KR102475056B1 - Defect marking method and defect marking apparatus, web manufacturing method and the web, and sheet manufacturing method and the sheet - Google Patents

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Abstract

[과제] 결함의 위치를 표시하는 데에 적합한 결함 마킹 방법을 제공한다.
[해결수단] 피검사물의 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 결함 마킹 방법으로서, 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 결함(D)이 위치하도록 피검사물의 표면에 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자함으로써 결함(D)의 위치를 표시한다.
[PROBLEMS] To provide a defect marking method suitable for marking the location of a defect.
[Solution] A defect marking method for performing a defect inspection of an inspection object and marking a defective portion of the inspection object based on the defect inspection result, in another direction intersecting one direction in the plane of the inspection object. By printing the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 on the surface of the inspected object so that the defect D is located between the adjacent first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2. Mark the location of defect (D).

Description

결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트{DEFECT MARKING METHOD AND DEFECT MARKING APPARATUS, WEB MANUFACTURING METHOD AND THE WEB, AND SHEET MANUFACTURING METHOD AND THE SHEET}Defect marking method and defect marking device, manufacturing method of disk, disk, and sheet manufacturing method and sheet

본 발명은 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트에 관한 것이다. The present invention relates to a defect marking method and a defect marking device, a master manufacturing method and master, and a sheet manufacturing method and sheet.

예컨대, 수지 필름이나 종이 등의 긴 띠 형상의 원반의 제조 공정에서는, 원반을 반송하는 사이에 원반 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 원반의 결함 부위에 마킹(이하, 결함 마킹이라고 한다.)을 실시하고 있다(예컨대, 특허문헌 1∼4 참조.). For example, in the manufacturing process of a long strip-shaped master such as a resin film or paper, a master defect inspection is performed while the master is conveyed, and based on the defect inspection result, the defective portion of the master is marked (hereinafter referred to as defect marking. ) is being implemented (see, for example, Patent Literatures 1 to 4).

또한, 액정 표시 패널에 사용되는 편광판 등의 광학 필름(시트)의 제조 공정에서는, 결함의 위치나 종류, 사이즈, 검사 방법 등의 결함에 관한 정보(이하, 결함 정보라고 한다.)를 광학 필름의 단연부를 따른 특정 영역(이하, 기록 영역이라고 한다.)에 인자 헤드를 이용하여 기록(인자)하는 것도 이루어지고 있다. Further, in the manufacturing process of an optical film (sheet) such as a polarizing plate used in a liquid crystal display panel, information on defects such as the position, type, size, and inspection method of the defect (hereinafter referred to as defect information) is provided to the optical film. Recording (printing) is also performed using a printing head in a specific area (hereinafter referred to as a recording area) along the edge portion.

광학 필름은, 결함 정보의 기록이 완료된 후에 심재에 권취되고, 권취량이 일정량에 달하면, 반송 방향 상류 측의 광학 필름으로부터 분리되어 원반 롤로서 출하된다. 원반 롤로부터는, 제품 사양에 따라 미리 정해진 크기나 방향으로 컷트된 시트(칩)가 잘라내어진다. 또한, 결함 부분에 대해서는 제품으로부터 제외되어 파기된다. The optical film is wound around the core after completion of recording of defect information, and when the amount of winding reaches a certain amount, it is separated from the optical film on the upstream side in the conveying direction and shipped as a film roll. From the original roll, sheets (chips) cut in a predetermined size and direction according to product specifications are cut out. In addition, defective parts are excluded from the product and destroyed.

특허문헌 1: 일본 특허공개 2001-305070호 공보Patent Document 1: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2001-305070 특허문헌 2: 일본 특허공개 2002-303580호 공보Patent Document 2: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-303580 특허문헌 3: 일본 특허공개 2011-102985호 공보Patent Document 3: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-102985 특허문헌 4: 일본 특허공개 2014-16217호 공보Patent Document 4: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-16217

그런데, 상술한 종래의 결함 마킹에서는, 원반으로부터 결함 부분을 잘라냈을 때에, 마킹과 결함 사이에서 절단됨으로써, 절단에 의해 잘라내어진 측과 절단에 의해 잘려 남겨진 측의 어디에 결함이 위치하고 있는 것인지, 절단 후에 결함 위치가 불분명하게 되는 경우가 있었다. By the way, in the conventional defect marking described above, when a defective part is cut out from a master, by cutting between the marking and the defect, it is possible to determine where the defect is located on the side cut out by cutting and the side left by cutting, after cutting. There was a case where the defect location became unclear.

또한, 상기 특허문헌 2에 기재된 발명에서는, 상처 마크를 붙임으로써 결함 부위에 마킹을 실시하고 있다. 그러나, 상처 마크를 붙인 경우, 결함 검사 후에 상처 마크를 지워버리기가 불가능하다. 이 경우, 마킹 후에 눈으로 확인하는 검사(검품)에 의해서는 결함 부분이 제품으로서 허용되는 경우도 있다. 그러나, 상처 마크를 붙인 경우는 제품으로서 사용할 수 없게 되어 버린다. In addition, in the invention described in Patent Literature 2, the defective portion is marked by attaching a scratch mark. However, when a scar mark is applied, it is impossible to erase the scar mark after defect inspection. In this case, defective parts may be accepted as products by visual inspection (inspection) after marking. However, when a scratch mark is attached, it cannot be used as a product.

한편, 상술한 종래의 결함 마킹에서는 결함 부위에 마킹을 실시함으로써 결함의 위치만을 표시하는 것이 일반적이다. 따라서, 종래의 결함 마킹에서는 상술한 결함 정보에 관해서는 기록되어 있지 않다. 이 때문에, 예컨대 출하 전에 원반 롤을 재검품할 때에, 결함 정보가 필요한 경우는, 결함 정보를 기록 영역 등에 별도 기록해 둘 필요가 있다. On the other hand, in the conventional defect marking described above, it is common to mark only the location of the defect by marking the defect portion. Therefore, in the conventional defect marking, the above defect information is not recorded. For this reason, when defect information is required, for example, when reviewing a film roll before shipment, it is necessary to separately record the defect information in a recording area or the like.

본 발명은 이러한 종래의 사정에 감안하여 제안된 것으로, 결함의 위치를 표시하는 데 적합한 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트를 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been proposed in view of such conventional circumstances, and aims to provide a defect marking method and a defect marking device suitable for marking the location of a defect, a method for manufacturing a disk and a disk, and a method for manufacturing a sheet and a sheet. do.

상기 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 본 발명의 양태에 따르면, 피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 결함 마킹 방법으로서, 상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록 상기 피검사물의 표면에 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법이 제공된다. As a means for solving the above problems, according to an aspect of the present invention, a defect marking method for marking a defective portion of an object to be inspected, adjacent in another direction intersecting one direction in the plane of the object to be inspected There is provided a defect marking method characterized in that the first printing pattern and the second printing pattern are printed on the surface of the inspection object so that the defect is located between the first printing pattern and the second printing pattern.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method of recording the defect-related information by one or both of the first printing pattern and the second printing pattern may be used.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서, 도트형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 방법이라도 좋다. In the defect marking method of the above aspect, a method of printing at least one or a plurality of dot-shaped marks side by side in one direction may be used as one or both of the printing patterns.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서, 선형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method of printing at least one or a plurality of linear marks in parallel in one direction may be used as one or both of the above printing patterns.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상을 변경함으로써 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method may be used in which information on the defect is recorded by changing any one or more of the number, spacing, size, and color of the marks.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치를 표시하는 방법이라도 좋다. Furthermore, in the defect marking method of the above aspect, the location of the defect in the one direction may be indicated by a printing pattern in which the spacing of at least a part of the plurality of marks parallel to the one direction is changed.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치함으로써, 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치를 표시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, the position of the defect in the one direction is determined by arranging a space adjacent to the defect by arranging a space between at least a part of the plurality of marks parallel to the one direction. Any way to display it is fine.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 인자함으로써 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, in the other direction, by printing a third printing pattern adjacent to one or both of the first printing pattern and the second printing pattern, thereby recording information about the defect Any method is good.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method may be used in which information relating to other than the defect is recorded using any of the above printing patterns.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 인자 패턴을 지워버릴 수 있는 잉크를 이용하여 인자하는 방법이라도 좋다. In the defect marking method of the above aspect, a method of printing the printing pattern using an erasable ink may be used.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 피검사물로서, 상기 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method of marking a defective portion of a long belt-shaped master conveyed in the one direction as the inspected object may be used.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 피검사물로서, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method of marking a defective portion of a sheet obtained by cutting a long strip-shaped disk as the inspection object may be used.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과, 상기 어느 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 원반을 상기 하나의 방향으로 반송하는 사이에, 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 원반의 제조 방법이 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, between the step of inspecting defects for a long strip-shaped master conveyed in one direction, and conveying the master in one direction using any of the above defect marking methods, A method for manufacturing a master is provided, comprising a step of marking a defective portion of the master based on the defect inspection result.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과, 상기 어느 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 시트의 제조 방법이 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, a step of performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped disk, and marking the defective portion of the sheet based on the defect inspection result using any of the above defect marking methods There is provided a method for manufacturing a sheet comprising a step of performing.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 인자 장치를 구비하고, 상기 인자 장치가, 상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향으로 소정의 간격으로 나란하게 배치됨과 더불어, 상기 피검사물의 표면에 인자 패턴을 인자하는 복수의 인자부와, 상기 복수의 인자부의 구동을 제어하는 제어부를 가지고, 상기 제어부가, 상기 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하는 인자부를 선택하는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 장치가 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, a printing device for marking a defective portion of an object to be inspected is provided, and the printing device has a predetermined interval in another direction intersecting one direction in the surface of the object to be inspected. In addition to being arranged side by side, it has a plurality of printing units for printing a printing pattern on the surface of the inspection object, and a control unit for controlling driving of the plurality of printing units, wherein the control unit is adjacent to each other in the different direction. A defect marking apparatus characterized in that control is performed to select a printing part for printing the first printing pattern and the second printing pattern so that the defect is located between the printing pattern and the second printing pattern.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함에 관한 정보에 따라서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking device of the above aspect, the control unit determines the first printed pattern and the second printed pattern according to the information on the defect to be recorded with respect to either or both of the selected printing portions. A configuration for performing control to change either or both of the printing patterns may be used.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 도트형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 구성이라도 좋다. In the defect marking device of the above aspect, at least one or a plurality of dot-shaped marks may be printed side by side in one direction as one or both of the printing patterns.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 선형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 구성이라도 좋다. Furthermore, the defect marking device of the above aspect may have a structure in which at least one or a plurality of linear marks are printed side by side in one direction as one or both of the above printing patterns.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상을 변경하는 구성이라도 좋다. In the defect marking device of the above aspect, any one or more of the number, spacing, size, and color of the marks may be changed.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 인자부에 대하여 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking device of the above aspect, the controller may be configured to perform control to change the spacing of at least a part of a plurality of marks aligned in the one direction with respect to any one of the selected printing portions.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 인자부에 대하여, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking device of the above aspect, the control unit arranges, for any of the selected printing portions, a blank space vacated between at least a part of a plurality of marks parallel to the one direction at a position adjacent to the defect A configuration for performing control may be used.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 인자하는 인자부를 선택하고, 이 선택된 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함에 관한 정보에 따라서 상기 제3 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking device of the above aspect, the control unit selects a printing unit for printing a third printing pattern adjacent to either or both of the first printing pattern and the second printing pattern in the other direction. and control for changing the third printing pattern in accordance with the information on the defect to be recorded for one or both of the selected printing units may be configured.

또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함 이외의 것에 관한 정보에 따라서 상기 어느 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking device of the above aspect, the control unit may be configured to perform control to change a certain printing pattern in accordance with information relating to other than the defect to be recorded with respect to any of the selected printing sections.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반에 대하여 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 상기 어느 결함 마킹 장치를 구비하고, 상기 원반을 상기 하나의 방향으로 반송하는 사이에, 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 원반의 제조 장치가 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, a defect inspection device for inspecting defects on a long strip-shaped master conveyed in one direction, and any one of the above defect marking devices are provided, and the master is conveyed in the one direction. In the meantime, there is provided a disk manufacturing apparatus characterized in that marking is performed on a defective part of the disk based on the defect inspection result.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트에 대하여 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 상기 어느 결함 마킹 장치를 구비하고, 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 시트의 제조 장치가 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, a defect inspection device for performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped disk, and any one of the above defect marking devices is provided, and based on the defect inspection result, defects in the sheet are detected. An apparatus for manufacturing a sheet characterized in that a site is marked is provided.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 결함 부위에 마킹이 실시된 긴 띠 형상의 원반으로서, 상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 짧은 길이 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치함으로써 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 원반이 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, a long strip-shaped disc on which a defective portion is marked, and printed on the surface by the marking, the first printing pattern and the second printing pattern adjacent in the short longitudinal direction are formed. and a defect is positioned between the first printed pattern and the second printed pattern so that the location of the defect is marked.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, the master of the above aspect may have a structure in which information on the defect is recorded by one or both of the first printing pattern and the second printing pattern.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 도트형의 마크가 적어도 하나 또는 긴 길이 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. In the master of the above aspect, at least one or a plurality of dot-shaped marks may be printed side by side in the longitudinal direction as one or both of the printing patterns.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 선형의 마크가 적어도 하나 또는 긴 길이 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. In the master of the above aspect, at least one or a plurality of linear marks as one or both of the printing patterns may be printed side by side in the longitudinal direction.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상이 변경되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above aspect, any one or more of the number, spacing, size, and color of the marks may be changed.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 긴 길이 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 긴 길이 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above aspect, the position of the defect in the longitudinal direction may be indicated by a printing pattern in which intervals of at least a part of the plurality of marks parallel to the longitudinal direction are changed.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 긴 길이 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치함으로써, 상기 긴 길이 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the disk of the above aspect, the position of the defect in the longitudinal direction is displayed by arranging a space adjacent to the defect by arranging a space between at least a part of the plurality of marks parallel to the longitudinal direction, Any composition is fine.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 짧은 길이 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 가지고, 상기 제3 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, the master of the above aspect has a third printed pattern adjacent to one or both of the first printed pattern and the second printed pattern in the short length direction, and the defect is formed by the third printed pattern. It may be a structure in which information related to is recorded.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, the master of the above aspect may have a structure in which information on things other than the defects is recorded by any of the above printing patterns.

또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 인자 패턴이 지워버릴 수 있는 잉크에 의해 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above aspect, the configuration may be such that the printing pattern is printed with erasable ink.

또한, 본 발명의 양태에 따르면, 결함 부위에 마킹이 실시된 시트로서, 상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치함으로써 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 시트가 제공된다. In addition, according to an aspect of the present invention, a sheet on which a defective portion is marked, printed on a surface by the marking, and the first printed pattern and the second printed pattern adjacent in another direction crossing one direction , wherein the location of the defect is indicated by the location of the defect between the first printed pattern and the second printed pattern.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. In the sheet of the above aspect, the defect-related information may be recorded by either or both of the first printed pattern and the second printed pattern.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 도트형의 마크가 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. In the sheet of the above aspect, at least one or a plurality of dot-shaped marks may be printed side by side in one direction as one or both of the printing patterns.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 선형의 마크가 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. In the sheet of the above aspect, at least one or a plurality of linear marks as one or both of the printing patterns may be printed side by side in one direction.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상이 변경되어 있는 구성이라도 좋다. In the sheet of the above aspect, any one or more of the number, spacing, size, and color of the marks may be changed.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. In the sheet of the above aspect, the position of the defect in the one direction may be indicated by a printing pattern in which the intervals of at least a part of the plurality of marks parallel to the one direction are changed.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치함으로써 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above aspect, the position of the defect in the one direction is indicated by arranging a blank space between at least a part of the plurality of marks parallel to the one direction at a position adjacent to the defect. Even the composition is good.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 가지고, 상기 제3 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, the sheet of the above aspect has a third printed pattern adjacent to one or both of the first printed pattern and the second printed pattern in the other direction, and the defect is prevented by the third printed pattern. A structure in which pertinent information is recorded may be used.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, the sheet of the above aspect may have a configuration in which information relating to other than the defects is recorded by any of the above printing patterns.

또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 인자 패턴이 지워버릴 수 있는 잉크에 의해 인자되어 있는 구성이라도 좋다. In the sheet of the above aspect, the configuration may be such that the printing pattern is printed with erasable ink.

이상과 같이, 본 발명의 양태에 따르면, 결함의 위치를 표시하는 데 적합한 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트를 제공할 수 있다. As described above, according to the aspect of the present invention, it is possible to provide a defect marking method and a defect marking device suitable for marking the position of a defect, a manufacturing method and master of a master, and a method of manufacturing a sheet and a sheet.

도 1은 액정 표시 패널의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 2는 도 1 중에 도시하는 액정 표시 패널의 단면도이다.
도 3은 광학 필름의 일례를 도시하는 단면도이다.
도 4는 필름 제조 장치 및 결함 마킹 장치의 구성을 도시하는 측면도이다.
도 5는 도 4에 도시하는 결함 마킹 장치의 구성을 도시하는 평면도이다.
도 6은 도트형의 마크에 의해 인자된 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 7은 선형의 마크에 의해 인자된 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 8은 제3 인자 패턴을 추가한 예를 도시하는 평면도이다.
도 9는 결함의 종류와 그 인자 패턴의 차이를 예시하는 평면도이다.
도 10은 제1 제조 공정과 제2 제조 공정에서 발생한 결함을 도시하는 단면도이다.
도 11은 제1 제조 공정과 제2 제조 공정에서 발생한 결함에 대하여 인자된 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 12는 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 변형예를 도시하는 평면도이다.
도 13은 인자 패턴의 조합을 예시하는 평면도이다.
1 is a plan view showing an example of a liquid crystal display panel.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display panel shown in FIG. 1 .
3 is a cross-sectional view showing an example of an optical film.
Fig. 4 is a side view showing the construction of a film manufacturing device and a defect marking device.
Fig. 5 is a plan view showing the configuration of the defect marking device shown in Fig. 4;
Fig. 6 is a plan view showing an example of a first printing pattern and a second printing pattern printed with dot-shaped marks.
Fig. 7 is a plan view showing an example of a first printing pattern and a second printing pattern printed with linear marks.
8 is a plan view showing an example in which a third printing pattern is added.
Fig. 9 is a plan view illustrating the difference between the types of defects and their printing patterns.
10 is a cross-sectional view showing defects generated in the first manufacturing process and the second manufacturing process.
11 is a plan view showing examples of first and second printed patterns printed with respect to defects generated in the first manufacturing process and the second manufacturing process.
Fig. 12 is a plan view showing modified examples of the first and second printing patterns.
13 is a plan view illustrating a combination of printing patterns.

이하, 본 발명의 실시형태에 관해서 도면을 참조하여 상세히 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described in detail with reference to drawings.

본 실시형태에서는, 예컨대 광학 표시 장치의 생산 시스템으로서, 그 일부를 구성하는 필름 제조 장치(원반의 제조 장치) 및 이 필름 제조 장치를 이용한 필름 제조 방법(원반의 제조 방법)에 관해서 설명한다. In this embodiment, for example, as a production system for an optical display device, a film manufacturing apparatus (original manufacturing apparatus) constituting a part thereof and a film manufacturing method (original manufacturing method) using the film manufacturing apparatus will be described.

필름 제조 장치는, 예컨대 액정 표시 패널이나 유기 EL 표시 패널 등의 패널형 광학 표시 부품(광학 표시 패널)에 접합되는, 예컨대 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름 등의 필름형의 광학 부재(광학 필름)를 제조하는 것이다. 필름 제조 장치는, 이러한 광학 표시 부품이나 광학 부재를 포함하는 광학 표시 장치를 생산하는 생산 시스템의 일부를 구성하고 있다. The film manufacturing apparatus is, for example, a film-type optical member (optical film ) to manufacture. A film manufacturing device constitutes a part of a production system that produces optical display devices including such optical display components and optical members.

본 실시형태에서는 광학 표시 장치로서 투과형 액정 표시 장치를 예시하고 있다. 투과형 액정 표시 장치는 액정 표시 패널과 백라이트를 개략 구비하고 있다. 이 액정 표시 장치에서는, 백라이트로부터 출사된 조명광을 액정 표시 패널의 이면 측에서 입사하고, 액정 표시 패널에 의해 변조된 빛을 액정 표시 패널의 표면 측에서 출사함으로써 화상을 표시할 수 있다. In this embodiment, a transmissive liquid crystal display device is exemplified as an optical display device. A transmissive liquid crystal display device generally includes a liquid crystal display panel and a backlight. In this liquid crystal display device, an image can be displayed by entering illumination light emitted from a backlight from the back side of the liquid crystal display panel and emitting light modulated by the liquid crystal display panel from the front side of the liquid crystal display panel.

(광학 표시 장치)(optical display device)

우선, 광학 표시 장치로서 도 1 및 도 2에 도시하는 액정 표시 패널(P)의 구성에 관해서 설명한다. 여기서, 도 1은 액정 표시 패널(P)의 구성을 도시하는 평면도이다. 도 2는 도 1 중에 도시하는 절단선 A-A에 의한 액정 표시 패널(P)의 단면도이다. 한편, 도 2에서는 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다. First, the configuration of liquid crystal display panel P shown in FIGS. 1 and 2 as an optical display device will be described. Here, FIG. 1 is a plan view showing the structure of the liquid crystal display panel P. As shown in FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display panel P along the cutting line A-A shown in FIG. 1 . On the other hand, in FIG. 2, hatching illustration showing a cross section is omitted.

액정 표시 패널(P)은, 도 1 및 도 2에 도시한 것과 같이, 제1 기판(P1)과, 제1 기판(P1)에 대향하여 배치된 제2 기판(P2)과, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2)의 사이에 배치된 액정층(P3)을 개략 구비하고 있다. As shown in FIGS. 1 and 2 , the liquid crystal display panel P includes a first substrate P1, a second substrate P2 disposed to face the first substrate P1, and a first substrate ( A liquid crystal layer P3 disposed between P1) and the second substrate P2 is roughly provided.

제1 기판(P1)은 평면에서 봤을 때 장방형을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 제2 기판(P2)은 제1 기판(P1)보다도 비교적 소형의 장방형을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 액정층(P3)은, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2) 사이의 주위를 시일재(도시하지 않음.)로 밀봉하여, 시일재에 의해서 둘러싸인 평면에서 봤을 때 장방형을 이루는 영역의 내측에 배치되어 있다. 액정 표시 패널(P)에서는, 평면에서 봤을 때 액정층(P3) 외주의 내측에 수습되는 영역을 표시 영역(P4)으로 하고, 이 표시 영역(P4)의 주위를 둘러싸는 외측의 영역을 액자부(G)로 한다. The first substrate P1 is formed of a transparent substrate having a rectangular shape when viewed in plan. The second substrate P2 is made of a transparent substrate having a relatively smaller rectangular shape than the first substrate P1. The liquid crystal layer P3 is formed by sealing the periphery between the first substrate P1 and the second substrate P2 with a sealant (not shown), and forming a rectangle in plan view surrounded by the sealant. It is placed inside. In the liquid crystal display panel P, a region converging inside the outer periphery of the liquid crystal layer P3 in a plan view is referred to as the display region P4, and an outer region surrounding the periphery of the display region P4 is the frame portion. (G).

액정 표시 패널(P)의 이면(백라이트 측)에는, 편광 필름으로서의 제1 광학 필름(F11)과, 이 제1 광학 필름(F11)에 겹쳐 휘도 향상 필름으로서의 제3 광학 필름(F13)이 순차 적층되어 접합되어 있다. 액정 표시 패널(P)의 표면(표시면 측)에는 편광 필름으로서의 제2 광학 필름(F12)이 접합되어 있다. 이하, 제1, 제2 및 제3 광학 필름(F11, F12, F13)을 광학 필름(F1X)이라고 총칭하는 경우가 있다. On the back surface (backlight side) of the liquid crystal display panel P, a first optical film F11 as a polarizing film and a third optical film F13 as a luminance enhancing film overlaid on the first optical film F11 are sequentially laminated. and are connected. The 2nd optical film F12 as a polarizing film is bonded to the surface (display surface side) of liquid crystal display panel P. Hereinafter, the first, second, and third optical films F11, F12, and F13 may be collectively referred to as the optical film F1X.

(광학 필름)(optical film)

이어서, 도 3에 도시하는 광학 필름(F1X)을 구성하는 광학 시트(FX)의 일례에 관해서 설명한다. 여기서, 도 3은 광학 시트(FX)의 구성을 도시하는 단면도이다. 한편, 도 3에서는 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다. Next, an example of the optical sheet FX constituting the optical film F1X shown in FIG. 3 will be described. Here, FIG. 3 is a sectional view showing the structure of the optical sheet FX. On the other hand, in FIG. 3, illustration of hatching showing a cross section is omitted.

광학 필름(F1X)은, 도 3에 도시하는 긴 띠 형상의 광학 시트(원반)(FX)로부터 소정 길이의 시트편(칩)을 잘라냄으로써 얻어진다. 구체적으로 이 광학 시트(FX)는, 기재 시트(F4)와, 기재 시트(F4)의 한쪽의 면(도 3 중 상면)에 마련된 점착층(F5)과, 점착층(F5)을 통해 기재 시트(F4)의 한쪽의 면에 마련된 세퍼레이터 시트(F6)와, 기재 시트(F4)의 다른 쪽의 면(도 3 중 하면)에 마련된 표면 보호 시트(F7)를 갖는다. The optical film F1X is obtained by cutting out a sheet piece (chip) of a predetermined length from the long strip-shaped optical sheet (original sheet) FX shown in FIG. 3 . Specifically, this optical sheet FX is a substrate sheet through a substrate sheet F4, an adhesive layer F5 provided on one surface of the substrate sheet F4 (upper surface in Fig. 3), and the adhesive layer F5. It has separator sheet F6 provided on one surface of (F4) and surface protection sheet F7 provided on the other surface (lower surface in FIG. 3) of base material sheet F4.

기재 시트(F4)는, 예컨대 편광 필름의 경우, 편광자(F4a)를 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c)이 사이에 끼우는 구조를 갖고 있다. 점착층(F5)은 시트편(광학 필름(F1X))을 액정 표시 패널(P)에 점착시키는 것이다. 세퍼레이터 시트(F6)는 점착층(F5)을 보호하는 것으로, 시트편(광학 필름(F1X))을 액정 표시 패널(P)에 접합하기 전에 점착층(F5)으로부터 박리된다. 또한, 광학 필름(F1X)으로부터 세퍼레이터 시트(F6)를 제외한 부분은 접합 시트(F8)가 된다. In the case of a polarizing film, for example, the base sheet F4 has a structure in which a pair of protective films F4b and F4c sandwich the polarizer F4a. The adhesion layer F5 adheres the sheet piece (optical film F1X) to the liquid crystal display panel P. The separator sheet F6 protects the adhesion layer F5, and peels from the adhesion layer F5 before bonding a sheet piece (optical film F1X) to liquid crystal display panel P. In addition, the part remove|excluding separator sheet F6 from optical film F1X turns into bonding sheet|seat F8.

표면 보호 시트(F7)는 기재 시트(F4)의 표면을 보호하는 것이다. 표면 보호 시트(F7)는, 시트편(광학 필름(F1X))이 액정 표시 패널(P)에 점착된 후에 시트편(광학 필름(F1X))의 표면으로부터 박리된다. The surface protection sheet F7 protects the surface of the base sheet F4. The surface protection sheet F7 is peeled from the surface of the sheet piece (optical film F1X) after the sheet piece (optical film F1X) is adhered to the liquid crystal display panel P.

또한, 기재 시트(F4)에 관해서는 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c) 중 어느 한쪽을 생략한 구성으로 하여도 좋다. 예컨대, 점착층(F5) 측의 보호 필름(F4b)을 생략하고, 편광자(F4a)에 점착층(F5)이 직접 형성된 구성으로 할 수 있다. 또한, 표면 보호 시트(F7) 측의 보호 필름(F4c)에는, 예컨대 액정 표시 패널(P)의 가장 바깥면을 보호하는 하드코트 처리나 방현 효과를 얻을 수 있는 안티글레어 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또한, 기재 시트(F4)에 관해서는 상술한 적층 구조로 된 것에 한하지 않고, 단층 구조로 된 것이라도 좋다. 또한, 표면 보호 시트(F7)에 관해서는 생략하는 것도 가능하다. In addition, regarding the base material sheet F4, it is good also as a structure which abbreviated any one of a pair of protective films F4b and F4c. For example, the protective film F4b on the side of the adhesive layer F5 may be omitted, and the adhesive layer F5 may be formed directly on the polarizer F4a. In addition, the protective film F4c on the side of the surface protection sheet F7 is subjected to a surface treatment such as, for example, a hard coat treatment to protect the outermost surface of the liquid crystal display panel P or an antiglare treatment to obtain an anti-glare effect. It may be. In addition, regarding the base material sheet F4, it is not limited to what became the above-mentioned laminated structure, and what became a single-layer structure may be sufficient. It is also possible to omit the surface protection sheet F7.

(필름 제조 장치 및 필름 제조 방법)(Film manufacturing device and film manufacturing method)

이어서, 도 4에 도시하는 필름 제조 장치(100)에 관해서 설명한다. 여기서, 도 4는 필름 제조 장치(100)의 구성을 도시하는 측면도이다. Next, the film manufacturing apparatus 100 shown in FIG. 4 is demonstrated. Here, FIG. 4 is a side view showing the structure of the film manufacturing apparatus 100. As shown in FIG.

필름 제조 장치(100)는, 도 4에 도시한 것과 같이, 예컨대, 편광 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)의 한 면에, 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 접합한 후, 제1 필름(F101)의 다른 면에 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 접합함으로써, 제1 필름(F101)의 양면에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 광학 필름(F10X)을 제조하는 것이다. As shown in FIG. 4 , the film manufacturing apparatus 100 is, for example, a long strip-shaped first film F101 made of a polarizing film, on one side of a long strip-shaped second film made of a surface protection film ( After bonding F102), the long strip-shaped 3rd film F103 used as a surface protection film is bonded to the other surface of the 1st film F101, and the 2nd film F102 is attached to both surfaces of the 1st film F101. ) and the third film (F103) are bonded together to produce an optical film (F10X).

구체적으로 이 필름 제조 장치(100)는 제1 반송 라인(101)과 제2 반송 라인(102)과 제3 반송 라인(103)과 제4 반송 라인(104)과 제5 반송 라인(105)과 권취부(106)를 개략 구비하고 있다. Specifically, this film manufacturing apparatus 100 includes a first conveying line 101, a second conveying line 102, a third conveying line 103, a fourth conveying line 104, a fifth conveying line 105, A winding section 106 is generally provided.

이 중, 제1 반송 라인(101)은 제1 필름(F101)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제2 반송 라인(102)은 제1 원반 롤(R1)로부터 풀어내어진 제2 필름(F102)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제3 반송 라인(103)은 제1 필름(F101)의 한 면에 제2 필름(F102)이 접합된 편면 접합 필름(F104)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제4 반송 라인(104)은 제2 원반 롤(R2)로부터 풀어내어진 제3 필름(F103)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제5 반송 라인(105)은 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101) 측의 면(제1 필름(F101)의 다른 면)에 제3 필름(F103)이 접합된 양면 접합 필름(F105)(광학 필름(F10X))을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 그리고, 제조된 광학 필름(F10X)은 권취부(106)에 있어서 제3 원반 롤(R3)로서 심재에 권취된다. Among them, the first conveyance line 101 forms a conveyance path for conveying the first film F101, and the second conveyance line 102 forms a conveyance path for conveying the second film F102 unwound from the first film roll R1. ), and the third conveyance line 103 forms a conveyance route for conveying the single-sided bonding film F104 in which the second film F102 is bonded to one side of the first film F101. And, the 4th conveyance line 104 forms the conveyance path which conveys the 3rd film F103 unwound from the 2nd film roll R2, and the 5th conveyance line 105 forms the single-sided bonding film F104 The conveyance path which conveys the double-sided bonding film F105 (optical film F10X) in which the 3rd film F103 was bonded to the surface (the other surface of the 1st film F101) on the side of the 1st film F101 of this are forming And manufactured optical film F10X is wound up by the core material as 3rd film roll R3 in the winding-up part 106.

제1 반송 라인(101)은, 예컨대, PVA(Polyvinyl Alcohol) 등의 편광자의 기재가 되는 필름에 대하여, 염색 처리나 가교 처리, 연신 처리 등을 실시한 후, 그 양면에 TAC(Triacetylcellulose) 등의 보호 필름을 접합함으로써 얻어진 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)으로 향해서 반송시키는 것이다. In the first conveyance line 101, for example, after performing a dyeing treatment, crosslinking treatment, stretching treatment, etc. to a film serving as a base material of a polarizer such as PVA (Polyvinyl Alcohol), TAC (Triacetylcellulose) or the like is protected on both sides thereof. It is directed toward the 3rd conveyance line 103 and conveys the long strip-shaped 1st film F101 obtained by bonding a film.

구체적으로, 이 제1 반송 라인(101)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류 측을 사이에 둔 일측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향하여, 한 쌍의 제1 닙 롤(111a, 111b)과, 복수의 제1 댄서 롤(112a, 112b)을 포함하는 제1 어큐뮬레이터(112)와, 제1 가이드 롤(113)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, in this first conveyance line 101, a pair of first nip rolls 111a and 111b are disposed toward the third conveyance line 103 from one side with the upstream side of the third conveyance line 103 interposed therebetween. ), the first accumulator 112 including a plurality of first dancer rolls 112a and 112b, and the first guide roll 113 are sequentially arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제1 닙 롤(111a, 111b)은, 그 사이에 제1 필름(F101)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 a 방향(우측 방향)으로 제1 필름(F101)을 인출하는 것이다. A pair of 1st nip-roll 111a, 111b rotates in a mutually reverse direction, pinching the 1st film F101 in between, 1st film F101 in the direction of arrow a shown in FIG. 4 (right direction) ) is to withdraw.

제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 필름(F101)의 이송량의 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제1 필름(F101)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 닙 롤(111a, 111b)과 제1 가이드 롤(113)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(112a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(112b)이 교대로 나란하게 배치된 구성을 갖고 있다. The 1st accumulator 112 is for reducing the fluctuation|variation of the tension applied to the 1st film F101 while absorbing the difference by the fluctuation|variation of the conveyance amount of the 1st film F101. Specifically, the first accumulator 112 is between the first nip rolls 111a and 111b and the first guide roll 113, a plurality of dancer rolls 112a located on the upper side and a lower side located on the lower side It has a configuration in which a plurality of dancer rolls 112b are alternately arranged side by side.

제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b)에 제1 필름(F101)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제1 필름(F101)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제1 반송 라인(101)을 정지하지 않고서 제1 필름(F101)을 축적하는 것이 가능하게 되고 있다. 예컨대, 제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제1 필름(F101)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제1 필름(F101)의 축적을 줄일 수 있다. 제1 어큐뮬레이터(112)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the 1st accumulator 112, while conveying the 1st film F101 in the state where the 1st film F101 was alternately caught by the upper dancer roll 112a and the lower dancer roll 112b, the upper side The dancer roll 112a of the lower side and the dancer roll 112b of the lower side are moved up and down relatively. Thereby, it is becoming possible to accumulate the 1st film F101, without stopping the 1st conveyance line 101. For example, in the first accumulator 112, the accumulation of the first film F101 is increased by increasing the distance between the dancer roll 112a on the upper side and the dancer roll 112b on the lower side, while the dancer roll on the upper side is increased. The accumulation of the first film F101 can be reduced by narrowing the distance between 112a and the dancer roll 112b on the lower side. The first accumulator 112 is operated, for example, during operations such as splicing after exchanging the core materials of the film rolls R1 to R3.

제1 가이드 롤(113)은, 회전하면서 제1 닙 롤(111a, 111b)에 의해 인출된 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)의 상류 측으로 향해서 안내하는 것이다. 또한, 제1 가이드 롤(113)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다. The 1st guide roll 113 guides the 1st film F101 pulled out by 1st nip roll 111a, 111b toward the upstream side of the 3rd conveyance line 103, rotating. In addition, the structure in which the 1st guide roll 113 arrange|positioned not only one but multiple arrangement|positioning may be sufficient as one.

제2 반송 라인(102)은, 예컨대 PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 제1 원반 롤(R1)로부터 풀어내면서 제3 반송 라인(103)으로 향해서 반송시키는 것이다. The second conveyance line 102 is the third conveyance line 103 while unwinding the long strip-shaped second film F102 made of a surface protection film such as PET (Polyethylene terephthalate) from the first film roll R1. It is to send it back towards.

구체적으로 이 제2 반송 라인(102)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류 측을 사이에 둔 타측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제2 닙 롤(121a, 121b)과, 복수의 제2 댄서 롤(122a, 122b)을 포함하는 제2 어큐뮬레이터(122)와, 복수의 제2 가이드 롤(123a, 123b)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, in this second conveyance line 102, a pair of second nip rolls 121a, 121b toward the third conveyance line 103 from the other side with the upstream side of the third conveyance line 103 interposed therebetween And, the second accumulator 122 including a plurality of second dancer rolls 122a and 122b, and a plurality of second guide rolls 123a and 123b are sequentially arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제2 닙 롤(121a, 121b)은, 그 사이에 제2 필름(F102)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 b의 방향(좌측 방향)으로 제2 필름(F102)을 인출하는 것이다. A pair of 2nd nip-roll 121a, 121b rotates mutually in reverse direction, pinching the 2nd film F102 in between, and the 2nd film (in the direction of the arrow b shown in FIG. 4 (left direction)) F102) is withdrawn.

제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 필름(F102)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제2 필름(F102)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 닙 롤(121a, 121b)과 제2 가이드 롤(123a, 123b)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(122a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(122b)이 교대로 나란하게 배치된 구성을 갖고 있다. The 2nd accumulator 122 is for absorbing the difference by the fluctuation of the conveyance amount of the 2nd film F102, and reducing the fluctuation|variation of the tension applied to the 2nd film F102. Specifically, the second accumulator 122 is between the second nip rolls 121a and 121b and the second guide rolls 123a and 123b, between the plurality of dancer rolls 122a located on the upper side and the lower side. It has a configuration in which a plurality of positioned dancer rolls 122b are alternately arranged side by side.

제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b)에 제2 필름(F102)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제2 필름(F102)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제2 반송 라인(102)을 정지하지 않고서 제2 필름(F102)을 축적할 수 있게 되고 있다. 예컨대, 제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제2 필름(F102)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제2 필름(F102)의 축적을 줄일 수 있다. 제2 어큐뮬레이터(122)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the 2nd accumulator 122, while conveying the 2nd film F102 in the state where the 2nd film F102 was alternately caught by the upper dancer roll 122a and the lower dancer roll 122b, the upper side The dancer roll 122a of the lower side and the dancer roll 122b of the lower side are moved up and down relatively. This makes it possible to accumulate the second film F102 without stopping the second conveyance line 102 . For example, in the second accumulator 122, the accumulation of the second film F102 is increased by increasing the distance between the dancer roll 122a on the upper side and the dancer roll 122b on the lower side, while the dancer roll on the upper side increases. The accumulation of the second film F102 can be reduced by narrowing the distance between 122a and the dancer roll 122b on the lower side. The second accumulator 122 is operated, for example, during operations such as splicing after exchanging the core materials of the film rolls R1 to R3.

복수의 제2 가이드 롤(123a, 123b)은, 각각 회전하면서 제2 닙 롤(121a, 121b)에 의해 인출된 제2 필름(F102)을 제3 반송 라인(103)의 상류 측으로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제2 가이드 롤(123a, 123b)은 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이라도 좋다. The plurality of second guide rolls 123a and 123b guide the second film F102 pulled out by the second nip rolls 121a and 121b toward the upstream side of the third conveyance line 103 while rotating, respectively. . Here, the structure in which only one 2nd guide roll 123a, 123b was arrange|positioned may be sufficient as not limited to the structure arrange|positioned in multiple numbers.

제3 반송 라인(103)은, 제1 필름(F101)의 한 면에 제2 필름(F102)을 접합한 긴 띠 형상의 편면 접합 필름(F104)을 제5 반송 라인(105)으로 향해서 반송시키는 것이다. The 3rd conveyance line 103 conveys the long strip-shaped single-sided bonding film F104 which bonded the 2nd film F102 to one side of the 1st film F101 toward the 5th conveyance line 105 will be.

구체적으로 이 제3 반송 라인(103)에는 한 쌍의 제3 닙 롤(131a, 131b)이 배치되어 있다. 한 쌍의 제3 닙 롤(131a, 131b)은, 제1 반송 라인(101)의 하류 측과 제2 반송 라인(102)의 하류 측의 합류점에 위치하고, 그 사이에 제1 필름(F101) 및 제2 필름(F102)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 제1 필름(F101)과 제2 필름(F102)을 접합한 편면 접합 필름(F104)을 도 4 중에 도시하는 화살표 c의 방향(아래 방향)으로 인출하는 것이다. Specifically, a pair of third nip rolls 131a and 131b are disposed on the third conveyance line 103 . A pair of 3rd nip rolls 131a, 131b is located at the junction of the downstream side of the 1st conveyance line 101 and the downstream side of the 2nd conveyance line 102, and the 1st film F101 and The direction of arrow c which shows in FIG. 4 the single-sided bonding film F104 which bonded the 1st film F101 and the 2nd film F102 by rotating in a mutually reverse direction, pinching|interposing the 2nd film F102 (downward direction) ) to be withdrawn.

제4 반송 라인(104)은, 예컨대 PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 제2 원반 롤(R2)로부터 풀어내면서 제5 반송 라인(105)으로 향해서 반송시키는 것이다. The fourth conveying line 104 is the fifth conveying line 105 while unwinding the long strip-shaped third film F103 made of a surface protection film such as PET (Polyethylene terephthalate) from the second film roll R2. It is to send it back towards.

구체적으로 이 제4 반송 라인(104)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류 측을 사이에 둔 일측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제4 닙 롤(141a, 141b)과, 복수의 제3 댄서 롤(142a, 142b)을 포함하는 제3 어큐뮬레이터(142)와, 복수의 제4 가이드 롤(143a, 143b)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, in this fourth conveyance line 104, from one side across the downstream side of the third conveyance line 103 toward the third conveyance line 103, a pair of fourth nip rolls 141a, 141b and a plurality of third accumulators 142 including a plurality of third dancer rolls 142a and 142b, and a plurality of fourth guide rolls 143a and 143b are sequentially arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제4 닙 롤(141a, 141b)은, 그 사이에 제3 필름(F103)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 d의 방향(우측 방향)으로 제3 필름(F103)을 인출하는 것이다. A pair of 4th nip-roll 141a, 141b rotates mutually in reverse direction, pinching the 3rd film F103 in between, and the 3rd film (in the direction of the arrow d shown in FIG. 4 (right direction)) ( F103) is withdrawn.

제3 어큐뮬레이터(142)는, 제3 필름(F103)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제3 필름(F103)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제3 어큐뮬레이터(142)는, 제4 닙 롤(141a, 141b)과 제4 가이드 롤(143a, 143b)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(142a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(142b)이 교대로 나란하게 배치된 구성을 갖고 있다. The 3rd accumulator 142 is for absorbing the difference by the fluctuation|variation of the transfer amount of the 3rd film F103, and reducing the fluctuation|variation of the tension applied to the 3rd film F103. Specifically, the third accumulator 142 is between the fourth nip rolls 141a and 141b and the fourth guide rolls 143a and 143b, between the plurality of dancer rolls 142a located on the upper side and the lower side. It has a configuration in which a plurality of positioned dancer rolls 142b are alternately arranged side by side.

제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b)에 제3 필름(F103)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제3 필름(F103)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제4 반송 라인(104)을 정지하지 않고서 제3 필름(F103)을 축적할 수 있게 되고 있다. 예컨대, 제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제3 필름(F103)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제3 필름(F103)의 축적을 줄일 수 있다. 제3 어큐뮬레이터(142)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the 3rd accumulator 142, while conveying the 3rd film F103 in the state where the 3rd film F103 was alternately caught by the upper dancer roll 142a and the lower dancer roll 142b, the upper side The upper and lower dancer rolls 142a and the lower side dancer rolls 142b are moved up and down relatively. This makes it possible to accumulate the third film F103 without stopping the fourth conveyance line 104 . For example, in the third accumulator 142, the accumulation of the third film F103 is increased by widening the distance between the upper dancer roll 142a and the lower dancer roll 142b, while the upper dancer roll By narrowing the distance between 142a and the dancer roll 142b on the lower side, accumulation of the third film F103 can be reduced. The third accumulator 142 is operated, for example, during operations such as splicing after exchanging the core materials of the film rolls R1 to R3.

복수의 제4 가이드 롤(143a, 143b)은, 각각 회전하면서 제4 닙 롤(141a, 141b)에 의해 인출된 제3 필름(F103)을 제3 반송 라인(103)의 하류 측(제5 반송 라인(105)의 상류 측)으로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제4 가이드 롤(143a, 143b)은 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이라도 좋다. A plurality of 4th guide rolls 143a and 143b, the 3rd film F103 pulled out by the 4th nip rolls 141a and 141b while rotating, respectively, the downstream side of the 3rd conveyance line 103 (5th conveyance upstream of the line 105). Here, the structure in which 4th guide roll 143a, 143b is arrange|positioned only one is not limited to the structure arrange|positioned in multiple numbers may be sufficient.

제5 반송 라인(105)은, 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101) 측의 면(제1 필름(F101)의 다른 면)에 제3 필름(F103)을 접합한 긴 띠 형상 양면 접합 필름(F105)(광학 필름(F10X))을 제3 원반 롤(R3)로 향해서 반송시키는 것이다. The 5th conveyance line 105 bonded the 3rd film F103 to the surface (the other surface of the 1st film F101) on the side of the 1st film F101 of the single-sided bonding film F104, both sides of the long strip|strip. It is conveying the bonding film F105 (optical film F10X) toward the 3rd film roll R3.

구체적으로 이 제5 반송 라인(105)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류 측을 사이에 둔 타측으로부터 제3 원반 롤(R3)로 향해서, 한 쌍의 제5 닙 롤(151a, 151b)과, 제5 가이드 롤(153a)과, 한 쌍의 제6 닙 롤(151c, 151d)과, 복수의 제4 댄서 롤(152a, 152b)을 포함하는 제4 어큐뮬레이터(152)와, 제6 가이드 롤(153b)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, in this 5th conveyance line 105, from the other side across the downstream side of the 3rd conveyance line 103, toward the 3rd film roll R3, a pair of 5th nip rolls 151a, 151b And, the fourth accumulator 152 including a fifth guide roll 153a, a pair of sixth nip rolls 151c and 151d, and a plurality of fourth dancer rolls 152a and 152b, and a sixth guide The rolls 153b are sequentially arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제5 닙 롤(151a, 151b)은, 제3 반송 라인(103)의 하류 측과 제5 반송 라인(105)의 상류 측의 합류점에 위치하고, 그 사이에 편면 접합 필름(F104) 및 제3 필름(F103)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 편면 접합 필름(F104)과 제3 필름(F103)을 접합한 양면 접합 필름(F105)을 도 4 중에 도시하는 화살표 e의 방향(아래 방향)으로 인출하는 것이다. A pair of 5th nip rolls 151a, 151b are located at the junction of the downstream side of the 3rd conveyance line 103 and the upstream side of the 5th conveyance line 105, and the single-sided bonding film F104 and The double-sided bonding film F105 which bonded the single-sided bonding film F104 and the 3rd film F103 by rotating in a mutually reverse direction while pinching the 3rd film F103 is shown in the direction of the arrow e shown in FIG. 4 (downward direction) ) to be withdrawn.

제5 가이드 롤(153a)은, 회전하면서 제5 닙 롤(151a, 151b)에 의해 인출된 양면 접합 필름(F105)을 제4 어큐뮬레이터(152)로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제5 가이드 롤(153a)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다. The 5th guide roll 153a guides the double-sided bonding film F105 pulled out by 5th nip roll 151a, 151b toward the 4th accumulator 152, rotating. Here, the structure in which only one fifth guide roll 153a is arranged may be arranged in multiple numbers.

한 쌍의 제6 닙 롤(151c, 151d)은, 그 사이에 양면 접합 필름(F105)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 f의 방향(우측 방향)으로 양면 접합 필름(F105)을 인출하는 것이다. A pair of 6th nip-roll 151c, 151d rotates mutually in reverse direction, sandwiching double-sided bonding film F105 in between, and double-sided bonding film in the direction (right direction) of arrow f shown in FIG. 4 ( F105) is withdrawn.

제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b)에 양면 접합 필름(F105)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 양면 접합 필름(F105)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제5 반송 라인(105)을 정지하지 않고서 양면 접합 필름(F105)을 축적할 수 있게 되고 있다. 예컨대, 제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b) 사이의 거리를 넓힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b) 사이의 거리를 좁힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 축적을 줄일 수 있다. 제4 어큐뮬레이터(152)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the 4th accumulator 152, the upper side while conveying the double-sided bonding film F105 in the state where the double-sided bonding film F105 was alternately hung by the dancer roll 152a of the upper side and the dancer roll 152b of the lower side, The dancer roll 152a of the lower side and the dancer roll 152b of the lower side are moved up and down relatively. Thereby, the double-sided bonding film F105 can be accumulated, without stopping the 5th conveyance line 105. For example, in the 4th accumulator 152, while the accumulation|storage of the double-sided bonding film F105 is increased by widening the distance between the upper side dancer roll 152a and the lower side dancer roll 152b, the upper side dancer roll Accumulation of the double-sided bonding film F105 can be reduced by narrowing the distance between 152a and the dancer roll 152b on the lower side. The 4th accumulator 152 is operated at the time of work, such as splicing after exchanging the core material of film rolls R1-R3, for example.

제6 가이드 롤(153b)은 양면 접합 필름(F105)을 제3 원반 롤(R3)로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제6 가이드 롤(153b)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다. The 6th guide roll 153b guides the double-sided bonding film F105 toward 3rd film roll R3. Here, the 6th guide roll 153b is not limited to the structure arrange|positioned only one, and the structure arrange|positioned in multiple numbers may be sufficient as it.

양면 접합 필름(F105)은, 권취부(106)에 있어서 광학 필름(F10X)의 제3 원반 롤(R3)로서 심재에 권취된 후, 다음 공정으로 보내진다. After the double-sided bonding film F105 is wound up on a core material as 3rd film roll R3 of optical film F10X in the winding-up part 106, it is sent to the next process.

(결함 마킹 장치 및 결함 마킹 방법)(defect marking device and defect marking method)

이어서, 상기 필름 제조 장치(100)가 구비하는 결함 마킹 장치(10) 및 이 결함 마킹 장치(10)를 이용한 결함 마킹 방법에 관해서 설명한다. Next, the defect marking device 10 provided in the film manufacturing apparatus 100 and a defect marking method using the defect marking device 10 will be described.

결함 마킹 장치(10)는, 도 4에 도시한 것과 같이, 상기 필름 제조 장치(100)의 일부를 구성하는 것으로, 반송 라인(L)과, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와, 기록 장치(13)와, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)와, 제어 장치(16)를 개략 구비하여 구성되어 있다. As shown in FIG. 4, the defect marking device 10 constitutes a part of the film manufacturing device 100, and includes a conveyance line L, a first defect inspection device 11, and a second defect inspection device. The device 12, the recording device 13, the first length measuring device 14, the second measuring device 15, and the control device 16 are generally provided and configured.

반송 라인(L)은 검사 대상이 되는 필름을 반송하는 반송 경로를 형성하는 것이며, 본 실시형태에서는 상기 제1 반송 라인(101), 제3 반송 라인(103) 및 제5 반송 라인(105)에 의해서 반송 라인(L)이 구성되어 있다. The transport line L forms a transport path for transporting a film to be inspected, and in this embodiment, the first transport line 101, the third transport line 103, and the fifth transport line 105 The conveying line (L) is constituted by.

제1 결함 검사 장치(11)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합되기 전의 제1 필름(F101)의 결함을 검사하는 것이다. 구체적으로 이 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 필름(F101)을 제조할 때나 제1 필름(F101)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)으로 반송되는 제1 필름(F101)에 대하여, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 직교 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써 제1 필름(F101)의 결함을 검출한다. The 1st defect inspection apparatus 11 inspects the defect of the 1st film F101 before the 2nd film F102 and the 3rd film F103 are bonded together. Concretely, this 1st defect inspection apparatus 11 detects various defects, such as a foreign material defect, a concavo-convex defect, and a bright point defect, which arose when manufacturing the 1st film F101 or conveying the 1st film F101. The 1st defect inspection apparatus 11 performs inspection processing, such as reflection inspection, transmission inspection, oblique transmission inspection, orthogonal Nicols transmission inspection, etc., for the 1st film F101 conveyed by the 1st conveyance line 101, for example. By executing, the defect of the 1st film F101 is detected.

제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)에 있어서, 제1 닙 롤(111a, 111b)보다도 상류 측에, 제1 필름(F101)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와, 제1 필름(F101)을 투과한 빛(투과광) 또는 제1 필름(F101)에서 반사된 빛(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b)를 갖고 있다. In the 1st defect inspection apparatus 11, in the 1st conveyance line 101, some illumination part 21a which irradiates illumination light to the 1st film F101 more upstream than 1st nip-roll 111a, 111b , 22a, 23a) and a plurality of photodetectors 21b, 22b, 23b for detecting light transmitted through the first film F101 (transmitted light) or reflected light from the first film F101 (reflected light), and have.

본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성을 위해서, 제1 필름(F101)의 반송 방향으로 나란한 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와 광검출부(21b, 22b, 23b)가 각각 제1 필름(F101)을 사이에 두고서 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제1 결함 검사 장치(11)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이라도 좋다. 반사광을 검출하는 경우에는 광검출부(21b, 22b, 23b)를 조명부(21a, 22a, 23a) 측에 배치하면 된다. In the present embodiment, for the configuration of detecting the transmitted light, a plurality of lighting units 21a, 22a, 23a and photodetector units 21b, 22b, 23b arranged in parallel in the conveying direction of the first film F101 are respectively provided for the first film ( F101) are placed opposite to each other with interposed between them. In addition, in the 1st defect inspection apparatus 11, it is not limited to the structure which detects such a transmitted light, and a structure which detects reflected light, or a structure which detects transmitted light and reflected light may be sufficient. In the case of detecting the reflected light, the photodetectors 21b, 22b, and 23b may be disposed on the side of the lighting units 21a, 22a, and 23a.

조명부(21a, 22a, 23a)는, 결함 검사의 종류에 따라서 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 제1 필름(F101)에 조사한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여, 제1 필름(F101)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)에서 촬상된 화상(결함 검사 결과)은 제어 장치(16)에 출력된다. Illumination part 21a, 22a, 23a irradiates the 1st film F101 with illumination light whose light intensity, wavelength, polarization state, etc. were adjusted according to the type of defect inspection. Photodetector parts 21b, 22b, and 23b take an image of the position where the illumination light of the 1st film F101 was irradiated using imaging elements, such as CCD. Images (defect inspection results) picked up by the photodetectors 21b, 22b, and 23b are output to the control device 16.

제2 결함 검사 장치(12)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 후의 제1 필름(F101), 즉 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검사하는 것이다. 구체적으로 이 제2 결함 검사 장치(12)는, 제1 필름(F101)에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)을 접합할 때나 편면 접합 필름(F104) 및 양면 접합 필름(F105)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)으로 반송되는 양면 접합 필름(F105)에 대하여, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 직교 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검출한다. The 2nd defect inspection apparatus 12 inspects the defect of the 1st film F101 after the 2nd film F102 and the 3rd film F103 were bonded, ie, the double-sided bonding film F105. Specifically, this 2nd defect inspection apparatus 12 is used when bonding the 2nd film F102 and the 3rd film F103 to the 1st film F101, or the single-sided bonding film F104 and the double-sided bonding film F105 Various defects such as foreign matter defects, concavo-convex defects, bright point defects, etc., which occurred during conveyance are detected. The 2nd defect inspection apparatus 12 performs inspection processing, such as reflection inspection, transmission inspection, oblique transmission inspection, orthogonal Nicols transmission inspection, etc., for the double-sided bonding film F105 conveyed by the 5th conveyance line 105, for example. The defect of double-sided bonding film F105 is detected by carrying out.

제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서, 제5 닙 롤(151a, 151b)보다도 하류 측에, 양면 접합 필름(F105)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(24a, 25a)와, 양면 접합 필름(F105)을 투과한 빛(투과광) 또는 양면 접합 필름(F105)에서 반사된 빛(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(24b, 25b)를 갖고 있다. The 2nd defect inspection apparatus 12 is some illumination part 24a which irradiates illumination light to the double-sided bonding film F105 downstream rather than 5th nip-roll 151a, 151b in the 5th conveyance line 105 , 25a) and a plurality of photodetector parts 24b and 25b for detecting light transmitted through the double-sided bonding film F105 (transmitted light) or reflected light from the double-sided bonding film F105 (reflected light).

본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성을 위해서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향으로 나란한 복수의 조명부(24a, 25a)와 광검출부(24b, 25b)가 각각 양면 접합 필름(F105)을 사이에 두고서 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제2 결함 검사 장치(12)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이라도 좋다. 반사광을 검출하는 경우에는 광검출부(24b, 25b)를 조명부(24a, 25a) 측에 배치하면 된다. In this embodiment, for the structure which detects transmitted light, the some lighting part 24a, 25a and light detection part 24b, 25b which are parallel in the conveyance direction of double-sided bonding film F105 each hold double-sided bonding film F105 between them. are placed opposite to each other. Moreover, in the 2nd defect inspection apparatus 12, it is not limited to the structure which detects such a transmitted light, and a structure which detects reflected light, or a structure which detects transmitted light and reflected light may be sufficient. In the case of detecting the reflected light, the photodetectors 24b and 25b may be disposed on the side of the lighting units 24a and 25a.

조명부(24a, 25a)는, 결함 검사의 종류에 따라서 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 양면 접합 필름(F105)에 조사한다. 광검출부(24b, 25b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여, 양면 접합 필름(F105)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(24b, 25b)에서 촬상된 화상(결함 검사 결과)은 제어 장치(16)에 출력된다. Illumination part 24a, 25a irradiates the double-sided bonding film F105 with the illumination light whose light intensity, wavelength, polarization state, etc. were adjusted according to the kind of defect inspection. Photodetection parts 24b and 25b image the image of the position to which the illumination light of the double-sided bonding film F105 was irradiated using imaging elements, such as CCD. Images (defect inspection results) picked up by the photodetectors 24b and 25b are output to the control device 16 .

기록 장치(13)는, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)의 결함 검사 결과에 기초하여 결함 부위에 마킹을 실시하는 인자 장치이다. 기록 장치(13)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서 제2 결함 검사 장치(12)보다도 하류 측에 마련되어 있다. 기록 장치(13)는 예컨대 잉크젯 방식을 채용한 복수의 인자 헤드(13a)를 갖고 있다. 여기서, 인자 헤드(13a)에 관해서는 레이저 방식을 채용한 것이라도 좋다. The recording device 13 is a printing device that marks a defective portion based on the defect inspection results of the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 . The recording device 13 is provided downstream of the second defect inspection device 12 in the fifth conveyance line 105 . The recording device 13 has a plurality of printing heads 13a employing, for example, an inkjet method. Here, what employ|adopted the laser system about the printing head 13a may be sufficient.

복수의 인자 헤드(13a)는, 도 5에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로 나란하게 배치되어 있다. 또한, 각 인자 헤드(13a)에는, 잉크를 토출하는 노즐부(인자부)(13b)가 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로 소정의 간격으로 나란하게 배치되어 있다. 각 인자 헤드(13a)의 노즐부(13b)는, 양면 접합 필름(F105)에 대향하여, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 일단 측에서부터 타단 측에 걸쳐 등간격으로 나란하게 배치되어 있다. As shown in FIG. 5, several print head 13a is arrange|positioned side by side in the direction (cross direction) which intersects the conveyance direction of double-sided bonding film F105. Moreover, in each printing head 13a, the nozzle part (printing part) 13b which discharges ink is arrange|positioned side by side at predetermined intervals in the direction (width direction) crossing the conveyance direction of the double-sided bonding film F105, have. The nozzle part 13b of each printing head 13a opposes the double-sided bonding film F105, and is arrange|positioned side by side at equal intervals over the other end side from the one end side of the width direction of the double-sided bonding film F105.

또한, 복수의 인자 헤드(13a)와 대향하는 위치에는 양면 접합 필름(F105)과 접하는 제7 가이드 롤(153c)이 배치되어 있다. 그리고, 각 인자 헤드(13a)의 노즐부(13b)는, 양면 접합 필름(F105)의 제7 가이드 롤(153c)과 접하는 위치와는 반대 측으로부터 양면 접합 필름(F105)의 표면으로 향하여 잉크를 토출한다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)의 표면에 도트형의 마크를 인자(마킹)할 수 있게 된다. Moreover, the 7th guide roll 153c which contact|connects the double-sided bonding film F105 is arrange|positioned at the position facing the some printing head 13a. And the nozzle part 13b of each printing head 13a applies ink toward the surface of the double-sided bonding film F105 from the side opposite to the position which contacts the 7th guide roll 153c of the double-sided bonding film F105. Discharge. Thereby, it becomes possible to print (mark) a dot-shaped mark on the surface of the double-sided bonding film F105.

제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는 제1 필름(F101)의 반송량을 측정하는 것이다. 구체적으로 본 실시형태에서는, 제1 반송 라인(101)에 있어서, 제1 어큐뮬레이터(112)보다도 상류 측에 있는 제1 닙 롤(111a)에 제1 측장기(14)를 구성하는 로터리 인코더와, 제1 어큐뮬레이터(112)보다도 하류 측에 있는 제3 닙 롤(131a)에 제2 측장기(15)를 구성하는 로터리 인코더가 배치되어 있다. The first length measuring device 14 and the second length measuring device 15 measure the conveyance amount of the first film F101. Specifically, in this embodiment, in the first conveyance line 101, the rotary encoder constituting the first lengthening machine 14 on the first nip roll 111a on the upstream side of the first accumulator 112; The rotary encoder constituting the second length measuring machine 15 is disposed on the third nip roll 131a on the downstream side of the first accumulator 112 .

제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는, 제1 필름(F101)에 접하여 회전하는 제1 닙 롤(111a) 및 제3 닙 롤(131a)의 회전 변위량에 따라서 로터리 인코더가 제1 필름(F101)의 반송량을 측정한다. 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과는 제어 장치(16)에 출력된다. The first lengthening machine 14 and the second lengthening machine 15 have rotary encoders according to the amount of rotational displacement of the first nip roll 111a and the third nip roll 131a rotating in contact with the first film F101. The conveyance amount of the 1st film F101 is measured. The measurement results of the first measuring instrument 14 and the second measuring instrument 15 are output to the control device 16 .

또한 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13)의 사이에 어큐뮬레이터가 하나밖에 존재하지 않기 때문에, 이 어큐뮬레이터의 상류 측과 하류 측에 측장기가 하나씩 배치된 구성으로 되어 있다. 한편, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13)의 사이에 어큐뮬레이터가 복수 존재하는 경우에는, 그 가장 상류 측에 있는 어큐뮬레이터의 상류 측과, 가장 하류 측에 있는 어큐뮬레이터의 하류 측에 측장기가 하나씩 배치된 구성으로 하면 된다. Further, in the present embodiment, since there is only one accumulator between the first defect inspection device 11 and the recording device 13, the lengthening device is arranged one by one on the upstream side and the downstream side of this accumulator. have. On the other hand, when there are a plurality of accumulators between the first defect inspection device 11 and the recording device 13, the upstream side of the most upstream accumulator and the downstream side of the most downstream accumulator. It is sufficient to have a configuration in which the organs are arranged one by one.

제어 장치(16)는 필름 제조 장치(100)의 각 부를 통괄 제어하는 것이다. 구체적으로 이 제어 장치(16)는 전자 제어 장치로서의 컴퓨터 시스템을 구비하고 있다. 컴퓨터 시스템은 CPU 등의 연산 처리부와 메모리나 하드디스크 등의 정보 기억부를 개략 구비하고 있다. The control device 16 controls the respective parts of the film production device 100 collectively. Specifically, this control device 16 has a computer system as an electronic control device. A computer system generally includes an arithmetic processing unit such as a CPU and an information storage unit such as a memory or a hard disk.

제어 장치(16)의 정보 기억부에는, 컴퓨터 시스템을 제어하는 오퍼레이팅 시스템(OS)이나, 연산 처리부에 필름 제조 장치(100)의 각 부에 각종 처리를 실행시키는 프로그램 등이 기록되어 있다. 또한, 제어 장치(16)는, 필름 제조 장치(100)의 각 부의 제어에 필요한 각종 처리를 실행하는 ASIC 등의 논리 회로를 포함하고 있어도 좋다. 또한 제어 장치(16)는, 컴퓨터 시스템의 외부 장치와의 입출력을 행하기 위한 인터페이스를 포함한다. 이 인터페이스에는, 예컨대 키보드나 마우스 등의 입력 장치나 액정 표시 디스플레이 등의 표시 장치, 통신 장치 등이 접속 가능하게 되어 있다. In the information storage unit of the control device 16, an operating system (OS) that controls the computer system and a program for executing various processes in each unit of the film manufacturing apparatus 100 are recorded in the arithmetic processing unit. In addition, the control device 16 may include a logic circuit such as an ASIC that performs various processes necessary for controlling each part of the film manufacturing device 100 . Also, the control device 16 includes an interface for performing input/output with an external device of the computer system. An input device such as a keyboard or mouse, a display device such as a liquid crystal display, a communication device, and the like can be connected to this interface, for example.

제어 장치(16)는, 상술한 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)의 결함 검사 결과에 기초하여, 복수의 인자 헤드(13a)의 노즐부(13b)의 구동을 제어하는 제어부로서 기능한다. 즉, 이 제어 장치(16)는, 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)에서 촬상된 화상을 해석하여, 결함의 유무(위치)나 종류 등을 판별한다. 그리고, 제1 필름(F101)이나 양면 접합 필름(F105)에 결함이 존재한다고 판정한 경우에는, 해당하는 노즐부(13b)의 구동을 제어하여 양면 접합 필름(F105)의 결함 부위에 마킹을 실시하는 결함 마킹을 행한다. The control device 16 drives the nozzle portions 13b of the plurality of printing heads 13a based on the defect inspection results of the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 described above. It functions as a controlling controller. That is, the control device 16 analyzes the images captured by the photodetectors 21b, 22b, 23b and the photodetectors 24b, 25b to determine the presence (position) or type of defects. And when it determines that a defect exists in the 1st film F101 or the double-sided bonding film F105, the drive of the nozzle part 13b concerned is controlled, and the defective part of the double-sided bonding film F105 is marked. Defect marking is performed.

또한, 결함 마킹 장치(10)에서는, 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사 위치와 결함 부위의 마킹 위치 사이에 어긋남이 생기지 않도록 결함 검사 후에 소정의 타이밍에 결함 마킹을 행한다. 예컨대 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11) 또는 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 오프셋 거리와 일치했을 때에, 기록 장치(13)에 의해 결함 마킹이 행해진다. Moreover, in the defect marking apparatus 10, defect marking is performed at predetermined timing after a defect inspection so that a shift|offset|difference may not arise between the defect inspection position of double-sided bonding film F105 and the marking position of a defect site. For example, in this embodiment, the conveyance amount of the film conveyed on the conveyance line L is calculated after the time when the defect inspection by the first defect inspection apparatus 11 or the second defect inspection apparatus 12 is performed, and the calculated When the conveying amount coincides with the offset distance, defect marking is performed by the recording device 13 .

여기서, 오프셋 거리는 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와 기록 장치(13) 사이의 필름의 반송 거리를 말한다. 엄밀하게는, 오프셋 거리는 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의해 결함 검사가 행해지는 위치(결함 검사 위치)와 기록 장치(13)에 의해 마킹이 실시되는 위치(마킹 위치) 사이의 필름의 반송 거리로서 정의된다. 또한, 오프셋 거리는 제1 어큐뮬레이터(112)를 가동시키면 변동된다. Here, the offset distance refers to the transport distance of the film between the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 and the recording device 13 . Strictly speaking, the offset distance is the position where defect inspection is performed by the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 (defect inspection position) and the location where marking is performed by the recording device 13 ( It is defined as the transport distance of the film between the marking positions). Also, the offset distance is changed when the first accumulator 112 is operated.

제1 어큐뮬레이터(112)의 비가동 시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제1 오프셋 거리라고 한다.)는 미리 제어 장치(16)의 정보 기억부에 기억되어 있다. 구체적으로, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)가 존재하고, 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 결함 검사가 행해진다. 이 때문에, 제어 장치(16)의 정보 기억부에는 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 제1 오프셋 거리가 기억되어 있다. The offset distance at the time of non-operation of the first accumulator 112 (hereinafter, referred to as the first offset distance) is stored in advance in the information storage unit of the control device 16 . Specifically, a plurality of photodetectors 21b, 22b, 23b and photodetectors 24b, 25b exist in the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12, and the photodetectors 21b, 22b , 23b, 24b, 25b), a defect inspection is performed. For this reason, the 1st offset distance is memorize|stored in the information storage part of the control apparatus 16 for each photodetector part 21b, 22b, 23b, 24b, 25b.

제1 어큐뮬레이터(112)의 가동에 의해서 오프셋 거리가 변동되는 경우에는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 상류 측과 하류 측의 제1 필름(F101)의 반송량의 차에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. 즉, 제어 장치(16)에서는, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과로부터 제1 어큐뮬레이터(112)에 의한 제1 필름(F101)의 축적량을 산출하고, 이 제1 필름(F101)의 축적량에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. When the offset distance fluctuates due to the operation of the first accumulator 112, the correction value of the offset distance is based on the difference between the amount of conveyance of the first film F101 on the upstream side and the downstream side of the first accumulator 112. yield That is, the control device 16 calculates the accumulated amount of the first film F101 by the first accumulator 112 from the measurement results of the first length measuring device 14 and the second length measuring device 15, and this The correction value of the offset distance is calculated based on the accumulated amount of one film (F101).

결함 마킹 장치(10)에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동 시에, 오프셋 거리의 보정치에 기초하여 기록 장치(13)가 마킹을 실시하는 타이밍을 보정한다. 예컨대, 본 실시형태에서는 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. 제어 장치(16)는, 이 보정치 및 제1 오프셋 거리에 기초하여, 제1 어큐뮬레이터(112) 가동 시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제2 오프셋 거리라고 한다.)를 산출한다. In the defect marking device 10, when the first accumulator 112 is operating, the timing at which the recording device 13 performs marking is corrected based on the correction value of the offset distance. For example, in this embodiment, the correction value of the offset distance is calculated based on the measurement results of the first length measuring device 14 and the second measuring device 15. The control device 16 calculates an offset distance (hereinafter referred to as a second offset distance) at the time of operation of the first accumulator 112 based on the correction value and the first offset distance.

본 실시형태에서는, 제1 측장기(14) 또는 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 제2 오프셋 거리와 일치했을 때에 기록 장치(13)에 의해 결함 마킹이 행해진다. In this embodiment, the time at which the defect inspection by the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 was performed based on the measurement results of the first length measuring device 14 or the second length measuring device 15 Then, the conveyance amount of the film conveyed on the conveyance line L is calculated, and the defect marking is performed by the recording device 13 when the calculated conveyance amount coincides with the second offset distance.

또한 본 실시형태에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동 시에, 결함 마킹과는 별도로 제1 어큐뮬레이터(112)가 가동했음을 나타내는 정보(이하, 어큐뮬레이터가동 정보라고 한다.)를 양면 접합 필름(F105)에 기록하더라도 좋다. 어큐뮬레이터 가동 정보를 기록한 경우에는, 어큐뮬레이터 가동 정보가 첨부된 부분의 결함 부위를 오퍼레이터가 주의깊게 검사함으로써 마킹 위치의 틀어짐 등을 검출할 수 있다. 이에 따라, 양품 부분을 잘못하여 결함 부위라고 판정할 가능성이 적어져 수율의 향상이 도모된다. In addition, in this embodiment, at the time of operation of the 1st accumulator 112, information indicating that the 1st accumulator 112 operated separately from defect marking (hereinafter referred to as accumulator operation information) is provided to the double-sided bonding film F105. may be recorded in In the case where the accumulator operation information is recorded, the deviation of the marking position or the like can be detected by the operator carefully examining the defective part of the part to which the accumulator operation information is attached. As a result, the possibility of erroneously determining a non-defective part as a defective part is reduced, and the yield is improved.

그런데 본 실시형태의 결함 마킹 장치(10)에서는, 예컨대 도 6에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 표면에, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 결함(D)이 위치하도록 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. By the way, in the defect marking apparatus 10 of this embodiment, as shown in FIG. 6, for example, the 1st printing pattern adjacent to the surface of double-sided bonding film F105 in the width direction of double-sided bonding film F105 ( The first printed pattern PT1 and the second printed pattern PT2 are printed so that the defect D is positioned between the PT1 and the second printed pattern PT2.

본 실시형태에서는, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)으로서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)으로 도트형의 마크(DM)를 복수 나란히 인자한다. 마크(DM)는 눈으로 봐서 시인할 수 있을 정도의 크기이며, 구체적으로는 그 직경이 5 mm 이하(보다 바람직하게는 1 mm 이상이면서 3 mm 이하)이다. In this embodiment, as 1st printing pattern PT1 and 2nd printing pattern PT2, a plurality of dot-shaped marks DM are printed side by side in the conveyance direction (longitudinal direction) of the double-sided bonding film F105. The mark DM has a size that can be visually recognized, and specifically has a diameter of 5 mm or less (more preferably 1 mm or more and 3 mm or less).

제어 장치(16)는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 나란한 복수의 노즐부(13b) 중에서 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자하는 2개의 노즐부(13b)를 선택한다. 그리고, 이들 선택된 2개의 노즐부(13b)는, 결함(D)을 사이에둔 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향(짧은 길이 방향) 양측에 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. The control apparatus 16 is two nozzle parts 13b which print the 1st printing pattern PT1 and the 2nd printing pattern PT2 among the several nozzle parts 13b parallel to the width direction of the double-sided bonding film F105. ) is selected. Then, these two selected nozzle parts 13b have the first printing pattern PT1 and the second printing pattern ( PT2) is printed.

이 경우, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2) 사이에 결함(D)이 위치함으로써, 그 사이에 있는 결함(D)의 위치를 표시할 수 있다. 이에 따라, 마킹 후의 눈으로 확인함에 의한 검사(검품)에 있어서 결함(D)의 위치를 용이하게 파악할 수 있다.In this case, since the defect D is located between the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, the position of the defect D between the two can be displayed. Accordingly, the position of the defect D can be easily grasped in the visual inspection (inspection) after marking.

또한, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 간격에 의해서 그 사이에 있는 결함(D)의 크기를 인식할 수 있다. 따라서, 선택되는 2개의 노즐부(13b)에 관해서는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 나란한 복수의 노즐부(13b) 중 반드시 인접하는 노즐부(13b)를 선택하는 경우에 한하지 않고, 결함(D)의 위치 및 크기에 맞춰 2개의 노즐부(13b)를 적절하게 선택하면 된다. In addition, the size of the defect D between the first and second printing patterns PT1 and PT2 can be recognized by the distance between them. Therefore, regarding the selected two nozzle parts 13b, it is not limited to the case where the adjacent nozzle part 13b is always selected among the plurality of nozzle parts 13b aligned in the width direction of the double-sided bonding film F105. , the two nozzle parts 13b may be appropriately selected according to the position and size of the defect D.

또한, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 결함(D)이 위치함으로써, 양면 접합 필름(F105)으로부터 결함 부분을 잘라냈을 때에, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽과 결함(D)의 사이에서 절단되게 된다. In addition, when the defective portion is cut out from the double-sided bonding film F105 because the defect D is located between the first printed pattern PT1 and the second printed pattern PT2, the first printed pattern PT1 and It is cut between either one of the second printed patterns PT2 and the defect D.

이 경우, 절단에 의해 잘라내어진 측과 절단에 의해 잘리고 남은 측에 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 것이 잔존하게 된다. 이에 따라, 절단에 의해 잘라내어진 측과 절단에 의해 잘리고 남은 측의 어디에 결함(D)이 위치하고 있는 것인지, 절단 후에 잔존하는 제1 인자 패턴(PT1) 또는 제2 인자 패턴(PT2)에 의해서 결함의 위치를 용이하게 확인할 수 있다.In this case, either the first printing pattern PT1 or the second printing pattern PT2 remains on the side cut out by cutting and the side remaining after cutting. Accordingly, it is determined where the defect D is located between the side cut out by cutting and the side remaining after cutting, and the first printing pattern PT1 or the second printing pattern PT2 remaining after cutting determines the location of the defect. The location can be easily ascertained.

또한, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 관해서는, 지워버릴 수 있는 잉크를 이용하여 인자하는 것이 가능하다. 상술한 것과 같이, 마킹 후의 눈으로 확인함에 의한 검사(검품)에 의해서는 결함 부분이 제품으로서 허용되는 경우도 있다. 이 경우, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 지워버림으로써 이 부분을 제품으로서 사용할 수 있어, 수율의 향상을 도모할 수 있다.In addition, regarding the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, it is possible to print using erasable ink. As described above, there are cases where a defective part is accepted as a product by visual inspection (inspection) after marking. In this case, by erasing the first printed pattern PT1 and the second printed pattern PT2, this part can be used as a product, and the yield can be improved.

지워버릴 수 있는 잉크에 관해서는, 케톤류(메틸에틸케톤, 아세톤 등), 에스테르류(아세트산에틸, 프로필=아세테이트아세트산프로필 등), 알코올류(에탄올, 2-프로판올 등) 중에서 적절하게 선택된 용제에 대하여, 착색제나 조막용(造膜用) 수지 등을 첨가한 유성 잉크를 이용할 수 있다. 또한, 필요에 따라서 경화제나 계면활성제 등을 첨가하여도 좋다. 한편, 잉크를 지워버리기 위한 용제에 관해서는 상기 용제와 같은 것을 이용할 수 있다. 또한, 톨루엔이나 크실렌 등의 방향족 탄화수소류의 사용에 관해서는, 광학 필름(편광판)의 재질을 침범하기 때문에 바람직하지 못하다. Regarding erasable ink, solvents appropriately selected from ketones (methyl ethyl ketone, acetone, etc.), esters (ethyl acetate, propyl = propyl acetate acetate, etc.), alcohols (ethanol, 2-propanol, etc.) , oil-based ink to which a colorant, a resin for forming a film, or the like is added can be used. Moreover, you may add a hardening|curing agent, surfactant, etc. as needed. On the other hand, as for the solvent for erasing the ink, the same solvent as the above can be used. In addition, the use of aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene is not preferable because they affect the material of the optical film (polarizing plate).

또한, 본 실시형태의 결함 마킹 장치(10)에서는, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 결함(D)에 관한 정보를 기록한다. Further, in the defect marking device 10 of the present embodiment, information on the defect D is recorded by either or both of the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2.

구체적으로 제어 장치(16)는, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자할 때에, 선택된 노즐부(13b)에 대하여, 기록하여야 할 결함(D)에 관한 정보(결함 정보)에 따라서 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴(본 실시형태에서는 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2))을 변경하는 제어를 행한다. Specifically, when printing the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, the control device 16 provides, for the selected nozzle portion 13b, information about the defect D to be recorded (defect information), either one or both of the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 (the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 in this embodiment) is changed. control to

예컨대, 본 실시형태에서는 기록하여야 할 결함 정보에 따라서 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 구성하는 마크(DM)의 수와 간격을 변경한다. 이에 따라, 결함 부위에 마킹을 실시하는 동시에 결함 정보를 기록할 수 있다. For example, in the present embodiment, the number and spacing of marks DM constituting the first and second printing patterns PT1 and PT2 are changed according to defect information to be recorded. Accordingly, it is possible to record defect information at the same time as marking the defective portion.

결함 정보는 결함(D)의 위치나 종류, 사이즈, 검사 방법(결함 검사의 종류) 등의 결함(D)에 관한 정보이다. 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에는, 이들 결함 정보를 식별할 수 있도록 마크(DM)의 수와 간격이 미리 설정되어 있다. The defect information is information about the defect D, such as the location, type, size, and inspection method (type of defect inspection) of the defect D. In the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, the number and spacing of marks DM are set in advance so that these defect information can be identified.

예컨대, 도 6에 도시하는 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에서는, 각각 양면 접합 필름(F105)의 하나의 방향인 반송 방향(긴 길이 방향)으로 5개의 마크(DM)가 나란히 인자되어 있다. 이 중, 상류 측에 2개의 마크(DM)와 하류 측에 3개의 마크(DM)로 나뉘어 배치되어 있다. 또한, 상류 측의 마크(DM)와 하류 측의 마크(DM) 사이에 마크 하나분의 공백(간격을 비운 부분)(K)이 마련되어 있다. For example, in the 1st printing pattern PT1 and the 2nd printing pattern PT2 shown in FIG. 6, five marks DM are each in the conveyance direction (longitudinal direction) which is one direction of the double-sided bonding film F105. are printed side by side. Among them, two marks DM on the upstream side and three marks DM on the downstream side are divided and arranged. In addition, between the mark DM on the upstream side and the mark DM on the downstream side, a blank for one mark (the part where the gap is vacated) K is provided.

공백(K)은 양면 접합 필름(F105)의 다른 방향인 폭 방향(짧은 길이 방향)에 있어서 결함(D)과 거의 동렬로 배치되어 있다. 즉, 이 공백(K)은 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 결함(D)의 위치를 표시하고 있다. 또한, 공백(K)보다도 결함(D)이 큰 경우에는 공백(K)을 결함(D)의 중심과 인접하는 위치에 배치하는 것이 바람직하다. The blank K is arrange|positioned substantially in line with the defect D in the width direction (short direction) which is the other direction of double-sided bonding film F105. That is, this blank K is displaying the position of defect D in the conveyance direction (longitudinal direction) of double-sided bonding film F105. In addition, when the defect D is larger than the space K, it is preferable to arrange the space K at a position adjacent to the center of the defect D.

이 경우, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2) 사이뿐만 아니라, 공백(K)에 의해서 상류 측의 마크(DM)와 하류 측의 마크(DM) 사이에 결함(D)이 위치하는 것을 표시할 수 있다. 이에 따라, 결함(D)의 위치를 더욱 용이하게 파악할 수 있다. 또한, 결함(D)을 걸쳐서 칩을 잘라냈을 때는, 나머지 마크(DM)를 보고서 그 칩에 결함(D)이 존재하고 있는지를 판별할 수 있다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)의 이용 효율을 향상시킬 수 있다. In this case, defects D are formed not only between the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, but also between the mark DM on the upstream side and the mark DM on the downstream side due to the space K. location can be indicated. Accordingly, the position of the defect (D) can be grasped more easily. Further, when the chip is cut out over the defect D, it is possible to determine whether or not the defect D exists in the chip by looking at the remaining marks DM. Thereby, the utilization efficiency of double-sided bonding film F105 can be improved.

또한, 상류 측과 하류 측의 마크(DM)의 수의 차이로부터 보아, 양면 접합 필름(F105)으로부터 잘라내어진 후에도 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(도 6 중 화살표로 나타내는 방향)을 용이하게 파악할 수 있다. Moreover, from the difference in the number of marks DM on the upstream side and the downstream side, even after being cut out from the double-sided bonding film F105, the conveyance direction (the direction shown by the arrow in FIG. 6) of the double-sided bonding film F105 is easy can figure it out

또한, 결함(D)과 공백(K)의 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 어긋남량으로부터, 결함 검사 위치와 마킹 위치 사이의 타이밍의 어긋남량을 파악할 수 있다. 그리고, 이 어긋남량에 기초하여 기록 장치(13)에 의한 마킹의 타이밍을 용이하게 조정할 수 있다. Moreover, the shift|offset|shift amount of the timing between a defect inspection position and a marking position can be grasped from the shift|offset|shift amount in the conveyance direction (longitudinal direction) of the double-sided bonding film F105 of defect D and blank K. Then, the timing of marking by the recording device 13 can be easily adjusted based on this shift amount.

공백(K)의 크기에 관해서는, 반송 방향으로 일정한 간격으로 나란한 마크(DM)의 간격(중심 사이 거리)(T1)보다도, 공백(K)을 사이에 둔 양측 마크(DM)의 간격(중심 사이 거리)(T2)을 크게 하는 것이 바람직하다. 보다 구체적으로는 1.2≤T2/T1≤3.0의 범위로 하는 것이 바람직하고, 1.5≤T2/T1≤2.5의 범위로 하는 것이 보다 바람직하다. Regarding the size of the space K, the distance between the marks DM on both sides of the space K is greater than the distance (distance between centers) T1 of the marks DM parallel to each other at regular intervals in the conveying direction (center of gravity). It is preferable to increase the distance between them) (T2). More specifically, it is preferably within the range of 1.2≤T2/T1≤3.0, and more preferably within the range of 1.5≤T2/T1≤2.5.

이상과 같이, 본 실시형태에 따르면, 상술한 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 의해서 결함(D)의 위치를 표시함과 더불어 결함 정보를 기록하는 것이 가능하다. As described above, according to the present embodiment, it is possible to mark the position of the defect D and record defect information by means of the above-described first printing pattern PT1 and second printing pattern PT2.

또한, 본 발명은 상기 실시형태의 것에 반드시 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경을 가할 수 있다.In addition, this invention is not necessarily limited to the thing of the said embodiment, Various changes can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.

예컨대, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 관해서는, 상술한 마크(DM)의 수나 간격을 변경하는 경우에 한하지 않고, 그 이외에도 예컨대 사이즈(직경)나 색(적, 청, 흑 등. 바람직하게는 흑.) 등을 변경할 수 있다. 즉, 도트형 마크(DM)의 수, 간격, 사이즈(직경), 색 중 어느 하나 이상을 변경하면 된다. 이에 따라, 이들 인자 패턴(PT1, PT2)을 더욱 세세하게 설정하여, 보다 많은 정보를 기록할 수 있다. For example, with respect to the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, not only the case where the above-mentioned number or spacing of the marks DM is changed, but also the size (diameter) or color (red color) other than that. , blue, black, etc. Preferably black.) and the like can be changed. That is, one or more of the number, spacing, size (diameter), and color of the dot-type marks DM may be changed. Accordingly, it is possible to record more information by setting these printing patterns PT1 and PT2 more finely.

또한, 예컨대 도 7에 도시한 것과 같이, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 관해서는, 상술한 도트형 마크(DM)에 한하지 않고, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)으로 선형의 마크(LM)를 인자하더라도 좋다. In addition, as shown in FIG. 7, for example, the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 are not limited to the above-mentioned dot-shaped marks DM, and the double-sided bonding film F105 You may print a linear mark LM in the conveyance direction (longitudinal direction).

이 경우, 상술한 잉크젯 방식의 인자 헤드(13a)뿐만 아니라, 예컨대 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로 나란한 복수의 마커(인자부)를 이용할 수 있다. 마커에 관해서는, 예컨대 펜 마커나 레이저 마커 등 특별히 한정되는 것은 아니다. In this case, not only the printing head 13a of the above-mentioned inkjet system, but the some marker (printing part) parallel to the direction (width direction) which crosses the conveyance direction of the double-sided bonding film F105, for example can be used. Regarding the marker, for example, a pen marker or a laser marker is not particularly limited.

선형 마크(LM)를 인자하여 결함 정보를 기록하는 경우는, 기록하여야 할 결함 정보에 따라서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)으로 적어도 하나 또는 복수의 마크(LM)를 나란하게 배치하여, 선형 마크(LM)의 수, 간격, 사이즈(길이, 굵기), 색 중 어느 하나 이상을 변경한다. 이에 따라, 도트형 마크(DM)를 인자하는 경우와 마찬가지로 결함 정보를 기록하는 것이 가능하다. 또한, 선형 마크(LM)에 있어서 공백(K)을 두는 경우는 그 공백(K)의 간격을 3∼5 mm 정도로 하는 것이 바람직하다. When the linear mark LM is printed and defect information is recorded, according to the defect information to be recorded, at least one or a plurality of marks LM are arranged side by side in the conveyance direction (longitudinal direction) of the double-sided bonding film F105. by arranging them in such a way that one or more of the number, spacing, size (length, thickness), and color of the linear marks (LM) are changed. Accordingly, it is possible to record defect information similarly to the case of printing the dot-shaped mark DM. In addition, when leaving blanks K in the linear mark LM, it is preferable to make the space|interval of the blank K about 3-5 mm.

또한, 예컨대 도 8(a), 도 8(b), 도 8(c)에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향(짧은 길이 방향)에 있어서, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하더라도 좋다. Further, as shown in, for example, Figs. 8(a), 8(b), and 8(c), in the width direction (shorter direction) of the double-sided bonding film F105, the first printed pattern PT1 The third printing pattern PT3 adjacent to one or both of the first and second printing patterns PT2 may be printed.

이 경우, 제어 장치(16)는, 상술한 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자하는 2개의 노즐부(13b)와는 별도로 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하는 노즐부(13b)를 선택한다. 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하는 노즐부(13b)에 관해서는, 기록하여야 할 결함 정보에 따라서 적어도 하나 또는 복수의 노즐부(13b)를 선택할 수 있다. In this case, the control device 16 is a nozzle that prints the third printing pattern PT3 separately from the two nozzle parts 13b that print the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 described above. Select part 13b. Regarding the nozzle part 13b for printing the third printing pattern PT3, at least one or a plurality of nozzle parts 13b can be selected according to the defect information to be recorded.

즉, 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 도 8(a)에 도시한 것과 같이 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽과 인접하여 인자하는 경우나, 도 8(b)에 도시한 것과 같이 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)의 양측에 인접하여 인자하는 경우, 도 8(c)에 도시한 것과 같이 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향(짧은 길이 방향)으로 복수 나란히 인자하는 경우 등, 기록하여야 할 결함 정보에 따라서 적절하게 선택할 수 있다.That is, with respect to the third printing pattern PT3, as shown in FIG. 8(a), the case of printing adjacent to either the first printing pattern PT1 or the second printing pattern PT2, or FIG. In the case of printing adjacent to both sides of the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 as shown in 8(b), as shown in FIG. 8(c), the double-sided bonding film F105 It can be appropriately selected according to the defect information to be recorded, such as when printing a plurality of lines side by side in the width direction (shorter length direction).

또한, 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 인자하는 것도 가능하다. 이 경우, 결함(D)을 사이에 둔 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)의 상류 측 또는 하류 측 혹은 양측에 인자할 수 있다.In addition, regarding the third printing pattern PT3, it is also possible to print between the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2. In this case, it can print on the upstream side of the conveyance direction (longitudinal direction) of the double-sided bonding film F105 which sandwiched the defect D, or the downstream side, or both sides.

또한, 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)과 마찬가지로 도트형 마크(DM) 또는 선형 마크(LM)에 의해 인자할 수 있다. 제3 인자 패턴(PT3)을 변경하는 방법도 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 변경하는 경우와 마찬가지다. Also, the third printing pattern PT3 can be printed with a dot mark DM or a linear mark LM similarly to the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2. The method of changing the third printing pattern PT3 is the same as the case of changing the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2.

따라서, 결함 정보에 관해서는, 상술한 제1 인자 패턴(PT1), 제2 인자 패턴(PT2) 및 제3 인자 패턴(PT3)의 조합에 의해서 더욱 많은 정보를 기록할 수 있다.Therefore, with regard to defect information, more information can be recorded by combining the above-described first printed pattern PT1, second printed pattern PT2, and third printed pattern PT3.

상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)의 어느 것에 의해 기록되는 결함 정보에 관해서는, 예컨대 결함(D)의 종류 등에 따라서 어떤 인자 패턴을 변경하거나, 또한 그 변경되는 인자 패턴을 구성하는 마크(DM)(LM)의 수나 간격, 사이즈(직경, 길이, 굵기), 색 중 어느 것을 변경하는지를 미리 설정해 두면 된다. 이에 따라, 결함(D)의 종류 등을 미리 설정된 룰에 따라서 식별할 수 있다. Regarding the defect information recorded by any of the first, second, and third printing patterns PT1, PT2, and PT3 described above, a certain printing pattern is changed depending on, for example, the type of defect D, or the change thereof. It is only necessary to set in advance which of the number, spacing, size (diameter, length, thickness), and color of the marks (DM) (LM) constituting the printing pattern to be changed. Accordingly, the type of defect D can be identified according to a preset rule.

예컨대, 결함(D)의 종류에 관해서는, 예컨대 도 9(a)에 도시하는 이물계, 도 9(b)에 도시하는 기포계, 도 9(c)에 도시하는 휘점계, 도 9(d)에 도시하는 주름계 등을 들 수 있다. 이 중, 도 9(a)에 도시하는 이물계는, 양면 접합 필름(F105)에 이물이 혼입됨으로 인해서 생기는 결함(D)이다. 한편, 도 9(b)에 도시하는 기포계는, 양면 접합 필름(F105)에 기포가 생김으로 인한 결함(D)이다. 이러한 기포는 이물이 혼입되었을 때에 이물을 중심으로 서로 맞물리는 경우가 있다. 한편, 도 9(c)에 도시하는 휘점계는, 편광 필름으로 되는 제1 필름(F101)에 생긴 결함(D)이며, 편광 필름에 대하여 검광자를 직교 니콜로 배치했을 때에 휘점(빛 누설)으로서 관찰되는 결함(D)이다. 한편, 도 9(d)에 도시하는 주름계의 결함(D)은, 양면 접합 필름(F105)에 주름이 생김으로 인한 결함(D)이다. For example, regarding the type of defects D, for example, the foreign matter system shown in FIG. 9(a), the bubble system shown in FIG. 9(b), the luminescent point meter shown in FIG. 9(c), and FIG. ), and the like. Among these, the foreign material system shown in Fig.9 (a) is a defect (D) which arises because a foreign material mixes in double-sided bonding film F105. On the other hand, the bubble system shown in FIG.9(b) is a defect (D) by which air bubbles arise in the double-sided bonding film F105. These air bubbles may interlock with each other centering on the foreign matter when the foreign matter is mixed. On the other hand, the luminescent point meter shown in FIG. 9(c) is a defect (D) that occurred in the first film F101 used as a polarizing film, and was observed as a luminous point (light leakage) when the analyzer was arranged at orthogonal Nicols with respect to the polarizing film. defect (D). On the other hand, the defect (D) of the wrinkle system shown in Fig. 9(d) is a defect (D) caused by wrinkles in the double-sided bonding film F105.

본 실시형태에서는, 공백(K)을 사이에 둔 상류 측의 마크(DM)와 하류 측의 마크(DM) 중, 상류 측에 배치되는 마크(DM)의 수를 결함(D)의 종류에 따라서 다르게 하고 있다. 예컨대, 상류 측에 배치되는 마크(DM)의 수는, 도 9(a)에 도시하는 이물계에서 3개, 도 9(b)에 도시하는 기포계에서 하나, 도 9(c)에 도시하는 휘점계에서 2개, 도 9(d)에 도시하는 주름계에서 4개로 되어 있다. 이에 따라, 상류 측에 배치되는 마크(DM)의 수로부터 결함(D)의 종류를 용이하게 식별할 수 있다. In the present embodiment, the number of marks DM arranged on the upstream side of the marks DM on the upstream side and the marks DM on the downstream side with the space K interposed therebetween is determined according to the type of defect D. doing it differently For example, the number of marks DM arranged on the upstream side is three in the foreign matter system shown in Fig. 9 (a), one in the bubble system shown in Fig. 9 (b), and one in the bubble system shown in Fig. 9 (c). There are two in the bright point system and four in the wrinkle system shown in Fig. 9(d). Accordingly, the type of defect D can be easily identified from the number of marks DM arranged on the upstream side.

또한 본 발명에서는, 상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3) 중 어느 인자 패턴을 변경함으로써 결함(D) 이외의 것에 관한 정보를 기록할 수도 있다.Further, in the present invention, by changing any of the first, second, and third printing patterns PT1, PT2, and PT3 described above, information on things other than the defect D can be recorded.

예컨대, 결함(D) 이외의 것에 관한 정보로서는, 제조 조건이나 제조 장소, 동일 종류의 결함 발생 빈도 및 그 주기성의 유무 등의 제조 정보를 기록할 수 있다. 또한, 이들 제조 정보를 조합함으로써 결함(D)의 발생 원인이나 장소, 공정 등을 특정할 수 있다. 이에 따라, 결함(D)의 원인이 된 설비의 메인터넌스를 행하는 등의 대응에 의해서 결함(D)의 발생을 저감할 수 있게 된다.For example, as information about things other than defects D, manufacturing information such as manufacturing conditions, manufacturing locations, occurrence frequency of defects of the same type, and periodicity can be recorded. In addition, by combining these manufacturing information, it is possible to specify the cause, location, process, etc. of the defect D. Accordingly, it is possible to reduce the occurrence of the defect D by countermeasures such as performing maintenance of the equipment that caused the defect D.

여기서, 상술한 편광 필름의 제조 공정에 있어서, 편광자(PVA)의 양면에 보호 필름(TAC)을 접합하는 공정(제1 공정)에서 결함(D1)이 발생한 경우를 도 10(a)에 도시한다. 또한, 제1 공정 후에, 한쪽의 보호 필름(TAC)의 면 위에 점착제와 세퍼레이터를 접합하는 공정(제2 공정)에서 결함(D2)이 발생한 경우를 도 10(b)에 도시한다. Here, in the manufacturing process of the polarizing film mentioned above, the case where the defect D1 occurred in the process (1st process) of bonding the protective film TAC to both surfaces of the polarizer PVA is shown in FIG. 10 (a). . 10(b) shows a case in which a defect D2 occurs in a step of bonding an adhesive and a separator on one side of the protective film TAC after the first step (second step).

그리고, 제1 공정에서 발생한 결함(D1)에 대해서는, 예컨대 도 11(a)에 도시한 것과 같은 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. 한편, 제2 공정에서 발생한 결함(D2)에 대해서는, 예컨대 도 11(b)에 도시한 것과 같은 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. Then, for the defect D1 generated in the first step, the first printed pattern PT1 and the second printed pattern PT2 as shown in FIG. 11(a) are printed. On the other hand, for the defect D2 generated in the second process, the first printed pattern PT1 and the second printed pattern PT2 as shown in FIG. 11(b) are printed.

이 경우, 도 11(a), 도 11(b)에 도시하는 결함(D1, D2)의 위치에 관해서는, 각각의 결함(D1, D2)을 사이에 둔 양측에 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)을 인자하며 또한 일정한 간격으로 나란한 마크(DM)의 사이에 공백(K)을 둠으로써 그 위치를 표시할 수 있다. In this case, as for the positions of the defects D1 and D2 shown in Figs. 11(a) and 11(b), the first printing patterns PT1 are formed on both sides of the respective defects D1 and D2. The position can be indicated by leaving a space K between the marks DM that print the and the second printing pattern PT2 and are parallel to each other at regular intervals.

또한, 결함(D1, D2)에 기록된 정보에 관해서는, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)에 의해서, 결함(D1, D2)의 종류(결함 정보)와, 제1 공정과 제2 공정의 어느 공정에서 발생한 결함(D1, D2)인지의 정보(제조 정보)가 기록되어 있다. Regarding the information recorded on the defects D1 and D2, the type (defect information) of the defects D1 and D2 is determined by the first and second printing patterns PT1 and PT2. Information (manufacturing information) indicating which of the steps D1 and D2 occurred in the process and the second process is recorded.

구체적으로 결함(D1, D2)의 종류에 관해서는 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)을 구성하는 마크(DM)의 색에 의해서 구별되어 있다. 예컨대, 투과 결함(청), 크로스 결함(적), 반사 결함(녹)과 같이 마크(DM)의 색의 차이에 의해서 결함(D1, D2)의 종류를 식별할 수 있다. Specifically, the types of defects D1 and D2 are distinguished by the color of the marks DM constituting the first and second printing patterns PT1 and PT2. For example, the types of defects D1 and D2 can be identified by the difference in color of the marks DM, such as transmission defects (blue), cross defects (red), and reflection defects (green).

한편, 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)에서는, 공백(K)보다도 상류 측(마크(DM)의 수가 적은 쪽)의 마크(DM)의 수에 의해서, 제1 공정과 제2 공정의 어느 공정에서 발생한 결함(D1, D2)인지의 정보가 기록되어 있다. 예컨대, 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)의 상류 측의 마크(DM)의 수가 하나인 경우는 제1 공정에서 발생한 결함(D1)임을 나타내고, 2개인 경우는 제2 공정에서 발생한 결함(D2)임을 나타내고 있다. On the other hand, in the first and second printing patterns PT1 and PT2, the first step and the second step depend on the number of marks DM on the upstream side of the blank K (the side with the smaller number of marks DM). Information on which defects (D1, D2) occurred in which process is recorded. For example, if the number of marks DM on the upstream side of the first and second printing patterns PT1 and PT2 is one, it indicates a defect D1 generated in the first process, and if there are two, it indicates a defect generated in the second process. (D2) has been shown.

또한, 도 11(b)에 도시하는 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)에 더하여, 도 11(c)에 도시한 것과 같은 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하여도 좋다. 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 마크(DM)의 수에 의해서, 적층된 편광 필름 중 몇 번째의 층에 결함(D2)이 존재하고 있는지의 정보(결함 정보)가 기록되어 있다. 예컨대, 도 11(c)에 도시하는 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는 3개의 마크(DM)에 의해서 구성되어 있기 때문에, 적층 순으로 3번째의 층(TAC)에 결함(D2)이 존재하고 있음을 식별할 수 있다. In addition to the first and second printing patterns PT1 and PT2 shown in Fig. 11(b), a third printing pattern PT3 as shown in Fig. 11(c) may be printed. Regarding the third printed pattern PT3, information (defect information) indicating which layer of the stacked polarizing films has the defect D2 is recorded according to the number of marks DM. For example, since the third printed pattern PT3 shown in Fig. 11(c) is composed of three marks DM, the defect D2 exists in the third layer TAC in the stacking order. It can be identified that

이상과 같이 하여, 본 발명에서는 편광 필름에 대하여 상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT3)을 인자함으로써 결함(D1, D2)의 위치를 표시함과 더불어 그 결함(D1, D2)에 관한 정보 등을 기록할 수 있다.As described above, in the present invention, the positions of the defects D1 and D2 are displayed and the defects D1 and D2 are displayed by printing the above-described first, second and third printed patterns PT3 on the polarizing film. information can be recorded.

또한 본 발명에서는, 예컨대 도 12에 도시하는 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)과 같이, 상술한 공백(K)을 두는 대신에 마크(DM)의 간격을 좁힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 결함(D)의 위치를 표시하여도 좋다. Further, in the present invention, for example, as in the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 shown in FIG. 12, instead of leaving the above-mentioned blank K, the gap between the marks DM is narrowed to bond both sides. You may display the position of the defect D in the conveyance direction (longitudinal direction) of the film F105.

더욱이 본 발명에서는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 결함(D)의 위치를 표시하기 위해서, 상술한 공백(K)을 두는(마크(DM)의 간격을 바꾸는) 대신에, 마크(DM)의 크기를 바꾸거나 제3 인자 패턴(PT3)을 이용하여 결함(D)의 위치를 표시하거나 하는 것도 가능하다. Furthermore, in this invention, in order to display the position of the defect D in the conveyance direction (longitudinal direction) of double-sided bonding film F105, the above-mentioned blank K is provided (the space|interval of mark DM is changed) ), it is also possible to change the size of the mark DM or mark the position of the defect D by using the third printing pattern PT3.

본 발명에서는, 상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3) 중 어느 한 인자 패턴의 조합에 의해서, 예컨대 도 13(a)∼도 13(g)에 도시한 것과 같이, 결함(D)의 주위에 다양한 인자 패턴을 인자하는 것이 가능하다. In the present invention, by combining any one of the above-described first, second and third printing patterns PT1, PT2 and PT3, as shown in FIGS. 13(a) to 13(g), for example, , it is possible to print various printing patterns around the defect D.

이 중, 도 13(a)에 도시하는 인자 패턴에서는, 4개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 4방면에서 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(b)에 도시하는 인자 패턴에서는, 4개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 3방면에서 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(c)에 도시하는 인자 패턴에서는, 5개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 인접하는 2변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(d)에 도시하는 인자 패턴에서는, 6개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 인접하는 3변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(e)에 도시하는 인자 패턴에서는, 14개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 4변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(f)에 도시하는 인자 패턴에서는, 6개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 비스듬히 대향하는 2변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(g)에 도시하는 인자 패턴에서는, 8개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 4방면에서 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. Among these, in the printing pattern shown in Fig. 13(a), the first, second and third printing patterns PT1, PT2 and PT3 are arranged so that the four marks DM surround the defect D from four sides. ) is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13(b), the first, second and third printing patterns PT1, PT2 and PT3 are formed so that the four marks DM surround the defect D from three sides. This has been printed. On the other hand, in the printing pattern shown in FIG. 13(c), the first, second, and third printing patterns PT1, PT2, and PT2 are arranged so that the five marks DM surround the defect D with two adjacent sides. PT3) is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13(d), the first, second and third printing patterns PT1, PT2, PT2, PT2, 6 marks DM surround the periphery of the defect D with three adjacent sides. PT3) is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in FIG. 13(e), the first, second, and third printing patterns PT1, PT2, and PT3 are formed so that 14 marks DM surround the periphery of the defect D on four sides. This has been printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13(f), the first, second and third printing patterns PT1 and PT2 are formed so that the six marks DM surround the periphery of the defect D with two obliquely opposed sides. , PT3) is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13(g), the first, second and third printing patterns PT1, PT2 and PT3 are formed so that eight marks DM surround the defect D from four sides. This has been printed.

또한, 상기 기록 장치(13)는 제2 결함 검사 장치(12)의 하류 측에 배치된 구성으로 되어 있지만, 제1 결함 검사 장치(11)의 하류 측에 배치하는 것도 가능하다. 이 경우, 제1 결함 검사 장치(11)에 의한 결함 검사를 행한 후에 기록 장치(13)에 의한 결함 정보의 기록을 행하는 것이 가능하다. Further, although the recording device 13 has a structure disposed on the downstream side of the second defect inspection device 12, it is also possible to arrange it on the downstream side of the first defect inspection device 11. In this case, it is possible to record the defect information by the recording device 13 after performing the defect inspection by the first defect inspection device 11 .

또한, 상기 기록 장치(13)에 관해서는, 상술한 결함 검사 후에 결함 정보를 기록하는 것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대 장거리 반송 라인에서는, 기록 장치를 복수 배치하여 일정 거리마다 거리 정보를 기록하고, 이 기록된 거리 정보에 기초하여 거리의 보정을 행하는 경우가 있다. 이러한 거리 정보의 기록을 행하는 기록 장치에 관해서는, 예컨대 제1 결함 검사 장치(11)의 상류 측 등에 배치되는 경우가 있다. In addition, with regard to the recording device 13, it is not limited to recording defect information after the defect inspection described above. For example, in a long-distance conveyance line, there is a case where a plurality of recording devices are arranged to record distance information for each fixed distance, and the distance is corrected based on the recorded distance information. Regarding the recording device which records such distance information, it may be arranged, for example, on the upstream side of the first defect inspection device 11 or the like.

또한 상기 기록 장치(13)에 관해서는, 상술한 복수의 노즐부(13b)가 나란하게 배치된 복수의 인자 헤드(13a)를 구비한 구성에 한하지 않고, 예컨대, 트래버스식의 인자 헤드를 이용한 경우에는, 이 인자 헤드를 이동 조작함으로써 필름의 형상이나 반송 방향에 관계없이 결함 부위에 마킹을 실시하는 것이 가능하다. In addition, the recording device 13 is not limited to a configuration including a plurality of printing heads 13a in which a plurality of nozzle units 13b are arranged side by side, for example, using a traverse printing head. In this case, it is possible to mark the defective part regardless of the shape of the film or the conveying direction by operating the printing head.

또한, 결함 마킹 장치(10)는 상기 필름 제조 장치(100)의 일부를 구성하는 것에 한하지 않고, 상기 필름 제조 장치(100)와는 독립된 결함 마킹 장치로 할 수 있다. 구체적으로는, 제3 원반 롤(R3)로부터 풀어내어진 양면 접합 필름(F105)을 반송하는 사이에 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 양면 접합 필름(F105)의 결함 부위에 마킹을 실시한 후, 다시 심재에 권취하는 구성으로 하는 것이 가능하다. In addition, the defect marking device 10 is not limited to constituting a part of the film manufacturing device 100, and may be a defect marking device independent of the film manufacturing device 100. Specifically, while conveying the double-sided bonding film F105 unwound from the third film roll R3, the defect inspection of the double-sided bonding film F105 is performed, and based on the defect inspection result, the double-sided bonding film F105 It is possible to set it as a configuration in which, after marking the defective part of, it is wound around the core material again.

또한, 상기 필름 제조 장치(100)에서는 결함 부위에 마킹을 실시하지 않고, 추가 가공 공정에서 결함 부위에 마킹을 실시하여도 좋다. 구체적으로는 제3 원반 롤(R3)로부터 풀어내어진 양면 접합 필름(F105)을 반송하는 사이에 양면 접합 필름(F105)의 한쪽 또는 양면에 별도의 필름을 접합한 후, 결함 검사를 행하고, 상기 필름 제조 장치(100)의 결함 검사 결과와 맞춰 결함 부위에 마킹을 실시하여도 좋다. In addition, in the film manufacturing apparatus 100, marking may be performed on the defective portion in an additional processing step without marking the defective portion. Specifically, after bonding another film on one side or both sides of the double-sided bonding film F105 while conveying the double-sided bonding film F105 unwound from the third film roll R3, the defect inspection is performed, and the above You may mark a defect part according to the defect inspection result of the film manufacturing apparatus 100.

또한 본 발명의 검사 대상(피검사물)이 되는 원반에 관해서는, 상술한 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름과 같은 광학 필름에 반드시 한정되는 것은 아니며, 결함 부위에 마킹이 실시되는 필름이나 종이 등의 긴 띠 형상의 원반이면 된다. In addition, with regard to the master to be inspected (inspected object) of the present invention, it is not necessarily limited to optical films such as the above-described polarizing film, retardation film, and luminance enhancing film, and films or paper on which a marking is applied to a defective part, etc. It may be a long strip-shaped disc of

또한 본 발명의 검사 대상(피검사물)으로서는, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트(칩)라도 좋다. 즉 본 발명에서는, 상술한 원반을 반송하는 사이에 원반의 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 경우에 한하지 않고, 절단 후에 시트의 결함 검사를 행하고, 그 결함 검사 결과에 기초하여 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하여도 좋다. 또한, 시트의 결함 검사와 시트의 결함 부위에의 마킹을 실시하는 사이에 시트에 대하여 가공 처리(예컨대, 별도의 필름의 접합이나 시트의 표면 처리 등.)를 실시하여도 좋다. 이에 따라, 피검사물이 원반인 경우와 마찬가지로, 피검사물인 시트에 대하여 본 발명의 결함 마킹 방법(장치)을 이용하여 결함의 위치를 표시함과 더불어 그 결함에 관한 정보 등을 기록할 수 있다. 더욱이 본 발명은, 상술한 원반이나 시트 이외에도 본 발명을 적용할 수 있는 것에 대하여 폭넓게 적용할 수 있다.Further, as the inspection object (inspected object) of the present invention, a sheet (chip) obtained by cutting a long strip-shaped disk may be used. That is, in the present invention, the defect inspection of the master is not limited to the case where the master is inspected for defects while the master is conveyed, and the defective portion of the master is marked based on the defect inspection result, and the sheet is inspected for defects after cutting, Based on the defect inspection result, marking may be performed on the defective portion of the sheet. Further, processing may be performed on the sheet (for example, bonding of a separate film or surface treatment of the sheet, etc.) between inspecting the sheet for defects and marking the defective portion of the sheet. Accordingly, similarly to the case where the inspected object is a disk, the defect marking method (apparatus) of the present invention can be used to mark the location of the defect and record information on the defect. Furthermore, the present invention can be widely applied to things to which the present invention can be applied other than the above-described disks and sheets.

100: 필름 제조 장치(원반의 제조 장치), 101: 제1 반송 라인, 102: 제2 반송 라인, 103: 제3 반송 라인, 104: 제4 반송 라인, 105: 제5 반송 라인, 106: 권취부, 111a, 111b: 제1 닙 롤, 112: 제1 어큐뮬레이터, 112a, 112b: 제1 댄서 롤, 113: 제1 가이드 롤, 121a, 121b: 제2 닙 롤, 122: 제2 어큐뮬레이터, 122a, 122b: 제2 댄서 롤, 123a, 123b: 제2 가이드 롤, 131a, 131b: 제3 닙 롤, 141a, 141b: 제4 닙 롤, 142: 제3 어큐뮬레이터, 142a, 142b: 제3 댄서 롤, 143a, 143b: 제4 가이드 롤, 151a, 151b: 제5 닙 롤, 152: 제4 어큐뮬레이터, 152a, 152b: 제4 댄서 롤, 153a: 제5 가이드 롤, 153b: 제6 가이드 롤, 153c: 제7 가이드 롤, 10: 결함 마킹 장치, L: 반송 라인, 11: 제1 결함 검사 장치, 12: 제2 결함 검사 장치, 13: 기록 장치(인자 장치), 13a: 인자 헤드, 13b: 노즐부(인자부), 14: 제1 측장기, 15: 제2 측장기, 16: 제어 장치(제어부), 21a, 22a, 23a, 24a, 25a: 조명부, 21b, 22b, 23b, 24b, 25b: 광검출부, P: 액정 표시 패널(광학 표시 장치), F1X: 광학 필름, F10X: 광학 필름, F101: 제1 필름, F102: 제2 필름, F103: 제3 필름, F104: 편면 접합 필름, F105: 양면 접합 필름(원반), DM: 도트형 마크, LM: 선형 마크, PT1: 제1 인자 패턴, PT2: 제2 인자 패턴, PT3: 제3 인자 패턴, D: 결함, K: 공백 Reference Numerals 100: Film manufacturing apparatus (original manufacturing apparatus), 101: 1st conveyance line, 102: 2nd conveyance line, 103: 3rd conveyance line, 104: 4th conveyance line, 105: 5th conveyance line, 106: winding 111a, 111b: first nip roll, 112: first accumulator, 112a, 112b: first dancer roll, 113: first guide roll, 121a, 121b: second nip roll, 122: second accumulator, 122a, 122b: 2nd dancer roll, 123a, 123b: 2nd guide roll, 131a, 131b: 3rd nip roll, 141a, 141b: 4th nip roll, 142: 3rd accumulator, 142a, 142b: 3rd dancer roll, 143a , 143b: 4th guide roll, 151a, 151b: 5th nip roll, 152: 4th accumulator, 152a, 152b: 4th dancer roll, 153a: 5th guide roll, 153b: 6th guide roll, 153c: 7th 10: defect marking device, L: transfer line, 11: first defect inspection device, 12: second defect inspection device, 13: recording device (printing device), 13a: printing head, 13b: nozzle unit (printing device) 21a, 22a, 23a, 24a, 25a: lighting unit, 21b, 22b, 23b, 24b, 25b: photodetector, P: liquid crystal display panel (optical display device), F1X: optical film, F10X: optical film, F101: first film, F102: second film, F103: third film, F104: single-sided bonding film, F105: double-sided bonding film (original), DM: dot mark, LM: linear mark, PT1: 1st imprint pattern, PT2: 2nd imprint pattern, PT3: 3rd imprint pattern, D: defect, K: blank

Claims (20)

피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 결함 마킹 방법으로서,
상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록, 상기 피검사물의 표면에 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하고,
상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴은 각각, 상기 하나의 방향으로 나란하고 또한 적어도 일부의 간격을 변경한 복수의 마크로 구성되고,
상기 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백은, 상기 다른 방향에 있어서 상기 결함과 인접하는 위치에 배치되어, 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치를 표시하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법.
As a defect marking method for marking a defect part of an object to be inspected,
The first printed pattern and the second printed pattern are formed on the surface of the inspected object so that a defect is located between the adjacent first printed pattern and the second printed pattern in another direction intersecting one direction in the plane of the inspected object. printing the second printing pattern;
The first printing pattern and the second printing pattern are each composed of a plurality of marks parallel to the one direction and at least partially spaced apart,
A defect marking method according to claim 1 , wherein a blank space between at least a part of the plurality of marks is arranged at a position adjacent to the defect in the other direction to indicate the position of the defect in the one direction. .
제1항에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to claim 1, wherein information on the defect is recorded by one or both of the first and second printing patterns. 제2항에 있어서, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서, 도트형의 마크를 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to claim 2, wherein a plurality of dot-shaped marks are printed side by side in the one direction as one or both of the printing patterns. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서, 선형의 마크를 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to claim 2 or 3, wherein a plurality of linear marks are printed side by side in one direction as one or both of the printing patterns. 제3항에 있어서, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to claim 3, wherein the information on the defect is recorded using a printing pattern in which at least one of the number, spacing, size, and color of the marks is changed. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 인자함으로써 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The method according to any one of claims 1 to 3, wherein in the other direction, a third printed pattern adjacent to one or both of the first printed pattern and the second printed pattern is printed to determine the defect. A defect marking method characterized by recording information. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보를 기록하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. 4. The defect marking method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that information on other than the defect is recorded by said certain printing pattern. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 인자 패턴을 지워버릴 수 있는 잉크를 이용하여 인자하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to any one of claims 1 to 3, wherein the printing pattern is printed using erasable ink. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 피검사물로서, 상기 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that a defective portion of a long strip-shaped disk conveyed in the one direction is marked as the inspected object. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 피검사물로서, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. The defect marking method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that a defective portion of a sheet obtained by cutting a long strip-shaped disk as the inspection object is marked. 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과,
제9항에 기재된 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 원반의 제조 방법.
A step of performing a defect inspection on a long strip-shaped master conveyed in one direction;
A method for manufacturing a master, comprising a step of marking a defective portion of the master using the defect marking method according to claim 9.
긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과,
제10항에 기재된 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 시트의 제조 방법.
A step of performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped master;
A method for manufacturing a sheet, comprising a step of marking a defective portion of the sheet using the defect marking method according to claim 10.
피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 인자 장치를 구비하고,
상기 인자 장치는, 상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향으로 소정의 간격으로 나란히 배치됨과 더불어 상기 피검사물의 표면에 인자 패턴을 인자하는 복수의 인자부와, 상기 복수의 인자부의 구동을 제어하는 제어부를 가지고,
상기 제어부는, 상기 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하는 인자부를 선택하는 제어를 행하고,
상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴은 각각, 상기 하나의 방향으로 나란하고 또한 적어도 일부의 간격을 변경한 복수의 마크로 구성되고,
상기 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백은, 상기 다른 방향에 있어서 상기 결함과 인접하는 위치에 배치되어, 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치를 표시하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 장치.
A printing device for marking a defective part of an object to be inspected is provided;
The printing device includes a plurality of printing parts arranged side by side at predetermined intervals in another direction intersecting one direction in the surface of the inspection subject and printing a printing pattern on the surface of the inspection subject; Has a control unit for controlling the driving of the printing unit;
The control unit performs control to select a printing unit for printing the first printing pattern and the second printing pattern so that a defect is located between the adjacent first printing pattern and the second printing pattern in the different direction;
The first printing pattern and the second printing pattern are each composed of a plurality of marks parallel to the one direction and at least partially spaced apart,
The defect marking device according to claim 1 , wherein a blank space between at least a part of the plurality of marks is arranged at a position adjacent to the defect in the other direction, and indicates the position of the defect in the one direction. .
제13항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함에 관한 정보에 따라서 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 장치. 14. The method of claim 13, wherein the control unit prints one or both of the first and second printing patterns according to information on the defect to be recorded with respect to either or both of the selected printing units. A defect marking device characterized by performing control to change a pattern. 결함 부위에 마킹이 실시된 긴 띠 형상의 원반으로서,
상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 짧은 길이 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하고,
상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴은 각각, 상기 원반의 긴 길이 방향으로 나란하고 또한 적어도 일부의 간격을 변경한 복수의 마크로 구성되고,
상기 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백은, 상기 원반의 상기 짧은 길이 방향에 있어서 상기 결함과 인접하는 위치에 배치되어, 상기 긴 길이 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 원반.
A long strip-shaped disk in which marking is applied to the defective part,
It is printed on the surface by the marking, has a first printed pattern and a second printed pattern adjacent in the short length direction, and a defect is located between the first printed pattern and the second printed pattern;
The first printing pattern and the second printing pattern are each composed of a plurality of marks parallel to each other in the longitudinal direction of the master and at least partially spaced apart,
The space between at least a part of the plurality of marks is arranged at a position adjacent to the defect in the short longitudinal direction of the master, and the position of the defect in the long longitudinal direction is indicated. discus.
제15항에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 것을 특징으로 하는 원반. 16. The master according to claim 15, wherein the defect-related information is recorded by one or both of the first and second printing patterns. 결함 부위에 마킹이 실시된 시트로서,
상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하고,
상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴은 각각, 상기 하나의 방향으로 나란하고 또한 적어도 일부의 간격을 변경한 복수의 마크로 구성되고,
상기 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백은, 상기 다른 방향에 있어서 상기 결함과 인접하는 위치에 배치되어, 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 시트.
A sheet on which a marking is applied to a defective part,
It is printed on the surface by the marking, has a first printed pattern and a second printed pattern adjacent to each other in another direction crossing one direction, and a defect is located between the first printed pattern and the second printed pattern. ,
The first printing pattern and the second printing pattern are each composed of a plurality of marks parallel to the one direction and at least partially spaced apart,
A sheet according to claim 1, wherein the blanks vacated at least part of the gaps of the plurality of marks are arranged at positions adjacent to the defects in the other directions, and the positions of the defects in the one direction are indicated.
제17항에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 것을 특징으로 하는 시트. 18. The sheet according to claim 17, characterized in that information on the defect is recorded by one or both of the first printed pattern and the second printed pattern. 삭제delete 삭제delete
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