KR102225477B1 - Method for manufacturing a light emitting diode chip and a light emitting diode chip - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 충분한 휘도를 얻을 수 있는 발광 다이오드 칩의 제조 방법 및 발광 다이오드 칩을 제공하는 것을 목적으로 한다.
발광 다이오드 칩의 제조 방법으로서, 결정 성장용의 투명 기판 상에 발광층을 포함하는 복수의 반도체층이 형성된 적층체층을 가지며, 상기 적층체층의 표면에 서로 교차하는 복수의 분할 예정 라인에 의해 구획된 각 영역에 각각 LED 회로가 형성된 웨이퍼를 준비하는 웨이퍼 준비 공정과, 투명 기판의 표면에 상기 웨이퍼의 각 LED 회로에 대응하여 복수의 홈을 형성하는 투명 기판 가공 공정과, 상기 투명 기판 가공 공정을 실시한 후, 상기 웨이퍼의 이면에 상기 투명 기판의 표면을 첩착시켜 일체화 웨이퍼를 형성하는 일체화 공정과, 상기 웨이퍼를 상기 분할 예정 라인을 따라 상기 투명 기판과 함께 절단하여 상기 일체화 웨이퍼를 개개의 발광 다이오드 칩으로 분할하는 분할 공정을 포함한 것을 특징으로 한다.
An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a light emitting diode chip and a light emitting diode chip capable of obtaining sufficient luminance.
A method of manufacturing a light emitting diode chip, comprising a laminate layer in which a plurality of semiconductor layers including a light emitting layer are formed on a transparent substrate for crystal growth, and each partitioned by a plurality of scheduled division lines crossing each other on the surface of the laminate layer. After performing the wafer preparation process of preparing a wafer in which each LED circuit is formed in the region, a transparent substrate processing process of forming a plurality of grooves corresponding to each LED circuit of the wafer on the surface of the transparent substrate, and the transparent substrate processing process , An integrated process of forming an integrated wafer by attaching the surface of the transparent substrate to the rear surface of the wafer, and cutting the wafer along with the transparent substrate along the line to be divided to divide the integrated wafer into individual light emitting diode chips. It characterized in that it includes a dividing process.

Description

발광 다이오드 칩의 제조 방법 및 발광 다이오드 칩{METHOD FOR MANUFACTURING A LIGHT EMITTING DIODE CHIP AND A LIGHT EMITTING DIODE CHIP}Light emitting diode chip manufacturing method and light emitting diode chip {METHOD FOR MANUFACTURING A LIGHT EMITTING DIODE CHIP AND A LIGHT EMITTING DIODE CHIP}

본 발명은, 발광 다이오드 칩의 제조 방법 및 발광 다이오드 칩에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing a light emitting diode chip and a light emitting diode chip.

사파이어 기판, GaN 기판, SiC 기판 등의 결정 성장용 기판의 표면에 n형 반도체층, 발광층, p형 반도체층이 복수 적층된 적층체층이 형성되고, 이 적층체층과 교차하는 복수의 분할 예정 라인에 의해 구획된 영역에 복수의 LED(Light Emitting Diode) 등의 발광 디바이스가 형성된 웨이퍼는, 분할 예정 라인을 따라 절단되어 개개의 발광 디바이스 칩으로 분할되고, 분할된 발광 디바이스 칩은 휴대전화, 퍼스널 컴퓨터, 조명기기 등의 각종 전기기기에 널리 이용되고 있다.A laminate layer in which a plurality of n-type semiconductor layers, light emitting layers, and p-type semiconductor layers are stacked is formed on the surface of a crystal growth substrate such as a sapphire substrate, a GaN substrate, or a SiC substrate, and a plurality of division scheduled lines intersecting the laminate layer are formed. A wafer in which a plurality of light emitting devices such as LEDs (Light Emitting Diode) is formed in an area partitioned by the device is cut along a line to be divided and divided into individual light emitting device chips, and the divided light emitting device chips are mobile phones, personal computers, and It is widely used in various electric devices such as lighting equipment.

발광 디바이스 칩의 발광층으로부터 출사되는 광은 등방성을 갖고 있기 때문에, 결정 성장용 기판의 내부에도 조사되어 기판의 이면 및 측면으로부터도 광이 출사된다. 그러나, 기판의 내부에 조사된 광 중 공기층과의 계면에서의 입사각이 임계각 이상의 광은 계면에서 전반사되어 기판 내부에 가둬지고, 기판으로부터 외부로 출사되는 일이 없기 때문에 발광 디바이스 칩의 휘도의 저하를 초래한다고 하는 문제가 있다.Since the light emitted from the light emitting layer of the light emitting device chip has isotropic property, it is irradiated to the inside of the substrate for crystal growth, and light is also emitted from the back and side surfaces of the substrate. However, among the light irradiated to the inside of the substrate, light having an incidence angle greater than or equal to the critical angle at the interface with the air layer is totally reflected at the interface, trapped inside the substrate, and is not emitted from the substrate to the outside, thereby reducing the luminance of the light emitting device chip. There is a problem to cause.

이 문제를 해결하기 위해, 발광층으로부터 출사된 광이 기판의 내부에 가둬지는 것을 억제하기 위해서, 기판의 이면에 투명 부재를 첩착(貼着)시켜 휘도의 향상을 도모하도록 한 발광 다이오드(LED)가 일본 특허 공개 제2014-175354호 공보에 기재되어 있다.In order to solve this problem, in order to suppress the light emitted from the light-emitting layer from being trapped inside the substrate, a light-emitting diode (LED) is designed to improve luminance by attaching a transparent member to the back surface of the substrate. It is described in Japanese Patent Laid-Open No. 2014-175354.

[특허문헌 1] 일본 특허 공개 제2014-175354호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-175354

그러나, 특허문헌 1에 개시된 발광 다이오드에서는, 기판의 이면에 투명 부재를 첩착시킴으로써 휘도가 약간 향상되었지만 충분한 휘도를 얻을 수 없다고 하는 문제가 있다.However, in the light emitting diode disclosed in Patent Document 1, there is a problem that the luminance is slightly improved by attaching a transparent member to the back surface of the substrate, but a sufficient luminance cannot be obtained.

본 발명은 이러한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적으로 하는 바는, 충분한 휘도를 얻을 수 있는 발광 다이오드 칩의 제조 방법 및 발광 다이오드 칩을 제공하는 것이다.The present invention has been made in view of these points, and an object thereof is to provide a method of manufacturing a light emitting diode chip and a light emitting diode chip capable of obtaining sufficient luminance.

청구항 1에 기재된 발명에 따르면, 발광 다이오드 칩의 제조 방법으로서, 결정 성장용의 제1 투명 기판 상에 발광층을 포함하는 복수의 반도체층이 형성된 적층체층을 가지며, 상기 적층체층의 표면에 서로 교차하는 복수의 분할 예정 라인에 의해 구획된 각 영역에 각각 LED 회로가 형성된 웨이퍼를 준비하는 웨이퍼 준비 공정과, 제2 투명 기판의 표면에 상기 웨이퍼의 각 LED 회로에 대응하여 복수의 홈을 형성하는 투명 기판 가공 공정과, 상기 투명 기판 가공 공정을 실시한 후, 상기 웨이퍼의 이면에 상기 제2 투명 기판의 표면을 첩착시켜 일체화 웨이퍼를 형성하는 일체화 공정과, 상기 웨이퍼를 상기 분할 예정 라인을 따라 상기 제2 투명 기판과 함께 절단하여 상기 일체화 웨이퍼를 개개의 발광 다이오드 칩으로 분할하는 분할 공정을 포함한 것을 특징으로 하는 발광 다이오드 칩의 제조 방법이 제공된다.According to the invention of claim 1, a method of manufacturing a light emitting diode chip, comprising a laminate layer in which a plurality of semiconductor layers including a light emitting layer are formed on a first transparent substrate for crystal growth, and crossing each other on the surface of the laminate layer. A wafer preparation step of preparing a wafer in which LED circuits are formed in each area divided by a plurality of scheduled division lines, and a transparent substrate forming a plurality of grooves on the surface of a second transparent substrate corresponding to each of the LED circuits of the wafer After performing the processing step and the transparent substrate processing step, an integrated step of forming an integrated wafer by attaching the surface of the second transparent substrate to the back surface of the wafer, and the second transparent wafer along the line to be divided There is provided a method of manufacturing a light emitting diode chip comprising a dividing step of cutting the integrated wafer together with a substrate to divide the integrated wafer into individual light emitting diode chips.

바람직하게는, 투명 기판 가공 공정에서 형성되는 홈의 단면 형상은, 삼각 형상, 사각 형상, 또는 반원 형상 중 어느 하나이다. 바람직하게는, 투명 기판 가공 공정에서 형성되는 홈은, 절삭 블레이드, 에칭, 샌드 블라스트, 레이저 중 어느 하나로 형성된다.Preferably, the cross-sectional shape of the groove formed in the transparent substrate processing step is any one of a triangular shape, a square shape, or a semicircular shape. Preferably, the groove formed in the transparent substrate processing step is formed by any one of a cutting blade, etching, sand blast, and laser.

바람직하게는, 상기 제2 투명 기판은, 투명 세라믹스, 광학 유리, 사파이어, 투명 수지 중 어느 하나로 형성되고, 상기 일체화 공정에 있어서 상기 제2 투명 기판은 투명 접착제로 웨이퍼에 접착된다.Preferably, the second transparent substrate is formed of any one of transparent ceramics, optical glass, sapphire, and transparent resin, and in the integration step, the second transparent substrate is adhered to the wafer with a transparent adhesive.

청구항 5에 기재된 발명에 따르면, 발광 다이오드 칩으로서, 표면에 LED 회로가 형성된 발광 다이오드와, 상기 발광 다이오드의 이면에 첩착된 투명 부재를 구비하고, 상기 투명 부재의 상기 발광 다이오드와의 첩착면에는 홈이 형성되어 있는 발광 다이오드 칩이 제공된다.According to the invention as set forth in claim 5, the light emitting diode chip includes a light emitting diode having an LED circuit formed on a surface thereof, and a transparent member affixed to the back surface of the light emitting diode, and a groove on the adhesion surface of the transparent member to the light emitting diode A light emitting diode chip is provided.

본 발명의 발광 다이오드 칩은, LED의 이면에 첩착된 투명 부재의 표면에 홈이 형성되어 있기 때문에, 투명 부재의 표면적이 증대하는 것에 덧붙여, LED의 발광층으로부터 조사되어 투명 부재에 입사되는 광이 홈 부분에서 복잡하게 굴절되기 때문에, 투명 부재로부터 출사될 때에 투명 부재와 공기층과의 계면에서의 입사각이 임계각 이상인 광의 비율이 감소하고, 투명 부재로부터 출사되는 광의 양이 증대하여 발광 다이오드 칩의 휘도가 향상된다.In the light emitting diode chip of the present invention, since a groove is formed on the surface of the transparent member attached to the rear surface of the LED, in addition to increasing the surface area of the transparent member, light irradiated from the light emitting layer of the LED and incident on the transparent member is grooved. Due to the complicated refraction at the part, the ratio of light whose incident angle at the interface between the transparent member and the air layer is greater than or equal to the critical angle when emitted from the transparent member decreases, and the amount of light emitted from the transparent member increases, thereby improving the luminance of the LED chip. do.

도 1은 광 디바이스 웨이퍼의 표면측 사시도이다.
도 2의 (A)는 투명 기판 가공 공정을 도시한 사시도, 도 2의 (B)~도 2의 (D)는 형성된 홈 형상을 도시한 단면도이다.
도 3의 (A)는 표면에 제1 방향으로 신장되는 복수의 홈을 갖는 투명 기판을 웨이퍼의 이면에 첩착시켜 일체화하는 일체화 공정을 도시한 사시도, 도 3의 (B)는 일체화 웨이퍼의 사시도이다.
도 4는 제1 방향 및 제1 방향에 직교하는 제2 방향으로 신장되는 복수의 홈을 표면에 갖는 투명 기판을 웨이퍼의 이면을 첩착시켜 일체화하는 일체화 공정을 도시한 사시도이다.
도 5는 일체화 웨이퍼를 다이싱 테이프를 통해 환형 프레임으로 지지하는 지지 공정을 도시한 사시도이다.
도 6은 일체화 웨이퍼를 발광 다이오드 칩으로 분할하는 분할 공정을 도시한 사시도이다.
도 7은 분할 공정 종료 후의 일체화 웨이퍼의 사시도이다.
도 8의 (A)~도 8의 (C)는 본 발명 실시형태에 따른 발광 다이오드 칩의 사시도이다.
1 is a front perspective view of an optical device wafer.
Fig. 2A is a perspective view showing a process of processing a transparent substrate, and Figs. 2B to 2D are cross-sectional views showing a formed groove shape.
Fig. 3(A) is a perspective view showing an integration process in which a transparent substrate having a plurality of grooves extending in a first direction on its surface is adhered to the rear surface of the wafer to be integrated, and Fig. 3B is a perspective view of the integrated wafer. .
Fig. 4 is a perspective view showing an integration process in which a transparent substrate having a plurality of grooves on its surface extending in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction is attached to the rear surface of the wafer to be integrated.
5 is a perspective view showing a supporting process of supporting the integrated wafer with an annular frame through a dicing tape.
6 is a perspective view showing a dividing process of dividing the integrated wafer into light emitting diode chips.
7 is a perspective view of the integrated wafer after the dividing process is completed.
8A to 8C are perspective views of a light emitting diode chip according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시형태를 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도 1을 참조하면, 광 디바이스 웨이퍼(이하, 단순히 웨이퍼라고 약칭하는 경우가 있음)(11)의 표면측 사시도가 도시되어 있다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to Fig. 1, a perspective view on the front side of an optical device wafer (hereinafter, simply referred to as a wafer in some cases) 11 is shown.

광 디바이스 웨이퍼(11)는, 사파이어 기판(13) 상에 질화갈륨(GaN) 등의 에피택셜층(적층체층)(15)이 적층되어 구성되어 있다. 광 디바이스 웨이퍼(11)는, 에피택셜층(15)이 적층된 표면(11a)과, 사파이어 기판(13)이 노출된 이면(11b)을 갖고 있다.The optical device wafer 11 is formed by laminating an epitaxial layer (laminate layer) 15 such as gallium nitride (GaN) on a sapphire substrate 13. The optical device wafer 11 has a surface 11a on which the epitaxial layer 15 is laminated, and a rear surface 11b on which the sapphire substrate 13 is exposed.

여기서, 본 실시형태의 광 디바이스 웨이퍼(11)에서는, 결정 성장용 기판으로서 사파이어 기판(13)을 채용하고 있지만, 사파이어 기판(13) 대신에 GaN 기판 또는 SiC 기판 등을 채용하도록 하여도 좋다.Here, in the optical device wafer 11 of this embodiment, the sapphire substrate 13 is employed as the substrate for crystal growth, but instead of the sapphire substrate 13, a GaN substrate or a SiC substrate may be employed.

적층체층(에피택셜층)(15)은, 전자가 다수 캐리어가 되는 n형 반도체층(예컨대, n형 GaN층), 발광층이 되는 반도체층(예컨대, InGaN층), 정공이 다수 캐리어가 되는 p형 반도체층(예컨대, p형 GaN층)을 차례로 에피택셜 성장시킴으로써 형성된다.The laminate layer (epitaxial layer) 15 includes an n-type semiconductor layer (e.g., an n-type GaN layer) in which electrons become a majority carrier, a semiconductor layer (e.g., an InGaN layer) serving as a light-emitting layer, and p It is formed by sequentially epitaxially growing a type semiconductor layer (for example, a p-type GaN layer).

사파이어 기판(13)은 예컨대 100 ㎛의 두께를 갖고 있고, 적층체층(15)은 예컨대 5 ㎛의 두께를 갖고 있다. 적층체층(15)에 복수의 LED 회로(19)가 격자형으로 형성된 복수의 분할 예정 라인(17)에 의해 구획되어 형성되어 있다. 웨이퍼(11)는, LED 회로(19)가 형성된 표면(11a)과, 사파이어 기판(13)이 노출된 이면(11b)을 갖고 있다.The sapphire substrate 13 has a thickness of, for example, 100 µm, and the laminate layer 15 has a thickness of, for example, 5 µm. In the laminate layer 15, a plurality of LED circuits 19 are formed by being divided by a plurality of division scheduled lines 17 formed in a lattice shape. The wafer 11 has a front surface 11a on which the LED circuit 19 is formed and a rear surface 11b on which the sapphire substrate 13 is exposed.

본 발명 실시형태의 발광 다이오드 칩의 제조 방법에 따르면, 우선 도 1에 도시된 바와 같은 광 디바이스 웨이퍼(11)를 준비하는 웨이퍼 준비 공정을 실시한다. 또한, 웨이퍼(11)의 이면(11b)에 첩착하는 투명 기판(21)의 표면(21a)에 LED 회로(19)에 대응하여 복수의 홈을 형성하는 투명 기판 가공 공정을 실시한다.According to the manufacturing method of the light emitting diode chip of the embodiment of the present invention, first, a wafer preparation step of preparing the optical device wafer 11 as shown in FIG. 1 is performed. Further, a transparent substrate processing step of forming a plurality of grooves corresponding to the LED circuit 19 on the surface 21a of the transparent substrate 21 adhered to the rear surface 11b of the wafer 11 is performed.

이 투명 기판 가공 공정은, 예컨대 잘 알려져 있던 절삭 장치를 이용하여 실시한다. 도 2의 (A)에 도시된 바와 같이, 절삭 장치의 절삭 유닛(10)은, 스핀들 하우징(12)과, 스핀들 하우징(12) 중에 회전 가능하게 삽입된 도시하지 않은 스핀들과, 스핀들의 선단에 장착된 절삭 블레이드(14)를 포함하고 있다.This transparent substrate processing step is performed using, for example, a well-known cutting device. 2A, the cutting unit 10 of the cutting device includes a spindle housing 12, a spindle (not shown) rotatably inserted in the spindle housing 12, and a front end of the spindle. It includes a mounted cutting blade (14).

절삭 블레이드(14)의 절삭날은, 예컨대 다이아몬드 지립을 니켈 도금으로 고정시킨 전주(電鑄) 지석으로 형성되어 있고, 그 선단 형상은 삼각 형상, 사각 형상, 또는 반원 형상을 하고 있다.The cutting edge of the cutting blade 14 is formed of, for example, an electric pole grindstone in which diamond abrasive grains are fixed by nickel plating, and the tip shape thereof has a triangular shape, a square shape, or a semicircle shape.

절삭 블레이드(14)의 대략 상반부는 블레이드 커버(휠 커버)(16)로 덮여 있고, 블레이드 커버(16)에는 절삭 블레이드(14)의 깊이측 및 전방측에 수평으로 신장되는 한 쌍의(1개만 도시) 쿨러 노즐(18)이 배치되어 있다.The substantially upper half of the cutting blade 14 is covered with a blade cover (wheel cover) 16, and the blade cover 16 has a pair (only one) extending horizontally to the depth side and the front side of the cutting blade 14. Figure) A cooler nozzle 18 is disposed.

투명 기판(21)의 표면(21a)에 복수의 홈(23)을 형성하는 투명 기판 가공 공정에서는, 투명 기판(21)을 도시하지 않은 절삭 장치의 척 테이블로 흡인 유지한다. 그리고, 절삭 블레이드(14)를 화살표(R) 방향으로 고속 회전시키면서 투명 기판(21)의 표면(21a)에 소정 깊이 절입하여, 도시하지 않은 척 테이블에 유지된 투명 기판(21)을 화살표(X1) 방향으로 가공 이송함으로써, 제1 방향으로 신장되는 홈(23)을 절삭에 의해 형성한다.In the transparent substrate processing step of forming a plurality of grooves 23 in the surface 21a of the transparent substrate 21, the transparent substrate 21 is suction-held by a chuck table of a cutting device (not shown). Then, while rotating the cutting blade 14 at a high speed in the direction of the arrow R, a predetermined depth is cut into the surface 21a of the transparent substrate 21, and the transparent substrate 21 held on a chuck table (not shown) is indicated by an arrow X1. By machining and feeding in the) direction, a groove 23 extending in the first direction is formed by cutting.

투명 기판(21)을 화살표(X1) 방향에 직교하는 방향으로 웨이퍼(11)의 분할 예정 라인(17)의 피치씩 인덱싱 이송하면서, 투명 기판(21)의 표면(21a)을 절삭하여, 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 방향으로 신장되는 복수의 홈(23)을 차례차례로 형성한다.The surface 21a of the transparent substrate 21 is cut while indexing and transferring the transparent substrate 21 by the pitch of the line 17 to be divided of the wafer 11 in a direction orthogonal to the direction of the arrow X1, and FIG. 3 As shown in, a plurality of grooves 23 extending in the first direction are sequentially formed.

도 3의 (A)에 도시된 바와 같이, 투명 기판(21)의 표면(21a)에 형성하는 복수의 홈(23)은 한 방향으로만 신장되는 형태라도 좋고, 혹은 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 방향 및 상기 제1 방향에 직교하는 제2 방향으로 신장되는 복수의 홈(23)을 투명 기판(21)의 표면(21a)에 형성하도록 하여도 좋다.As shown in FIG. 3A, the plurality of grooves 23 formed on the surface 21a of the transparent substrate 21 may extend in only one direction, or as shown in FIG. 4. , A plurality of grooves 23 extending in the first direction and in a second direction orthogonal to the first direction may be formed in the surface 21a of the transparent substrate 21.

투명 기판(21)의 표면(21a)에 형성하는 홈은, 도 2의 (B)에 도시된 바와 같은 단면 삼각 형상의 홈(23), 또는 도 2의 (C)에 도시된 바와 같은 단면 사각 형상의 홈(23A), 또는 도 2의 (D)에 도시된 바와 같은 단면 반원 형상의 홈(23B) 중 어느 하나여도 좋다.The groove formed on the surface 21a of the transparent substrate 21 is a groove 23 having a triangular cross-sectional shape as shown in (B) of FIG. 2, or a rectangular cross-sectional shape as shown in (C) of FIG. 2. Any one of the groove 23A of the shape or the groove 23B having a semicircular cross-sectional shape as shown in Fig. 2D may be used.

투명 기판(21)은, 투명 수지, 광학 유리, 사파이어, 투명 세라믹스 중 어느 하나로 형성된다. 본 실시형태에서는, 광학 유리에 비하여 내구성이 있는 폴리카보네이트, 아크릴 등의 투명 수지로 투명 기판(21)을 형성하였다. 또한, 홈을 형성하는 방법으로서, 샌드 블라스트, 에칭, 레이저를 이용하여도 좋다.The transparent substrate 21 is formed of any one of transparent resin, optical glass, sapphire, and transparent ceramics. In this embodiment, the transparent substrate 21 was formed of a transparent resin such as polycarbonate and acrylic, which is more durable than optical glass. Further, as a method of forming the grooves, sand blasting, etching, or laser may be used.

투명 기판(21)의 표면(21a)에 복수의 홈(23, 23A, 23B)을 형성하는 투명 기판 가공 공정을 실시한 후, 웨이퍼(11)의 이면(11b)에 투명 기판(21)을 첩착시켜 일체화 웨이퍼(25)를 형성하는 일체화 공정을 실시한다.After performing a transparent substrate processing step of forming a plurality of grooves 23, 23A, 23B on the surface 21a of the transparent substrate 21, the transparent substrate 21 is adhered to the back surface 11b of the wafer 11 An integration process of forming the integrated wafer 25 is performed.

이 일체화 공정에서는, 도 3의 (A)에 도시된 바와 같이, 표면(21a)에 제1 방향으로 신장되는 복수의 홈(23)이 형성된 투명 기판(21)의 표면에, 웨이퍼(11)의 이면(11b)을 투명 접착제에 의해 접착하여, 도 3의 (B)에 도시된 바와 같이, 웨이퍼(11)와 투명 기판(21)을 일체화하여 일체화 웨이퍼(25)를 형성한다.In this integration step, as shown in Fig. 3A, the wafer 11 is formed on the surface of the transparent substrate 21 in which a plurality of grooves 23 extending in the first direction are formed on the surface 21a. The rear surface 11b is adhered with a transparent adhesive, and as shown in Fig. 3B, the wafer 11 and the transparent substrate 21 are integrated to form an integrated wafer 25.

대체 실시형태로서, 투명 기판(21)의 표면(21a)에 제1 방향 및 이 제1 방향에 직교하는 제2 방향으로 신장되는 복수의 홈(23)을 갖는 투명 기판(21)의 표면(21a)에, 웨이퍼(11)의 이면(11b)을 투명 접착제에 의해 접착하여, 웨이퍼(11)와 투명 기판(21)을 일체화하도록 하여도 좋다. 여기서, 투명 기판(21)의 표면(21a)에 형성한 홈(23)의 피치는 웨이퍼(11)의 분할 예정 라인(17)의 피치에 대응한다.As an alternative embodiment, the surface 21a of the transparent substrate 21 having a plurality of grooves 23 extending in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction on the surface 21a of the transparent substrate 21 ), the back surface 11b of the wafer 11 may be adhered with a transparent adhesive, so that the wafer 11 and the transparent substrate 21 are integrated. Here, the pitch of the grooves 23 formed in the surface 21a of the transparent substrate 21 corresponds to the pitch of the line to be divided 17 of the wafer 11.

일체화 공정을 실시한 후, 도 5에 도시된 바와 같이, 일체화 웨이퍼(25)의 투명 기판(21)을 외주부가 환형 프레임(F)에 첩착된 다이싱 테이프(T)에 첩착시켜 프레임 유닛을 형성하고, 일체화 웨이퍼(25)를 다이싱 테이프(T)를 통해 환형 프레임(F)으로 지지하는 지지 공정을 실시한다.After performing the integration process, as shown in FIG. 5, the transparent substrate 21 of the integrated wafer 25 is attached to the dicing tape T with the outer circumference attached to the annular frame F to form a frame unit. , A support step of supporting the integrated wafer 25 with the annular frame F through the dicing tape T is performed.

지지 공정을 실시한 후, 프레임 유닛을 절삭 장치에 투입하고, 절삭 장치로 일체화 웨이퍼(25)를 절삭하여 개개의 발광 다이오드 칩으로 분할하는 분할 단계를 실시한다. 이 분할 단계에 대해서, 도 6을 참조하여 설명한다.After carrying out the supporting process, the frame unit is put into a cutting device, and the integrated wafer 25 is cut with the cutting device and divided into individual light emitting diode chips. This division step will be described with reference to FIG. 6.

분할 단계에서는, 일체화 웨이퍼(25)를 프레임 유닛의 다이싱 테이프(T)를 통해 절삭 장치의 척 테이블(20)로 흡인 유지하고, 환형 프레임(F)은 도시하지 않은 클램프로 클램프하여 고정한다.In the dividing step, the integrated wafer 25 is sucked and held by the chuck table 20 of the cutting device through the dicing tape T of the frame unit, and the annular frame F is clamped and fixed with a clamp (not shown).

그리고, 절삭 블레이드(14)를 화살표(R) 방향으로 고속 회전시키면서 절삭 블레이드(14)의 선단이 다이싱 테이프(T)에 닿을 때까지 웨이퍼(11)의 분할 예정 라인(17)에 절입하고, 쿨러 노즐(18)로부터 절삭 블레이드(14) 및 웨이퍼(11)의 가공점을 향해 절삭액을 공급하면서, 일체화 웨이퍼(25)를 화살표(X1) 방향으로 가공 이송함으로써, 웨이퍼(11)의 분할 예정 라인(17)을 따라 웨이퍼(11) 및 투명 기판(21)을 절단하는 절단홈(27)을 형성한다.Then, while rotating the cutting blade 14 at high speed in the direction of the arrow R, it cuts into the line 17 to be divided of the wafer 11 until the tip of the cutting blade 14 touches the dicing tape T, The wafer 11 is scheduled to be divided by processing and transferring the integrated wafer 25 in the direction of the arrow X1 while supplying the cutting fluid from the cooler nozzle 18 toward the processing point of the cutting blade 14 and the wafer 11 A cutting groove 27 for cutting the wafer 11 and the transparent substrate 21 along the line 17 is formed.

절삭 유닛(10)을 Y축 방향으로 인덱싱 이송하면서, 제1 방향으로 신장되는 분할 예정 라인(17)을 따라 동일한 절단홈(27)을 차례차례로 형성한다. 계속해서, 척 테이블(20)을 90° 회전하고 나서, 제1 방향에 직교하는 제2 방향으로 신장되는 모든 분할 예정 라인(17)을 따라 동일한 절단홈(27)을 형성하여, 도 7에 도시된 상태로 함으로써, 일체화 웨이퍼(25)를 도 8의 (A)에 도시된 바와 같은 발광 다이오드 칩(31)으로 분할한다.While the cutting unit 10 is indexed and conveyed in the Y-axis direction, the same cutting grooves 27 are sequentially formed along the line to be divided 17 extending in the first direction. Subsequently, after rotating the chuck table 20 by 90°, the same cutting groove 27 is formed along all the division scheduled lines 17 extending in the second direction orthogonal to the first direction, as shown in FIG. 7. As a result, the integrated wafer 25 is divided into light emitting diode chips 31 as shown in Fig. 8A.

전술한 실시형태에서는, 일체화 웨이퍼(25)를 개개의 발광 다이오드 칩(31)으로 분할하는 데 절삭 장치를 사용하고 있지만, 웨이퍼(11) 및 투명 기판(21)에 대하여 투과성을 갖는 파장의 레이저 빔을 분할 예정 라인(13)을 따라 웨이퍼(11)에 조사하여, 웨이퍼(11) 및 투명 기판(21)의 내부에 두께 방향으로 복수층의 개질층을 형성하고, 계속해서 일체화 웨이퍼(25)에 외력을 부여하여, 개질층을 분할 기점으로 일체화 웨이퍼(25)를 개개의 발광 다이오드 칩(31)으로 분할하도록 하여도 좋다.In the above-described embodiment, a cutting device is used to divide the integrated wafer 25 into individual light emitting diode chips 31, but a laser beam having a wavelength having transmittance to the wafer 11 and the transparent substrate 21 Is irradiated to the wafer 11 along the line 13 to be divided, to form a plurality of modified layers in the thickness direction inside the wafer 11 and the transparent substrate 21, and then to the integrated wafer 25. An external force may be applied to divide the integrated wafer 25 into individual light-emitting diode chips 31 with the modified layer as a division starting point.

도 8의 (A)에 도시된 발광 다이오드 칩(31)은, 표면에 LED 회로(19)를 갖는 LED(13A)의 이면에 투명 부재(21A)가 첩착되어 있다. 또한, 투명 부재(21A)의 표면에 홈(23)이 형성되어 있다.In the light emitting diode chip 31 shown in Fig. 8A, a transparent member 21A is affixed to the rear surface of an LED 13A having an LED circuit 19 on its surface. Further, a groove 23 is formed on the surface of the transparent member 21A.

따라서, 도 8의 (A)에 도시된 발광 다이오드 칩(31)에서는, 투명 부재(21A)의 표면에 홈(23)이 형성되어 있기 때문에, 투명 부재(21A)의 표면적이 증대된다. 또한, 발광 다이오드 칩(31)의 LED 회로(19)로부터 출사되어 투명 부재(21A)에 입사되는 광의 일부는 홈(23) 부분에서 굴절되고 나서 투명 부재(21A) 내로 진입한다.Therefore, in the light emitting diode chip 31 shown in Fig. 8A, since the groove 23 is formed on the surface of the transparent member 21A, the surface area of the transparent member 21A is increased. Further, a part of the light emitted from the LED circuit 19 of the light emitting diode chip 31 and incident on the transparent member 21A is refracted in the groove 23 and then enters into the transparent member 21A.

따라서, 투명 부재(21A)로부터 외부로 굴절되어 출사될 때, 투명 부재(21A)와 공기층과의 계면에서의 입사각이 임계각 이상이 되는 광의 비율이 감소되고, 투명 부재(21A)로부터 출사되는 광의 양이 증대되어, 발광 다이오드 칩(31)의 휘도가 향상된다.Accordingly, when the transparent member 21A is refracted to the outside and is emitted, the ratio of the light at which the incident angle at the interface between the transparent member 21A and the air layer becomes equal to or greater than the critical angle is reduced, and the amount of light emitted from the transparent member 21A This increases, and the luminance of the light emitting diode chip 31 is improved.

도 8의 (B)에 도시된 발광 다이오드 칩(31A)에서는, LED(13A)의 이면에, 표면에 단면 사각 형상의 홈(23A)을 갖는 투명 부재(21A)가 투명한 접착제에 의해 첩착되어 있다. 본 실시형태의 발광 다이오드 칩(31A)에서도, 도 8의 (A)에 도시된 발광 다이오드 칩(31)과 마찬가지로, LED 회로(19)로부터 출사되어 투명 부재(21A)에 입사되는 광의 일부는, 단면 사각형의 홈(23A) 부분에서 굴절되고 나서 투명 부재(21A) 내로 진입한다.In the light emitting diode chip 31A shown in Fig. 8B, a transparent member 21A having a groove 23A having a rectangular cross-section on the surface is adhered to the rear surface of the LED 13A by a transparent adhesive. . In the light emitting diode chip 31A of the present embodiment, as in the light emitting diode chip 31 shown in Fig. 8A, a part of the light emitted from the LED circuit 19 and incident on the transparent member 21A is, After refracting in the portion of the groove 23A of the cross-sectional square, it enters into the transparent member 21A.

따라서, 투명 부재(21A) 내로부터 외부로 출사될 때, 투명 부재(21A)와 공기층과의 계면에서의 입사각이 임계각 이상이 되는 광의 비율이 감소하고, 투명 부재(21A)로부터 출사되는 광의 양이 증대되어, 발광 다이오드 칩(31A)의 휘도가 향상된다.Accordingly, when the transparent member 21A is emitted from the inside to the outside, the ratio of the light at which the incident angle at the interface between the transparent member 21A and the air layer becomes equal to or greater than the critical angle decreases, and the amount of light emitted from the transparent member 21A decreases. Increases, and the luminance of the light emitting diode chip 31A is improved.

도 8의 (C)를 참조하면, 다른 실시형태의 발광 다이오드 칩(31B)의 사시도가 더 도시되어 있다. 본 실시형태의 발광 다이오드 칩(31B)에서는, 투명 부재(21A)의 표면에 단면 사각 형태의 홈(23A)이 서로 직교하는 방향으로 형성되어 있기 때문에, LED 회로(19)로부터 출사되어 투명 부재(21A)에 입사되는 광 중, 홈(23A) 내에서 굴절되어 입사되는 광의 양이 증대된다.Referring to FIG. 8C, a perspective view of a light emitting diode chip 31B according to another embodiment is further shown. In the light emitting diode chip 31B of the present embodiment, since the grooves 23A having a rectangular cross-section are formed on the surface of the transparent member 21A in directions orthogonal to each other, they are emitted from the LED circuit 19 and are emitted from the transparent member ( Of the light incident on 21A), the amount of light that is refracted and incident in the groove 23A is increased.

따라서, 투명 부재(21A)와 공기층과의 계면에서의 입사각이 임계각 이상이 되는 광의 양이 감소되기 때문에, 투명 부재(21A)로부터 외부로 출사되는 광의 양이 증대되어, 발광 다이오드 칩(31B)의 휘도가 향상된다.Therefore, since the amount of light at which the incident angle at the interface between the transparent member 21A and the air layer becomes equal to or greater than the critical angle is reduced, the amount of light emitted from the transparent member 21A to the outside is increased, and thus the light emitting diode chip 31B is The luminance is improved.

도 8의 (A)~도 8의 (C)에 도시된 실시형태에서는, 투명 부재(21A)는 단면 삼각 형상의 홈(23) 또는 단면 사각 형상의 홈(23A)을 갖고 있지만, 투명 부재(21A)가 도 2의 (D)에 도시된 단면 반원 형상의 홈(23B)을 갖는 경우에 대해서도 동일한 효과가 있다.In the embodiment shown in Figs. 8A to 8C, the transparent member 21A has a groove 23 having a triangular cross-section or a groove 23A having a rectangular cross-section, but the transparent member ( The same effect is also obtained when 21A) has the groove 23B having a semicircular cross-sectional shape shown in Fig. 2D.

10 : 절삭 유닛 11 : 광 디바이스 웨이퍼(웨이퍼)
13 : 사파이어 기판 14 : 절삭 블레이드
15 : 적층체층 17 : 분할 예정 라인
19 : LED 회로 21 : 투명 기판
21A : 투명 부재 23, 23A, 23B : 홈
25 : 일체화 웨이퍼 27 : 절단홈
31, 31A, 31B : 발광 다이오드 칩
10 cutting unit 11 optical device wafer (wafer)
13: sapphire substrate 14: cutting blade
15: laminate layer 17: line to be divided
19: LED circuit 21: transparent substrate
21A: transparent member 23, 23A, 23B: groove
25: integrated wafer 27: cut groove
31, 31A, 31B: light emitting diode chip

Claims (5)

발광 다이오드 칩의 제조 방법으로서,
결정 성장용의 제1 투명 기판 상에 발광층을 포함하는 복수의 반도체층이 형성된 적층체층을 표면에 가지며, 상기 적층체층의 표면에 서로 교차하는 복수의 분할 예정 라인에 의해 구획된 각 영역에 각각 LED 회로가 형성된 웨이퍼를 준비하는 웨이퍼 준비 공정과,
제2 투명 기판의 표면에 상기 웨이퍼의 각 LED 회로에 대응하여 소정 깊이의 복수의 홈을 형성하는 투명 기판 가공 공정으로서, 상기 복수의 홈은 서로 직교하는 방향으로 형성되며, 상기 복수의 홈의 피치는 상기 복수의 분할 예정 라인의 피치에 대응하는 것인, 투명 기판 가공 공정과,
상기 투명 기판 가공 공정을 실시한 후, 상기 적층체층이 형성된 상기 웨이퍼의 표면과 반대측인 상기 웨이퍼의 이면에 상기 제2 투명 기판의 표면을 접착시켜 일체화 웨이퍼를 형성하는 일체화 공정과,
상기 웨이퍼를 상기 분할 예정 라인을 따라 상기 제2 투명 기판과 함께 절단하여 상기 일체화 웨이퍼를 개개의 발광 다이오드 칩으로 분할하는 분할 공정
을 포함하고,
상기 분할 공정에 의해 얻어지는 상기 발광 다이오드 칩은 표면에 LED 회로가 형성된 발광 다이오드와, 상기 발광 다이오드의 이면에 접착된 상기 제2 투명 기판인 투명 부재를 구비하고, 상기 투명 부재의 상기 발광 다이오드와의 접착면에는 상기 복수의 홈이 서로 직교하는 방향으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드 칩의 제조 방법.
As a method of manufacturing a light emitting diode chip,
On a first transparent substrate for crystal growth, a laminate layer including a plurality of semiconductor layers including a light emitting layer is formed on the surface thereof, and each LED in each region divided by a plurality of scheduled division lines crossing the surface of the laminate layer A wafer preparation step of preparing a wafer on which a circuit is formed, and
A transparent substrate processing process of forming a plurality of grooves having a predetermined depth corresponding to each LED circuit of the wafer on a surface of a second transparent substrate, wherein the plurality of grooves are formed in directions orthogonal to each other, and a pitch of the plurality of grooves Is corresponding to the pitch of the plurality of division scheduled lines, a transparent substrate processing process,
After performing the transparent substrate processing step, an integration step of forming an integrated wafer by adhering the surface of the second transparent substrate to the back surface of the wafer opposite to the surface of the wafer on which the laminate layer is formed;
Dividing process of dividing the integrated wafer into individual light emitting diode chips by cutting the wafer along with the second transparent substrate along the division scheduled line
Including,
The light emitting diode chip obtained by the dividing process includes a light emitting diode having an LED circuit formed on a surface thereof, and a transparent member that is the second transparent substrate adhered to the rear surface of the light emitting diode, and the light emitting diode of the transparent member is combined with the light emitting diode. A method of manufacturing a light emitting diode chip, wherein the plurality of grooves are formed in a direction orthogonal to each other on the adhesive surface.
제1항에 있어서, 상기 투명 기판 가공 공정에서 형성되는 상기 홈의 단면 형상은 삼각 형상, 사각 형상, 반원 형상 중 어느 하나인 것인 발광 다이오드 칩의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the cross-sectional shape of the groove formed in the transparent substrate processing process is any one of a triangular shape, a square shape, and a semicircular shape. 제1항에 있어서, 상기 투명 기판 가공 공정에 있어서, 상기 홈은 절삭 블레이드, 에칭, 샌드 블라스트, 레이저 중 어느 하나로 형성되는 것인 발광 다이오드 칩의 제조 방법.The method of claim 1, wherein in the transparent substrate processing process, the groove is formed by any one of a cutting blade, etching, sand blast, and laser. 제1항에 있어서, 상기 제2 투명 기판은, 투명 세라믹스, 광학 유리, 사파이어, 투명 수지 중 어느 하나로 형성되고, 상기 일체화 공정에 있어서 상기 제2 투명 기판은 투명 접착제를 사용하여 상기 웨이퍼에 접착되는 것인 발광 다이오드 칩의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the second transparent substrate is formed of any one of transparent ceramics, optical glass, sapphire, and transparent resin, and in the integration process, the second transparent substrate is adhered to the wafer using a transparent adhesive. The method of manufacturing a light emitting diode chip. 발광 다이오드 칩으로서,
표면에 LED 회로가 형성된 발광 다이오드와, 상기 발광 다이오드의 이면에 접착된 투명 부재를 구비하고,
상기 투명 부재의 상기 발광 다이오드와의 접착면에는 소정 깊이의 복수의 홈이 서로 직교하는 방향으로 형성되어 있는 것인 발광 다이오드 칩.
As a light emitting diode chip,
A light emitting diode having an LED circuit formed on a surface thereof, and a transparent member bonded to the back surface of the light emitting diode,
A light emitting diode chip wherein a plurality of grooves having a predetermined depth are formed in a direction orthogonal to each other on an adhesive surface of the transparent member with the light emitting diode.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009016748A (en) 2007-07-09 2009-01-22 Toshiba Discrete Technology Kk Semiconductor light-emitting device and its manufacturing method
KR101426433B1 (en) * 2013-04-30 2014-08-06 주식회사 세미콘라이트 Manufacturing method of semiconductor light emitting device

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006278751A (en) * 2005-03-29 2006-10-12 Mitsubishi Cable Ind Ltd Garium nitride-based semiconductor light emitting element
KR100959079B1 (en) * 2005-06-27 2010-05-20 한빔 주식회사 Light emitting diode device having enhanced heat dissipation and preparation method thereof
KR20090030704A (en) * 2007-09-20 2009-03-25 삼성모바일디스플레이주식회사 Cutting method of organic light emitting device cell and organic light emitting display thereof
JP2011009305A (en) * 2009-06-23 2011-01-13 Koito Mfg Co Ltd Light-emitting module
KR101843501B1 (en) * 2011-03-30 2018-03-29 서울반도체 주식회사 Lighting apparatus
KR101797970B1 (en) * 2011-05-23 2017-11-15 엘지이노텍 주식회사 Support element for semiconductor
CN102832294A (en) * 2011-06-13 2012-12-19 中山市世耀光电科技有限公司 Method for packaging LED light source and LED light source
JP5509394B2 (en) * 2012-02-01 2014-06-04 パナソニック株式会社 Semiconductor light emitting device, method for manufacturing the same, and light source device
JP2014175354A (en) * 2013-03-06 2014-09-22 Disco Abrasive Syst Ltd Light-emitting diode
WO2015030237A1 (en) * 2013-08-30 2015-03-05 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Semiconductor light-emitting element, and optical film
TW201614870A (en) * 2014-10-08 2016-04-16 Toshiba Kk Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
CN104993029A (en) * 2015-07-09 2015-10-21 佛山市南海区联合广东新光源产业创新中心 Semiconductor light-emitting chip scale package

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009016748A (en) 2007-07-09 2009-01-22 Toshiba Discrete Technology Kk Semiconductor light-emitting device and its manufacturing method
KR101426433B1 (en) * 2013-04-30 2014-08-06 주식회사 세미콘라이트 Manufacturing method of semiconductor light emitting device

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