KR19990083360A - 복수의개체,재료층등으로구성된유니트를검사하는장치 - Google Patents

복수의개체,재료층등으로구성된유니트를검사하는장치 Download PDF

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KR19990083360A
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포케 하인즈
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Abstract

물체, 특히 담배군(12), 재료웨브 등은 검사세트를 통하여 이동되며, 물체로부터의 반사광은 광전자 검사부재, 명확하게는 CCD 선형 배열 칩(10)에 의하여 포착되며, CCD 선형 배열 칩은 이동방향을 가로질러 및/또는 물체의 길이방향 범위를 가로질러 배열되며, 검사세트(23)의 도움으로 복수의 부분, 층 등으로 구성된 물체를 검사하는 장치. 물체의 윤곽은 상이한 빛의 명암의 영역에 의하여 CCD 선형 배열 칩(10)에 의해서 취해지고, 그리고 평가 유니트에서 처리된다.

Description

복수의 개체, 재료층 등으로 구성된 유니트를 검사하는 장치{Device for checking units composed of a plurality of individual objects, material layers or the like}
본 발명은, 평가장치를 구비한, 그리고 다수의 광검지 검사요소를 가지는 검사부재를 구비한 검사장치에서 완벽한 및/또는 정확한 구성에 관하여, 복수의 부분, 특히 예를 들어 담배군, 보빈, 재료웨브 등과 같은 복수의 개체, 재료층 등으로 구성된 유니트를 검사하는 장치에 관한 것이다.
포장기술에 있어서, 주로 포장기계와 관련하여, 상이한 물체가 정확한 구성에 관하여, 뿐만 아니라 소비(예를 들어 포장재료)에 관하여 검사될 필요가 있다. 이전에 이용되던 기계적인 검사부재는 보다 새로운 세대의 고용량 포장기계에 대하여 더이상 적합하지 않다. 이러한 이유로, 연속적으로 또는 때때로 정확한 구성에 관하여 물체를 검사하기 위해서 증가하는 이용은 광전자 모니터링 부재로 만들어진다.
또한 담배를 포장함에 있어서 다상의 모니터링 및 검사 태스크가 수행되어야 한다. 따라서, 각각의 담배 팩에 대하여 담배군의 완벽한 그리고 정확한 조립이 모니터링되고, 포장재료의 정확한 형상이 모니터링될 필요가 있다.
본 발명의 목적은, 특히, 빠른 순환시간을 가지는 포장기계의 경우에, 여러가지로 이용될 수 있는 그리고 정확한 검사결과를 전달하는 모니터링 장치를 제공하기 위한 것이다.
도 1은 담배군용 검사부재를 구비한 담배군용 컨베이어를 도시하는 측부 종단면도,
도 2는 도 1에 따른 장치의 도 1의 평면 Ⅱ-Ⅱ의 단면도,
도 3은 도 1에 따른 장치의 평면 Ⅲ-Ⅲ의 오프셋된 단면도,
도 4는 도 1에 따른 장치의 평면도,
도 5는 도 1 내지 4에 따른 장치의 측정된 명암신호의 그래프,
도 6은 재료웨브가 감겨져 있고 검사장치를 구비한 보빈의 방사상 단면도,
도 7은 도 6에 따른 실시예의 검사장치의 확대도,
도 8은 도 6 및 도 7에 따른 장치의 측정된 명암신호의 그래프,
도 9는 재료웨브용 검사장치를 도시하는 종단면도,
도 10은 도 9에 따른 장치의 측정된 명암신호의 그래프,
도 11은 연속적인 재료웨브용 검사장치의 개략적인 단면도, 그리고
도 12는 도 11에 따른 장치를 도시하는 종단면도이다.
이러한 목적을 이루기 위해서, 본 발명에 따른 장치는, 그 검사부재는 검사요소로써 복수의 광검지 구성요소를 구비한 CCD 선형 배열 칩으로 이루어지는 것과, CCD 선형 배열 칩은 검사될 물체의 윤곽이 CCD 선형 배열 칩에 의해서 검출되는 방식으로 검사되는 재료웨브의 층 또는 물체를 가로지르는 방향으로 향하는 것을 특징으로 한다.
CCD 선형 배열 칩은 서로에 이웃하여 배열되어 전자신호를 포착된 빛에 따라서 평가 유니트로 이송하는 다수의 광검지 요소를 구비한 기다란 광전자 부재라는 것이 공지되어 있다. 본 발명에 따라서, 그러한 CCD 선형 배열 칩은 물체(예를 들어 담배), 재료층(예를 들어 보빈의) 또는 검사될 재료웨브(서로 중첩되어 배열된 복수의 층)를 가로지르는 길이방향 범위를 구비한 검사부재 또는 검사장치의 일부로써 향한다. 최적의 양식으로 검사될 물체를 비추는 광원은 바람직하게 검사장치 또는 검사부재에 할당된다. 나아가서, 광학 시스템 또는 렌즈-조리개 시스템은 바람직하게 CCD 선형 배열 칩의 상류측에 배열되거나, 아니면 전용 양식으로 포착된 빛을 CCD 선형 배열 칩으로 이송한다. 프로세스 중에 하나 이상의 조리개는 외부 광원으로부터 CCD 선형 배열 칩을 보호하고 또한 초점맞춤을 개선한다.
CCD 선형 배열 칩에 의하여 취해진 윤곽은 평가장치에서 처리되어 기준 화상에 의하여 명확하게 조정된다.
본 발명의 상세 및 특징, 특히 바람직한 실시예는 도면을 참조하여 아래에 보다 상세히 설명된다.
(실시예)
도면은, 나중에 평가 유니트(도시생략)에 의해서 처리되는, 검사부재를 지나서 이동하는 물체의 윤곽 또는 표면을 검출하기 위해서 기다란 CCD 선형 배열 칩(10)이 검사부재로써 사용되는 모니터링 또는 검사장치에 대한 복수의 실시예 또는 사용예를 도시하고 있다. 물체는 본 프로세스에 있어서 CCD 선형 배열 칩(10)의 길이방향 범위를 가로질러 이동된다. 물체의 표면 구조의, 이동방향을 가로질러 놓여있는 윤곽은 본 경우에 있어서 상이한 휘도값에 의거하여 검출된다. 물체는 또한 CCD 선형 배열 칩(10)의 길이방향에서 세로로 이동될 수도 있다. 그 후 이동의 방향을 따라서 놓여있는 표면구조의 윤곽은 상이한 휘도값에 의거하여 기록된다.
변경적으로, 고정된 물체의 다양한 구조는 CCD 선형 배열 칩(10)에 의해서 영구적인 또는 단계적인 모니터링에 의거하여 검출될 수 있다. 모든 사용예는 포장기술의 영역, 특히 담배포장에 관계된다.
도 1 내지 도 5에 도시된 실시예는 담배팩의 내용물에 대한 개수 및 구성에 관하여 상응하는, 담배(11), 특히 담배군(12)의 모니터링에 관한 것이다. 도시된 실시예에 있어서 담배군(12)은 3개의 층(13, 14, 15)으로 이루어진다. 통상의 구성에 따라서, 2개의 외부층(13, 15)은 7개비, 그리고 중간층(14)은 6개비의 담배(11)로 이루어진다. 6개비의 담배는 외부층(13, 15)의 담배(11)에 대하여 안장모양 위치에 위치결정된다.
이렇게 구성된 담배군(12)은 담배트랙(16)을 따라서 운반되며, 이 담배는 운반방향을 향한다. 이러한 경우에, 담배군(12)은 직립한 측면가이드(18, 19)와 상단 가이드(20) 사이에서 하부 트랙판(17) 상에 위치된다. 담배군(12)은 바람직하게 드라이버(21)에 의해 서로 이격되어 연속적으로 운반된다. 이 드라이버(21)는 예를 들어 체인과 같은 무단 컨베이어 부재 상에 장착되어 트랙판(17) 내의 슬롯(22)을 통과한다.
담배군(12)은 담배트랙(16)의 영역에 배열된 검사세트(23)를 지나서 이동된다. 상기 세트는 담배트랙(16)의 상단측에, 명확하게는 상단 가이드(20)의 잘라낸 부분에 위치결정된다. 검사세트(23)는 하부측의 검사개구(25)가 담배군(12)을 향하는 상태로 모든 측면이 폐쇄된 하우징(24)으로 이루어진다. 검사개구(25)는 담배트랙(16) 또는 담배군(12)의 전체 폭에 걸친 슬롯의 형상으로 뻗어있다.
그러나 이 하우징은 검사개구(25) 측에 배열된 폐쇄판(25a)을 또한 가지고 있을 수 있다. 담배군(12) 또는 구성된 담배배치에 따라서 상이한 폐쇄판(25)이 채용될 수 있도록 상기 폐쇄판(25a)은 상호교환 가능하게 설계되고 그리고 하우징에 제거가능하게 연결된다.
CCD 선형 배열 칩(10)은 검사세트(23)의 내측 즉 하우징(24)의 내측에, 명확하게는 담배군(12)을 가로지르는 길이방향 정렬로 그러므로 이동방향에 수직이거나 또는 평행하게 검사부재로써 위치결정된다. CCD 선형 배열 칩(10)은 담배군(12)의 상단측 즉 상부층(13)이 통과함에 따라 CCD 선형 배열 칩(10)에 의하여 전체 폭에 걸쳐서 광학적으로 검출되도록 구성된다.
이러한 목적으로, CCD 선형 배열 칩(10)은 검사될 담배(11) 즉 담배군(12)의 맞은편에 빛 및/또는 광학신호용의 관통개구를 가지는 챔버 즉 폴더(26) 내의 하우징(24)의 내측에 배열된다. 이러한 관통개구의 내측에는, CCD 선형 배열 칩이 층(13) 내의 모든 담배(11)를 광학적으로 검출할 수 있도록 CCD 선형 배열 칩(10) 상의 담배군(12)의 상단측의 화상에 초점이 맞춰지는, 광학 즉 렌즈-조리개 시스템(27), 즉 특히 렌즈가 배열된다.
검사세트(23)는 검사될 물체의, 즉 담배군(12)의 상부영역의 최적 조명을 위한 광학요소로 이루어진다. 하우징(24)의 내측에는 서로 마주하는 측면 상에 쌍으로 배열되고 여기에서 홀더(26)에 연결되는 복수의, 명확하게는 4개의 광원(28, 29)이 있다. 2개의 광원(28, 29)은 각각의 경우에 담배군(12)의 이동의 양측면 상에 위치결정된다. 광원(28, 29)이 경사지게 위치되기 때문에, 이들 광원은 밝고 어두운 영역을 강조하는 방식으로 정확하게, 담배군(12) 상의 특정 경로를 향한다. 이 광원(28, 29)은 바람직하게 적외선 영역의 빛을 가지는 LED 요소이다.
담배군(12)의 상단측의, CCD 선형 배열 칩(10)에 의하여 취해진 화상은, 평가 유니트에서 기준화상과 비교된다. 담배군(12)의 불완전한 형상으로 인한 편차의 경우에, 제조 프로세스로부터 관련된 담배군을 분리하기 위해서 오차신호가 발생된다. 본 경우에 있어서, CCD 선형 배열 칩(10)은 검사세트(23) 내측 즉 하우징(24)의 내측에 배열되고 그리고 보드로 이루어진 장착판(30)에 연결된다. 광전자 신호를 평가하기 위한 프로세서, 기억장치 등 또는 CCD 선형 배열 칩(10)은 하우징(24)의 상부영역에 배열될 수 있다.
CCD 선형 배열 칩(10)에 의해서 취해진 담배군(12)의 화상은 평가될 수 있는 변수에 대하여 도 5에서의 그래프와 같이 나타내진다. 상이한 빛의 명암 영역은 담배군(12)의 조명에 의거하여 만들어진다. 담배는 담배 사이에 형성된 갭이 반사하는 것보다 강하게 빛을 반사한다. 빛에 있어서의 이러한 차이는 CCD 선형 배열 칩(10)의 도움으로 포착되어 평가된다. 도 5에 따른 그래프는 CCD 선형 배열 칩(10)의 병치된 광감요소, 즉 CCD 라인을 횡좌표(31)의 영역에 도시한다. 측정된 빛의 명암은 종좌표(32) 상에 플로팅된다. 각각의 경우에 곡선의 산부(33)는 현존하는 담배(11)에 상응한다. 골부(34)는 담배(11) 사이의 공간이다. 점선(35)은 담배(11)가 상부층(13)의 영역 내에 없을 때 만들어진다. 더욱이, 본 검사방법의 경우에 검사된 상부층(13)에 있어서의 변화는 담배군(12)의 구성의 내측의 임의의 지점에 담배(11)가 없을 때 항상 발생된다.
검사부재로써의 검사세트(23) 즉 CCD 선형 배열 칩(10), 및 광원(28, 29)은 연속적으로 켜져 있지 않으며, 각각의 경우에 하나의 담배군(12)을 검사하기 위해서 주기적으로 작동된다. 이러한 목적으로, 광학적인 트립핑 부재(36)는 검사세트(23)의 영역에 배열된다. 상기 부재는 (광학) 트랜스미터(37) 및 리시버(38)로 이루어진다. 트랜스미터(37)는 통과하는 담배군(12)에 의하여 방해되는, 즉 - 본 경우에서와 같이 - 리시버(38)에 의하여 반사되고 포착되는 빛의 장애물을 만들어낸다. 트랜스미터(37) 및 리시버(38)는 광섬유 케이블을 경유하여, 명확하게는 유리섬유 다발(39)을 경유하여, 한편으로는 광원으로, 그리고 다른 한편으로는 평가 유니트로 연결된다. 트랜스미터(37), 리시버(38) 및 유리섬유 다발(39)은 하우징(24)의 하부벽의 비스듬하게 향하는 보어(40) 내에 배열된다.
그렇지만, 트랜스미터(37) 및 리시버(38)는 유리섬유 다발(39)에 의하여 광원 및 평가 유니트(38)에 연결되어야만 하는 것은 아니다. 대신에, 광원은 트랜스미터(38)를 나타내고 광전 트랜스포머는 리시버(38)로써 작용할 수 있다. 이들 전기 구성요소는 그 전방에 위치결정되는 유리면에 의하여 보호된다.
하우징(24)에 있어서의 함몰부(41)는 빛의 장애물이 통과하도록 한다. 따라서 부재들, 명확하게는 트랜스미터(37) 및 리시버(38)는 담배군(12)에 관하여 떨어져 배열된다. 트리핑 부재(36)는 담배군(12)의 이동방향에서 검사개구(25)의 하류측에 위치된다. 이 트리핑 부재(36)는 담배군(12)이 운반방향에서 앞에 놓여있는 영역의 빛의 장애물을 트리핑할 때 검사세트(23)를 작동시킨다. 결과적으로, 담배군(12)을 검사하는 것은 담배(11)의 길이방향 범위로 언급되는 중간영역에서 수행된다.
본 경우에서와 같이, 트랜스미터 및 리시버, 즉 미러가 트랙판 내에 설치된다면, 트리핑 부재(36)는 반사 스캐너, 일방적인 빛의 장애물 및/또는 반사광 장애물이 될 수 있다.
그렇지만, 변경실시예에 있어서, 트리핑 부재(36)는 또한 생략될 수 있다. 특히, 효과적인 평가 유니트, 특히 신속한 프로세서가 채용된다면 이것은 가능하다. 그 후 CCD 선형 배열 칩(10)은 클록-제어 모드에서 작동되어야 하는 것은 아니다. 대신에 CCD 선형 배열 칩은 지나가는 화상을 영구적으로 기록한다. 담배군의 전방영역이 CCD 선형 배열 칩(10)에 의해서 검출될 때, 상응하는 (화상) 신호는 가파른 임펄스 에지, 특히 가파른 임펄스 기울기를 경험하게 된다. 이러한 임펄스 에지는 평가 유니트가 작동되도록 하여, 평가 작업을 시작하게 한다. 따라서 CCD 선형 배열 칩(10)이 연속적인 이동에 있어서 작동되는 상태에서, 트리핑 부재(36)는 생략될 수 있다.
도 6 내지 도 8은 검사장치의 특정예를 도시하고 있다. 이것은 감겨진 재료웨브의 층(43)으로 구성되는 보빈(42)을 (연속적이거나 또는 주기적인) 검사하는 것이다. 이것은 주로 포장재료, 예를 들어 종이, 필름, 박막 등에 관계한다. 재료웨브는 보빈(42)을 형성할 목적으로 원통형 보빈 코어(44) 상에 감겨진다. 상기 코어는 중심에 원통형 중앙개구(45)를 형성한다.
재료웨브를 처리할 목적으로, 보빈(42)은 홀더 상에, 명확하게는 특히 중앙개구(45)로 들어가는 회전가능한 스러스트 저널(46) 상에 장착된다.
검사세트(23)는 보빈(42)의 소비를 모니터링한다. 구체적으로 말해서, 보빈 코어(44) 상의 재료웨브의 나머지 부분은 교체보빈의 새로운 재료웨브가 교체되는 재료웨브에 결합될 때를 결정한다. 재료웨브가 회전하는 보빈(42)으로부터 완전히 고갈되는 것을 허용하지 않도록 모니터링시 고려된다. 고갈되는 재료웨브가 장력을 잃지 않고 재료웨브의 나머지가 보빈 코어(44)로부터 고갈될 수 있는 방식으로 나머지 부분은 보빈(42) 또는 보빈 코어(44) 상에서의 (겹쳐 잇기) 연결작업의 시작시에 새로운 재료웨브에 대한 결합을 위하여 존재해야만 한다.
검사세트(23)는 보빈 홀더의 영역에 고정적으로 위치결정된다. 보빈 홀더는 스러스트 저널(46)에 연결되는 샤프트(48)에 회전불가능하게 지지되는 서포트 프레임(47)으로 이루어진다. (회전가능하게 구동되는) 샤프트(48)는 보빈(42)이 보빈 코어(44)로 지지되는 지지판(49)에 연결된다. 스러스트 저널(46) 및 지지판(49)은 회전 유니트를 형성한다.
고정된 서포트 프레임(47)은 검사부재, 명확하게는 CCD 선형 배열 칩(10)을 유지하기 위한 하우징(50)을 형성한다. 이 하우징(50)은 컵 형상 서포트 프레임(47)의, 보빈(42)을 향하는 측면 상에 배열된다. 이 하우징(50)은 보빈(42)을 향하는 측면 상에 검사개구(51)를 가진다. CCD 선형 배열 칩(10) 상에 빛의 초점이 맞춰지도록 광학 시스템(52)-렌즈- 또는 렌즈-조리개 시스템은 상기 검사개구 내측에 제공된다.
검사세트(23)는 재료웨브의 단부영역, 즉 보빈 코어(44)를 향하는 층(43)을 주사한다. 구체적으로 말해서, 감김 또는 층(43)의 소영역 및 보빈 코어(44)의 소영역은 광학적으로 검출된다. 지지판(49)은 검사세트(23)와 정렬되는 관통개구(53)를 구비한 이 영역 내에 제공된다. 따라서 광학검사는 지지판(49)과 함께 회전하는 관통개구(53)가 검사세트(23)에 마주보고 놓여질 때 주기적으로 명확하게 처리된다. 특히 LED로 구성되는 광원(도시생략)은 적절하게 작동될 수 있다.
층(43) 및 보빈 코어(44)에 의하여 반사된 빛의 상이한 휘도값으로 인하여, 층(43)을 가로질러 향하는 CCD 선형 배열 칩(10)은 재료웨브의 소비를 측정하여 소정의 최소개수의 층(43)에 도달되면 겹쳐잇기 작업을 시작하기 위한 적절한 신호를 발생시킬 수 있다. 도 8은 CCD 선형 배열 칩(10)의 개별적인 센서(픽셀) 상에 작용되는 빛의 휘도값이 횡좌표(54) 상에 플로팅되는 도면을 도시한다. 종좌표(55)는 연속하는 계산으로 CCD 선형 배열 칩(10)의 병치된 센서 즉 픽셀을 나타낸다. 플로팅된 곡선(56)은 CCD 선형 배열 칩(10)의 센서/픽셀에 할당된 빛의 명암이다. 종좌표(55) 상의 좌측 영역은 빛이 보빈 코어(44)의 영역 내에서 포착되지 않는 것을 나타낸다. 곡선(56)의 상부 가지는 에지 센서/픽셀의 경우에 증가하는 빛의 명암을 나타내며, 이미 CCD 선형 배열 칩(10)의 에지에 배열된 센서는 전체 빛의 명암을 수용한다. 모니터링 부재는 겹쳐잇기 작업이 예를 들어 총 256개의 센서용의 위치(228)의 센서(57)의 경우와 같은 특정 센서(57)의 특정한 빛의 명암의 경우에 작동되도록 설정된다. 그렇지만, 센서 즉 픽셀의 개수는 본질적으로 임의이다. CCD 칩에 있어서 바람직하게는 256개이지만, 512, 1024, 2048, 4096개가 될 수도 있다.
검사 즉 모니터링의 주제에 관한 또 다른 예는 도 9 내지 도 12에 이어진다. 이것은 예를 들어 필름, 종이 등과 같은 포장재료로 이루어진 재료웨브(58)의 정확한 형성에 관한 것이다. 재료웨브(58)는 설명된 타입의 검사세트(23)를 연속적으로 지나서 점진적으로 이동되며, 이것은 수평면에서 재료웨브(58)를 운반하기에 그리고 재료웨브(58) 상에 검사세트(23)를 위치결정하기에 편리하다. 검사 즉 모니터링은 본 경우에 있어서 2개의 특징으로 연장된다. 한편, 웨브 에지(59)의 정확한 안내 또는 위치결정이 이루어진다. 다른 한편, 재료웨브(58)의 상단측에 배열되는 마킹 등이 검사되어, 본 경우에 있어서 재료 스트립(60)은 재료웨브(58)의 길이방향으로 놓여있고 그리고 재료웨브(58)에 연결된다. 상기 스트립은 특히 필름재료로 구성되는 래퍼용 절취-개방 스트립이다.
도 9에 따른 검사세트(23)는 도 7의 검사세트(23)와 동일하거나 유사한 방식으로 구성된다. CCD 선형 배열 칩(10)은 재료웨브(58)의 상단측의 에지 영역을 주사한다. 광원(61)은 본 예에서 재료웨브(58) 아래에 배열되며, 결과적으로 재료웨브는 검사세트(23)에 마주하는 측면 상에서 조명된다. 투명한 재료웨브의 경우에, 이 결과는 도 10에 따른 곡선으로 나타나며, 순차로 빛의 명암은 종좌표(62) 상에 플로팅되고, 그리고 CCD 선형 배열 칩(10)의 병치된 센서 즉 픽셀은 횡좌표(63) 상에 플로팅된다. 곡선(64)은 재료웨브의 정확한 형성의 경우에 CCD 선형 배열 칩(10)에 의하여 포착된 휘도값에 상응한다. 왼쪽의 제1 곡선단편(65) 및 제3 곡선단편(66)은 (코팅되지 않은) 재료웨브(58)의 영역에서의 빛의 값을 나타낸다. 명확하게 낮은 빛의 명암을 나타내고 그리고 재료 스트립(60)의 위치결정을 나타내는 곡선단편(67)은 사이에서 포착된다. 마지막으로, 에지 곡선단편(68)은 재료웨브(58)의 외측 영역에 상응한다. 곡선단편(65∼68)은 재료웨브의 정확한 형성을 부여하기 위해서 항상 동일한 소정 폭 및 위치를 나타내어야만 한다. 포착된 빛의 값의 편차는 재료웨브(58) 즉 재료스트립(60)의 불완전한 위치결정으로 야기된다.
또한 단일 검사세트(23)에 의하여 복수의 영역에서 기다란 물체를 검사 즉 모니터링하기 위해서 가로질러 향하는 CCD 선형 배열 칩을 사용할 수 있다. 도 11 및 도 12에 따른 실시예는, 도 9 및 도 10과 유사한 방식으로, 비교적 긴 부분에서의 재료웨브(58)의 검사에 관한 것이며, 도 9에 따라서 예를 들어 재료스트립(60) 및/또는 절취-개방 스트립 및/또는 웨브 에지(59)와 같은 복수의 외부 특징을 검사하는 것이 가능하다.
도 9에 따른 실시예에서, 검사세트(23)는 재료웨브(58) 상에 위치결정된다. 광원(61)은 재료웨브(58) 아래에서 검사세트(23)에 대하여 오프셋되어 위치결정된다. 재료웨브(58)의, 검사세트(23)와 광원(61) 사이에 위치되는 영역은 빛의 반사에 의하여, 명확하게는 재료웨브(58) 위 또는 아래에서 미러(69, 70, 71, 72)의 배열에 의하여 검출된다. 이 미러(69∼72)는 광원(61)으로부터 방사되는 광선(73)이 재료웨브(58)를 횡단하여 통과하여 제1 미러(69)의 마주하는 측에서 반사되도록 위치결정되며, 결과적으로 광선(73)은 경사방향에서 다시 재료웨브(58)를 통하여 다음의 미러(70) 상으로 향한다. 다음 미러는, 광선(73)을 횡단방향으로, 재료웨브(58) 상에서 마주보게 향하여 위치되는 미러(71) 상으로 반사시킨다. 검사세트(23) 아래의 또 다른 미러(72)는 CCD 선형 배열 칩(10) 상으로 광선(73)을 전달한다. 이 빛은 웨브를 통하여 다중 통로에 의해서 부분적으로 흡수된다. CCD 선형 배열 칩(10)의 센서는 이러한 목적으로 설정된다. 재료스트립(60)의 불완전한 위치결정에 의거한 편차는 변화를 초래하며, CCD 선형 배열 칩의 영역에서 포착된 빛에 있어서 상응적으로 기록될 수 있다.
도 6, 도 7에 따른 그리고 도 9에 따른 검사세트(23)의 경우에, 산란광 필터(74)는 광학효과를 구비한 커버로써 CCD 선형 배열 칩(10)의 상류에 각각 배열된다. 이러한 산란광 필터(74)는 특히 간섭의 가능한 원천으로써 여과하여 단파 주변광을 제거한다.
설명된 시스템의 하나의 특정 장점은 CCD 칩에 의한 화상의 평가가 소프트웨어를 변경시킴으로써 어떠한 적용에도 적합하게 될 수 있다는 것이다. 소프트웨어에 대한 변경은 평가 유니트의 기억장치 모듈 내에 저장될 수 있다.
본 발명에 의해서, 빠른 순환시간을 가지는 포장기계의 경우에, 여러가지로 이용될 수 있으며 정확한 검사결과를 전달하는 모니터링 장치가 제공될 수 있다.

Claims (7)

  1. 평가장치를 구비한, 그리고 다수의 광검지 검사요소를 가지는 검사부재를 구비한 검사세트(23)에서 완벽한 및/또는 정확한 구성에 관하여, 복수의 (개별적인) 부분, 특히 예를 들어 담배군(12), 보빈(42), 재료웨브(58)와 같은 복수의 개체, 재료층 등으로 구성된 유니트를 검사하는 장치에 있어서, 검사부재는 검사요소로써 복수의 광검지 구성요소를 구비한 CCD 선형 배열 칩(10)으로 이루어지는 것과, CCD 선형 배열 칩(10)은 검사될 물체의 윤곽이 반사광에 의거하여 CCD 선형 배열 칩(10)에 의해서 검출되는 방식으로 검사되는 재료웨브의 층 또는 물체를 가로지르는 방향으로 향하는 것을 특징으로 하는 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 물체의 검사된 표면의 윤곽은 상이한 휘도값에 의거하여 CCD 선형 배열 칩(10)에 의해서 검출되고, 그리고 평가 유니트에서 기준 표시와 비교되는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 검사될 물체 또는 검사될 물체의 영역은, 특히 검사세트(23)에 할당된 광원, 바람직하게 적외선 영역에서의 LED 광원에 의해서 조명되는 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 광학 시스템(27, 52) 즉 렌즈-조리개 시스템은 CCD 선형 배열 칩(10)의 상류측에 배열되어, 이에 의해 반사광 또는 검사될 물체의 취해진 화상이 CCD 선형 배열 칩(10) 상에서 초점이 맞춰질 수 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 검사세트(23)는 층(43)에서 서로 중첩되어 배열된 웨브 또는 블랭크를 검출하기 위해서 작동되며, CCD 선형 배열 칩(10)은 블랭크 또는 재료웨브의 층(43)을 가로질러 향하여 층(43)의 고갈을 측정하기 위해서 작동되는 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 보어 코어(44) 상에서 감겨진 재료웨브 즉 보빈(42)의 잔여량을 측정하기 위해서, 고정된 검사세트(23)는 보빈 코어(44)에 대하여 감겨진 재료웨브의 천이영역에 위치결정되며, CCD 선형 배열 칩(10)은 보빈의 층(43)을 가로질러 향하거나, 또는 보빈 코어(44)의 소영역, 및 보빈 코어(44)에 이웃하는 복수의 층(43)을 광전자적으로 검출하는 방식으로, 그리고 보빈 코어(44)에서 최소개수의 층(43)에 도달될 때 신호가 트리핑될 수 있는 방식으로 반경방향으로 향하는 것을 특징으로 하는 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 재료웨브(58)를 향하는 검사개구(51)를 구비한 고정된 검사세트(23)는 그 위 또는 아래에 위치결정되는 연속적인 재료웨브(58)를 검사 또는 제어하기 위해서 위치결정되는 것과, 연속적으로 이동하는 재료웨브(58)의 에지영역이 바람직하게 이동방향을 가로질러 배열되는 CCD 선형 배열 칩(10)에 의하여 검출되는 방식으로 재료웨브(58)는 검사될 영역에 있어서 조명되는 것을 특징으로 하는 장치.
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10208289C1 (de) * 2002-02-26 2003-02-27 Koenig & Bauer Ag Elektronischer Bildsensor und ein Verfahren zur Auswertung
DE102004003386C5 (de) * 2003-02-28 2013-07-04 Leuze Electronic Gmbh & Co. Kg Optischer Sensor
GB0306468D0 (en) * 2003-03-20 2003-04-23 Molins Plc A method and apparatus for determining one or more physical properties of a rolled smoking article or filter rod
DE102005024126A1 (de) 2005-05-23 2006-11-30 Hauni Maschinenbau Ag Befüllungsprüfverfahren und -vorrichtung
WO2011042837A1 (en) * 2009-10-08 2011-04-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Lens for asymetrical light beam generation.
CN102001472B (zh) * 2010-10-27 2012-01-25 大树智能科技(南京)有限公司 提高烟条烟包图像检测成像质量的方法及装置
JP5538245B2 (ja) * 2011-01-05 2014-07-02 第一実業ビスウィル株式会社 外観検査装置
DE102011110783A1 (de) * 2011-08-22 2013-02-28 Focke & Co. (Gmbh & Co. Kg) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen stabförmiger Tabakprodukte
KR101306289B1 (ko) 2011-09-15 2013-09-09 (주) 인텍플러스 평판 패널 검사방법
DE102012025158A1 (de) * 2012-12-21 2014-06-26 Focke & Co. (Gmbh & Co. Kg) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Prüfung von flächigem Folienmaterial
CN103030012B (zh) * 2012-12-28 2016-03-23 龙岩烟草工业有限责任公司 一种卷烟机卷筒类辅料自动搭接的控制装置及控制方法
DE102014004135A1 (de) * 2014-03-24 2015-09-24 Focke & Co. (Gmbh & Co. Kg) Vorrichtung zur Herstellung und/oder Verpackung von Produkten der Tabakindustrie
DE102014113257A1 (de) * 2014-09-04 2016-03-10 Focke & Co. (Gmbh & Co. Kg) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Packungen für Zigaretten
PL226663B1 (pl) * 2014-10-17 2017-08-31 Int Tabacco Machinery Poland Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością Sposób i urządzenie do detekcji obróconych, niezamkniętych w materiale owijkowym segmentów przemieszczanych w ciągu segmentów jeden za drugim w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym oraz maszyna zawierająca takie urządzenie
EP3477248B1 (de) * 2017-10-26 2023-06-07 Heinrich Georg GmbH Maschinenfabrik Inspektionssystem und verfahren zur fehleranalyse
CN109297984B (zh) * 2018-11-13 2021-02-19 正大天晴药业集团股份有限公司 一种泡罩包装缺陷检测方法、装置及设备
CN110135256B (zh) * 2019-04-12 2021-06-01 红云红河烟草(集团)有限责任公司 横烟判断方法和设备
DE102020001136A1 (de) 2020-02-21 2021-08-26 Focke & Co. (Gmbh & Co. Kg) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von stabförmigen Produkten der Zigarettenindustrie

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1112687A (en) * 1965-03-12 1968-05-08 Schmermund Alfred Improvements in or relating to arrangements for testing blocks of cigarettes
US4053056A (en) * 1976-07-19 1977-10-11 Amf Incorporated Cigarette package inspection apparatus
IT1108245B (it) * 1978-06-01 1985-12-02 Gd Spa Dispositivo di alimentazione e controllo di strati di sigarette in macchine condizionatrici di sigarette in pacchetti
US4445520A (en) * 1982-02-08 1984-05-01 Philip Morris Incorporated Cigarette detection and rejection device
US4486098A (en) * 1982-02-23 1984-12-04 Hauni-Werke Korber & Co. Kg Method and apparatus for testing the ends of cigarettes or the like
JPS6049787A (ja) * 1983-08-31 1985-03-19 株式会社東京自働機械製作所 巻タバコ束の検査装置
DE3341539A1 (de) * 1983-11-17 1985-05-30 Focke & Co, 2810 Verden Einrichtung zur ueberwachung und steuerung von bahnen in verpackungsmaschinen
DE3407168A1 (de) * 1984-02-28 1985-08-29 Focke & Co, 2810 Verden Vorrichtung zur kontrolle von zigaretten-gruppen
JPH0678150B2 (ja) * 1984-07-30 1994-10-05 新王子製紙株式会社 シ−ト束分離装置
DE3613515A1 (de) * 1986-04-22 1987-10-29 Hauni Werke Koerber & Co Kg Einrichtung zur verschleissueberwachung an vorrichtungen der tabakverarbeitenden industrie
DE3628088A1 (de) * 1986-08-19 1988-02-25 Bat Cigarettenfab Gmbh Einrichtung zur optischen ueberpruefung der oberflaeche von stabfoermigen rauchartikeln und/oder filterstaeben fuer die tabakindustrie
US5223915A (en) * 1989-01-13 1993-06-29 G.D. Societa' Per Azioni Cigarette end group inspection system
IT1238116B (it) * 1989-10-16 1993-07-07 Procedimento e sistema per controllare le variazioni di larghezza di nastri in movimento longitudinali, particolarmente nastri di carta in corso di stampa.
DE4100792A1 (de) * 1991-01-12 1992-07-16 Hauni Werke Koerber & Co Kg Vorrichtung zum foerdern von zigarettenlagen
US5315366A (en) * 1991-04-09 1994-05-24 Murata Kikai Kabushiki Kaisha Yarn package inspecting apparatus
US5235649A (en) * 1991-06-13 1993-08-10 Videk Corporation Cigarette inspection method
US5341824A (en) * 1992-12-29 1994-08-30 Philip Morris Incorporated Method and apparatus for inspecting and controlling tipping paper perforation
FR2709472B1 (fr) * 1993-09-01 1996-02-23 Paradigma Procédé et dispositif pour contrôler des produits;, notamment plaquettes pharmaceutiques, en cours de transfert et machine ainsi équipée.
FR2718550B1 (fr) * 1994-04-11 1996-07-26 Leroux Gilles Sa Dispositif de comptage de produits.
DE4424045A1 (de) * 1994-07-11 1996-01-18 Focke & Co Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Zigaretten
DE29502456U1 (de) * 1995-02-15 1995-03-30 Roehm Gmbh Vorrichtung zur Fehlerkennung an transparenten Kunststofftafeln
US5661561A (en) * 1995-06-02 1997-08-26 Accu-Sort Systems, Inc. Dimensioning system
US5646733A (en) * 1996-01-29 1997-07-08 Medar, Inc. Scanning phase measuring method and system for an object at a vision station
DE19614920A1 (de) * 1996-02-19 1997-08-21 Focke & Co Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von Zuschnitten für Zigarettenpackungen
EP0790187B1 (de) 1996-02-19 2002-04-17 Focke & Co. (GmbH & Co.) Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von Zuschnitten oder Banderolen für Zigarettenpackungen
DE19642793A1 (de) * 1996-10-17 1998-04-23 Topack Verpacktech Gmbh Verfahren und Anordnung zum Prüfen von Zigaretten in definierten Zigarettenformationen
DE19704718A1 (de) * 1997-02-07 1998-08-13 Focke & Co Verfahren und Vorrichtung zum optoelektronischen Überwachen von Verpackungsmaterial
US5966218A (en) * 1997-07-11 1999-10-12 Philip Morris Incorporated Bobbin optical inspection system

Also Published As

Publication number Publication date
EP0952082B1 (de) 2003-08-20
BR9902047A (pt) 2000-01-18
DE19817824A1 (de) 1999-10-28
EP0952082A3 (de) 2000-07-12
JPH11337501A (ja) 1999-12-10
DE59906631D1 (de) 2003-09-25
CN1232767A (zh) 1999-10-27
EP0952082A2 (de) 1999-10-27
US6226078B1 (en) 2001-05-01
CN1151049C (zh) 2004-05-26

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