KR20020011372A - Defect marking method and device - Google Patents

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Abstract

결함 마킹방법은, 강판의 연속처리라인에, 표면흠을 검출하는 표면결함계 및 결함위치에 마킹하는 마커장치를 설치하는 공정, 상기 표면결함계에서 강판의 표면흠을 검출하는 공정, 검출한 흠정보에 기초하여, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 더욱이 유해결함·판별곤란 결함·무해결함의 식별을 행하는 공정, 상기 유해결함·판별곤란 결함에 대하여, 각각 결함위치의 트래킹을 하는 공정; 과 상기 결함위치에 마킹하는 공정으로 이룬다. 결함 마킹장치는, 복수의 수광부와 신호처리부를 가지는 흠 검사 수단; 과 마킹수단으로 이룬다.The defect marking method comprises the steps of: providing a surface defect system for detecting surface defects and a marker device for marking at a defect position in a continuous processing line of the steel sheet; a process for detecting surface defects of the steel sheet in the surface defect system; On the basis of the information, a step of calculating a defect name, a defect grade, a defect length, and a defect position in the width direction, and further identifying a defect, a problem of difficulty, and a problem, and for each of the above problem, a problem of discrimination, Tracking the defect location; And marking at the defect position. The defect marking apparatus includes flaw inspection means having a plurality of light receiving sections and a signal processing section; And marking means.

Description

결함 마킹방법 및 장치{DEFECT MARKING METHOD AND DEVICE}DEFECT MARKING METHOD AND DEVICE

냉간압연에 의해 제조된 냉연강판은, 품질보증을 위해 코일 전체길이에 걸쳐서 표면결함의 검사가 행해진다. 일본 특개평5-196581호 공보는, 강판의 표면결함과 내부결함을 검출하는 방법을 개시하고 있다. 강판의 표면결함은, 라인 내를 주행하는 강판표면을 레이저 광으로 폭 방향으로 주사(走査)하고, 이 반사광을 CCD 소자 등의 광전 변환소자에 의해 전압강도로 변환하고, 이 전압신호로 부터 결함의 유무, 정도를 판별하는 것에 의해 검출된다. 또한, 강판의 내부결함은, 자기탐상장치에 의해 결함강판의 두께방향의 결함깊이와 결함규모를 산출하는 것에 의해 검출된다. 통상 상기 결함의 검사결과는, 결함의 위치, 결함명·결함등급 등이 정보로서 CRT 등에 표시되거나 서류로 프린트 아웃된다.The cold rolled steel sheet produced by cold rolling is inspected for surface defects over the entire length of the coil for quality assurance. Japanese Patent Laid-Open No. 5-196581 discloses a method for detecting surface defects and internal defects of a steel sheet. The surface defect of the steel sheet is to scan the surface of the steel sheet traveling in the line with the laser light in the width direction, convert the reflected light into voltage intensity by a photoelectric conversion element such as a CCD element, and generate a defect from the voltage signal. It is detected by determining the presence or absence of the degree. The internal defect of the steel sheet is detected by calculating a defect depth and a defect size in the thickness direction of the defect steel sheet by a magnetic flaw detector. Usually, the inspection result of the defect is displayed on the CRT or the like as information on the position of the defect, the defect name, the defect grade, or the like, or printed out as a document.

모든 제품을 결함이 없는 제품으로 하는 것은 불가능하다. 그 때문에, 해당 제조라인에서 CRT 등에 표시된 결함정보에 기초하여 구입자의 유해결함부를 제거하고, 또는 상기 결함정보에 기초하여 다음 공정에서 재검사하여 구입자의 유해결함부를 제거한 후 출하한다. 또는, 유해결함부를 포함한 상태의 코일과 함께 프린트아웃된 상기 결함정보를 기재한 서류를 구입자에게 제출하고, 구입자측에서 유해결함을 제거한다.It is impossible to make all products flawless. For this reason, the defective parts of the purchaser are removed on the basis of the defect information displayed on the CRT or the like in the corresponding manufacturing line, or they are re-inspected in the next step based on the defect information to remove the defective parts of the purchaser and then shipped. Alternatively, a document containing the defect information printed out with the coil in the state including the defective compartment is submitted to the purchaser, and the defective side is removed from the purchaser's side.

제조라인 또는 다음 공정에서 유해결함부를 제거하는 경우, 표면결함의 유해도에는 명확한 기준이 없으므로, 유해결함부의 제거는 품질보증면에서 오버 액션이 되고있다. 또한 판별누락 및 유해 한계치 부근의 판별곤란 결함 등에서의 판단 미스에 의해 유해 결함부가 제거되지 않는 경우도 있다. 또한 유해결함부를 제거하는 것에 의해, 코일의 단위중량(單重)이 작게 되고, 구입자의 작업효율 저하 등의 폐해가 있다.In the case of removing the defects in the manufacturing line or the following process, there is no clear standard for the harmfulness of the surface defects, so the removal of the defects is an over-action in terms of quality assurance. In addition, a harmful defect part may not be removed by judgment misses, such as a discrimination omission and a discrimination difficulty near a hazardous limit value. In addition, by removing the oil-repellent defects, the unit weight of the coil becomes small, and there is a disadvantage such as a decrease in work efficiency of the purchaser.

한편, 코일 구입자는, 결함정보를 기재한 서류 데이터와 현품을 대조하여 확인하면서 작업할 필요가 있는데, 그 작업이 귀찮을 뿐만 아니라, 경우에 따라서는 결함을 못보고 빠뜨린 상태로 가공될 우려가 있다.On the other hand, the coil purchaser needs to work while checking the document data describing the defect information and the actual item, and the work is not only cumbersome, but in some cases, the coil purchaser may be processed without seeing the defect.

일본 특개평4-291138호 공보는, 강판의 흠이 있는 부에 도료를 스프레이하는 마킹장치를 개시하고 있다. 흠 검출장치에서 검출된 강판의 흠이 있는 부에 도료를 스프레이 하는 것에 의해 마킹이 행해지고, 구입자가 흠이 있는 부를 재검사할 때 용이하게 흠이 있는 부위를 식별하는 것이 가능하다.Japanese Laid-Open Patent Publication No. 4-291138 discloses a marking apparatus for spraying paint on a flaw of a steel sheet. Marking is performed by spraying paint on the defective part of the steel plate detected by the flaw detection device, and it is possible to easily identify the defective part when the purchaser re-examines the defective part.

그러나, 일본 특개평4-291138호 공보의 마킹방법에서는, 마킹이 정상적으로 이루어 졌는지 아닌지에 대한 확인이 없으므로, 마킹이 잘못되어 있는 경우는, 구입자에게 종래보다 더 큰 폐를 끼친다. 또한, 도료 등을 스프레이하면 마킹에 농담(濃淡)이 발생하고, 도료가 많은 장소에서는, 도료가 건조후 정상인 부분에 눌린 흠을 발생할 위험이 있다. 또한, 스프레이 방식의 경우, 강판에 기름이 도포되지 않은 경우는 문제없으나, 기름이 도포된 후의 강판의 경우는, 유막 위에 도료가 스프레이되기 때문에 강판표면에 마킹이 남지 않는다. 또한, 흠이 있는 부에 모두 마킹하면, 구입자에 따라서 무해한 결함부에도 마킹이 있으므로 작업이 복잡하게 되고, 작업능률이 저하하는 등의 폐해가 있다.However, in the marking method of Japanese Patent Laid-Open No. 4-291138, there is no confirmation as to whether or not the marking is normally performed, and therefore, if the marking is wrong, the purchaser causes more trouble than before. In addition, spraying the paint or the like may cause light markings on the marking, and in places with a large amount of paint, there is a risk that the paint may be crushed in normal portions after drying. In the case of the spray method, no oil is applied to the steel sheet, but in the case of the steel sheet after the oil is applied, the marking is not left on the surface of the steel sheet because the paint is sprayed on the oil film. In addition, if all of the defective parts are marked, there are also harmful parts such as harmless ones depending on the purchaser, so that the work becomes complicated and work efficiency is reduced.

표면 흠의 검사방법으로서는, 일본 특개소58-204353호 공보, 일본 특개소60-228943호 공보, 일본 특개평8-178867호 공보, 일본 특개소57-166533호 공보와 일본 특개평9-166552호 공보에 개시된 방법이 있다. 그러나 이들 방법은 모두 현저한 요철성을 가진 흠을 검출하거나, 산화막 등 이물질이 존재하는 흠을 검출하는 것을 목적으로 한 것으로서, 현저한 요철(凹凸)성을 가지고 있지 않는 모양상 헤게 흠 등에 대해서는 모든 흠을 확실하게 파악할 수는 없다.As inspection methods of surface flaws, Japanese Patent Laid-Open No. 58-204353, Japanese Patent Laid-Open No. 60-228943, Japanese Patent Laid-Open No. 8-178867, Japanese Patent Laid-Open No. 57-166533 and Japanese Patent Laid-Open No. 9-166552 There is a method disclosed in the publication. However, all of these methods aim to detect flaws with remarkable irregularities or to detect flaws in which foreign substances such as oxide films exist. It is not clear.

금속재에 생긴 흠부위나 특이부(特異部)에 마킹하는 수단으로서, 잉크제트 프린트 장치나 잉크 도트 마킹장치와 같은 장치가 시판되고 있다.As a means for marking a flaw or a peculiar portion formed in a metal material, devices such as an ink jet printing apparatus and an ink dot marking apparatus are commercially available.

잉크제트 프린트 장치를 사용하는 경우, 잉크를 하전(荷電)시키는 등의 제약으로 인해, 특수한 잉크를 필요로 하기 때문에, 잉크의 종류나 색은 저절로 한정되어 있다. 그러나, 제조되는 금속재가 자동차용 강판 등의 경우에는, 거래처의 검사 형편상, 잉크의 성능이나 색이 지정되는 일이 있다.In the case of using an ink jet printing apparatus, special ink is required due to constraints such as charging the ink, and therefore, the type and color of the ink are limited. However, when the metal material to be manufactured is a steel sheet for automobiles or the like, the performance and color of the ink may be designated on account of the inspection of the customer.

예를 들면, 착색 후의 건조성이 우수할 것, 기름 도포를 해도 번지지 않을 것, 청색일 것 등과 같이, 잉크에 여러 제약이 있으면, 이들 거래처의 제약조건에 맞춘 특수한 잉크를 개발하지 않으면 안되고, 이들 잉크의 개발을 위하여, 방대한 시간 및 비용이 필요하게 되어, 현실적으로 대응하는 것이 곤란하게 된다.For example, if there are various restrictions on the ink, such as excellent drying after coloring, no spreading even when oil is applied, and blue color, special inks that meet the constraints of these customers must be developed. For the development of the ink, an enormous time and cost are required, and it becomes difficult to cope with reality.

또한, 잉크의 분사부를 항상 청정한 상태로 유지할 필요가 있는 점으로 부터, 그 보전을 위해서도, 상당한 비용과 시간을 필요로 하고 있다. 이와 같이, 잉크 제트 프린트 장치를 사용하는 경우에는, 특수한 잉크를 채용하지 않을 수 없으므로, 잉크의 색이나 종류 등을 용이하게는 변경할 수 없다.Moreover, since it is necessary to keep the jetting part of ink clean at all times, it requires considerable cost and time also for its maintenance. In this way, in the case of using the ink jet printing apparatus, since special ink is inevitably adopted, the color, type, and the like of the ink cannot be easily changed.

본 발명은, 철강 프로세스 라인에 있어서 강판의 결함 마킹방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a defect marking method and apparatus for steel sheet in a steel process line.

도 1은 최적의 형태 1에 관한 제 1 강판의 코일링라인 요부(要部)설비의 배치예를 나타내는 도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a figure which shows the example of arrangement | positioning of the coiling line recessed part installation of the 1st steel plate which concerns on the optimum form 1.

도 2는 최적의 형태 1에 관한 제 2 강판의 코일링라인 요부설비의 배치예를 나타내는 도이다.It is a figure which shows the example of arrangement | positioning of the main parts of the coiling line main parts of the 2nd steel plate which concerns on the optimum form 1.

도 3은 최적의 형태 1에 관한 제 3 강판의 코일링라인 요부설비의 배치예를 나타내는 도이다.It is a figure which shows the example of arrangement | positioning of the main parts of the coiling line main parts of the 3rd steel plate which concerns on the optimum form 1.

도 4는 최적의 형태 1에 관한 제 4 강판의 코일링라인의 요부설비의 배치예를 나타내는 도이다.It is a figure which shows the example of arrangement | positioning of the essential parts of the coiling line of the 4th steel plate which concerns on the optimum form 1.

도 5는 최적의 형태 1에 관한 CRT 표시화면의 일례를 나타내는 도이다.5 is a diagram illustrating an example of the CRT display screen according to the first preferred embodiment.

도 6은 최적의 형태 1에 관한 결함부 위치와 결함마킹 위치의 상태를 나타내는 도이다.Fig. 6 is a diagram showing a state of a defect portion position and a defect marking position according to the optimum mode 1;

도 7은 최적의 형태 1에 관한 결함 마킹장치와 결함마킹 검출장치를 각각 1기 구비한 경우의 설비 배치예를 나타내는 도이다.FIG. 7 is a diagram showing an example of the arrangement of facilities in the case where one defect marking device and one defect marking detection device according to the first preferred embodiment are provided.

도 8은 최적의 형태 1에 관한 결함 마킹장치와 결함마킹 검출장치를 각각 2기 구비한 경우의 설비 배치예를 나타내는 도이다.Fig. 8 is a diagram showing an example of facility arrangement in the case where two defect marking devices and two defect marking detection devices according to the first preferred embodiment are provided.

도 9는 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 잉크 건조장치를 각각 1기 구비한 경우의 설비 배치예를 나타내는 도이다.Fig. 9 is a diagram showing an example of equipment arrangement in the case where one defect marking device and one ink drying device according to the first preferred embodiment are provided.

도 10은 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 결함마킹 검출장치 및 잉크 건조장치를 각각 1기 구비한 경우의 설비 배치예를 나타내는 도이다.Fig. 10 is a diagram showing an example of the arrangement of facilities in the case where a defect marking apparatus, a defect marking detection apparatus and an ink drying apparatus according to the first preferred embodiment are each provided.

도 11은 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 잉크 건조장치를 각각 2기 구비한 경우의 설비 배치예를 나타내는 도이다.FIG. 11 is a diagram showing an example of equipment arrangement in the case where two defect marking apparatuses and two ink drying apparatuses according to the first preferred embodiment are provided.

도 12는 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 결함마킹 검출장치 및 잉크 건조장치를 각각 2기 구비한 경우의 설비 배치도이다.Fig. 12 is a layout view of the facilities in the case where two defect marking apparatuses, a defect marking detection apparatus and an ink drying apparatus according to the first preferred embodiment are provided.

도 13은 최적의 형태 1에 관한 1기의 결함마킹 장치를 사용하여 결함부에 마킹한 예를 나타내는 도이다.Fig. 13 is a diagram showing an example of marking on a defective part by using one defect marking apparatus according to the first preferred embodiment.

도 14는 최적의 형태 1에 관한 2기의 결함마킹 장치를 사용하여 유해결함·판별곤란 결함을 별도로 마킹한 예를 나타내는 도이다.Fig. 14 is a diagram showing an example of separately marking defective and discriminated defects using two defect marking apparatuses of the first preferred embodiment.

도 15는 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 결함마킹 검출장치를 구비한 라인 요부설비의 배치예를 나타내는 도이다.Fig. 15 is a diagram showing an example of arrangement of line recesses equipped with a defect marking apparatus and a defect marking detection apparatus according to the first preferred embodiment.

도 16은 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 결함마킹 검출장치를 구비한 다른 라인의 요부설비 배치예를 나타내는 도이다.Fig. 16 is a diagram showing an example of arrangement of main parts of another line including the defect marking device and the defect marking detection device according to the first preferred embodiment.

도 17은 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 장치와 결함마킹 검출장치에 덧붙여서 검사대와 결함마킹 검출장치를 구비하는 라인의 요부설비 배치예를 나타내는 도이다.FIG. 17 is a diagram showing an example of arrangement of main parts of a line having a test stand and a defect marking detection device in addition to the defect marking device and the defect marking detection device according to the first preferred embodiment.

도 18은 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 검출장치를 구비한 코일링라인의 요부설비의 배치예를 나타내는 도이다.FIG. 18 is a diagram showing an arrangement example of main parts of a coiling line equipped with a defect marking detection apparatus according to the first preferred embodiment. FIG.

도 19는 최적의 형태 1에 관한 결함마킹 검출장치를 구비한 절단라인(shear line)의 요부설비의 배치예를 나타내는 도이다.Fig. 19 is a diagram showing an example of arrangement of main parts of a shear line equipped with a defect marking detection apparatus according to the first preferred embodiment.

도 20은 최적의 형태 1에 관한 결함부에 결함마킹을 한 예를 나타내는 도이다.20 is a diagram illustrating an example in which defect marking is performed on a defective portion according to the optimum form 1. FIG.

도 21은 최적의 형태 1에 관한 결함부의 장소에 관계없이, 강판의 폭 방향 양측의 동일개소에 결함마킹을 한 예를 나타내는 도이다.FIG. 21 is a diagram showing an example in which defect marking is performed at the same positions on both sides of the steel sheet in the width direction regardless of the position of the defective portion according to the optimum embodiment 1. FIG.

도 22는 최적의 형태 1에 관한 결함부 위치와 결함마킹 위치의 상태를 나타내는 도이다.Fig. 22 is a diagram showing a state of a defect portion position and a defect marking position according to the best form 1;

도 23은 최적의 형태 1에 관한 2기의 결함마킹 장치를 사용하여 유해결함·판별곤란 결함을 별도로 마킹한 예를 나타내는 도이다.Fig. 23 is a diagram showing an example of separately marking a defective and discriminating trouble defect using two defect marking apparatuses of the first preferred embodiment.

도 24는 최적의 형태 2에 관한 장치의 일례를 나타내는 블록도이다.24 is a block diagram illustrating an example of an apparatus according to the second preferred embodiment.

도 25는 최적의 형태 2에 관한 금속대의 일례를 나타내는 평면도이다.FIG. 25 is a plan view illustrating an example of a metal band according to an optimal form 2. FIG.

도 26은 최적의 형태 2에 관한 장치의 표면흠 검사장치 개략구성의 일례를 나타내는 모식도이다.FIG. 26: is a schematic diagram which shows an example of schematic structure of the surface flaw inspection apparatus of the apparatus which concerns on the optimum form 2. As shown in FIG.

도 27은 최적의 형태 2에 관한 표면흠 검사장치의 단면 모식도이다.27 is a schematic sectional view of a surface flaw inspection apparatus according to an optimum form 2. FIG.

도 28은 최적의 형태 2에 관한 표면흠 검사장치에 조립된 카메라 유닛의 금속대 폭 방향의 배열을 나타내는 도이다.FIG. 28 is a diagram showing an arrangement in the metal band width direction of the camera unit assembled in the surface flaw inspection apparatus according to the optimum embodiment 2. FIG.

도 29는 최적의 형태 2에 관한 1개의 카메라 유닛에 조립된 카메라의 배치를나타내는 도이다.Fig. 29 is a diagram showing the arrangement of the cameras assembled in one camera unit according to the best form 2.

도 30은 최적의 형태 2에 관한 장치의 다른 일례를 나타내는 블럭도이다.30 is a block diagram showing another example of the apparatus according to the optimum mode 2. FIG.

도 31은 최적의 형태 2에 관한 장치의 신호처리부의 일례를 나타내는 블럭도이다.FIG. 31 is a block diagram showing an example of a signal processing unit of the apparatus according to the second embodiment.

도 32는 최적의 형태 2에 관한 장치의 또 다른 일례를 나타내는 블럭도이다.Fig. 32 is a block diagram showing still another example of the apparatus according to the second embodiment.

도 33(a)∼(c)은 최적의 형태 2에 관한 장치로 측정된 광 강도신호의 일례를 나타내는 도이다.33 (a) to 33 (c) are diagrams showing an example of the light intensity signal measured by the apparatus according to the optimum form 2. FIG.

도 34(a)∼(c)는 최적의 형태 2에 관한 장치로 측정된 광 강도신호의 다른 일례를 나타내는 도이다.34 (a) to 34 (c) are diagrams showing another example of the light intensity signal measured by the apparatus according to the optimum form 2. FIG.

도 35(a)∼(d)는 최적의 형태 2에 관한 합금아연 도금강판의 제조방법 및 그 상세단면을 나타내는 도이다.35 (a) to 35 (d) are diagrams showing a method for producing an alloy zinc plated steel sheet according to the best form 2, and a detailed cross section thereof.

도 36은 최적의 형태 2에 관한 조질압연 후의 금속대 표면의 탬퍼(temper)부와 비 탬퍼부에 있어서 입사광과 반사광의 관계를 나타내는 단면 모식도이다.FIG. 36 is a cross-sectional schematic diagram showing the relationship between incident light and reflected light in a temper portion and a non-tamper portion on the surface of the metal strip after temper rolling in accordance with the optimum mode 2. FIG.

도 37(a)∼(c)은 최적의 형태 2에 관한 탬퍼부와 비 탬퍼부에 있어서 반사광의 각도 분포도이다.37 (a) to 37 (c) are angle distribution diagrams of the reflected light in the tamper portion and the non-tamper portion according to the optimum form 2. FIG.

도 38은 최적의 형태 2에 관한 합금아연 도금강판에 있어서 헤게부의 생성과정을 설명하기 위한 단면도이다.FIG. 38 is a cross-sectional view for illustrating a production process of a hege part in an alloy zinc plated steel sheet according to the second preferred embodiment. FIG.

도 39(a)∼(c)는 최적의 형태 2에 관한 헤게부 와 모재부에 있어서 경면 반사성분과 경면 확산 반사성분의 각도 분포도이다.39 (a) to 39 (c) are angle distribution diagrams of the specular reflection component and the specular diffuse reflection component in the hege part and the base material part according to the optimum mode 2. FIG.

도 40(a)∼(c)은 최적의 형태 2에 관한 피검사면의 헤게부와 모재부에 있어서 미소면적 요소의 법선각도와 면적율의 관계를 나타내는 도이다.40 (a) to 40 (c) are diagrams showing the relationship between the normal angles and the area ratios of the small area elements in the hege part and the base material part of the inspected surface according to the optimum mode 2. FIG.

도 41은 최적의 형태 2에 관한 피검사면의 미소면적 요소에 있어서 입사광과 반사광 등의 각도의 관계를 나타내는 도이다.FIG. 41 is a diagram showing a relationship between angles of incident light, reflected light, and the like in the microarea element of the inspected surface according to the optimal form 2. FIG.

도 42(a)∼(b)은 최적의 형태 2에 관한 미소면적 요소의 법선각도와 가중함수의 관계를 나타내는 도이다.42 (a) to 42 (b) are diagrams showing the relationship between the normal angles of the small area elements and the weighting functions of the optimum form 2. FIG.

도 43(a)∼(b)은 최적의형태 2에 관한 선상(線狀) 확산광원의 각 위치에서 각 입사광과 피검사면의 입사위치의 관계를 나타내는 도이다.43 (a) to 43 (b) are diagrams showing the relationship between the incident light and the incident position of the inspected surface at each position of the linearly diffused light source according to the best form 2. FIG.

도 44(a)∼(b)는 최적의 형태 2에 관한 선상 확산광원의 각 입사광이 편광되어 있는 경우의 미소면적 요소로 부터의 반사광의 편광상태를 나타내는 도이다.44 (a) to 44 (b) are diagrams showing the polarization state of the reflected light from the microarea element when each incident light of the linearly diffused light source according to the best form 2 is polarized.

도 45는 최적의 형태 2에 관한 선상 확산광원의 중앙부에서의 입사광이 편광되어 있는 경우의 미소면적 요소로 부터의 반사광을 나타내는 도이다.FIG. 45 is a diagram showing the reflected light from the microarea element when the incident light at the center of the linearly diffused light source according to the best form 2 is polarized. FIG.

도 46은 최적의 형태 2에 관한 선상 확산광원의 중앙부 이외의 부분에서의 입사광이 편광되어 있는 경우의 미소면적 요소로 부터의 반사광을 나타내는 도이다.Fig. 46 is a diagram showing the reflected light from the microarea element when the incident light in the portions other than the center portion of the linearly diffused light source according to the best form 2 is polarized.

도 47은 최적의 형태 2에 관한 미소면적 요소의 법선각도와 반사광의 타원 편광상태의 관계를 나타내는 도이다,Fig. 47 is a diagram showing the relationship between the normal angle of the small area element and the elliptical polarization state of the reflected light according to the best form 2;

도 48은 최적의 형태 2에 관한 미소면적 요소의 법선각도와 가중함수의 관계를 나타내는 도이다.Fig. 48 is a diagram showing the relationship between the normal angle and the weighting function of the small area elements according to the optimum form 2.

도 49는 최적의 형태 2에 관한 여러 검광각(檢光角)에 있어서 미소면적 요소의 법선각도와 가중함수의 관계를 나타내는 도이다.Fig. 49 shows the relationship between the normal angles of the small area elements and the weighting functions at various detection angles according to the optimum form 2.

도 50은 최적의 형태 2에 관한 피검사면의 미소면적 요소의 법선각도와 면적율의 관계를 나타내는 도이다.Fig. 50 is a diagram showing the relationship between the normal angle and the area ratio of the microarea elements of the inspected surface according to the optimum form 2.

도 51은 최적의 형태 3에 관한 장치의 개략적인 수직 단면도이다.FIG. 51 is a schematic vertical cross-sectional view of the apparatus in accordance with Optimal Form 3. FIG.

도 52는 도 51의 개략 평면도이다.52 is a schematic plan view of FIG. 51.

도 53은 도 51의 개략 측면도이다.53 is a schematic side view of FIG. 51.

도 54는 최적의 형태 3에 관한 장치가 설치된 박강판 제조라인의 개략도이다.54 is a schematic diagram of a thin steel sheet manufacturing line in which the apparatus according to the third embodiment is installed.

도 55(a)∼(c)는 최적의 형태 3에 관한 장치의 작동상태를 나타내는 도이다.55 (a) to 55 (c) are diagrams showing the operating states of the apparatus according to the third preferred embodiment.

도 56은 최적의 형태 3에 관한 (건조기를 구비한)장치가 설치된 박강판 제조라인의 개략도이다.Fig. 56 is a schematic diagram of a thin steel sheet manufacturing line in which an apparatus (with a dryer) according to Optimal Form 3 is installed.

도 57은 최적의 형태 3에 관한 박강판에 대한 마킹상태를 나타내는 도이다.Fig. 57 is a diagram showing the marking state of the steel sheet according to the optimum form 3.

(최적의 형태 1)(Optimal form 1)

최적의 형태 1의 요지는 이하와 같다.The summary of the best form 1 is as follows.

(1)강판의 연속처리라인에, 표면흠을 검출하는 표면결함계 및 결함위치에 잉크로 마킹하는 잉크 마커장치, 또는 더욱이 강판내부의 결함을 검출하는 내부결함계를 설치하고, 표면결함계로 강판의 표면흠을 검출하고, 검출한 흠 정보에 기초하여, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하며, 더욱이 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하고, 또한, 내부결함계로 강판의 내부 흠을 검출하여, 검출한 흠 정보에 기초하여 결함의 길이, 폭 방향의 결함위치을 연산하고, 더욱이 유해결함·무해결함을 식별하며, 상기 유해결함·판별곤란 결함에 대해서, 각각 흠 위치의 트래킹을 하며, 상기 결함부가 잉크 마커장치에 도달한 시점에서 상기 결함위치에 잉크로 마킹하는 것을 특징으로 하는 결함마킹 방법.(1) In the continuous processing line of the steel sheet, a surface defect system for detecting surface defects and an ink marker device for marking with ink at the defect position, or an internal defect system for detecting defects inside the steel sheet are provided. Detects surface defects, calculates defect names, defect grades, defect lengths, and defect locations in the width direction based on the detected defect information, and further identifies defects, difficulties in discrimination, and defects. Defect system detects internal defects of the steel sheet, calculates defect positions in the length and width direction of the defects based on the detected defect information, and further identifies whether the defects are solved or unsolved. A defect marking method, wherein the defect position is tracked and marked with ink at the defect position when the defect portion reaches the ink marker device.

(2) 상기(1)에 있어서, 표면흠에 대하여, 유해결함·판별곤란 결함·무해결함 식별을, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치, 앞 뒷면의 결함위치 및 강판의 용도에 기초하여 식별하고 또한, 내부흠에 대하여, 유해결함·무해결함 식별을, 결함의 길이, 폭 방향의 결함위치 및 강판의 용도에 기초하여 행하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(2) In the above (1), the surface defects are identified as defects, identification difficulties, defects, and defects.The name of the defect, the grade of the defect, the length of the defect, the position of the defect in the width direction, the position of the defect on the front and back, and the steel sheet A defect marking method characterized by identifying based on the use, and identifying defects or defects in the internal defects based on the length of the defect, the defect position in the width direction, and the use of the steel sheet.

(3) 미리 표면결함계 또는 내부 결함계를 더 구비한 라인에서, 표면흠에 대해서, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 더욱이 유해결함·판별곤란 결함이 식별되며, 또는 더욱이 내부흠에 대해서, 결함의 길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 또 다시 유해결함·무해결함이 식별되어 있는 코일을, 잉크로 마킹하는 잉크 마커장치를 설치한 강판의 연속처리 라인에 장입하여, 미리 식별되어 있는 유해결함·판별곤란 결함의 정보에 기초하여, 상기 유해결함·판별곤란 결함이 잉크 마커장치에 도달한 시점에서 상기 결함위치에 잉크로마킹하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(3) In the line further provided with the surface defect system or the internal defect system, the defect name, the defect grade, the defect length, and the position of the defect in the width direction are calculated for the surface defect, and furthermore, the problem of identification and difficulty of discrimination is identified. In addition, continuous processing of a steel sheet provided with an ink marker device for marking a coil whose internal defect is identified in the length and width direction of the defect and again identified as defective or incomplete is solved. A defect characterized in that the ink is marked at the defect position when the defect and the discrimination defect have reached the ink marker device based on the information of the defect and discrimination defect identified in advance. Marking method.

(4) 상기(1) 내지 (3)에 있어서, 표면결함계에 의해 판별곤란 결함으로 식별된 결함을, 검사원이 재판정을 하고, 유해결함·무해결함으로 식별하여, 유해결함의 결함위치에 잉크로 마킹하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(4) The above-mentioned (1) to (3), wherein the inspector judges the defect identified as a defect that is difficult to discriminate by the surface defect meter, identifies it as solved or unsolved, and places the ink at the defective position of the solved defect. Defect marking method, characterized in that for marking with.

(5) 상기 (1) 내지 (4)에 있어서, 표면결함계에 의해 판별곤란 결함과 식별된 결함에 대해서, 경보를 출력함과 동시에, 자동감속을 하고, 검사원이 판별곤란결함을 재판정 하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(5) In the above (1) to (4), the alarm is output for the defects and the defects identified by the surface defect meter, the automatic deceleration is performed, and the inspector judges the discrimination defects. Characteristic defect marking method.

(6) 상기 (4) 또는 (5)에 있어서, 표면결함계에 으해 판별곤란 결함과 식별된 결함에 대해서, 검사원이 재판정을 하는 데 있어서, 결함 화상표시 및 결함 위치표시를 하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(6) In the above (4) or (5), the inspector judges the defects and the identified defects which are difficult to discriminate by the surface defect system, and displays the defect image display and the defect position display. Defect Marking Method.

(7) 상기 (1) 내지 (6)에 있어서, 표면결함계·내부결함계의 폭 방향 결함정보에 기초하여, 결함마킹의 위치를 변경하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(7) The defect marking method according to (1) to (6), wherein the position of the defect marking is changed based on the width direction defect information of the surface defect system and the internal defect system.

(8) 상기 (1) 내지 (7)에 있어서, 강판의 용도에 따라서, 결함 마킹의 위치를 변경하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(8) The defect marking method according to (1) to (7), wherein the position of the defect marking is changed in accordance with the use of the steel sheet.

(9) 상기 (1) 내지 (8)에 있어서, 유해결함·판별곤란 결함을 구별하여 마킹하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(9) The defect marking method according to the above (1) to (8), wherein the defects of defect resolution and difficulty of discrimination are distinguished and marked.

(10) 상기 (1) 내지 (9)에 있어서, 유해결함·판별곤란 결함의 구별을 결함 마킹 색을 바꾸어 행하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(10) The defect marking method according to (1) to (9), wherein the defect marking color is distinguished by distinguishing between defective and distinguished defects.

(11) 상기 (1) 내지 (10)에 있어서, 강판의 품종에 따라서, 결함 마킹의 색을 바꾸는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법.(11) The defect marking method according to (1) to (10), wherein the color of the defect marking is changed in accordance with the type of steel sheet.

(12) 상기 (1) 내지 (11)에 있어서, 잉크 마커장치의 하류에 결함 마킹 검출장치를 설치하고, 마킹상태를 감시하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법.(12) The defect marking method according to the above (1) to (11), wherein a defect marking detection device is provided downstream of the ink marker device, and the marking state is monitored.

(13) 상기 (1) 내지 (12)에 있어서, 강판의 품종에 따라서, 결함 마킹 검출장치의 한계값을 바꾸는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(13) The defect marking method according to (1) to (12), wherein the limit value of the defect marking detection apparatus is changed in accordance with the type of steel sheet.

(14) 상기 (1) 내지 (13)에 있어서, 잉크 마커장치와 결함 마킹 검출장치를 세트로하여, 결함 마킹위치를 추종시키는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(14) The defect marking method according to (1) to (13), wherein the defect marking position is followed by setting the ink marker device and the defect marking detection device as a set.

(15) 상기 (1) 내지 (14)에 있어서, 결함 마킹의 하류에 잉크 건조장치를 설치하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(15) The defect marking method according to (1) to (14), wherein an ink drying apparatus is provided downstream of the defect marking.

(16) 상기 (1) 내지 (15)에 있어서, 잉크 마커장치와 결함마킹 검출장치 및 잉크 건조장치를 세트로하여, 결함 마킹위치에 추종시키는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(16) The defect marking method according to the above (1) to (15), wherein the ink marker device, the defect marking detection device, and the ink drying device are set to follow the defect marking position.

(17) 상기 (1) 내지 (16)에 있어서, 강판의 용도에 따라서, 유해결함, 무해결함의 한계값을 바꾸는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(17) The defect marking method according to the above (1) to (16), wherein the limit values for oil-free and oil-free are changed according to the use of the steel sheet.

(18) 상기 (1) 내지 (17)의 방법에 의해 결함 마킹된 코일을 결함마킹 검출장치를 갖는 설비에 장입하여, 상기 결함마킹 검출장치에서 검출한 결함정보를 결함제거 작업에 반영하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹된 코일의 작업방법.(18) A coil in which a defect is marked by the method of (1) to (17) is charged to a facility having a defect marking detection device, and the defect information detected by the defect marking detection device is reflected in the defect removal operation. Work method of the defect marked coil.

(19) 상기 (1) 내지 (17)의 방법에 의해 결함 마킹된 코일을 결함마킹 검출장치와 세정수단을 갖는 설비에 장입하여, 상기 결함마킹 검출장치로 검출한 결함정보를 결함제거 작업에 반영함과 동시에, 검사원이 판별곤란 결함의 재판정을 하고, 무해결함이라고 판정한 때는 세정수단으로 마킹잉크를 세정하는 것을 특징으로 하는 결함마킹된 코일의 작업방법.(19) Inserting a coil marked defective by the method (1) to (17) into a facility having a defect marking detecting apparatus and cleaning means, and reflecting the defect information detected by the defect marking detecting apparatus to the defect removing operation. And at the same time, when the inspector judges a defect that is difficult to discriminate and determines that it is unresolved, the marking ink is cleaned by cleaning means.

(20) 상기 (1) 내지 (19)(단(10),(15) 및 (16)을 제외한다)에 있어서, 잉크를 사용하는 잉크 마커장치를 대신하여 연마부재로 마킹하는 연마부재 마커장치를 설치하고, 잉크로 마킹하는 대신에 연마부재로 마킹하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.(20) In the above (1) to (19) (except steps 10, 15, and 16), an abrasive member marker device for marking with an abrasive member in place of an ink marker device using ink. The defect marking method, characterized in that for marking with an abrasive member instead of marking with ink.

도 1∼ 도 4에 최적의 형태 1의 형태설명에 사용하는 강판의 연속처리 라인의 요부 (要部) 설비의 배치예를 나타낸다.1 to 4 show examples of arrangement of main parts of the continuous processing line of the steel sheet used in the form description of the optimum form 1. FIG.

도 1에 있어서, 3은 표면결함계로서, 강판 1의 앞 뒷면에 검출기(2) 및 신호 처리부(4)를 구비하고, 5는 CRT, 6은 집중제어반, 7은 2차 판정 입력장치, 8은 결함 마킹장치(잉크 마커장치), 9는 결함마킹 검출장치, 10은 텐션 릴, 11은 반송 롤, 12는 펄스 발신기, 13은 강판 반송거리 연산장치, 14는 외부 기억장치, 15는 절단기, 16은 검사대이다.In Fig. 1, 3 is a surface defect meter, and a detector 2 and a signal processor 4 are provided on the front and back of the steel sheet 1, 5 is a CRT, 6 is a centralized control panel, 7 is a secondary determination input device, 8 Is a defect marking device (ink marker device), 9 is a defect marking detection device, 10 is a tension reel, 11 is a conveying roll, 12 is a pulse transmitter, 13 is a steel sheet conveying distance calculating device, 14 is an external memory device, 15 is a cutting machine, 16 is a test stand.

도 2는 도 1에 나타낸 장치에, 강판 1의 내부결함을 검출하는 자기 센서(35) 및 신호 처리부(36)를 더 구비한 자기 탐상장치(내부결함계)(34)가 부설되어 있다. 도 3, 도 4는, 각각 도 1, 도 2에 나타낸 장치의 결함 마킹장치(잉크 마커장치)(8)의 하류에, 마킹된 잉크를 건조하는 잉크 건조장치(40)이 부설되어 있다.FIG. 2 is provided with a magnetic flaw detector (internal defect gauge) 34 further comprising a magnetic sensor 35 and a signal processor 36 for detecting internal defects of the steel sheet 1 in the apparatus shown in FIG. 1. 3 and 4, an ink drying apparatus 40 for drying the marked ink is provided downstream of the defect marking apparatus (ink marker apparatus) 8 of the apparatus shown in FIGS. 1 and 2, respectively.

상기 도 1∼도 4에 나타내는 장치에 있어서, 표면결함계(3)의 강판 앞 뒷면의 검출기(2)에서 강판(1)의 앞 뒷면의 결함후보 흠을 검출하고, 검출한 신호를 신호처리부(4)로 보낸다. 신호 처리부(4)에서는, 어느 한계값을 초과하는 신호의 결함후보 특미량(特微量)에서 얻은 신호에 기초하여, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향 결함위치의 연산을 행한다.In the apparatus shown in Figs. 1 to 4, the defect candidate defects on the front and back of the steel sheet 1 are detected by the detector 2 on the front and rear of the steel sheet of the surface defect meter 3, and the detected signal is converted into a signal processing unit ( 4) to send. The signal processing unit 4 calculates a defect name, a defect grade, a defect length, and a width direction defect position based on a signal obtained from a defect candidate special amount of a signal exceeding a certain threshold value.

또한, 자기 탐상장치(34)의 자기 센서(35)에서 강판(1)의 내부결함을 검출하고, 검출한 신호를 신호 처리부(36)로 보낸다. 신호 처리부(36)에서는, 어떤 한계값을 초과하는 신호의 결함후보 특미량(特微量)에서 얻은 신호에 기초하여, 결함길이, 결함의 폭 방향 위치의 연산을 하고, 연산결과를 표면결함계(3)의 신호 처리부(4)로 보낸다.The magnetic sensor 35 of the magnetic flaw detector 34 also detects an internal defect of the steel sheet 1 and sends the detected signal to the signal processor 36. The signal processing unit 36 calculates the defect length and the position in the width direction of the defect based on the signal obtained from the defect candidate special amount of the signal exceeding a certain threshold value, and calculates the result of the surface defect measurement ( The signal is sent to the signal processing part 4 of 3).

또한, 상위 계산기(23)로부터 앞 뒷면 마다 보내진 마킹대상 결함명(내부 결함계(34)를 구비한 경우는 내부결함을 포함한다.) ·결함등급·엣지 불감대 등의 마킹정보와, 표면결함계(3)에서 검출한 결함정보에 기초하여 연산한 결과로부터, 또는 더욱이, 강판의 품종이나 용도에 기초하여, 마킹지령의 연산을 한다,In addition, the defect name to be sent from the upper calculator 23 to the front and back sides (including the internal defect when the internal defect meter 34 is provided) .Marking information such as the defect grade and the edge dead zone, and surface defects. Based on the calculation result based on the defect information detected in the system 3, or further, the marking instruction is calculated based on the type and application of the steel sheet.

또한, 연산한 마킹지령과 연산한 결함정보를 CRT(5)의 화면에 표시함과 동시에, 결함 발생신호와 결함정보와 결함위치를 집중제어반(6)으로 출력한다.Further, the calculated marking instruction and the calculated defect information are displayed on the screen of the CRT 5, and the defect generation signal, the defect information, and the defect position are output to the centralized control panel 6.

또한, 강판(1)을 반송하는 반송롤(11)의 회전수를 펄스 발신기(12)에서 계측하고, 강판 반송거리 연산장치(13)로 강판 이송길이를 계산하여, 계산결과를 집중제어반(6)에 출력한다. 집중제어반(6)은 상기 결함정보를 편집하고, 결함명·결함등급에서 유해결함·판별곤란 결함(내부 결함에 대해서는 유해결함. 이하, 같다)을 변별하고, 또한, 필요한 경우에는, 앞 뒷면의 결함위치 정보와 강판의 용도를 추가적으로 고려하여 유해결함·판별곤란 결함을 변별한다. 또한 필요가 있으면, 집중감시반(6)에서, 상기에서 변별한 유해결함·판별곤란 결함에 대해서 더욱 마킹유무의 판단을 행한다.In addition, the rotation speed of the conveying roll 11 which conveys the steel plate 1 is measured by the pulse transmitter 12, the steel plate conveying distance calculation apparatus 13 is calculated, and the steel plate conveying length is calculated, and the calculation result is concentrated control panel 6 ) The centralized control panel 6 edits the above-mentioned defect information, discriminates between the defect name and the defect classification problem (the internal defect is solved. The same applies below). Distinguish between defects and defects in consideration of defect location information and steel plate usage. In addition, if necessary, in the intensive monitoring panel 6, the presence or absence of marking and discrimination is further determined for the above-mentioned defects of discrimination and discrimination.

집중제어반(6)은, 강판 반송거리 연산장치(13)에서 보내진 강판 이송길이에 기초하여 결함위치를 트래킹하고, 재 판정장소(검사대)(16)에 판별곤란 결함이 도달 했다는 경보출력을 한다. 또한 필요한 경우는, 자동감속을 함과 동시에 결함화상을 CRT(5a)에 표시하여, 작업자의 결함판정을 용이하게 한다.The centralized control panel 6 tracks the defect position on the basis of the steel sheet conveying length sent from the steel sheet conveying distance calculating device 13, and outputs an alarm output to the re-judgement place (test stand) 16 that a discriminating defect has reached. In addition, if necessary, automatic deceleration is performed, and a defect image is displayed on the CRT 5a to facilitate the worker's defect determination.

결함부가 2차 판정장소(검사대)(16)에 도달하면, 작업자가 눈으로 검사하여 2차 판정을 함과 동시에, 표면결함계(3)의 검출결과를 CRT(5)로 확인하고, 결과가정확한지 아닌지 비교한다. 결과가 다른 경우는 수정을 하여, 수정결과를 2차 판정 입력장치(7)에 입력하고, 더욱이 집중제어반(6)으로 출력한다. 제 5도는, CRT(5)의 화면표시의 일례를 나타내는 도이고, 이미 표시되어 있는 결함정보는 표면결함계(3)의 정보, 공란은 2차 판정결과를 입력하는 장소이다.When the defective portion reaches the secondary determination site (test table) 16, the operator visually inspects the secondary determination and confirms the detection result of the surface defect meter 3 with the CRT 5, and the result is determined. Compare for accuracy or not. If the result is different, the correction is made, the correction result is input to the secondary determination input device 7, and further output to the centralized control panel 6. 5 is a diagram showing an example of the screen display of the CRT 5, the defect information already displayed is the information of the surface defect meter 3, and the blank is a place for inputting the secondary determination result.

집중제어반(6)에서는, 수정정보에 기초하여 상기 결함정보를 재 편집하고, 결함명·결함등급으로부터 유해결함·판별곤란 결함을 변별한다. 더욱이 집중제어반(6)은, 반송롤(11)의 회전수로부터 얻어지는 강판(1)의 이송길이에 기초하여, 상기 유해결함·판별곤란 결함위치(마킹유무의 판단을 한 경우는, 마킹 있음으로 판단한 것)의 트래킹을 한다. 상기 결함부가 결함 마킹장치(8)를 통과하기 전에, 결함 마킹장치(8)와 결함마킹 검출장치(9)를 결함이 있는 위치로 이동한다. 그리고 상기 결함부가 결함 마킹장치(8)를 통과시에, 결함 마킹장치(8)를 기동하도록 기동신호를 출력한다.In the centralized control panel 6, the defect information is re-edited on the basis of the correction information, and discriminated from the defect name, the defect grade, the defect solved and the determination difficulty. Furthermore, the centralized control panel 6 is marked based on the conveying length of the steel sheet 1 obtained from the rotational speed of the conveying roll 11, so that the presence of the above-mentioned problem solving / discrimination defect position (when it is judged whether there is marking or not) is marked. The tracking of the judgment). Before the defect portion passes through the defect marking apparatus 8, the defect marking apparatus 8 and the defect marking detection apparatus 9 are moved to a defective position. And when the said defect part passes through the defect marking apparatus 8, it outputs a starting signal so that the defect marking apparatus 8 may be started.

상기 기동신호에 기초하여 결함 마킹장치(8)가 기동하고, 유해결함·판별곤란 결함이 결함 마킹장치(8)를 통과하는 타이밍에 동기하여 유해결함부·판별곤란 결함부에 마킹이 실시된다.The defect marking apparatus 8 is started on the basis of the start signal, and marking is performed on the defect solving unit and the discrimination disturbing defect unit in synchronization with the timing at which the defect solving unit and the discrimination defect pass through the defect marking apparatus 8.

결함 마킹장치(8)에서는, 마킹지령과 동시에 마킹을 개시한다. 마킹은 잉크를 스며들게한 펠트를, 직접 강판(1)에 밀어붙여서 잉크를 강판(1)에 부착시켜 행한다. 기름이 도포된 코일이라도 강판 표면에 확실히 마킹할 수 있다. 또한, 도료와 같은 농담의 문제가 없으므로 강판 표면에 눌린 흠을 발생시키는 일도 없다. 펠트는 강판(1)과 직접 접촉하여 마모하므로, 기준길이 이상 마킹하면,집중제어반(6)에서 경보를 출력하고, 작업원에게 펠트교환의 주의를 촉구한다.In the defect marking apparatus 8, marking is started simultaneously with a marking instruction. The marking is carried out by directly adhering the felt infiltrated with ink onto the steel sheet 1 and attaching the ink to the steel sheet 1. Even oil coated coils can be reliably marked on the steel plate surface. Moreover, since there is no problem of light and shade like a paint, it does not generate the crushed flaw on the steel plate surface. Since the felt is in direct contact with the steel plate 1 and is worn, if the marking is longer than the reference length, the centralized control panel 6 outputs an alarm and prompts the worker to change the felt.

마킹길이는 결함위치의 트래킹 정도를 고려하여, 결함부가 결함 마킹의 바깥으로 나오지 않도록 설정한다. 본 장치에서는 트래킹 정도를 고려하여, 집중제어반(8)에서 변별한 결함길이에 전후로 각각 0.5m 가산하고, 결함길이로 부터 1m 길이로 마킹하도록 지령을 출력한다. 또한 길이가 수 ㎜ 정도 이하의 점상결함의 경우는 전후로 각각 0.25m 가산하여 마킹하도록 지령을 출력한다.The marking length is set so that the defect portion does not come out of the defect marking in consideration of the tracking degree of the defect position. In the present apparatus, in consideration of the tracking degree, 0.5m is added to each of the defect lengths discriminated by the centralized control panel 8 before and after, and a command is outputted so as to mark 1m from the defect length. In addition, in the case of point defects of about several millimeters or less in length, a command is output to add and mark 0.25 m before and after each.

마킹의 길이에 대해서는 구입자와의 약속으로 결정하는 편이 보다 바람직하다. 또한, 집중제어반(6)은 기타의 관리항목으로서 마킹 허용개수, 마킹 허용길이의 감시를 하고, 이들이 허용값 이상으로 되면, 경보장치(24)에 이상경보를 출력한다.The length of the marking is more preferably determined by appointment with the purchaser. In addition, the centralized control panel 6 monitors the number of markings allowed and the length of markings as other management items, and outputs an abnormal alarm to the alarm device 24 when they become more than the allowable value.

상위 계산기(23)는 집중제어반(6)으로부터의 정보에 의해 코일마다의 관리를 하는 출하가부의 판단을 한다.The higher-order calculator 23 judges the shipment value of management for each coil based on the information from the centralized control panel 6.

도 6은 결함부 위치와 결함마킹 위치의 상태를 나타내는 도이고, 유해결함(20)은 결함마킹(21)의 길이방향의 표시범위 내에 있다.6 is a diagram showing the state of the defect portion position and the defect marking position, and the solver 20 is within the display range in the longitudinal direction of the defect marking 21.

육안으로의 검출용이성 및 결함마킹 검출장치(9)에서의 검출용이성의 관점에서, 마킹의 선폭은 3∼10㎜ 범위가 최적이다. 또한 펠트의 마모 및 잉크의 선명도의 관점에서 펠트의 누름 압은 150∼500g의 범위가 최적이다.From the viewpoint of the ease of visual detection and the ease of detection in the defect marking detection device 9, the line width of the marking is optimally in the range of 3 to 10 mm. In addition, from the viewpoint of the wear of the felt and the sharpness of the ink, the pressing pressure of the felt is in the range of 150 to 500 g.

결함 마킹장치(8)는 1기(基)라도 좋으나, 2기를 배설하고 2종류의 잉크를 준비하여, 마킹 색을 변경할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.Although one defect marking apparatus 8 may be sufficient, it is preferable to arrange | position two machines, to prepare two types of inks, and to change a marking color.

결함 마킹장치(8)를 2기를 배설(配設)하여 2종류의 잉크를 준비하는 것에 의해, 결함등급에 따라서 잉크의 색을 바꾸는 것(예를 들면, 구입자의 유해결함이 명확한 경우는 적색 잉크로 마킹을 하고, 판별곤란 결함은 청색잉크로 마킹을 한다), 또는, 강판의 품종에 따라서 잉크 색을 바꾸는 것(예를 들면 전기아연 도금강판 처럼 표면이 백색강판의 경우는 흑색잉크로 마킹을 하고, 합금화 용융아연 도금강판과 같이 표면이 흑색강판의 경우는 백색잉크로 마킹을 한다)에 따라, 육안검사로 결함을 식별하여 작업하든가, 결함마킹 검출장치를 이용하여 결함의 식별작업을 할 때에, 보다 능률적인 작업이 가능하게 된다. 또한, 프레스 가공 등에 있어서는, 결함이 있음에도 불구하고 결함 마킹부가 블랭킹 제거되어 버리는 경우도 있으므로, 결함마킹은 유해결함부의 장소에 관계없이, 강판의 폭 방향 임의의 위치에 마킹할 수 있는 것이 바람직하다. 어떤 잉크도 약 알카리 세제로 지워지는 잉크를 선택할 필요가 있다. 단 강판의 용도에 따라서는 약 알카리 세제로 지워지지 않아도 좋은 경우가 있다.By disposing two defect marking apparatuses 8 and preparing two kinds of inks, the color of the ink is changed according to the defect grade (for example, red ink when the purchaser is clear). Marking defects are marked with blue ink, or the ink color is changed according to the type of steel sheet (for example, in the case of a white steel sheet such as an electro galvanized steel sheet, marking with black ink). In the case of black steel sheets, such as alloyed hot-dip galvanized steel sheet, the surface is marked with white ink). This makes working more efficient. In addition, in a press work etc., although there exists a defect, the defect marking part may be blanked and removed, It is preferable that defect marking can be marked in arbitrary positions in the width direction of a steel plate irrespective of the location of an unsolved part. It is necessary to choose an ink which any ink is erased with a weak alkaline detergent. However, depending on the application of the steel sheet, it may not need to be removed with a weak alkaline detergent.

상기와 같이 하여 잉크로 마킹하는 경우, 잉크가 건조하면 문제없으나 통상의 잉크는 건조까지 수 초간 필요하다. 잉크가 건조해 있지 않으면, 롤 또는 코일에 잉크가 전사(轉寫)한다. 또한, 잉크가 전사하기 전에 기름 도포하면 잉크가 끝까지 건조하지 않아, 코일을 텐션 릴에 권취한 때에 잉크가 전사한다. 상기 문제는, 잉크 마커장치의 하류에 마킹된 잉크를 건조하는 잉크 건조장치를 설치하는 것에 의해 확실하게 해결할 수 있다.In the case of marking with ink as described above, if the ink is dried, there is no problem, but ordinary ink is required for several seconds until drying. If the ink is not dry, the ink is transferred to a roll or a coil. If oil is applied before the ink is transferred, the ink does not dry to the end, and the ink is transferred when the coil is wound around the tension reel. This problem can be reliably solved by providing an ink drying apparatus for drying the marked ink downstream of the ink marker apparatus.

도 7은, 결함 마킹장치(8)와 결함마킹 검출장치(9)가 각각 1기 배설되어 있는 경우를 나타내는 도이다. 결함 마킹장치(8)와 결함마킹 검출장치(9)는, 가대(架臺,25)의 강판(1) 폭 방향의 같은 위치에 배설되어 있고, 마킹지령에 따라 지시되는 강판 폭 방향 위치에, 모터(27)로 구동되는 이동장치(26)를 개재하여 이동가능하게 되어 있다.FIG. 7: is a figure which shows the case where the defect marking apparatus 8 and the defect marking detection apparatus 9 were arrange | positioned, respectively. The defect marking apparatus 8 and the defect marking detection apparatus 9 are arrange | positioned in the same position of the width direction of the steel plate 1 of the mount 25, and in the steel plate width direction position instruct | indicated according to a marking instruction, It is possible to move through the moving device 26 driven by the motor 27.

제 8도는 결함 마킹장치와 결함마킹 검출장치를 각각 2기 배설한 경우를 나타내는 도이다. 결함 마킹장치(8a)와 결함마킹 검출장치(9a), 결함 마킹장치(8b)와 결함마킹 검출장치(9b)는, 각각 가대(25a,25b) 강판(1) 폭 방향의 같은 위치에 배설되어 있고, 도 7 장치의 경우와 마찬가지로, 서로 독립하여 강판 폭 방향으로 이동 가능하게 되어 있다.8 is a diagram showing a case where two defect marking devices and two defect marking detection devices are arranged. The defect marking apparatus 8a, the defect marking detection apparatus 9a, the defect marking apparatus 8b, and the defect marking detection apparatus 9b are arrange | positioned in the same position of the width direction of the steel plate 25a, 25b, respectively, respectively. In the same manner as in the case of the apparatus of FIG. 7, it is movable independently of each other in the steel plate width direction.

도 9, 도 10은, 결함 마킹장치의 하류에 잉크 건조장치를 설치한 도이다. 도9에서는, 결함 마킹장치(8)와 잉크 건조장치(40)가, 가대(25)의 강판(1) 폭 방향의 같은 위치에 배설되어 있고, 도10에서는, 결함 마킹장치(8)와 잉크 건조장치(40)와 결함마킹 검출장치(9)가, 가대(25)의 강판(1) 폭 방향의 같은 위치에 배설되어 있어, 어떤 장치에서도, 마킹지령에 의해 지시되는 강판 폭 방향 위치로, 모터(27)로 구동되는 이동장치(26)를 개재하여 이동가능하게 되어 있다.9 and 10 are views in which an ink drying apparatus is provided downstream of the defect marking apparatus. In FIG. 9, the defect marking apparatus 8 and the ink drying apparatus 40 are arrange | positioned in the same position of the width direction of the steel plate 1 of the mount 25, In FIG. 10, the defect marking apparatus 8 and ink The drying apparatus 40 and the defect marking detection apparatus 9 are arranged in the same position of the width direction of the steel plate 1 of the mount 25, and in any apparatus, in the steel plate width direction position indicated by a marking instruction, It is possible to move through the moving device 26 driven by the motor 27.

결함 마킹장치(8)와 잉크 건조장치(40), 또는 더욱이 결함마킹 검출장치(9)를, 각각 2기씩 설치해도 좋다. 도11에서는, 결함 마킹장치(8a)와 잉크 건조장치(40a), 결함 마킹장치(8b)와 잉크 건조장치(40)가 각각 가대(25a,25b)의 강판(1) 폭 방향의 같은 위치에 배설되어 있고, 또한 도 12에서는, 결함 마킹장치(8a)와 잉크 건조장치(40a)와 결함마킹 검출장치(9a), 결함 마킹장치(8b)와 잉크 건조장치(40b), 결함마킹 검출장치(9b)가, 각각 가대(25a,25b)의 강판(1)폭 방향의 같은 위치에 배설되어 있어, 도 8 장치의 경우와 마찬가지로, 서로 독립하여 강판 폭 방향으로 이동 가능하게 되어있다.Two defect marking apparatuses 8 and an ink drying apparatus 40 or two defect marking detection apparatuses 9 may be provided. In FIG. 11, the defect marking apparatus 8a, the ink drying apparatus 40a, the defect marking apparatus 8b, and the ink drying apparatus 40 are located at the same position in the width direction of the steel plates 1 of the mounts 25a and 25b, respectively. In addition, in FIG. 12, the defect marking apparatus 8a, the ink drying apparatus 40a, the defect marking detection apparatus 9a, the defect marking apparatus 8b, the ink drying apparatus 40b, and the defect marking detection apparatus ( 9b) is arrange | positioned at the same position of the width direction of the steel plate 1 of the mount 25a, 25b, respectively, and is movable independently of each other similarly to the case of the apparatus of FIG.

도 13은 1기의 결함 마킹장치를 사용하여 마킹한 경우에 대하여 결함부와 결함 마킹위치의 예를 나타내고, 동일한 잉크를 사용하여, 유해결함(20)과 판별곤란 결함(22)이 결함마킹(21)으로 표시되고 있다.Fig. 13 shows an example of a defect portion and a defect marking position in the case of marking using one defect marking apparatus, and using the same ink, the defect 20 and the discrimination defect 22 are defect marking ( 21).

도 14는 2기의 결함 마킹장치를 배설하고, 각각 다른 색의 잉크를 사용하여 마킹한 경우로서, 유해결함(20)은 결함마킹(21a)(예를 들면 적색)에 의해, 판별곤란 결함(22)은 결함 마킹(21b)(예를 들면 청색)으로 표시되어 있다.Fig. 14 shows a case where two defect marking apparatuses are arranged and marked using different colored inks, and the solution box 20 is distinguished by a defect marking 21a (for example, red). 22 is indicated by a defect marking 21b (for example blue).

결함마킹 검출장치(9)에서는, 결함마킹의 상태를 상시 감시하고, 마킹길이, 잉크력 소진, 무결함장소에 마킹의 유무 등을 감시하고, 감시결과를 집중제어반(6)에 출력한다. 결함마킹의 검출정밀도를 올리기 위하여, 강판의 품종에 따라서, 결함마킹 검출장치의 한계값을 수정하는 것이 바람직하다. 집중제어반(6)은 마킹의 정상여부를 판단하고, 이상시는 경보장치(24)에 출력하여 작업자에 주의를 환기함과 동시에, 코일의 출하를 보류하도록 지시한다. 출하를 보류한 코일에 대해서는, 재검사 등의 조치를 한다.The defect marking detection device 9 constantly monitors the state of the defect marking, monitors the marking length, the exhaustion of ink power, the presence or absence of the marking at the defect-free place, and outputs the monitoring result to the centralized control panel 6. In order to increase the detection accuracy of defect marking, it is preferable to modify the limit value of the defect marking detection apparatus according to the type of steel sheet. The centralized control panel 6 determines whether or not the marking is normal, and outputs an alarm to the alarm device 24 in case of an abnormality, instructs the operator to be held, and instructs the shipment of the coil to be suspended. For coils withheld from shipment, take measures such as reinspection.

결함마킹 검출장치(9)에서 감시한 결함마킹이 정상으로 판단된 경우, 결함정보 및 결함위치가 외부기억장치(14)에 입력되고, 절단기(15)에서 절단된 후에 결함정보·결함위치를 역전개, 즉 코일의 내주(內周)로 부터의 위치를 외주로 부터의 위치로 변환하여, 프린트 아웃한다.In the case where the defect marking monitored by the defect marking detection device 9 is judged to be normal, the defect information and the defect position are input to the external storage device 14, and the defect information and the defect position are reversed after being cut by the cutter 15. The position from the inner circumference of the dog, that is, the coil, is converted to the position from the outer circumference and printed out.

또한, 코일은 구입자별로 절단기(15)로 절단하므로, 코일의 길이 기준은 절단기(15)에서의 절단신호를 기준으로 한다. 구입자에 송부하는 서류는, 코일 외주측을 선두로 역으로 전개하고, 구입자가 활용하기 쉽게 한다.In addition, since the coil is cut by the cutter 15 for each purchaser, the length of the coil is based on the cutting signal from the cutter 15. Documents to be sent to purchaser unfold coil outer circumference side in reverse and make it easy for purchaser to utilize.

이와 같이 하여, 유해결함부 위치에 명료한 마크가 붙여져 있으므로, 다음 공정에서 유해결함부의 제거 또는 구입자가 가공에 있어서, 코일 되감을 때에 유해결함의 유무를 용이하게 판별할 수 있도록 된다.In this way, since a clear mark is attached to the position of the problem solving unit, it is possible to easily determine whether the problem solving unit is present when removing the problem solving unit or the purchaser rewinds the coil during processing in the next step.

전술한 설명에서는, 유해결함의 판정에 작업자의 육안검사를 개입하였으나, 표면결함계(3)의 결함 검출정밀도가 만족할 수 있는 것이라면 육안검사는 하지 않아도 좋다. 또한, 마킹한 코일의 다음 공정에 결함마킹 검출장치를 설치하는 것에 의해, 보다 정밀도 좋고, 또한 능률적인 결함제거 작업을 하는 것이 가능하게 된다.In the above description, the visual inspection of the operator has been involved in the determination of the oil resolving defect, but the visual inspection may not be performed as long as the defect detection accuracy of the surface defect system 3 is satisfactory. In addition, by providing the defect marking detection device in the next step of the marked coil, it becomes possible to perform the defect removal work more precisely and efficiently.

도 1∼도 4에 도시한 장치에서는, 표면결함계(3) 또는 더욱이 자기탐상장치 (34) 및 결함 마킹장치(8), 결함마킹 검출장치(9)를 동일라인으로 배설했다. 그러나, 전술한 바와 같이, 표면결함계 또는 내질결함계를 더 구비한 라인에서, 표면결함계 또는 더욱이 내질결함계에 의해 검출한 흠 정보에 기초하여, 결함의 위치, 결함명·결함등급를 연산하고, 이 정보를 CRT 등에 표시하거나 서류로 프린트 아웃 하는 것이 이미 행하여 지고 있다.In the apparatus shown in Figs. 1 to 4, the surface defect meter 3, or moreover, the magnetic flaw detector 34, the defect marking device 8, and the defect marking detection device 9 were arranged in the same line. However, as described above, in the line further provided with the surface defect system or the defect resistance system, the position of the defect, the defect name, and the defect class are calculated based on the defect information detected by the surface defect system or furthermore the defect resistance system. In addition, it is already done to display this information on the CRT or the like and to print out the document.

따라서, 표면결함계 또는 내부결함계를 더 구비하는 라인과는 별도의 라인 결함 마킹장치와 결함마킹 검출장치중 적어도 하나를 설치하고, 상기 표면결함계 또는 내부결함계를 더 구비한 라인에서 유해결함·판별곤란 결함을 식별하고, 이 정보에 기초하여, 상기 별도의 라인에서 도 1∼도 4 장치의 경우와 마찬가지로, 결함위치로의 마킹이나 결함마킹의 확인을 한다. 그 결과를 서류로 프린트 아웃하도록 해도 좋다.Therefore, at least one of a line defect marking device and a defect marking detection device, which is separate from the line further including the surface defect system or the internal defect system, is installed, and is solved in the line further comprising the surface defect system or the internal defect system. Difficulty of discrimination Defect is identified and based on this information, the marking to the defect position and the defect marking are confirmed in the same separate line as in the case of the apparatus of FIGS. 1 to 4. The result may be printed out as a document.

이 경우, 표면결함계 또는 내부결함계를 더 구비한 라인에서 편집, 변별한 유해결함·판별곤란 결함정보를 결함위치 정보와 함께, 외부 기억장치를 개재하여 별도의 라인의 집중제어반에 출력하고, 별도의 라인에서 상기 유해결함·판별곤란 결함의 트래킹을 하여, 결함 마킹장치로 마킹한다. 결함마킹 검출장치로 결함 마킹의 상태를 감시하고, 감시결과를 집중 제어반으로 재 편집하여, 외부기억장치에 출력하면 좋다. 이와 같이 하는 것에 의해, 보다 저렴한 설비로 본 발명의 효과를 발휘할 수 있다.In this case, the defect and discrimination trouble information edited and discriminated in the line further including the surface defect system or the internal defect system is output to the centralized control panel of a separate line through the external storage device together with the defect position information. In the separate line, the above-mentioned defects of defects and discrimination are tracked and marked by a defect marking device. The defect marking detection device monitors the status of the defect marking, re-edits the monitoring result with the centralized control panel, and outputs it to the external storage device. By doing in this way, the effect of this invention can be exhibited with a cheaper installation.

이 경우, 다른 라인의 주요설비 배치예를 도 15∼도 17에 나타낸다. 도 15는 오일러(17)를 결함마킹 검출장치(9)의 하류측으로 배설한 경우, 도 16은 오일러(17)를 결함 마킹장치(8)의 상류측으로 배설한 경우, 도 17은 마킹장치(8)의 상류측에 트리머(trimmer)(18)와 검사대(16), 하류측에 결함마킹 검출장치(9)를 배설한 경우이다. 도 17의 경우, 필요에 따라, 도 1∼ 도 4의 경우와 마찬가지로 하여, 검사대에 있어서 결함의 육안검사 결과를 2차 수정할 수 있다.In this case, an example of arrangement of main facilities of other lines is shown in Figs. FIG. 15 shows the oiler 17 disposed downstream of the defect marking detecting apparatus 9, FIG. 16 shows the oiler 17 disposed upstream of the defect marking apparatus 8, FIG. In this case, the trimmer 18, the inspection table 16, and the defect marking detection device 9 are disposed on the downstream side of the upstream side. In the case of FIG. 17, the visual inspection result of the defect can be secondarily corrected in the inspection table in the same manner as in the case of FIGS. 1 to 4 as necessary.

마킹한 코일에 대해서 작업하는 경우의 예를 도 18, 도 19를 이용하여 설명한다.An example in the case of working with the marked coil is demonstrated using FIG. 18, FIG.

도 18은 연속라인의 다음 공정인 리코일라인으로, 결함마킹 검출장치(9)에 덧붙여서, 세정액 분사장치(32)와 세정액 제거 장치(33)가 부설되어 있다. 결함마킹 검출장치(9)에 의해 판별곤란 결함의 결함마킹을 검출하면 라인정지 지령을 출력하고, 검사원이 재판정을 한다. 검사원은 유해결함부와 무해결함부로 분류를 한다. 무해결함으로 판정한 때는, 세정액 분사장치(32)에서 약 알카리성의 세정액을 분사하여 마킹을 씻어 낸 후, 세정액 제거장치(33)로 세정액 및 마킹잉크를 닦아내어 재도포 한다. 판별곤란 결함을 재판정하여 유해결함부로 판정된 결함 및 유해결함부를 절단기(15)로 제거하고, 양품 코일만을 텐션릴(10)로 권취한다.Fig. 18 is a recoil line which is the next step of the continuous line, in addition to the defect marking detection device 9, a cleaning liquid injection device 32 and a cleaning liquid removal device 33 are provided. When the defect marking detection device 9 detects the defect marking of the discriminant difficulty, the line stop command is output and the inspector judges. The Surveyor is classified into either open or closed. When it is determined that there is no solution, the cleaning liquid injector 32 is sprayed with a weak alkaline cleaning liquid to wash off the markings, and then the cleaning liquid and the marking ink are wiped off with the cleaning liquid removing apparatus 33 and reapplied. The discriminant difficulty is judged, the defect and the defect determined as the defect are removed by the cutter 15, and only the good coil is wound by the tension reel 10. FIG.

도 19는 절단라인이다. 결함마킹이 없는 시트는 양품 파일럿(pilot)(29)에 보내져, 시트라인의 입구측에 설치된 결함마킹 검출장치(9)가 결함마킹을 검출하면 게이트 전환장치(28)로 출력하고, 게이트 전환장치(28)에 출력하여, 게이트 전환장치(28)는 게이트를 전환하여 결함마킹부의 특정한 시트는 불량품 파일럿(30)에 보내져 유해결함부·판별곤란 결함부가 제거된다.19 is a cutting line. The sheet without defect marking is sent to a good pilot 29, and when the defect marking detection device 9 installed at the inlet side of the sheet line detects the defect marking, it outputs to the gate switching device 28, and the gate switching device. Outputted to (28), the gate switching device 28 switches the gate so that the specific sheet of the defect marking portion is sent to the defective product pilot 30, so that the defect solving portion and the discrimination defect portion are removed.

프레스 가공되는 강판에 대해서는, 용도를 고려한 마킹방법을 채용하는 것이 바람직하다. 도 20, 도 21은, 프레스 후 육안으로 유해결함부(20) 검사를 하는 경우의 결함마킹 예를 나타내는 도이다. 도 20에서는 결함부(20)에 결함마킹(21)을 한 경우, 도 21은 결함부의 장소에 관계없이 강판(1)의 폭 방향 양측의 동일개소에 결함마킹을 한 경우이다. 결함마킹의 위치에 대해서는, 폭 방향의 결함정보나 강판의 용도에 따라서 적절히 결정하면 좋다.It is preferable to adopt the marking method which considered the use about the steel plate to be press-processed. 20 and 21 are diagrams showing examples of defect marking in the case of inspecting the oil resolving unit 20 visually after pressing. In FIG. 20, when the defect marking 21 is applied to the defect portion 20, FIG. 21 is a case where defect marking is performed at the same place on both sides of the steel sheet 1 in the width direction regardless of the location of the defect portion. The position of the defect marking may be appropriately determined in accordance with the defect information in the width direction and the use of the steel sheet.

이상, 결함 마킹장치(8)에 잉크 마커장치를 설치하여, 결함위치에 마킹하거나, 더욱이 결함마킹한 코일을 작업하는 경우에 대하여 설명했으나, 잉크 마커장치에 대신에, 연마부재로 마킹하는 연마부재 마킹장치를 설치하고, 결함위치에 연마부재로 마킹하도록 해도 좋다.In the above, the case where the ink marker device is provided in the defect marking apparatus 8 to mark at the defect position or the coil which performs the defect marking is further described. However, instead of the ink marker apparatus, the polishing member is marked with a polishing member. A marking device may be provided to mark the defective position with an abrasive member.

연마부재를 사용하는 결함 마킹장치에서는, 실린더의 선단에 설치된 숫돌, 연마재를 함유시킨 부직포 등의 연마부재를 직접 강판(1)에 밀어붙이거나, 브러시 롤을 회전시키면서 강판(1)에 밀어붙여 마킹한다.In a defect marking apparatus using an abrasive member, an abrasive member, such as a grindstone provided at the tip of a cylinder, a nonwoven fabric containing abrasive material, is directly pushed onto the steel sheet 1, or is pushed onto the steel sheet 1 while rotating a brush roll to mark it. do.

연마부재를 사용하는 결함 마커장치의 경우, 잉크 마커장치의 경우에 비하여 어느 정도 마킹의 응답성이 떨어지므로, 마킹길이와 선폭을 어느 정도 바꾸는 점, 또한 잉크와 같이 마킹의 색을 바꿀 수 없는 점을 고려하여, 결함등급에 따른 마킹표시를 하는 점을 제외하면, 상기 잉크 마커장치를 사용한 경우와 마찬가지의 결함마킹, 결함마킹한 코일의 작업이 가능하다.In the case of a defect marker device using an abrasive member, the responsiveness of the marking is inferior to that of the ink marker device, so that the marking length and line width are changed to some extent, and that the marking color cannot be changed like ink. In consideration of the above, except that the marking is indicated according to the defect grade, the same defect marking and defect marking as in the case of using the ink marker apparatus can be performed.

연마부재를 사용하는 경우, 마킹길이는 트래킹 정밀도와 응답성을 고려하여, 잉크에 의한 마킹길이 보다 어느 정도 길게하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 집중제어반(8)에서 변별한 결함길이에 전후로 각각 0.5m∼1.0m 가산하고, 결함길이로 부터 1m∼2m 길게 마킹하도록 지령을 출력한다. 또한 길이가 수 mm 정도 이하인 점상 결함의 경우는, 전후에 각각 0.25m∼1.0m 가산하여 마킹하도록 지령을 출력한다. 마킹의 선폭은, 육안으로의 검출 용이성 및 결함마킹 검출장치(9)에서의 검출용이성의 점에서, 50∼200mm의 범위가 최적이다. 도 22는, 결함부 위치와 결함 마킹위치의 상태를 도시하는 도이고, 유해결함(20)은 결함마킹(21)의 길이방향의 표시범위 내이다.In the case of using an abrasive member, the marking length is preferably longer than the marking length by ink in consideration of tracking accuracy and responsiveness. Specifically, 0.5m to 1.0m is added to the defect length discriminated by the centralized control panel 8 before and after, respectively, and a command is output so as to mark 1m to 2m long from the defect length. In addition, in the case of the point defect which is about several mm or less in length, a command is output so that 0.25 m-1.0 m may add and mark before and after each. The marking line width is optimally in the range of 50 to 200 mm in view of easy visual detection and ease of detection in the defect marking detection device 9. Fig. 22 is a diagram showing the states of the defect portion position and the defect marking position, and the problem solving 20 is within the display range in the longitudinal direction of the defect marking 21. Figs.

잉크 마커장치를 2기 설치한 경우, 도 14에 도시한 바와 같이, 결함등급에 따라서 잉크의 색을 바꾸었으나, 연마부재를 사용하는 경우, 색을 바꿀 수 없다. 연마부재 마커장치를 2기 설치한 경우, 결함등급에 따라서 마킹선을 바꾸는 것(예를 들면, 구입자의 유해결함이 명확한 경우는 하나의 선으로 마킹을 하고, 판별곤란 결함은 2개의 선으로 마킹을 한다)에 의해, 잉크 마커장치와 마찬가지 작업을 할 수 있다.In the case where two ink marker devices are provided, as shown in Fig. 14, the color of the ink is changed in accordance with the defect grade, but when the polishing member is used, the color cannot be changed. When two abrasive member marker devices are installed, change the marking line according to the defect grade (for example, if the buyer's solution is clear, mark it with one line, and distinguish the defect with two lines) Can be performed similarly to the ink marker device.

도 23에, 2기의 연마부재 마커장치를 사용하여 마킹한 경우에 대하여 결함부와 결함 마킹위치의 예를 나타낸다. 유해결함부(20)가 1줄의 결함 마킹(21a), 판별곤란 결함(22)이 2줄의 결함마킹(21b)으로 표시되어 있다.Fig. 23 shows an example of the defect portion and the defect marking position in the case of marking using two polishing member marker devices. The defect solving unit 20 is indicated by one line of defect marking 21a and the discriminant defect 22 by two lines of defect marking 21b.

연마부재를 사용하여 결함마킹을 하면, 도료와 같은 농담의 문제가 없으므로 강판표면에 눌린 흠을 발생하는 일이 없고, 기름이 도포된 코일이라도 강판표면에 확실하게 마킹할 수 있다. 또한, 마킹 직후에 기름을 도포해도 지장없고, 잉크로 마킹할 경우와 같은 건조장치가 불요하며, 보다 간소한 장치로 될 수 있다.When defect marking is carried out using an abrasive member, there is no problem of light and shade such as paint, so that no scratches are pressed on the steel sheet surface, and even oil coated coils can be reliably marked on the steel sheet surface. In addition, even if the oil is applied immediately after the marking, it does not interfere, and a drying apparatus such as when marking with ink is unnecessary, and a simpler apparatus can be obtained.

또한, 연삭부재에 브러시 롤을 사용하여 마킹할 경우, 필요에 따라서 강판의 전폭에 마킹할 수 있는 브러시 롤을 설치하여, 판폭 전면(全面)에 마킹해도 좋다In addition, when marking using a brush roll to a grinding member, you may provide the brush roll which can mark the full width of a steel plate as needed, and may mark on the whole plate width.

이와 같이 본 발명에 의하면, 결함마킹에 의해서 강판에 흠이 발생하지 않으며, 또한, 강판표면에 방청유 등의 기름 부착유무에 관계없이, 유해결함을 확실하고 동시에 용이하게 식별가능하게 하는 결함마킹을 행할 수 있다.As described above, according to the present invention, defect marking does not occur on the steel sheet by defect marking, and defect marking is performed to ensure that the steel sheet can be easily and easily identified regardless of oil adhesion such as rust-preventive oil on the surface of the steel sheet. Can be.

또한, 강판표면의 결함위치를 트래킹하여 유해결함부에 마킹하는 것에 의해, 구입자는 결함부를 용이하게 검출할 수 있다. 또한 유해결함부 감아넣음에 의해 필요 코일길이로 출하가능하게 되어, 구입자의 작업능률이 향상한다.In addition, by tracking the defect position on the surface of the steel sheet and marking it in the defect solving section, the purchaser can easily detect the defect portion. In addition, it is possible to ship with the required coil length by winding the oil repellent unit, thereby improving work efficiency of the purchaser.

더욱이, 결함정도에 따라서 마킹 표시방법을 변경하거나, 또는 결함명이나 결함정도, 강판의 용도를 고려하여, 적절한 마킹표시를 하므로, 작업능률의 향상효과가 보다 우수하다.Moreover, the marking marking method is changed in accordance with the degree of defect, or appropriate marking is displayed in consideration of the name of the defect, the degree of defect, and the use of the steel sheet, so that the effect of improving work efficiency is more excellent.

잉크 마커장치를 사용하는 것에 의해, 강판의 품종에 따라서, 강판 표면의 색을 고려한 결함마킹 색 표시를 하는 것에 의해, 작업효율 향상효과나 결함을 누락시키는 것을 방지하는 효과가 보다 우수하다.By using the ink marker device, the defect marking color display in consideration of the color of the steel plate surface in accordance with the type of the steel sheet, the effect of improving the work efficiency and preventing the defects are more excellent.

연삭부재 마커장치를 사용하면, 기름이 도포된 코일이라도 강판표면에 확실하게 마킹할 수 있고, 또한, 마킹 직후에 기름을 도포해도 지장없으며, 더욱이 잉크로 마킹할 경우와 같은 건조장치가 불필요하게 되므로, 보다 간소한 장치로 될 수있다.When the grinding member marker device is used, even oil-coated coils can be reliably marked on the steel plate surface, and even if oil is applied immediately after the marking, no drying device is required, such as when marking with ink. , Can be as a simpler device.

또한, 강판 메이커에 있어서도, 유해결함부 제거작업이 용이하게 되어 작업효율이 대폭적으로 향상하고, 또한 판별곤란 결함에 대해서도 과도한 결함제거 작업이 불필요하게 되어 수율이 향상한다.In addition, even in a steel sheet maker, the removal of the oil-resolved defects becomes easy, and the work efficiency is greatly improved, and the excessive defect removal work is unnecessary even for the difficulty of discrimination and the yield is improved.

(최적의형태 2)(Optimal form 2)

최적의 형태 2의 제 1의 발명은, 금속대의 피 검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건으로 추출하는 복수의 수광부와, 이들 서로 다른 광학조건에서 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면의 표면흠의 유무를 판정하는 신호처리부를 가지는 흠 검사수단과, 금속대 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 하는 마킹수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 금속대의 표면흠 마킹 장치이다.The first aspect of the optimum form 2 is based on a combination of a plurality of light receiving portions for extracting reflected light from an inspection target surface of a metal band under two or more different optical conditions, and reflection components extracted under these different optical conditions. It is a surface flaw marking apparatus of the metal stand characterized by including the flaw inspection means which has a signal processing part which determines the presence or absence of the surface flaw of a to-be-tested surface, and the marking means which shows the information regarding the flaw on the surface of a metal stand. .

상기 발명의 장치는, 우선, 흠 검사 수단의 수광부로, 금속대의 표면에서의 반사광을 편광조건 등의 광학조건이 다른 2종 이상의 수광부에 의해 수광하고, 그결과로 부터 광학적 성상을 해석한다. 다음에, 흠 검사 수단의 신호처리부로, 얻어진 광학적 성상으로부터, 금속대의 표면에 관해서, 정상부와 이상부, 즉 표면흠을 판별한다. 표면흠으로 판정된 부분에는, 마킹수단에 의해 인자(印字)·각인·천공(穿孔) 등의 소정방법으로 마킹을 한다. 마킹위치에 대해서는, 표면흠의 위치 또는 그 근방을 트래킹 수단 등에 의해 트래킹하는 것에 의해 결정할 수 있다.In the apparatus of the present invention, first, the light receiving portion of the flaw inspection means receives light reflected from the surface of the metal stand by two or more light receiving portions having different optical conditions such as polarization conditions, and analyzes the optical properties from the results. Next, in the signal processing section of the flaw inspection means, the top part and the abnormal part, that is, the surface flaw, are determined with respect to the surface of the metal band from the obtained optical properties. The part determined as the surface flaw is marked by a predetermined method such as printing, engraving, drilling, etc. by marking means. The marking position can be determined by tracking the position of the surface flaw or its vicinity with a tracking means or the like.

다음으로, 본 발명의 표면흠 검사장치의 검사 대상인 강판표면의 광학적 반사형태에 대하여, 강판표면의 극소한 요철(凹凸)형상과 관련시켜 설명한다. 일반적으로 강판표면의 극소한 요철(凹凸)형상은 조질압연(템퍼)에 의해, 원래부터 기복이 높은 지점이 롤에 의해 강하게 압연되어 평탄도가 좋게 되고, 그 이외의 지점은 조질압연의 롤이 접하지 않아 원래의 요철(凹凸)형상이 그대로 남아있게 된다.Next, the optical reflection form of the steel plate surface which is the inspection target of the surface flaw inspection apparatus of the present invention will be described in relation to the minute unevenness of the steel plate surface. In general, the very uneven shape on the surface of the steel sheet is temper rolled (temper), the point where the high ups and downs are originally rolled strongly by the roll to improve the flatness, and the other point is the roll of temper roll The original uneven shape remains as it is not in contact.

예를 들면, 합금화 아연도금 강판의 경우에는 기본 소재인의 냉연강판(101)은 도 35(a)에 도시한 바와 같이 용융아연 도금되는 도중에, 합금화로를 통과한다. 이 사이에 기본소재 강판의 철 원소가 도금층의 아연중에 확산하여, 통상, 도 35(c)에 도시하는 바와 같이 기둥 형상 등의 합금결정(103)을 형성한다. 이 강판이 다음 도 35(b)에 도시하는 바와 같이 조질압연되면 도 35(d)에 도시하는 바와 같이 기둥 형상 결정(103)의 특히 돌출한 개소가 평탄하게 눌려지고(템퍼부 106), 그 이외의 개소(비 템퍼 부 107)는 본래의 기둥 형상의 결정형상을 남긴채로 된다.For example, in the case of an alloy galvanized steel sheet, the cold rolled steel sheet 101 which is a base material passes through an alloying furnace during hot dip galvanizing as shown in FIG. In the meantime, the iron element of the base material steel sheet diffuses into the zinc of the plating layer, and usually forms an alloy crystal 103 such as a columnar shape as shown in Fig. 35C. When this steel sheet is temper-rolled as shown in Fig. 35 (b), as shown in Fig. 35 (d), the particularly protruding portion of the columnar crystal 103 is pressed flat (temper portion 106). The other part (non-temper part 107) is left in the original columnar crystal shape.

이와 같은 강판 표면에서 어떠한 광학적 반사가 일어날지를 모델화 한 것이 도 36이다. 조질압연에 의해 눌려진 개소(템퍼부 106)에 입사한 광(108)은, 강판정반사 방향으로 경면(鏡面)적으로 반사한다. 한편, 조질압연에 의해 눌려지지 않고 본래의 기둥형상 결정구조를 남기는 개소(비 템퍼부107)에 입사한 광은, 현미경으로 보면 기둥형상 결정표면의 미소면적 요소 하나하나에 의해 경면(鏡面)적으로 반사되나, 반사의 방향은 강판의 정반사 방향과는 반드시 일치하는 것은 아니다.36 is a model of what optical reflection will occur on such a steel plate surface. The light 108 incident on the portion (temper portion 106) pressed by the temper rolling is mirror-reflected in the steel plate regular reflection direction. On the other hand, light incident on a part (non-tempered portion 107) that is not pressed by temper rolling and leaves the original columnar crystal structure, is mirror-viewed by each of the microarea elements of the columnar crystal surface when viewed under a microscope. Although reflected in the direction of reflection, the direction of reflection does not necessarily coincide with the specular reflection direction of the steel sheet.

따라서, 템퍼부, 비템퍼부의 반사광 각도 분포는, 현미경으로 보면 각각 도 37(a,b)와 같이 된다. 즉, (a) 템퍼부(106)에서는 강판 정반사 방향에 좁은 분포를 가진 경면(鏡面)성의 반사(109)가 일어나고, (b) 비 템퍼부(107)에서는 기둥상 결정표면의 미소면적 요소의 각도분포에 대응하여 확산된 분포를 갖는 반사(110)로 된다. 이후, 전자를 경면(鏡面)반사 후자를 경면확산반사라고 부른다. 실제로 관찰되는 반사각도 분포는, 도 37(c)에 도시하는 바와 같이 경면반사·경면확산반사의 각도분포를 템퍼부·비템퍼부 각각의 면적율에 따라 가산한 것으로 된다.Therefore, the reflected light angle distributions of the temper part and the non-temper part are as shown in Figs. 37A and 37B, respectively. That is, (a) the temporal portion 106 produces a specular reflection 109 having a narrow distribution in the steel sheet regular reflection direction, and (b) the non-tempered portion 107 has a small area of the columnar crystal surface. The reflection 110 has a diffused distribution corresponding to the angular distribution. Thereafter, the former is called mirror reflection, and the latter is called mirror diffusion reflection. The reflection angle distribution actually observed is obtained by adding the angular distribution of specular reflection and specular diffusion reflection according to the area ratio of each of the tempered portion and the non-tempered portion as shown in Fig. 37 (c).

이상은 합금화 아연도금 강판을 예로 설명하였으나, 조질압연에 의해 평탄부가 생기는 다른 강판에도 일반적으로 성립한다.The foregoing has described the alloyed galvanized steel sheet as an example, but generally holds true for other steel sheets in which flat portions are formed by temper rolling.

다음으로 본 발명의 검출대상이 되는, 현저한 요철성을 가지지 않은, 모양상 헤게흠이라고 불리는 흠의 광학반사 특성에 대하여 설명한다. 예를 들면, 도 38에 도시한 바와 같이, 합금화 용융아연 도금강판(104)에서 볼 수있는 헤게흠(111)은, 도금전의 냉연강판 원판(101)에 헤게흠(111)이 존재하고, 그 위에 도금층(102)이 얹히고, 더욱이 기본소재인 철의 확산에 의한 합금화가 진행된 것이다.Next, the optical reflection characteristic of the flaw called shape hege flaw which does not have remarkable unevenness | corrugation which becomes a detection object of this invention is demonstrated. For example, as shown in FIG. 38, the hew flaw 111 seen in the alloyed hot-dip galvanized steel sheet 104 has a hew flaw 111 in the cold rolled steel sheet 101 before plating, and Plating layer 102 is placed on it, and the alloying by the diffusion of iron, which is a basic material, further progressed.

일반적으로 헤게부는 모재에 비해, 예를 들면 도금두께에 차이가 있거나, 합금화 정도에 차이가 있다. 그 결과로서, 예를 들면 헤게부 도금두께가 두꺼운 모재에 대하여 볼록한 경우에는 조질압연이 걸리게 되는 것에 의해 템퍼부의 면적이 비템퍼부에 비해 많게 된다. 역으로 헤게부가 모재에 비해 오목한 경우에는 헤게부는 조질압연롤이 접하지않고, 비템퍼부가 대부분을 차지한다. 또한, 헤게부 합금화가 옅은 경우에는 미소면적 요소의 각도분포는 강판 방선(方線)방향으로 집중되고, 확산성은 작게 된다.In general, the hegear portion, for example, has a difference in plating thickness or a degree of alloying compared to the base material. As a result, for example, when convexity with a thick base material with a thickness of a hege part becomes temper rolling, the area of a temper part becomes large compared with a non-temper part. On the contrary, when the hege part is concave compared to the base material, the hege part does not come into contact with the temper roll, and the non-temper part occupies most of it. In addition, when the hege alloying is light, the angular distribution of the small area element is concentrated in the steel plate radial direction, and the diffusibility becomes small.

이와 같은 헤게부와 모재부의 표면성상 차이에 따라, 모양상 헤게흠이 어떻게 보일까를 설명한다. 전술한 조질압연에 있어서 도금표면의 변형모델에 기초하여 헤게부와 모재부의 차이에 대해서 분류하면, 도 40에 도시한 것처럼 다음 3종류로 나눌 수 있다.According to the difference in surface properties of the hege part and the base material part, how the hege flaw in the shape will be described. In the above-described temper rolling, the difference between the hege part and the base material part is classified based on the deformation model of the plating surface. As shown in FIG.

(a) : 헤게부(실선)에 있어서 템퍼부의 면적율 및 비 템퍼부의 미소면적 요소의 각도 분포가 모재부(파선)와 다르다. 여기서, 템퍼부는 법선각도= 0에 대응하고, 도면에서는 피크를 나타내고 있다. 이 피크높이(면적율)가 헤게부와 모재부에서 다르다. 또한, 비템퍼부는 각각 그 이외의 부분(사면)에 대응하며, 도면에서는 헤게부와 모재부의 면적율의 분포가 다르다. 이 사면의 부분은 비 템퍼부의 미소면적 요소의 각도분포를 반영하고 있다.(a): In the hege part (solid line), the angular distribution of the area ratio of the temper part and the small area element of the non-temper part is different from the base material part (dashed line). Here, the temper part normal angle Corresponding to = 0, the peak is shown in the figure. This peak height (area ratio) differs between the hege part and the base material part. In addition, each of the non-tempered portions corresponds to other portions (slopes), and in the drawings, the distribution of the area ratios of the hege portion and the base metal portion is different. This slope part reflects the angular distribution of the microarea elements of the non-tempered portion.

(b) : 템퍼부의 면적율은 헤게부와 모재부에서 다르나, 비 템퍼부의 미소면적 요소의 각도분포는 변하지 않는다. 도면에서는 헤게부와 모재부에서 피크높이가 다르나, 사면의 형상은 일치하고 있다.(b) The area ratio of the tempered part is different in the hege part and the base material part, but the angular distribution of the small area component of the non-tempered part is not changed. In the figure, the peak heights of the hege part and the base material part are different, but the shape of the slopes is identical.

(c) : 비 템퍼부의 미소면적 요소의 각도분포는 헤게부와 모재부에서 다르나, 템퍼부의 면적율은 변하지 않는다. 도면에서는 헤게부와 모재부에서 피크높이는 일치하고 있으나, 사면의 형상은 다르다.(c): The angular distribution of the small area component of the non-tempered part differs in the hege part and the base material part, but the area ratio of the temper part is not changed. In the figure, the peak heights in the hege part and the base material part coincide, but the shape of the slope is different.

이와 같은 템퍼부 면적율 및 미소면적 요소의 각도분포의 차이가, 도 39에 도시하는 바와 같이 반사광량의 각도분포의 차이로서 관찰된다.Such a difference in the temporal portion area ratio and the angular distribution of the small area elements is observed as a difference in the angular distribution of the reflected light amount as shown in FIG.

템퍼부 면적율에 차이가 있는 경우(상기 a,b의 경우)에는 도 39(a),(b)에 도시하는 바와 같이, 반사광량의 각도분포는 헤게부(111a)와 모재부(112a)와 같이 된다. 그 차이는 각도분포가 피크가 되는 방향, 즉 정반사 방향에서 관찰된다. 헤게부의 템퍼부 면적율이 모재부보다 큰 경우(도 39(a),(b), 도 40(a),(b)에 해당)에는 정반사 방향으로부터는 헤게는 밝게 보이고, 역으로 헤게부의 템퍼율이 모재부보다 작은 때에는 정반사 방향에서는 어둡게 관찰된다.When there is a difference in the area ratio of the temper portion (in the case of a and b), as shown in Figs. 39A and 39B, the angle distribution of the reflected light amount is determined by the hege part 111a and the base material part 112a. Become together. The difference is observed in the direction in which the angular distribution peaks, i.e. in the direction of specular reflection. When the area ratio of the tempered portion of the weighted portion is larger than that of the base material portion (corresponding to FIGS. 39 (a), (b), 40 (a), and (b)), the weighted portion appears bright from the specular reflection direction, and conversely, the temper ratio of the weighted portion When it is smaller than this base material part, it is dark in a specular reflection direction.

템퍼부 면적율에 차이가 없는 경우(상기(c)의 경우)에는, 강판 정반사 방향으로 부터의 관찰에서는 헤게를 볼 수는 없다. 그래도, 경면 확산 반사성분의 확산성에 차이가 있을 때에는 도 39(c)에 도시하는 것처럼 각도분포의 피크에서 벗어난 확산방향으로부터 흠이 관찰된다. 예를 들면, 경면 확산 반사성분의 확산성이 작은 때에는, 일반적으로 정반사에 비교적 가까운 확산방향으로부터는 헤게는 밝게 관찰되고, 정반사 방향에서 떨어짐에 따라 밝기는 작아지고, 어떤 각도에서 헤게부와 모재부의 차가 없어지며, 그 전후의 각도에서 관찰불능이 된다. 더욱이 정반사에서 멀어지면 이번은 헤게는 어둡게 관찰된다.When there is no difference in the area ratio of the temper part (in the case of (c)), the hege cannot be seen in the observation from the steel sheet regular reflection direction. Nevertheless, when there is a difference in the diffusivity of the specular diffuse reflection component, defects are observed from the diffusion direction deviating from the peak of the angular distribution as shown in Fig. 39 (c). For example, when the diffusivity of the specular diffuse reflection component is small, the light weight is generally observed brightly from the diffusion direction relatively close to the specular reflection, and the brightness decreases as it falls from the specular reflection direction. The difference disappears and becomes unobservable at an angle before and after. Furthermore, away from the specular reflection, this time the hege is dark.

이와 같은 모양상 헤게흠을 모재부와 분별하여, 검출하기 위해서는, 도 40에 있어서, 어떠한 각도의 미소면적 요소으로 부터 반사광을 추출할지를 검토하는 것이 필요하다. 예를 들면, 앞의 도 39(a),(b)예와 같이, 정반사 방향에서 헤게부와모재부의 차이를 검출한다고 하는 것은, 도 40으로 나타내는 미소면적 요소의 각도 분포중= 0에 관해서 추출하여, 헤게부와 모재부의 차이를 검출하게 된다.In order to discriminate and detect such a shape hege flaw with a base material part, in FIG. 40, it is necessary to examine what angle the reflected light is extracted from the small area element. For example, as in the previous examples of FIGS. 39A and 39B, the difference between the hege part and the base material part in the normal reflection direction is the angle distribution of the microarea element shown in FIG. 40. It extracts about = 0 and detects the difference of a hege part and a base material part.

여기서,= 0에 대하여 추출한다고 하는 것을 수학적으로 표현하면, 도 40의 함수 S() 각각에, 도 42(a)에 나타내는 델타함수()로 나타내는 추출특성을 나타내는 함수(이후 가중함수라고 부른다)를 곱하여 적분하는 것에 상당한다. 또한, 예를 들면, 입사각 60에 있어서, 정반사에서 20도 어긋난 40도의 위치로 측정한다고 하는 것은, 법선각도가 10도 어긋난 면(미소면적 요소)에 의한 반사를 검출하는 것으로 된다. 이것은, 도 42(b)와 같은(+10)되는 가중함수를 사용하고 있는 것에 상당한다. 또한, 반사각과 미소면적 요소의 법선각도의 관계는 도 41로부터 계산된다.here, Mathematical expression of extracting with respect to = 0, the function S ( ), The delta function shown in FIG. ( Corresponds to the integration by multiplying a function (hereinafter referred to as a weighting function) representing an extraction characteristic expressed by " For example, at the incidence angle 60, the measurement is performed at a position of 40 degrees shifted by 20 degrees from the regular reflection. The reflection by the surface (micro-area element) shifted by 10 degrees is detected. This is the same as in Fig. 42 (b). ( It is equivalent to using a weighting function +10). Also, the normal angle of the reflection angle and the small area element Is calculated from FIG. 41.

이와 같이 생각하면, 어떠한 각도의 미소면적 요소에서의 반사광을 추출할지를 고려하는 것은, 어떠한 가중함수를 설계할지를 고려하는 것에 상당하는 것을 알 수있다. 가중함수는, 반드시 델타함수일 필요는 없고, 어느 정도의 폭을 가지고 있어도 문제없다Considering this, it can be seen that considering what angle the reflected light is extracted from at what angle is equivalent to considering what weighting function to design. The weight function does not necessarily have to be a delta function, and it does not matter even if it has a certain width.

이 같은 관점에서, 도 40(a),(b),(c)로 표시되는 것 같은 면적율 분포를 가지는 헤게흠을 모재부와 변별하고, 검출하기 위한 가중함수를 생각하면, 도 42에 나타내는함수()도 그 일례이다. 단, 이것으로는, 다른 수광각도로 카메라를 설치하기 때문에 2개의 광학계 시야 사이즈를 동일하게 할수는 없다. 또한, 확산 반사광을 측정하기 위하여 일단 카메라를 설치하면, 그 가중함수를 변경하는 것은, 카메라의 설치위치를 변경하는 것이 필요하므로, 용이하지는 않다.From such a viewpoint, considering the weighting function for distinguishing and detecting the hege flaws having the area ratio distribution as shown in Figs. 40 (a), (b) and (c) from the base material portion, Fig. 42 function ( ) Is one example. However, since the cameras are installed at different light receiving angles, the two optical system field sizes cannot be made the same. In addition, once the camera is installed in order to measure the diffuse reflected light, it is not easy to change the weighting function because it is necessary to change the installation position of the camera.

전자의 과제에 대해서는 동일 광축상의 측정이 필요하다. 그래서, 확산 반사광을 포착하는 것은 아니고, 강판 정반사 방향으로부터 측정으로 경면 반사성분과 경면 확산 반사성분 양 성분을 포착할 수 있는 것이 바람직하다. 그리고, 후자에 대해서는, 가중함수가 카메라 설치위치의 변경에 대해서 어느 정도 자유도를 가지고 설정할 수 있는 것이 바람직하다.For the former problem, measurement on the same optical axis is required. Therefore, it is preferable not to capture diffuse reflected light, but to be able to capture both the specular reflection component and the specular diffuse reflection component by measurement from the steel sheet regular reflection direction. For the latter, it is preferable that the weighting function can be set to some degree of freedom with respect to the change of the camera installation position.

이같은 목적에서, 본 발명에서는, 우선 광원으로서, 레이저와 같은 평행광원이 아니고, 확산특성을 가지는 선상(線狀)의 광원을 사용하고 있다. 또한, 강판 정반사방향으로부터 경면 반사성분, 경면확산 반사성분을 편광을 사용하는 것에 의해 분리하여 추출하고 있다.For this purpose, in the present invention, first, a linear light source having a diffusion characteristic is used instead of a parallel light source such as a laser. Further, the specular reflective component and the specular diffused reflective component are separated and extracted from the steel sheet regular reflection direction by using polarized light.

이 선상 확산광원의 작용과 효과를 설명하기 위하여, 도 43에 도시하는 바와 같이, 우선, 선상의 확산광원(114)을 강판(104)에 평행하게 배치하고, 광원에 수직한 면 내에 있어, 입사각이 출사각과 일치하는 방향(이하, 강판 정반사 방향이라고 부른다)에서 강판(104)상의 한 점을 관찰할 때의 반사특성을 고려한다.In order to explain the operation and effect of this linearly diffused light source, as shown in FIG. 43, first, the linearly diffused light source 114 is disposed in parallel to the steel plate 104, and is in a plane perpendicular to the light source, whereby the incident angle The reflection characteristic when observing a point on the steel plate 104 in the direction coinciding with this emission angle (hereinafter referred to as steel plate regular reflection direction) is considered.

지금, 도 43(a)에 도시하는 바와 같이, 선상광원(114)의 중앙부에서 조사(照射)된 광의 경우, 템퍼부에 입사한 광은 경면적으로 반사되고, 강판 정반사 방향에서 모두 포착할 수 있다. 한편, 비 템퍼부에 입사한 광은 경면 확산적으로 반사되고, 드물게 강판 법선방향과 동일방향을 향하고 있는 미소면적 요소에 의해 반사된 분만을 포착할 수 있다. 이같은 미소면적 요소은 확률적으로 대단히 적으므로, 강판 정반사 방향에서 포착할 수 있는 반사광 중에서는 템퍼부에서의 경면 반사가 지배적으로 된다.As shown in Fig. 43 (a), in the case of light irradiated from the center portion of the linear light source 114, the light incident on the temper portion is reflected by the mirror surface and can be captured in all of the steel sheet regular reflection directions. have. On the other hand, light incident on the non-tempered portion is specularly diffusely reflected, and it is possible to capture only the portion reflected by the micro-area element rarely oriented in the same direction as the steel plate normal direction. Since such small area elements are extremely small, the specular reflection at the temper portion is dominant among the reflected light that can be captured in the steel sheet regular reflection direction.

이에 대해, 도 43(b)에 도시하는 바와 같이, 선상광원의 중앙부 이외로부터 조사된 광의 경우에는, 템퍼부에 입사한 광은 경면 반사하여 강판 정반사 방향과는 다른 방향으로 반사하고, 강판 정반사방향에서는 포착할 수 없다. 한편, 비 템퍼부에 입사한 광은 경면 확산적으로 반사되고, 그 중 강판 정반사 방향으로 반사된 부분을 포착할 수 있다. 따라서, 강판 정반사 방향에서 포착되는 반사광은 모두 비 템퍼부에서 반사한 경면 확산 반사광이 된다.On the other hand, as shown in Fig. 43 (b), in the case of light irradiated from the center portion of the linear light source, the light incident on the temper portion is mirror-reflected and reflected in a direction different from the steel sheet regular reflection direction, and the steel sheet regular reflection direction Can't be captured. On the other hand, the light incident on the non-tempered portion is specularly diffusely reflected, and the portion reflected in the steel sheet regular reflection direction can be captured. Therefore, all the reflected light captured in the steel plate regular reflection direction becomes the specular diffused reflected light reflected by the non-tempered portion.

이상 2개의 경우를 합치면, 선상광원 전체에서 조사되는 광에서 강판 정반사방향에서의 관찰로 포착되는 것은, 템퍼부에서의 경면 반사광과, 비템퍼부에서의 경면확산 반사광의 합으로 된다.When the above two cases are added together, what is captured by observation in the steel sheet normal reflection direction from the light irradiated from the entire linear light source is the sum of the specularly reflected light at the tempered portion and the specularly diffused reflected light at the non-tempered portion.

다음으로, 이 같이 선상광원을 사용하여 정반사 방향에서 피 검사면을 관찰한 경우에, 편광특성이 어떻게 변화하는 가에 대하여 설명한다.Next, how the polarization characteristic changes when the inspection surface is observed from the specular reflection direction using the linear light source as described above will be described.

일반적으로, 경면상의 금속표면에서의 반사에 있어서는, 전계(電界)의 방향이 입사면에 평행한 광(P 편광) 또는 입사면에 직각인 광(S 편광)에 관해서는, 반사에 의한 편광특성은 보존되고, P 편광인 채로, 또는 S 편광인 채로 출사한다. 또한, P 편광성분과 S 편광성분을 동시에 가진 임의의 직선 편광은, P, S 편광의 반사율비 및 위상차에 따른 타원편광이 되어 출사한다.In general, in the reflection on the mirror-like metal surface, the polarization characteristic by the reflection is related to light (P polarization) in which the direction of the electric field is parallel to the incident surface (P polarization) or perpendicular to the incident surface (S polarization). Is preserve | saved and it exits with P polarization or S polarization. In addition, arbitrary linearly polarized light which has a P polarization component and an S polarization component simultaneously emits elliptical polarization according to the reflectance ratio and phase difference of P and S polarization.

이하, 합금화 아연도금 강판에 선상확산 광원으로부터 광이 조사되는 경우에 대하여 고려한다. 도 44(a)에 도시한 바와 같이, 선상광원(114) 중앙부에서 출사한 광은, 강판(104)의 템퍼부에서 경면 반사하여 강판 정반사 방향에서 관찰된다. 이에 관하여는 상기 일반의 경면상의 금속표면에서의 반사가 그대로 성립하고, P 편광은 P 편광인 채로 출사한다.Hereinafter, the case where light is irradiated to the galvanized steel sheet from a linear diffusion light source is considered. As shown in Fig. 44A, the light emitted from the center portion of the linear light source 114 is specularly reflected by the temper portion of the steel sheet 104 and observed in the steel sheet regular reflection direction. In this regard, the reflection on the normal mirror surface metal surface is maintained as it is, and P-polarized light is emitted while being P-polarized light.

한편, 선상광원의 중앙부 이외의 개소에서 출사된 광에는, 도 44(b)에 도시하는 바와 같이 비 템퍼부의 결정표면의 기울어진 미소면적 요소에서 경면 반사하고, 강판 정반사 방향에서 관찰되는 경우가 있다. 이 때, 강판의 입사면에 평행한 P 편광의 광을 입사했다 하더라도, 실제로 반사하는 기울어진 미소면적 요소에 대해서는, 그 입사면과 평행하지는 않으므로, P, S 양 편광성분을 가진 직선편광으로 된다 . 그 결과, 이 입사광은, 미소면적 요소에서는 타원 편광으로 되어 출사한다. 여기서, P 편광대신에 S 편광을 입사한 경우도 마찬가지이다.On the other hand, in light emitted from a portion other than the central portion of the linear light source, as shown in Fig. 44 (b), it may be specularly reflected by the inclined microarea element of the crystal surface of the non-tempered portion, and may be observed in the steel sheet regular reflection direction. . At this time, even if light of P polarization parallel to the incident surface of the steel sheet is incident, the inclined micro-area elements that are actually reflected are not parallel to the incident surface, resulting in linearly polarized light having both P and S polarization components. . As a result, this incident light is elliptically polarized by the small area element, and it exits. The same applies to the case where S polarized light is incident instead of P polarized light.

또한, P, S 양편광 성분을 가진 임의의 편광각의 직선 편광에 관해서는, 상기 이유와 동일이유로 기울어진 미소면적 요소에 대해서는, 입사면을 기준으로 하면 편광각이 기울어져 작용하므로, 강판 정반사 방향으로 출사하는 타원 편광의 형상은, 선상광원 중앙에서 입사하여 템퍼부에서 경면 반사한 광과는 다르다.In addition, with respect to the linearly polarized light of an arbitrary polarization angle having P and S both polarization components, the polarization angle is inclined when the incident surface is referred to the micro-area element inclined for the same reason as the above reason. The shape of the elliptically polarized light emitted in the direction is different from the light incident on the linear light source center and specularly reflected by the temper part.

이하에서, P, S 양성분을 가진 직선편광을 입사하는 경우에 대하여, 좀 더 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the case where linearly polarized light having P and S positivity is incident is described in more detail.

우선, 도 45에 도시하는 것처럼, 선상 확산광원(114)에서의 광(108)을 방위각인 편광판(115)에 의해 직선편광으로 한 후, 수평으로 배치된 강판(104)에 입사하고, 그 정반사광을 광 검출기(116)로 수광하는 것을 고려한다.First, as shown in FIG. 45, the azimuth angle of the light 108 in the linearly diffused light source 114 is shown. After making it into linearly polarized light by the phosphor polarizing plate 115, it is considered to enter the steel plate 104 arranged horizontally, and to receive the specularly reflected light with the photodetector 116.

전술한 바와같이, 광원상의 점 C 에서 출사된 광(108)에 대해서는, 템퍼부로 부터 경면 반사된 성분 및 비 템퍼부에 의해 드물게 법선이 연직방향을 향한 미소면적 요소로 부터의 경면 확산 반사된 성분이, 강판위의 점 O (및 그 결과 주변의 영역113)으로부터 광 검출기(116)의 방향으로 반사하는 광에 기여하고 있다.As described above, with respect to the light 108 emitted at point C on the light source, the specularly reflected component from the tempered portion and the specularly diffused and reflected component from the small-area element whose normal is vertically oriented in the vertical direction by the non-tempered portion This contributes to the light reflected from the point O on the steel sheet (and consequently the surrounding region 113) in the direction of the photodetector 116.

이에 대하여, 도 46에 도시한 바와 같이, 점 O 에서 보아 각도 φ만큼 어긋난 점 A 로부터의 광(108)에 대해서는, 경면 반사성분은 광 검출기(116)와는 다른 방향으로 반사되기 때문에, 법선각도(연직방향에 대한 법선의 각도가)인 미소면적 요소에 의한 경면 확산반사 성분만이 기여한다. 여기서, φ와의 관계는, 간단한 기하학적 고찰에 의해, 다음식으로 주어진다.On the other hand, as shown in FIG. 46, with respect to the light 108 from the point A which shifted by the angle φ seen from the point O, the specular reflection component is reflected in a direction different from that of the photodetector 116. (The angle of the normal to the vertical direction Only the specular diffuse reflection component by the microarea element) contributes. Where φ and The relationship of is given by the following simple considerations.

다음으로, 이 같이하여 반사된 광의 편광상태에 대하여 고려한다. 도 45에서 점 C에서 출사된 광(108)이, 방위각α인 편광판(115)을 통과하여, 점 O에서 경면 반사된 후의 편광상태는, 편광광학에서 일반적으로 사용되는 죤즈 행렬을 사용하여,Next, the polarization state of the thus reflected light is considered. The polarization state after the light 108 emitted from point C in FIG. 45 passes through the polarizing plate 115 having the azimuth angle α and is specularly reflected at the point O, using the Jones matrix generally used in polarization optics,

마찬가지로 ,도 46에서, 점A 로부터 출사한 광(108)이, 법선각도의 미소면적 요소에 의해 광 검출기(116) 방향으로 반사된 광의 편광상태는, 입사면이 편광판(115) 및 검광자(檢光子,117)와 직교하고 있다고 하면,Similarly, in FIG. 46, the light 108 emitted from the point A has a normal angle. When the polarization state of the light reflected by the microarea element toward the photodetector 116 is orthogonal to the polarizing plate 115 and the analyzer 117,

식(3)을 계산하여, 법선각도의 미소면적 요소로 부터의 반사광 타원 편광상태를 도시하면, 도 47과 같이 된다. 단, 여기서 입사편광의 방위각(α)은 45도, 입사각(θ)은 60도, 강판의 반사특성으로서= 28°,= 120°로 했다. 그림에 의해,= 0 즉 경면 반사의 경우 타원에 대하여,의 값이 변화함에 따라서, 타원이 기울어져 간다는 것을 알 수 있다. 따라서, 예를 들면 광 검출기 앞에 검광자를 삽입하고, 그 검광각을 설정하는 것에 의해, 어느 법선각도의 미소면적 요소로부터 반사광을 보다 많이 추출할지를 선택할 수있다.Calculate Equation (3), normal angle 47 shows an elliptical polarization of the reflected light from the small area element of. Here, the azimuth angle α of incident polarization is 45 degrees, the incident angle θ is 60 degrees, = 28 °, = 120 °. By picture, = 0, with respect to the ellipse for specular reflection, As the value of changes, the ellipse is inclined. Thus, for example, by inserting an analyzer in front of the photodetector and setting the detection angle, it is possible to select whether to extract more reflected light from the microarea element at which normal angle.

이다. 식(4)로부터, 광 검출기(116)(도46)로 검출하는 법선각도인 미소면적 요소에서의 반사광 광 강도(L)를 계산하면, 그 미소면적 요소의 면적율을 S()로 하여,to be. From equation (4), the normal angle detected by the photodetector 116 (FIG. 46) When the reflected light intensity (L) of the small area is calculated, the area ratio of the small area element is S ( )

로 된다. 여기서, Ⅰ(, β)는 전술한 바와 같이, 법선각도인 미소면적 요소에서의 반사광을 어느 정도 추출할 수 있을 것인가를 나타내는 가중함수로, 광학계 및 피검체의 편광특성에 의존한다. 그리고, 그것에 강판의 반사율 rs 2, 입사광 광량 Ep 2, 면적율S()를 곱한 것이 검출되는 광강도로 된다. 표면처리 강판 등과 같이, 강판표면의 재질이 균일한 대상을 고려하는 경우는 rs 2의 값은 일정하다고 생각된다. 또한, Ep 2은 입사광량이 광원위치에 관계없이 균일하다면 마찬가지로 일정한 값으로 좋다. 따라서, 광 검출기가 검출하는 광강도를 구하는 데는, 법선각도인 미소면적 요소의 면적율S()와 추출특성Ⅰ(,β)를 고려하면 좋다.It becomes Where Ⅰ ( , β) is the angle of normal A weighting function that indicates how much the reflected light from the small-area element can be extracted, depending on the polarization characteristics of the optical system and the subject. Then, the reflectance r s 2 , incident light quantity E p 2 , area ratio S ( Multiplied by) becomes the detected light intensity. It is considered that the value of r s 2 is constant when considering a material having a uniform material on the surface of the steel sheet, such as a surface-treated steel sheet. Further, E p 2 may be a constant value as long as the incident light amount is uniform regardless of the light source position. Therefore, the normal angle is used to obtain the light intensity detected by the photo detector. Area ratio S of ) And extraction characteristics I , β) may be considered.

여기에서 우선, 추출특성Ⅰ(,β)에 대하여 생각한다. 법선각도 0인 미소면적 요소에서의 기여가 가장 크게 되도록 검광각(β0)을 선정하려고 한 경우, 그 후보는 다음식을 β에 대하여 푸는 것에 의하여 구할 수 있다.First, the extraction characteristics I ( , β). Normal angle If the detection angle β 0 is to be selected so that the contribution from the small-area element equal to zero is greatest, the candidate can be obtained by solving the following equation with respect to β.

상기 식(6)에 의해,= 0, 즉 경면 반사성분의 기여가 가장 크게 되도록 한 검광각(檢光角)을 구하면, β는 대략 -45도로 된다. 단 여기서도, 강판의 반사특성으로서=28°,=120°, 편광자(偏光子)의 방위각α= 45°로 했다. 도 48에, 검광각(β)이 -45°인 경우, 미소면적 요소의 법선이 연직방향에 대하여 이루는 각와 추출특성, 즉 가중함수 Ⅰ(,-45)의 관계를 나타낸다. 단, 보기 쉽도록 최대값을 1로 규격화하고 있다.By the above formula (6), = 0, i.e., the angle of view obtained so that the contribution of the specular reflection component is the largest, β becomes approximately -45 degrees. Here too, as a reflection characteristic of the steel sheet = 28 °, = 120 degrees and the azimuth angle (alpha) of a polarizer was set to 45 degrees. In FIG. 48, when the detection angle β is -45 °, the angle formed by the normal of the microarea element with respect to the vertical direction. And extraction characteristics, that is, weighting function Ⅰ ( , -45). However, the maximum value is standardized to 1 for easy viewing.

상기 도 48로 부터,= 0 즉 경면 반사성분이 가장 지배적이고(추출되기 쉽고), 역으로 법선각도= ±35도 부근의 미소면적 요소로부터의 경면 확산 반사광이 가장 추출되지 않는 것을 알 수 있다. 또한, 역으로= ±35도의 반사광을 가장 좋게 추출하도록 검광각 (β)을 식(5)(6)으로 부터 구하면, 대략 β= 45도가 된다. 검광각(β)=45도에 대한 법선각도와 추출특성 Ⅰ(, 45)의 관계를 도 49에실었다. 여기서, β=45도의 곡선이 좌우 대칭이 아닌 것은, 입사면(미소면적 요소에 대한 입사광과 반사광에 의해 뻗어진 평면)을 기준으로 생각하면,가 플러스(+)인 경우, 외관상 입사편광의 방위각(α)이 작게 되는(p 편광에 접근한다)것과, 강판의 p 편광 반사율이 s 편광 반사율보다 작은 것에 의한다. 또한 , β= -45°와 45°중간의 특성이 되는 β=90°에 대해서도 동 도면에 실었다.From FIG. 48 above, = 0, the specular reflective component is the most dominant (easy to extract) and vice versa It can be seen that the specularly diffused reflected light from the microarea element around = 35 degrees is least extracted. Also, in reverse When the detection angle β is obtained from equation (5) (6) so as to best extract the reflected light of = 35 degrees, approximately β = 45 degrees. Normal angle for detection angle (β) = 45 degrees And extraction characteristics Ⅰ ( , 45) is shown in FIG. Here, considering that the curve of β = 45 degrees is not symmetrical with reference to the incident surface (the plane extended by the incident light and the reflected light with respect to the microarea element), When is positive (+), the azimuth angle α of the incident polarization is apparently small (approaching p-polarized light), and the p-polarized light reflectance of the steel sheet is smaller than the s-polarized light reflectance. In addition, (beta) = 90 degree which becomes the characteristic between (beta) =-45 degree and 45 degree is described in the same figure.

식(5)로 나타낸 바와 같이, 법선각도인 미소면적 요소로부터의 반사광 강도 L은, 추출특성(가중함수)Ⅰ(,β)과 면적율 S()의 곱에 의해 주어지므로, 최종적으로 광검출기(116)로 수광하는 광강도는 S()·Ⅰ(,β)를에 대하여 적분한 것이 된다. 예를 들면, 도 50에 나타내는 바와 같은 반사특성을 가지는 강판에서 반사광을 검광각(β)이 -45°인 검광자를 통하여 수광한 경우, 도 50에서 도시되는 면적율 S ()를 도 48과 같은 추출특성Ⅰ(,β)의 가중을 붙여서 적분한 것이, 수광광량이 된다.As shown by equation (5), normal angle The reflected light intensity L from the small surface area element is the extraction characteristic (weighting function) I ( β and area ratio S ( Is given by the product of < RTI ID = 0.0 >),< / RTI > ) I , β) Becomes integral with respect to. For example, in a steel sheet having a reflection characteristic as shown in FIG. 50, when the reflected light is received through an analyzer having a detection angle β of −45 °, the area ratio S (shown in FIG. 50) ( ) The extraction characteristics I ( Integrating with weighting of (beta)) becomes the amount of received light.

강판표면에 도 39에 도시한 바와 같은 특성의 모양상 헤게흠이 있는 경우를 생각한다. 그 경우의 면적율 S()는, 각각 도 40(a),(b),(c)와 같이 되어있다.Consider a case where the surface of the steel sheet has a scratch in the shape of the characteristic as shown in FIG. Area ratio S in that case ) Are as shown in Figs. 40 (a), (b) and (c), respectively.

우선, 도 39(b), 도 40(b)와 같이 경면 반사성분만에 차이가 있는 경우를 생각한다. 이 같은 흠을 검광각(β)= -45도인 검광자를 통하여 수광한 때의 광 강도는, 도 40(b)를 도 48에서 나타내는 가중함수 Ⅰ(,β)를 곱하여 적분한 것에 상당하므로, 모재부와 헤게부의 반사광량의 차이를 검출할 수 있다. 또한, 검광각(β)= 45도에 대해서는, 도 40(b)에 도시한 바와 같이, 경면 확산 반사성분에 차이가 없고, 차이가 있는 것은= 0°부근이므로, 도 49에 도시한 β= 45°인 가중함수Ⅰ(,β)가= 0°부근에서 낮은 값인 것을 생각하면, 그 곱은의 전영역에서 낮은 값으로 되고, 적분에 의해 차이가 없게 된다. 따라서, 모재부와 헤게부의 차이를 검출할 수 없다.First, consider the case where there is a difference only in the mirror reflecting components as shown in Figs. 39 (b) and 40 (b). The light intensity at the time of receiving such a flaw through an analyzer having an inspection angle β = -45 degrees is the weighting function I (shown in FIG. Since it is equivalent to integration by multiplying (beta) and (beta), it is possible to detect the difference between the reflected light amounts of the base material portion and the hege part. In addition, as for detection angle (beta) = 45 degree | times, as shown to FIG. 40 (b), there is no difference in the mirror surface diffuse reflection component, and there exists a difference Since the weight is near 0 °, the weighting function I ( , β) Considering the low value near = 0 °, the product is It becomes a low value in all areas of, and there is no difference by integration. Therefore, it is not possible to detect the difference between the base material portion and the hegear portion.

또한, 도 39(c), 도 40(c)와 같이 경면 확산 반사성분만에 차이가 있는 경우에는, 역으로, -45도인 검광자를 통한 것으로는 검출할 수 없다. 이 경우는 ,= 0° 보다 떨어진 곳에서 가중함수 Ⅰ(,β)가 높은 값을 나타내는 45도의 검광자를 통과하는 것에 의해, 검출할 수 있다.39 (c) and 40 (c), when there is a difference only in the specular diffuse reflection component, it cannot be detected through the analyzer having -45 degrees. In this case, = Weighting function Ⅰ away from 0 ° It can be detected by passing through an analyzer of 45 degrees at which β is high.

그런데, 모재부와 헤게부의 경면 확산 반사성분의 차이가 없는 법선각도()는 도 40(c)에서는= ± 20도 이었으나, 만약, 그 법선각도()가 가끔 ±30수도 부근으로 되는 흠이 있으면, 45도의 검광자를 통과하여도 검출할 수 없게 된다. 그 경우는, 다른 추출특성이 되도록 검광각(예를 들면 β= 90°)의 검광자를 또 하나 별도로 준비하여, 3 개의 광검출기로 수광하도록 하면좋다.However, the normal angle without the difference between the specular diffuse reflection component of the base material and the hege part ( In (c) of FIG. = ± 20 degrees, but if the normal angle ( ) Is sometimes around ± 30 degrees Celsius, it is impossible to detect even if it passes through a 45-degree analyzer. In that case, it is good to prepare another analyzer of a detection angle (for example (beta) = 90 degree) so that it may become another extraction characteristic, and to receive it with three photodetectors.

일반적으로, 강판표면의 모재부와 헤게부의 반사특성은 도 33(a),(b),(c) 중 어느 하나인 것이 대부분 이므로, 그 중 2개의 광학조건(이 예에서는 검광각)을 이용하는 것에 의해, 대부분의 경우 검출할 수 있다. 단, 전술한 바와같은 특별한경우, 누락하는 것을 없애기 위해서는, 3개의 다른 검광각을 갖는 검광자를 사용하고, 대응하는 3개의 법선각도 미소면적 요소에서의 반사광을 추출하여 수광하도록 하는 것이 바람직하다.In general, the reflection characteristics of the base material portion and the hegear portion of the surface of the steel sheet are mostly any one of Figs. 33 (a), (b), and (c). Therefore, two optical conditions (in this example, an inspection angle) are used. This can be detected in most cases. However, in the special case as described above, in order to eliminate the omission, it is preferable to use an analyzer having three different detection angles, and to extract and receive the reflected light from the corresponding three normal angle microarea elements.

또한, 도 39(a), 도 40(a)과 같은 경면 반사성분, 경면 확산 반사성분 모두 차이가 있는 경우에는 기본적으로는, 1개의 검광자를 통한 반사광만이라도, 모재부와 헤게부의 차이를 검출할 수 있다.39 (a) and 40 (a), when there is a difference between the specular reflection component and the specular diffuse reflection component, basically, even if only the reflected light through one analyzer is detected, the difference between the base material portion and the weight portion can be detected. Can be.

본 발명에서는 선상(線狀)확산 광원의 전면에 입사 편광판을 배치하고, 그 편광의 방위각은 p 편광 s 편광을 함께 포함하는 각도로 한다. 그리고, 정반사광 중, 경면 반사성분을 보다 잘 투과하는 편광각의 편광자를 통과하여 촬영하는 카메라와, 경면 확산 반사성분을 보다 잘 투과하는 편광각의 편광자를 통하여 촬영하는 카메라와, 경면확산 반사성분을 보다 잘 투과하는 편광각의 편광자를 통과하여 촬영하는 카메라를 사용한다.In this invention, an incident polarizing plate is arrange | positioned in the front surface of a linearly spreading light source, and the azimuth angle of the polarization is made into the angle containing p polarized light s polarized light together. And a camera for photographing through a polarizer having a polarization angle that better transmits the specular reflection component, a camera for photographing through a polarizer having a polarization angle that transmits the specular diffuse reflection component better, and a specular diffuse reflection component. Use a camera that passes through the polarizer of the polarization angle to better transmit.

이 같은 광학계에 의해, 정반사 방향으로부터의 공통적인 광축에서의 측정이므로, 강판거리 변동이나 속도변화에 영향을 끼치는 일 없이, 경면 반사 ·경면 확산반사 각각에 대응한 2개의 신호를 얻는 것이 가능하게 되고, 현저한 요철성(凹凸性)을 가지지 않은 모양상 헤게흠을 미검출 없이 검출가능한 표면흠 검사장치를 실현한다. 그리고, 어떤 각도의 경면 확산 반사성분을 검출할지는, 검광각을 설정하는 것에 따라 용이하게 변경가능하게 된다.This optical system makes it possible to obtain two signals corresponding to mirror reflection and specular diffuse reflection without affecting the steel sheet distance fluctuations or speed changes, because measurements are made on a common optical axis from the specular reflection direction. It is possible to realize a surface flaw inspection apparatus that can detect a shape-height flaw that does not have significant irregularities without being detected. The angle of specular diffuse reflection component of which angle is detected can be easily changed by setting the detection angle.

또한, 이 같이 경면 반사와 경면 확산반사의 강도 또는 비율을 측정하는 것에 따라, 상기 모양상 헤게흠 이외라도, 경면 반사 또는 경면 확산반사에 영향을 미치는 표면성상의 변화를 검출할 수 있다. 예를 들면, 둔감한(dull) 사상이나 미세한(hair line) 사상 등의 금속대 표면사상에 대해서도, 미소 반사면의 분포에 변화가 있으면, 원리적으로는 검출가능하며, 이들의 표면성상의 검사로의 적용도 기대할 수 있다.In addition, by measuring the intensity or the ratio of the specular reflection and the specular diffuse reflection, the change in the surface properties affecting the specular reflection or the specular diffuse reflection can be detected in addition to the shape hege flaws. For example, even if there is a change in the distribution of the micro-reflective surface even for metal-to-surface reflection such as dull or hair line, it is possible to detect in principle and inspect the surface properties thereof. The application to the furnace can also be expected.

또한, 표면흠의 검출 및 판정에는, 이 발명의 장치와 함께, 공지의 방법 및 수단을 병용해도 좋다는 것은 말할 필요도 없다. 이에 대해서는, 상세를 후술한다In addition, it goes without saying that you may use a well-known method and means together with the apparatus of this invention for detection and determination of a surface flaw. This will be described later in detail.

이렇게 하여, 표면흠이 있다고 판정된 피 검사면에 대해서는, 그 위치가 트래킹 수단에 의해 트래킹된다. 트래킹은 금속대의 반송속도로 부터 표면흠의 위치가 마킹수단에 도달하는 시각을 산출하는 것에 의해 실시할 수 있다. 마킹수단은 트래킹 수단으로부터 마킹지시에 기초하여, 금속대 표면에 마킹을 한다.In this way, with respect to the to-be-tested surface determined to have surface flaw, the position is tracked by a tracking means. Tracking can be performed by calculating the time at which the position of the surface flaws reaches the marking means from the conveyance speed of the metal stand. The marking means marks the metal to the surface based on the marking instructions from the tracking means.

마킹은, 목적이나 용도에 따라 여러 방법으로 행할 수 있다. 이것은, 다음공정에서 검출하기 쉬운 마킹방법이라면 어떤 것도 좋고, 예를 들면, 잉크나 도료에 의한 인자, 타각기 등에 의한 각인, 천공기에 의한 천공, 그라인더 등에 의한 표면거칠기의 개변(改變), 또는 금속대가 강 자성체인 경우는 자기적 마킹 등의 소정방법으로 행한다.Marking can be carried out in various ways depending on the purpose and use. This may be any marking method that is easy to detect in the next step, for example, printing by ink or paint, stamping by a stirrer, perforation by a perforator, alteration of surface roughness by a grinder, or metal. In the case of a ferromagnetic material, it is performed by a predetermined method such as magnetic marking.

또한, 마킹의 위치는, 표면흠의 위치에 일치시켜도 좋으나, 폭 방향으로 일치시키지 않고 길이방향만 위치를 일치시켜도 좋다. 예를 들면, 프레스 라인 등에 재료로서 자동장입할 경우는, 마킹의 위치를 오히려 폭 방향에 대하여 일정위치로 하는 것이, 마킹을 검출하기 쉬운 경우도 있다.In addition, although the position of marking may correspond to the position of a surface flaw, you may make a position match only a longitudinal direction, without making it correspond to a width direction. For example, in the case of automatic loading as a material on a press line or the like, it is sometimes easy to detect the marking by setting the marking position to a fixed position in the width direction.

제 2의 발명은, 금속대의 피검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건에서 추출하고, 이들 서로 다른 광학조건에서 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면 표면흠의 유무를 판정하고, 금속대 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 마킹부착 금속대의 제조방법이다.In the second aspect of the invention, the reflected light from the inspection surface of the metal band is extracted under two or more different optical conditions, and the presence or absence of the surface defect to be inspected is determined based on the combination of the reflection components extracted under these different optical conditions, It is a manufacturing method of a marking metal stand with a marking which shows the information regarding the flaw on the surface of a metal stand.

상기 발명으로 부터, 전술한 표면흠 판정방법에 의해 표면흠이 있다고 판정된 개소에는 금속대 표면에 마킹이 실시된다. 이와 같이 표면흠의 존재를 나타내는 마킹이 실시되고 있으므로, 그 후의 공정 또는 수요처에 있어서, 표면흠의 부분을 제거하는 것이 가능하게 되고, 제품에 잘못 섞여들어 가는 것을 방지할 수 있다. 또한, 이 제조방법에 의해, 금속대의 제조 후, 표면흠이 있는 부분을 제거하기 위한 코일 분할 등의 작업을 대폭적으로 간략화 또는 생략할 수 있으므로 생산효율이 향상한다.From the above invention, marking is performed on the surface of the metal band at the point where the surface defect is determined by the surface scratch determination method described above. Since marking which shows the presence of a surface flaw is performed in this way, it becomes possible to remove the part of a surface flaw in a subsequent process or a target place, and can prevent that it mixes into a product erroneously. In addition, this production method greatly simplifies or eliminates operations such as coil splitting to remove surface flaws after the production of metal strips, thereby improving production efficiency.

제 3의 발명은, 금속대의 피검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종이상의 광학조건에서 추출하여 이들 서로 다른 광학조건으로 추출된 반사성분의 조합에 기초한 피검사면의 표면흠 유무를 판정하는 공정과, 금속대의 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 실시하는 공정과, 상기 마킹이 실시된 금속대를 권취(券取)하여 코일로 하는 공정과, 이 코일을 되감아 마킹을 검출하는 공정과, 그 마킹이 나타내는 정보에 기초하여 금속대 소정의 범위를 회피 또는 제거하는 공정과, 금속대의 회피 또는 제거되지 않았던 남은 부분에 대해서 소정의 가공을 행하는 공정을 가지는 것을 특징으로 하는 금속대의 가공법이다.The third invention comprises the steps of extracting the reflected light from the inspection surface of a metal band under two or more different optical conditions and determining the presence or absence of surface defects on the inspection surface based on a combination of reflection components extracted under these different optical conditions, A process of marking on the surface of the metal stand indicating information about the defect, a process of winding the metal stand subjected to the marking to form a coil, a process of rewinding the coil to detect the marking, And a step of avoiding or removing a predetermined range of the metal band based on the information indicated by the marking, and a step of performing a predetermined machining on the remaining portion that has not been avoided or removed from the metal band.

상기 발명은, 제 2의 발명과 마찬가지로 금속대 표면에 마킹을 실시한 후, 금속대를 코일형상으로 권취한다. 권취한 코일은 공장 등으로 운반하여 박판의 성형가공을 한다. 성형가공시는, 사전에 코일을 되감고, 육안 또는 간단한 검출기 등에 의해 마킹을 검출한다. 마킹이 검출된 경우, 그 표시정보로 부터 금속대에 있어서 흠을 포함하는 불량부분을 회피 또는 제거한다.In the above invention, after marking the surface of the metal stand in the same manner as the second invention, the metal stand is wound in a coil shape. The wound coils are transported to a factory or the like to form a thin plate. At the time of forming processing, the coil is rewound in advance and the marking is detected by a visual or simple detector or the like. If a marking is detected, a defective portion including a flaw in the metal band is avoided or removed from the display information.

여기서, 불량부분의 범위는, 예를 들면, 흠의 위치에 일치시켜서 마킹이 실시되고 있는 경우는, 마킹이 실시된 부분이며, 마킹이 흠의 종류나 정도(程度) 등의 정보를 가지는 경우는, 그 성형가공에서 불량으로 되는 흠의 종류나 정도에 기초하여 결정한다. 또한, 금속대의 소정범위를 회피 또는 제거한다고 하는 것은, 금속대의 불량부분을 절단하여 제거하거나, 또는, 가공공정으로의 금속대 이송량(feed)을 조절하여 금속대 불량부분을 통과(pass)시키는 등 불량부분이 가공되지 않도록가공공정으로의 금속대의 공급을 제어하는 것이다.Here, the range of the defective portion is, for example, when marking is performed in accordance with the position of the defect, and the marking is performed, and when the marking has information such as the type and degree of the defect, The determination is made based on the type and extent of the defects that become defective in the molding process. In addition, avoiding or removing a predetermined range of the metal band includes cutting and removing a defective part of the metal band, or passing a defective part of the metal band by adjusting the feed amount of the metal band to a machining process. This is to control the supply of metal strips to the machining process so that the defective parts are not machined.

제 4의 발명은, 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 분리되는 표면에서의 반사성분 조합이 정상부와는 다른 이상부에 대해서, 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되고 있는 것을 특징으로 하는 마킹구비 금속대이다.According to a fourth aspect of the present invention, marking is performed on the surface to indicate information about the defect on an abnormal part whose reflection component combination on the surface separated by two or more different optical conditions differs from the normal part. Marking fixture metal stand.

상기 발명의 금속대는 전술한 바와 같이 표면의 광학적 해석에 의해, 정상부와는 다르다고 판정된 부분, 즉 표면흠의 위치에 마킹이 실시되고 있다. 따라서, 전술한 바와 같이, 이 금속대를 사용하는 후공정, 수요처에 있어서, 그 이상부의 제거, 제품에의 혼입방지가 가능하게 된다.As described above, the metal band of the present invention is marked on the part determined to be different from the top by the optical analysis of the surface, that is, the position of the surface flaw. Therefore, as described above, in the post-process using this metal band and the demand destination, it is possible to remove the abnormal part and to prevent mixing into the product.

제 5의 발명은, 표면에서의 경면 반사성분 또는 다수의 미소 경면 반사면에 의한 경면 확산 반사성분 중, 어느 한방향 또는 쌍방성분의 광량이 이상(異常)이 되는 부분에 대해서, 표면에 그것에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되고 있는 것을 특징으로 하는 마킹 구비 금속대이다.The fifth aspect of the present invention relates to information on the surface of a specular reflective component on a surface or a part of a specular diffused reflective component by a plurality of micro-mirror reflective surfaces, in which the amount of light in one direction or both components becomes abnormal. The marking with a metal stand characterized by the above-mentioned.

상기 발명의 금속대는, 표면으로부터의 경면 반사 또는 경면 확산 반사의 상황이 정상부와는 다른경우, 그 위치에 마킹이 실시되고 있다. 여기서, 경면 확산반사라고 하는 것은, 전술한 바와 같이, 법선이 특정 방향을 향하는 미소 경면 반사면이 다수 분포한 면의 것이다. 전술한 발명과 마찬가지로, 이 금속대를 사용할 때, 이상부의 처치가 용이하게 된다.In the metal band of the present invention, when the situation of specular reflection or specular diffuse reflection from the surface is different from that of the top, marking is performed at the position. Here, the specular diffuse reflection is a surface in which a large number of minute specular reflective surfaces whose normals are directed in a specific direction are distributed as described above. Similarly to the invention described above, when the metal band is used, the treatment of abnormal parts is facilitated.

제 6 의 발명은, 수광부와 신호처리부를 가지는 표면흠 검사수단을 포함하는 복수의 표면흠 검사수단과, 상기 검사수단에 의한 금속대 표면흠의 검사결과를 총합적으로 판정하고, 금속대 표면에 관한 마킹정보를 작성하는 마킹정보 작성수단을 구비하고 있는 것을 특징으로하는 제 1항에 기재한 금속대 표면흠 마킹장치이다.The sixth invention collectively determines a plurality of surface flaw inspection means including surface flaw inspection means having a light receiving portion and a signal processing portion, and the inspection result of the metal-to-surface flaw by the inspection means. The metal to surface flaw marking apparatus of Claim 1 provided with marking information preparation means which prepares marking information regarding it.

이 발명은, 제 1의 발명에 있어서 수광부와 신호처리부를 가지는 표면흠 검사수단에 부가하여, 흠이나 오염 등의 치수·형상 또는 조사광의 반사율 등을 검출하여, 흠이나 오염 등의 표면성상의 이상을 검사하는 통상의 표면검사 수단을 조합시켜서, 표면흠 이외의 이상부 종류나 정도를 분류한다. 이에 따라, 경면 확산반사의 이상을 포함하는 여러가지 표면성상의 이상에 대하여, 총합적인 판정을 하고, 그들 이상부에 관한 정보를 마킹하는 것이 가능하게 된다.This invention, in addition to the surface flaw inspection means having the light receiving portion and the signal processing portion in the first invention, detects the size and shape of the flaw and the contamination or the reflectance of the irradiated light and detects the abnormality of the surface flaw such as the flaw or the contamination. By combining ordinary surface inspection means for inspecting the type, the type and extent of the abnormality other than the surface flaw are classified. Thereby, it becomes possible to make a comprehensive judgment about the abnormality of various surface properties including the abnormality of specular diffuse reflection, and to mark the information regarding those abnormality parts.

제 7의 발명은, 서로 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 추출된 반사성분의 조합에 기초한 피검사면의 검사를 하는 표면흠의 검사방법을 포함하는 복수의 표면검사 방법에 의한 검사결과에 기초하여, 표면흠의 유무를 판정하는 것을 특징으로 하는 제 2 발명에 따른 금속대 마킹구비 금속대의 제조방법이다.The seventh invention is based on inspection results by a plurality of surface inspection methods including an inspection method of surface defects for inspecting an inspection surface based on a combination of reflection components extracted by two or more different optical conditions. It is a manufacturing method of the metal to marking metal strip which concerns on 2nd invention characterized by determining the presence or absence of a surface flaw.

상기 발명은, 제 2의 발명에 있어서 금속대의 피검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종이상의 광학조건으로 추출하고, 이들 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피 검사면의 검사를 하는 표면흠의 검사방법에 부가하여, 통상의 표면검사 방법을조합시켜서, 표면흠의 종류나 정도를 분류한다. 여기서 통상의 표면흠 검사방법이란, 예를 들면, 흠의 치수, 형상 또는 조사광의 반사율 등을 검출하여 흠이나 오염 등의 표면성상의 이상을 검사하는 표면검사 방법이다. 이와 같이, 경면 확산반사의 이상을 포함하는 여러 표면성상의 이상에 대하여 종합적인 판정을 하고, 이들 이상부에 관한 정보를 마킹한다.In the invention described above, in the second aspect of the present invention, the inspection of the surface flaw which extracts the reflected light from the inspected surface of the metal band under two or more different optical conditions, and inspects the inspected surface based on the combination of the extracted reflection components. In addition to the method, a normal surface inspection method is combined to classify the type and extent of surface defects. Here, the normal surface flaw inspection method is a surface inspection method for detecting abnormalities in surface properties such as flaws and contamination by detecting, for example, the flaw size, shape, or reflectance of irradiated light. In this way, a comprehensive determination is made on the abnormalities of various surface properties including abnormalities in specular diffuse reflection, and information on these abnormalities is marked.

제 8의 발명은, 다른 2종 이상의 광학조건으로 분리되는 표면에서의 반사성분 조합이 정상부와는 다른 이상부를 포함하는 표면흠에 대하여, 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되고 있는 것을 특징으로 하는 제 4 발명에 따른 마킹부착 금속대이다.In the eighth aspect of the present invention, the surface defects in which a combination of reflection components on surfaces separated by two or more different optical conditions contain an abnormal portion different from the top portion are marked with markings indicating information on the defect on the surface. According to a fourth aspect of the invention, there is provided a metal belt with markings.

본 발명의 금속대는, 제 3 발명에 있어서 이상부에 부가하여, 통상의 표면흠 검사, 예를 들면, 흠의 치수·형상 또는 조사광의 반사율 등에 기초하여 표면검사 결과 또는 여러 표면성상에 관한 정보에 대하여, 그 표면에 마킹이 실시되고 있다. 여기서, 제 3의 발명에 있어서 이상부라고 하는 것은, 전술한 바와 같이 반사광을 2종 이상의 광학조건으로 분리한 때, 반사성분의 강도 또는 비율이 정상부와는 다른 부분이다.The metal strip of the present invention is in addition to the abnormality in the third invention, in addition to the normal surface flaw inspection, for example, based on the surface inspection results or information on various surface properties based on the size and shape of the flaw or the reflectance of the irradiation light. On the surface, the marking is performed. Here, in the third invention, the abnormal part is a part where the intensity or ratio of the reflective component is different from the normal part when the reflected light is separated under two or more optical conditions as described above.

제 9의 발명은, 표면으로부터 경면 반사성분 또는 다수의 미소 경면 반사면에 의한 경면 확산 반사성분 중, 어느 한 방향 또는 쌍방성분의 광량이 이상이 되는 부분을 포함하는 금속대 표면에 관한 정보에 대해서, 표면에 그 금속대 표면에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되고 있는 것을 특징으로 하는 제 5 발명에 따른 마킹부착 금속대이다.The ninth invention is directed to information about a metal-to-surface including a portion from which a light reflecting amount in one direction or both components is greater than a specular reflection component or a specular diffuse reflection component by a plurality of micro-mirror reflecting surfaces. The marking with the marking according to the fifth aspect of the invention is characterized in that marking is carried out on the surface to show information on the surface of the metal.

상기 발명의 금속대는, 제 5의 발명에 있어서 이상부에 부가하여, 통상의 표면흠검사, 예를 들면, 흠의 치수·형상 또는 조사광의 반사율 등에 기초하여 표면검사 결과 또는 여러 표면성상에 관한 정보에 대하여, 그 표면에 마킹이 실시되고 있다. 여기서, 제 4의 발명에 있어서 이상부라고 하는 것은, 전술한 바와 같이 표면에서의 경면 반사 또는 경면 확산반사의 상황이 정상부와는 다른 부분이며, 반사광을 2종 이상의 편광조건으로 분리한 때, 반사성분의 강도 또는 비율이, 정상부와는 다른 부분으로서 결정할 수 있다.The metal strip of the present invention is, in addition to the abnormal part in the fifth invention, information on the surface inspection results or various surface properties on the basis of normal surface inspection, for example, the size and shape of the defect or the reflectance of the irradiation light. On the surface, marking is performed. Here, in the fourth invention, the abnormal part is a part in which the situation of specular reflection or specular diffuse reflection on the surface is different from the normal part, and when the reflected light is separated by two or more polarization conditions, The strength or ratio of the component can be determined as a part different from the top.

이상의 발명에 의해, 경면 확산반사의 이상을 포함하는 여러 표면흠 또는 표면성상의 이상부에 대해서, 그 정보를 나타내는 마킹이 금속대의 표면에 실시되고 있으므로, 후 공정 또는 수요처에 있어서, 표면흠의 종류나 정도를 아는 것이 가능하게 되고, 여러 용도, 사용목적에 대응할 수 있다.According to the above invention, since the marking which shows the information about the various surface flaws or abnormalities of surface properties including the abnormality of specular diffuse reflection is performed on the surface of a metal stand, the kind of surface flaws in a post process or a demand place It becomes possible to know my degree and can cope with various uses and purposes of use.

또한, 이와 같이, 금속대의 표면에 마킹을 실시하는 것에 의해, 표면흠 등의 부분을 절단제거하지 않고 금속대를 권취할 수 있으므로, 절단제거에 의해 코일의 개수가 증가되는 것을 방지할 수 있다. 이와 같이, 코일의 개수가 증가하지 않으므로, 코일의 취급에 있어서는 권취의 수고증가가 방지된다. 더욱이, 코일의 운반, 되감기 및 가공에 있어서도, 코일의 처리개수가 증가하지 않으므로 취급의 수고가 경감된다.In addition, by marking the surface of the metal stand in this manner, the metal stand can be wound up without cutting off portions such as surface defects, so that the number of coils can be prevented from being increased by the cutting off. In this way, the number of coils does not increase, and thus, the increase in labor of winding up is prevented in the handling of the coils. Moreover, also in the conveyance, rewinding and processing of the coil, the number of processing of the coil does not increase, thereby reducing the trouble of handling.

도 24는, 이 발명 실시형태의 일 예를 나타내는 블록도이다. 표면흠의 검출장치(141)는, 금속대(104)의 피 검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건으로 추출하고, 신호처리부(130)에 의해, 이들 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면의 표면흠 유무를 판정한다.24 is a block diagram illustrating an example of this embodiment of the invention. The surface flaw detection device 141 extracts the reflected light from the inspected surface of the metal strip 104 under two or more different optical conditions, and the signal processing unit 130 based on the combination of these reflection components. The surface defect of the test surface is determined.

트래킹수단(143)은 표면흠의 위치가 마킹수단에 도달하는 시각을 산출한다. 이것은 반송롤(145)에 설치된 회전계(146)에서 측정된 회전속도에 기초하여, 판 길이 산출수단(147)에 의해 표면흠의 위치를 판길이로 환산하고, 마킹수단(144)에 도달하는 데 요하는 시간으로 환산하여 얻어진다. 트래킹 수단(143)은 그 시각이 되면, 마킹수단(144)에 마킹을 지시하는 신호를 발신한다. 마킹수단(144)은 금속대 표면에 인자(印字)·천공 등 그 위치를 나타내는 마킹을 한다.The tracking means 143 calculates the time when the position of the surface flaw reaches the marking means. This converts the position of the surface flaw into the plate length by the plate length calculating means 147 based on the rotational speed measured by the rotation system 146 installed on the conveying roll 145, and reaches the marking means 144. Obtained in terms of time required. The tracking means 143 transmits a signal instructing the marking means 144 to indicate the marking time. The marking means 144 marks on the surface of the metal stand to indicate its position, such as printing and perforation.

마킹된 금속대의 예를 도 25에 나타낸다. 이 예에서는, 마킹(149)의 위치를 길이방향에서는 표면흠(111)의 위치에 일치시키고 있고, 폭 방향에서는 엣지로부터 일정한 위치로 되어 있다. 이에 따라, 프레스 라인 등에서 사용하는 경우, 표면흠(111)의 위치에 따르지 않고, 엣지로 부터 일정한 위치에서 마킹(149)을 검출할 수 있고, 표면흠(111)이 있는 부분의 리젝트 등의 조치를 취하는 것이 가능하게 되며, 불량품의 제조를 방지할 수 있다.An example of a marked metal band is shown in FIG. 25. In this example, the position of the marking 149 is matched with the position of the surface flaw 111 in the longitudinal direction, and is set to a fixed position from the edge in the width direction. Accordingly, when used in a press line or the like, the marking 149 can be detected at a fixed position from the edge without depending on the position of the surface flaw 111, and the reject of the part having the surface flaw 111 can be used. It is possible to take measures and prevent the manufacture of defective products.

표면흠의 검출장치(141)에 대해서는, 도 26 및 도 27에 그 일례를 나타낸다. 선상 확산광원(122)으로서, 일부에 확산반사 도료를 도포한 투명 도광봉(導光棒)을 사용하여, 그 양단으로부터 메탈 할라이드(metal halide)광원의 광을 입사한다. 광원(122)의 도광봉으로부터 확산적으로 출사한 광은, 원통형 렌즈(125)와 45°편광의 편광판(126)을 투과한 후, 60°의 입사각으로 강판(121)의 전폭에 일직선상으로 집광되어 입사한다. 반사광(127)은 강판 정반사 방향으로 배치된 거울(128)에 의해 더욱 반사되어, 수광부를 구성하는 카메라 유닛 129(a)∼(d)에 입사한다.An example of the surface flaw detection device 141 is shown in FIGS. 26 and 27. As the linear diffused light source 122, light of a metal halide light source is incident from both ends thereof, using a transparent light guide rod coated with a part of the diffuse reflection paint. The light diffused out from the light guide rod of the light source 122 passes through the cylindrical lens 125 and the polarizing plate 126 of 45 ° polarization, and is then aligned in a straight line with the full width of the steel plate 121 at an incident angle of 60 °. It is condensed and enters. The reflected light 127 is further reflected by the mirror 128 arranged in the steel plate regular reflection direction and enters the camera units 129 (a) to (d) constituting the light receiving unit.

이들 카메라 유닛(129a)∼(d)은, 도 28에 도시하는 바와 같이 판폭방향으로 배치되어 있다. 또한, 이와 같이 거울(128)을 사용하는 것에 의해, 장치를 컴팩트하게 할 수 있다. 또한, 거울(128)을 강판(121)으로부터 적당히 떨어져 설치하면, 도 28과 같이 거울(128)위에 전 카메라의 시야에서 벗어난 영역(전 카메라 시야외)이 생기며, 그래서 거울을 분할하여 구성할 수 있다. 이와 같이 거울을 분할하는 것에 의해 제작비를 낮게 억제할 수 있다.These camera units 129a-d are arrange | positioned in the board width direction as shown in FIG. In addition, by using the mirror 128 in this way, the apparatus can be made compact. In addition, if the mirror 128 is properly spaced apart from the steel plate 121, an area (outside of the previous camera's field of view) out of the field of view of all cameras is formed on the mirror 128 as shown in FIG. 28, so that the mirror can be divided and configured. have. Thus, by dividing a mirror, manufacturing cost can be suppressed low.

수광부의 카메라 유닛(129a)∼(d)은 도 29에 도시한 바와 같이, 렌즈 앞에 검광각 -45°,45°,90°인 검광자(133a~c)를 갖는 3대의 리니어 어레이(linear array)카메라(132a∼c)로 구성되고, 그 광축은 평행으로 유지되고 있다. 3대의 카메라 시야가 어긋나면, 신호처리부(130)에서 보정하고 있다. 이 같이 광축이 평행으로 유지되고 있으면, 3대의 카메라(132a∼c)의 각 화소는 동일시야 사이즈로 1 대 1로 대응한다. 또한, 빔 스프릿터 (beam splitter)를 사용하여 1개의 반사광을 분할하는 데 비하여, 광량의 로스(loss)가 없게 되고, 효율적인 측정이 가능하게 된다.The camera units 129a to d of the light receiving unit have three linear arrays having the analyzers 133a to c having an inspection angle of -45 °, 45 ° and 90 ° in front of the lens as shown in FIG. Cameras 132a to c, and their optical axes are maintained in parallel. If the three cameras are out of view, the signal processing unit 130 corrects them. In this way, when the optical axes are kept in parallel, each pixel of the three cameras 132a to c corresponds one to one in the same field size. In addition, as compared with splitting one reflected light by using a beam splitter, there is no loss of light amount and efficient measurement is possible.

각 카메라 유닛(129a)∼(129d) 내의 각 수광 카메라(132a)∼(132c) 하나의 수광범위(A)는, 앞에서 게시한 도 28에 도시한 바와 같이, 양측으로 인접하는 다른 카메라 유닛(129a)∼(129d) 내에 대응하는 카메라(132a)∼(132c)의 수광범위(A)와 일부 중복하도록 배치되고 있다. 바꾸어 말하면, 강판(121)상의 폭방향 임의의 위치에서 반사광은, 각각 적어도 하나의 카메라 유닛(129a)∼(129d) 내의 3 종류 수광 카메라(132a)∼(132c)에서 수광된다.One light receiving range A of each of the light receiving cameras 132a to 132c in each of the camera units 129a to 129d is the other camera unit 129a adjacent to both sides as shown in FIG. It is arrange | positioned so that it may partially overlap with the light receiving range A of camera 132a-132c corresponding to from -129d. In other words, the reflected light is received by the three types of light receiving cameras 132a to 132c in at least one camera unit 129a to 129d, respectively, at an arbitrary position in the width direction on the steel plate 121.

여기서, 수광부에 있어서, 리니어 어레이 카메라 대신에 2차원 CCD 카메라를 사용할 수도 있다. 또한, 투광부에 있어서, 선상(線狀) 확산광원(122)으로서, 형광등을 사용할 수도 있다. 또한, 번들 화이버 출사단을 직선상으로 정렬시킨 화이버광원을 사용할 수도 있다. 각 화이버로부터의 출사광은 화이버의 N/A에 대응하여 충분한 확대각을 가지므로, 이것을 정렬시킨 화이버광원은 실질적으로 확산광원으로 되기 때문이다.Here, in the light receiving unit, a two-dimensional CCD camera may be used instead of the linear array camera. In the light transmitting portion, a fluorescent lamp may be used as the linear diffusion light source 122. It is also possible to use a fiber light source in which the bundled fiber exit ends are aligned in a straight line. This is because the emitted light from each fiber has a sufficient magnification angle corresponding to the N / A of the fiber, so that the fiber light source aligned with this is substantially a diffused light source.

여기서, 복수 카메라의 배치에 대해서, 도 28을 사용하여 그 상세를 설명한다. 각 카메라 유닛(129a)∼(129d)은 일정간격으로 복수 유닛이 배치되어 있다. 1개의 카메라 유닛(129a)∼(129d)은 다른 조건(-45, 45, 90도 편광)으로 수광하는 3개의 카메라(132a)∼(132c)로 구성된다. 각각의 카메라는 일정간격 떨어진 것에 나란히 평행으로 설치되어 있다. 따라서, 각각의 시야도, 카메라 간격과 동일한 만큼 어긋나는 것으로 된다.Here, the arrangement of the plurality of cameras will be described in detail with reference to FIG. 28. Each camera unit 129a-129d is arrange | positioned at the several space | interval. One camera unit 129a-129d consists of three cameras 132a-132c which receive light under different conditions (-45, 45, 90 degree polarization). Each camera is installed side by side parallel to one another at a certain interval apart. Therefore, each field of view also shifts by the same distance as the camera interval.

각 카메라 유닛 내의 카메라 나열순서는 동일하다. 예를 들면 순서대로 좌에서 45도, 90도, -45도 순으로 한다. 측정범위(유효영역)는, 예를 들면, 광학조건이 3 조건에 의해 관찰되고 있는 범위로 하고, 1조건, 또는 2조건으로만 관찰되는 영역(양단부 영역)은 무효로 하여, 사용하지 않는다. 카메라 간격 및 유닛 간격은 강판 최대폭이 측정범위 (유효영역)에 들어가도록 하는 치수로서 결정한다.The camera listing order in each camera unit is the same. For example, the order is 45 degrees, 90 degrees, and -45 degrees from the left. The measurement range (effective area) is, for example, a range in which optical conditions are observed under three conditions, and an area (both end areas) observed only under one or two conditions is invalid and is not used. Camera spacing and unit spacing are determined as dimensions such that the maximum steel sheet width falls within the measurement range (effective area).

각 유닛의 3대의 카메라는 동일시야로 하기 위한 조정은 하지 않고, 각 카메라로 흠 후보영역을 결정한 후, 그 흠 후보 영역단위로 각 카메라의 대응을 처리한다. 전술한 바와 같이, 각 카메라 각각의 시야는 어긋나 있으므로, 어떤 흠 후보영역을 시야에 넣어두는 카메라가 3대 일치되지 않는(광학조건이 3조건 일치하지 않는다)경우도 있다. 그 경우는 인근 유닛 카메라 결과를 이용하여 광학조건을 3조건으로 일치시킨다. 이러한 방법은, 3 편광을 수광하는 경우에 한하지 않고, 검사체 전폭을 복수시야로 분할하여, 임의의 2조건이상으로 관찰하는 경우에 적용가능하다.The three cameras of each unit do not adjust to make the same field of view, and determine a flaw candidate area with each camera, and then process correspondence of each camera in units of the flaw candidate areas. As described above, since the field of view of each camera is shifted, there may be a case where three cameras which put a certain candidate region in the field do not coincide (the optical conditions do not coincide with three conditions). In that case, the optical conditions are matched to 3 conditions using the results of the neighboring unit cameras. This method is applicable not only to the case of receiving three polarized light, but also to the case where the test object is divided into a plurality of fields and observed under any two conditions or more.

이들 복수 수광부와 신호처리부를 종합하여, 흠 검사수단이라고 호칭하면, 도 24에 도시한 표면흠 마킹장치는 도 30에 도시한 것 처럼 된다. 흠검출수단(140)은 수광부(132a)∼(132c) (도 28과 도 29의 카메라에 상당)와 신호처리부(130)를 가지고 있다. 신호처리부(130)는 다른 광학조건에서 추출된 반사광의 강도에 기초하여, 신호처리에 따라 전술한 확산경면 반사성분을 검출하고, 이상부 유무의 판정을 한다. 그 후는 도 24와 마찬가지, 트래킹수단(143) 및 판 길이 산출수단(147)에 의해 표면흠의 위치를 산출하고, 마킹수단(144)으로 이상부의 위치에 마킹을 한다.When these plural light receiving sections and the signal processing section are collectively referred to as flaw inspection means, the surface flaw marking apparatus shown in FIG. 24 is as shown in FIG. The flaw detection means 140 has light receiving sections 132a to 132c (corresponding to the cameras of FIGS. 28 and 29) and a signal processing section 130. The signal processor 130 detects the above-described diffuse mirror reflection component according to signal processing based on the intensity of the reflected light extracted under different optical conditions, and determines whether there is an abnormality. Subsequently, the position of the surface flaw is calculated by the tracking means 143 and the plate length calculating means 147, and the marking means 144 marks the position of the abnormal part as in FIG.

신호처리부에 대해서는, 도31에 일례를 블록도로 나타낸다. 수광카메라(132a)∼(132c)로부터의 광강도 신호(a)∼(c)는, 평균치 산출부(134a)∼(134c)에 입력되어, 평균값이 산출된다. 다음으로, 피검사체의 길이방향 소정거리의 이동에 따라 입력되는 펄스신호에 의해, 폭 방향의 1 라인분의 신호로서 출력된다. 상기 산출처리에 의해, 길이방향의 분해능을 일정하게 한다. 또한,평균값의 산출빈도를 피검사체의 길이방향의 이동거리가 수광카메라(132a)∼(132c)의 시야보다도 크게 되지 않도록 하면, 누락되는 것을 없앨 수 있다.As for the signal processing unit, an example is shown in block diagram in FIG. The light intensity signals a to c from the light receiving cameras 132a to 132c are input to the mean value calculating units 134a to 134c, and the average value is calculated. Next, a pulse signal input in accordance with the movement of the predetermined distance in the longitudinal direction of the inspected object is output as a signal for one line in the width direction. By the calculation process, the resolution in the longitudinal direction is made constant. In addition, if the frequency of calculation of the average value is not made larger than the field of view of the light receiving cameras 132a to 132c, the omission can be eliminated.

다음으로, 전처리부(135a)∼(135c)에서는, 신호에 대하여 밝기가 고르지 못함을 보정한다. 여기서, 밝기가 고르지 못한 것에는, 광학계에 기인하는 것, 피 검사체의 반사율에 기인하는 것 등을 포함한다. 또한, 전처리부(135a)∼(135c)에서는 금속대의 엣지위치를 검출하고, 엣지부에 있어서 급격한 신호변화를 흠이라고 잘못 인식하지 않도록 하기위한 처리를 한다.Next, the preprocessors 135a to 135c correct the uneven brightness of the signal. Here, uneven brightness includes those due to the optical system, those due to the reflectance of the object under test, and the like. In addition, the preprocessing units 135a to 135c detect edge positions of the metal bands, and perform processing to prevent false signals from being mistakenly recognized as flaws in the edge portions.

전처리 종료의 신호는, 2 수치화 처리부(136a)∼(136c)에 입력되고, 미리 설정되어 있는 장애가 일어날 염려가 없는 값과의 비교에 의해, 흠 후보지점이 추출된다. 추출된 흠 후보지점은, 특미량 연산부(137a)∼(137c)에 입력되고, 흠측정을 위한 신호처리가 행하여 진다. 여기서는, 흠 후보지점이 하나로 연속되어 있는 경우는 1개의 흠 후보 영역으로서, 예를 들면, 스타트 어드레스, 엔드 어드레스 등의 위치 특미량이나, 그 피크값 기타의 농도 특미량 등을 산출한다.The preprocessing end signal is input to the two digitization processing units 136a to 136c, and a flaw candidate point is extracted by comparison with a value that is not likely to cause a predetermined failure. The extracted flaw candidate points are input to the special amount computing units 137a to 137c, and signal processing for flaw measurement is performed. Here, in the case where the defect candidate points are continued in one, as one defect candidate region, for example, the position special amount of the start address, the end address, etc., the density special amount of the peak value, etc. are calculated.

산출된 이들의 특미량에 대해서는, 원신호(a∼c)의 광학조건(검광각β)에 의해, 경면성 흠 판정부(138a)나 또는 경면 확산성 흠 판정부(138b)에 입력된다. 특미량 연산부(137a)의 출력은, 원신호(a)의 광학조건이 -45도 검광(β=-45°)이다. 그리고, 이 경우는 경면성 흠 판정부(138a)에 입력되고, 전술한 바와 같이 경면 반사성분에 의한 모재부와 헤게부의 반사광량의 차이가 검출된다.The calculated amounts of these specialties are input to the specular flaw determination section 138a or the specular diffusive flaw determination section 138b according to the optical conditions (detection angle β) of the original signals a to c. The output of the special amount calculating section 137a is an optical condition of the original signal a of -45 degrees of detection (β = -45 degrees). In this case, it is input to the specular flaw determination unit 138a, and as described above, the difference between the amounts of reflected light due to the specular reflective component and the weight of the hege part is detected.

한편, 특미량 연산부(137b,c)의 출력은, 원신호(b,c)의 광학조건이 45도, 90도 검광(β= 45°90°)이며, 경면 확산 반사성분만 차이가 있다.On the other hand, the output of the special amount calculating units 137b and c has 45 degrees and 90 degrees of light detection (β = 45 degrees 90 degrees) of the original signals b and c, and only the specular diffuse reflection component is different.

그래서, 경면 확산성 흠 판정부(138b)에 입력되어 경면 확산 반사성분에 의한 흠 판정이 행하여 진다.Therefore, the defect is determined by the mirror diffused reflection component and inputted to the mirror diffused defect determining unit 138b.

최후에, 흠 종합 판정부(139)에서는, 경면성 흠 판정부(138a) 및 경면 확산성 흠 판정부(138b)의 출력에 기초하여, 금속대의 피 검사면에 대해서는 최종적인 흠 종류 및 그 정도를 판정한다. 또한, 그 때, 각 카메라(132a)∼(132d)간 및 카메라 유닛(129a)∼(129d)간의 시야 중복(도 28)을 고려하여, 인근의 카메라 유닛 카메라에서의 신호에 기초하여 흠 판정결과를 적절히 이용하는 것이 바람직하다.Finally, in the flaw comprehensive determination part 139, based on the output of the specular flaw determination part 138a and the specular diffusive flaw determination part 138b, the last flaw type and the grade with respect to the to-be-tested surface of a metal stand | blade. Determine. In addition, at this time, in consideration of the overlap of views (FIG. 28) between the cameras 132a to 132d and the camera units 129a to 129d, the flaw determination result is based on a signal from a nearby camera unit camera. It is preferable to use suitably.

이 같은 경면 확산 반사성분의 이상을 검출하여 흠 판정을 하는 표면흠 검사수단과, 기타의 방식에 의한 표면흠 검사수단을 조합시킨 예를, 도 32에 나타낸다. 여기서, 표면흠 검사수단(140a)은 도 30에 도시한 것과 마찬가지이며, 복수의 수광부(132a)∼(132c)에 의해 반사광을 다른 광학조건으로 추출하고, 신호처리부(130)에서 경면 확산 반사 성분의 이상을 검출하여 흠판정을 한다.FIG. 32 shows an example in which surface flaw inspection means for detecting abnormality of the specular diffuse reflection component and detecting flaw and combining surface flaw inspection means by other methods are combined. Here, the surface flaw inspection means 140a is the same as that shown in Fig. 30, and the reflected light is extracted under different optical conditions by the plurality of light receiving parts 132a to 132c, and the specular diffuse reflection component is performed by the signal processor 130. Defects are detected and defects are determined.

기타 방식의 표면검사 수단(140b)으로서는, 통상의 표면흠 검사수단, 즉 흠의 치수·형상에서 표면흠을 검출하여 판정하는 방식의 장치, 또는 조사광의 반사율 등에서 표면의 오염이나 부착물을 검출하는 방식의 장치를 사용할 수 있다. 표면검사 수단(140b)에서는 통상의 표면흠이나 표면성상의 이상에 대하여, 그 종류나 정도를 분류한다. 마킹정보 작성수단(142)에서는 검사수단(140a), (140b)의 검사결과에 기초하여, 경면 확산반사의 이상을 포함하는 여러 종류의 표면흠이나 표면성상의 이상에 대하여, 총합적인 분류나 랭크를 붙이고, 마킹을 위한 정보를 작성한다.As other surface inspection means 140b, a conventional surface flaw inspection means, that is, a device of a method of detecting and determining a surface flaw in the size and shape of a flaw, or a method of detecting contamination or deposit on a surface by reflectance of irradiation light or the like The device can be used. In the surface inspection means 140b, the kind and the degree are classified for the abnormality of the normal surface scratches or surface properties. In the marking information generating means 142, the classification and rank of the overall classification is performed on the various types of surface flaws or surface irregularities, including abnormalities of specular diffuse reflection, based on the inspection results of the inspection means 140a and 140b. And write the information for marking.

그 후는 도 24와 마찬가지로 트래킹수단(143) 및 판길이 산출수단(147)에 의해 표면흠의 위치를 산출한다. 마킹수단(144)에서는 마킹정보에 기초하여, 이상부의 위치에 마킹을 행하나, 그 때, 표면흠의 종류나 정도에 관한 정보를 나타내는 것이 바람직하다. 이것은, 마킹의 모양·형상·대(帶)의 폭 등, 검출가능한 형태이면 좋다. 또한, 바코드 또는 OCR(광학식 문자독해)을 병용하면, 더욱 상세한 정보를 마킹하는 것이 가능하게 된다.After that, the position of the surface flaw is calculated by the tracking means 143 and the plate length calculation means 147 as in FIG. In the marking means 144, the marking is performed at the abnormal position on the basis of the marking information. In this case, however, it is preferable that the marking means 144 displays information on the type and extent of the surface flaw. This may be a form that can be detected, such as the shape, shape, and width of the marking. In addition, by using a barcode or OCR (optical character reading) together, it becomes possible to mark more detailed information.

이와 같이, 금속대의 표면에 마킹을 실시하는 것에 의해, 코일 개수의 증가가 억제되므로, 코일의 권취, 코일의 운반, 및 되감기 등의 취급에 있어서도, 작업효율이 향상한다. 또한, 금속대의 가공에 있어서도 금속대가 흠 부분에서 도중에 끊어 지는 일 없이 연속하여 공급되므로, 작업의 효율화를 기대할 수 있다.By marking on the surface of the metal stand as described above, an increase in the number of coils is suppressed, so that work efficiency is improved also in handling of coil winding, coil transport, and rewinding. In addition, also in the processing of a metal stand, since the metal stand is continuously supplied without being cut off in the flaw part, work efficiency can be expected.

[실시예]EXAMPLE

도 26의 실시형태에 의한 합금화 아연도금 강판의 측정결과를 도 33, 도34에 도시한다. 도 33은 전술한 도 40(b)에, 도 34는 도 40(c)에 대응하고 있고, 측정한 흠은, 도 33에 도시한 바와 같이, 템퍼부 면적율이 헤게부에서는 모재부 보다 크나, 비 템퍼부의 확산성은 변하지 않는 것도 40(b)과, 도 34에 도시한 바와 같은, 템퍼부 면적율에는 차가 없으나, 확산성에 차이가 있는 흠(도 40(c))이다. 도 34 타입의 흠에 대해서는, 일반적으로 확산 반사방향으로 검출불능으로 되는 각도가 존재하나, 그 각도가 다른 2종류 흠에 대하여 측정하였다. 또한, 비교를 위해, 종래기술에서, 입사각 60°로 광을 입사하고, 정반사 방향(60°)과 입사방향에서 20°어긋난 수광각 (-40°)방향에서 무편광으로 측정한 결과도 동 도면에 실었다. 이상의 결과를 표1에 종합하여 나타낸다.33 and 34 show measurement results of an alloyed galvanized steel sheet according to the embodiment of FIG. 26. Fig. 33 corresponds to Fig. 40 (b) and Fig. 34 corresponds to Fig. 40 (c). As shown in Fig. 33, the measured flaw is larger than the base material part in the hege part as shown in Fig. 33. 40 (b) also shows that the diffusivity of the non-tempered portion does not change, and there is no difference in the temper portion area ratio as shown in FIG. In the case of the flaws of FIG. 34, there are generally angles incapable of being detected in the diffuse reflection direction, but two different types of flaws were measured. Also, for comparison, in the prior art, light is incident at an incident angle of 60 ° and measured with no polarization at a light receiving angle (-40 °) shifted by 20 ° from the normal reflection direction (60 °) and the incident direction. Loaded on. The above result is put together in Table 1, and is shown.

표 1Table 1

표 1에 있어서, ○는 검출가(S/N 大), △은 검출가(S/N 小), X는 검출불가를 나타낸다.In Table 1, (circle) shows a detection value (S / N large), (triangle | delta) shows a detection value (S / N small), and X represents a detection undetectable.

종래기술에서는, 2개의 수광각으로 수광하여 노이즈제거를 위한 논리합(論理和)을 취하고 있으나, 이들 흠에 대해서는, 2개의 수광각 동시에 검출하는 것은 불가능하다. 다시 말하면, 어더한 수광각이라도 검출할 수 없는 흠도 존재한다.In the prior art, the light is received at two light receiving angles and a logical sum for noise removal is taken. However, these defects cannot be detected at the same time. In other words, there is a flaw that cannot be detected even at any light receiving angle.

그것에 대해, 본 발명 실시예에서는, 3개의 다른 수광각에 대응하는 반사광 성분을 검광자를 사용하는 것에 의해 정반사 방향에서 추출하고 있으므로, 임의의 리니어 어레이 카메라로 검출하는 것이 가능하다. 또한, 검출할 필요가 있는 흠의 반사특성에 맞추어, 검광각을 최적으로 설정하는 것도 용이하다.On the other hand, in the embodiment of the present invention, since the reflected light components corresponding to three different light receiving angles are extracted in the specular reflection direction by using an analyzer, it is possible to detect by any linear array camera. In addition, it is also easy to set the detection angle optimally in accordance with the reflection characteristic of the flaw which needs to be detected.

본 발명은 이상에서 설명한 바와 같이 강판 표면에서의 반사가 경면 반사성분과 경면 확산 반사성분으로 이루어진다는 사실을 기초로, 각각의 성분을 추출하여 포착하는 방법으로서, 선상 확산광원을 사용하고, p 편광 및 s 편광을 모두 가지는 편광을 피검사면에 입사하고, 강판 정반사 방향으로부터 검광각을 적당하게 설정하는 것에 의해, 경면 반사성분을 보다 많이 포함하는 성분과, 경면 확산 반사성분을 보다 많이 포함하는 성분을 추출하는 방법을 채용했다.As described above, the present invention is based on the fact that the reflection on the surface of the steel sheet consists of a specular reflecting component and a specular diffuse reflecting component. And a component containing more specular reflection components and a component containing more specular diffuse reflection components by injecting polarized light having both s polarizations into the inspection surface and setting the detection angle appropriately from the steel sheet regular reflection direction. The method of extraction was adopted.

이 방법에 따라 경면 반사성분으로 부터는 흠을 관찰할 수 없는 흠도 검출가능하게 되고, 종래 검출할 수 없었던 현저한 요철성(凹凸性)을 가지지 않는 모양상 헤게흠을 빠뜨리지 않고 검출하는 것이 가능하게 되었다. 또한, 강판 정반사 방향에서의 동일 광축상의 측정으로 양 성분을 포착할 수 있기 때문에, 강판거리 변동이나 속도변화의 영향을 받지 않는 측정이 실현되었다. 또한, 검광각을 설정하는 것에 의해, 어느 각도의 경면 확산 반사성분을 추출할지를 선택할 수 있게 되었다.According to this method, it is possible to detect a flaw that cannot be observed from the specular reflection component, and to detect a flawless flaw without remarkable unevenness, which has not been detected before. . In addition, since both components can be captured by the measurement on the same optical axis in the steel sheet regular reflection direction, the measurement is not affected by the steel sheet distance variation or the speed change. Furthermore, by setting the detection angle, it is possible to select which angle of specular diffuse reflection component to extract.

품질보증의 관점에서는, 이러한 표면 검사장치는 빠뜨리지 않고 검출하는 것이 절대조건이다. 본 발명에 의해 처음으로 표면처리 강판 등에 넓게 적용가능한 미검출이 없는 표면 흠 검사장치를 사용한 표면흠 마킹장치와 마킹부착 금속대의 제조를 실현할 수 있으므로, 종래 검사원에 의한 육안검사에 의존해 있던 표면흠 검사를 자동화할 수 있음과 동시에, 간단한 수단으로 그 정보를 후 공정이나 사용자측에 알리는 것이 가능하게 되어, 그 산업상 이용효과는 크다.In terms of quality assurance, it is an absolute condition to detect such a surface inspection apparatus without omission. The present invention enables the manufacture of a surface flaw marking device and a metal band with a marking using an undetected surface flaw inspection device which is widely applicable to surface-treated steel sheets for the first time, and thus, surface flaw inspection which has been dependent on visual inspection by a conventional inspector. In addition to being able to automate, it is possible to inform the post process or the user side of the information by simple means, and the industrial use effect is large.

최적의 형태 3Best Form 3

최적의 형태 3는, 금속재의 연속 제조라인에 있어서, 검사장치에 의해 검출된 금속재의 흠부, 특이부 등을 마킹하는 데 있어서, 다음공정이나 고객처에서의 검사시에 흠부나 특이부를 용이하게 인식할 수 있고, 시판되는 마커펜 등을 사용하여, 잉크의 종류나 색에 구애되는 일 없이 용이하게 마킹이 가능하고, 더욱이, 펜의 하강충격에 의해 펜 끝이 마모하거나, 마킹된 금속재에 흠이 생기는 일이 없이, 마킹의 트래킹이나 고속응답이 요구되는 라인 등에 적용하여, 금속재에 생긴 흠부나 특이부 등을 정확하게 마킹할 수 있고, 더욱이 보전성이 우수하고 싼가격으로경제적인 고속응답 마킹장치를 제공하는 것에 있다.In the optimum form 3, in the continuous manufacturing line of a metal material, when marking a flaw, a peculiar part, etc. of the metal material detected by the inspection apparatus, it is easy to recognize a flaw or a peculiar part at the next process or the inspection by a customer. By using a commercially available marker pen or the like, the marking can be easily performed without regard to the type or color of the ink. Furthermore, the pen tip is worn out due to the falling impact of the pen, or the marked metal material is scratched. It can be applied to lines that require marking tracking or high-speed response, etc., and can accurately mark flaws and unusual parts generated in metal materials. Furthermore, it provides an excellent high-speed response marking device with excellent integrity and low cost. Is in.

제 1 형태는 검사장치에 의해 검출된 피검사체의 흠부나 특이부를 마킹하는 마킹장치에 있어서,A first aspect is a marking apparatus for marking a flaw or a peculiar portion of an inspected object detected by an inspection apparatus.

상기 마킹장치는, 마커펜이 착탈가능하게 설치된 펜 홀더와, 상기 펜 홀더를 마커펜과 함께 승강시키기 위한 펜 홀더 승강기구와, 상기 마커펜의 펜 끝을 보호하는 개폐가능한 보호캡과, 상기 펜 홀더 승강기구와 연동시켜서 상기 보호캡을 개폐하는 셔터기구를 구비하는 것에 특징을 가지는 것이다.The marking device includes a pen holder detachably mounted with a marker pen, a pen holder lifting mechanism for lifting the pen holder together with the marker pen, an openable and protective cap that protects the pen tip of the marker pen, and the pen holder. It is characterized in that it comprises a shutter mechanism for opening and closing the protective cap in conjunction with the lifting mechanism.

제 2 형태는, 금속재의 연속 제조라인에서 검사장치에 의해 검출된 금속부재의 흠 부나 특이부를 마킹하는 마킹장치에 있어서,2nd aspect is the marking apparatus which marks the flaw or unusual part of the metal member detected by the test | inspection apparatus in the continuous manufacturing line of a metal material,

상기 마킹장치는, 마커펜이 착탈가능하게 설치된 펜 홀더와, 상기 펜 홀더를 마커펜과 함께 승강시키기 위한 펜 홀더 승강기구와, 상기 마커펜의 펜 끝을 보호하는 개패가능한 보호캡과, 상기 펜 홀더 승강기구와 연동시켜서 상기 보호캡을 개폐하는 셔터기구를 구비하는 것에 특징을 가지는 것이다.The marking device includes a pen holder detachably mounted with a marker pen, a pen holder elevating mechanism for elevating the pen holder together with the marker pen, a foldable protective cap protecting the pen tip of the marker pen, and the pen holder. It is characterized in that it comprises a shutter mechanism for opening and closing the protective cap in conjunction with the lifting mechanism.

제 3 형태는, 상기 마커펜의 펜 끝과 대향시켜, 마킹되는 금속재의 피 마크면과 반대측의 면에, 마킹 받침롤이 배치되어 있는 것에 특징을 가지는 것이다.The third aspect is characterized in that the marking support roll is disposed on a surface opposite to the marked surface of the metal material to be marked so as to face the pen tip of the marker pen.

제 4의 형태는, 상기 펜 홀더는, 상기 마커펜의 누름압 제어기구를 가지고 있는 것에 특징을 가지는 것이다.A fourth aspect is characterized in that the pen holder has a pressing pressure control mechanism of the marker pen.

제 5의 형태는, 상기 금속재가 검출된 흠부나 특이부를 자동적으로 마킹할 수 있도록, 마킹점의 트래킹 기구가 설치되어 있는 것에 특징을 가지는 것이다.The fifth aspect is characterized in that a tracking mechanism at a marking point is provided so that the above-described metal material can automatically mark the detected flaw or unusual part.

제 6의 형태는, 상기 금속재의 마킹점을 추종하여 마킹시키기 위하여, 상기펜 홀더의 승강기구가, 저속승강과 고속승강의 적어도 2단 이상의 승강기구로 되어 있는 것에 특징을 가지는 것이다.A sixth aspect is characterized in that the elevating mechanism of the pen holder is at least two stages of elevating mechanisms of low speed lifting and high speed lifting in order to track the marking point of the metal material.

제 7의 형태는, 상기 금속재에 마킹된 마킹화상을 촬상하는 화상 채취용 카메라와, 상기 마킹점을 조명하는 조명장치를 구비하고, 상기 화상 채취용 카메라에 의해 촬상된 마킹 화상신호에 의해 마킹의 정상 여부를 판정하는 판정로직을 가지는 것에 특징을 가지는 것이다.A seventh aspect includes an image capturing camera for capturing a marking image marked on the metal material, and an illumination device for illuminating the marking point, wherein the marking image signal is captured by a marking image signal captured by the image capturing camera. It is characterized by having a decision logic that determines whether or not it is normal.

제 8의 형태는, 상기 화상 채취용 카메라는, 흠부나 특이부 및 그 앞뒤의 영역으로 이루어지는 마킹영역 및, 상기 마킹영역의 전후 영역을 촬상하도록 되어 있고, 이에 의해 마킹위치의 트래킹이 다소 변화한 경우에 있어서도 마킹의 정상여부를 판정가능한 것에 특징을 가지는 것이다.According to an eighth aspect, the image pickup camera is configured to capture a marking area consisting of a flaw, a singular part, and a region before and after the image, and a region before and after the marking region, whereby the tracking of the marking position is somewhat changed. In this case, it is characterized by the fact that it is possible to determine whether the marking is normal.

제 9의 형태는, 마킹화상을 촬상하는 화상채취용 카메라의 출력을 감시하기 위한 모니터 장치를 구비하는 것에 특징을 가지는 것이다.A ninth aspect is characterized by comprising a monitor device for monitoring the output of an image pickup camera that captures a marking image.

제 10의 형태는, 상기 마커펜은 퇴피(退避)기능을 구비하여, 상기 금속재의 구멍, 말린 흠 및 용접부 등과 같은 상기 마커펜을 손상시키는 부위가 통과하는 경우에 있어서 상기 마커펜이 퇴피 가능한 것에 특징을 가지는 것이다.A tenth aspect is that the marker pen has an evacuation function, and the marker pen can be evacuated when a part which damages the marker pen, such as a hole, a dried flaw, a weld, or the like of the metal material passes. It has characteristics.

제 11의 형태는, 마커펜에 의해서 마킹 후에 마크 잉크를 건조시키기 위한 건조기를 구비하는 것에 특징을 가지는 것이다.An eleventh aspect is characterized by comprising a dryer for drying mark ink after marking with a marker pen.

상기 발명의 장치에 의하면, 박강판 등의 금속재에 생기는 흠이나 특이부 등에 마킹지령이 발령되면, 그 지령이 제어장치에 입력되어, 마킹지령 입력점에서 마킹점까지 사이를 트래킹하여, 소요 마킹점 앞에서 펜 캡이 열리고, 마킹펜을 대기위치 까지 하강시킨다. 그리고, 마킹점이 마킹 바로 밑을 통과하기 직전에 미킹펜을 금속재의 피 마킹부위에 눌러 마킹이 이루어 진다.According to the apparatus of the present invention, when a marking instruction is issued to a flaw or a peculiar part occurring in a metal material such as a steel sheet, the instruction is inputted to the control device, and the trace command point is tracked from the marking instruction input point to the marking point. The pen cap opens at the front and lowers the marking pen to the standby position. Then, just before the marking point passes just below the marking, the marking pen is pressed on the marked portion of the metal to be marked.

마킹종료시에는 마킹펜은 처음 위치로 돌아가고, 펜 캡에 의해 마킹펜이 덮여져 그 건조가 방지된다. 따라서, 마킹의 트래킹이나 고속응답이 요구되는 라인 등에 적용하여, 금속재에 생긴 흠부나 특이부를 정확하게 마킹할 수 있다.At the end of marking, the marking pen returns to the initial position, and the marking pen is covered by the pen cap to prevent drying thereof. Therefore, it is possible to accurately mark a flaw or a peculiar part generated in a metal material by applying the marking to a line requiring tracking or fast response.

본 발명에서는, 사용자에게 흠위치를 나타낼 뿐만 아니라, 흠부를 포함하도록 마크를 실시하는 것으로, 이 마크범위를 명시하고 있으므로, 사용자측에서는 어느범위가 불량부인지를 용이하게 인식할 수 있다. 따라서, 불량부의 절단처리를 확실하게 실시할 수 있고, 후공정에서의 문제를 회피할 수 있다.In the present invention, the mark range is specified by not only indicating the flaw position to the user but also including the flaw, so that the user can easily recognize which range is the defective part. Therefore, the cutting process of a defective part can be reliably performed, and the problem in a post process can be avoided.

흠의 위치나 길이에 대하여 흠부를 포함하는 마킹영역(α1 + 흠 길이 + α2)에 마킹하는 것으로, 흠부를 트래킹하는 것은 아니다. 상위 흠 검출기로부터 마킹영역정보를 수신하고, 마킹영역을 트래킹한다.The flaw is not tracked by marking the marking area alpha 1 + flaw length + alpha 2 including the flaw with respect to the position and length of the flaw. Receive the marking area information from the upper flaw detector and track the marking area.

마킹센서는,상기 마킹영역(α1 + 흠 길이 + α2)보다 더욱 긴(α3 + 마킹영역 + α4)범위 내의 마킹실적을 받아들여, 마킹센서의 작동범위(α3 + 마킹영역 + α4)내에 마크가 차지하는 비율로 평가한다. 이 때문에 흠위치 트래킹이 다소 변화한 경우 등에 있어서도 어떠한 문제없이 마킹의 정상여부를 판정할 수 있다.The marking sensor accepts a marking record within a range longer than the marking region α1 + nick length + α2 (α3 + marking region + α4), so that the mark is within the operating range (α3 + marking region + α4) of the marking sensor. Evaluate in percentage. Therefore, even if the flaw position tracking is slightly changed, it is possible to determine whether or not the marking is normal.

또한, 본 발명은, 금속재에 한하지 않고, 기타의 피 검사체, 예를 들면, 종이, 필름, 고무, 염화비닐, 직물 등에 적용할 수 있다.In addition, this invention is not limited to a metal material, but can be applied to other to-be-tested objects, for example, paper, a film, rubber | gum, vinyl chloride, textiles, etc.

다음으로, 이 발명의 장치를 도면을 참조하면서 설명한다. 도 51은 이 발명 장치의 개략 수직단면도, 도 52는 그 평면도, 도 53은 그 측면도 이다.Next, the apparatus of this invention is demonstrated, referring drawings. Fig. 51 is a schematic vertical sectional view of the apparatus of the present invention, Fig. 52 is a plan view thereof, and Fig. 53 is a side view thereof.

도면에 나타낸 바와 같이, 이 발명의 마킹장치(223)는, 슬라이드 테이블(210)에 지지된 원통형의 펜 홀더(202)와, 펜 홀더(202) 내에 착탈가능하게 삽입된 마커펜(204)과, 슬라이드 테이블(210)에 의해 마커펜(204)을 펜 홀더(202)와 함께 고속으로 승강시키기 위한 지지판(211)에 설치된 펜 홀더 승강기구로서의 유압 실린더(205)와, 펜 홀더(202)가 지지되어 있는 슬라이드 테이블(210)을 지지판(211)에 따라서 저속으로 승강시키기 위한 펜 홀더 승강기구로서의 랙 피니언(206) 및 승강용 모터(212) 그리고, 마커펜(204)의 펜끝을 보호하기 위한 개폐가능한 개구를 가지는 보호캡(215)과, 보호캡(215)의 개구를 펜 홀더 승강기구인 유압 실린더(205)및 랙 피니언(206)의 구동에 연동시켜서 자동적으로 개폐하는 셔터(208) 등으로 되어 있다.As shown in the figure, the marking device 223 of the present invention includes a cylindrical pen holder 202 supported by the slide table 210, a marker pen 204 detachably inserted into the pen holder 202, and the like. The hydraulic cylinder 205 as a pen holder elevating mechanism provided on the support plate 211 for elevating the marker pen 204 together with the pen holder 202 at a high speed by the slide table 210, and the pen holder 202 is provided. The rack pinion 206 and the lifting motor 212 as a pen holder lifting mechanism for lifting and lowering the supported slide table 210 at a low speed along the support plate 211, and for protecting the pen tip of the marker pen 204. A protective cap 215 having an opening and closing opening, and a shutter 208 which automatically opens and closes by interlocking the opening of the protective cap 215 with the driving of the hydraulic cylinder 205 and the rack pinion 206 serving as the pen holder lifting mechanism. It is.

펜 홀더(202)는, 상단이 폐쇄되고 하단이 개방되어 있는 원통이고, 그 속에, 마커펜(204)이 그 펜 끝(209)을 펜 홀더(202)의 하단 개구면에서 돌출시켜 착탈가능하게 끼워져 있다. 마커펜(204)은 펜 홀더(202)의 상면에 설치된 스프링(203)에 의해 고정되어 있음과 동시에, 그 누름압이 조정된다. 마커펜(204)은 시판되는 것을 잉크색이나 종류에 구애되지 않고 사용하며, 그리고, 그것을 용이하게 착탈할 수 있도록 되어 있다.The pen holder 202 is a cylinder whose top is closed and the bottom is open, in which the marker pen 204 protrudes the pen tip 209 from the bottom opening face of the pen holder 202 so as to be detachable. It is fitted. The marker pen 204 is fixed by a spring 203 provided on the upper surface of the pen holder 202, and its pressing pressure is adjusted. The marker pen 204 is commercially available, regardless of ink color or type, and can be easily detached from it.

펜 홀더(202)가 설치된 슬라이드 테이블(210)은 유압 실린더(205)의 작동에 의해, 지지판(211)에 형성된 가이드(214)에 안내되어 고속으로 승강한다. 지지판 (211)의 한쪽 단면에는 랙(206a)이 설치되어 있고, 랙(206a)는 본체(213)에 설치된 모터 (212)에 의해 회전하는 피니언(206b)에 물려 있다. 따라서, 지지판(211)은 회전하는 피니언(206b)에 의해, 가이드판(214′)에 안내되어 저속으로 승강한다.The slide table 210 provided with the pen holder 202 is guided to the guide 214 formed on the support plate 211 by the operation of the hydraulic cylinder 205 to move up and down at high speed. The rack 206a is provided in one end surface of the support plate 211, and the rack 206a is bitten by the pinion 206b which is rotated by the motor 212 provided in the main body 213. Therefore, the support plate 211 is guided to the guide plate 214 'by the rotating pinion 206b and ascends at low speed.

상술한 바와 같이, 펜 홀더(202) 및 마커펜(204)은, 랙 피니언(206)에 의해 저속으로 또한 유압 실린더(205)에 의해 고속으로 202 단계에 의해 승강하므로, 마킹동작을 조속히 행할 수 있음과 동시에, 마커펜(204)의 펜 끝을 손상하는 일도 없다. 펜 홀더의 승강기구는 상기 저속 승강과 고속승강의 2단, 또는 3단 이상의 승강기구로 해도 좋다. 또한, 상술한 유압 실린더(205) 및 마커펜(204)을 펜 홀더(202)에 고정하는 스프링(203)은 또한, 마커펜(204)의 누름압 조정 기구로서의 기능을 가지고 있다.As described above, the pen holder 202 and the marker pen 204 are elevated by the rack pinion 206 at low speed and by the hydraulic cylinder 205 at high speed in step 202, so that the marking operation can be performed quickly. At the same time, the pen tip of the marker pen 204 is not damaged. The elevating mechanism of the pen holder may be a two-stage, three-stage or more elevating mechanism of the low-speed lifting and high-speed lifting. Moreover, the spring 203 which fixes the hydraulic cylinder 205 and the marker pen 204 mentioned above to the pen holder 202 also has a function as a press pressure adjustment mechanism of the marker pen 204. FIG.

보호캡(215)은 상단이 개방된 원통이고, 그 내경은 펜 홀더(202)의 외경과 거의 동등하며, 펜 홀더(202)의 하부가 마커펜(204)과 함께 끼워지도록 되어 있다. 보호캡(215)의 면에는, 펜 홀더(202)의 하부가 마커펜(204)과 함께 출몰할 수 있는 개구가 형성되어 있고, 상기 개구를 개폐하기 위한, 상기 개구와 거의 동일한 직경의 개구(208a)를 가지는 셔터(208)가, 셔터실린더(207)에 의해 수평이동 가능하게 설치되어 있다. 216은 보호캡(215)의 내주면에 설치된 부시(bush), 217은 그 상단 개구 원주둘레에 설치된 실링(sealing))재이다.The protective cap 215 is a cylinder with an open top, the inner diameter of which is almost equal to the outer diameter of the pen holder 202, and the lower portion of the pen holder 202 is fitted with the marker pen 204. On the surface of the protective cap 215, an opening in which the lower portion of the pen holder 202 can be recessed together with the marker pen 204 is formed, and an opening having a diameter substantially the same as that of the opening for opening and closing the opening ( A shutter 208 having a 208a is provided to be movable horizontally by the shutter cylinder 207. 216 is a bush provided on the inner circumferential surface of the protective cap 215, 217 is a sealing material provided on the circumference of the upper opening.

셔터실린더(207)에 의해 셔터(208)를 수평이동하고 , 그 개구 (208a)를 보호캡(215)의 밑면개구와 합치시키는 것에 의해, 마커펜(204)의 펜끝(209)을 펜 홀더(202)와 함께 셔터(208)의 개구(208a)에서 돌출시킬 수 있고, 또한, 셔터(208)에의해 보호캡(215)의 밑면개구를 폐쇄하는 것에 의해, 마커펜(204)의 펜 끝(209)을 보호할 수 있다. 이 같은 셔터(208)에 의한 보호캡(215)의 개구 개폐가, 펜 홀더 승강기구로서의 유압 실린더(205) 및 랙 피니언(206)과 연동하여 자동적으로 행하여 지도록 차례로 조립되어 있다.By moving the shutter 208 horizontally by the shutter cylinder 207 and matching the opening 208a with the bottom opening of the protective cap 215, the pen tip 209 of the marker pen 204 is moved to a pen holder ( The pen tip of the marker pen 204 can be projected from the opening 208a of the shutter 208 together with the 202 and the bottom opening of the protective cap 215 is closed by the shutter 208. 209 can be protected. The opening / closing of the protective cap 215 by the shutter 208 is assembled in order so as to be automatically performed in conjunction with the hydraulic cylinder 205 and the rack pinion 206 serving as the pen holder elevating mechanism.

도 51에 있어서, 218은 펜 홀더(202)의 승강을 확인하기 위한 센서이며, 도 52 및 도 53에 있어서, 230은 마킹화상을 촬상하기 위해 본체(213) 내에 설치된 CCD 카메라, 231은 마킹부 조명장치이다.In Fig. 51, reference numeral 218 denotes a sensor for confirming the lifting and lowering of the pen holder 202. In Figs. 52 and 53, 230 denotes a CCD camera provided in the main body 213 for capturing a marking image, and 231 denotes a marking portion. It is a lighting device.

도 54는 이 발명의 장치가 설치된 박강판 제조라인의 개략도이다. 도면에 도시한 바와 같이, 화살표 방향으로 연속적으로 이동하는 박강판(201)의 이동라인을 따라서, 박강판(201)의 흠이나 특이부를 검출하기 위한, 흠 검사장치, 폭 검사장치, 두께 검사장치 등과 같은 검사장치(220), 수동으로 마킹지정하는 경우의 입력스위치(221), 마킹 제어장치(222) 및 마킹장치(223)가 설치되어 있다.54 is a schematic diagram of a steel sheet production line in which the apparatus of the present invention is installed. As shown in the figure, a flaw inspection apparatus, a width inspection apparatus, and a thickness inspection apparatus for detecting a flaw or a peculiar portion of the thin steel sheet 201 along the moving line of the thin steel sheet 201 continuously moving in the direction of the arrow. An inspection apparatus 220 such as the like, an input switch 221 for marking manually, a marking control device 222, and a marking device 223 are provided.

또한, 마킹장치(223)의 아래쪽에는 박강판(201)의 피 마크면의 반대쪽에 마커펜(204)의 펜 끝(209)와 대향시켜서, 마킹 받침롤(225)이 설치되어 있다. 이와 같은 마킹 받침롤(225)에 의해, 마킹시에 마커펜(204)의 하강충격에 의해 펜끝이 손상되어 마모하거나, 마킹된 박강판(201)의 표면에 흠이 생기는 것이 방지된다.In addition, a marking support roll 225 is provided below the marking device 223 so as to face the pen tip 209 of the marker pen 204 on the opposite side of the marked surface of the steel sheet 201. The marking support roll 225 prevents the pen tip from being damaged or worn by the falling impact of the marker pen 204 at the time of marking, or from scratching the surface of the marked steel sheet 201.

검출장치(220)에 의해 검출된 박강판(201)의 흠이나 특이부의 신호 또는, 입력 스위치(221)로부터의 마킹 지정신호는 마킹제어장치(222)에 보내진다. 마킹 제어장치(222)는 라인 트래킹용 펄스 발진기(224)로부터 트래킹펄스를 받고, 박강판(201)에 대해 마킹해야할 위치를 트래킹한다. 마킹장치(223)는, 마킹 제어장치(222)로부터, 트래킹한 결과의 마킹지령을 받고, 박강판(201)의 흠이나 특이부에 대하여 마킹을 한다.The flaw or singularity of the thin steel plate 201 detected by the detection device 220 or the marking designation signal from the input switch 221 is sent to the marking control device 222. The marking controller 222 receives the tracking pulse from the line oscillator 224 for tracking the line, and tracks the position to be marked with respect to the steel sheet 201. The marking device 223 receives a marking command of the tracking result from the marking control device 222 and marks the flaw or the unusual part of the thin steel plate 201.

다음으로, 도 54 및 도 55에 기초하여, 본 발명장치의 작동을 설명한다. 마킹 제어장치(222)로부터, 마킹 대기지령을 박강판(201)의 마킹 지정점의 수m 앞에서 출력한다. 이 대기지령을 받아서, 마킹장치(223)의 승강용 모터(212)를 구동시키고, 도 55(a)의 수납위치에 있으며,, 펜 홀더(202)가 설치되어져 있는 슬라이드 테이블(210)을, 도 55(b)에 도시하는 바와 같이, 마커펜(204)의 펜끝(209)이 보호캡(215)의 개구로 부터 돌출하여, 대기위치에 위치하도록 랙 피니언(206)에 의해, 슬라이드 테이블(210)의 지지판(211)을 저속으로 하강시킴과 동시에, 이것과 연동시켜서 셔터 실린더(207)를 자동적으로 작동시키고, 셔터(208)를 이동하여 보호캡(215)의 개구를 연다.Next, based on FIG. 54 and FIG. 55, operation | movement of this apparatus is demonstrated. From the marking control apparatus 222, a marking waiting instruction is output in front of several m of the marking designation point of the steel sheet 201. In response to this waiting instruction, the lifting motor 212 of the marking apparatus 223 is driven to the slide table 210 at the storage position of FIG. 55 (a), and the pen holder 202 is provided. As shown in Fig. 55 (b), the slide pin (206) is moved by the rack pinion 206 so that the pen tip 209 of the marker pen 204 protrudes from the opening of the protective cap 215 and is positioned at the standby position. While lowering the support plate 211 of the 210 at a low speed, in conjunction with this, the shutter cylinder 207 is automatically operated, and the shutter 208 is moved to open the opening of the protective cap 215.

다음으로, 마킹 제어장치(222)로부터의 마킹지령에 기초하여, 유압 실린더(205)를 작동시켜, 슬라이드 테이블(210)에 지지되어 있는 펜홀더(202)를, 도 55(c)에 도시하는 바와 같은 하강한도 위치까지 고속으로 하강시키고, 박강판(1)을 마킹한다,Next, based on the marking instruction from the marking control apparatus 222, the hydraulic cylinder 205 is operated, and the pen holder 202 supported by the slide table 210 is shown to FIG. 55 (c). It is lowered down to the same lower limit position at high speed, and the thin plate 1 is marked.

마킹 제어장치(222)로부터의 마킹지령은 게이트 신호이며, 게이트 열림상태 동안 마킹을 실시한다. 게이트신호가 해제되면, 유압 실린더(205)의 작동에 의해 펜홀더(202)를 상승시켜 대기상태로 한다.The marking command from the marking control device 222 is a gate signal, and marking is performed during the gate open state. When the gate signal is released, the pen holder 202 is raised by the operation of the hydraulic cylinder 205 to be in a standby state.

다음 마킹지령이 없을 때는, 승강용 모터(212)를 작동시키고, 펜홀더(202)가설치되어 있는 지지판(211)을 도 55(a)에 도시하는 수납위치까지 상승시킨 후, 셔터 실린더(207)를 작동시켜서 셔터(208)에 의해 보호캡(215)의 개구를 막아, 마커펜(204)의 펜끝(209)의 건조를 방지한다.When there is no next marking command, the lifting motor 212 is operated, the support plate 211 on which the pen holder 202 is installed is raised to the storage position shown in Fig. 55 (a), and then the shutter cylinder 207 The opening of the protective cap 215 is blocked by the shutter 208 to prevent the pen tip 209 of the marker pen 204 from drying.

이와 같은 일련의 동작도중에 있어서도, 다음 마킹지령을 수신한 경우는, 마킹 제어장치(222)의 로직(logic)에 의해 즉시 마킹이 가능하게 되도록 되어있다.Even during such a series of operations, when the next marking command is received, the marking is immediately enabled by the logic of the marking control device 222.

마킹 누름압은, 펜 끝 상태, 잉크의 충진상태 등으로부터, 일률적으로는 결정할 수 없으므로, 이것을 고려하여, 스프링(203)의 장력조정 또는 유압 실린더(205)의 압력조정 등에 의해 제어한다.Since the marking pressing pressure cannot be determined uniformly from the pen tip state, the filling state of the ink, and the like, it is controlled by adjusting the tension of the spring 203 or the pressure of the hydraulic cylinder 205 in consideration of this.

또한, 마킹끊김 등의 발생이 예상되므로, CCD 카메라(230) 같은 마킹 인식장치가 설치되어 있고, 마킹의 정상여부를 판정하는 로직(logic)이 마킹 제어장치(222)에 조립되어져 있다. 화상 채취용 카메라로서, 상기의 CCD 카메라나 직선 정렬카메라 등을 사용할 수 있다.In addition, since occurrence of marking breakage is expected, a marking recognition device such as the CCD camera 230 is provided, and logic for determining whether the marking is normal is incorporated in the marking control device 222. As the image capturing camera, the CCD camera, the linear alignment camera, or the like can be used.

도 56은, 도 54의 장치에 있어서, 마킹 직후에 마킹한 잉크(이하,「마크 잉크」라 한다)를 건조시키기 위한 건조기(232)를 설치한 상태를 도시하는 개략도이다. 도 56에 도시한 바와 같이 건조기(232)를 설치하는 것으로, 마킹 직후에 마크 잉크를 효과적으로 건조시킬 수 있고, 후공정에서의 잉크 전사 등을 방지할 수 있다. 물론 마킹직후가 바람직하나, 카메라의 앞뒤여도 좋다. 어느 것으로 해도 마킹 후이면 좋다.FIG. 56 is a schematic diagram showing a state in which the dryer 232 for drying the ink (hereinafter referred to as "mark ink") marked immediately after the marking in the apparatus of FIG. 54 is provided. By providing the dryer 232 as shown in FIG. 56, the mark ink can be effectively dried immediately after the marking, and ink transfer or the like in a later step can be prevented. Of course, it is preferable to immediately after marking, but may be before and after the camera. Any may be used after marking.

도 57은 박강판에 대한 마킹상태를 나타내는 도면이며, 실제 마킹과 마킹선도를 대응시키고 있다. 도 57에 도시한 바와 같이, 이동하는 박강판의 상하 움직임, 마커펜(204)의 펜끝 상태 등에 의해, 원래 연속하는 마킹선이, A1, A2, A3와 같이, B2, B3의 간격을 두고 도중에서 끊어지고, 또한, 앞뒤의 B1, B4와 같이, 마커펜(204)의 접촉지연으로 마킹이 옅게 되거나 또는 마킹되지 않은 부분이 발생한다. X1 및 X2는 불감대이다.Fig. 57 is a view showing the marking state of the steel sheet, and the actual marking and the marking diagram correspond to each other. As shown in Fig. 57, the marking lines which are continuously continuous by the vertical movement of the moving steel sheet, the pen tip state of the marker pen 204, and the like are separated at intervals of B2 and B3, like A1, A2, and A3. In addition, as shown in the front and back, B1, B4, the marking delayed by the contact delay of the marker pen 204 or the unmarked portion occurs. X1 and X2 are dead bands.

그래서, 마킹범위 H의 마킹화상을 CCD 카메라에 의해 촬상하여 마킹 제어장치(222)로 보내고, 마킹 제어장치(222)에 있어서, 하기 식에 의해 마킹 정상여부를 판정한다.Thus, the marking image of the marking range H is picked up by the CCD camera and sent to the marking control device 222, and the marking control device 222 determines whether the marking is normal by the following equation.

(A1 + A2 + A3)/{H-(X1 + X2)} ≥S1(A1 + A2 + A3) / {H- (X1 + X2)} ≥S1

An : 마킹을 인식할 수 있었던 범위An: range where the marking was recognized

Bn : 마킹을 인식할 수 없었던 범위Bn: range where the marking could not be recognized

Xn : 불감대Xn: deadband

Sn : 마킹정상 여부 판정상수Sn: Marking constant

강판위의 실제 흠길이 Ld에 대하여 마킹해야할 영역을 (α1 + 흠길이 + α2)로 하고, 마킹게이트 신호를 출력한다.An area to be marked with respect to the actual scratch length Ld on the steel sheet is set to (α1 + scratch length + α2), and a marking gate signal is output.

이에 대해서, 마크 센서게이트 신호는 α3 및 α4를 더 부가한 범위가 작동범위가 된다. 즉, 마크 센서게이트 신호는, 실제 흠 길이 Ld에 (α1 + α2 +α3 + α4)를 부가한 범위가 된다.On the other hand, the mark sensor gate signal has a range in which α3 and α4 are further added to the operating range. That is, the mark sensor gate signal is in a range in which (α1 + α2 + α3 + α4) is added to the actual flaw length Ld.

또한, 박강판(201)의 표면상태의 차이를 보정하기 위하여, 박강판의 종별마다에 CCD카메라의 출력신호 한계값을 상위로부터 설정하고, 마킹의 정상여부를 판정한다. 이들은, 마킹게이트 신호중, 불감대 부분을 제외한 부분과, 마킹 검출부분의 비율로부터 정상여부를 판정하는 로직(logic)이다.Further, in order to correct the difference in the surface state of the thin steel sheet 201, the output signal limit value of the CCD camera is set from the upper level for each type of the thin steel sheet to determine whether the marking is normal. These are logics that determine whether or not normality is determined from the ratio of the marking gate signal except the dead band portion and the marking detection portion.

또한, 도시하지 않지만, 본 장치에 CCD카메라의 출력을 감시하기 위한 모니터 장치를 설치하는 것에 의해, 상시 CCD카메라의 출력을 감시할 수있다.In addition, although not shown in the drawing, by providing a monitor device for monitoring the output of the CCD camera, the output of the CCD camera can be monitored at all times.

또한, 마커펜에 퇴피(退避)기능을 가지는 것에 의해, 구멍 박리흠 및 용접부 등 마커펜을 손상시키는 특수한 부위가 통과하는 경우에, 마커펜을 일시 퇴피시켜 손상을 회피하여, 장치를 보호할 수 있다.In addition, by having a repellent function in the marker pen, when a special part that damages the marker pen, such as a hole peeling defect or a welded part, passes through, the marker pen is temporarily retracted to avoid damage and protect the device. have.

본 실시형태에서는 금속재에 대하여 설명했으나, 기타 피 검사체, 예를 들면, 종이, 필름, 고무, 염화비닐, 직물 등에 대해서도 적용할 수 있다.Although the metal material was demonstrated in this embodiment, it is applicable also to other to-be-tested objects, for example, paper, a film, rubber | gum, a vinyl chloride, a textile.

(발명의 효과)(Effects of the Invention)

이상 서술한 바와 같이 본 발명에 따르면 박강판 등의 금속재 연속생산라인을 경유하여 출하되는 코일 등에 있어서, 라인 내에 설치된 흠 검사장치, 폭 검사 장치, 두께 검사장치 등의 검사장치가 검출한 흠부나 특이부를 자동적으로 마킹할 수 있고, 이에 따라, 다음 공정이나 고객처에서의 검사시에 있어서 흠부나 특이부의 인식을 용이하게 하고, 이들 흠부나 특이부의 자동절제 등을 행할 수 있다. 또한, 기타 피 검사체인 종이, 필름, 고무, 염화비닐, 직물 등 넓게 적용할 수 있다. 더욱이, 시판 마커펜 등을 잉크의 종류나 색에 구애되는 일 없이 용이하게 착탈가능하기 때문에, 보전성이 우수한 동시에 싼가격으로하여 경제적이므로, 공업상, 유용한 효과를 가져온다.As described above, according to the present invention, in a coil or the like shipped through a continuous production line of a metal material such as a thin steel sheet, a flaw or peculiarity detected by an inspection device such as a flaw inspection device, a width inspection device, or a thickness inspection device installed in the line. The parts can be marked automatically, thereby facilitating the recognition of the flaws and singularities at the time of the next step or inspection at the customer, and the automatic ablation of these flaws and the singularities can be performed. In addition, it can be widely applied to paper, film, rubber, vinyl chloride, textiles and the like. In addition, since commercially available marker pens and the like can be easily attached and detached without regard to the type or color of ink, they are excellent in terms of integrity and economical at a low price, resulting in industrial and useful effects.

본 발명은, 유해결함을 확실하고 용이하게 식별 가능하게 하는 결함 마킹방법 및 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide a defect marking method and apparatus which reliably and easily identifies an oil solution.

본 발명은, 표면의 균열·파짐·말려올라감과 같은 현저한 요철성(凹凸性)을 갖지 않는 모양상 헤게흠을 검출하고, 간단한 수단으로 그 정보를 사용자측에 알리는 것이 가능한 표면흠 마킹장치, 마킹 부착 금속대 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention provides a surface flaw marking apparatus capable of detecting shape flaws that do not have significant irregularities such as cracking, gripping, or rolling of a surface, and informing the user side of the information by simple means, with a marking. An object of the present invention is to provide a metal band and a method of manufacturing the same.

상기 목적을 달성하기 위하여, 첫째로, 본 발명은 이하로 이루어지는 결함 마킹방법을 제공한다:In order to achieve the above object, firstly, the present invention provides a defect marking method consisting of:

(a) 강판의 연속처리 라인에, 표면흠을 검출하는 표면결함계 및 결함위치에 마킹하는 마커장치를 설치하는 공정;(a) providing a surface defect system for detecting surface defects and a marker device for marking at a defect position in a continuous processing line of the steel sheet;

(b) 상기 표면결함계로 강판의 표면흠을 검출하는 공정;(b) detecting a surface defect of the steel sheet by the surface defect system;

(c) 검출한 흠 정보에 기초하여, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 더욱이 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하는 공정;(c) calculating a defect name, a defect grade, a defect length, and a defect position in the width direction based on the detected defect information, and further identifying whether the defect is solved, the difficulty of discrimination, or the defect is not solved;

(d) 상기 유해결함·판별곤란 결함에 대해서, 각각 결함위치의 트래킹을 행하는 공정; 과(d) a step of tracking the defect positions for each of the above-mentioned defective and discriminant defects; and

(e) 상기 결함이 마커장치에 도달한 시점에서 상기 결함위치에 마킹하는 공정.(e) marking the defect position at the point when the defect reaches the marker device.

둘째로, 본 발명은 이하로 이루어지는 결함마킹방법을 제공한다:Secondly, the present invention provides a defect marking method consisting of:

(a) 미리 표면결함계를 구비한 라인에서, 코일의 표면흠에 대하여, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 유해결함·판별곤란 결함을 식별하는 공정;(a) a step of calculating a defect name, a defect grade, a defect length, and a defect position in the width direction with respect to the surface defects of the coil in a line having a surface defect system in advance, and identifying a solved / different defect;

(b) 상기 코일을, 마킹하는 마커장치를 설치한 강판의 연속처리라인에 장입하는 공정;과(b) inserting the coil into a continuous processing line of a steel plate provided with a marker device for marking; and

(c) 미리 식별되어 있는 유해결함·판별곤란 결함의 정보에 기초하여, 상기 유해결함·판별곤란 결함이 마커장치에 도달한 시점에서 상기 결함위치에 마킹하는 공정.(c) a step of marking the defective position at the time when the defective and discriminating defective defect reaches the marker device, based on the information of the defective and discriminating defective defect identified in advance.

셋째로, 본 발명은 이하로 이루어지는 흠 검사장치를 제공한다:Thirdly, the present invention provides a flaw inspection apparatus comprising:

금속대의 피검사면으로부터의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건으로 추출하는 복수의 수광장치; 와A plurality of light-receiving devices for extracting the reflected light from the inspection target surface of the metal strip under two or more different optical conditions; Wow

이들 서로 다른 광학조건으로 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면의 표면흠의 유무를 판정하는 신호처리부.A signal processing unit for determining the presence or absence of surface defects on the surface to be inspected based on a combination of reflection components extracted under these different optical conditions.

넷재로, 본 발명은 이하로 이루어지는 결함 마킹장치를 제공한다:In a net material, the present invention provides a defect marking apparatus consisting of:

금속대의 피검사면으로부터 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건으로 추출하는 복수의 수광부와, 이들 서로 다른 광학조건으로 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면의 표면흠 유무를 판정하는 신호처리부를 가지는 흠 검사수단;과And a plurality of light receiving parts for extracting the reflected light from the inspection target surface of the metal strip under two or more different optical conditions, and a signal processing portion for determining the presence or absence of surface defects on the inspection surface based on a combination of the reflection components extracted under these different optical conditions. Flaw inspection means; and

금속대 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 행하는 마킹수단.Marking means for marking on the surface of the metal stand to display information about the defect.

다섯째로, 본 발명은 이하의 공정으로 이루어지는 결함마킹 부착 금속대의 제조방법을 제공한다:Fifthly, the present invention provides a method for producing a defect-marking metal stand comprising the following steps:

(a) 금속대의 피검사면으로부터 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건으로 추출하는 공정;(a) extracting reflected light from two or more different optical conditions from the inspection target surface of the metal strip;

(b) 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면 표면흠 유무를 판정하는 공정;(b) determining the presence or absence of a surface flaw to be inspected based on the combination of the extracted reflection components;

(c) 판정결과에 기초하여 금속대의 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 실시하는 공정.(c) A step of marking on the surface of the metal stand on the surface of the metal stand based on the result of the determination, indicating information about the defect.

여섯째로, 본 발명은 이하의 공정으로 이루어지는 금속대의 가공방법을 제공한다:Sixthly, the present invention provides a method for processing a metal strip comprising the following steps:

(a) 금속대의 피검사면으로부터 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건으로 추출하는 공정;(a) extracting reflected light from two or more different optical conditions from the inspection target surface of the metal strip;

(b) 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면 표면흠 유무를 판정하는 공정;(b) determining the presence or absence of a surface flaw to be inspected based on the combination of the extracted reflection components;

(c) 금속대의 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 실시하는 공정;(c) performing marking on the surface of the metal stand indicating information on the defect;

(d) 마킹을 실시한 금속대를 권취하여 코일로 하는 공정;(d) winding up the marked metal band to form a coil;

(e) 코일을 되감아서 마킹을 검출하여 그 마킹이 나타내는 정보에 기초하여 금속대의 소정범위를 지정하는 공정;(e) rewinding the coil to detect the marking and to designate a predetermined range of the metal band based on the information indicated by the marking;

(f) 지정된 범위를 회피 또는 제거한 금속대의 남은 부분에 대해서 소정의 가공을 하는 공정.(f) A step of performing a predetermined processing on the remaining portion of the metal stage to avoid or remove the specified range.

일곱째로, 본 발명은 이하를 특징으로 하는 마킹부착 금속대를 제공한다:Seventhly, the present invention provides a metal plate with markings characterized by the following:

다른 2종 이상의 광학조건으로 분리되는 표면에서의 반사성분의 조합이 정상부와는 다른 이상부에 대하여, 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되고 있다.The marking which shows the information about the flaw on the surface is performed about the abnormal part from which the combination of the reflection component in the surface separated by another 2 or more types of optical conditions differs from a normal part.

여덟째로, 본 발명은 이하를 특징으로 하는 마킹부착 금속대를 제공한다:Eighthly, the present invention provides a metal plate with markings characterized by the following:

표면으로 부터 경면(鏡面) 반사성분 또는 다수의 미소경면 반사면에 의한 경면확산 반사성분 중, 어느 한 쪽 또는 양쪽 성분의 광량이 이상(異常)으로 되는 부분에 대해서, 표면에 그것에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되고 있는 것을 특징으로 하는 마킹구비 금속대.In the specular reflecting component or the specular diffused reflecting component by the plurality of micro-mirror reflecting surfaces, the surface shows information about it on the part where the light quantity of either or both components becomes abnormal. Marking fixture metal stand characterized in that the marking is carried out.

아홉째로, 본 발명은, 검사장치에 의해 검출된 피 검사체의 결함부나 특이부를 마킹하는 마킹장치를 제공한다.Ninth, the present invention provides a marking apparatus for marking a defective portion or a singular portion of an inspected object detected by an inspection apparatus.

상기 마킹장치는 이하로 이루어진다:The marking device consists of:

마커펜이 탈착가능하게 부착된 펜 홀더;A pen holder to which a marker pen is detachably attached;

상기 펜 홀더를 마커펜과 함께 승강시키기 위한 펜 홀더 승강기구;A pen holder elevating mechanism for elevating the pen holder with a marker pen;

상기 마커펜의 펜 끝을 보호하는 개폐가능한 보호 캡; 과An openable protective cap protecting the pen tip of the marker pen; and

상기 펜 홀더 승강기구와 연동시켜서 상기 보호 캡을 개폐하는 셔터기구.A shutter mechanism for opening and closing the protective cap in conjunction with the pen holder lifting mechanism.

열째로, 본 발명은, 금속재의 연속제조 라인에 있어서 검사장치에 의해 검출된 금속부재의 흠부나 특이부를 마킹하는 마킹장치를 제공한다.Tenthly, the present invention provides a marking apparatus for marking a flaw or a peculiar portion of a metal member detected by an inspection apparatus in a continuous production line of a metallic material.

상기 마킹장치는 이하로 이루어진다:The marking device consists of:

마커펜이 착탈가능하게 부착된 펜 홀더;A pen holder to which a marker pen is detachably attached;

상기 펜 홀더를 마커펜과 함께 승강시키기 위한 펜 홀더 승강기구;A pen holder elevating mechanism for elevating the pen holder with a marker pen;

상기 마커펜의 펜 끝을 보호하는 개폐가능한 보호 캡; 과,An openable protective cap protecting the pen tip of the marker pen; and,

상기 펜 홀더 승강기구와 연동시켜서 상기 보호 캡을 개폐하는 셔터기구.A shutter mechanism for opening and closing the protective cap in conjunction with the pen holder lifting mechanism.

Claims (44)

다음 공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함마킹방법.A defect marking method comprising the following steps. (a) 강판의 연속처리라인에, 표면흠을 검출하는 표면결함계 및 결함위치에 마킹하는 마커장치를 설치하는 공정;(a) providing a surface defect system for detecting surface defects and a marker device for marking at a defect position in a continuous processing line of the steel sheet; (b) 상기 표면결함계로 강판의 표면흠을 검출하는 공정;(b) detecting a surface defect of the steel sheet by the surface defect system; (c) 검출한 흠정보에 기초하여, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭방향의 결함위치를 연산하고, 더욱이 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하는 공정;(c) calculating a defect name, a defect grade, a defect length, and a defect position in the width direction based on the detected defect information, and further identifying whether the defect is solved, the difficulty of discrimination, or the defect is not solved; (d) 상기 유해결함·판별곤란 결함에 대하여, 각각 결함위치를 트래킹 하는 공정; 과(d) tracking defect positions for each of the above-mentioned defective and discriminated trouble defects; and (e) 상기 결함이 마커장치에 도달한 시점에서 상기 결함위치에 마킹하는 공정(e) a step of marking at the defect position when the defect reaches the marker device 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하는 공정이, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭방향의 결함위치, 앞 뒷면의 결함위치 및 강판의 용도에 기초하여 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The process of identifying defects and troubles is based on the name of the defect, the grade of the defect, the length of the defect, the position of the defect in the width direction, the position of the defect on the front and back, and the use of the steel plate. A defect marking method comprising identifying a defect. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 강판 내부의 결함을 검출하는 내부결함계를 설치하는 공정; 과Providing an internal defect system for detecting defects in the steel sheet; and 상기 내부 결함계로 강판의 내부흠을 검출하고, 검출한 흠 정보에 기초하여, 결함의 길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 더욱이 유해결함·무해결함의 식별을 하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And detecting a defect in the length and width direction of the defect and further identifying whether the defect is in the defect or in the defect direction based on the defect information detected by the internal defect system. Defect marking method. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 유해결함·무해결함을 식별하는 공정이, 결함길이, 폭 방향의 결함위치 및 강판의 용도에 기초하여 유해결함·무해결함을 식별하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The defect marking method, wherein the step of identifying whether the problem is solved or solved is to identify the problem solved or solved on the basis of the defect length, the defect position in the width direction, and the use of the steel sheet. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 표면결함계에 의해 판별곤란 결함으로 식별된 결함을, 검사원에 의해 재판정을 하고, 유해결함·무해결함으로 식별하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로하는 결함 마킹방법.A defect marking method further comprising the step of judging by a inspector a defect identified as a difficult defect discriminated by the surface defect system, and identifying it as resolved or unresolved. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 재판정을 하는 공정이, 표면결함계에 의해 판별곤란 결함으로 식별된 결함에 대해서, 경보출력함과 동시에, 자동감속을 하고, 검사원이 판별곤란 결함을 재판정하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The defect marking method is characterized in that the step of judging comprises automatically decelerating the alarm and outputting an alarm for a defect identified as a defect determined by the surface defect system, and judging the defect determined by the inspector. . 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 재판정을 하는 공정이, 표면결함계에 의해 판별곤란 결함으로 식별된 결함에 대해서, 결함 화상표시 및 결함 위치표시를 하고, 검사원이 재판정을 행하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로하는 결함 마킹방법.The defect marking method is characterized in that the step of judging comprises judging a defect image and indicating a position of a defect with respect to a defect identified as a defect determined by the surface defect system, and judging by the inspector. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 마킹하는 공정은, 표면결함계와 내부결함계의 폭 방향의 결함정보에 기초하여, 결함 마킹위치를 변경하여 마킹하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And said marking is performed by changing the marking position of the defect based on defect information in the width direction of the surface defect system and the internal defect system. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 마킹하는 공정은, 강판의 용도에 따라서, 결함 마킹위치를 변경하여 마킹하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The marking step is a defect marking method, characterized in that the marking by changing the defect marking position in accordance with the use of the steel sheet. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 마킹하는 공정은, 유해결함·판별곤란 결함을 구별하여 마킹하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The marking step is a defect marking method characterized by distinguishing and marking the defects of unsolved and difficult to discriminate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 마킹하는 공정은, 강판의 품종에 따라서, 결함마킹의 색을 바꾸어 마킹하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The marking step is a defect marking method, characterized in that the marking by changing the color of the defect marking in accordance with the type of steel sheet. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 마커장치의 하류에 결함마킹 검출장치를 설치하여, 마킹상태를 감시하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.A defect marking method further comprising the step of providing a defect marking detection device downstream of the marker device to monitor the marking state. 제 12항에 있어서,The method of claim 12, 상기 감시하는 공정은, 강판의 품종에 따라서, 결함마킹 검출장치의 한계값을 바꾸어서 마킹상태를 감시하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The monitoring step is a defect marking method, characterized in that for monitoring the marking state by changing the threshold value of the defect marking detection device according to the type of steel sheet. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 마커장치와 결함마킹 검출장치를 세트로 설치하고, 결함마킹 위치로 추종시켜서 마킹상태를 감시하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And a step of providing a marker device and a defect marking detection device as a set and monitoring the marking state by following the defect marking position. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 마커장치가 잉크마커장치인 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And the marker device is an ink marker device. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 잉크 마커장치의 하류에 잉크 건조장치를 설치하는 공정을 더 가지는 것을특징으로 하는 결함 마킹방법.The defect marking method characterized by further having the process of installing an ink drying apparatus downstream of an ink marker apparatus. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 잉크 마커장치, 결함마킹 검출장치와 잉크 건조장치를 세트로 설치하고, 결함마킹 위치로 추종시켜서 마킹상태를 감시하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법.And a step of providing an ink marker device, a defect marking detection device and an ink drying device as a set, and following the defect marking position to monitor the marking state. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하는 공정은, 강판의 용도에 따라서, 유해결함, 무해결함의 한계값을 바꾸어 유해결함·판별곤란 결함·무해결함을 식별하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The process of identifying defects of defects, difficulty of discrimination, and problem solving comprises identifying the problem of defects, difficulty of discrimination, and problem solving by changing the threshold values of the problem of solving and problem solving according to the purpose of the steel sheet. Marking method. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 마커장치의 하류에 결함마킹 검출장치를 설치하여, 결함정보를 검출하는 공정;Providing a defect marking detection device downstream of the marker device to detect defect information; 검출된 결함정보를 결함제거 작업에 반영하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.The defect marking method further comprises the step of reflecting the detected defect information in the defect removal operation. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 잉크 마커장치의 하류에 결함마킹 검출장치와 세정수단을 설치하는 공정;Providing a defect marking detecting apparatus and cleaning means downstream of the ink marker apparatus; 결함마킹 검출장치에서 검출된 결함정보를 결함제거 작업에 반영하는 공정;Reflecting the defect information detected by the defect marking detection device in the defect removal operation; 판별 곤란결함의 검사원에 의해 재판정하고, 무해결함으로 판정한 때는 세정수단으로 마킹잉크를 세정하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And a step of cleaning the marking ink with cleaning means when judged by the inspector of the difficulty of discrimination and determined to be unsolved. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 마커장치가 연마부재 마커장치인 것을 특징으로 하는 결함마킹방법Defect marking method characterized in that the marker device is a polishing member marker device 이하의 공정으로 이루어 지는 것을 특징으로 하는 결함마킹방법.The defect marking method characterized by the following process. (a) 미리 표면결함계를 구비한 라인에서, 코일의 표면흠에 대해서, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 유해결함·판별곤란 결함을 식별하는 공정;(a) a step of calculating a defect name, a defect grade, a defect length, and a defect position in the width direction with respect to the surface defects of the coil in a line having a surface defect system in advance, and identifying a solved / different defect; (b) 상기 코일을 마킹하는 마커장치를 설치한 강판의 연속처리 라인에 장입하는 공정; 과(b) charging the steel sheet to a continuous processing line provided with a marker device for marking the coil; and (c) 미리 식별되어 있는 유해결함·판별곤란 결함의 정보에 기초하여, 상기 유해결함·판별곤란 결함이 마커장치에 도달한 시점에서 상기 결함위치에 마킹하는 공정.(c) a step of marking the defective position at the time when the defective and discriminating defective defect reaches the marker device, based on the information of the defective and discriminating defective defect identified in advance. 제 22항에 있어서,The method of claim 22, 유해결함·판별곤란 결함을 식별하는 공정이, 미리 표면결함계를 구비한 라인에서, 표면흠에 대해서, 결함명, 결함등급, 결함길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 유해결함 판별 곤란결함을 식별하고, 동시에 미리 내부 결함계를 구비한 라인에서, 내부흠에 대해서, 결함의 길이, 폭 방향의 결함위치를 연산하고, 유해결함·무해결함을 식별하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로하는 결함 마킹방법.The process of identifying defects and difficulty in determining defects is calculated by calculating the defect name, defect grade, defect length, and the position of the defect in the width direction on the surface defects in a line having a surface defect system in advance. Identification method, and at the same time, in a line having an internal defect meter in advance, for the internal defect, the defect position in the length and width direction of the defect is calculated, and the defect solving method is characterized in that it is identified. . 제 22항에 있어서,The method of claim 22, 표면결함계에서 판별곤란 결함으로 식별된 결함을, 검사원에 의해 재판정하고, 유해결함·무해결함으로 식별하는 공정을 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.A defect marking method comprising a step of judging by a inspector a defect identified as a discriminant defect in a surface defect system and identifying it as resolved or unresolved. 제 22항에 있어서,The method of claim 22, 더욱이, 마커장치의 하류에 결함마킹 검출장치를 설치하여, 마킹상태를 감시하는 공정을 가지는 결함 마킹방법.Furthermore, a defect marking method having a step of providing a defect marking detection device downstream of a marker device to monitor a marking state. 제 22항에 있어서,The method of claim 22, 마커장치와 결함마킹 검출장치를 세트로 설치하고, 결함마킹 위치에 추종시켜서 마킹상태를 감시하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And a step of providing a marker device and a defect marking detection device as a set, and monitoring the marking state by following the defect marking position. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 마커장치의 하류에 결함마킹 검출장치를 설치하여. 결함정보를 검출하는 공정;A defect marking detection device is installed downstream of the marker device. Detecting defect information; 검출된 결함정보를 결함 제거작업에 반영하는 공정을 더 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹방법.And a step of reflecting the detected defect information in the defect removal operation. 이하로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함마킹장치.A defect marking apparatus, comprising: 금속대의 피 검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 추출하는 복수의 수광부와, 이들 서로 다른 광학조건에 의해 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면 표면흠의 유무를 판정하는 신호처리부를 가지는 흠 검사수단;과 금속대 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 하는 마킹수단.Determination of the presence or absence of surface defects under inspection on the basis of a combination of a plurality of light receiving portions for extracting the reflected light from the inspection surface of the metal strip under two or more different optical conditions and the reflection components extracted under these different optical conditions Flaw inspection means having a signal processing portion, and marking means for marking information on the flaw on the surface of the metal stand. 제 28항에 있어서,The method of claim 28, 흠 검사수단의 신호처리부에 있어서 판정결과에 기초하여, 금속대 표면에 관한 마킹정보를 작성하는 마킹정보 작성수단을 가지는 것을 특징으로 하는 결함 마킹장치.And a marking information creating means for creating marking information on the surface of the metal bar based on the determination result in the signal processing portion of the defect inspection means. 이하로 이루어지는 것을 특징으로 하는 흠 검사장치.The flaw inspection apparatus which consists of the followings. 금속대의 피 검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 추출하는 복수의 수광장치;와A plurality of light receiving devices for extracting the reflected light from the inspection target surface of the metal band by two or more different optical conditions; and 이들 서로 다른 광학조건에 의해 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피 검사면의 표면흠 유무를 판정하는 신호처리부.A signal processing unit for determining the presence or absence of surface defects on an inspection surface based on a combination of reflection components extracted by these different optical conditions. 이하의 공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함마킹 부착 금속대.The metal stand with a defect marking which consists of the following processes. (a) 금속대의 피검사면으로부터 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 추출하는 공정;(a) extracting the reflected light from the inspection surface of the metal strip under two or more different optical conditions; (b) 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피검사면의 표면흠의 유무를 판정하는 공정;(b) determining the presence or absence of surface defects on the inspected surface based on the combination of the extracted reflection components; (c) 판정결과에 기초하여 금속대의 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 실시하는 공정.(c) A step of marking on the surface of the metal stand on the surface of the metal stand based on the result of the determination, indicating information about the defect. 이하의 공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 금속대의 가공방법.A method for processing a metal strip comprising the following steps. (a)금속대의 피 검사면에서의 반사광을 서로 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 추출하는 공정;(a) extracting the reflected light from the inspection surface of the metal band under two or more different optical conditions; (b) 추출된 반사성분의 조합에 기초하여 피 검사면의 표면흠의 유무를 판정하는 공정;(b) determining the presence or absence of surface defects on the inspection surface based on the combination of the extracted reflection components; (c) 금속대의 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹을 실시하는 공정;(c) performing marking on the surface of the metal stand indicating information on the defect; (d)마킹을 실시한 금속대를 권취하여 코일로 하는 공정;(d) winding the marked metal band to form a coil; (e) 코일을 되감아 마킹을 검출하여 그 마킹이 나타내는 정보에 기초하여 금속대의 소정의 범위를 지정하는 공정;(e) rewinding the coil to detect the marking and to designate a predetermined range of the metal band based on the information indicated by the marking; (f) 지정된 범위를 회피 또는 제거한 금속대의 남은 부분에 대해서 소정의 가공을 행하는 공정.(f) Process of performing predetermined process with respect to the remaining part of the metal stand which avoided or removed the designated range. 다른 2종 이상의 광학조건에 의해 분리되는 표면으로부터 반사성분의 조합이 정상부와는 다른 이상부에 대해서, 표면에 그 흠에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되어 있는 것을 특징으로 하는 마킹 부착 금속대.A metal stand with marking, characterized by marking on a surface of an abnormality in which a combination of reflective components differs from a normal part from a surface separated by two or more different optical conditions, indicating information about the defect. 표면에서의 경면 반사성분 또는 다수의 미소 경면 반사면에 의한 경면 확산반사 성분중, 어느 한 방향 또는 쌍방성분의 광량이 이상(異常)이 되는 부분에 대해서, 표면에 그것에 관한 정보를 나타내는 마킹이 실시되어 있는 것을 특징으로 하는 마킹부착 금속대.Marking is performed on the surface of the mirror reflecting component on the surface or the specular diffuse reflection component by a plurality of micro mirror reflecting surfaces, in which the amount of light in either direction or both components is abnormal. Marking metal stand, characterized in that. 이하로 이루어지는 것을 특징으로 하는 검사장치에 의해 검출된 피 검사체의 흠부나 특이부를 마킹하는 마킹장치.A marking apparatus for marking a flaw or a peculiar part of an inspected object detected by an inspection apparatus, comprising: 마커펜이 착탈가능하게 부착된 펜 홀더;A pen holder to which a marker pen is detachably attached; 상기 펜홀더를 마커펜과 함께 승강시키기 위한 펜홀더 승강기구;A pen holder elevating mechanism for elevating the pen holder together with a marker pen; 상기 마커펜의 펜끝을 보호하는 개폐가능한 보호캡; 과An openable protective cap protecting the pen tip of the marker pen; and 상기 펜홀더 승강기구와 연동시켜서 상기 보호캡을 개폐하는 셔터기구.Shutter mechanism for opening and closing the protective cap in conjunction with the pen holder lifting mechanism. 이하로 이루어지는 것을 특징으로 하는 금속재의 연속 제조라인에 있어서 검사장치에 의해 검출된 금속부재의 흠부나 특이부를 마킹하는 마킹장치.A marking apparatus for marking a flaw or a peculiar portion of a metal member detected by an inspection apparatus in a continuous production line of a metal material, comprising: 마커펜이 착탈가능하게 설치된 펜홀더;A pen holder in which a marker pen is detachably installed; 상기 펜홀더를 마커펜과 함께 승강시키기 위한 펜홀더 승강기구;A pen holder elevating mechanism for elevating the pen holder together with a marker pen; 상기 마커펜의 펜 끝을 보호하는 개폐가능한 보호캡;과,An openable protective cap protecting the pen tip of the marker pen; 상기 펜홀더 승강기구와 연동시켜서 상기 보호캡을 개폐하는 셔터기구.Shutter mechanism for opening and closing the protective cap in conjunction with the pen holder lifting mechanism. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 마커펜의 펜끝과 대향시켜, 마킹된 금속재의 피 마크면과 반대쪽 면에 배치되어 있는 마킹 받침롤을 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.And a marking support roll disposed opposite to the pen tip of the marker pen and disposed on a surface opposite to the marked surface of the marked metal material. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 펜홀더는 상기 마커펜의 누름압 제어기구를 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.And the pen holder has a pressing pressure control mechanism of the marker pen. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 금속재가 검출된 흠부나 특이부를 자동으로 마킹할 수 있도록 설치된 마킹점의 트래킹기구를 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.Marking device characterized in that it has a tracking mechanism of the marking point is installed so that the metal material can automatically detect the detected defects or unusual parts. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 금속재의 마킹점을 추종하여 마킹시키기 위하여, 상기 펜홀더의 승강기구가 저속승강과 고속승강의 2단 이상의 승강기구를 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.And a lifting mechanism of the pen holder has two or more steps of lifting and lowering speeds, in order to follow and mark marking points of the metal material. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 금속재에 마킹된 마킹화상을 촬상하는 화상채취용 카메라;An image pickup camera for capturing a marking image marked on the metal material; 상기 마킹점을 조명하는 조명장치;An illumination device for illuminating the marking point; 상기 화상채취용 카메라에 의해 촬상된 마킹 화상신호에 의해 마킹의 정상여부를 판정하는 판정로직(logic)을 더 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.And a determination logic for determining whether the marking is normal by the marking image signal picked up by the image pickup camera. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 화상채취용 카메라가 마킹화상을 촬상하는 화상채취용 카메라의 출력을 감시하기 위한 모니터 장치를 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.And a monitor device for monitoring the output of the imaging camera that captures the marking image. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 상기 마커펜은 퇴피기능을 갖고, 상기 금속재의 구멍,박리흠 및 용접부 등과 같은 상기 마커펜에 손상시키는 부위가 통과하는 경우에 상기 마커펜이 퇴피 가능한 것을 특징으로 하는 마킹장치.The marker pen has a retracting function, and the marking device is characterized in that the marker pen can be retracted when a part to be damaged to the marker pen, such as a hole, peeling and welding of the metal material passes. 제 36항에 있어서,The method of claim 36, 마커펜에 의해 마킹후에 마크 잉크를 건조시키기 위한 건조기를 더 갖는 것을 특징으로 하는 마킹장치.And a dryer for drying the mark ink after marking by the marker pen.
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