JP2510003B2 - フェ―ジングシミュレ―タ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法 - Google Patents
フェ―ジングシミュレ―タ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法Info
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- JP2510003B2 JP2510003B2 JP1083635A JP8363589A JP2510003B2 JP 2510003 B2 JP2510003 B2 JP 2510003B2 JP 1083635 A JP1083635 A JP 1083635A JP 8363589 A JP8363589 A JP 8363589A JP 2510003 B2 JP2510003 B2 JP 2510003B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、送信装置から送出された一つの信号が伝播
定数が異なる複数の伝播路を通過することにより、受信
装置で受信したときに２つの信号の干渉により発生する
フェージング現象を擬似的に発生させるフェージングシ
ミュレータ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設
定する方法に関する。
定数が異なる複数の伝播路を通過することにより、受信
装置で受信したときに２つの信号の干渉により発生する
フェージング現象を擬似的に発生させるフェージングシ
ミュレータ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設
定する方法に関する。
［従来の技術］ 各種データを例えば１〜20G Hzのマイクロ波を利用し
て長距離伝送する場合は一般に第４図に示すような一対
のアンテナ1a,1bを対向配置して、送信装置２から出力
された信号を送信側のアンテナ1aから無線出力し、受信
側のアンテナ1bを介して受信装置３を受信する。この場
合、アンテナ1a,1bは目視で互いに対向配置されている
ので、アンテナ1aから放射された電波は直接アンテナ1b
へ入力されるが、何等かの条件によって地上で反射した
り、回折が生じた状態で受信側のアンテナ1bに入力する
場合もある。この場合、直接波の伝播路4aと反射波の伝
播路4bとの二つの伝播路が生じる。各伝播路4a,4bにお
ける伝播経路長が異なるために、受信装置３で各電波を
受信した場合における各伝播路4a,4bを伝播する信号Ao,
Ar相互間に遅延時間τおよび位相差φが発生する。した
がって、各伝播路4a,4bを経由する信号Ao,Arを（１），
（２）式で示すことができる。
て長距離伝送する場合は一般に第４図に示すような一対
のアンテナ1a,1bを対向配置して、送信装置２から出力
された信号を送信側のアンテナ1aから無線出力し、受信
側のアンテナ1bを介して受信装置３を受信する。この場
合、アンテナ1a,1bは目視で互いに対向配置されている
ので、アンテナ1aから放射された電波は直接アンテナ1b
へ入力されるが、何等かの条件によって地上で反射した
り、回折が生じた状態で受信側のアンテナ1bに入力する
場合もある。この場合、直接波の伝播路4aと反射波の伝
播路4bとの二つの伝播路が生じる。各伝播路4a,4bにお
ける伝播経路長が異なるために、受信装置３で各電波を
受信した場合における各伝播路4a,4bを伝播する信号Ao,
Ar相互間に遅延時間τおよび位相差φが発生する。した
がって、各伝播路4a,4bを経由する信号Ao,Arを（１），
（２）式で示すことができる。
Ao＝aOexp［ｊωｔ］ …（１） Ar＝aRexp［ｊ｛ω（ｔ＋τ）＋φ｝］ …（２） よって、各信号Ao,Arを合成した信号Atは At＝Ao＋Ar ＝aO［exp（ｊωｔ）＋（aR／aO）exp｛ｊω（ｔ＋
τ）＋ｊφ｝］ …（３） なお、aO＞aRの状態をミニマムフェージングと言い、aO
＜aRの状態を非ミニマムフェージングと言う。この合成
信号Atの振幅特性ABS（At）は直接波の信号Aoで標準化
すると、 但しρ＝aR／aO 又はaO／aR，（ρ≦１） θ＝ωτ＋φ さらに、Δω＝２πΔf,Δｆ＝ｆ−Fpとして、上記振
幅特性をdB表示すると、（５）式となる。
τ）＋ｊφ｝］ …（３） なお、aO＞aRの状態をミニマムフェージングと言い、aO
＜aRの状態を非ミニマムフェージングと言う。この合成
信号Atの振幅特性ABS（At）は直接波の信号Aoで標準化
すると、 但しρ＝aR／aO 又はaO／aR，（ρ≦１） θ＝ωτ＋φ さらに、Δω＝２πΔf,Δｆ＝ｆ−Fpとして、上記振
幅特性をdB表示すると、（５）式となる。
At（dB）＝10log［１＋ρ2−２ρ cos（Δωτ）］…
（５） この（５）式を、横軸を周波数ｆ（＝ω/2π）として
表示すると第５図に示すように、ある特定周波数Fpで振
幅が急激に低下する。またこの周波数Fpで位相が180°
転換する。すなわち、受信装置３で各信号Ao,Arを合成
するとフェージング現象が生じる。
（５） この（５）式を、横軸を周波数ｆ（＝ω/2π）として
表示すると第５図に示すように、ある特定周波数Fpで振
幅が急激に低下する。またこの周波数Fpで位相が180°
転換する。すなわち、受信装置３で各信号Ao,Arを合成
するとフェージング現象が生じる。
したがって、受信装置３においては、上述したフェー
ジング現象が生じたとしても正常に信号を取出す機能が
要求される。
ジング現象が生じたとしても正常に信号を取出す機能が
要求される。
この受信装置３におけるフェージング現象を除去して
正常な信号を取出す機能を定量的に試験する装置として
フェージングシミュレータが用いられる。
正常な信号を取出す機能を定量的に試験する装置として
フェージングシミュレータが用いられる。
このフェージングシミュレータは第５図に示した周波
数特性を有する伝播路を擬似的に作成して、受信装置３
に入力する信号を加工する。すなわち、第５図の特定周
波数をノッチ周波数Fpと言い、ノッチ周波数Fpにおける
受信レベルの基準レベルからの減衰量をノッチ深さDpと
言うが、このノッチ周波数Fpとノッチ深さDpを忠実に再
現すればよい。
数特性を有する伝播路を擬似的に作成して、受信装置３
に入力する信号を加工する。すなわち、第５図の特定周
波数をノッチ周波数Fpと言い、ノッチ周波数Fpにおける
受信レベルの基準レベルからの減衰量をノッチ深さDpと
言うが、このノッチ周波数Fpとノッチ深さDpを忠実に再
現すればよい。
具体的には第６図に示すように、入力端子５から入力
した試験信号を分離回路６で前記第４図の各伝播路4a,4
bに相当する２本の伝播路7a,7bに分割して、一方の伝播
路7aは直接合成回路８に入力され、他方の伝播路7bに
は、遅延回路9,移相回路10および減衰回路11が介挿され
ている。そして、合成回路８で直接波の信号Aoと遅延回
路9,移相回路10および減衰回路11を介して擬似的に作成
された反射波の信号Arとが合成されて、出力端子12から
出力される。すなわち、上記遅延回路9,移相回路10およ
び減衰回路11の各遅延時間τ，位相差φ，減衰量ρ等か
らなる伝播定数を変化させることによって、任意のノッ
チ周波数Fpおよびノッチ深さDpを得ることができる。
した試験信号を分離回路６で前記第４図の各伝播路4a,4
bに相当する２本の伝播路7a,7bに分割して、一方の伝播
路7aは直接合成回路８に入力され、他方の伝播路7bに
は、遅延回路9,移相回路10および減衰回路11が介挿され
ている。そして、合成回路８で直接波の信号Aoと遅延回
路9,移相回路10および減衰回路11を介して擬似的に作成
された反射波の信号Arとが合成されて、出力端子12から
出力される。すなわち、上記遅延回路9,移相回路10およ
び減衰回路11の各遅延時間τ，位相差φ，減衰量ρ等か
らなる伝播定数を変化させることによって、任意のノッ
チ周波数Fpおよびノッチ深さDpを得ることができる。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、第６図に示したフェージングシミュレ
ータにおいてもまだ次のような問題があった。すなわ
ち、フェージングシミュレータの性能は、上記ノッチ周
波数Fpとノッチ深さDpとをいかに正確に与えることがで
きるかで定まる。通常必要とされるノッチ深さDpの値
は、０〜40dBもの広い範囲であるので、例えばDp＝40dB
とした場合には、（４）式における減衰量ρはρ＝0.99
となる。したがって、この減衰量ρを正確に与えること
は、この伝播路7bに挿入された遅延回路９や移相回路10
における減衰量等も加味されるために、たとえ減衰回路
11だけて上記精度を維持しても無駄であるので、非常に
困難である。よって、フェージングシミュレータの性能
にも一定の限界が生じることになる。
ータにおいてもまだ次のような問題があった。すなわ
ち、フェージングシミュレータの性能は、上記ノッチ周
波数Fpとノッチ深さDpとをいかに正確に与えることがで
きるかで定まる。通常必要とされるノッチ深さDpの値
は、０〜40dBもの広い範囲であるので、例えばDp＝40dB
とした場合には、（４）式における減衰量ρはρ＝0.99
となる。したがって、この減衰量ρを正確に与えること
は、この伝播路7bに挿入された遅延回路９や移相回路10
における減衰量等も加味されるために、たとえ減衰回路
11だけて上記精度を維持しても無駄であるので、非常に
困難である。よって、フェージングシミュレータの性能
にも一定の限界が生じることになる。
このような不都合を解消するために、第７図に示すよ
うなパイロット信号を用いて減衰量を制御する干渉擬似
試験装置が提唱されている（特開昭60−236529号公
報）。すなわち、入力端子５から入力される試験信号に
合成回路13でもってパイロット信号発生器14から出力さ
れる設定すべきノッチ周波数Fpを有するパイロット信号
を合成して、合成された信号を分離回路６で分離する。
そして、一方を直接合成回路８へ入力し、他方を遅延回
路９および複素減衰器15を介して合成回路８へ入力させ
る。そして、この合成回路８の出力信号を分離回路16で
パイロット信号の成分のみを検出したのち、出力端子12
へ送出する。そして、この分離回路16で検出されたパイ
ロット信号成分を複素相関回路17へ印加する。この複素
相関回路17は複素減衰器15の複素減衰値を分離回路16で
検出されるパイロット信号成分が零になるように制御す
る。すなわち、複素減衰器15,合成回路8,分離回路16,複
素相関回路17で一種の帰還回路を形成して、出力端子12
に出力されるパイロット信号成分を打消すことにより、
結果として、ノッチ周波数Fpで大きなノッチ深さDpを得
るものである。
うなパイロット信号を用いて減衰量を制御する干渉擬似
試験装置が提唱されている（特開昭60−236529号公
報）。すなわち、入力端子５から入力される試験信号に
合成回路13でもってパイロット信号発生器14から出力さ
れる設定すべきノッチ周波数Fpを有するパイロット信号
を合成して、合成された信号を分離回路６で分離する。
そして、一方を直接合成回路８へ入力し、他方を遅延回
路９および複素減衰器15を介して合成回路８へ入力させ
る。そして、この合成回路８の出力信号を分離回路16で
パイロット信号の成分のみを検出したのち、出力端子12
へ送出する。そして、この分離回路16で検出されたパイ
ロット信号成分を複素相関回路17へ印加する。この複素
相関回路17は複素減衰器15の複素減衰値を分離回路16で
検出されるパイロット信号成分が零になるように制御す
る。すなわち、複素減衰器15,合成回路8,分離回路16,複
素相関回路17で一種の帰還回路を形成して、出力端子12
に出力されるパイロット信号成分を打消すことにより、
結果として、ノッチ周波数Fpで大きなノッチ深さDpを得
るものである。
しかし、第７図のように、試験信号を入力している状
態で常時パイロット信号を入力する装置においては、前
記帰還回路でパイロット信号成分を完全に除去できない
問題がある。よって、パイロット信号が出力端子12から
出てくる懸念がある。
態で常時パイロット信号を入力する装置においては、前
記帰還回路でパイロット信号成分を完全に除去できない
問題がある。よって、パイロット信号が出力端子12から
出てくる懸念がある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであ
り、校正信号を用いて伝播路の各伝播定数に対する各ノ
ッチ周波数およびノッチ深さを校正データとして予め測
定、記憶しておくことにより、この記憶された校正デー
タを用いて、目標とするノッチ周波数およびノッチ深さ
を正確に設定でき、シミュレータとしての性能を大幅に
向上できるフェージングシミュレータ及びそれによって
試験信号の擬似伝播路を設定する方法を提供することを
目的とする。
り、校正信号を用いて伝播路の各伝播定数に対する各ノ
ッチ周波数およびノッチ深さを校正データとして予め測
定、記憶しておくことにより、この記憶された校正デー
タを用いて、目標とするノッチ周波数およびノッチ深さ
を正確に設定でき、シミュレータとしての性能を大幅に
向上できるフェージングシミュレータ及びそれによって
試験信号の擬似伝播路を設定する方法を提供することを
目的とする。
［課題を解決するための手段］ 上記課題を解消するために本発明においては、入力端
子を介して入力された試験信号を一対の試験信号に分岐
する分離回路と、この分離回路で分岐された各試験信号
を伝播させる一対の伝播路と、この各伝播路を伝播した
各試験信号を合成する合成回路と、一対の伝播路の一方
の伝播路に介挿された移相回路，遅延回路及び減衰回路
とからなり、合成回路の出力信号に擬似フェージング現
象を生じさせるフェージングシミュレータにおいて、 試験信号における所望の周波数範囲に亘る校正信号を
出力する校正信号発生回路と、入力端子と分離回路との
間に介挿され、この分離回路への入力信号を試験信号又
は校正信号に切換える切換スイッチと、合成回路の出力
信号を検出するレベル検出器と、切換スイッチを校正信
号側に切換えた後に移相回路及び減衰回路の各伝播定数
を変化させて、そのときのレベル検出器の出力を得ると
ともに、その値に基づいて得られる減衰量及び校正信号
の周波数からフエージング現象のノッチ周波数及びノッ
チ深さを算出する制御部と、この制御部で算出された各
伝播定数における各ノッチ周波数及び各ノッチ深さを校
正データとして記憶する校正データメモリとを備えたも
のである。
子を介して入力された試験信号を一対の試験信号に分岐
する分離回路と、この分離回路で分岐された各試験信号
を伝播させる一対の伝播路と、この各伝播路を伝播した
各試験信号を合成する合成回路と、一対の伝播路の一方
の伝播路に介挿された移相回路，遅延回路及び減衰回路
とからなり、合成回路の出力信号に擬似フェージング現
象を生じさせるフェージングシミュレータにおいて、 試験信号における所望の周波数範囲に亘る校正信号を
出力する校正信号発生回路と、入力端子と分離回路との
間に介挿され、この分離回路への入力信号を試験信号又
は校正信号に切換える切換スイッチと、合成回路の出力
信号を検出するレベル検出器と、切換スイッチを校正信
号側に切換えた後に移相回路及び減衰回路の各伝播定数
を変化させて、そのときのレベル検出器の出力を得ると
ともに、その値に基づいて得られる減衰量及び校正信号
の周波数からフエージング現象のノッチ周波数及びノッ
チ深さを算出する制御部と、この制御部で算出された各
伝播定数における各ノッチ周波数及び各ノッチ深さを校
正データとして記憶する校正データメモリとを備えたも
のである。
また、他の発明は、校正信号発生回路、分離回路、伝
搬定数が設定可能な伝播路、合成回路及びレベル検出器
とを備え、レベル検出器の出力を受けてフエージング現
象の各ノッチ周波数及び各ノッチ深さと伝播路の各伝播
定数との関係を記憶する校正データメモリを有するフェ
ージングシミュレータによって試験信号の擬似伝播路を
設定する方法である。
搬定数が設定可能な伝播路、合成回路及びレベル検出器
とを備え、レベル検出器の出力を受けてフエージング現
象の各ノッチ周波数及び各ノッチ深さと伝播路の各伝播
定数との関係を記憶する校正データメモリを有するフェ
ージングシミュレータによって試験信号の擬似伝播路を
設定する方法である。
そして、この方法においては、校正信号発生回路の校
正信号を分離回路の入力端に入力して、この校正信号の
周波数を、試験信号における所望の所望の周波数範囲に
亘って掃引するとともに、伝播定数を変化させる段階
と、レベル検出器の出力及び校正信号の周波数に基づい
て得られる伝播路のノッチ周波数及びノッチ深さと、こ
のノッチ周波数及びノッチ深さが得られるときの伝播定
数との関係を校正データメモリに記憶させる段階と、所
望のノッチ周波数とノッチ深さに対応した伝播定数を校
正データメモリから読出して前記伝播路の伝播定数を設
定する段階とを有している。
正信号を分離回路の入力端に入力して、この校正信号の
周波数を、試験信号における所望の所望の周波数範囲に
亘って掃引するとともに、伝播定数を変化させる段階
と、レベル検出器の出力及び校正信号の周波数に基づい
て得られる伝播路のノッチ周波数及びノッチ深さと、こ
のノッチ周波数及びノッチ深さが得られるときの伝播定
数との関係を校正データメモリに記憶させる段階と、所
望のノッチ周波数とノッチ深さに対応した伝播定数を校
正データメモリから読出して前記伝播路の伝播定数を設
定する段階とを有している。
［作用］ このように構成されたフェージングシミュレータ及び
それによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法によ
れば、実際に試験信号を入力して受信装置に対するフェ
ージングシミュレーション試験を実行するまえに、切換
スイッチを校正信号側に切換える。そして、伝播路の伝
播定数を設定した状態で校正信号の周波数を連続的に変
化させて、各周波数における減衰量をレベル検出器から
得る。したがって、この各周波数における減衰量特性か
ら該当伝播定数におけるノッチ周波数およびノッチ深さ
が得られる。そして、各伝播定数における各ノッチ周波
数およびノッチ深さを校正データとして校正データメモ
リに記憶しておく。
それによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法によ
れば、実際に試験信号を入力して受信装置に対するフェ
ージングシミュレーション試験を実行するまえに、切換
スイッチを校正信号側に切換える。そして、伝播路の伝
播定数を設定した状態で校正信号の周波数を連続的に変
化させて、各周波数における減衰量をレベル検出器から
得る。したがって、この各周波数における減衰量特性か
ら該当伝播定数におけるノッチ周波数およびノッチ深さ
が得られる。そして、各伝播定数における各ノッチ周波
数およびノッチ深さを校正データとして校正データメモ
リに記憶しておく。
そして、実際の試験時には必要とするノッチ周波数お
よびノッチ深さに対応する伝播定数を校正データメモリ
から読出して設定することにより、実際の試験時に校正
信号を印加する必要がなく、かつ正確にノッチ周波数お
よびノッチ深さが設定できる。
よびノッチ深さに対応する伝播定数を校正データメモリ
から読出して設定することにより、実際の試験時に校正
信号を印加する必要がなく、かつ正確にノッチ周波数お
よびノッチ深さが設定できる。
［実施例］ 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第１図は実施例のフェージングシミュレータを示すブ
ロック図である。入力端子21を介して入力された試験信
号は切換スイッチ22を介して分離回路24で直接波に対応
する信号Aoと反射波に対応する信号Arとに分割され、信
号Aoは伝播路25aを介して合成回路26へ入力され、信号A
rは伝播路25bを介して同じく合成回路26へ入力される。
伝播路25aには非ミニマムフェージング状態時の減衰量
を設定するための減衰回路27のみが介挿されているが、
伝播路25bには移相回路28,遅延回路29,減衰回路30,およ
びミニマムフェージング状態時の減衰量を設定するため
の減衰回路31が介挿されている。前記移相回路28,遅延
回路29,減衰回路30の各位相差φ，遅延時間τ，減衰量
ρはそれぞれD/A変換器28a,29a,30aを介して例えばマイ
クロコンピュータで構成された制御部32から設定され
る。また、各減衰回路27,31の減衰量も各D/A変換器27a,
31aを介して制御部32から設定される。なお、各減衰回
路27,31の減衰量はフェージング特性に対する校正動作
中においては一定値に制御される。
ロック図である。入力端子21を介して入力された試験信
号は切換スイッチ22を介して分離回路24で直接波に対応
する信号Aoと反射波に対応する信号Arとに分割され、信
号Aoは伝播路25aを介して合成回路26へ入力され、信号A
rは伝播路25bを介して同じく合成回路26へ入力される。
伝播路25aには非ミニマムフェージング状態時の減衰量
を設定するための減衰回路27のみが介挿されているが、
伝播路25bには移相回路28,遅延回路29,減衰回路30,およ
びミニマムフェージング状態時の減衰量を設定するため
の減衰回路31が介挿されている。前記移相回路28,遅延
回路29,減衰回路30の各位相差φ，遅延時間τ，減衰量
ρはそれぞれD/A変換器28a,29a,30aを介して例えばマイ
クロコンピュータで構成された制御部32から設定され
る。また、各減衰回路27,31の減衰量も各D/A変換器27a,
31aを介して制御部32から設定される。なお、各減衰回
路27,31の減衰量はフェージング特性に対する校正動作
中においては一定値に制御される。
前記合成回路26の出力信号Atは試験対象としての例え
ば第４図に示した受信装置３に接続される出力端子33へ
送出されるとともにレベル検出器34へ入力される。この
レベル検出器34は出力信号Atのレベルを検出し、検出さ
れたレベル値はA/D変換器34aでデジタル値に変換された
のち制御部32へ入力される。
ば第４図に示した受信装置３に接続される出力端子33へ
送出されるとともにレベル検出器34へ入力される。この
レベル検出器34は出力信号Atのレベルを検出し、検出さ
れたレベル値はA/D変換器34aでデジタル値に変換された
のち制御部32へ入力される。
また、前記切換スイッチ22のもう一方の端子には校正
信号発生回路35から出力される校正信号が印加される。
この校正信号発生回路35は水晶発振器等の基準周波数を
発生する回路と、この基準周波数から種々の周波数を得
るシンセサイザとで構成されており、入力端子21に印加
される試験信号の全周波数範囲を例えば10k Hz間隔等の
非常に狭いステップで順次変化（掃引）させることが可
能である。そして、この校正信号発生回路35および切換
スイッチ22は前記制御部32にて制御される。
信号発生回路35から出力される校正信号が印加される。
この校正信号発生回路35は水晶発振器等の基準周波数を
発生する回路と、この基準周波数から種々の周波数を得
るシンセサイザとで構成されており、入力端子21に印加
される試験信号の全周波数範囲を例えば10k Hz間隔等の
非常に狭いステップで順次変化（掃引）させることが可
能である。そして、この校正信号発生回路35および切換
スイッチ22は前記制御部32にて制御される。
制御部32においては、図示するように、伝播定数設定
手段32a,減衰量測定制御手段32b,フェージング特性読取
手段32c,試験実行手段32e等が例えば制御プログラムやR
AM等の記憶素子で形成されている。
手段32a,減衰量測定制御手段32b,フェージング特性読取
手段32c,試験実行手段32e等が例えば制御プログラムやR
AM等の記憶素子で形成されている。
伝播定数設定手段32aは、各D/A変換器28a,29a,30a,31
a,27aを介して移相回路28,遅延回路29,減衰回路30に対
して位相差φ，遅延時間τ，減衰量ρ等からなる伝播定
数および各減衰回路31,27に対する固定減衰量を設定す
る。また、減衰量測定制御手段32bは、切換スイッチ22
を校正信号側に設定し、校正信号発生回路35を制御して
校正信号の周波数を例えば10k Hz毎で変化させた状態に
おいて、前記10k Hz毎の各周波数における出力信号Atの
信号レベルをレベル検出器34を介して読取る。
a,27aを介して移相回路28,遅延回路29,減衰回路30に対
して位相差φ，遅延時間τ，減衰量ρ等からなる伝播定
数および各減衰回路31,27に対する固定減衰量を設定す
る。また、減衰量測定制御手段32bは、切換スイッチ22
を校正信号側に設定し、校正信号発生回路35を制御して
校正信号の周波数を例えば10k Hz毎で変化させた状態に
おいて、前記10k Hz毎の各周波数における出力信号Atの
信号レベルをレベル検出器34を介して読取る。
次に、フェージング特性読取手段32cは、減衰量測定
制御手段32bから得られる周波数の情報と各周波数にお
けるレベル値Atと伝播定数設定手段32aに設定している
伝播定数を用いて、該当伝播定数φ，τ，ρにおけるノ
ッチ周波数Fp,ノッチ深さDpを求める。
制御手段32bから得られる周波数の情報と各周波数にお
けるレベル値Atと伝播定数設定手段32aに設定している
伝播定数を用いて、該当伝播定数φ，τ，ρにおけるノ
ッチ周波数Fp,ノッチ深さDpを求める。
具体的には、前記減衰量測定制御手段32bにて10k Hz
間隔で順次読取った各出力信号Atが最小となる点の周波
数をノッチ周波数Fpとする。また、そのノッチ周波数Fp
での減衰量をノッチ深さDpとする。すなわち、ノッチ深
さDpは、このノッチ深さを仮に0dBに設定した場合と、
このノッチ深さを必要な深さに設定した場合との間のデ
シベル差で示される。
間隔で順次読取った各出力信号Atが最小となる点の周波
数をノッチ周波数Fpとする。また、そのノッチ周波数Fp
での減衰量をノッチ深さDpとする。すなわち、ノッチ深
さDpは、このノッチ深さを仮に0dBに設定した場合と、
このノッチ深さを必要な深さに設定した場合との間のデ
シベル差で示される。
校正データメモリ32dは、第２図に示すように、フェ
ージング特性読取手段32cにて得られた各伝播定数毎の
ノッチ周波数Fpとノッチ深さDpからなる特性値を記憶す
る領域が形成されている。
ージング特性読取手段32cにて得られた各伝播定数毎の
ノッチ周波数Fpとノッチ深さDpからなる特性値を記憶す
る領域が形成されている。
試験実行手段32eは、前記校正データメモリ32dに各伝
播定数における各特性値が格納された状態で、実際に受
信装置３に対するフェージング試験を実施することを示
し、切換スイッチ22を試験信号側に設定し、必要とする
ノッチ周波数Fp,ノッチ深さDpに対応する位相角φ，遅
延時間τ，減衰量ρの伝播定数を読出して、伝播定数設
定手段32aを介して移相回路28,遅延回路29,減衰回路30
に設定する。そして、合成回路26からの出力信号Atに、
指定されたノッチ周波数Fpおよびノッチ深さDpを有する
擬似的なフェージング現象を生じさせる。
播定数における各特性値が格納された状態で、実際に受
信装置３に対するフェージング試験を実施することを示
し、切換スイッチ22を試験信号側に設定し、必要とする
ノッチ周波数Fp,ノッチ深さDpに対応する位相角φ，遅
延時間τ，減衰量ρの伝播定数を読出して、伝播定数設
定手段32aを介して移相回路28,遅延回路29,減衰回路30
に設定する。そして、合成回路26からの出力信号Atに、
指定されたノッチ周波数Fpおよびノッチ深さDpを有する
擬似的なフェージング現象を生じさせる。
つぎに、制御部32において、各伝播定数における各ノ
ッチ周波数Fpおよびノッチ深さDpを求めて校正データメ
モリ32dへ設定する校正処理の手順を第３図の流れ図を
用いて説明する。まず、操作パネル等から校正指令が入
力されると、Ｓ（ステップ）１にて切換スイッチ22を校
正信号側へ切換える。そして、S2にて伝播定数設定手段
23aにて各回路28,29,30に対する一つの伝播定数φ，
τ，ρを設定する。そして、校正信号周波数ｆを全測定
範囲に亘り掃引する。そして各周波数ｆにおけるレベル
値Atを測定して、一旦記憶する。そして、ノッチ周波数
Fpを検出レベルAtが最小となる点の周波数として求め
る。そして、検出レベルAtが最小となるノッチ周波数Fp
でのノッチ深さDpをを、0dBと設定された伝播定数での
ノッチ深さ（dB）との差として求める。
ッチ周波数Fpおよびノッチ深さDpを求めて校正データメ
モリ32dへ設定する校正処理の手順を第３図の流れ図を
用いて説明する。まず、操作パネル等から校正指令が入
力されると、Ｓ（ステップ）１にて切換スイッチ22を校
正信号側へ切換える。そして、S2にて伝播定数設定手段
23aにて各回路28,29,30に対する一つの伝播定数φ，
τ，ρを設定する。そして、校正信号周波数ｆを全測定
範囲に亘り掃引する。そして各周波数ｆにおけるレベル
値Atを測定して、一旦記憶する。そして、ノッチ周波数
Fpを検出レベルAtが最小となる点の周波数として求め
る。そして、検出レベルAtが最小となるノッチ周波数Fp
でのノッチ深さDpをを、0dBと設定された伝播定数での
ノッチ深さ（dB）との差として求める。
以上で一つの伝播定数φ，τ，ρに対応するノッチ周
波数Fpおよびノッチ深さDpが算出されたので、これらの
校正データを第２図に示す校正データメモリ32dの空き
領域へ格納する。そして、S2へ戻り、次の伝播定数に対
するノッチ周波数Fpおよびノッチ深さDpの算出処理を開
始する。
波数Fpおよびノッチ深さDpが算出されたので、これらの
校正データを第２図に示す校正データメモリ32dの空き
領域へ格納する。そして、S2へ戻り、次の伝播定数に対
するノッチ周波数Fpおよびノッチ深さDpの算出処理を開
始する。
そして、S4にて全部の伝播定数に対するノッチ周波数
Fpとノッチ深さDpの校正データメモリ32dへの格納処理
が終了すると、全部の校正処理が終了したので、切換ス
イッチ22を試験信号側に切換えて、試験実行待ちとな
る。
Fpとノッチ深さDpの校正データメモリ32dへの格納処理
が終了すると、全部の校正処理が終了したので、切換ス
イッチ22を試験信号側に切換えて、試験実行待ちとな
る。
このように構成されたフェージングシミュレータ及び
それによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法によ
れば、操作パネルから校正指令を入力すると、自動的に
各伝播定数におけるフェージング特性を示すノッチ周波
数Fpとノッチ深さDpとが求められて校正データメモリ32
dに格納される。したがって、実際の試験においては、
必要とするフェージング特性のノッチ周波数Fpとノッチ
深さDpを指定すると、このノッチ周波数Fpおよびノッチ
深さDpに対応するφ，τ，ρの伝播定数が校正データメ
モリ32dから読出されて各回路28,29,30に自動的に設定
される。しかして、このフェージングシミュレータにお
いて、指定したノッチ周波数Fpとノッチ深さDpを正確に
再現するフェージング特性を得ることが可能となる。よ
って、受信装置３に対する正確な試験を実施できる。
それによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法によ
れば、操作パネルから校正指令を入力すると、自動的に
各伝播定数におけるフェージング特性を示すノッチ周波
数Fpとノッチ深さDpとが求められて校正データメモリ32
dに格納される。したがって、実際の試験においては、
必要とするフェージング特性のノッチ周波数Fpとノッチ
深さDpを指定すると、このノッチ周波数Fpおよびノッチ
深さDpに対応するφ，τ，ρの伝播定数が校正データメ
モリ32dから読出されて各回路28,29,30に自動的に設定
される。しかして、このフェージングシミュレータにお
いて、指定したノッチ周波数Fpとノッチ深さDpを正確に
再現するフェージング特性を得ることが可能となる。よ
って、受信装置３に対する正確な試験を実施できる。
また、校正信号は実際の試験動作中においては切換スイ
ッチ22で遮断されているので、校正信号が受信装置３に
対する試験結果に悪影響を及ぼすことを未然に防止でき
る。
ッチ22で遮断されているので、校正信号が受信装置３に
対する試験結果に悪影響を及ぼすことを未然に防止でき
る。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明のフェージングシミュレ
ータ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する
方法によれば、実際の試験に先だって、校正信号を用い
て伝播路の各伝播定数に対する各ノッチ周波数およびノ
ッチ深さを校正データとして測定、記憶しておく。そし
て、実際の試験においては、この記憶された校正データ
を用いることによって、目標とするノッチ周波数および
ノッチ深さを正確に設定できる。よって、シミュレータ
としての性能を大幅に向上できる。
ータ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する
方法によれば、実際の試験に先だって、校正信号を用い
て伝播路の各伝播定数に対する各ノッチ周波数およびノ
ッチ深さを校正データとして測定、記憶しておく。そし
て、実際の試験においては、この記憶された校正データ
を用いることによって、目標とするノッチ周波数および
ノッチ深さを正確に設定できる。よって、シミュレータ
としての性能を大幅に向上できる。
第１図乃至第３図は本発明の一実施例に係わるフェージ
ングシミュレータを示すものであり、第１図は概略構成
を示すブロック図、第２図は校正データメモリを示す
図、第３図は動作を示す流れ図であり、第４図は一般的
なデータ伝送システムを示す図、第５図はフェージング
特性を示す図、第６図および第７図は従来のフェージン
グシミュレータを示すブロック図である。 21…入力端子、22…切換スイッチ、24…分離回路、25a,
25b…伝播路、26…合成回路、28…移相回路、29…遅延
回路、30…減衰回路、32…制御部、32a…伝播定数設定
手段、32b…減衰量測定制御手段、32c…フェージング特
性読取手段、32d…校正データメモリ、32e…試験実行手
段、33…出力端子、34…レベル検出器、35…校正信号発
生回路。
ングシミュレータを示すものであり、第１図は概略構成
を示すブロック図、第２図は校正データメモリを示す
図、第３図は動作を示す流れ図であり、第４図は一般的
なデータ伝送システムを示す図、第５図はフェージング
特性を示す図、第６図および第７図は従来のフェージン
グシミュレータを示すブロック図である。 21…入力端子、22…切換スイッチ、24…分離回路、25a,
25b…伝播路、26…合成回路、28…移相回路、29…遅延
回路、30…減衰回路、32…制御部、32a…伝播定数設定
手段、32b…減衰量測定制御手段、32c…フェージング特
性読取手段、32d…校正データメモリ、32e…試験実行手
段、33…出力端子、34…レベル検出器、35…校正信号発
生回路。
Claims (2)
- 【請求項１】入力端子（21）を介して入力された試験信
号を一対の試験信号に分岐する分離回路（24）と、この
分離回路で分岐された各試験信号を伝播させる一対の伝
播路（25a,25b）と、この各伝播路を伝播した各試験信
号を合成する合成回路（26）と、前記一対の伝播路の一
方の伝播路（25b）に介挿された移相回路（28），遅延
回路（29）及び減衰回路（30,31）とからなり、前記合
成回路（26）の出力信号に擬似フェージング現象を生じ
させるフェージングシミュレータにおいて、 前記試験信号における所望の周波数範囲に亘る校正信号
を出力する校正信号発生回路（35）と、 前記入力端子と分離回路との間に介挿され、この分離回
路への入力信号を前記試験信号又は校正信号に切換える
切換スイッチ（22）と、 前記合成回路の出力信号を検出するレベル検出器（34）
と、 前記切換スイッチを前記校正信号側に切換えた後に前記
移相回路及び減衰回路の各伝播定数を変化させて、その
ときの前記レベル検出器の出力を得るとともに、その値
に基づいて得られる減衰量及び前記校正信号の周波数か
らフエージング現象のノッチ周波数及びノッチ深さを算
出する制御部（32）と、 この制御部で算出された各伝播定数における各ノッチ周
波数及び各ノッチ深さを校正データとして記憶する校正
データメモリ（32d）と を備えたフェージングシミュレータ。 - 【請求項２】校正信号発生回路（35）、分離回路（3
4）、伝搬定数が設定可能な伝播路（25a,25b）、合成回
路（26）及びレベル検出器（34）とを備え、前記レベル
検出器の出力を受けてフエージング現象の各ノッチ周波
数及び各ノッチ深さと前記伝播路の各伝播定数（φ，
τ，ρ）との関係を記憶する校正データメモリ（32d）
を有するフェージングシミュレータによって試験信号の
擬似伝播路を設定する方法であって、 前記校正信号発生回路の校正信号を前記分離回路の入力
端に入力して、この校正信号の周波数を、前記試験信号
における所望の所望の周波数範囲に亘って掃引するとと
もに、前記伝播定数を変化させる段階と、 前記レベル検出器の出力及び前記校正信号の周波数に基
づいて得られる前記伝播路のノッチ周波数及びノッチ深
さと、このノッチ周波数及びノッチ深さが得られるとき
の伝播定数との関係を前記校正データメモリに記憶させ
る段階と、 所望のノッチ周波数とノッチ深さに対応した伝播定数を
前記校正データメモリから読出して前記伝播路の伝播定
数を設定する段階と を有したフェージングシミュレータによって試験信号の
擬似伝播路を設定する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1083635A JP2510003B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | フェ―ジングシミュレ―タ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1083635A JP2510003B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | フェ―ジングシミュレ―タ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02261233A JPH02261233A (ja) | 1990-10-24 |
| JP2510003B2 true JP2510003B2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=13807925
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1083635A Expired - Lifetime JP2510003B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | フェ―ジングシミュレ―タ及びそれによって試験信号の擬似伝播路を設定する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2510003B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102105805A (zh) * | 2009-05-11 | 2011-06-22 | 松下电器产业株式会社 | 天线评价装置和方法 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0613245U (ja) * | 1992-07-20 | 1994-02-18 | 株式会社アドバンテスト | 信号発生器 |
| JP3609305B2 (ja) * | 1999-12-02 | 2005-01-12 | 営電株式会社 | フェージングシミュレータ |
| JP2008232807A (ja) * | 2007-03-20 | 2008-10-02 | Anritsu Corp | 信号分析装置 |
| JP2010198421A (ja) * | 2009-02-26 | 2010-09-09 | Renesas Electronics Corp | 試験装置 |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1083635A patent/JP2510003B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102105805A (zh) * | 2009-05-11 | 2011-06-22 | 松下电器产业株式会社 | 天线评价装置和方法 |
| CN102105805B (zh) * | 2009-05-11 | 2013-12-11 | 松下电器产业株式会社 | 天线测定装置和方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02261233A (ja) | 1990-10-24 |
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