KR20020031071A - 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치 및 보호막 형성방법 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치 및 보호막 형성방법 Download PDF

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Abstract

증발포인트를, 기판의 이동방향에 대하여, 직각방향으로 복수열 배치하는 것, 또한 기판을 가열하는 히터를 복수개 분할하여 설치함과 동시에, 각 히터에 가열온도 설정용 제어수단을 개별로 설치하는 것, 그리고 성막 존을 한정하기 위한 개구제어판에 냉각기구를 설치하는 것에 의해, 성막시에 있어서의 기판의 온도상승의 저감과, 기판의 온도분포의 차를 적게 할 수 있고, 큰 면적의 기판에 균일하게 성막함과 동시에, 온도상승에 따른 기판의 깨짐을 방지하는 것이다.
기판상에 보호막을 형성하는 성막실 내에, 기판반송기구, 상기 기판을 가열하는 히터, 증착재료를 충전한 링 하스, 상기 링 하스에 충전한 증착재료에 전자빔을 조사하여 증착재료를 증발시켜, 기판상에 증착시키는 전자빔 건을 각각 설치한 보호막 형성장치에 있어서, 상기 링 하스에 의한 증발포인트를 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 복수열 배치한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치이다.

Description

플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치 및 보호막 형성방법{Protective film forming apparatus and protective film forming method for plasma display}
본 발명은, MgO막 등의 플라즈마 디스플레이용 보호막 형성장치에 관한 것이다.
근래, 큰 화면의 벽걸이 텔레비젼 등의 실용화에 있어서, 플라즈마 디스플레이 패널(PDP)이 주목을 받고 있는데, 이 패널용으로서, 유리제품의 기판상에 보호막으로서 MgO 성막(成膜)을 형성하는 것이 행해지고 있다. 또한, 이 플라즈마 디스플레이 패널의 성막에 한정되지 않고, 기판상에 피막(皮膜)을 형성시키는 것은, 여러 분야에 적용되고 있다. 이 성막에는 진공증착장치가 사용되는데, 그 성막작업을 연속적으로 행하기 위해서는 통상 인라인식의 것이 사용된다.
도 7에 종래 일반적으로 사용되고 있는 보호막 형성장치의 증착실의 개념도를 나타낸다. 증착실(1)내에 있어서, 기판(4)은 반송기구(5)에 세트되고, 또한 그 상부에 설치된 히터패널(6)에 의해 가열되면서 수평방향으로 이동한다. 한편, 기판(4)의 표면에 증착되는 MgO는, 도 8에 나타낸 바와 같이, 2대의 회전하는 링 하스(3)에 충전되고, 마찬가지로 2대의 피어스식 전자빔(EB) 건(2)으로부터 전자빔 (7)을 링 하스(3)상의 MgO에 조사하고, 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 1열로 나란한 4개소로부터 MgO를 증발시켜, 기판(4)상에 증착·퇴적한다. 예를 들면 약 1m×1.5m의 큰 면적의 기판(4)에 MgO 보호막을 형성시키고 있다. 또한, 이 때 기판(4)의 아래쪽에는 MgO의 입사각 θ를 제한하여, 보호막의 막질(膜質)을 유지하기 위한 개구제한판(8)을 설치하고 있다.
그런데, MgO는 승화성(昇華性) 재료이기 때문에, 국소적으로 가열하면, 스프래쉬가 발생하기 쉽다. 그 때문에, 스프래쉬 없이 높은 성막 레이트를 얻기 위해서는, 전자빔을 스위프시켜, 증발면적을 넓히고, 고출력의 전자빔을 투입해야만 한다.
그 결과, 증발원으로부터의 복사열에 의해, 증착중에 기판온도가 크게 상승하고, 더구나 기판의 면내에서 큰 온도분포가 발생하여, 그 결과 유리제품인 기판이 깨지는 문제가 많이 발생하였다. 또한, 스프래쉬의 발생과 상기 기판이 깨지는 문제로 인해, 생산가능한 성막 레이트는 2500Å/min이 한계였다.
도 10은, 상기의 종래 장치에 의해, 기판가열온도 200℃, 성막 레이트 2500Å/min에 있어서, 두께 7000Å의 MgO막을 형성시킨 경우의 온도측정결과를 나타낸 것이다. 또한 도 9는 기판온도의 측정위치를 나타낸 설명도이다. 도 9에 있어서, (5)는 반송장치의 캐리어로서, 홀더(9)에 의해 기판(4)을 유지하고 있다. A 및 B는 기판온도의 측정위치이다. 또한 (10)은 속이 빈 판이다. 이러한 위치에 있어서의 측정 결과, 도 10에 나타낸 바와 같이, 측정위치 A-B 사이에서 최대 80℃의 온도차가 발생하고 있는 것을 알 수 있었다.
본 발명은, 증발포인트를, 기판의 반송방향에 대하여, 직각방향으로 복수열 배치하는 것, 또한 기판을 가열하는 히터를 복수개 분할하여 설치함과 동시에, 각 히터에 가열온도 설정용 제어수단을 개별로 설치하는 것, 또한 성막 존을 한정하기 위한 개구제어판에 냉각기구를 설치하는 것에 의해, 성막시에 있어서의 기판의 온도상승의 저감과, 기판의 온도분포의 차를 적게 할 수 있어, 큰 면적의 기판에 균일하게 성막함과 동시에, 온도상승에 의한 기판의 깨짐을 방지하여, 종래 장치에 있어서의 문제점의 해소를 도모한 것이다.
도 1은 본 발명에 있어서의 전자 건과 링 하스의 구성의 실예를 나타낸 설명도,
도 2는 본 발명에 있어서의 전자 건과 링 하스의 구성의 다른 실예를 나타낸 설명도,
도 3은 본 발명의 보호막 형성장치의 실예를 나타낸 개념도,
도 4는 본 발명에 있어서의 기판온도와 시간과의 측정결과를 나타낸 특성도,
도 5는 본 발명의 보호막 형성장치의 다른 실예를 나타낸 설명도,
도 6은 본 발명에 있어서의 기판온도와 시간과의 측정결과를 나타낸 특성도,
도 7은 종래의 보호막 형성장치의 실예를 나타낸 개념도,
도 8은 종래의 보호막 형성장치에 있어서의 전자 건과 링 하스의 구성의 실예를 나타낸 설명도,
도 9는 기판온도와 시간과의 측정위치를 나타낸 설명도,
도 10은 종래의 보호막 형성장치에 있어서의 기판온도와 시간과의 측정결과를 나타낸 특성도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1 : 증착실 2 : 전자빔 건
3 : 링 하스4 : 기판
5 : 반송기구6 : 히터
7 : 전자빔8 : 개구제한판
9 : 홀더10 : 속이 빈 판
청구항 1에 기재된 본 발명의 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치는, 기판상에 보호막을 형성하는 성막실 내에, 기판반송기구, 상기 기판을 가열하는 히터, 증착재료를 충전한 링 하스, 상기 링 하스에 충전한 증착재료에 전자빔을 조사하여 증착재료를 증발시켜, 기판상에 증착시키는 전자빔 건을 각각 설치한 보호막 형성장치에 있어서, 상기 링 하스에 의한 증발포인트를 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 복수열 배치한 것을 특징으로 한다.
청구항 2에 기재된 본 발명은, 청구항 1에 기재된 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치에 있어서, 기판을 가열하는 히터를 복수개 분할하여 설치함과 동시에, 상기 각 히터에 가열온도 설정용 제어수단을 개별로 설치한 것을 특징으로 한다.
청구항 3에 기재된 본 발명은, 청구항 1 또는 청구항 2에 기재된 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치에 있어서, 성막 존을 한정하기 위한 개구제어판에 냉각기구를 설치한 것을 특징으로 한다.
청구항 4에 기재된 본 발명의 플라즈마 디스플레이 보호막 형성방법은, 기판을 반송하면서 성막할 때에, 기판의 반송방향에 대하여, 직각방향으로 증발포인트를 복수열 배치하는 것에 의해, 높은 성막 레이트로서 균일하게 성막되도록 한 것을 특징으로 한다.
[발명의 실시형태]
본 발명의 제 1 실시형태는, 증착재료를 충전한 링 하스 및 링 하스에 충전한 증발재료에 전자빔을 조사하는 전자빔 건에 의해 형성되는 증발포인트를, 기판의 반송방향에 대하여, 직각방향으로 복수열 배치한 것이다. 그 결과, 큰 면적의 기판에 대하여 균일하게 성막하는 것이 가능하다.
본 발명의 제 2 실시형태는, 기판을 가열하는 히터를 복수개 분할하여 설치하고, 또한 상기 히터에 가열온도 설정용 제어수단을 개별로 설치한 것이다. 그 결과, 성막시에 있어서의 기판으로 들어오는 열량의 균일화를 도모하여, 기판이 깨지는 것을 방지할 수 있다.
본 발명의 제 3 실시형태는, 성막 존을 한정하기 위한 개구제어판에 냉각기구를 설치한 것이다. 그 결과, 성막시에 있어서의 기판 온도의 상승을 저감시킬 수 있다.
본 발명의 제 4 실시형태는, 기판을 반송하면서 성막할 때에, 기판의 반송방향에 대하여, 직각방향으로 증발포인트를 복수열 배치하는 것에 의해, 높은 성막 레이트로서 균일하게 성막되도록 한 플라즈마 디스플레이 보호막 형성방법이다.
[실시예]
(실시예 1)
이하, 도면에 의해 본 발명의 1 실시예를 설명한다. 이미 종래예에서 설명한 구성에 대해서는 동일부호를 부여하고 그 설명의 일부를 생략한다. 도 1 및 도 2는 본 발명의 MgO 증착장치에 있어서의 전자빔 건과 링 하스가 배치되는 일예를 나타낸 설명도로서, 도 1은 증착실(1)에 전자빔 건(2)과 링 하스(3)를 각각 4대 설치한 경우를 나타낸 것이다. 동 도면에 나타낸 바와 같이, 본 실시예는, 링 하스 (3)를 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 2대씩 2열로 배치하고 있다. 또한 각 열이 4개의 증발포인트가 되도록, 각 링 하스(3)는 2개의 증발포인트를 가진다. 또한, 도 2는 전자빔 건(2)과 링 하스(3)를 각각 2대 설치한 경우를 나타낸 것이다. 동 도면에 나타낸 바와 같이, 본 실시예는, 2대의 링 하스(3)를 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 1열로 배치하고, 각 링 하스(3)에는, 4개의 증발포인트를 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 2개씩 2열로 형성하고 있다. 그 결과, 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 4개씩 2열의 증발포인트를 가진다. 도 3은 본 발명의 MgO 증착장치의 개념도이다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 상기의 증착실(1)의 내부에는, 아래쪽에 모터 등의 구동기구(도시하지 않음)에 의해 회전하는 링 하스(3)가 설치되어 있고, 측면에는, 전자빔을 방출하는 전자빔 건(2)이 설치되어 있다. 또한, 링 하스(3)의 위쪽에는, 성막되는 유리 등의 재료로 이루어지는 기판(4)을 유지한 반송기구인 캐리어(5)가 수평방향으로 이동할 수 있게 배치되어, 소정속도로 기판(4)을 반송하도록 배치되어 있다.
상기 구성에 있어서, 기판(4)상에 진공증착을 행하여, 성막을 형성시키기 위해서는, 기판(4)을 반송기구인 캐리어(5)에 세트하고, 기판(4)의 위쪽에 분할설치된 히터패널(6)에 의해 기판(4)을 가열하면서 수평방향으로 이동시킨다. 또 각각의 히터패널(6)은, 독립적으로 온도제어가 가능하도록 구성되어 있다. 한편, 증착실(1)내에 설치한 상기 4대의 링 하스(3)를 회전시키면서, 증착실(1)의 측벽에 설치한 4대의 전자빔 건(2)으로부터 상기 링 하스(3)에 충전된 MgO 등의 증발재료의 2개소(도 1 참조) 혹은 4개소(도 2 참조)의 증발포인트에 대하여, 기판의 반송방향에 직각방향으로 전자빔(7)을 조사하면, 상기 MgO 등의 증발재료는 증발·비산하고, 기판(4) 상에 증착·퇴적하여 보호막이 형성된다. 이 때 기판(4)은, 상기와 같이, 분할설치된 히터(6)에 의해 가열되는데, 각각의 히터(6)마다 설치한 온도제어수단에 의해 가열온도를 독립적으로 제어할 수 있기 때문에, 기판(4)에 있어서의 극단적인 온도분포차의 발생을 방지할 수 있다. 또한, 개구제어판(8)은, 기판(4)에 대한 MgO의 입사각 θ를 제한하여, 보호막의 막질을 유지하는 것이다.
도 4는, 상기 장치에 의해, 기판가열온도 200℃에 있어서, 두께 7000Å의 MgO막을 기판상에 형성시킨 경우의 온도측정결과를 나타낸다. 도 4에 있어서, 곡선 A 및 B는, 도 9에 나타낸 측정점 A 및 B에서의 기판의 온도와 증착시간과의 관계를 나타낸 것이지만, 이 측정치에서 명백하듯이, 각 측정점에서 증착이 시작되기까지의 온도상승(△T1)과, 각 측정점의 온도상승(△T2)에 의한 측정점 A-B 사이의 온도차가 최대로 45℃까지 저감되고, 그 결과, 기판이 깨지는 위험성을 크게 저감시키는 것이 가능해졌다. 또한, 성막 레이트에 대해서는, 스프래쉬의 발생없이, 종래 장치의 2배의 5000Å/min을 얻을 수 있어, 생산성이 2배로 향상하였다.
(실시예 2)
도 5는, 증착실(1) 내에 분할된 히터패널(6)을 설치하고, 또한 기판(4)의 아래쪽에 수냉 개구제한판(8)을 부착한 장치를 나타낸 것이다. 기판(4)에 보호막을 형성시키기 위한 증착의 형태는 상기 실시예 1의 경우와 동일하기 때문에 동일부호를 부여하고 설명을 생략한다. 도 6은, 본 실시예에 있어서의 기판의 온도와 증착시간과의 관계를 나타낸 것이다. 기판온도의 측정조건은 실시예 1의 경우와 동일하였으나, 링 하스(3)의 바로 위의 히터패널(6)의 설정온도를 다른 히터보다 50℃ 낮게 설정함으로써, 각 측정점의 온도상승(△T2)을 더욱 저감시킬 수 있었다. 또한, 수냉 개구제한판(8)을 사용하여 기판(4)의 온도상승을 방지함으로써, 각 측정점에서 증착이 시작되기까지의 온도상승(△T2)이 매우 작아졌다. 여기서, 수냉 개구제한판(8)에는, 직접 퇴적막이 부착하지 않도록 방착커버(8')가 설치되어 있다.
또, 상기의 각 실시예에 있어서는, 전자빔에 의한 증착의 경우에 대해서만 설명하였으나, 본 발명은, 플라즈마 건을 사용한 증착이나 홀로캐소드 건을 사용한 반응성 증착에도 적용하는 것이 가능하다. 또한 MgO 이외의 성막에도 적용이 가능하다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 있어서는, 증착실 내의 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 복수열의 증발포인트를 설치하는 것에 의해, 성막 존을 넓게 할 수 있고, 또한 기판면내의 온도분포의 차를 작게 할 수 있다. 그 결과, 기판의 반송속도를 빨리 할 수 있으며, 더구나 열에 의한 기판이 깨지는 기회를 감소시킬 수 있어, 생산성을 대폭 향상시킬 수 있다.
또한, 증발실에 분할된 히터를 설치하여, 독립적으로 온도제어를 행하고, 또한 수냉된 개구제한판을 설치하였기 때문에, 기판에 대해 들어오는 열량을 제어하여, 그 온도상승을 더욱 저감시킬 수 있다.
또한, 기판에 대한 증착재료의 입사각을 제한하기 위해서, 링 하스와 기판의 사이에 설치되어 있는 개구제한판을, 수냉 등의 적절한 수단을 사용하여 냉각함으로써, 성막시에 있어서의 기판의 온도상승을 방지할 수 있고, 기판이 깨어지는 기회를 적게 할 수 있다.

Claims (4)

  1. 기판상에 보호막을 형성하는 성막실 내에, 기판반송기구, 상기 기판을 가열하는 히터, 증착재료를 충전한 링 하스, 상기 링 하스에 충전한 증착재료에 전자빔을 조사하여 증착재료를 증발시켜, 기판상에 증착시키는 전자빔 건을 각각 설치한 보호막 형성장치에 있어서, 상기 링 하스에 의한 증발포인트를 기판의 반송방향에 대하여 직각방향으로 복수열 배치한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 기판을 가열하는 히터를 복수개 분할하여 설치함과 동시에, 상기 각 히터에 가열온도 설정용 제어수단을 개별로 설치한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 성막 존을 한정하기 위한 개구제어판에 냉각기구를 설치한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치.
  4. 기판을 반송하면서 성막할 때에, 기판의 반송방향에 대하여, 직각방향으로 증발포인트를 복수열 배치하는 것에 의해, 높은 성막 레이트로서 균일하게 성막되도록 한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 보호막 형성방법.
KR1020010064594A 2000-10-20 2001-10-19 플라즈마 디스플레이 보호막 형성장치 및 보호막 형성방법 KR100544407B1 (ko)

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