JP2018146580A - Defect marking method and defect marking device, method for manufacturing original fabric and original fabric, and method for manufacturing sheet and sheet - Google Patents

Defect marking method and defect marking device, method for manufacturing original fabric and original fabric, and method for manufacturing sheet and sheet Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a defect marking method suitable for displaying a position of a defect.SOLUTION: There is provided a defect marking method for performing defect inspection of an object to be inspected, and for applying marking to a defective spot of the object to be inspected on the basis of a result of defect inspection, therein a first print pattern PT1 and a second print pattern PT2 which are adjacent to each other in the other direction intersecting with one direction in a plane of the object to be inspected are printed on a surface of the object to be inspected such that a defect D is positioned between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, and a position of the defect D is displayed.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシートに関する。   The present invention relates to a defect marking method and a defect marking apparatus, a raw fabric manufacturing method and a raw fabric, and a sheet manufacturing method and a sheet.

例えば、樹脂フィルムや紙などの長尺帯状の原反の製造工程では、原反を搬送する間に、原反の欠陥検査を行い、欠陥検査の結果に基づいて原反の欠陥箇所にマーキングを施すこと(以下、欠陥マーキングという。)が行われている(例えば、特許文献1〜4を参照。)。   For example, in the process of manufacturing a long strip of raw material such as resin film or paper, the raw material is inspected for defects while the raw material is being transported, and the defects on the raw material are marked based on the results of the defect inspection. (Referred to as Patent Documents 1 to 4, for example).

また、液晶表示パネルに使用される偏光板などの光学フィルム(シート)の製造工程では、欠陥の位置や種類、サイズ、検査方法などの欠陥に関する情報(以下、欠陥情報という。)を光学フィルムの端縁部に沿った特定の領域(以下、記録領域という。)に、印字ヘッドを用いて記録(印字)することも行われている。   In addition, in the manufacturing process of an optical film (sheet) such as a polarizing plate used in a liquid crystal display panel, information about defects (hereinafter referred to as defect information) such as the position and type of defects, size, and inspection method is referred to as optical film. Recording (printing) is also performed using a print head in a specific area (hereinafter referred to as a recording area) along the edge.

光学フィルムは、欠陥情報の記録が完了した後に、芯材に巻き取られ、巻き取り量が一定量に達すると、搬送方向の上流側の光学フィルムから切り離されて、原反ロールとして出荷される。原反ロールからは、製品仕様によって予め定められた大きさや方向にカットされたシート(チップ)が切り出される。また、欠陥部分については、製品から除外されて破棄される。   After the recording of defect information is completed, the optical film is wound around the core material, and when the winding amount reaches a certain amount, it is separated from the optical film on the upstream side in the transport direction and shipped as a raw roll . From the original roll, a sheet (chip) cut in a size and direction predetermined by the product specifications is cut out. In addition, the defective portion is excluded from the product and discarded.

特開2001−305070号公報JP 2001-305070 A 特開2002−303580号公報JP 2002-303580 A 特開2011−102985号公報JP 2011-102985 A 特開2014−16217号公報JP 2014-16217 A

ところで、上述した従来の欠陥マーキングでは、原反から欠陥部分を切り出したときに、マーキングと欠陥との間で切断されることによって、切断により切り出された側と、切断により切り残された側との何れに欠陥が位置しているのか、切断後に欠陥の位置が不明となることがあった。   By the way, in the above-described conventional defect marking, when a defective portion is cut out from the original fabric, the side cut out by cutting and the side left uncut by cutting are cut between the marking and the defect. In some cases, the position of the defect is unknown after cutting.

また、上記特許文献2に記載の発明では、傷マークを付けることによって、欠陥箇所にマーキングを施すことが行われている。しかしながら、傷マークを付けた場合、欠陥検査後に傷マークを消し取ることは不可能である。この場合、マーキング後の目視による検査(検品)によっては、欠陥部分が製品として許容されることもある。しかしながら、傷マークを付けた場合は、製品として使用できなくなってしまう。   Moreover, in the invention described in Patent Document 2, marking is performed on a defective portion by applying a scratch mark. However, when a scratch mark is attached, it is impossible to erase the scratch mark after the defect inspection. In this case, a defective portion may be allowed as a product depending on visual inspection (inspection) after marking. However, if a scratch mark is applied, it cannot be used as a product.

一方、上述した従来の欠陥マーキングでは、欠陥箇所にマーキングを施すことによって、欠陥の位置のみを表示するものが一般的である。したがって、従来の欠陥マーキングでは、上述した欠陥情報については記録されていない。このため、例えば出荷前に原反ロールを再検品する際に、欠陥情報が必要な場合は、欠陥情報を記録領域等に別途記録しておく必要がある。   On the other hand, the conventional defect marking described above generally displays only the position of the defect by marking the defective portion. Therefore, in the conventional defect marking, the defect information described above is not recorded. For this reason, for example, when defect information is required when re-inspecting the material roll before shipment, it is necessary to separately record the defect information in a recording area or the like.

本発明は、このような従来の事情に鑑みて提案されたものであり、欠陥の位置を表示するのに好適な欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシートを提供することを目的とする。   The present invention has been proposed in view of such conventional circumstances, and is a defect marking method and a defect marking apparatus suitable for displaying the position of a defect, a method for producing a raw fabric, a raw fabric, and a sheet. It aims at providing a manufacturing method and a sheet.

上記課題を解決するための手段として、本発明の態様に従えば、被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキング方法であって、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向において隣り合う第1の印字パターンと第2の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記被検査物の表面に前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを印字することを特徴とする欠陥マーキング方法が提供される。   According to an aspect of the present invention, as a means for solving the above-mentioned problem, a defect marking method for marking a defective portion of an inspection object, which is a method of marking a defect in a plane in the surface of the inspection object. The first print pattern and the second print pattern are printed on the surface of the inspection object so that a defect is located between the first print pattern and the second print pattern that are adjacent in the direction of A defect marking method is provided.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録する方法であってもよい。   The defect marking method according to the aspect may be a method of recording information on the defect by using one or both of the first print pattern and the second print pattern.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並べて印字する方法であってもよい。   Further, the defect marking method of the above aspect may be a method of printing by arranging at least one or a plurality of dot-shaped marks in the one direction as the one or both of the print patterns.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並べて印字する方法であってもよい。   The defect marking method of the above aspect may be a method of printing by arranging at least one or a plurality of linear marks in the one direction as the one or both of the print patterns.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか1つ以上を変更することによって、前記欠陥に関する情報を記録する方法であってもよい。   The defect marking method according to the aspect may be a method of recording information on the defect by changing any one or more of the number, interval, size, and color of the mark.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示する方法であってもよい。   The defect marking method according to the aspect may be a method of displaying the position of the defect in the one direction by a print pattern in which at least a part of a plurality of marks arranged in the one direction is changed. .

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示する方法であってもよい。   In the defect marking method of the above aspect, the defect in the one direction is arranged by disposing at least a part of the plurality of marks arranged in the one direction at a position adjacent to the defect. A method of displaying the position may be used.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記他の方向において、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンを印字することによって、前記欠陥に関する情報を記録する方法であってもよい。   In the defect marking method of the above aspect, in the other direction, by printing a third print pattern adjacent to one or both of the first print pattern and the second print pattern, A method for recording information on the defect may be used.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報を記録する方法であってもよい。   Further, the defect marking method of the above aspect may be a method of recording information related to other than the defect by any one of the print patterns.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記印字パターンを消し取り可能なインクを用いて印字する方法であってもよい。   Further, the defect marking method of the above aspect may be a method of printing using an ink that can erase the print pattern.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記被検査物として、前記一の方向に搬送される長尺帯状の原反の欠陥箇所にマーキングを施す方法であってもよい。   Moreover, in the defect marking method of the said aspect, the method of marking to the defect location of the elongate strip | belt-shaped original fabric conveyed in the said 1 direction as said to-be-inspected object may be sufficient.

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記被検査物として、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートの欠陥箇所にマーキングを施す方法であってもよい。   Moreover, in the defect marking method of the said aspect, the method of marking to the defect location of the sheet | seat obtained by cut | disconnecting a long strip-shaped original fabric as said to-be-inspected object may be sufficient.

また、本発明の態様に従えば、一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う工程と、前記何れかの欠陥マーキング方法を用いて、前記原反を前記一の方向に搬送する間に、前記欠陥検査の結果に基づいて前記原反の欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とする原反の製造方法が提供される。   Further, according to the aspect of the present invention, the step of performing a defect inspection on a long strip-shaped raw material conveyed in one direction, and using any one of the defect marking methods, And a step of marking the defect portion of the original fabric on the basis of the result of the defect inspection during the conveyance in the direction.

また、本発明の態様に従えば、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う工程と、前記何れかの欠陥マーキング方法を用いて、前記欠陥検査の結果に基づいて前記シートの欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とするシートの製造方法が提供される。   Further, according to the aspect of the present invention, the step of performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped raw material, and the result of the defect inspection using any one of the defect marking methods And a step of marking a defective portion of the sheet based on the above.

また、本発明の態様に従えば、被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す印字装置を備え、前記印字装置が、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向に所定の間隔で並んで配置されると共に、前記被検査物の表面に印字パターンを印字する複数の印字部と、前記複数の印字部の駆動を制御する制御部と、を有し、前記制御部が、前記他の方向において隣り合う第1の印字パターンと第2の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを印字する印字部を選択する制御を行うことを特徴とする欠陥マーキング装置が提供される。   Moreover, according to the aspect of the present invention, the printing apparatus includes a marking device that marks a defective portion of the inspection object, and the printing apparatus has a predetermined direction in another direction that intersects with one direction in the surface of the inspection object. A plurality of printing units that are arranged side by side and print a print pattern on the surface of the inspection object, and a control unit that controls driving of the plurality of printing units, the control unit, A printing unit that prints the first printing pattern and the second printing pattern is selected so that a defect is located between the first printing pattern and the second printing pattern that are adjacent in the other direction. There is provided a defect marking device characterized by performing control.

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れか一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンを変更する制御を行う構成であってもよい。   Further, in the defect marking device according to the aspect, the control unit may select the first printing pattern and the first printing pattern according to the information on the defect to be recorded for one or both of the selected printing units. The structure which performs control which changes any one or both printing patterns with a 2nd printing pattern may be sufficient.

また、前記態様の欠陥マーキング装置では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並べて印字する構成であってもよい。   Further, the defect marking device of the above aspect may be configured such that at least one or a plurality of dot-like marks are arranged in the one direction as the one or both of the print patterns.

また、前記態様の欠陥マーキング装置では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並べて印字する構成であってもよい。   Further, the defect marking device according to the aspect may be configured to print at least one or a plurality of linear marks in the one direction as the one or both of the print patterns.

また、前記態様の欠陥マーキング装置では、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか1つ以上を変更する構成であってもよい。   Further, the defect marking device of the above aspect may be configured to change any one or more of the number, interval, size, and color of the marks.

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れかの印字部に対して、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更する制御を行う構成であってもよい。   Further, in the defect marking apparatus according to the aspect, the control unit performs control to change at least some intervals of the plurality of marks arranged in the one direction with respect to any of the selected printing units. It may be.

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れかの印字部に対して、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置する制御を行う構成であってもよい。   Further, in the defect marking device according to the aspect, the control unit may provide a blank with at least a part of a plurality of marks arranged in the one direction, with respect to any of the selected printing units. The structure which performs the control arrange | positioned in the position adjacent to may be sufficient.

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記他の方向において、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンを印字する印字部を選択し、当該選択された何れ一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第3の印字パターンを変更する制御を行う構成であってもよい。   In the defect marking device according to the aspect, the control unit may include a third print pattern that is adjacent to one or both of the first print pattern and the second print pattern in the other direction. The printing unit to be printed is selected, and one or both of the selected printing units are controlled to change the third printing pattern in accordance with information on the defect to be recorded. Also good.

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れかの印字部に対して、記録すべき前記欠陥以外に関する情報に応じて、前記何れかの印字パターンを変更する制御を行う構成であってもよい。   Further, in the defect marking device according to the aspect, the control unit controls to change any one of the print patterns in accordance with information related to other than the defect to be recorded for any one of the selected print units. The structure which performs this may be sufficient.

また、本発明の態様に従えば、一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う欠陥検査装置と、前記何れかの欠陥マーキング装置と、を備え、前記原反を前記一の方向に搬送する間に、前記欠陥検査の結果に基づいて前記原反の欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする原反の製造装置が提供される。   According to an aspect of the present invention, the apparatus includes a defect inspection apparatus that performs a defect inspection on a long strip-shaped original fabric conveyed in one direction, and any one of the defect marking apparatuses. While the sheet is conveyed in the one direction, marking is performed on the defect portion of the original fabric based on the result of the defect inspection.

また、本発明の態様に従えば、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う欠陥検査装置と、前記何れかの欠陥マーキング装置と、を備え、前記欠陥検査の結果に基づいて前記シートの欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とするシートの製造装置が提供される。   Further, according to an aspect of the present invention, the defect includes a defect inspection apparatus that performs a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped original fabric, and any one of the defect marking apparatuses. A sheet manufacturing apparatus is provided, wherein marking is performed on a defective portion of the sheet based on a result of the inspection.

また、本発明の態様に従えば、欠陥箇所にマーキングが施された長尺帯状の原反であって、前記マーキングにより表面に印字され、短手方向において隣り合う第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを有し、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの間に欠陥が位置することによって、前記欠陥の位置が表示されていることを特徴とする原反が提供される。   In addition, according to the aspect of the present invention, a long strip-shaped original fabric in which a defective portion is marked, the first printed pattern that is printed on the surface by the marking and is adjacent in the lateral direction and the first 2 is provided, and the position of the defect is displayed when the defect is located between the first print pattern and the second print pattern. Is done.

また、前記態様の原反では、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。   Further, the original fabric of the above aspect may have a configuration in which information on the defect is recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern.

また、前記態様の原反では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークが少なくとも1つ又は長手方向に複数並べて印字されている構成であってもよい。   Further, the original fabric of the above aspect may have a configuration in which at least one or a plurality of dot-like marks are printed side by side in the longitudinal direction as one or both of the print patterns.

また、前記態様の原反では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークが少なくとも1つ又は長手方向に複数並べて印字されている構成であってもよい。   Further, the original fabric of the above aspect may be configured such that at least one or a plurality of linear marks are printed side by side in the longitudinal direction as one or both of the print patterns.

また、前記態様の原反では、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか1つ以上が変更されている構成であってもよい。   In the original fabric of the above aspect, any one or more of the number, interval, size, and color of the marks may be changed.

また、前記態様の原反では、前記長手方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記長手方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。   Further, the original fabric of the above aspect may be configured such that the position of the defect in the longitudinal direction is displayed by a printing pattern in which at least a part of the plurality of marks arranged in the longitudinal direction is changed.

また、前記態様の原反では、前記長手方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記長手方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。   In the original fabric according to the aspect, the position of the defect in the longitudinal direction is displayed by disposing at least a part of the plurality of marks arranged in the longitudinal direction at a position adjacent to the defect. It may be configured.

また、前記態様の原反では、前記短手方向において、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンを有し、前記第3の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。   Further, the original fabric of the aspect includes a third print pattern that is adjacent to one or both of the first print pattern and the second print pattern in the short-side direction, The information on the defect may be recorded by the print pattern.

また、前記態様の原反では、前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報が記録されている構成であってもよい。   Moreover, the original fabric of the aspect may be configured such that information related to other than the defect is recorded by any one of the print patterns.

また、前記態様の原反では、前記印字パターンが消し取り可能なインクにより印字されている構成であってもよい。   Further, the original fabric of the above aspect may be configured such that the print pattern is printed with erasable ink.

また、本発明の態様に従えば、欠陥箇所にマーキングが施されたシートであって、前記マーキングにより表面に印字され、一の方向と交差する他の方向において隣り合う第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを有し、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの間に欠陥が位置することによって、前記欠陥の位置が表示されていることを特徴とするシートが提供される。   Further, according to an aspect of the present invention, the sheet is marked on the defective portion, printed on the surface by the marking, and adjacent to the first print pattern in the other direction intersecting the one direction, Provided is a sheet having a second print pattern, wherein the position of the defect is displayed when the defect is located between the first print pattern and the second print pattern. Is done.

また、前記態様のシートでは、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。   The sheet according to the aspect may have a configuration in which information on the defect is recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern.

また、前記態様のシートでは、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークが少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並んで印字されている構成であってもよい。   Further, the sheet according to the aspect may have a configuration in which at least one or a plurality of dot-like marks are printed side by side in the one direction as the one or both of the print patterns.

また、前記態様のシートでは、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークが少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並んで印字されている構成であってもよい。   Further, the sheet according to the aspect may have a configuration in which at least one or a plurality of linear marks are printed side by side in the one direction as the one or both of the print patterns.

また、前記態様のシートでは、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか1つ以上が変更されている構成であってもよい。   In the sheet according to the aspect, any one or more of the number, interval, size, and color of the marks may be changed.

また、前記態様のシートでは、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記一の方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。   Further, the sheet according to the aspect may be configured such that the position of the defect in the one direction is displayed by a print pattern in which at least a part of a plurality of marks arranged in the one direction is changed. .

また、前記態様のシートでは、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記一の方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。   Further, in the sheet according to the aspect, the position of the defect in the one direction can be determined by disposing at least a part of the plurality of marks arranged in the one direction at a position adjacent to the defect. The displayed configuration may be used.

また、前記態様のシートでは、前記他の方向において、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンを有し、前記第3の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。   Further, the sheet according to the aspect includes a third print pattern that is adjacent to one or both of the first print pattern and the second print pattern in the other direction. The information on the defect may be recorded by a printing pattern.

また、前記態様のシートでは、前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報が記録されている構成であってもよい。   Further, the sheet according to the aspect may have a configuration in which information related to other than the defect is recorded by any one of the print patterns.

また、前記態様のシートでは、前記印字パターンが消し取り可能なインクにより印字されている構成であってもよい。   The sheet according to the aspect may have a configuration in which the print pattern is printed with erasable ink.

以上のように、本発明の態様によれば、欠陥の位置を表示するのに好適な欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシートを提供することが可能である。   As described above, according to an aspect of the present invention, a defect marking method and a defect marking apparatus suitable for displaying the position of a defect, an original fabric manufacturing method and an original fabric, and a sheet manufacturing method and a sheet are provided. It is possible.

液晶表示パネルの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of a liquid crystal display panel. 図1中に示す液晶表示パネルの断面図である。It is sectional drawing of the liquid crystal display panel shown in FIG. 光学フィルムの一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of an optical film. フィルム製造装置及び欠陥マーキング装置の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of a film manufacturing apparatus and a defect marking apparatus. 図4に示す欠陥マーキング装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the defect marking apparatus shown in FIG. ドット状のマークにより印字された第1の印字パターン及び第2の印字パターンの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the 1st printing pattern and the 2nd printing pattern which were printed with the dot-shaped mark. 線状のマークにより印字された第1の印字パターン及び第2の印字パターンの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the 1st printing pattern and the 2nd printing pattern which were printed with the linear mark. 第3の印字パターンを追加した例を示す平面図である。It is a top view which shows the example which added the 3rd printing pattern. 欠陥の種類とその印字パターンの違いを例示した平面図である。It is the top view which illustrated the difference in the kind of defect, and its printing pattern. 第1の製造工程と第2の製造工程で発生した欠陥を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the defect which generate | occur | produced in the 1st manufacturing process and the 2nd manufacturing process. 第1の製造工程と第2の製造工程で発生した欠陥に対して印字された第1の印字パターン及び第2の印字パターンの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the 1st printing pattern printed with respect to the defect which generate | occur | produced in the 1st manufacturing process and the 2nd manufacturing process, and a 2nd printing pattern. 第1の印字パターン及び第2の印字パターンの変形例を示す平面図である。It is a top view which shows the modification of a 1st printing pattern and a 2nd printing pattern. 印字パターンの組み合わせを例示した平面図である。It is the top view which illustrated the combination of the printing pattern.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
本実施形態では、例えば光学表示デバイスの生産システムとして、その一部を構成するフィルム製造装置(原反の製造装置)、並びに、このフィルム製造装置を用いたフィルム製造方法(原反の製造方法)について説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
In the present embodiment, for example, as a production system of an optical display device, a film manufacturing apparatus (raw fabric manufacturing apparatus) constituting a part thereof, and a film manufacturing method (raw fabric manufacturing method) using this film manufacturing apparatus Will be described.

フィルム製造装置は、例えば液晶表示パネルや有機EL表示パネルなどのパネル状の光学表示部品(光学表示パネル)に貼合される、例えば偏光フィルムや位相差フィルム、輝度向上フィルムなどのフィルム状の光学部材(光学フィルム)を製造するものである。フィルム製造装置は、このような光学表示部品や光学部材を含む光学表示デバイスを生産する生産システムの一部を構成している。   The film manufacturing apparatus is bonded to a panel-shaped optical display component (optical display panel) such as a liquid crystal display panel or an organic EL display panel, for example, a film-shaped optical such as a polarizing film, a retardation film, or a brightness enhancement film. A member (optical film) is manufactured. The film manufacturing apparatus constitutes a part of a production system for producing an optical display device including such optical display components and optical members.

本実施形態では、光学表示デバイスとして透過型の液晶表示装置を例示している。透過型の液晶表示装置は、液晶表示パネルと、バックライトとを概略備えている。この液晶表示装置では、バックライトから出射された照明光を液晶表示パネルの裏面側から入射し、液晶表示パネルにより変調された光を液晶表示パネルの表面側から出射することによって、画像を表示することが可能である。   In the present embodiment, a transmissive liquid crystal display device is illustrated as an optical display device. The transmissive liquid crystal display device generally includes a liquid crystal display panel and a backlight. In this liquid crystal display device, illumination light emitted from the backlight is incident from the back side of the liquid crystal display panel, and light modulated by the liquid crystal display panel is emitted from the front side of the liquid crystal display panel, thereby displaying an image. It is possible.

(光学表示デバイス)
先ず、光学表示デバイスとして、図1及び図2に示す液晶表示パネルPの構成について説明する。なお、図1は、液晶表示パネルPの構成を示す平面図である。図2は、図1中に示す切断線A−Aによる液晶表示パネルPの断面図である。なお、図2では、断面を示すハッチングの図示を省略している。
(Optical display device)
First, the configuration of the liquid crystal display panel P shown in FIGS. 1 and 2 will be described as an optical display device. FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the liquid crystal display panel P. FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display panel P along the cutting line AA shown in FIG. In FIG. 2, hatching showing a cross section is omitted.

液晶表示パネルPは、図1及び図2に示すように、第1の基板P1と、第1の基板P1に対向して配置された第2の基板P2と、第1の基板P1と第2の基板P2との間に配置された液晶層P3とを概略備えている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid crystal display panel P includes a first substrate P1, a second substrate P2 disposed opposite to the first substrate P1, a first substrate P1, and a second substrate. And a liquid crystal layer P3 disposed between the substrate P2 and the substrate P2.

第1の基板P1は、平面視で長方形状を為す透明基板からなる。第2の基板P2は、第1の基板P1よりも比較的小形の長方形状を為す透明基板からなる。液晶層P3は、第1の基板P1と第2の基板P2との間の周囲をシール材(図示せず。)で封止し、シール材によって囲まれた平面視で長方形状を為す領域の内側に配置されている。液晶表示パネルPでは、平面視で液晶層P3の外周の内側に収まる領域を表示領域P4とし、この表示領域P4の周囲を囲む外側の領域を額縁部Gとする。   The first substrate P1 is made of a transparent substrate having a rectangular shape in plan view. The second substrate P2 is made of a transparent substrate having a rectangular shape that is relatively smaller than the first substrate P1. The liquid crystal layer P3 is a region of a rectangular shape in plan view surrounded by a sealing material (not shown) between the first substrate P1 and the second substrate P2 and surrounded by the sealing material. Arranged inside. In the liquid crystal display panel P, an area that fits inside the outer periphery of the liquid crystal layer P3 in plan view is a display area P4, and an outer area that surrounds the display area P4 is a frame portion G.

液晶表示パネルPの裏面(バックライト側)には、偏光フィルムとしての第1の光学フィルムF11と、この第1の光学フィルムF11に重ねて輝度向上フィルムとしての第3の光学フィルムF13とが順に積層されて貼合されている。液晶表示パネルPの表面(表示面側)には、偏光フィルムとしての第2の光学フィルムF12が貼合されている。以下、第1、第2及び第3の光学フィルムF11,F12,F13を光学フィルムF1Xと総称することがある。   On the back surface (backlight side) of the liquid crystal display panel P, a first optical film F11 serving as a polarizing film and a third optical film F13 serving as a brightness enhancement film are sequentially stacked on the first optical film F11. It is laminated and bonded. A second optical film F12 as a polarizing film is bonded to the surface (display surface side) of the liquid crystal display panel P. Hereinafter, the first, second, and third optical films F11, F12, and F13 may be collectively referred to as an optical film F1X.

(光学フィルム)
次に、図3に示す光学フィルムF1Xを構成する光学シートFXの一例について説明する。なお、図3は、光学シートFXの構成を示す断面図である。なお、図3では、断面を示すハッチングの図示を省略している。
(Optical film)
Next, an example of the optical sheet FX constituting the optical film F1X shown in FIG. 3 will be described. FIG. 3 is a cross-sectional view showing the configuration of the optical sheet FX. In FIG. 3, hatching showing a cross section is omitted.

光学フィルムF1Xは、図3に示す長尺帯状の光学シート(原反)FXから所定の長さのシート片(チップ)を切り出すことによって得られる。具体的に、この光学シートFXは、基材シートF4と、基材シートF4の一方の面(図3中の上面)に設けられた粘着層F5と、粘着層F5を介して基材シートF4の一方の面に設けられたセパレータシートF6と、基材シートF4の他方の面(図3中の下面)に設けられた表面保護シートF7とを有する。   The optical film F1X is obtained by cutting a sheet piece (chip) having a predetermined length from the long belt-shaped optical sheet (original fabric) FX shown in FIG. Specifically, the optical sheet FX includes a base material sheet F4, an adhesive layer F5 provided on one surface (upper surface in FIG. 3) of the base material sheet F4, and the base material sheet F4 via the adhesive layer F5. Separator sheet F6 provided on one surface of the sheet, and a surface protection sheet F7 provided on the other surface (lower surface in FIG. 3) of the base sheet F4.

基材シートF4は、例えば偏光フィルムの場合、偏光子F4aを一対の保護フィルムF4b,F4cが挟み込む構造を有している。粘着層F5は、シート片(光学フィルムF1X)を液晶表示パネルPに貼着させるものである。セパレータシートF6は、粘着層F5を保護するものであり、シート片(光学フィルムF1X)を液晶表示パネルPに貼合する前に粘着層F5から剥離される。なお、光学フィルムF1XからセパレータシートF6を除いた部分は、貼合シートF8とされる。   In the case of a polarizing film, for example, the base sheet F4 has a structure in which a polarizer F4a is sandwiched between a pair of protective films F4b and F4c. The adhesive layer F5 is for attaching a sheet piece (optical film F1X) to the liquid crystal display panel P. The separator sheet F6 protects the adhesive layer F5, and is peeled from the adhesive layer F5 before the sheet piece (optical film F1X) is bonded to the liquid crystal display panel P. In addition, the part remove | excluding the separator sheet F6 from the optical film F1X is set as the bonding sheet | seat F8.

表面保護シートF7は、基材シートF4の表面を保護するものである。表面保護シートF7は、シート片(光学フィルムF1X)が液晶表示パネルPに貼着された後に、シート片(光学フィルムF1X)の表面から剥離される。   The surface protection sheet F7 protects the surface of the base material sheet F4. The surface protection sheet F7 is peeled off from the surface of the sheet piece (optical film F1X) after the sheet piece (optical film F1X) is attached to the liquid crystal display panel P.

なお、基材シートF4については、一対の保護フィルムF4b,F4cのうち何れか一方を省略した構成としてもよい。例えば、粘着層F5側の保護フィルムF4bを省略して、偏光子F4aに粘着層F5が直接設けられた構成とすることができる。また、表面保護シートF7側の保護フィルムF4cには、例えば、液晶表示パネルPの最外面を保護するハードコート処理や、防眩効果が得られるアンチグレア処理などの表面処理が施されていてもよい。また、基材シートF4については、上述した積層構造のものに限らず、単層構造のものであってもよい。また、表面保護シートF7については、省略することも可能である。   In addition, about the base material sheet F4, it is good also as a structure which abbreviate | omitted any one among a pair of protective films F4b and F4c. For example, the protective film F4b on the adhesive layer F5 side may be omitted, and the adhesive layer F5 may be directly provided on the polarizer F4a. The protective film F4c on the surface protective sheet F7 side may be subjected to a surface treatment such as a hard coat treatment that protects the outermost surface of the liquid crystal display panel P or an antiglare treatment that provides an antiglare effect. . Moreover, about the base material sheet F4, not only the thing of the laminated structure mentioned above but the thing of a single layer structure may be sufficient. Further, the surface protection sheet F7 can be omitted.

(フィルム製造装置及びフィルム製造方法)
次に、図4に示すフィルム製造装置100について説明する。なお、図4は、フィルム製造装置100の構成を示す側面図である。
(Film manufacturing apparatus and film manufacturing method)
Next, the film manufacturing apparatus 100 shown in FIG. 4 will be described. FIG. 4 is a side view showing the configuration of the film manufacturing apparatus 100.

フィルム製造装置100は、図4に示すように、例えば、偏光フィルムとなる長尺帯状の第1のフィルムF101の一面に、表面保護フィルムとなる長尺帯状の第2のフィルムF102を貼合した後、第1のフィルムF101の他面に表面保護フィルムとなる長尺帯状の第3のフィルムF103を貼合することによって、第1のフィルムF101の両面に第2のフィルムF102及び第3のフィルムF103が貼合された光学フィルムF10Xを製造するものである。   As shown in FIG. 4, the film manufacturing apparatus 100, for example, bonded a long strip-shaped second film F102 serving as a surface protective film to one surface of a long strip-shaped first film F101 serving as a polarizing film. Then, the second film F102 and the third film are formed on both surfaces of the first film F101 by laminating a long belt-like third film F103, which is a surface protective film, on the other surface of the first film F101. The optical film F10X to which F103 is bonded is manufactured.

具体的に、このフィルム製造装置100は、第1の搬送ライン101と、第2の搬送ライン102と、第3の搬送ライン103と、第4の搬送ライン104と、第5の搬送ライン105と、巻取部106とを概略備えている。   Specifically, the film manufacturing apparatus 100 includes a first transport line 101, a second transport line 102, a third transport line 103, a fourth transport line 104, and a fifth transport line 105. The winding unit 106 is roughly provided.

このうち、第1の搬送ライン101は、第1のフィルムF101を搬送する搬送経路を形成し、第2の搬送ライン102は、第1の原反ロールR1から巻き出された第2のフィルムF102を搬送する搬送経路を形成し、第3の搬送ライン103は、第1のフィルムF101の一面に第2のフィルムF102が貼合された片面貼合フィルムF104を搬送する搬送経路を形成し、第4の搬送ライン104は、第2の原反ロールR2から巻き出された第3のフィルムF103を搬送する搬送経路を形成し、第5の搬送ライン105は、片面貼合フィルムF104の第1のフィルムF101側の面(第1のフィルムF101の他面)に第3のフィルムF103が貼合された両面貼合フィルムF105(光学フィルムF10X)を搬送する搬送経路を形成している。そして、製造された光学フィルムF10Xは、巻取部106において、第3の原反ロールR3として芯材に巻き取られる。   Among these, the 1st conveyance line 101 forms the conveyance path which conveys the 1st film F101, and the 2nd conveyance line 102 is the 2nd film F102 unwound from the 1st original fabric roll R1. The third conveyance line 103 forms a conveyance path for conveying the single-sided bonded film F104 in which the second film F102 is bonded to one surface of the first film F101, The 4th conveyance line 104 forms the conveyance path | route which conveys the 3rd film F103 unwound from the 2nd original fabric roll R2, and the 5th conveyance line 105 is 1st of the single-sided bonding film F104. The conveyance path which conveys the double-sided bonding film F105 (optical film F10X) by which the 3rd film F103 was bonded to the surface by the side of the film F101 (other surface of the 1st film F101). It is formed. And the manufactured optical film F10X is wound up by the core material as the 3rd original fabric roll R3 in the winding-up part 106. FIG.

第1の搬送ライン101は、例えば、PVA(Polyvinyl Alcohol)などの偏光子の基材となるフィルムに対して、染色処理や架橋処理、延伸処理などを施した後、その両面にTAC(Triacetylcellulose)などの保護フィルムを貼合することにより得られた長尺帯状の第1のフィルムF101を第3の搬送ライン103に向けて搬送させるものである。   For example, the first transport line 101 is a TAC (Triacetylcellulose) on both sides of a film that is a base material of a polarizer such as PVA (Polyvinyl Alcohol). A long strip-shaped first film F101 obtained by laminating a protective film or the like is transported toward the third transport line 103.

具体的に、この第1の搬送ライン101には、第3の搬送ライン103の上流側を挟んだ一方側から第3の搬送ライン103に向けて、一対の第1のニップロール111a,111bと、複数の第1のダンサーロール112a,112bを含む第1のアキュームレーター112と、第1のガイドロール113とが、水平方向に順次並んで配置されている。   Specifically, the first transport line 101 includes a pair of first nip rolls 111a and 111b from one side across the upstream side of the third transport line 103 toward the third transport line 103, and A first accumulator 112 including a plurality of first dancer rolls 112a and 112b and a first guide roll 113 are sequentially arranged in the horizontal direction.

一対の第1のニップロール111a,111bは、その間に第1のフィルムF101を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図4中に示す矢印aの方向(右方向)に第1のフィルムF101を引き出すものである。   The pair of first nip rolls 111a and 111b rotate in opposite directions while sandwiching the first film F101 therebetween, thereby causing the first film F101 in the direction of arrow a (rightward) shown in FIG. It is what draws out.

第1のアキュームレーター112は、第1のフィルムF101の送り量の変動による差を吸収すると共に、第1のフィルムF101に加わる張力の変動を低減するためのものである。具体的に、この第1のアキュームレーター112は、第1のニップロール111a,111bと第1のガイドロール113との間で、上部側に位置する複数のダンサーロール112aと、下部側に位置する複数のダンサーロール112bとが交互に並んで配置された構成を有している。   The first accumulator 112 is for absorbing the difference due to the fluctuation of the feeding amount of the first film F101 and reducing the fluctuation of the tension applied to the first film F101. Specifically, the first accumulator 112 includes a plurality of dancer rolls 112a located on the upper side and a plurality located on the lower side between the first nip rolls 111a and 111b and the first guide roll 113. The dancer rolls 112b are alternately arranged.

第1のアキュームレーター112では、上部側のダンサーロール112aと下部側のダンサーロール112bとに第1のフィルムF101が互い違いに掛け合わされた状態で、第1のフィルムF101を搬送させながら、上部側のダンサーロール112aと下部側のダンサーロール112bとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第1の搬送ライン101を停止することなく、第1のフィルムF101を蓄積することが可能となっている。例えば、第1のアキュームレーター112では、上部側のダンサーロール112aと下部側のダンサーロール112bとの間の距離を広げることよって、第1のフィルムF101の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール112aと下部側のダンサーロール112bとの間の距離を狭めることよって、第1のフィルムF101の蓄積を減らすことができる。第1のアキュームレーター112は、例えば、原反ロールR1〜R3の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。   In the first accumulator 112, while the first film F101 is alternately wound on the dancer roll 112a on the upper side and the dancer roll 112b on the lower side, while the first film F101 is conveyed, The dancer roll 112a and the lower dancer roll 112b are moved up and down relatively. Thereby, it is possible to accumulate the first film F101 without stopping the first transport line 101. For example, in the first accumulator 112, the distance between the upper dancer roll 112a and the lower dancer roll 112b is increased to increase the accumulation of the first film F101, while the upper dancer roll 112a. By reducing the distance between the dancer roll 112b and the lower dancer roll 112b, accumulation of the first film F101 can be reduced. The first accumulator 112 is operated, for example, at the time of work such as paper splicing after replacing the core material of the raw fabric rolls R1 to R3.

第1のガイドロール113は、回転しながら第1のニップロール111a,111bにより引き出された第1のフィルムF101を第3の搬送ライン103の上流側に向けて案内するものである。なお、第1のガイドロール113は、1つだけ配置された構成に限らず複数配置された構成であってもよい。   The first guide roll 113 guides the first film F101 drawn out by the first nip rolls 111a and 111b toward the upstream side of the third transport line 103 while rotating. The first guide roll 113 is not limited to a single arrangement, and may be a plurality of arrangements.

第2の搬送ライン102は、例えば、PET(Polyethylene terephthalate)などの表面保護フィルムとなる長尺帯状の第2のフィルムF102を第1の原反ロールR1から巻き出しつつ、第3の搬送ライン103に向けて搬送させるものである。   The second transport line 102 is, for example, a third transport line 103 while unwinding a long belt-shaped second film F102 serving as a surface protection film such as PET (Polyethylene terephthalate) from the first raw roll R1. It is made to convey toward

具体的に、この第2の搬送ライン102には、第3の搬送ライン103の上流側を挟んだ他方側から第3の搬送ライン103に向けて、一対の第2のニップロール121a,121bと、複数の第2のダンサーロール122a,122bを含む第2のアキュームレーター122と、複数の第2のガイドロール123a,123bとが、水平方向に順次並んで配置されている。   Specifically, the second transport line 102 includes a pair of second nip rolls 121a and 121b from the other side across the upstream side of the third transport line 103 toward the third transport line 103, A second accumulator 122 including a plurality of second dancer rolls 122a and 122b and a plurality of second guide rolls 123a and 123b are sequentially arranged in the horizontal direction.

一対の第2のニップロール121a,121bは、その間に第2のフィルムF102を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図4中に示す矢印bの方向(左方向)に第2のフィルムF102を引き出すものである。   The pair of second nip rolls 121a and 121b rotate in opposite directions while sandwiching the second film F102 therebetween, thereby causing the second film F102 in the direction of the arrow b (left direction) shown in FIG. It is what draws out.

第2のアキュームレーター122は、第2のフィルムF102の送り量の変動による差を吸収すると共に、第2のフィルムF102に加わる張力の変動を低減するためのものである。具体的に、この第2のアキュームレーター122は、第2のニップロール121a,121bと第2のガイドロール123a,123bとの間で、上部側に位置する複数のダンサーロール122aと、下部側に位置する複数のダンサーロール122bとが交互に並んで配置された構成を有している。   The second accumulator 122 is for absorbing the difference due to the fluctuation of the feed amount of the second film F102 and reducing the fluctuation of the tension applied to the second film F102. Specifically, the second accumulator 122 is located between the second nip rolls 121a and 121b and the second guide rolls 123a and 123b, and a plurality of dancer rolls 122a located on the upper side and a lower side. And a plurality of dancer rolls 122b that are arranged alternately.

第2のアキュームレーター122では、上部側のダンサーロール122aと下部側のダンサーロール122bとに第2のフィルムF102が互い違いに掛け合わされた状態で、第2のフィルムF102を搬送させながら、上部側のダンサーロール122aと下部側のダンサーロール122bとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第2の搬送ライン102を停止することなく、第2のフィルムF102を蓄積することが可能となっている。例えば、第2のアキュームレーター122では、上部側のダンサーロール122aと下部側のダンサーロール122bとの間の距離を広げることよって、第2のフィルムF102の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール122aと下部側のダンサーロール122bとの間の距離を狭めることよって、第2のフィルムF102の蓄積を減らすことができる。第2のアキュームレーター122は、例えば、原反ロールR1〜R3の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。   In the second accumulator 122, the second film F102 is alternately wound on the upper dancer roll 122a and the lower dancer roll 122b, while the second film F102 is conveyed, The dancer roll 122a and the lower dancer roll 122b are moved up and down relatively in the vertical direction. As a result, the second film F102 can be accumulated without stopping the second transport line 102. For example, in the second accumulator 122, by increasing the distance between the upper dancer roll 122a and the lower dancer roll 122b, the accumulation of the second film F102 is increased, while the upper dancer roll 122a is increased. The accumulation of the second film F102 can be reduced by narrowing the distance between the dancer roll 122b and the lower dancer roll 122b. The second accumulator 122 is operated, for example, at the time of work such as paper splicing after replacing the core material of the raw fabric rolls R1 to R3.

複数の第2のガイドロール123a,123bは、それぞれ回転しながら第2のニップロール121a,121bにより引き出された第2のフィルムF102を第3の搬送ライン103の上流側に向けて案内するものである。なお、第2のガイドロール123a,123bは、複数配置された構成に限らず1つだけ配置された構成であってもよい。   The plurality of second guide rolls 123a and 123b guide the second film F102 drawn by the second nip rolls 121a and 121b toward the upstream side of the third transport line 103 while rotating. . Note that the second guide rolls 123a and 123b are not limited to a plurality of arrangements, and may be a single arrangement.

第3の搬送ライン103は、第1のフィルムF101の一面に第2のフィルムF102を貼合した長尺帯状の片面貼合フィルムF104を第5の搬送ライン105に向けて搬送させるものである。   The 3rd conveyance line 103 conveys the elongate strip | belt-shaped single-sided bonding film F104 which bonded the 2nd film F102 on the one surface of the 1st film F101 toward the 5th conveyance line 105. As shown in FIG.

具体的に、この第3の搬送ライン103には、一対の第3のニップロール131a,131bが配置されている。一対の第3のニップロール131a,131bは、第1の搬送ライン101の下流側と第2の搬送ライン102の下流側との合流点に位置して、その間に第1のフィルムF101及び第2のフィルムF102を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、第1のフィルムF101と第2のフィルムF102とを貼合した片面貼合フィルムF104を図4中に示す矢印cの方向(下方向)に引き出すものである。   Specifically, a pair of third nip rolls 131 a and 131 b are arranged on the third transport line 103. The pair of third nip rolls 131a and 131b is located at the junction of the downstream side of the first conveyance line 101 and the downstream side of the second conveyance line 102, and the first film F101 and the second film are interposed therebetween. The direction of the arrow c shown in FIG. 4 (downward direction) shows the single-sided bonding film F104 in which the first film F101 and the second film F102 are bonded by rotating in opposite directions while sandwiching the film F102. It is something to pull out.

第4の搬送ライン104は、例えば、PET(Polyethylene terephthalate)などの表面保護フィルムとなる長尺帯状の第3のフィルムF103を第2の原反ロールR2から巻き出しつつ、第5の搬送ライン105に向けて搬送させるものである。   The fourth transport line 104 is, for example, a fifth transport line 105 while unwinding a long strip-shaped third film F103 serving as a surface protection film such as PET (Polyethylene terephthalate) from the second raw roll R2. It is made to convey toward

具体的に、この第4の搬送ライン104には、第3の搬送ライン103の下流側を挟んだ一方側から第3の搬送ライン103に向けて、一対の第4のニップロール141a,141bと、複数の第3のダンサーロール142a,142bを含む第3のアキュームレーター142と、複数の第4のガイドロール143a,143bとが、水平方向に順次並んで配置されている。   Specifically, the fourth transport line 104 includes a pair of fourth nip rolls 141a and 141b from one side across the downstream side of the third transport line 103 toward the third transport line 103, and A third accumulator 142 including a plurality of third dancer rolls 142a and 142b and a plurality of fourth guide rolls 143a and 143b are sequentially arranged in the horizontal direction.

一対の第4のニップロール141a,141bは、その間に第3のフィルムF103を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図4中に示す矢印dの方向(右方向)に第3のフィルムF103を引き出すものである。   The pair of fourth nip rolls 141a and 141b rotate in opposite directions while sandwiching the third film F103 therebetween, thereby causing the third film F103 in the direction of the arrow d (rightward) shown in FIG. It is what draws out.

第3のアキュームレーター142は、第3のフィルムF103の送り量の変動による差を吸収すると共に、第3のフィルムF103に加わる張力の変動を低減するためのものである。具体的に、この第3のアキュームレーター142は、第4のニップロール141a,141bと第4のガイドロール143a,143bとの間で、上部側に位置する複数のダンサーロール142aと、下部側に位置する複数のダンサーロール142bとが交互に並んで配置された構成を有している。   The third accumulator 142 is for absorbing the difference due to the variation in the feed amount of the third film F103 and reducing the variation in the tension applied to the third film F103. Specifically, the third accumulator 142 includes a plurality of dancer rolls 142a positioned on the upper side and a position positioned on the lower side between the fourth nip rolls 141a and 141b and the fourth guide rolls 143a and 143b. The plurality of dancer rolls 142b that are arranged alternately are arranged.

第3のアキュームレーター142では、上部側のダンサーロール142aと下部側のダンサーロール142bとに第3のフィルムF103が互い違いに掛け合わされた状態で、第3のフィルムF103を搬送させながら、上部側のダンサーロール142aと下部側のダンサーロール142bとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第4の搬送ライン104を停止することなく、第3のフィルムF103を蓄積することが可能となっている。例えば、第3のアキュームレーター142では、上部側のダンサーロール142aと下部側のダンサーロール142bとの間の距離を広げることよって、第3のフィルムF103の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール142aと下部側のダンサーロール142bとの間の距離を狭めることよって、第3のフィルムF103の蓄積を減らすことができる。第3のアキュームレーター142は、例えば、原反ロールR1〜R3の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。   In the third accumulator 142, while the third film F103 is alternately wound on the dancer roll 142a on the upper side and the dancer roll 142b on the lower side, the third film F103 is conveyed, The dancer roll 142a and the lower dancer roll 142b are moved up and down relatively in the vertical direction. Thus, the third film F103 can be accumulated without stopping the fourth transport line 104. For example, the third accumulator 142 increases the accumulation of the third film F103 by increasing the distance between the upper dancer roll 142a and the lower dancer roll 142b, while the upper dancer roll 142a. By reducing the distance between the lower dancer roll 142b and the lower dancer roll 142b, accumulation of the third film F103 can be reduced. The third accumulator 142 is operated, for example, at the time of work such as paper splicing after replacing the core material of the raw fabric rolls R1 to R3.

複数の第4のガイドロール143a,143bは、それぞれ回転しながら第4のニップロール141a,141bにより引き出された第3のフィルムF103を第3の搬送ライン103の下流側(第5の搬送ライン105の上流側)に向けて案内するものである。なお、第4のガイドロール143a,143bは、複数配置された構成に限らず1つだけ配置された構成であってもよい。   The plurality of fourth guide rolls 143a and 143b rotate the third film F103 drawn by the fourth nip rolls 141a and 141b while rotating, respectively, on the downstream side of the third transport line 103 (of the fifth transport line 105). It guides towards the upstream side. Note that the fourth guide rolls 143a and 143b are not limited to a configuration in which a plurality of the fourth guide rolls 143a and 143b are disposed, and may be a configuration in which only one is disposed.

第5の搬送ライン105は、片面貼合フィルムF104の第1のフィルムF101側の面(第1のフィルムF101の他面)に第3のフィルムF103を貼合した長尺帯状の両面貼合フィルムF105(光学フィルムF10X)を第3の原反ロールR3に向けて搬送させるものである。   The 5th conveyance line 105 is the long strip | belt-shaped double-sided bonding film which bonded the 3rd film F103 to the surface (other surface of the 1st film F101) of the 1st film F101 side of the single-sided bonding film F104. F105 (optical film F10X) is conveyed toward the 3rd original fabric roll R3.

具体的に、この第5の搬送ライン105には、第3の搬送ライン103の下流側を挟んだ他方側から第3の原反ロールR3に向けて、一対の第5のニップロール151a,151bと、第5のガイドロール153aと、一対の第6のニップロール151c,151dと、複数の第4のダンサーロール152a,152bを含む第4のアキュームレーター152と、第6のガイドロール153bとが、水平方向に順次並んで配置されている。   Specifically, the fifth transport line 105 includes a pair of fifth nip rolls 151a and 151b from the other side across the downstream side of the third transport line 103 toward the third original roll R3. The fifth guide roll 153a, the pair of sixth nip rolls 151c and 151d, the fourth accumulator 152 including a plurality of fourth dancer rolls 152a and 152b, and the sixth guide roll 153b are horizontal. They are arranged side by side in the direction.

一対の第5のニップロール151a,151bは、第3の搬送ライン103の下流側と第5の搬送ライン105の上流側との合流点に位置して、その間に片面貼合フィルムF104及び第3のフィルムF103を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、片面貼合フィルムF104と第3のフィルムF103とを貼合した両面貼合フィルムF105を図4中に示す矢印eの方向(下方向)に引き出すものである。   The pair of fifth nip rolls 151a and 151b is located at the junction of the downstream side of the third conveyance line 103 and the upstream side of the fifth conveyance line 105, and the single-sided bonding film F104 and the third side are interposed therebetween. The direction of the arrow e shown in FIG. 4 (downward direction) shows the double-sided bonding film F105 in which the single-sided bonding film F104 and the third film F103 are bonded by rotating in opposite directions while sandwiching the film F103. It is something to pull out.

第5のガイドロール153aは、回転しながら第5のニップロール151a,151bにより引き出された両面貼合フィルムF105を第4のアキュームレーター152に向けて案内するものである。なお、第5のガイドロール153aは、1つだけ配置された構成に限らず複数配置された構成であってもよい。   The fifth guide roll 153a guides the double-sided bonded film F105 drawn out by the fifth nip rolls 151a and 151b toward the fourth accumulator 152 while rotating. Note that the fifth guide roll 153a is not limited to a single arrangement, and may be a plurality of arrangements.

一対の第6のニップロール151c,151dは、その間に両面貼合フィルムF105を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図4中に示す矢印fの方向(右方向)に両面貼合フィルムF105を引き出すものである。   The pair of sixth nip rolls 151c and 151d rotate in opposite directions while sandwiching the double-sided adhesive film F105 therebetween, thereby causing the double-sided adhesive film F105 in the direction of arrow f (right direction) shown in FIG. It is what draws out.

第4のアキュームレーター152では、上部側のダンサーロール152aと下部側のダンサーロール152bとに両面貼合フィルムF105が互い違いに掛け合わされた状態で、両面貼合フィルムF105を搬送させながら、上部側のダンサーロール152aと下部側のダンサーロール152bとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第5の搬送ライン105を停止することなく、両面貼合フィルムF105を蓄積することが可能となっている。例えば、第4のアキュームレーター152では、上部側のダンサーロール152aと下部側のダンサーロール152bとの間の距離を広げることよって、両面貼合フィルムF105の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール152aと下部側のダンサーロール152bとの間の距離を狭めることよって、両面貼合フィルムF105の蓄積を減らすことができる。第4のアキュームレーター152は、例えば、原反ロールR1〜R3の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。   In the fourth accumulator 152, the upper side dancer roll 152 a and the lower side dancer roll 152 b are alternately wound on the upper side dancer roll 152 b, while the double sided laminate film F 105 is conveyed alternately, The dancer roll 152a and the lower dancer roll 152b are moved up and down relatively in the vertical direction. Thereby, it becomes possible to accumulate | store the double-sided bonding film F105, without stopping the 5th conveyance line 105. FIG. For example, in the fourth accumulator 152, by increasing the distance between the dancer roll 152a on the upper side and the dancer roll 152b on the lower side, the accumulation of the double-sided bonding film F105 is increased, while the dancer roll 152a on the upper side is increased. By narrowing the distance between the lower dancer roll 152b and the lower side dancer roll 152b, accumulation of the double-sided bonded film F105 can be reduced. For example, the fourth accumulator 152 is operated at the time of work such as paper splicing after the core materials of the raw fabric rolls R1 to R3 are replaced.

第6のガイドロール153bは、両面貼合フィルムF105を第3の原反ロールR3に向けて案内するものである。なお、第6のガイドロール153bは、1つだけ配置された構成に限らず複数配置された構成であってもよい。   The 6th guide roll 153b guides the double-sided bonding film F105 toward the 3rd original fabric roll R3. Note that the sixth guide roll 153b is not limited to a single arrangement, and may be a plurality of arrangements.

両面貼合フィルムF105は、巻取部106において、光学フィルムF10Xの第3の原反ロールR3として芯材に巻き取られた後、次工程へと送られる。   The double-sided bonded film F105 is wound around the core material as the third original roll R3 of the optical film F10X in the winding unit 106, and then sent to the next step.

(欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法)
次に、上記フィルム製造装置100が備える欠陥マーキング装置10、並びに、この欠陥マーキング装置10を用いた欠陥マーキング方法について説明する。
(Defect marking device and defect marking method)
Next, the defect marking apparatus 10 provided in the film manufacturing apparatus 100 and a defect marking method using the defect marking apparatus 10 will be described.

欠陥マーキング装置10は、図4に示すように、上記フィルム製造装置100の一部を構成するものであり、搬送ラインLと、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12と、記録装置13と、第1の測長器14及び第2の測長器15と、制御装置16とを概略備えて構成されている。   As shown in FIG. 4, the defect marking apparatus 10 constitutes a part of the film manufacturing apparatus 100, and includes a conveyance line L, a first defect inspection apparatus 11, a second defect inspection apparatus 12, The recording device 13, the first length measuring device 14 and the second length measuring device 15, and a control device 16 are generally provided.

搬送ラインLは、検査対象となるフィルムを搬送する搬送経路を形成するものであり、本実施形態では、上記第1の搬送ライン101、第3の搬送ライン103及び第5の搬送ライン105によって搬送ラインLが構成されている。   The transport line L forms a transport path for transporting the film to be inspected. In the present embodiment, the transport line L is transported by the first transport line 101, the third transport line 103, and the fifth transport line 105. Line L is configured.

第1の欠陥検査装置11は、第2のフィルムF102及び第3のフィルムF103が貼合される前の第1のフィルムF101の欠陥検査を行うものである。具体的に、この第1の欠陥検査装置11は、第1のフィルムF101を製造する際や、第1のフィルムF101を搬送する際に生じた異物欠陥、凹凸欠陥、輝点欠陥などの各種欠陥を検出する。第1の欠陥検査装置11は、第1の搬送ライン101で搬送される第1のフィルムF101に対して、例えば、反射検査、透過検査、斜め透過検査、クロスニコル透過検査などの検査処理を実行することにより、第1のフィルムF101の欠陥を検出する。   The 1st defect inspection apparatus 11 performs the defect inspection of the 1st film F101 before the 2nd film F102 and the 3rd film F103 are bonded. Specifically, the first defect inspection apparatus 11 is used for various defects such as a foreign matter defect, a concavo-convex defect, and a bright spot defect generated when the first film F101 is manufactured or when the first film F101 is conveyed. Is detected. The first defect inspection apparatus 11 performs inspection processes such as a reflection inspection, a transmission inspection, an oblique transmission inspection, and a crossed Nicol transmission inspection on the first film F101 conveyed on the first conveyance line 101. By doing so, the defect of the 1st film F101 is detected.

第1の欠陥検査装置11は、第1の搬送ライン101において、第1のニップロール111a,111bよりも上流側に、第1のフィルムF101に照明光を照射する複数の照明部21a,22a,23aと、第1のフィルムF101を透過した光(透過光)又は第1のフィルムF101で反射された光(反射光)を検出する複数の光検出部21b,22b,23bとを有している。   The first defect inspection apparatus 11 includes a plurality of illumination units 21a, 22a, and 23a that irradiate illumination light to the first film F101 on the upstream side of the first nip rolls 111a and 111b in the first transport line 101. And a plurality of light detectors 21b, 22b, and 23b that detect light transmitted through the first film F101 (transmitted light) or light reflected by the first film F101 (reflected light).

本実施形態では、透過光を検出する構成のため、第1のフィルムF101の搬送方向に並ぶ複数の照明部21a,22a,23aと光検出部21b,22b,23bとが、それぞれ第1のフィルムF101を挟んで対向して配置されている。また、第1の欠陥検査装置11では、このような透過光を検出する構成に限らず、反射光を検出する構成、若しくは透過光及び反射光を検出する構成であってもよい。反射光を検出する場合には、光検出部21b,22b,23bを照明部21a,22a,23a側に配置すればよい。   In the present embodiment, because of the configuration for detecting transmitted light, the plurality of illumination units 21a, 22a, 23a and the light detection units 21b, 22b, 23b arranged in the transport direction of the first film F101 are respectively the first film. They are arranged facing each other across F101. Further, the first defect inspection apparatus 11 is not limited to such a configuration that detects transmitted light, but may have a configuration that detects reflected light or a configuration that detects transmitted light and reflected light. In the case of detecting reflected light, the light detection units 21b, 22b, and 23b may be disposed on the illumination units 21a, 22a, and 23a side.

照明部21a,22a,23aは、欠陥検査の種類に応じて光強度や波長、偏光状態等が調整された照明光を第1のフィルムF101に照射する。光検出部21b,22b,23bは、CCD等の撮像素子を用いて、第1のフィルムF101の照明光が照射された位置の画像を撮像する。光検出部21b,22b,23bで撮像された画像(欠陥検査の結果)は、制御装置16に出力される。   The illumination units 21a, 22a, and 23a irradiate the first film F101 with illumination light whose light intensity, wavelength, polarization state, and the like are adjusted according to the type of defect inspection. The light detection units 21b, 22b, and 23b capture an image of the position irradiated with the illumination light of the first film F101 using an image sensor such as a CCD. Images (defect inspection results) captured by the light detection units 21 b, 22 b, and 23 b are output to the control device 16.

第2の欠陥検査装置12は、第2のフィルムF102及び第3のフィルムF103が貼合された後の第1のフィルムF101、すなわち両面貼合フィルムF105の欠陥検査を行うものである。具体的に、この第2の欠陥検査装置12は、第1のフィルムF101に第2のフィルムF102及び第3のフィルムF103を貼合する際や、片面貼合フィルムF104及び両面貼合フィルムF105を搬送する際に生じた異物欠陥、凹凸欠陥、輝点欠陥などの各種欠陥を検出する。第2の欠陥検査装置12は、第5の搬送ライン105で搬送される両面貼合フィルムF105に対して、例えば、反射検査、透過検査、斜め透過検査、クロスニコル透過検査などの検査処理を実行することにより、両面貼合フィルムF105の欠陥を検出する。   The 2nd defect inspection apparatus 12 performs the defect inspection of the 1st film F101 after the 2nd film F102 and the 3rd film F103 were bonded, ie, the double-sided bonding film F105. Specifically, the second defect inspection apparatus 12 is configured to bond the single-sided bonding film F104 and the double-sided bonding film F105 when the second film F102 and the third film F103 are bonded to the first film F101. Various defects such as a foreign matter defect, a concavo-convex defect, and a bright spot defect generated during conveyance are detected. For example, the second defect inspection apparatus 12 performs inspection processes such as a reflection inspection, a transmission inspection, an oblique transmission inspection, and a crossed Nicols transmission inspection on the double-sided bonded film F105 conveyed by the fifth conveyance line 105. By doing, the defect of the double-sided bonding film F105 is detected.

第2の欠陥検査装置12は、第5の搬送ライン105において、第5のニップロール151a,151bよりも下流側に、両面貼合フィルムF105に照明光を照射する複数の照明部24a,25aと、両面貼合フィルムF105を透過した光(透過光)又は両面貼合フィルムF105で反射された光(反射光)を検出する複数の光検出部24b,25bとを有している。   The second defect inspection apparatus 12 includes a plurality of illumination units 24a and 25a that irradiate the double-sided bonding film F105 with illumination light downstream of the fifth nip rolls 151a and 151b in the fifth transport line 105, and It has the some light detection part 24b, 25b which detects the light (transmitted light) which permeate | transmitted the double-sided bonding film F105, or the light (reflected light) reflected by the double-sided bonding film F105.

本実施形態では、透過光を検出する構成のため、両面貼合フィルムF105の搬送方向に並ぶ複数の照明部24a,25aと光検出部24b,25bとが、それぞれ両面貼合フィルムF105を挟んで対向して配置されている。また、第2の欠陥検査装置12では、このような透過光を検出する構成に限らず、反射光を検出する構成、若しくは透過光及び反射光を検出する構成であってもよい。反射光を検出する場合には、光検出部24b,25bを照明部24a,25a側に配置すればよい。   In this embodiment, because of the configuration for detecting transmitted light, a plurality of illumination units 24a and 25a and light detection units 24b and 25b arranged in the conveyance direction of the double-sided bonding film F105 sandwich the double-sided bonding film F105, respectively. Opposed to each other. The second defect inspection apparatus 12 is not limited to such a configuration that detects transmitted light, but may have a configuration that detects reflected light or a configuration that detects transmitted light and reflected light. In the case of detecting the reflected light, the light detection units 24b and 25b may be arranged on the illumination units 24a and 25a side.

照明部24a,25aは、欠陥検査の種類に応じて光強度や波長、偏光状態等が調整された照明光を両面貼合フィルムF105に照射する。光検出部24b,25bは、CCD等の撮像素子を用いて、両面貼合フィルムF105の照明光が照射された位置の画像を撮像する。光検出部24b,25bで撮像された画像(欠陥検査の結果)は、制御装置16に出力される。   The illumination units 24a and 25a irradiate the double-sided bonding film F105 with illumination light whose light intensity, wavelength, polarization state, and the like are adjusted according to the type of defect inspection. The light detection units 24b and 25b capture an image of the position irradiated with the illumination light of the double-sided bonding film F105 using an imaging element such as a CCD. Images (defect inspection results) captured by the light detection units 24 b and 25 b are output to the control device 16.

記録装置13は、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12の欠陥検査の結果に基づいて、欠陥箇所にマーキングを施す印字装置である。記録装置13は、第5の搬送ライン105において、第2の欠陥検査装置12よりも下流側に設けられている。記録装置13は、例えばインクジェット方式を採用した複数の印字ヘッド13aを有している。なお、印字ヘッド13aについては、レーザー方式を採用したものであってもよい。   The recording device 13 is a printing device that marks a defective portion based on the result of defect inspection by the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12. The recording device 13 is provided on the downstream side of the second defect inspection device 12 in the fifth transport line 105. The recording device 13 has a plurality of print heads 13a adopting, for example, an ink jet method. The print head 13a may employ a laser system.

複数の印字ヘッド13aは、図5に示すように、両面貼合フィルムF105の搬送方向と交差する方向(幅方向)に並んで配置されている。また、各印字ヘッド13aには、インクを吐出するノズル部(印字部)13bが両面貼合フィルムF105の搬送方向と交差する方向(幅方向)に所定の間隔で並んで配置されている。各印字ヘッド13aのノズル部13bは、両面貼合フィルムF105に対向して、両面貼合フィルムF105の幅方向の一端側から他端側に亘って等間隔に並んで配置されている。   As shown in FIG. 5, the plurality of print heads 13 a are arranged side by side in a direction (width direction) that intersects the conveyance direction of the double-sided bonded film F <b> 105. In each print head 13a, a nozzle portion (print portion) 13b for discharging ink is arranged side by side at a predetermined interval in a direction (width direction) intersecting the transport direction of the double-sided bonded film F105. The nozzle portions 13b of the respective print heads 13a face the double-sided bonding film F105 and are arranged at equal intervals from one end side to the other end side in the width direction of the double-sided bonding film F105.

また、複数の印字ヘッド13aと対向する位置には、両面貼合フィルムF105と接する第7のガイドロール153cが配置されている。そして、各印字ヘッド13aのノズル部13bは、両面貼合フィルムF105の第7のガイドロール153cと接する位置とは反対側から、両面貼合フィルムF105の表面に向かってインクを吐出する。これにより、両面貼合フィルムF105の表面にドット状のマークを印字(マーキング)することが可能となっている。   Moreover, the 7th guide roll 153c which contact | connects the double-sided bonding film F105 is arrange | positioned in the position facing the some print head 13a. And the nozzle part 13b of each printing head 13a discharges ink toward the surface of the double-sided bonding film F105 from the opposite side to the position which contact | connects the 7th guide roll 153c of the double-sided bonding film F105. Thereby, it is possible to print (mark) a dot-shaped mark on the surface of the double-sided bonding film F105.

第1の測長器14及び第2の測長器15は、第1のフィルムF101の搬送量を測定するものである。具体的に、本実施形態では、第1の搬送ライン101において、第1のアキュームレーター112よりも上流側にある第1のニップロール111aに第1の測長器14を構成するロータリーエンコーダーと、第1のアキュームレーター112よりも下流側にある第3のニップロール131aに第2の測長器15を構成するロータリーエンコーダーとが配置されている。   The first length measuring device 14 and the second length measuring device 15 measure the transport amount of the first film F101. Specifically, in the present embodiment, in the first transport line 101, a rotary encoder that constitutes the first length measuring device 14 on the first nip roll 111 a that is upstream of the first accumulator 112, A rotary encoder constituting the second length measuring device 15 is arranged on the third nip roll 131a on the downstream side of the one accumulator 112.

第1の測長器14及び第2の測長器15は、第1のフィルムF101に接して回転する第1のニップロール111a及び第3のニップロール131aの回転変位量に応じて、ロータリーエンコーダーが第1のフィルムF101の搬送量を測定する。第1の測長器14及び第2の測長器15の測定結果は、制御装置16に出力される。   The first length measuring device 14 and the second length measuring device 15 are provided with a rotary encoder according to the amount of rotational displacement of the first nip roll 111a and the third nip roll 131a rotating in contact with the first film F101. The conveyance amount of one film F101 is measured. The measurement results of the first length measuring device 14 and the second length measuring device 15 are output to the control device 16.

なお、本実施形態では、第1の欠陥検査装置11と記録装置13との間に、アキュームレーターが1つしか存在しないため、このアキュームレーターの上流側と下流側に測長器が1つずつ配置された構成となっている。一方、第1の欠陥検査装置11と記録装置13との間にアキュームレーターが複数存在する場合には、その最も上流側にあるアキュームレーターの上流側と、最も下流側にあるアキュームレーターの下流側に測長器が1つずつ配置された構成とすればよい。   In the present embodiment, since there is only one accumulator between the first defect inspection apparatus 11 and the recording apparatus 13, one length measuring device is provided upstream and downstream of the accumulator. It is an arranged configuration. On the other hand, when a plurality of accumulators exist between the first defect inspection apparatus 11 and the recording apparatus 13, the upstream side of the most upstream accumulator and the downstream side of the most downstream accumulator The length measuring device may be arranged one by one.

制御装置16は、フィルム製造装置100の各部を統括制御するものである。具体的に、この制御装置16は、電子制御装置としてのコンピュータシステムを備えている。コンピュータシステムは、CPU等の演算処理部と、メモリーやハードディスク等の情報記憶部とを概略備えている。   The control device 16 performs overall control of each part of the film manufacturing apparatus 100. Specifically, the control device 16 includes a computer system as an electronic control device. The computer system generally includes an arithmetic processing unit such as a CPU and an information storage unit such as a memory and a hard disk.

制御装置16の情報記憶部には、コンピュータシステムを制御するオペレーティングシステム(OS)や、演算処理部にフィルム製造装置100の各部に各種の処理を実行させるプログラムなどが記録されている。また、制御装置16は、フィルム製造装置100の各部の制御に要する各種処理を実行するASIC等の論理回路を含んでいてもよい。また、制御装置16は、コンピュータシステムの外部装置との入出力を行うためのインターフェースを含む。このインターフェースには、例えはキーボードやマウス等の入力装置や、液晶表示ディスプレイ等の表示装置、通信装置などが接続可能となっている。   The information storage unit of the control device 16 stores an operating system (OS) that controls the computer system, a program that causes the arithmetic processing unit to execute various processes in each unit of the film manufacturing apparatus 100, and the like. In addition, the control device 16 may include a logic circuit such as an ASIC that executes various processes required for controlling each part of the film manufacturing apparatus 100. The control device 16 includes an interface for performing input / output with an external device of the computer system. For example, an input device such as a keyboard or a mouse, a display device such as a liquid crystal display, or a communication device can be connected to this interface.

制御装置16は、上述した第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12の欠陥検査の結果に基づいて、複数の印字ヘッド13aのノズル部13bの駆動を制御する制御部として機能する。すなわち、この制御装置16は、光検出部21b,22b,23b及び光検出部24b,25bで撮像された画像を解析して、欠陥の有無(位置)や種類などを判別する。そして、第1のフィルムF101や両面貼合フィルムF105に欠陥が存在すると判定した場合には、該当するノズル部13bの駆動を制御して両面貼合フィルムF105の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキングを行う。   The control device 16 functions as a control unit that controls driving of the nozzle portions 13b of the plurality of print heads 13a based on the results of the defect inspection of the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 described above. . That is, the control device 16 analyzes the images captured by the light detection units 21b, 22b, and 23b and the light detection units 24b and 25b, and determines the presence / absence (position) and type of the defect. And when it determines with a defect existing in the 1st film F101 and the double-sided bonding film F105, the defect marking which marks the defect location of the double-sided bonding film F105 by controlling the drive of the applicable nozzle part 13b is performed. Do.

また、欠陥マーキング装置10では、両面貼合フィルムF105の欠陥検査位置と、欠陥箇所のマーキング位置との間にずれが生じないように、欠陥検査後に所定のタイミングで欠陥マーキングを行う。例えば、本実施形態では、第1の欠陥検査装置11又は第2の欠陥検査装置12による欠陥検査が行われた時刻以降に、搬送ラインL上で搬送されるフィルムの搬送量を算出し、算出された搬送量がオフセット距離と一致したときに、記録装置13により欠陥マーキングが行われる。   Moreover, in the defect marking apparatus 10, defect marking is performed at a predetermined timing after the defect inspection so that there is no deviation between the defect inspection position of the double-sided bonded film F105 and the marking position of the defective portion. For example, in the present embodiment, after the time when the defect inspection by the first defect inspection apparatus 11 or the second defect inspection apparatus 12 is performed, the conveyance amount of the film conveyed on the conveyance line L is calculated and calculated. When the transported amount coincides with the offset distance, defect marking is performed by the recording device 13.

ここで、オフセット距離は、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12と、記録装置13との間のフィルムの搬送距離を言う。厳密には、オフセット距離は、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12により欠陥検査が行われる位置(欠陥検査位置)と、記録装置13によりマーキングが施される位置(マーキング位置)との間のフィルムの搬送距離として定義される。また、オフセット距離は、第1のアキュームレーター112を稼働させると変動する。   Here, the offset distance refers to the transport distance of the film between the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 and the recording device 13. Strictly speaking, the offset distance is determined by the position where the defect inspection is performed by the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 (defect inspection position) and the position where the recording apparatus 13 performs marking (marking position). ) Is defined as the transport distance of the film. Further, the offset distance varies when the first accumulator 112 is operated.

第1のアキュームレーター112の非稼働時におけるオフセット距離(以下、第1のオフセット距離という。)は、予め制御装置16の情報記憶部に記憶されている。具体的に、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12には、複数の光検出部21b,22b,23b及び光検出部24b,25bが存在し、光検出部21b,22b,23b,24b,25b毎に欠陥検査が行われる。このため、制御装置16の情報記憶部には、光検出部21b,22b,23b,24b,25b毎に第1のオフセット距離が記憶されている。   The offset distance when the first accumulator 112 is not in operation (hereinafter referred to as the first offset distance) is stored in advance in the information storage unit of the control device 16. Specifically, the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 include a plurality of light detection units 21b, 22b, and 23b and light detection units 24b and 25b, and the light detection units 21b, 22b, Defect inspection is performed every 23b, 24b, 25b. Therefore, the information storage unit of the control device 16 stores the first offset distance for each of the light detection units 21b, 22b, 23b, 24b, and 25b.

第1のアキュームレーター112の稼働によってオフセット距離が変動する場合には、第1のアキュームレーター112の上流側と下流側との第1のフィルムF101の搬送量の差に基づいて、オフセット距離の補正値を算出する。すなわち、制御装置16では、第1の測長器14及び第2の測長器15の測定結果から、第1のアキュームレーター112による第1のフィルムF101の蓄積量を算出し、この第1のフィルムF101の蓄積量に基づいてオフセット距離の補正値を算出する。   When the offset distance varies due to the operation of the first accumulator 112, the offset distance is corrected based on the difference in the transport amount of the first film F101 between the upstream side and the downstream side of the first accumulator 112. Calculate the value. That is, the control device 16 calculates the accumulation amount of the first film F101 by the first accumulator 112 from the measurement results of the first length measuring device 14 and the second length measuring device 15, and this first accumulator 112 A correction value for the offset distance is calculated based on the accumulated amount of the film F101.

欠陥マーキング装置10では、第1のアキュームレーター112の稼働時に、オフセット距離の補正値に基づいて、記録装置13がマーキングを施すタイミングを補正する。例えば、本実施形態では、第1の測長器14及び第2の測長器15の測定結果に基づいて、オフセット距離の補正値を算出する。制御装置16は、この補正値及び第1のオフセット距離に基づいて、第1のアキュームレーター112の稼働時におけるオフセット距離(以下、第2オフセット距離という。)を算出する。   In the defect marking device 10, when the first accumulator 112 is in operation, the timing at which the recording device 13 performs marking is corrected based on the offset distance correction value. For example, in the present embodiment, the offset distance correction value is calculated based on the measurement results of the first length measuring device 14 and the second length measuring device 15. Based on the correction value and the first offset distance, the control device 16 calculates an offset distance (hereinafter referred to as a second offset distance) when the first accumulator 112 is in operation.

本実施形態では、第1の測長器14又は第2の測長器15の測定結果に基づいて、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12による欠陥検査が行われた時刻以降に、搬送ラインL上で搬送されるフィルムの搬送量を算出し、算出された搬送量が第2のオフセット距離と一致したときに、記録装置13により欠陥マーキングが行われる。   In the present embodiment, the time when the defect inspection by the first defect inspection device 11 and the second defect inspection device 12 is performed based on the measurement result of the first length measuring device 14 or the second length measuring device 15. Thereafter, the transport amount of the film transported on the transport line L is calculated, and when the calculated transport amount coincides with the second offset distance, defect marking is performed by the recording device 13.

また、本実施形態では、第1のアキュームレーター112の稼働時に、欠陥マーキングとは別に、第1のアキュームレーター112が稼働したことを示す情報(以下、アキュームレーター稼働情報という。)を両面貼合フィルムF105に記録してもよい。アキュームレーター稼働情報を記録した場合には、アキュームレーター稼働情報が付された部分の欠陥箇所をオペレーターが入念に検査することにより、マーキング位置のずれなどを検出することができる。これにより、良品部分を誤って欠陥箇所と判定する可能性が少なくなり、歩留りの向上が図られる。   Further, in the present embodiment, when the first accumulator 112 is operated, information indicating that the first accumulator 112 has been operated (hereinafter referred to as accumulator operation information) is bonded on both sides separately from the defect marking. You may record on the film F105. When accumulator operation information is recorded, a marking position shift or the like can be detected by an operator carefully inspecting a defect portion to which the accumulator operation information is attached. Thereby, the possibility that the non-defective portion is erroneously determined as a defective portion is reduced, and the yield is improved.

ところで、本実施形態の欠陥マーキング装置10では、例えば図6に示すように、両面貼合フィルムF105の表面に、両面貼合フィルムF105の幅方向において隣り合う第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との間に欠陥Dが位置するように、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を印字する。   By the way, in the defect marking device 10 of the present embodiment, for example, as shown in FIG. 6, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT1 that are adjacent to the surface of the double-sided bonding film F105 in the width direction are provided. The first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are printed so that the defect D is positioned between the print pattern PT2.

本実施形態では、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2として、両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)にドット状のマークDMを複数並べて印字する。マークDMは、目視観察により視認できる程度の大きさであり、具体的には、その直径が5mm以下(より好ましくは1mm以上且つ3mm以下)である。   In the present embodiment, a plurality of dot marks DM are printed side by side in the transport direction (longitudinal direction) of the double-sided bonding film F105 as the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2. The mark DM is of a size that can be visually recognized by visual observation, and specifically has a diameter of 5 mm or less (more preferably 1 mm or more and 3 mm or less).

制御装置16は、両面貼合フィルムF105の幅方向に並ぶ複数のノズル部13bの中から、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を印字する2つのノズル部13bを選択する。そして、これら選択された2つのノズル部13bは、欠陥Dを挟んだ両面貼合フィルムF105の幅方向(短手方向)の両側に、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2とを印字する。   The control device 16 selects the two nozzle portions 13b that print the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 from the plurality of nozzle portions 13b arranged in the width direction of the double-sided bonding film F105. And these two selected nozzle parts 13b put the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 on both sides in the width direction (short direction) of the double-sided bonded film F105 with the defect D in between. Print.

この場合、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との間に欠陥Dが位置することによって、その間にある欠陥Dの位置を表示することができる。これにより、マーキング後の目視による検査(検品)において、欠陥Dの位置を容易に把握することが可能である。   In this case, when the defect D is positioned between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, the position of the defect D between them can be displayed. Thereby, the position of the defect D can be easily grasped in the visual inspection (inspection) after marking.

さらに、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との間隔によって、その間にある欠陥Dの大きさを認識することができる。したがって、選択される2つのノズル部13bについては、両面貼合フィルムF105の幅方向に並ぶ複数のノズル部13bのうち、必ずしも隣り合うノズル部13bを選択する場合に限らず、欠陥Dの位置及び大きさに合わせて、2つのノズル部13bを適宜選択すればよい。   Further, the size of the defect D between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 can be recognized based on the distance between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2. Therefore, about the two nozzle parts 13b selected, not only when selecting the adjacent nozzle part 13b among the several nozzle parts 13b arranged in the width direction of the double-sided bonding film F105, the position of the defect D and The two nozzle portions 13b may be appropriately selected according to the size.

また、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との間に欠陥Dが位置することによって、両面貼合フィルムF105から欠陥部分を切り出したときに、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との何れか一方と、欠陥Dとの間で切断されることになる。   Moreover, when the defect D is located between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, when the defective portion is cut out from the double-sided bonding film F105, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 The print pattern PT2 is cut between the defect D and one of the print patterns PT2.

この場合、切断により切り出された側と、切断により切り残された側とに、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との何れかが残存することになる。これにより、切断により切り出された側と、切断により切り残された側との何れに欠陥Dが位置しているのか、切断後に残存する第1の印字パターンPT1又は第2の印字パターンPT2によって、欠陥の位置を容易に確認することが可能である。   In this case, either the first print pattern PT1 or the second print pattern PT2 remains on the side cut out by cutting and the side left by cutting. Thereby, whether the defect D is located on the side cut out by cutting or the side left by cutting is determined by the first print pattern PT1 or the second print pattern PT2 remaining after cutting. It is possible to easily confirm the position of the defect.

また、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2については、消し取り可能なインクを用いて印字することが可能である。上述したように、マーキング後の目視による検査(検品)によっては、欠陥部分が製品として許容されることもある。この場合、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を消し取ることで、この部分を製品として使用することができ、収率の向上を図ることが可能である。   The first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 can be printed using erasable ink. As described above, depending on the visual inspection after inspection (inspection), a defective portion may be allowed as a product. In this case, by erasing the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, this portion can be used as a product, and the yield can be improved.

消し取り可能なインクについては、ケトン類(メチルエチルケトン、アセトン等)、エステル類(酢酸エチル、プロピル=アセタートサクサンプロピル等)、アルコール類(エタノール、2−プロパノール等)の中から適宜選択された溶剤に対して、着色剤や造膜用樹脂などを添加した油性インクを用いることができる。さらに、必要に応じて、硬化剤や界面活性剤などを添加してもよい。一方、インクを消し取るための溶剤については、上記溶剤と同じものを用いることができる。なお、トルエンやキシレンなどの芳香族炭化水素類の使用については、光学フィルム(偏光板)の材質を侵すため好ましくない。   For erasable ink, a solvent appropriately selected from ketones (methyl ethyl ketone, acetone, etc.), esters (ethyl acetate, propyl = acetate succinpropyl, etc.), alcohols (ethanol, 2-propanol, etc.) On the other hand, an oil-based ink to which a colorant, a film-forming resin or the like is added can be used. Furthermore, you may add a hardening | curing agent, surfactant, etc. as needed. On the other hand, the same solvent as the above solvent can be used as a solvent for erasing ink. Note that the use of aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene is not preferable because the material of the optical film (polarizing plate) is affected.

また、本実施形態の欠陥マーキング装置10では、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との何れか一方又は両方の印字パターンによって、欠陥Dに関する情報を記録する。   Further, in the defect marking device 10 of the present embodiment, information on the defect D is recorded by one or both of the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2.

具体的に、制御装置16は、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を印字する際に、選択されたノズル部13bに対して、記録すべき欠陥Dに関する情報(欠陥情報)に応じて、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との何れか一方又は両方の印字パターン(本実施形態では、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2)を変更する制御を行う。   Specifically, when printing the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, the control device 16 provides information (defect information) regarding the defect D to be recorded to the selected nozzle portion 13b. In response, control for changing one or both of the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 (in this embodiment, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2). I do.

例えば、本実施形態では、記録すべき欠陥情報に応じて、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を構成するマークDMの数と間隔を変更する。これにより、欠陥箇所にマーキングを施すと同時に、欠陥情報を記録することができる。   For example, in the present embodiment, the number and interval of the marks DM constituting the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are changed according to the defect information to be recorded. Thereby, it is possible to record the defect information at the same time as marking the defect portion.

欠陥情報は、欠陥Dの位置や種類、サイズ、検査方法(欠陥検査の種類)などの欠陥Dに関する情報である。第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2には、これらの欠陥情報が識別できるように、マークDMの数と間隔が予め設定されている。   The defect information is information on the defect D such as the position, type, size, and inspection method (type of defect inspection) of the defect D. In the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, the number and interval of the marks DM are set in advance so that the defect information can be identified.

例えば、図6に示す第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2では、それぞれ両面貼合フィルムF105の一の方向である搬送方向(長手方向)に5つのマークDMが並んで印字されている。このうち、上流側に2つのマークDMと、下流側に3つマークDMとに別れて配置されている。また、上流側のマークDMと下流側のマークDMとの間にマーク1つ分の空白(間隔を空けた部分)Kが設けられている。   For example, in the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 shown in FIG. 6, five marks DM are printed side by side in the transport direction (longitudinal direction) which is one direction of the double-sided bonding film F105. Yes. Among these, two marks DM are arranged separately on the upstream side and three marks DM are arranged on the downstream side. Further, a space (spaced portion) K for one mark is provided between the upstream mark DM and the downstream mark DM.

空白Kは、両面貼合フィルムF105の他の方向である幅方向(短手方向)において欠陥Dとほぼ同列に配置されている。すなわち、この空白Kは、両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)における欠陥Dの位置を表示している。なお、空白Kよりも欠陥Dが大きい場合には、空白Kを欠陥Dの中心と隣り合う位置に配置することが好ましい。   The blank K is arranged in the same row as the defect D in the width direction (short direction) which is the other direction of the double-sided bonded film F105. That is, this blank K displays the position of the defect D in the transport direction (longitudinal direction) of the double-sided bonded film F105. In addition, when the defect D is larger than the blank K, it is preferable to arrange the blank K at a position adjacent to the center of the defect D.

この場合、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との間だけでなく、空白Kによって上流側のマークDMと下流側のマークDMとの間に欠陥Dが位置することを表示できる。これにより、欠陥Dの位置を更に容易に把握することが可能である。さらに、欠陥Dを跨いでチップを切り出した際には、残りのマークDMを見ることで、そのチップに欠陥Dが存在しているかを判別することが可能である。これにより、両面貼合フィルムF105の利用効率を向上させることができる。   In this case, not only between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, but also the fact that the defect D is located between the upstream mark DM and the downstream mark DM can be displayed by the blank K. . Thereby, it is possible to grasp the position of the defect D more easily. Further, when a chip is cut out across the defect D, it is possible to determine whether or not the defect D exists in the chip by looking at the remaining mark DM. Thereby, the utilization efficiency of the double-sided bonding film F105 can be improved.

また、上流側と下流側のマークDMの数の違いから、両面貼合フィルムF105からの切り出された後でも、両面貼合フィルムF105の搬送方向(図6中の矢印で示す方向)を容易に把握できる。   Moreover, from the difference in the number of marks DM on the upstream side and the downstream side, even after being cut out from the double-sided adhesive film F105, the transport direction (direction indicated by the arrow in FIG. 6) of the double-sided adhesive film F105 is easily achieved. I can grasp.

さらに、欠陥Dと空白Kの両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)におけるずれ量から、欠陥検査位置とマーキング位置との間のタイミングのずれ量が把握できる。そして、このずれ量に基づいて記録装置13によるマーキングのタイミングを容易に調整することが可能である。   Furthermore, the amount of deviation in timing between the defect inspection position and the marking position can be grasped from the amount of deviation in the transport direction (longitudinal direction) of the double-sided laminated film F105 of the defect D and the blank K. Then, it is possible to easily adjust the marking timing by the recording device 13 based on the deviation amount.

空白Kの大きさについては、搬送方向に一定の間隔で並ぶマークDMの間隔(中心間距離)T1よりも、空白Kを挟んだ両側のマークDMの間隔(中心間距離)T2を大きくすることが好ましい。より具体的には、1.2≦T2/T1≦3.0の範囲とすることが好ましく、1.5≦T2/T1≦2.5の範囲とすることがより好ましい。   Regarding the size of the blank K, the interval (center-to-center distance) T2 between the marks DM on both sides of the blank K is made larger than the interval (center-to-center distance) T1 between the marks DM arranged at regular intervals in the transport direction. Is preferred. More specifically, a range of 1.2 ≦ T2 / T1 ≦ 3.0 is preferable, and a range of 1.5 ≦ T2 / T1 ≦ 2.5 is more preferable.

以上のように、本実施形態によれば、上述した第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2によって、欠陥Dの位置を表示すると共に、欠陥情報を記録することが可能である。   As described above, according to the present embodiment, the position of the defect D can be displayed and the defect information can be recorded by the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 described above.

なお、本発明は、上記実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2については、上述したマークDMの数や間隔を変更する場合に限らず、それ以外にも、例えばサイズ(径)や色(赤、青、黒など。好ましくは黒。)などを変更することが可能である。すなわち、ドット状のマークDMの数、間隔、サイズ(径)、色のうち何れか1つ以上を変更すればよい。これにより、これらの印字パターンPT1,PT2を更に細かく設定し、より多くの情報を記録することが可能である。
In addition, this invention is not necessarily limited to the thing of the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
For example, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are not limited to the case where the number and interval of the marks DM described above are changed. In addition, for example, size (diameter) and color (red, blue) , Black, etc., preferably black). In other words, any one or more of the number, interval, size (diameter), and color of the dot-shaped marks DM may be changed. Thereby, it is possible to set these print patterns PT1 and PT2 more finely and record more information.

また、例えば図7に示すように、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2については、上述したドット状のマークDMに限らず、両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)に線状のマークLMを印字してもよい。   Further, for example, as shown in FIG. 7, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are not limited to the dot-shaped marks DM described above, but in the transport direction (longitudinal direction) of the double-sided bonded film F105. A linear mark LM may be printed.

この場合、上述したインクジェット方式の印字ヘッド13aだけでなく、例えば両面貼合フィルムF105の搬送方向と交差する方向(幅方向)に並ぶ複数のマーカ(印字部)を用いることができる。マーカについては、例えばペンマーカやレーザーマーカなど特に限定されるものではない。   In this case, not only the inkjet print head 13a described above, but also, for example, a plurality of markers (printing units) arranged in a direction (width direction) intersecting the conveyance direction of the double-sided bonding film F105 can be used. The marker is not particularly limited, for example, a pen marker or a laser marker.

線状のマークLMを印字して欠陥情報を記録する場合は、記録すべき欠陥情報に応じて、両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)に少なくとも1つ又は複数のマークLMを並べて配置し、線状のマークLMの数、間隔、サイズ(長さ、太さ)、色のうち何れか1つ以上を変更する。これにより、ドット状のマークDMを印字する場合と同様に、欠陥情報を記録することが可能である。また、線状のマークLMにおいて空白Kを設ける場合は、その空白Kの間隔を3〜5mm程度とすることが好ましい。   When recording defect information by printing linear marks LM, at least one or more marks LM are arranged in the transport direction (longitudinal direction) of the double-sided bonding film F105 according to the defect information to be recorded. Then, any one or more of the number, interval, size (length, thickness), and color of the linear marks LM are changed. Thereby, defect information can be recorded as in the case of printing the dot-shaped mark DM. Moreover, when providing the blank K in the linear mark LM, it is preferable that the space | interval of the blank K shall be about 3-5 mm.

また、例えば図8(a),(b),(c)に示すように、両面貼合フィルムF105の幅方向(短手方向)において、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンPT3を印字してもよい。   Further, for example, as shown in FIGS. 8A, 8B, and 8C, in the width direction (short direction) of the double-sided bonded film F105, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 A third print pattern PT3 adjacent to either one or both of them may be printed.

この場合、制御装置16は、上述した第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を印字する2つのノズル部13bとは別に、第3の印字パターンPT3を印字するノズル部13bを選択する。第3の印字パターンPT3を印字するノズル部13bについては、記録すべき欠陥情報に応じて、少なくとも1つ又は複数のノズル部13bを選択することができる。   In this case, the control device 16 selects the nozzle portion 13b for printing the third print pattern PT3 separately from the two nozzle portions 13b for printing the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 described above. . For the nozzle portion 13b for printing the third print pattern PT3, at least one or a plurality of nozzle portions 13b can be selected according to the defect information to be recorded.

すなわち、第3の印字パターンPT3については、図8(a)に示すように、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との何れか一方と隣接して印字する場合や、図8(b)に示すように、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2の両側に隣接して印字する場合、図8(c)に示すように、両面貼合フィルムF105の幅方向(短手方向)に複数並べて印字する場合など、記録すべき欠陥情報に応じて適宜選択することが可能である。   In other words, as shown in FIG. 8A, the third print pattern PT3 is printed adjacent to one of the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, or FIG. As shown in FIG. 8B, when printing is performed adjacent to both sides of the first printing pattern PT1 and the second printing pattern PT2, as shown in FIG. 8C, the width direction ( For example, when printing a plurality of images in the short direction), it is possible to select appropriately according to defect information to be recorded.

また、第3の印字パターンPT3については、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2との間に印字することも可能である。この場合、欠陥Dを挟んだ両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)の上流側又は下流側、若しくは両側に印字することが可能である。   In addition, the third print pattern PT3 can be printed between the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2. In this case, it is possible to print on the upstream side, the downstream side, or both sides of the transport direction (longitudinal direction) of the double-sided bonded film F105 with the defect D in between.

また、第3の印字パターンPT3については、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2と同様に、ドット状のマークDM又は線状のマークLMにより印字することができる。第3の印字パターンPT3を変更する方法も、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を変更する場合と同様である。   Further, the third print pattern PT3 can be printed with the dot mark DM or the line mark LM, similarly to the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2. The method for changing the third print pattern PT3 is the same as that for changing the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2.

したがって、欠陥情報については、上述した第1の印字パターンPT1、第2の印字パターンPT2及び第3の印字パターンPT3の組み合わせによって、更に多くの情報を記録することが可能である。   Therefore, as for the defect information, more information can be recorded by the combination of the first print pattern PT1, the second print pattern PT2, and the third print pattern PT3.

上述した第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3の何れかにより記録される欠陥情報については、例えば欠陥Dの種類などに応じて、どの印字パターンを変更するか、また、その変更される印字パターンを構成するマークDM(LM)の数や間隔、サイズ(径、長さ、太さ)、色のうち何れを変更するかを予め設定しておけばよい。これにより、欠陥Dの種類などを予め設定されたルールに従って識別することが可能である。   For the defect information recorded by any of the first, second and third print patterns PT1, PT2 and PT3 described above, which print pattern is to be changed, for example, depending on the type of the defect D, etc. It may be set in advance which of the number, interval, size (diameter, length, thickness), and color of the mark DM (LM) constituting the print pattern to be changed. Thereby, it is possible to identify the type or the like of the defect D according to a preset rule.

例えば、欠陥Dの種類については、例えば図9(a)に示す異物系、図9(b)に示す気泡系、図9(c)に示す輝点系、図9(d)に示す皺系などを挙げることができる。このうち、図9(a)に示す異物系は、両面貼合フィルムF105に異物が混入したことにより生じる欠陥Dである。一方、図9(b)に示す気泡系は、両面貼合フィルムF105に気泡が生じたことによる欠陥Dである。このような気泡は、異物が混入したときに異物を中心に噛み込むことがある。一方、図9(c)に示す輝点系は、偏光フィルムとなる第1のフィルムF101に生じた欠陥Dであり、偏光フィルムに対して検光子をクロスニコルで配置したときに輝点(光抜け)として観察される欠陥Dである。一方、図9(d)に示す皺系の欠陥Dは、両面貼合フィルムF105に皺が生じたことによる欠陥Dである。   For example, for the type of defect D, for example, the foreign substance system shown in FIG. 9A, the bubble system shown in FIG. 9B, the bright spot system shown in FIG. 9C, and the soot system shown in FIG. And so on. Among these, the foreign substance system shown to Fig.9 (a) is the defect D which arises when a foreign substance mixes in the double-sided bonding film F105. On the other hand, the bubble system shown in FIG. 9B is a defect D caused by bubbles generated in the double-sided bonded film F105. Such bubbles may bite around the foreign matter when the foreign matter is mixed. On the other hand, the bright spot system shown in FIG. 9C is a defect D generated in the first film F101 serving as a polarizing film. When the analyzer is arranged in crossed Nicols with respect to the polarizing film, the bright spot (light This is a defect D observed as missing). On the other hand, the flaw-type defect D shown in FIG. 9D is a defect D caused by wrinkles generated on the double-sided bonded film F105.

本実施形態では、空白Kを挟んだ上流側のマークDMと下流側のマークDMとのうち、上流側に配置されるマークDMの数を欠陥Dの種類に応じて異ならせている。例えば、上流側に配置されるマークDMの数は、図9(a)に示す異物系で3つ、図9(b)に示す気泡系で1つ、図9(c)に示す輝点系で2つ、図9(d)に示す皺系で4つとなっている。これにより、上流側に配置されるマークDMの数から欠陥Dの種類を容易に識別することができる。   In the present embodiment, the number of marks DM arranged on the upstream side of the upstream mark DM and the downstream mark DM across the blank K is made different depending on the type of the defect D. For example, the number of marks DM arranged on the upstream side is three for the foreign substance system shown in FIG. 9 (a), one for the bubble system shown in FIG. 9 (b), and the bright spot system shown in FIG. 9 (c). And two in the saddle system shown in FIG. 9 (d). Thereby, the type of the defect D can be easily identified from the number of marks DM arranged on the upstream side.

また、本発明では、上述した第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3のうち何れかの印字パターンを変更することによって、欠陥D以外に関する情報を記録することも可能である。   In the present invention, it is also possible to record information related to other than the defect D by changing any one of the first, second and third print patterns PT1, PT2 and PT3. .

例えば、欠陥D以外に関する情報としては、製造条件や、製造場所、同一種の欠陥の発生頻度及びその周期性の有無などの製造情報を記録することが可能である。また、これらの製造情報を組み合わせることで、欠陥Dの発生原因や場所、工程などを特定することが可能である。これにより、欠陥Dの原因となった設備のメンテナンスを行うなどの対応によって、欠陥Dの発生を低減することが可能となる。   For example, as information related to other than the defect D, it is possible to record manufacturing information such as a manufacturing condition, a manufacturing place, the occurrence frequency of the same type of defect, and the presence or absence of the periodicity. Further, by combining these pieces of manufacturing information, it is possible to specify the cause, location, process, and the like of the defect D. As a result, it is possible to reduce the occurrence of the defect D by taking measures such as performing maintenance of the equipment that caused the defect D.

ここで、上述した偏光フィルムの製造工程において、偏光子(PVA)の両面に保護フィルム(TAC)を貼合する工程(第1の工程)で欠陥D1が発生した場合を図10(a)に示す。また、第1の工程の後に、一方の保護フィルム(TAC)の面上に粘着剤とセパレータとを貼合する工程(第2の工程)で欠陥D2が発生した場合を図10(b)に示す。   Here, in the manufacturing process of the polarizing film described above, FIG. 10A shows a case where a defect D1 occurs in the process of bonding the protective film (TAC) to both surfaces of the polarizer (PVA) (first process). Show. Moreover, the case where the defect D2 generate | occur | produces in the process (2nd process) which bonds an adhesive and a separator on the surface of one protective film (TAC) after the 1st process in FIG.10 (b). Show.

そして、第1の工程で発生した欠陥D1に対しては、例えば図11(a)に示すような第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を印字する。一方、第2の工程で発生した欠陥D2に対しては、例えば図11(b)に示すような第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2を印字する。   Then, for the defect D1 generated in the first step, for example, a first print pattern PT1 and a second print pattern PT2 as shown in FIG. 11A are printed. On the other hand, for the defect D2 generated in the second step, for example, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 as shown in FIG. 11B are printed.

この場合、図11(a),(b)に示す欠陥D1,D2の位置については、それぞれの欠陥D1,D2を挟んだ両側に第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2とを印字し、なお且つ、一定の間隔で並ぶマークDMの間に空白Kを設けることによって、その位置を表示することができる。   In this case, with respect to the positions of the defects D1 and D2 shown in FIGS. 11A and 11B, the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2 are printed on both sides of the respective defects D1 and D2. In addition, by providing a blank K between the marks DM arranged at regular intervals, the position can be displayed.

また、欠陥D1,D2に記録された情報については、第1の印字パターンPT1と第2の印字パターンPT2によって、欠陥D1,D2の種類(欠陥情報)と、第1の工程と第2の工程の何れかの工程で発生した欠陥D1,D2であるかの情報(製造情報)とが記録されている。   The information recorded in the defects D1 and D2 is determined by the first print pattern PT1 and the second print pattern PT2, and the types (defect information) of the defects D1 and D2, the first process, and the second process. Information (manufacturing information) indicating whether or not the defects D1 and D2 have occurred in any of the processes is recorded.

具体的に、欠陥D1,D2の種類については、第1及び第2の印字パターンPT1,PT2を構成するマークDMの色によって区別されている。例えば、透過欠陥(青)、クロス欠陥(赤)、反射欠陥(緑)といったようにマークDMの色の違いによって、欠陥D1,D2の種類を識別することができる。   Specifically, the types of the defects D1 and D2 are distinguished by the color of the mark DM constituting the first and second print patterns PT1 and PT2. For example, the types of the defects D1 and D2 can be identified by the difference in the color of the mark DM such as a transmission defect (blue), a cross defect (red), and a reflection defect (green).

一方、第1及び第2の印字パターンPT1,PT2では、空白Kよりも上流側(マークDMの数が少ない方)のマークDMの数によって、第1の工程と第2の工程の何れかの工程で発生した欠陥D1,D2であるかの情報が記録されている。例えば、第1及び第2の印字パターンPT1,PT2の上流側のマークDMの数が1つの場合は、第1の工程で発生した欠陥D1であることを示し、2つの場合は、第2の工程で発生した欠陥D2であることを示している。   On the other hand, in the first and second print patterns PT1 and PT2, one of the first process and the second process is performed depending on the number of marks DM upstream (the smaller number of marks DM) than the blank K. Information on whether or not the defects D1 and D2 have occurred in the process is recorded. For example, if the number of the marks DM upstream of the first and second print patterns PT1 and PT2 is 1, this indicates that the defect D1 has occurred in the first step, and if the number is two, It shows that the defect D2 occurred in the process.

また、図11(b)に示す第1及び第2の印字パターンPT1,PT2に加えて、図11(c)に示すような第3の印字パターンPT3を印字してもよい。第3の印字パターンPT3については、マークDMの数によって、積層された偏光フィルムのうち何番目の層に欠陥D2が存在しているかの情報(欠陥情報)が記録されている。例えば、図11(c)に示す第3の印字パターンPT3については、3つのマークDMによって構成されているため、積層順で3番目の層(TAC)に欠陥D2が存在していることを識別することができる。   In addition to the first and second print patterns PT1, PT2 shown in FIG. 11B, a third print pattern PT3 as shown in FIG. 11C may be printed. For the third print pattern PT3, information (defect information) indicating the number of layers of the laminated polarizing films in which the defect D2 exists is recorded according to the number of marks DM. For example, since the third print pattern PT3 shown in FIG. 11C is composed of three marks DM, it is identified that the defect D2 exists in the third layer (TAC) in the stacking order. can do.

以上のようにして、本発明では、偏光フィルムに対して、上述した第1、第2及び第3の印字パターンPT3を印字することによって、欠陥D1,D2の位置を表示すると共に、その欠陥D1,D2に関する情報等を記録することが可能である。   As described above, in the present invention, the positions of the defects D1 and D2 are displayed by printing the first, second, and third print patterns PT3 described above on the polarizing film, and the defect D1. , D2 and the like can be recorded.

また、本発明では、例えば図12に示す第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2のように、上述した空白Kを設ける代わりに、マークDMの間隔を狭めることによって、両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)における欠陥Dの位置を表示してもよい。   Moreover, in this invention, instead of providing the blank K mentioned above, for example like 1st printing pattern PT1 and 2nd printing pattern PT2 which are shown in FIG. 12, double-sided bonding film You may display the position of the defect D in the conveyance direction (longitudinal direction) of F105.

さらに、本発明では、両面貼合フィルムF105の搬送方向(長手方向)における欠陥Dの位置を表示するため、上述した空白Kを設ける(マークDMの間隔を変える)代わりに、マークDMの大きさを変えたり、第3の印字パターンPT3を用いて欠陥Dの位置を表示したりすることも可能である。   Furthermore, in this invention, in order to display the position of the defect D in the conveyance direction (longitudinal direction) of the double-sided bonded film F105, the size of the mark DM is used instead of providing the blank K described above (changing the interval between the marks DM). It is also possible to display the position of the defect D using the third print pattern PT3.

本発明では、上述した第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3のうち何れかの印字パターンの組み合わせによって、例えば図13(a)〜(g)に示すように、欠陥Dの周囲に様々な印字パターンを印字することが可能である。   In the present invention, as shown in FIGS. 13A to 13G, for example, as shown in FIGS. 13A to 13G, a defect D can be obtained by combining any one of the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3. Various print patterns can be printed around the.

このうち、図13(a)に示す印字パターンでは、4つのマークDMが欠陥Dの周囲を四方で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。一方、図13(b)に示す印字パターンでは、4つのマークDMが欠陥Dの周囲を三方で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。一方、図13(c)に示す印字パターンでは、5つのマークDMが欠陥Dの周囲を隣接する二辺で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。一方、図13(d)に示す印字パターンでは、6つのマークDMが欠陥Dの周囲を隣接する3辺で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。一方、図13(e)に示す印字パターンでは、14つのマークDMが欠陥Dの周囲を四辺で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。一方、図13(f)に示す印字パターンでは、6つのマークDMが欠陥Dの周囲を斜めに対向する二辺で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。一方、図13(g)に示す印字パターンでは、8つのマークDMが欠陥Dの周囲を四方で囲むように、第1、第2及び第3の印字パターンPT1,PT2,PT3が印字されている。   Among these, in the print pattern shown in FIG. 13A, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, PT3 are printed so that the four marks DM surround the defect D in four directions. Yes. On the other hand, in the print pattern shown in FIG. 13B, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3 are printed such that the four marks DM surround the defect D in three directions. . On the other hand, in the print pattern shown in FIG. 13C, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3 are printed so that the five marks DM surround the defect D with two adjacent sides. Has been. On the other hand, in the print pattern shown in FIG. 13D, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3 are printed so that the six marks DM surround the periphery of the defect D with three adjacent sides. Has been. On the other hand, in the print pattern shown in FIG. 13E, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3 are printed so that the four marks DM surround the defect D with four sides. . On the other hand, in the print pattern shown in FIG. 13F, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, and PT3 are formed so that the six marks DM surround the defect D with two opposite sides. Is printed. On the other hand, in the print pattern shown in FIG. 13G, the first, second, and third print patterns PT1, PT2, PT3 are printed so that the eight marks DM surround the defect D in four directions. .

なお、上記記録装置13は、第2の欠陥検査装置12の下流側に配置された構成となっているが、第1の欠陥検査装置11の下流側に配置することも可能である。この場合、第1の欠陥検査装置11による欠陥検査を行った後に、記録装置13による欠陥情報の記録を行うことが可能である。   The recording device 13 is arranged on the downstream side of the second defect inspection device 12, but can also be arranged on the downstream side of the first defect inspection device 11. In this case, it is possible to record defect information by the recording device 13 after performing the defect inspection by the first defect inspection device 11.

また、上記記録装置13については、上述した欠陥検査後に欠陥情報を記録するものに限定されるものではない。例えば、長距離の搬送ラインでは、記録装置を複数配置し、一定距離毎に距離情報の記録を行い、この記録された距離情報に基づいて距離の補正を行うことがある。このような距離情報の記録を行う記録装置については、例えば、第1の欠陥検査装置11の上流側などに配置されることがある。   Further, the recording device 13 is not limited to one that records defect information after the above-described defect inspection. For example, in a long-distance conveyance line, a plurality of recording devices may be arranged, distance information may be recorded at fixed distances, and distance correction may be performed based on the recorded distance information. A recording apparatus that records such distance information may be disposed, for example, on the upstream side of the first defect inspection apparatus 11.

また、上記記録装置13については、上述した複数のノズル部13bが並んで配置された複数の印字ヘッド13aを備えた構成に限らず、例えば、トラバース式の印字ヘッドを用いた場合には、この印字ヘッドを移動操作することで、フィルムの形状や搬送方向に関係なく、欠陥箇所にマーキングを施すことが可能である。   The recording device 13 is not limited to the configuration including the plurality of print heads 13a in which the plurality of nozzle portions 13b are arranged side by side. For example, when a traverse type print head is used, By moving the print head, it is possible to mark a defective portion regardless of the shape of the film and the transport direction.

なお、欠陥マーキング装置10は、上記フィルム製造装置100の一部を構成するものに限らず、上記フィルム製造装置100とは独立した欠陥マーキング装置とすることが可能である。具体的には、第3の原反ロールR3から巻き出された両面貼合フィルムF105を搬送する間に、両面貼合フィルムF105の欠陥検査を行い、欠陥検査の結果に基づいて両面貼合フィルムF105の欠陥箇所にマーキングを施した後、再び芯材に巻き取る構成とすることが可能である。   In addition, the defect marking apparatus 10 is not restricted to what constitutes a part of the film manufacturing apparatus 100, and can be a defect marking apparatus independent of the film manufacturing apparatus 100. Specifically, while conveying the double-sided bonding film F105 unwound from the third original fabric roll R3, the double-sided bonding film F105 is inspected for defects, and the double-sided adhesive film is based on the result of the defect inspection. It is possible to adopt a configuration in which after marking the defective portion of F105, the core material is wound again.

また、上記フィルム製造装置100では、欠陥箇所にマーキングを施さず、追加の加工工程において欠陥箇所にマーキングを施してもよい。具体的には、第3の原反ロールR3から巻き出された両面貼合フィルムF105を搬送する間に、両面貼合フィルムF105の一方又は両面に、別のフィルムを貼合した後、欠陥検査を行い、上記フィルム製造装置100の欠陥検査の結果と併せて、欠陥箇所にマーキングを施してもよい。   Moreover, in the said film manufacturing apparatus 100, you may mark a defect location in an additional process process, without marking a defect location. Specifically, while conveying the double-sided bonding film F105 unwound from the third original fabric roll R3, after another film is bonded to one or both sides of the double-sided bonding film F105, the defect inspection is performed. In combination with the result of the defect inspection of the film manufacturing apparatus 100, marking may be performed on the defective portion.

なお、本発明の検査対象(被検査物)となる原反については、上述した偏光フィルムや位相差フィルム、輝度向上フィルムといった光学フィルムに必ずしも限定されるものではなく、欠陥箇所にマーキングが施されるフィルムや紙などの長尺帯状の原反であればよい。   In addition, about the raw material used as the test object (inspection object) of this invention, it is not necessarily limited to optical films, such as the polarizing film mentioned above, retardation film, and a brightness enhancement film, A marking is given to a defect location. It may be a long strip-shaped raw material such as film or paper.

また、本発明の検査対象(被検査物)としては、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシート(チップ)であってもよい。すなわち、本発明では、上述した原反を搬送する間に、原反の欠陥検査を行い、欠陥検査の結果に基づいて原反の欠陥箇所にマーキングを施す場合に限らず、切断後にシートの欠陥検査を行い、その欠陥検査の結果に基づいてシートの欠陥箇所にマーキングを施してもよい。また、シートの欠陥検査とシートの欠陥箇所へのマーキングを実施する間に、シートに対して加工処理(例えば、別のフィルムの貼合や、シートの表面処理など。)を施してもよい。これにより、被検査物が原反である場合と同様に、被検査物であるシートに対して、本発明の欠陥マーキング方法(装置)を用いて、欠陥の位置を表示すると共に、その欠陥に関する情報等を記録することが可能である。さらに、本発明は、上述した原反やシート以外にも、本発明が適用可能なものに対して幅広く適用することが可能である。   Further, the inspection object (inspection object) of the present invention may be a sheet (chip) obtained by cutting a long strip-shaped raw material. That is, in the present invention, not only when performing the defect inspection of the original fabric while conveying the above-described original fabric, and marking the defective portion of the original fabric based on the result of the defect inspection, the defect of the sheet after cutting An inspection may be performed, and marking may be performed on a defective portion of the sheet based on the result of the defect inspection. Further, during the inspection of the defect of the sheet and the marking of the defective part of the sheet, the sheet may be subjected to processing (for example, bonding of another film, surface treatment of the sheet, etc.). As a result, as in the case where the object to be inspected is a raw fabric, the defect marking method (apparatus) of the present invention is used to display the position of the defect on the sheet that is the object to be inspected, and the defect is related to the defect. It is possible to record information and the like. Furthermore, the present invention can be widely applied to those to which the present invention can be applied in addition to the above-described original fabric and sheet.

100…フィルム製造装置(原反の製造装置) 101…第1の搬送ライン 102…第2の搬送ライン 103…第3の搬送ライン 104…第4の搬送ライン 105…第5の搬送ライン 106…巻取部 111a,111b…第1のニップロール 112…第1のアキュームレーター 112a,112b…第1のダンサーロール 113…第1のガイドロール 121a,121b…第2のニップロール 122…第2のアキュームレーター 122a,122b…第2のダンサーロール 123a,123b…第2のガイドロール 131a,131b…第3のニップロール 141a,141b…第4のニップロール 142…第3のアキュームレーター 142a,142b…第3のダンサーロール 143a,143b…第4のガイドロール 151a,151b…第5のニップロール 152…第4のアキュームレーター 152a,152b…第4のダンサーロール 153a…第5のガイドロール 153b…第6のガイドロール 153c…第7のガイドロール
10…欠陥マーキング装置 L…搬送ライン 11…第1の欠陥検査装置 12…第2の欠陥検査装置 13…記録装置(印字装置) 13a…印字ヘッド 13b…ノズル部(印字部) 14…第1の測長器 15…第2の測長器 16…制御装置(制御部) 21a,22a,23a,24a,25a…照明部 21b,22b,23b,24b,25b…光検出部
P…液晶表示パネル(光学表示デバイス) F1X…光学フィルム F10X…光学フィルム F101…第1のフィルム F102…第2のフィルム F103…第3のフィルム F104…片面貼合フィルム F105…両面貼合フィルム(原反) DM…ドット状のマーク LM…線状のマーク PT1…第1の印字パターン PT2…第2の印字パターン PT3…第3の印字パターン D…欠陥 K…空白
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Film manufacturing apparatus (raw fabric manufacturing apparatus) 101 ... 1st conveyance line 102 ... 2nd conveyance line 103 ... 3rd conveyance line 104 ... 4th conveyance line 105 ... 5th conveyance line 106 ... winding 111a, 111b ... first nip roll 112 ... first accumulator 112a, 112b ... first dancer roll 113 ... first guide roll 121a, 121b ... second nip roll 122 ... second accumulator 122a, 122b ... second dancer rolls 123a, 123b ... second guide rolls 131a, 131b ... third nip rolls 141a, 141b ... fourth nip rolls 142 ... third accumulators 142a, 142b ... third dancer rolls 143a, 143b ... Fourth guide roll 151 , 151b ... fifth nip roll 152 ... fourth accumulator 152a, 152b ... fourth dancer roll 153a ... fifth guide roll 153b ... sixth guide roll 153c ... seventh guide roll 10 ... defect marking device L ... Transport line 11 ... First defect inspection device 12 ... Second defect inspection device 13 ... Recording device (printing device) 13a ... Print head 13b ... Nozzle portion (printing portion) 14 ... First length measuring device 15 ... First 2 length measuring devices 16 ... control device (control unit) 21a, 22a, 23a, 24a, 25a ... illumination unit 21b, 22b, 23b, 24b, 25b ... light detection unit P ... liquid crystal display panel (optical display device) F1X ... Optical film F10X ... Optical film F101 ... First film F102 ... Second film F103 ... Third film F 104 ... Single-sided adhesive film F105 ... Double-sided adhesive film (raw fabric) DM ... Dot-shaped mark LM ... Linear mark PT1 ... First print pattern PT2 ... Second print pattern PT3 ... Third print pattern D ... defect K ... blank

Claims (20)

被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキング方法であって、
前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向において隣り合う第1の印字パターンと第2の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記被検査物の表面に前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを印字することによって、前記欠陥の位置を表示することを特徴とする欠陥マーキング方法。
A defect marking method for marking a defect portion of an inspection object,
The surface of the inspection object is arranged such that a defect is located between the first print pattern and the second print pattern that are adjacent to each other in the other direction intersecting the one direction in the surface of the inspection object. A defect marking method, wherein the defect position is displayed by printing the first print pattern and the second print pattern.
前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項1に記載の欠陥マーキング方法。   The defect marking method according to claim 1, wherein information on the defect is recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern. 前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並べて印字することを特徴とする請求項2に記載の欠陥マーキング方法。   3. The defect marking method according to claim 2, wherein at least one or a plurality of dot-like marks are arranged in the one direction as the one or both of the print patterns. 前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを少なくとも1つ又は前記一の方向に複数並べて印字することを特徴とする請求項2又は3に記載の欠陥マーキング方法。   4. The defect marking method according to claim 2, wherein at least one or a plurality of linear marks are printed side by side in the one direction as the one or both of the print patterns. 前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか1つ以上を変更した印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項3又は4に記載の欠陥マーキング方法。   5. The defect marking method according to claim 3, wherein information related to the defect is recorded by a print pattern in which any one or more of the number, interval, size, and color of the mark is changed. 前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする請求項3〜5の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。   The position of the defect in the one direction is displayed by a print pattern in which at least a part of a plurality of marks arranged in the one direction is changed. Defect marking method as described. 前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする請求項6に記載の欠陥マーキング方法。   The position of the defect in the one direction is displayed by disposing at least a part of a space between the plurality of marks arranged in the one direction at a position adjacent to the defect. Item 7. The defect marking method according to Item 6. 前記他の方向において、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンを印字することによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項1〜7の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。   In the other direction, information on the defect is recorded by printing a third print pattern adjacent to one or both of the first print pattern and the second print pattern. The defect marking method according to any one of claims 1 to 7. 前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報を記録することを特徴とする請求項1〜8の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。   The defect marking method according to claim 1, wherein information related to other than the defect is recorded by any one of the print patterns. 前記印字パターンを消し取り可能なインクを用いて印字することを特徴とする請求項1〜9の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。   The defect marking method according to any one of claims 1 to 9, wherein the printing pattern is printed using an erasable ink. 前記被検査物として、前記一の方向に搬送される長尺帯状の原反の欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする請求項1〜10の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。   The defect marking method according to any one of claims 1 to 10, wherein marking is performed on a defect portion of a long strip-shaped original fabric conveyed in the one direction as the inspection object. 前記被検査物として、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートの欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする請求項1〜10の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。   The defect marking method according to any one of claims 1 to 10, wherein marking is performed on a defective portion of a sheet obtained by cutting a long strip-shaped raw material as the inspection object. 一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う工程と、
請求項11に記載の欠陥マーキング方法を用いて、前記原反の欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とする原反の製造方法。
A step of performing a defect inspection on a long strip-shaped raw material conveyed in one direction;
A method for manufacturing an original fabric, comprising the step of marking the defect portion of the original fabric using the defect marking method according to claim 11.
長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う工程と、
請求項12に記載の欠陥マーキング方法を用いて、前記シートの欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とするシートの製造方法。
A step of performing a defect inspection on a sheet obtained by cutting a long strip-shaped raw fabric,
A method for producing a sheet, comprising: marking a defect portion of the sheet using the defect marking method according to claim 12.
被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す印字装置を備え、
前記印字装置は、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向に所定の間隔で並んで配置されると共に、前記被検査物の表面に印字パターンを印字する複数の印字部と、前記複数の印字部の駆動を制御する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記他の方向において隣り合う第1の印字パターンと第2の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを印字する印字部を選択する制御を行うことを特徴とする欠陥マーキング装置。
Equipped with a printing device that marks the defective part of the inspection object,
The printing device is arranged in a line at a predetermined interval in another direction intersecting one direction in the plane of the inspection object, and a plurality of printing units that print a print pattern on the surface of the inspection object And a control unit that controls driving of the plurality of printing units,
The control unit prints the first print pattern and the second print pattern so that a defect is located between the first print pattern and the second print pattern that are adjacent in the other direction. A defect marking device characterized by performing control for selecting a printing unit.
前記制御部は、前記選択された何れか一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンを変更する制御を行うことを特徴とする請求項15に記載の欠陥マーキング装置。   The control unit selects one of the first print pattern and the second print pattern in accordance with information on the defect to be recorded for one or both of the selected print units. The defect marking device according to claim 15, wherein control is performed to change both print patterns. 欠陥箇所にマーキングが施された長尺帯状の原反であって、
前記マーキングにより表面に印字され、短手方向において隣り合う第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを有し、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの間に欠陥が位置することによって、前記欠陥の位置が表示されていることを特徴とする原反。
It is a long strip-shaped raw material with markings on the defective part,
The first printed pattern and the second printed pattern which are printed on the surface by the marking and are adjacent in the short direction, and a defect is located between the first printed pattern and the second printed pattern. The original fabric, wherein the position of the defect is displayed.
前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項17に記載の原反。   The raw material according to claim 17, wherein information on the defect is recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern. 欠陥箇所にマーキングが施されたシートであって、
前記マーキングにより表面に印字され、一の方向と交差する他の方向において隣り合う第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを有し、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの間に欠陥が位置することによって、前記欠陥の位置が表示されていることを特徴とするシート。
It is a sheet with markings on the defective part,
The first printing pattern and the second printing pattern, which are printed on the surface by the marking and have the first printing pattern and the second printing pattern which are adjacent in another direction intersecting with one direction, The sheet is characterized in that the position of the defect is displayed by the defect being located between the sheets.
前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項19に記載のシート。   The sheet according to claim 19, wherein information on the defect is recorded by one or both of the first print pattern and the second print pattern.
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