KR100219567B1 - 자가 진단 테스트 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 자가 진단 테스트 장치는 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트하기 위한 장치이다. 이 장치는 중앙처리부, 레지스터 및 멀티플렉서를 포함한다. 중앙처리부는 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 입력받아 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행한다. 레지스터는 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 사용자로부터 입력받아 로딩한다. 멀티플렉서는, 중앙처리부에서 레지스터에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받을 수 있도록, 중앙처리부로의 데이터 전달 경로를 변환시킨다.

Description

자가 진단 테스트 장치 및 방법{Self diagnastic test system and method}
본 발명은, 자가 진단 테스트 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.
중앙처리소자(CPU: Central Processing Unit)의 테스트(Test) 방법에는 크게 기능 테스트, 롬(ROM:Read Only memory) 덤프(Dump) 테스트, 자가 진단(Diagnostic) 테스트, 및 롬리스(ROMless) 테스트의 네 가지가 있다. 기능 테스트는 중앙처리부의 기능들을 테스트한다. 롬 덤프 테스트는 롬 내부에 저장되어 있는 롬 덤프 데이타들을 테스트한다. 자가 진단 테스트는 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트한다. 롬리스 테스트는 롬리스 모드(Mode)가 있는 칩(Chip)의 경우 롬 덤프 테스트를 위한 것이다.
자가 진단 테스트에 있어서, 테스트될 외부 인터페이스 포트의 기능에는 명령(Instruction) 입력 포트의 출력 기능 및 풀업(Pull Up) 기능 등이 있다. 이들 각 기능에 대한 테스트는 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 입력받아 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행함으로써 가능하다. 이와 같은 실행을 위하여 종래에는, 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 별도의 자가 진단 롬(Read Only Memory)에 저장하도록 되어 있다.
도 1을 참조하면, 종래의 자가 진단 테스트 장치(1)는 입출력 포트(100), 중앙처리부(120), 레지스터(140), 자가진단 롬(160), 및 롬(180)을 포함한다. 입출력 포트(100)는 외부로부터의 데이터 및 명령을 받아들여 중앙처리부(120)로 전달하는 기능을 한다. 중앙처리부(120)는 입출력 포트(100)로부터 입력되는 명령을 해독하고 그 명령을 수행하는데 필요한 신호를 발생시키고 수행한다. 레지스터(140)는 중앙처리부(120)에서 명령을 수행하는 데 필요한 데이타를 일시적으로 저장하여 이를 중앙처리부(120)로 전달하거나, 중앙처리부(120)로부터의 새로운 데이타를 받아들여 다른 소자로 전달될 때까지 일시적으로 저장하는 기능을 한다. 자가 진단 롬(160)은 입출력 포트(100)와 접속되는 외부 인터페이스 포트(미도시)의 테스트 펙터들을 영구적으로 저장한다. 롬(180)은 시스템을 동작시키는 데 필요한 명령들 및 데이타들을 영구적으로 저장한다. 이와 같이 구성된 종래의 자가 진단 장치(1)에 있어서, 중앙처리부(120)는 자가 진단 롬(160)에 기록된 테스트 펙터들을 판독하여 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행한다.
상기와 같은 종래의 자가 진단 테스트 장치에 의하면, 자가 진단 롬(160)에 테스트되는 외부 인터페이스 포트(100)의 펙터별로 해당되는 명령들을 자가진단 롬(160)에 영구적으로 저장해야 한다. 이에 따라 다음과 같은 문제점들이 있다.
첫째, 자가 진단 롬(160)에 저장된 테스트 펙터 내에 비정상적으로 기록된 데이터가 있는 경우, 상응하는 중앙처리소자들을 잘못되게 테스트하게 된다. 이에 따라, 테스트에 소요되는 시간이 길어지고, 불량 중앙처리소자들이 출하될 수 있다.
둘째, 자가 진단 롬(160)의 제조 비용이 든다.
셋째, 자가 진단 롬(160)에 저장된 테스트 펙터 내에 비정상적으로 기록된 데이터가 있는 경우, 자가 진단 롬(160)을 새롭게 교체해야 하는 불편함이 있다.
본 발명의 목적은, 테스트 시간을 줄이고, 테스트 정확도를 높이며, 사용이 용이한 자가 진단 테스트 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
도 1은 종래의 자가 진단 테스트 장치의 구성을 보여주는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 자가 진단 테스트 장치의 구성을 보여주는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자가 진단 테스트 방법을 보여주는 흐름도이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1, 2...자가 진단 테스트 장치, 100, 200...입출력 포트,
210...멀티플렉서, 120, 220...중앙처리부,
140, 240...레지스터, 160...자가 진단 롬,
180, 280...롬.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 자가 진단 테스트 장치는 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트하기 위한 장치이다. 이 장치는 중앙처리부, 레지스터 및 멀티플렉서를 포함한다. 상기 중앙처리부는 상기 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 입력받아 상기 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행한다. 상기 레지스터는 상기 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 사용자로부터 입력받아 로딩한다. 상기 멀티플렉서는, 상기 중앙처리부에서 상기 레지스터에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받을 수 있도록, 상기 중앙처리부로의 데이터 전달 경로를 변환시킨다.
상기 또다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 자가 진단 테스트 방법은 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트하기 위한 자가 진단 테스트 방법이다. 이 방법은 상기 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 사용자로부터 입력받아 레지스터에 로딩하는 단계를 포함한다. 다음에, 상기 레지스터에 일시 저장된 테스트 펙터들을 입력받아 실행할 수 있도록 데이터 전달 경로를 변환시킨다. 다음에, 상기 레지스터에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받아 상기 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행한다. 그리고 상기 자가 진단 테스트의 결과를 출력한다.
상기 본 발명에 의한 자가 진단 테스트 장치 및 방법에 의하면, 상기 테스트 펙터들이 사용자에 의하여 상기 레지스터에 로딩되므로, 별도의 자가 진단 롬을 사용할 필요가 없다. 이에 따라 다음과 같은 효과들이 발생된다.
첫째, 자가 진단 롬의 에러에 따른 테스트 소요 시간을 없앨 수 있고, 불량 중앙처리소자들의 출하를 막을 수 있다.
둘째, 자가 진단 롬의 제조 비용이 들지 않는다.
셋째, 자가 진단 롬의 에러에 따라 자가 진단 롬을 새롭게 교체할 필요가 없다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예가 상세히 설명된다.
도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 자가 진단 테스트 장치(2)는 중앙처리소자(미도시)의 외부 인터페이스 포트(미도시)의 기능을 테스트하기 위한 장치이다. 이 장치는 중앙처리부(220), 레지스터(240), 멀티플렉서(210), 입출력 포트(200) 및 롬(280)을 포함한다. 중앙처리부(220)는 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 입력받아 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행한다. 레지스터(240)는 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 사용자로부터 입출력 포트(200)를 통하여 입력받아 로딩한다. 멀티플렉서(210)는, 중앙처리부(220)에서 레지스터(240)에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받을 수 있도록, 중앙처리부(220)로의 데이터 전달 경로를 변환시킨다. 입출력 포트(200)는 외부로부터의 데이터 및 명령을 받아들여 레지스터(240) 및 중앙처리부(220)로 전달하는 기능을 한다. 롬(280)은 시스템을 동작시키는 데 필요한 명령들 및 데이타들을 영구적으로 저장한다.
도 2 및 3을 참조하면, 본 발명에 따른 자가 진단 테스트 방법은 테스트 모드 입력(301), 펙터 로딩(302), 레지스터 동작 모드 변환(303), 테스트(304), 및 결과 출력(305) 단계들을 포함한다.
테스트 모드 입력 단계(301)에서는 입출력 포트(100)로부터 테스트 모드에 대한 명령이 중앙처리부(220)에 전달된다. 전달된 테스트 모드가 자가 진단 테스트 모드인 경우, 중앙처리부(220)는, 사용자로부터 입출력 포트(200)를 통하여 입력된 테스트 펙터들을 레지스터(240)에 로딩되게 한다(단계 302).
로딩이 끝난 다음에, 레지스터 동작 모드 변환 단계(303)에서, 중앙처리부(220)는 멀티플렉서(210)를 제어하여 레지스터 동작 모드로 모드를 변환시킨다. 이에 따라, 멀티플렉서(210)는, 중앙처리부(220)에서 레지스터(240)에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받을 수 있도록, 중앙처리부(220)로의 데이터 전달 경로를 변환시킨다.
테스트 단계(304)에서, 중앙처리부(220)는 레지스터(240)에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받아 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행한다. 여기서, 입출력 포트(200)는 테스트될 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트와 연결된다. 테스트 단계(304)가 수행되면, 결과 출력 단계(305)에서 중앙처리부(120)는 수행된 자가 진단 테스트의 결과를 입출력 포트(100)를 통하여 출력하여, 사용자에게 인식되게 한다.
이상 설명된 바와 같이 본 발명에 따른 자가 진단 테스트 장치 및 방법에 의하면, 테스트 펙터들이 사용자에 의하여 레지스터에 로딩되므로, 별도의 자가 진단 롬을 사용할 필요가 없다. 이에 따라 다음과 같은 효과들이 발생된다.
첫째, 자가 진단 롬의 에러에 따른 테스트 소요 시간을 없앨 수 있고, 불량 중앙처리소자들의 출하를 막을 수 있다.
둘째, 자가 진단 롬의 제조 비용이 들지 않는다.
셋째, 자가 진단 롬의 에러에 따라 자가 진단 롬을 새롭게 교체할 필요가 없다.
본 발명은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 청구범위에서 정의된 발명의 사상 및 범위 내에서 당업자에 의하여 변형 및 개량될 수 있다.

Claims (2)

  1. 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트하기 위한 자가 진단 테스트 장치에 있어서,
    상기 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 입력받아 상기 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행하기 위한 중앙처리부,
    상기 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 사용자로부터 입력받아 로딩하기 위한 레지스터, 및
    상기 중앙처리부에서 상기 레지스터에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받을 수 있도록, 상기 중앙처리부로의 데이터 전달 경로를 변환시키기 위한 멀티플렉서를 포함한 자가 진단 테스트 장치.
  2. 중앙처리소자의 외부 인터페이스 포트의 기능을 테스트하기 위한 자가 진단 테스트 방법에 있어서,
    상기 외부 인터페이스 포트의 테스트 펙터들을 사용자로부터 입력받아 레지스터에 로딩하는 단계;
    상기 레지스터에 일시 저장된 테스트 펙터들을 입력받아 실행할 수 있도록 데이터 전달 경로를 변환시키는 단계;
    상기 레지스터에 로딩된 테스트 펙터들을 입력받아 상기 자가 진단 테스트를 위한 프로그램을 실행하는 단계; 및
    상기 자가 진단 테스트의 결과를 출력하는 단계를 포함한 자가 진단 테스트 방법.
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