入力ポート２０４を
介して行われるように光スイッチ２００をセットするよ
う指示する、ＰＣ７０からスイッチ制御装置１５０への
コマンドを示す。

【０２５３】ステップ（２）は、当該の伝送速度、たと
えば２００Ｍｂ／ｓで等間隔な方形波を生成するよう指
示する、ＰＣ７０から直列パターン発生機構１２０への
コマンドを示す。

【０２５４】ステップ（３）は、通常モードすなわち持
続モードを使用するよう指示する、ＰＣ７０からプログ
ラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマ
ンドを示す。このモードでは、古い波形の上に新しい波
形を重ねて、アイ・パターンを生成する、。

【０２５５】ステップ（４）は、受信機構チャネル範囲
（ボルト／ディビジョン単位、たとえば０．０２ボルト
／ディビジョン）およびオフセット（プログラマブル・
ディジタル・オシロスコープ２５０の中央グラティキュ
ールに対応する電圧、たとえば０．０ボルト）を指定す
る、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル・オシロ
スコープ２５０へのコマンドである。

【０２５６】ステップ（５）は、入力波形の前縁をトリ
ガ・オンするよう、すなわち波形の前縁に応答して波形
を表示するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンドであ
る。

【０２５７】ステップ（６）は、オシロスコープ・タイ
ム・ベース、すなわちナノ秒／ディビジョン（たとえば
２．０ナノ秒／ディビジョン）および遅延、すなわち波
形トレースを開始する前にプログラマブル・ディジタル
・オシロスコープ２５０が遅延すべき時間の長さ（たと
えば−４．４ナノ秒遅延）を定義する、ＰＣ７０からプ
ログラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０への
コマンドである。

【０２５８】ステップ（７）では、オシロスコープ・チ
ャネル２５６から、送信機構非反転入力（Ｉ）に対応す
るモジュール・ソケット２０上のピンまで１０Ｘプロー
ブを接続し、かつオシロスコープ・チャネル２５５か
ら、送信機構反転入力（Ｉバー）に対応するモジュール
・ソケット２０上のピンまで１０Ｘプローブを接続する
ようオペレータに要求するメッセージをＰＣ７０ディス
プレイ上に表示する。

【０２５９】ステップ（８）は、平均モードを使用する
よう指示する、ＰＣ７０からオシロスコープ２５０への
コマンドである。平均モードとは、波形を平滑化するた
めに、それぞれ現在の点とそれに対応する前の点との平
均である点から構成される波形をオシロスコープ２５０
が表示することである。

【０２６０】ステップ（９）は、送信機構入力信号Ｉの
上部電圧および下部電圧を決定するよう指示する、ＰＣ
７０からプログラマブル・ディジタル・オシロスコープ
２５０へのコマンドである。

【０２６１】ステップ（１０）では、波形の振幅を求
め、対応する指定、たとえば「０．０４ボルトより大」
と比較する。

【０２６２】ステップ（１１）は、平均モードを使用す
るよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２６３】ステップ（１２）は、入力波形の前縁をト
リガ・オンするよう指示する、ＰＣ７０からプログラマ
ブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマンド
である。

【０２６４】ステップ（１３）は、送信機構入力信号Ｉ
バーの上部電圧および下部電圧を決定するよう指示す
る、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル・オシロ
スコープ２５０へのコマンドである。

【０２６５】ステップ（１４）では、波形の振幅を求
め、対応する指定、たとえば「０．０４ボルトより大」
と比較する。

【０２６６】ステップ（１５）は、２つのチャネルＩか
らＩバーを減算するよう指示する、ＰＣ７０からプログ
ラマブル・ディジタル・オシロスコープ２５０へのコマ
ンドである。

【０２６７】ステップ（１６）は、受信機構チャネル範
囲（ボルト／ディビジョン単位、たとえば０．０５ボル
ト／ディビジョン）およびオフセット（プログラマブル
・ディジタル・オシロスコープ２５０の中央グラティキ
ュールに対応する電圧、たとえば０．０ボルト）を指定
する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル・オシ
ロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２６８】ステップ（１７）は、平均モードを使用す
るよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブル・ディジ
タル・オシロスコープ２５０へのコマンドである。

【０２６９】ステップ（１８）は、波形の正および負の
幅を測定するよう指示する、ＰＣ７０からプログラマブ
ル・ディジタル・オシロスコープ２５０への一連のコマ
ンドを含む。ステップ（１８ａ）は、波形の第１の立上
りと第１の立下りの間の時間を測定するよう指示する、
ＰＣ７０からプログラマブル・ディジタル・オシロスコ
ープ２５０へのコマンドである。この測定の結果が正の
値である場合（ステップ１８ｂ）、第１の立下りと第２
の立上りの間の時間を測定して（ステップ１８ｃ）、負
の幅を求める。ステップ（１８ａ）の結果が負の値であ
る場合（ステップ１８ｄ）は、第１の立上りと第２の立
下りの間の時間を測定して（ステップ１８ｅ）、正の幅
を求める。

【０２７０】ステップ（１９）では、次式からデューテ
ィ・サイクルひずみを算出する。

【数９】デューティ・サイクルひずみ＝（（正の幅）−
（負の幅））／２．０

【０２７１】デューティ・サイクルひずみの値を対応す
る指定と比較して、値をセーブすべきかどうかを判定
し、結果を表示する。

【０２７２】以下、実施例を整理して記載する。 （１）電子コンピュータと、前記コンピュータと通信す
ることができ、電気パターンを発生する、パターン発生
手段と、前記コンピュータおよび前記パターン発生手段
と通信することができ、前記パターン発生手段からの電
気パターンに応じて光パターンを発生する、電子光学式
手段とを備えるシステムである。 （２）さらに、前記コンピュータおよび前記パターン発
生手段と通信することができ、前記パターン発生手段で
生成された電気パターンを他の電気パターンと比較す
る、比較手段を備えることを特徴とする、（１）に記載
のシステムである。 （３）電子光学式受信機構に関連する受信機構感度を自
動的に測定するステップを含む、前記受信機構を含む電
子光学式モジュールを試験する方法である。 （４）電子光学式受信機構に関連する受信機構パルス幅
ひずみを自動的に測定するステップを含む、前記受信機
構を含む電子光学式モジュールを試験する方法である。 （５）電子光学式受信機構および電子光学式モジュール
に関連する受信機構信号検出しきい値を自動的に測定す
るステップを含む、前記受信機構を含む電子光学式モジ
ュールを試験する方法である。 （６）電子光学式受信機構に関連する受信機構信号検出
のアサート時間およびディアサート時間を自動的に測定
するステップを含む、前記受信機構を含む電子光学式モ
ジュールを試験する方法である。 （７）電子光学式送信機構に関連する送信機構平均出力
を自動的に測定するステップを含む、前記送信機構を含
む電子光学式モジュールを試験する方法である。 （８）電子光学式送信機構に関連する送信機構の立上り
時間および立下り時間を自動的に測定するステップを含
む、前記送信機構を含む電子光学式モジュールを試験す
る方法である。 （９）電子光学式送信機構に関連する送信機構消光比を
自動的に測定するステップを含む、前記送信機構を含む
電子光学式モジュールを試験する方法である。 （１０）電子光学式送信機構に関連する送信機構デュー
ティ・サイクルひずみを自動的に測定するステップを含
む、前記送信機構を含む電子光学式モジュールを試験す
る方法である。 （１１）電子光学式送信機構に関連する送信機構データ
依存ジッタを自動的に測定するステップを含む、前記送
信機構を含む電子光学式モジュールを試験する方法であ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】電子光学式モジュールの受信機構に関連するア
イ・パターンを示すオシロスコープ・スクリーンの写真
である。

【図２】（左側の垂直スケール上の）ｌｏｇＱと（右側
の垂直スケール上の）ＢＥＲをＰ（ｄＢ単位）に対して
プロットしたグラフである。このプロットの勾配は理論
に基づいている。

【図３】本発明の自動コンピュータ制御システムの好ま
しい実施例の概略図である。

【図４】受信機構信号検出アサート時間およびディアサ
ート時間を定義する働きをするある信号波形の概略図で
ある。

【図５】本発明に関連する、送信機構のデータ依存ジッ
タを測定する方法を示す、電子光学式モジュールの送信
機構に関連するアイ・パターンの一端の概略図である。

【符号の説明】

１０ 自動コンピュータ制御システム ２０ 電子光学式モジュール ３０ 送信機構 ４０ 受信機構 ５０ 信号入力差分出力エミッタ結合論理駆動機構 ６０ プログラマブル電源 ７０ パーソナル・コンピュータ（ＰＣ） ８０ 汎用インタフェース・バス ９０ データ入出力バス １１０ マルチバイブレータ １２０ 直列パターン発生機構 １３０ 内部クロック １４０ マイクロ波スイッチ １５０ スイッチ制御装置 １６０ 発光電子光学式トランスジューサ １７０ 光減衰器 １８０ 光スプリッタ ２００ 光スイッチ ２１０ 光出力メータ ２２０ 直列パターン比較機構 サブルーチンＡ 受信機構感度 １）ＤＵＴ電圧を測定用に設定する。 ２）スイッチを受信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を方形波用にセットする。 ４）オシロスコープを受信機構チャネルにセットする。 ５）受信機構チャネル範囲およびオフセットを設定す
る。 ６）波形をトリガ・オンする。 ７）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ８）平均モード−２平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 ９）上部および下部受信機構波形電圧を得る。 １０）スイッチをCLOCK1同期化による受信機構測定用に
セットする。 １１）ＢＥＲ送信機構を擬ランダム・パターン用にセッ
トする。 １２）ＢＥＲ受信機構を擬ランダム・パターン用にセッ
トする。 １３）通常モードが得られるように、オシロスコープを
セットする。 １４）ＢＥＲクロックをトリガ・オンする。 １５）受信機構しきい値を０．０ボルトに設定する。 １６）出力メータ単位をｄＢに設定する。 １７）出力メータ基準値を受信機構測定用に設定する。 １８）出力メータ・トリガをトリガ・モード用にセット
する。 １９）ウィンドウ幅および出力設定を測定する−中心は
RxWindowCen １９ａ）測定期間を設定する。 １９ｂ）遅延生成機構をセットする。 １９ｃ）受信機構推定レーザ出力レベルを設定する。 １９ｄ）受信機構しきい値が見つかるまで出力を減分し
続ける。 １９ｅ）ウィンドウのサイズを得る。 １９ｅ−１）測定期間を設定する。 １９ｅ−２）遅延生成機構をウィンドウの推定上縁に設
定する。 １９ｅ−３）エラーが発生するまで遅延を増分し続け
る。 １９ｅ−４）遅延生成機構をウィンドウの推定下縁に設
定する。 １９ｅ−５）エラーが発生するまで遅延を減分し続け
る。 １９ｅ−６）遅延時間をセーブする。 １９ｆ）ウィンドウのサイズおよびウィンドウの中心を
算出してセーブする。 ２０）遅延をウィンドウの中心から−０．７ナノ秒に設
定する。 ２１）ＢＥＲの出力レベルを１×１０^-7ないし１×１０
^-8の範囲内で調整する。 ２１ａ）測定期間を１秒に設定する。 ２１ｂ）荒調整を施す。 ２１ｃ）ビット・エラー率を検査する。 ２１ｄ）第２のビット・エラー率を得る。 ２１ｅ）ビット・エラー率を検査する。 ２１ｆ）所望のビット・エラー率の出力レベルを推定す
る。 ２１ｇ）微調整を施す。 ２２）使用する３つの出力レベルを決定する。 ２３）±０．７ナノ秒試験の出力レベルをセーブする。 ２４）測定期間を２秒に設定する。 ２５）３つの出力レベルのすべてについてビット・エラ
ー率を測定する。 ２６）最適値を算出し、ＢＥＲ１×１０^-15に外挿す
る。 ２７）４：１消光比を使用しないことに対する補正係数
を加える。 ２８）補正および勾配の値を得る。 ２９）感度が合格か不合格か検査する。 ３０）遅延をウィンドウの中心から＋０．７ナノ秒に設
定する。 ３１）ＢＥＲの出力レベルを１×１０^-7ないし１×１０
^-8の範囲内で調整する。 ３１ａ）測定期間を１秒に設定する。 ３１ｂ）荒調整を施す。 ３１ｃ）ビット・エラー率を検査する。 ３１ｄ）第２のビット・エラー率を得る。 ３１ｅ）ビット・エラー率を検査する。 ３１ｆ）所望のビット・エラー率の出力レベルを推定す
る。 ３１ｇ）微調整を施す。 ３２）使用する３つの出力レベルを決定する。 ３３）測定期間を２秒に設定する。 ３４）３つの出力レベルのすべてについてビット・エラ
ー率を測定する。 ３５）最適値を算出し、ＢＥＲ１×１０^-15に外挿す
る。 ３６）４：１消光比を使用しないことに対する補正係数
を加える。 ３７）補正および勾配の値を得る。 ３８）感度が合格か不合格か検査する。 サブルーチンＢ 受信機構パルス幅ひずみ １）ＤＵＴ電圧をＰＷＤ測定用に設定する。 ２）スイッチを受信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を方形波パターンに切り替える。 ４）オシロスコープを受信機構チャネルにセットする。 ５）受信機構チャネル範囲およびオフセットを設定する
（直流結合） ６）波形をトリガ・オンする。 ７）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ８）出力メータ単位をｄＢに設定する。 ９）出力メータ基準値を受信機構測定用に設定する。 １０）出力メータ・トリガをトリガ・モード用にセット
する。 １１）受信機構出力レベルを設定する。 １２）平均モード−１６平均が得られるように、オシロ
スコープをセットする。 １３）波形の上端および下端を測定する。 １４）振幅が十分であるかどうか検査する。 １５）波形の正および負の幅をナノ秒単位で得る。 １５ａ）第１のパルスを得る。 １５ｂ）正の幅か否かを検査する。 １５ｃ）負の幅を得る。 １５ｄ）負の幅か否かを検査する。 １５ｅ）正の幅を得る。 １６）パルス幅ひずみの割合（パーセント）を算出す
る。 サブルーチンＣ 受信機構信号検出しきい値 １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチを受信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を擬ランダム・パターン用にセット
する。 ４）出力メータ単位をｄＢに設定する。 ５）出力メータ基準値を受信機構測定用に設定する。 ６）出力メータ・トリガをトリガ・モード用にセットす
る。 ７）受信機構信号検出しきい値を見つける。 ７ａ）信号がまったく検出されないことをSignal Detec
t（信号検出）が示すまで出力を減分し続ける。 ８）受信機構信号検出しきい値をセーブする。 ９）４：１消光比を使用しないことに対する補正係数を
加える。 １０）受信機構信号検出しきい値出力が合格か不合格か
検査する。 サブルーチンＤ 受信機構信号検出アサート／ディアサート時間 １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチをゲート同期による受信機構測定用にセッ
トする。 ３）ＢＥＲＴゲート入力をオンにする。 ４）ゲート入力チャネル範囲、オフセット、および結合
を設定する。 ５）信号検出チャネル範囲、オフセット、および結合を
設定する。 ６）オシロスコープ・トリガをゲート・チャネル用にセ
ットする。 ７）オシロスコープのターム・ベースおよび遅延を設定
する。 ８）出力メータ単位をｄＢに設定する。 ９）受信機構の光出力メータ基準値を設定する。 １０）出力メータ・トリガをトリガ・モード用にセット
する。 １１）出力レベルを設定する。 １２）２チャネルによる平均モード−３２平均が得られ
るように、オシロスコープをセットする。 １３）上部および下部ゲート入力波形電圧を得る。 １４）上部および下部信号検出波形電圧を得る。 １５）第１の正の縁部の時間を得る。 １６）マイクロ秒に変換し、セーブする。 １７）受信機構信号検出アサート時間が合格か不合格か
検査する。 １８）第１の負の縁部の時間を得る。 １９）マイクロ秒に変換し、セーブする。 ２０）受信機構信号検出ディアサート時間が合格か不合
格か検査する。 サブルーチンＥ 送信機構平均出力 １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチをＣＬＯＣＫ１同期による送信機構測定用
にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を擬ランダム・パターン用にセット
する。 ４）出力メータ単位をｄＢに設定する。 ５）出力メータ参照を送信機構測定用にセットする。 ６）出力メータ・トリガを連続用にセットする。 ７）平均出力を測定する。 ８）送信機構が動かないか検査する。 ９）平均出力が合格か不合格か検査する。 サブルーチンＦ 送信機構立上り／立下り時間 １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ３）直列試験パターン発生機構を方形波に切り替える。 ４）送信機構チャネル範囲、オフセット、および結合を
設定する。 ５）波形をトリガ・オンする。 ６）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ７）平均モード−４平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 ８）波形のピーク振幅を測定する。 ９）振幅が十分であるか否かを検査する。 １０）波形の頂部線および基線を測定する。 １１）２０％ないし３０％の値の範囲内の立上り時間を
測定する。 １２）立上り時間が合格か不合格か検査する。 １３）立上り時間電圧値を使用して立下り時間を測定す
る。 １４）立下り時間が合格か不合格か検査する。 サブルーチンＧ 送信機構消光比 １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を方形波パターン用にセットする。 ４）送信機構チャネル範囲、オフセット、および結合を
設定する。 ５）波形をトリガ・オンする。 ６）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ７）平均モード−４平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 ８）波形のピーク振幅を測定する。 ９）振幅が十分であるか否かを検査する。 １０）波形の基線および頂部線を測定する。 １１）消光比を算出する。 １２）消光比が合格か不合格か検査する。 サブルーチンＨ 送信機構デューティ・サイクルひずみ １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を方形波パターン用にセットする。 ４）送信機構チャネル範囲、オフセット、および結合を
設定する。 ５）波形をトリガ・オンする。 ６）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ７）平均モード−８平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 ８）波形の上端および下端を測定する。 ９）振幅が十分であるかどうか検査する。 １０）結合された交流０．０Ｖの５０％点を使用する。 １１）波形の正および負の幅をナノ秒単位で得る。 １１ａ）第１のパルス幅を得る。 １１ｂ）正の幅の場合 １１ｂ−１）負の幅を得る。 １１ｃ）負の幅の場合 １１ｃ−１）正の幅を得る。 １２）デューティ・サイクルひずみを算出し、結果を検
査する。 サブルーチンＩ 送信機構データ依存ジッタ １）ＤＵＴ供給電圧を設定する。 ２）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を方形波パターン用にセットする。 ４）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ５）送信機構チャネル範囲、オフセット、および結合を
設定する。 ６）波形をトリガ・オンする。 ７）平均モード−２平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 ８）波形の上端および下端を測定する。 ９）振幅が十分であるかどうか検査する。 １０）直列試験パターンをＫ２８．５（データ依存ジッ
タ・パターン））に切り替える。 １１）オシロスコープを通常獲得モードにセットする。 １２）オシロスコープ・トリガ・オフセットおよび勾配
を設定する。 １３）オシロスコープ・ジッタ・ルーチンを使用してジ
ッタを得る。 １３ａ）色階調付きで表示されるように、オシロスコー
プをセットする。 １３ｂ）絶対範囲を設定する。 １３ｃ）左右のゾーンを設定する。 １３ｄ）波形の上端および下端を測定する。 １３ｅ）点の数が所望の値以上になるまでループする。 １３ｆ）ジッタ測定値を得る。 １３ｇ）ピコ秒単位に変換する。 １４）ジッタの結果を検査する。 サブルーチンＪ 光出力メータ較正 １）光出力メータを較正用に初期設定する。 ２）光ヘッド較正係数だけを挿入する。 ３）出力メータ波長を設定する。 ４）フロア基準出力メータ読取り値を得る。 ５）フロア基準出力の出力メータ読取り値を得る。 ６）出力デルタを算出する。 ７）新しいメータ較正係数を挿入する。 ８）出力メータ上の基準出力を再測定する。 ９）測定値が合格である場合、新しいメータ補正係数を
セーブする。 サブルーチンＫ 送信機構フィクスチャ較正 １）メータを較正係数で初期設定する。 ２）出力メータ・トリガを連続モードにセットする。 ３）メータ参照を０．０に設定する。 ４）出力メータ波長を設定する。 ５）送信機構参照ケーブルを介してフロア基準出力を測
定する。 ６）送信機構フィクスチャ／ファイバ損失を算出する。 ７）結果を表示する。 サブルーチンＬ 送信機構リンク較正 １）光スイッチを、送信機構リンク出力を読み取るよう
にセットする。 ２）メータを較正係数で初期設定する。 ３）出力メータ・トリガを連続用にセットする。 ４）メータ基準値を０．０に設定する。 ５）出力メータ波長を設定する。 ６）送信機構フィクスチャ／ファイバおよびリンクを介
してフロア基準出力を測定する。 ７）送信機構リンク・デルタおよび損失を算出する。 ８）新しい送信機構基準値を設定する。 ９）送信機構参照ケーブルおよび送信機構リンクを介
し、設定された基準値を使用して、フロア基準出力を測
定する。 １０）測定値が合格である場合、新しい送信機構リンク
損失値をセーブする。 サブルーチンＭ 受信機構リンク較正 １）スイッチを受信機構測定用にセットする。 ２）メータを較正係数で初期設定する。 ３）出力メータ・トリガを連続モードにセットする。 ４）メータ基準を０．０に設定する。 ５）出力メータ波長を設定する。 ６）減衰器を０．０に設定する。 ７）受信機構二重コネクタからレーザ出力を測定する。 ８）スプリッタの１０％レッグのレーザ出力を測定す
る。 ９）差を算出する。 １０）出力メータ基準値を、９）で得た差に設定する。 １１）スプリッタを介し、設定された基準値を使用し
て、ＤＵＴ受信機構へのレーザ出力を測定する。 １２）測定値が合格である場合、新しい受信機構リンク
損失値をセーブする。 サブルーチンＮ 周波数生成機構較正 １）最小および最大限界を求める。 ２）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ３）初期設定の通常モードが得られるように、オシロス
コープをセットする。 ４）チャネル範囲、オフセット、および結合を設定す
る。 ５）チャネルをトリガ・オンする。 ６）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ７）平均モード−４平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 ８）オペレータに、周波数生成機構をオシロスコープに
接続するよう求めるプロンプトを出す。 ９）較正情報に関してループする。 ９ａ）周波数を検査する。 ９ｂ）振幅を検査する。 ９ｃ）オフセットを検査する。 ９ｄ）キーボード終了文字を検査する。 サブルーチンＯ オシロスコープ較正 １）チャネルＬ１ Ｏ／Ｅ変換器を較正する。 ２）チャネルＣ１を較正する。 ３）チャネルＣ２を較正する。 ４）チャネルＲ１を較正する。 ５）チャネルＲ２を較正する。 ６）較正結果を表示する。 サブルーチンＰ レーザ源消光比較正 １）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ２）レーザ源を駆動するように、Anristuをセットす
る。 ３）ＢＥＲ送信機構を１００ＭＨｚ方形波用にセットす
る。 ４）標準モードが得られるように、オシロスコープをセ
ットする。 ５）送信機構チャネル範囲およびオフセットを設定す
る。 ６）波形をトリガ・オンする。 ７）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ８）出力メータ単位をｄＢに設定する。 ９）出力メータ基準値を受信機構測定用に設定する。 １０）出力メータ・トリガを連続モードにセットする。 １１）レーザをオフにする。 １２）オペレータに、ファイバ接続を確立するよう求め
るプロンプトを出す。 １３）レーザ源をオンにする。 １４）平均モード−３２平均が得られるように、オシロ
スコープをセットする。 １５）波形の振幅を測定する。 １６）振幅が十分であるかどうか検査する。 １７）消光比を算出する。 １８）消光比の結果を表示する。 サブルーチンＱ データ依存ジッタ較正 １）チャネルＣ１を使用するDDJ Calの第１の部分 ２）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ３）ＢＥＲ送信機構を方形波パターンに切り替える。 ４）オシロスコープを、初期設定中に、通常獲得モード
にセットする。 ５）チャネル範囲、オフセット、および結合を設定す
る。 ６）ＢＥＲクロックをトリガ・オンする。 ７）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ８）オペレータに、プローブ接続を確立するよう求める
プロンプトを出す。 ９）平均モード−４平均が得られるように、オシロスコ
ープをセットする。 １０）波形の上端および下端を測定する。 １１）振幅が十分であるかどうか検査する。 １２）スイッチをＣＬＯＣＫ１同期による送信機構測定
用にセットする。 １３）直列試験パターンをＫ２８．５（データ依存ジッ
タ・パターン）に切り替える。 １４）オシロスコープを通常獲得モードにセットする。 １５）オシロスコープのトリガ・オフセットおよび勾配
をＣＬＯＣＫ１同期化用に設定する。 １６）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設
定する。 １７）オシロスコープのジッタ・ルーチンを使用してジ
ッタを得る。 １８）ジッタの結果を検査する。 １９）チャネルＣ２を使用して手順を繰り返す。 ２０）リターン・コードを検査し、結果を表示する。 サブルーチンＲ デューティ・サイクルひずみ較正 １）スイッチを送信機構測定用にセットする。 ２）ＢＥＲ送信機構を方形波パターンに切り替える。 ３）オシロスコープを、初期設定中に、通常獲得モード
にセットする。 ４）チャネル範囲、オフセット、および結合を設定す
る。 ５）波形をトリガ・オンする。 ６）オシロスコープのタイム・ベースおよび遅延を設定
する。 ７）オペレータに、プローブ接続を確立するよう求める
プロンプトを出す。 ８）振幅−４平均を試験するように、チャネルをセット
する。 ９）波形の上端および下端を測定する。 １０）振幅が十分であるかどうか検査する。 １１）振幅−４平均を試験するように、チャネルをセッ
トする。 １２）波形をトリガ・オンする。 １３）波形の上端および下端を測定する。 １４）振幅が十分であるかどうか検査する。 １５）オシロスコープ減算関数をセットする。 １６）チャネル範囲、オフセット、および結合を設定す
る。 １７）平均モード−１６平均が得られるように、オシロ
スコープをセットする。 １８）波形の正および負の幅をナノ秒単位で得る。 １８ａ）第１のパルスを得る。 １８ｂ）正の幅であるかどうか検査する。 １８ｃ）負の幅を得る。 １８ｄ）負の幅であるかどうか検査する。 １８ｅ）正の幅を得る。 １９）デューティ・サイクルひずみをピコ秒単位で算出
し、結果を検査する。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ドナルド・リン・パール アメリカ合衆国13760、ニューヨーク州エ ンドウェル、アイアンウッド・ドライブ 2949 (72)発明者 ディーヴィド・トッド・プリブラ アメリカ合衆国13833、ニューヨーク州ポ ート・クレーン、クイン・ヒル・ロード 21

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】電子コンピュータと、 前記コンピュータと通信することができ、電気パターン
   を発生する、パターン発生手段と、 前記コンピュータおよび前記パターン発生手段と通信す
   ることができ、前記パターン発生手段からの電気パター
   ンに応じて光パターンを発生する、電子光学式手段とを
   備えるシステム。
2. 【請求項２】さらに、前記コンピュータおよび前記パタ
   ーン発生手段と通信することができ、前記パターン発生
   手段で生成された電気パターンを他の電気パターンと比
   較する、比較手段を備えることを特徴とする、請求項１
   に記載のシステム。
3. 【請求項３】電子光学式受信機構に関連する受信機構感
   度を自動的に測定するステップを含む、前記受信機構を
   含む電子光学式モジュールを試験する方法。
4. 【請求項４】電子光学式受信機構に関連する受信機構パ
   ルス幅ひずみを自動的に測定するステップを含む、前記
   受信機構を含む電子光学式モジュールを試験する方法。
5. 【請求項５】電子光学式受信機構および電子光学式モジ
   ュールに関連する受信機構信号検出しきい値を自動的に
   測定するステップを含む、前記受信機構を含む電子光学
   式モジュールを試験する方法。
6. 【請求項６】電子光学式受信機構に関連する受信機構信
   号検出のアサート時間およびディアサート時間を自動的
   に測定するステップを含む、前記受信機構を含む電子光
   学式モジュールを試験する方法。
7. 【請求項７】電子光学式送信機構に関連する送信機構平
   均出力を自動的に測定するステップを含む、前記送信機
   構を含む電子光学式モジュールを試験する方法。
8. 【請求項８】電子光学式送信機構に関連する送信機構の
   立上り時間および立下り時間を自動的に測定するステッ
   プを含む、前記送信機構を含む電子光学式モジュールを
   試験する方法。
9. 【請求項９】電子光学式送信機構に関連する送信機構消
   光比を自動的に測定するステップを含む、前記送信機構
   を含む電子光学式モジュールを試験する方法。
10. 【請求項１０】電子光学式送信機構に関連する送信機構
    デューティ・サイクルひずみを自動的に測定するステッ
    プを含む、前記送信機構を含む電子光学式モジュールを
    試験する方法。
11. 【請求項１１】電子光学式送信機構に関連する送信機構
    データ依存ジッタを自動的に測定するステップを含む、
    前記送信機構を含む電子光学式モジュールを試験する方
    法。