CN102105805B - 天线测定装置和方法 - Google Patents

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    • H01Q3/267Phased-array testing or checking devices

Abstract

计算机(10)以发送信号(S22a)为基准,对使用校正用接收天线(60a)分别接收各散射体天线(50-n)单独放射的各电波时的各接收信号(S60a)的振幅和相位分别进行测定,根据分别测定的振幅来决定目标振幅并且根据分别测定的相位来决定目标相位。各衰减器(14a-n)的基准衰减量控制电压(VAa-n)被设定为用于分别使各测定的振幅与同一目标振幅一致的各衰减量控制电压,各移相器(13a-n)的基准移相量控制电压(VPa-n)被设定为用于分别使各测定的相位与同一目标相位一致的移相量控制电压。

Description

天线测定装置和方法
技术领域
本发明涉及用于评价无线通信装置的天线性能的天线评价装置和使用了该天线评价装置的天线评价方法。 
背景技术
以往,提出了在具有规定半径的圆周上等间隔地设置用于使散射体模型化的多个发送天线(以下称为散射体天线),并在该散射体天线的各设置位置的中心附近生成空间复用波的天线评价装置(例如,参照专利文件1和非专利文件1~4)。在这种天线评价装置中,信号发生器所发生的发送信号被分配成数量与散射体天线相同的发送信号,分配后的各发送信号分别经由移相器和衰减器从对应的散射体天线放射出去。此时,通过调整移相器的各移相量和衰减器的各衰减量,在散射体天线的各设置位置的中心能够生成瑞利衰落环境等规定的复用波传播状态。因此,在散射体天线的各设置位置的中心设置评价用接收天线,根据该接收天线所接收的接收信号,能够评价衰落环境下的接收天线的性能。 
【专利文件1】:日本特开2005-227213号公报 
【专利文件2】:日本特许第3816499号公报 
【非专利文件1】:坂田勉ほか、「空間フエ一ジングエミユレ一タによる端末アンテナの実効性能評価」、松下テクニカルジヤ一ナル、第52巻、第5号、70頁~75頁、2006年10月。 
【非专利文件2】:坂田勉ほか、「空間フエ一ジングエミユレ一タによるMIMOアンテナのチヤネル容量測定」、電子情報通信学会2007年ソサイエテイ大会講演論文集、B-1-9,2007年9月。 
【非专利文件3】:坂田勉ほか、「角度スペクトラムが設定可能な端末MIMOアンテナ測定用空間多重波生成装置、電子情報通信学会技術研究報告、第108巻、第5号、13頁~18頁、2008年4月」。 
【非专利文件4】:坂田勉ほか、「多重波生成装置による複数クラスタ一伝搬環境下における端末MIMOアンテナ測定用空間多重波生成装置によるアンテナの伝送特性評価」、電子情報通信学会技術研究報告、第108巻、第429号、121頁~126頁、2009年4月。 
图32是用于说明以往技术所涉及的邻界校正法的框图。在图32中,信号源901发生发送信号并从发送天线902向接收天线903发送,接收机904使用接收天线903接收所发送的发送信号。使用邻界校正法进行校正时,校正用测定器907使用配置在发送天线902附近的校正用元件、即探测器905来测定发送天线902附近的电磁场,计算来自发送天线902的放射功率。信号源901根据所算出的放射功率来进行调整,使其放射规定放射功率的电波。 
在将以往技术所涉及的邻界校正法应用于上述天线评价装置中的情况下,具有以下课题。在上述天线评价装置中,改变分配后的各发送信号的相位和振幅,使得在散射体天线的各设置位置的中心附近生成规定的复用波传播状态。因此,为了精度更好地生成衰落环境,在从发生发送信号的信号源到连接有接收天线的接收机的整个系统中,有必要预先进行接收信号的振幅和相位的校正。然而,当使用邻界校正法时,只能校正来自散射体天线的放射功率,需要另外进行接收机侧的校正。另外,需要在多个散射体天线的附近依次配置探测器905,或者在散射体天线的附近分别配置与散射体天线数量相同的探测器905,为了校正,需要较多的时间或者多个探测器。另外,在上述天线评价装置中,需要对分配后的各发送信号的相位准确地进行控制,使得在散射体天线的设置位置的中心附近生成规定的复用波传播状态。然而,在以往技术所涉及的邻界校正法中,由于只使用探测器905所接收到的电波的功率,所以无法校正从各散射体天线放射的电波的相位。 
发明内容
本发明的目的是为了解决以上问题点,其提供一种与以往技术相比能够容易且准确地进行校正,以提高天线的评价精度的天线评价装置和使用了该天线评价装置的天线评价方法。 
第1发明所涉及的天线评价装置具备:散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;信号发生单元,其发生规定的发送信号;发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;接收单元,其使用所述各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;以及控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价,所述天线评价装置的特征在于,所述控制单元,控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,并执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能。 
在所述天线评价装置中,具备控制单元,该控制单元使用在校正时设置在所述各位置的实质上的中心附近并相互隔开半波长的第1和第2校正用接收天线和在评价时代替所述第1校正用接收天线而设置的第1评价用接收天线、代替所述第2校正用接收天线而设置的第2评价用接收天线,来评价所述第1和第2评价用接收天线的性能,所述天线评价装置的特征在于,其还具备:振幅调整单元,其插入到所述第1评价用接收天线或所述第1校正用接收天线与所述接收单元之间,使所述接收信号的振幅变化 并输出给所述接收单元;振幅相位调整单元,其使用所述第2评价用接收天线或所述第2校正用接收天线来接收其他接收信号,使其振幅和相位变化并输出;以及其他接收单元,其接收来自所述振幅相位调整单元的其他接收信号,将所述发送信号作为基准来测定所述其他接收信号的振幅和相位;所述控制单元,控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,根据所述各散射体天线单独放射的电波,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值进行测定,并控制所述振幅调整单元和所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值相互一致,然后,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值进行测定,并控制所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值相互一致。 
并且,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述校正用接收天线具有无指向的指向特性。 
另外,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置还具备用于载置所述校正用接收天线的旋转台,所述控制单元,在使用所述校正用接收天线接收所述各散射体天线单独放射的电波时,使所述旋转台旋转,使得所述校正用接收天线的主波束实质上朝向所述各散射体天线。 
另外,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置还具备用于载置所述校正用接收天线的旋转台,所述控制单元,在使用所述校正用接收天线接收所述各散射体天线单独放射的电波时,使所述旋转台旋转,使得所述校正用接收天线的交叉偏振波识别度实质上最大。 
并且,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置还具备用于载置所述校正用接收天线的旋转台,所述控制单元,在使用所述校正用接收天线接收所述各散射体天线单独放射的电波时,通过重复使所述 旋转台逐次旋转规定角度,使所述校正用接收天线旋转1周,并测定所述各角度的各接收信号的振幅的平均值和相位的平均值,将所述振幅的平均值和相位的平均值用作所述测定的振幅和相位。 
另外,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置具备:分别放射垂直偏振波的电波和水平偏振波的电波的2个所述散射体天线组;以及对所述各散射体天线组的每一个设置的2个所述发送单元;所述控制单元代替所述校正用接收天线分别使用用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线,按照所述各发送单元进行所述校正。 
另外,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置还具备开关单元,该开关单元选择性地将所述用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和所述用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线中的一方连接在所述接收单元。 
并且,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述接收单元,代替所述用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和所述用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线,使用用于接收垂直偏振波和水平偏振波的电波的校正用接收天线。 
另外,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置还具备延迟单元,该延迟单元使所述信号发生单元所发生的发送信号延迟规定的延迟时间,所述控制单元在执行所述校正时,将所述延迟时间设定为规定值。 
另外,在所述天线评价装置中,其特征在于,所述天线评价装置还具备衰落单元,该衰落单元使用多个规定的参数,向所述信号发生单元所发生的发送信号附加规定的延迟时间和相位调整量,所述控制单元在执行所述校正时,将所述各参数设定为规定值。 
第2发明所涉及的天线评价方法是一种使用了天线评价装置的天线评价方法,所述天线评价装置具备:散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;信号发生单元,其发生规定的发送信号;发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变 化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;接收单元,其使用所述各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;以及控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价,所述天线评价方法的特征在于,其包含如下控制步骤:通过所述控制单元,控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,并执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能。 
并且,在所述天线评价方法中,其特征在于,所述控制步骤包含:使用在校正时设置在所述各位置的实质上的中心附近并相互隔开半波长的第1和第2校正用接收天线和在评价时代替所述第1校正用接收天线而设置的第1评价用接收天线、代替所述第2校正用接收天线而设置的第2评价用接收天线,来评价所述第1和第2评价用接收天线的性能,所述天线评价装置还具备:振幅调整单元,其插入到所述第1评价用接收天线或所述第1校正用接收天线与所述接收单元之间,使所述接收信号的振幅变化并输出给所述接收单元;振幅相位调整单元,其使用所述第2评价用接收天线或所述第2校正用接收天线来接收其他接收信号,使其振幅和相位变化并输出;以及其他接收单元,其接收来自所述振幅相位调整单元的其他接收信号,将所述发送信号作为基准来测定所述其他接收信号的振幅和相 位;所述控制步骤还包含:控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,根据所述各散射体天线单独放射的电波,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值进行测定,并控制所述振幅调整单元和所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值相互一致,然后,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值进行测定,并控制所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值相互一致。 
另外,在所述天线评价方法中,其特征在于,所述天线评价装置具备:分别放射垂直偏振波的电波和水平偏振波的电波的2个所述散射体天线组;以及对所述各散射体天线组的每一个设置的2个所述发送单元;所述控制步骤还包含:代替所述校正用接收天线分别使用用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线,按照所述各发送单元进行所述校正。 
另外,在所述天线评价方法中,其特征在于,所述天线评价装置还具备延迟单元,该延迟单元使所述信号发生单元所发生的发送信号延迟规定的延迟时间,所述控制步骤包含:在执行所述校正时,将所述延迟时间设定为规定值。 
并且,在所述天线评价方法中,其特征在于,所述天线评价装置还具备衰落单元,该衰落单元使用多个规定的参数,向所述信号发生单元所发生的发送信号附加规定的延迟时间和相位调整量,所述控制步骤包含:在执行所述校正时,将所述各参数设定为规定值。 
根据本发明所涉及的天线评价装置和天线评价方法,由于控制上述发送单元,使得从上述各散射体天线单独放射电波,并且执行如下校正,即:根据从上述各散射体天线单独放射的电波来控制上述发送单元,使得取代 上述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅抑制并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,将上述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,所以能够除去在发送单元和接收单元之间的整个路径上生成的通过损失对接收信号的振幅和相位的影响,与以往技术相比能够容易且准确地进行校正,能够提高评价用接收天线的评价精度。 
附图说明
图1是表示本发明的第1实施方式所涉及的天线评价装置的结构的主要部分立体图。 
图2是表示图1的复用波控制测定装置200A的结构的框图。 
图3是表示图2的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。 
图4是表示在图3的步骤S8中创建的校正表的一例的表。 
图5是表示在图3的步骤S10中执行的振幅调整处理的流程图。 
图6是表示在图3的步骤S11中执行的相位调整处理的流程图。 
图7是表示图2的计算机10所执行的评价处理的流程图。 
图8是表示本发明的第2实施方式所涉及的复用波控制测定装置200B的结构的框图。 
图9是表示图8的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。 
图10是表示本发明的第3实施方式所涉及的复用波控制测定装置200C的结构的框图。 
图11(a)是表示图10的计算机10所执行的垂直偏振波的校正时的散射体天线50a-1~50a-5和接收天线60av的配置的说明图,(b)是表示图10的计算机10所执行的水平偏振波的校正时的散射体天线50b-1~50b-5和接收天线60ah的配置的说明图。 
图12是表示本发明的第4实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、散射体天线50b-1~50b-5和接收天线60av、60ah的配置的说明图。 
图13是表示本发明的第5实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、散射体天线50b-1~50b-5和接收天线60at的配置的说明图。 
图14是表示本发明的第6实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、接收天线60a1的配置的说明图。 
图15是表示图14的接收天线60a1的指向特性的特性图。 
图16是表示本发明的第7实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、接收天线60as的配置的说明图。 
图17是表示图16的接收天线60as的水平偏振波的指向特性和垂直偏振波的指向特性的特性图。 
图18是表示本发明的第8实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、接收天线60a2的配置的说明图。 
图19是表示图18的接收天线60a2的指向特性的特性图。 
图20是表示本发明的第1实施方式的第1变形例所涉及的复用波控制测定装置200D的结构的框图。 
图21是表示图20的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。 
图22是表示在图21的步骤S10A中所执行的振幅调整处理的流程图。 
图23是表示在图22的步骤S11A中所执行的相位调整处理的流程图。 
图24是表示本发明的第1实施方式的第2变形例所涉及的复用波控制测定装置200E的结构的框图。 
图25是表示图24的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。 
图26是表示本发明的第1实施方式的第3变形例所涉及的复用波控制测定装置200F的结构的框图。 
图27是表示图26的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。 
图28是表示本发明的第2实施方式的第1变形例所涉及的复用波控制测定装置200G的结构的框图。 
图29是表示本发明的第2实施方式的第2变形例所涉及的复用波控 制测定装置200H的结构的框图。 
图30是表示本发明的第3实施方式的第1变形例所涉及的复用波控制测定装置200I的结构的框图。 
图31是表示本发明的第3实施方式的第2变形例所涉及的复用波控制测定装置200J的结构的框图。 
图32是用于说明以往技术所涉及的邻界校正法的框图。 
符号说明 
10:计算机;10m:存储器;10i:输入装置;11a、11b:D/A变换器;12a、12b:分配器;13a、13b:移相电路;13a-1~13a-5、13b-1~13b-5:移相器;14a、14b:衰减电路;14a-1~14a-5、14b-1~14b-5:衰减器;20a、20b:网络分析器;21a、21b:接收机;22a:信号发生器;40:分配器;50a、50b:散射体天线组;50a-1~50a-5、50b-1~50b-5:散射体天线;60a、60b、60av、60ah、60as、60at、60a1、60a2:校正用接收天线;72:振幅相位调整电路;73:移相器;74、84:衰减器;80:旋转台;90:延迟电路;91:衰落电路;101:散射体天线支撑台;102:接收天线支撑台;200A、200B、200C、200D、200E、200F、200G、200H、200I、200J:复用波控制测定装置;SW、SW1~SW5:开关。 
具体实施方式
以下,参照附图对本发明所涉及的实施方式进行说明。另外,在以下的各实施方式中,对相同的构成要素赋予相同的符号。 
第1实施方式 
图1是表示本发明的第1实施方式所涉及的天线评价装置(也称为空间复用波生成装置或衰落模拟器)的结构的主要部分立体图,图2是表示图1的复用波控制测定装置200A的结构的框图。 
如后面详细叙述那样,本实施方式所涉及的天线评价装置的特征在于,在计算机10中,控制发送电路30a使得从各散射体天线50a-n(n=1,2,...,N,在本实施方式中,N是5)单独放射电波,并执行如下校正:根据从各散射体天线50a-n单独放射的电波来控制发送电路30a,使得使用校正用接收天线60a分别测定的接收信号S60a的振幅与同一目标振幅 一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将上述各散射体天线50a-n的发送电路30a的基准衰减量控制电压VAa-n和基准移相量控制电压VPa-n存储在存储器10m中。其特征还在于,在计算机10中,根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线50a-n的发送信号的振幅和相位对应的、从输入装置10i所输入的与目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在上述保存的各散射体天线50a-n的发送电路30a的基准衰减量控制电压VAa-n和基准移相量控制电压VPa-n上加上与上述振幅差值对应的衰减量控制电压和与上述相位差值对应的移相量控制电压,由此来运算在发送电路30a中应当设定的各散射体天线50a-的衰减量控制电压和移相量控制电压,从而发生复用波控制信号S10a,并输出给D/A变换器11a,当从上述各散射体天线50a-n中同时发送了发送信号时,由接收机21a使用评价用接收天线来接收并测定接收信号S60a的振幅和相位,由此来评价上述评价用接收天线的性能。 
在图1中,本实施方式所涉及的天线评价装置构成为具备包含分别作为半波长偶极天线的散射体天线50a-1~50a-5的散射体天线组50a和复用波控制测定装置200A。散射体天线50a-1~50a-5分别被纵向安装在具有正五边筒形状的被组装成格子状的散射体天线支撑台101的各顶点部,使得供电点的高度是距离地面H的位置,并且放射垂直偏振波的电波。由此,散射体天线50a-1~50a-5在半径R的圆周上被等间隔地配置。这里,将散射体天线50a-1~50a-5的各供电点的位置的中心作为右手系的XYZ坐标系的原点,相对于原点,将上方向作为Z轴的正方向,将从原点指向散射体天线50a-1的方向作为Y轴的正方向。 
当进行图1的天线评价装置的校正时,在接收天线支撑台102上安装校正用接收天线(以下,也称为接收天线)60a,当进行评价时,安装接收天线60a或评价对象的其他接收天线(未图示。以下称为评价用接收天线)。在本实施方式中,校正用接收天线60a是半波长偶极天线,被纵向安装在作为极子的接收天线支撑台102的顶点部,使得供电点配置在原点上并且接收垂直偏振波的电波。在本实施方式中,散射体天线支撑台101和接收天线支撑台102由聚丙烯或聚氯乙烯等树脂材料形成。并且,散射体天线50a-1~50a-5和接收天线60a的各供电点距地面的高度H被设定为 1.5m,各供电点与原点的距离R被设定为1.5m。 
在图2中,复用波控制测定装置200A构成为具备:具有存储器10m和键盘等输入装置10i的计算机10、具备了接收机21a和信号发生器22a的网络分析器20a、发送电路30a。另外,发送电路30a构成为具备:D/A变换器11a、分配器12a、具备了分别与散射体天线50a-1~50a-5对应设置的移相器13a-1~13a-5的移相电路13a、具备了分别与散射体天线50a-1~50a-5对应设置的衰减器14a-1~14a-5的衰减电路14a。网络分析器20a被设定为在信号发生器22a中发生具有2.14GHz的频率的无调制连续波信号、即发送信号S22a的单一频率模式,并且,测定点数被设定为1601点,扫描时间被设定为16秒,发送输出电平被设定为+5dBm,显示画面被设定为散射参数S21的极坐标显示。此时,网络分析器20a的输出端子T20a-1是端口1,输入端子T20a-2是端口2。 
信号发生器22a发生发送信号S22a并输出给分配器12a和接收机21a。发送信号S22a在分配器12a中被分配成5份,分配后的各发送信号分别被输出给移相器13a-1~13a-5。移相器13a-1~13a-5分别使所输入的发送信号的相位移相与来自D/A变换器11a的移相量控制电压对应的规定的移相量Pa-1~Pa-5,并将移相后的发送信号输出给对应的衰减器14a-1~14a-5。衰减器14a-1~14a-5分别使所输入的移相后的发送信号衰减与来自D/A变换器11a的衰减量控制电压对应的规定的衰减量Aa-1~Aa-5,并将其作为垂直偏振波的电波从对应的散射体天线50a-1~50a-5放射出去。这里,在图1的天线评价装置中,由于散射体天线50a-1~50a-5、散射体天线支撑台101、接收天线60a或评价用接收天线、接收天线支撑台102被设置在电波暗室内,所以天棚、地面、墙面等所反射的反射波的影响比直接波小很多,在XYZ坐标系的原点,生成由散射体天线50a-1~50a-5所放射的直接波构成的复用波。另外,复用波控制测定装置200A是金属制的,由于反射电波,所以被设置在电波暗室的外部。 
另一方面,计算机10在进行天线评价装置的校正时和评价用接收天线的评价时,如后面详细叙述那样,分别将移相器13a-1~13a-5的各移相量Pa-1~Pa-5和衰减器14a-1~14a-5的各衰减量Aa-1~Aa-5设定为规定值。计算机10按照各移相器13a-n,将表示所施加的移相量控制电压和移相量 Pa-n的关系的移相器特性表保存在存储器10m中,并且,按照各衰减器14a-n,将表示所施加的衰减量控制电压和衰减量Aa-n的关系的衰减器特性表保存在存储器10m中。并且,参照各移相器特性表和各衰减器特性表,发生包含分别与所设定的移相量Pa-1~Pa-5对应的移相量控制电压和分别与所设定的衰减量Aa-1~Aa-5对应的衰减量控制电压的数字复用波控制信号S10a,并输出给D/A变换器11a。 
另外,D/A变换器11a将所输入的复用波控制信号S10a变换为分别与移相器13a-1~13a-5的移相量Pa-1~Pa-5对应的模拟移相量控制电压和分别与衰减器14a-1~14a-5的衰减量Aa-1~Aa-5对应的模拟衰减量控制电压,并分别施加给移相器13a-1~13a-5和衰减器14a-1~14a-5。 
并且,接收机21a使用接收天线60a或评价用接收天线,将散射体天线50a-1~50a-5所放射的电波的复用波作为接收信号S60a来接收,将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60a的振幅(是接收功率)和相位,并将包含所测定的振幅和相位的各数据的接收数据输出给计算机10。计算机10使用来自接收机21a的接收数据,参照图3通过后面详细叙述的校正处理来进行天线评价装置的校正,或者对评价用接收天线的性能进行评价。 
接着,对图2的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理进行说明。图3是表示图2的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图,图4是表示在图3的步骤S8中创建的校正表的一例的表。并且,图5是表示在图3的步骤S10中执行的振幅调整处理的流程图,图6是表示在图3的步骤S11中执行的相位调整处理的流程图。另外,在进行天线评价装置的校正时,如图1所示,在接收天线支撑台102上安装校正用接收天线60a。 
在图3的步骤S1中,参数n被设定为初始值1。并且,计算机10在步骤S2中,将衰减器14a-n的衰减量Aa-n设定为0,将衰减器14a-n以外的衰减器的各衰减量设定为最大值,在步骤S3中,将移相器13a-1~13a-N的各移相量Pa-1~Pa-N设定为0。接着计算机10在步骤S4中,发生包含分别与所设定的各移相量Pa-1~Pa-N对应的移相量控制电压和分别与所设定的各衰减量Aa-1~Aa-N对应的衰减量控制电压的复用波控制信号S10a, 并输出给D/A变换器11a。由此,实质上只从散射体天线50a-n单独放射电波。另外,在步骤S5中,计算机10使用接收机21a,将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60a的振幅和相位。接着,在步骤S6中,对参数n加1。并且,在步骤S7中,判断参数n是否比散射体天线50a-1~50-N的总数N大,在“是”的情况下,进入步骤S8,另一方面,在“否”的情况下,返回步骤S2。 
接着,在步骤S8中,计算机10针对所有的散射体天线50a-1~50a-5,根据在步骤S5中所测定的各振幅和各相位来创建表。如图4所示,校正表表示散射体天线50a-n与只单独从该散射体天线50a-n放射了电波时的接收信号S60a的振幅和相位的关系。紧接着步骤S8,在步骤S9中,计算机10参照校正表,将所测定的振幅的最小值设定为目标振幅,将所测定的相位的平均值设定为目标相位。并且,在步骤S10中,使用目标振幅来进行图5的振幅调整处理,在步骤S11中,使用目标相位来进行图6的相位调整处理,结束天线评价装置的校正处理。 
接着,参照图5对图3的步骤S10中的振幅调整处理进行说明。在步骤S31中,参数n被设定为初始值1。并且,计算机10在步骤S32中,将衰减器14a-n的衰减量Aa-n设定为0,将衰减量14a-n以外的衰减器的衰减量设定为最大值,在步骤S33中,将移相器13a-1~13a-N的各移相量Pa-1~Pa-N设定为0。并且,计算机10在步骤S34中,发生包含分别与所设定的各移相量Pa-1~Pa-N对应的移相量控制电压和分别与所设定的各衰减量Aa-1~Aa-N对应的衰减量控制电压的复用波控制信号S10a,并输出给D/A变换器11a。由此,实质上只从散射体天线50a-n单独放射电波。另外,在步骤S35中,计算机10使用接收机21a,将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60a的振幅和相位。 
接着,在步骤S36中,判断所测定的振幅是否在目标振幅以下,在“是”的情况下,进入步骤S38,另一方面,在“否”的情况下,进入步骤S37。在步骤S37中,使衰减器14a-n的衰减量Aa-n增加规定的衰减量,并返回步骤S34。另一方面,在步骤S38中,将针对衰减器14a-n的衰减量控制电压作为基准衰减量控制电压VAa-n保存在存储器10m中。并且,在步骤S39中对参数n加1。接着,在步骤S40中,判断参数n是否比散射体 天线50a-1~50-N的总数N大,在“是”的情况下,结束振幅调整处理,另一方面,在“否”的情况下,返回步骤S32。 
接着,参照图6对图3的步骤S11中的相位调整处理进行说明。在步骤S51中,参数n被设定为初始值1。并且,计算机10在步骤S52中,将针对衰减器14a-n的衰减量控制电压设定为基准衰减量控制电压VAa-n,将衰减量14a-n以外的衰减器的各衰减量设定为最大值。另外,在步骤S53中,将移相器13a-1~13a-N的各移相量Pa-1~Pa-N设定为0。接着,计算机10在步骤S54中,发生包含分别与所设定的各移相量Pa-1~Pa-N对应的移相量控制电压、基准衰减量控制电压VAa-n和分别与针对衰减器14a-n以外的衰减器而设定的各衰减量对应的衰减量控制电压的复用波控制信号S10a,并输出给D/A变换器11a。由此,实质上只从散射体天线50a-n单独放射电波。另外,在步骤S55中,计算机10使用接收机21a,将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60a的相位。 
接着,在步骤S56中,判断所测定的相位和目标相位之间的差的大小是否在规定的阈值以下,在“是”的情况下,进入到步骤S58,另一方面,在“否”的情况下,进入到步骤S57。在步骤S57中,计算机10使移相器13a-n的移相量变化规定的移相量,使得接收信号S60a的相位接近目标相位,并返回步骤S54。另一方面,在步骤S58中,针对移相器13a-n的移相量控制电压被作为基准移相量控制电压VPa-n保存在存储器10m中。接着,在步骤S59中,对参数n加1。接着,在步骤S60中,判断参数n是否比散射体天线50a-1~50a-N的总数N大,在“是”的情况下,结束相位调整处理,另一方面,在“否”的情况下,返回步骤S52。 
接着,参照图7对图2的计算机10所执行的评价处理进行说明。图7是表示图2的计算机10所执行的评价处理的流程图。计算机10在进行了图3的校正处理之后,对安装在接收天线支撑台102上的评价用接收天线(未图示)的性能进行评价。首先,在步骤S61中,从输入装置10i接收与在XYZ坐标系的原点实现瑞利衰落或Nakagami-Rice衰落等规定的复用波传播状态时的各散射体天线50a-n的发送信号的振幅和相位对应的、与目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值。此时,上述各振幅差值和各相位差值由天线评价装置的用户从输入装置10i输入,但本发明并不限 于此,也可以经由接口电路等输入装置从其他计算机接收。 
接着,在步骤S62中,通过参照各衰减器特性表和各移相器特性表,对保存在存储器10m中的各散射体天线50a-n的基准衰减量控制电压VAa-n和基准移相量控制电压VPa-n加上与上述振幅差值对应的衰减量控制电压和与上述相位差值对应的移相量控制电压,由此来运算施加给各衰减器14a-n的衰减量控制电压和施加给各移相器13a-n的移相量控制电压。另外,在步骤S63中,发生包含所运算的各衰减量控制电压和各移相量控制电压的复用波控制信号S10a,并输出给D/A变换器11a,由此从各散射体天线50a-n中同时发送发送信号。并且,在步骤S64中,由接收机21a使用评价用接收天线,以发送信号S22a为基准来接收并测定接收信号S60a的振幅和相位,由此来评价上述评价用接收天线的性能。 
根据本实施方式所涉及的天线评价装置的校正处理,设定针对各移相器13a-n的基准移相量控制电压VPa-n和针对各衰减器14a-n的基准衰减量控制电压VAa-n,使得在接收机21a中能够从各散射体天线50a-1~50a-5接收具有同一目标相位和同一目标振幅的接收信号S60a。这里,在上述校正处理中,通过将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60a的振幅和相位,使网络分析器20a的输出端子T20a-1和输入端子T20a-2成为校正基准面。因此,能够去除在接收天线60a与接收机21a之间的接收线缆和信号发生器22a与各散射体天线50a-1~50a-5之间的连接线缆等信号发生器22a与接收机21a之间的整个路径上发生的通过损失对接收信号S60a的振幅和相位的影响。并且,不需要在各散射体天线50a-1~50a-5的附近依次配置校正用接收天线,或者在各散射体天线50a-1~50a-5的附近分别配置与散射体天线50a-1~50a-5数量相同的校正用接收天线。因此,根据本实施方式,与以往技术相比能够容易且准确地进行校正。另外,在进行评价用接收天线的评价时,由于根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线50a-n的发送信号的振幅和相位对应的、与目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,来控制发送电路S30a的动作,所以能够提高评价用接收天线的评价精度。 
另外,在本实施方式中,将在XY平面内具有无指向的指向特性的半波长偶极天线用作校正用接收天线60a。然而,本发明不限于此,也可以 使用具有已知的指向特性的其他校正用接收天线。在该情况下,使用对应的散射体天线50a-n的方位的校正用接收天线的振幅和相位的各指向特性,分别将使用校正用接收天线接收各散射体天线50a-n所放射的电波时的接收信号S60a的振幅和相位校正为使用无指向的接收天线进行接收的情况下的接收信号S60a的振幅和相位。并且,只要将校正后的振幅和相位用作图3的步骤S5、图5的步骤S35和图6的步骤S55中的振幅和/或相位的测定值即可。但是,不能将具有在XY平面内具有零点(Null)的指向特性的接收天线用作校正处理。优选的是,由于无需使用接收天线60a的指向特性来校正接收信号S60a的振幅和相位,所以将具有无指向的指向特性的接收天线60a用于校正处理。 
并且,在本实施方式中,也可以代替分配器12a来设置将来自信号发生器22a的发送信号S22a切换成移相器13a-1~13a-5中的一个而输出的开关。由此,由于不会发生分配器12中的分配损失,所以能够从散射体天线50a-1~50a-5放射具有更宽动态范围的接收功率的电波。 
并且,在图3的天线评价装置的校正处理的步骤S9中,将所测定的相位的平均值设定成目标相位。然而,本发明并不限于此,例如也可以将所测定的相位的最小值或最大值等其他值设定为目标相位。但是,优选的是,将所测定的相位的平均值设定为目标相位。由此,在图6的相位调整处理中,能够使改变各移相器13a-n的移相量时的变化量的总和(步骤S57中的规定移相量的倍数)最小。因此,能够使衰减量伴随着各移相器13a-n的移相动作的变化的影响最小,能够以高精度进行校正。 
并且,也可以代替图5的振幅调整处理,而参照衰减器特性表对每个衰减器14a-n决定用于接收具有目标振幅的接收信号S60a的衰减量控制电压,并作为基准衰减量控制电压VAa-n保存在存储器10m中。另外,也可以代替图6的移相调整处理,而参照移相器特性表对每个移相器13a-n决定用于接收具有目标相位的接收信号S60a的移相量控制电压,并作为基准移相量控制电压VPa-n保存在存储器10m中。 
第2实施方式 
图8是表示本发明的第2实施方式所涉及的复用波控制测定装置200B的结构的框图,图9是表示图8的计算机10所执行的天线评价装置的校 正处理的流程图。本实施方式所涉及的复用波控制测定装置200B与第1实施方式所涉及的复用波控制生成装置200A相比,其特征在于,还具备:具有接收机21b的网络分析器20b、包含移相器73和衰减器74的振幅相位调整电路72、衰减器84,使用包含相互隔开半波长而设置的接收天线60a和60b的阵列天线来进行图9的校正处理。 
接收天线60a和60b分别是接收垂直偏振波的电波的半波长偶极天线。并且,接收天线60a和60b纵向安装在接收天线支撑台102的顶点部,使得供电点分别设置在XYZ坐标系的坐标位置(0,λ/4,0)和坐标位置(0,-λ/4,0),并且接收垂直偏振波的电波。其中,λ是从散射体天线50a-1~50a-5放射的电波的波长。接收机21a经由接收天线60a或代替该接收天线60a而设置的第1评价用接收天线(未图示)和衰减器84,将散射体天线50a-1~50a-5所放射的电波的复用波作为接收信号S60a来接收。衰减器84被插入到接收天线60a或第1评价用接收天线与接收机21a之间,使接收信号S60a衰减并输出给接收机21a。另一方面,振幅相位调整电路72使用接收天线60b或代替该接收天线60b而设置的第2评价用接收天线(未图示),将散射体天线50a-1~50a-5所放射的电波的复用波作为其他接收信号来接收,使用移相器73和衰减器74使该其他接收信号的相位和振幅变化,并作为接收信号S60b输出给接收机21b。另外,接收机20b以发送信号S22a为基准来测定接收信号S60b的振幅(是接收功率),并将包含所测定的振幅和相位的各数据的接收数据输出给计算机10。另外,信号发生器22a所发生的发送信号S22a被输出给分配器12a和接收机21a、21b。 
计算机10在进行天线评价装置的校正时和评价用接收天线的评价时,如后面详细叙述那样,将衰减器84的衰减量A84、移相器73的移相量P73和衰减器74的衰减量A74分别设定为规定值。计算机10将表示施加给衰减器84的衰减量控制电压与衰减量A84的关系的衰减器特性表、表示施加给移相器73的移相量控制电压与移相量P73的关系的移相器特性表、表示施加给衰减器74的衰减量控制电压与衰减量A74的关系的衰减器特性表保存在存储器10m中。并且,参照移相器特性表和各衰减器特性表,发生与所设定的衰减量A84对应的衰减量控制电压、与所设定的移相量P73对应的移相量控制电压、与所设定的衰减量A74对应的衰减量控制电 压,并分别施加给衰减器84、移相器73、衰减器74。并且,计算机10使用来自接收机21a和21b的各接收数据,通过参照图9而在后面详细叙述的校正处理进行天线评价装置的校正,或者评价第1和第2评价用接收天线的性能。 
接着,参照图9对图8的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理进行说明。首先,在步骤S71中,计算机10将衰减器84的衰减量A84设定成0,对图3的天线评价装置进行校正处理。另外,基准衰减量控制电压VA84被设定成衰减量A84为0时的衰减量控制电压。并且,在步骤S72中,用于将衰减器74的衰减量A74设定成0的衰减量控制电压被施加给衰减器74,用于将移相器73的移相量P73设定成0的移相量控制电压被施加给移相器73。并且,在步骤S73中,参数m被设定成初始值0,在步骤S74中,参数n被设定成初始值1。并且,在步骤S75中,控制移相电路13和衰减电路14,使得只从散射体天线50a-n单独放射电波。具体来讲,向移相器13a-n施加基准移相量控制电压VPa-n,向其他的移相器施加用于将该移相器的移相量设成0的各移相量控制电压。另外,向衰减器14a-n施加基准衰减量控制电压VAa-n,向其他的衰减器施加用于将该衰减器的衰减量设成最大值的各衰减量控制电压。由此,从散射体天线50a-n放射具有目标振幅和目标相位的电波。并且,计算机10在步骤S76中,使用接收机21b,将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60b的振幅。 
接着,在步骤S77中对参数n加1,在步骤S78中,判断参数n是否比散射体天线50a-1~50-N的总数N大,在“是”的情况下,进入步骤S79,另一方面,在“否”的情况下,返回步骤S75。在步骤S79中,计算所测定的振幅的平均值。并且,在步骤S80中,判断参数m是否是0并且振幅的平均值是否小于目标振幅,在“是”的情况下,进入步骤S81,另一方面,在“否”的情况下,进入步骤S82。并且,在步骤S81中,根据振幅的平均值,将衰减器84的基准衰减量控制电压VA84变更为为了将目标振幅衰减为振幅的平均值所需的衰减量控制电压,进入步骤S84。 
另一方面,在步骤S82中,判断振幅的平均值是否在目标振幅以下,在“是”的情况下,进入步骤S84,另一方面,在“否”的情况下,进入 步骤S83。在步骤S83中,衰减器74的衰减量A74增加规定的衰减量,返回步骤S74。另一方面,在步骤S84中,将针对衰减器74的衰减量控制电压作为基准衰减量控制电压VA74保存在存储器10m中,进入步骤S85。 
在步骤S85中,基准衰减量控制电压VA74被施加给衰减器74,用于将移相器73的移相量P73设定为0的移相量控制电压被施加给移相器73。接着,在步骤S86中,参数n被设定成初始值1,在步骤S87中,与步骤S75同样,控制移相电路13和衰减电路14,使得只从散射体天线50a-n单独放射电波。并且,计算机10在步骤S88中,使用接收机21b,将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60b的相位。 
接着,在步骤S89中对参数n加1,在步骤S90中,判断参数n是否比散射体天线50a-1~50-N的总数N大,在“是”的情况下,进入步骤S91,另一方面,在“否”的情况下,返回步骤S87。在步骤S91中,计算所测定的相位的平均值。并且,在步骤S92中,判断相位的平均值与目标相位之间的差的大小是否在规定的阈值以下,在“是”的情况下,进入步骤S94,另一方面,在“否”的情况下,进入步骤S93。并且,在步骤S93中,将移相器73的移相量P73改变规定的移相量,使得相位的平均值接近目标相位,返回步骤S86。另一方面,在步骤S94中,针对移相器73的移相量控制电压被作为基准移相量控制电压VP73保存在存储器10m中,结束校正处理。 
计算机10在进行了上述的校正处理之后,对具备了代替校正用接收天线60a和60b而安装在接收天线支撑台102上的第1和第2评价用接收天线的评价用阵列天线(未图示)的性能进行评价。本实施方式所涉及的评价处理与第1实施方式所涉及的评价处理(参照图7)相比,不同点只在于,在步骤S61处理前,分别向衰减器74、衰减器84、移相器73施加基准衰减量控制电压VA74、基准衰减量控制电压VA84和基准移相量控制电压VP73。 
根据本实施方式所涉及的天线评价装置的校正处理,根据从各散射体天线50a-n单独放射的电波来控制接收机21a和21b,使得对使用校正用接收天线60a各自测定的接收信号S60a的振幅和使用校正用接收天线60b 各自测定的接收信号S60b的振幅平均值进行测定,并且对衰减器84和上述振幅相位调整电路72进行控制,使得使用校正用接收天线60a各自测定的接收信号S60a的振幅和使用校正用接收天线60b各自测定的其他接收信号S60b的振幅平均值相互一致。并且,控制接收机21a和21b,使得对使用校正用接收天线60a各自测定的接收信号S60a的相位和使用校正用接收天线60b各自测定的接收信号S60b的相位平均值进行测定,并且对振幅相位调整电路72进行控制,使得使用校正用接收天线60a各自测定的接收信号S60a的相位和使用校正用接收天线60b各自测定的接收信号S60b的相位平均值相互一致。这里,在上述校正处理中,通过将发送信号S22a作为基准来分别测定接收信号S60a和S60b的振幅和相位,使网络分析器20a的输出端子T20a-1、输入端子T20a-2和网络分析器20b的输入端子T20b成为校正基准面,所以能够去除在接收天线60a与接收机21a之间的连接线缆和信号发生器22a与各散射体天线50a-1~50a-5之间的连接线缆等信号发生器22a与接收机21a之间的整个路径上发生的通过损失对接收信号S60a的振幅和相位的影响。另外,能够去除在接收天线60b与接收机21b之间的接收线缆和信号发生器22a与各散射体天线50a-1~50a-5之间的连接线缆等信号发生器22a与接收机21b之间的整个路径上发生的通过损失对接收信号S60b的振幅和相位的影响。 
根据本实施方式,与第1实施方式相比,在用于对包含第1和第2评价用接收天线的2个元件的阵列天线的性能进行评价的天线评价装置中,与以往技术相比能够容易且准确地进行校正,能够提高上述阵列天线的评价精度。 
在本实施方式中,散射体天线50a-1~50a-5分别放射垂直偏振波的电波,校正用接收天线60a和60b分别接收了垂直偏振波的电波。然而,本发明不限于此,散射体天线50a-1~50a-5也可以分别放射水平偏振波的电波,并且校正用接收天线60a和60b分别接收水平偏振波的电波。 
第3实施方式 
图10是表示本发明的第3实施方式所涉及的复用波控制测定装置200C的结构的框图。并且,图11(a)是表示图10的计算机10所执行的垂直偏振波的校正时的散射体天线50a-1~50a-5和接收天线60av的配置的 说明图,图11(b)是表示图10的计算机10所执行的水平偏振波的校正时的散射体天线50b-1~50b-5和接收天线60ah的配置的说明图。本实施方式所涉及的复用波控制测定装置200C与第1实施方式所涉及的复用波控制生成装置200A相比,其特征在于,还具备:包含分别放射水平偏振波的电波的半波长偶极天线即散射体天线50b-1~50b-5的散射体天线组50b、分配器40、发送电路30b。这里,发送电路30b构成为具备:D/A变换器11b、分配器12b、具备了分别与散射体天线50b-1~50b-5对应设置的移相器13b-1~13b-5的移相电路13b、具备了分别与散射体天线50b-1~50b-5对应设置的衰减器14b-1~14b-5的衰减电路14b。另外,在校正处理中,其特征在于,在进行垂直偏振波的校正时,使用作为偶极天线的校正用接收天线60av,在进行水平偏振波的校正时,使用作为槽馈偶极天线的校正用接收天线60ah。 
散射体天线50b-n被纵向安装在散射体天线支撑台101上,使得散射体天线50b-n的供电点设置在沿远离原点的方向与散射体天线50a-n的供电点相隔距离λ/2的位置上,并且放射水平偏振波的电波。例如,散射体天线50a-1、50b-1的各供电点在XYZ坐标系中的坐标位置分别是(0,R,0)、(0,R+λ/2,0)。另外,散射体天线50b-n的长度方向被设置成与以原点为中心的圆的切线平行。 
计算机10在进行天线评价装置的校正时和评价用接收天线的评价时,与第1实施方式同样,发生复用波控制信号S10a并输出给D/A变换器11a。另外,计算机10在进行天线评价装置的校正时和评价用接收天线的评价时,如后面详细叙述那样,分别将移相器13b-1~13b-5的各移相量Pb-1~Pb-5和衰减器14b-1~14b-5的各衰减量Ab-1~Ab-5设定为规定值。计算机10按照各移相器13b-n,将表示所施加的移相量控制电压和移相量Pb-n的关系的移相器特性表保存在存储器10m中,并且,按照各衰减器14b-n,将表示所施加的衰减量控制电压和衰减量Ab-n的关系的衰减器特性表保存在存储器10m中。并且,参照各移相器特性表和各衰减器特性表,发生包含分别与所设定的移相量Pb-1~Pb-5对应的移相量控制电压和分别与所设定的衰减量Ab-1~Ab-5对应的衰减量控制电压的数字复用波控制信号S10b,并输出给D/A变换器11b。另外,D/A变换器11b将所输入的 复用波控制信号S10b变换为与移相器13b-1~13b-5的移相量Pb-1~Pb-5对应的模拟移相量控制电压和与衰减器14b-1~14b-5的衰减量Ab-1~Ab-5对应的模拟衰减量控制电压,并施加给移相器13b-1~13b-5和衰减器14b-1~14b-5。 
另一方面,信号发生器22a所发生的发送信号S22a被分配器40分配成2份,分配后的发送信号被输出给分配器12a和12b。发送电路30a与第1实施方式同样,使用来自分配器40的发送信号,从各散射体天线50a-1~50a-5放射垂直偏振波的各电波。并且,来自分配器40的发送信号在分配器12b中被分配成5份,分别被输出给移相器13b-1~13b-5。移相器13b-1~13b-5分别使所输入的发送信号的相位移相与来自D/A变换器11b的移相量控制电压对应的规定的移相量Pb-1~Pb-5,并将移相后的发送信号输出给对应的衰减器14b-1~14b-5。衰减器14b-1~14b-5分别使所输入的移相后的发送信号衰减与来自D/A变换器11b的衰减量控制电压对应的规定的衰减量Ab-1~Ab-5,并将其作为水平偏振波从对应的散射体天线50b-1~50b-5放射出去。 
如后面详细叙述那样,接收机21a在垂直偏振波的校正时,使用接收天线60av,将散射体天线50a-1~50a-5单独放射的各电波作为接收信号S60a来接收,另一方面,在水平偏振波的校正时,使用接收天线60ah,将散射体天线50b-1~50b-5单独放射的各电波作为接收信号S60a来接收。另外,接收机21a在进行评价用接收天线(未图示)的评价时,使用评价用接收天线,将散射体天线50a-1~50a-5所放射的各电波和散射体天线50b-1~50b-5所放射的各电波的复用波作为接收信号S60a来接收。并且,接收机21a将发送信号S22a作为基准来测定接收信号S60a的振幅和相位,并将包含所测定的振幅和相位的各数据的接收数据输出给计算机10。计算机10使用来自接收机21a的接收数据,通过后面详细叙述的校正处理来进行天线评价装置的校正,或者对评价用接收天线的性能进行评价。 
接着,对计算机10所执行的校正处理进行说明。计算机10首先进行垂直偏振波的校正,然后进行水平偏振波的校正。如图11(a)所示,在进行垂直偏振波的校正时,与第1实施方式同样地在接收天线支撑台102上安装与第1实施方式所涉及的接收天线60a同样构成的接收天线60av。 并且,计算机10分别将衰减器14b-1~14b-5的各衰减量Ab-1~Ab-5设定为最大值,并且分别将移相器13b-1~13b-5的各移相量Pb-1~Pb-5设定为0,发生复用波控制信号S10b并输出给D/A变换器11b。由此,无法从散射体天线50b-1~50b-5放射电波。接着,计算机10使用发送电路30a和接收天线60av来进行图3的校正处理,并将垂直偏振波的目标振幅、垂直偏振波的目标相位、针对各衰减器14a-n的基准衰减量控制电压VAa-n和针对各移相器13a-n的基准移相量控制电压VPa-n保存在存储器10m中。 
接着,在进行水平偏振波的校正时,如图11(b)所示,在接收天线支撑台102上横向安装作为槽馈偶极天线的接收天线60ah,使其接收水平偏振波的电波。另外,接收天线60ah的长度方向被设定为与Y轴平行。并且,计算机10分别将衰减器14a-1~14a-5的各衰减量Aa-1~Aa-5设定为最大值,并且分别将移相器13a-1~13a-5的各移相量Pa-1~Pa-5设定为0,发生复用波控制信号S10a并输出给D/A变换器11a。由此,无法从散射体天线50a-1~50a-5放射电波。接着,计算机10使用发送电路30b和接收天线60ah来进行与图3同样的校正处理,并将水平偏振波的目标振幅、水平偏振波的目标相位、针对各衰减器14b-n的基准衰减量控制电压VAb-n和针对各移相器13b-n的基准移相量控制电压VPb-n保存在存储器10m中。 
计算机10进行了上述的垂直偏振波的校正和水平偏振波的校正之后,对代替校正用接收天线60ah和60av而安装在接收天线支撑台102上的评价用接收天线的性能进行评价。具体来讲,首先,计算机10按照发送电路30a、30b来进行第1实施方式所涉及的评价处理中的步骤S61~S63的各处理。并且,接收机21a使用评价用接收天线,以发送信号S22a为基准接收并测定接收信号S60a的振幅和相位,由此对评价用接收天线的性能进行评价。 
根据本实施方式,在使用散射体天线50a-1~50a-5和散射体天线50b-1~50b-5来放射垂直偏振波和水平偏振波的电波的天线评价装置中,与第1实施方式同样,与以往技术相比能够容易且准确地进行校正,能够提高评价用接收天线的评价精度。 
根据本实施方式,由于在垂直偏振波的校正时,使用在XY平面内对 垂直偏振波具有无指向的指向特性的接收天线60av,在水平偏振波的校正时,使用在XY平面内对水平偏振波具有无指向的指向特性的接收天线60ah,所以无需对接收机21a所接收的接收信号S60a的振幅进行校正。 
第4实施方式 
图12是表示本发明的第4实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、散射体天线50b-1~50b-5和接收天线60av、60ah的配置的说明图。本实施方式与第3实施方式相比,其特征在于,在接收天线支撑台102的顶点部设置有用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线60av、用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线60ah、用于切换校正用接收天线60av和60ah而选择性地连接在接收机21a上的开关SW。 
在图12中,接收天线60av被纵向安装在接收天线支撑台102的顶点部,使其供电点设置在XYZ坐标系的坐标位置(-λ/4,0,0),并接收垂直偏振波的电波。另外,接收天线60ah被横向安装在接收天线支撑台102的顶点部,使其供电点设置在XYZ坐标系的坐标位置(λ/4,0,0),并接收水平偏振波的电波。接收天线60ah的长度方向被设定为与Y轴平行。接收天线60av和60ah构成阵列天线。 
计算机10在进行垂直偏振波的校正时,将开关SW切换为接点a,在进行垂直偏振波的校正时,将开关SW切换为接点b,与第3实施方式同样进行天线评价装置的校正。 
根据本实施方式,在进行了垂直偏振波的校正之后,由于无需在接收天线支撑台102上将接收天线60av替换成接收天线60ah,所以与第3实施方式相比,能够简便且高效地进行天线评价装置的校正。 
另外,在本实施方式中,也可以代替开关SW来设置分配器。并且,也可以将开关SW设置在接收机21a上。 
另外,在第3和第4实施方式中,作为槽馈偶极天线的接收天线60ah的长度方向被设置为与Y轴平行。然而,本发明并不限于此,由于槽馈偶极天线在XY平面内的指向特性相对于作为应当接收的主偏振波的水平偏振波是无指向的,所以只要将接收天线60ah的长度方向设置为与XY平面平行即可。 
第5实施方式 
图13是表示本发明的第5实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、散射体天线50b-1~50b-5和接收天线60at的配置的说明图。本实施方式与第3实施方式相比,其特征在于,代替校正用接收天线60av和60ah,在进行垂直偏振波和水平偏振波的各自校正时使用了共同的校正用接收天线60at。 
在图13中,接收天线60at是倾斜偶极天线,接收天线60at的供电点被设置在XYZ坐标系的原点。另外,接收天线60at在从原点瞄准散射体天线50a-1的方位开始顺时针旋转θ的方位上,被倾斜设定为相对于Z轴成53度的倾斜角。一般情况下,通过将偶极天线的倾斜角设定为53度,能够接收水平偏振波和垂直偏振波的各电波。 
计算机10在垂直偏振波的校正和水平偏振波的校正中,使用共同的接收天线60at,与第3实施方式同样地进行天线评价装置的校正。因此,根据本实施方式,由于在垂直偏振波的校正和水平偏振波的校正中使用了共同的接收天线60at,所以在垂直偏振波的校正和水平偏振波的校正中无需进行接收天线的替换或切换,与第3和第4实施方式相比,能够简便且高精度地进行天线评价装置的校正。 
另外,当将接收天线60at的倾斜角设定为比53度大的值时,只能接收水平偏振波,当将接收天线60at的倾斜角设定为比53度小的值时,只能接收垂直偏振波。并且,一般情况下,当将接收天线60at的倾斜角设定为53度时,在水平偏振波和垂直偏振波的总到达功率分别恒定的情况下,平均接收功率不依赖于交叉偏振波功率比(水平偏振波的功率和垂直偏振波的功率的比率)而恒定。因此,当将接收天线60at的倾斜角设定为53度时,能够确认:在进行了上述的垂直偏振波的校正和水平偏振波的校正之后,使发送电路30a所放射的各垂直偏振波的电波的总功率和发送电路30b所放射的各水平偏振波的电波的总功率之比变化,并测定接收信号S60a的功率,使该功率恒定。 
并且,接收天线60at的倾斜访问θ可以是任意的方位。 
并且,在第3~第5实施方式中,计算机10在进行了垂直偏振波的校正之后进行了水平偏振波的校正,但本发明不限于此,也可以在进行了水平偏振波的校正之后进行垂直偏振波的校正。 
第6实施方式 
图14是表示本发明的第6实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、接收天线60a1的配置的说明图,图15是表示图14的接收天线60a1的指向特性的特性图。本实施方式与第1实施方式相比,其特征在于,在接收天线支撑台102的顶点部设置旋转台80,在进行天线评价装置的校正时,取代无指向的校正用接收天线60a而使用了载置在旋转台80上的指向性的校正用接收天线60a1。 
在图14中,旋转台80被安装在接收天线支撑台102的顶点部,使得能够以XYZ坐标系的原点为中心向旋转方向80r旋转。接收天线60a1是喇叭形天线,载置在旋转台80上。如图15所示,接收天线60a1在XY平面内,在开口面的方向上具有主波束。计算机10进行与第1实施方式同样的校正处理(参照图3)。但是,与第1实施方式相比,在图3的校正处理的步骤S4、图5的振幅调整处理的步骤S34和图6的相位调整处理的步骤S54中,当实质上只从散射体天线50a-n单独放射电波时,使旋转台80旋转,使得接收天线60a1的主波束实质上朝向散射体天线50a-n。 
根据本实施方式,使用指向性的接收天线60a1,与第1实施方式同样能够简便且高精度地进行天线评价装置的校正。 
另外,在本实施方式中,在接收天线60a1的主波束的宽度远远小于散射体天线50a-1~50a-5的间隔(在本实施方式中为72度)的情况下,在图3的校正处理的步骤S4、图5的振幅调整处理的步骤S34和图6的相位调整处理的步骤S54中,可以分别从散射体天线50a-n以外的各散射体天线放射电波。 
第7实施方式 
图16是表示本发明的第7实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、接收天线60as的配置的说明图,图17是表示图16的接收天线60as的水平偏振波的指向特性和垂直偏振波的指向特性的特性图。本实施方式与第1实施方式相比,其特征在于,在进行天线评价装置的校正时,取代校正用接收天线60a而使用了载置在旋转台80上的作为巴伦偶极天线(シユペルトツプダイポ一ルアンテナ)的校正用接收天线60as。其特征还在于,在进行天线评价装置的校正时,当实质上只从散射 天线50a-n单独放射电波时,使旋转台80旋转,使得接收天线60as的交叉偏振波识别度(XPD(cross-polarization discrimination))实质上最大。 
在图17中,接收天线60as相对于作为主偏振波的垂直偏振波,在XY平面内是无指向性的,但相对于作为交叉偏振波的水平偏振波,在Y轴的正方向和负方向上分别具有零点(Null)。因此,在Y轴的正方向和负方向上,交叉偏振波识别度最大。在本实施方式中,计算机10进行与第1实施方式同样的校正处理(参照图3)。但是,与第1实施方式相比,在图3的校正处理的步骤S4、图5的振幅调整处理的步骤S34和图6的相位调整处理的步骤S54中,当实质上只从散射体天线50a-n单独放射电波时,使旋转台80旋转,使得接收天线60as的交叉偏振波识别度实质上最大。例如,如图16所示,当只从散射体天线50a-2单独放射电波时,使旋转台80旋转,使得接收天线60as的交叉偏振波识别度实质上最大。 
一般情况下,当第1实施方式所涉及的接收天线60a是理想的半波长偶极子时,不接收水平偏振波的电波。然而,实际上因安装在接收天线60a上的平衡-不平衡转换器和电缆(未图示)的影响,通过接收天线60a也能接收水平偏振波的电波。根据本实施方式,当实质上只从散射体天线50a-n单独放射电波时,由于使旋转台80旋转,使得接收天线60as的交叉偏振波识别度较大的方位朝向散射体天线50a-n,所以与第1实施方式相比,能够以更高的精度来测定接收信号S60a的振幅,能够以更高的精度来校正天线评价装置。 
第8实施方式 
图18是表示本发明的第8实施方式所涉及的天线评价装置的散射体天线50a-1~50a-5、接收天线60a2的配置的说明图,图19是表示图18的接收天线60a2的指向特性的特性图。本实施方式与第1实施方式相比,其特征在于,在接收天线支撑台102的顶点部设置旋转台80,在进行天线评价装置的校正时,取代无指向的校正用接收天线60a而使用了载置在旋转台80上的指向性的校正用接收天线60a2。 
如图19所示,接收天线60a2在XY平面内具有指向性。计算机10进行与第1实施方式同样的校正处理(参照图3)。但是,与第1实施方式相比,紧接着图3的校正处理的步骤S3之后,每当使旋转台80旋转360/K 度时,进行步骤S4和S5的各处理。并且,根据使旋转台80重复旋转K次360/K度而使接收天线60a2旋转1周从而获得的K个振幅的平均值和K个相位的平均值,进行步骤S6以后的各处理。另外,同样紧接着图5的振幅调整处理的步骤S33之后,每当使旋转台80旋转K次360/K度时,进行步骤S34和S35的各处理。并且,根据所获得的K个振幅的平均值,进行步骤S36以后的各处理。另外,同样紧接着图6的相位调整处理的步骤S54之后,每当使旋转台80旋转K次360/K度时,进行步骤S55和S56的各处理。并且,根据所获得的K个振幅的平均值,进行步骤S57以后的各处理。但是,参数K被设定为散射体天线50a-1~50a-5的总数5以上的值。 
根据本实施方式,当只从散射体天线50a-n单独放射电波时,由于通过使接收天线60a2旋转K次360/K度而计算接收信号S60a的振幅的平均值和相位的平均值,并使用振幅的平均值和相位的平均值来进行校正处理,所以使用指向性的接收天线60a2,与第1实施方式同样能够简便且高精度地进行天线评价装置的校正。 
第1实施方式的第1变形例 
图20是表示本发明的第1实施方式的第1变形例所涉及的复用波控制测定装置200D的结构的框图。并且,图21是表示图20的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图,图22是表示在图21的步骤S10A中所执行的振幅调整处理的流程图,图23是表示在图22的步骤S11A中所执行的相位调整处理的流程图。本变形例与第1实施方式相比,其特征在于,还具备开关SW1~SW5。 
在图20中,开关SW1被插入到散射体天线50a-1和衰减器14a-1之间,开关SW2被插入到散射体天线50a-2和衰减器14a-2之间,开关SW3被插入到散射体天线50a-3和衰减器14a-3之间,开关SW4被插入到散射体天线50a-4和衰减器14a-4之间,开关SW5被插入到散射体天线50a-5和衰减器14a-5之间。计算机10分别控制开关SW1~SW5的开闭动作。 
图21的天线评价装置的校正处理与第1实施方式所涉及的天线评价装置的校正处理(参照图3)相比,将步骤S2和S3中的各处理置换成步骤S2A中的处理,将步骤S10和S11中的各处理分别置换成步骤S10A和 S11A。在图21的步骤S2A中,计算机10打开开关SWn,关闭开关SWn以外的开关,将衰减器14-n的衰减量设定为0,将移相器13-n的移相量设定为0。并且,在步骤S10A中,使用目标振幅来进行图22的振幅调整处理,在步骤S11A中,使用目标相位来进行图23的相位调整处理。 
图22的振幅调整处理与第1实施方式所涉及的振幅调整处理(参照图5)相比,将步骤S32和S33中的各处理置换成步骤S32A中的处理。在步骤S32A中,计算机10打开开关SWn,关闭开关SWn以外的开关,将衰减器14-n的衰减量设定为0,将移相器13-n的移相量设定为0。并且,图23的相位调整处理与第1实施方式所涉及的相位调整处理(参照图6)相比,将步骤S52和S53中的各处理置换成步骤S52A中的处理。在步骤S52A中,计算机10打开开关SWn,关闭开关SWn以外的开关,将针对衰减器14-n的衰减量控制电压设定为基准衰减量控制电压VAa-n,将移相器13-n的移相量Pa-n设定为0。 
并且,计算机10在打开所有的开关SW1~SW5之后,执行图7的评价处理。 
根据本变形例,当从各散射体天线50a-1~50a-5单独发送电波时,遮断用于发送该电波的散射体天线以外的散射体天线和发送电路30a之间的各连接。因此,与第1实施方式相比,能够高精度地校正天线评价装置。 
另外,可以将开关SW1插入到分配器12a和移相器13a-1之间,将开关SW2插入到分配器12a和移相器13a-2之间,将开关SW3插入到分配器12a和移相器13a-3之间,将开关SW4插入到分配器12a和移相器13a-4之间,将开关SW5插入到分配器12a和移相器13a-5之间。在该情况下,在步骤S2A、S32A和S52A中,将衰减器14a-n以外的衰减器的各衰减量设定为最大值。 
第1实施方式的第2变形例 
图24是表示本发明的第1实施方式的第2变形例所涉及的复用波控制测定装置200E的结构的框图。并且,图25是表示图24的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。本变形例与第1实施方式相比,其特征在于,还具备延迟电路90,该延迟电路90将来自信号发生器22a的发送信号S22a延迟规定的延迟时间而发生发送信号S22ad并输出给分 配器12a。计算机10控制延迟电路90,使得发送信号S22a延迟上述规定的延迟量。并且,分配器12a将发送信号S22ad分配成5份并分别输出给移相器13a-1~13a-5。 
图25的天线评价装置的校正处理与第1实施方式所涉及的天线评价装置的校正处理(参照图3)相比,不同点在于,在步骤S1的处理前,首先执行步骤S0的处理。在步骤S0中,计算机10将延迟电路90中的延迟时间设定为0。计算机10在图25的校正处理期间将上述延迟时间设定为0,另一方面,在图7的评价处理期间将上述延迟时间设定为规定值(也包含0)。 
本变形例起到与第1实施方式同样的特有效果。另外,在本变形例中,在步骤S0中,将延迟电路90中的延迟时间设定为0,但本发明并不限于此,也可以设定成0以外的规定值。 
第1实施方式的第3变形例 
图26是表示本发明的第1实施方式的第3变形例所涉及的复用波控制测定装置200F的结构的框图。并且,图27是表示图26的计算机10所执行的天线评价装置的校正处理的流程图。本变形例与第1实施方式相比,其特征在于,还具备衰落电路91,该衰落电路91对来自信号发生器22a的发送信号S22a进行规定的衰减生成处理而发生发送信号S22af并输出给分配器12a。衰落电路91向发送信号S22a附加规定的延迟时间和相位调整量并输出。衰落电路91在计算机10的控制下,虚拟地设定接收天线60a的指向性、到达波的信息、移动速度等条件,在接收天线60a移动的情况下输出信号,使其被接收。该输出信号包含相当于衰减的时间上的变动。这样,衰落电路91能够虚拟地发生通过接收天线60a的移动而发生的衰减。更具体来讲,衰落电路91根据专利文件2所公开的衰减模拟器构成,根据包含来自计算机10的延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位的各参数的衰减控制信号,对发送信号S22a附加规定的延迟时间和相位调整量,并作为发送信号S22af输出给分配器12a。并且,分配器12a将发送信号S22ad分配成5份并分别输出给移相器13a-1~13a-5。 
图27的天线评价装置的校正处理与第1实施方式所涉及的天线评价装置的校正处理(参照图3)相比,不同点在于,在步骤S1的处理前,首 先执行步骤S0A的处理。在步骤S0A中,计算机10将衰落电路91中的延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位分别设定为规定值。具体来讲,将延迟时间设定为0,将接收功率设定为最大值,将多普勒频率设定为0Hz,将相位设定为恒定值。另一方面,计算机10在图7的评价处理期间对延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位进行设定,使其生成规定的衰减环境。 
本变形例起到与第1实施方式同样的特有效果。另外,在步骤S0A中,也可以将延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位分别设定为上述各规定值以外的值。 
第2实施方式的第1变形例 
图28是表示本发明的第2实施方式的第1变形例所涉及的复用波控制测定装置200G的结构的框图。本变形例与第2实施方式相比,其特征在于,与第1实施方式的第2变形例同样,还具备延迟电路90,该延迟电路90将来自信号发生器22a的发送信号S22a延迟规定的延迟时间而发生发送信号S22ad并输出给分配器12a。计算机10控制延迟电路90,使得发送信号S22a延迟上述规定的延迟量。并且,分配器12a将发送信号S22ad分配成5份并分别输出给移相器13a-1~13a-5。 
在图28中,计算机10在执行图9的天线评价装置的校正处理时,首先将延迟电路90中的延迟时间设定为0。计算机10在校正处理期间将上述延迟时间设定为0,另一方面,在评价处理期间将上述延迟时间设定为规定值(也包含0)。 
本变形例起到与第2实施方式同样的特有效果。另外,在本变形例中,在校正处理期间将延迟电路90的延迟时间设定为0,但本发明并不限于此,也可以设定为0以外的规定值。 
第2实施方式的第2变形例 
图29是表示本发明的第2实施方式的第2变形例所涉及的复用波控制测定装置200H的结构的框图。本变形例与第2实施方式相比,其特征在于,与第1实施方式的第3变形例同样,还具备衰落电路91,该衰落电路91对来自信号发生器22a的发送信号S22a进行规定的衰减生成处理而发生发送信号S22af并输出给分配器12a。并且,分配器12a将发送信号 S22af分配成5份并分别输出给移相器13a-1~13a-5。 
在图29中,在计算机10执行天线评价处理的校正处理时,首先将衰落电路91中的延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位分别设定为规定值。具体来讲,将延迟时间设定为0,将接收功率设定为最大值,将多普勒频率设定为0Hz,将相位设定为恒定值。另一方面,计算机10在评价处理期间对延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位进行设定,使其生成规定的衰减环境。 
本变形例起到与第2实施方式同样的特有效果。另外,在天线评价装置的校正处理时,也可以将延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位分别设定为上述各规定值以外的值。 
第3实施方式的第1变形例 
图30是表示本发明的第3实施方式的第1变形例所涉及的复用波控制测定装置200I的结构的框图。本变形例与第3实施方式相比,其特征在于,与第1实施方式的第2变形例同样,还具备延迟电路90,该延迟电路90将来自信号发生器22a的发送信号S22a延迟规定的延迟时间而发生发送信号S22ad并输出给分配器40。计算机10控制延迟电路90,使得发送信号S22a延迟上述规定的延迟量。并且,分配器40将发送信号S22ad分配成2份并分别输出给分配器12a、12b。 
在图30中,计算机10在执行图9的天线评价装置的校正处理时,首先将延迟电路90中的延迟时间设定为0。计算机10在校正处理期间将上述延迟时间设定为0,另一方面,在评价处理期间将上述延迟时间设定为规定值(也包含0)。 
本变形例起到与第3实施方式同样的特有效果。另外,在本变形例中,在校正处理期间将延迟电路90的延迟时间设定为0,但本发明并不限于此,也可以设定为0以外的规定值。 
第3实施方式的第2变形例 
图31是表示本发明的第3实施方式的第2变形例所涉及的复用波控制测定装置200J的结构的框图。本变形例与第3实施方式相比,其特征在于,与第1实施方式的第3变形例同样,还具备衰落电路91,该衰落电路91对来自信号发生器22a的发送信号S22a进行规定的衰落生成处理而 发生发送信号S22af并输出给分配器40。并且,分配器40将发送信号S22af分配成2份并分别输出给分配器12a、12b。 
在图29中,在计算机10执行天线评价处理的校正处理时,首先将衰落电路91中的延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位分别设定为规定值。具体来讲,将延迟时间设定为0,将接收功率设定为最大值,将多普勒频率设定为0Hz,将相位设定为恒定值。另一方面,计算机10在评价处理期间对延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位进行设定,使其生成规定的衰落环境。 
本变形例起到与第3实施方式同样的特有效果。另外,在天线评价装置的校正处理时,也可以将延迟时间、接收功率、多普勒频率和相位分别设定为上述各规定值以外的值。 
另外,在上述各实施方式和其变形例中,发送电路30a、30b将所输入的发送信号分配成5个发送信号,使分配后的各发送信号的相位和振幅变化,但本发明并不限于此,也可以将所输入的发送信号分配成2个以上的多个发送信号,使分配后的各发送信号的相位和振幅变化。 
并且,在上述各实施方式及其变形例中,将散射体天线50a-1~50a-5、50b-1~50b-5等间隔地配置在圆周上,但本发明并不限于此,只要将2个以上的多个散射体天线配置在评价用接收天线的周围即可。 
另外,在上述各实施方式及其变形例中,发送电路30a在衰减电路14a中使移相后的发送信号衰减。然而,本发明不限于此,也可以取代衰减电路14a而设置用于放大移相后的发送信号的放大器。在该情况下,目标振幅被设定为从各散射体天线50a-n单独放射的电波的接收信号S60a的最大值。衰减电路14b也可以与衰减电路14a同样置换为放大电路。并且,在第2实施方式中,可以取代衰减器72和84而设置放大器。 
产业上的可利用性 
如以上详细叙述那样,根据本发明所涉及的天线评价装置和天线评价方法,由于控制上述发送单元,使得从上述各散射体天线单独放射电波,并且执行如下校正,即:根据从上述各散射体天线单独放射的电波来控制上述发送单元,使得取代上述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅抑制并且使分别测定的接收信号 的相位与同一目标相位一致,将上述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,所以能够除去在发送单元和接收单元之间的整个路径上生成的通过损失对接收信号的振幅和相位的影响,与以往技术相比能够容易且准确地进行校正,能够提供评价用接收天线的评价精度。 

Claims (14)

1.一种天线测定装置,其具备:
散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;
信号发生单元,其发生规定的发送信号;
发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;
接收单元,其使用所述N多个散射体天线的各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;
控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价;以及
延迟单元,其使所述信号发生单元所发生的发送信号延迟规定的延迟时间,
所述天线测定装置的特征在于,
所述控制单元具备:
控制处理部,其控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波;
校正部,其执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中;
第1评价部,其根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能;以及
第1设定部,在执行所述校正时,该第1设定部将所述延迟时间设定为规定值。
2.一种天线测定装置,其具备:
散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;
信号发生单元,其发生规定的发送信号;
发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;
接收单元,其使用所述N多个散射体天线的各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;
控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价;以及
衰落单元,其使用多个规定的参数,向所述信号发生单元所发生的发送信号附加规定的延迟时间和相位调整量,
所述天线测定装置的特征在于,
所述控制单元具备:
控制处理部,其控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波;
校正部,其执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中;
第2评价部,其根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能;以及
第2设定部,在执行所述校正时,该第2设定部将所述各参数设定为规定值。
3.根据权利要求1或2所述的天线测定装置,其特征在于,
所述天线测定装置还具备:
在校正时设置在所述N多个散射体天线的各位置的实质上的中心附近并相互隔开半波长的第1和第2校正用接收天线;
在评价时代替所述第1校正用接收天线而设置的第1评价用接收天线;
代替所述第2校正用接收天线而设置的第2评价用接收天线;
振幅调整单元,其插入到所述第1评价用接收天线或所述第1校正用接收天线与所述接收单元之间,使所述接收信号的振幅变化并输出给所述接收单元;
振幅相位调整单元,其使用所述第2评价用接收天线或所述第2校正用接收天线来接收其他接收信号,使其振幅和相位变化并输出;以及
其他接收单元,其接收来自所述振幅相位调整单元的其他接收信号,将所述发送信号作为基准来测定所述其他接收信号的振幅和相位;
所述控制单元还具备第3评价部,其使用所述第1和第2校正用接收天线、所述第1和第2评价用接收天线,来评价所述第1和第2评价用接收天线的性能,
所述第3评价部根据所述各散射体天线单独放射的电波,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值进行测定,并控制所述振幅调整单元和所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值相互一致,然后,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值进行测定,并控制所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值相互一致。
4.根据权利要求1或2所述的天线测定装置,其特征在于,
所述校正用接收天线具有无指向的指向特性。
5.根据权利要求1或2所述的天线测定装置,其特征在于,
所述天线测定装置还具备用于载置所述校正用接收天线的旋转台,
所述控制单元,在使用所述校正用接收天线接收所述各散射体天线单独放射的电波时,使所述旋转台旋转,使得所述校正用接收天线的主波束实质上朝向所述各散射体天线。
6.根据权利要求1或2所述的天线测定装置,其特征在于,
所述天线测定装置还具备用于载置所述校正用接收天线的旋转台,
所述控制单元,在使用所述校正用接收天线接收所述各散射体天线单独放射的电波时,使所述旋转台旋转,使得所述校正用接收天线的交叉偏振波识别度实质上最大。
7.根据权利要求1或2所述的天线测定装置,其特征在于,
所述天线测定装置还具备用于载置所述校正用接收天线的旋转台,
所述控制单元,在使用所述校正用接收天线接收所述各散射体天线单独放射的电波时,通过重复使所述旋转台逐次旋转规定角度,使所述校正用接收天线旋转1周,并测定所述各角度的各接收信号的振幅的平均值和相位的平均值,将所述振幅的平均值和相位的平均值用作所述测定的振幅和相位。
8.根据权利要求1或2所述的天线测定装置,其特征在于,
所述天线测定装置具备:
分别放射垂直偏振波的电波和水平偏振波的电波的2个所述散射体天线组;以及
对所述各散射体天线组的每一个设置的2个所述发送单元;
所述控制单元,代替所述校正用接收天线分别使用用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线,按照所述各发送单元进行所述校正。
9.根据权利要求8所述的天线测定装置,其特征在于,
所述天线测定装置还具备开关单元,该开关单元选择性地将所述用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和所述用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线中的一方连接在所述接收单元。
10.根据权利要求9所述的天线测定装置,其特征在于,
所述接收单元,代替所述用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和所述用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线,使用用于接收垂直偏振波和水平偏振波的电波的校正用接收天线。
11.一种使用了天线测定装置的天线测定方法,所述天线测定装置具备:
散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;
信号发生单元,其发生规定的发送信号;
发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;
接收单元,其使用所述N多个散射体天线的各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;以及
控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价,
所述天线测定方法的特征在于,其包含下述控制步骤:
通过所述控制单元,
控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,
并执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,
根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能,
所述天线测定装置还具备延迟单元,该延迟单元使所述信号发生单元所发生的发送信号延迟规定的延迟时间,
所述控制步骤包含:在执行所述校正时,将所述延迟时间设定为规定值。
12.一种使用了天线测定装置的天线测定方法,所述天线测定装置具备:
散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;
信号发生单元,其发生规定的发送信号;
发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;
接收单元,其使用所述N多个散射体天线的各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;以及
控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价,
所述天线测定方法的特征在于,其包含下述控制步骤:
通过所述控制单元,
控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,
并执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,
根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能,
所述天线测定装置还具备衰落单元,该衰落单元使用多个规定的参数,向所述信号发生单元所发生的发送信号附加规定的延迟时间和相位调整量,
所述控制步骤包含:在执行所述校正时,将所述各参数设定为规定值。
13.根据权利要求11或12所述的天线测定方法,其特征在于,
所述控制步骤包含:使用在校正时设置在所述N多个散射体天线的各位置的实质上的中心附近并相互隔开半波长的第1和第2校正用接收天线和在评价时代替所述第1校正用接收天线而设置的第1评价用接收天线、代替所述第2校正用接收天线而设置的第2评价用接收天线,来评价所述第1和第2评价用接收天线的性能,
所述天线测定装置还具备:
振幅调整单元,其插入到所述第1评价用接收天线或所述第1校正用接收天线与所述接收单元之间,使所述接收信号的振幅变化并输出给所述接收单元;
振幅相位调整单元,其使用所述第2评价用接收天线或所述第2校正用接收天线来接收其他接收信号,使其振幅和相位变化并输出;以及
其他接收单元,其接收来自所述振幅相位调整单元的其他接收信号,将所述发送信号作为基准来测定所述其他接收信号的振幅和相位;
所述控制步骤还包含:
控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,
根据所述各散射体天线单独放射的电波,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值进行测定,并控制所述振幅调整单元和所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值相互一致,然后,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值进行测定,并控制所述振幅相位调整单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值相互一致。
14.根据权利要求11或12所述的天线测定方法,其特征在于,
所述天线测定装置具备:
分别放射垂直偏振波的电波和水平偏振波的电波的2个所述散射体天线组;以及
对所述各散射体天线组的每一个设置的2个所述发送单元;
所述控制步骤还包含:代替所述校正用接收天线分别使用用于接收垂直偏振波的电波的校正用接收天线和用于接收水平偏振波的电波的校正用接收天线,按照所述各发送单元进行所述校正。
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