KR102024944B1

KR102024944B1 - In-line Test Handler and Method for Controlling Moving of Test Tray in In-line Test Handler

Info

Publication number: KR102024944B1
Application number: KR1020130084323A
Authority: KR
Inventors: 김경태; 박강수; 장대진
Original assignee: 미래산업 주식회사
Priority date: 2013-07-17
Filing date: 2013-07-17
Publication date: 2019-09-25
Anticipated expiration: 2033-07-17
Also published as: KR20150010041A

Abstract

테스트 트레이의 이송 중 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 챔버유닛이 적응적으로 결정할 수 있는 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러는, 반도체 소자에 대한 테스트 공정이 이루어지는 복수개의 챔버유닛; 상기 복수개의 챔버유닛들과 인라인으로 연결되고, 테스트될 반도체 소자를 테스트 트레이에 수납하거나 테스트가 완료된 반도체 소자를 상기 테스트 트레이로부터 분리시키는 소팅유닛; 및 상기 복수개의 챔버유닛과 상기 소팅유닛이 인라인으로 연결되도록 상기 테스트 트레이를 이송하거나 상기 복수개의 챔버유닛들이 인라인으로 연결되도록 상기 테스트 트레이를 이송하는 복수개의 컨베이어기구들로 구성된 컨베이어 유닛을 포함하고, 상기 챔버유닛은 상기 테스트 트레이의 이송 중 상기 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 판단하고, 판단결과를 상기 컨베이어 유닛으로 전송하며, 상기 컨베이어 유닛은 상기 챔버유닛에 의한 판단결과에 따라 상기 테스트 트레이를 상기 챔버유닛으로 반입시키거나 상기 테스트 트레이를 통과시키는 것을 특징으로 한다.An inline test handler according to the present invention, in which a chamber unit may adaptively determine whether a test tray is loaded or passed during transfer of a test tray, includes: a plurality of chamber units in which a test process for a semiconductor device is performed; A sorting unit connected in-line with the plurality of chamber units and accommodating a semiconductor device to be tested in a test tray or separating a semiconductor device from which a test is completed from the test tray; And a conveyor unit configured to convey the test tray such that the plurality of chamber units and the sorting unit are connected inline, or to convey the test tray such that the plurality of chamber units are connected inline. The chamber unit determines whether the test tray is carried or passed during the transfer of the test tray, and transmits a determination result to the conveyor unit, wherein the conveyor unit determines the test tray according to the determination result by the chamber unit. Bring into the chamber unit or pass through the test tray.

Description

In-line Test Handler and Method for Controlling Moving of Test Tray in In-line Test Handler}

본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 인라인 테스트 핸들러에 관한 것이다.The present invention relates to a test handler, and more particularly to an inline test handler.

메모리 혹은 비메모리 반도체 소자, 모듈 IC 등(이하, '반도체 소자'라 함)은 여러 가지 공정을 수행하는 장치들을 거쳐 제조된다. 이러한 장치들 중의 하나인 테스트 핸들러는 반도체 소자가 테스트되도록 반도체 소자를 테스트장비에 접속시키고, 테스트된 반도체 소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정을 수행하기 위한 장치이다. 반도체 소자는 테스트 결과 양품으로 분류됨으로써 제조가 완료된다.Memory or non-memory semiconductor devices, module ICs, etc. (hereinafter referred to as "semiconductor devices") are manufactured through devices that perform various processes. One of these devices, a test handler, is a device for connecting a semiconductor device to a test apparatus so that the semiconductor device is tested, and performing a process of classifying the tested semiconductor device into classes according to test results. The semiconductor device is classified as a good product by the test result, and manufacture is completed.

도 1은 종래 기술에 따른 테스트 핸들러의 개략적인 평면도이다.1 is a schematic plan view of a test handler according to the prior art.

도 1을 참고하면, 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 고객트레이에 담겨진 반도체 소자를 테스트 트레이(200)에 수납시키는 로딩유닛(1100), 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자를 테스트장비에 접속시키는 테스트유닛(1200), 및 테스트된 반도체 소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 고객트레이에 수납시키는 언로딩유닛(1300)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a test handler 1000 according to the related art may include a loading unit 1100 for accommodating a semiconductor device contained in a customer tray into a test tray 200, and test equipment for semiconductor devices stored in a test tray 200. The test unit 1200 to be connected to, and the unloading unit 1300 for classifying the tested semiconductor device according to the test result according to the class and stored in the customer tray.

상기 로딩유닛(1100)은 테스트될 반도체 소자를 테스트 트레이(200)에 수납시키는 로딩공정을 수행한다. 상기 로딩유닛(1100)은 테스트될 반도체 소자가 담겨진 고객트레이를 저장하는 로딩스택커(1110), 및 테스트될 반도체 소자를 고객트레이에서 테스트 트레이(200)로 이송하는 로딩픽커(1120)를 포함한다. 테스트 트레이(200)는 테스트될 반도체 소자가 수납되면, 상기 테스트유닛(1200)으로 이송된다.The loading unit 1100 performs a loading process of accommodating a semiconductor device to be tested in the test tray 200. The loading unit 1100 includes a loading stacker 1110 for storing a customer tray containing a semiconductor device to be tested, and a loading picker 1120 for transferring the semiconductor device to be tested from the customer tray to the test tray 200. . The test tray 200 is transferred to the test unit 1200 when the semiconductor device to be tested is accommodated.

상기 테스트유닛(1200)은 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자를 테스트장비(400)에 접속시키는 테스트공정을 수행한다. 이에 따라, 상기 테스트장비(400)는 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자에 전기적으로 연결됨으로써, 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자를 테스트한다. 반도체 소자에 대한 테스트가 완료되면, 테스트 트레이(200)는 상기 언로딩유닛(1300)으로 이송된다.The test unit 1200 performs a test process of connecting the semiconductor device accommodated in the test tray 200 to the test equipment 400. Accordingly, the test equipment 400 is electrically connected to the semiconductor device housed in the test tray 200, thereby testing the semiconductor device housed in the test tray 200. When the test for the semiconductor device is completed, the test tray 200 is transferred to the unloading unit 1300.

상기 언로딩유닛(1300)은 테스트된 반도체 소자를 테스트 트레이(200)로부터 분리하는 언로딩공정을 수행한다. 상기 언로딩유닛(1300)은 테스트된 반도체 소자를 담기 위한 고객트레이를 저장하는 언로딩스택커(1310), 및 테스트된 반도체 소자를 테스트 트레이(200)에서 고객트레이로 이송하는 언로딩픽커(1320)를 포함한다. 테스트된 반도체 소자가 고객트레이로 이송됨에 따라 테스트 트레이(200)가 비게 되면, 비어 있는 테스트 트레이(200)는 다시 상기 로딩유닛(1100)으로 이송된다.The unloading unit 1300 performs an unloading process of separating the tested semiconductor device from the test tray 200. The unloading unit 1300 may include an unloading stacker 1310 for storing a customer tray for containing the tested semiconductor device, and an unloading picker 1320 for transferring the tested semiconductor device from the test tray 200 to the customer tray. ). When the test tray 200 becomes empty as the tested semiconductor device is transferred to the customer tray, the empty test tray 200 is transferred to the loading unit 1100 again.

이와 같이 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 하나의 장치 안에서 테스트 트레이(200)를 순환 이동시키면서 상기 로딩공정, 상기 테스트공정, 및 상기 언로딩공정을 순차적으로 수행하였다. 이러한 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 다음과 같은 문제가 있다.As described above, the test handler 1000 according to the related art sequentially performs the loading process, the test process, and the unloading process while circularly moving the test tray 200 in one apparatus. The test handler 1000 according to the related art has the following problems.

첫째, 최근 기술 발전에 따라 하나의 테스트 트레이(200)를 기준으로 상기 로딩유닛(1100)이 로딩공정을 수행하는데 걸리는 시간이 단축되고 있다. 반면, 상기 테스트장비(400)는 반도체 소자의 종류가 다양해지고, 반도체 소자의 구조가 복잡해지는 등에 따라 하나의 테스트 트레이(200)를 기준으로 테스트공정을 수행하는데 걸리는 시간이 늘어나고 있다.First, according to the recent technology development, the time required for the loading unit 1100 to perform the loading process on the basis of one test tray 200 is shortened. On the other hand, the test equipment 400 is increasing the time required to perform the test process on the basis of one test tray 200 due to the variety of semiconductor devices, the structure of the semiconductor device is complicated.

이에 따라, 하나의 테스트 트레이(200)를 기준으로 테스트공정이 로딩공정에 비해 더 오랜 시간이 걸리게 되었다. 따라서, 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 로딩공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 테스트유닛(1200)으로 곧바로 이송하지 못하고, 상기 테스트유닛(1200)에서 테스트공정이 완료될 때까지 테스트 트레이(200)를 상기 로딩유닛(1100)에서 대기시켜야 하므로, 작업시간이 지연되는 문제가 있다. 테스트 트레이(200)가 상기 로딩유닛(1100)에서 대기하는 시간이 발생함에 따라, 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 상기 로딩유닛(1100)이 다음 테스트 트레이(200)에 대해 로딩공정을 수행할 때까지 걸리는 시간도 지연되는 문제가 있다.Accordingly, the test process based on one test tray 200 takes longer than the loading process. Therefore, the test handler 1000 according to the related art does not immediately transfer the test tray 200 in which the loading process is completed to the test unit 1200, and the test tray until the test process is completed in the test unit 1200. Since 200 has to wait in the loading unit 1100, there is a problem that the working time is delayed. As the test tray 200 waits for the loading unit 1100, the test handler 1000 according to the related art performs the loading process for the loading unit 1100 to the next test tray 200. There is also a problem that the time it takes to delay.

둘째, 상기 로딩공정과 마찬가지로 상기 언로딩유닛(1300)이 언로딩공정을 수행하는데 걸리는 시간 또한 단축되고 있다. 그러나, 상술한 바와 같이 테스트공정이 완료될 때까지 테스트 트레이(200)가 상기 로딩유닛(1100)에서 대기하여야 하므로, 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 언로딩공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 로딩유닛(1100)으로 곧바로 이송하지 못하고, 테스트 트레이(200)를 상기 언로딩유닛(1300)에서 대기시켜야 한다. 이에 따라, 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 상기 언로딩유닛(1100)이 다음 테스트 트레이(200)에 대해 언로딩공정을 수행할 때까지 걸리는 시간이 지연되는 문제가 있다.Second, as in the loading process, the time taken by the unloading unit 1300 to perform the unloading process is also shortened. However, as described above, since the test tray 200 has to wait in the loading unit 1100 until the test process is completed, the test handler 1000 according to the related art has a test tray 200 in which the unloading process is completed. It may not be immediately transferred to the loading unit 1100, the test tray 200 must be waited in the unloading unit 1300. Accordingly, the test handler 1000 according to the related art has a problem in that the time taken until the unloading unit 1100 performs the unloading process on the next test tray 200 is delayed.

셋째, 종래 기술에 따른 테스트 핸들러(1000)는 상기 로딩유닛(1100), 상기 테스트유닛(1200), 및 상기 언로딩유닛(1300) 중에서 어느 하나에만 고장이 발생해도, 정상적으로 작동하는 나머지 구성 또한 작업을 수행할 수 없는 문제가 있다.Third, the test handler 1000 according to the related art works even if a failure occurs in only one of the loading unit 1100, the test unit 1200, and the unloading unit 1300, and the rest of the components that operate normally also work. There is a problem that can not be performed.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 로딩공정, 언로딩공정 및 테스트공정 각각을 수행하는데 걸리는 시간에 차이가 발생하더라도 작업시간이 지연되는 것을 방지할 수 있는 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법을 제공하기 위한 것이다.The present invention has been made to solve the above-described problems, inline test handler and inline that can prevent the work time is delayed even if a difference in the time taken to perform each of the loading process, unloading process and test process occurs To provide a test tray transfer control method in the test handler.

본 발명은 로딩공정, 테스트공정 및 언로딩공정 각각을 수행하는 장치들 중에서 적어도 하나에 고장이 발생하더라도 전체 작업시간에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있는 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법을 제공하기 위한 것이다.The present invention provides a test tray transfer control in an inline test handler and an inline test handler that can prevent the entire work time even if a failure occurs in at least one of the devices performing the loading process, the test process and the unloading process. It is to provide a method.

본 발명은 테스트 트레이의 이송 중 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 챔버유닛이 적응적으로 결정할 수 있는 인라인 테스트 핸들러 및 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법을 제공하기 위한 것이다.The present invention provides a test tray transfer control method in an inline test handler and an inline test handler which the chamber unit can adaptively determine whether the test tray is loaded or passed during the transfer of the test tray.

상술한 바와 같은 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함할 수 있다.In order to solve the problems as described above, the present invention may include the following configuration.

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러는, 반도체 소자에 대한 테스트 공정이 이루어지는 복수개의 챔버유닛; 상기 복수개의 챔버유닛들과 인라인으로 연결되고, 테스트될 반도체 소자를 테스트 트레이에 수납하거나 테스트가 완료된 반도체 소자를 상기 테스트 트레이로부터 분리시키는 소팅유닛; 및 상기 복수개의 챔버유닛과 상기 소팅유닛이 인라인으로 연결되도록 상기 테스트 트레이를 이송하거나 상기 복수개의 챔버유닛들이 인라인으로 연결되도록 상기 테스트 트레이를 이송하는 복수개의 컨베이어기구들로 구성된 컨베이어 유닛을 포함하고, 상기 챔버유닛은 상기 테스트 트레이의 이송 중 상기 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 판단하고, 판단결과를 상기 컨베이어 유닛으로 전송하며, 상기 컨베이어 유닛은 상기 챔버유닛에 의한 판단결과에 따라 상기 테스트 트레이를 상기 챔버유닛으로 반입시키거나 상기 테스트 트레이를 통과시키는 것을 특징으로 한다.An inline test handler according to the present invention includes a plurality of chamber units in which a test process is performed on a semiconductor device; A sorting unit connected in-line with the plurality of chamber units and accommodating a semiconductor device to be tested in a test tray or separating a semiconductor device from which a test is completed from the test tray; And a conveyor unit configured to convey the test tray such that the plurality of chamber units and the sorting unit are connected inline, or to convey the test tray such that the plurality of chamber units are connected inline. The chamber unit determines whether the test tray is carried or passed during the transfer of the test tray, and transmits a determination result to the conveyor unit, wherein the conveyor unit determines the test tray according to the determination result by the chamber unit. Bring into the chamber unit or pass through the test tray.

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법 은, 소팅유닛과 인라인으로 연결되어 있는 챔버유닛이 테스트될 반도체 소자가 수납되어 있는 테스트 트레이의 식별정보를 수신하는 단계; 상기 챔버유닛이 상기 테스트 트레이의 식별정보에 포함되어 있는 상기 반도체 소자의 종류 및 상기 반도체 소자에 대한 테스트 종류, 상기 챔버유닛에서 대기중인 테스트 트레이의 개수, 및 상기 챔버유닛에서의 평균 테스트 소요시간 중 적어도 하나를 이용하여 상기 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 판단하는 단계; 및 판단결과에 따라 상기 소팅유닛과 상기 챔버유닛을 인라인으로 연결하는 컨베이어 유닛이 상기 테스트 트레이를 상기 챔버유닛으로 반입시키거나 통과시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the inline test handler according to the present invention, a test tray transfer control method may include: receiving identification information of a test tray in which a semiconductor device to be tested is stored in a chamber unit connected inline with a sorting unit; The type of the semiconductor device and the test type for the semiconductor device, the number of test trays waiting in the chamber unit, and the average test duration of the chamber unit, the chamber unit is included in the identification information of the test tray Determining whether the test tray is loaded or passed using at least one; And conveying or passing the test tray to the chamber unit by a conveyor unit connecting the sorting unit and the chamber unit inline according to the determination result.

본 발명에 따르면 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.According to the present invention can achieve the following effects.

본 발명은 로딩공정, 언로딩공정 및 테스트공정 각각을 수행하는데 걸리는 시간에 차이가 발생하더라도 작업시간이 지연되는 것을 방지할 수 있고, 이에 따라 반도체 소자에 대한 제조 수율을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, even if a difference occurs in the time required to perform each of the loading process, the unloading process, and the test process, the working time can be prevented from being delayed, thereby improving the manufacturing yield of the semiconductor device.

본 발명은 로딩공정, 언로딩공정 및 테스트공정 각각을 수행하는 장치들 중에서 어느 하나에 고장이 발생하더라도 전체 시스템이 정지하는 것을 방지함으로써, 작업시간이 손실되는 것을 방지할 수 있다.The present invention can prevent the entire system from stopping even if a failure occurs in any one of the devices that perform each of the loading process, the unloading process and the test process, thereby preventing a loss of working time.

본 발명은 로딩공정과 언로딩공정을 수행하는 장치 및 테스트공정을 수행하는 장치를 배치하는 작업의 용이성과 배치의 자유도를 향상시킬 수 있고, 이에 따라 공정라인을 확장 또는 축소시키는 작업의 용이성과 이러한 작업에 소요되는 추가 비용을 절감할 수 있다.The present invention can improve the ease of operation and the degree of freedom of arrangement of the device for performing the loading and unloading process and the device for performing the test process, and thus the ease of operation to expand or reduce the process line The additional cost of work can be reduced.

본 발명은 테스트 트레이의 이송 중 챔버유닛의 테스트 종류 지원 여부, 챔버유닛에 대기중인 테스트 트레이의 개수, 및 평균 테스트 소요시간 중 적어도 하나를 고려하여 챔버유닛이 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 직접 판단할 수 있기 때문에, 테스트 트레이의 이송 시 챔버유닛의 상태변화에 적응적으로 대응할 수 있고, 이로 인해 작업시간을 최소화할 수 있다는 효과가 있다.According to the present invention, the chamber unit directly determines whether the test tray is loaded or passed in consideration of at least one of whether the test unit supports the test type, the number of test trays waiting in the chamber unit, and the average test duration during the transfer of the test tray. Because of this, it is possible to adaptively respond to the change in the state of the chamber unit during the transfer of the test tray, thereby minimizing the working time.

도 1은 종래 기술에 따른 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 테스트 핸들러의 개략적인 블록도.
도 2b는 도 2a에 도시된 챔버유닛의 제어모듈의 구성을 개략적으로 보여주는 블록도.
도 3a 및 도 3b는 본 발명에 따른 스핀장치의 작용 효과를 설명하기 위한 개념도
도 4는 본 발명에 따른 스핀장치를 포함하는 인라인 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 5는 본 발명에 따른 스핀장치의 개략적인 사시도
도 6은 본 발명에 따른 스핀장치의 개략적인 분해 사시도
도 7 내지 도 12는 본 발명에 따른 스핀장치의 동작을 설명하기 위한 개략적인 측면도
도 13 및 도 14는 본 발명에 따른 완충기구의 동작을 설명하기 위한 개략적인 저면도
도 15 및 도 16은 본 발명에 따른 스핀장치가 승강유닛을 포함하는 실시예를 설명하기 위한 개략적인 측면도
도 17 및 도 18은 본 발명에 따른 스핀장치가 테스트 트레이의 운반경로를 변경하는 동작을 설명하기 위한 개략적인 측면도
도 19는 본 발명에 따른 챔버유닛의 개략적인 평면도
도 20 및 도 21은 본 발명에 따른 챔버유닛의 실시예를 설명하기 위한 개념도
도 22는 본 발명에 따른 소팅유닛의 개략적인 평면도
도 23은 본 발명에 따른 컨베이어유닛의 개략적인 측면도
도 24는 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 25는 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법을 보여주는 플로우차트1 is a schematic plan view of a test handler according to the prior art
2A is a schematic block diagram of an inline test handler according to an embodiment of the present invention.
Figure 2b is a block diagram schematically showing the configuration of the control module of the chamber unit shown in Figure 2a.
3a and 3b is a conceptual diagram for explaining the operation and effect of the spin apparatus according to the present invention
4 is a schematic plan view of an inline test handler including a spin apparatus in accordance with the present invention.
5 is a schematic perspective view of a spin apparatus according to the present invention;
6 is a schematic exploded perspective view of the spin apparatus according to the present invention;
7 to 12 are schematic side views for explaining the operation of the spin apparatus according to the present invention
13 and 14 are schematic bottom view for explaining the operation of the shock absorbing mechanism according to the present invention.
15 and 16 are schematic side views for explaining an embodiment in which the spin apparatus according to the present invention includes a lifting unit.
17 and 18 are schematic side views for explaining the operation of changing the transport path of the test tray by the spin apparatus according to the present invention
19 is a schematic plan view of a chamber unit according to the present invention;
20 and 21 is a conceptual diagram illustrating an embodiment of a chamber unit according to the present invention.
22 is a schematic plan view of the sorting unit according to the invention.
Figure 23 is a schematic side view of a conveyor unit according to the present invention
24 is a schematic top view of an inline test handler according to the present invention.
25 is a flowchart illustrating a test tray transfer control method in an inline test handler according to an exemplary embodiment of the present invention.

이하에서는 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, an inline test handler according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)의 구성을 개략적으로 보여주는 블록도이다.2A is a block diagram schematically illustrating a configuration of an inline test handler 100 according to an embodiment of the present invention.

도 2a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는, 테스트 트레이(미도시)를 회전시키는 스핀장치(1), 테스트 트레이에 수납된 반도체 소자에 대한 테스트 공정이 이루어지는 복수개의 챔버유닛(110), 반도체 소자에 대한 로딩공정과 언로딩공정을 수행하는 소팅유닛(120), 및 테스트 트레이를 운반하기 위한 컨베이어유닛(130)을 포함하고, 테스트 트레이의 위치를 실시간으로 확인하기 위한 복수개의 식별정보 확인부(102)를 더 포함할 수 있다.As shown in FIG. 2A, an inline test handler 100 according to an exemplary embodiment of the present invention may include a spin process 1 for rotating a test tray (not shown) and a test process for a semiconductor device housed in the test tray. The plurality of chamber units 110, the sorting unit 120 for performing the loading and unloading process for the semiconductor device, and the conveyor unit 130 for transporting the test tray, and the location of the test tray It may further include a plurality of identification information check unit 102 for checking in real time.

상기 소팅유닛(120)은 상기 챔버유닛(110)들 각각으로부터 이격되어 설치된다. 상기 컨베이어유닛(130)은 상기 소팅유닛(120)에서 로딩공정이 완료된 테스트 트레이가 상기 챔버유닛(110)들 중에서 적어도 하나를 거쳐 테스트공정이 수행되도록 테스트 트레이를 운반한다. 또한, 상기 컨베이어유닛(130)은 상기 챔버유닛(110)들 중에서 적어도 하나를 거쳐 테스트공정이 완료된 테스트 트레이가 상기 소팅유닛(120)에서 언로딩공정이 수행되도록 테스트 트레이를 운반한다. 즉, 상기 컨베이어유닛(130)은 상기 챔버유닛(110)들과 상기 소팅유닛(120)을 인라인(In-line)으로 연결한다.The sorting unit 120 is spaced apart from each of the chamber units 110. The conveyor unit 130 carries the test tray such that the test tray in which the loading process is completed in the sorting unit 120 is performed through at least one of the chamber units 110. In addition, the conveyor unit 130 carries the test tray such that the test tray, which has been completed by the test process through at least one of the chamber units 110, is unloaded from the sorting unit 120. That is, the conveyor unit 130 connects the chamber units 110 and the sorting unit 120 in-line.

이에 따라, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 소팅유닛(120)이 상기 로딩공정과 상기 언로딩공정을 수행하는 것에 대해 상기 챔버유닛(11)들이 각각 테스트공정을 독립적으로 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 다음과 같은 작용 효과를 도모할 수 있다.Accordingly, the inline test handler 100 according to the present invention may independently perform the test process of the chamber units 11 for the sorting unit 120 to perform the loading process and the unloading process. have. Therefore, the inline test handler 100 according to the present invention can achieve the following effects.

첫째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 작업 시작 이전에 테스트 트레이의 대기시간 및 이동시간이 최소화되도록 테스트 트레이의 이동경로를 설정하고, 설정된 이동경로에 따라 테스트 트레이를 이송시키기 때문에, 작업시간을 최소화 할 수 있다. First, since the inline test handler 100 according to the present invention sets the movement path of the test tray so as to minimize the waiting time and the movement time of the test tray before starting the operation, and transfers the test tray according to the set movement path, Time can be minimized.

둘째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 로딩공정과 상기 언로딩공정에 대해 상기 테스트공정을 독립적으로 수행할 수 있으므로, 상기 챔버유닛(110)들 및 상기 소팅유닛(120) 중에서 어느 하나에 고장이 발생하더라도 정상적으로 작동하는 나머지 장치는 계속하여 작업을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 챔버유닛(110)들 및 상기 소팅유닛(120) 중에서 어느 하나에 고장이 발생한 경우 전체 시스템이 정지하는 것을 방지함으로써, 작업시간이 손실되는 것을 방지할 수 있다.Second, since the in-line test handler 100 according to the present invention can independently perform the test process for the loading process and the unloading process, any of the chamber units 110 and the sorting unit 120. If one fails, the rest of the working devices can continue to work. Accordingly, the inline test handler 100 according to the present invention prevents the entire system from stopping when a failure occurs in any one of the chamber units 110 and the sorting unit 120, thereby reducing work time. It can prevent.

셋째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 스핀장치(1)를 이용하여 상기 챔버유닛(110)들에서 테스트 트레이에 수납된 반도체 소자들이 서로 동일한 배치로 테스트되도록 함으로써, 상기 챔버유닛(110)들이 모두 동일한 방향을 향하도록 설치해야 하는 제한을 없앨 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 챔버유닛(110)들을 배치하는 작업의 용이성과 자유도를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 소팅유닛(120) 및 상기 챔버유닛(110)들 간에 테스트 트레이(200)를 운반하기 위한 동선을 최소화하는 배치로 구현할 수 있다.Third, the in-line test handler 100 according to the present invention allows the semiconductor devices accommodated in the test trays in the chamber units 110 to be tested in the same arrangement with each other by using the spin apparatus 1. It is possible to remove the restriction that the 110 must be installed so that all face the same direction. Accordingly, the inline test handler 100 according to the present invention may improve the ease and freedom of operation of arranging the chamber units 110. In addition, the inline test handler 100 according to the present invention may be implemented in a configuration of minimizing a copper wire for transporting the test tray 200 between the sorting unit 120 and the chamber unit 110.

넷째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 챔버유닛(110)을 추가 또는 제거하여 공정라인을 확장 또는 축소시킬 때 상기 챔버유닛(110)을 방향에 관계없이 자유롭게 재배치할 수 있으므로, 공정라인을 확장 또는 축소시키는 작업의 용이성을 향상시킬 수 있다.Fourth, the inline test handler 100 according to the present invention can freely rearrange the chamber unit 110 regardless of the direction when expanding or contracting the process line by adding or removing the chamber unit 110, the process The ease of operation of expanding or contracting the line can be improved.

다섯째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 소팅유닛(120) 및 상기 챔버유닛(110)들이 별개의 장치로 구성되므로, 상기 소팅유닛(120)에 설치되는 기구 내지 장치들의 개수를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 소팅유닛(120)에 대한 잼 레이트(Jam rate)를 감소시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 소팅유닛(120)에 잼이 발생함에 따라 상기 소팅유닛(120)이 정지하는 시간을 줄임으로써 상기 소팅유닛(120)에 대한 가동시간을 증대시킬 수 있다.Fifth, since the sorting unit 120 and the chamber unit 110 are configured as separate devices, the inline test handler 100 according to the present invention reduces the number of devices or devices installed in the sorting unit 120. Can be. Accordingly, the inline test handler 100 according to the present invention may reduce the jam rate for the sorting unit 120. Therefore, the inline test handler 100 according to the present invention increases the operating time for the sorting unit 120 by reducing the time that the sorting unit 120 stops as the jam occurs in the sorting unit 120. You can.

특히, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)의 챔버유닛(110)은 챔버유닛(110)의 상태에 따라 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 판단하기 위한 제어모듈(101)을 포함한다. 이러한 제어모듈(101)이 챔버유닛의 상태를 판단하고, 판단결과 챔버유닛(110)이 새로운 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자에 대한 테스트를 수행할 수 있다고 판단되면 해당 테스트 트레이의 반입을 결정하고, 그렇지 않은 경우 해당 테스트 트레이의 통과를 결정하게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 다음과 같은 추가적인 작용 효과를 도모할 수 있다.In particular, the chamber unit 110 of the inline test handler 100 according to the present invention includes a control module 101 for determining whether the test tray is loaded or passed in accordance with the state of the chamber unit 110. When the control module 101 determines the state of the chamber unit and determines that the chamber unit 110 can perform a test on the semiconductor device housed in the new test tray, the control module 101 determines the carrying-in of the test tray. If not, it will pass the test tray. Therefore, the inline test handler 100 according to the present invention can achieve the following additional effects.

첫째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 테스트 트레이의 이송 중 챔버유닛(110)의 상태를 고려하여 해당 챔버유닛이 해당 테스트 트레이를 반입시킬 것인지 아니면 통과시킬 것인지 여부를 직접 판단할 수 있기 때문에, 테스트 트레이의 이송 시 챔버유닛의 상태변화에 적응적으로 대응할 수 있다.First, the inline test handler 100 according to the present invention may directly determine whether the chamber unit is to carry or pass the test tray in consideration of the state of the chamber unit 110 during the transfer of the test tray. Therefore, it is possible to adaptively respond to the change in the state of the chamber unit during the transfer of the test tray.

둘째, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 테스트 트레이의 이송 중 챔버유닛(110)의 상태변화에 적응적으로 대응할 수 있기 때문에, 테스트 트레이의 대기로 인한 작업시간 지연을 최소화할 수 있다.Second, since the inline test handler 100 according to the present invention can adaptively respond to the change in the state of the chamber unit 110 during the transfer of the test tray, it is possible to minimize the work time delay due to the waiting of the test tray.

이하, 인라인 테스트 핸들러(100)의 각 구성에 대해 보다 구체적으로 설명한다. 이하에서는 작업시간 최소화를 위한 본 발명의 특징인 챔버유닛(110)의 제어모듈(101) 및 식별정보 확인부(102)를 먼저 설명한 후 나머지 구성에 대해 설명하기로 한다.Hereinafter, each configuration of the inline test handler 100 will be described in more detail. Hereinafter, the control module 101 and the identification information checking unit 102 of the chamber unit 110 which is a feature of the present invention for minimizing the working time will be described first, and then the rest of the configuration will be described.

먼저, 제어모듈(101)은 테스트 트레이의 도착이 감지되면, 챔버유닛(110)의 상태를 판단하고, 판단결과 챔버유닛(110)이 도착된 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자에 대한 테스트를 수행할 수 있는 상태인 것으로 판단되면 해당 테스트 트레이의 반입을 결정하고, 그렇지 않은 경우 해당 테스트 트레이의 통과를 결정한다.First, when the arrival of the test tray is detected, the control module 101 determines the state of the chamber unit 110, and as a result of the determination, the control module 101 performs a test on the semiconductor device housed in the test tray where the chamber unit 110 has arrived. If it is determined that it is possible to do so, it is determined to bring in the test tray.

이러한 챔버유닛(110)의 제어모듈(101)의 구성을 도 2b를 참조하여 보다 구체적으로 설명한다.The configuration of the control module 101 of the chamber unit 110 will be described in more detail with reference to FIG. 2B.

도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 챔버유닛의 제어모듈의 구성을 개략적으로 보여주는 블록도이다.Figure 2b is a block diagram schematically showing the configuration of the control module of the chamber unit according to an embodiment of the present invention.

도 2b에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 챔버유닛(110)의 제어모듈(101)은 식별정보 수신부(103), 제1 판단부(104), 산출부(105), 제2 판단부(106), 및 제어명령 생성부(107)를 포함한다.As shown in FIG. 2B, the control module 101 of the chamber unit 110 according to an embodiment of the present invention may include an identification information receiver 103, a first determiner 104, a calculator 105, and a third controller. 2 judgment unit 106, and control command generation unit 107.

먼저, 식별정보 수신부(103)는 챔버유닛(110)과 매칭되어 있는 식별정보 확인부(102)로부터 해당 식별정보 확인부(102)에 의해 인식된 테스트 트레이의 식별정보를 수신한다.First, the identification information receiving unit 103 receives the identification information of the test tray recognized by the identification information confirming unit 102 from the identification information confirming unit 102 matched with the chamber unit 110.

일 실시예에 있어서, 식별정보 수신부(103)에 의해 수신된 테스트 트레이의 식별정보에는 테스트 트레이의 기본 ID 및 COK(Change Over Kit)정보가 포함되어 있다. 이때, COK정보는 해당 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자의 종류 또는 해당 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자에 대해 수행되어야 하는 테스트 종류(이하, '테스트 종류'라 함) 등의 정보를 포함한다.In one embodiment, the identification information of the test tray received by the identification information receiving unit 103 includes the basic ID and COK (Change Over Kit) information of the test tray. In this case, the COK information includes information such as a type of semiconductor device stored in the test tray or a test type (hereinafter, referred to as a 'test type') to be performed on the semiconductor device stored in the test tray.

식별정보 수신부(103)는 수신된 식별정보로부터 해당 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자의 종류 및 테스트 종류를 추출하고, 추출된 반도체 소자의 종류 및 테스트 종류를 제1 판단부(104)로 전달함으로써 제1 판단부(104)가 테스트 가능여부를 판단할 수 있게 된다.The identification information receiver 103 extracts the type and the test type of the semiconductor device stored in the test tray from the received identification information, and transmits the type and the test type of the extracted semiconductor device to the first determination unit 104. The first determination unit 104 may determine whether the test is possible.

다음으로, 제1 판단부(104)는 식별정보 수신부(103)로부터 반도체 소자의 종류 및 테스트 종류가 수신되면, 해당 챔버유닛(110)이 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하는지 여부를 판단한다.Next, when the type and test type of the semiconductor device are received from the identification information receiver 103, the first determiner 104 determines whether the corresponding chamber unit 110 supports the test type for the semiconductor device. .

판단결과, 해당 챔버유닛(110)이 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하는 것으로 판단되면, 제1 판단부(104)는 판단결과를 산출부(105)로 전달함으로써 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부가 판단될 수 있도록 한다.As a result of determination, when it is determined that the chamber unit 110 supports the test type for the semiconductor device, the first determination unit 104 transfers the determination result to the calculation unit 105 to bring in or pass the test tray. To be judged.

판단결과, 해당 챔버유닛(110)이 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하지 않는 것으로 판단되면, 제1 판단부(104)는 판단결과를 제어명령 생성부(107)로 전달함으로써 해당 반도체 소자가 수납되어 있는 테스트 트레이가 해당 챔버유닛(110)을 통과하여 다른 챔버유닛(110)으로 이송될 수 있도록 한다.If it is determined that the chamber unit 110 does not support the test type for the semiconductor device, the first determination unit 104 transmits the determination result to the control command generation unit 107 so that the semiconductor device is The stored test trays may be transferred to another chamber unit 110 through the corresponding chamber unit 110.

이하, 이러한 제1 판단부(104)의 동작과정을 예를 들어 간략히 설명하기로 한다.Hereinafter, an operation process of the first determination unit 104 will be briefly described, for example.

예컨대, 식별정보 수신부(103)로부터 수신된 테스트 종류가 저온 테스트이고, 해당 챔버유닛(110)에는 고온에서 테스트를 수행할 수 있는 챔버만 포함되어 있는 경우, 제1 판단부(104)는 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하지 않는 것으로 판단하고, 해당 챔버유닛(110)에 테스트 종류를 지원하지 않는 다는 판단결과를 제어명령 생성부(107)로 전달한다. 한편, 식별정보 수신부(103)로부터 수신된 테스트 종류가 고온 테스트인 경우, 해당 챔버유닛(110)에 고온에서 테스트를 수행할 수 있는 챔버가 포함되어 있기 때문에, 제1 판단부(104)는 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하는 것으로 판단하고, 판단 결과를 산출부(105)로 전달한다.For example, when the test type received from the identification information receiving unit 103 is a low temperature test, and the chamber unit 110 includes only a chamber capable of performing a test at a high temperature, the first determination unit 104 determines the semiconductor. It is determined that the test type for the device is not supported, and a result of determining that the test type is not supported for the corresponding chamber unit 110 is transmitted to the control command generation unit 107. On the other hand, when the test type received from the identification information receiving unit 103 is a high temperature test, since the chamber for performing the test at a high temperature is included in the chamber unit 110, the first determination unit 104 corresponds to It is determined that the test type for the semiconductor device is supported, and the determination result is transmitted to the calculator 105.

이와 같이, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 제1 판단부(104)가 챔버유닛(100)의 테스트 종류 지원 여부를 우선 판단하므로 테스트 종류를 지원하지 않는 경우 빠른 시간 내에 해당 테스트 트레이의 통과를 결정할 수 있어 테스트 트레이의 불필요한 대기시간을 감소시킬 수 있다.As described above, the inline test handler 100 according to the present invention first determines whether the test unit 104 supports the test type of the chamber unit 100, and thus, if the test type does not support the test type, the corresponding test tray may be quickly replaced. Passage can be determined, reducing unnecessary latency in the test tray.

다음으로, 산출부(105)는 제1 판단부(104)로부터 챔버유닛(110)이 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원한다는 판단결과를 수신하면, 해당 챔버유닛(110)에 대기중인 테스트 트레이의 개수 및 해당 챔버유닛(110)에서의 평균 테스트 소요시간에 기초하여 테스트 트레이의 대기시간을 산출한다.Next, when the calculation unit 105 receives a determination result from the first determination unit 104 that the chamber unit 110 supports the test type for the semiconductor device, the test tray waiting for the chamber unit 110 is waiting. The waiting time of the test tray is calculated based on the number of and the average test time required in the chamber unit 110.

이를 위해, 산출부(105)는 산출부(105) 내부에 포함된 카운터(미도시)를 이용하여 해당 챔버유닛(110)에 반입되기 위해 대기중인 테스트 트레이의 개수를 산출한다.To this end, the calculator 105 calculates the number of test trays waiting to be carried in the chamber unit 110 using a counter (not shown) included in the calculator 105.

일 실시예에 있어서, 산출부(105)는 카운터에 의해 카운팅된 대기중인 테스트 트레이의 개수와 해당 챔버유닛(110)에서의 평균 테스트 소요시간을 승산함으로써 해당 챔버유닛(110)에서의 테스트를 위한 대기시간을 산출할 수 있다.In one embodiment, the calculator 105 multiplies the number of waiting test trays counted by the counter with the average test time required by the chamber unit 110 to test for the chamber unit 110. The waiting time can be calculated.

산출부(105)는 산출된 대기시간을 제2 판단부(106)로 전달한다.The calculator 105 transmits the calculated waiting time to the second determiner 106.

다음으로, 제2 판단부(106)는 산출부(105)에 의해 산출된 해당 챔버유닛(110)에서의 대기시간을 미리 정해진 임계치와 비교하여, 테스트 트레이를 해당 챔버유닛(110)으로 반입시킬지 또는 통과시킬지 여부를 최종적으로 판단한다.Next, the second determination unit 106 compares the waiting time in the chamber unit 110 calculated by the calculation unit 105 with a predetermined threshold value, and determines whether to carry the test tray into the chamber unit 110. Or finally determine whether to pass.

구체적으로, 제2 판단부(106)는 산출부(105)에 의해 산출된 해당 챔버유닛(110)에서의 대기시간이 미리 정해진 임계치를 초과하는 경우 테스트 트레이를 통과시키는 것으로 결정한다. 또한, 제2 판단부(106)는 산출부(105)에 의해 산출된 해당 챔버유닛(110)에서의 대기시간이 미리 정해진 임계치 이하인 경우 테스트 트레이를 해당 챔버유닛(110)으로 반입시키는 것으로 판단한다.Specifically, the second determination unit 106 determines to pass the test tray when the waiting time in the chamber unit 110 calculated by the calculation unit 105 exceeds a predetermined threshold. In addition, the second determination unit 106 determines that the test tray is brought into the chamber unit 110 when the waiting time in the chamber unit 110 calculated by the calculation unit 105 is equal to or less than a predetermined threshold value. .

일 실시예에 있어서, 미리 정해진 임계치는 인라인 테스트 핸들러(100)가 처리해야 하는 모든 테스트 트레이의 개수(또는 반도체 소자의 개수)에 따라 가변적으로 설정될 수 있다. 예컨대, 인라인 테스트 핸들러(100)가 처리해야 하는 모든 테스트 트레이의 개수가 제1 기준값 이하인 경우, 미리 정해진 임계치는 낮은 값(이하, '최소값'이라 함)으로 설정될 수 있다. 또한, 인라인 테스트 핸들러(100)가 처리해야 하는 모든 테스트 트레이의 개수가 제1 기준값보다 크고 제2 기준값 이하인 경우 미리 정해진 임계치는 최소값보다 높은 값(이하, '중간값이라 함)으로 설정될 수 있다. 또한, 인라인 테스트 핸들러(100)가 처리해야 하는 모든 테스트 트레이의 개수가 제2 기준값을 초과하는 경우 미리 정해진 임계치는 중간값 보다 높은 값(이하, '최대값'이라 함)으로 설정될 수 있다.In one embodiment, the predetermined threshold may be variably set according to the number of all test trays (or the number of semiconductor elements) that the inline test handler 100 must process. For example, when the number of all test trays to be processed by the inline test handler 100 is equal to or less than the first reference value, the predetermined threshold may be set to a low value (hereinafter, referred to as a 'minimum value'). In addition, when the number of all the test trays to be processed by the inline test handler 100 is greater than the first reference value and less than or equal to the second reference value, the predetermined threshold value may be set to a value higher than the minimum value (hereinafter, referred to as an intermediate value). . In addition, when the number of all the test trays to be processed by the inline test handler 100 exceeds the second reference value, the predetermined threshold may be set to a value higher than the median (hereinafter, referred to as 'maximum value').

이는, 인라인 테스트 핸들러(100)가 처리해야 하는 모든 테스트 트레이의 개수가 작은 경우, 특정 챔버유닛(110)에서의 대기시간은 길더라도 다른 챔버유닛(110)에서의 대기시간은 짧을 수 있으므로 미리 정해진 임계치가 최소값으로 설정되게 함으로써, 테스트 트레이가 대기시간이 긴 특정 챔버유닛(110)을 통과하도록 하는 것이 작업시간 최소화 측면에서 유리할 수 있기 때문이다This is because, if the number of all the test trays to be processed by the inline test handler 100 is small, even if the waiting time in the specific chamber unit 110 is long, the waiting time in the other chamber unit 110 may be short, and thus the predetermined threshold value. This is because it may be advantageous in terms of minimizing the work time by allowing the test tray to pass through the specific chamber unit 110 having a long waiting time by setting the minimum value.

또한, 인라인 테스트 핸들러(100)가 처리해야 하는 모든 테스트 트레이의 개수가 많은 경우 대부분의 챔버유닛(110)에서의 대기시간이 길 가능성이 높기 때문에 미리 정해진 임계치가 최대값으로 설정되게 함으로써 특정 챔버유닛(110)에서의 대기시간이 길다고 하더라도 해당 챔버유닛(110)에서 테스트 트레이가 처리되도록 하는 것이 작업시간 최소화 측면에서 유리할 수 있기 때문이다.In addition, when the number of all the test trays to be processed by the inline test handler 100 is large, the waiting time in most chamber units 110 is likely to be long, so that a predetermined threshold value is set to a maximum value. Even if the waiting time at 110 is long, it may be advantageous in terms of minimizing working time to allow the test tray to be processed in the chamber unit 110.

제2 판단부(106)는 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부에 대한 판단결과를 제어명령 생성부(107)로 전달한다.The second determination unit 106 transmits a determination result regarding whether the test tray is carried in or passed to the control command generation unit 107.

상술한 실시예에 있어서는, 제1 판단부(104), 산출부(105), 및 제2 판단부(106)가 별개의 구성인 것으로 설명하였지만, 이는 하나의 예일 뿐 변형된 실시예에 있어서 제1 판단부(104), 산출부(105), 및 제2 판단부(106)는 하나의 구성으로 통합되어 구성될 수도 있을 것이다.In the above-described embodiment, the first determination unit 104, the calculation unit 105, and the second determination unit 106 has been described as having a separate configuration, but this is only one example, in the modified embodiment The first determining unit 104, the calculating unit 105, and the second determining unit 106 may be integrated into one configuration.

또한 상술한 실시예에 있어서는, 산출부(105)가 챔버유닛(110)에서 대기중인 테스트 트레이의 개수 및 평균 테스트 소요시간을 이용하여 해당 챔버유닛(110)에서의 대기시간을 산출하고, 제2 판단부(106)가 대기시간을 미리 정해진 임계치와 비교하여 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 판단하는 것으로 설명하였다.In addition, in the above-described embodiment, the calculation unit 105 calculates the waiting time in the chamber unit 110 by using the number of test trays waiting in the chamber unit 110 and the average test time, and the second The determination unit 106 has been described as determining whether the test tray is loaded or passed by comparing the waiting time with a predetermined threshold.

하지만, 이는 하나의 예에 불과할 뿐, 변형된 실시예에 있어서 산출부(105)는 해당 챔버유닛(110)에서 대기중인 테스트 트레이의 개수만을 카운팅하고, 제2 판단부(106)는 대기중인 테스트 트레이의 개수를 미리 정해진 임계개수와 비교하여 테스트 트레의 반입 또는 통과여부를 판단할 수 있다.However, this is only one example, and in the modified embodiment, the calculation unit 105 counts only the number of test trays waiting in the chamber unit 110, and the second determination unit 106 waits for the test. The number of trays may be compared with a predetermined threshold number to determine whether the test tray is loaded or passed.

즉, 제2 판단부(106)는 산출부(105)에 의해 산출된 대기중인 테스트 트레이의 개수가 임계개수 이하이면 테스트 트레이를 해당 챔버유닛(110)으로 반입시키는 것으로 판단하고, 대기중인 테스트 트레이의 개수가 임계개수를 초과하면 테스트 트레이를 통과시키는 것으로 판단할 수 있다.That is, the second determination unit 106 determines that the test trays are brought into the corresponding chamber unit 110 when the number of waiting test trays calculated by the calculation unit 105 is less than or equal to the threshold number, and the waiting test trays are determined. When the number of times exceeds the threshold number, it may be determined that the test tray is passed.

이와 같이, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 챔버유닛(110)이 테스트 종류를 지원하더라도 대기시간이 임계치를 초과하는 경우에는 빠른 시간 내에 해당 테스트 트레이의 통과를 결정함으로써 테스트 트레이의 불필요한 대기시간 감소를 극대화 시킬 수 있다.As such, the inline test handler 100 according to the present invention determines the passage of the test tray within a short time when the waiting time exceeds the threshold even if the chamber unit 110 supports the test type. The time reduction can be maximized.

다음으로, 제어명령 생성부(107)는 제1 판단부(104) 및 제2 판단부(106)로부터의 판단결과에 따라 테스트 트레이의 이송을 위한 제어명령을 생성한다.Next, the control command generation unit 107 generates a control command for the transfer of the test tray according to the determination results from the first determination unit 104 and the second determination unit 106.

구체적으로, 제어명령 생성부(107)는 제1 판단부(104)로부터 해당 챔버유닛(110)이 테스트 종류를 지원하지 않는다는 판단결과를 수신하거나, 제2 판단부(104)로부터 대기시간이 미리 정해진 임계치를 초과한다는 판단결과를 수신하면 테스트 트레이를 통과시키기 위한 제1 제어명령을 생성한다.In detail, the control command generation unit 107 receives a determination result from the first determination unit 104 that the corresponding chamber unit 110 does not support the test type, or the waiting time is previously received from the second determination unit 104. Upon receiving the determination result that the predetermined threshold is exceeded, a first control command for passing the test tray is generated.

또한, 제어명령 생성부(107)는, 제2 판단부(104)로부터 대기시간이 미리 정해진 임계치 이하라는 판단결과를 수신하면 테스트 트레이를 해당 챔버유닛(110)으로 반입시키기 위한 제2 제어명령을 생성한다.In addition, the control command generation unit 107 receives a second control command for carrying the test tray into the chamber unit 110 when the determination result that the waiting time is less than or equal to the predetermined threshold value is received from the second determination unit 104. Create

제어명령 생성부(107)는 생성된 제1 제어명령 또는 제2 제어명령을 컨베이어유닛(130)으로 전송함으로써, 컨베이어유닛(130)이 제1 제어명령에 따라 테스트 트레이가 해당 챔버유닛(110)을 통과시키거나 제2 제어명령에 따라 테스트 트레이가 해당 챔버유닛(110)으로 반입시킬 수 있도록 한다.The control command generation unit 107 transmits the generated first control command or the second control command to the conveyor unit 130, so that the test tray is connected to the chamber unit 110 according to the first control command. Pass the test tray or allow the test tray to be loaded into the chamber unit 110 according to the second control command.

한편, 도 2b에서는 도시하지 않았지만, 챔버유닛(110)의 제어모듈(102)은 데이터베이스를 더 포함할 수 있다. 이러한 데이터베이스에는 각 챔버유닛(110)에서 수행된 테스트 소요시간 및 일정주기동안 수행된 테스트들의 소요시간을 평균한 평균 테스트 소요시간이 기록되어 있다. 데이터베이스에 기록되는 테스트 소요시간은 새로운 테스트가 수행될 때마다 새롭게 기록되고, 평균 테스트 소요시간은 일정주기가 경과할 때마다 새롭게 갱신된다.On the other hand, although not shown in Figure 2b, the control module 102 of the chamber unit 110 may further include a database. In such a database, the average test duration of the test time performed in each chamber unit 110 and the average time of the tests performed for a predetermined period are recorded. The test duration recorded in the database is newly recorded each time a new test is performed, and the average test duration is updated every time a certain period elapses.

이와같이, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 식별정보 확인부(102)로부터 테스트 트레이의 식별정보가 수신될 때마다 챔버유닛(110)이 자신의 상태에 따라 해당 테스트 트레이를 반입시킬지 또는 통과시킬지 여부를 결정할 수 있으므로, 테스트 트레이이 이송 중 발생되는 챔버유닛(110)의 상태변화에 대해 적응적으로 대응할 수 있고, 이로 인해 작업시간의 지연을 최소화시킬 수 있게 된다.As described above, the inline test handler 100 according to the present invention passes or passes the test tray according to its own state whenever the chamber unit 110 receives the identification information of the test tray from the identification information confirming unit 102. Since it can be determined whether or not to, the test tray can adaptively respond to the state change of the chamber unit 110 generated during the transfer, thereby minimizing the delay of the working time.

다시 도 2a를 참조하면, 식별정보 확인부(102)는 인라인 테스트 핸들러(100) 상에서 미리 정해진 지점마다 설치되어, 인라인 테스트 핸들러(100) 상에서 이송되는 테스트 트레이의 식별정보를 인식하고, 테스트 트레이의 식별정보가 인식될 때마다 인식된 테스트 트레이의 식별정보를 자신과 매칭되어 있는 챔버유닛(110)으로 전달한다.Referring again to FIG. 2A, the identification information confirming unit 102 is installed at each predetermined point on the inline test handler 100 to recognize identification information of the test tray transferred on the inline test handler 100, and to determine the test tray. Whenever the identification information is recognized, the identification information of the recognized test tray is transferred to the chamber unit 110 matching with the identification information.

일 실시예에 있어서, 식별정보 확인부(102)는 도 2a에 도시된 바와 같이, 각각의 챔버유닛(110)과 1:1로 매칭되도록 설치될 수 있다. 보다 구체적으로, 식별정보 확인부(102)는 컨베이어유닛(130) 상에서 각 챔버유닛(110)으로 진입할 수 있는 분기점에 각 챔버유닛(110)과 유선 또는 무선으로 연결되도록 -치될 수 있다.In one embodiment, the identification information confirming unit 102 may be installed to match 1: 1 with each chamber unit 110, as shown in Figure 2a. More specifically, the identification information confirming unit 102 may be mounted so as to be connected to each chamber unit 110 by wire or wirelessly at a branch point that may enter the chamber unit 110 on the conveyor unit 130.

이러한 식별정보 확인부(102)는 RFID 리더기, 바코드 리더기, 또는 블루투스 모듈을 이용하여 구현될 수 있다. 이러한 실시예에 따르는 경우, 테스트 트레이에는 테스트 트레이의 식별정보를 포함하는 RFID 태그, 바코드, 또는 블루투스 모듈이 탑재될 수 있다.The identification information confirming unit 102 may be implemented using an RFID reader, a barcode reader, or a Bluetooth module. According to this embodiment, the test tray may be equipped with an RFID tag, a barcode, or a Bluetooth module including identification information of the test tray.

스핀장치(1)는 인라인 테스트 핸들러(100)에서 테스트 트레이를 회전시키기 위한 것이다. 여기서, 상기 인라인 테스트 핸들러(100)는 도 2a에 도시된 바와 같이, 서로 상이(相異)한 방향을 향하도록 이격되어 설치된 제1챔버유닛(111) 및 제2챔버유닛(112)을 포함한다. 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 서로 상이한 방향을 향하도록 이격되어 설치된 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제2챔버유닛(112) 간에 운반되는 테스트 트레이(200)를 회전시킨다. 이에 따라, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 동일한 배치로 테스트되도록 구현될 수 있다. The spin apparatus 1 is for rotating the test tray in the inline test handler 100. Here, as shown in FIG. 2A, the inline test handler 100 includes a first chamber unit 111 and a second chamber unit 112 spaced apart from each other to face different directions. . The spin apparatus 1 according to the present invention rotates the test tray 200 carried between the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 spaced apart from each other to face different directions. Accordingly, the spin apparatus 1 according to the present invention may be implemented such that the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 are tested in the same arrangement. have.

이하, 이러한 스핀장치(1)에 대해 구체적으로 살펴보면, 다음과 같다.Hereinafter, the spin apparatus 1 will be described in detail.

우선, 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)은 서로 반대되는 방향을 향하도록 서로 이격되어 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출되어 상기 제2챔버유닛(112)으로 공급되는 테스트 트레이(200)를 회전시키지 않으면, 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들은 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제2챔버유닛(112)에서 서로 다른 배치로 테스트된다. 이를 명확하게 나타내기 위해, 도 3a 및 도 3b에 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들 중에서 어느 하나의 반도체 소자(300)를 빗금 친 직사각형으로 표시하였다.First, as shown in FIGS. 3A and 3B, the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 may be spaced apart from each other to face in opposite directions. In this case, unless the test tray 200, which is carried out from the first chamber unit 111 and supplied to the second chamber unit 112, is not rotated, the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 are stored in the first chamber. The unit 111 and the second chamber unit 112 are tested in different arrangements. To clearly illustrate this, any one of semiconductor devices 300 of the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 is shown as hatched rectangles in FIGS. 3A and 3B.

도 3a에 도시된 바와 같이, 상기 제1챔버유닛(111)을 정면에서 바라보는 방향(A 화살표 방향)을 기준으로, 상기 제1챔버유닛(111)에서 테스트 트레이(200)는 상기 반도체 소자(300)가 좌측 상방에 위치된 상태로 테스트공정이 수행된다. 그러나, 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출된 테스트 트레이(200)를 회전시키지 않으면, 상기 제2챔버유닛(112)을 정면에서 바라보는 방향(B 화살표 방향)을 기준으로, 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)는 해당 반도체 소자(300)가 우측 하방에 위치된 상태로 테스트 공정이 수행되게 된다. 즉, 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들은 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제2챔버유닛(112)에서 서로 다른 배치로 테스트된다.As shown in FIG. 3A, the test tray 200 is connected to the semiconductor device (111) in the first chamber unit 111 based on the direction in which the first chamber unit 111 is viewed from the front (A arrow direction). The test process is performed with 300) positioned on the upper left side. However, if the test tray 200 carried out from the first chamber unit 111 is not rotated, the second chamber is based on a direction (B arrow direction) facing the second chamber unit 112 from the front. In the unit 112, the test tray 200 may perform a test process with the semiconductor device 300 positioned below the right side. That is, the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 are tested in different arrangements in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112.

이에 따라, 상기 소팅유닛(120)은 언로딩공정을 수행함에 있어서 해당 반도체 소자(300)를 등급별로 분리하는데 어려움이 있는 문제가 있다. 상기 챔버유닛(110)에서 테스트공정을 수행함에 따른 등급은 반도체 소자가 위치한 좌표를 기준으로 부여되는데, 상기 반도체 소자(300)는 상기 제1챔버유닛(111)에서 제1좌표(C1)에서 테스트되고, 상기 제2챔버유닛(112)에서 상기 제1좌표(C1)와 상이한 제2좌표(C2)에서 테스트되기 때문이다. 따라서, 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 상기 제1좌표(C1)에 위치한 반도체 소자에 대한 등급은 서로 다른 반도체 소자에 대해 등급을 부여한 것이므로, 상기 소팅유닛(120)은 언로딩공정을 정확하게 수행할 수 없게 된다.Accordingly, the sorting unit 120 has a problem in that it is difficult to separate the semiconductor device 300 by grade in performing the unloading process. The grade according to the test process performed in the chamber unit 110 is given based on the coordinates at which the semiconductor device is located, and the semiconductor device 300 is tested at the first coordinate C1 in the first chamber unit 111. This is because the second chamber unit 112 is tested at a second coordinate C2 different from the first coordinate C1. Accordingly, since the grades of the semiconductor devices positioned in the first coordinate C1 in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 are given to different semiconductor devices, the sorting unit ( 120 may not accurately perform the unloading process.

이러한 문제를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 동일한 배치로 테스트되도록 테스트 트레이(200)를 회전시킨다.In order to solve this problem, the spin apparatus 1 according to the present invention tests the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 in the same arrangement. The test tray 200 is rotated so as to.

이에 따라, 도 3b에 도시된 바와 같이, 상기 제1챔버유닛(111)을 정면에서 바라보는 방향(A 화살표 방향)을 기준으로, 상기 제1챔버유닛(111)에서 테스트 트레이(200)는 상기 반도체 소자(300)가 좌측 상방에 위치된 상태로 테스트공정이 수행된다. 그리고, 상기 제2챔버유닛(112)을 정면에서 바라보는 방향(B 화살표 방향)을 기준으로, 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)는 해당 반도체 소자(300)가 좌측 상방에 위치된 상태로 테스트 공정이 수행되게 된다. 즉, 상기 반도체 소자(300)는 상기 제1챔버유닛(11)과 상기 제2챔버유닛(112) 각각에서 서로 동일한 제1좌표(C1)에 위치한 상태로 테스트된다. 이와 같이, 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들은 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제2챔버유닛(112)에서 서로 동일한 배치로 테스트된다.Accordingly, as shown in FIG. 3B, the test tray 200 is connected to the first chamber unit 111 based on the direction (A arrow direction) facing the first chamber unit 111. The test process is performed with the semiconductor device 300 positioned on the upper left side. In addition, in the second chamber unit 112, the test tray 200 has a corresponding semiconductor element 300 on the left upper side of the second chamber unit 112 based on the direction of looking at the front side of the second chamber unit 112. The test process is performed in the positioned state. That is, the semiconductor device 300 is tested in a state in which the first chamber unit 11 and the second chamber unit 112 are positioned at the same first coordinate C1. As such, the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 are tested in the same arrangement in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112.

따라서, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 동일한 배치로 테스트되도록 함으로써, 상기 소팅유닛(120)이 수행하는 언로딩공정에 대한 정확성 및 용이성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 다음과 같은 작용 효과를 도모할 수 있다.Therefore, the spin apparatus 1 according to the present invention allows the semiconductor elements accommodated in the test tray 200 in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 to be tested in the same arrangement, thereby sorting the sorting. The accuracy and ease of the unloading process performed by the unit 120 may be improved. In addition, the spin apparatus 1 according to the present invention can achieve the following effects.

첫째, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 챔버유닛(110)들에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 서로 동일한 배치로 테스트되도록 함으로써, 상기 인라인 테스트 핸들러(100)에 있어서 상기 챔버유닛(110)들이 모두 동일한 방향을 향하도록 설치해야 하는 제한을 없앨 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 인라인 테스트 핸들러(100)에 있어서 상기 챔버유닛(110)들을 배치하는 작업의 용이성과 자유도를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 인라인 테스트 핸들러(100)가 상기 소팅유닛(120) 및 상기 챔버유닛(110)들 간에 테스트 트레이(200)를 운반하기 위한 동선이 최소화되는 배치로 구현되는데 기여할 수 있다.First, the spin apparatus 1 according to the present invention allows the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in the chamber units 110 to be tested in the same arrangement, and thus, the chamber in the inline test handler 100. It is possible to remove the restriction that the units 110 must be installed so that they all face the same direction. Accordingly, the spin apparatus 1 according to the present invention may improve the ease and freedom of the work of arranging the chamber units 110 in the inline test handler 100. In addition, the spin apparatus 1 according to the present invention is arranged in such a way that the inline test handler 100 minimizes the copper wire for transporting the test tray 200 between the sorting unit 120 and the chamber unit 110. Can contribute to implementation.

둘째, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 인라인 테스트 핸들러(100)에 있어서 상기 챔버유닛(110)을 추가 또는 제거하여 공정라인을 확장 또는 축소시킬 때 챔버유닛(110)을 방향에 관계없이 자유롭게 재배치할 수 있으므로, 공정라인을 확장 또는 축소시키는 작업의 용이성을 향상시킬 수 있다.Second, the spin apparatus 1 according to the present invention, when the in-line test handler 100 adds or removes the chamber unit 110 to expand or contract the process line, regardless of the direction of the chamber unit 110. Since it can be rearranged freely, it is possible to improve the ease of operation to expand or shrink the process line.

셋째, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 챔버유닛(110)들에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 서로 동일한 배치로 테스트되도록 함으로써, 상기 로딩공정, 상기 언로딩공정 및 상기 테스트공정 각각을 수행하는데 걸리는 시간을 고려하여 상기 챔버유닛(110)들이 설치된 방향에 관계없이 상기 컨베이어유닛(130)이 테스트 트레이(200)를 효율적으로 분배하도록 구현될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 인라인 테스트 핸들러(100)에 있어서 장비 가동률을 향상시키고, 반도체 소자에 대해 로딩공정, 테스트공정 및 소팅공정이 완료될 때까지 걸리는 시간을 줄이는데 기여할 수 있다.Third, the spin apparatus 1 according to the present invention allows the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in the chamber units 110 to be tested in the same arrangement, so that the loading process, the unloading process and the test are performed. In consideration of the time taken to perform each process, the conveyor unit 130 may be implemented to distribute the test tray 200 efficiently regardless of the direction in which the chamber units 110 are installed. Accordingly, the spin apparatus 1 according to the present invention can contribute to improving the equipment operation rate in the inline test handler 100 and reducing the time taken for the loading process, the test process and the sorting process to be completed for the semiconductor device. have.

이를 위해, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 다음과 같은 구성을 포함할 수 있다.To this end, the spin apparatus 1 according to the present invention may include the following configuration.

도 4 내지 도 6을 참고하면, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 테스트 트레이(200)를 지지하기 위한 지지기구(2), 상기 지지기구(2)가 회전 가능하게 결합되는 베이스기구(3), 및 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)를 회전시키기 위해 상기 지지기구(2)를 회전시키는 회전기구(4, 도 6에 도시됨)를 포함한다.4 to 6, the spin apparatus 1 according to the present invention includes a support mechanism 2 for supporting the test tray 200, and a base mechanism 3 rotatably coupled to the support mechanism 2. And a rotation mechanism 4 (shown in FIG. 6) for rotating the support mechanism 2 to rotate the test tray 200 supported by the support mechanism 2.

상기 지지기구(2)는 상기 챔버유닛(110, 도 4에 도시됨)들로부터 반출되는 테스트 트레이(200, 도 4에 도시됨)를 지지한다. 상기 지지기구(2)는 제1챔버유닛(111, 도 4에 도시됨)으로부터 반출되는 테스트 트레이(200)를 지지할 수 있다. 이 경우, 테스트 트레이(200)는 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출되어 상기 지지기구(2)에 지지된 상태로 회전된 후, 상기 제2챔버유닛(112, 도 4에 도시됨)으로 공급될 수 있다. 상기 지지기구(2)는 제2챔버유닛(112)으로부터 반출되는 테스트 트레이(200)를 지지할 수도 있다. 이 경우, 테스트 트레이(200)는 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 반출되어 상기 지지기구(2)에 지지된 상태로 회전된 후, 상기 제1챔버유닛(111)으로 공급될 수 있다.The support mechanism 2 supports the test tray 200 (shown in FIG. 4) carried out from the chamber units 110 (shown in FIG. 4). The support mechanism 2 may support the test tray 200 carried out from the first chamber unit 111 (shown in FIG. 4). In this case, the test tray 200 is carried out from the first chamber unit 111 and rotated while being supported by the support mechanism 2, and then the second tray unit 112 (shown in FIG. 4) is rotated. Can be supplied. The support mechanism 2 may support the test tray 200 carried out from the second chamber unit 112. In this case, the test tray 200 may be removed from the second chamber unit 112, rotated while being supported by the support mechanism 2, and then supplied to the first chamber unit 111.

상기 지지기구(2)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112) 사이에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 지지기구(2)는 상기 컨베이어유닛(130, 도 4에 도시됨)을 매개로 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)을 인라인으로 연결할 수 있다. 예컨대, 상기 컨베이어유닛(130)은 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 소팅유닛(120)을 인라인으로 연결하는 제1컨베이어기구(131, 도 4에 도시됨), 및 상기 제2챔버유닛(112)과 상기 소팅유닛(120)을 인라인으로 연결하는 제2컨베이어기구(132, 도 4에 도시됨)를 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 지지기구(2)는 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132) 사이에 설치됨으로써, 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132)를 인라인으로 연결할 수 있다. 이에 따라, 상기 지지기구(2)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)을 인라인으로 연결할 수 있다.The support mechanism 2 may be installed to be positioned between the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112. The support mechanism 2 may connect the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 in-line via the conveyor unit 130 (shown in FIG. 4). For example, the conveyor unit 130 may include a first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 4) connecting the first chamber unit 111 and the sorting unit 120 inline, and the second chamber unit ( 112 may include a second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 4) that connects the sorting unit 120 inline. In this case, the support mechanism 2 is installed between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132, thereby providing the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132. You can connect inline. Accordingly, the support mechanism 2 may connect the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 inline.

상기 지지기구(2)는 테스트 트레이(200)가 통과하기 위한 통과공(21)을 포함할 수 있다. 상기 통과공(21)에 의해 상기 지지기구(2)는 일측이 개방된 형태로 형성될 수 있다. 테스트 트레이(200)는 상기 통과공(21)을 통해 상기 지지기구(2)로 반입되고, 상기 지지기구(2)로부터 반출될 수 있다.The support mechanism 2 may include a passage hole 21 through which the test tray 200 passes. By the through hole 21, the support mechanism 2 may be formed in a form in which one side is open. The test tray 200 may be carried into the support mechanism 2 through the through hole 21, and may be carried out from the support mechanism 2.

상기 지지기구(2)는 테스트 트레이(200)의 이동을 가이드하기 위한 가이드부재들(22, 22')을 포함할 수 있다. 테스트 트레이(200)는 양측 변(邊)들이 상기 가이드부재들(22, 22')에 삽입되어 상기 가이드부재들(22, 22')을 따라 이동할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 테스트 트레이(200)를 상기 지지기구(2)로 반입하는 공정 및 테스트 트레이(200)를 상기 지지기구(2)로부터 반출하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다. 상기 가이드부재들(22, 22')은 테스트 트레이(200)를 지지하는 기능도 병행하여 수행할 수 있다. 상기 가이드부재들(22, 22')은 각각 디귿 자 형태로 형성될 수 있다.The support mechanism 2 may include guide members 22 and 22 ′ for guiding the movement of the test tray 200. Both sides of the test tray 200 may be inserted into the guide members 22 and 22 'to move along the guide members 22 and 22'. Accordingly, the spin apparatus 1 according to the present invention provides the accuracy of the process of bringing the test tray 200 into the support mechanism 2 and the process of carrying out the test tray 200 from the support mechanism 2. Can be improved. The guide members 22 and 22 'may also perform a function of supporting the test tray 200 in parallel. The guide members 22 and 22 'may be formed in the form of digital devices.

도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 베이스기구(3)는 상기 지지기구(2)를 지지한다. 상기 지지기구(2)는 상기 베이스기구(3)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 지지기구(2)는 베어링(미도시)을 매개로 하여 상기 베이스기구(3)에 회전 가능하게 결합될 수 있다. 상기 베이스기구(3)는 본체(10)에 결합된다. 상기 본체(10)는 상기 지지기구(2) 및 상기 컨베이어유닛(130, 도 4에 도시됨) 간에 테스트 트레이(200, 도 4에 도시됨)가 이송될 수 있는 높이에 상기 지지기구(2)가 위치되게 상기 베이스기구(3)를 지지할 수 있다. 상기 본체(10)는 상기 지지기구(2)가 상기 제1컨베이어기구(131, 도 4에 도시됨) 및 상기 제2컨베이어기구(132, 도 4에 도시됨) 사이에 위치되게 상기 베이스기구(3)를 지지할 수 있다.4 to 6, the base mechanism 3 supports the support mechanism 2. The support mechanism 2 is rotatably coupled to the base mechanism 3. The support mechanism 2 may be rotatably coupled to the base mechanism 3 via a bearing (not shown). The base mechanism 3 is coupled to the body 10. The main body 10 has the support mechanism 2 at a height at which a test tray 200 (shown in FIG. 4) can be transferred between the support mechanism 2 and the conveyor unit 130 (shown in FIG. 4). It can support the base mechanism (3) to be located. The main body 10 includes the base mechanism such that the support mechanism 2 is positioned between the first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 4) and the second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 4). 3) can be supported.

도 3 내지 도 6을 참고하면, 상기 회전기구(4)는 상기 베이스기구(3)에 설치된다. 상기 회전기구(4)는 상기 지지기구(2)를 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 회전기구(4)는 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)를 회전시킬 수 있다. 따라서, 상기 회전기구(4)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 동일한 배치로 테스트되도록 테스트 트레이(200)를 회전시킬 수 있다.3 to 6, the rotation mechanism 4 is installed in the base mechanism 3. The rotary mechanism 4 may rotate the support mechanism 2. Accordingly, the rotation mechanism 4 may rotate the test tray 200 supported by the support mechanism 2. Accordingly, the rotation mechanism 4 rotates the test tray 200 such that the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 are tested in the same arrangement in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112. You can.

상기 회전기구(4)는 상기 베이스기구(3)의 하측에 위치되게 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 베이스기구(3)는 상기 회전기구(4)와 상기 지지기구(2) 사이에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 회전기구(4)는 상기 베이스기구(3)를 관통하여 상기 지지기구(2)에 결합될 수 있다. 상기 회전기구(4)는 상기 베이스기구(3)에서 상기 지지기구(2)를 향하는 수직방향(Z축 방향)으로 형성된 회전축(4a, 도 6에 도시됨)을 중심으로 상기 지지기구(2)를 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 회전기구(4)는 수평상태의 테스트 트레이(200)를 수평상태로 유지하면서 회전시킬 수 있다.The rotating mechanism 4 may be installed to be located below the base mechanism 3. In this case, the base mechanism 3 may be installed to be located between the rotary mechanism 4 and the support mechanism 2. The rotary mechanism 4 may be coupled to the support mechanism 2 through the base mechanism 3. The rotating mechanism 4 is supported by the support mechanism 2 about a rotation axis 4a (shown in FIG. 6) formed in the vertical direction (Z-axis direction) from the base mechanism 3 toward the support mechanism 2. Can be rotated. Accordingly, the rotary mechanism 4 can rotate while maintaining the test tray 200 in a horizontal state.

도 3b에 도시된 바와 같이 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)이 서로 반대되는 방향을 향하도록 설치된 경우, 상기 회전기구(4, 도 6에 도시됨)는 상기 테스트 트레이(200)를 180도 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 테스트 트레이(100)는 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출되었을 때와 비교할 때, 180도 반전된 방향으로 상기 제2챔버유닛(112)에 공급될 수 있다. 따라서, 상기 회전기구(4)는 상기 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 동일한 배치로 테스트되도록 할 수 있다.As shown in FIG. 3B, when the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 are installed to face in opposite directions to each other, the rotating mechanism 4 and 6 shown in FIG. The tray 200 may be rotated 180 degrees. Accordingly, the test tray 100 may be supplied to the second chamber unit 112 in a direction reversed by 180 degrees as compared with when it is carried out from the first chamber unit 111. Therefore, the rotating mechanism 4 may allow the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 to be tested in the same arrangement in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112.

도시되지 않았지만, 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)이 90도 각도로 서로 다른 방향을 향하도록 설치된 경우, 상기 회전기구(4)는 상기 테스트 트레이(200)를 90도 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전기구(4)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)이 서로 다른 방향을 향하면서 이루는 각도에 대응되는 각도로 상기 테스트 트레이(200)를 회전시킬 수 있다. 상기 회전기구(4)는 상기 테스트 트레이(200)를 상기 회전축(4a, 도 6에 도시됨)을 중심으로 시계방향 또는 반시계방향으로 회전시킬 수 있다.Although not shown, when the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 are installed to face different directions at a 90 degree angle, the rotating mechanism 4 rotates the test tray 200 by 90 degrees. Can also be rotated. That is, the rotation mechanism 4 may rotate the test tray 200 at an angle corresponding to the angle formed by the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 in different directions. have. The rotation mechanism 4 may rotate the test tray 200 in a clockwise or counterclockwise direction about the rotation shaft 4a (shown in FIG. 6).

상기 회전기구(4)는 상기 지지기구(2)를 회전시키기 위한 회전력을 발생시키는 모터(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 지지기구(2)에 직접 결합됨으로써, 상기 지지기구(2)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 지지기구(2)가 서로 소정 거리 이격된 경우, 상기 회전기구(4)는 상기 모터와 상기 지지기구(2)를 연결하기 위한 연결수단을 더 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리 및 벨트 등일 수 있다.The rotary mechanism 4 may include a motor (not shown) for generating a rotational force for rotating the support mechanism (2). The motor may be directly coupled to the support mechanism 2 to rotate the support mechanism 2. When the motor and the support mechanism 2 are spaced apart from each other by a predetermined distance, the rotation mechanism 4 may further include connecting means for connecting the motor and the support mechanism 2. The connecting means may be a pulley and a belt.

도 3, 도 6 내지 도 12를 참고하면, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 테스트 트레이(200)를 이송하기 위해 상기 지지기구(2)에 설치되는 이송기구(5)를 더 포함할 수 있다.3, 6 to 12, the spin apparatus 1 according to the present invention may further include a transfer mechanism 5 installed in the support mechanism 2 to transfer the test tray 200. have.

상기 이송기구(5)는 상기 제1챔버유닛(111, 도 4에 도시됨)으로부터 반출되는 테스트 트레이(200)를 상기 지지기구(2)로 이송한다. 상기 이송기구(5)는 상기 제1컨베이어기구(131, 도 4에 도시됨)로부터 반출되는 테스트 트레이(200)를 상기 지지기구(2)로 이송할 수 있다. 이 경우, 상기 제1컨베이어기구(131)로부터 반출되는 테스트 트레이(200)는 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출된 것이다. 테스트 트레이(200)가 상기 지지기구(2)에 지지되면, 상기 회전기구(4)는 상기 지지기구(2)를 회전시켜서 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)를 회전시킨다.The transfer mechanism 5 transfers the test tray 200 carried out from the first chamber unit 111 (shown in FIG. 4) to the support mechanism 2. The transfer mechanism 5 may transfer the test tray 200 carried out from the first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 4) to the support mechanism 2. In this case, the test tray 200 carried out from the first conveyor mechanism 131 is carried out from the first chamber unit 111. When the test tray 200 is supported by the support mechanism 2, the rotary mechanism 4 rotates the support mechanism 2 to rotate the test tray 200 supported by the support mechanism 2.

상기 이송기구(5)는 상기 회전기구(4)에 의해 회전된 테스트 트레이(200)가 상기 제2챔버유닛(112, 도 4에 도시됨)으로 공급되도록 상기 지지기구(2)로부터 테스트 트레이(200)를 반출한다. 상기 이송기구(5)는 상기 회전기구(4)에 의해 회전된 테스트 트레이(200)를 상기 제2컨베이어기구(132, 도 4에 도시됨)로 반출할 수 있다. 이 경우, 상기 제2컨베이어기구(131)로부터 반출된 테스트 트레이(200)는 상기 제2챔버유닛(111)으로 공급될 수 있다.The transfer mechanism 5 is a test tray from the support mechanism 2 such that the test tray 200 rotated by the rotation mechanism 4 is supplied to the second chamber unit 112 (shown in FIG. 4). Export 200). The transfer mechanism 5 may carry out the test tray 200 rotated by the rotation mechanism 4 to the second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 4). In this case, the test tray 200 carried out from the second conveyor mechanism 131 may be supplied to the second chamber unit 111.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 동일한 배치로 테스트되도록 테스트 트레이(200)를 회전시킬 수 있을 뿐만 아니라, 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112) 간에 테스트 트레이(200)를 운반하는 기능도 수행할 수 있다. 상기에서는 테스트 트레이(200)가 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출되어 상기 제2챔버유닛(112)으로 공급되는 경우를 설명하였으나, 상기 이송기구(5)는 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 반출되어 상기 제1챔버유닛(111)으로 공급되는 테스트 트레이(200)에 대해서도 회전 및 이송을 수행할 수 있다.As described above, the spin apparatus 1 according to the present invention tests the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 to be tested in the same arrangement. In addition to rotating the tray 200, a function of transporting the test tray 200 between the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 may be performed. In the above description, a case in which the test tray 200 is carried out from the first chamber unit 111 and supplied to the second chamber unit 112 has been described. However, the transfer mechanism 5 may include the second chamber unit 112. Rotation and transfer may also be performed on the test tray 200 which is carried out from the first tray unit 111 and is supplied to the first chamber unit 111.

도 3, 도 6 내지 도 12를 참고하면, 상기 이송기구(5)는 테스트 트레이(200)에 삽입되기 위한 삽입부재(51, 도 6에 도시됨), 상기 삽입부재(51)가 결합되는 승강부재(52, 도 6에 도시됨), 상기 승강부재(52)를 승강(昇降)시키기 위한 승강기구(53, 도 6에 도시됨), 및 상기 승강기구(53)를 이동시키는 구동기구(54, 도 6에 도시됨)를 포함할 수 있다.3, 6 to 12, the transfer mechanism 5 is an insertion member 51 (shown in FIG. 6) to be inserted into the test tray 200, and the lifting member to which the insertion member 51 is coupled. The member 52 (shown in FIG. 6), the elevating mechanism 53 (shown in FIG. 6) for elevating the elevating member 52, and the drive mechanism 54 for moving the elevating mechanism 53. , As shown in FIG. 6).

상기 삽입부재(51)는 상기 베이스기구(3)에서 상기 지지기구(2)를 향하는 상측방향(D 화살표 방향, 도 7에 도시됨)으로 상기 승강부재(52)로부터 돌출되게 형성된다. 상기 승강기구(53)가 상기 승강부재(52)를 상승시키면, 상기 삽입부재(51)는 테스트 트레이(200)에 형성된 이송홈(210, 도 7에 도시됨)에 삽입된다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 삽입부재(51)가 이동함에 따라 이송될 수 있는 상태로 된다. 상기 승강기구(53)가 상기 승강부재(52)를 하강시키면, 상기 삽입부재(51)는 상기 이송홈(210)으로부터 분리된다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 삽입부재(51)에 방해됨이 없이 상기 지지기구(2)에서 상기 컨베이어유닛(130, 도 3b에 도시됨)으로 반출될 수 있는 상태로 된다. 또한, 테스트 트레이(200)는 상기 삽입부재(51)에 방해됨이 없이 상기 컨베이어유닛(130)에서 상기 지지기구(2)로 이송될 수 있다.The insertion member 51 is formed to protrude from the elevating member 52 in an upward direction (D arrow direction, shown in FIG. 7) from the base mechanism 3 toward the support mechanism 2. When the elevating mechanism 53 raises the elevating member 52, the insertion member 51 is inserted into a transfer groove 210 (shown in FIG. 7) formed in the test tray 200. Accordingly, the test tray 200 is in a state that can be transferred as the insertion member 51 moves. When the elevating mechanism 53 lowers the elevating member 52, the insertion member 51 is separated from the conveying groove 210. Accordingly, the test tray 200 is in a state that can be carried out from the support mechanism 2 to the conveyor unit 130 (shown in FIG. 3B) without being disturbed by the insertion member 51. In addition, the test tray 200 may be transferred from the conveyor unit 130 to the support mechanism 2 without being disturbed by the insertion member 51.

상기 삽입부재(51)는 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 이송홈(210)에 삽입되거나 상기 이송홈(210)으로부터 분리될 수 있는 형태이면 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 이송기구(5)는 상기 삽입부재(51)를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 삽입부재(51)들은 서로 소정 거리 이격되게 형성될 수 있다. 도 6에는 상기 이송기구(5)가 3개의 삽입부재(51)를 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 이송기구(5)는 2개 또는 4개 이상의 삽입부재(51)를 포함할 수도 있다. 테스트 트레이(200)는 상기 삽입부재(51)의 개수와 대략 일치하는 개수의 이송홈(210)을 포함할 수 있다.The insertion member 51 may be formed in a cylindrical shape as a whole, but is not limited thereto. If the insertion member 51 is inserted into the transfer groove 210 or may be separated from the transfer groove 210, the insertion member 51 may be formed in another form such as a rectangular parallelepiped. It may be. The transfer mechanism 5 may include a plurality of insertion members 51. In this case, the insertion members 51 may be formed to be spaced apart from each other by a predetermined distance. 6, the transfer mechanism 5 is illustrated as including three insertion members 51, but is not limited thereto. The transfer mechanism 5 may include two or four or more insertion members 51. It may be. The test tray 200 may include a transfer groove 210 having a number approximately equal to the number of the insertion members 51.

상기 승강부재(52)는 상기 승강기구(53)에 결합된다. 상기 삽입부재(51)는 상기 승강부재(52)에 결합된다. 이에 따라, 상기 승강기구(53)가 상기 승강부재(52)를 상승시키면, 상기 삽입부재(51)가 함께 상승한다. 상기 승강기구(53)가 상기 승강부재(52)를 하강시키면, 상기 삽입부재(51)가 함께 하강한다. 상기 승강부재(52)는 상기 삽입부재(51)가 결합되는 받침부재(521) 및 테스트 트레이(200)를 지지하기 위한 지지부재(522)를 포함할 수 있다.The elevating member 52 is coupled to the elevating mechanism 53. The insertion member 51 is coupled to the lifting member 52. Accordingly, when the elevating mechanism 53 raises the elevating member 52, the insertion member 51 is raised together. When the elevating mechanism 53 lowers the elevating member 52, the insertion member 51 is lowered together. The lifting member 52 may include a supporting member 521 to which the insertion member 51 is coupled, and a supporting member 522 for supporting the test tray 200.

상기 받침부재(521)는 상기 승강기구(53)에 결합된다. 상기 삽입부재(51)는 상기 상측방향(D 화살표 방향)으로 상기 받침부재(521)로부터 돌출되게 상기 받침부재(521)에 형성된다. 상기 받침부재(521)는 전체적으로 사각판형으로 형성될 수 있다.The support member 521 is coupled to the lifting mechanism 53. The insertion member 51 is formed in the support member 521 to protrude from the support member 521 in the upper direction (D arrow direction). The support member 521 may be formed in a rectangular plate shape as a whole.

상기 지지부재(522)는 상기 받침부재(521)에 결합된다. 상기 지지부재(522)는 상기 받침부재(521)로부터 상기 상측방향(D 화살표 방향)으로 돌출되게 상기 받침부재(521)에 결합된다. 상기 지지부재(522)는 상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)를 회전시킬 때, 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)의 측면을 지지함으로써 테스트 트레이(200)가 원심력에 의해 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 상기 지지부재(522)는 상기 컨베이어유닛(130)에 의해 상기 지지기구(2)로 이송되는 테스트 트레이(200)가 반입위치에서 정지되도록 테스트 트레이(200)를 지지할 수도 있다. 상기 반입위치는 테스트 트레이(200)의 이송홈(210)이 상기 삽입부재(51)의 위에 위치되는 위치이다. 즉, 상기 지지부재(522)는 테스트 트레이(200)를 상기 반입위치에서 정확하게 정지시키기 위해 테스트 트레이(200)에 대한 스토퍼로 기능할 수도 있다.The support member 522 is coupled to the support member 521. The support member 522 is coupled to the support member 521 to protrude from the support member 521 in the upward direction (D arrow direction). The support member 522 supports the side of the test tray 200 supported by the support mechanism 2 when the rotation mechanism 4 rotates the support mechanism 2. The separation by centrifugal force can be prevented. The support member 522 may support the test tray 200 such that the test tray 200 transferred to the support mechanism 2 by the conveyor unit 130 is stopped at the loading position. The loading position is a position where the transfer groove 210 of the test tray 200 is positioned above the insertion member 51. That is, the support member 522 may function as a stopper for the test tray 200 to stop the test tray 200 accurately at the loading position.

상기 지지부재(522)와 상기 받침부재(521)는 일체로 형성될 수 있다. 상기 지지부재(522)와 상기 받침부재(521)에 의해, 상기 승강부재(52)는 전체적으로 니은 자 형태로 형성될 수 있다. 상기 지지부재(522), 상기 받침부재(521), 및 상기 삽입부재(51)가 일체로 형성될 수도 있다.The support member 522 and the support member 521 may be integrally formed. By the support member 522 and the support member 521, the lifting member 52 may be formed in the shape of a needle. The support member 522, the support member 521, and the insertion member 51 may be integrally formed.

상기 승강기구(53)는 상기 구동기구(54)에 결합된다. 상기 승강기구(53)는 상기 승강부재(52)를 승강시킬 수 있다. 상기 승강기구(53)는 테스트 트레이(200)가 상기 반입위치에 위치되면, 상기 승강부재(52)를 상승시킴으로써 상기 삽입부재(51)를 상기 이송홈(210)에 삽입시킬 수 있다. 상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)를 회전시켜서 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)를 회전시키면, 상기 승강기구(53)는 상기 승강부재(52)를 하강시킴으로써 상기 삽입부재(51)를 상기 이송홈(210)으로부터 분리시킬 수 있다.The lifting mechanism 53 is coupled to the drive mechanism 54. The elevating mechanism 53 may elevate the elevating member 52. The lifting mechanism 53 may insert the insertion member 51 into the transfer groove 210 by raising the lifting member 52 when the test tray 200 is positioned at the carrying position. When the rotating mechanism 4 rotates the support mechanism 2 to rotate the test tray 200 supported by the support mechanism 2, the lifting mechanism 53 lowers the lifting member 52. The insertion member 51 may be separated from the transfer groove 210.

상기 승강기구(53)는 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터(Linear Motor) 등을 이용하여 상기 승강부재(52)를 승강시킬 수 있다.The lifting mechanism 53 is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, etc., a motor and a rack gear and a pinion gear, etc. The elevating member 52 may be elevated by using a gear method, a belt method using a motor, a pulley, a belt, or the like, or a linear motor using a coil, a permanent magnet, or the like.

상기 구동기구(54)는 상기 승강기구(53)를 이동시킨다. 상기 승강기구(53)가 이동함에 따라, 상기 승강부재(52) 및 상기 삽입부재(51)가 이동한다. 상기 구동기구(54)는 상기 지지기구(2)에 결합된다. 상기 구동기구(54)는 상기 반입위치에 위치된 테스트 트레이(200)가 회전위치로 이송되도록 상기 승강기구(53)를 이동시킬 수 있다. 상기 회전위치는 테스트 트레이(200)가 상기 지지기구(2) 내부에 위치하여 상기 지지기구(2)로부터 돌출되지 않는 위치이다. 이에 따라, 상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)를 회전시킬 때, 테스트 트레이(200)가 다른 기구물에 충돌하는 것을 방지할 수 있다. 상기 회전기구(4)가 상기 회전위치에 위치된 테스트 트레이(200)를 회전시키면, 상기 구동기구(54)는 상기 회전위치에 위치된 테스트 트레이(200)가 반출위치로 이송되도록 상기 승강기구(53)를 이동시킬 수 있다. 상기 반출위치는 테스트 트레이(200)가 상기 컨베이어유닛(130)에 의해 상기 지지기구(2)로부터 반출될 수 있는 위치이다.The drive mechanism 54 moves the lifting mechanism 53. As the lifting mechanism 53 moves, the lifting member 52 and the insertion member 51 move. The drive mechanism 54 is coupled to the support mechanism 2. The driving mechanism 54 may move the lifting mechanism 53 so that the test tray 200 located at the loading position is transferred to the rotation position. The rotation position is a position where the test tray 200 is located inside the support mechanism 2 and does not protrude from the support mechanism 2. Accordingly, when the rotary mechanism 4 rotates the support mechanism 2, it is possible to prevent the test tray 200 from colliding with another mechanism. When the rotary mechanism 4 rotates the test tray 200 located at the rotational position, the driving mechanism 54 moves the lifting mechanism (the lift mechanism) such that the test tray 200 located at the rotational position is transported to the unloading position. 53) can be moved. The carrying out position is a position where the test tray 200 can be taken out from the support mechanism 2 by the conveyor unit 130.

상기 구동기구(54)는 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 등을 이용하여 상기 승강기구(53)를 이동시킬 수 있다. 상기 구동기구(54)는 상기 승강기구(53)가 직선 이동하도록 안내하는 엘엠가이드레일(LM Guide Rail) 및 엘엠가이드블럭(LM Guide Block)을 포함할 수도 있다. 상기 엘엠가이드레일은 상기 지지기구(2)에 결합될 수 있다. 상기 엘엠가이드블록은 상기 엘엠가이드레일에 직선 이동 가능하게 결합된다. 상기 승강기구(53)는 상기 엘엠가이드블록에 결합될 수 있다.The drive mechanism 54 is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, a belt using a motor, a pulley and a belt, and the like. The lifting mechanism 53 may be moved using a linear motor using a method, a coil, a permanent magnet, or the like. The driving mechanism 54 may include an LM Guide Rail and an LM Guide Block for guiding the lifting mechanism 53 to linearly move. The LM guide rail may be coupled to the support mechanism 2. The LM guide block is linearly coupled to the LM guide rail. The lifting mechanism 53 may be coupled to the LM guide block.

상술한 바와 같이 상기 삽입부재(51), 상기 승강부재(52), 상기 승강기구(53) 및 상기 구동기구(54)를 포함하는 이송기구(5) 및 상기 회전기구(4)는 다음과 같이 동작할 수 있다.As described above, the feed mechanism 5 and the rotation mechanism 4 including the insertion member 51, the lifting member 52, the lifting mechanism 53, and the driving mechanism 54 are as follows. It can work.

우선, 상기 제1컨베이어기구(131, 도 4에 도시됨)가 상기 지지기구(2)로 테스트 트레이(200)를 운반하는 경우, 도 7에 도시된 바와 같이 상기 구동기구(54)는 상기 승강기구(53)를 상기 제1컨베이어기구(131, 도 4에 도시됨) 쪽으로 이동시킨다. 이 경우, 상기 승강기구(53)는 상기 삽입부재(51)가 테스트 트레이(200)에 충돌하지 않도록 상기 승강부재(52)를 하강시킨 상태이다. 상기 승강기구(53)는 상기 삽입부재(51)가 테스트 트레이(200)에 충돌하지 않으면서, 상기 지지부재(522)가 테스트 트레이(200)의 측면을 지지할 수 있는 위치로 상기 승강부재(52)의 높이를 조절할 수도 있다. 이에 따라, 상기 지지부재(522)는 테스트 트레이(200)가 상기 반입위치에서 정확하게 정지하도록 테스트 트레이(200)를 지지할 수 있다.First, when the first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 4) carries the test tray 200 to the support mechanism 2, as shown in FIG. 7, the drive mechanism 54 moves the elevator. The sphere 53 is moved toward the first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 4). In this case, the lifting mechanism 53 is in a state in which the lifting member 52 is lowered so that the insertion member 51 does not collide with the test tray 200. The elevating mechanism 53 is provided with the elevating member (a) such that the support member 522 can support the side of the test tray 200 without the insertion member 51 colliding with the test tray 200. 52) height can also be adjusted. Accordingly, the support member 522 may support the test tray 200 such that the test tray 200 stops accurately at the loading position.

다음, 테스트 트레이(200)가 상기 반입위치에 위치되면, 도 8에 도시된 바와 같이 상기 승강기구(53)는 상기 승강부재(52)를 상승시킨다. 이에 따라, 상기 삽입부재(51)는 상기 이송홈(210)에 삽입된다.Next, when the test tray 200 is located in the loading position, the lifting mechanism 53 raises the lifting member 52 as shown in FIG. 8. Accordingly, the insertion member 51 is inserted into the transfer groove 210.

다음, 상기 삽입부재(51)가 상기 이송홈(210)에 삽입되면, 도 9에 도시된 바와 같이 상기 구동기구(54)는 테스트 트레이(200)가 상기 반입위치에서 상기 회전위치로 이송되도록 상기 승강기구(53)를 이동시킨다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 지지기구(2)로부터 돌출되지 않도록 상기 지지기구(2) 내부에 위치된다.Next, when the insertion member 51 is inserted into the transfer groove 210, as shown in FIG. 9, the driving mechanism 54 is configured such that the test tray 200 is transferred from the loading position to the rotation position. The lifting mechanism 53 is moved. Accordingly, the test tray 200 is located inside the support mechanism 2 so as not to protrude from the support mechanism 2.

다음, 테스트 트레이(200)가 상기 회전위치에 위치되면, 도 10에 도시된 바와 같이 상기 회전기구(4)는 상기 지지기구(2)를 회전시킨다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 반도체 소자들이 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 동일한 배치로 테스트될 수 있는 방향으로 회전된다. 예컨대, 상기 회전기구(4)는 상기 지지기구(2)를 회전축(4a)을 중심으로 180도 회전시킬 수 있다. 상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)를 회전시키는 동안, 상기 승강기구(53)는 상기 삽입부재(51)가 상기 이송홈(210)에 삽입된 상태로 유지되도록 상기 승강부재(52)를 상승시킨 상태로 유지할 수 있다. 이에 따라, 상기 삽입부재(51) 및 상기 지지부재(522)는 테스트 트레이(200)가 원심력에 의해 이탈되는 것을 방지할 수 있다.Next, when the test tray 200 is located in the rotation position, the rotary mechanism 4 rotates the support mechanism 2 as shown in FIG. Accordingly, the test tray 200 is rotated in a direction in which the semiconductor devices can be tested in the same arrangement in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112. For example, the rotation mechanism 4 may rotate the support mechanism 2 by 180 degrees about the rotation shaft 4a. While the rotary mechanism 4 rotates the support mechanism 2, the elevating mechanism 53 maintains the elevating member 52 such that the insertion member 51 is inserted into the transfer groove 210. ) Can be kept raised. Accordingly, the insertion member 51 and the support member 522 can prevent the test tray 200 from being separated by the centrifugal force.

다음, 테스트 트레이(200)가 회전되면, 도 11에 도시된 바와 같이 상기 구동기구(54)는 상기 테스트 트레이(200)가 상기 회전위치에서 상기 반출위치로 이송되도록 상기 승강기구(53)를 이동시킨다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 제2컨베이어기구(132, 도 3b에 도시됨)가 상기 지지기구(2)로부터 테스트 트레이(200)를 반출할 수 있는 위치에 위치된다.Next, when the test tray 200 is rotated, as shown in FIG. 11, the driving mechanism 54 moves the lifting mechanism 53 so that the test tray 200 is transferred from the rotational position to the carrying out position. Let's do it. Accordingly, the test tray 200 is positioned at a position where the second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 3B) can be taken out of the test tray 200 from the support mechanism 2.

다음, 테스트 트레이(200)가 상기 반출위치에 위치되면, 도 12에 도시된 바와 같이 상기 승강기구(53)는 상기 승강부재(52)를 하강시킨다. 이에 따라, 상기 삽입부재(51)는 상기 이송홈(210)으로부터 분리된다. 상기 삽입부재(51)가 상기 이송홈(210)으로부터 분리되면, 상기 제2컨베이어기구(132, 도 3b에 도시됨)는 상기 지지기구(2)로부터 테스트 트레이(200)를 반출하기 위해 테스트 트레이(200)를 운반할 수 있다.Next, when the test tray 200 is located in the carrying out position, as shown in FIG. 12, the lifting mechanism 53 lowers the lifting member 52. Accordingly, the insertion member 51 is separated from the transfer groove 210. When the insertion member 51 is separated from the transfer groove 210, the second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 3B) is a test tray for carrying out the test tray 200 from the support mechanism 2. 200 may be carried.

다음, 테스트 트레이(200)가 상기 지지기구(2)로부터 반출되면, 도 7에 도시된 바와 같이 상기 회전기구(4)는 상기 제1컨베이어기구(131, 도 4에 도시됨)로부터 다른 테스트 트레이(200)가 반입될 수 있도록 상기 지지기구(2)를 회전시킬 수있다. 상기 회전기구(4)는 상기 제2컨베이어기구(132, 도 3b에 도시됨)로부터 다른 테스트 트레이(200)가 반입될 수 있도록 상기 지지기구(2)를 회전시키지 않고 대기할 수도 있다.Next, when the test tray 200 is taken out from the support mechanism 2, as shown in FIG. 7, the rotating mechanism 4 is another test tray from the first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 4). The support mechanism 2 can be rotated so that the 200 can be carried in. The rotary mechanism 4 may stand by without rotating the support mechanism 2 so that another test tray 200 can be loaded from the second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 3B).

도 6, 도 13 및 도 14를 참고하면, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 지지기구(2)에 형성되는 돌기(6, 도 13에 도시됨), 및 상기 베이스기구(3, 도 6에 도시됨)에 결합되는 완충기구(7)를 더 포함할 수 있다.6, 13 and 14, the spin apparatus 1 according to the present invention is a projection (6, shown in Figure 13) formed in the support mechanism 2, and the base mechanism (3, Fig. It may further comprise a shock absorbing mechanism (7) coupled to 6).

상기 돌기(6)는 상기 지지기구(2)에서 상기 베이스기구(3)를 향하는 하측방향(E 화살표 방향, 도 6에 도시됨)으로 상기 지지기구(2)로부터 돌출되게 형성된다. 즉, 상기 돌기(6)는 상기 지지기구(2)와 상기 베이스기구(3) 사이에 위치된다. 상기 돌기(6)는 상기 회전기구(4)가 테스트 트레이(200)를 회전시키기 위해 상기 지지기구(2)를 회전시킨 후에 정지시켰을 때, 상기 완충기구(7)에 접촉되는 위치에 위치되게 형성된다. 상기 돌기(6)는 전체적으로 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 완충기구(7)에 접촉될 수 있는 형태이면 원반 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.The projection 6 is formed to protrude from the support mechanism 2 in a downward direction (E arrow direction, shown in FIG. 6) from the support mechanism 2 toward the base mechanism 3. That is, the projection 6 is located between the support mechanism 2 and the base mechanism 3. The protrusion 6 is formed to be positioned in contact with the buffer mechanism 7 when the rotary mechanism 4 stops after rotating the support mechanism 2 to rotate the test tray 200. do. The protrusion 6 may be formed in a rectangular parallelepiped shape as a whole, but is not limited thereto and may be formed in other shapes such as a disc shape as long as the protrusion 6 may contact the buffer mechanism 7.

상기 완충기구(7)는 상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)를 회전시킨 후에 정지시키는 과정에서 상기 돌기(6)를 탄성적으로 지지함으로써, 상기 지지기구(2) 및 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)에 가해지는 충격을 완화할 수 있다. 이에 따라, 상기 완충기구(7)는 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자가 진동, 흔들림 등에 의해 테스트 트레이(200)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 상기 완충기구(7)는 상기 돌기(6)를 탄성적으로 지지하기 위한 탄성부재(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 탄성부재는 스프링일 수 있다. 상기 완충기구(7)는 상기 베이스기구(3)에서 상기 지지기구(2)를 향하는 일면에 결합된다. 즉, 상기 완충기구(7)는 상기 지지기구(2)와 상기 베이스기구(3) 사이에 위치된다.The shock absorbing mechanism 7 elastically supports the projection 6 in the process of stopping the rotation mechanism 4 after the rotating mechanism 4 rotates the support mechanism 2 and the support mechanism. The impact applied to the test tray 200 supported by (2) can be alleviated. Accordingly, the shock absorbing mechanism 7 may prevent the semiconductor device accommodated in the test tray 200 from being separated from the test tray 200 by vibration, shaking, or the like. The shock absorbing mechanism 7 may include an elastic member (not shown) for elastically supporting the protrusion 6. The elastic member may be a spring. The shock absorbing mechanism 7 is coupled to one surface facing the support mechanism 2 in the base mechanism 3. That is, the shock absorbing mechanism 7 is located between the supporting mechanism 2 and the base mechanism 3.

상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)를 180도 회전시키는 경우, 상기 완충기구(7)는 상기 지지기구(2)가 180도 회전됨에 따라 180도 회전된 돌기(6)를 탄성적으로 지지할 수 있다. 상기 회전기구(4)가 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)를 90도 회전시키는 경우, 상기 완충기구(7)는 상기 지지기구(2)가 90도 회전됨에 따라 90도 회전된 돌기(6)를 탄성적으로 지지할 수도 있다.When the rotating mechanism 4 rotates the test tray 200 supported by the supporting mechanism 2 by 180 degrees, the shock absorbing mechanism 7 rotates by 180 degrees as the supporting mechanism 2 is rotated 180 degrees. The protrusion 6 can be elastically supported. When the rotating mechanism 4 rotates the test tray 200 supported by the supporting mechanism 2 by 90 degrees, the shock absorbing mechanism 7 rotates by 90 degrees as the supporting mechanism 2 is rotated by 90 degrees. It is also possible to elastically support the protrusions 6.

도 15 내지 도 18을 참고하면, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 지지기구(2)를 승강시키기 위한 승강유닛(8, 도 15에 도시됨)을 더 포함할 수 있다.15 to 18, the spin apparatus 1 according to the present invention may further include an elevating unit 8 (shown in FIG. 15) for elevating the support mechanism 2.

상기 승강유닛(8)은 상기 본체(10)에 결합될 수 있다. 상기 베이스기구(3)는 상기 승강유닛(8)에 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 승강유닛(8)은 상기 베이스기구(3)를 승강시킴으로써, 상기 지지기구(2)를 승강시킬 수 있다. 상기 승강유닛(8)이 상기 베이스기구(3)를 승강시킴에 따라, 상기 지지기구(2), 상기 회전기구(4) 및 상기 이송기구(5)가 함께 승강할 수 있다.The lifting unit 8 may be coupled to the main body 10. The base mechanism 3 may be coupled to the lifting unit 8. Accordingly, the elevating unit 8 can elevate the support mechanism 2 by elevating the base mechanism 3. As the lifting unit 8 lifts and lowers the base mechanism 3, the support mechanism 2, the rotation mechanism 4, and the transfer mechanism 5 may move up and down together.

상기 승강유닛(8)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 등을 이용하여 상기 베이스기구(3)를 승강시킬 수 있다. 상기 승강유닛(8)이 실린더방식을 이용하여 상기 베이스기구(3)를 승강시키는 경우, 상기 베이스기구(3)는 실린더의 로드에 결합됨으로써, 실린더의 로드가 이동함에 따라 승강할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 승강유닛(8)은 상기 지지기구(2)에 직접 결합됨으로써, 상기 지지기구(2)를 승강시킬 수도 있다.The lifting unit 8 is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, a belt using a motor, a pulley and a belt, and the like. The base mechanism 3 can be elevated by using a linear motor or the like using a method, a coil and a permanent magnet. When the lifting unit 8 raises and lowers the base mechanism 3 by using a cylinder method, the base mechanism 3 is coupled to the rod of the cylinder, and thus can be lifted as the rod of the cylinder moves. Although not shown, the lifting unit 8 may be directly coupled to the support mechanism 2 to elevate the support mechanism 2.

여기서, 상기 제1컨베이어기구(131, 도 17에 도시됨) 및 상기 제2컨베이어기구(132, 도 17에 도시됨)는 각각 테스트 트레이(200)를 운반하기 위한 복수개의 컨베이어(130a, 도 17에 도시됨)를 포함할 수 있다.Here, the first conveyor mechanism 131 (shown in FIG. 17) and the second conveyor mechanism 132 (shown in FIG. 17) are each a plurality of conveyors 130a (FIG. 17) for carrying a test tray 200. Shown in the figure).

상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 수직방향(Z축 방향)으로 서로 이격되게 형성된 복수개의 컨베이어(130a)를 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1컨베이어기구(131)는 복수개의 테스트 트레이(200)를 상기 수직방향(Z축 방향)으로 형성된 복수개의 운반경로를 따라 개별적으로 운반할 수 있다. 예컨대, 상기 제1컨베이어기구(131)는 제1운반경로(P1, 도 17에 도시됨)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a), 및 제2운반경로(P2, 도 17에 도시됨)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a)를 포함할 수 있다. 상기 제2운반경로(P2)는 상기 제1운반경로(P1)에 비해 하측방향(E 화살표 방향)에 형성된 것이다. 이 경우, 상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 제1운반경로(P1)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 정지시키고 있는 상태에서도, 상기 제2운반경로(P2)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 운반하도록 동작할 수 있다.The first conveyor mechanism 131 may include a plurality of conveyors 130a formed to be spaced apart from each other in the vertical direction (Z-axis direction). Accordingly, the first conveyor mechanism 131 may individually transport the plurality of test trays 200 along the plurality of transport paths formed in the vertical direction (Z-axis direction). For example, the first conveyor mechanism 131 may include a conveyor 130a for carrying the test tray 200 along the first transportation path P1 (shown in FIG. 17), and the second transportation path P2 (FIG. 17). It may include a conveyor (130a) for carrying the test tray 200 along the (shown). The second transportation path P2 is formed in a lower direction (E arrow direction) than the first transportation path P1. In this case, the first conveyor mechanism 131 forms the second transportation path P2 even when the conveyor 130a forming the first transportation path P1 stops the test tray 200. The conveyor 130a may be operated to carry the test tray 200.

상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 수직방향(Z축 방향)으로 서로 이격되게 형성된 복수개의 컨베이어(130a)를 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제2컨베이어기구(132)는 복수개의 테스트 트레이(200)를 상기 수직방향(Z축 방향)으로 형성된 복수개의 운반경로를 따라 개별적으로 운반할 수 있다. 예컨대, 상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 제1운반경로(P1)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a), 및 상기 제2운반경로(P2)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a)를 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 제1운반경로(P1)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 정지시키고 있는 상태에서도, 상기 제2운반경로(P2)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 운반하도록 동작할 수 있다.The second conveyor mechanism 132 may include a plurality of conveyors 130a spaced apart from each other in the vertical direction (Z-axis direction). Accordingly, the second conveyor mechanism 132 may individually transport the plurality of test trays 200 along the plurality of transport paths formed in the vertical direction (Z-axis direction). For example, the second conveyor mechanism 132 may include a conveyor 130a for carrying the test tray 200 along the first transport path P1, and a test tray 200 along the second transport path P2. It may include a conveyor (130a) for transporting. In this case, the second conveyor mechanism 132 forms the second transportation path P2 even when the conveyor 130a forming the first transportation path P1 stops the test tray 200. The conveyor 130a may be operated to carry the test tray 200.

상기 승강유닛(8)은 상기 지지기구(2) 및 상기 컨베이어유닛(130, 도 4에 도시됨) 간에 테스트 트레이(200)가 이송되는 높이를 조절하기 위해 상기 지지기구(2)를 승강시킬 수 있다. 이 경우, 상기 승강유닛(8)은 상기 베이스기구(3)를 승강시킴으로써, 상기 지지기구(2)를 승강시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132) 간에 운반되는 테스트 트레이(200)의 운반경로를 변경할 수 있다.The lifting unit 8 may raise and lower the support mechanism 2 to adjust the height at which the test tray 200 is transferred between the support mechanism 2 and the conveyor unit 130 (shown in FIG. 4). have. In this case, the elevating unit 8 can elevate the support mechanism 2 by elevating the base mechanism 3. Accordingly, the spin apparatus 1 according to the present invention can change the transport path of the test tray 200 carried between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132.

예컨대, 도 17에 도시된 바와 같이 상기 제1컨베이어기구(131)에서 상기 제1운반경로(P1)를 따라 운반되는 테스트 트레이(200)는, 상기 제1운반경로(P1)에 대응되는 높이에 위치된 지지기구(2)로 이송될 수 있다. 이 경우, 상기 승강유닛(8)은 상기 지지기구(2)가 상기 제1운반경로(P1)에 대응되는 높이에 위치되도록 상기 베이스기구(3)를 상승시킨 상태이다. 테스트 트레이(200)는 상기 제1운반경로(P1)를 형성하는 제1컨베이어기구(131)의 컨베이어(130a)로부터 상기 제1운반경로(P1)에 대응되는 높이에 위치된 지지기구(2)로 이송됨으로써, 상기 지지기구(2)의 가이드부재(22)에 지지될 수 있다.For example, as illustrated in FIG. 17, the test tray 200 transported along the first transport path P1 by the first conveyor mechanism 131 may have a height corresponding to the first transport path P1. It can be conveyed to the positioned support mechanism 2. In this case, the lifting unit 8 is in a state in which the base mechanism 3 is raised so that the support mechanism 2 is positioned at a height corresponding to the first transportation path P1. The test tray 200 includes a support mechanism 2 positioned at a height corresponding to the first transportation path P1 from the conveyor 130a of the first conveyor mechanism 131 forming the first transportation path P1. By being transferred to, it can be supported by the guide member 22 of the support mechanism (2).

상기 지지기구(2)에 테스트 트레이(200)가 지지되면, 상기 승강유닛(8)은 상기 베이스기구(3)를 승강시킴으로써 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(200)의 높이를 조절할 수 있다. 예컨대, 도 18에 도시된 바와 같이 상기 승강유닛(8)은 상기 지지기구(2)가 상기 제2운반경로(P2)에 대응되는 높이에 위치되도록 상기 베이스기구(3)를 하강시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 지지기구(2)에 지지된 테스트 트레이(T)는 상기 제2운반경로(P2)에 대응되는 높이로 하강될 수 있다. 테스트 트레이(200)는 상기 제2운반경로(P2)에 대응되는 높이에 위치된 지지기구(2)로부터 상기 제2운반경로(P2)를 형성하는 제2컨베이어기구(132)의 컨베이어(130a)로 이송될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1컨베이어기구(131)에서 상기 제2컨베이어기구(132)로 이송되는 테스트 트레이(200)의 운반경로를 상기 제1운반경로(P1)에서 상기 제2운반경로(P2)로 변경할 수 있다.When the test tray 200 is supported by the support mechanism 2, the lifting unit 8 adjusts the height of the test tray 200 supported by the support mechanism 2 by elevating the base mechanism 3. Can be. For example, as shown in FIG. 18, the lifting unit 8 may lower the base mechanism 3 so that the support mechanism 2 is positioned at a height corresponding to the second transportation path P2. Accordingly, the test tray T supported by the support mechanism 2 may be lowered to a height corresponding to the second transport path P2. The test tray 200 is a conveyor 130a of the second conveyor mechanism 132 which forms the second transportation path P2 from the support mechanism 2 located at a height corresponding to the second transportation path P2. Can be transferred to. Accordingly, the spin apparatus 1 according to the present invention transfers the transport path of the test tray 200 transferred from the first conveyor mechanism 131 to the second conveyor mechanism 132 in the first transportation path P1. It may be changed to the second transport path (P2) in.

도시되지 않았지만, 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1컨베이어기구(131)에서 상기 제2컨베이어기구(132)로 이송되는 테스트 트레이(200)의 운반경로를 상기 제2운반경로(P2)에서 상기 제1운반경로(P1)로 변경할 수도 있다. 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제2컨베이어기구(132)에서 상기 제1컨베이어기구(131)로 이송되는 테스트 트레이(200)의 운반경로를 상기 제1운반경로(P1)와 상기 제2운반경로(P2) 간에 변경할 수도 있다. 본 발명에 따른 스핀장치(1)는 상기 제1컨베이어기구(131)와 상기 제2컨베이어기구(132) 간에 이송되는 테스트 트레이(200)의 운반경로를 변경하지 않고, 테스트 트레이(200)가 운반경로를 유지한 상태로 상기 제1컨베이어기구(131)와 상기 제2컨베이어기구(132) 간에 이송되도록 동작할 수도 있다.Although not shown, the spin apparatus 1 according to the present invention transfers the transport path of the test tray 200 transferred from the first conveyor mechanism 131 to the second conveyor mechanism 132 in the second transportation path P2. ) May be changed to the first transport path P1. Spin device 1 according to the present invention is the first conveying path (P1) and the first conveying path of the test tray 200 is transferred from the second conveyor mechanism 132 to the first conveyor mechanism (131) It is also possible to change between the two transport paths (P2). In the spin apparatus 1 according to the present invention, the test tray 200 is transported without changing the transport path of the test tray 200 transferred between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132. It may be operable to transfer between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 while maintaining a path.

다시 도 2a를 참조하면, 상기 챔버유닛(110)은 상기 테스트공정을 수행한다. 이러한 챔버유닛(110)의 구성을 도 19내지 도 21를 참조하여 보다 구체적으로 설명한다.Referring back to FIG. 2A, the chamber unit 110 performs the test process. The configuration of the chamber unit 110 will be described in more detail with reference to FIGS. 19 to 21.

상기 챔버유닛(110)은 도 19에 도시된 바와 같이 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자를 테스트장비(400)에 접속시킴으로써, 상기 테스트공정을 수행할 수 있다. 상기 테스트장비(400)는 반도체 소자가 접속됨에 따라 반도체 소자와 전기적으로 연결되면, 반도체 소자를 테스트한다. 테스트 트레이(200)는 복수개의 반도체 소자를 수납할 수 있다. 이 경우, 상기 챔버유닛(110)은 복수개의 반도체 소자를 상기 테스트장비(400)에 접속시킬 수 있고, 상기 테스트장비(400)는 복수개의 반도체 소자를 테스트할 수 있다. 상기 테스트장비(400)는 하이픽스보드(Hi-Fix Board)를 포함할 수 있다.The chamber unit 110 may perform the test process by connecting the semiconductor device accommodated in the test tray 200 to the test equipment 400 as shown in FIG. 19. When the test device 400 is electrically connected to the semiconductor device as the semiconductor device is connected, the test device 400 tests the semiconductor device. The test tray 200 may accommodate a plurality of semiconductor devices. In this case, the chamber unit 110 may connect a plurality of semiconductor devices to the test equipment 400, and the test equipment 400 may test a plurality of semiconductor devices. The test equipment 400 may include a hi-fix board.

상기 챔버유닛(110)은 도 19에 도시된 바와 같이, 상기 테스트공정이 이루어지는 제1챔버(110a)를 포함한다. 상기 제1챔버(110a)에는 상기 테스트장비(400)가 설치된다. 상기 테스트장비(400)는 일부 또는 전부가 상기 제1챔버(110a) 내부에 삽입되게 설치된다. 상기 테스트장비(400)는 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 접속되는 테스트소켓들(미도시)을 포함한다. 상기 테스트장비(400)는 상기 테스트 트레이(200)에 수납되는 반도체 소자들의 개수와 대략 일치하는 개수의 테스트소켓들을 포함할 수 있다. 예컨대, 테스트 트레이(200)는 64개, 128개, 256개, 512개 등의 반도체 소자들을 수납할 수 있다. 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들이 상기 테스트소켓들에 접속되면, 상기 테스트장비(400)는 상기 테스트소켓들에 접속된 반도체 소자들을 테스트할 수 있다. 상기 제1챔버(110a)는 상기 테스트장비(400)가 삽입되는 부분이 개방되게 형성된 직방체 형태로 형성될 수 있다.As shown in FIG. 19, the chamber unit 110 includes a first chamber 110a in which the test process is performed. The test equipment 400 is installed in the first chamber 110a. The test equipment 400 is installed so that some or all of the test equipment 400 is inserted into the first chamber 110a. The test equipment 400 includes test sockets (not shown) to which semiconductor devices stored in the test tray 200 are connected. The test equipment 400 may include a number of test sockets approximately equal to the number of semiconductor devices accommodated in the test tray 200. For example, the test tray 200 may accommodate 64, 128, 256, and 512 semiconductor devices. When the semiconductor devices stored in the test tray 200 are connected to the test sockets, the test equipment 400 may test the semiconductor devices connected to the test sockets. The first chamber 110a may be formed in a rectangular parallelepiped shape in which a portion into which the test equipment 400 is inserted is opened.

상기 챔버유닛(110)은 도 19에 도시된 바와 같이, 테스트 트레이(200)를 상기 테스트장비(400)에 접속시키기 위한 콘택유닛(110b)을 포함한다. 상기 콘택유닛(110b)은 상기 제1챔버(110a)에 설치된다. 상기 콘택유닛(110b)은 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들을 상기 테스트장비(400)에 접속시킨다. 상기 콘택유닛(110b)은 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들을 상기 테스트장비(400)에 가까워지거나 멀어지는 방향으로 이동시킬 수 있다. 상기 콘택유닛(110b)이 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들을 상기 테스트장비(400)에 가까워지는 방향으로 이동시키면, 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들은 상기 테스트장비(400)에 접속된다. 이에 따라, 상기 테스트장비(400)는 반도체 소자들을 테스트할 수 있다. 반도체 소자들에 대한 테스트가 완료되면, 상기 콘택유닛(110b)은 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들을 상기 테스트장비(400)로부터 멀어지는 방향으로 이동시킬 수 있다.As illustrated in FIG. 19, the chamber unit 110 includes a contact unit 110b for connecting the test tray 200 to the test equipment 400. The contact unit 110b is installed in the first chamber 110a. The contact unit 110b connects the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 to the test equipment 400. The contact unit 110b may move the semiconductor devices stored in the test tray 200 in a direction closer to or farther from the test equipment 400. When the contact unit 110b moves the semiconductor devices stored in the test tray 200 in a direction closer to the test equipment 400, the semiconductor devices stored in the test tray 200 are transferred to the test equipment 400. Connected. Accordingly, the test equipment 400 may test the semiconductor devices. When the test for the semiconductor devices is completed, the contact unit 110b may move the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in a direction away from the test equipment 400.

테스트 트레이(200)에는 반도체 소자들을 수납하기 위한 캐리어모듈들이 설치된다. 상기 캐리어모듈들은 각각 적어도 하나 이상의 반도체 소자를 수납할 수 있다. 상기 캐리어모듈들은 각각 스프링(미도시)들에 의해 테스트 트레이(200)에 탄성적으로 이동 가능하게 결합된다. 상기 콘택유닛(110b)이 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들을 상기 테스트장비(400)에 가까워지는 방향으로 밀면, 상기 캐리어모듈들이 상기 테스트장비(400)에 가까워지는 방향으로 이동할 수 있다. 상기 콘택유닛(110b)이 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들을 밀던 힘을 제거하면, 상기 캐리어모듈들은 스프링이 갖는 복원력에 의해 상기 테스트장비(400)로부터 멀어지는 방향으로 이동할 수 있다. 상기 콘택유닛(110b)이 상기 캐리어모듈들과 반도체 소자들을 이동시키는 과정에서, 테스트 트레이(200)가 함께 이동할 수도 있다.The test tray 200 is provided with carrier modules for accommodating semiconductor devices. Each of the carrier modules may accommodate at least one semiconductor device. The carrier modules are elastically movable to the test tray 200 by springs (not shown), respectively. When the contact unit 110b pushes the semiconductor devices accommodated in the test tray 200 in a direction close to the test equipment 400, the carrier modules may move in a direction close to the test equipment 400. When the contact unit 110b removes the force pushing the semiconductor elements stored in the test tray 200, the carrier modules may move away from the test equipment 400 by the restoring force of the spring. While the contact unit 110b moves the carrier modules and the semiconductor devices, the test tray 200 may move together.

도시되지 않았지만, 상기 콘택유닛(110b)은 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들에 접촉되기 위한 복수개의 콘택소켓을 포함할 수 있다. 상기 콘택소켓들은 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자들에 접촉되어 반도체 소자들을 이동시킴으로써, 반도체 소자들을 상기 테스트장비(400)에 접속시킬 수 있다. 상기 콘택유닛(110b)은 테스트 트레이(200)에 수납되는 반도체 소자들의 개수와 대략 일치하는 개수의 콘택소켓을 포함할 수 있다. 상기 콘택유닛(110b)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 등에 의해 이동될 수 있다.Although not shown, the contact unit 110b may include a plurality of contact sockets for contacting the semiconductor devices accommodated in the test tray 200. The contact sockets may contact the semiconductor devices stored in the test tray 200 to move the semiconductor devices, thereby connecting the semiconductor devices to the test equipment 400. The contact unit 110b may include a number of contact sockets approximately equal to the number of semiconductor devices accommodated in the test tray 200. The contact unit 110b is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, a belt using a motor, a pulley and a belt, and the like. It can be moved by a linear motor using a method, a coil and a permanent magnet or the like.

도 2a, 도 20, 및 도 21을 참고하면, 상기 챔버유닛(110)은 상기 테스트장비(400)가 상온의 환경에서 뿐만 아니라, 고온 또는 저온의 환경에서도 반도체 소자를 테스트할 수 있도록, 제2챔버(110c) 및 제3챔버(110d)를 더 포함한다.Referring to FIGS. 2A, 20, and 21, the chamber unit 110 may allow the test equipment 400 to test the semiconductor device not only at room temperature but also at high or low temperature. It further includes a chamber 110c and a third chamber 110d.

상기 제2챔버(110c)는 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자를 제1온도로 조절한다. 상기 제2챔버(110c)에 위치된 테스트 트레이(200)는 상기 소팅유닛(120)에 의해 테스트될 반도체 소자가 수납된 것으로, 상기 컨베이어유닛(130)에 의해 상기 챔버유닛(110) 쪽으로 운반된 후에 상기 제2챔버(110c)로 이송된 것이다. 상기 제1온도는 테스트될 반도체 소자가 상기 테스트장비(400)에 의해 테스트될 때, 테스트될 반도체 소자들이 갖는 온도 범위이다. 상기 제2챔버(110c)는 테스트될 반도체 소자를 상기 제1온도로 조절할 수 있도록 전열히터와 액화질소분사시스템 중에서 적어도 하나를 포함한다. 테스트될 반도체 소자가 상기 제1온도로 조절되면, 테스트 트레이(200)는 상기 제2챔버(110c)에서 상기 제1챔버(110a)로 이송된다.The second chamber 110c adjusts the semiconductor device accommodated in the test tray 200 to a first temperature. The test tray 200 located in the second chamber 110c is a semiconductor device to be tested by the sorting unit 120, and is conveyed toward the chamber unit 110 by the conveyor unit 130. It is then transferred to the second chamber (110c). The first temperature is a temperature range of the semiconductor devices to be tested when the semiconductor device to be tested is tested by the test equipment 400. The second chamber 110c includes at least one of an electrothermal heater and a liquefied nitrogen injection system to adjust the semiconductor device to be tested to the first temperature. When the semiconductor device to be tested is adjusted to the first temperature, the test tray 200 is transferred from the second chamber 110c to the first chamber 110a.

상기 제3챔버(110d)는 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자를 제2온도로 조절한다. 상기 제3챔버(110d)에 위치된 테스트 트레이(200)는 상기 테스트공정을 거쳐 테스트된 반도체 소자가 수납된 것으로, 상기 제1챔버(110a)로부터 이송된 것이다. 상기 제2온도는 상온 또는 이에 근접한 온도를 포함하는 온도 범위이다. 상기 제3챔버(110d)는 테스트된 반도체 소자를 상기 제2온도로 조절할 수 있도록 전열히터와 액화질소분사시스템 중에서 적어도 하나를 포함한다. 테스트된 반도체 소자가 상기 제2온도로 조절되면, 테스트 트레이(200)는 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송된다.The third chamber 110d adjusts the semiconductor device accommodated in the test tray 200 to a second temperature. The test tray 200 positioned in the third chamber 110d is a semiconductor device tested through the test process, and is transferred from the first chamber 110a. The second temperature is a temperature range including or close to room temperature. The third chamber 110d includes at least one of an electrothermal heater and a liquefied nitrogen injection system to adjust the tested semiconductor device to the second temperature. When the tested semiconductor device is adjusted to the second temperature, the test tray 200 is transferred to the conveyor unit 130.

도시되지 않았지만, 상기 챔버유닛(110)은 테스트 트레이(200)를 이송하기 위한 이송수단(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 이송수단은 테스트 트레이(200)를 밀거나 테스트 트레이(200)를 당겨서 이송할 수 있다. 상기 이송수단은 테스트될 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버(110c)에서 상기 제1챔버(110a)로 이송할 수 있다. 상기 이송수단은 테스트된 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a)에서 상기 제3챔버(110d)로 이송할 수 있다. 상기 이송수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 등을 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다.Although not shown, the chamber unit 110 may include a transfer unit (not shown) for transferring the test tray 200. The transfer means may push the test tray 200 or pull the test tray 200 to transfer. The transfer means may transfer the test tray 200 containing the semiconductor device to be tested from the second chamber 110c to the first chamber 110a. The transfer means may transfer the test tray 200 containing the tested semiconductor device from the first chamber 110a to the third chamber 110d. The conveying means may be a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, a belt method using a motor, a pulley and a belt, a coil, and the like. And the test tray 200 can be transferred using a linear motor using a permanent magnet or the like.

도 20에 도시된 바와 같이, 상기 챔버유닛(110)은 상기 제2챔버(110c), 상기 제1챔버(110a), 및 상기 제3챔버(110d)가 수평방향으로 나란하게 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 챔버유닛(110)은 복수개의 제1챔버(110a)를 포함할 수 있다. 상기 제1챔버(110a)들은 복수개가 상하로 적층 설치될 수 있다.As shown in FIG. 20, the chamber unit 110 may include the second chamber 110c, the first chamber 110a, and the third chamber 110d side by side in a horizontal direction. In this case, the chamber unit 110 may include a plurality of first chambers 110a. A plurality of the first chambers 110a may be stacked up and down.

도 21에 도시된 바와 같이, 상기 챔버유닛(110)은 상기 제2챔버(110c), 상기 제1챔버(110a), 및 상기 제3챔버(110d)가 수직방향으로 적층 설치될 수도 있다. 즉, 상기 제2챔버(110c), 상기 제1챔버(110a), 및 상기 제3챔버(110d)는 상하로 적층 설치될 수 있다. 상기 제2챔버(110c)는 상기 제1챔버(110a)의 상측에 위치되게 설치될 수 있고, 상기 제3챔버(110d)는 상기 제1챔버(110a)의 하측에 위치되게 설치될 수 있다.As shown in FIG. 21, the chamber unit 110 may have the second chamber 110c, the first chamber 110a, and the third chamber 110d stacked in a vertical direction. That is, the second chamber 110c, the first chamber 110a, and the third chamber 110d may be stacked up and down. The second chamber 110c may be installed to be positioned above the first chamber 110a, and the third chamber 110d may be installed to be positioned below the first chamber 110a.

도 2a, 도 20, 및 도 21을 참고하면, 상기 챔버유닛(110)은 테스트 트레이(200)를 수평상태와 수직상태 간에 회전시키기 위한 로테이터(110e)를 포함할 수 있다.2A, 20, and 21, the chamber unit 110 may include a rotator 110e for rotating the test tray 200 between a horizontal state and a vertical state.

상기 로테이터(110e)는 상기 챔버유닛(110)에 설치된다. 상기 로테이터(110e)는 테스트될 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)를 수평상태에서 수직상태로 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 제1챔버(110a)는 수직상태로 세워진 테스트 트레이(200)에 대해 상기 테스트공정을 수행할 수 있다. 또한, 상기 소팅유닛(120)은 수평상태로 눕혀진 테스트 트레이(200)에 대해 상기 로딩공정을 수행할 수 있다. 상기 로테이터(110e)는 테스트된 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)를 수직상태에서 수평상태로 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 소팅유닛(120)은 수평상태로 눕혀진 테스트 트레이(200)에 대해 상기 언로딩공정을 수행할 수 있다.The rotator 110e is installed in the chamber unit 110. The rotator 110e may rotate the test tray 200 containing the semiconductor device to be tested from a horizontal state to a vertical state. Accordingly, the first chamber 110a may perform the test process with respect to the test tray 200 standing in a vertical state. In addition, the sorting unit 120 may perform the loading process on the test tray 200 laid down in a horizontal state. The rotator 110e may rotate the test tray 200 containing the tested semiconductor device from a vertical state to a horizontal state. Accordingly, the sorting unit 120 may perform the unloading process on the test tray 200 laid down in a horizontal state.

상기 챔버유닛(110)은 도 20과 도 21에 도시된 바와 같이, 하나의 로테이터(110e)를 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 로테이터(110e)는 상기 제2챔버(110c)와 상기 제3챔버(110d) 사이에 설치될 수 있다. 테스트될 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)는 상기 로테이터(110e)에 의해 수직상태가 되도록 회전된 후에, 상기 이송수단에 의해 상기 로테이터(110e)에서 상기 제2챔버(110c)로 이송될 수 있다. 테스트된 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)는 상기 이송수단에 의해 상기 제3챔버(110d)에서 상기 로테이터(110e)로 이송된 후에, 상기 로테이터(110e)에 의해 수평상태가 되도록 회전될 수 있다.The chamber unit 110 may include one rotator 110e, as shown in FIGS. 20 and 21. In this case, the rotator 110e may be installed between the second chamber 110c and the third chamber 110d. The test tray 200 containing the semiconductor device to be tested is rotated to be vertical by the rotator 110e and then transferred from the rotator 110e to the second chamber 110c by the transfer means. have. The test tray 200 in which the tested semiconductor device is accommodated may be rotated to be horizontal by the rotator 110e after being transferred from the third chamber 110d to the rotator 110e by the transfer means. have.

도시되지 않았지만, 상기 챔버유닛(110)은 테스트될 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)를 회전시키기 위한 제1로테이터 및 테스트된 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이(200)를 회전시키기 위한 제2로테이터를 포함할 수도 있다. 상기 제1로테이터는 상기 제2챔버(110c) 내부 또는 상기 제2챔버(110c) 외부에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 제2로테이터는 상기 제3챔버(110d) 내부 또는 상기 제3챔버(110d) 외부에 위치되게 설치될 수 있다.Although not shown, the chamber unit 110 may include a first rotator for rotating the test tray 200 containing the semiconductor device to be tested and a second rotator for rotating the test tray 200 containing the tested semiconductor device. It may also include. The first rotator may be installed to be located inside the second chamber 110c or outside the second chamber 110c. The second rotator may be installed to be located inside the third chamber 110d or outside the third chamber 110d.

도시되지 않았지만, 상기 챔버유닛(110)은 상기 로테이터(110e) 없이 수평상태의 테스트 트레이(200)에 대해 테스트공정을 수행할 수도 있다. 이 경우, 테스트 트레이(200)는 수평상태로 상기 제2챔버(110c), 상기 제1챔버(110a) 및 상기 제3챔버(110d) 간에 이송되면서 상기 테스트공정이 수행될 수 있다.Although not shown, the chamber unit 110 may perform a test process on the test tray 200 in a horizontal state without the rotator 110e. In this case, the test tray 200 may be transferred between the second chamber 110c, the first chamber 110a, and the third chamber 110d in a horizontal state to perform the test process.

도 2a, 도3b, 및 도 4를 참고하면, 상기 이송수단은 상기 컨베이어유닛(130)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 챔버유닛(110)으로 이송할 수 있다. 상기 이송수단은 상기 컨베이어유닛(130)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a)로 이송할 수 있다. 상기 챔버유닛(110)이 상기 제2챔버(110c)를 포함하는 경우, 상기 이송수단은 상기 컨베이어유닛(130)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버(110c)를 경유하여 상기 제1챔버(110a)로 이송할 수 있다.2A, 3B, and 4, the transfer means may transfer the test tray 200 supported by the conveyor unit 130 to the chamber unit 110. The transfer means may transfer the test tray 200 supported by the conveyor unit 130 to the first chamber 110a. When the chamber unit 110 includes the second chamber 110c, the transfer means may include a test tray 200 supported by the conveyor unit 130 via the second chamber 110c. It can be transferred to one chamber (110a).

상기 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송할 수 있다. 상기 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a)에서 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송할 수 있다. 상기 챔버유닛(110)이 상기 제3챔버(110d)를 포함하는 경우, 상기 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a)에서 상기 제3챔버(110d)를 경유하여 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송할 수 있다.The transfer means may transfer the test tray 200 in which the test process is completed, to the conveyor unit 130. The transfer means may transfer the test tray 200 in which the test process is completed, from the first chamber 110a to the conveyor unit 130. When the chamber unit 110 includes the third chamber 110d, the transfer means may include a test tray 200 in which the test process is completed, and the third chamber 110d in the first chamber 110a. It can be transferred to the conveyor unit 130 via.

도 2a, 도3b, 및 도 4를 참고하면, 상기 챔버유닛(110)은 상기 컨베이어유닛(130)을 따라 복수개가 설치된다. 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(1)는 서로 다른 방향을 향하도록 설치된 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제2챔버유닛(112)을 포함한다.2A, 3B, and 4, a plurality of chamber units 110 are installed along the conveyor unit 130. The inline test handler 1 according to the present invention includes the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112 installed to face different directions.

상기 제1챔버유닛(111)은 상기 제1컨베이어기구(131)에 의해 상기 소팅유닛(120)과 인라인으로 연결된다. 상기 제1챔버유닛(111)이 갖는 이송수단은 상기 제1컨베이어기구(131)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)로 이송할 수 있다. 상기 제1챔버유닛(111)이 상기 제2챔버(110c, 도 19에 도시됨)를 포함하는 경우, 상기 제1챔버유닛(111)이 갖는 이송수단은 상기 제1컨베이어기구(131)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버(110c, 도 19에 도시됨)를 경유하여 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)로 이송할 수 있다.The first chamber unit 111 is connected inline with the sorting unit 120 by the first conveyor mechanism 131. The transfer means of the first chamber unit 111 may transfer the test tray 200 supported by the first conveyor mechanism 131 to the first chamber 110a (refer to FIG. 19). When the first chamber unit 111 includes the second chamber 110c (shown in FIG. 19), the transport means of the first chamber unit 111 is supported by the first conveyor mechanism 131. The test tray 200 may be transferred to the first chamber 110a (shown in FIG. 19) via the second chamber 110c (shown in FIG. 19).

상기 제1챔버유닛(111)이 갖는 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1컨베이어기구(131)로 이송할 수 있다. 상기 제1챔버유닛(111)이 갖는 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)에서 상기 제1컨베이어기구(131)로 이송할 수 있다. 상기 제1챔버유닛(111)이 상기 제3챔버(110d, 도 19에 도시됨)를 포함하는 경우, 상기 제1챔버유닛(111)이 갖는 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)에서 상기 제3챔버(110d, 도 19에 도시됨)를 경유하여 상기 제1컨베이어기구(131)로 이송할 수 있다.The transfer means of the first chamber unit 111 may transfer the test tray 200 in which the test process is completed, to the first conveyor mechanism 131. The transfer means of the first chamber unit 111 may transfer the test tray 200 in which the test process is completed from the first chamber 110a (shown in FIG. 19) to the first conveyor mechanism 131. have. When the first chamber unit 111 includes the third chamber 110d (shown in FIG. 19), the transfer means of the first chamber unit 111 may include a test tray 200 in which the test process is completed. May be transferred from the first chamber 110a (shown in FIG. 19) to the first conveyor mechanism 131 via the third chamber 110d (shown in FIG. 19).

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(1)는 상기 제1챔버유닛(111)을 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제1챔버유닛(111)들은 상기 제1컨베이어기구(131)들을 따라 제1축방향(X축 방향)으로 서로 이격되게 설치될 수 있다.The inline test handler 1 according to the present invention may include a plurality of first chamber units 111. In this case, the first chamber units 111 may be installed to be spaced apart from each other in a first axial direction (X-axis direction) along the first conveyor mechanism 131.

도 2a, 도3b, 및 도 4를 참고하면, 상기 제2챔버유닛(112)은 상기 제2컨베이어기구(132)에 의해 상기 소팅유닛(120)과 인라인으로 연결된다. 상기 제2챔버유닛(112)이 갖는 이송수단은 상기 제2컨베이어기구(132)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)로 이송할 수 있다. 상기 제2챔버유닛(112)이 상기 제2챔버(110c, 도 19에 도시됨)를 포함하는 경우, 상기 제2챔버유닛(112)이 갖는 이송수단은 상기 제2컨베이어기구(132)에 지지된 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버(110c, 도 19에 도시됨)를 경유하여 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)로 이송할 수 있다.2A, 3B, and 4, the second chamber unit 112 is connected inline with the sorting unit 120 by the second conveyor mechanism 132. The transfer means of the second chamber unit 112 may transfer the test tray 200 supported by the second conveyor mechanism 132 to the first chamber 110a (FIG. 19). When the second chamber unit 112 includes the second chamber 110c (shown in FIG. 19), the conveying means of the second chamber unit 112 is supported by the second conveyor mechanism 132. The test tray 200 may be transferred to the first chamber 110a (shown in FIG. 19) via the second chamber 110c (shown in FIG. 19).

상기 제2챔버유닛(112)이 갖는 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제2컨베이어기구(132)로 이송할 수 있다. 상기 제2챔버유닛(112)이 갖는 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)에서 상기 제2컨베이어기구(132)로 이송할 수 있다. 상기 제2챔버유닛(112)이 상기 제3챔버(110d, 도 19에 도시됨)를 포함하는 경우, 상기 제2챔버유닛(112)이 갖는 이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버(110a, 도 19에 도시됨)에서 상기 제3챔버(110d, 도 19에 도시됨)를 경유하여 상기 제2컨베이어기구(132)로 이송할 수 있다.The transfer means of the second chamber unit 112 may transfer the test tray 200 in which the test process is completed, to the second conveyor mechanism 132. The transfer means of the second chamber unit 112 may transfer the test tray 200 in which the test process is completed, from the first chamber 110a (shown in FIG. 19) to the second conveyor mechanism 132. have. When the second chamber unit 112 includes the third chamber 110d (shown in FIG. 19), the transfer means of the second chamber unit 112 may include a test tray 200 in which the test process is completed. May be transferred from the first chamber 110a (shown in FIG. 19) to the second conveyor mechanism 132 via the third chamber 110d (shown in FIG. 19).

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(1)는 상기 제2챔버유닛(112)을 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제2챔버유닛(112)들은 상기 제2컨베이어기구(132)들을 따라 상기 제1축방향(X축 방향)으로 서로 이격되게 설치될 수 있다. 상기 제2챔버유닛(112)들 및 상기 제1챔버유닛(111)들은 상기 제1축방향(X축 방향)에 대해 수직한 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 이격되게 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 이격되게 설치될 수 있다. 상기 스핀장치(1)는 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132)를 인라인으로 연결하기 위해 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132) 사이에 위치되게 설치될 수 있다.The inline test handler 1 according to the present invention may include a plurality of the second chamber units 112. In this case, the second chamber units 112 may be installed to be spaced apart from each other in the first axial direction (X-axis direction) along the second conveyor mechanism 132. The second chamber units 112 and the first chamber units 111 may be spaced apart from each other in a second axis direction (Y axis direction) perpendicular to the first axis direction (X axis direction). . In this case, the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 may be installed to be spaced apart from each other in the second axial direction (Y-axis direction). The spin device 1 is located between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 to connect the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 inline. Can be installed.

상기 제2챔버유닛(112)과 상기 제1챔버유닛(111)은 반도체 소자를 서로 다른 온도 환경에서 테스트할 수 있다. 예컨대, 상기 제1챔버유닛(111)은 반도체 소자를 고온 환경에서 테스트하고, 상기 제2챔버유닛(112)은 반도체 소자를 저온 환경에서 테스트하도록 구현될 수 있다. 이 경우, 상기 컨베이어유닛(130)은 반도체 소자가 고온 환경에서 먼저 테스트되도록 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버유닛(111) 쪽으로 운반한 후에, 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)가 배출되면 상기 제2챔버유닛(112) 쪽으로 운반함으로써 반도체 소자가 저온 환경에서 테스트되도록 할 수 있다. 상기 컨베이어유닛(130)은 반도체 소자가 저온 환경에서 먼저 테스트되도록 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버유닛(112) 쪽으로 운반한 후에, 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)가 배출되면 상기 제1챔버유닛(111) 쪽으로 운반함으로써 반도체 소자가 고온 환경에서 테스트되도록 할 수도 있다. 이 과정에서, 상기 스핀장치(1)는 상기 제1챔버유닛(111)과 상기 제2챔버유닛(112)에서 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자가 동일한 배치로 테스트되도록 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제2챔버유닛(112) 간에 운반되는 테스트 트레이(200)를 회전시킬 수 있다.The second chamber unit 112 and the first chamber unit 111 may test the semiconductor device in different temperature environments. For example, the first chamber unit 111 may test the semiconductor device in a high temperature environment, and the second chamber unit 112 may be implemented to test the semiconductor device in a low temperature environment. In this case, the conveyor unit 130 carries the test tray 200 toward the first chamber unit 111 so that the semiconductor device is first tested in a high temperature environment, and then a test process is performed from the first chamber unit 111. When the completed test tray 200 is discharged, the semiconductor device may be tested in a low temperature environment by carrying it toward the second chamber unit 112. The conveyor unit 130 carries a test tray 200 toward the second chamber unit 112 so that the semiconductor device is first tested in a low temperature environment, and then a test tray in which the test process is completed from the second chamber unit 112. When 200 is discharged, the semiconductor device may be tested in a high temperature environment by transporting it toward the first chamber unit 111. In this process, the spin apparatus 1 includes the first chamber unit such that the semiconductor elements accommodated in the test tray 200 are tested in the same arrangement in the first chamber unit 111 and the second chamber unit 112. The test tray 200 carried between the 111 and the second chamber unit 112 may be rotated.

도 2a, 도 3b, 도 4, 및 도 22를 참고하면, 상기 소팅유닛(120)은 상기 로딩공정과 상기 언로딩공정을 수행한다. 상기 소팅유닛(120)은 상기 챔버유닛(110)들로부터 이격되게 설치된다. 상기 소팅유닛(120)은 상기 로딩공정을 수행하기 위한 로딩유닛(121, 도 22에 도시됨)을 포함할 수 있다.2A, 3B, 4, and 22, the sorting unit 120 performs the loading process and the unloading process. The sorting unit 120 is installed to be spaced apart from the chamber units 110. The sorting unit 120 may include a loading unit 121 (shown in FIG. 22) for performing the loading process.

상기 로딩유닛(121)은 테스트될 반도체 소자를 고객트레이에서 테스트 트레이(200)로 이송한다. 상기 로딩유닛(121)은 로딩스택커(1211, 도 22에 도시됨) 및 로딩픽커(1212, 도 22에 도시됨)를 포함할 수 있다.The loading unit 121 transfers the semiconductor device to be tested from the customer tray to the test tray 200. The loading unit 121 may include a loading stacker 1211 (shown in FIG. 22) and a loading picker 1212 (shown in FIG. 22).

상기 로딩스택커(1211)는 고객트레이를 지지한다. 상기 로딩스택커(1211)에 지지된 고객트레이는 테스트될 반도체 소자들을 담고 있다. 상기 로딩스택커(1211)는 테스트될 반도체 소자들이 담겨진 고객트레이를 복수개 저장할 수 있다. 고객트레이들은 상하로 적층되어 상기 로딩스택커(1211)에 저장될 수 있다.The loading stacker 1211 supports the customer tray. The customer tray supported by the loading stacker 1211 contains semiconductor devices to be tested. The loading stacker 1211 may store a plurality of customer trays containing semiconductor devices to be tested. The customer trays may be stacked up and down and stored in the loading stacker 1211.

상기 로딩픽커(1212)는 상기 로딩스택커(1211)에 위치된 고객트레이로부터 테스트될 반도체 소자를 픽업하여 테스트 트레이(200)에 수납시킬 수 있다. 테스트 트레이(200)에 테스트될 반도체 소자가 수납될 때, 테스트 트레이(200)는 로딩위치(121a, 도 22에 도시됨)에 위치될 수 있다. 상기 로딩픽커(1212)는 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 이동하면서 테스트될 반도체 소자를 이송할 수 있다. 상기 로딩픽커(1212)는 승강할 수도 있다.The loading picker 1212 may pick up the semiconductor device to be tested from the customer tray located in the loading stacker 1211 and store it in the test tray 200. When the semiconductor device to be tested is accommodated in the test tray 200, the test tray 200 may be positioned at a loading position 121a (shown in FIG. 22). The loading picker 1212 may transfer the semiconductor device to be tested while moving in the first axis direction (X axis direction) and the second axis direction (Y axis direction). The loading picker 1212 may move up and down.

상기 로딩유닛(121)은 테스트될 반도체 소자를 일시적으로 수납하기 위한 로딩버퍼(1213, 도 22에 도시됨)를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 로딩픽커(1212)는 고객트레이로부터 테스트될 반도체 소자를 픽업한 후에, 픽업한 반도체 소자를 상기 로딩버퍼(1213)를 경유하여 상기 로딩위치(121a)에 위치된 테스트 트레이(200)에 수납시킬 수 있다. 상기 로딩픽커(1212)는 테스트될 반도체 소자를 고객트레이에서 상기 로딩버퍼(1213)로 이송하는 제1로딩픽커(1212a, 도 22에 도시됨), 및 테스트될 반도체 소자를 상기 로딩버퍼(1213)에서 테스트 트레이(200)로 이송하는 제2로딩픽커(1212b, 도 22에 도시됨)를 포함할 수도 있다.The loading unit 121 may further include a loading buffer 1213 (shown in FIG. 22) to temporarily receive the semiconductor device to be tested. In this case, the loading picker 1212 picks up the semiconductor device to be tested from the customer tray, and then, the test tray 200 located at the loading position 121a via the loading buffer 1213. Can be stored in. The loading picker 1212 may include a first loading picker 1212a (shown in FIG. 22) for transferring the semiconductor device to be tested from the customer tray to the loading buffer 1213, and the loading buffer 1213. The second loading picker 1212b (shown in FIG. 22) may be included in the test tray 200.

도시되지 않았지만, 상기 로딩유닛(121)은 테스트 트레이(200)를 이송하기 위한 로딩이송수단을 포함할 수 있다. 상기 로딩이송수단은 테스트 트레이(200)를 밀거나 테스트 트레이(200)를 당겨서 이송할 수 있다. 상기 로딩이송수단은 상기 로딩공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 로딩위치(121a)에서 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송할 수 있다. 상기 로딩이송수단은 비어 있는 테스트 트레이(200)를 상기 컨베이어유닛(130)에서 상기 로딩위치(121a)로 이송할 수도 있다. 상기 로딩이송수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 등을 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다.Although not shown, the loading unit 121 may include a loading transfer means for transferring the test tray 200. The loading transfer means may transfer the test tray 200 or by pulling the test tray 200. The loading transfer means may transfer the test tray 200 in which the loading process is completed, to the conveyor unit 130 at the loading position 121a. The loading transfer means may transfer the empty test tray 200 from the conveyor unit 130 to the loading position 121a. The loading transfer means may be a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, a belt method using a motor, a pulley and a belt, The test tray 200 may be transferred using a linear motor using a coil and a permanent magnet.

도 2a, 도 3b, 도 4, 및 도 22를 참고하면, 상기 소팅유닛(120)은 상기 언로딩공정을 수행하기 위한 언로딩유닛(122, 도 22에 도시됨)을 포함할 수 있다.2A, 3B, 4, and 22, the sorting unit 120 may include an unloading unit 122 (shown in FIG. 22) for performing the unloading process.

상기 언로딩유닛(122)은 테스트된 반도체 소자를 테스트 트레이(200)로부터 분리하여 고객트레이로 이송한다. 상기 언로딩유닛(122)은 언로딩스택커(1221, 도 22에 도시됨) 및 언로딩픽커(1222, 도 22에 도시됨)를 포함할 수 있다.The unloading unit 122 separates the tested semiconductor device from the test tray 200 and transfers it to the customer tray. The unloading unit 122 may include an unloading stacker 1221 (shown in FIG. 22) and an unloading picker 1222 (shown in FIG. 22).

상기 언로딩스택커(1221)는 고객트레이를 지지한다. 상기 언로딩스택커(1221)에 지지된 고객트레이에는 테스트된 반도체 소자들이 담겨진다. 상기 언로딩스택커(1221)는 테스트된 반도체 소자들이 담겨진 고객트레이를 복수개 저장할 수 있다. 고객트레이들은 상하로 적층되어 상기 언로딩스택커(1221)에 저장될 수 있다.The unloading stacker 1221 supports the customer tray. The customer tray supported by the unloading stacker 1221 contains the tested semiconductor devices. The unloading stacker 1221 may store a plurality of customer trays containing the tested semiconductor devices. The customer trays may be stacked up and down and stored in the unloading stacker 1221.

상기 언로딩픽커(1222)는 테스트 트레이(200)로부터 테스트된 반도체 소자를 픽업하여 상기 언로딩스택커(1221)에 위치된 고객트레이에 수납시킬 수 있다. 테스트 트레이(200)로부터 테스트된 반도체 소자가 픽업될 때, 테스트 트레이(200)는 언로딩위치(122a, 도 22에 도시됨)에 위치될 수 있다. 상기 언로딩픽커(1222)는 테스트된 반도체 소자를 테스트 결과에 따른 등급별로 그 등급에 해당하는 고객트레이에 수납시킬 수 있다. 상기 언로딩픽커(1222)는 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 이동하면서 테스트된 반도체 소자를 이송할 수 있다. 상기 언로딩픽커(1222)는 승강할 수도 있다. 상기 언로딩유닛(122)이 테스트 트레이(200)로부터 테스트된 반도체 소자를 모두 분리함에 따라 테스트 트레이(200)가 비게 되면, 상기 소팅유닛(120)은 비어 있는 테스트 트레이(200)를 상기 언로딩유닛(122)에서 상기 로딩유닛(121)로 이송할 수 있다.The unloading picker 1222 may pick up the tested semiconductor device from the test tray 200 and store it in a customer tray located in the unloading stacker 1221. When the tested semiconductor device is picked up from the test tray 200, the test tray 200 may be located at an unloading position 122a (shown in FIG. 22). The unloading picker 1222 may store the tested semiconductor device in a customer tray corresponding to the grade for each grade according to the test result. The unloading picker 1222 may transfer the tested semiconductor device while moving in the first axis direction (X axis direction) and the second axis direction (Y axis direction). The unloading picker 1222 may move up and down. When the test tray 200 becomes empty as the unloading unit 122 separates all the tested semiconductor devices from the test tray 200, the sorting unit 120 unloads the empty test tray 200. The unit 122 may be transferred to the loading unit 121.

상기 언로딩유닛(122)은 테스트된 반도체 소자를 일시적으로 수납하기 위한 언로딩버퍼(1223, 도 22에 도시됨)를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 언로딩픽커(1222)는 상기 언로딩위치(122a)에 위치된 테스트 트레이(200)로부터 테스트된 반도체 소자를 픽업한 후에, 픽업한 반도체 소자를 상기 언로딩버퍼(1223)를 경유하여 상기 고객트레이에 수납시킬 수 있다. 상기 언로딩픽커(1222)는 테스트된 반도체 소자를 테스트 트레이(200)에서 상기 언로딩버퍼(1223)로 이송하는 제1언로딩픽커(1223a, 도 22에 도시됨), 및 테스트된 반도체 소자를 상기 언로딩버퍼(1223)에서 고객트레이로 이송하는 제2언로딩픽커(1223b, 도 22에 도시됨)를 포함할 수도 있다.The unloading unit 122 may further include an unloading buffer 1223 (shown in FIG. 22) to temporarily receive the tested semiconductor device. In this case, the unloading picker 1222 picks up the tested semiconductor device from the test tray 200 located at the unloading position 122a and passes the picked-up semiconductor device through the unloading buffer 1223. It can be stored in the customer tray. The unloading picker 1222 may include a first unloading picker 1223a (shown in FIG. 22) that transfers the tested semiconductor device from the test tray 200 to the unloading buffer 1223, and the tested semiconductor device. The unloading buffer 1223 may include a second unloading picker 1223b (shown in FIG. 22) transferred to the customer tray.

도시되지 않았지만, 상기 언로딩유닛(122)은 테스트 트레이(200)를 이송하기 위한 언로딩이송수단을 포함할 수 있다. 상기 언로딩이송수단은 테스트 트레이(200)를 밀거나 테스트 트레이(200)를 당겨서 이송할 수 있다. 상기 언로딩이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 컨베이어유닛(130, 도 21에 도시됨)에서 상기 언로딩위치(122a)로 이송할 수 있다. 상기 언로딩이송수단은 상기 언로딩공정이 완료됨에 따라 비게 되는 테스트 트레이(200)를 상기 언로딩위치(122a)에서 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송할 수 있다. 상기 언로딩이송수단은 상기 언로딩공정이 완료됨에 따라 비게 되는 테스트 트레이(200)를 상기 언로딩위치(122a)에서 상기 로딩위치(121a)로 이송할 수도 있다. 상기 언로딩이송수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 등을 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다.Although not shown, the unloading unit 122 may include an unloading transport means for transporting the test tray 200. The unloading transfer means may transfer the test tray 200 by pulling the test tray 200 or by pulling the test tray 200. The unloading transfer means may transfer the test tray 200 in which the test process is completed, from the conveyor unit 130 (shown in FIG. 21) to the unloading position 122a. The unloading transfer means may transfer the test tray 200, which is empty as the unloading process is completed, from the unloading position 122a to the conveyor unit 130. The unloading transfer means may transfer the test tray 200, which becomes empty as the unloading process is completed, from the unloading position 122a to the loading position 121a. The unloading transfer means is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, and a belt method using a motor, a pulley and a belt. The test tray 200 may be transferred using a linear motor using a coil, a permanent magnet, or the like.

도시되지 않았지만, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(1)는 상기 소팅유닛(120)을 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 소팅유닛(120)들은 상기 컨베이어유닛(130)을 따라 서로 이격되어 설치될 수 있다. 본 발명의 변형된 실시예에 따르면, 상기 소팅유닛(120)은 상기 로딩유닛(121)과 상기 언로딩유닛(122)이 서로 이격되어 설치될 수도 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 로딩공정과 상기 언로딩공정이 서로 독립적으로 수행되도록 구현될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 로딩공정, 상기 언로딩공정 및 상기 테스트공정이 서로 독립적으로 수행됨에 따라 각 공정들에 걸리는 작업시간이 서로에게 영향을 미치는 것을 최소화할 수 있다. 상기 로딩유닛(121)과 상기 언로딩유닛(122)은 상기 컨베이어유닛(130)을 따라 서로 이격되어 설치될 수 있다.Although not shown, the inline test handler 1 according to the present invention may include a plurality of the sorting units 120. In this case, the sorting units 120 may be spaced apart from each other along the conveyor unit 130. According to a modified embodiment of the present invention, the sorting unit 120 may be installed spaced apart from the loading unit 121 and the unloading unit 122. Accordingly, the inline test handler 100 according to the present invention may be implemented to perform the loading process and the unloading process independently of each other. Therefore, the inline test handler 100 according to the present invention can minimize the work time required for each process as the loading process, the unloading process and the test process are performed independently of each other. . The loading unit 121 and the unloading unit 122 may be spaced apart from each other along the conveyor unit 130.

도 2a, 도 3b, 및 도 4를 참고하면, 상기 컨베이어유닛(130)은 테스트 트레이(200)가 상기 소팅유닛(120) 및 상기 챔버유닛(110)들 간에 이송되도록 테스트 트레이(200)를 운반한다. 상기 컨베이어유닛(130)은 상기 소팅유닛(120)으로부터 배출된 테스트 트레이(200)가 상기 챔버유닛(110)으로 공급되도록 테스트 트레이(200)를 운반한다. 상기 컨베이어유닛(130)은 상기 챔버유닛(110)으로부터 배출된 테스트 트레이(200)가 상기 소팅유닛(120)으로 공급되도록 테스트 트레이(200)를 운반한다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 컨베이어유닛(130)을 통해 서로 이격되게 설치된 소팅유닛(120) 및 챔버유닛(110)들 간에 테스트 트레이(200)를 순환 이동시키면서, 테스트 트레이(200)에 수납된 반도체 소자에 대해 상기 로딩공정, 상기 테스트공정 및 상기 언로딩공정을 수행할 수 있다.2A, 3B, and 4, the conveyor unit 130 carries the test tray 200 such that the test tray 200 is transferred between the sorting unit 120 and the chamber units 110. do. The conveyor unit 130 carries the test tray 200 such that the test tray 200 discharged from the sorting unit 120 is supplied to the chamber unit 110. The conveyor unit 130 carries the test tray 200 such that the test tray 200 discharged from the chamber unit 110 is supplied to the sorting unit 120. Therefore, the inline test handler 100 according to the present invention circulates the test tray 200 between the sorting unit 120 and the chamber unit 110 installed to be spaced apart from each other through the conveyor unit 130, the test tray The loading process, the test process, and the unloading process may be performed on the semiconductor device accommodated in the 200.

도 23을 참고하면, 상기 컨베이어유닛(130)은 테스트 트레이(200)를 운반하기 위한 컨베이어(130a)를 포함한다. 상기 컨베이어(130a)는 서로 소정 거리 이격되게 설치된 복수개의 회전부재(130b)를 포함할 수 있다. 상기 컨베이어(130a)는 상기 회전부재(130b)들을 각각의 회전축을 중심으로 회전시킨다. 테스트 트레이(200)는 상기 회전부재(130b)들에 지지된 상태로 상기 회전부재(130b)들이 회전함에 따라 운반될 수 있다. 상기 컨베이어(130a)는 상기 회전부재(130b)들을 각각의 회전축을 중심으로 시계방향과 반시계방향으로 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 컨베이어(130a)는 상기 회전부재(130b)들이 회전하는 방향을 조절함으로써, 테스트 트레이(200)를 운반하는 방향을 조절할 수 있다. 상기 회전부재(130b)들은 각각 원통형태로 형성될 수 있다.Referring to FIG. 23, the conveyor unit 130 includes a conveyor 130a for carrying the test tray 200. The conveyor 130a may include a plurality of rotating members 130b installed to be spaced apart from each other by a predetermined distance. The conveyor 130a rotates the rotating members 130b about their respective rotation shafts. The test tray 200 may be transported as the rotating members 130b rotate while being supported by the rotating members 130b. The conveyor 130a may rotate the rotating members 130b in a clockwise and counterclockwise direction with respect to their respective rotation shafts. Accordingly, the conveyor 130a may adjust the direction in which the test tray 200 is transported by adjusting the direction in which the rotating members 130b rotate. The rotating members 130b may be formed in a cylindrical shape, respectively.

도시되지 않았지만, 상기 컨베이어(130a)는 상기 회전부재(130b)들을 각각의 회전축을 중심으로 회전시키기 위한 동력원을 포함할 수 있다. 상기 동력원은 모터일 수 있다. 상기 컨베이어(130a)는 상기 동력원과 상기 회전부재(130b)들 각각의 회전축을 연결하기 위한 연결수단을 포함할 수도 있다. 상기 연결수단은 풀리 및 벨트일 수 있다. 상기 컨베이어(130a)는 상기 회전부재(130b)들을 감싸도록 결합된 순환부재(미도시)를 더 포함할 수 있다. 테스트 트레이(200)는 상기 순환부재에 지지된다. 상기 순환부재는 내부에 위치한 회전부재(130b)들이 각각의 회전축을 중심으로 회전함에 따라 순환 이동하면서 테스트 트레이(200)를 운반할 수 있다.Although not shown, the conveyor 130a may include a power source for rotating the rotating members 130b about respective rotation shafts. The power source may be a motor. The conveyor 130a may include a connecting means for connecting the rotating shaft of each of the power source and the rotating member 130b. The connecting means may be a pulley and a belt. The conveyor 130a may further include a circulation member (not shown) coupled to surround the rotating members 130b. The test tray 200 is supported by the circulation member. The circulation member may carry the test tray 200 while circularly moving as the rotation members 130b located therein rotate about the respective rotation shafts.

상기 컨베이어(130a)는 상기 회전부재(130b)들을 지지하기 위한 설치기구(130c)를 포함한다. 상기 설치기구(130c)는 상기 회전부재(130b)들에 지지된 테스트 트레이(200)가 소정 높이에 위치되도록 상기 회전부재(130b)들을 지지한다. 상기 설치기구(130c)는 상기 회전부재(130b)들에 지지된 테스트 트레이(200)가 상기 챔버유닛(110, 도 4에 도시됨)들 및 상기 소팅유닛(120, 도 4에 도시됨)으로 이송될 수 있는 높이에 위치되게 상기 회전부재(130b)들을 지지한다. 상기 설치기구(130c)는 상기 챔버유닛(110, 도 4에 도시됨)들 및 상기 소팅유닛(120, 도 3b에 도시됨)으로부터 배출되는 테스트 트레이(200)가 상기 회전부재(130b)들로 이송될 수 있는 높이에 위치되게 상기 회전부재(130b)들을 지지한다.The conveyor 130a includes an installation mechanism 130c for supporting the rotating members 130b. The installation mechanism 130c supports the rotating members 130b such that the test tray 200 supported by the rotating members 130b is positioned at a predetermined height. The installation mechanism 130c has a test tray 200 supported by the rotating members 130b as the chamber unit 110 (shown in FIG. 4) and the sorting unit 120 (shown in FIG. 4). The rotating members 130b are supported to be positioned at a height that can be transferred. The installation mechanism 130c includes a test tray 200 discharged from the chamber units 110 (shown in FIG. 4) and the sorting unit 120 (shown in FIG. 3B) as the rotating members 130b. The rotating members 130b are supported to be positioned at a height that can be transferred.

상기 컨베이어유닛(130)은 상기 컨베이어(130a)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 컨베이어(130a)들은 서로 인접하게 설치된다. 테스트 트레이(200)는 상기 컨베이어(130a)들을 따라 운반됨으로써, 상기 챔버유닛(110, 도 4에 도시됨)들 및 상기 소팅유닛(120, 도 4에 도시됨) 간에 이송될 수 있다. 상기 컨베이어(130a)들은 각각 개별적으로 작동하면서, 테스트 트레이(200)를 개별적으로 이동시킬 수 있다. 예컨대, 상기 컨베이어(130a)들 중에서 적어도 하나가 정지한 상태에서 다른 컨베이어(130a)는 테스트 트레이(200)를 운반하기 위해 작동할 수 있다. 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132)는 각각 상기 컨베이어(130a)를 복수개 포함할 수 있다.The conveyor unit 130 may include a plurality of the conveyor (130a). The conveyors 130a are installed adjacent to each other. The test tray 200 may be transported along the conveyors 130a to be transported between the chamber unit 110 (shown in FIG. 4) and the sorting unit 120 (shown in FIG. 4). The conveyors 130a may move the test tray 200 individually while operating individually. For example, while at least one of the conveyors 130a is stopped, the other conveyor 130a may operate to carry the test tray 200. The first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 may include a plurality of the conveyor (130a), respectively.

도 2a및 도 24에 도시된 바와 같이, 상기 컨베이어유닛(130)는 상기 제1컨베이어기구(131), 및 상기 제2컨베이어기구(132)를 포함할 수 있다.2A and 24, the conveyor unit 130 may include the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132.

상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 소팅유닛(120)과 상기 제1챔버유닛(111)을 인라인으로 연결한다. 상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 컨베이어(130a, 도 23에 도시됨)를 복수개 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)가 상기 제1챔버유닛(111)을 복수개 포함하는 경우, 상기 제1챔버유닛(111)들은 상기 제1컨베이어기구(131)를 따라 설치될 수 있다. 상기 제1컨베이어기구(131)에는 상기 스핀장치(1)의 일측이 연결된다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 스핀장치(1) 간에 운반될 수 있다.The first conveyor mechanism 131 connects the sorting unit 120 and the first chamber unit 111 inline. The first conveyor mechanism 131 may include a plurality of conveyors 130a (shown in FIG. 23). When the inline test handler 100 according to the present invention includes a plurality of first chamber units 111, the first chamber units 111 may be installed along the first conveyor mechanism 131. One side of the spin device 1 is connected to the first conveyor mechanism 131. Accordingly, the test tray 200 may be transported between the first conveyor mechanism 131 and the spin apparatus 1.

도시되지 않았지만, 상기 제1컨베이어기구(131)는 테스트 트레이(200)를 이송하기 위한 제1이송수단을 포함할 수 있다. 상기 제1이송수단은 테스트 트레이(200)를 밀거나 테스트 트레이(200)를 당겨서 이송할 수 있다. 상기 제1이송수단은 상기 로딩공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버유닛(111)으로 이송할 수 있다. 상기 제1이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출할 수 있다. 테스트 트레이(200)는 상기 제1이송수단 및 상기 제1챔버유닛(111)이 갖는 이송수단이 조합하여 동작함으로써, 상기 제1챔버유닛(111) 및 상기 제1컨베이어기구(131) 간에 운반될 수 있다. Although not shown, the first conveyor mechanism 131 may include a first transfer means for transferring the test tray 200. The first transfer means may transfer the test tray 200 or by pulling the test tray 200. The first transfer means may transfer the test tray 200 in which the loading process is completed, to the first chamber unit 111. The first transfer means may carry out the test tray 200 from which the test process is completed, from the first chamber unit 111. The test tray 200 may be transported between the first chamber unit 111 and the first conveyor mechanism 131 by operating a combination of the first transfer means and the transfer means of the first chamber unit 111. Can be.

상기 제1이송수단은 상기 제1챔버유닛(111)으로부터 반출된 테스트 트레이(200)를 상기 스핀장치(1)로 이송할 수도 있다. 상기 제1이송수단은 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 반출된 테스트 트레이(200)를 상기 스핀장치(1)로부터 반출할 수도 있다. 테스트트레이(200)는 상기 제1이송수단 및 상기 스핀장치(1)의 이송기구(5, 도 5에 도시됨)가 조합하여 동작함으로써, 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 스핀장치(1) 간에 운반될 수 있다.The first transfer means may transfer the test tray 200 carried out from the first chamber unit 111 to the spin apparatus 1. The first transfer means may carry out the test tray 200 carried out from the second chamber unit 112 from the spin apparatus 1. The test tray 200 is operated by a combination of the first transfer means and the transfer mechanism 5 (shown in FIG. 5) of the spin apparatus 1, thereby providing the first conveyor mechanism 131 and the spin apparatus 1. ) Can be carried between.

상기 제1이송수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터, 롤러, 벨트 등을 이용한 컨베이어방식 등을 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다.The first transfer means is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, and a belt method using a motor, a pulley and a belt. In addition, the test tray 200 may be transferred using a linear motor using a coil and a permanent magnet, a conveyor method using a roller, a belt, or the like.

상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 소팅유닛(120)과 상기 제2챔버유닛(112)을 인라인으로 연결한다. 상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 컨베이어(130a, 도 23에 도시됨)를 복수개 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)가 상기 제2챔버유닛(112)을 복수개 포함하는 경우, 상기 제2챔버유닛(112)들은 상기 제2컨베이어기구(132)를 따라 설치될 수 있다. 상기 제2컨베이어기구(132) 및 상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 이격되게 설치될 수 있다. 상기 제2컨베이어기구(132)에는 상기 스핀장치(1)의 타측이 연결된다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 제2컨베이어기구(132) 및 상기 스핀장치(1) 간에 운반될 수 있다. 상기 스핀장치(1)는 일측이 상기 제1컨베이어기구(131)에 연결되고, 타측이 상기 제2컨베이어기구(132)에 연결될 수 있다. 이에 따라, 테스트 트레이(200)는 상기 제1컨베이어기구(131), 상기 스핀장치(1), 및 상기 제2컨베이어기구(132) 간에 운반될 수 있다.The second conveyor mechanism 132 connects the sorting unit 120 and the second chamber unit 112 inline. The second conveyor mechanism 132 may include a plurality of conveyors 130a (shown in FIG. 23). When the inline test handler 100 according to the present invention includes a plurality of second chamber units 112, the second chamber units 112 may be installed along the second conveyor mechanism 132. The second conveyor mechanism 132 and the first conveyor mechanism 131 may be installed to be spaced apart from each other in the second axial direction (Y-axis direction). The other side of the spin device 1 is connected to the second conveyor mechanism 132. Accordingly, the test tray 200 may be transported between the second conveyor mechanism 132 and the spin apparatus 1. The spin apparatus 1 may have one side connected to the first conveyor mechanism 131 and the other side connected to the second conveyor mechanism 132. Accordingly, the test tray 200 may be transported between the first conveyor mechanism 131, the spin apparatus 1, and the second conveyor mechanism 132.

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 스핀장치(1)를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 스핀장치(1)들은 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132) 사이에 위치되게 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132)를 따라 설치될 수 있다. 상기 스핀장치(1)들은 상기 제1축방향(X축 방향)으로 서로 이격되게 설치될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 스핀장치(1)들을 통해 상기 챔버유닛(110)들이 설치된 방향에 관계없이 상기 로딩공정, 상기 언로딩공정 및 상기 테스트공정 각각을 수행하는데 걸리는 시간을 고려하여 테스트 트레이(200)를 효율적으로 분배할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 장비 가동률을 향상시키고, 반도체 소자에 대해 로딩공정, 테스트공정 및 소팅공정이 완료될 때까지 걸리는 시간을 줄일 수 있다.Inline test handler 100 according to the present invention may include a plurality of the spin device (1). In this case, the spin devices 1 are along the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 so as to be located between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132. Can be installed. The spin devices 1 may be installed to be spaced apart from each other in the first axial direction (X-axis direction). Therefore, the inline test handler 100 according to the present invention takes the loading process, the unloading process, and the test process, respectively, regardless of the direction in which the chamber units 110 are installed through the spin devices 1. In consideration of time, the test tray 200 may be efficiently distributed. Accordingly, the inline test handler 100 according to the present invention can improve the equipment operation rate and reduce the time taken for the loading process, the test process and the sorting process to be completed for the semiconductor device.

도시되지 않았지만, 상기 제2컨베이어기구(132)는 테스트 트레이(200)를 이송하기 위한 제2이송수단을 포함할 수 있다. 상기 제2이송수단은 테스트 트레이(200)를 밀거나 테스트 트레이(200)를 당겨서 이송할 수 있다. 상기 제2이송수단은 상기 로딩공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버유닛(112)으로 이송할 수 있다. 상기 제2이송수단은 상기 테스트공정이 완료된 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 반출할 수 있다. 테스트 트레이(200)는 상기 제2이송수단 및 상기 제2챔버유닛(112)이 갖는 이송수단이 조합하여 동작함으로써, 상기 제2챔버유닛(112) 및 상기 제2컨베이어기구(132) 간에 운반될 수 있다. Although not shown, the second conveyor mechanism 132 may include a second transfer means for transferring the test tray 200. The second transfer means may transfer the test tray 200 or by pulling the test tray 200. The second transfer means may transfer the test tray 200 in which the loading process is completed, to the second chamber unit 112. The second transfer means may carry out the test tray 200 from which the test process is completed, from the second chamber unit 112. The test tray 200 may be transported between the second chamber unit 112 and the second conveyor mechanism 132 by combining the second transfer means and the transfer means of the second chamber unit 112. Can be.

상기 제2이송수단은 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 반출된 테스트 트레이(200)를 상기 스핀장치(1)로 이송할 수도 있다. 상기 제2이송수단은 상기 제2챔버유닛(112)으로부터 반출된 테스트 트레이(200)를 상기 스핀장치(1)로부터 반출할 수도 있다. 테스트트레이(200)는 상기 제2이송수단 및 상기 스핀장치(1)의 이송기구(5, 도 5에 도시됨)가 조합하여 동작함으로써, 상기 제2컨베이어기구(132) 및 상기 스핀장치(1) 간에 운반될 수 있다.The second transfer means may transfer the test tray 200 carried out from the second chamber unit 112 to the spin apparatus 1. The second transfer means may carry out the test tray 200 carried out from the second chamber unit 112 from the spin apparatus 1. The test tray 200 is operated by a combination of the second transfer means and the transfer mechanism 5 (shown in FIG. 5) of the spin apparatus 1, thereby providing the second conveyor mechanism 132 and the spin apparatus 1. ) Can be carried between.

상기 제2이송수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터, 롤러, 벨트 등을 이용한 컨베이어방식 등을 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다.The second transfer means is a cylinder method using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw method using a motor and a ball screw, a gear method using a motor, a rack gear and a pinion gear, and a belt method using a motor, a pulley and a belt. In addition, the test tray 200 may be transferred using a linear motor using a coil and a permanent magnet, a conveyor method using a roller, a belt, or the like.

도 2a, 도 17, 및 도 18을 참고하면, 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132)는 각각 상기 수직방향(Z축 방향)으로 서로 이격되게 형성된 복수개의 컨베이어(130a, 도 17에 도시됨)를 포함할 수 있다.2A, 17, and 18, the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132 are each a plurality of conveyors 130a formed to be spaced apart from each other in the vertical direction (Z-axis direction). , As shown in FIG. 17).

상기 제1컨베이어기구(131)는 복수개의 테스트 트레이(200)를 상기 수직방향(Z축 방향)으로 형성된 복수개의 운반경로를 따라 개별적으로 운반할 수 있다. 예컨대, 상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 제1운반경로(P1, 도 17에 도시됨)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a), 및 상기 제2운반경로(P2, 도 17에 도시됨)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a)를 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제1컨베이어기구(131)는 상기 제1운반경로(P1)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 정지시키고 있는 상태에서도, 상기 제2운반경로(P2)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 운반하도록 동작할 수 있다.The first conveyor mechanism 131 may individually transport the plurality of test trays 200 along the plurality of transport paths formed in the vertical direction (Z-axis direction). For example, the first conveyor mechanism 131 may include a conveyor 130a for carrying a test tray 200 along the first transportation path P1 (shown in FIG. 17), and the second transportation path P2 (FIG. And a conveyor 130a for carrying the test tray 200 along the side (shown in FIG. 17). In this case, the first conveyor mechanism 131 forms the second transportation path P2 even when the conveyor 130a forming the first transportation path P1 stops the test tray 200. The conveyor 130a may be operated to carry the test tray 200.

상기 제2컨베이어기구(132)는 복수개의 테스트 트레이(200)를 상기 수직방향(Z축 방향)으로 형성된 복수개의 운반경로를 따라 개별적으로 운반할 수 있다. 예컨대, 상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 제1운반경로(P1)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a), 및 상기 제2운반경로(P2)를 따라 테스트 트레이(200)를 운반하는 컨베이어(130a)를 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제2컨베이어기구(132)는 상기 제1운반경로(P1)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 정지시키고 있는 상태에서도, 상기 제2운반경로(P2)를 형성하는 컨베이어(130a)가 테스트 트레이(200)를 운반하도록 동작할 수 있다.The second conveyor mechanism 132 may individually transport the plurality of test trays 200 along the plurality of transport paths formed in the vertical direction (Z-axis direction). For example, the second conveyor mechanism 132 may include a conveyor 130a for carrying the test tray 200 along the first transport path P1, and a test tray 200 along the second transport path P2. It may include a conveyor (130a) for transporting. In this case, the second conveyor mechanism 132 forms the second transportation path P2 even when the conveyor 130a forming the first transportation path P1 stops the test tray 200. The conveyor 130a may be operated to carry the test tray 200.

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 테스트 트레이(200)를 상기 컨베이어유닛(130)에서 상기 챔버유닛(110)으로 이송하거나, 테스트 트레이(200)를 상기 챔버유닛(110)에서 상기 컨베이어유닛(130)으로 이송하는 경우, 상기 제1운반경로(P1)를 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다. 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 제1운반경로(P1)에 대기하고 있는 테스트 트레이(200)가 있는 경우, 다른 테스트 트레이(200)가 상기 대기하고 있는 테스트 트레이(200)를 회피하여 이동하도록 상기 제2운반경로(P2)를 이용하여 테스트 트레이(200)를 이송할 수 있다.The inline test handler 100 according to the present invention transfers a test tray 200 from the conveyor unit 130 to the chamber unit 110, or transfers a test tray 200 from the chamber unit 110 to the conveyor unit. When transferring to 130, the test tray 200 may be transferred using the first transport path P1. The inline test handler 100 according to the present invention avoids the test tray 200 in which another test tray 200 is waiting when there is a test tray 200 waiting in the first transport path P1. The test tray 200 may be transferred using the second transportation path P2 to move.

본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 제1챔버유닛(111)을 거친 테스트 트레이(200)를 상기 제2챔버유닛(112)을 경유시키지 않고 곧바로 상기 소팅유닛(120)으로 이송하는 경우, 해당 테스트 트레이(200)를 상기 제2운반경로(P2)를 이용하여 이송할 수도 있다. 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러(100)는 상기 제2챔버유닛(112)을 거친 테스트 트레이(200)를 상기 제1챔버유닛(111)을 경유시키지 않고 곧바로 상기 소팅유닛(120)으로 이송하는 경우, 해당 테스트 트레이(200)를 상기 제2운반경로(P2)를 이용하여 이송할 수도 있다. 이 경우, 상기 스핀장치(1)는 상기 제1컨베이어기구(131) 및 상기 제2컨베이어기구(132) 간에 운반되는 테스트 트레이(200)의 운반경로를 변경할 수 있다.When the inline test handler 100 according to the present invention transfers the test tray 200 passing through the first chamber unit 111 directly to the sorting unit 120 without passing through the second chamber unit 112. In addition, the test tray 200 may be transferred using the second transportation path P2. When the inline test handler 100 according to the present invention transfers the test tray 200 which has passed through the second chamber unit 112 directly to the sorting unit 120 without passing through the first chamber unit 111. In addition, the test tray 200 may be transferred using the second transportation path P2. In this case, the spin apparatus 1 may change a transport path of the test tray 200 transported between the first conveyor mechanism 131 and the second conveyor mechanism 132.

이하, 도 25를 참조하여 본 발명에 따른 인라인 테스트 핸들러에서 테스트 트레이 이송 제어방법에 대해 설명한다.Hereinafter, a test tray transfer control method in an inline test handler according to the present invention will be described with reference to FIG. 25.

도 25는 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 테스트 핸들러 제어방법을 보여주는 플로우차트이다. 도 25에 도시된 제어방법은 도 2a에 도시된 바와 같은 구성을 갖는 인라인 테스트 핸들러를 제어하는 방법으로서, 먼저 챔버유닛(110)이 해당 챔버유닛(110)으로 진입할 수 있는 분기점 상에 설치된 식별정보 확인부(102)로부터 테스트될 반도체 소자가 수납되어 있는 테스트 트레이의 식별정보를 수신한다(S2500).25 is a flowchart illustrating a method of controlling an inline test handler according to an embodiment of the present invention. The control method shown in FIG. 25 is a method of controlling an inline test handler having the configuration as shown in FIG. 2A, and firstly, identification is provided on a branch point where the chamber unit 110 may enter the corresponding chamber unit 110. The identification information of the test tray in which the semiconductor device to be tested is stored is received from the information checking unit 102 (S2500).

일 실시예에 있어서, 테스트 트레이의 식별정보에는 테스트 트레이의 기본 ID 및 COK정보가 포함되어 있고, COK정보에 해당 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자의 종류 또는 해당 테스트 트레이에 수납되어 있는 반도체 소자에 대해 수행되어야 하는 테스트 종류 등의 정보가 포함되어 있다.In one embodiment, the identification information of the test tray includes a basic ID and COK information of the test tray, and the type of semiconductor device housed in the test tray or the semiconductor device housed in the test tray. Information such as the type of test to be performed is included.

이후, 챔버유닛(110)은 수신된 식별정보로부터 반도체 소자의 종류 및 테스트 종류를 추출한다(S2510).Thereafter, the chamber unit 110 extracts the type and the test type of the semiconductor device from the received identification information (S2510).

다음으로, 챔버유닛(110)은 추출된 반도체 소자의 종류 및 테스트 종류에 기초하여 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하는지 여부를 판단한다(S2520).Next, the chamber unit 110 determines whether to support the test type for the semiconductor device based on the type and the test type of the extracted semiconductor device (S2520).

판단결과, 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하지 않는 경우 챔버유닛(110)은 테스트 트레이를 통과시키기 위한 제어명령을 생성한다(S2530).As a result of the determination, when the test type for the semiconductor device is not supported, the chamber unit 110 generates a control command for passing the test tray (S2530).

예컨대, 테스트 종류가 저온 테스트이고, 해당 챔버유닛(110)이 고온에서 테스트를 수행할 수 있는 챔버만 포함하는 경우, 챔버유닛(110)은 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하지 않는 것으로 판단하고, 테스트 트레이를 통과시키기 위한 제어명령을 생성하는 것이다.For example, when the test type is a low temperature test and the chamber unit 110 includes only a chamber capable of performing the test at a high temperature, the chamber unit 110 determines that the test type for the semiconductor device is not supported. In other words, it generates control commands to pass the test tray.

한편, S2520의 판단결과 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하는 것으로 판단되면, 챔버유닛(110)은 해당 챔버유닛(110)에서 대기중인 테스트 트레이의 개수를 카운팅하고(S2540), 대기중인 테스트 트레이의 개수와 해당 챔버유닛(110)에서의 평균 테스트 소요시간을 이용하여 해당 챔버유닛(110)에서의 대기시간을 산출한다(S2550).On the other hand, if it is determined in S2520 that it supports the test type for the semiconductor device, the chamber unit 110 counts the number of test trays waiting in the chamber unit 110 (S2540), and the test trays waiting. The waiting time in the chamber unit 110 is calculated using the number and the average test time required in the chamber unit 110 (S2550).

예컨대, 테스트 종류가 고온 테스트이고 해당 챔버유닛(110)이 고온에서 테스트를 수행할 수 있는 챔버를 포함하는 경우, 챔버유닛(110)은 해당 반도체 소자에 대한 테스트 종류를 지원하는 것으로 판단하여 테스트 트레이를 챔버유닛(110)으로 반입시킬지 또는 통과 시킬지 여부를 최종적으로 판단하게 되는 것이다.For example, when the test type is a high temperature test and the chamber unit 110 includes a chamber capable of performing the test at a high temperature, the chamber unit 110 determines that the test unit supports the test type for the semiconductor device, and thus the test tray. It will be finally determined whether or not to be carried into the chamber unit 110.

일 실시예에 있어서, 평균 테스트 소요기간은 일정주기동안 수행된 테스트들의 소요시간을 평균한 값을 의미하는 것으로서, 일정주기가 경과할 때마다 새롭게 갱신된다.In one embodiment, the average test duration is a value obtained by averaging the time required for the tests performed for a certain period, and is updated every time a certain period elapses.

이후, 챔버유닛(110)은 S2550에서 산출된 대기시간이 미리 정해진 임계치 이하인지 여부를 판단하고(S2560), 이하이면 테스트 트레이를 챔버유닛으로 반입시키기 위한 제어명령을 생성한다(S2570). 한편, 챔버유닛(110)은 S2560의 판달결과 산출된 대기시간이 미리 정해진 임계치를 초과하면 테스트 트레이를 통과시키기 위한 제어명령을 생성한다(S2530).Subsequently, the chamber unit 110 determines whether the waiting time calculated in S2550 is equal to or less than a predetermined threshold (S2560), and if it is less than or less, generates a control command for carrying the test tray into the chamber unit (S2570). On the other hand, the chamber unit 110 generates a control command for passing the test tray when the waiting time calculated as a result of the determination of S2560 exceeds a predetermined threshold (S2530).

이후, 컨베이어유닛(130)은 S2530 및 S2570에서 생성된 제어명령에 따라 테스트 트레이를 해당 챔버유닛으로 반입시키거나 통과시킨다(S2580).Thereafter, the conveyor unit 130 carries in or passes the test tray to the chamber unit according to the control command generated in S2530 and S2570 (S2580).

상술한 실시예에 있어서는, 챔버유닛(110)이 대기중인 테스트 트레이의 개수 및 평균 테스트 소요시간을 이용하여 해당 챔버유닛(110)에서의 대기시간을 산출하고, 대기시간을 미리 정해진 임계치와 비교하여 테스트 트레이의 반입 또는 통과여부를 판단하는 것으로 설명하였다.In the above-described embodiment, the waiting time in the chamber unit 110 is calculated using the number of test trays waiting for the chamber unit 110 and the average test time, and the waiting time is compared with a predetermined threshold value. It has been described as determining whether the test tray is carried or passed.

하지만, 변형된 실시예에 있어서 챔버유닛(110)은 챔버유닛(110)에서 대기중인 테스트 트레이의 개수만을 카운팅하고, 대기중인 테스트 트레이의 개수를 미리 정해진 임계개수와 비교하여 테스트 트레의 반입 또는 통과여부를 판단할 수도 있다.However, in the modified embodiment, the chamber unit 110 counts only the number of test trays waiting in the chamber unit 110, and carries or passes the test trays by comparing the number of waiting test trays with a predetermined threshold number. You can also determine whether or not.

구체적으로, 챔버유닛(110)은 대기중인 테스트 트레이의 개수가 임계개수 이하이면 테스트 트레이를 챔버유닛(110)으로 반입시키는 것으로 판단하고, 대기중인 테스트 트레이의 개수가 임계개수를 초과하면 테스트 트레이를 통과시키는 것으로 판단할 수 있다.Specifically, the chamber unit 110 determines that the test trays are brought into the chamber unit 110 when the number of waiting test trays is less than or equal to the threshold number, and when the number of waiting test trays exceeds the threshold number, the test trays are removed. It can be judged to pass.

상술한 인라인 테스트 핸들러 제어방법은 다양한 컴퓨터 수단을 이용하여 수행될 수 있는 프로그램 형태로도 구현될 수 있는데, 이때 인라인 테스트 핸들러 제어방법을 수행하기 위한 프로그램은 하드 디스크, CD-ROM, DVD, 롬(ROM), 램, 또는 플래시 메모리와 같은 컴퓨터로 판독할 수 있는 기록 매체에 저장된다.The above-described inline test handler control method may be implemented in the form of a program that can be executed using various computer means. In this case, the program for performing the inline test handler control method may include a hard disk, a CD-ROM, a DVD, a ROM ( ROM), RAM, or flash memory, such as a computer readable recording medium.

본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.Those skilled in the art to which the present invention pertains will understand that the above-described present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features.

그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Therefore, it is to be understood that the embodiments described above are exemplary in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is shown by the following claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention. do.

1 : 스핀장치 2 : 지지기구 3 : 베이스기구 4 : 회전기구
5 : 이송기구 6 : 돌기 7 : 완충기구 10 : 본체
100 : 인라인 테스트 핸들러 101: 제어서버 102: 식별정보 확인부
110 : 챔버유닛 111 : 제1챔버유닛
112 : 제2챔버유닛 120 : 소팅유닛 121 : 로딩유닛 122 : 언로딩유닛
130 : 컨베이어유닛 131 : 제1컨베이어기구 132 : 제2컨베이어기구
200 : 테스트 트레이 300 : 반도체 소자 400 : 테스트장비DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Spin apparatus 2 Support mechanism 3 Base mechanism 4 Rotation mechanism
5 Transfer Mechanism 6 Projection 7 Shock Absorber 10 Body
100: inline test handler 101: control server 102: identification information confirmation unit
110: chamber unit 111: first chamber unit
112: second chamber unit 120: sorting unit 121: loading unit 122: unloading unit
130: conveyor unit 131: first conveyor mechanism 132: second conveyor mechanism
200: test tray 300: semiconductor device 400: test equipment

Claims

A plurality of chamber units in which a test process for a semiconductor device is performed;
A sorting unit connected in-line with the plurality of chamber units and accommodating a semiconductor device to be tested in a test tray or separating a semiconductor device from which a test is completed from the test tray; And
A conveyor unit including a plurality of conveyor mechanisms configured to transfer the test trays such that the plurality of chamber units and the sorting unit are connected inline, or to transfer the test trays so that the plurality of chamber units are connected inline,
The chamber unit determines whether the test tray is carried or passed during the transfer of the test tray, and transmits the determination result to the conveyor unit.
The conveyor unit carries the test tray into the chamber unit or passes the test tray according to the determination result of the chamber unit,
And the chamber unit determines that the test tray passes through the test tray when the waiting time calculated using the number of test trays waiting for the chamber unit and the average test duration exceeds a threshold.

The method of claim 1,
It is installed to be matched 1: 1 with the chamber unit, and further comprising an identification information confirmation unit for recognizing the identification information of the test tray and transmits to the chamber unit,
And the chamber unit determines whether the test tray is loaded or passed when the identification information of the test tray is received from the identification information checking unit.

The method of claim 2,
The identification information confirmation unit is implemented using an RFID reader, a barcode reader, or a Bluetooth module,
And an RFID tag, a barcode, or a Bluetooth module including identification information of the test tray is mounted on the test tray.

The method of claim 1,
The chamber unit of the test tray may be configured using at least one of whether a test type is supported for the semiconductor device stored in the test tray, the number of test trays waiting in the chamber unit, and the average test duration in the chamber unit. Inline test handler, characterized in that determining whether the import or pass.

The method of claim 1,
And the chamber unit determines whether or not a test type for the semiconductor device is supported based on the type of the semiconductor device and the test type for the semiconductor device included in the identification information of the test tray.

The method of claim 1,
The chamber unit supports a type of test for a semiconductor device stored in the test tray, and if the waiting time calculated using the number of test trays waiting for the chamber unit and the average test duration is less than or equal to the threshold value, And determining that a test tray is brought into the chamber unit.

The method of claim 1,
And the chamber unit determines to pass the test tray if the chamber unit does not support the type of test for the semiconductor device stored in the test tray.

The method of claim 1,
The chamber unit includes a first chamber unit and a second chamber unit spaced apart from the first chamber unit to face in a direction different from the first chamber unit,
The inline test handler may further include a spin device for rotating the test tray such that the test tray discharged from the first chamber unit is horizontally rotated by a predetermined angle and supplied to the second chamber unit. Test handler.

Receiving identification information of a test tray in which a semiconductor device to be tested is stored in a chamber unit connected inline with the sorting unit;
The type of the semiconductor device and the test type for the semiconductor device, the number of test trays waiting in the chamber unit, and the average test duration of the chamber unit, the chamber unit is included in the identification information of the test tray Determining whether the test tray is loaded or passed using at least one;
And a conveyor unit for connecting the sorting unit and the chamber unit inline according to a determination result to carry or pass the test tray into the chamber unit.
The determining step,
Determining whether to support a test type for the semiconductor device;
Calculating a waiting time using the number of waiting test trays and an average test duration; And
Determining that the test tray is brought into the chamber unit when the calculated waiting time is less than or equal to a threshold;
The determining step,
And determining that the chamber unit passes the test tray when the chamber unit does not support the test type for the semiconductor device or when the calculated waiting time exceeds a threshold. Control method.

delete

A computer-readable recording medium having recorded thereon a program for performing a test tray transfer control method in the inline test handler according to claim 9.