KR20180101210A - Defect marking method and defect marking apparatus, web manufacturing method and the web, and sheet manufacturing method and the sheet - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect marking method and a defect marking apparatus, a method for manufacturing a disc, a disc, and a method for manufacturing a sheet and a sheet.
예컨대, 수지 필름이나 종이 등의 긴 띠 형상의 원반의 제조 공정에서는, 원반을 반송하는 사이에 원반 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 원반의 결함 부위에 마킹(이하, 결함 마킹이라고 한다.)을 실시하고 있다(예컨대, 특허문헌 1∼4 참조.). For example, in the manufacturing process of a long strip-shaped disc such as a resin film or paper, the disc defect inspection is carried out while the disc is being transported, and marking (hereinafter referred to as defect marking) on the defect portion of the disc is performed based on the defect inspection result. (See, for example, Patent Documents 1 to 4).
또한, 액정 표시 패널에 사용되는 편광판 등의 광학 필름(시트)의 제조 공정에서는, 결함의 위치나 종류, 사이즈, 검사 방법 등의 결함에 관한 정보(이하, 결함 정보라고 한다.)를 광학 필름의 단연부를 따른 특정 영역(이하, 기록 영역이라고 한다.)에 인자 헤드를 이용하여 기록(인자)하는 것도 이루어지고 있다. Further, in the process of manufacturing an optical film (sheet) such as a polarizing plate used for a liquid crystal display panel, information (hereinafter referred to as defect information) about defects such as position, kind, size, (Printing) is performed by using a print head on a specific area (hereinafter referred to as a recording area) along the edge.
광학 필름은, 결함 정보의 기록이 완료된 후에 심재에 권취되고, 권취량이 일정량에 달하면, 반송 방향 상류 측의 광학 필름으로부터 분리되어 원반 롤로서 출하된다. 원반 롤로부터는, 제품 사양에 따라 미리 정해진 크기나 방향으로 컷트된 시트(칩)가 잘라내어진다. 또한, 결함 부분에 대해서는 제품으로부터 제외되어 파기된다. The optical film is wound around the core after the recording of the defect information is completed. When the amount of winding reaches a certain amount, the optical film is separated from the optical film on the upstream side in the carrying direction and shipped as a disk roll. A sheet (chip) cut in a predetermined size or direction according to the product specifications is cut out from the disc roll. Also, defective parts are excluded from the product and discarded.
그런데, 상술한 종래의 결함 마킹에서는, 원반으로부터 결함 부분을 잘라냈을 때에, 마킹과 결함 사이에서 절단됨으로써, 절단에 의해 잘라내어진 측과 절단에 의해 잘려 남겨진 측의 어디에 결함이 위치하고 있는 것인지, 절단 후에 결함 위치가 불분명하게 되는 경우가 있었다. However, in the conventional defect marking described above, when the defect portion is cut out from the disc, it is cut between the marking and the defect so that the defect is located on the side cut off by cutting and on the side cut off by cutting, The defect position may become unclear in some cases.
또한, 상기 특허문헌 2에 기재된 발명에서는, 상처 마크를 붙임으로써 결함 부위에 마킹을 실시하고 있다. 그러나, 상처 마크를 붙인 경우, 결함 검사 후에 상처 마크를 지워버리기가 불가능하다. 이 경우, 마킹 후에 눈으로 확인하는 검사(검품)에 의해서는 결함 부분이 제품으로서 허용되는 경우도 있다. 그러나, 상처 마크를 붙인 경우는 제품으로서 사용할 수 없게 되어 버린다. In the invention described in
한편, 상술한 종래의 결함 마킹에서는 결함 부위에 마킹을 실시함으로써 결함의 위치만을 표시하는 것이 일반적이다. 따라서, 종래의 결함 마킹에서는 상술한 결함 정보에 관해서는 기록되어 있지 않다. 이 때문에, 예컨대 출하 전에 원반 롤을 재검품할 때에, 결함 정보가 필요한 경우는, 결함 정보를 기록 영역 등에 별도 기록해 둘 필요가 있다. On the other hand, in the conventional defect marking described above, it is general to mark only the position of the defect by marking the defect part. Therefore, in the conventional defect marking, the above-described defect information is not recorded. Therefore, when defect information is required, for example, when re-inspecting the original roll before shipment, it is necessary to separately record the defect information in the recording area or the like.
본 발명은 이러한 종래의 사정에 감안하여 제안된 것으로, 결함의 위치를 표시하는 데 적합한 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트를 제공하는 것을 목적으로 한다. DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been proposed in view of such conventional circumstances, and it is an object of the present invention to provide a defect marking method and defect marking apparatus suitable for indicating the position of a defect, a method for manufacturing a disc, do.
상기 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 본 발명의 양태에 따르면, 피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 결함 마킹 방법으로서, 상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록 상기 피검사물의 표면에 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법이 제공된다. As a means for solving the above problems, according to an aspect of the present invention, there is provided a defect marking method for marking a defective portion of an object to be inspected, comprising the steps of: The first and second pattern patterns are printed on the surface of the object so that a defect is located between the first pattern pattern and the second pattern pattern.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above embodiment, a method of recording information on the defect by either or both of the first print pattern and the second print pattern may be used.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서, 도트형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above-described aspect, a method of printing at least one dot-shaped mark or a plurality of marks in a single direction may be used as either or both of the above-mentioned print patterns.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서, 선형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above embodiment, either one or both of the above-mentioned print patterns may be used in which a plurality of linear marks are printed side by side in at least one or in one direction.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상을 변경함으로써 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, a method of recording information on the defect by changing at least one of the number, the interval, the size, and the color of the marks.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치를 표시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above embodiment, the position of the defect in the one direction may be displayed by a printing pattern in which the interval of at least a part of the plurality of marks arranged in the one direction is changed.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치함으로써, 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치를 표시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above-described aspect, a blank space in which at least a part of a plurality of marks arranged side by side in the one direction is vacated is disposed at a position adjacent to the defect so that the position of the defect in the one direction is It may be displayed.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 인자함으로써 상기 결함에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above aspect, information on the defect is recorded by printing a third factor pattern adjacent to one or both of the first factor pattern and the second factor pattern in the other direction The method is good.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보를 기록하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above-described aspect, a method of recording information about the defect other than the defect by the above-mentioned factor pattern.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 인자 패턴을 지워버릴 수 있는 잉크를 이용하여 인자하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above embodiment, a method of printing using an ink capable of erasing the printing pattern may be employed.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 피검사물로서, 상기 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above embodiment, as the inspection object, marking may be performed on the defective portion of the long strip-shaped disc conveyed in the one direction.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 방법에서는, 상기 피검사물로서, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 방법이라도 좋다. Further, in the defect marking method of the above-described embodiment, marking may be performed on the defective portion of the sheet obtained by cutting the long strip-shaped disc as the inspection object.
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과, 상기 어느 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 원반을 상기 하나의 방향으로 반송하는 사이에, 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 원반의 제조 방법이 제공된다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a magnetic recording medium, comprising the steps of: performing a defect inspection on a long strip-shaped disc transported in one direction; And performing marking on the defective portion of the disc based on the defect inspection result.
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과, 상기 어느 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 시트의 제조 방법이 제공된다. According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a sheet, comprising the steps of: performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped disk; and a step of marking a defective portion of the sheet based on the defect inspection result using any of the defect marking methods The method comprising the steps of: preparing a sheet;
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 피검사물의 결함 부위에 마킹을 실시하는 인자 장치를 구비하고, 상기 인자 장치가, 상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향으로 소정의 간격으로 나란하게 배치됨과 더불어, 상기 피검사물의 표면에 인자 패턴을 인자하는 복수의 인자부와, 상기 복수의 인자부의 구동을 제어하는 제어부를 가지고, 상기 제어부가, 상기 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하는 인자부를 선택하는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 장치가 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, there is provided a printing apparatus that performs marking on a defective portion of an inspected object, wherein the printing apparatus includes: And a control unit for controlling the driving of the plurality of printing units, wherein the control unit is configured to control the driving of the plurality of printing units, And controls to select a printing unit that prints the first printing pattern and the second printing pattern so that a defect is located between the printing pattern and the second printing pattern.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함에 관한 정보에 따라서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the deficiency marking apparatus of the above aspect, the control unit may set the first print pattern and the second print pattern in accordance with the information about the defect to be recorded for one or both of the selected print units A configuration may be employed in which control is performed to change either one or both of the printing patterns.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 도트형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking apparatus of the above-described aspect, it is also possible to adopt a configuration in which at least one dot-shaped mark is printed as one or both of the print patterns, or a plurality of marks are printed side by side in the one direction.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 선형의 마크를 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자하는 구성이라도 좋다. Further, in the defect marking apparatus of the above-described aspect, linear mark may be printed as one or both of the above-mentioned print patterns in parallel or in parallel in the one direction.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상을 변경하는 구성이라도 좋다. Further, the defect marking apparatus of the above-described aspect may be configured to change at least one of the number, spacing, size, and color of the marks.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 인자부에 대하여 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. In the deficiency marking apparatus of the above aspect, the control section may control to change at least a part of the plurality of marks arranged in the one direction with respect to the selected one of the printing sections.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 인자부에 대하여, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the deficiency marking apparatus of the above aspect, the control section arranges, at a position adjacent to the defect, a space in which at least a part of the plurality of marks arranged in the one direction is empty, Control may be performed.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 인자하는 인자부를 선택하고, 이 선택된 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함에 관한 정보에 따라서 상기 제3 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. Further, in the deficiency marking apparatus of the above aspect, the controller may select a printing unit that prints a third printing pattern adjacent to either or both of the first printing pattern and the second printing pattern in the other direction And control is performed to change the third factor pattern according to the information about the defect to be recorded for one or both of the selected print portions.
또한, 상기 양태의 결함 마킹 장치에 있어서, 상기 제어부는, 상기 선택된 어느 인자부에 대하여, 기록하여야 할 상기 결함 이외의 것에 관한 정보에 따라서 상기 어느 인자 패턴을 변경하는 제어를 행하는 구성이라도 좋다. In the deficiency marking apparatus of the above aspect, the control section may be configured to perform control to change any one of the printing patterns in accordance with information about the selected printing section other than the defects to be recorded.
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 하나의 방향으로 반송되는 긴 띠 형상의 원반에 대하여 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 상기 어느 결함 마킹 장치를 구비하고, 상기 원반을 상기 하나의 방향으로 반송하는 사이에, 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 원반의 제조 장치가 제공된다. Further, according to an aspect of the present invention, there is provided a defect inspection apparatus comprising: a defect inspection apparatus for performing defect inspection on a long strip-shaped disc transported in one direction; and a defect inspection apparatus provided with any of the defect marking apparatuses, And marking the defective portion of the disc based on the result of the defect inspection.
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트에 대하여 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 상기 어느 결함 마킹 장치를 구비하고, 상기 결함 검사 결과에 기초하여 상기 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 것을 특징으로 하는 시트의 제조 장치가 제공된다. According to an aspect of the present invention, there is provided a defect inspection apparatus comprising: a defect inspection apparatus for performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped disc; a defect inspection apparatus provided with any of the defect marking apparatuses, And the marking is performed on the portion of the sheet.
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 결함 부위에 마킹이 실시된 긴 띠 형상의 원반으로서, 상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 짧은 길이 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치함으로써 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 원반이 제공된다. According to an aspect of the present invention, there is provided a disc-shaped disc having a mark formed on a defect portion, wherein the disc is printed on the surface by the marking, and the first print pattern and the second print pattern, Wherein a position of the defect is indicated by a defect located between the first print pattern and the second print pattern.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above embodiment, the information about the defect may be recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 도트형의 마크가 적어도 하나 또는 긴 길이 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above-described aspect, it is also possible to adopt a constitution in which a dot-like mark is printed as one or both of the above-mentioned print patterns in parallel in a longitudinal direction.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 선형의 마크가 적어도 하나 또는 긴 길이 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above-described aspect, it is also possible to adopt a constitution in which a linear mark is printed as one or both of the above-mentioned print patterns in parallel in at least one or a long longitudinal direction.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상이 변경되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above embodiment, any one or more of the number, spacing, size, and color of the marks may be changed.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 긴 길이 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 긴 길이 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above aspect, the position of the defect in the long direction may be indicated by a printing pattern in which intervals of at least a part of a plurality of marks arranged in the longitudinal direction are changed.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 긴 길이 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치함으로써, 상기 긴 길이 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the disk of the above-described aspect, the position of the defect in the long longitudinal direction is displayed by arranging a blank space in which at least a part of a plurality of marks arranged in parallel in the longitudinal direction is vacated, at a position adjacent to the defect .
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 짧은 길이 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 가지고, 상기 제3 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the disc of the above-described aspect, in the short-length direction, a third factor pattern adjacent to either one or both of the first factor pattern and the second factor pattern is provided, May be recorded.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above-described aspect, it is also possible to have a configuration in which information about something other than the defect is recorded by any of the above-mentioned pattern patterns.
또한, 상기 양태의 원반에서는, 상기 인자 패턴이 지워버릴 수 있는 잉크에 의해 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the master of the above embodiment, the printing pattern may be printed by the ink which may be erased.
또한, 본 발명의 양태에 따르면, 결함 부위에 마킹이 실시된 시트로서, 상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치함으로써 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 시트가 제공된다. According to an aspect of the present invention, there is provided a sheet on which a mark is formed on a defective portion, the first and second print patterns being printed on the surface by the marking and adjacent to each other in a direction crossing one direction, And the position of the defect is indicated by the position of the defect between the first print pattern and the second print pattern.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above embodiment, the information about the defect may be recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 도트형의 마크가 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above embodiment, it is also possible to adopt a configuration in which at least one dot-shaped mark is printed as one or both of the above-mentioned print patterns, or a plurality of marks are printed side by side in the one direction.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴으로서 선형의 마크가 적어도 하나 또는 상기 하나의 방향으로 복수로 나란하게 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above-described aspect, either one or both of the printing patterns may be printed with at least one linear mark or a plurality of linear marks in the one direction.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 마크의 수, 간격, 사이즈, 색 중 어느 하나 이상이 변경되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above embodiment, any one or more of the number, spacing, size, and color of the marks may be changed.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 변경한 인자 패턴에 의해서 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above embodiment, the position of the defect in the one direction may be displayed by a printing pattern in which the interval of at least a part of the plurality of marks arranged in the one direction is changed.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 하나의 방향으로 나란한 복수의 마크의 적어도 일부의 간격을 비운 공백을 상기 결함과 인접하는 위치에 배치함으로써 상기 하나의 방향에 있어서의 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above-described aspect, the position of the defect in the one direction is displayed by disposing a blank space in which at least a part of the plurality of marks parallel to each other in the one direction is empty at a position adjacent to the defect .
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 다른 방향에 있어서, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴을 가지고, 상기 제3 인자 패턴에 의해서 상기 결함에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above embodiment, it is preferable that the sheet has a third printing pattern adjacent to either or both of the first printing pattern and the second printing pattern in the other direction, May be recorded.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 어느 인자 패턴에 의해서 상기 결함 이외의 것에 관한 정보가 기록되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above-described embodiment, the information on something other than the defect may be recorded by the above-mentioned factor pattern.
또한, 상기 양태의 시트에서는, 상기 인자 패턴이 지워버릴 수 있는 잉크에 의해 인자되어 있는 구성이라도 좋다. Further, in the sheet of the above embodiment, the printing pattern may be printed by the ink which may be erased.
이상과 같이, 본 발명의 양태에 따르면, 결함의 위치를 표시하는 데 적합한 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트를 제공할 수 있다. As described above, according to the aspect of the present invention, it is possible to provide a defect marking method and defect marking apparatus, a method of manufacturing a disc, a disc, and a method of manufacturing a sheet and a sheet suitable for displaying a position of a defect.
도 1은 액정 표시 패널의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 2는 도 1 중에 도시하는 액정 표시 패널의 단면도이다.
도 3은 광학 필름의 일례를 도시하는 단면도이다.
도 4는 필름 제조 장치 및 결함 마킹 장치의 구성을 도시하는 측면도이다.
도 5는 도 4에 도시하는 결함 마킹 장치의 구성을 도시하는 평면도이다.
도 6은 도트형의 마크에 의해 인자된 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 7은 선형의 마크에 의해 인자된 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 8은 제3 인자 패턴을 추가한 예를 도시하는 평면도이다.
도 9는 결함의 종류와 그 인자 패턴의 차이를 예시하는 평면도이다.
도 10은 제1 제조 공정과 제2 제조 공정에서 발생한 결함을 도시하는 단면도이다.
도 11은 제1 제조 공정과 제2 제조 공정에서 발생한 결함에 대하여 인자된 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 12는 제1 인자 패턴 및 제2 인자 패턴의 변형예를 도시하는 평면도이다.
도 13은 인자 패턴의 조합을 예시하는 평면도이다. 1 is a plan view showing an example of a liquid crystal display panel.
2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display panel shown in Fig.
3 is a sectional view showing an example of an optical film.
4 is a side view showing the construction of the film producing apparatus and the defect marking apparatus.
5 is a plan view showing a configuration of the defect marking apparatus shown in Fig.
6 is a plan view showing an example of a first print pattern and a second print pattern printed by dot-shaped marks.
7 is a plan view showing an example of a first print pattern and a second print pattern printed by a linear mark.
8 is a plan view showing an example in which a third factor pattern is added.
9 is a plan view illustrating the difference between types of defects and their factor patterns.
10 is a cross-sectional view showing defects generated in the first manufacturing step and the second manufacturing step.
11 is a plan view showing an example of a first factor pattern and a second factor pattern printed on a defect occurring in the first manufacturing process and the second manufacturing process.
12 is a plan view showing a modified example of the first print pattern and the second print pattern.
13 is a plan view illustrating a combination of printing patterns.
이하, 본 발명의 실시형태에 관해서 도면을 참조하여 상세히 설명한다. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
본 실시형태에서는, 예컨대 광학 표시 장치의 생산 시스템으로서, 그 일부를 구성하는 필름 제조 장치(원반의 제조 장치) 및 이 필름 제조 장치를 이용한 필름 제조 방법(원반의 제조 방법)에 관해서 설명한다. In this embodiment, for example, as a production system of an optical display device, a film production apparatus (a production apparatus of a master) constituting a part thereof and a film production method (a production method of a master) using the film production apparatus are described.
필름 제조 장치는, 예컨대 액정 표시 패널이나 유기 EL 표시 패널 등의 패널형 광학 표시 부품(광학 표시 패널)에 접합되는, 예컨대 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름 등의 필름형의 광학 부재(광학 필름)를 제조하는 것이다. 필름 제조 장치는, 이러한 광학 표시 부품이나 광학 부재를 포함하는 광학 표시 장치를 생산하는 생산 시스템의 일부를 구성하고 있다. The film production apparatus includes a film-like optical member (optical film) such as a polarizing film, a retardation film, and a brightness enhancement film bonded to a panel-shaped optical display component (optical display panel) such as a liquid crystal display panel or an organic EL display panel ). The film production apparatus constitutes a part of a production system for producing such an optical display unit or an optical display unit including the optical member.
본 실시형태에서는 광학 표시 장치로서 투과형 액정 표시 장치를 예시하고 있다. 투과형 액정 표시 장치는 액정 표시 패널과 백라이트를 개략 구비하고 있다. 이 액정 표시 장치에서는, 백라이트로부터 출사된 조명광을 액정 표시 패널의 이면 측에서 입사하고, 액정 표시 패널에 의해 변조된 빛을 액정 표시 패널의 표면 측에서 출사함으로써 화상을 표시할 수 있다. In the present embodiment, a transmissive liquid crystal display device is exemplified as an optical display device. The transmissive liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel and a backlight. In this liquid crystal display device, an image can be displayed by causing the illumination light emitted from the backlight to enter from the rear side of the liquid crystal display panel and emitting the light modulated by the liquid crystal display panel from the front side of the liquid crystal display panel.
(광학 표시 장치)(Optical display device)
우선, 광학 표시 장치로서 도 1 및 도 2에 도시하는 액정 표시 패널(P)의 구성에 관해서 설명한다. 여기서, 도 1은 액정 표시 패널(P)의 구성을 도시하는 평면도이다. 도 2는 도 1 중에 도시하는 절단선 A-A에 의한 액정 표시 패널(P)의 단면도이다. 한편, 도 2에서는 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다. First, the configuration of the liquid crystal display panel P shown in Figs. 1 and 2 will be described as an optical display device. Here, Fig. 1 is a plan view showing the configuration of the liquid crystal display panel P. Fig. Fig. 2 is a sectional view of the liquid crystal display panel P taken along the line A-A shown in Fig. On the other hand, in FIG. 2, the illustration of the hatching indicating the cross section is omitted.
액정 표시 패널(P)은, 도 1 및 도 2에 도시한 것과 같이, 제1 기판(P1)과, 제1 기판(P1)에 대향하여 배치된 제2 기판(P2)과, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2)의 사이에 배치된 액정층(P3)을 개략 구비하고 있다. 1 and 2, the liquid crystal display panel P includes a first substrate P1, a second substrate P2 disposed opposite to the first substrate P1, a first substrate P1 And a liquid crystal layer P3 disposed between the first substrate P1 and the second substrate P2.
제1 기판(P1)은 평면에서 봤을 때 장방형을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 제2 기판(P2)은 제1 기판(P1)보다도 비교적 소형의 장방형을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 액정층(P3)은, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2) 사이의 주위를 시일재(도시하지 않음.)로 밀봉하여, 시일재에 의해서 둘러싸인 평면에서 봤을 때 장방형을 이루는 영역의 내측에 배치되어 있다. 액정 표시 패널(P)에서는, 평면에서 봤을 때 액정층(P3) 외주의 내측에 수습되는 영역을 표시 영역(P4)으로 하고, 이 표시 영역(P4)의 주위를 둘러싸는 외측의 영역을 액자부(G)로 한다. The first substrate P1 is made of a transparent substrate having a rectangular shape when viewed in a plan view. The second substrate P2 is made of a transparent substrate having a rectangular shape that is relatively smaller than the first substrate P1. The liquid crystal layer P3 is formed by sealing the periphery between the first substrate P1 and the second substrate P2 with a sealing material (not shown) to form a liquid crystal layer P3 having a rectangular shape when viewed from the plane surrounded by the sealing material Respectively. In the liquid crystal display panel P, a region to be humidified on the inner side of the outer periphery of the liquid crystal layer P3 as viewed in a plan view is defined as a display region P4, and an outer region surrounding the periphery of the display region P4, (G).
액정 표시 패널(P)의 이면(백라이트 측)에는, 편광 필름으로서의 제1 광학 필름(F11)과, 이 제1 광학 필름(F11)에 겹쳐 휘도 향상 필름으로서의 제3 광학 필름(F13)이 순차 적층되어 접합되어 있다. 액정 표시 패널(P)의 표면(표시면 측)에는 편광 필름으로서의 제2 광학 필름(F12)이 접합되어 있다. 이하, 제1, 제2 및 제3 광학 필름(F11, F12, F13)을 광학 필름(F1X)이라고 총칭하는 경우가 있다. A first optical film F11 as a polarizing film and a third optical film F13 as a brightness enhancement film which are superimposed on the first optical film F11 are sequentially laminated on the rear surface (backlight side) of the liquid crystal display panel P Respectively. A second optical film F12 as a polarizing film is bonded to the surface (display surface side) of the liquid crystal display panel P. Hereinafter, the first, second and third optical films F11, F12 and F13 are collectively referred to as an optical film F1X.
(광학 필름)(Optical film)
이어서, 도 3에 도시하는 광학 필름(F1X)을 구성하는 광학 시트(FX)의 일례에 관해서 설명한다. 여기서, 도 3은 광학 시트(FX)의 구성을 도시하는 단면도이다. 한편, 도 3에서는 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다. Next, an example of the optical sheet FX constituting the optical film F1X shown in Fig. 3 will be described. Here, FIG. 3 is a sectional view showing the structure of the optical sheet FX. On the other hand, in FIG. 3, the illustration of the hatching representing the cross section is omitted.
광학 필름(F1X)은, 도 3에 도시하는 긴 띠 형상의 광학 시트(원반)(FX)로부터 소정 길이의 시트편(칩)을 잘라냄으로써 얻어진다. 구체적으로 이 광학 시트(FX)는, 기재 시트(F4)와, 기재 시트(F4)의 한쪽의 면(도 3 중 상면)에 마련된 점착층(F5)과, 점착층(F5)을 통해 기재 시트(F4)의 한쪽의 면에 마련된 세퍼레이터 시트(F6)와, 기재 시트(F4)의 다른 쪽의 면(도 3 중 하면)에 마련된 표면 보호 시트(F7)를 갖는다. The optical film F1X is obtained by cutting out a sheet piece (chip) of a predetermined length from an optical sheet (original plate) FX of a long strip shape shown in Fig. Specifically, this optical sheet FX is composed of a base sheet F4, an adhesive layer F5 provided on one surface (upper surface in Fig. 3) of the base sheet F4, and an adhesive layer F5 provided on the base sheet A separator sheet F6 provided on one surface of the base sheet F4 and a surface protection sheet F7 provided on the other surface (bottom surface in Fig. 3) of the base sheet F4.
기재 시트(F4)는, 예컨대 편광 필름의 경우, 편광자(F4a)를 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c)이 사이에 끼우는 구조를 갖고 있다. 점착층(F5)은 시트편(광학 필름(F1X))을 액정 표시 패널(P)에 점착시키는 것이다. 세퍼레이터 시트(F6)는 점착층(F5)을 보호하는 것으로, 시트편(광학 필름(F1X))을 액정 표시 패널(P)에 접합하기 전에 점착층(F5)으로부터 박리된다. 또한, 광학 필름(F1X)으로부터 세퍼레이터 시트(F6)를 제외한 부분은 접합 시트(F8)가 된다. The base sheet F4 has a structure in which, for example, in the case of a polarizing film, the polarizer F4a sandwiches the pair of protective films F4b and F4c. The adhesive layer F5 adheres the sheet piece (optical film F1X) to the liquid crystal display panel P. [ The separator sheet F6 protects the adhesive layer F5 and is peeled from the adhesive layer F5 before the sheet piece (optical film F1X) is bonded to the liquid crystal display panel P. [ Further, a portion of the optical film F1X excluding the separator sheet F6 becomes a bonded sheet F8.
표면 보호 시트(F7)는 기재 시트(F4)의 표면을 보호하는 것이다. 표면 보호 시트(F7)는, 시트편(광학 필름(F1X))이 액정 표시 패널(P)에 점착된 후에 시트편(광학 필름(F1X))의 표면으로부터 박리된다. The surface protective sheet F7 protects the surface of the base sheet F4. The surface protective sheet F7 is peeled from the surface of the sheet piece (optical film F1X) after the sheet piece (optical film F1X) is adhered to the liquid crystal display panel P.
또한, 기재 시트(F4)에 관해서는 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c) 중 어느 한쪽을 생략한 구성으로 하여도 좋다. 예컨대, 점착층(F5) 측의 보호 필름(F4b)을 생략하고, 편광자(F4a)에 점착층(F5)이 직접 형성된 구성으로 할 수 있다. 또한, 표면 보호 시트(F7) 측의 보호 필름(F4c)에는, 예컨대 액정 표시 패널(P)의 가장 바깥면을 보호하는 하드코트 처리나 방현 효과를 얻을 수 있는 안티글레어 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또한, 기재 시트(F4)에 관해서는 상술한 적층 구조로 된 것에 한하지 않고, 단층 구조로 된 것이라도 좋다. 또한, 표면 보호 시트(F7)에 관해서는 생략하는 것도 가능하다. Further, the base sheet F4 may be configured such that either one of the pair of protective films F4b and F4c is omitted. For example, the protective film F4b on the side of the adhesive layer F5 may be omitted, and the adhesive layer F5 may be directly formed on the polarizer F4a. The protective film F4c on the side of the surface protective sheet F7 is subjected to a surface treatment such as an anti-glare treatment capable of obtaining hard coat treatment or antiglare effect for protecting the outermost surface of the liquid crystal display panel . The substrate sheet F4 is not limited to the above-described laminated structure, and may be a single-layer structure. The surface protective sheet F7 may be omitted.
(필름 제조 장치 및 필름 제조 방법)(Film Production Apparatus and Film Production Method)
이어서, 도 4에 도시하는 필름 제조 장치(100)에 관해서 설명한다. 여기서, 도 4는 필름 제조 장치(100)의 구성을 도시하는 측면도이다. Next, the
필름 제조 장치(100)는, 도 4에 도시한 것과 같이, 예컨대, 편광 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)의 한 면에, 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 접합한 후, 제1 필름(F101)의 다른 면에 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 접합함으로써, 제1 필름(F101)의 양면에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 광학 필름(F10X)을 제조하는 것이다. As shown in Fig. 4, the
구체적으로 이 필름 제조 장치(100)는 제1 반송 라인(101)과 제2 반송 라인(102)과 제3 반송 라인(103)과 제4 반송 라인(104)과 제5 반송 라인(105)과 권취부(106)를 개략 구비하고 있다. Specifically, the
이 중, 제1 반송 라인(101)은 제1 필름(F101)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제2 반송 라인(102)은 제1 원반 롤(R1)로부터 풀어내어진 제2 필름(F102)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제3 반송 라인(103)은 제1 필름(F101)의 한 면에 제2 필름(F102)이 접합된 편면 접합 필름(F104)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제4 반송 라인(104)은 제2 원반 롤(R2)로부터 풀어내어진 제3 필름(F103)을 반송하는 반송 경로를 형성하고, 제5 반송 라인(105)은 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101) 측의 면(제1 필름(F101)의 다른 면)에 제3 필름(F103)이 접합된 양면 접합 필름(F105)(광학 필름(F10X))을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 그리고, 제조된 광학 필름(F10X)은 권취부(106)에 있어서 제3 원반 롤(R3)로서 심재에 권취된다. The first conveying
제1 반송 라인(101)은, 예컨대, PVA(Polyvinyl Alcohol) 등의 편광자의 기재가 되는 필름에 대하여, 염색 처리나 가교 처리, 연신 처리 등을 실시한 후, 그 양면에 TAC(Triacetylcellulose) 등의 보호 필름을 접합함으로써 얻어진 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)으로 향해서 반송시키는 것이다. The first conveying
구체적으로, 이 제1 반송 라인(101)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류 측을 사이에 둔 일측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향하여, 한 쌍의 제1 닙 롤(111a, 111b)과, 복수의 제1 댄서 롤(112a, 112b)을 포함하는 제1 어큐뮬레이터(112)와, 제1 가이드 롤(113)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, the first conveying
한 쌍의 제1 닙 롤(111a, 111b)은, 그 사이에 제1 필름(F101)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 a 방향(우측 방향)으로 제1 필름(F101)을 인출하는 것이다. The pair of first nip rolls 111a and 111b rotate in mutually opposite directions with the first film F101 sandwiched therebetween so that the first film F101 in the direction of arrow a ).
제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 필름(F101)의 이송량의 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제1 필름(F101)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 닙 롤(111a, 111b)과 제1 가이드 롤(113)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(112a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(112b)이 교대로 나란하게 배치된 구성을 갖고 있다. The
제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b)에 제1 필름(F101)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제1 필름(F101)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제1 반송 라인(101)을 정지하지 않고서 제1 필름(F101)을 축적하는 것이 가능하게 되고 있다. 예컨대, 제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제1 필름(F101)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제1 필름(F101)의 축적을 줄일 수 있다. 제1 어큐뮬레이터(112)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the
제1 가이드 롤(113)은, 회전하면서 제1 닙 롤(111a, 111b)에 의해 인출된 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)의 상류 측으로 향해서 안내하는 것이다. 또한, 제1 가이드 롤(113)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다. The
제2 반송 라인(102)은, 예컨대 PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 제1 원반 롤(R1)로부터 풀어내면서 제3 반송 라인(103)으로 향해서 반송시키는 것이다. The second conveying
구체적으로 이 제2 반송 라인(102)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류 측을 사이에 둔 타측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제2 닙 롤(121a, 121b)과, 복수의 제2 댄서 롤(122a, 122b)을 포함하는 제2 어큐뮬레이터(122)와, 복수의 제2 가이드 롤(123a, 123b)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, the second conveying
한 쌍의 제2 닙 롤(121a, 121b)은, 그 사이에 제2 필름(F102)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 b의 방향(좌측 방향)으로 제2 필름(F102)을 인출하는 것이다. The pair of second nip rolls 121a and 121b rotate in mutually opposite directions with the second film F102 sandwiched therebetween so that the second film F102 in the direction of the arrow b shown in Fig. F102.
제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 필름(F102)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제2 필름(F102)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 닙 롤(121a, 121b)과 제2 가이드 롤(123a, 123b)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(122a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(122b)이 교대로 나란하게 배치된 구성을 갖고 있다. The
제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b)에 제2 필름(F102)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제2 필름(F102)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제2 반송 라인(102)을 정지하지 않고서 제2 필름(F102)을 축적할 수 있게 되고 있다. 예컨대, 제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제2 필름(F102)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제2 필름(F102)의 축적을 줄일 수 있다. 제2 어큐뮬레이터(122)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the
복수의 제2 가이드 롤(123a, 123b)은, 각각 회전하면서 제2 닙 롤(121a, 121b)에 의해 인출된 제2 필름(F102)을 제3 반송 라인(103)의 상류 측으로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제2 가이드 롤(123a, 123b)은 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이라도 좋다. The plurality of
제3 반송 라인(103)은, 제1 필름(F101)의 한 면에 제2 필름(F102)을 접합한 긴 띠 형상의 편면 접합 필름(F104)을 제5 반송 라인(105)으로 향해서 반송시키는 것이다. The third conveying
구체적으로 이 제3 반송 라인(103)에는 한 쌍의 제3 닙 롤(131a, 131b)이 배치되어 있다. 한 쌍의 제3 닙 롤(131a, 131b)은, 제1 반송 라인(101)의 하류 측과 제2 반송 라인(102)의 하류 측의 합류점에 위치하고, 그 사이에 제1 필름(F101) 및 제2 필름(F102)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 제1 필름(F101)과 제2 필름(F102)을 접합한 편면 접합 필름(F104)을 도 4 중에 도시하는 화살표 c의 방향(아래 방향)으로 인출하는 것이다. Specifically, a third pair of third nip rolls 131a and 131b is disposed on the
제4 반송 라인(104)은, 예컨대 PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 제2 원반 롤(R2)로부터 풀어내면서 제5 반송 라인(105)으로 향해서 반송시키는 것이다. The fourth conveying
구체적으로 이 제4 반송 라인(104)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류 측을 사이에 둔 일측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제4 닙 롤(141a, 141b)과, 복수의 제3 댄서 롤(142a, 142b)을 포함하는 제3 어큐뮬레이터(142)와, 복수의 제4 가이드 롤(143a, 143b)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Concretely, the fourth conveying
한 쌍의 제4 닙 롤(141a, 141b)은, 그 사이에 제3 필름(F103)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 d의 방향(우측 방향)으로 제3 필름(F103)을 인출하는 것이다. The pair of fourth nip rolls 141a and 141b rotate in mutually opposite directions with the third film F103 sandwiched therebetween so that the third film F103 in the direction of arrow d shown in Fig. F103.
제3 어큐뮬레이터(142)는, 제3 필름(F103)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제3 필름(F103)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제3 어큐뮬레이터(142)는, 제4 닙 롤(141a, 141b)과 제4 가이드 롤(143a, 143b)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(142a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(142b)이 교대로 나란하게 배치된 구성을 갖고 있다. The
제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b)에 제3 필름(F103)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제3 필름(F103)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제4 반송 라인(104)을 정지하지 않고서 제3 필름(F103)을 축적할 수 있게 되고 있다. 예컨대, 제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제3 필름(F103)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제3 필름(F103)의 축적을 줄일 수 있다. 제3 어큐뮬레이터(142)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the
복수의 제4 가이드 롤(143a, 143b)은, 각각 회전하면서 제4 닙 롤(141a, 141b)에 의해 인출된 제3 필름(F103)을 제3 반송 라인(103)의 하류 측(제5 반송 라인(105)의 상류 측)으로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제4 가이드 롤(143a, 143b)은 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이라도 좋다. The plurality of
제5 반송 라인(105)은, 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101) 측의 면(제1 필름(F101)의 다른 면)에 제3 필름(F103)을 접합한 긴 띠 형상 양면 접합 필름(F105)(광학 필름(F10X))을 제3 원반 롤(R3)로 향해서 반송시키는 것이다. The fifth conveying
구체적으로 이 제5 반송 라인(105)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류 측을 사이에 둔 타측으로부터 제3 원반 롤(R3)로 향해서, 한 쌍의 제5 닙 롤(151a, 151b)과, 제5 가이드 롤(153a)과, 한 쌍의 제6 닙 롤(151c, 151d)과, 복수의 제4 댄서 롤(152a, 152b)을 포함하는 제4 어큐뮬레이터(152)와, 제6 가이드 롤(153b)이 수평 방향으로 순차 나란하게 배치되어 있다. Specifically, the fifth conveying
한 쌍의 제5 닙 롤(151a, 151b)은, 제3 반송 라인(103)의 하류 측과 제5 반송 라인(105)의 상류 측의 합류점에 위치하고, 그 사이에 편면 접합 필름(F104) 및 제3 필름(F103)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 편면 접합 필름(F104)과 제3 필름(F103)을 접합한 양면 접합 필름(F105)을 도 4 중에 도시하는 화살표 e의 방향(아래 방향)으로 인출하는 것이다. The pair of fifth nip rolls 151a and 151b are located at the confluence of the downstream side of the
제5 가이드 롤(153a)은, 회전하면서 제5 닙 롤(151a, 151b)에 의해 인출된 양면 접합 필름(F105)을 제4 어큐뮬레이터(152)로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제5 가이드 롤(153a)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다. The fifth guide roll 153a guides the double-side bonded film F105 drawn by the fifth nip rolls 151a and 151b toward the
한 쌍의 제6 닙 롤(151c, 151d)은, 그 사이에 양면 접합 필름(F105)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 도시하는 화살표 f의 방향(우측 방향)으로 양면 접합 필름(F105)을 인출하는 것이다. The pair of sixth nip rolls 151c and 151d are rotated in mutually opposite directions with the double-sided adhesive film F105 sandwiched therebetween so that the double-faced adhesive film (double-sided adhesive film) F105).
제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b)에 양면 접합 필름(F105)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 양면 접합 필름(F105)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제5 반송 라인(105)을 정지하지 않고서 양면 접합 필름(F105)을 축적할 수 있게 되고 있다. 예컨대, 제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b) 사이의 거리를 넓힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 축적을 늘리는 한편, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b) 사이의 거리를 좁힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 축적을 줄일 수 있다. 제4 어큐뮬레이터(152)는 예컨대 원반 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다. In the
제6 가이드 롤(153b)은 양면 접합 필름(F105)을 제3 원반 롤(R3)로 향해서 안내하는 것이다. 여기서, 제6 가이드 롤(153b)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다. The
양면 접합 필름(F105)은, 권취부(106)에 있어서 광학 필름(F10X)의 제3 원반 롤(R3)로서 심재에 권취된 후, 다음 공정으로 보내진다. The double-sided adhesive film F105 is wound on the core material as the third original roll R3 of the optical film F10X in the take-up
(결함 마킹 장치 및 결함 마킹 방법)(Defect Marking Apparatus and Defect Marking Method)
이어서, 상기 필름 제조 장치(100)가 구비하는 결함 마킹 장치(10) 및 이 결함 마킹 장치(10)를 이용한 결함 마킹 방법에 관해서 설명한다. Next, a
결함 마킹 장치(10)는, 도 4에 도시한 것과 같이, 상기 필름 제조 장치(100)의 일부를 구성하는 것으로, 반송 라인(L)과, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와, 기록 장치(13)와, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)와, 제어 장치(16)를 개략 구비하여 구성되어 있다. 4, the
반송 라인(L)은 검사 대상이 되는 필름을 반송하는 반송 경로를 형성하는 것이며, 본 실시형태에서는 상기 제1 반송 라인(101), 제3 반송 라인(103) 및 제5 반송 라인(105)에 의해서 반송 라인(L)이 구성되어 있다. The conveying line L forms a conveying path for conveying the film to be inspected. In the present embodiment, the first conveying
제1 결함 검사 장치(11)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합되기 전의 제1 필름(F101)의 결함을 검사하는 것이다. 구체적으로 이 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 필름(F101)을 제조할 때나 제1 필름(F101)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)으로 반송되는 제1 필름(F101)에 대하여, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 직교 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써 제1 필름(F101)의 결함을 검출한다. The first
제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)에 있어서, 제1 닙 롤(111a, 111b)보다도 상류 측에, 제1 필름(F101)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와, 제1 필름(F101)을 투과한 빛(투과광) 또는 제1 필름(F101)에서 반사된 빛(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b)를 갖고 있다. The first
본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성을 위해서, 제1 필름(F101)의 반송 방향으로 나란한 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와 광검출부(21b, 22b, 23b)가 각각 제1 필름(F101)을 사이에 두고서 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제1 결함 검사 장치(11)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이라도 좋다. 반사광을 검출하는 경우에는 광검출부(21b, 22b, 23b)를 조명부(21a, 22a, 23a) 측에 배치하면 된다. In this embodiment, a plurality of
조명부(21a, 22a, 23a)는, 결함 검사의 종류에 따라서 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 제1 필름(F101)에 조사한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여, 제1 필름(F101)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)에서 촬상된 화상(결함 검사 결과)은 제어 장치(16)에 출력된다. The
제2 결함 검사 장치(12)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 후의 제1 필름(F101), 즉 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검사하는 것이다. 구체적으로 이 제2 결함 검사 장치(12)는, 제1 필름(F101)에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)을 접합할 때나 편면 접합 필름(F104) 및 양면 접합 필름(F105)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)으로 반송되는 양면 접합 필름(F105)에 대하여, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 직교 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검출한다. The second
제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서, 제5 닙 롤(151a, 151b)보다도 하류 측에, 양면 접합 필름(F105)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(24a, 25a)와, 양면 접합 필름(F105)을 투과한 빛(투과광) 또는 양면 접합 필름(F105)에서 반사된 빛(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(24b, 25b)를 갖고 있다. The second
본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성을 위해서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향으로 나란한 복수의 조명부(24a, 25a)와 광검출부(24b, 25b)가 각각 양면 접합 필름(F105)을 사이에 두고서 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제2 결함 검사 장치(12)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이라도 좋다. 반사광을 검출하는 경우에는 광검출부(24b, 25b)를 조명부(24a, 25a) 측에 배치하면 된다. A plurality of
조명부(24a, 25a)는, 결함 검사의 종류에 따라서 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 양면 접합 필름(F105)에 조사한다. 광검출부(24b, 25b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여, 양면 접합 필름(F105)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(24b, 25b)에서 촬상된 화상(결함 검사 결과)은 제어 장치(16)에 출력된다. The
기록 장치(13)는, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)의 결함 검사 결과에 기초하여 결함 부위에 마킹을 실시하는 인자 장치이다. 기록 장치(13)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서 제2 결함 검사 장치(12)보다도 하류 측에 마련되어 있다. 기록 장치(13)는 예컨대 잉크젯 방식을 채용한 복수의 인자 헤드(13a)를 갖고 있다. 여기서, 인자 헤드(13a)에 관해서는 레이저 방식을 채용한 것이라도 좋다. The
복수의 인자 헤드(13a)는, 도 5에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로 나란하게 배치되어 있다. 또한, 각 인자 헤드(13a)에는, 잉크를 토출하는 노즐부(인자부)(13b)가 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로 소정의 간격으로 나란하게 배치되어 있다. 각 인자 헤드(13a)의 노즐부(13b)는, 양면 접합 필름(F105)에 대향하여, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 일단 측에서부터 타단 측에 걸쳐 등간격으로 나란하게 배치되어 있다. As shown in Fig. 5, the plurality of
또한, 복수의 인자 헤드(13a)와 대향하는 위치에는 양면 접합 필름(F105)과 접하는 제7 가이드 롤(153c)이 배치되어 있다. 그리고, 각 인자 헤드(13a)의 노즐부(13b)는, 양면 접합 필름(F105)의 제7 가이드 롤(153c)과 접하는 위치와는 반대 측으로부터 양면 접합 필름(F105)의 표면으로 향하여 잉크를 토출한다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)의 표면에 도트형의 마크를 인자(마킹)할 수 있게 된다. In addition, a
제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는 제1 필름(F101)의 반송량을 측정하는 것이다. 구체적으로 본 실시형태에서는, 제1 반송 라인(101)에 있어서, 제1 어큐뮬레이터(112)보다도 상류 측에 있는 제1 닙 롤(111a)에 제1 측장기(14)를 구성하는 로터리 인코더와, 제1 어큐뮬레이터(112)보다도 하류 측에 있는 제3 닙 롤(131a)에 제2 측장기(15)를 구성하는 로터리 인코더가 배치되어 있다. The
제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는, 제1 필름(F101)에 접하여 회전하는 제1 닙 롤(111a) 및 제3 닙 롤(131a)의 회전 변위량에 따라서 로터리 인코더가 제1 필름(F101)의 반송량을 측정한다. 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과는 제어 장치(16)에 출력된다. The
또한 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13)의 사이에 어큐뮬레이터가 하나밖에 존재하지 않기 때문에, 이 어큐뮬레이터의 상류 측과 하류 측에 측장기가 하나씩 배치된 구성으로 되어 있다. 한편, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13)의 사이에 어큐뮬레이터가 복수 존재하는 경우에는, 그 가장 상류 측에 있는 어큐뮬레이터의 상류 측과, 가장 하류 측에 있는 어큐뮬레이터의 하류 측에 측장기가 하나씩 배치된 구성으로 하면 된다. Further, in the present embodiment, since there is only one accumulator between the first
제어 장치(16)는 필름 제조 장치(100)의 각 부를 통괄 제어하는 것이다. 구체적으로 이 제어 장치(16)는 전자 제어 장치로서의 컴퓨터 시스템을 구비하고 있다. 컴퓨터 시스템은 CPU 등의 연산 처리부와 메모리나 하드디스크 등의 정보 기억부를 개략 구비하고 있다. The
제어 장치(16)의 정보 기억부에는, 컴퓨터 시스템을 제어하는 오퍼레이팅 시스템(OS)이나, 연산 처리부에 필름 제조 장치(100)의 각 부에 각종 처리를 실행시키는 프로그램 등이 기록되어 있다. 또한, 제어 장치(16)는, 필름 제조 장치(100)의 각 부의 제어에 필요한 각종 처리를 실행하는 ASIC 등의 논리 회로를 포함하고 있어도 좋다. 또한 제어 장치(16)는, 컴퓨터 시스템의 외부 장치와의 입출력을 행하기 위한 인터페이스를 포함한다. 이 인터페이스에는, 예컨대 키보드나 마우스 등의 입력 장치나 액정 표시 디스플레이 등의 표시 장치, 통신 장치 등이 접속 가능하게 되어 있다. An operating system (OS) for controlling the computer system and a program for executing various processes are recorded in the information storage unit of the
제어 장치(16)는, 상술한 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)의 결함 검사 결과에 기초하여, 복수의 인자 헤드(13a)의 노즐부(13b)의 구동을 제어하는 제어부로서 기능한다. 즉, 이 제어 장치(16)는, 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)에서 촬상된 화상을 해석하여, 결함의 유무(위치)나 종류 등을 판별한다. 그리고, 제1 필름(F101)이나 양면 접합 필름(F105)에 결함이 존재한다고 판정한 경우에는, 해당하는 노즐부(13b)의 구동을 제어하여 양면 접합 필름(F105)의 결함 부위에 마킹을 실시하는 결함 마킹을 행한다. The
또한, 결함 마킹 장치(10)에서는, 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사 위치와 결함 부위의 마킹 위치 사이에 어긋남이 생기지 않도록 결함 검사 후에 소정의 타이밍에 결함 마킹을 행한다. 예컨대 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11) 또는 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 오프셋 거리와 일치했을 때에, 기록 장치(13)에 의해 결함 마킹이 행해진다. The
여기서, 오프셋 거리는 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와 기록 장치(13) 사이의 필름의 반송 거리를 말한다. 엄밀하게는, 오프셋 거리는 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의해 결함 검사가 행해지는 위치(결함 검사 위치)와 기록 장치(13)에 의해 마킹이 실시되는 위치(마킹 위치) 사이의 필름의 반송 거리로서 정의된다. 또한, 오프셋 거리는 제1 어큐뮬레이터(112)를 가동시키면 변동된다. Here, the offset distance refers to the transport distance of the film between the first
제1 어큐뮬레이터(112)의 비가동 시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제1 오프셋 거리라고 한다.)는 미리 제어 장치(16)의 정보 기억부에 기억되어 있다. 구체적으로, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)가 존재하고, 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 결함 검사가 행해진다. 이 때문에, 제어 장치(16)의 정보 기억부에는 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 제1 오프셋 거리가 기억되어 있다. An offset distance (hereinafter referred to as a first offset distance) at the time of non-operation of the
제1 어큐뮬레이터(112)의 가동에 의해서 오프셋 거리가 변동되는 경우에는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 상류 측과 하류 측의 제1 필름(F101)의 반송량의 차에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. 즉, 제어 장치(16)에서는, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과로부터 제1 어큐뮬레이터(112)에 의한 제1 필름(F101)의 축적량을 산출하고, 이 제1 필름(F101)의 축적량에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. When the offset distance varies due to the operation of the
결함 마킹 장치(10)에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동 시에, 오프셋 거리의 보정치에 기초하여 기록 장치(13)가 마킹을 실시하는 타이밍을 보정한다. 예컨대, 본 실시형태에서는 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. 제어 장치(16)는, 이 보정치 및 제1 오프셋 거리에 기초하여, 제1 어큐뮬레이터(112) 가동 시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제2 오프셋 거리라고 한다.)를 산출한다. The
본 실시형태에서는, 제1 측장기(14) 또는 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 제2 오프셋 거리와 일치했을 때에 기록 장치(13)에 의해 결함 마킹이 행해진다. The time at which the defect inspection is performed by the first
또한 본 실시형태에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동 시에, 결함 마킹과는 별도로 제1 어큐뮬레이터(112)가 가동했음을 나타내는 정보(이하, 어큐뮬레이터가동 정보라고 한다.)를 양면 접합 필름(F105)에 기록하더라도 좋다. 어큐뮬레이터 가동 정보를 기록한 경우에는, 어큐뮬레이터 가동 정보가 첨부된 부분의 결함 부위를 오퍼레이터가 주의깊게 검사함으로써 마킹 위치의 틀어짐 등을 검출할 수 있다. 이에 따라, 양품 부분을 잘못하여 결함 부위라고 판정할 가능성이 적어져 수율의 향상이 도모된다. In this embodiment, when the
그런데 본 실시형태의 결함 마킹 장치(10)에서는, 예컨대 도 6에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 표면에, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 결함(D)이 위치하도록 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. However, in the
본 실시형태에서는, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)으로서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)으로 도트형의 마크(DM)를 복수 나란히 인자한다. 마크(DM)는 눈으로 봐서 시인할 수 있을 정도의 크기이며, 구체적으로는 그 직경이 5 mm 이하(보다 바람직하게는 1 mm 이상이면서 3 mm 이하)이다. In the present embodiment, a plurality of dot-shaped marks DM are printed side by side as a first printing pattern PT1 and a second printing pattern PT2 in the conveying direction (long longitudinal direction) of the double-sided adhesive film F105. The mark DM is of such a size that it can be seen visually, and specifically, its diameter is 5 mm or less (more preferably 1 mm or more but 3 mm or less).
제어 장치(16)는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 나란한 복수의 노즐부(13b) 중에서 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자하는 2개의 노즐부(13b)를 선택한다. 그리고, 이들 선택된 2개의 노즐부(13b)는, 결함(D)을 사이에둔 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향(짧은 길이 방향) 양측에 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. The
이 경우, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2) 사이에 결함(D)이 위치함으로써, 그 사이에 있는 결함(D)의 위치를 표시할 수 있다. 이에 따라, 마킹 후의 눈으로 확인함에 의한 검사(검품)에 있어서 결함(D)의 위치를 용이하게 파악할 수 있다.In this case, since the defect D is located between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, the position of the defect D therebetween can be displayed. Accordingly, the position of the defect (D) can be easily grasped in the inspection (inspection) by checking with the eyes after the marking.
또한, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 간격에 의해서 그 사이에 있는 결함(D)의 크기를 인식할 수 있다. 따라서, 선택되는 2개의 노즐부(13b)에 관해서는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 나란한 복수의 노즐부(13b) 중 반드시 인접하는 노즐부(13b)를 선택하는 경우에 한하지 않고, 결함(D)의 위치 및 크기에 맞춰 2개의 노즐부(13b)를 적절하게 선택하면 된다. In addition, the size of the defect D therebetween can be recognized by the interval between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2. Therefore, the two
또한, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 결함(D)이 위치함으로써, 양면 접합 필름(F105)으로부터 결함 부분을 잘라냈을 때에, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽과 결함(D)의 사이에서 절단되게 된다. When the defect D is located between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 and the defect portion is cut out from the both-side bonded film F105, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 It is cut between any one of the second printing patterns PT2 and the defect D. [
이 경우, 절단에 의해 잘라내어진 측과 절단에 의해 잘리고 남은 측에 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 것이 잔존하게 된다. 이에 따라, 절단에 의해 잘라내어진 측과 절단에 의해 잘리고 남은 측의 어디에 결함(D)이 위치하고 있는 것인지, 절단 후에 잔존하는 제1 인자 패턴(PT1) 또는 제2 인자 패턴(PT2)에 의해서 결함의 위치를 용이하게 확인할 수 있다.In this case, either the first printing pattern PT1 or the second printing pattern PT2 remains on the side cut by cutting and on the side where it is cut off by cutting. As a result, it is possible to determine whether the defect D is located on the side cut by the cutting and where the defect D is cut off by the cutting, and the first printing pattern PT1 or the second printing pattern PT2 remaining after the cutting. The position can be easily confirmed.
또한, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 관해서는, 지워버릴 수 있는 잉크를 이용하여 인자하는 것이 가능하다. 상술한 것과 같이, 마킹 후의 눈으로 확인함에 의한 검사(검품)에 의해서는 결함 부분이 제품으로서 허용되는 경우도 있다. 이 경우, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 지워버림으로써 이 부분을 제품으로서 사용할 수 있어, 수율의 향상을 도모할 수 있다.Further, with respect to the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, it is possible to print using the ink which can be erased. As described above, the defective portion may be allowed as a product by inspection (inspection) by checking with eyes after marking. In this case, by erasing the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, this portion can be used as a product, and the yield can be improved.
지워버릴 수 있는 잉크에 관해서는, 케톤류(메틸에틸케톤, 아세톤 등), 에스테르류(아세트산에틸, 프로필=아세테이트아세트산프로필 등), 알코올류(에탄올, 2-프로판올 등) 중에서 적절하게 선택된 용제에 대하여, 착색제나 조막용(造膜用) 수지 등을 첨가한 유성 잉크를 이용할 수 있다. 또한, 필요에 따라서 경화제나 계면활성제 등을 첨가하여도 좋다. 한편, 잉크를 지워버리기 위한 용제에 관해서는 상기 용제와 같은 것을 이용할 수 있다. 또한, 톨루엔이나 크실렌 등의 방향족 탄화수소류의 사용에 관해서는, 광학 필름(편광판)의 재질을 침범하기 때문에 바람직하지 못하다. With regard to the ink which can be erased, it is preferable to use a solvent appropriately selected from ketones (methyl ethyl ketone, acetone, etc.), esters (ethyl acetate, propyl acetate acetate and the like), alcohols (ethanol, , Oil-based inks to which a coloring agent, a film-forming resin and the like are added can be used. If necessary, a hardening agent or a surfactant may be added. On the other hand, as the solvent for erasing the ink, the same solvent as the above-mentioned solvent can be used. Further, the use of aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene is undesirable because it invades the material of the optical film (polarizing plate).
또한, 본 실시형태의 결함 마킹 장치(10)에서는, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴에 의해서 결함(D)에 관한 정보를 기록한다. In the
구체적으로 제어 장치(16)는, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자할 때에, 선택된 노즐부(13b)에 대하여, 기록하여야 할 결함(D)에 관한 정보(결함 정보)에 따라서 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽 또는 양쪽의 인자 패턴(본 실시형태에서는 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2))을 변경하는 제어를 행한다. Specifically, when printing the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, the
예컨대, 본 실시형태에서는 기록하여야 할 결함 정보에 따라서 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 구성하는 마크(DM)의 수와 간격을 변경한다. 이에 따라, 결함 부위에 마킹을 실시하는 동시에 결함 정보를 기록할 수 있다. For example, in this embodiment, the number and spacing of the marks DM constituting the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are changed in accordance with the defect information to be recorded. Thereby, it is possible to record the defect information while marking the defect part.
결함 정보는 결함(D)의 위치나 종류, 사이즈, 검사 방법(결함 검사의 종류) 등의 결함(D)에 관한 정보이다. 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에는, 이들 결함 정보를 식별할 수 있도록 마크(DM)의 수와 간격이 미리 설정되어 있다. The defect information is information on a defect (D) such as the position, type, size, and inspection method (type of defect inspection) of the defect (D). The number and spacing of marks DM are previously set in the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 so that these defect information can be identified.
예컨대, 도 6에 도시하는 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에서는, 각각 양면 접합 필름(F105)의 하나의 방향인 반송 방향(긴 길이 방향)으로 5개의 마크(DM)가 나란히 인자되어 있다. 이 중, 상류 측에 2개의 마크(DM)와 하류 측에 3개의 마크(DM)로 나뉘어 배치되어 있다. 또한, 상류 측의 마크(DM)와 하류 측의 마크(DM) 사이에 마크 하나분의 공백(간격을 비운 부분)(K)이 마련되어 있다. For example, in the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 shown in Fig. 6, five marks DM are formed in the conveying direction (long length direction), which is one direction of the both-side bonded film F105, Are printed side by side. Of these, two marks DM are arranged on the upstream side and three marks DM are arranged on the downstream side. Further, one blank (gapless portion) K is provided between the mark DM on the upstream side and the mark DM on the downstream side.
공백(K)은 양면 접합 필름(F105)의 다른 방향인 폭 방향(짧은 길이 방향)에 있어서 결함(D)과 거의 동렬로 배치되어 있다. 즉, 이 공백(K)은 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 결함(D)의 위치를 표시하고 있다. 또한, 공백(K)보다도 결함(D)이 큰 경우에는 공백(K)을 결함(D)의 중심과 인접하는 위치에 배치하는 것이 바람직하다. The blank K is arranged substantially in the same direction as the defect D in the width direction (short-length direction) which is the other direction of the both-side bonded film F105. That is, this blank K indicates the position of the defect D in the carrying direction (long length direction) of the double-sided bonded film F105. When the defect (D) is larger than the blank (K), it is preferable to arrange the blank (K) at a position adjacent to the center of the defect (D).
이 경우, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2) 사이뿐만 아니라, 공백(K)에 의해서 상류 측의 마크(DM)와 하류 측의 마크(DM) 사이에 결함(D)이 위치하는 것을 표시할 수 있다. 이에 따라, 결함(D)의 위치를 더욱 용이하게 파악할 수 있다. 또한, 결함(D)을 걸쳐서 칩을 잘라냈을 때는, 나머지 마크(DM)를 보고서 그 칩에 결함(D)이 존재하고 있는지를 판별할 수 있다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)의 이용 효율을 향상시킬 수 있다. In this case, not only between the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 but also between the mark DM on the upstream side and the mark DM on the upstream side due to the blank K, Can be displayed. Thus, the position of the defect D can be more easily grasped. When the chip is cut out over the defect (D), the remaining mark (DM) can be reported and it can be determined whether or not the defect (D) exists in the chip. Thus, the use efficiency of the double-sided bonded film F105 can be improved.
또한, 상류 측과 하류 측의 마크(DM)의 수의 차이로부터 보아, 양면 접합 필름(F105)으로부터 잘라내어진 후에도 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(도 6 중 화살표로 나타내는 방향)을 용이하게 파악할 수 있다. In view of the difference in the number of the marks DM on the upstream side and the downstream side, the conveying direction (the direction indicated by the arrow in Fig. 6) of the double-side bonded film F105 can be easily .
또한, 결함(D)과 공백(K)의 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 어긋남량으로부터, 결함 검사 위치와 마킹 위치 사이의 타이밍의 어긋남량을 파악할 수 있다. 그리고, 이 어긋남량에 기초하여 기록 장치(13)에 의한 마킹의 타이밍을 용이하게 조정할 수 있다. It is also possible to grasp the shift amount of the timing between the defect inspection position and the marking position from the displacement amount in the carrying direction (long length direction) of the double-side bonded film F105 of the defect (D) and the blank (K). Then, the timing of marking by the
공백(K)의 크기에 관해서는, 반송 방향으로 일정한 간격으로 나란한 마크(DM)의 간격(중심 사이 거리)(T1)보다도, 공백(K)을 사이에 둔 양측 마크(DM)의 간격(중심 사이 거리)(T2)을 크게 하는 것이 바람직하다. 보다 구체적으로는 1.2≤T2/T1≤3.0의 범위로 하는 것이 바람직하고, 1.5≤T2/T1≤2.5의 범위로 하는 것이 보다 바람직하다. As for the size of the blank K, the interval (distance between the centers) T1 of the marks DM which are arranged at regular intervals in the carrying direction (the distance between the centers) (T2) is preferably increased. More specifically, it is preferable to set the range of 1.2? T2 / T1? 3.0, more preferably 1.5? T2 / T1? 2.5.
이상과 같이, 본 실시형태에 따르면, 상술한 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 의해서 결함(D)의 위치를 표시함과 더불어 결함 정보를 기록하는 것이 가능하다. As described above, according to the present embodiment, it is possible to record the position of the defect D by the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 described above, and to record the defect information.
또한, 본 발명은 상기 실시형태의 것에 반드시 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경을 가할 수 있다.In addition, the present invention is not necessarily limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.
예컨대, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 관해서는, 상술한 마크(DM)의 수나 간격을 변경하는 경우에 한하지 않고, 그 이외에도 예컨대 사이즈(직경)나 색(적, 청, 흑 등. 바람직하게는 흑.) 등을 변경할 수 있다. 즉, 도트형 마크(DM)의 수, 간격, 사이즈(직경), 색 중 어느 하나 이상을 변경하면 된다. 이에 따라, 이들 인자 패턴(PT1, PT2)을 더욱 세세하게 설정하여, 보다 많은 정보를 기록할 수 있다. For example, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are not limited to the case of changing the number of the marks DM or the intervals of the marks DM, , Blue, black, etc. preferably black) can be changed. That is, at least one of the number, interval, size (diameter), and color of the dot-like marks DM may be changed. Accordingly, these factor patterns (PT1, PT2) can be set more finely and more information can be recorded.
또한, 예컨대 도 7에 도시한 것과 같이, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)에 관해서는, 상술한 도트형 마크(DM)에 한하지 않고, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)으로 선형의 마크(LM)를 인자하더라도 좋다. 7, the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 are not limited to the dot-type mark DM described above, The linear mark LM may be printed in the carrying direction (the long direction).
이 경우, 상술한 잉크젯 방식의 인자 헤드(13a)뿐만 아니라, 예컨대 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로 나란한 복수의 마커(인자부)를 이용할 수 있다. 마커에 관해서는, 예컨대 펜 마커나 레이저 마커 등 특별히 한정되는 것은 아니다. In this case, not only the above-described
선형 마크(LM)를 인자하여 결함 정보를 기록하는 경우는, 기록하여야 할 결함 정보에 따라서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)으로 적어도 하나 또는 복수의 마크(LM)를 나란하게 배치하여, 선형 마크(LM)의 수, 간격, 사이즈(길이, 굵기), 색 중 어느 하나 이상을 변경한다. 이에 따라, 도트형 마크(DM)를 인자하는 경우와 마찬가지로 결함 정보를 기록하는 것이 가능하다. 또한, 선형 마크(LM)에 있어서 공백(K)을 두는 경우는 그 공백(K)의 간격을 3∼5 mm 정도로 하는 것이 바람직하다. In the case of recording defect information by printing the linear mark LM, at least one or a plurality of marks LM are arranged in the conveying direction (long length direction) of the double-side bonded film F105 in accordance with the defect information to be recorded To change at least one of the number, spacing, size (length, thickness), and color of the linear marks LM. Thus, it is possible to record the defect information in the same manner as in the case of printing the dot-like marks DM. In the case where the blank K is placed in the linear mark LM, it is preferable that the interval of the blank K is about 3 to 5 mm.
또한, 예컨대 도 8(a), 도 8(b), 도 8(c)에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향(짧은 길이 방향)에 있어서, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽 또는 양쪽과 인접하는 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하더라도 좋다. As shown in Figs. 8 (a), 8 (b), and 8 (c), in the width direction (short length direction) of the double-sided bonded film F105, And the third printing pattern PT3 adjacent to either or both of the second printing pattern PT2 may be printed.
이 경우, 제어 장치(16)는, 상술한 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자하는 2개의 노즐부(13b)와는 별도로 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하는 노즐부(13b)를 선택한다. 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하는 노즐부(13b)에 관해서는, 기록하여야 할 결함 정보에 따라서 적어도 하나 또는 복수의 노즐부(13b)를 선택할 수 있다. In this case, in addition to the two
즉, 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 도 8(a)에 도시한 것과 같이 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 어느 한쪽과 인접하여 인자하는 경우나, 도 8(b)에 도시한 것과 같이 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)의 양측에 인접하여 인자하는 경우, 도 8(c)에 도시한 것과 같이 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향(짧은 길이 방향)으로 복수 나란히 인자하는 경우 등, 기록하여야 할 결함 정보에 따라서 적절하게 선택할 수 있다.That is, as shown in FIG. 8A, the third factor pattern PT3 may be printed adjacent to any one of the first factor pattern PT1 and the second factor pattern PT2, 8 (b), in the case of printing adjacent to both sides of the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, as shown in Fig. 8 (c), the two-side bonded film F105 It is possible to appropriately select them according to the defect information to be recorded, such as the case where a plurality of images are printed side by side in the width direction (short length direction).
또한, 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)의 사이에 인자하는 것도 가능하다. 이 경우, 결함(D)을 사이에 둔 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)의 상류 측 또는 하류 측 혹은 양측에 인자할 수 있다.It is also possible to print the third factor pattern PT3 between the first factor pattern PT1 and the second factor pattern PT2. In this case, it is possible to print on the upstream side, the downstream side, or both sides in the conveying direction (long longitudinal direction) of the double-side bonded film F105 sandwiching the defect D therebetween.
또한, 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)과 마찬가지로 도트형 마크(DM) 또는 선형 마크(LM)에 의해 인자할 수 있다. 제3 인자 패턴(PT3)을 변경하는 방법도 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 변경하는 경우와 마찬가지다. Similar to the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, the third print pattern PT3 can be printed by the dot mark DM or the linear mark LM. The method of changing the third factor pattern PT3 is also the same as the case of changing the first factor pattern PT1 and the second factor pattern PT2.
따라서, 결함 정보에 관해서는, 상술한 제1 인자 패턴(PT1), 제2 인자 패턴(PT2) 및 제3 인자 패턴(PT3)의 조합에 의해서 더욱 많은 정보를 기록할 수 있다.Therefore, as to the defect information, more information can be recorded by the combination of the first print pattern PT1, the second print pattern PT2 and the third print pattern PT3 described above.
상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)의 어느 것에 의해 기록되는 결함 정보에 관해서는, 예컨대 결함(D)의 종류 등에 따라서 어떤 인자 패턴을 변경하거나, 또한 그 변경되는 인자 패턴을 구성하는 마크(DM)(LM)의 수나 간격, 사이즈(직경, 길이, 굵기), 색 중 어느 것을 변경하는지를 미리 설정해 두면 된다. 이에 따라, 결함(D)의 종류 등을 미리 설정된 룰에 따라서 식별할 수 있다. As to the defect information recorded by any of the above-described first, second and third pattern (PT1, PT2, PT3), it is possible to change any factor pattern, for example, The number, spacing, size (diameter, length, thickness), and color of the marks DM (DM) constituting the printing pattern to be printed may be set in advance. Accordingly, the kind of the defect D and the like can be identified according to a predetermined rule.
예컨대, 결함(D)의 종류에 관해서는, 예컨대 도 9(a)에 도시하는 이물계, 도 9(b)에 도시하는 기포계, 도 9(c)에 도시하는 휘점계, 도 9(d)에 도시하는 주름계 등을 들 수 있다. 이 중, 도 9(a)에 도시하는 이물계는, 양면 접합 필름(F105)에 이물이 혼입됨으로 인해서 생기는 결함(D)이다. 한편, 도 9(b)에 도시하는 기포계는, 양면 접합 필름(F105)에 기포가 생김으로 인한 결함(D)이다. 이러한 기포는 이물이 혼입되었을 때에 이물을 중심으로 서로 맞물리는 경우가 있다. 한편, 도 9(c)에 도시하는 휘점계는, 편광 필름으로 되는 제1 필름(F101)에 생긴 결함(D)이며, 편광 필름에 대하여 검광자를 직교 니콜로 배치했을 때에 휘점(빛 누설)으로서 관찰되는 결함(D)이다. 한편, 도 9(d)에 도시하는 주름계의 결함(D)은, 양면 접합 필름(F105)에 주름이 생김으로 인한 결함(D)이다. 9 (a), the bubble system shown in FIG. 9 (b), the luminance system shown in FIG. 9 (c), and the defect system shown in FIG. 9 (d) ), And the like. Among them, the foreign matters system shown in Fig. 9 (a) is a defect (D) caused by the foreign matter being mixed into the both-side bonded film F105. On the other hand, the bubble system shown in Fig. 9 (b) is a defect (D) due to the formation of bubbles in the double-sided bonded film F105. These bubbles sometimes engage with each other around the foreign object when the foreign object is mixed. On the other hand, the luminosity system shown in Fig. 9 (c) is a defect (D) generated in the first film F101 which is a polarizing film, and when the polarizer is arranged orthogonally to the polarizer film, (D). On the other hand, the defect (D) in the corrugated system shown in Fig. 9 (d) is a defect (D) due to wrinkles in the double-sided bonded film F105.
본 실시형태에서는, 공백(K)을 사이에 둔 상류 측의 마크(DM)와 하류 측의 마크(DM) 중, 상류 측에 배치되는 마크(DM)의 수를 결함(D)의 종류에 따라서 다르게 하고 있다. 예컨대, 상류 측에 배치되는 마크(DM)의 수는, 도 9(a)에 도시하는 이물계에서 3개, 도 9(b)에 도시하는 기포계에서 하나, 도 9(c)에 도시하는 휘점계에서 2개, 도 9(d)에 도시하는 주름계에서 4개로 되어 있다. 이에 따라, 상류 측에 배치되는 마크(DM)의 수로부터 결함(D)의 종류를 용이하게 식별할 수 있다. The number of marks DM disposed on the upstream side among the mark DM on the upstream side and the mark DM on the downstream side with the space K interposed therebetween is changed according to the type of the defect D It is different. For example, the number of the marks DM arranged on the upstream side is three in the foreign substance system shown in Fig. 9 (a), one in the bubble system shown in Fig. 9 (b) Four in the crease system shown in Fig. 9 (d). This makes it possible to easily identify the type of the defect D from the number of marks DM arranged on the upstream side.
또한 본 발명에서는, 상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3) 중 어느 인자 패턴을 변경함으로써 결함(D) 이외의 것에 관한 정보를 기록할 수도 있다.Further, in the present invention, it is also possible to record information on something other than the defect (D) by changing any one of the above-described first, second and third pattern (PT1, PT2, PT3)
예컨대, 결함(D) 이외의 것에 관한 정보로서는, 제조 조건이나 제조 장소, 동일 종류의 결함 발생 빈도 및 그 주기성의 유무 등의 제조 정보를 기록할 수 있다. 또한, 이들 제조 정보를 조합함으로써 결함(D)의 발생 원인이나 장소, 공정 등을 특정할 수 있다. 이에 따라, 결함(D)의 원인이 된 설비의 메인터넌스를 행하는 등의 대응에 의해서 결함(D)의 발생을 저감할 수 있게 된다.For example, manufacturing information such as manufacturing conditions and manufacturing sites, the frequency of occurrence of defects of the same kind, and the presence or absence of the periodicity can be recorded as information on the matters other than the defect (D). In addition, by combining these manufacturing information, it is possible to specify the cause, location, process, and the like of the defect (D). As a result, it is possible to reduce the occurrence of defects D by coping with, for example, maintenance of the equipment causing the defect D.
여기서, 상술한 편광 필름의 제조 공정에 있어서, 편광자(PVA)의 양면에 보호 필름(TAC)을 접합하는 공정(제1 공정)에서 결함(D1)이 발생한 경우를 도 10(a)에 도시한다. 또한, 제1 공정 후에, 한쪽의 보호 필름(TAC)의 면 위에 점착제와 세퍼레이터를 접합하는 공정(제2 공정)에서 결함(D2)이 발생한 경우를 도 10(b)에 도시한다. 10 (a) shows a case where a defect D1 is generated in a step (first step) of bonding a protective film (TAC) to both surfaces of a polarizer (PVA) in the above-described production process of a polarizing film . 10 (b) shows a case where the defect D2 occurs in the step (second step) of bonding the pressure-sensitive adhesive and the separator to the surface of one protective film (TAC) after the first step.
그리고, 제1 공정에서 발생한 결함(D1)에 대해서는, 예컨대 도 11(a)에 도시한 것과 같은 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. 한편, 제2 공정에서 발생한 결함(D2)에 대해서는, 예컨대 도 11(b)에 도시한 것과 같은 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)을 인자한다. For the defect D1 generated in the first step, a first print pattern PT1 and a second print pattern PT2 as shown in Fig. 11 (a) are printed. On the other hand, for the defect D2 generated in the second step, for example, a first print pattern PT1 and a second print pattern PT2 as shown in Fig. 11 (b) are printed.
이 경우, 도 11(a), 도 11(b)에 도시하는 결함(D1, D2)의 위치에 관해서는, 각각의 결함(D1, D2)을 사이에 둔 양측에 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)을 인자하며 또한 일정한 간격으로 나란한 마크(DM)의 사이에 공백(K)을 둠으로써 그 위치를 표시할 수 있다. In this case, as for the positions of the defects D1 and D2 shown in Figs. 11A and 11B, the first printing pattern PT1 is provided on both sides with the defects D1 and D2 interposed therebetween, And the second printing pattern PT2, and a space K between the marks DM arranged at regular intervals.
또한, 결함(D1, D2)에 기록된 정보에 관해서는, 제1 인자 패턴(PT1)과 제2 인자 패턴(PT2)에 의해서, 결함(D1, D2)의 종류(결함 정보)와, 제1 공정과 제2 공정의 어느 공정에서 발생한 결함(D1, D2)인지의 정보(제조 정보)가 기록되어 있다. With respect to the information recorded in the defects D1 and D2, the type (defect information) of the defects D1 and D2 and the type (defect information) of the defects D1 and D2 are determined by the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, (Manufacturing information) indicating which of defects (D1, D2) occurred in the process and the second process is recorded.
구체적으로 결함(D1, D2)의 종류에 관해서는 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)을 구성하는 마크(DM)의 색에 의해서 구별되어 있다. 예컨대, 투과 결함(청), 크로스 결함(적), 반사 결함(녹)과 같이 마크(DM)의 색의 차이에 의해서 결함(D1, D2)의 종류를 식별할 수 있다. Specifically, the kinds of the defects D1 and D2 are distinguished by the colors of the marks DM constituting the first and second printing patterns PT1 and PT2. The kind of the defects D1 and D2 can be identified by the difference in color of the mark DM such as transmission defects (blue), cross defects (red), and reflection defects (green).
한편, 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)에서는, 공백(K)보다도 상류 측(마크(DM)의 수가 적은 쪽)의 마크(DM)의 수에 의해서, 제1 공정과 제2 공정의 어느 공정에서 발생한 결함(D1, D2)인지의 정보가 기록되어 있다. 예컨대, 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)의 상류 측의 마크(DM)의 수가 하나인 경우는 제1 공정에서 발생한 결함(D1)임을 나타내고, 2개인 경우는 제2 공정에서 발생한 결함(D2)임을 나타내고 있다. On the other hand, in the first and second printing patterns PT1 and PT2, by the number of marks DM on the upstream side (the number of marks DM is smaller) than the blank K, (D1, D2) occurring in any of the steps of FIG. For example, when the number of marks DM on the upstream side of the first and second printing patterns PT1 and PT2 is one, it indicates that the defect D1 occurs in the first step, (D2).
또한, 도 11(b)에 도시하는 제1 및 제2 인자 패턴(PT1, PT2)에 더하여, 도 11(c)에 도시한 것과 같은 제3 인자 패턴(PT3)을 인자하여도 좋다. 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는, 마크(DM)의 수에 의해서, 적층된 편광 필름 중 몇 번째의 층에 결함(D2)이 존재하고 있는지의 정보(결함 정보)가 기록되어 있다. 예컨대, 도 11(c)에 도시하는 제3 인자 패턴(PT3)에 관해서는 3개의 마크(DM)에 의해서 구성되어 있기 때문에, 적층 순으로 3번째의 층(TAC)에 결함(D2)이 존재하고 있음을 식별할 수 있다. In addition to the first and second printing patterns PT1 and PT2 shown in Fig. 11 (b), a third printing pattern PT3 as shown in Fig. 11 (c) may be printed. As to the third factor pattern PT3, information (defect information) indicating the presence of the defect D2 in the layer of the stacked polarizing films is recorded by the number of the marks DM. For example, since the third printing pattern PT3 shown in Fig. 11 (c) is composed of three marks DM, defects D2 exist in the third layer TAC in the stacking order It is possible to identify that
이상과 같이 하여, 본 발명에서는 편광 필름에 대하여 상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT3)을 인자함으로써 결함(D1, D2)의 위치를 표시함과 더불어 그 결함(D1, D2)에 관한 정보 등을 기록할 수 있다.As described above, in the present invention, the positions of the defects D1 and D2 are indicated by printing the first, second and third printing patterns PT3 on the polarizing film, and the defects D1 and D2, And the like can be recorded.
또한 본 발명에서는, 예컨대 도 12에 도시하는 제1 인자 패턴(PT1) 및 제2 인자 패턴(PT2)과 같이, 상술한 공백(K)을 두는 대신에 마크(DM)의 간격을 좁힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 결함(D)의 위치를 표시하여도 좋다. In the present invention, as in the case of the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2 shown in Fig. 12, the spacing of the marks DM is narrowed instead of the space K described above, The position of the defect D in the transport direction (long length direction) of the film F105 may be displayed.
더욱이 본 발명에서는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향(긴 길이 방향)에 있어서의 결함(D)의 위치를 표시하기 위해서, 상술한 공백(K)을 두는(마크(DM)의 간격을 바꾸는) 대신에, 마크(DM)의 크기를 바꾸거나 제3 인자 패턴(PT3)을 이용하여 결함(D)의 위치를 표시하거나 하는 것도 가능하다. Furthermore, in the present invention, in order to display the position of the defect D in the carrying direction (long length direction) of the double-sided bonded film F105, , It is also possible to change the size of the mark DM or to display the position of the defect D using the third factor pattern PT3.
본 발명에서는, 상술한 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3) 중 어느 한 인자 패턴의 조합에 의해서, 예컨대 도 13(a)∼도 13(g)에 도시한 것과 같이, 결함(D)의 주위에 다양한 인자 패턴을 인자하는 것이 가능하다. In the present invention, a combination of any one of the above-described first, second and third printing patterns PT1, PT2, and PT3 may be used, for example, as shown in Figs. 13 (a) , It is possible to print various factor patterns around the defect (D).
이 중, 도 13(a)에 도시하는 인자 패턴에서는, 4개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 4방면에서 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(b)에 도시하는 인자 패턴에서는, 4개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 3방면에서 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(c)에 도시하는 인자 패턴에서는, 5개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 인접하는 2변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(d)에 도시하는 인자 패턴에서는, 6개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 인접하는 3변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(e)에 도시하는 인자 패턴에서는, 14개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 4변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(f)에 도시하는 인자 패턴에서는, 6개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 비스듬히 대향하는 2변으로 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 한편, 도 13(g)에 도시하는 인자 패턴에서는, 8개의 마크(DM)가 결함(D)의 주위를 4방면에서 둘러싸도록 제1, 제2 및 제3 인자 패턴(PT1, PT2, PT3)이 인자되어 있다. 13 (a), the first, second and third printing patterns PT1, PT2, and PT3 are formed so that the four marks DM surround the periphery of the defect D in four directions. ) Is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13 (b), the first, second and third printing patterns PT1, PT2 and PT3 are arranged so that the four marks DM surround the periphery of the defect D in three directions. Is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13C, the first, second and third printing patterns PT1, PT2, PT3, and PT4 are formed so that the five marks DM surround the periphery of the defect D by two adjacent sides. PT3) are printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13 (d), the first, second and third printing patterns PT1, PT2, PT3 and PT4 are formed so that the six marks DM surround the periphery of the defect D, PT3) are printed. 13 (e), the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3 are formed so that the fourteen marks DM surround the periphery of the defect D with four sides, Is printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13 (f), the first, second and third printing patterns PT1 and PT2 (see Fig. 13) are formed so that the six marks DM surround the periphery of the defect D with two diagonally opposing sides , PT3) are printed. On the other hand, in the printing pattern shown in Fig. 13 (g), the first, second and third printing patterns PT1, PT2, and PT3 are formed so that the eight marks DM surround the periphery of the defect D in four directions. Is printed.
또한, 상기 기록 장치(13)는 제2 결함 검사 장치(12)의 하류 측에 배치된 구성으로 되어 있지만, 제1 결함 검사 장치(11)의 하류 측에 배치하는 것도 가능하다. 이 경우, 제1 결함 검사 장치(11)에 의한 결함 검사를 행한 후에 기록 장치(13)에 의한 결함 정보의 기록을 행하는 것이 가능하다. The
또한, 상기 기록 장치(13)에 관해서는, 상술한 결함 검사 후에 결함 정보를 기록하는 것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대 장거리 반송 라인에서는, 기록 장치를 복수 배치하여 일정 거리마다 거리 정보를 기록하고, 이 기록된 거리 정보에 기초하여 거리의 보정을 행하는 경우가 있다. 이러한 거리 정보의 기록을 행하는 기록 장치에 관해서는, 예컨대 제1 결함 검사 장치(11)의 상류 측 등에 배치되는 경우가 있다. Further, the
또한 상기 기록 장치(13)에 관해서는, 상술한 복수의 노즐부(13b)가 나란하게 배치된 복수의 인자 헤드(13a)를 구비한 구성에 한하지 않고, 예컨대, 트래버스식의 인자 헤드를 이용한 경우에는, 이 인자 헤드를 이동 조작함으로써 필름의 형상이나 반송 방향에 관계없이 결함 부위에 마킹을 실시하는 것이 가능하다. The
또한, 결함 마킹 장치(10)는 상기 필름 제조 장치(100)의 일부를 구성하는 것에 한하지 않고, 상기 필름 제조 장치(100)와는 독립된 결함 마킹 장치로 할 수 있다. 구체적으로는, 제3 원반 롤(R3)로부터 풀어내어진 양면 접합 필름(F105)을 반송하는 사이에 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 양면 접합 필름(F105)의 결함 부위에 마킹을 실시한 후, 다시 심재에 권취하는 구성으로 하는 것이 가능하다. The
또한, 상기 필름 제조 장치(100)에서는 결함 부위에 마킹을 실시하지 않고, 추가 가공 공정에서 결함 부위에 마킹을 실시하여도 좋다. 구체적으로는 제3 원반 롤(R3)로부터 풀어내어진 양면 접합 필름(F105)을 반송하는 사이에 양면 접합 필름(F105)의 한쪽 또는 양면에 별도의 필름을 접합한 후, 결함 검사를 행하고, 상기 필름 제조 장치(100)의 결함 검사 결과와 맞춰 결함 부위에 마킹을 실시하여도 좋다. Further, in the
또한 본 발명의 검사 대상(피검사물)이 되는 원반에 관해서는, 상술한 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름과 같은 광학 필름에 반드시 한정되는 것은 아니며, 결함 부위에 마킹이 실시되는 필름이나 종이 등의 긴 띠 형상의 원반이면 된다. The disc to be inspected (inspected object) of the present invention is not necessarily limited to optical films such as the polarizing film, the retardation film and the brightness enhancement film described above. The optical film may be a film, paper, Shaped long disk of the present invention.
또한 본 발명의 검사 대상(피검사물)으로서는, 긴 띠 형상의 원반을 절단함으로써 얻어지는 시트(칩)라도 좋다. 즉 본 발명에서는, 상술한 원반을 반송하는 사이에 원반의 결함 검사를 행하고, 결함 검사 결과에 기초하여 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 경우에 한하지 않고, 절단 후에 시트의 결함 검사를 행하고, 그 결함 검사 결과에 기초하여 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하여도 좋다. 또한, 시트의 결함 검사와 시트의 결함 부위에의 마킹을 실시하는 사이에 시트에 대하여 가공 처리(예컨대, 별도의 필름의 접합이나 시트의 표면 처리 등.)를 실시하여도 좋다. 이에 따라, 피검사물이 원반인 경우와 마찬가지로, 피검사물인 시트에 대하여 본 발명의 결함 마킹 방법(장치)을 이용하여 결함의 위치를 표시함과 더불어 그 결함에 관한 정보 등을 기록할 수 있다. 더욱이 본 발명은, 상술한 원반이나 시트 이외에도 본 발명을 적용할 수 있는 것에 대하여 폭넓게 적용할 수 있다.Further, as a subject to be inspected (inspected object) of the present invention, a sheet (chip) obtained by cutting a long strip-shaped disk may be used. That is, the present invention is not limited to the case where defect inspection of the original is carried out during conveyance of the original, and marking is performed on the defective portion of the original based on the result of defect inspection, Marking may be performed on the defective portion of the sheet based on the defect inspection result. Further, the sheet may be subjected to a processing (for example, joining of separate films, surface treatment of the sheet, etc.) between the defect inspection of the sheet and the marking of the defective portion of the sheet. Accordingly, similarly to the case where the inspected object is a master, the defect marking method (apparatus) of the present invention can be used to display the position of the defect on the sheet as the inspected object, and information on the defect can be recorded. Furthermore, the present invention can be widely applied to those capable of applying the present invention in addition to the above-described disk or sheet.
100: 필름 제조 장치(원반의 제조 장치), 101: 제1 반송 라인, 102: 제2 반송 라인, 103: 제3 반송 라인, 104: 제4 반송 라인, 105: 제5 반송 라인, 106: 권취부, 111a, 111b: 제1 닙 롤, 112: 제1 어큐뮬레이터, 112a, 112b: 제1 댄서 롤, 113: 제1 가이드 롤, 121a, 121b: 제2 닙 롤, 122: 제2 어큐뮬레이터, 122a, 122b: 제2 댄서 롤, 123a, 123b: 제2 가이드 롤, 131a, 131b: 제3 닙 롤, 141a, 141b: 제4 닙 롤, 142: 제3 어큐뮬레이터, 142a, 142b: 제3 댄서 롤, 143a, 143b: 제4 가이드 롤, 151a, 151b: 제5 닙 롤, 152: 제4 어큐뮬레이터, 152a, 152b: 제4 댄서 롤, 153a: 제5 가이드 롤, 153b: 제6 가이드 롤, 153c: 제7 가이드 롤, 10: 결함 마킹 장치, L: 반송 라인, 11: 제1 결함 검사 장치, 12: 제2 결함 검사 장치, 13: 기록 장치(인자 장치), 13a: 인자 헤드, 13b: 노즐부(인자부), 14: 제1 측장기, 15: 제2 측장기, 16: 제어 장치(제어부), 21a, 22a, 23a, 24a, 25a: 조명부, 21b, 22b, 23b, 24b, 25b: 광검출부, P: 액정 표시 패널(광학 표시 장치), F1X: 광학 필름, F10X: 광학 필름, F101: 제1 필름, F102: 제2 필름, F103: 제3 필름, F104: 편면 접합 필름, F105: 양면 접합 필름(원반), DM: 도트형 마크, LM: 선형 마크, PT1: 제1 인자 패턴, PT2: 제2 인자 패턴, PT3: 제3 인자 패턴, D: 결함, K: 공백 The present invention relates to a film manufacturing apparatus and a method of manufacturing the same and a method of manufacturing the same and a method of manufacturing the same. A
Claims (20)
상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록, 상기 피검사물의 표면에 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자함으로써 상기 결함의 위치를 표시하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 방법. A defect marking method for marking a defective portion of an object to be inspected,
The first print pattern and the second print pattern are formed on the surface of the inspected object so that a defect is located between the first print pattern and the second print pattern which are adjacent to each other in a direction crossing one direction in the surface of the inspected object. And the position of the defect is indicated by printing the second factor pattern.
제11항에 기재된 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 원반의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 원반의 제조 방법. A step of performing defect inspection on a long strip-shaped disc transported in one direction;
A method for manufacturing a disk, comprising the step of marking a defective portion of the disk using the defect marking method according to claim 11.
제12항에 기재된 결함 마킹 방법을 이용하여 상기 시트의 결함 부위에 마킹을 실시하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 시트의 제조 방법. A step of performing defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-
A method for producing a sheet, comprising the step of marking a defective portion of the sheet using the defect marking method according to claim 12.
상기 인자 장치는, 상기 피검사물의 면내에 있어서의 하나의 방향과 교차하는 다른 방향으로 소정의 간격으로 나란히 배치됨과 더불어 상기 피검사물의 표면에 인자 패턴을 인자하는 복수의 인자부와, 상기 복수의 인자부의 구동을 제어하는 제어부를 가지고,
상기 제어부는, 상기 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴과 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치하도록 상기 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 인자하는 인자부를 선택하는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 결함 마킹 장치. And a marking device for marking a defective part of the inspected object,
Wherein the printing apparatus comprises a plurality of printing units arranged side by side at predetermined intervals in a different direction intersecting with one direction in the surface of the inspected object and printing a printing pattern on the surface of the inspected object, And a control unit for controlling driving of the printing unit,
The control section performs control to select a printing section that prints the first printing pattern and the second printing pattern so that a defect is positioned between the adjacent first printing pattern and the second printing pattern in the other direction .
상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 짧은 길이 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치함으로써 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 원반. As a long strip-shaped disc having a defective portion marked thereon,
Wherein the first and second print patterns are printed on the surface by the marking and have a first print pattern and a second print pattern adjacent to each other in a short length direction and a defect is positioned between the first print pattern and the second print pattern, And the position is indicated.
상기 마킹에 의해 표면에 인자되며, 하나의 방향과 교차하는 다른 방향에 있어서 인접하는 제1 인자 패턴 및 상기 제2 인자 패턴을 가지고, 상기 제1 인자 패턴과 상기 제2 인자 패턴의 사이에 결함이 위치함으로써 상기 결함의 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 시트. A sheet marked on a defective portion,
A first printing pattern and a second printing pattern which are printed on the surface by the marking and are adjacent to each other in a direction intersecting with one direction and have a defect between the first printing pattern and the second printing pattern Wherein the position of the defect is indicated by its position.
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