JP2571408B2

JP2571408B2 - 通信システムの試験方法

Info

Publication number: JP2571408B2
Application number: JP62312316A
Authority: JP
Inventors: 央西本
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1987-12-11
Filing date: 1987-12-11
Publication date: 1997-01-16
Anticipated expiration: 2012-01-16
Also published as: JPH01154660A

Description

【発明の詳細な説明】〔概要〕誤り率によりアイパターンの開口度の評価を行う通信
システムの試験方法に関し、簡単な手段でアイパターンの開口度の評価を行うこと
を目的とし、受信信号の識別を行う識別レベルを正弦波で変調し、
且つ識別位相を前記正弦波と位相差がπ/2の正弦波で変
調して、円又は楕円状に移動する識別点を形成し、この
識別点により受信信号を識別し、識別出力信号の誤り率
を測定するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、誤り率によりアイパターンの開口度の評価
を行う通信システムの試験方法に関するものである。

ディジタル通信システムに於いては、送信装置や受信
装置等を含めてそれぞれ所望の特性が得られるか否か試
験を行うものであり、各種の試験項目に対応した試験方
法が提案されている。このような通信システムの試験
は、簡単な操作で且つ信頼性が高いことが要望されてい
る。

〔従来の技術〕通信システムの試験項目としては、例えば、送信出力
レベル、変調特性、符号誤り率特性、アイパターン開口
度等がある。例えば、ディジタル光通信システムに於け
る光送信装置の変調特性については、その出力光信号を
アイパターン測定装置に入力し、所望のアイパターン開
口度が得られるか否かアイマスクを用いて試験する方法
が知られている。

又ディジタル光通信システムの光受信装置の受信能力
については、試験装置からの光信号レベルを減衰器等に
より変化させたり、又は干渉光信号を重畳して誤り率を
測定することにより試験を行う方法が知られている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

前述の従来の試験方法に於いて、例えば、アイマスク
を用いて変調特性を試験する方法は、アイパターン測定
装置に表示されたアイパターンを目視で観測するもので
あるから、比較的低い確率でアイパターンが劣化する変
調特性については見落とす欠点があった。

又光受信信号の受信能力の試験に於いては、干渉光信
号を重畳することにより、アイパターンを劣化させて誤
り率を測定することになるが、このアイパターンは、光
信号の消光比やデューティによってもその劣化量が変化
するものであり、又時間方向のアイ開口については評価
できず、従って、正確な試験を行うことが容易ではなか
った。

又伝送特性の試験として、誤り率を測定する場合は、
アイパターンと関連させたものではなく、アイパターン
の開口度を充分に把握することはできないものであっ
た。

本発明は、簡単な手段でアイパターンの開口度の評価
を行うことを目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の通信システムの試験方法は、アイパターンの
振幅方向と時間方向との識別位置を自動的に移動させて
開口度を評価するものであり、第１図を参照して説明す
る。

アイパターン１の開口度評価試験を行う通信システム
の試験方法に於いて、受信信号の識別を行う識別レベル
２を正弦波で変調し、且つ識別位相３を前記正弦波と位
相差がπ/2の正弦波で変調して、円又は楕円状に移動す
る識別点４を形成して、この識別点により受信信号の識
別を行い、識別出力信号を誤り測定器５に加えて誤り率
を測定するものである。

〔作用〕

識別レベル２を正弦波で変調することにより、その識
別レベル２は、範囲Ａ内を正弦波の周期に従って変化
し、又識別位相３を正弦波で変調することにより、その
識別位相３は、範囲Ｂ内を正弦波の周期に従って変化す
る。その場合にπ/2の位相差の正弦波で振幅変調するか
ら、合成された識別点４の軌跡は、円又は楕円状とな
る。この識別点４の移動方向は、正弦波の位相差の選定
により矢印方向又はその反対方向とすることができ、移
動速度は、正弦波の周波数に対応したものとなり、受信
信号の周波数に比較して充分に低い周波数が選定され
る。

この識別点４を用いて受信信号を識別し、その識別出
力信号を誤り測定器５に加えて、誤り率の測定を行うも
のであり、その誤り率が所望の誤り率以下であれば、ア
イパターンの開口度が所望の大きさであることが判る。
従って、所望の誤り率が得られる識別点４の軌跡（幅A,
B）により、アイパターン１の開口の大きさが判り、又
標準の識別点４の軌跡の場合の誤り率により、アイパタ
ーン１の開口が充分な大きさであるか否かが判ることに
なる。

〔実施例〕

以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説
明する。

第２図は本発明の実施例のブロック図であり、11は等
化増幅器、12は識別器、13はタイミング再生回路、14は
識別レベル変調回路、15は識別位相変調回路、16は正弦
波発振器、17は移相器、18は誤り測定器である。

受信信号ａは等化増幅器11により等化増幅され、等化
増幅出力信号ｂは識別器12とタイミング再生回路13とに
加えられる。タイミング再生回路13からビットタイミン
グ信号が再生され、識別位相信号ｃとして識別位相変調
回路15に加えられる。又ディジタル光通信システムに於
いては、光信号が電気信号に変換されて前述の受信信号
ａとなる。

又正弦波発振器16からの正弦波信号ｄが識別変調回路
14に加えられて、識別レベル信号ｆが振幅変調される。
又移相器17によりπ/2移相された正弦波信号ｅが識別位
相変調回路15に加えられて、識別位相信号ｃが変調され
る。即ち、識別タイミング位相が正弦波信号ｅに従って
周期的に変化される。

識別器12には、変調識別レベル信号ｇと変調識別位相
信号ｈとが加えられ、それらの信号g,hは直交関係にあ
るから、合成された識別点は第１図に示すように円又は
楕円状に移動するものとなる。等化増幅出力信号ｂは、
変化する識別点によって識別され、論理“1",“0"の識
別出力信号ｉは誤り測定器18に加えられて、誤り率が測
定される。

アイパターン１の開口の中心に識別レベル２及び識別
位相３を設定し、且つ正弦波信号d,eの振幅を選定する
ことにより、第１図に於ける識別レベル２の変化の幅Ａ
及び識別位相２の変化の幅Ｂを定めることができるか
ら、それらの幅A,Bを設定して所望の誤り率以下となる
アイパターン１の開口度を試験することができる。

例えば、正弦波信号d,eの振幅を大きく設定して、幅
A,Bを大きくしても、所望の誤り率が得られる場合は、
アイパターン１の開口度が大きいことになり、反対に、
正弦波信号d,eの振幅を小さく設定して、幅A,Bを小さく
しないと、所望の誤り率が得られない場合は、アイパタ
ーン１の開口度が小さいことが判る。

又アイパターン１の開口の中心に対して、識別点４の
軌跡の中心を偏倚させて試験することも可能である。即
ち、識別レベル２を上或いは下に設定すると、それに対
応して識別点４の軌跡の中心は上或いは下に移動するこ
とになる。同様に、識別位相３を右或いは左に設定する
と、それに対応して識別点４の軌跡の中心は右或いは左
に移動することになる。例えば、識別位相３を左側に偏
倚して、所望の誤り率が得られる識別位相の遅れの限度
を試験することも可能となる。

第３図は本発明の実施例の試験接続説明図であり、
（Ａ）は送信装置21の変調特性を試験する場合を示し、
送信装置21に試験装置22を接続する。この試験装置22
は、例えば、第２図に示す構成を有するものであり、送
信装置21の出力信号を直接或いは減衰器を介して試験装
置22に入力し、前述のように、所望のアイパターンの開
口度が得られているか否か試験する。

この場合、比較的低い確率のアイパターンの劣化が生
じる変調特性の場合でも、誤り率測定により見つけるこ
とができるから、送信装置21の変調器の異常等を検出す
ることができる。又光信号を送出する光送信装置の場合
は、試験装置22側に光信号を電気信号に変換する受光素
子等を設ければ良いことになる。

又（Ｂ）は伝送特性の試験を行う場合を示し、送信装
置21の出力信号を伝送路23を介して試験装置22に入力
し、所望の誤り率以下となるアイパターンの開口度が得
られるか否か試験するものであり、前述の誤り率特性試
験のように、送信装置21から擬似ランダムパターンの試
験信号を送出し、試験装置22では、第２図に於ける識別
器12に於いて移動する識別点で識別し、その識別出力信
号を擬似ランダムパターンと比較して誤り率を求めるこ
とになる。そして、所定の幅A,Bの軌跡となる識別点４
で識別した時の誤り率が所望の値以下となれば、アイパ
ターンの開口度が所望の大きさであると判定することに
なる。

又（Ｃ）は中継器24を含む試験を行う場合を示し、中
継器24の受信部24Aに試験装置22Aを接続し、送信装置21
からの試験信号を伝送路23Aを介して中継器24の受信部2
4Aに入力し、受信部24Aの識別再生を行う為の識別器の
入力信号を試験装置22Aに入力して、前述のような誤り
率測定を行い、アイパターンの開口度が所望の大きさで
あるか否か誤り率で評価するものである。

又中継器24の受信部24Aで受信した試験信号を送信部2
4Bから伝送路23Bを介して試験装置22Bに伝送し、この試
験装置22Bにより前述と同様に誤り率測定を行って、ア
イパターンの開口度が所望の大きさであるか否か誤り率
で評価するものである。

又（Ｄ）は受信装置26の試験を行う場合を示し、試験
装置25からの試験信号のレベルを調整して受信装置26に
入力し、受信装置26の識別器の入力信号について試験装
置25で前述の誤り率測定によるアイパターン開口度の評
価を行うものであり、又受信装置26の受信識別出力信号
を試験装置25の誤り測定器に加えて誤り率を測定して試
験する。この場合の試験装置25は試験信号を出力する構
成を試験装置22に付加した構成となる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、識別レベル２と識別
位相３とをそれぞれπ/2の位相差の正弦波で変調して、
円又は楕円状に移動する識別点４を形成し、この識別点
４により受信信号を識別した識別出力信号の誤り率を測
定するものであり、識別レベル２と識別位相３との変化
範囲を大きくしても、所望の誤り率が得られる場合は、
アイパターン１の開口度が大きいと判定されるから、誤
り率でアイパターン１の開口度を評価することができ
る。従って、このアイパターン１の開口度評価試験を用
いて通信システムの各部の試験を簡単な操作で行うこと
ができる。

又アイパターン１の開口の振幅方向と時間方向とにつ
いて独立的に試験を行うことができる。即ち、識別レベ
ル２とそれを変調する正弦波とを設定して振幅方向につ
いての開口度評価を行い、これとは独立的に、識別位相
３とそれを変調する正弦波とを設定して時間方向につい
ての開口度評価を行うことできる。従って、信号レベル
による特性の変化は勿論、遅延特性等による特性の変化
についても試験を行うことができることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、第２図は本発明の実施例
のブロック図、第３図（Ａ）〜（Ｄ）は本発明の実施例
の試験接続説明図である。１はアイパターン、２は識別レベル、３は識別位相、４
は識別点、５は誤り測定器、11は等化増幅器、12は識別
器、13はタイミング再生回路、14は識別レベル変調回
路、15は識別位相変調回路、16は正弦波発振器、17は移
相器、18は誤り測定器である。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】アイパターン（１）の開口度評価試験を行
う通信システムの試験方法に於いて、受信信号の識別を行う識別レベル（２）を正弦波で変調
し、且つ識別位相（３）を前記正弦波と位相差がπ/2の
正弦波で変調して、円又は楕円状に移動する識別点
（４）を形成し、該識別点（４）により前記受信信号を
識別し、識別出力信号の誤り率を測定することを特徴とする通信システムの試験方法。