KR20000007258U - 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈 - Google Patents
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Abstract
본 고안은 버퍼 또는 레지스터나 메모리의 테스트를 개별적으로 수행하여 불량여부를 판별할 수 있도록 함으로써 테스트를 보다 용이하게 수행할 수 있는 메모리 모듈 테스트 패드를 제공하기 위한 것으로서, 외부 시스템과 인터페이스 하는 컨트롤 신호 탭 및 데이터 입출력 탭과, 상기 컨트롤 신호 탭을 통해 입력되는 컨트롤 신호를 안정된 신호로 변환하여 출력하는 버퍼부와, 상기 버퍼부에서 출력되는 신호를 저장하는 메모리부와, 상기 버퍼부에서 출력되는 신호를 상기 메모리부로 전달하는 컨트롤 신호 핀과, 상기 메모리부에서 출력되는 신호를 상기 데이터 입출력 탭으로 전달하는 입출력 핀을 구비한 반도체 메모리 모듈에 있어서, 상기 컨트롤 신호 탭과 상기 버퍼부 사이에 연결되고, 상기 버퍼부와 상기 컨트롤 핀 사이에 각각 연결되어 상기 버퍼부를 테스트하는 제 1, 제 2 테스트 패드와, 상기 입출력 핀과 상기 데이터 입출력 탭 사이에 연결되고 상기 제 2 테스트 패드와 더불어 상기 메모리부를 테스트하는 제 3 테스트 패드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
Description
본 고안은 메모리 모듈에(Memory Module)에 관한 것으로 특히, 버퍼 및 레지스터 소자와 메모리 소자의 테스트를 개별적으로 수행하여 보다 용이한 테스트가 가능한 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈에 관한 것이다.
이하, 종래 기술에 따른 메모리 모듈을 설명하기로 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 메모리 모듈을 보여준다.
도 1에 도시한 바와 같이, 외부 시스템과 인터페이스(Interface)하는 컨트롤 신호 탭(11) 및 데이터 입출력 탭(12)과, 상기 컨트롤 신호 탭(11)을 통해 입력되는 컨트롤 신호를 안정된 신호로 변환하여 출력하는 버퍼부(또는 레지스터)(13)와, 상기 버퍼부(13)에서 출력되는 신호를 저장하는 메모리부(14)로 구성된다.
여기서, 상기 버퍼부(13)에서 출력되는 신호는 컨트롤 신호 핀(15)을 통해 메모리부(14)로 전달되고, 상기 메모리부(14)에서 출력되는 신호는 입출력 핀(16)을 통해 데이터 입출력 탭(12)으로 전달된다.
이와 같은 종래 메모리 모듈에 있어서 컨트롤 신호 탭(11)을 통해 입력된 외부 컨트롤신호는 버퍼부(또는 레지스터)(13)를 통해 안정된 신호로 변환되어 메모리부(14)로 입력되고, 메모리부(14)의 출력 데이터는 입출력 핀(16)을 통해 데이터 입출력 탭(12)으로 전달되어 외부 시스템과 전기적으로 연결되어 데이터의 입출력 동작이 수행된다.
그러나 상기와 같은 종래 메모리 모듈은 다음과 같은 문제점이 있었다.
버퍼 또는 레지스터를 이용한 메모리 모듈은 제품의 조립후에 성능 시험을 수행함에 있어서 불량이 발생된 경우, 버퍼 또는 레지스터가 불량인지 아니면 메모리가 불량인지를 판별하기 위한 별도의 작업이 필요하므로 테스트가 복잡하며 테스트에 소요되는 시간도 길어지게 된다.
본 고안은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로써, 버퍼 또는 레지스터나 메모리의 테스트를 개별적으로 수행하여 불량여부를 판별할 수 있도록 함으로써 테스트를 보다 용이하게 수행할 수 있는 메모리 모듈 테스트 패드를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 메모리 모듈의 구성도
도 2는 본 고안에 따른 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈의 구성도
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
21 : 컨트롤 신호 탭 22 : 데이터 입출력 탭
23 : 버퍼부 24 : 메모리부
25 : 컨트롤 신호 핀 26 : 입출력 핀
27a : 제 1 테스트 패드 27b : 제 2 테스트 패드
27c : 제 3 테스트 패드
상기의 목적을 달성하기 위한 본 고안의 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈은 외부 시스템과 인터페이스 하는 컨트롤 신호 탭 및 데이터 입출력 탭과, 상기 컨트롤 신호 탭을 통해 입력되는 컨트롤 신호를 안정된 신호로 변환하여 출력하는 버퍼부와, 상기 버퍼부에서 출력되는 신호를 저장하는 메모리부와, 상기 버퍼부에서 출력되는 신호를 상기 메모리부로 전달하는 컨트롤 신호 핀과, 상기 메모리부에서 출력되는 신호를 상기 데이터 입출력 탭으로 전달하는 입출력 핀을 구비한 반도체 메모리 모듈에 있어서, 상기 컨트롤 신호 탭과 상기 버퍼부 사이에 연결되고, 상기 버퍼부와 상기 컨트롤 핀 사이에 각각 연결되어 상기 버퍼부를 테스트하는 제 1, 제 2 테스트 패드와, 상기 입출력 핀과 상기 데이터 입출력 탭 사이에 연결되고 상기 제 2 테스트 패드와 더불어 상기 메모리부를 테스트하는 제 3 테스트 패드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 고안의 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈을 첨부도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 2는 본 고안에 따른 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈을 보여준다.
도 2에 도시한 바와 같이, 외부 시스템과 인터페이스(Interface)하는 컨트롤 신호 탭(21) 및 데이터 입출력 탭(22)과, 상기 컨트롤 신호 탭(21)을 통해 입력되는 컨트롤 신호를 안정된 신호로 변환하여 출력하는 버퍼부(또는 레지스터)(23)와, 상기 버퍼부(23)에서 출력되는 신호를 저장하는 메모리부(24)와, 상기 버퍼부(23)에서 출력되는 신호를 상기 메모리부(24)로 전달하는 컨트롤 신호 핀(25)과, 상기 메모리부(24)에서 출력되는 신호를 상기 데이터 입출력 탭(22)으로 전달하는 입출력 핀(26)과, 상기 컨트롤 신호 핀(25)과 상기 버퍼부(23) 사이, 상기 버퍼부(23)와 상기 메모리부(24) 사이, 그리고 상기 입출력 핀(26)과 상기 데이터 입출력 탭(22) 사이에 형성된 제 1, 제 2, 제 3 테스트 패드(27a,27b,27c)들을 포함하여 구성된다.
이와 같이 구성된 본 고안의 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈은 상기 제 1, 제 2, 제 3 테스트 패드(27a,27b,27c)를 이용하여 버퍼부(23) 및 메모리부(24)를 개별적으로 테스트하여 불량여부를 판별할 수가 있다.
즉, 버퍼부(23)를 테스트 하기 위해서는 상기 컨트롤 신호 탭(21)과 상기 버퍼부(23) 사이의 구성된 제 1 테스트 패드(27a)와 상기 버퍼부(24)와 상기 컨트롤 신호 핀(25) 사이에 구성된 제 2 테스트 패드(27b)를 이용하여 테스트한다.
그리고 상기 메모리부(24)를 테스트 하기 위해서는 상기 버퍼부(23)와 상기 컨트롤 신호 핀(25) 사이의 제 2 테스트 패드(27b)와 상기 데이터 입출력 탭(22)과 상기 입출력 핀(26) 사이의 제 3 테스트 패드(27c)를 이용하여 테스트한다.
이상에서 상술한 바와 같이, 본 고안의 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈은 다음과 같은 효과가 있다.
버퍼와 메모리를 개별적으로 테스트할 수 있기 때문에 제품 조립후 테스트 과정에서 불량이 발생할 경우, 그 불량이 버퍼 또는 레지스터의 불량인지 아니면 메모리의 불량인지를 보다 용이하게 판별할 수가 있다.
Claims (1)
- 외부 시스템과 인터페이스 하는 컨트롤 신호 탭 및 데이터 입출력 탭과, 상기 컨트롤 신호 탭을 통해 입력되는 컨트롤 신호를 안정된 신호로 변환하여 출력하는 버퍼부와, 상기 버퍼부에서 출력되는 신호를 저장하는 메모리부와, 상기 버퍼부에서 출력되는 신호를 상기 메모리부로 전달하는 컨트롤 신호 핀과, 상기 메모리부에서 출력되는 신호를 상기 데이터 입출력 탭으로 전달하는 입출력 핀을 구비한 반도체 메모리 모듈에 있어서,상기 컨트롤 신호 탭과 상기 버퍼부 사이에 연결되고, 상기 버퍼부와 상기 컨트롤 핀 사이에 각각 연결되어 상기 버퍼부를 테스트하는 제 1, 제 2 테스트 패드와,상기 입출력 핀과 상기 데이터 입출력 탭 사이에 연결되고 상기 제 2 테스트 패드와 더불어 상기 메모리부를 테스트하는 제 3 테스트 패드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019980018652U KR20000007258U (ko) | 1998-09-29 | 1998-09-29 | 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019980018652U KR20000007258U (ko) | 1998-09-29 | 1998-09-29 | 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20000007258U true KR20000007258U (ko) | 2000-04-25 |
Family
ID=69521557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019980018652U KR20000007258U (ko) | 1998-09-29 | 1998-09-29 | 테스트 패드를 구비한 메모리 모듈 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20000007258U (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111568611A (zh) * | 2020-05-27 | 2020-08-25 | 北京市春立正达医疗器械股份有限公司 | 一种间隙测垫、膝关节压力检测装置及使用方法 |
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1998
- 1998-09-29 KR KR2019980018652U patent/KR20000007258U/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111568611A (zh) * | 2020-05-27 | 2020-08-25 | 北京市春立正达医疗器械股份有限公司 | 一种间隙测垫、膝关节压力检测装置及使用方法 |
| CN111568611B (zh) * | 2020-05-27 | 2023-11-28 | 北京市春立正达医疗器械股份有限公司 | 一种间隙测垫、膝关节压力检测装置及使用方法 |
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