CN104280209A - 一种光学次模块检测机及检测方法 - Google Patents

一种光学次模块检测机及检测方法 Download PDF

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CN104280209A CN201310289667.3A CN201310289667A CN104280209A CN 104280209 A CN104280209 A CN 104280209A CN 201310289667 A CN201310289667 A CN 201310289667A CN 104280209 A CN104280209 A CN 104280209A
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杨戬
李亚林
鄢炜臻
张伟
林卫国
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WUHAN YIKE SIDE TECHNOLOGY Co Ltd
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Abstract

本发明提供了一种光学次模块检测机及检测方法,该检测机能够实现对光学次模块(包括但不限于光发射次模块和光接收次模块)的全自动化上料和检测,并对优劣产品进行分别下料。包括光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构、自动送料机构、上料机构组件、下料机构组件、高精度工位转移机构(转盘机构、直线往复输送机构)、工作台、操纵面板、闭环自动检测控制系统、人机对话界面、防护罩及故障报警系统。该发明弥补了全自动检测光学次模块领域的空白,解决了依靠手工检测或者半自动检测使待检测件检测精度不高,检测效率低,检测成本高的问题。

Description

一种光学次模块检测机及检测方法
技术领域
本发明涉及智能工业机器人自动检测领域,尤其涉及一种光学次模块检测机及检测方法。
背景技术
在光电传输中,光纤发射器的光学次模块随功能组件的不同而可分为和光接收次模块,其中,光发射次模块用于提供功能组件到光纤,如半导体激光至光纤或发光二极管到光纤,使电讯号转换成光并经透镜聚焦在光纤内再传输。
  光学次模块的传统检测方式一般采用纯手动检测或者借助机器半自动检测,在几种方式下检测,潜在有很多影响检测结果的变因,如:光纤头品质有一定公差存在,易造成光学次模块成品检测品质的误差,从而导致成品品质无法确实掌握,使合格率无法提高,成本相对提高;再者,手工检测和半自动检测效率低,检测成本高,不利于大批量检测。因此有必要发明一种全自动光学次模块检测机,实现从上料到下料的全程自动化工作,同时能够自动鉴别优劣产品并进行分类下料,提高工作效率,实现大批量检测。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供一种光学次模块检测机以及检测方法,该检测机及检测方法能够实现对光学次模块的全自动化上料和检测,并对优劣产品进行分别下料。
为解决上述技术问题,本发明包括光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构、自动送料机构、上料机构组件、下料机构组件、工作台、操纵面板、闭环自动检测控制系统、人机对话界面、防护罩及故障报警系统。
上述结构的光学次模块检测机,由于采用闭环自动控制系统,对光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构、自动送料机构、上料机构组件、下料机构组件进行实时控制,从而能够实现从上料到下料整个过程的自动化。
本发明的光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构包括光纤头端面洁净度检测机构、光纤头污点擦拭清洗机构、多自由度光纤头夹持机械手、导正夹紧机构、电信号传输探针机构。
在本发明中,所述的自动送料机构可以采用多自由度送料机械手,所述的上料机构组件为上料物料盘,所述的下料机构组件为合格品物料盘、次品物料盘。
根据上述的一种检测机,上料机构物料盘、下料机构物料盘、检测物分离机构、导正夹紧机构和电信号传输机构均位于多自由度送料机械手的工作半径之内。
所述物料盘上的物料孔位的相对坐标与系统的预设相对坐标值一致。
为保证上料的安全,所述的多自由度送料机械手的夹持部位设置有工位检测反馈机构。
作为本发明的一种改进,所述的自动送料机构还可以采用高精度工位转移机构,所述的上料机构组件包括上料物料盘和多自由度抓取机械手,所述的下料机构组件包括合格品物料盘、次品物料盘、多自由度抓取机械手、检测物识别机构(二维码技术、一维条形码技术、视频图像识别技术、磁条技术、IC卡技术)和检测物分离机构。
所述的高精度工位转移机构包括工位转移平台、驱动马达(伺服马达、步进马达、直线马达、DD马达)、行走位置控制机构(伺服马达控制器、步进马达控制器、直线马达控制器、DD马达驱动器)、光学次模块定位机构。
根据上述的一种改进,所述的上料机构组件和下料机构组件还包括多自由度机械手和固定支架。物料盘位于对应的多自由度机械手的工作半径之内;下料机构物料盘分为合格品物料盘和次品物料盘。
所述工位转移平台上有均布有多工位;所述的光学次模块定位机构固定在所述工位上;所述光学次模块定位机构上设置有光学次模块定位卡槽。
为保证在高精度工位转移机构和上料机构组件的安全运行,在上述上料机构组件两侧靠近工位转移平台处设置工位检测反馈机构。或者所述的工位检测反馈机构还可以设置在所述的工位转移平台的工位卡槽内。
对于本发明的上述两种情况,所述物料盘上的物料孔位的相对坐标与系统的预设相对坐标值一致;所述的检测物分离机构位于下料机构组件物料盘一侧;所述检测物分离机构一侧有落料口,下方设置接料盒。
对于上述两种情况,所述多自由度光纤头夹持机构位于光纤头污点擦拭清洗机构和导正夹紧机构之间,且所述光纤头污点擦拭清洗机构和导正夹紧机构位于多自由度光纤头夹持机构的工作半径之内。所述导正夹紧机构上设置有导正夹指。
所述的电信号传输探针机构设置在多自由度光纤头夹持机械手一侧,上端设置有电信号传输探针,所述电信号传输探针位于所述导正夹指下方。
所述检测物识别机构设置在上料后和下料前之间的任意工位的一侧。
所述任意一个移动到电信号传输探针上方的工位卡槽中心与电信号传输探针中心以及上方导正夹指的夹持中心和光纤头中心同轴。
为保证夹持精度,在本发明中用于夹持光学次模块的机械手的夹持定位部位为光学次模块适配器端的外卡槽处。
本发明中所有与待测工件接触部位均采用防静电材料制成。
优选的,在本发明中,为提高设备的检测效率,多自由度光纤头夹持机械手可设置为两个,安装在左右转换装置的两端。
本发明的检测方法依托上述的光学次模块检测机来实现,针对上述权利要求中两种不同的改进,本发明的检测方法有两种,但是两种检测方法属于一个总的发明构思。
第一种检测方法如下:
1、将待检测的光学次模块插入到检测套管内电气连接,再将检测套管插入到上料机构组件的物料盘中;
2、启动检测机,控制系统控制上料机构的多自由度机械手,使机械手到达指定位置并抓取待测光学次模块;
3、机械手将待测件装入光学次模块定位机构的卡槽内,控制系统通过驱动马达和行走位置控制机构控制工位转移平台运动;当某一工位到达上料机构组件与光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构之间的工位检测反馈机构时,检测端口对该工位进行检测,判断该工位是否有待检测物,并将检测信息反馈给控制系统,控制系统根据检测信息控制光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构的工作状态;
4、在对光学次模块进行检测之前,光纤头污点清洗机构对光纤头进行污点清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构对清洗后的光纤头进行端面洁净度检测,若洁净度合格,多自由度光纤头夹持机械手到达检测位;若洁净度不合格,则继续清洗和检测光纤头端面;
5、对于多次检测不合格的光纤头,报警系统进行报警提示并更换光纤头;
6、待检测光学次模块到达检测位,导正夹指对待检测物导正并夹紧,多自由度光纤头夹持机械手推动光纤头下压,光纤头进入待检测光学次模块之后,导正夹指松开,光学次模块下方的电信号传输探针上升并与待检测光学次模块下端电气连接,光纤头继续下压到指定高度;
7、自动检测软件对待测光学次模块进行检测,并对检测数据进行记录;
8、检测完毕,光纤头上升,电信号传输探针下降,工位转移平台继续移动,清洗合格的光纤头对下一个待测光学次模块进行检测,光纤头污点清洗机构对检测完毕的光纤头进行清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构进行洁净度检测;
9、从自动上料完成到检测物下料之前,检测物识别机构对待检测光学次模块进行身份识别,并将识别信息传送到控制系统;
10、检测物到达下料机构组件对应的工位后,检测物分离机构对光学次模块和检测套管进行分离,检测套管由落料口进入接料盒;控制系统将检测数据与身份识别信息一一对应,判断该光学次模块是否合格,合格的光学次模块由机械手抓取送入合格品物料盒中,不合格的光学次模块送入次品物料盒中;
11、在工位转移平台移动的过程中,上料机构组件与下料机构组件之间的工位检测反馈机构对下一个即将上料的光学次模块卡槽进行工位检测,判断工位卡槽中是否有待测光学次模块,若有未下料的光学次模块,则控制系统通过报警器进行报警提示,工位转移平台停止移动;若该工位为空位,则工位转移平台继续移动,上料机构组件对下一个待测光学次模块进行上料。
第二种检测方法如下:
1、将待检测的光学次模块插入到检测套管内电气连接,再将检测套管插入到上料机构组件的物料盘中;
2、光纤头污点清洗机构对光纤头进行污点清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构对清洗后的光纤头进行端面洁净度检测,若洁净度合格,多自由度光纤头夹持机械手到达检测位;若洁净度不合格,则继续清洗和检测光纤头端面;
3、对于多次检测不合格的光纤头,报警系统进行报警提示并更换光纤头;
4、多自由度送料机械手抓取待检测光学次模块,并将待检测物送入检测位,导正夹指对待检测物导正并夹紧,多自由度光纤头夹持机械手推动光纤头下压,光纤头进入待检测光学次模块之后,导正夹指松开,光学次模块下方的电信号传输探针上升并与待检测光学次模块下端电气连接,光纤头继续下压到指定高度;
5、自动检测软件对待测光学次模块进行检测,并对检测数据进行记录;
6、检测完毕,光纤头上升,电信号传输探针下降,多自由度送料机械手夹持检测完毕的光纤头向下料机构组件移动;清洗合格的光纤头对下一个待测光学次模块进行检测,光纤头污点清洗机构对检测完毕的光纤头进行清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构进行洁净度检测;
7、从上料完成到检测物下料之前,多自由度送料机械手将检测物送到检测物识别机构处对待检测光学次模块进行身份识别,并将识别信息传送到控制系统;
8、多自由度送料机械手将身份识别完毕的光学次模块送入下料机构组件的检测物分离机构处,并对检测物和检测套管进行分离;分离后,检测套管通过落料口到达下方的接料盒,控制系统将检测物的识别信息和检测数据一一对应,判断该光学次模块是否合格;合格的光学次模块由送料机械手送入合格品物料盒,不合格的光学次模块送入次品品物料盒中;
9、工位检测反馈机构对机械手夹持部位进行检测,判断是否有待检测物,若有为下料的待检测物,则由下料机构重新下料;若无待检测物,则由机械手到达上料机构组件处对下一个光学次模块进行上料。
本发明的有益效果在于:
1、在整个检测流程中,从上料到下料实现全程自动化,节约人力成本;
2、本发明的检测清洗机构中,可优选采用两个光纤头,一个光纤头进行检测时,另一个光纤头进行端面清洗,缩短了等待检测的时间,提高检测效率;
3、使用检测物识别机构(二维码技术、一维条形码技术、视频图像识别技术)对产品身份信息进行识别,再通过下料机构对优劣产品进行分开下料,提高下料效率,降低检测成本。
4、利用工位检测反馈机构对即将进入检测位和即将上料的工位进行检测,保证了上料和检测的安全;
总之,该发明弥补了全自动检测光学次模块领域的空白,解决了依靠手工检测或者半自动检测使待检测件检测精度不高,检测效率低,检测成本高的问题。
附图说明
图1为本发明的一种实施例的主体结构俯视图。
图2为本发明的一种实施例的主体结构正视图。
图3为本发明的一种实施例的主体结构轴测图。
图4为本发明的一种实施例的主体结构轴测图。
图5为本发明中的光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构的一种实施例的立体结构示意图。
图6为本发明中的上料机构组件的一种实施例的立体结构示意图。
图7为本发明中的下料机构组件的一种实施例的立体结构示意图。
图8为本发明中的高精度工位检测转移机构的一种实施例的立体结构示意图。
图9为本发明中清洗检测机构的一种实施例的局部放大示意图。
图10为本发明中检测位的一种实施例的局部放大示意图。
图11为本发明待检测件发射光学次模块(TOSA)的结构示意图。
附图标记所表示的组件名称如下:1—工作台,2—光纤头清洗机构,3a、3b—光纤头夹持机构,4—光纤头端面清洁度检测镜头,5—回转架,6—导正夹指,7—二维码扫描仪,8—光学次模块定位机构,9—高精度转盘,10—下料机构组件上X方向线性驱动机构,11—下料机构组件上的Y方向线性驱动机构,12—检测物分离机构,13—次品物料盘,14—接料盒,15—下料机构组件抓取机械手,16—合格品物料盘,17、22—工位检测传感器,18—上料机构组件上Y方向线性驱动机构,19—上料机构组件物料盘,20—上料机构组件抓取机械手,21—上料机构组件上X方向线性驱动机构,23—下料机构组件固定支架,24—上料机构组件固定支架,25—电信号传输探针,26—待测光发射次模块,26a—适配器,26b—适配器外侧卡槽,26c—C型陶瓷套筒,26d—光纤,26e—插针,26f—管体。
具体实施方式
为更清楚的理解本发明的目的、特征和优点,以下以光发射次模块为例并结合附图详细描述本发明的实施例,但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
在本发明的一种实施例中,前述的各机构组件可采用以下结构来实现:
如图1、5、10所示,光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构采用光纤头清洗机构2、光纤头夹持机构3a(3b)、光纤头端面清洁度检测镜头4、回转架5、导正夹指6、电信号传输探针25具体实现。
如图1、2、3、4、6所示,上料机构组件采用X方向线性驱动机构21、Y方向线性驱动机构18、抓取机械手20、物料盘19、固定支架24,工位检测传感器17(22)具体实现。
如图1、2、3、4、7所示,下料机构组件采用X方向线性驱动机构10、Y方向线性驱动机构11、抓取机械手15、次品物料盘13、合格品物料盘16、检测物分离机构12、接料盒14、固定支架23具体实现。
如图1、2、3、4、8所示,自动送料机构采用高精度转盘9、光发射次模块定位机构8以及位于机构内部的步进电机具体实现。
如图1、3、4所示,检测物识别机构采用二维码扫描技术,使用二维码扫描仪7具体实现。
    在本实施例中,回转架5两端面分别通过滑轨与光纤头夹持机构3a(3b)连接,光纤头夹持机构3a(3b)上夹持有光纤头。
    在本实施例中,导正夹指6位于光纤头夹持机构3a(3b)和高精度转盘9之间,电信号传输探针25位于导正夹指6正下方。为保证在检测时光纤头能够与待检测光发射次模块27准确耦合,导正夹指6的夹持中心、光发射次模块定位机构8的夹持中心、光纤头夹持机构3a(3b)的光纤头以及电信号传输探针的中心重合。
在本实施例中,X方向线性驱动机构10(21)固定于固定架23(24)上,Y方向线性驱动机构11(18)安装于X方向线性驱动机构10(21)上,可在X方向线性驱动机构10(21)上滑动,两者相互垂直;抓取机械手15(20)安装于Y方向线性驱动机构11(18)上,可在Y方向线性驱动机构11(18)上滑动。物料盘13(16,19)位于抓取机械手15(20)下方,其上有多个规则排列的孔位。下料机构组件的物料盒分为合格品物料盒16和不良品物料盒13。
    在本实施例中,检测物分离机构12位于下料机构组件物料盘13和转盘主体9之间,靠近转盘主体9一侧有落料口,下方有接料盒14。二维码扫描仪7安装于工作台1的扫描仪固定架上,扫描仪7固定架固定于下料机构组件固定支架23靠近高精度转盘9的一侧。
    如图1所示,高精度转盘机构位于检测清洗机构、上料机构组件、下料机构组件三者之间;转盘主体9外侧有均匀分布的多个定位机构卡槽;高精度转盘机构的转动方向为由上料机构组件向检测清洗机构转动。
  光发射次模块定位机构8安装于转盘主体9外侧的定位机构卡槽上;所述的定位机构8外侧有光发射次模块卡槽。
  光发射次模块检测机上所有与待测工件接触部位均采用防静电材料制成。
上料机构组件和下料机构组件之间靠近高精度转盘机构处安装有工位检测传感器17(22),工位检测传感器17(22)的探测头与光发射次模块定位机构上的光发射次模块卡槽正相对。
为保证夹持精度,在本发明中用于夹持光发射次模块26的机械手的夹持定位部位为光发射次模块适配器26a端的外卡槽26b处。
以下结合附图详细描述本发明在检测光发射次模块时的工作流程。
 启动机器之前,人工将待检测的光发射次模块插入到检测套管内,再将检测套管插入到上料机构的物料盘19中;
    启动检测机,控制系统控制上料机构的线性驱动机构,使抓取机械手20到达指定位置并抓取待测光发射次模块27;
    抓取机械手20将待测件装入光发射次模块定位机构8的卡槽内,控制系统控制高精度转盘9转动一个工位的角度;同时光纤头清洗机构3对光纤头进行清洗,然后清洁度检测镜头4对光纤头进行检测,若清洁度合格,则回转架5带动光纤头夹持机构3a旋转180度,使光纤头到达导正夹指6上方,反之,则继续清洗;
    待测光发射次模块27到达光纤头夹持机构3b下方,导正夹指6对待测件进行导正并夹紧,光纤头下压至进入待测光发射次模块26后,导正夹指6松开,光发射次模块26下方的电信号传输探针25上升并与光发射次模块下端接触通电,光纤头继续下压到指定高度;
    自动检测软件对待测光发射次模块进行检测,并对检测数据进行记录;
    检测完毕,光纤头夹持机构3b带动光纤头上升,电信号传输探针25下降,高精度转盘9转动一个工位,同时回转架5转动180度,清洗达标的光纤头对下一个待测光发射次模块进行检测,光纤头清洗机构2对检测完毕的光纤头4a进行清洗并进行清洁度检测;
    二维码扫描仪7对检测完毕的光发射次模块进行扫描,记录该光发射次模块的身份信息;
    下料机构组件中的检测物分离机构12对扫描完毕的光发射次模块和检测套管进行分离,检测套管由落料口进入接料盒14;根据检测机构的检测数据和二维码扫描数据对当前的光发射次模块进行判断,检测合格的光发射次模块由抓取机械手15抓取并送到合格品物料盒16中,检测不合格的光发射次模块则由抓取机械手15放入次品物料盒13中;
在高精度转盘机构进行工位转动的过程中,工位检测传感器17(22)对下一个即将上料的光发射次模块卡槽进行空位检测,判断卡槽中是否有待测光发射次模块,若有未下料的光发射次模块,则控制系统通过报警器进行报警提示,高精度转盘9停止转动;若该工位为空位,则转盘继续转动一个工位,上料机构组件对下一个待测光发射次模块进行上料。
    在使用本发明进行产品检测的过程中,只要在检测机启动之前将待检测的光发射次模块插入到上料机构的物料盘中,再启动机器,之后即可实现从上料到下料的全程自动化;
    本发明中的检测清洗机构设置两个检测光纤头,在一个光纤头进行检测时,对另一个光纤头进行清洗,提高检测效率;
    本发明采用二维码扫描技术对优劣产品进行识别,并通过下料机构对优劣产品进行分开下料,提高下料效率,降低检测成本。
    在本发明中,使用工位检测传感器对即将上料的空位进行检测,保证上料的安全;
    总之,该发明弥补了全自动检测光发射次模块领域的空白,解决了依靠手工检测或者半自动检测使待检测件检测精度不高,检测效率低,检测成本高的问题。

Claims (20)

1.一种光学次模块检测机,包括光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构、自动送料机构、上料机构组件、下料机构组件、工作台、操纵面板、闭环自动检测控制系统、人机对话界面、防护罩及故障报警系统;
其特征在于:
所述的光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构包括光纤头端面洁净度检测机构、光纤头污点擦拭清洗机构、多自由度光纤头夹持机械手、导正夹紧机构、电信号传输探针机构;
所述的上料机构组件和下料机构组件均包括物料盘;
所述的下料机构组件还包括检测物分离机构和检测物识别机构(二维码技术、一维条形码技术、视频图像识别技术、磁条技术、IC卡技术);
根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述的自动送料机构为多自由度送料机械手。
2.根据权利要求2所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述上料机构组件和下料机构组件的物料盘、检测物分离机构及导正夹紧机构和电信号传输探针机构均位于多自由度送料机械手的工作半径之内。
3.根据权利要求2所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述多自由度送料机械手的夹持部位设置有工位检测反馈机构。
4.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述的自动送料机构为高精度工位转移机构;
根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述的高精度工位转移机构包括工位转移平台、驱动马达(伺服马达、步进马达、直线马达、DD马达)、行走位置控制机构(伺服马达控制器、步进马达控制器、直线马达控制器、DD马达驱动器)、光学次模块定位机构。
5.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述的上料机构组件和下料机构组件还包括多自由度机械手和固定支架。
6.根据权利要求7所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述物料盘位于对应的多自由度机械手的工作半径之内;所述下料机构物料盘分为合格品物料盘和次品物料盘;所述物料盘上的物料孔位的相对坐标与系统的预设相对坐标值一致。
7.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述检测物料分离机构位于下料机构组件物料盘一侧;所述检测物分离机构一侧有落料口,下方设置接料盒。
8.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述多自由度光纤头夹持机械手至少为一个,位于光纤头污点擦拭清洗机构和导正夹紧机构之间;所述光纤头端面洁净度检测机构与光纤头污点擦拭清洗机构位于自由度光纤头夹持机械手同侧。
9.根据权利要求10所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述光纤头污点擦拭清洗机构和导正夹紧机构位于多自由度光纤头夹持机构的工作半径之内。
10.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述导正夹紧机构上设置有导正夹指。
11.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述的电信号传输探针机构设置在多自由度光纤头夹持机械手一侧,上端设置有电信号传输探针,所述电信号传输探针位于所述导正夹指下方。
12.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述检测物识别机构设置在上料后和下料前之间的任意工位的一侧。
13.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述工位检测反馈机构设置在上料机构组件两侧靠近工位转移平台处。
14.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述工位检测反馈机构设置在工位转移平台的工位卡槽内。
15.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述工位转移平台上有均布有多工位;所述的光学次模块定位机构固定在所述工位上;所述光学次模块定位机构上设置有光学次模块定位卡槽。
16.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述的任意一个移动到电信号传输探针上方的工位卡槽,其中心与电信号传输探针中心以及上方导正夹指的夹持中心和光纤头中心同轴。
17.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述用于夹持光学次模块的机械手与光学次模块的夹持定位部位为光学次模块适配器端的外卡槽处。
18.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机,其特征在于:所述光学次模块检测机上所有与待测工件接触部位均采用防静电材料制成。
19.一种光学次模块的检测方法,其特征在于:所述的检测方法依托除上述权利要求2、3、4之外的权利要求所述的光学次模块检测机来完成,其检测方法如下:
将待检测的光学次模块与检测套管电气连接,再将检测套管插入到上料机构组件的物料盘中;
启动检测机,控制系统控制上料机构组件的多自由度机械手,使机械手到达指定位置并抓取待测光学次模块;
机械手将待测件装入光学次模块定位机构的卡槽内,控制系统通过驱动马达和行走位置控制机构控制工位转移平台运动;当某一工位到达上料机构组件与光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构之间的工位检测反馈机构时,检测端口对该工位进行检测,判断该工位是否有待检测物,并将检测信息反馈给控制系统,控制系统根据检测信息控制光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构的工作状态;
在对光学次模块进行检测之前,光纤头污点清洗机构对光纤头进行污点清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构对清洗后的光纤头进行端面洁净度检测,若洁净度合格,多自由度光纤头夹持机械手到达检测位;若洁净度不合格,则继续清洗和检测光纤头端面;
对于多次检测不合格的光纤头,报警系统进行报警提示并更换光纤头;
待检测光学次模块到达检测位,导正夹指对待检测物导正并夹紧,多自由度光纤头夹持机械手推动光纤头下压,光纤头进入待检测光学次模块之后,导正夹指松开,光学次模块下方的电信号传输探针上升并与待检测光学次模块下端电气连接,光纤头继续下压到指定高度;
自动检测软件对待测光学次模块进行检测,并对检测数据进行记录;
检测完毕,光纤头上升,电信号传输探针下降,工位转移平台继续移动,清洗合格的光纤头对下一个待测光学次模块进行检测,光纤头污点清洗机构对检测完毕的光纤头进行清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构进行洁净度检测;
从自动上料完成到检测物下料之前,检测物识别机构对待检测光学次模块进行身份识别,并将识别信息传送到控制系统;
检测物到达下料机构组件对应的工位后,检测物分离机构对光学次模块和检测套管进行分离,检测套管由落料口进入接料盒;控制系统将检测数据与身份识别信息一一对应,判断该光学次模块是否合格,合格的光学次模块由机械手抓取送入合格品物料盒中,不合格的光学次模块送入次品物料盒中;
在工位转移平台移动的过程中,上料机构组件与下料机构组件之间的工位检测反馈机构对下一个即将上料的光学次模块卡槽进行工位检测,判断工位卡槽中是否有待测光学次模块,若有未下料的光学次模块,则控制系统通过报警器进行报警提示,工位转移平台回转并重新下料;若该工位为空位,则工位转移平台继续移动,上料机构组件对下一个待测光学次模块进行上料。
20.一种光学次模块检测方法,其特征在于:所述的检测方法依托除上述权利要求5、6、7、14、15、16、17之外的权利要求所述的光学次模块检测机来完成,其检测方法如下:
将待检测的光学次模块插入到检测套管内电气连接,再将检测套管插入到上料机构组件的物料盘中;
光纤头污点清洗机构对光纤头进行污点清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构对清洗后的光纤头进行端面洁净度检测,若洁净度合格,多自由度光纤头夹持机械手到达检测位;若洁净度不合格,则继续清洗和检测光纤头端面;
对于多次检测不合格的光纤头,报警系统进行报警提示并更换光纤头;
多自由度送料机械手抓取待检测光学次模块,并将待检测物送入检测位,导正夹指对待检测物导正并夹紧,多自由度光纤头夹持机械手推动光纤头下压,光纤头进入待检测光学次模块之后,导正夹指松开,光学次模块下方的电信号传输探针上升并与待检测光学次模块下端电气连接,光纤头继续下压到指定高度;
自动检测软件对待测光学次模块进行检测,并对检测数据进行记录;
检测完毕,光纤头上升,电信号传输探针下降,多自由度送料机械手夹持检测完毕的光纤头向下料机构组件移动;清洗合格的光纤头对下一个待测光学次模块进行检测,光纤头污点清洗机构对检测完毕的光纤头进行清洗,并由光纤头端面洁净度检测机构进行洁净度检测;
从上料完成到检测物下料之前,多自由度送料机械手将检测物送到检测物识别机构处对待检测光学次模块进行身份识别,并将识别信息传送到控制系统;
多自由度送料机械手将身份识别完毕的光学次模块送入下料机构组件的检测物分离机构处,并对检测物和检测套管进行分离;分离后,检测套管通过落料口到达下方的接料盒,控制系统将检测物的识别信息和检测数据一一对应,判断该光学次模块是否合格;合格的光学次模块由送料机械手送入合格品物料盒,不合格的光学次模块送入次品品物料盒中;
工位检测反馈机构对机械手夹持部位进行检测,判断是否有待检测物,若有未下料的待检测物,则由下料机构重新下料;若无待检测物,则由机械手到达上料机构组件处对下一个光学次模块进行上料。
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