KR19980081657A - 레이저 노광 유닛 - Google Patents

레이저 노광 유닛 Download PDF

Info

Publication number
KR19980081657A
KR19980081657A KR1019980014482A KR19980014482A KR19980081657A KR 19980081657 A KR19980081657 A KR 19980081657A KR 1019980014482 A KR1019980014482 A KR 1019980014482A KR 19980014482 A KR19980014482 A KR 19980014482A KR 19980081657 A KR19980081657 A KR 19980081657A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
laser beam
laser
emitted
exposure
source
Prior art date
Application number
KR1019980014482A
Other languages
English (en)
Inventor
후지따가쯔시
요네야마쯔또무
도이마사또
Original Assignee
우에마쯔도미지
코니카가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP10726997A external-priority patent/JP3583577B2/ja
Priority claimed from JP23953597A external-priority patent/JP3675121B2/ja
Application filed by 우에마쯔도미지, 코니카가부시끼가이샤 filed Critical 우에마쯔도미지
Publication of KR19980081657A publication Critical patent/KR19980081657A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/46Colour picture communication systems
    • H04N1/50Picture reproducers
    • H04N1/502Reproducing the colour component signals dot-sequentially or simultaneously in a single or in adjacent picture-element positions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

노광 유닛에는 광량면에서 직접 변조되고 제1 파장을 갖는 제1 레이저 빔을 방출하기 위한 제1 레이저 빔원; 상기 제1 파장과 다른 제2 파장을 갖는 제2 레이저 빔을 방출하기 위한 제2 레이저 빔원; 및 광량면에서 상기 제2 레이저 빔을 변조하기 위한 음향 광변조 소자(audio-optical modulation element)가 제공된다.

Description

레이저 노광 유닛
본 발명은 레이저 노광 유닛에 관한 것으로, 특히 적어도 둘 이상의 다른 파장의 레이저 빔이 화상 형성용 컬러 화상을 노출시키기 위해 기록 매체를 스캔하는 레이저 노광 유닛에 관한 것이다.
화상 형성용 컬러 화상을 노출시키는 레이저 노광 유닛으로서, B(청색), G(녹색) 및 R(적색)에 대응하는 3개의 파장에 대한 가스 레이저(아르곤 레이저, 헬륨 네온 레이저 등) 및 음향 광변조 소자(audio-optical modulation element)(이하에 AOM이라 함)가 조합되어 사용되는 유닛, 및 3개의 파장에 대한 반도체 레이저가 직접 변조(내부 변조)되는 구조를 갖는 유닛이 공지되어 있다.
그러나, 가스 레이저들 중에서 특히 B 광원으로서 자주 사용되는 아르곤 레이저는 유닛이 크기가 크고 비용이 비싸다는 문제가 있었다.
더우기, 종래의 AOM에 의한 변조시, 가스 레이저로부터 방출되는 레이저 빔은 AOM에 직접 입사되었다. 이 경우에, AOM의 변조 속도에 의해 노광 속도가 제한되어, 노광 속도가 충분히 증가되는 것이 불가능하게 된다.
다른 한편으로, 적색 파장 또는 더 긴 파장에 민감한 감광성 재료가 C(남색), M(심홍색) 및 Y(노랑색)를 위한 3개의 층에 사용되면, 모든 광원에 대해 비교적 저렴한 반도체 레이저를 사용할 수 있다. 그러나, 상술한 특성을 갖는 감광성 재료는 설계, 제조 및 보존하는 것이 어렵고, 이러한 감광성 재료 자체의 비용이 비싸다는 문제점이 있었다. 또한, 3개의 파장은 적색 파장과 더 긴 파장을 사용하기 때문에 상호 근접하며, 이는 인접한 파장의 간섭이 발생할 가능성이 있어, 문제가 되고 있다.
상술된 문제에 비추어 본 발명이 실현되었고, 그 제1 목적은 크기가 소형이고 저렴한 비용 및 고속으로 안정하게 컬러 화상을 더 노출시킬 수 있는 레이저 노광 유닛을 제공하는 것이다.
다음에, 다수의 레이저 빔에 관련되고 본 발명에 의해 해결될 문제가 다음과 같이 설명될 것이다.
동일한 파장을 갖는 다수의 레이저 다이오드가 정렬되어 있는 광원부, 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔을 기록 재료 상에 부-스캐닝 방향으로 정렬시키는 빔 정렬 광 시스템(beam lining up optical system), 및 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 및 기록 재료를 상대적으로 주 스캐닝 방향으로 이동시키는 이동 수단을 내부에 갖는 화상 기록 장치에서, 레이저 빔의 세기 조정은 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류를 제어함으로써 수행된다.
그러나, 상술된 화상 기록 장치에서, 모든 레이저 빔을 동일한 세기로 되게 하는 조정 및 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔에 대한 노광 세기의 조정 모두는 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류를 제어함으로써 수행될 필요가 있다. 모든 레이저 빔을 동일한 세기로 되게 하는 조정이 자주 수행될 필요는 없지만, 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔에 대한 노광 세기의 쉬프팅은, 출력된 화상에 대한 톤 재생이 변경되고 기록 재료가 변경될 때 확실하게 수행될 필요가 있으며, 이는 잦은 조정을 필요로 한다.
그러나, 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류 및 발광량은 비례 관계가 아니고, 전류와 발광량 간의 관계는 각각의 레이저 다이오드에 따라 변하고 그 관계의 변화는 시간 경과에 따라 다르다. 따라서, 다수의 레이저 다이오드 각각으로부터 방출되는 각 레이저 빔의 빔 세기를 측정하는 측정 수단이 제공되도록 요구되어왔고, 출력된 화상의 톤 재생이 변경되고 기록 재료가 변경될 때 측정 수단에 의해 측정된 각 레이저 빔의 빔 세기에 따라 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류를 자주 조정할 필요가 있었으며, 이는 시간 낭비였다.
각각의 레이저 다이오드로부터의 레이저 빔의 빔 세기가 광 시스템에 의해 측정되어, 이로 인해 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류가 조정된다는 것이 일반화되어 왔다.
그러나, 상기는 시간 경과에 따라 레이저 다이오드의 루미네선스 세기의 변화에 의해 발생되는 빔 세기의 변화에 대한 조정인 경우에만 효과적이었고, 광축의 변경에 의해 발생되는 빔 세기의 변화를 조정할 수 없었다.
종래의 유닛에서, 기록 재료 상의 기록 위치가 일탈될 수 없도록 각각의 레이저 다이오드로부터의 레이저 빔의 기록 위치를 주 스캐닝 방향과 부합시키는 것이 필요하였다. 따라서, 설치 전 또는 임의의 기간 동안의 사용 후에 각 유닛에 대한 정확한 조정이 필요하였다.
본 발명의 제2 목적은 다수의 빔에 관련된 문제를 해결하여, 다음 항목을 달성하는 것이다. 자주 수행되도록 요구되는 출력 화상에 대한 톤 재생을 변경시키고 기록 재료를 변경시키는 경우에, 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔에 대한 노광 세기의 쉬프팅은 간단하고 안정된 방법으로 단기간 동안 실행되도록 행해진다.
시간 경과에 따라 레이저 빔의 루미네선스 세기의 변화에 의해서뿐만 아니라 광축의 변경에 의해 발생되는 빔 세기의 변화를 포함하는 각 레이저 빔의 빔 세기의 변화는 만족스럽게 교정되도록 행해진다.
본 발명의 제1 목적은 다음의 구조에 의해 달성될 수 있다.
노광 유닛은
광량면에서 직접 변조되고 제1 파장을 갖는 제1 레이저 빔을 방출하기 위한 제1 레이저 빔원;
상기 제1 파장과 다른 제2 파장을 갖는 제2 레이저 빔을 방출하기 위한 제2 레이저 빔원; 및
광량면에서 상기 제2 레이저 빔을 변조하기 위한 음향 광변조 소자(audio-optical modulation element)를 구비한다.
또한, 본 발명의 제1 목적은 항목 1-9에서의 다음의 바람직한 구조에 의해 달성될 수 있다.
항목 1
적어도 둘 이상의 다른 파장의 레이저 빔은 기록 매체를 스캔하여 그것을 형성하기 위하여 화상을 노출시키며, 광량면에서 직접 변조에 의해 변조되는 레이저 빔 및 광량면에서 음향 광변조 소자에 의해 변조되는 레이저 빔이 유닛을 구성하도록 조합되는 레이저 노광 유닛.
상술된 구성에서, 화상 노출은 직접 변조(내부 변조)되는 레이저 빔과 음향 광변조 소자(AOM)에 의하여 외부 변조되는 레이저 빔의 조합에 의하여 실행된다.
항목 2
광량면에서 직접 변조에 의해 변조되는 레이저 빔은 반도체 레이저이고, 광량면에서 상기 음향 광변조 소자에 의해 변조되는 레이저 빔은 가스 레이저 또는 고체 레이저인 레이저 노광 유닛.
상술된 구성에서, 상기 반도체 레이저에 관해서, 화상 신호에 대응하는 광량 변조는 상기 반도체 레이저를 통해 흐르는 전류의 ON 및 OFF에 의해 실행되고, 상기 가스 레이저 또는 고체 레이저에 관해서, 화상 신호에 대응하는 광량 변조는 상기 음향 광변조 소자(AOM)에 의하여 실행된다. 상술된 상기 가스 레이저로서, He-Ne 레이저를 사용하는 것이 바람직한 반면에 상기 고체 레이저로서, 레이저 다이오드(LD) 여기 고체 레이저를 사용하는 것이 바람직하다. 또한, CMY 감광성층중 한 층이 기록 매체로서 적외선광에 민감한 감광성 재료로 이루어지고, 가스 레이저 또는 고체 레이저는 적외선을 통한 광원을 쉬프트함으로써 단파 광원(G 광원)으로서 사용되고, 반도체 레이저는 상술된 단파 이외에 두 파장을 갖는 광원(R 및 적외선 광원)으로서 사용되는 구조를 사용하는 것이 바람직하다.
항목 3
광량면에서 상기 직접 변조에 의해 변조되는 상기 반도체 레이저의 빔 형상을 광량면에서 상기 음향 광변조 소자에 의해 변조되는 상기 가스 레이저 또는 상기 고체 레이저의 빔 형상과 일치시키는 빔 형상 광학 수단이 제공되는 레이저 노광 유닛.
가스 레이저 또는 고체 레이저의 빔 형상이 완전히 원형인 반면에 반도체 레이저의 빔 형상은 일반적으로 타원형이기 때문에, 반도체 레이저의 빔 형상이 완전히 원형으로 이루어져 각 파형의 빔 형상은 다른 것과 동일한 것일 수 있다.
항목 4
상기 음향 광변조 소자로 진입하는 레이저 빔의 직경을 감소시키는 입사 빔 직경 감소 수단 및 상기 입사 빔 직경 감소 수단에 의해 감소된 상기 음향 광변조 소자로부터 방출되는 레이저 빔의 직경을 그 본래 직경으로 복원시키는 빔 직경 복원 수단이 제공되는 레이저 노광 유닛.
상기 음향 광변조 소자(AOM)의 응답 속도가 상기 빔 직경에 따라 좌우하기 때문에, 레이저 빔의 직경은 AOM으로 진입한 다음 레이저 빔이 내부에서 변조되도록 AOM으로 진입시키기 전에 응답 속도를 개선시키기 위해 감소되고, 그 후 상기 레이저 빔의 직경은 복원된다.
항목 5
상기 직접 변조된 레이저 빔과 광량면에서 상기 음향 광변조 소자에 의해 변조되는 레이저 빔 간의 노광 타이밍을 동기시키는 노광 타이밍 조정 수단이 제공되는 레이저 노광 유닛.
상술된 구조에서, 노광 타이밍을 동기시키는 수단은 레이저 빔의 직접 변조와 비교하여 AOM에 의해 행해진 변조시의 지연이 발생되기 때문에 제공된다. 구체적으로, 상술된 지연량 만큼 빔 위치를 쉬프트하거나, 또는 AOM의 지연량 만큼 상기 직접 변조에 대한 변조 데이터를 지연시킴으로써 노광 타이밍을 동기시킬 수 있다.
항목 6
상기 레이저 빔을 소정의 빔 직경으로 감소시키고 상기 감소된 직경의 빔을 시준된 빔으로서 상기 기록 매체 상에 투영하는 감소 광학 수단이 제공되는 레이저 노광 유닛.
상술된 구조에서, 직경을 감소시킴으로써 노출시키기 위하여 기록 매체를 스캔할 때, 상기 감소된 직경을 갖는 시준된 빔, 즉 직경이 렌즈로부터의 거리에 무관하게 변경하지 않는 빔이 상기 기록 매체 상에 투영된다.
항목 7
기록 매체가 각 파장에 대한 다수의 레이저 빔에 의한 노출을 위하여 스캔되고 다수의 레이저 빔이 상기 음향 광변조 소자에 의해 동시에 변조되도록 구조화된 레이저 노광 유닛에서, 광량면에서 상기 직접 변조에 의해 변조되는 레이저 빔의 간격을 상기 음향 광변조 소자의 레이저 빔의 간격과 부합시키는 피치 변경 수단이 제공된다.
상술된 구조에서, 기록 매체가 각 파장에 대한 다수의 레이저 빔에 의한 노출을 위하여 스캔되고 다수의 레이저 빔이 상기 음향 광변조 소자에 의해 동시에 변조되는 구조하에서, 직접 변조된 레이저 빔의 간격은 상기 음향 광변조 소자에 의해 동시에 변조되는 다수의 레이저 빔의 간격과 부합시킬 수 있도록 직접 변조된 레이저 빔의 간격이 변경된다.
항목 8
빔 간격면에서 상기 피치 변경 수단에 의해 조정되고, 광량면에서 상기 직접 변조에 의해 변조되는 다수의 레이저 빔 및 광량면에서 상기 음향 광변조 소자에 의해 변조되는 다수의 레이저 빔을 동일한 피치로 동시에 감소시키는 피치 감소 수단이 제공되는 레이저 노광 유닛.
상술된 구조에서, 동일한 간격으로 변경되는 상기 음향 광변조 소자(AOM)에 의해 변조되는 레이저 빔 및 직접 변조되는 레이저 빔 모두는 동일한 피치로 일체로 감소되고 노출시키기 위하여 기록 매체를 스캔하게 된다.
항목 9
더 긴 파장인 레이저 빔의 광로에 게재된 거울의 수가 더 짧은 파장인 레이저 빔의 광로에 게재된 거울의 수보다 작도록 구조화된 레이저 노광 유닛.
상술된 구조에서, 더 긴 파장을 갖는 레이저 빔의 경우에, 기록 매체는 더 짧은 파장을 갖는 다른 레이저 빔의 경우와 비교하여 보다 적은 수의 거울을 통하여 광에 노출된다. 상술된 거울은 어셈블링 및 조정을 필요로 하는 광 거울이고, 더 긴 파장을 갖는 레이저 빔은 더 짧은 파장을 갖는 다른 레이저 빔이 필요로 하는 것보다 어셈블링과 조정을 필요로 하는 거울을 적게 필요로 한다. 예를 들어, 장파로서 적외선 파장을 사용할 때, 보기 어려운 적외선 파장을 갖는 레이저 빔은 조정을 필요로 하는 거울을 적게 필요로 한다.
항목 1 및 항목 2의 구조는, 직접 변조된 레이저 빔과 광량면에서 음향 광변조 소자에 의해 변조되는 레이저 빔을 조합하여 사용함으로써 크기가 크고 비용이 비싼 광원을 피하고 용이하게 제조되고 보존되며 저렴한 기록 매체(감광성 재료)를 사용할 수 있다는 효과를 제공한다.
항목 3의 구조는 반도체 레이저와 가스 레이저 간의 또는 반도체 레이저와 고체 레이저 간의 빔 형상의 차이가 교정될 수 있고, 모든 빔이 노출시키기 위하여 스캔되도록 형상을 동일하게 만드는 효과를 제공한다.
항목 4의 구조는 상기 음향 광변조 소자로 진입하는 빔의 직경을 감소시킴으로써 음향 광변조 소자의 응답을 개선시킬 수 있는 효과를 제공한다.
항목 5의 구조는 광량면에서 상기 직접 변조된 레이저 빔에 대한 음향 광변조 소자에 의해 이루어진 변조시의 지연이 있더라도, 노광 타이밍을 동기시킴으로써 노출시키기 위하여 스캔할 수 있다는 효과를 제공한다.
항목 6의 구조는 레이저 빔을 시준된 빔으로서 기록 매체 상에 투영함으로써, 기록면에서 광 헤드까지의 거리가 변할 때도 일정한 빔 직경에 따라 노출시키기 위하여 스캔할 수 있다는 효과를 제공한다.
항목 7의 구조는, 직접 변조되는 레이저 빔의 간격이 다수의 레이저 빔을 동시에 변조하는 상기 음향 광변조 소자가 사용되는 구조에서의 상기 음향 광변조 소자의 빔의 간격과 동일하게 될 때 각 파장의 중첩의 정밀도가 개선된다는 효과를 제공한다.
항목 8의 구조는 다양한 파장에 대한 빔의 간격이 상술된 바와 동일하도록 미리 정해지고 일체로 감소되기 때문에 해상도 및 라인의 수가 용이하게 변경될 수 있다는 효과를 제공한다.
항목 9의 구조는 보기 어려운 파장을 갖는 레이저 빔에 관련된 조정을 필요로 하는 광 거울의 수를 감소시켜, 용이하게 어셈블리하고 조정할 수 있다는 효과를 제공한다.
본 발명의 제2 목적은 항목 10-20의 다음의 바람직한 구조에 의하여 달성될 수 있다.
항목 10
다수의 레이저 다이오드가 구성되어 있는 광원부, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔을 기록 재료의 기록면 상에 부-스캐닝 방향으로 구성하는 빔 구성 광 시스템, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 및 상기 기록 재료를 상대적으로 이동시키는 이동 수단, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 각각의 빔 세기를 측정하는 측정 수단, 및 각 레이저 빔의 빔 세기가 상술된 상기 측정 수단에 의하여 측정된 각 레이저 빔의 빔 세기에 따라 다른 것과 동일하게 될 수 있도록 상기 다수의 레이저 다이오드 각각을 제어하는 레이저 다이오드 제어 수단, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 노광 세기를 필터로 쉬프트시키는 필터 조정 수단을 내부에 갖는 화상 기록 장치.
항목 10의 구조에서, 모든 레이저 빔을 동일한 세기로 만드는 경우는 다수의 레이저 다이오드 각각을 통해 흐르는 전류를 제어함으로써 수행되며, 이는 정확히 조정되는 반면에 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 잦은 쉬프팅은 필터에 의해 수행되며, 이는 간단히 조정된다.
항목 11
상기 필터 조정 수단은, 다른 밀도를 각각 갖는 다수의 필터가 레이저 빔의 광로에 선택적으로 게재되거나 또는 그로부터 제거될 때 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 노광 세기를 쉬프트시키는 상술된 화상 기록 장치.
항목 11의 구조에서, 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 잦은 쉬프팅이 여러 단계에 걸쳐 수행될 수 있다.
항목 12.
상기 필터 조정 수단은 광 웨지 필터(optical wedge filter)를 갖고, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 노광 세기가 광 웨지 필터에 대한 빔 입사 위치를 변경함으로써 쉬프트될 수 있다.
항목 12의 구조에서, 크기가 작고 구조가 간단한 상기 필터 조정 수단은 여러 단계를 거치거나 또는 연속해서 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 잦은 쉬프팅의 수행이 가능해질 수 있다.
항목 13
상기 광 웨지 필터가 디스크형 광 웨지 필터이고, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔은 상기 디스크형 광 웨지 필터에 대한 빔 입사 위치가 상기 디스크형 광 웨지 필터의 동일한 반경의 방향일 수 있도록 상기 디스크형 광 웨지 필터로 진입되는 상술된 화상 기록 장치.
항목 13의 구조에서, 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 각각의 빔 세기는 정확히 동일한 양 만큼 쉬프트될 수 있다.
항목 14
상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔에 대한 상술된 필터에 대한 입사 위치를 한 점에 수렴시키는 빔 수렴 수단이 제공되는 상술된 화상 기록 장치.
항목 14의 구조에서, 레이저 빔과 필터 간의 위치 관계에 대한 자유도가 증가되고, 필터의 균일성 결여는 영향을 미치지 않아, 이로 인해 다수의 레이저 다이오드로부터 레이저 빔 각각의 빔 세기는 광 웨지 필터와 같이 그 위치에 따라 그 밀도를 변화시키는 필터가 사용될 때도 정확히 동일한 양 만큼 쉬프트될 수 있다.
항목 15
다수의 레이저 다이오드가 구성되어 있는 광원부, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔을 기록 재료의 기록면 상에 부-스캐닝 방향으로 구성하는 빔 구성 광 시스템, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 및 상기 기록 재료를 주 스캐닝 방향으로 이동시키는 이동 수단, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 각각의 빔 세기를 측정하는 측정 수단, 및 각각의 레이저 빔의 빔 세기가 상술된 상기 측정 수단에 의해 측정되는 각 레이저 빔의 빔 세기에 따라 다른 것과 동일하게 될 수 있도록 상기 다수의 레이저 다이오드 각각을 제어하는 레이저 다이오드 제어 수단을 내부에 갖는 화상 기록 장치에서, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 노광 세기를 편광자로 쉬프트시키는 편광자 조정 수단이 제공된다.
항목 15의 구조에서, 모든 레이저 빔을 동일한 세기로 만드는 경우는 다수의 레이저 다이오드 각각을 통해 흐르는 전류를 제어함으로써 수행되며, 이는 정확히 조정되는 반면에 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 잦은 쉬프팅은 편광자에 의해 수행되며, 이는 간단히 조정된다.
항목 16
상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔에 대한 상술된 편광자에 대한 입사 위치를 한 점에 수렴시키는 빔 수렴 수단이 제공되는 상술된 화상 기록 장치.
항목 16의 구조에서, 레이저 빔과 편광자 간의 위치 관계에 대한 자유도는 증가되고, 편광자의 균일성의 결여는 영향을 미치지 않아, 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 각각의 빔 세기는 정확히 동일한 양 만큼 쉬프트될 수 있다.
항목 17
다수의 레이저 다이오드가 구성되어 있는 광원부, 기록 재료의 기록면 상의 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔을 부 스캐닝 방향으로 정렬시키는 빔 정렬 광 시스템, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 및 상기 기록 재료를 상대적으로 주 스캐닝 방향으로 이동시키는 이동 수단, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 상기 레이저 빔 각각의 빔 세기를 측정하는 측정 수단, 및 상술된 측정 수단에 의해 측정된 각 레이저 빔의 빔 세기에 따라 상기 다수의 레이저 다이오드 각각을 제어하는 레이저 다이오드 제어 수단을 내부에 갖는 화상 기록 장치에서, 상기 빔 정렬 광 시스템으로부터 나오는 레이저 빔이 수광될 수 있는 위치에 상대적으로 이동할 수 있는 수광 소자는 상기 다수의 레이저 다이오드 각각으로부터 방출되고 빔 정렬 광 시스템으로부터 나오는 각각의 레이저 빔을 수광하여, 상기 측정 수단은 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 각 레이저 빔의 빔 세기를 측정한다.
항목 17의 구조에서, 시간 경과에 따른 레이저 빔의 루미네선스 세기의 변화에 의해서뿐만 아니라 광축의 변경에 의해 발생되는 빔 세기의 변화를 포함하는 각 레이저 빔의 빔 세기의 변화는 만족스럽게 교정되도록 행해진다.
항목 18
상기 수광 소자는 상기 레이저 빔이 기록하는 상기 기록 재료의 기록면에 상대적으로 이동가능하게 되는 상술된 화상 기록 장치.
항목 18의 구조에서, 상기 기록 재료의 기록면 상의 각 레이저 빔의 빔 세기는 직접 검출될 수 있어, 이로 인해 각 레이저 빔의 빔 세기의 변화는 잘 교정될 수 있다.
항목 19
다수의 레이저 다이오드가 정렬되어 있는 광원부, 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔을 기록 재료의 기록면 상에 부-스캐닝 방향으로 정렬시키는 빔 구성 광 시스템, 및 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔 및 상기 기록 재료를 상대적으로 주 스캐닝 방향으로 이동시키는 이동 수단을 내부에 갖는 화상 기록 장치에서, 상기 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍을 지연시키는 루미네선스 타이밍 제어 수단이 제공된다.
항목 19의 구조에서, 각각의 레이저 다이오드를 장착하는 정밀도가 상기 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 빔의 기록 위치가 기록 재료의 기록면 상에 부-스캐닝 방향으로 쉬프트하는 만큼 높지 않을 때에도 각 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍을 각각 지연시킬 수 있다. 따라서, 환경 조건 또는 시간 경과로 인한 광축의 편차로부터 유발되는 주 스캐닝 방향으로의 각 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치의 편차 효과를 적당히 교정할 수 있고, 만족스럽게 기록할 수 있다.
항목 20
상기 레이저 빔에 대한 기록 재료의 기록면에 대해 상대적으로 이동할 수 있고 상기 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 각각의 레이저 빔에 대한 기록 위치를 검출할 수 있는 기록 위치 검출기를 내부에 갖는 화상 기록 장치에서, 상기 루미네선스 타이밍 제어 수단은 상기 기록 위치 검출기에 의해 검출되는 각각의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치에 따라 상기 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드에 대한 각 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍을 각각 지연시킨다.
항목 20의 구조에서, 각각의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치는 자동 측정되고, 각각의 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍의 지연량은 각각의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 측정된 기록 위치에 따라 결정되고 제어된다. 따라서, 환경 조건과 시간 경과로 인한 광축의 편차로부터 유발되는 주 스캐닝 방향으로의 각 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치의 편차 효과가 적당히 자동 교정될 수 있어, 이로 인해 기록된 화상의 품질을 유지하는데 요구되는 시간이 덜 소요되며, 만족스럽게 기록된다.
도 1은 본 발명의 제1 목적을 달성하는 본 실시예에서의 레이저 노광 유닛의 윤곽을 도시한 시스템 구조도.
도 2는 본 실시예에서의 레이저 빔의 각 파장을 도시한 도면.
도 3은 본 실시예에서의 화상 형성 렌즈 시스템을 도시한 도면.
도 4는 AOM의 응답시 광학적으로 지연을 교정하기 위한 구조를 도시한 시스템 구조도.
도 5는 AOM의 응답시 변조된 데이터를 지연시켜 지연을 교정하기 위한 구조를 도시한 시스템 구조도.
도 6은 다수의 빔이 각각의 파장에 사용되는 노출을 위한 실시예를 도시한 시스템 구조도.
도 7은 본 발명의 제2 목적을 달성하기 위한 실시예에서의 화상 기록 장치의 개략 구조도.
도 8은 도 7에서의 화상 기록 장치의 블록도.
도 9는 기록면 RS의 정면측에서 본 도면.
도 10은 노광 세기 조정부(5) 부근의 개략도.
도 11은 다른 예에서의 기록면 RS의 정면측에서 본 도면.
도 12는 노광 세기 조정부(5) 부근의 개략도.
도 13은 화상 기록 장치의 디스크형 광 웨지 필터(60)의 렌즈 그룹(24)을 수렴하는 일부로부터 보이는 도면.
도 14는 노광 세기 조정부(5) 부근의 개략 구조도.
도 15는 또 다른 실시예에서의 화상 기록 장치의 개략 구조도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
101: He-Ne 레이저
102: 음향 광변조 소자
103, 104: 반도체 레이저
105: 레이저 빔
106: 반사경
107, 108: 색선별 거울
109: 반사경
110: 화상-형성 렌즈
111: 회전 드럼
112: 감광성 재료
113, 114: 레이저 빔
115, 116, 117, 118: 원통형 렌즈
본 발명의 실시예가 다음과 같이 설명될 것이다.
도 1은 다른 파장을 각각 갖는 3개의 레이저 빔은 노출시키기 위하여 감광성 재료(기록 매체)를 스캐닝함으로써 컬러 화상을 얻는데 사용되는 본 실시예에서의 레이저 노광 유닛의 윤곽을 도시한 시스템 구조도이다.
본 발명에서의 기록 매체는 잠상 또는 가시 화상과 같은 화상이, 레이저 빔이 매체 상에 투영될 때 형성되는 매체이다. 상기는 레이저 빔에 민감한 감광성 매체, 인쇄 플레이트가 레이저 빔이 매체 상에 투영될 때 마멸을 통해 형성되는 매체, 및 다른 매체들을 포함한다.
구체적으로, 도 2에 도시된 바와 같이, 녹색 G, 적색 R 및 적외선 IR의 3개의 파장을 포함하는 레이저 빔은 기록 매체로서 역할을 하는 감광성 재료의 C, M 및 Y 층을 노출시키는 구조에 사용된다. 다시 말해서, B, G 및 R 감광성층중 한 층은 적외선 광에 민감한 감광성 재료로 이루어지고, 광원은 적외선으로 쉬프트된다.
이 구조에서, 가스 레이저인 He-Ne 레이저는 녹색 G용 레이저로서 사용되는 반면에 반도체 레이저 LD는 적색 R 및 적외선 IR용 레이저로서 사용된다.
반도체 레이저는 일반적으로 가스 레이저보다 더 소형이고 더 저렴한다. 따라서, 반도체 레이저가 모든 3개의 파장에 사용될 수 있는 구성을 사용할 수 있으면, 노출 시스템은 크기 및 비용이 현저하게 감소될 수 있다. 그러나 이 경우에, 반도체 레이저의 발진 파장의 한계로 인해, C, M 및 Y에 대한 모든 3개의 층은 적색 파장 또는 더 긴 파장에 민감한 감광성 재료를 필요로 하고, 이러한 특성을 갖는 감광성 재료는 제조 및 보존되기 어렵고 비용이 비싸다. 따라서, 청색 B용 레이저로서 일반적으로 사용되지만, 크기가 크고 비용이 비싼 Ar 레이저를 사용하지 않고, 녹색 G용 레이저로서 He-Ne 레이저를 사용하고 녹색 파장 또는 더 긴 파장에 민감한 감광성 재료를 사용하도록 구성되어, 노출 시스템의 비용과 크기가 감소될 수 있다.
부수적으로, 고체 레이저, 특히 SHG(second harmonic generation: 제2 고조파 발생)를 통하여 녹색광을 발생시키는 LD 여기 고체 레이저가 가스 레이저인 He-Ne 레이저 대신에 녹색 G용 레이저로서 사용되는 구조를 또한 사용할 수 있다.
지금부터, 도 1에 도시된 레이저 노광 유닛의 세부사항이 설명될 것이다.
도 1에 도시된 레이저 노광 유닛은 상술된 바와 같이 He-Ne 레이저가 녹색 G용 레이저로서 사용되는 유닛인 반면에 반도체 레이저 LD는 적색 R 및 적외선IR용 레이저로서 사용된다.
녹색 G용 레이저로서 역할을 하는 He-Ne 레이저(101)로부터 방출되는 레이저 빔(녹색 레이저 빔)은 변조 신호(화상 신호)에 따라 광량면에서 음향 광변조 소자(audio-optical modulation element)(음향 광변조기: 이하에 AOM이라 함)(102)에 의해 변조되고, 반도체 레이저 LD(103 및 104)는 녹색 G 및 적외선 IR용 레이저로서 변조 신호(화상 신호)에 따라 광량면에서 직접 변조(내부 변조)에 의해 변조된다.
직접 변조는 레이저로 입력될 전류를 변경함으로써 방출된 레이저의 광량을 직접 제어하는 방법이며, 이 방법은 레이저 외부에 설치된 음향 광변조 소자로 광량을 간접적으로 제어하는 방법과 차이가 있다.
광량면에서 AOM(102)에 의해 변조된 레이저 빔(105)은 반사경(106)에 반사된 다음, 두개의 색선별 거울(107 및 108)을 통과한 다음, 화상-형성 렌즈(110)를 통하여 회전 드럼(111) 상에 고정된 감광성 재료(기록 매체)(112) 상에 투영되도록 반사경(109)에 반사된다.
반도체 레이저(103)로부터 방출되는 레이저 빔(적색 레이저 빔)(113)은 색선별 거울(107)에 반사된 다음, 반사경(109)에 반사되도록 색선별 거울(108)을 통과하고, 화상-형성 렌즈(110)를 통하여 회전 드럼(111) 상에 고정된 감광성 재료(기록 매체)(112) 상에 투영된다.
더우기, 반도체 레이저(104)로부터 방출되는 레이저 빔(적외선 레이저 빔)(114)은 색선별 거울(108)에 반사된 다음, 반사경(109)에 반사되고 화상-형성 렌즈(110)를 통하여 회전 드럼(111) 상에 고정된 감광성 재료(기록 매체)(112) 상에 투영된다.
상술된 바와 같이, 적외선 레이저 빔(114)에 대한 광로에 게재된 거울의 수는 두개의 파장에 대한 다른 레이저 빔과 비교하여 볼 때 가장 최소이도록 구성된다. 이로 인해, 거울 조정을 필요로 하는 거울의 수는 가장 보기 어려운 장파 레이저를 나타내는 적외선 레이저 빔(114)인 경우에 작으며, 이는 어셈블리하고 조정하기 용이해진다.
회전 드럼(111)은 그 회전 사프트(shaft)(111a) 상에서 회전 구동되도록 구성된다. 이로 인해, 주 스캐닝이 실행되고, 반사경(109) 및 화상-형성 렌즈(110)가 제공되는 광 헤드는 회전 사프트(111a)와 평행한 방향으로 이동되어 부-스캐닝이 실행된다.
AOM(102)으로 진입하는 레이저 빔(105)의 빔 직경을 감소시키기 위한 원통형 렌즈(115)(입사 빔 직경 감소 수단)가 AOM(102)과 He-Ne 레이저(101) 사이에 설치되는 반면에 원통형 렌즈(115)에 의해 감소된 빔 직경을 그 본래 직경으로 복원시키기 위한 원통형 렌즈(116)(빔 직경 복원 수단)가 AOM(102)과 반사경(106) 사이에 설치된다.
설명될 레이저 빔 직경을 한정하는 예에 관해서, 레이저 빔 직경은 가우시안 분포에 의해 표현된 광량 분포에서 광량의 13.5%에 대응하는 위치에 배치되는 폭으로 한정되고 빔 스캔 또는 빔 프로파일러(beam profiler)(푸톤에 의해 제조된 2180형)이라 칭하는 측정 기구로 측정된다. 감광성 재료가 각각의 레이저 빔에 노출될 때 얻어지는 도트형이 표준 도트형과 동일한 것일 수 있고, 제어의 정확성이 감광성 재료의 민감도 및 예리함에 따라 변하도록 레이저 빔의 형상이 제어된다. 레이저 빔 형상은 그 빔 직경이 표준 빔 직경의 ±50% 내에 있는 것이 바람직하다.
AOM의 응답이, AOM으로 진입하는 빔의 직경이 클 때 저하되기 때문에, AOM의 응답이 원통형 렌즈(115)에 의해 AOM으로 진입하는 레이저 빔(105)의 직경을 감소시킴으로써 개선될 수 있도록 구성된다. 또한 감소된 직경이, 레이저 빔(105)이 광량면에서 AOM(102)에 의해 변조된 후 원통형 렌즈(116)에 의해 복원되도록 구성된다.
He-Ne 레이저(101)로부터 방출되는 레이저 빔(105)의 빔 형상은 거의 완전히 원형인 반면에 반도체 레이저 LD(103 및 104)로부터 방출되는 레이저 빔(113 및 114)의 빔 형상은 타원형이다. 따라서 상기는 타원형 레이저 빔(113 및 114)이 빔 형상 형성 수단으로서 역할을 하는 원통형 렌즈(또는 프리즘 쌍)(117 및 118)에 의한 레이저 빔(105)의 빔 형상인 완전한 원형으로 변경되도록 구성된다. 이로 인해, 3개의 파장에 대한 레이저 빔은 완전한 원형의 형상으로 노출시키기 위해 스캔하는데 모두 사용된다.
화상-형성 렌즈(110)(감소 광학 수단)가 도 3에 도시된 바와 같이 구성된다.
도 3에 도시된 바와 같이, 화상-형성 렌즈(110)에서, 3개의 파장에 대한 레이저 빔(105, 113 및 114)(평행 빔)은 감광성 재료(112) 상에 투영된다. 화상-형성 렌즈(110)을 사용하는 이 구조에 의하면, 감광성 재료(112)를 노출시키는데 사용되는 레이저 빔의 직경은, 화상-형성 렌즈(110)(광 헤드)와 기록면 간의 거리가 회전 드럼(111)의 이심률에 의해 변화될 때도 변경되지 않는다.
AOM(102)에 의한 변조와 반도체 레이저(103 및 104)에 의한 변조 간의 응답 속도차가 있고, 직접 응답은 더 고속이다. 따라서, 동일한 타이밍의 변조 신호가 도 1에 도시된 구조를 변경시키지 않고 AOM(102)과 반도체 레이저(103 및 104) 모두에 제공되면, 드럼면 상의 동일한 지점 상에 투영될 빔은 산란된다.
따라서, AOM(102)에 의해 변조된 He-Ne 레이저(101)로부터 방출되는 레이저 빔(105)이 반도체 레이저 LD(103 및 104)로부터 각각 방출되는 레이저 빔(113 및 114)에 의해 노출될 지점에 드럼의 회전 방향으로 선행하는 위치에 노출시키는 지연 교정 광 시스템(120)(노광 타이밍 조정 수단)을 제공하는 것이 바람직하다.
지연 교정 광 시스템(120)은 상호 평행하도록 구성된 두개의 반사경(121 및 122)으로 구성되고, 상기는 AOM(102)으로부터의 레이저 빔(105)을 주 스캐닝 방향으로 쉬프트시킨다.
상술된 지연 교정 광 시스템(120)이 제공되는 조건하에서, 반도체 레이저 LD(103 및 104)에 의해 노출된 부분은 시간 지연으로 He-Ne 레이저(101)에 의해 노출되어, 결국 He-Ne 레이저(101) 및 반도체 레이저 LD(103 및 104)는, AOM(102)에 의한 변조시 응답이 반도체 레이저 LD(103 및 104)에 의한 직접 변조보다 저속일 지라도 그 부분을 노출시키기 위해 기록면 상에 중첩될 수 있다.
부수적으로, 또한 반도체 레이저 LD(103 및 104)로부터 방출되는 레이저 빔(113 및 114)의 빔 위치가 He-Ne 레이저(101)로부터 방출되는 레이저 빔(105)을 광학적으로 쉬프팅하는 것 대신에, 드럼의 회전 방향에 반대인 방향으로 쉬프트되는 구조를 사용할 수 있다. 다시 말해서, He-Ne 레이저(101)로부터 방출되는 레이저 빔(105)이 AOM(102)의 응답 지연에 등가한 주 스캐닝 방향으로의 시간 지연으로 노출시키는 구조가 수용될 수 있다.
또한, AOM(102)의 응답 지연이 상술된 구조에서 광학적으로 교정되더라도, 변조 데이터(화상 데이터)의 지연을 교정함으로써 응답 지연에 대처할 수 있다.
도 5에 도시된 예에서, LD 변조 데이터(130) 및 AOM 변조 데이터(131)는 D/A 변환기(132 및 133)에 의해 각각 D/A 변환되고, 반도체 레이저 LD(103 및 104)에 각각 제공되지만, LD 변조 데이터(130)는 AOM(102)에 의한 응답 지연량 만큼 지연 교정 회로(134)(노광 타이밍 조정 수단)에 의해 지연된다.
상술된 구조에서, 반도체 레이저(103 및 104)가 지연된 변조 데이터에 따라 직접 변조되더라도, 동일한 타이밍의 변조 데이터에 의해 변조되는 레이저 빔은, 선행 변조 데이터에 근거하여 광량면에서 AOM(102)에 의한 변조의 지연이 있기 때문에, 광량면에서 변조된 레이저 빔이 AOM(102)으로부터 방출될 때의 단계에서 노출을 수행한다.
상술된 실시예의 구조에서, 하나의 레이저 빔은 각각의 파장에 대해 노출시키기 위하여 스캔하는데 사용된다. 그러나, 도 6에 도시된 바와 같이 다수의 레이저 빔이 각각의 파장에 대해 노출시키기 위하여 스캔하는데 사용되는 구조를 또한 사용할 수 있다.
도 6에 도시된 예에서, 3개의 레이저 빔이 각각의 파장에 대해 노출시키기 위하여 스캔하는데 사용되는 경우가 도시된다. 그러나, 각각의 파장에 대한 빔의 수는 본 발명에서의 3개로 제한되지 않는다.
도 6에서, He-Ne 레이저(101)로부터 방출되는 녹색 레이저 빔(1-5)은 반사경(106)에 반사되고 색선별 거울(107 및 108)을 통하여 화상 형성 렌즈(110)로 진입하게 되는 3개의 빔으로 빔 분할기(141)에 의해 분할된 후에 광량면에서 다중 AOM(142)에 의해 변조된다.
이 경우에도, 원통형 렌즈(115 및 116)는 다중 AOM(142)의 양측 상에 구성되어, 빔이 다중 AOM(142)의 응답을 개선하기 위해 다중 AOM(142)으로 진입하기 전에 빔의 직경이 감소된 다음, 빔 직경은 광량면에서 빔이 다중 AOM(142)에 의해 변조된 후에 그 본래 직경으로 복원된다.
다른 한편으로, 적색 R용 3개의 반도체 레이저 LD(103) 및 적외선 IR용 3개의 반도체 레이저 LD(104)가 제공된다. 빔 형태면에서 각각의 파장에 대한 빔은 원통형 렌즈(또는 프리즘 쌍)(117 및 118)에 의한 He-Ne 레이저(101)의 빔 형상인 완전한 원형으로 형성되고, 상기는 압축기(143 및 144)로 진입한다.
빔 압축기(143 및 144)(피치 변경 수단)에서, 3개의 적색 레이저 빔의 빔 거리(빔들 간의 피치)와 3개의 적외선 레이저 빔의 빔 거리는 감소되어, 빔 거리는 다중 AOM(142)의 빔 거리와 부합시킨다.
감소된 빔 거리를 갖는 3개의 적색 레이저 빔 및 3개의 적외선 레이저 빔 모두는 색선별 거울(107 및 108)에 반사되어, 화상 형성 렌즈(110)로 진입한다.
화상 형성 렌즈(110)에서, 동일한 빔 거리로 구성된 각각의 파장에 대한 레이저 빔은 빔 거리면에서 동일한 빔 거리(피치 감소 수단)로 일체적으로 동시에 감소되고, 각각의 레이저 빔은 평행한 빔으로서 기록면 상에 투영된다.
부수적으로, 그 내부로부터 노출시키는 실린더 노출 시스템이 상술된 실시예에서 노출 시스템으로서 사용되나, 본 발명은 이에 제한되지 않고, 또한 예를 들어 다각형 거울이 스캐닝하는데 사용될 수 있다.
다음으로, 본 발명의 제2 목적을 달성하는 구조가 다음과 같이 설명될 것이다.
도 7에 도시된 화상 기록 장치는 녹색광, 적색광 및 적외선광에 각각 민감한 감광성 층이 그위에 제공되는 할로겐화은 컬러 사진 감광성 재료인 사진 원지 상에 잠상이 기록되고, 다수(예를 들어, 10)의 레이저 빔이 녹색광, 적색광 및 적외선광 각각에 대해 동시에 발생되고, 사진 원지 상에 잠상을 기록하기 위해 주 스캐닝 방향으로 이동하는 사진 원지 상에 조사하기 위하여 부-스캐닝 방향 MSD로 정렬시키도록 구성되는 장치이다. 도 7에 도시된 화상 기록 장치는 도 6에 도시된 장치에 추가로 실시된 것이고, 도 7에 도시된 화상 기록 장치는 상술된 본 발명의 제1 목적을 달성할 수 있다.
도 7에서, 광 유닛(1)은 적외선을 발광하는 다수의 레이저 다이오드가 정렬하도록 제공된 적외선 광원부(70), 적색을 발광하는 다수의 레이저 다이오드가 정렬하도록 제공된 적색 광원부(80), 녹색을 발광하는 He-Ne 레이저(91)을 갖고 다수의 레이저 빔을 방출하는 녹색 광원부(90), 및 적외선 광원부(70)의 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 SSD 다수의 레이저 빔, 적색 광원부(80)의 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 및 녹색 광원부(90)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔을 드럼(2)의 둘레에 휘감긴 플레이트용 사진 필름의 기록면 상에 부-스캐닝 방향으로 정렬시키는 빔 정렬 광 시스템(30)이 제공된다.
드럼(2)은 플레이트용 사진 필름이 휘감겨 고정된 것으로, 화상을 기록할 때 일정한 속도로 회전되어 적외선 광원부(70)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 적색 광원부(80)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 및 녹색 광원부(90)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔은 주 스캐닝 방향 MSD로 플레이트용 사진 필름에 상대적으로 이동된다.
광 유닛(1)은 부-스캐닝 방향 SSD로 이동할 수 있고, 광 유닛(1)이 드럼(2)에 상대적으로 부-스캐닝 방향 SSD로 이동할 때 드럼(2)의 둘레 위에 휘감겨 고정된 플레이트용 사진 필름의 전체면 상에 잠상이 기록된다.
수광 소자(3)는 상술된 레이저 빔에 의해 플레이트용 사진 필름 상에 기록하기 위한 표면과 동일한 레벨인 평면 상에 제공된다. 광 유닛(1)이 부-스캐닝 방향 SSD로 이동하고, 상술된 레이저 빔이 수광 소자(3)로 진입하는 구성에서, 적외선 광원부(70)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 적색 광원부(80)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 및 녹색 광원부(90)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔 각각의 빔 세기는 수광 소자(3)에 의해 측정된다.
적외선 광원부(70)로부터 방출되는 각각의 레이저 빔에서 수광 소자(3)에 의해 측정되는 빔 세기에 따라, 본 실시예에서의 화상 기록 장치의 블록도인 도 8에 도시된 레이저 다이오드 제어부(4)는 적외선 광원부(70)의 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드를 제어하여, 각각의 레이저 빔의 빔 세기가 동일하게 될 수 있고, 레이저 다이오드 제어부는 적색 광원부(80)의 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드를 제어하여, 각각의 레이저 빔의 빔 세기가 동일하게 될 수 있다. 부수적으로, 동일한 광량을 각각 갖는 다수의 레이저 빔이 하나의 He-Ne 레이저로부터 방출되는 그 구조 때문에, 녹색 광원부(90)에 대해서는 이 제어가 수행되지 않는다.
부수적으로, 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79는 선정된 간격으로 정렬시키도록 적외선 광원부(70) 상에 제공된다. 다수의 레이저 LD 70-LD 79는 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔이 렌즈(31) 측 상에 있는 중앙점 CP으로 모두 향하게 되는 방식으로 구성된다.
녹색 광원부(90)에서, 544㎚의 레이저 빔은 He-Ne 레이저(91)로부터 방출되어 빔 분할기(92)로 진입한다. 빔 분할기(92)로 진입하는 레이저 빔은 빔의 직경면에서 원통형 렌즈(93)에 의해 각각 감소되는 다수의 레이저 빔으로 빔 분할기(92)에 의해 분할된다(음향 광학 소자(94)의 우수한 응답을 위하여). 그 다음, 다수의 레이저 빔은 음향 광학 소자(94)로 진입하게 된다. 그 다음, 음향 광학 소자(94)가 구동되어 녹색 광원부(90)에 입력된 화상 신호에 근거하여 각각의 레이저 빔의 ON 및 OFF를 제어한다. ON의 레이저 빔은 그 본래 빔 직경으로 복원될 원통형 렌즈(95)를 통과하여, 다수의 레이저 빔을 방출한다.
빔 정렬 광 시스템(30)은 다음 항목들을 포함한다. 렌즈(31)는 적외선 광원부(70)의 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 다수의 레이저 빔이 상호 평행하도록 시준한다. 거울(32)은 렌즈(31)에 의해 직각으로 시준되는 다수의 레이저 빔을 반사하고, 또한 색선별 거울(37)은 이들 다수의 빔들을 직각으로 반사하여 이들을 수렴 렌즈 그룹(38)으로 진입시킨다. 렌즈(33)는 적색 광원부(80)의 다수의 레이저 다이오드 LD 80-LD 89로부터 방출되는 다수의 레이저 빔을 상호 평행하도록 시준한다. 거울(34)은 렌즈(33)에 의해 직각으로 시준되는 다수의 레이저 빔들을 반사하여 이들을 색선별 거울(36 및 37)을 통하여 수렴 렌즈 그룹(38)으로 진입시킨다. 녹색 광원부(90)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔은 색선별 거울(35)에 직각으로 반사된 다음 색선별 거울(36)에 직각으로 반사되어 색선별 거울(37)을 통하여 수렴 렌즈 그룹(38)으로 진입시킨다.
수렴 렌즈 그룹(38)은 여기에 진입된 이들 레이저 빔을 조정면 CS 상의 한 점에 수렴시킨다. 그 다음, 조정면을 통과한 다수의 레이저 빔은 감소 광 렌즈 그룹(39)으로 진입한다. 감소 광 렌즈 그룹(39)으로 진입한 이들 레이저 빔들은 드럼(2)의 둘레에 휘감긴 기록 재료 상의 기록면 RS 상에 화상으로서 형성되도록 감소 광 렌즈 그룹(39)에 의해 감소된다. 그 다음, 감소 광 렌즈 그룹(39)을 빠져나오는 다수의 레이저 빔은 도 9에 도시된 소정의 빔 직경 및 빔 피치로 정렬되도록 화상-형성 렌즈(40)에 의해 더 수렴된다.
도 9는 기록면 RS가 전면측에서 본 직경이며, 여기서 적색 광원부(70)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 적외선 광원부(80)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔, 및 녹색 광원부(90)로부터 방출되는 다수의 레이저 빔은 상호 오버랩되고, 부-스캐닝 방향 SSD로 BR의 빔 직경을 각각 갖는 다수의 레이저 빔은 빔 피치 BP로 부-스캐닝 방향 SSD로 정렬되어, 그 결과 잠상이 기록 재료 상에 형성된다. 광 유닛(1)이, 드럼(2)이 한 번 도는 동안 드럼(2)에 대해 부-스캐닝 방향 SSD로 선정된 이동량 FQ(=10xBP) 만큼 이동할 때, 드럼(2)의 둘레에 휘감겨 고정된 플레이트용 사진 필름의 전체면 상에 잠상이 균일하게 기록된다. 부수적으로, 빔 직경 BR 및 빔 피치 BP는 약 1-100㎛이다.
노출 조정부(5)는 조정면 CS 부근에 제공된다.
다음으로, 레이저 다이오드 제어부(4)는 적외선 광원부(70) 및 적색 광원부(80) 모두의 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 다이오드를 제어하여, 각각의 레이저 빔의 빔 세기가 수광 소자(3)에 의해 측정되는 각 레이저 빔의 빔 세기에 따라 동일하게 될 수 있고, 노광 세기 조정량은 수광 소자(3)에 의해 측정되는 각각의 레이저 빔의 빔 세기와 드럼(2)의 둘레에 휘감겨 고정된 기록 재료의 민감도에 따라 얻어지고, 적외선 광원부(70), 적색 광원부(80) 및 녹색 광원부(90)로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 노광 세기는 얻어진 노광 세기 조정량에 따라 쉬프트된다.
먼저, 수광 소자(3)에 의해 측정되는 각각의 녹색 레이저 빔의 빔 세기가 동일하지 않을 때, 빔 분할기(92)는 각각의 녹색 레이저 빔의 측정 빔 세기가 동일하다고 입증될 때까지 계속적으로 조정된다. 동일하게 된 각각의 녹색 레이저 빔의 빔 세기의 산술 평균은 MBIG로 가정된다. 녹색 레이저 빔의 표준 빔 세기를 나타내는 녹색 표준 빔 세기 SBIG, 적색 레이저 빔의 표준 빔 세기를 나타내는 적색 표준 빔 세기 SBIR, 적외선 레이저 빔의 표준 빔 세기를 나타내는 적외선 표준 빔 세기 SBIIR이 미리 레이저 다이오드 제어부(4) 상에 수립된다. 수광 소자(3)에 의해 측정되는 적외선 및 적색용 레이저 빔의 빔 세기 각각은 BI 70-BI 79 및 BI 80-BI 89로 가정되고, 이들 빔 세기들 MBIIR 및 MBIR의 산술 평균은 적외선 및 적색에 대해 각각 구해진다. 그 다음, 이들 빔 세기 MBIG, MBIR, 및 MBIIR의 산술 평균 및 녹색 표준 빔 세기 SBIG, 적색 표준 빔 세기 SBIR 및 적외선 표준 빔 세기 SBIIR로부터 다음의 수학식을 통하여 노광 세기 조정 교정량 △RPI, 녹색 타겟 빔 세기 TBIG, 적색 타겟 빔 세기 TBIR, 및 적외선 타겟 빔 세기 TBIIR이 구해진다.
△RPI = 2 x log2(MBIG/SBIG)
TBIG = MBIG
TBIR = SBIR x √2 ∧ △RPI
TBIIR = SBIIR x √2 ∧ △RPI
그 다음, 각각의 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류는 각각의 적색 레이저 빔 BI 80-BI 89의 측정된 빔 세기 대 적색 타겟 빔 세기 TBIR의 비에 따라 변경되고 조정된 다음, 다수의 레이저 다이오드 LD 80-LD 89에서는 레이저 빔이 다시 방출되고, 다수의 레이저 다이오드 LD 80-LD 89로부터 방출되는 레이저 빔의 빔 세기 BI 80-BI 89는 수광 소자(3)에 의해 반복해서 측정되어, 레이저 다이오드 LD 80-LD 89를 통해 흐르는 전류값 I 80-I 89는 레이저 빔의 빔 세기 BI 80-BI 89가 적색 타겟 빔 세기 TBIR와 동일하게 될 수 있도록 수립되는 것으로 구해진다.
더우기, 동일한 방법으로, 각각의 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류는 적외선 레이저 빔의 측정된 빔 세기 BI 70-BI 79 대 적외선 타겟 빔 세기 TBIIR의 비에 따라 변경되고 조정된 다음, 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79에서는 레이저 빔이 다시 방출되고, 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 각각의 레이저 빔의 빔 세기 BI 70-BI 79는 수광 소자(3)에 의해 반복해서 측정되어, 레이저 다이오드 LD 70-LD 79를 통해 흐르는 전류값 I 70-I 79는 레이저 빔의 빔 세기 BI 70-BI 79가 적외선 타겟 빔 세기 TBIIR과 동일하게 될 수 있도록 수립되는 것으로 구해진다.
잠상이 본 실시예에서의 화상 기록 장치에 의해 기록될 수 있는 여러 형태의 기록 재료 각각에 특수한 필름형 노광 세기 조정량 KRPI가 레이저 다이오드 제어부(4) 상에 미리 수립된다. 레이저 다이오드 제어부(4)는 잠상이 기록되는 사진 원지의 형태에 근거하여 필름형 노광 세기 조정량 KRPI를 판독한다. 그 다음, 레이저 다이오드 제어부(4)는 노광 세기 조정 교정량 △RPI를 필름형 노광 세기 조정량 KRPI에 더하여, 즉 RPI = KRPI + △RPI로 노광 세기 조정량 RPI를 구한다.
레이저 다이오드 제어부(4)는 노광 세기 조정량 RPI를 전송하여 이진수의 수치 데이터로 노광 세기 조정부(5)에 얻어진다.
도 10은 노광 세기 조정부(5) 부근의 개략도를 도시한다. 노광 세기 조정부(5)에서, 다른 밀도를 각각 갖는 다수의 ND 필터(51 내지 55)들은 필터 구동부(56 및 57)에 의해 게재되거나 또는 제거될 수 있는 방법으로 레이저 빔 광로에 제공된다.
노광 세기 조정부(5)는 필터(51 내지 55)가 전송된 노광 세기 조정량 RPI에 따라 레이저 빔 광로로 게재되거나 또는 그로부터 제거된다. 다시 말해서, 노광 세기 조정량 RPI의 최하부 위치인 제1 위치의 숫자가 1일 때, 필터(55)는 레이저 빔 광로로 게재되는 반면에 상기가 0일 때, 필터(55)는 레이저 빔 광로로 게재되지 않는다. 노광 세기 조정량 RPI의 최하부 위치인 제2 위치의 숫자가 1일 때, 필터(54)는 레이저 빔 광로로 게재되는 반면에 상기가 0일 때, 필터(54)는 레이저 빔 광로로 게재되지 않는다. 노광 세기 조정량 RPI의 제3 위치의 숫자가 1일 때, 필터(53)는 레이저 빔 광로로 게재되는 반면에 상기가 0일 때, 필터(53)는 레이저 빔 광로로 게재되지 않는다. 노광 세기 조정량 RPI의 제4 위치의 숫자가 1일 때, 필터(52)는 레이저 빔 광로로 게재되는 반면에 상기가 0일 때, 필터(52)는 레이저 빔 광로로 게재되지 않는다. 노광 세기 조정량 RPI의 제5 위치의 숫자가 1일 때, 필터(51)는 레이저 빔 광로로 게재되는 반면에 상기가 0일 때, 필터(51)는 레이저 빔 광로로 게재되지 않는다.
상술한 바로 인해, 저주파에서 발생하는 각각의 레이저 빔의 세기의 균일화는 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79의 각 레이저 다이오드를 통해 흐르는 전류를 제어함으로써 정확히 조정하여 실행될 수 있는 반면에 고주파에서 발생하는 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기 쉬프팅은 간단히 조정하여 실행될 수 있다. 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 노광 세기가 다수의 필터(51 내지 55)를 레이저 빔 광로로 선택적으로 게재하거나 또는 그들을 레이저 빔 광로로부터 제거함으로써 쉬프트되기 때문에, 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기는 여러 단계로 더 쉬프트할 수 있다.
더우기, 레이저 빔과 필터(51 내지 55) 간의 위치 관계의 자유도는 증가되고, 다수의 레이저 빔 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 모든 레이저 빔이 렌즈 그룹(24)을 수렴시킴으로써 거의 한 점에 수렴되기 때문에, 필터(51 내지 55)의 불균일성에 의해 영향받지 않고 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 각각의 레이저 빔의 빔 세기를 쉬프트할 수 있고, 다른 밀도를 각각 갖는 다수의 필터(51 내지 55)는 수렴된 지점 부근에 게재되거나 또는 그로부터 제거된다.
또한, 플레이트용 사진 필름 상에 기록하는 레이저 빔에 대한 표면에 상대적으로 이동할 수 있는 수광 소자는 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 각각의 레이저 빔을 수광하고, 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 레이저 빔의 빔 세기 BI 70-BI 79를 측정한다. 따라서, 시간 경과로 인한 레이저 다이오드 LD 70-LD 79의 광도 변동뿐만 아니라 일탈된 광축과 다른 것으로 인한 빔 세기의 변동을 포함하는 레이저 빔의 빔 세기 BI 70-BI 79의 변동을 적당히 교정할 수 있다.
다음으로, 노광 세기 조정부의 또 다른 예가 설명될 것이다.
도 11에 도시된 노광 세기 조정부(5)는 그 밀도가 부-스캐닝 방향 SSD로의 거리에 비례하여 계속해서 증가하는 광 웨지 필터(58)를 내부에 갖는다. 이 광 웨지 필터(58)는 필터 구동 부재(59)에 의해 부-스캐닝 방향 SSD로 조정면 CS 상에서 이동될 수 있도록 지원되고, 광 웨지 필터(58)로 진입하는 빔에 대한 위치는 노광 세기 조정부(5)에 입력되는 노광 세기 조정량에 따라 광 웨지 필터(58)를 구동시킴으로써 조정되어 그 노광 세기 조정량에 대응하는 광 웨지 필터(58)에 대한 밀도를 갖는 부분은 광 웨지 필터(58)로 진입하는 빔에 대한 위치를 나타낸다. 이로 인해, 노광 세기 조정부(5)는 자주 수행되는 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 연속적인 쉬프팅을 수행할 수 있다.
이 실시예에서의 광 웨지는 일본 사진 협회의 사진 용어의 위원회에 의해 집계된 Dictionary of Terminology for Photography에 기술된 광 웨지를 포함하는 개념을 의미하고, 상기는 선정된 방향으로의 거리에 대한 광 밀도를 점차적으로 또는 연속해서 변화하도록 이루어지는 플레이트형 광흡수체이다. 따라서, 재료는 광 흡수가 파장과 무관하게 변하지 않는 재료일 필요는 없다. 부수적으로, 이 경우에 선정된 방향은 회전 방향 또는 선형 방향, 또는 심지어는 다른 방향일 수 있다.
도 12는 화상 기록 장치의 디스크형 광 웨지 필터(60)의 렌즈 그룹(24)을 수렴하는 일부로부터 보이는 도면이다. 도 13은 디스크형 광 웨지 필터(60)가 사용되는 노광 세기 조정부(5) 부근의 개략 구조도이다. 디스크형 광 웨지 필터(60)는 밀도가 회전 방향 SD로의 회전 각도에 비례하여 연속해서(광에 대한 표시 전력의 부족 및 전기 신호를 통해 파일된 인가에 의해 발생되는 모양으로 인해 도 12에서 점차적으로) 증가하는 광 웨지 필터이다. 이 광 웨지 필터(60)는 조정면 CS 상에서 필터 구동 부재(61)에 의해 회전 방향 SD로 회전될 수 있도록 지원되고, 디스크형 광 웨지 필터(60)로 진입하는 빔에 대한 위치 BIP는 노광 세기 조정부(5)에 입력되는 노광 세기 조정량에 따라 디스크형 광 웨지 필터(60)를 구동시킴으로써 조정되어 그 노광 세기 조정량에 대응하는 디스크형 광 웨지 필터(60)에 대한 밀도를 갖는 부분은 디스크형 광 웨지 필터(60)를 진입하는 빔에 대한 위치 BIP를 나타낸다. 이로 인해, 노광 세기 조정부(5)는 자주 수행되는 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 연속적인 쉬프팅을 수행할 수 있다.
디스크형 광 웨지 필터(60)는 디스크형 편광 필터로 변경될 수 있다.
디스크형 편광 필터에 관해서는, 그를 통해 전송되는 편광의 방향은 회전 방향 SD로의 회전 각도에 따라 변경된다. 레이저 빔은 코히어런트 광이 때문에 편광이다. 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79는 광원부(70) 상에 설치된 다수의 레이저 LD 70-LD 79로부터 방출되는 모든 레이저 빔이 동일한 편광으로 될 수 있는 방법으로 광원부(70) 상에 구성된다.
따라서, 디스크형 편광 필터로 진입하는 빔에 대한 위치 BIP는 디스크형 편광 필터를 구동시킴으로써 조정되어, 디스크형 편광 필터의 회전 각도는 노광 세기 조정부(5)에 입력되는 노광 세기 조정량에 따라 노광 세기 조정량에 대응하는 전송 인자의 방향과 부합시킨다. 이로 인해, 크기가 작고 구조가 간단한 노광 세기 조정부(5)는 자주 수행되는 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔의 빔 세기의 연속적인 쉬프팅을 수행할 수 있다.
다음으로, 다수의 레이저 빔에 대한 기록 위치가 제어되는 예가 다음과 같이 설명될 것이다.
상술된 수광 소자(3)는 2차원 CCD 화상-픽업 소자와 같이, 기록면 RS 상의 광량의 2차원 분포를 검출할 수 있고, 플레이트용 사진 필름의 기록면 RS에 대해 상대적으로 이동할 때, 다수의 레이저 빔 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 각각의 레이저 빔의 기록 위치를 검출할 수 있다.
레이저 빔의 기록 위치가 도 9에 도시된 바와 같은 부-스캐닝 방향으로 직선 정렬되는 것이 바람직하지만, 그들은 때때로 원형 렌즈(26)에 의해 제공된 정렬 효과에도 불과하고 주 스캐닝 방향으로 일탈된다.
수광 소자(3)는 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치 BC 70-BC 79를 검출하고, 검출된 기록 위치 BC 70-BC 79를 도 8에 도시된 루미네선스 타이밍 제어부(6)로 전송한다. 루미네선스 타이밍 제어부(6)는 표준 기록 라인 SBL로서 기록 위치 BC 70-BC 79 중에서 드럼의 회전 방향으로 최상의 스트림 측에 있는 기록 위치(도 14에서 BC 75)로부터 부-스캐닝 방향으로 연장되는 직선을 수립한다. 그 다음, 루미네선스 타이밍 제어부(6)는 기록 위치 BC 70-BC 79의 표준 기록 라인 SBL로부터 편차 △BC 70-△BC 79를 얻은 다음, 다음의 표현, 즉 Tri = △BCi/VD(i는 70-79의 자연수를 나타냄)을 사용하여, 편차 △BC 70-△BC 79 및 드럼(2)의 주변 속도 VD로부터 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79에 대한 지연 시간 TR 70-TR 79를 각각 얻는다.
루미네선스 타이밍 제어부(6)는 각각 지연 시간 TR 70-TR 79 만큼 다수의 레이저 다이오드 LD 70-LD 79에 각각 입력되는 화상 신호를 지연시키고, 그들을 광원부(70)에 넣는다. 이로 인해, 루미네선스 타이밍 제어부(6)는 수광 소자(3)에 의해 검출된 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치 BC 70-BC 79에 따라 각각의 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍을 각각 지연시킨다.
상술된 바에 의해, 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치 BC 70-BC 79는, 레이저 다이오드 LD 70-LD 79의 장착 정확성이 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 재료 상의 기록 위치 BC 70-BC 79가 주 스캐닝 방향 MSD로 일탈되는 만큼 높지 않더라도 자동 측정되고, 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍에 대한 지연 시간 TR 70-TR 79는 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 측정된 기록 위치 BC 70-BC 79에 따라 결정되고 제어된다. 따라서, 각각의 레이저 다이오드의 루미네선스 타이밍은 각각 자동 지연되고, 쉬프트된 광축으로 인한 주 스캐닝 방향 MSD로의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치 BC 70-BC 79의 편차 효과 또는 환경 조건 및 시간 경과로 인한 다른 것들은 적당히 교정될 수 있고, 기록된 화상의 품질을 유지하기 위하여 보다 적은 시간을 필요로 하며, 만족스럽게 기록시킬 수 있다. 부수적으로, 상술된 제어는 또한 동일한 방법으로 녹색 레이저 빔 및 적색 레이저 빔에 적용될 수 있다.
환경의 영향과 시간 경과로부터 유발되는 광축 편차로 인한 주 스캐닝 방향으로의 각 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치의 편차 효과는, 각각의 레이저 다이오드 설치의 정확성이 다수의 레이저 다이오드의 각 레이저 빔에 대한 기록 재료 상의 위치가 주 스캐닝 방향으로 편차되도록 기록시키는데 충분히 높지 않을 때에도 탁월한 기록을 위하여 만족스럽게 교정되도록 행해진다.
발광 타이밍을 제어하는 이 방법은 또한 적색 레이저 빔 및 녹색 레이저 빔과 같은 다른 컬러들 중에서 레이저 빔 노광 타이밍에 적용할 수 있다.
다음으로, 화상 기록 장치의 또 다른 예가 설명될 것이다.
도 15에 도시된 화상 기록 장치는 적색광에 민감한 감광성 층이 제공되는 할로겐화은 단색 사진 감광성 재료를 표현하는 플레이트용 사진 필름 상에 잠상을 기록하고, 다수의 적색 레이저 빔이 동시에 발생될 때 사진 원지 상에 잠상이 기록되고, 주 스캐닝 방향으로 이동하는 사진 원지 상에 부-스캐닝 방향 SSD로 정렬되는 장치이다.
다수(예를 들어, 10)의 레이저 다이오드가 정렬되도록 설치되는 광원부(10) 및 광원부(10)의 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 다수의 레이저 빔을 드럼(2) 둘레에 휘감긴 플레이트용 사진 필름의 기록면 상에 부-스캐닝 방향 SSD로 정렬시키는 빔 정렬 광 시스템(20)이 광 유닛(1) 상에 설치된다.
드럼(2)은 플레이트용 사진 필름이 그 위에 고정되어 휘감긴 것으로, 화상을 기록할 때 일정한 속도로 회전하여, 그 결과 다수의 레이저 다이오드 LD 10-LD 19로부터 방출되는 다수의 레이저 빔 및 플레이트용 사진 필름은 주 스캐닝 방향으로 상대적으로 이동될 수 있다.
광 유닛(1)은 부-스캐닝 방향 SSD로 이동할 수 있고, 이 광 유닛(1)이 드럼(2)에 대해 상대적으로 부-스캐닝 방향 SSD로 이동할 때, 드럼(2) 둘레 위에 고정되어 휘감긴 플레이트용 사진 필름의 전체면 상에 잠상이 기록된다.
수광 소자(3)는 플레이트용 사진 필름 상의 다수의 레이저 빔에 대한 기록면과 동일한 레벨인 평면 상에 설치된다. 광 유닛(1)이 다수의 레이저 빔이 수광 소자(3)로 진입하도록 부-스캐닝 방향 SSD로 이동할 때, 광원부(10)의 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되고 빔 정렬 광 시스템(20)으로부터 나오는 레이저 빔의 빔 세기는 수광 소자(3)에 의해 측정된다. 이 구조로 인하여, 도 7에 도시된 화상 기록 장치와 동일한 다수의 레이저 빔에 관련된 제어를 수행할 수 있다.
상술된 발명에서는, 출력된 화상의 톤 재생의 변경 및 기록 재료의 변경으로 인해 요구되는 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 모든 레이저 빔에 대한 노광 세기의 쉬프팅을 간단하고 안정하게 짧은 기간 동안 수행할 수 있으며, 이들 변경들은 자주 행해질 필요가 있다.
시간 경과로 인한 레이저 다이오드의 루미네선스 세기의 변동뿐만 아니라 광축의 변경으로 인한 빔 세기의 변동을 포함하는 레이저 빔의 빔 세기의 변동은 적당히 교정될 수 있다.
레이저 다이오드의 장착 정확성이 다수의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔에 의한 기록 재료 상의 기록 위치가 주 스캐닝 방향으로 일탈되는 것 만큼 높지 않더라도, 쉬프트된 광축에 의해 발생되는 주 스캐닝 방향으로의 레이저 다이오드로부터 방출되는 레이저 빔의 기록 위치의 편차 효과 또는 환경 조건 및 시간 경과로 인한 다른 것들은 적당히 교정될 수 있고, 만족스럽게 기록할 수 있다.

Claims (20)

  1. 노광 유닛에 있어서,
    광량면에서 직접 변조되고, 제1 파장을 갖는 제1 레이저 빔을 방출하기 위한 제1 레이저 빔원;
    상기 제1 파장과는 다른 제2 파장을 갖는 제2 레이저 빔을 방출하기 위한 제2 레이저 빔원; 및
    광량면에서 상기 제2 레이저 빔을 변조하기 위한 음향 광변조 소자(audio-optical modulation element)
    를 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 레이저 빔원은 레이저 다이오드이고 상기 제2 레이저 빔원은 가스 레이저 또는 고체 레이저인 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔의 형태를 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔의 형태와 일치시키기 위한 빔 형상화 수단(beam shaping means)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제2 레이저 빔이 상기 음향 광변조 소자에 진입하기 전에, 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔의 직경을 감소시키기 위한 빔 직경 감소 수단(beam diameter reducing means); 및
    상기 제2 레이저 빔이 상기 음향 광변조 소자로부터 빠져나온 후에, 상기 제2 레이저 빔의 직경을 확대하기 위한 빔 직경 확대 수단(beam diameter enlarging means)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  5. 제1항에 있어서,
    기록 매체가 상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출된 상기 제1 레이저 빔과 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔으로 노출되고,
    상기 노광 유닛은 상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔으로 상기 기록 매체를 노출시키는 타이밍 및 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔으로 상기 기록 매체를 노출시키는 타이밍 중의 하나를 조정하기 위한 노광 타이밍 조정 수단(exposing timing adjusting means)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 노광 타이밍 조정 수단은 상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔으로 상기 기록 매체를 노출시키는 타이밍을 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔으로 상기 기록 매체를 노출시키는 타이밍과 일치시키는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 노광 타이밍 조정 수단은, 상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔에 의한 노출 및 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔에 의한 노출이 동일한 픽셀을 형성하도록 상기 타이밍을 조정하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 노광 타이밍 조정 수단은 상기 제1 레이저 빔원으로부터 상기 제1 레이저 빔을 방출하는 타이밍을 지연시키기 위한 수단인 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  9. 제8항에 있어서,
    다수의 제1 레이저 빔원;
    상기 다수의 제1 레이저 빔원에 의해 상기 기록 매체 상의 노출 위치를 검출하기 위한 위치 검출 수단(position detecting means); 및
    상기 위치 검출 수단에 의해 검출된 상기 노출 위치에 따라 노광 타이밍을 조정하기 위한 노광 타이밍 조정 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 기록 매체를 상기 다수의 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 레이저 빔으로 상대적으로 이동시키기 위한 이동 수단을 더 구비하고,
    상기 위치 검출 수단은 상기 이동 수단에 의해 이동됨으로써 상기 기록 매체 상의 상기 이동 방향에서의 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 위치 검출 수단은 상기 다수의 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔에 의해 상기 기록 매체 상에 형성된 화상으로부터 상기 노출 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔의 직경을 감소시키고, 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔을 평행한 빔으로 형성하기 위한 빔 형상화 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 빔 형상화 수단은 상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔에 대해 공통 수단으로서 사용되는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  14. 제1항에 있어서,
    다수의 제1 레이저 빔원;
    상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 다수의 제2 레이저 빔이 진입하는 음향 광변조 소자; 및
    상기 제2 레이저 빔의 피치와 일치하도록 상기 다수의 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔의 피치를 변경하기 위한 제1 피치 변경 수단(first pitch changing means)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 다수의 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔의 피치와 상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔의 피치 모두를 동시에 변경시키기 위한 제2 피치 변경 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  16. 제1항에 있어서,
    상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔의 광로를 굴곡시키기 위한 제1 광로 변경 수단(first optical path changing means); 및
    상기 제2 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제2 레이저 빔의 광로를 굴곡시키기 위한 제2 광로 변경 수단을 더 구비하며,
    상기 제1 파장 상기 제2 파장이면, 상기 제1 광로 변경 수단의 수 상기 제2 광로 변경 수단의 수이거나, 또는
    상기 제2 파장 상기 제1 파장이면, 상기 제1 광로 변경 수단의 수 상기 제2 광로 변경 수단의 수인 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  17. 제1항에 있어서,
    상기 제1 레이저 빔원으로부터 방출되는 상기 제1 레이저 빔의 광로에 설치되어, 상기 레이저 빔의 광 세기를 조정하는 필터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 유닛.
  18. 각 픽셀에 대한 제1 컬러 성분 신호와 제2 컬러 성분 신호로 할로겐화은 컬러 감광성 재료(halide color light sensitive material) 상에 컬러 화상을 형성하기 위한 장치에 있어서,
    제1 파장을 갖는 제1 레이저 빔을 방출하고, 상기 제1 컬러 성분 신호에 응답하여 상기 제1 레이저 빔의 광량을 변조하기 위한 제1 레이저 빔원;
    상기 제1 파장과는 다른 제2 파장을 갖는 제2 레이저 빔을 방출하기 위한 제2 레이저 빔원;
    상기 제2 레이저 빔원으로부터 상기 제2 레이저 빔을 수광하고, 상기 제2 컬러 성분 신호에 응답하여 상기 제2 레이저 빔의 광량을 변조하기 위한 음향 광변조 소자(audio-optical modulation element);
    촛점축을 가지며, 상기 제1 레이저 빔원으로부터 상기 제1 레이저 빔과 상기 음향 광변조 소자로부터 상기 제2 레이저 빔을 수광하고, 상기 할로겐화은 컬러 감광성 재료 상의 동일한 촛점축을 따라 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔의 촛점을 맞추기 위한 광 시스템;
    민감한 상기 할로겐화은 컬러 감광성 재료를 상기 광 시스템에 상대적으로 운반하는 컨베이어(conveyor); 및
    상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔이 중첩하여 상기 할로겐화은 컬러 감광성 재료 상에 동일한 픽셀을 형성하도록, 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔을 동일한 촛점축을 따라 동시에 촛점이 일치되도록 제어하는 제어기
    를 구비하는 것을 특징으로 하는 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 제어기는, 상기 광 시스템이 상기 동일한 촛점축을 따라 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔의 촛점을 동시에 맞추도록 상기 제1 레이저 빔 및 상기 제2 레이저 빔중 하나의 광로 길이를 조정하는 광 타이밍 조정 부재(optical timing adjustment means)를 구비하는 것을 특징으로 하는 장치.
  20. 제18항에 있어서,
    상기 제어기는, 상기 광 시스템이 상기 동일한 촛점축을 따라 상기 제1 레이저 빔과 상기 제2 레이저 빔의 촛점을 동시에 맞추도록 상기 제1 레이저 빔원의 방출 타이밍 및 상기 제2 레이저 빔원의 방출 타이밍 중의 하나를 제어하는 것을 특징으로 하는 장치.
KR1019980014482A 1997-04-24 1998-04-23 레이저 노광 유닛 KR19980081657A (ko)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP97-107269 1997-04-24
JP10726997A JP3583577B2 (ja) 1997-04-24 1997-04-24 レーザー露光装置
JP23953597A JP3675121B2 (ja) 1997-09-04 1997-09-04 画像記録装置
JP97-239535 1997-09-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980081657A true KR19980081657A (ko) 1998-11-25

Family

ID=26447313

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980014482A KR19980081657A (ko) 1997-04-24 1998-04-23 레이저 노광 유닛

Country Status (3)

Country Link
US (2) US6141030A (ko)
EP (1) EP0878960A3 (ko)
KR (1) KR19980081657A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100781283B1 (ko) * 2006-01-24 2007-11-30 엘지전자 주식회사 영상 신호 처리 장치
KR101497763B1 (ko) * 2012-04-05 2015-03-02 삼성전기주식회사 레이저 가공 장치

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6141030A (en) * 1997-04-24 2000-10-31 Konica Corporation Laser exposure unit including plural laser beam sources differing in wavelength
JP3837962B2 (ja) * 1999-06-11 2006-10-25 コニカミノルタホールディングス株式会社 カラープルーフ作成方法及びカラープルーフ作成装置
JP2001318329A (ja) * 2000-05-11 2001-11-16 Noritsu Koki Co Ltd 光走査装置およびこれを備えた写真処理装置
JP2002072494A (ja) * 2000-06-13 2002-03-12 Fuji Photo Film Co Ltd 露光記録方法および装置
JP2001356488A (ja) * 2000-06-14 2001-12-26 Asahi Optical Co Ltd レーザ描画装置
DE10124215A1 (de) * 2001-05-18 2002-11-21 Heidelberger Druckmasch Ag Bebilderungseinrichtung zur Erzeugung einer Anzahl von Bildpunkten in einer Projektionslinie
KR100416261B1 (ko) * 2001-11-10 2004-01-31 삼성전자주식회사 광결합 소자, 광결합 소자 제조 방법 및 광결합 소자를이용한 광학기기
JP2003215731A (ja) * 2002-01-22 2003-07-30 Canon Inc 原稿照明装置及びそれを有する画像読取装置
US7034450B2 (en) * 2002-03-12 2006-04-25 Fuji Photo Film Co., Ltd. Light source device and light source device for image reading device
JP4194315B2 (ja) * 2002-07-29 2008-12-10 キヤノン株式会社 レーザ露光装置
US7265772B2 (en) * 2004-12-16 2007-09-04 Esko Graphics A/S Beam illumination system and method for producing printing plates
US20060154180A1 (en) * 2005-01-07 2006-07-13 Kannurpatti Anandkumar R Imaging element for use as a recording element and process of using the imaging element
US20060238602A1 (en) * 2005-04-26 2006-10-26 Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft Imaging method and apparatus for imaging a printing plate
WO2007107030A1 (de) * 2006-03-21 2007-09-27 Xpose Holding Ag Innentrommelbelichter
EP2564974B1 (en) 2011-09-05 2015-06-17 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Marking apparatus with a plurality of gas lasers with resonator tubes and individually adjustable deflection means
DK2565673T3 (da) 2011-09-05 2014-01-06 Alltec Angewandte Laserlicht Technologie Gmbh Indretning og fremgangsmåde til markering af et objekt ved hjælp af en laserstråle
EP2565996B1 (en) 2011-09-05 2013-12-11 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Laser device with a laser unit, and a fluid container for a cooling means of said laser unit
EP2564971B1 (en) 2011-09-05 2015-08-26 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Marking apparatus with a plurality of laser and a set of deflecting means
EP2565993B1 (en) 2011-09-05 2014-01-29 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Laser device and method for generating laser light
EP2565998A1 (en) 2011-09-05 2013-03-06 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Gas ring laser device
EP2564972B1 (en) 2011-09-05 2015-08-26 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Marking apparatus with a plurality of lasers, deflection means and telescopic means for each laser beam
DK2565995T3 (da) 2011-09-05 2014-01-20 Alltec Angewandte Laserlicht Technologie Gmbh Gaslaserindretning med gasreservoir
DK2564973T3 (en) 2011-09-05 2015-01-12 Alltec Angewandte Laserlicht Technologie Ges Mit Beschränkter Haftung Marking apparatus having a plurality of lasers and a kombineringsafbøjningsindretning
ES2549507T3 (es) 2011-09-05 2015-10-28 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Dispositivo de marcado para marcar un objeto con una luz de marcado con diferentes módulos de luz empleando diferentes tecnologías de marcado
ES2530070T3 (es) 2011-09-05 2015-02-26 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Aparato de marcado con una pluralidad de láseres y conjuntos ajustables individualmente de medios de desviación
EP2565994B1 (en) 2011-09-05 2014-02-12 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Laser device and method for marking an object
ES2544034T3 (es) 2011-09-05 2015-08-27 ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie Gesellschaft mit beschränkter Haftung Aparato de marcado con al menos un láser de gas y un termodisipador
US9832855B2 (en) * 2015-10-01 2017-11-28 Asml Netherlands B.V. Optical isolation module
CN113960804B (zh) * 2021-10-21 2023-08-08 四川大学 一种连续光谱色温合成装置及合成方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US33931A (en) * 1861-12-17 Improvement in locks
USRE33931E (en) * 1981-12-21 1992-05-19 American Semiconductor Equipment Technologies Laser pattern generating system
EP0250132B1 (en) * 1986-06-07 1994-12-14 Konica Corporation Image recording apparatus
US5012259A (en) * 1988-01-28 1991-04-30 Konica Corporation Color recorder with gas laser beam scanning
JP2774521B2 (ja) * 1988-09-14 1998-07-09 キヤノン株式会社 レーザ記録装置
US5018805A (en) * 1989-10-16 1991-05-28 Eastman Kodak Company Laser printer
US5296958A (en) * 1992-05-29 1994-03-22 Eastman Kodak Company Multiple wavelength laser beam scanning system
US5557303A (en) * 1992-10-14 1996-09-17 Fuji Photo Film Co., Ltd. Thermal recording apparatus which can draw black borders
US5373395A (en) * 1993-05-10 1994-12-13 Adachi; Yoshi Optical system to obtain uniform illumination from diode laser
JP3283098B2 (ja) * 1993-05-24 2002-05-20 富士写真フイルム株式会社 光ビーム走査装置
US5838355A (en) * 1997-04-22 1998-11-17 Eastman Kodak Company Printer system utilizing three different data rates
US6141030A (en) * 1997-04-24 2000-10-31 Konica Corporation Laser exposure unit including plural laser beam sources differing in wavelength

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100781283B1 (ko) * 2006-01-24 2007-11-30 엘지전자 주식회사 영상 신호 처리 장치
KR101497763B1 (ko) * 2012-04-05 2015-03-02 삼성전기주식회사 레이저 가공 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US6437816B1 (en) 2002-08-20
US6141030A (en) 2000-10-31
EP0878960A2 (en) 1998-11-18
EP0878960A3 (en) 2000-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR19980081657A (ko) 레이저 노광 유닛
US20080137054A1 (en) Image exposure apparatus
JPS5823621B2 (ja) 画像記録方式
JPH05224141A (ja) 可変波長光源を用いた光学出力装置でのスポット位置制御用の装置とシステム
JP2875673B2 (ja) 画像露光装置
JPH04502375A (ja) レーザプリンタ
US4975717A (en) Apparatus for recording image
US6052216A (en) Laser and beam intensity modulation system for imagesetting device
JPH05224140A (ja) 可変波長光源を用いた光学出力装置でのスポット位置制御方法
US5574491A (en) Apparatus spot position control in an output device employing a linear array of light sources
US6552741B2 (en) Optical scanning device, image scanning method and photographic processing device
JPH05232392A (ja) 電子光学制御装置を使用した光学出力装置におけるスポット位置制御方法
JPS6115119A (ja) レ−ザプリンタ
JP3675121B2 (ja) 画像記録装置
JP2719064B2 (ja) 画像記録装置
JP2000231157A (ja) デジタル画像の露光装置と方法
JP3783586B2 (ja) 露光装置
US5608444A (en) Image scanning/recording apparatus and method
JPH05131676A (ja) 画像走査記録装置
JP3583577B2 (ja) レーザー露光装置
JP3770201B2 (ja) 画像出力装置
JP3037836B2 (ja) 画像記録装置
KR100188198B1 (ko) 레이저 프로젝터의 광변조장치
JPS60169820A (ja) 画像走査記録装置の記録ヘツド
JPH06115172A (ja) 画像記録装置

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid