KR20040050235A - 액정표시장치용 어레이기판 제조방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 어레이기판에 컬러필터가 구성된 COT구조의 액정표시장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 액정표시장치는 어레이기판의 상부에 컬러필터를 구성하는 구조에 있어서, 박막트랜지스터와 게이트 배선 및 데이터 배선의 상부에 불투명한 유기수지로 블랙매트릭스를 형성하고, 컬러필터를 중심으로 상부와 하부에 각각 제 1 및 제 2 투명전극을 형성한다.
이때, 상기 제 2 투명 전극은 별도의 PR패턴 공정을 진행하지 않고, 기판의 전면에 투명전극을 형성한 후 이를 부분적으로 결정화하여, 비정질과 결정질의 선택적 식각을 통해 패턴공정을 진행한다.
이와 같이 하면, 별도의 PR패턴 공정을 진행하지 않아도 되므로 PR패턴을 현상하는 현상액이나, 이를 제거하는 제거액에 의해 상기 컬러필터가 영향을 받지 않는 장점이 있다.

Description

액정표시장치용 어레이기판 제조방법{Method for fabricating of a substrate of LCD}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 박막트랜지스터 어레이부의 상부에 컬러필터를 구성하는 COT(color filter on TFT)구조 액정표시장치와 그 제조방법에 관한 것이다.
일반적으로, 액정표시장치는 액정분자의 광학적 이방성과 복굴절 특성을 이용하여 화상을 표현하는 것으로, 전계가 인가되면 액정의 배열이 달라지고 달라진 액정의 배열 방향에 따라 빛이 투과되는 특성 또한 달라진다.
일반적으로, 액정표시장치는 전계 생성 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는장치이다.
도 1은 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도시한 바와 같이, 일반적인 컬러 액정표시장치(11)는 서브 컬러필터(8)와 각 서브 컬러필터(8)사이에 구성된 블랙 매트릭스(6)를 포함하는 컬러필터(7)와 상기 컬러필터(7)의 상부에 증착된 공통전극(18)이 형성된 상부기판(5)과, 화소영역(P)이 정의되고 화소영역에는 화소전극(17)과 스위칭소자(T)가 구성되며, 화소영역(P)의 주변으로 어레이배선이 형성된 하부기판(22)과, 상부기판(5)과 하부기판(22) 사이에는 액정(14)이 충진되어 있다.
상기 하부기판(22)은 어레이기판(array substrate)이라고도 하며, 스위칭 소자인 박막트랜지스터(T)가 매트릭스형태(matrix type)로 위치하고, 이러한 다수의 박막트랜지스터(TFT)를 교차하여 지나가는 게이트배선(13)과 데이터배선(15)이 형성된다.
이때, 상기 화소영역(P)은 상기 게이트배선(13)과 데이터배선(15)이 교차하여 정의되는 영역이며, 상기 화소영역(P)상에는 전술한 바와 같이 투명한 화소전극(17)이 형성된다.
상기 화소전극(17)은 인듐-틴-옥사이드(indium-tin-oxide : ITO)와 같이 빛의 투과율이 비교적 뛰어난 투명 도전성금속을 사용한다.
상기 화소전극(17)과 병렬로 연결된 스토리지 캐패시터(C)가 게이트 배선(13)의 상부에 구성되며, 스토리지 캐패시터(C)의 제 1 전극으로 게이트 배선(13)의 일부를 사용하고, 제 2 전극으로 소스 및 드레인 전극과 동일층 동일물질로 형성된 섬형상의 금속층(30)을 사용한다.
이때, 상기 섬형상의 금속층(30)은 화소전극(17)과 접촉되어 화소전극의 신호를 받도록 구성된다.
전술한 바와 같이 상부 컬러필터 기판(5)과 하부 어레이기판(22)을 합착하여액정패널을 제작하는 경우에는, 컬러필터 기판(5)과 어레이기판(22)의 합착 오차에 의한 빛샘 불량 등이 발생할 확률이 매우 높다.
이하, 도 2를 참조하여 설명한다.
도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ`를 따라 절단한 단면도이다.
앞서 설명한 바와 같이, 어레이기판인 제 1 기판(22)과 컬러필터 기판인 제 2 기판(5)이 이격되어 구성되고, 제 1 및 제 2 기판(22,5)의 사이에는 액정층(14)이 위치한다.
어레이기판(22)의 상부에는 게이트 전극(32)과 액티브층(34)과 소스 전극(36)과 드레인 전극(38)을 포함하는 박막트랜지스터(T)와, 상기 박막트랜지스터(T)의 상부에는 이를 보호하는 보호막(40)이 구성된다.
화소영역(P)에는 상기 박막트랜지스터(T)의 드레인 전극(38)과 접촉하는 투명 화소전극(17)이 구성되고, 화소전극(17)과 병렬로 연결된 스토리지 캐패시터(C)가 게이트 배선(13)의 상부에 구성된다.
상기 상부 기판(5)에는 상기 게이트 배선(13)과 데이터 배선(15)과 박막트랜지스터(T)에 대응하여 블랙매트릭스(6)가 구성되고, 하부 기판(22)의 화소영역(P)에 대응하여 컬러필터(7a,7b,7c)가 구성된다.
이때, 일반적인 어레이기판의 구성은 수직 크로스토크(cross talk)를 방지하기 위해 데이터 배선(15)과 화소 전극(17)을 일정 간격(A) 이격 하여 구성하게 되고, 게이트 배선(13)과 화소 전극 또한 일정간격(B) 이격 하여 구성하게 된다.
데이터 배선(15) 및 게이트 배선(13)과 화소 전극(17) 사이의 이격된 공간(A,B)은 빛샘 현상이 발생하는 영역이기 때문에, 상부 컬러필터기판(5)에 구성한 블랙 매트릭스(black matrix)(6)가 이 부분을 가려주는 역할을 하게 된다.
또한, 상기 박막트랜지스터(T)의 상부에 구성된 블랙매트릭스(6)는 외부에서 조사된 빛이 보호막(40)을 지나 액티브층(34)에 영향을 주지 않도록 하기 위해 빛을 차단하는 역할을 하게 된다.
그런데, 상기 상부 기판(5)과 하부 기판(22)을 합착하는 공정 중 합착 오차(misalign)가 발생하는 경우가 있는데, 이를 감안하여 상기 블랙매트릭스(6)를 설계할 때 일정한 값의 마진(margin)을 두고 설계하기 때문에 그 만큼 개구율이 저하된다.
또한, 마진을 넘어선 합착오차가 발생할 경우, 빛샘 영역(A,B)이 블랙매트릭스(6)에 모두 가려지지 않는 빛샘 불량이 발생하는 경우가 종종 있다.
이러한 경우에는 상기 빛샘이 외부로 나타나기 때문에 화질을 저하하는 문제가 있다.
본 발명은 전술한 바와 같은 문제를 해결하기 위해 제안된 것으로, 본 발명을 요약하면 컬러필터를 하부기판에 구성하고 컬러필터 사이 영역 즉, 박막트랜지스터와 게이트 배선 및 데이터배선의 상부에 블랙매트릭스를 구성한다.
상기 화소영역에는 제 1 투명전극과 컬러필터와 제 2 투명전극 순으로 구성하되, 상기 제 1 투명 전극은 드레인 전극과 직접 접촉하는 구성이고, 상기 제 2 투명 전극은 상기 제 1 투명 전극과 접촉하도록 구성한다.
이때, 상기 제 2 투명 전극을 패턴하는 공정은 별도의 PR패턴공정을 진행하지 않고, 상기 제 2 투명 전극을 증착한 후, 화소영역에 대응하는 부분에만 레이저를 조사하여 결정화 한 후, 비정질의 전극만을 식각하는 식각용액을 사용하여 이를 제거하는 공정을 진행함으로서 제 2 투명 전극을 각 화소마다 독립적으로 패턴할 수 있게 된다. 이때,상기 레이저 뿐 아니라 UV 램프를 강하게 쬐어 결정화를 이룰 수 있다.
이와 같이 하면, 별도의 PR패턴 공정을 진행하지 않아도 되므로 PR 패턴 시 필요한 현상액이나 제거액(stripper)에 의해 하부의 컬러필터 패턴이 데미지를 입지 않게 된다.
따라서, 고화질의 액정표시장치를 제작할 수 있다.
도 1은 일반적인 액정표시장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이고,
도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ`를 절단하여 도시한 액정표시장치의 단면도이고,
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 COT구조 액정표시장치용 어레이기판의 일부를 개략적으로 도시한 평면도이고,
도 4a 내지 도 4g는 도 3의 Ⅳ-Ⅳ`를 따라 절단하여, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 공정 순서에 따라 도시한 공정 단면도이고,
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 COT구조 액정표시장치용 어레이기판의 일부를 개략적으로 도시한 평면도이고,
도 6a 내지 도 6k는 도 5의 Ⅵ-Ⅵ`을 따라 절단하여 본 발명의 제 2 실시예에 따른 공정 순서에 따라 도시한 공정 단면도이다.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>
100 : 기판 102 : 게이트 배선
104 : 게이트 전극 108 : 게이트 절연막
110 : 액티브층 112 : 오믹 콘택층
114 : 소스 전극 116 : 드레인 전극
120 : 제 1 보호막 124 : 블랙 매트릭스
126 : 제 2 보호막 128 : 제 1 화소전극
130a,b : 컬러필터
136 : 제 1 화소전극
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판은 기판 상에 구성되고, 일 방향으로 연장된 게이트 배선을 형성하는 단계와; 상기 게이트 배선과 제 1 절연막을 사이에 두고 수직하게 교차하여 다수의 화소영역을 정의하는 데이터 배선을 형성하는 단계와; 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차지점에 위치하고, 게이트 전극과 액티브층과 소스 전극과 드레인 전극을 포함하는 박막트랜지스터를 형성하는 단계와; 상기 드레인 전극의 일부를 제외한 박막트랜지스터의 상부와, 게이트 배선 및 데이터 배선의 상부 블랙매트릭스를 형성하는 단계와; 상기 블랙매트릭스가 형성된 기판의 전면에 제 2 절연막을 증착한 후, 제 2절연막과 하부의 제 1 절연막을 식각하여, 상기 드레인 전극의 일부를 노출하고 상기 화소영역에 대응하는 기판의 표면을 노출하는 단계와; 상기 패턴된 제 2 절연막이 형성된 기판에 투명 도전성 물질을 증착하고 패턴하여, 상기 노출된 드레인 전극과 접촉하면서 상기 화소영역에 투명 제 1 화소전극을 형성하는 단계와; 상기 제 1 화소전극의 상부에 컬러필터를 형성하는 단계와; 상기 컬러필터가 형성된 기판의 전면에 투명 도전성 물질을 증착하고, 상기 컬러필터 패턴에 대응한 부분에만 레이저를 조사하여 결정화하는 단계와; 상기 결정화 되지 않은 부분의 비정질 투명전극을 제거하여, 상기 화소영역에 대응하여 하부의 제 1 화소전극과 접촉하는 결정화된 제 2 화소전극을 형성하는 단계를 포함한다.
상기 반도체층은 순수 비정질 실리콘으로 형성된 액티브층과, 불순물 비정질 실리콘으로 형성된 오믹 콘택층이다.
상기 게이트 배선의 상부에 상기 제 1 및 제 2 화소전극과 접촉하는 아일랜드 형상의 금속층을 더욱 형성하여 이를 제 1 전극으로 하고, 그 하부의 게이트 배선을 제 2 전극으로 하는 보조 용량부를 형성하는 단계를 더욱 포함한다.
상기 박막트랜지스터와 블랙매트릭스 사이에 무기 절연층을 형성하는 단계를더욱 포함한다.
상기 무기절연층을 형성하는 물질은 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiO2)이다.
상기 컬러필터 패턴은 상기 화소영역에 적색과 녹색과 청색의 컬러필터 패턴이 각각 대응되도록 형성되며, 상기 결정화되지 않은 비정질 투명전극 부분만을 제거하는 제거액은 OZ산(((COOH)2·H2O+H2O))이다.
본 발명의 특징에 따른 액정표시장치용 어레이기판 제조방법은 기판 상에 일 방향으로 연장된 게이트 배선과, 이에 연결된 게이트 전극을 형성하는 단계와; 상기 게이트 전극 상부에 제 1 절연막을 사이에 두고 적층된 액티브 층과 오믹콘택층과, 오믹 콘택층과 접촉하고 소정간격 이격된 소스 전극과 드레인 전극과, 소스 전극에서 연장된 데이터 배선을 동시에 형성하는 단계와; 상기 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선의 상부에 블랙매트릭스를 형성하는 단계와; 상기 블랙매트릭스가 형성된 기판의 전면에 제 2 절연막을 증착한 후, 제 2절연막과 하부의 제 1 절연막을 식각하여, 상기 드레인 전극의 일부를 노출하고 상기 화소영역에 대응하는 기판의 표면을 노출하는 단계와; 상기 패턴된 제 2 절연막이 형성된 기판에 투명 도전성 물질을 증착하고 패턴하여, 상기 노출된 드레인 전극과 접촉하면서 상기 화소영역에 투명 제 1 화소전극을 형성하는 단계와; 상기 화소영역의 제 1 전극 상부에 컬러필터를 형성하는 단계와; 상기 컬러필터가 형성된 기판의 전면에 투명 도전성 물질을 증착하고, 상기 컬러필터에 대응한 부분에만 레이저를 조사하여 결정화하는단계와; 상기 결정화 되지 않은 부분의 비정질 투명전극을 제거하여, 상기 화소영역에 대응하여 하부의 제 1 화소전극과 접촉하는 결정화된 제 2 화소전극을 형성하는 단계를 포함한다.
상기 블랙매트릭스는 불투명한 감광성 유기 물질로 형성한다.
상기 게이트 배선의 상부에 상기 제 1 및 제 2 화소전극과 접촉하는 아일랜드 형상의 금속층을 더욱 형성하여 이를 제 1 전극으로 하고, 그 하부의 게이트 배선을 제 2 전극으로 하는 보조 용량부를 형성하는 단계를 더욱 포함한다.
상기 결정화되지 않은 비정질 투명전극 부분만을 제거하는 제거액은 OZ산((COOH)2·H2O+H2O))이다.
전술한 바와 같은 공정에서, 상기 액티브층과 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선을 동시에 형성하는 단계는, 상기 게이트 배선과 게이트 전극이 형성된 기판의 전면에 제 1 절연막과 순수 비정질 실리콘층과 불순물 비정질 실리콘층과 오믹 콘택층과 금속층을 적층하는 단계와; 상기 금속층 상부에 포토레지스트층을 형성하고, 포토 레지스트층과 이격된 상부에 투과부의 차단부와 반투과부로 구성된 마스크를 위치시키는 단계와; 상기 마스크의 상부에 빛을 조사하여 하부의 포토레지스트층을 노광하고 현상하여, 상기 게이트 전극 상부에 서로 다른 높이로 패턴된 제 1 포토패턴과, 상기 게이트 배선과는 수직한 형상으로 제 2 포토패턴을 형성하는 단계와; 상기 제 1 및 제 2 포토패턴 사이로 노출된 금속층과 하부의 불순물 비정질 실리콘층과 그 하부의 순수 비정질 실리콘층을 제거하여, 데이터 배선과 이에연장된 소스-드레인 전극층과, 소스-드레인 전극층의 하부에 제 1 반도체층과 제 1 반도체층에서 상기 데이터 배선의 하부로 연장된 제 2 반도체층을 형성하는 단계와; 상기 제 1 및 제 2 포토 패턴을 애싱하는 공정을 진행하여, 상기 소스-드레인 전극층의 중앙부를 노출하는 단계와; 상기 노출된 소스 드레인 전극층을 식각하여 이격된 소스 전극과 드레인 전극을 형성하는 단계를 더욱 포함한다.
상기 제 1 반도체층과 제 2 반도체층은 패턴된 비정질 실리콘층과 불순물 비정질 실리콘층이 적층되어 구성된되며, 상기 소스 및 드레인 전극층을 형성하는 공정에서, 상기 제 1 반도체층의 불순물 비정질 실리콘층이 제거된다.
상기 데이터 배선과 소스 및 드레인 전극의 주변으로 하부의 비정질 실리콘층이 노출되어 형성된다.
이하 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 설명한다.
-- 제 1 실시예 --
도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도시한 바와 같이, 기판(100)상에 일 방향으로 연장된 게이트 배선(102)을 서로 평행하게 구성하고, 상기 게이트 배선(102)과 수직하게 교차하여 다수의 화소영역(P)을 정의하는 데이터 배선(116)을 구성한다.
상기 게이트 배선(102)과 데이터 배선(116)이 교차하는 지점에는 게이트 전극(104)과 액티브층(108)과 소스 및 드레인 전극(112,114)을 포함하는 박막트랜지스터(T)를 구성한다.
상기 두 배선(102,116)이 교차하여 정의되는 영역(P)에는 드레인 전극(114)과 접촉하는 이중층의 투명 화소전극(128,136)과 컬러필터(130a,130b,130c)를 구성한다.
상기 투명 전극(128,136)은 이중 층으로 구성되며, 이중 제 1 전극(128)은 드레인 전극(114)과 접촉하면서 컬러필터(130a,130b,130c)의 하부에 구성하고, 제 2 전극(136)은 컬러필터(130a,130b,130c)의 상부에 구성한다.
상기 제 2 전극(136)은 제 1 전극(128)을 통해 드레인 전극(114)과 간접적으로 접촉하는 형상이다.
제 1 및 제 2 투명 전극(128,136)은 게이트배선(102)의 상부에 구성된 스토리지 캐패시터(Cst)와 병렬로 연결된다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 게이트 배선(102)의 일부를 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 및 제 2 투명전극(제 1 및 제 2 화소전극)(128,136)과 연결되는 동시에 상기 소스 및 드레인 전극과 동일층 동일물질로 형성된 섬형상의 금속층(118)을 제 2 전극으로 한다.
COT구조는 도시한 바와 같이, 상기 박막트랜지스터(T) 어레이부의 상부에 블랙매트릭스(124)와, 적, 녹, 청색의 컬러필터(130a,130b,130c)가 구성된 형태이다.
블랙매트릭스(124)는 빛샘영역을 가리는 역할을 하며, 게이트 배선 및 데이터 배선(116)과 박막트랜지스터(T)에 대응하여 구성한다.
상기 블랙매트릭스(124)는 불투명한 유기물질을 도포하여 형성하며, 빛을 차단하는 역할과 함께 박막트랜지스터를 보호하는 보호막의 역할을 하게 된다.
전술한 구성에서, 상기 컬러필터의 상부에 제 2 투명전극(제 2 화소전극)을 형성할 때 별도의 포토공정을 사용하지 않기 때문에 하부의 컬러필터 패턴이 데미지를 입는 불량을 방지할 수 있다.
이하, 도 4a 내지 도 4g를 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 제조방법을 설명한다.
도 4a 내지 도 4g는 도 3의 Ⅳ-Ⅳ`를 절단하여, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 공정 순서로 도시한 공정 단면도이다.
(도 3의 절단선 Ⅳ-Ⅳ`는 박막트랜지스터와 화소의 절단선이다.)
도 4a에 도시한 바와 같이, 기판(100)상에 도전성 금속을 증착하고 제 1 마스크 공정으로 패턴하여, 게이트 배선(102)과 게이트 전극(104)을 형성한다.
상기 게이트 배선(104)과 게이트 전극(102)이 형성된 기판(100)의 전면에 질화 실리콘(SiNX)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 제 1 절연층인 게이트 절연막(106)을 형성한다.
상기 게이트 절연막(106)상에 순수 비정질 실리콘(a-Si:H)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(n+a-Si:H)을 증착하고 제 2 마스크 공정으로 패턴하여, 게이트 전극(104)상부의 게이트 절연막(106)상에 액티브층(108)과 오믹 콘택층(110)을 형성한다.
다음으로 도4b에 도시한 바와 같이, 상기 액티브층(108)과 오믹 콘택층(110)이 형성된 기판(100)의 전면에 크롬(Cr) 또는 몰리브덴(Mo)을 증착하고 제 3 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 오믹 콘택층(110)과 각각 접촉하는 소스 전극(112)과 드레인 전극(114)과, 상기 소스전극(112)과 연결된 데이터배선(116)과, 상기 게이트 배선(102)의 상부에 아일랜드 형상의 소스/ 드레인 금속층(118)을 형성한다.
상기 소스 및 드레인 전극(112,114)이 형성된 기판(100)의 전면에 질화 실리콘(SiN2)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함한 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증측하여 제 2 절연막(120)을 형성한다.
이때, 제 2 절연막(120)의 기능은 이후에 형성되는 유기막(블랙매트릭스)과 상기 액티브층(108)사이에 발생할 수 있는 접촉불량을 방지하기 위한 기능을 한다.
제 2 절연막(120)은 상기 유기막과 액티브층(108)사이에 접촉불량이 발생하지 않는다면 굳이 형성하지 않아도 좋다.
전술한 바와 같은 공정을 통해 박막트랜지스터 어레이부를 형성하는 공정이 완료된다.
다음으로, 도 4c에 도시한 바와 같이, 상기 제 2 절연막(120)상부에 유전율이 낮은 불투명한 유기물질을 도포하여 블랙 유기층(122)을 형성하고 제 4 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 박막트랜지스터(T)와 데이터 배선(116)및 게이트 배선(102)의 상부에 블랙매트릭스(124)를 형성한다.
다음으로, 도 4d에 도시한 바와 같이, 상기 블랙매트릭스(124)가 형성된 기판(100)의 전면에 절연물질을 증착하여 제 3 절연막(126)을 형성한다.
상기 제 3 절연막(126)은 질화 실리콘(SiNX)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 사용하거나, 경우에 따라서는 벤조사이클로부텐(BCB)과 아크릴(acryl)계 수지(resin)를 포함하는 유기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 도포하여 사용한다.
도 4e에 도시한 바와 같이, 제 5 마스크 공정으로 상기 제 3 절연막(126)과 제 2 절연막(120)과 게이트 절연막(106)을 식각하여, 상기 드레인 전극(114)일 측과 화소영역(P)과, 상기 섬형상의 금속층(118)의 일측을 노출하는 공정을 진행한다.
도 4f에 도시한 바와 같이, 상기 패턴된 제 3 절연막(126)이 형성된 기판(100)의 전면에 전술한 바와 같은 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 포함하는 투명한 도전성 금속을 증착하고 제 6 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 노출된 드레인 전극(114)과 상기 소스/드레인 금속층(118)과 동시에 접촉하면서 화소영역(P)에 위치하는 제 1 화소전극(128)을 형성한다.
연속하여, 상기 제 1 화소전극(128)이 형성된 기판(100)의 전면에 컬러수지를 도포하여, 다수의 화소영역(P)에 적색과 녹색과 청색의 컬러필터(130a,130b,도 3의 130c)를 각각 형성한다.
도 4g에 도시한 바와 같이, 상기 다수의 컬러필터 패턴(130a,130b,도3의130c)이 형성된 기판(100)의 전면에 앞서 설명한 투명전극을 증착하여 투명전극층(132)을 증착한다.
이때, 증착된 투명전극층(132)은 비정질 상태이며, KrF를 광원으로 하는 레이저를 조사하여 부분적으로 결정화를 진행한다.
즉, 화소영역(P)에 대응하는 부분에 집중적으로 레이저를 조사하여 결정화를 진행한다. 이때, 레이저 이외에오 UV LAMP를 강하게 쬐어 결정화 할 수도 있다.
상기 부분적으로 결정화기 진행된 투명전극을 OZ산 즉, ((COOH)2·H2O+H2O)에 담그게 되면 상기 비정질 부분만 제거되어 상기 화소영역(P)에는 상기 제 1 화소전극(128)과 접촉하면서 상기 컬러필터 패턴(130a,130b,도 3의 130c) 상부에 구성되는 제 2 화소전극(136)을 형성할 수 있다.
이때, 상기 제 2 화소전극(136)을 형성하는 공정에서 별도의 포토공정을 진행하지 않기 때문에 포토 공정시 현상액에 의해 하부의 컬러필터 패턴이 데미지를 입는 것을 방지할 수 있다.
이상과 같은 공정을 통해 본 발명에 따른 COT구조의 액정표시장치용 기판을 제작할 수 있다.
전술한 바와 같은 공정은 상기 컬러필터를 형성하는 공정을 제외하고, 6마스크 공정으로 어레이 기판을 제작하였다.
이하, 제 2 실시예는 상기 제 1 실시예의 변형 예로서, 제 1 실시예에 비해 공정을 더욱 단순화 할 수 있는 방법을 제안한다.
-- 제 2 실시예 --
본 발명의 제 2 실시예는 전술한 박막트랜지스터 어레이부의 공정에서 상기 소스 및 드레인 전극과 액티브층을 한꺼번에 패턴하여 COT 구조의 액정표시장치를 제작하는 방법을 제안한다.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 COT구조의 액정표시장치용 하부기판의 구성을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도시한 바와 같이, 기판(200)상에 일 방향으로 연장된 게이트 배선(202)을 서로 평행하게 구성하고, 상기 게이트 배선(202)과 수직하게 교차하여 다수의 화소영역(P)을 정의하는 데이터 배선(224)을 구성한다.
상기 게이트 배선(202)과 데이터 배선(224)이 교차하는 지점에는 게이트 전극(204)과 액티브층(232a)과 소스 및 드레인 전극(238,240)을 포함하는 박막트랜지스터(T)를 구성한다.
상기 두 배선(202,224)이 교차하여 정의되는 영역(P)에는 드레인 전극(240)과 접촉하는 투명전극(254,260)과 컬러필터(256a,256b,256c)를 구성한다.
상기 투명 전극(254,260)은 이중 층으로 구성되며, 이중 제 1 전극(254)은 드레인 전극(240)과 접촉하면서 컬러필터(256a,256b,256c)의 하부에 구성하고, 제 2 전극(260)은 컬러필터(256a,256b,256c)의 상부에 구성한다.
상기 상기 제 2 전극(260)은 제 1 전극(254)을 통해 드레인 전극(240)과 간접적으로 접촉하는 형상이다.
제 1 및 제 2 투명 전극(254,260)은 게이트배선(202)의 상부에 구성된 스토리지 캐패시터(Cst)와 병렬로 연결된다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 게이트 배선(202)의 일부를 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 및 제 2 투명전극(254,260)과 연결되는 동시에 상기 소스 및 드레인 전극(238,240)과 동일층 동일물질로 형성된 섬형상의 금속층(228)을 제 2 전극으로 한다.
이때, 상기 소스 및 드레인 전극(238,240)과 액티브층(232a)은 동일한 공정에서 동시에 형성되며, 이러한 경우에는 도시한 바와 같이, 필연적으로 상기 데이터 배선과 소스 및 드레인 전극(238,240)과 섬형상의 금속층(228)의 주변으로 비정질 실리콘층(230a, 232a, 234a)이 노출되는 형상이 된다.
COT구조는 도시한 바와 같이, 상기 박막트랜지스터(T) 어레이부의 상부에 블랙매트릭스(250)와, 적, 녹, 청색의 컬러필터(256a,256b,256c)가 구성된 형태이다.
블랙매트릭스(250)는 빛샘영역을 가리는 역할을 하며, 게이트 배선 및 데이터 배선(224)과 박막트랜지스터(T)에 대응하여 구성한다.
상기 블랙매트릭스(254)는 불투명한 유기물질을 도포하여 형성하며, 빛을 차단하는 역할과 함께 박막트랜지스터를 보호하는 보호막의 역할을 하게 된다.
이하, 도 6a 내지 도 6k를 참조하여, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 COT구조의 박막트랜지스터 어레이부와 컬러필터부의 제조공정을 설명한다.
도 6a 내지 도 6k는 도 5의 Ⅵ-Ⅵ`을 따라 절단하여, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 공정순서로 도시한 공정 단면도이다.
도 6a에 도시한 바와 같이, 기판(200)상에 박막트랜지스터 영역(T)과 화소영역(P)과 데이터 영역(D)과 스토리지 영역(S)을 정의한다.
상기 다수의 영역(D,T,P,S)이 정의된 기판(200)의 전면에 도전성 금속을 증착하고 제 1 마스크 공정으로 패턴하여, 게이트 배선(202)과 게이트 전극(204)을 형성한다.
다음으로, 도 6b에 도시한 바와 같이, 상기 게이트 배선(204)과 게이트 전극(202)이 형성된 기판(200)의 전면에 질화 실리콘(SiNX)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 제 1 절연층인 게이트 절연막(208)을 형성한다.
상기 게이트 절연막(208)상에 순수 비정질 실리콘(a-Si:H)층(210)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(n+a-Si:H)층(212)과 제 2 금속층(214)을 순차적으로 형성한다. 연속하여, 상기 제 2 금속층(214)의 상부에 포토레지스트를 도포하여 PR층(216)을 형성한다.
이때, 상기 제 2 금속층은 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al), 알루미늄합금(AlNd)을 포함하는 도전성 금속그룹 중 선택된 하나로 형성할 수 있다.
연속하여, 상기 기판(200)과 이격된 상부에 투과부(A)와 차단부(B)와 반투과부(C)로 구성된 마스크(M)를 위치시킨다.
이때, 상기 차단부(B)는 데이터 영역(D)과 박막트랜지스터 영역(T)과 스토리지 영역(S)에 대응하고, 상기 반투과부(C)는 상기 박막트랜지스터 영역(T)의 일부에 대응하고, 상기 투과(C)부는 상기 박막트랜지스터 영역(T)을 제외한 화소영역(P)에 대응하도록 구성한다.
상기 마스크의 상부로 빛을 조사하여 하부의 PR층을 노광하고 현상하게 되면, 도 6c에 도시한 바와 같이, 상기 박막트랜지스터 영역(T)에 대응하여 높이가 다른 PR패턴(220a)이 남게 되고, 상기 데이터 영역(D)과 스토리지 영역(S)에는 원래 도포된 높이 그대로의 PR패턴(220b)이 남게 된다.
상기 박막트랜지스터 영역(T)에 대응한 부분의 PR패턴(220a)의 높이가 서로 다른 이유는, 상기 마스크(도 6b의 M)의 반투과부(C)에 대응한 부분이 상부로부터 일부만 노광되고 현상되었기 때문이다.
연속하여, 상기 패턴된 PR층(220a,220b)사이로 노출된 하부의 제 2 금속층(214)과 불순물 비정질 실리콘층(212)과 순수 비정질 실리콘층(210)을 제거하는 공정을 진행하면, 도 6d에 도시한 바와 같이, 상기 패턴된 PR층(220a,220b)의 하부에 구성되고, 상기 데이터 영역(D)에 대응하여 데이터 배선(224)과, 상기 데이터 배선(224)과 연결되면서 상기 박막트랜지스터 영역(T)에 섬형상으로 구성된 소스-드레인 전극층(226)과, 상기 스토리지 영역(S)에 형성된 섬형상의 금속층(228)이 형성된다.
동시에, 상기 데이터 배선(224)의 하부에는 제 1 반도체 패턴(230)이 구성되고, 제 1 반도체 패턴(230)에서 상기 소스-드레인 전극층(226)의 하부로 연장된 제 2 반도체 패턴(232)이 구성되고, 상기 섬형상의 금속층(226)의 하부에는 제 3 반도체 패턴(234)이 구성된다.
각각은 패턴된 순수 비정질 실리콘층(230a,232a,234a)과 불순물 비정질 실리콘층(230b,232b,234b)이 적층된 형상이다.
다음으로, 도 6e는 박막트랜지스터에 구성되는 액티브 채널층을 노출하기 위한 전단계인 PR패턴을 식각하는 애싱공정을 진행한 형상을 나타낸 도면이다.
상기 마스크의 반투부(도 6b의 C)에 대응하여 일부만 노광된 부분은 이후 형성되는 액티브 채널에 대응하는 부분(E)이며, 일차로 이를 제거하기 위한 애싱공정(ashing processing)을 진행하게 된다. 상기 애싱공정은 일종의 건식식각 공정과 같으며, 상기 액티브 채널층에 대응하는 부분(E)의 PR패턴의 높이만큼 PR패턴이 전체적으로 제거된다.
상기 애싱공정을 통해 전체적으로 낮아진 PR패턴(236a,236b)의 주변(F)으로 상기 데이터 배선(224)과 소스-드레인 전극층(226)과, 섬형상의 금속층(228)이 노출되는 현상이 필연적으로 발생하게 된다.
상기 PR패턴을 애싱하는 공정이 완료되면, 상기 액티브채널층(E)에 대응하여 노출된 소스-드레인 전극층(226)과 그 하부의 비정질 실리콘층(232b)을 제거하는 공정을 진행하고, 상기 남겨진 PR 패턴을 제거한다.
이때, 상기 PR패턴(236a,236b)의 주변(F)으로 노출된 금속층과 그 하부의 비정질 실리콘층(230b, 232b,234b) 또한 제거된다.
이와 같은 공정을 완료하면 결과적으로, 도 6f에 도시한 바와 같이, 상기 박막트랜지스터 영역(T)에 대응하여 서로 소정간격 이격되어 액티브 채널층(CH)을 노출하는 소스 전극(238)과 드레인 전극(240)과, 소스 전극(238)에서 연장된 데이터 배선(224)과, 상기 게이트 배선(204)이 일부 상부에는 섬형상의 금속층(228)을 형성할 수 있다. 상기 각 구성요소의 주변으로는 필연적으로 순수 비정질 실리콘층(230a,232a,234a)이 노출된 형상이 된다.
이때, 상기 박막트랜지스터 영역(T)에 대응하여 구성된 순수 비정질 실리콘층(232a)을 액티브층(active layer)이라 하고, 그 상부의 불순물 비정질 실리콘층(232b)을 오믹 콘택층(ohmic contact layer)이라 한다.
이상과 같이, 도 6b와 도 6f를 통한 제 2 마스크 공정으로 박막트랜지스터 어레이부를 형성하는 공정이 완료되었다.
다음으로, 도 6g에 도시한 바와 같이, 상기 소스 및 드레이 전극(238,240)이 형성된 기판(200)의 전면에 질화 실리콘(SiN2)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함한 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 제 2 절연막(246)을 형성한다.
이때, 제 2 절연막(246)의 기능은 이후에 형성되는 유기막(미도시)과 상기 액티브층(232a)사이에 발생할 수 있는 접촉불량을 방지하기 위한 기능을 한다.
다음으로, 상기 제 2 절연막(246)상부에 유전율이 낮은 불투명한 유기물질을 도포하여 블랙 유기층(248)을 형성하고 제 3 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 박막트랜지스터 영역(T)과 데이터 배선(224) 및 섬형상의 금속층(228)의 일부만을 가리도록 패턴된 블랙매트릭스(250)를 형성한다.
다음으로, 도 6h에 도시한 바와 같이, 상기 블랙매트릭스(250)가 형성된 기판(200)의 전면에 절연물질을 증착하여 제 3 절연막(252)을 형성한다.
상기 제 3 절연막(252)은 질화 실리콘(SiNX)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 사용하거나, 경우에 따라서는 벤조사이클로부텐(BCB)과 아크릴(acryl)계 수지(resin)를 포함하는 유기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 도포하여 사용한다 .
도 6i에 도시한 바와 같이, 제 4 마스크 공정으로 상기 제 3 절연막(252) 제 2 절연막(246)과 게이트 절연막(206)을 식각 하여, 상기 드레인 전극(240)의 일측과 화소영역(P)과, 상기 섬형상의 금속층(228)의 일측을 노출하는 공정을 진행한다.
도 6j에 도시한 바와 같이, 상기 패턴된 제 3 절연막(252)이 형성된 기판(200)의 전면에 전술한 바와 같은 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 포함하는 투명한 도전성 금속을 증착하고 제 5 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 노출된 드레인 전극(240)과 상기 섬형상의 금속층(228)과 동시에 접촉하면서 화소영역(P)에 위치하는 제 1 화소전극(254)을 형성한다.
연속하여, 상기 제 1 화소전극(254)이 형성된 기판(200)의 전면에 컬러수지를 도포하여, 다수의 화소영역(P)에 적색과 녹색과 청색의 컬러필터(256a,256b,도 5의 256c)를 각각 형성한다.
도 6k에 도시한 바와 같이, 상기 다수의 컬러필터 패턴(256a,256b,256c)이 형성된 기판(200)의 전면에 앞서 설명한 투명전극을 증착하여 투명전극층(258)을증착한다.
이때, 증착된 투명전극층(258)은 비정질 상태이며, KrF를 광원으로 하는 레이저를 조사하여 부분적으로 결정화를 진행한다.
즉, 화소영역(P)에 대응하는 부분에 집중적으로 레이저를 조사하여 결정화를 진행한다. 이때, 레이저 뿐 아니라 UV 램프를 강하게 쬐어 결정화 할 수 있다.
상기 부분적으로 결정화기 진행된 투명전극을 OZ산 즉, ((COOH)2·H2O+H2O)에 담그게 되면 상기 비정질 부분만 제거되어 상기 화소영역(P)에는 상기 제 1 화소전극(254)과 접촉하면서 상기 컬러필터 패턴(256a,256b,256c) 상부에 구성되는 제 2 화소전극(260)을 형성할 수 있다.
이때, 상기 제 2 화소전극(260)을 형성하는 공정에서 별도의 포토공정을 진행하지 않기 때문에 포토 공정 시 현상액에 의해 하부의 컬러필터 패턴이 데미지를 입는 것을 방지할 수 있다.
또한, 전술한 공정은 컬러필터 패턴 공정을 제외하고 상기 5 마스크 공정으로 제작되므로 상기 제 1 실시예에 비해 1마스크 공정을 줄여 공정시간을 단축하는 동시에 공정비용을 낮출 수 있는 장점이 있다.
본 발명에 따른 COT 구조의 액정표시장치는 어레이기판에 블랙매트릭스를 설계할 때 합착오차를 위한 공정마진을 둘 필요가 없으므로 개구율을 개선하는 효과가 있다.
또한, 제 2 화소전극을 형성하는 공정에서 사진식각 공정을 진행하지 않기 때문에 하부의 컬러필터가 상기 식각공정에서 사용되는 약액에 의해 데미지를 입지 않으므로 고화질을 구현하는 액정표시장치를 제작할 수 있는 효과가 있다.
또한, 박막트랜지스터를 형성할 때, 소스 및 드레인 전극과 액티브층을 1마스크 공정으로 형성함으로서, 공정시간 단축과 함께 공정비용을 낮추는 효과가 있다.

Claims (20)

  1. 기판 상에 구성되고, 일 방향으로 연장된 게이트 배선을 형성하는 단계와;
    상기 게이트 배선과 제 1 절연막을 사이에 두고 수직하게 교차하여 다수의 화소영역을 정의하는 데이터 배선을 형성하는 단계와;
    상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차지점에 위치하고, 게이트 전극과 액티브층과 소스 전극과 드레인 전극을 포함하는 박막트랜지스터를 형성하는 단계와;
    상기 드레인 전극의 일부를 제외한 박막트랜지스터의 상부와, 게이트 배선 및 데이터 배선의 상부 블랙매트릭스를 형성하는 단계와;
    상기 블랙매트릭스가 형성된 기판의 전면에 제 2 절연막을 증착한 후, 제 2절연막과 하부의 제 1 절연막을 식각하여, 상기 드레인 전극의 일부를 노출하고 상기 화소영역에 대응하는 기판의 표면을 노출하는 단계와;
    상기 패턴된 제 2 절연막이 형성된 기판에 투명 도전성 물질을 증착하고 패턴하여, 상기 노출된 드레인 전극과 접촉하면서 상기 화소영역에 투명 제 1 화소전극을 형성하는 단계와;
    상기 제 1 화소전극의 상부에 컬러필터를 형성하는 단계와;
    상기 컬러필터가 형성된 기판의 전면에 투명 도전성 물질을 증착하고, 상기 컬러필터 패턴에 대응한 부분에만 레이저를 조사하여 결정화하는 단계와;
    상기 결정화 되지 않은 부분의 비정질 투명전극을 제거하여, 상기 화소영역에 대응하여 하부의 제 1 화소전극과 접촉하는 결정화된 제 2 화소전극을 형성하는단계
    를 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 반도체층은 순수 비정질 실리콘으로 형성된 액티브층과, 불순물 비정질 실리콘으로 형성된 오믹 콘택층인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 블랙매트릭스는 불투명한 감광성 유기 물질인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 게이트 배선의 상부에 상기 제 1 및 제 2 화소전극과 접촉하는 아일랜드 형상의 금속층을 더욱 형성하여 이를 제 1 전극으로 하고, 그 하부의 게이트 배선을 제 2 전극으로 하는 보조 용량부를 형성하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 박막트랜지스터와 블랙매트릭스 사이에 무기 절연층을 형성하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 무기절연층을 형성하는 물질은 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiO2)인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 컬러필터 패턴은 상기 화소영역에 적색과 녹색과 청색의 컬러필터 패턴이 각각 대응되도록 형성된 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 결정화되지 않은 비정질 투명전극 부분만을 제거하는 제거액은 OZ산(((COOH)2·H2O+H2O))인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  9. 기판 상에 일 방향으로 연장된 게이트 배선과, 이에 연결된 게이트 전극을 형성하는 단계와;
    상기 게이트 전극 상부에 제 1 절연막을 사이에 두고 적층된 액티브 층과 오믹콘택층과, 오믹 콘택층과 접촉하고 소정간격 이격된 소스 전극과 드레인 전극과, 소스 전극에서 연장된 데이터 배선을 동시에 형성하는 단계와;
    상기 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선의 상부에 블랙매트릭스를 형성하는 단계와;
    상기 블랙매트릭스가 형성된 기판의 전면에 제 2 절연막을 증착한 후, 제 2절연막과 하부의 제 1 절연막을 식각하여, 상기 드레인 전극의 일부를 노출하고 상기 화소영역에 대응하는 기판의 표면을 노출하는 단계와;
    상기 패턴된 제 2 절연막이 형성된 기판에 투명 도전성 물질을 증착하고 패턴하여, 상기 노출된 드레인 전극과 접촉하면서 상기 화소영역에 투명 제 1 화소전극을 형성하는 단계와;
    상기 화소영역의 제 1 전극 상부에 컬러필터를 형성하는 단계와;
    상기 컬러필터가 형성된 기판의 전면에 투명 도전성 물질을 증착하고, 상기 컬러필터에 대응한 부분에만 레이저를 조사하여 결정화하는 단계와;
    상기 결정화 되지 않은 부분의 비정질 투명전극을 제거하여, 상기 화소영역에 대응하여 하부의 제 1 화소전극과 접촉하는 결정화된 제 2 화소전극을 형성하는 단계
    를 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 반도체층은 순수 비정질 실리콘으로 형성된 액티브층과, 불순물 비정질 실리콘으로 형성된 오믹 콘택층인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 블랙매트릭스는 불투명한 감광성 유기 물질인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 게이트 배선의 상부에 상기 제 1 및 제 2 화소전극과 접촉하는 아일랜드 형상의 금속층을 더욱 형성하여 이를 제 1 전극으로 하고, 그 하부의 게이트 배선을 제 2 전극으로 하는 보조 용량부를 형성하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  13. 제 9 항에 있어서,
    상기 박막트랜지스터와 블랙매트릭스 사이에 무기 절연층을 형성하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 무기절연층을 형성하는 물질은 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiO2)인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  15. 제 9항에 있어서,
    상기 컬러필터 패턴은 상기 화소영역에 적색과 녹색과 청색의 컬러필터 패턴이 각각 대응되도록 형성된 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  16. 제 9 항에 있어서,
    상기 결정화되지 않은 비정질 투명전극 부분만을 제거하는 제거액은 OZ산((COOH)2·H2O+H2O))인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  17. 제 9 항에 있어서,
    상기 액티브층과 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선을 동시에 형성하는 단계는,
    상기 게이트 배선과 게이트 전극이 형성된 기판의 전면에 제 1 절연막과 순수 비정질 실리콘층과 불순물 비정질 실리콘층과 오믹 콘택층과 금속층을 적층하는 단계와;
    상기 금속층 상부에 포토레지스트층을 형성하고, 포토 레지스트층과 이격된 상부에 투과부의 차단부와 반투과부로 구성된 마스크를 위치시키는 단계와;
    상기 마스크의 상부에 빛을 조사하여 하부의 포토레지스트층을 노광하고 현상하여, 상기 게이트 전극 상부에 서로 다른 높이로 패턴된 제 1 포토패턴과, 상기 게이트 배선과는 수직한 형상으로 제 2 포토패턴을 형성하는 단계와;
    상기 제 1 및 제 2 포토패턴 사이로 노출된 금속층과 하부의 불순물 비정질 실리콘층과 그 하부의 순수 비정질 실리콘층을 제거하여, 데이터 배선과 이에 연장된 소스-드레인 전극층과, 소스-드레인 전극층의 하부에 제 1 반도체층과 제 1 반도체층에서 상기 데이터 배선의 하부로 연장된 제 2 반도체층을 형성하는 단계와;
    상기 제 1 및 제 2 포토 패턴을 애싱하는 공정을 진행하여, 상기 소스-드레인 전극층의 중앙부를 노출하는 단계와;
    상기 노출된 소스 드레인 전극층을 식각하여 이격된 소스 전극과 드레인 전극을 형성하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 제 1 반도체층과 제 2 반도체층은 패턴된 비정질 실리콘층과 불순물 비정질 실리콘층이 적층되어 구성된 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  19. 제 17 항에 있어서,
    상기 소스 및 드레인 전극층을 형성하는 공정에서, 상기 제 1 반도체층의 불순물 비정질 실리콘층이 제거되는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 데이터 배선과 소스 및 드레인 전극의 주변으로 하부의 비정질 실리콘층이 노출되어 형성된 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110086937A (ko) * 2010-01-25 2011-08-02 삼성전자주식회사 표시 기판 및 이의 제조 방법
KR101243824B1 (ko) * 2008-09-24 2013-03-18 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그 제조방법
US8796680B2 (en) 2007-10-31 2014-08-05 Samsung Display Co., Ltd. Thin-film transistor substrate and method of manufacturing the same
KR101471149B1 (ko) * 2013-11-12 2014-12-11 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법
KR101510903B1 (ko) * 2008-12-19 2015-04-10 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판과 이를 이용한 유기전계발광표시장치
KR101522481B1 (ko) * 2012-07-20 2015-05-21 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 어레이 기판을 제조하는 방법, 어레이 기판 및 표시 장치

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100870700B1 (ko) * 2002-12-09 2008-11-27 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법
US7825021B2 (en) * 2004-01-16 2010-11-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing display device
KR101100674B1 (ko) * 2004-06-30 2012-01-03 엘지디스플레이 주식회사 씨오티 구조 액정표시장치용 어레이 기판 제조방법
GB2421833B (en) * 2004-12-31 2007-04-04 Lg Philips Lcd Co Ltd Liquid crystal display device and method for fabricating the same
US20070002199A1 (en) * 2005-06-30 2007-01-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
KR101159388B1 (ko) * 2005-12-27 2012-06-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시소자와 그 제조 방법
US20070262312A1 (en) * 2006-05-11 2007-11-15 Au Optronics Corp. Thin film transistor array substrate structures and fabrication method thereof
US7688419B2 (en) 2006-05-11 2010-03-30 Au Optronics Corp. Thin film transistor array substrate structures and fabrication method thereof
CN100452363C (zh) * 2006-08-16 2009-01-14 友达光电股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板的制作方法
KR101293561B1 (ko) 2006-10-11 2013-08-06 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
US8860033B2 (en) * 2007-03-16 2014-10-14 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate
TWI466298B (zh) * 2007-09-11 2014-12-21 Au Optronics Corp 畫素結構的製作方法
CN101552241B (zh) * 2008-04-03 2010-11-03 北京京东方光电科技有限公司 阵列基板及其制造方法和液晶显示装置
TWI391715B (zh) * 2008-09-15 2013-04-01 Wintek Corp 彩片濾光片基板及液晶顯示器
KR101490490B1 (ko) * 2008-12-23 2015-02-06 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
US20100165280A1 (en) * 2008-12-25 2010-07-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
KR101246790B1 (ko) * 2009-11-16 2013-03-26 엘지디스플레이 주식회사 어레이 기판 및 이의 제조방법
KR20110061773A (ko) * 2009-12-02 2011-06-10 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법
TWI412858B (zh) 2010-12-29 2013-10-21 Au Optronics Corp 畫素結構
KR101915223B1 (ko) * 2011-08-19 2019-01-15 엘지디스플레이 주식회사 에이에이치-아이피에스 방식 액정표시장치용 어레이기판 및 그 제조방법
US20130069066A1 (en) * 2011-09-21 2013-03-21 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. Thin film transistor and manufacture method thereof
CN102610564B (zh) * 2012-02-07 2014-06-25 深圳市华星光电技术有限公司 Tft阵列基板的制作方法
KR101859483B1 (ko) * 2012-03-06 2018-06-27 엘지디스플레이 주식회사 입체 영상 표시 장치 및 그 제조 방법
TWI687748B (zh) * 2013-06-05 2020-03-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 顯示裝置及電子裝置
TWI511303B (zh) * 2013-08-30 2015-12-01 Ye Xin Technology Consulting Co Ltd 液晶顯示器的陣列基板
CN104269414B (zh) * 2014-09-25 2018-03-09 合肥京东方光电科技有限公司 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
CN105511189B (zh) * 2016-02-16 2018-10-26 深圳市华星光电技术有限公司 Va型coa液晶显示面板
CN106298956A (zh) * 2016-09-08 2017-01-04 武汉华星光电技术有限公司 氧化物薄膜晶体管的制备方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2655941B2 (ja) * 1991-01-30 1997-09-24 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示装置およびその製造方法
EP0627123A4 (en) * 1992-02-28 1995-11-22 Lasa Ind Inc LASER SHAPED INTEGRATED CIRCUIT MASK.
JPH0772473A (ja) * 1993-09-01 1995-03-17 Sony Corp カラー液晶表示装置
KR100209277B1 (ko) * 1996-04-25 1999-07-15 구자홍 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조방법
US6038006A (en) * 1996-09-02 2000-03-14 Casio Computer Co., Ltd. Liquid crystal display device with light shield and color filter overlapping two edges of pixel electrode
US6143488A (en) * 1996-12-30 2000-11-07 Agfa-Gevaert Photothermographic recording material coatable from an aqueous medium
KR100529555B1 (ko) * 1997-10-28 2006-03-03 삼성전자주식회사 액정표시장치및그제조방법
JP2000098368A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Canon Inc アクティブマトリクス基板とその製造方法、該基板を用いた液晶素子
JP3267271B2 (ja) * 1998-12-10 2002-03-18 日本電気株式会社 液晶表示装置およびその製造法
US6466281B1 (en) * 1999-08-23 2002-10-15 Industrial Technology Research Institute Integrated black matrix/color filter structure for TFT-LCD
JP2001066617A (ja) * 1999-08-27 2001-03-16 Nec Corp 液晶表示装置およびその製造方法
DE10124986B4 (de) * 2000-05-25 2005-03-10 Lg Philips Lcd Co Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung und Herstellungsverfahren dafür
TWI256976B (en) * 2000-08-04 2006-06-21 Hannstar Display Corp Method of patterning an ITO layer
KR100857133B1 (ko) * 2002-06-28 2008-09-05 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 어레이기판 및 그 제조방법

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8796680B2 (en) 2007-10-31 2014-08-05 Samsung Display Co., Ltd. Thin-film transistor substrate and method of manufacturing the same
KR101243824B1 (ko) * 2008-09-24 2013-03-18 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그 제조방법
KR101510903B1 (ko) * 2008-12-19 2015-04-10 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판과 이를 이용한 유기전계발광표시장치
KR20110086937A (ko) * 2010-01-25 2011-08-02 삼성전자주식회사 표시 기판 및 이의 제조 방법
KR101522481B1 (ko) * 2012-07-20 2015-05-21 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 어레이 기판을 제조하는 방법, 어레이 기판 및 표시 장치
US9040344B2 (en) 2012-07-20 2015-05-26 Boe Technology Group Co., Ltd. Method for fabricating array substrate, array substrate and display device
KR101471149B1 (ko) * 2013-11-12 2014-12-11 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법

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