KR102251301B1 - 판정 장치, 다광축 광전 센서, 판정 장치의 제어 방법, 정보 처리 프로그램, 및, 기록 매체 - Google Patents

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Abstract

다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정한다. 다광축 광전 센서(1)는, 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 양방에서 출력 이상이 발생하고 있으면, 전기(電氣) 노이즈가 발생하고 있다고 판정한다.

Description

판정 장치, 다광축 광전 센서, 판정 장치의 제어 방법, 정보 처리 프로그램, 및, 기록 매체
본 발명은, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치 등에 관한 것이다.
복수의 투광 소자와, 그것에 대응하는 복수의 수광 소자를 구비하는 다광축 광전 센서에 관해, 외란광의 수광 상태를 상세히 파악하고자 하는 시도가, 종래로부터 행하여지고 있다. 예를 들면, 하게(下揭)하는 특허 문헌 1에는, 투광 소자에 투광을 시키지 않는 상태에서의 복수의 수광 소자의 각각으로부터의 신호에 의거하여, 수광 소자마다의, 외란광의 수광 상태를 나타내는 정보를 생성하는 다광축 광전 센서가 개시되어 있다.
특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 「특개2007-150986호 공보(2007년 6월 14일 공개)」
그렇지만, 상술한 바와 같은 종래 기술은, 다광축 광전 센서의 수광 소자에 출력 이상이 발생한 경우에, 그 출력 이상의 원인을 판정할 수가 없다는 문제가 있다. 예를 들면, 종래 기술은, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인이, 전기(電氣) 노이즈(외란 전압)에 있는지, 또는, 외란광에 있는지를 구별할 수가 없다.
본 발명의 한 양태는, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정할 수가 있는 판정 장치 등을 실현하는 것을 목적으로 한다.
상기한 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치는, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치로서, 서로 중복되지 않도록 1주기 내에 배치된, 복수의 상기 수광 소자의 각각의 수광 가능 기간에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정부와, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 상기 제1 판정부에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 상기 제1 판정부에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정부를 구비한다.
상기한 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 한 양태에 관한 제어 방법은, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치의 제어 방법으로서, 서로 중복되지 않도록 1주기 내에 배치된, 복수의 상기 수광 소자의 각각의 수광 가능 기간에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정 스텝과, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정 스텝을 포함한다.
본 발명의 한 양태에 의하면, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정할 수 있다는 효과를 이룬다.
도 1은 본 발명의 실시 형태1에 관한 다광축 광전 센서의 수광기의 주요부 구성을 도시하는 기능 블록도.
도 2는 도 1의 수광기를 포함하는 다광축 광전 센서의 외관례를 도시하는 사시도.
도 3은 도 2의 다광축 광전 센서가 주기적으로 실행하는 투수광 처리의 타이밍 등을 설명하기 위한 도면.
도 4는 노이즈가 발생하지 않는 경우의, 도 1의 수광기의 수광 소자의 출력을 설명하는 도면.
도 5는 전기 노이즈가 발생하고 있는 경우의, 도 1의 수광기의 수광 소자의 출력을 설명하는 도면.
도 6은 외란광이 발생하고 있는 경우의, 도 1의 수광기의 수광 소자의 출력을 설명하는 도면.
도 7은 도 1의 수광기가 실행하는 노이즈 원인 판정 처리의 개요를 도시하는 플로우도.
[실시 형태 1]
이하, 본 발명의 한 측면에 관한 실시의 형태(이하, 「본 실시 형태」라고도 표기한다)를, 도 1부터 도 7에 의거하여 설명한다. 또한, 도면 중 동일 또는 상당 부분에는 동일 부호를 붙이고 그 설명은 반복하지 않는다. 본 발명의 한 양태에 관한 다광축 광전 센서(1)에 관한 이해를 용이하게 하기 위해, 우선, 다광축 광전 센서(1)의 개요를, 도 2를 이용하여 설명한다. 또한, 이하에서는, 다광축 광전 센서(1)에서의 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 원인 판정 처리를, 다광축 광전 센서(1)의 수광기(10)가 실행하는 예를 설명한다. 즉, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치를, 수광기(10)에서 실현하는 예를 설명한다.
§1. 적용례
도 2는, 다광축 광전 센서(1)의 외관례를 도시하는 사시도이다. 도 2에 예시하는 바와 같이, 다광축 광전 센서(1)는, 소정의 검출 영역(R)을 통하여 대향 배치된 투광기(20)와 수광기(10)를 구비한다. 도 2에 예시하는 바와 같이, 투광기(20)와 수광기(10)의 사이에는 복수의 광축(OA)이 설정되고, 다광축 광전 센서(1)는, 이들의 광축(OA)의 입광, 차광 상태에 의해, 검출 영역(R)에 침입한 물체를 검출한다.
여기서, 종래의 다광축 광전 센서는, 자장치(自裝置) 내에 발생한 부적합함(노이즈 침입 및 고장 등)을 검지하면, 단지 출력을 OFF 하고, LED(Light Emission Diode)를 점멸 등 시켜서, 부적합함의 이유를 나타내지 않고 부적합함의 발생만을 유저에게 통지하고 있다. 그때문에, 유저는, 종래의 다광축 광전 센서의 출력이 OFF인 채로 유지되어 있는 이유를 알 수가 없어서, 전원을 재투입하여도 좋은지, 장치 자체를 교환하여야 하는지 등을 판단할 수가 없었다. 따라서 일단 출력이 OFF가 되면, 종래의 다광축 광전 센서는, 메인터넌스에 시간이 걸리고 있다.
그래서, 다광축 광전 센서(1)는, 자장치 내에 발생한 부적합함의 원인을 진단하는(=판정하는) 원인 판정 처리를 실행하고, 실행 결과를 유저에게 통지한다. 구체적으로는, 다광축 광전 센서(1)는, 우선, 「수광 소자(11)에 출력 이상이 발생하였는지(=후술하는 이상 검출 기간(Td)에서의 수광 소자(11)의 출력이 소정치를 초과하였는지)」를 판정한다. 「수광 소자(11)에 출력 이상이 발생하였다」고 판정하면, 다광축 광전 센서(1)는, 또한, 출력 이상의 원인을 판정하고, 판정 결과를 유저에게 통지한다. 특히, 다광축 광전 센서(1)는, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이, 전기 노이즈(외란 전압)에 있는지, 또는, 외란광에 있는지」를 구별하여 유저에게 통지한다.
다광축 광전 센서(1)는, 수광 소자(11)에 출력 이상이 발생하면, 복수의 수광 소자(11)의 각각의 출력(예를 들면, 아날로그 출력)이 1주기 내에서 연속해서 소정치를 초과한 횟수에 의해, 「출력 이상의 원인이, 전기 노이즈에 있는지, 또는, 외란광에 있는지」를 구별한다. 예를 들면, 다광축 광전 센서(1)는, 수광 가능 기간(Ts)(광신호 접수 타이밍)에서의, 투광을 수광하기(=광신호가 들어가기) 전의 아날로그 출력을 모니터링하여 둔다. 이때, 신호 레벨이 소정치(ON 임계치)를 초과하고 있으면, 다광축 광전 센서(1)는, 출력 이상이 발생하였다(=외란광 또는 전기 노이즈가 발생하고 있을 가능성이 있다)고 판정한다. 또한, 복수 광축의 아날로그 출력이 연속해서 소정치를 초과하고 있으면, 다광축 광전 센서(1)는, 「출력 이상의 원인은, 아날로그 출력에 중첩하는 전기 노이즈에 있다」고 판정하고, 내부에 로그를 남기고, 메인터넌스 정보로서 유저에게 통지한다. 또한, 아날로그 출력이 소정치를 초과하는 광축이 연속하지 않으면, 다광축 광전 센서(1)는, 「출력 이상의 원인은, 외란광 노이즈에 있다」고 판정하고, 외란광 노이즈의 발생을 유저에게 통지한다.
다광축 광전 센서(1)는, 예를 들면, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 전기 노이즈에 있다」고 판정하면, 통지부(300)(표시등(表示燈))를 비점멸 점등시키고, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 외란광에 있다」고 판정하면, 통지부(300)를 점멸 점등시킨다.
그때문에, 유저는, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이, 전기 노이즈(외란 전압)에 있는지, 또는, 외란광에 있는지」를 구별할 수 있고, 다광축 광전 센서(1)에 발생한 부적합함의 해소에 필요로 하는 시간, 메인터넌스의 시간을 단축할 수 있다.
다광축 광전 센서(1)는, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이, 전기 노이즈에 있는지, 또는, 외란광에 있는지」를 구별하여 통지부(300)(표시등)에 표시시켜, 예를 들면, 전기 노이즈와 외란광에서 표시 방법을 변경한다. 따라서 다광축 광전 센서(1)는, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을, 즉, 「출력 이상의 원인이, 전기 노이즈에 있는지, 또는, 외란광에 있는지」를, 가시화할 수 있다.
다광축 광전 센서(1)는, 출력 이상 발생시에, 출력 이상시의 출력의 로그를 남기고, 외부의 표시 장치(예를 들면, 모니터 디바이스)에 표시시킨다. 또한, 다광축 광전 센서(1)는, 남겨둔 로그를 분석하고, 분석 결과를 기초로, 개선 제안을 외부의 표시 장치에 표시시킨다. 예를 들면, 다광축 광전 센서(1)는, 출력 이상의 원인이 외란광에 있다고 판정하면, 내외란광에 대한 개선 제안을 외부의 표시 장치(예를 들면, 모니터 디바이스)에 표시시킨다. 또한, 다광축 광전 센서(1)는, 출력 이상의 원인이 전기 노이즈에 있다고 판정하면, 내전기 노이즈성을 향상시키기 위해, 소프트 필터를 이용하여, 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거한다.
§2. 구성례
(외관 등의 개요)
도 2에 예시하는 바와 같이, 다광축 광전 센서(1)에서, 투광기(20)는 복수의 투광 소자(21)를 구비하고, 또한, 수광기(10)는 복수의 수광 소자(11)를 구비하고 있다. 다광축 광전 센서(1)에서, 복수의 투광 소자(21)가 정렬하여 배치된 투광기(20)와, 복수의 투광 소자(21)의 각각과 쌍을 이루는 복수의 수광 소자(11)가 정렬하여 배치된 수광기(10)는, 쌍을 이루는 투광 소자(21)와 수광 소자(11)가 1대1로 마주 보도록 설치된다.
즉, 「n」을 「2 이상의 정수」로 하여, 다광축 광전 센서(1)는, n개의 투광 소자(21)와, n개의 수광 소자(11)를 구비하고 있다. 투광기(20)의 투광 소자(21(1), 21(2), 21(3), …, 21(n))의 각각과, 수광기(10)의 수광 소자(11(1), 11(2), 11(3), …, 11(n))의 각각은 1대1로 대응하고 있다. 그리고, 쌍을 이루는 「투광 소자(21(1)∼21(n))의 각각과, 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각」이 서로 마주 보도록, 즉, 서로 대향하도록, 투광기(20)와 수광기(10)가 설치되다. 또한, 이하의 설명에서는, 「n」을 「2 이상의 정수」로 하고, 또한, 「m」을 「n≥m+1」을 충족시키는 「1 이상의 정수」로 한다.
투광 소자(21(1))와 수광 소자(11(1))와의 사이에는 광축(OA(1))이 형성되고, 투광 소자(21(2))와 수광 소자(11(2))와의 사이에는 광축(OA(2))이 형성되고, 투광 소자(21(3))와 수광 소자(11(3))와의 사이에는 광축(OA(3))이 형성된다. 이하 마찬가지로, 투광 소자(21(n))와 수광 소자(11(n))와의 사이에는 광축(OA(n))이 형성된다.
또한, 이하의 설명에서, 투광 소자(21)에 관해, 복수의 투광 소자(21)의 각각을 구별할 필요가 있는 경우에는, 부호에 「(1)」, 「(2)」, 「(3)」, …, 「(n)」 등의 첨자를 붙여서 구별한다. 예를 들면, 「투광 소자(21(1))」, 「투광 소자(21(2))」, 「투광 소자(21(3))」, …, 「투광 소자(21(n))」라고 기재하여 구별한다. 복수의 투광 소자(21)의 각각을 특히 구별할 필요가 없는 경우는 단지 「투광 소자(21)」라고 칭한다. 마찬가지로, 복수의 수광 소자(11)의 각각을 구별할 필요가 있는 경우에는, 부호에 「(1)」, 「(2)」, 「(3)」, …, 「(n)」 등의 첨자를 붙여서 구별하고, 복수의 수광 소자(11)의 각각을 특히 구별할 필요가 없는 경우는 단지?수광 소자(11)」이라고 칭한다. 또한, 복수의 광축(OA)의 각각을 구별할 필요가 있는 경우에는, 부호에 「(1)」, 「(2)」, 「(3)」, …, 「(n)」 등의 첨자를 붙여서 구별하고, 복수의 광축(OA)의 각각을 특히 구별할 필요가 없는 경우는 단지?광축(OA)」이라고 칭한다.
(투수광(投受光) 처리의 개요)
도 3은, 다광축 광전 센서(1)가 주기적으로 실행하는 투수광 처리의 타이밍 등을 설명하기 위한 도면이다. 다광축 광전 센서(1)에서, 투광 소자(21)와 수광 소자(11)는, 소정의 주기로 동기하여 동작한다. 즉, 다광축 광전 센서(1)는, 복수의 투광 소자(21)의 각각을, 순차적으로, 각각의 투광 기간(Te)에서 발광시킨다. 또한, 다광축 광전 센서(1)는, 복수의 투광 소자(21)의 각각에 대응하는 복수의 수광 소자(11)의 각각에, 복수의 투광 소자(21)의 각각의 투광 기간(Te)과 동기한 수광 가능 기간(Ts)에서, 수광 처리를 실행시킨다. 구체적으로는, 다광축 광전 센서(1)는, 복수의 광축(OA)의 각각에 관해, 투광 소자(21)의 투광 기간(Te)과 수광 소자(11)의 수광 가능 기간(Ts)(=수광 샘플링 기간)을 동기시켜서, 소정의 주기로 투수광 처리를 행함에 의해 검출 영역(R)에의 물체 침입 유무를 감시한다.
투광기(20)의 투광 소자(21(1)∼21(n))의 각각은, 각각의 투광 기간(Te(1)∼Te(n))에서, 차례차례로 발광 처리를 실행한다. 수광기(10)의 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각은, 각각의 대응하는 투광 소자(21)의 투광 기간(Te)에 맞추어서, 각각의 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))에서, 차례차례로 수광 처리를 실행한다. 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각과, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각은 대응시켜져 있고, 즉, 동기하고 있다.
또한, 이하의 설명에서, 투광 기간(Te)에 관해, 복수의 투광 기간(Te)의 각각을 구별할 필요가 있는 경우에는, 부호에 「(1)」, 「(2)」, 「(3)」, …, 「(n)」 등의 첨자를 붙여서 구별한다. 복수의 투광 기간(Te)의 각각을 특히 구별할 필요가 없는 경우는 단지 「투광 기간(Te)」이라고 칭한다. 마찬가지로, 수광 가능 기간(Ts)에 관해, 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각을 구별할 필요가 있는 경우에는, 부호에 「(1)」, 「(2)」, 「(3)」, …, 「(n)」 등의 첨자를 붙여서 구별한다. 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각을 특히 구별할 필요가 없는 경우는 단지 「수광 가능 기간(Ts)」이라고 칭한다.
여기서, 투광기(20)의 투광 소자(21(1)∼21(n))의 발광 처리가 일순(一巡)하는데 필요로 하는 시간, 즉, 투광기(20)의 순차 발광 처리의 실행 주기를, 「투광 주기」라고 부른다. 그리고, 도 3에 예시하는 바와 같이, 투광 소자(21(1)∼21(n))의 각각의 투광 기간(Te(1)∼Te(n))은, 1투광 주기 내에, 서로 중복되지 않도록 배치되어 있다.
마찬가지로, 수광기(10)의 수광 소자(11(1)∼11(n))의 수광 처리가 일순하는데 필요로 하는 시간, 즉, 수광기(10)의 순차 수광 처리의 실행 주기를, 「수광 주기(Tc)」라고 부르고, 투광 주기와 수광 주기(Tc)는 동등하다. 도 3에 예시하는 바와 같이, 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각의 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))은, 1수광 주기(Tc) 내에, 서로 중복되지 않도록 배치되어 있다.
도 3에 도시되는 바와 같이, 배열된 일단측부터 타단측으로 투광 소자(21(1)∼21(n))가 투광 처리를 순차적으로 실행하고, 수광 소자(11(1)∼11(n))는 수광 처리를 순차적으로 실행한다. 즉, 투광 기간(Te(1)∼Te(n))은, 1투광 주기 내에, 서로 중복되지 않도록 순차적으로 배치되어 있다. 그리고, 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각에 동기한 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))이, 1수광 주기(Tc) 내에, 서로 중복되지 않도록 순차적으로 배치되어 있다. 다광축 광전 센서(1)에서, 투수광 처리, 즉, 투광 소자(21)의 투광 처리 및 수광 소자(11)의 수광 처리는, 투광 주기(=수광 주기(Tc))로, 반복하여 실행된다.
(다광축 광전 센서의 구성 개요)
지금까지 개요를 설명하여 온 다광축 광전 센서(1)에 관해, 다음에 그 상세를 설명하여 간다. 다광축 광전 센서(1)에 관한 이해를 용이하게 하기 위해, 다광축 광전 센서(1)의 개요를 정리하여 두면 이하와 같다.
즉, 다광축 광전 센서(1), 특히 수광기(10)(판정 장치)는, 다광축 광전 센서(1)에서의 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치이다. 수광기(10)는, 서로 중복되지 않도록 1수광 주기(Tc)(1주기) 내에 배치된, 복수의 수광 소자(11)의 각각의 수광 가능 기간(Ts)에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정부(120)와, (1) 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 제1 판정부(120)에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 제1 판정부(120)에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정부(130)를 구비한다.
상기한 구성에 의하면, 수광기(10)는, (1) 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각에서의 출력에 이상이 있으면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 수광기(10)는, (2) 출력에 이상이 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
따라서 수광기(10)는, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인에 관해, 전기 노이즈의 발생과 외란광 노이즈의 발생을 구별할 수 있다는 효과를 이룬다.
수광기(10)에서, 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각은, 복수의 투광 기간(Te)의 각각에 대응시켜져 있고, 제1 판정부(120)는, 1수광 주기(Tc) 내에서의 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 대응하는 투광 기간(Te)을 제외한 기간(=이상 검출 기간(Td))에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정한다. 예를 들면, 수광 소자(11)가 수광 신호의 피크를 검지하고 홀드하는 경우, 이상 검출 기간(Td)은, 「수광 가능 기간(Ts)의 시작부터, 대응하는 투광 기간(Te)의 시작까지의 기간」으로 하여도 좋다.
상기한 구성에 의하면, 수광기(10)는, 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 대응하는 투광 기간(Te)을 제외한 기간에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정한다. 여기서, 투광 기간(Te)에서, 수광 소자(11)가 대향한 투광 소자로부터의 투광을 수광하기 때문에, 출력이 급격하게 커진다.
따라서 「수광 가능 기간(Ts)으로서, 대응하는 투광 기간(Te)을 제외한 기간에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정한」 것에 의해, 수광기(10)는, 출력 이상의 발생 유무에 관해, 판정 정밀도를 향상시킬 수 있다는 효과를 이룬다.
수광기(10)는, 제2 판정부(130)에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에서의 출력을 기억부(200)(특히, 출력 데이터 테이블(210))에 격납한 격납부(140)를 또한 구비하고 있다.
상기한 구성에 의하면, 수광기(10)는, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한 수광 가능 기간(Ts)에서의 출력을, 출력 데이터 테이블(210)에 격납한다. 따라서 수광기(10)는, 유저에게, 전기 노이즈가 발생한 때의 수광 소자(11)의 출력을 확인시킬 수 있다는 효과를 이룬다.
수광기(10)는, 제2 판정부(130)에 의해, (1) 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우와, (2) 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우를 구별하여 유저에게 통지하는 통지부(300)를 또한 구비하고 있다.
상기한 구성에 의하면, 수광기(10)는, (1) 전기 노이즈가 발생한 경우와, (2) 외란광 노이즈가 발생한 경우를 구별하여 유저에게 통지한다.
따라서 수광기(10)는, 유저에게, 수광 소자(11)의 이상 출력의 원인이, 전기 노이즈에 의한 것인지, 또는, 외란광 노이즈에 의한 것인지를, 통지할 수 있다는 효과를 이룬다.
수광기(10)는, 제2 판정부(130)에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우, 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하는 필터부(160)를 또한 구비하고 있다.
상기한 구성에 의하면, 수광기(10)는, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하면, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거한다. 따라서 수광기(10)는, 전기 노이즈가 발생하여 수광 소자(11)의 출력이 이상(異常)으로 된 경우, 그 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하여, 수광 소자(11)의 출력을 정상 상태로 복귀시킬 수 있다는 효과를 이룬다.
다광축 광전 센서(1)는, 수광기(10)를 포함하고 있다. 상기한 구성에 의하면, 다광축 광전 센서(1)는, (1) 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각의 출력에 이상이 있으면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 다광축 광전 센서(1)는, (2) 출력에 이상이 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
따라서 다광축 광전 센서(1)는, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인에 관해, 전기 노이즈의 발생과 외란광 노이즈의 발생을 구별할 수 있다는 효과를 이룬다.
다광축 광전 센서(1)(특히, 수광기(10))에 관해, 지금까지 개요를 설명하였기 때문에, 이하에서는, 도 1 등을 참조하여, 다광축 광전 센서(1)의 수광기(10)의 상세를 설명하여 간다.
(다광축 광전 센서의 상세)
도 1은, 수광기(10)의 주요부 구성을 도시하는 기능 블록도이다. 또한, 본 실시 형태에 직접 관계가 없는 부분(예를 들면, 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각을, 복수의 투광 기간(Te)의 각각에 동기시켜서, 서로 중복되지 않도록 1수광 주기(Tc) 중에 순차적으로 배치하는 구성 등)에 관해서는, 이하의 설명 및 상기 블록도로부터 생략하고 있다. 단, 실시의 실정에 따라, 수광기(10)는, 당해 생략한 구성을 포함하여도 좋다.
수광기(10)는, 수광기(10)의 각 부분을 통괄하여 제어하는 제어부(100), 수광기(10)가 사용하는 각종 데이터를 기억하는 기억부(200), 및, 제어부(100)에 의해 판정된 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인」을 유저에게 통지하는 통지부(300)를 구비한다.
(기억부 이외의 기능 블록의 상세)
통지부(300)는, 제어부(100)(특히, 통지 제어부(150))에 제어되어, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을, 구체적으로는, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이, 전기 노이즈(외란 전압)인지, 또는, 외란광인가」를 구별하여 유저에게 통지한다. 통지부(300)는, 예를 들면, LED(Light Emission Diode)에 의해 실현되는 표시등(통지 램프)이고, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 전기 노이즈이다」라고 점멸 점등하고, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 외란광이다」라고 비점멸 점등한다. 또한, 통지부(300)는, 예를 들면 3색 LED에 의해 실현되고, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이, 전기 노이즈인지, 또는, 외란광인지」를, 점등색에 의해 구별하여, 유저에게 통지하여도 좋다. 통지부(300)는, 「수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이, 전기 노이즈인지, 또는, 외란광인지」를 구별하여 유저에게 통지할 수 있으면 좋고, 양자를 구별하여 유저에게 통지하는 방법은 특히 한정되지 않는다.
제어부(100)는, 수광기(10)가 실행하는 처리를 통괄하여 제어하는 것이다. 도시한 제어부(100)에는, 기능 블록으로서, 수광 소자 출력 취득부(110), 제1 판정부(120), 제2 판정부(130), 격납부(140), 및, 통지 제어부(150), 및, 필터부(160)가 포함되어 있다. 상술한 제어부(100)의 각 기능 블록은, 예를 들면, CPU(Central Processing Unit) 등이, ROM(Read Only Memory), NVRAM(Non-Volatile Random Access Memory) 등으로 실현된 기억 장치(기억부(200))에 기억되어 있는 프로그램을 부도시한 RAM(Random Access Memory) 등에 판독하여 실행함으로써 실현할 수 있다. 이하, 상세를 설명한다.
수광 소자 출력 취득부(110)는, 복수의 수광 소자(11)의 각각으로부터, 1수광 주기(Tc) 내에 순차적으로 배치된 각각의 수광 가능 기간(Ts)에서의 출력을 취득하고, 특히, 각각의 이상 검출 기간(Td)에서의 출력을 취득한다. 「이상 검출 기간(Td)」이란, 「수광 가능 기간(Ts) 중의, 대응하는 투광 기간(Te)을 제외한 기간」이고, 예를 들면, 「수광 가능 기간(Ts)의 시작부터, 대응하는 투광 기간(Te)의 시작까지의 기간」이다.
수광 소자 출력 취득부(110)는, 예를 들면, 수광 소자(11(1))의 이상 검출 기간(Td(1))에서의 출력, 수광 소자(11(2))의 이상 검출 기간(Td(2))에서의 출력, 수광 소자(11(3))의 이상 검출 기간(Td(3))에서의 출력을 취득한다. 마찬가지로, 수광 소자 출력 취득부(110)는, 예를 들면, 수광 소자(11(n))의 이상 검출 기간(Td(n))에서의 출력을 취득한다. 그리고, 수광 소자 출력 취득부(110)는, 모든 수광 소자(11)의 각각으로부터 취득한 「이상 검출 기간(Td)에서의 출력」을, 즉, 1수광 주기(Tc) 내에서의 모든 수광 가능 기간(Ts)(이상 검출 기간(Td))의 각각에서의 출력을, 제1 판정부(120)에 통지한다.
제1 판정부(120)는, 1수광 주기(Tc) 내에서의 모든 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 「출력 이상이 발생하고 있는지」를 판정하고, 판정 결과를 제2 판정부(130)에 통지한다. 제1 판정부(120)는, 「이상 검출 기간(Td)에서의 수광 소자(11)의 출력」이 소정치를 초과하고 있다고 판정하면, 그 이상 검출 기간(Td)에 대응하는 수광 가능 기간(Ts)에 출력 이상이 발생하고 있다고 판정한다.
제1 판정부(120)는, 예를 들면, 수광 소자 출력 취득부(110)에서 취득한, 1수광 주기(Tc) 내에서의 모든 「이상 검출 기간(Td)에서의 출력『의 각각에 관해, 소정치를 초과하는지를 판정하고, 판정 결과를 제2 판정부(130)에 통지한다. 구체적으로는, 제1 판정부(120)는, 수광 소자(11(1))의 이상 검출 기간(Td(1))에서의 출력, 수광 소자(11(2))의 이상 검출 기간(Td(2))에서의 출력, 수광 소자(11(3))의 이상 검출 기간(Td(3))에서의 출력의 각각이, 소정치를 초과하는지를 판정한다. 마찬가지로, 제1 판정부(120)는, 수광 소자(11(n))의 이상 검출 기간(Td(n))에서의 출력이 소정치를 초과하는지를 판정한다. 제1 판정부(120)는, 수광 소자(11(m))의 이상 검출 기간(Td(m))에서의 출력이 소정치를 초과한다고 판정하면, 이상 검출 기간(Td(m))에 대응하는 수광 가능 기간(Ts(m))에 출력 이상이 발생하고 있다고 판정한다.
또한, 제1 판정부(120)는, 「출력 이상이 발생하였다」고 판정한 이상 검출 기간(Td)에 관해, 그 이상 검출 기간(Td)에 대응하는 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력을, 격납부(140)에 통지한다. 제1 판정부(120)는, 수광 소자(11(m))의 이상 검출 기간(Td(m))에서의 출력이 소정치를 초과한다고 판정하면, 이상 검출 기간(Td(m))에 대응하는 수광 가능 기간(Ts(m))에서의 수광 소자(11(m))의 출력을, 격납부(140)에 통지한다.
제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에 관해, 그 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하고, 판정 결과를 통지 제어부(150) 및 필터부(160)에 통지한다. 제2 판정부(130)는, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인에 관한 판정 결과를, 또한 격납부(140)에 통지하여도 좋다.
제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에 복수 존재하고, 또한, 그들의 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하고 있으면(연속해서 있으면), 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 즉, 제2 판정부(130)는, (1) 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 제1 판정부(120)에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에 하나만 존재하면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에 복수 존재하고, 또한, 그들의 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 즉, 제2 판정부(130)는, (2) 제1 판정부(120)에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
예를 들면, 제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「이상 검출 기간(Td(m))에서의 수광 소자(11(m))의 출력이 소정치보다도 크다(=수광 가능 기간(Ts(m))에서 출력 이상이 발생하였다)」라고 판정되면, 이하의 처리를 실행한다. 즉, 제2 판정부(130)는, 「이상 검출 기간(Td)(m+1)에서의 수광 소자(11)(m+1)의 출력」 및 「이상 검출 기간(Td)(m-1)에서의 수광 소자(11)(m-1)의 출력」의 적어도 일방이, 제1 판정부(120)에 의해 소정치보다도 크다고 판정되어 있는지를, 판정한다. 환언하면, 제2 판정부(130)는, 「제1 판정부(120)에 의해, 『수광 가능 기간(Ts)(m+1) 및 수광 가능 기간(Ts)(m-1)의 적어도 일방에서 출력 이상이 발생하였다』고, 판정되어 있는지」를 판정한다.
제1 판정부(120)에 의해, 「수광 가능 기간(Ts(m))에서의 출력 이상 발생」과 「수광 가능 기간(Ts)(m+1) 및 수광 가능 기간(Ts)(m-1)의 적어도 일방에서의 출력 이상 발생」이 판정되면, 제2 판정부(130)는 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 제1 판정부(120)에 의해, 「수광 가능 기간(Ts(m))에서의 출력 이상」과 「수광 가능 기간(Ts)(m+1) 및 수광 가능 기간(Ts)(m-1)에서의 출력 이상의 불발생」이 판정되면, 제2 판정부(130)는 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
제2 판정부(130)는, 출력 이상의 원인에 관한 판정 결과를, 통지 제어부(150)에 통지한다. 또한, 제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된, 「1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)에서의 출력」을, 필터부(160) 및 격납부(140)에 통지한다.
예를 들면, 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts(m)와 Ts(m+1))이 함께 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정되면, 제2 판정부(130)는, 「전기 노이즈가 발생하였다」의 판정 결과를, 통지 제어부(150)에 통지한다. 또한, 제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된, 「수광 가능 기간(Ts(m) 및 Ts(m+1))의 각각에서의 출력」을, 필터부(160) 및 격납부(140)에 통지한다.
격납부(140)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력을, 출력 데이터 테이블(210)에 격납한다. 특히, 격납부(140)는, 제2 판정부(130)에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에서의 출력을 기억부(200)에 격납한다.
예를 들면, 제1 판정부(120)에 의해 「수광 소자(11(m))의 이상 검출 기간(Td(m))에서의 출력이 소정치를 초과한다」고 판정되고, 그 원인이 전기 노이즈에 있다고 제2 판정부(130)에 의해 판정되면, 격납부(140)는 이하의 처리를 실행한다. 즉, 격납부(140)는, 수광 가능 기간(Ts(m))에서의 수광 소자(11(m))의 출력을, 출력 데이터 테이블(210)에 격납한다. 또한, 격납부(140)는, 제2 판정부(130)에 의해 외란광이 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에서의 출력에 대해서도, 기억부(200)에 격납하여도 좋다.
통지 제어부(150)는, 통지부(300)를 제어하여, 제2 판정부(130)에 의해 판정된 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을, 유저에게 통지시킨다. 통지 제어부(150)는, 통지부(300)에, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 전기 노이즈에 있는지, 또는, 외란광 노이즈에 있는지를, 유저에게 통지시킨다.
필터부(160)는, 제2 판정부(130)에서 「전기 노이즈가 발생하였다」는 판정 결과가 통지되면, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하고, 전기 노이즈 제거 후의 수광 소자(11)의 출력 신호를 외부 장치 등에 출력한다.
예를 들면, 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts(m)와 Ts(m+1))이 함께 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정되면, 제2 판정부(130)는, 「전기 노이즈가 발생하였다」고 판정한다. 그리고, 제2 판정부(130)는, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된, 「수광 가능 기간(Ts(m) 및 Ts(m+1))의 각각에서의 출력」을, 필터부(160)에 통지한다. 필터부(160)는, 예를 들면, 수광 가능 기간(Ts(m) 및 Ts(m+1))의 각각의 이상 검출 기간(Td(m) 및 Td(m+1))에서의 출력으로부터, 발생하고 있는 전기 노이즈를 특정한다. 그리고, 필터부(160)는, 특정한 전기 노이즈를, 수광 가능 기간(Ts(m) 및 Ts(m+1))의 각각에서의 출력으로부터 제거한다. 또한, 필터부(160)는 주지의 소프트 필터를 이용하여 실현할 수 있기 때문에, 필터부(160)가 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하는 방법 등에 관해, 상세는 약기한다.
(기억부의 상세)
기억부(200)는, 수광기(10)가 사용하는 각종 데이터(예를 들면, 외부의 설정 장치(툴)에 의해 설정 및 조정된, 다광축 광전 센서(1)의 동작에 필요한 프로그램 및 각종 파라미터)를 격납하는 것이다. 기억부(200)는, 수광기(10)의 제어부(100)가 실행하는 (1) 제어 프로그램, (2) OS 프로그램, (3) 각종 기능을 실행하기 위한 응용 프로그램, 및, (4) 그 응용 프로그램을 실행할 때에 판독하는 각종 데이터를 기억하는 것이다. 또한 기억부(200)에는 출력 데이터 테이블(210)가 격납되어 있고, 상세는 후술한다. 상기한 (1)∼(4)의 데이터는, 예를 들면, ROM(Read Only Memory), 플래시 메모리, EPROM(Erasable Programmable ROM), EEPROM(등록상표)(Electrically EPROM), HDD(Hard Disc Drive) 등의 불휘발성 기억 장치에 기억된다.
수광기(10)는, 도시하지 않은 일시 기억부를 구비하여도 좋다. 일시 기억부는, 수광기(10)가 실행하는 각종 처리의 과정에서, 연산에 사용하는 데이터 및 연산 결과 등을 일시적으로 기억하는 이른바 워킹 메모리이고, RAM(Random Access Memory) 등의 휘발성 기억 장치로 구성된다. 어느 데이터를 어느 기억 장치에 기억하는지에 관해서는, 수광기(10)의 사용 목적, 편리성, 비용, 또는 물리적인 제약 등으로부터 적절히 결정된다.
출력 데이터 테이블(210)에는, 제2 판정부(130)에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력이, 격납부(140)에 의해 격납된다. 또한, 출력 데이터 테이블(210)에는 또한, 제2 판정부(130)에 의해 외란광이 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력이, 격납되어도 좋다.
(수광 소자의 출력례)
이하, 도 4, 도 5, 및, 도 6을 이용하여, 노이즈(전기 노이즈 및 외란광)가 발생하지 않는 경우, 전기 노이즈가 발생하고 있는 경우, 및, 외란광이 발생하고 있는 경우의 각각에 관해, 수광 소자(11)의 출력에 관해, 설명하여 간다.
(노이즈가 발생하지 않는 경우)
도 4는, 노이즈(전기 노이즈 및 외란광)가 발생하지 않는 경우의, 수광 소자(11)의 출력을 설명하는 도면이다. 도 4의 (A)는, 1투광 주기 내에, 서로 중복되지 않도록 배치된, 복수의 투광 소자(21)의 각각의 투광 기간(Te)을 도시하고 있다. 도 4의 (B)는, 1투광 주기에서 복수의 수광 소자(11)의 각각이 수광하는 수광 신호의 이미지를 도시하고 있다. 노이즈(전기 노이즈 및 외란광)가 발생하지 않는 경우, 복수의 수광 소자(11)의 각각이 수광하는 수광 신호는, 도 4의 (A)에 예시한 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각에서 투광 소자(21(1)∼21(n))의 각각이 투광하는 광(광신호)와 동등하다.
도 4의 (C)는, 1수광 주기(Tc) 내에, 서로 중복되지 않도록 배치된, 복수의 광신호 접수 타이밍(=수광 가능 기간(Ts))를 도시하고 있고, 구체적으로는, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))를 도시하고 있다. 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각은, 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각에 대응시켜져 있고, 즉, 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각에 동기하고 있다. 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각은, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각에서, 투광 소자(21(1)∼21(n))의 각각이 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각에서 투광하는 광(광신호)을 수광한다. 도 4의 (D)는, 1수광 주기(Tc) 내에서, 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각이 출력하는 신호(수광 처리 신호)를 도시하고 있다. 도 4의 (D)에 도시하는 바와 같이, 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각은, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각에서 수광한 광(광신호)에 대응하는 신호(수광 처리 신호)를, 출력한다. 도 4의 (D)에서, 점선은, 다광축 광전 센서(1)(특히, 제1 판정부(120))가 출력 이상의 발생 유무를 판정하는 기준으로서의 「ON 임계치(소정치)」를 도시하고 있다.
수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각에는, 이상 검출 기간(Td(1)∼Td(n))이 설정되어 있고, 이상 검출 기간(Td(1)∼Td(n))의 각각은, 「수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각에서의, 투광 기간(Te(1)∼Te(n))의 각각을 제외한 기간」이다. 수광 소자(11)가 수광 신호의 피크를 검지하고 홀드하는 경우, 이상 검출 기간(Td)은, 「수광 가능 기간(Ts)의 시작부터, 대응하는 투광 기간(Te)의 시작까지의 기간」이다.
여기서, 제1 판정부(120)는, 「이상 검출 기간(Td)에서의 수광 소자(11)의 출력」이 ON 임계치(소정치)를 초과하고 있다고 판정하면, 그 이상 검출 기간(Td)에 대응하는 수광 가능 기간(Ts)에 출력 이상이 발생하고 있다고 판정한다. 도 4의 (D)에 도시하는 바와 같이, 노이즈(전기 노이즈 및 외란광)가 발생하지 않는 경우, 이상 검출 기간(Td(1)∼Td(n))의 각각에서 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각의 출력(수광 처리 신호)은, ON 임계치 이하로 되어 있다.
(전기 노이즈가 발생하고 있는 경우)
도 5는, 전기 노이즈가 발생하고 있는 경우의, 수광 소자(11)의 출력을 설명하는 도면이다. 도 5의 (A)는, 도 4의 (A)와 마찬가지이고, 1투광 주기 내에 배치된 투광 기간(Te(1)∼Te(n))를 도시하고 있다. 도 5의 (X)는 전기 노이즈의 이미지를 도시하고 있고, 도 5의 (B)는, 전기 노이즈가 발생하고 있는 경우에, 1투광 주기에서 복수의 수광 소자(11)의 각각이 수광하는 수광 신호의 이미지를 도시하고 있다. 도 5의 (B)에 도시하는 바와 같이, 전기 노이즈(외란 전압)가 중첩한 수광 신호의 이미지는, 도 4의 (B)에 도시한 「투광 소자(21)가 투광하는 광(광신호)의 미지」에 비교하여, 전기 노이즈의 신호가 중첩함에 의해, 신호가 굵어져 있다(폭이 굵게 되어 있다). 전기 노이즈(외란 전압)가 중첩한 수광 신호의 이미지는, 노이즈가 발생하지 않은 상황하에서 수광 소자(11)가 수광하는 수광 신호의 이미지(=도 4의 (B)의 이미지)와 비교하여, 신호를 나타내는 곡선의 폭이 굵게 되어 있다.
도 5의 (C)는, 도 4의 (C)와 마찬가지이고, 1수광 주기(Tc) 내에 배치된 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))을 도시하고 있다. 도 5의 (D)는, 전기 노이즈가 발생하고 있는 경우에, 1수광 주기(Tc) 내에서, 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각이 출력하는 신호(수광 처리 신호)를 도시하고 있다. 도 4의 (D) 및 도 5의 (D)는 함께, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각에서 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각이 수광한 광에 대응하는 신호이지만, 도 5의 (D)에 도시하는 신호는, 도 4의 (D)에 도시하는 신호에 비하여 이하의 점에서 다르다.
즉, 도 5의 (D)의 「수광 가능 기간(Ts)의 시작부터, 대응하는 투광 기간(Te)의 시작까지의 기간(=이상 검출 기간(Td))」에서의 수광 처리 신호는, 도 4의 (D)의 이상 검출 기간(Td)에서의 수광 처리 신호에 비하여, 전기 노이즈의 부분만 출력치가 크다. 도 5의 (D)에서, 이상 검출 기간(Td(1)∼Td(n))의 각각에서의 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각의 출력(수광 처리 신호)은, 점선으로 도시한 「ON 임계치(소정치)」보다도 크다.
다광축 광전 센서(1)의 개발자는, 전기 노이즈가 있으면, 「이상 검출 기간(Td)에서의 수광 처리 신호의 증대(=수광 소자(11)가 출력하는 신호가 커진다는 현상)가, 많은 광축에서 발생하는」것을 발견하였다. 즉, 전기 노이즈가 있으면, 모든 광축에서 발생한다고는 한하지 않지만, 많은 광축에서, 「이상 검출 기간(Td)에서의 수광 처리 신호의 값이 커진다」는 현상이 발생하는 것을, 다광축 광전 센서(1)의 개발자는 발견하였다.
그래서, 다광축 광전 센서(1)는, 「1수광 주기(Tc) 내에 배치되어 있는 복수의 연속하는 이상 검출 기간(Td)에서, 수광 처리 신호의 증대가 발생하고 있면」, 「전기 노이즈가 발생하고 있다」고 판정한다. 즉, 다광축 광전 센서(1)는, 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 복수의 수광 가능 기간(Ts)의 각각의 이상 검출 기간(Td)에서의 수광 처리 신호(수광 소자(11)의 출력)가 ON 임계치(소정치)보다도 크면, 「전기 노이즈가 발생하고 있다」고 판정한다.
(외란광이 발생하고 있는 경우)
도 6은, 외란광이 발생한 경우의, 수광 소자(11)의 출력을 설명하는 도면이다. 도 6의 (A)는, 도 4의 (A) 및 도 5의 (A)와 마찬가지이고, 1투광 주기 내에 배치된 투광 기간(Te(1)∼Te(n))를 도시하고 있다. 도 6의 (Y)는 외란광(광 노이즈)의 이미지를 도시하고 있고, 도 6의 (B)는, 외란광이 발생한 경우에, 1투광 주기에서 복수의 수광 소자(11)의 각각이 수광하는 수광 신호의 이미지를 도시하고 있다.
도 6의 (B)에 도시하는 바와 같이, 도 6의 (Y)의 외란광이 중첩한 부분에서의 수광 신호의 이미지는, 도 4의 (B)에 도시한 「투광 소자(21)가 투광하는 광(광신호)의 이미지」에 비하여, 신호의 값이 크게 되어 있다. 또한, 도 6의 (Y)의 외란광이 중첩한 부분 이외의 부분에서의 수광 신호의 이미지는, 도 4의 (B)에 도시한 「투광 소자(21)가 투광하는 광(광신호)의 이미지」와 마찬가지이다. 즉, 외란광이 발생한 경우, 외란광 발생 시점의 수광 신호(외란광이 중첩한 부분에서의 수광 신호)만이 변화하고(구체적으로는, 수광 신호가 커지고), 그 밖의 시점의 수광 신호에는 외란광의 영향이 나타나지 않는다.
도 6의 (C)는, 도 4의 (C) 및 도 5의 (C)와 마찬가지이고, 1수광 주기(Tc) 내에 배치된 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))를 도시하고 있다. 도 6의 (D)는, 외란광이 발생한 경우에, 1수광 주기(Tc) 내에서, 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각이 출력하는 신호(수광 처리 신호)를 도시하고 있다. 도 4의 (D) 및 도 5의 (6)은 함께, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))의 각각에서 수광 소자(11(1)∼11(n))의 각각이 수광한 광에 대응하는 신호이지만, 도 6의 (D)에 도시하는 신호는, 도 6의 (D)에 도시하는 신호에 비하여 이하의 점에서 다르다.
즉, 도 6의 (D)의 「이상 검출 기간(Td(3))(=수광 가능 기간(Ts(3))의 시작부터 투광 기간(Te(3))의 시작까지의 기간)」에서의 수광 처리 신호는, 도 4의 (D)의 이상 검출 기간(Td(3))에서의 수광 처리 신호에 비하여, 외란광의 부분만 출력치가 크다. 도 6의 (D)의 이상 검출 기간(Td(3))에서의 수광 처리 신호는, 이상 검출 기간(Td(3))에서 발생한 외란광이 중첩함에 의해, 도 4의 (D)의 이상 검출 기간(Td(3))에서의 수광 처리 신호에 비하여, 중첩하고 있는 외란광의 분만큼 신호의 크기가 크다. 도 6의 (D)에서, 외란광이 발생한 이상 검출 기간(Td(3))에서의 수광 소자(11(3))의 출력(수광 처리 신호)만이, 점선으로 도시한 「ON 임계치(소정치)」보다도 크고, 다른 이상 검출 기간(Td)에서의 출력은 「ON 임계치」 이하이다.
다광축 광전 센서(1)에서, 복수의 수광 소자(11)의 각각은 각각의 수광 가능 기간(Ts)에서만 수광 처리를 실행하고, 즉, 복수의 수광 소자(11(1)∼11(n))는, 각각, 수광 가능 기간(Ts(1)∼Ts(n))에서만 수광 처리를 실행한다. 어느 수광 가능 기간(Ts) 중에 (특히, 어느 이상 검출 기간(Td) 중에) 외란광이 발생하면, 그 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력만이 커지고, 다른 수광 가능 기간(Ts)에서의 수광 소자(11)의 출력은 변화하지 않는다. 그때문에, 「외란광에 기인하는 출력 이상인 경우, 출력 이상(「이상 검출 기간(Td)에서의 수광 처리 신호의 값이 커진다」는 현상)이 발생한 광축은, 연속하지 않는」다는 경향을, 다광축 광전 센서(1)의 개발자는 발견하였다.
그래서, 다광축 광전 센서(1)는, 「출력(수광 처리 신호)이 ON 임계치(소정치)보다 큰 이상 검출 기간(Td)(=출력 이상이 발생한 수광 가능 기간(Ts))이, 1수광 주기(Tc) 내에서 연속하지 않으면」, 「외란광이 발생하였다」고 판정한다.
도 4, 도 5, 및, 도 6을 이용하여 설명하여 온 바와 같이, 노이즈(전기 노이즈 및 외란광)가 발생하지 않는 경우와, 전기 노이즈가 발생하고 있는 경우와, 외란광이 발생하고 있는 경우에서, 수광 소자(11)의 출력(특히, 이상 검출 기간(Td)에서의 출력)은 다르다. 그래서, 다광축 광전 센서(1)(특히, 수광기(10))는, 이 차이를 이용하여, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 원인 판정 처리를 실행한다. 이하, 도 7을 이용하여, 수광기(10)가 실행하는 원인 판정 처리에 관해 설명하여 간다.
§3. 동작례
도 7은, 수광기(10)가 실행하는 노이즈 원인 판정 처리(수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 처리)의 개요를 도시하는 플로우도이다. 우선, 제1 판정부(120)는, 1수광 주기(Tc) 내에서의 모든 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 「출력 이상이 발생하고 있는지」를 판정한다(S100). 제1 판정부(120)는, 1수광 주기(Tc)(=1투광 주기) 내에서의 모든 이상 검출 기간(Td)의 각각에 관해, 「이상 검출 기간(Td)에서의 수광 소자(11)의 출력이 소정치보다도 큰지」를 판정한다. 그리고, 이상 검출 기간(Td(m))에서의 수광 소자(11(m))의 출력이 소정치보다도 크면, 제1 판정부(120)는, 이상 검출 기간(Td(m))에 대응하는 수광 가능 기간(Ts(m))에 관해, 「출력 이상이 발생하고 있다」고 판정한다. 또한, 전술한 바와 같이, 이상 검출 기간(Td(m))는○ 「수광 가능 기간(Ts(m))에서의, 투광 기간(Te(m))을 제외한 기간」이고, 예를 들면, 「수광 가능 기간(Ts(m))의 시작부터, 투광 기간(Te)(M)의 시작까지의 기간」이다.
제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 출력 이상이 발생하고 있는지」를 판정한다(S110). 구체적으로는, 제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts(m)와 Ts(m+1))이 함께, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하고 있다」고 판정되는지의 여부」를 확인한다. 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts(m)와 Ts(m+1))이 함께, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하고 있다」고 판정되어 있으면(S110에서 Yes), 제2 판정부(130)는, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다(S120).
제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 양방에 관해, 출력 이상이 발생하고 있는 것은 않으」면(S110에서 No), 제2 판정부(130)는, 다시 이하의 판정을 행한다. 즉, 제2 판정부(130)는, 「출력 이상이 발생하고 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않는지」를 판정한다(S130).
제2 판정부(130)는, 「출력 이상이 발생하고 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으」면(S130에서 Yes), 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다(S140). 예를 들면, 제1 판정부(120)에 의해, 「수광 가능 기간(Ts(m))에 출력 이상이 발생하고 있고, 또한, 수광 가능 기간(Ts(m+1) 및 Ts(m-1))에는 출력 이상이 발생하지 않다」고 판정되면, 제2 판정부(130)는 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
즉, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에 하나만(예를 들면, 수광 가능 기간(Ts(m))만)이면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
또한, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에 복수 있지만, 그들 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하지 않으면, 제2 판정부(130)는, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 예를 들면, 제1 판정부(120)에 의해, 「수광 가능 기간(Ts(m)) 및 Ts(m+p)에 출력 이상이 발생하고 있지만, 수광 가능 기간(Ts(m+1) 및 Ts(m-1))에는 출력 이상이 발생하지 않는다」고 판정되면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 「p」는 「2 이상의 정수」로 한다.
제2 판정부(130)는, 「출력 이상이 발생하고 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에 없으」면(S130에서 No), 출력 이상 없음으로 판정한다(S150). 즉, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하였다」고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이 1수광 주기(Tc) 내에 없으면, 제2 판정부(130)는, 출력 이상 없음으로 판정한다.
지금까지 도 7을 이용하여 설명하여 온 바와 같이, 수광기(10)가 실행하는 원인 판정 처리는, 다광축 광전 센서(1)에서의 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 수광기(10)(판정 장치)의 제어 방법이다. 원인 판정 처리는, 서로 중복되지 않도록 1수광 주기(Tc)(1주기) 내에 배치된, 복수의 수광 소자(11)의 각각의 수광 가능 기간(Ts)에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정 스텝(S100)과, (1) 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정되면(S110에서 Yes), 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고(S120), (2) 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정된 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면(S130에서 Yes), 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는(S140) 제2 판정 스텝을 포함한다.
상기한 구성에 의하면, 수광기(10)가 실행하는 원인 판정 처리는, (1) 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각에서 출력에 이상이 있으면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 수광기(10)가 실행하는 원인 판정 처리는, (2) 출력에 이상이 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
따라서 수광기(10)가 실행하는 원인 판정 처리는, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인에 관해, 전기 노이즈의 발생과 외란광 노이즈의 발생을 구별할 수 있다는 효과를 이룬다.
§4. 변형례
(출력 이상의 원인 판정 방법에 관해)
지금까지, 제2 판정부(130)가, 「1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 관해, 출력 이상이 발생하고 있으」면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하는 예를 설명하여 왔다. 즉, 1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts(m)와 Ts(m+1))이 함께, 제1 판정부(120)에 의해 「출력 이상이 발생하고 있다」고 판정되어 있으면, 제2 판정부(130)는, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하는 예를 설명하여 왔다. 그리고, 지금까지 설명하여 온 예에서는, 제2 판정부(130)는, 「출력 이상이 발생하고 있는 수광 가능 기간(Ts)이, 1수광 주기(Tc) 내에, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으」면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
환언하면, 1수광 주기(Tc) 내에서의 어느 하나의 수광 가능 기간(Ts)에 출력 이상이 발생한 경우, 지금까지 설명하여 온 제2 판정부(130)는, 이하의 기준에 의해, 출력 이상의 원인을 판정하였다. 즉, 「p=2」로 하여, 제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서의 연속하는 p개의 수광 가능 기간(Ts)의 전부에 출력 이상이 발생하였는지」에 의해, 출력 이상의 원인을 판정하였다.
그렇지만, 「p」는 「2 이상의 정수(整數)」라면 좋고, 「p=2」라는 것은, 다광축 광전 센서(1)에 있어서, 특히 제어부(100)에서, 필수는 아니다. 「p」를 「2 이상의 정수」로 하여, 제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서 연속하는 p개의 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 출력 이상이 발생한」 경우, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하여도 좋다. 제2 판정부(130)는, 1수광 주기(Tc) 내에서의 어느 하나의 수광 가능 기간(Ts)에 출력 이상이 발생한 경우에도, 「1수광 주기(Tc) 내에서 연속하는 p개의 수광 가능 기간(Ts)의 전부에 출력 이상이 발생하는 것은 아닌」 경우, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하여도 좋다.
또한, 「p」는 유저가 설정할 수 있어도 좋고, 제2 판정부(130)는, 유저가 설정한 p를 이용하여, 「1수광 주기(Tc) 내에서의 연속하는 p개의 수광 가능 기간(Ts)의 각각에 출력 이상이 발생하였는」지의 여부에 의해, 출력 이상의 원인을 판정하여도 좋다.
예를 들면, 「p=3」이라고 하면, 제2 판정부(130)는, 이하의 판정을 실행한다. 즉, 제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서 이웃하는 수광 가능 기간(Ts(m), Ts(m+1), 및, Ts(m+2))이 전부, 제1 판정부(120)에 의해 『출력 이상이 발생하고 있다』고 판정되면」, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 「제1 판정부(120)가, 수광 가능 기간(Ts(m))에 관해, 『출력 이상이 발생하고 있다』고 판정하고, 수광 가능 기간(Ts(m+1) 및 Ts(m+2))의 적어도 일방에 관해, 『출력 이상이 발생하지 않다』고 판정하면」, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
즉, 「p」를 「2 이상의 정수」로 하여, 제2 판정부(130)는, 「1수광 주기(Tc) 내에서의 연속하는 p개의 수광 가능 기간(Ts)의 전부에 출력 이상이 발생하고 있는지의 여부」에 의해, 발생한 출력 이상의 원인을 판정할 수 있으면 좋다.
(다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인 판정 장치에 관해)
지금까지, 수광기(10)가 제어부(100)를 구비하는 구성례에 관해 설명하여 왔다. 즉, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 원인 판정 처리를, 다광축 광전 센서(1)의 수광기(10)가 실행하는 예를, 지금까지 설명하여 왔다. 그렇지만, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치를, 수광기(10)에서 실현하는 것은 필수가 아니고, 즉, 제어부(100)를 구비하는 것이 수광기(10)인 것은 필수가 아니다. 원인 판정 처리는 다광축 광전 센서(1)의 외부에 있는, 컴퓨터 등의 장치가 실행하여도 좋다.
예를 들면, 다광축 광전 센서(1)에 통신 케이블을 통하여 접속하는 컴퓨터가 제어부(100)를 구비하고 있어도 좋다. 즉, 제어부(100)를 구비하는 컴퓨터가, 통신 케이블을 통하여, 다광축 광전 센서(1)(특히, 수광기(10))에서, 1수광 주기(Tc) 내의 복수의 수광 소자(11)의 각각의 출력을 취득하여, 출력 이상의 발생 유무 및 출력 이상의 원인을 판정하여도 좋다.
구체적으로는, 제어부(100)를 구비하는 프로그래머블·로직·컨트롤러(Programmable Logic Controller, PLC)가, 1수광 주기(Tc) 내의 복수의 수광 소자(11)의 각각의 출력을 취득하여, 출력 이상의 발생 유무 및 출력 이상의 원인을 판정하여도 좋다. 지금까지 설명하여 온 원인 판정 처리를 컴퓨터에 실행시키는 정보 처리 프로그램을, 컴퓨터에 판독시켜서, 도 1의 각 부분으로서 컴퓨터를 기능 시킴으로써, 컴퓨터에 의해, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치를 실현하여도 좋다. 또한, 그와 같은 정보 처리 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체로부터, 컴퓨터에, 그와 같은 정보 처리 프로그램을 판독시켜서, 컴퓨터에 의해, 수광 소자(11)의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치를 실현하여도 좋다.
[소프트웨어에 의한 실현례]
상술한 바와 같이, 제어부(100)의 제어 블록(특히, 수광 소자 출력 취득부(110), 제1 판정부(120), 제2 판정부(130), 격납부(140), 및, 통지 제어부(150))는, 집적회로(IC 칩) 등에 형성된 논리 회로(하드웨어)에 의해 실현하여도 좋고, 소프트웨어에 의해 실현하여도 좋다.
후자인 경우, 제어부(100)를 구비하는 컴퓨터는, 각 기능을 실현하는 소프트웨어인 프로그램의 명령을 실행하는 컴퓨터에 의해 실현하여도 좋다. 이 컴퓨터는, 예를 들면 하나 이상의 프로세서를 구비하고 있음과 함께, 상기 프로그램을 기억한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 구비하고 있다. 그리고, 상기 컴퓨터에서, 상기 프로세서가 상기 프로그램을 상기 기록 매체로부터 판독하여 실행함에 의해, 본 발명의 목적이 달성된다. 상기 프로세서로서는, 예를 들면 CPU(Central Processing Unit)를 이용할 수 있다. 상기 기록 매체로서는, 「일시적이 아닌 유형의 매체」, 예를 들면, ROM(Read Only Memory) 등 외에, 테이프, 디스크, 카드, 반도체 메모리, 프로그래머블 논리 회로 등을 이용할 수 있다. 또한, 상기 프로그램을 전개하는 RAM(Random Access Memory) 등을 또한 구비하고 있어도 좋다. 또한, 상기 프로그램은, 그 프로그램을 전송 가능한 임의의 전송 매체(통신 네트워크나 방송파 등)를 통하여 상기 컴퓨터에 공급되어도 좋다. 또한, 본 발명의 한 양태는, 상기 프로그램이 전자적인 전송에 의해 구현화된, 반송파에 매입된 데이터 신호의 형태라도 실현될 수 있다.
(정리)
본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치는, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치로서, 서로 중복되지 않도록 1주기 내에 배치된, 복수의 상기 수광 소자의 각각의 수광 가능 기간에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정부와, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 상기 제1 판정부에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 상기 제1 판정부에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정부를 구비하고 있다.
상기한 구성에 의하면, 상기 판정 장치는, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에서 출력에 이상이 있으면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 상기 판정 장치는, (2) 출력에 이상이 있는 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
따라서 상기 판정 장치는, 상기 수광 소자의 출력 이상의 원인에 관해, 전기 노이즈의 발생과 외란광 노이즈의 발생을 구별할 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치에서, 복수의 상기 수광 가능 기간의 각각은, 복수의 투광 기간의 각각에 대응시켜져 있고, 상기 제1 판정부는, 상기 1주기 내에서의 복수의 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 대응하는 상기 투광 기간을 제외한 기간에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정하여도 좋다.
상기한 구성에 의하면, 상기 판정 장치는, 복수의 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 대응하는 상기 투광 기간을 제외한 기간에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정한다. 여기서, 상기 투광 기간에 있어서, 상기 수광 소자가 대향하는 투광 소자로부터의 투광을 수광하기 때문에, 출력이 급격하게 커진다.
따라서 「상기 수광 가능 기간으로서, 대응하는 상기 투광 기간을 제외한 기간에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정함」에 의해, 상기 판정 장치는, 출력 이상의 발생 유무에 관해, 판정 정밀도를 향상시킬 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치는, 상기 제2 판정부에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간에서의 출력을 기억부에 격납하는 격납부를 또한 구비하여도 좋다.
상기한 구성에 의하면, 상기 판정 장치는, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한 수광 가능 기간에서의 출력을 기억부에 격납한다. 따라서 상기 판정 장치는, 유저에게, 전기 노이즈가 발생한 때의 상기 수광 소자의 출력을 확인시킬 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치는, 상기 제2 판정부에 의해, (1) 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우와, (2) 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우를 구별하여 유저에게 통지하는 통지부를 또한 구비하여도 좋다.
상기한 구성에 의하면, 상기 판정 장치는, (1) 전기 노이즈가 발생한 경우와, (2) 외란광 노이즈가 발생한 경우를 구별하여 유저에게 통지한다.
따라서 상기 판정 장치는, 유저에게, 상기 수광 소자의 이상 출력의 원인이, 전기 노이즈에 의한 것인지, 또는, 외란광 노이즈에 의한 것인지를, 통지할 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치는, 상기 제2 판정부에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우, 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하는 필터부를 또한 구비하여도 좋다.
상기한 구성에 의하면, 상기 판정 장치는, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하면, 상기 수광 소자의 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거한다.
따라서 상기 판정 장치는, 전기 노이즈가 발생하여 상기 수광 소자의 출력이 이상으로 된 경우, 그 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하여, 상기 수광 소자의 출력을 정상 상태로 복귀시킬 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명의 한 양태에 관한 다광축 광전 센서는, 본 발명의 한 양태에 관한 판정 장치를 포함하여도 좋다. 상기한 구성에 의하면, 상기 다광축 광전 센서는, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각의 출력에 이상이 있으면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 상기 다광축 광전 센서는, (2) 출력에 이상이 있는 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
따라서 상기 다광축 광전 센서는, 상기 수광 소자의 출력 이상의 원인에 관해, 전기 노이즈의 발생과 외란광 노이즈의 발생을 구별할 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명의 한 양태에 관한 제어 방법은, 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치의 제어 방법으로서, 서로 중복되지 않도록 1주기 내에 배치된, 복수의 상기 수광 소자의 각각의 수광 가능 기간에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정 스텝과, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정 스텝을 포함하고 있다.
상기한 구성에 의하면, 상기 제어 방법은, (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에서 출력에 이상이 있으면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정한다. 또한, 상기 제어 방법은, (2)출력에 이상이 있는 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정한다.
따라서 상기 제어 방법은, 상기 수광 소자의 출력 이상의 원인에 관해, 전기 노이즈의 발생과 외란광 노이즈의 발생을 구별할 수 있다는 효과를 이룬다.
본 발명은 상술한 각 실시 형태로 한정되는 것이 아니고, 청구항에 나타낸 범위에서 여러가지의 변경이 가능하고, 다른 실시 형태에 각각 개시된 기술적 수단을 적절히 조합시켜서 얻어지는 실시 형태에 대해서도 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.
1 : 다광축 광전 센서(판정 장치)
10 : 수광기(판정 장치)
11 : 수광 소자
20 : 투광기
21 : 투광 소자
120 : 제1 판정부
130 : 제2 판정부
140 : 격납부
160 : 필터부
200 : 기억부
300 : 통지부
Tc : 수광 주기(주기)
Te : 투광 기간
Ts : 수광 가능 기간
S100 : 제1 판정 스텝
S110 : 제2 판정 스텝
S130 : 제2 판정 스텝

Claims (9)

  1. 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치로서,
    서로 중복되지 않도록 1주기 내에 배치된, 복수의 상기 수광 소자의 각각의 수광 가능 기간에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정부와,
    (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 상기 제1 판정부에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 상기 제1 판정부에 의해 출력 이상이 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 판정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    복수의 상기 수광 가능 기간의 각각은, 복수의 투광 기간의 각각에 대응시켜져 있고,
    상기 제1 판정부는, 상기 1주기 내에서의 복수의 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 대응하는 상기 투광 기간을 제외한 기간에서의 출력이 소정치를 초과하면, 출력 이상이 발생하였다고 판정하는 것을 특징으로 하는 판정 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제2 판정부에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간에서의 출력을 기억부에 격납하는 격납부를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 판정 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제2 판정부에 의해, (1) 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우와, (2) 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우를 구별하여 유저에게 통지하는 통지부를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 판정 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제2 판정부에 의해 전기 노이즈가 발생하였다고 판정된 경우, 출력 이상의 원인이 되는 전기 노이즈를 제거하는 필터부를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 판정 장치.
  6. 제1항에 기재된 판정 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서.
  7. 다광축 광전 센서에서의 수광 소자의 출력 이상의 원인을 판정하는 판정 장치의 제어 방법으로서,
    서로 중복되지 않도록 1주기 내에 배치된, 복수의 상기 수광 소자의 각각의 수광 가능 기간에 관해, 출력 이상이 발생하였는지를 판정하는 제1 판정 스텝과,
    (1) 상기 1주기 내에서 이웃하는 상기 수광 가능 기간의 각각에 관해, 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정되면, 전기 노이즈가 발생하였다고 판정하고, (2) 상기 제1 판정 스텝에서 출력 이상이 발생하였다고 판정된 상기 수광 가능 기간이, 상기 1주기 내에서, 하나 또는, 복수 존재하지만 이웃하지 않으면, 외란광 노이즈가 발생하였다고 판정하는 제2 판정 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  8. 제1항에 기재된 판정 장치로서 컴퓨터를 기능시키기 위한 정보 처리 프로그램으로서, 상기 각 부로서 컴퓨터를 기능시키기 위한 것을 특징으로 하는 정보 처리 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
  9. 삭제
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