CN113281629A - 一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法 - Google Patents

一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113281629A
CN113281629A CN202110387375.8A CN202110387375A CN113281629A CN 113281629 A CN113281629 A CN 113281629A CN 202110387375 A CN202110387375 A CN 202110387375A CN 113281629 A CN113281629 A CN 113281629A
Authority
CN
China
Prior art keywords
frame
vertical
emitting diode
driving motor
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110387375.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113281629B (zh
Inventor
杨洪文
王艳
阮国成
牟雪芹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Yongerjia Industrial Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Yongerjia Industrial Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Yongerjia Industrial Co ltd filed Critical Shenzhen Yongerjia Industrial Co ltd
Priority to CN202110387375.8A priority Critical patent/CN113281629B/zh
Publication of CN113281629A publication Critical patent/CN113281629A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113281629B publication Critical patent/CN113281629B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本申请涉及二极管检测设备技术领域,尤其是涉及一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法,包括工作台、承载架、安装架、检测架、控制单元以及固设于工作台内的检测器,承载架上固设有多个呈排列布置的发光二极管,工作台上设有用于驱动承载架沿水平纵向移动的纵向驱动组件,工作台上设有用于驱动安装架沿水平横向移动的横向驱动组件,检测器的检测探头固设于检测架上,安装架上设有用于驱动检测架沿竖向往复移动以令检测探头与发光二极管相接触的竖向驱动组件,控制单元分别与横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件电连接且用于控制横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件进行动作。本申请能够提高发光二极管的检测效率。

Description

一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法
技术领域
本申请涉及二极管检测设备技术领域,尤其是涉及一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法。
背景技术
发光二极管是一种常用的发光器件,通过电子与空穴复合释放能量发光,它在照明领域应用广泛。发光二极管可高效地将电能转化为光能,在现代社会具有广泛的用途,如照明、平板显示、医疗器件等。
在发光二极管的生产过程中,需要使用检测器对发光二极管进行抽检测试,现有的检测器通常含有一带电的检测探头,先通过检测探头与发光二极管的阳极和阴极相接触,再通过观察发光二极管是否发光来判断其是否合格。
但是,现有的检测器仅能通过人工方式对发光二极管逐个进行检测工作,检测效率低,难以满足生产需求;因此,存在改进的空间。
发明内容
为了提高发光二极管的检测效率,本申请提供一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法。
第一方面,本申请提供了一种发光二极管阵列检测装置,采用如下的技术方案:
一种发光二极管阵列检测装置,包括工作台、承载架、安装架、检测架、控制单元以及固设于工作台内的检测器,所述承载架上固设有多个呈排列布置的发光二极管,所述工作台上设有用于驱动承载架沿水平纵向移动的纵向驱动组件,所述工作台上设有用于驱动安装架沿水平横向移动的横向驱动组件,所述检测器的检测探头固设于检测架上,所述安装架上设有用于驱动检测架沿竖向往复移动以令检测探头与发光二极管相接触的竖向驱动组件,所述控制单元分别与横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件电连接且用于控制横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件进行动作。
通过采用上述技术方案,控制单元能够控制横向驱动组件以及纵向驱动组件进行动作,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动,并令位于检测架上的检测探头与排列布置在承载架上的发光二极管在竖直方向上依次逐个相对准,同时,控制单元能够控制竖向驱动组件进行动作,使得检测探头上升且与相对准的发光二极管相接触,从而完成发光二极管的自动批量检测,提高发光二极管的检测效率,以满足生产需求。
可选的,所述承载架上可拆卸地固设有透明板,所述透明板面向检测探头的一侧上可拆卸地固设有多个呈并排布置的弹性胶条,每个所述弹性胶条上均开设有多个呈并列布置且可供任意一个发光二极管嵌入的弹性安装槽。
通过采用上述技术方案,弹性胶条上开设有可供任意一个发光二极管嵌入的弹性安装槽,并且弹性胶条可拆卸地固定在透明板上,透明板可拆卸地固定在承载架上;在控制单元控制横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件进行动作以对发光二极管进行自动批量检测的过程中,工人可通过将待检测的发光二极管嵌入至另外的弹性胶条,再将另外的弹性胶条可拆卸地固定在另外的透明板上,即可在承载架上的发光二极管检测全部完成检测之后,直接将固定有待检测发光二极管的透明板直接可拆卸地固定在承载架上,以此循环,以提高发光二极管的检测效率,满足生产需求。
可选的,所述透明板面向承载架的一侧设有多个插接块,所述承载架面向透明板的一侧开设有与插接块相嵌装适配的插接槽,所述插接槽槽底固设有与插接块相磁吸配合的第一磁铁单元。
通过采用上述技术方案,透明板与承载架之间通过插接块与插接槽之间的嵌装配合进行定位,并通过插接块与第一磁铁单元之间的磁吸配合进行固定,能够提高固定有待检测发光二极管的透明板的安装效率以及安装精度,以提高发光二极管的检测效率以及检测效果,满足生产需求。
可选的,所述纵向驱动组件包括固设于工作台上且沿水平纵向延伸的纵向滑轨、可转动地设置于工作台上且沿水平纵向延伸的纵向丝杆、第一螺母座以及第一驱动电机,所述承载架滑动设置于纵向滑轨上,所述第一螺母座固设于承载架上且与纵向丝杆螺纹连接,所述第一驱动电机固设于工作台上且与纵向丝杆一端固定连接。
通过采用上述技术方案,第一驱动电机驱动纵向丝杆转动的过程中,承载架在纵向丝杆与第一螺母座之间的螺纹连接传动作用下沿水平纵向进行移动,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动。
可选的,所述横向驱动组件包括固设于工作台上且沿水平横向延伸的横向滑轨、可转动地设置于工作台上且沿水平横向延伸的横向丝杆、第二螺母座以及第二驱动电机,所述安装架滑动设置于横向滑轨上,所述第二螺母座固设于安装架上且与横向丝杆螺纹连接,所述第二驱动电机固设于工作台上且与横向丝杆一端固定连接。
通过采用上述技术方案,第二驱动电机驱动横向丝杆转动的过程中,安装架在横向丝杆与第二螺母座之间的螺纹连接传动作用下沿水平横向进行移动,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动。
可选的,所述竖向驱动组件包括固设于安装架上且沿竖向延伸的竖向滑轨、偏心块、复位弹簧以及第三驱动电机,所述检测架滑动设置于竖向滑轨上,所述第三驱动电机固设于安装架上,所述偏心块固设于第三驱动电机输出轴且与检测架相抵接,所述复位弹簧连接于检测架与安装架之间以令检测架与偏心块保持抵接状态。
通过采用上述技术方案,第三驱动电机驱动偏心块转动的过程中,偏心块能够推动检测架并带动检测探头沿竖向上升,复位弹簧能够拉动检测架并带动检测探头沿竖向下降,从而实现检测探头的沿竖向往复移动的动作,并在横向驱动组件以及竖向驱动组件的共同配合下,实现检测探头与发光二极管依次逐个相接触并完成发光二极管的检测。
可选的,所述偏心块包括连接部以及转轮部,所述连接部固设于第三驱动电机输出轴,所述转轮部可转动地设置于连接部远离第三驱动电机输出轴的一端且与检测架相抵接。
通过采用上述技术方案,与检测架相抵接的转轮部可转动地设置于连接部上,使得偏心块与检测架之间为滚动摩擦,即降低偏心块与检测架之间的摩擦,减缓偏心块与检测架的磨损速度,提升偏心结构的使用寿命。
可选的,所述工作台上设有报警单元,所述安装架上通过预设的支撑架架设有工业摄像头,所述控制单元分别与工业摄像头以及报警单元电连接;所述工业摄像头与检测探头在竖直方向上相对准,固设有弹性胶条以及发光二极管的所述透明板由工业摄像头与检测探头之间通过。
通过采用上述技术方案,工业摄像头能够获取发光二极管的检测情况且与正常的检测情况进行对比,且在对比出现异常时将异常情况反馈至控制单元,由控制单元发出警报以提醒工作人员及时将检测情况异常的发光二极管进行处理。
可选的,所述横向驱动组件包括固设于工作台上且沿水平横向延伸的横向滑轨、可转动地设置于工作台上且沿水平横向延伸的横向丝杆、第二螺母座以及第二驱动电机,所述安装架滑动设置于横向滑轨上,所述安装架上固设有第二磁铁单元,所述第二螺母座上固设有与第二磁铁单元相磁吸配合的第三磁铁单元且令第二螺母座固设于安装架上,所述横向丝杆与第二螺母座螺纹连接,所述第二驱动电机固设于工作台上且与横向丝杆一端固定连接;所述竖向驱动组件包括固设于安装架上且沿竖向延伸的竖向滑轨、偏心块、复位弹簧以及第三驱动电机,所述检测架滑动设置于竖向滑轨上,所述第三驱动电机固设于安装架上,所述偏心块固设于第三驱动电机输出轴且与检测架相抵接,所述横向滑轨一侧固设有定位条,所述定位条上开设有多个沿水平横向间隔布置的定位槽,相邻两个所述定位槽中心距等于相邻两个弹性安装槽中心距,所述安装架上铰接有翘板,所述翘板一端设有与定位槽相嵌装适配的定位块,另一端与检测架之间通过所述复位弹簧连接相连接,在复位弹簧拉动翘板以令定位块嵌入定位槽时,所述检测探头与相对应的发光二极管在竖直方向上相对准。
通过采用上述技术方案,第二驱动电机驱动横向丝杆转动的过程中,安装架在横向丝杆与第二螺母座之间的螺纹连接传动作用下沿水平横向进行移动,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动;当安装架的移动距离发生偏离时,随着第三驱动电机驱动偏心块转动以令偏心块推动检测架并带动检测探头沿竖向上升的过程中,检测架能够通过复位弹簧拉动翘板转动以令定位块完全嵌入至定位槽中,并在定位块嵌入至定位槽的过程中,在翘板的拉力作用下,位于安装架上的第二磁铁单元与位于第二螺母座上的第三磁铁单元相互分离错开,使得安装架移动至准确位置,确保检测架上的检测探头在竖直方向上与相对应的发光二极管相对准,以此循环,从而提高发光二极管的检测精度,满足生产需求。
第二方面,本申请提供了一种发光二极管阵列检测装置的使用方法,包括以下步骤:
S1、安装发光二极管:先将多个发光二极管并列固定在弹性胶条上,再将多个固定有发光二极管的弹性胶条并排固定在透明板上,最后将透明板通过插接块与插接槽相定位,准确地固定在承载架上。
S2、检测发光二极管:通过控制单元按照预设的规律控制横向驱动组件以及纵向驱动组件进行动作,使得检测探头依次逐个地与发光二极管在竖直方向上相对准;通过控制单元按照预设的规律控制竖向驱动组件进行动作,使得检测探头与任意一个发光二极管在竖直方向上相对准时,竖向驱动组件带动检测探头移动且与发光二极管相接触。
通过采用上述技术方案,控制单元能够控制横向驱动组件以及纵向驱动组件进行动作,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动,并令位于检测架上的检测探头与排列布置在承载架上的发光二极管在竖直方向上依次逐个相对准,同时,控制单元能够控制竖向驱动组件进行动作,使得检测探头上升且与相对准的发光二极管相接触,从而完成发光二极管的自动批量检测,提高发光二极管的检测效率;弹性胶条上开设有可供任意一个发光二极管嵌入的弹性安装槽,并且弹性胶条可拆卸地固定在透明板上,透明板可拆卸地固定在承载架上,在控制单元控制横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件进行动作以对发光二极管进行自动批量检测的过程中,工人可通过将待检测的发光二极管嵌入至另外的弹性胶条,再将另外的弹性胶条可拆卸地固定在另外的透明板上,即可在承载架上的发光二极管检测全部完成检测之后,直接将固定有待检测发光二极管的透明板直接可拆卸地固定在承载架上,以此循环,以提高发光二极管的检测效率,满足生产需求。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
控制单元能够控制横向驱动组件以及纵向驱动组件进行动作,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动,并令位于检测架上的检测探头与排列布置在承载架上的发光二极管在竖直方向上依次逐个相对准,同时,控制单元能够控制竖向驱动组件进行动作,使得检测探头上升且与相对准的发光二极管相接触,从而完成发光二极管的自动批量检测,提高发光二极管的检测效率,以满足生产需求;
弹性胶条上开设有可供任意一个发光二极管嵌入的弹性安装槽,并且弹性胶条可拆卸地固定在透明板上,透明板可拆卸地固定在承载架上,在控制单元控制横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件进行动作以对发光二极管进行自动批量检测的过程中,工人可通过将待检测的发光二极管嵌入至另外的弹性胶条,再将另外的弹性胶条可拆卸地固定在另外的透明板上,即可在承载架上的发光二极管检测全部完成检测之后,直接将固定有待检测发光二极管的透明板直接可拆卸地固定在承载架上,以此循环,以提高发光二极管的检测效率,满足生产需求;
第二驱动电机驱动横向丝杆转动的过程中,安装架在横向丝杆与第二螺母座之间的螺纹连接传动作用下沿水平横向进行移动,使得承载架与安装架之间相对移动,即承载架与检测架之间相对移动;当安装架的移动距离发生偏离时,随着第三驱动电机驱动偏心块转动以令偏心块推动检测架并带动检测探头沿竖向上升的过程中,检测架能够通过复位弹簧拉动翘板转动以令定位块完全嵌入至定位槽中,并在定位块嵌入至定位槽的过程中,在翘板的拉力作用下,位于安装架上的第二磁铁单元与位于第二螺母座上的第三磁铁单元相互分离错开,使得安装架移动至准确位置,确保检测架上的检测探头在竖直方向上与相对应的发光二极管相对准,以此循环,从而提高发光二极管的检测精度,满足生产需求。
附图说明
图1是本申请实施例1的整体结构示意图。
图2是图1中A的放大图。
图3是本申请实施例中发光二极管的安装方式在第一视角下的示意图。
图4是本申请实施例中发光二极管的安装方式在第二视角下的示意图。
图5是本申请实施例2的整体结构示意图。
图6是图5中B的放大图。
附图标记说明:1、工作台;11、基座;12、工作面板;2、承载架;21、第一竖直部;22、第一水平部;3、安装架;31、第二竖直部;32、第二水平部;4、检测架;41、第三竖直部;42、第三水平部;5、控制单元;51、报警单元;52、支撑架;53、工业摄像头;6、检测器;61、检测探头;7、发光二极管;71、透明板;72、弹性胶条;73、弹性安装槽;74、插接块;75、插接槽;76、第一磁铁单元;77、卡块组;78、卡槽组;8、纵向驱动组件;81、纵向滑轨;82、纵向丝杆;83、第一螺母座;84、第一驱动电机;9、横向驱动组件;91、横向滑轨;92、横向丝杆;93、第二螺母座;94、第二驱动电机;10、竖向驱动组件;101、竖向滑轨;102、偏心块;1021、连接部;1022、转轮部;103、复位弹簧;104、第三驱动电机;105、定位条;106、定位槽;107、翘板;108、定位块;109、铰接块。
具体实施方式
以下结合附图1-6对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种发光二极管阵列检测装置。
实施例1:
参照图1,发光二极管阵列检测装置包括工作台1、承载架2、安装架3、检测架4、控制单元5以及检测器6,其中,工作台1包括基座11以及工作面板12,工作面板12通过预设的支撑柱平行固定在基座11的正上方,检测器6固设于基座11内,检测器6含有一检测探头61,并且检测探头61通过预设的软质导线与检测器6电连接,使得检测探头61的位置能够灵活进行移动。
承载架2包括第一竖直部21以及第一水平部22,其中,第一水平部22一侧固设于第一竖直部21顶部,第一水平部22为框状结构,第一水平部22固设有多个发光二极管7,并且多个发光二极管7沿水平横向以及水平纵向整齐排列。工作台1上设有一纵向驱动组件8,并且纵向驱动组件8能够用于驱动第一竖直部21沿水平纵向进行移动,使得多个呈排列布置的发光二极管7能够随承载架2沿水平纵向进行移动。
参照图1和2,安装架3包括第二竖直部31以及第二水平部32,其中,第二水平部32一侧固设于第二竖直部31底部。工作台1上设有一横向驱动组件9,并且横向驱动组件9能够用于驱动安装架3的第二水平部32沿水平纵向进行移动,以令安装架3整体沿水平纵向进行移动。
检测架4包括第三竖直部41以及第三水平部42,其中,第三水平部42一端固设于第三竖直部41顶部。安装架3上设有一竖向驱动组件10,并且竖向驱动组件10能够用于驱动检测架4的第三水平部42沿竖向进行往复移动,以令检测架4整体沿竖向进行往复移动。检测器6的检测探头61通过卡接、胶水粘接等方式固设于第三竖直部41上,使得检测探头61能够随检测架4沿竖向进行往复移动。
本实施例中的控制单元5采用的是单片机作为主控芯片,其型号为STC89C51,并且控制单元5与横向驱动组件9之间、控制单元5与纵向驱动组件8之间以及控制单元5与竖向驱动组件10之间均通过预设的导线电连接,以用于控制横向驱动组件9、纵向驱动组件8以及竖向驱动组件10按照预设的规律进行动作。
工作时,控制单元5先控制横向驱动组件9以及纵向驱动组件8按照预设的规律进行动作,使承载架2与安装架3之间发生相对移动,即承载架2与检测架4在水平方向上相对移动,并令位于检测架4上的检测探头61与排列布置在承载架2上的发光二极管7在竖直方向上依次逐个相对准,在检测探头61与其中的一个发光二极管7在竖直方向上相对准时,控制单元5再控制竖向驱动组件10进行动作,使承载架2与检测架4在竖直方向上相对移动,使得检测探头61上升且与相对准的发光二极管7相接触,以此循环,以完成发光二极管7的自动批量检测,提高发光二极管7的检测效率,以满足生产需求。
具体的,在本实施例中,纵向驱动组件8包括纵向滑轨81、纵向丝杆82、第一螺母座83以及第一驱动电机84,其中,纵向滑轨81沿水平纵向延伸,并且纵向滑轨81通过预设的紧固件固设于工作面板12顶面,第一竖直部21上设有与纵向滑轨81相滑动适配的纵向滑块,纵向滑块滑动设置于纵向滑轨81上,使得承载架2的移动方向能够保持沿水平纵向;纵向丝杆82沿水平纵向延伸,并且纵向丝杆82通过预设的转动座可转动地设置于基座11与工作面板12之间;第一驱动电机84固设于工作面板12的底面,第一驱动电机84输出轴与纵向丝杆82相连接固定,并且第一驱动电机84与控制单元5之间通过预设的导线电连接,以用于在控制单元5的控制下按照预设的规律驱动纵向丝杆82进行转动;第一竖直部21穿过工作面板12上预设的纵向避让孔并延伸至基座11与工作面板12之间,第一螺母座83固设于位于基座11与工作面板12之间的第一竖直部21上且与纵向丝杆82螺纹连接,使得纵向丝杆82按照预设的规律进行转动的过程中,第一螺母座83带动承载架2整体以及排列布置在承载架2上的发光二极管7沿水平纵向按照预设的规律进行移动。
在本实施例中,横向驱动组件9包括横向滑轨91、横向丝杆92、第二螺母座93以及第二驱动电机94,其中,横向滑轨91沿水平横向延伸,并且横向滑轨91通过预设的紧固件固设于工作面板12顶面,第二水平部32上设有与横向滑轨91相滑动适配的横向滑块,横向滑块滑动设置于横向滑轨91上,使得安装架3的移动方向能够保持沿水平横向;横向丝杆92沿水平横向延伸,并且横向丝杆92通过预设的转动座可转动地设置于基座11与工作面板12之间;第二驱动电机94固设于工作面板12的底面,第二驱动电机94输出轴与横向丝杆92相连接固定,并且第二驱动电机94与控制单元5之间通过预设的导线电连接,以用于在控制单元5的控制下按照预设的规律驱动横向丝杆92进行转动;第二水平部32穿过工作面板12上预设的横向避让孔并延伸至基座11与工作面板12之间,第二螺母座93固设于位于基座11与工作面板12之间的第二水平部32上且与横向丝杆92螺纹连接,使得横向丝杆92按照预设的规律进行转动的过程中,第二螺母座93能够带动安装架3整体沿水平横向按照预设的规律进行移动。
在本实施例中,竖向驱动组件10包括竖向滑轨101、偏心块102、复位弹簧103以及第三驱动电机104,其中,竖向滑轨101沿竖向延伸,并且竖向滑轨101通过预设的紧固件固设于第二竖直部31的一侧;第三竖直部41上设有与竖向滑轨101相滑动适配的竖向滑块,竖向滑块滑动设置于竖向滑轨101上,使得检测架4的移动方向能够保持沿竖直方向;第三驱动电机104固设于第二水平部32上,第三驱动电机104输出轴穿过第二竖直部31上预留的通孔,并且第三驱动电机104与控制单元5之间通过预设的导线电连接,以用于在控制单元5的控制下按照预设的规律运行;偏心块102固设于第三驱动电机104输出轴且与第三水平部42相抵接;复位弹簧103一端与第三竖直部41相连接,另一端倾斜朝下延伸且与第二竖直部31相连接,使得第三竖直部41在复位弹簧103的拉力作用下始终具有沿竖直方向朝下运动的趋势,从而使得检测架4整体始终与偏心块102保持抵接状态。
当第三驱动电机104在控制单元5的控制下按照预设的规律运行并驱动偏心块102按照预设的规律转动的过程中,偏心块102能够推动检测架4并带动检测探头61沿竖向上升,复位弹簧103能够拉动检测架4并带动检测探头61沿竖向下降,从而实现检测探头61的沿竖向往复移动的动作,并在横向驱动组件9以及竖向驱动组件10的共同配合下,实现检测探头61与发光二极管7依次逐个相接触并完成发光二极管7的检测。
在本实施例中,偏心块102包括连接部1021以及转轮部1022,连接部1021与第三驱动电机104输出轴相垂直布置,连接部1021一端固设于第三驱动电机104输出轴,另一端设有与第三驱动电机104输出轴相互平行间隔布置的转轴,转轮部1022可转动地设置于连接部1021远离第三驱动电机104输出轴一端预设的转轴上,并且转轮部1022与检测架4相抵接,以实现在复位弹簧103的相互配合作用下推动检测架4并带动检测探头61沿竖向往复移动的动作,并且使得偏心块102与检测架4之间为滚动摩擦,即降低偏心块102与检测架4之间的摩擦,减缓偏心块102与检测架4的磨损速度,提升偏心结构的使用寿命。
在本实施例中,工作台1上设有报警单元51,本实施例中的报警单元51为LED指示灯/蜂鸣器,并且报警单元51与控制单元5之间通过预设的导线电连接;安装架3上通过预设的支撑架52架设有工业摄像头53,本实施例中的工业摄像头53为CCD摄像机,其能够利用CCD的工作原理获取发光二极管7的检测情况且与正常的检测情况进行对比,且在对比出现异常时将异常情况反馈至控制单元5,由控制单元5发出警报以提醒工作人员及时将检测情况异常的发光二极管7进行处理。
参照图3和4,在本实施例中,发光二极管7通过预设的透明板71以及弹性胶条72整齐排列且可拆卸地固定在承载架2上,使得在控制单元5控制横向驱动组件9、纵向驱动组件8以及竖向驱动组件10进行动作以对发光二极管7进行自动批量检测的过程中,工人可通过将待检测的发光二极管7可拆卸地固定在另外的弹性胶条72,再将另外的弹性胶条72可拆卸地固定在另外的透明板71上,即可在承载架2上的发光二极管7检测全部完成检测之后,直接将固定有待检测发光二极管7的透明板71直接可拆卸地固定在承载架2上,以此循环,以提高发光二极管7的检测效率,满足生产需求。
透明板71由透明塑胶制作而成,透明板71由上至下盖压在承载架2上,具体的,透明板71面向承载架2一侧的四周通过胶粘方式固设有多个磁吸金属材质制作而成的插接块74,承载架2面向透明板71的一侧开设有与插接块74相嵌装适配的插接槽75,每个插接槽75槽底均固设有与插接块74相磁吸配合的第一磁铁单元76。当透明板71由上至下盖压在承载架2上时,透明板71与承载架2之间通过插接块74与插接槽75之间的嵌装配合进行定位,并通过插接块74与第一磁铁单元76之间的磁吸配合进行固定,能够提高固定有待检测发光二极管7的透明板71的安装效率以及安装精度,以提高发光二极管7的检测效率以及检测效果,满足生产需求。
弹性胶条72为条状结构,弹性胶条72正面开设有多个沿其延伸方向等距间隔布置且可供任意一个发光二极管7嵌入的弹性安装槽73,弹性胶条72背面一体成型有一卡块组77,透明板71面向承载架2的一侧开设有多排沿水平纵向等距间隔布置的卡槽组78,每个卡槽组78均可通过过盈配合与任意一个卡块组77相卡接配合,从而实现在部分发光二极管7进行自动批量检测的过程中,可将待检测的发光二极管7可拆卸地固定在另外的透明板71上,从而在承载架2上的发光二极管7检测全部完成检测之后,直接将固定有待检测发光二极管7的透明板71直接可拆卸地固定在承载架2上,以此循环,以提高发光二极管7的检测效率,满足生产需求。
实施原理:控制单元5能够控制横向驱动组件9以及纵向驱动组件8进行动作,使得承载架2与安装架3之间相对移动,即承载架2与检测架4之间相对移动,并令位于检测架4上的检测探头61与排列布置在承载架2上的发光二极管7在竖直方向上依次逐个相对准,同时,控制单元5能够控制竖向驱动组件10进行动作,使得检测探头61上升且与相对准的发光二极管7相接触,从而完成发光二极管7的自动批量检测,提高发光二极管7的检测效率;弹性胶条72上开设有可供任意一个发光二极管7嵌入的弹性安装槽73,并且弹性胶条72可拆卸地固定在透明板71上,透明板71可拆卸地固定在承载架2上,在控制单元5控制横向驱动组件9、纵向驱动组件8以及竖向驱动组件10进行动作以对发光二极管7进行自动批量检测的过程中,工人可通过将待检测的发光二极管7嵌入至另外的弹性胶条72,再将另外的弹性胶条72可拆卸地固定在另外的透明板71上,即可在承载架2上的发光二极管7检测全部完成检测之后,直接将固定有待检测发光二极管7的透明板71直接可拆卸地固定在承载架2上,以此循环,以提高发光二极管7的检测效率,满足生产需求。
实施例2:
本实施例与实施例1的区别为在第二驱动电机94的运行出现偏差导致检测探头61的位置出现偏离时,检测探头61的位置能够进行调整。
参照图5和6,具体的,在本实施例中,横向驱动组件9包括横向滑轨91、横向丝杆92、第二螺母座93以及第二驱动电机94,其中,横向滑轨91沿水平横向延伸,并且横向滑轨91通过预设的紧固件固设于工作面板12顶面,第二水平部32上设有与横向滑轨91相滑动适配的横向滑块,横向滑块滑动设置于横向滑轨91上,使得安装架3的移动方向能够保持沿水平横向;横向丝杆92沿水平横向延伸,并且横向丝杆92通过预设的转动座可转动地设置于基座11与工作面板12之间;第二驱动电机94固设于工作面板12的底面,第二驱动电机94输出轴与横向丝杆92相连接固定,并且第二驱动电机94与控制单元5之间通过预设的导线电连接,以用于在控制单元5的控制下按照预设的规律驱动横向丝杆92进行转动;第二水平部32穿过工作面板12上预设的横向避让孔并延伸至基座11与工作面板12之间,并且位于基座11与工作面板12之间的第二水平部32上固设有第二磁铁单元,第二螺母座93上固设有与第二磁铁单元相磁吸配合的第三磁铁单元,使得第二螺母座93与第二水平部32之间能够通过第二磁铁单元与第三磁铁单元之间的磁吸配合相连接固定,并且在受到外力作用是产生轻微的相对移动,在外力作用撤销时重新恢复至原始连接状态。
竖向驱动组件10包括竖向滑轨101、偏心块102、复位弹簧103以及第三驱动电机104,其中,竖向滑轨101沿竖向延伸,并且竖向滑轨101通过预设的紧固件固设于第二竖直部31的一侧;第三竖直部41上设有与竖向滑轨101相滑动适配的竖向滑块,竖向滑块滑动设置于竖向滑轨101上,使得检测架4的移动方向能够保持沿竖直方向;第三驱动电机104固设于第二水平部32上,第三驱动电机104输出轴穿过第二竖直部31上预留的通孔,并且第三驱动电机104与控制单元5之间通过预设的导线电连接,以用于在控制单元5的控制下按照预设的规律运行;偏心块102固设于第三驱动电机104输出轴且与第三水平部42相抵接;第二竖直部31上设有一铰接块109,铰接块109上铰接有一翘板107,具体的,翘板107的中部开设有供铰接块109穿过的铰接孔,使得翘板107能够绕铰接块109进行转动;复位弹簧103一端与第三竖直部41相连接,另一端倾斜朝下延伸且与翘板107一端相连接,翘板107远离复位弹簧103一端在面向工作面板12的一侧一体成型有呈三角形结构的定位块108;工作面板12顶面在位于横向滑轨91的一侧通过预设的紧固件固设有沿水平横向延伸的定位条105,定位条105顶面开设有多个沿水平横向等距间隔布置的定位槽106,并且相邻两个定位槽106中心距等于相邻两个弹性安装槽73中心距,定位槽106横截面呈三角形结构,并且定位槽106的开口角度大于定位块108顶部的角度,使得定位块108随翘板107绕铰接块109进行转动的过程中能够完全嵌入至任意一个定位槽106内。
当安装架3的移动距离由于第二驱动电机94的运行出现偏差而发生偏离并导致检测探头61的位置出现偏离时,随着第三驱动电机104驱动偏心块102转动以令偏心块102推动检测架4并带动检测探头61沿竖向上升的过程中,检测架4能够通过复位弹簧103拉动翘板107绕铰接块109进行转动,以令定位块108完全嵌入至定位槽106中,并在定位块108完全嵌入至定位槽106的过程中,在翘板107的拉力作用下,位于安装架3上的第二磁铁单元与位于第二螺母座93上的第三磁铁单元受力发生相互分离错开,使得安装架3移动至准确位置,确保检测架4上的检测探头61在竖直方向上与相对应的发光二极管7相对准,以此循环,从而提高发光二极管7的检测精度,满足生产需求。
本申请实施例还公开一种发光二极管阵列检测装置的使用方法,包括以下步骤:
S1、安装发光二极管:先将多个发光二极管7并列固定在弹性胶条72上,再将多个固定有发光二极管7的弹性胶条72并排固定在透明板71上,最后将透明板71通过插接块74与插接槽75相定位,准确地固定在承载架2上。
S2、检测发光二极管:通过控制单元5按照预设的规律控制横向驱动组件9以及纵向驱动组件8进行动作,使得检测探头61依次逐个地与发光二极管7在竖直方向上相对准;通过控制单元5按照预设的规律控制竖向驱动组件10进行动作,使得检测探头61与任意一个发光二极管7在竖直方向上相对准时,竖向驱动组件10带动检测探头61移动且与发光二极管7相接触。
本具体实施方式的实施例均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:包括工作台(1)、承载架(2)、安装架(3)、检测架(4)、控制单元(5)以及固设于工作台(1)内的检测器(6),所述承载架(2)上固设有多个呈排列布置的发光二极管(7),所述工作台(1)上设有用于驱动承载架(2)沿水平纵向移动的纵向驱动组件(8),所述工作台(1)上设有用于驱动安装架(3)沿水平横向移动的横向驱动组件(9),所述检测器(6)的检测探头(61)固设于检测架(4)上,所述安装架(3)上设有用于驱动检测架(4)沿竖向往复移动以令检测探头(61)与发光二极管(7)相接触的竖向驱动组件(10),所述控制单元(5)分别与横向驱动组件(9)、纵向驱动组件(8)以及竖向驱动组件(10)电连接且用于控制横向驱动组件(9)、纵向驱动组件(8)以及竖向驱动组件(10)进行动作。
2.根据权利要求1所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述承载架(2)上可拆卸地固设有透明板(71),所述透明板(71)面向检测探头(61)的一侧上可拆卸地固设有多个呈并排布置的弹性胶条(72),每个所述弹性胶条(72)上均开设有多个呈并列布置且可供任意一个发光二极管(7)嵌入的弹性安装槽(73)。
3.根据权利要求2所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述透明板(71)面向承载架(2)的一侧设有多个插接块(74),所述承载架(2)面向透明板(71)的一侧开设有与插接块(74)相嵌装适配的插接槽(75),所述插接槽(75)槽底固设有与插接块(74)相磁吸配合的第一磁铁单元(76)。
4.根据权利要求1所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述纵向驱动组件(8)包括固设于工作台(1)上且沿水平纵向延伸的纵向滑轨(81)、可转动地设置于工作台(1)上且沿水平纵向延伸的纵向丝杆(82)、第一螺母座(83)以及第一驱动电机(84),所述承载架(2)滑动设置于纵向滑轨(81)上,所述第一螺母座(83)固设于承载架(2)上且与纵向丝杆(82)螺纹连接,所述第一驱动电机(84)固设于工作台(1)上且第一驱动电机(84)输出轴与纵向丝杆(82)一端固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述横向驱动组件(9)包括固设于工作台(1)上且沿水平横向延伸的横向滑轨(91)、可转动地设置于工作台(1)上且沿水平横向延伸的横向丝杆(92)、第二螺母座(93)以及第二驱动电机(94),所述安装架(3)滑动设置于横向滑轨(91)上,所述第二螺母座(93)固设于安装架(3)上且与横向丝杆(92)螺纹连接,所述第二驱动电机(94)固设于工作台(1)上且第二驱动电机(94)输出轴与横向丝杆(92)一端固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述竖向驱动组件(10)包括固设于安装架(3)上且沿竖向延伸的竖向滑轨(101)、偏心块(102)、复位弹簧(103)以及第三驱动电机(104),所述检测架(4)滑动设置于竖向滑轨(101)上,所述第三驱动电机(104)固设于安装架(3)上,所述偏心块(102)固设于第三驱动电机(104)输出轴且与检测架(4)相抵接,所述复位弹簧(103)连接于检测架(4)与安装架(3)之间以令检测架(4)与偏心块(102)保持抵接状态。
7.根据权利要求6所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述偏心块(102)包括连接部(1021)以及转轮部(1022),所述连接部(1021)固设于第三驱动电机(104)输出轴,所述转轮部(1022)可转动地设置于连接部(1021)远离第三驱动电机(104)输出轴的一端且与检测架(4)相抵接。
8.根据权利要求2所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述工作台(1)上设有报警单元(51),所述安装架(3)上通过预设的支撑架(52)架设有工业摄像头(53),所述控制单元(5)分别与工业摄像头(53)以及报警单元(51)电连接;所述工业摄像头(53)与检测探头(61)在竖直方向上相对准,固设有弹性胶条(72)以及发光二极管(7)的所述透明板(71)由工业摄像头(53)与检测探头(61)之间通过。
9.根据权利要求2所述的一种发光二极管阵列检测装置,其特征在于:所述横向驱动组件(9)包括固设于工作台(1)上且沿水平横向延伸的横向滑轨(91)、可转动地设置于工作台(1)上且沿水平横向延伸的横向丝杆(92)、第二螺母座(93)以及第二驱动电机(94),所述安装架(3)滑动设置于横向滑轨(91)上,所述安装架(3)上固设有第二磁铁单元,所述第二螺母座(93)上固设有与第二磁铁单元相磁吸配合的第三磁铁单元且令第二螺母座(93)固设于安装架(3)上,所述横向丝杆(92)与第二螺母座(93)螺纹连接,所述第二驱动电机(94)固设于工作台(1)上且与横向丝杆(92)一端固定连接;所述竖向驱动组件(10)包括固设于安装架(3)上且沿竖向延伸的竖向滑轨(101)、偏心块(102)、复位弹簧(103)以及第三驱动电机(104),所述检测架(4)滑动设置于竖向滑轨(101)上,所述第三驱动电机(104)固设于安装架(3)上,所述偏心块(102)固设于第三驱动电机(104)输出轴且与检测架(4)相抵接,所述横向滑轨(91)一侧固设有定位条(105),所述定位条(105)上开设有多个沿水平横向间隔布置的定位槽(106),相邻两个所述定位槽(106)中心距等于相邻两个弹性安装槽(73)中心距,所述安装架(3)上铰接有翘板(107),所述翘板(107)一端设有与定位槽(106)相嵌装适配的定位块(108),另一端与检测架(4)之间通过所述复位弹簧(103)连接相连接,在复位弹簧(103)拉动翘板(107)以令定位块(108)嵌入定位槽(106)时,所述检测探头(61)与相对应的发光二极管(7)在竖直方向上相对准。
10.一种发光二极管阵列检测装置的使用方法,包括如权利要求1-9任意一项所述的发光二极管阵列检测装置,其特征在于:还包括以下步骤:
S1、安装发光二极管:先将多个发光二极管(7)并列固定在弹性胶条(72)上,再将多个固定有发光二极管(7)的弹性胶条(72)并排固定在透明板(71)上,最后将透明板(71)通过插接块(74)与插接槽(75)相定位,准确地固定在承载架(2)上;
S2、检测发光二极管:通过控制单元(5)按照预设的规律控制横向驱动组件(9)以及纵向驱动组件(8)进行动作,使得检测探头(61)依次逐个地与发光二极管(7)在竖直方向上相对准;通过控制单元(5)按照预设的规律控制竖向驱动组件(10)进行动作,使得检测探头(61)与任意一个发光二极管(7)在竖直方向上相对准时,竖向驱动组件(10)带动检测探头(61)移动且与发光二极管(7)相接触。
CN202110387375.8A 2021-04-10 2021-04-10 一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法 Active CN113281629B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110387375.8A CN113281629B (zh) 2021-04-10 2021-04-10 一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110387375.8A CN113281629B (zh) 2021-04-10 2021-04-10 一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113281629A true CN113281629A (zh) 2021-08-20
CN113281629B CN113281629B (zh) 2022-07-01

Family

ID=77276482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110387375.8A Active CN113281629B (zh) 2021-04-10 2021-04-10 一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113281629B (zh)

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1256415A (zh) * 1999-09-23 2000-06-14 陆祖宏 一种微阵列探针芯片检测仪
JP2010091341A (ja) * 2008-10-06 2010-04-22 Micronics Japan Co Ltd Ledの試験装置
TW201305578A (zh) * 2011-07-28 2013-02-01 Chroma Ate Inc 用於led晶粒點測設備之點測裝置
CN103149524A (zh) * 2013-02-25 2013-06-12 东莞市福地电子材料有限公司 一种倒装led芯片测试机与测试方法
CN103900792A (zh) * 2012-12-28 2014-07-02 比亚迪股份有限公司 一种led晶片的发光检测装置
JP2014134497A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Sanesu:Kk Ledチップの光学特性測定装置およびledチップの光学特性測定方法
CN104101744A (zh) * 2013-04-10 2014-10-15 佛山市国星半导体技术有限公司 一种探针卡及led快速点测装置及方法
CN104280209A (zh) * 2013-07-11 2015-01-14 武汉亿科思德科技有限公司 一种光学次模块检测机及检测方法
CN204547077U (zh) * 2015-01-15 2015-08-12 瑞安市尚昱电子科技有限公司 三维打印机的运动机构
KR101557484B1 (ko) * 2014-07-03 2015-10-07 (주) 인텍플러스 발광다이오드 패키지 검사 장치
CN208697690U (zh) * 2018-07-24 2019-04-05 福建省德化珍视界工贸有限公司 一种推杆加回位弹簧的整型机构
CN208999060U (zh) * 2018-11-20 2019-06-18 中山市浦源电子有限公司 一种能提高效率的led测试架
WO2019203635A1 (en) * 2018-04-17 2019-10-24 Elsoft Systems Sdn. Bhd. Apparatus for testing led array tile
CN110600389A (zh) * 2019-06-10 2019-12-20 义乌臻格科技有限公司 一种微型面发射光电芯片阵列光电性能巨量检测系统及其方法
CN210513629U (zh) * 2019-09-19 2020-05-12 福建兆元光电有限公司 一种led芯片出光分布测试装置
CN111354286A (zh) * 2020-04-16 2020-06-30 苏州润弘安创自动化科技有限公司 超高精度Micro LED屏幕芯片电子功能测试设备
CN112635339A (zh) * 2019-09-24 2021-04-09 成都辰显光电有限公司 Micro-LED的测试电路、装置和方法

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1256415A (zh) * 1999-09-23 2000-06-14 陆祖宏 一种微阵列探针芯片检测仪
JP2010091341A (ja) * 2008-10-06 2010-04-22 Micronics Japan Co Ltd Ledの試験装置
TW201305578A (zh) * 2011-07-28 2013-02-01 Chroma Ate Inc 用於led晶粒點測設備之點測裝置
CN103900792A (zh) * 2012-12-28 2014-07-02 比亚迪股份有限公司 一种led晶片的发光检测装置
JP2014134497A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Sanesu:Kk Ledチップの光学特性測定装置およびledチップの光学特性測定方法
CN103149524A (zh) * 2013-02-25 2013-06-12 东莞市福地电子材料有限公司 一种倒装led芯片测试机与测试方法
CN104101744A (zh) * 2013-04-10 2014-10-15 佛山市国星半导体技术有限公司 一种探针卡及led快速点测装置及方法
CN104280209A (zh) * 2013-07-11 2015-01-14 武汉亿科思德科技有限公司 一种光学次模块检测机及检测方法
KR101557484B1 (ko) * 2014-07-03 2015-10-07 (주) 인텍플러스 발광다이오드 패키지 검사 장치
CN204547077U (zh) * 2015-01-15 2015-08-12 瑞安市尚昱电子科技有限公司 三维打印机的运动机构
WO2019203635A1 (en) * 2018-04-17 2019-10-24 Elsoft Systems Sdn. Bhd. Apparatus for testing led array tile
CN208697690U (zh) * 2018-07-24 2019-04-05 福建省德化珍视界工贸有限公司 一种推杆加回位弹簧的整型机构
CN208999060U (zh) * 2018-11-20 2019-06-18 中山市浦源电子有限公司 一种能提高效率的led测试架
CN110600389A (zh) * 2019-06-10 2019-12-20 义乌臻格科技有限公司 一种微型面发射光电芯片阵列光电性能巨量检测系统及其方法
CN210513629U (zh) * 2019-09-19 2020-05-12 福建兆元光电有限公司 一种led芯片出光分布测试装置
CN112635339A (zh) * 2019-09-24 2021-04-09 成都辰显光电有限公司 Micro-LED的测试电路、装置和方法
CN111354286A (zh) * 2020-04-16 2020-06-30 苏州润弘安创自动化科技有限公司 超高精度Micro LED屏幕芯片电子功能测试设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN113281629B (zh) 2022-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102847646B (zh) 一种点胶及固化设备
KR102346195B1 (ko) 엘이디 모듈 자동화 조립장치
CN101922997B (zh) 一种背光源点灯测试治具及其使用方法
CN211047765U (zh) 一种双工位led灯带贴片机
CN113281629B (zh) 一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法
CN111273190A (zh) Led灯条检测设备
CN212082304U (zh) 一种应用于红外线的导轨直线度检测装置
CN116817814B (zh) 一种冲压件检测设备
CN212255627U (zh) Led灯条检测设备
CN215003485U (zh) 轴类零件检测设备
CN210741809U (zh) Micro OLED寿命自动检测机
CN211700898U (zh) 一种用于电连接器插拔装置的自动对中装置
CN109442015B (zh) 一种传动机构和基因测序仪
CN209968934U (zh) 静态测试机的交替换排装置
KR20090114260A (ko) 엘이디 본딩 장비 및 그 운전방법
CN113341291B (zh) 一种发光二极管检测装置
CN208109040U (zh) 一种产品表面平整度检测装置
CN208514034U (zh) 一种行李架组装设备
CN206019532U (zh) 马达定子自动测试机构
CN218865660U (zh) 拉力检测机构和全自动拉力检测设备
CN114415253B (zh) 一种电机输出轴的压圈检测系统
CN217586258U (zh) 一种led灯片的夹持装置及检测机
CN219065666U (zh) 一种led电路板检测用工装
CN213457229U (zh) 一种电路板检测装置
CN110693121B (zh) 肩章星徽自动订钉机

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant