TW201447289A - 光電透鏡檢測裝置及檢測方法 - Google Patents

Abstract

一種光電透鏡檢測裝置，所述光電透鏡檢測裝置包括第一檢測元件及第二檢測元件，所述第一檢測元件包括一個第一圖像感測器及搭載於所述第一圖像感測器物側之第一物鏡及第一變焦鏡頭，所述第一圖像感測器、第一物鏡及第一變焦鏡頭之光軸重合。所述第二檢測元件包括一個第二圖像感測器及搭載於所述第二圖像感測器物側之第二物鏡及第二變焦鏡頭，所述第二圖像感測器、第二物鏡及第二變焦鏡頭之光軸重合。本發明還提供一種採用上述光電透鏡檢測裝置對光電透鏡進行檢測之方法。

Description

光電透鏡檢測裝置及檢測方法

本發明涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種四通道小型可插拔光模組中之光電透鏡之檢測裝置及檢測方法。

四通道小型可插拔光模組（QSFP，Quad Small Form-factor Pluggable）包括一傳輸端、一光電透鏡(OE Lens，optical-electrical lens)及一接收端，傳輸端為一鐳射元件，接收端為一光偵測二極體。所述光電透鏡主要係用於將傳輸端所發出之鐳射光源做45度之轉折，耦合到傳輸端光纖中，反之，接收端光纖經由45度轉折將光源耦合到光偵測二極體上。所述光電透鏡之相鄰表面分別凸設有第一透鏡單元及第二透鏡單元，所述第一透鏡單元及第二透鏡單元之光軸相垂直。所述第一透鏡單元用於於傳輸端上將鐳射光線聚焦到光纖上，所述第二透鏡單元用於於接收端上將光纖光線聚焦到光偵測二極體上。

所述光電透鏡為塑膠射出元件，常常會因為模仁上之髒汙、刮傷或射出參數之問題，導致於第一及第二透鏡單元端上有髒汙、凹陷、刮傷、凸點、黑點、白點、以及灰塵覆蓋，從而會使得光電透鏡之光傳輸損耗過大，故需要對所述第一及第二透鏡單元表面進行檢測，但第一及第二透鏡單元尺寸很小，大約直徑約250um左右，故，必須藉由顯微物鏡做量測，目前多用人工量測，此需一人一台顯微鏡，量測成本較高；另因所述光電透鏡具有第一及第二透鏡單元，此兩個鏡片形成於光電透鏡之不同表面，故要對光電透鏡之兩個表面分別進行檢測，即對所述第一及第二透鏡單元分別進行檢測，人工作業時耗時較多。

有鑒於此，有必要提供一種四通道小型可插拔光模組中之光電透鏡檢測裝置及檢測方法，以降低人力成本，減少檢測工作耗時。

一種光電透鏡檢測裝置，所述光電透鏡之相鄰表面分別凸設有第一透鏡單元及第二透鏡單元，所述光電透鏡檢測裝置包括第一檢測元件及第二檢測元件，所述第一檢測元件與所述第一透鏡單元相對應，所述第二檢測元件與所述第二透鏡單元相對應，所述第一檢測元件及第二檢測元件分別用於檢測所述光電透鏡之第一及第二透鏡單元之表面狀況。所述第一檢測元件包括一個第一圖像感測器及搭載於所述第一圖像感測器物側之第一物鏡及第一變焦鏡頭，所述第一圖像感測器、第一物鏡及第一變焦鏡頭之光軸重合。所述第二檢測元件包括一個第二圖像感測器及搭載於所述第二圖像感測器物側之第二物鏡及第二變焦鏡頭，所述第二圖像感測器、第二物鏡及第二變焦鏡頭之光軸重合。

一種光電透鏡檢測方法，包括步驟：提供所述之光電透鏡檢測裝置。提供一待檢測之光電透鏡，其中所述光電透鏡之相鄰表面分別凸設有第一透鏡單元及第二透鏡單元。使所述第一檢測元件與所述第一透鏡單元相對設置且光軸重合，及使所述第二檢測元件與所述第二透鏡單元相對設置且光軸重合。調整所述第一變焦鏡頭及第二變焦鏡頭之放大倍率至可以得到所述第一透鏡單元及第二透鏡單元表面之清晰之影像。以及藉由所述第一檢測元件及第二檢測元件分別攝取所述第一透鏡單元及第二透鏡單元之影像，並分析所述影像從而得到所述第一透鏡單元及第二透鏡單元之表面狀況，從而完成對所述光電透鏡之檢測。

本實施例之光電透鏡檢測裝置及檢測方法中之光電透鏡檢測裝置可以自動對所述光電透鏡之第一及第二透鏡單元進行檢測，從而可以替代人工檢測，降低人力成本；並且因電透鏡檢測裝置具有兩個檢測元件，兩個感測元件可以同時對第一及第二透鏡單元進行檢測，故，還能進一步減少檢測耗時。

200．．．光電透鏡

201．．．第一透鏡單元

202．．．第二透鏡單元

100．．．光電透鏡檢測裝置

23．．．驅動件

20．．．抓取部

30．．．精密定位工作臺

40．．．感測部

50．．．檢測部

60．．．放料部

70．．．處理器

80．．．控制器

21．．．機械手臂

22．．．抓取頭

31．．．平臺

32．．．滑動驅動件

41．．．第一圖像攝取裝置

42．．．第二圖像攝取裝置

51．．．第一檢測元件

52．．．第二檢測元件

511．．．第一圖像感測器

512．．．第一物鏡

513．．．第一變焦鏡頭

521．．．第二圖像感測器

522．．．第二物鏡

523．．．第二變焦鏡頭

61．．．來料盤

62．．．收料盤

圖1係本發明實施例提供之光電透鏡檢測裝置之示意圖。

圖2係本發明實施例提供之光電透鏡檢測之流程圖。

下面將結合附圖對本技術方案實施方式作進一步之詳細說明。

請參閱圖1，為本技術方案提供之光電透鏡檢測裝置100。所述光電透鏡檢測裝置100用於檢測光電透鏡200之第一透鏡單元201及第二透鏡單元202之表面狀況。

光電透鏡200之相鄰表面分別凸設有第一透鏡單元201及第二透鏡單元202，所述第一透鏡單元201及第二透鏡單元202之光軸相垂直。本實施例中，第一透鏡單元201和第二透鏡單元202之橫截面為圓形，且所述圓形之直徑為250um。

所述光電透鏡檢測裝置100包括抓取部20、精密定位工作臺30、感測部40、檢測部50、放料部60、處理器70以及控制器80。

所述精密定位工作臺30（XY-Table）包括平臺31及與平臺31相連之滑動驅動件32。所述平臺31具有方形表面，定義所述方形表面相鄰兩邊所於之方向分別為XY軸方向，垂直於所述方形表面之方向為Z軸方向。以與所述平臺31表面共面之某一預定點為原點，以圖1中所示之X軸方向和Y軸方向為坐標軸方向建立直角坐標系，即所述平臺31表面之每個點均對應一個二維座標值，即所述平臺31表面之點之座標可以表示為（x,y）。所述滑動驅動件32用於驅動所述平臺31於X、Y方向移動。本實施例中，所述滑動驅動件32驅動所述精密定位工作臺30於X、Y方向移動之精度為2微米。

所述抓取部20包括機械手臂21及固定於機械手臂21一端之抓取頭22。所述機械手臂21與一驅動件23相連接，從而可使所述抓取頭22沿X、Y、Z軸方向移動及沿所述抓取頭22之軸向旋轉。所述抓取頭22用於抓取所述光電透鏡200。本實施例中，所述抓取頭22為一吸嘴，且所述抓取頭22與一氣泵（圖未示）相連。當然，所述抓取頭22亦可以直接於所述驅動件23之驅動下繞其中心軸相對於所述機械手臂21旋轉，此時設置所述抓取頭22藉由轉軸與所述機械手臂21相連，使所述抓取頭22可以相對所述機械手臂21旋轉；另，所述抓取頭22亦可以為抓爪等其他抓取部件。

所述感測部40包括第一圖像攝取裝置41及第二圖像攝取裝置42。所述第一圖像攝取裝置41固設於所述機械手臂21上並位於所述機械手臂21之下方。所述第一圖像攝取裝置41用於感測經過所述機械手臂21之下方之物件，並於感測到經過所述機械手臂21下方之物件時發出感測信號。所述第二圖像攝取裝置42用於攝取待測之所述光電透鏡200之圖像以獲取所述光電透鏡200上之所述第一及第二透鏡單元201、202之位置關係。所述第二圖像攝取裝置42固設於所述平臺31預設位置，且所述第二圖像攝取裝置42於平臺31上具有預定位置座標。

所述檢測部50包括第一檢測元件51及第二檢測元件52。所述第一檢測元件51及第二檢測元件52用於同時檢測待測之所述光電透鏡200之第一及第二透鏡單元201、202之表面狀況。所述第一檢測元件51對應於所述第一透鏡單元201，所述第二檢測元件52對應於所述第二透鏡單元202。本實施例中，所述第一檢測元件51包括一個第一圖像感測器511及搭載於所述第一圖像感測器511物側之第一物鏡512及第一變焦鏡頭513，所述第一圖像感測器511、第一物鏡512及第一變焦鏡頭513之光軸重合。所述第二檢測元件52包括一個第二圖像感測器521及搭載於所述第二圖像感測器521物側之第二物鏡522及第二變焦鏡頭523，所述第二圖像感測器521、第二物鏡522及第二變焦鏡頭523之光軸重合。所述第一物鏡512及第二物鏡522均為放大倍率為10倍之光學鏡頭，所述第一變焦鏡頭513及第二變焦鏡頭523均為放大倍率為10至40倍之變焦光學鏡頭，亦即所述第一物鏡512與第一變焦鏡頭513配合及所述第二物鏡522與第二變焦鏡頭523均可以達到100至400倍之光學放大倍率，從而可以清楚觀察直徑為250微米左右大小之第一及第二透鏡單元201和202。本實施例中，所述第一檢測元件51與所述第二檢測元件52之光軸相垂直。所述第一檢測元件51與所述第二檢測元件52均固設於所述平臺31預定位置，亦即所述第一檢測元件51與所述第二檢測元件52於平臺31上具有預定位置座標。

當然，所述第一及第二透鏡單元201，202之尺寸並不限於本案之250微米，其還可以為其他較小尺寸，如1000微米、500微米、150微米等，一般為百微米量級至毫米量級；如果所述第一及第二透鏡單元201，202之尺寸為其他，且調整所述第一變焦鏡頭513及第二變焦鏡頭523之放大倍率亦不能得到所述第一及第二透鏡單元201、202之清晰之影像，則，所述第一物鏡512及第二物鏡522則不限於放大倍率為10倍之光學鏡頭，所述第一變焦鏡頭513及第二變焦鏡頭523亦不限於放大倍率為10至40倍之變焦光學鏡頭，即可以根據所述第一及第二透鏡單元201，202之尺寸相應選用其他放大倍率之第一物鏡512、第二物鏡522、第一變焦鏡頭513及第二變焦鏡頭523。

所述放料部60包括來料盤61及收料盤62。所述來料盤61用於放置待檢測之光電透鏡200，所述來料盤61與一驅動器（圖未示）相連，從而可以於所述驅動器之驅動下移動。所述收料盤62用於放置檢測後之光電透鏡。本實施例中，所述收料盤62包括有複數分區，每個分區對應於不同之檢測結果之光電透鏡200，例如良品區及不良品之髒汙區、刮傷區、黑點區及白點區等。

所述處理器70與所述精密定位工作臺30、感測部40、檢測部50、放料部60以及控制器80均相連。所述處理器70用於獲取所述精密定位工作臺30、感測部40以及檢測部50回饋之資訊，並對所述資訊進行分析處理，以及將所述資訊之處理結果以指令之形式發出至控制器80。

所述控制器80與抓取部20、精密定位工作臺30、處理器70、感測部40、放料部60以及檢測部50均相連。所述控制器80用於根據從所述處理器70接收到之指令，控制所述抓取部20、精密定位工作臺30、感測部40以及檢測部50依照指令運作。

為對本實施例進行清楚描述，圖1中對光電透鏡200之大小與光電透鏡檢測裝置100之大小之比例關係進行了放大，於實際之光電透鏡200檢測過程中，並不以本實施例為限。

請參閱圖2，應用所述光電透鏡檢測裝置100對所述光電透鏡200檢測之方法包括如下步驟：

S1，抓取待測之所述光電透鏡200。

驅動所述機械手臂21至所述精密定位工作臺30之一側，驅動所述來料盤61相所述機械手臂21方向移動，當所述來料盤61移動至所述機械手臂21下方之預定位置時，被所述第一圖像攝取裝置41感測到，之後所述第一圖像攝取裝置41發出感測信號至所述處理器70，所述處理器70收到感測信號後發出停止之指令至控制器80，控制器80控制所述來料盤61停止移動，從而所述來料盤61停至所述機械手臂21下方之預定位置；之後驅動所述抓取部20沿Z軸下降抓取所述來料盤61上之其中一個待測之所述光電透鏡200，其中，被抓取之光電透鏡200之第一透鏡單元201遠離所述抓取部，即所述光電透鏡200遠離所述第一透鏡單元201之一側與所述抓取部20相對。

S2，驅動機械手臂21移動，帶動抓取頭22抓取之待測之所述光電透鏡200移動至所述第二圖像攝取裝置42之正上方，並驅動所述機械手臂21移動從而帶動抓取頭22沿Z軸移動，至使所述光電透鏡200之側面之所述第二透鏡單元202之光軸與所述第二檢測元件52位於同一水平面。

S3，利用第二圖像攝取裝置42和處理器70感測第二透鏡單元202之位置，並驅動所述機械手臂21帶動抓取頭22以Z軸方向為軸旋轉以調整待測之所述光電透鏡200第二透鏡單元202之位置，使所述第二透鏡單元202之光軸與所述第二檢測元件52之光軸平行，且使所述第二透鏡單元202之朝向與所述第二檢測元件52之朝向相反。

藉由所述第二圖像攝取裝置42對待測之所述光電透鏡200進行圖像攝取，並將攝取之圖像資訊回饋給所述處理器70，所述處理器70根據攝取圖像中所述第一及第二透鏡單元201、202之位置關係，並根據所述第一及第二檢測元件51、52之座標，判斷所述第二透鏡單元202之光軸與所述第二檢測元件52之光軸是否相平行，以及判斷所述第二透鏡單元202與所述第二檢測元件52之位置是否相對應，即所述第二透鏡單元202之朝向與所述第二檢測元件52之朝向是否相反；如果所述第二透鏡單元202之光軸與所述第二檢測元件52之光軸相平行，且所述第二透鏡單元202之朝向與所述第二檢測元件52之朝向相反，則進行下一步，如果所述第二透鏡單元202之光軸與所述第二檢測元件52之光軸不平行，且/或所述第二透鏡單元202之朝向與所述第二檢測元件52之朝向相同，則計算出所述光電透鏡200需要旋轉之角度以使所述第二透鏡單元202之朝向與所述第二檢測元件52之朝向相反且光軸平行，之後將所述需要旋轉之角度以指令之形式發出至所述控制器80，所述控制器80控制驅動所述抓取部20旋轉預定角度使待測之所述光電透鏡200之第二透鏡單元202之光軸與所述第二檢測元件52之光軸相平行，並使所述第二透鏡單元202朝向與所述第二檢測元件52之朝向相反。

S4，驅動所述機械手臂21移動從而帶動抓取頭22沿XY方向移動，使所述光電透鏡200之第一透鏡單元201移動至所述第一檢測元件51之正上方，並使所述光電透鏡200之第二透鏡單元202與所述第二檢測元件52正對。

即，使所述第一檢測元件51之光軸與所述第一透鏡單元201之光軸重合，使所述第二檢測元件52之光軸與所述第二透鏡單元202之光軸重合。

當然，亦可以驅動所述平臺31沿XY方向移動，從而使所述光電透鏡200之第一透鏡單元201位於所述第一檢測元件51之正上方，並使所述光電透鏡200之第二透鏡單元202與所述第二檢測元件52正對。

S5，藉由所述第一檢測元件51及第二檢測元件52攝取所述第一透鏡單元201及第二透鏡單元202之影像，並藉由對攝取之影像進行分析，得到第一透鏡單元201及第二透鏡單元202之表面狀況，從而得知所述光電透鏡200係良品還係不良品，以及如果係不良品，則分析不良品之類型。

調整所述第一變焦鏡頭513及第二變焦鏡頭523至可以得到所述第一透鏡單元201及第二透鏡單元202之清晰之影像，藉由所述第一檢測元件51及第二檢測元件52可以同時得到所述第一透鏡單元201及第二透鏡單元202之影像，並將所述影像回饋給所述處理器70，所述處理器70對所述影像進行影像分析並確定是否為良品以及不良品之類型，即，根據所述第一檢測元件51及第二檢測元件52獲取到之影像資訊進行分析，將所述第一透鏡單元201及所述第二透鏡單元202分為良品及不良品之髒汙、刮傷、黑點及白點等類別。

S6，根據步驟S5得出之已檢測之光電透鏡200之類別將檢測後之所述光電透鏡200移至所述收料盤62之相應分區內，完成對所述光電透鏡200之檢測及分類。

本實施例之光電透鏡檢測裝置100及檢測方法中之光電透鏡檢測裝置100可以自動對所述光電透鏡200之第一及第二透鏡單元201和202進行檢測，從而可以替代人工檢測，降低人力成本；並且光電透鏡檢測裝置100具有兩個感測元件及兩個檢測元件，其中一個圖像攝取裝置可以感測來料，另一圖像攝取裝置可以準確感測第一透鏡單元201和第二透鏡單元202之相對位置，從而可根據第一透鏡單元201和第二透鏡單元202之相對位置調整所述第二透鏡單元202與其對應之檢測元件光軸平行且朝向相反，兩個檢測元件可以同時對第一及第二透鏡單元201和202進行檢測，故，還能進一步提高檢測之準確性並減少檢測耗時。

惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

200．．．光電透鏡

201．．．第一透鏡單元

202．．．第二透鏡單元

100．．．光電透鏡檢測裝置

23．．．驅動件

20．．．抓取部

30．．．精密定位工作臺

40．．．感測部

50．．．檢測郚

60．．．放料部

70．．．處理器

80．．．控制器

21．．．機械手臂

22．．．抓取頭

31．．．平臺

32．．．滑動驅動件

41．．．第一圖像攝取裝置

42．．．第二圖像攝取裝置

51．．．第一檢測元件

52．．．第二檢測元件

511．．．第一圖像感測器

512．．．第一物鏡

513．．．第一變焦鏡頭

521．．．第二圖像感測器

522．．．第二物鏡

523．．．第二變焦鏡頭

61．．．來料盤

62．．．收料盤

Claims (10)

1. 一種光電透鏡檢測裝置，所述光電透鏡之相鄰表面分別凸設有第一透鏡單元及第二透鏡單元，所述光電透鏡檢測裝置包括第一檢測元件及第二檢測元件，所述第一檢測元件與所述第一透鏡單元相對應，所述第二檢測元件與所述第二透鏡單元相對應，所述第一檢測元件及第二檢測元件分別用於檢測所述光電透鏡之第一及第二透鏡單元之表面狀況；所述第一檢測元件包括一個第一圖像感測器及搭載於所述第一圖像感測器物側之第一物鏡及第一變焦鏡頭，所述第一圖像感測器、第一物鏡及第一變焦鏡頭之光軸重合；所述第二檢測元件包括一個第二圖像感測器及搭載於所述第二圖像感測器物側之第二物鏡及第二變焦鏡頭，所述第二圖像感測器、第二物鏡及第二變焦鏡頭之光軸重合。
2. 如請求項第1項所述之光電透鏡檢測裝置，其中，所述光電透鏡檢測裝置還包括抓取部，所述抓取部包括機械手臂、與機械手臂相連之抓取頭及驅動器，所述抓取頭用於抓取待檢測之光電透鏡，所述驅動器用於驅動所述抓取頭移動及旋轉。
3. 如請求項第2項所述之光電透鏡檢測裝置，其中，所述光電透鏡檢測裝置還包括第二圖像攝取裝置，所述第二圖像攝取裝置用於攝取待測之所述光電透鏡之圖像以獲取所述光電透鏡之第一及第二透鏡單元之位置關係。
4. 如請求項第3項所述之光電透鏡檢測裝置，其中，所述光電透鏡檢測裝置還包括精密定位工作臺及處理器；所述第一檢測元件、第二檢測元件及第二圖像攝取裝置均固設於所述精密定位工作臺預設位置，且於所述精密定位工作臺上具有預定位置座標；所述處理器用於根據從所述第二圖像攝取裝置獲取之所述光電透鏡之第一及第二透鏡單元之位置關係，以及所述第一及第二檢測元件之座標位置關係，判斷所述第二透鏡單元之光軸與所述第二檢測元件之光軸是否相平行以及朝向是否相反，以及計算所述光電透鏡需旋轉之角度以使所述第二透鏡單元之光軸與所述第二檢測元件之光軸是否相平行以及朝向相反，並用於發出相應旋轉角度指令至所述機械手臂之驅動器。
5. 如請求項第4項所述之光電透鏡檢測裝置，其中，所述精密定位工作臺包括平臺及與平臺相連之滑動驅動件，所述第一檢測元件及第二檢測元件固設於所述平臺上，所述滑動驅動件用於帶動所述平臺於與所述平臺表面平行之方向移動。
6. 如請求項第5項所述之光電透鏡檢測裝置，其中，所述光電透鏡檢測裝置還包括控制器，所述控制器用於根據所述處理器之指令控制所述驅動器驅動所述抓取頭移動及旋轉，及用於根據所述處理器之指令控制所述滑動驅動件帶動所述平臺於與所述平臺表面平行之方向移動。
7. 如請求項第1項所述之光電透鏡檢測裝置，其中，所述第一物鏡及所述第二物鏡均為放大倍率為10倍之光學鏡頭，所述第一變焦鏡頭及所述第二變焦鏡頭均為放大倍率為10至40倍之變焦光學鏡頭。
8. 一種光電透鏡檢測方法，包括步驟：
   提供如請求項第1項所述之光電透鏡檢測裝置；
   提供一待檢測之光電透鏡，其中所述光電透鏡之相鄰表面分別凸設有第一透鏡單元及第二透鏡單元；
   使所述第一檢測元件與所述第一透鏡單元相對設置且光軸重合，及使所述第二檢測元件與所述第二透鏡單元相對設置且光軸重合；
   調整所述第一變焦鏡頭及第二變焦鏡頭之放大倍率至可以得到所述第一透鏡單元及第二透鏡單元表面之清晰之影像；以及
   藉由所述第一檢測元件及第二檢測元件分別攝取所述第一透鏡單元及第二透鏡單元之影像，並分析所述影像從而得到所述第一透鏡單元及第二透鏡單元之表面狀況，從而完成對所述光電透鏡之檢測。
9. 如請求項第8項所述之光電透鏡檢測方法，其中，所述光電透鏡檢測裝置還包括第二圖像攝取裝置、抓取部及處理器，所述抓取部包括機械手臂、與機械手臂相連之抓取頭及驅動器，所述抓取頭用於抓取待檢測之光電透鏡，所述驅動器用於驅動所述抓取頭移動及旋轉；所述第二圖像攝取裝置用於攝取待測之所述光電透鏡之圖像以獲取所述光電透鏡之第一及第二透鏡單元之位置關係；使所述第一檢測元件與所述第一透鏡單元相對設置且光軸重合，及使所述第二檢測元件與所述第二透鏡單元相對設置且光軸重合之步驟包括：
   驅動機械手臂移動，帶動抓取頭抓取之所述光電透鏡移動至將所述光電透鏡移動至所述第二圖像攝取裝置之正上方，驅動所述機械手臂移動從而帶動抓取頭沿Z軸移動，至使所述光電透鏡之側面之所述第二透鏡單元之光軸與所述第二檢測元件位於同一水平面；
   藉由所述第二圖像攝取裝置對所述光電透鏡進行圖像攝取，並根據攝取圖像中所述第一及第二透鏡單元之位置關係，以及根據所述第一及第二檢測元件之座標，判斷所述第二透鏡單元之光軸與所述第二檢測元件之光軸是否相平行以及判斷所述第二透鏡單元之朝向與所述第二檢測元件之朝向是否相反；
   如果所述第二透鏡單元之光軸與所述第二檢測元件之光軸相平行，且所述第二透鏡單元之朝向與所述第二檢測元件之朝向相反，則驅動所述機械手臂移動從而帶動抓取頭沿XY方向移動，使所述光電透鏡之第一透鏡單元移動至所述第一檢測元件之正上方，並使所述光電透鏡之第二透鏡單元與所述第二檢測元件正對；
   否則，則藉由處理器計算出所述光電透鏡需要旋轉之角度以使所述第二透鏡單元之朝向與所述第二檢測元件之朝向相反且光軸平行，驅動所述抓取部旋轉預定角度使待測之所述光電透鏡之第二透鏡單元之光軸與所述第二檢測元件之光軸相平行，並使所述第二透鏡單元朝向與所述第二檢測元件之朝向相反，之後驅動所述機械手臂移動從而帶動抓取頭沿XY方向移動，使所述光電透鏡之第一透鏡單元移動至所述第一檢測元件之正上方，並使所述光電透鏡之第二透鏡單元與所述第二檢測元件正對。
10. 如請求項第9項所述之光電透鏡檢測方法，其中，所述光電透鏡檢測裝置還包括精密定位工作臺；所述第一檢測元件、第二檢測元件及第二圖像攝取裝置均固設於所述精密定位工作臺預設位置，且於所述精密定位工作臺上具有預定位置座標。