KR102007129B1 - Conductive paste for laser etching, conductive thin film, and conductive laminate - Google Patents

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Abstract

(과제) 종래의 스크린 인쇄법으로는 대응이 곤란한 L/S가 50/50 ㎛ 이하인 고밀도 전극 회로 배선을, 저비용 또한 낮은 환경 부하로 제조할 수 있는 레이저 에칭 가공에 적합한 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트를 제공한다.
(해결 수단) 열가소성 수지를 포함하는 바인더 수지(A), 금속 가루(B) 및 유기 용제(C)를 함유하는 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트, 상기 도전성 페이스트를 이용하여 형성된 도전성 박막, 도전성 적층체, 전기 회로 및 터치 패널.
(Problem) The present invention provides a conductive paste for laser etching processing, which is suitable for laser etching processing in which high density electrode circuit wiring having a L / S of 50/50 μm or less, which is difficult to cope with conventional screen printing methods, can be produced at low cost and low environmental load. do.
(Solution means) A conductive paste for laser etching processing containing a binder resin (A), a metal powder (B) and an organic solvent (C) containing a thermoplastic resin, a conductive thin film formed by using the conductive paste, an electrically conductive laminate, and an electric Circuit and touch panel.

Description

레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트, 도전성 박막 및 도전성 적층체{CONDUCTIVE PASTE FOR LASER ETCHING, CONDUCTIVE THIN FILM, AND CONDUCTIVE LAMINATE}Conductive Paste, Conductive Thin Film, and Conductive Laminate for Laser Etching Processing {CONDUCTIVE PASTE FOR LASER ETCHING, CONDUCTIVE THIN FILM, AND CONDUCTIVE LAMINATE}

본 발명은, 평면 방향의 배치 밀도가 높은 도전성 패턴을 제조할 수 있는 도전성 패턴의 제조방법 및 이 제조방법에 적합하게 이용할 수 있는 도전성 페이스트에 관한 것이다. 본 발명의 도전성 패턴은, 전형적으로는 투명 터치 패널의 전극 회로 배선에 이용할 수 있다.This invention relates to the manufacturing method of the conductive pattern which can manufacture the conductive pattern with high arrangement density in a planar direction, and the electrically conductive paste which can be used suitably for this manufacturing method. The electroconductive pattern of this invention is typically used for the electrode circuit wiring of a transparent touch panel.

최근, 휴대 전화나, 노트북, 전자 서적 등으로 대표되는 투명 터치 패널을 탑재하는 전자 기기의 고성능화와 소형화가 급격히 진행되고 있다. 이들 전자 기기의 고성능화와 소형화에는, 탑재되는 전자 부품의 소형화, 고성능화, 집적도의 향상에 덧붙여, 이들 전자 부품 상호간을 접합하는 전극 회로 배선의 고밀도화가 요구되고 있다. 투명 터치 패널의 방식으로서 전극 회로 배선의 수가 적은 저항막 방식에 덧붙여, 전극 회로 배선의 수가 비약적으로 많은 정전 용량 방식의 보급이 최근 급속히 진행되고 있고, 이러한 관점에서 전극 회로 배선의 고밀도화가 강하게 요구되고 있다. 또한, 디스플레이 화면을 보다 크게 하기 위해, 또한 상품 디자인상의 요구에 의해, 전극 회로 배선이 배치되는 프레임부를 보다 좁게 하고자 하는 요구가 있고, 이러한 관점에서도 전극 회로 배선의 고밀도화가 요구되고 있다. 이상과 같은 요구를 만족시키기 위해, 종래 이상의 전극 회로 배선의 고밀도 배치를 행할 수 있는 기술이 요구되고 있다.In recent years, the high performance and miniaturization of the electronic device which mounts the transparent touch panel represented by a mobile telephone, a notebook, an electronic book, etc. are progressing rapidly. In order to increase the performance and miniaturization of these electronic devices, in addition to miniaturization, high performance, and integration of electronic components to be mounted, there is a demand for higher density of electrode circuit wiring for joining these electronic components. In addition to the resistive film method with a small number of electrode circuit wirings as a method of the transparent touch panel, the spread of the capacitive method with a large number of electrode circuit wirings has been rapidly progressing in recent years. have. In addition, in order to make the display screen larger, there is a demand to narrow the frame portion in which the electrode circuit wiring is arranged due to the demands on the product design, and from such a viewpoint, the densification of the electrode circuit wiring is required. In order to satisfy the above requirements, the technique which can perform the high density arrangement of the electrode circuit wiring more than conventionally is calculated | required.

저항막 방식의 투명 터치 패널의 프레임 부분의 전극 회로 배선의 배치 밀도는, 평면 방향의 라인과 스페이스의 폭이 각각 200 ㎛(이하, L/S=200/200 ㎛라는 식으로 약기함) 이상 정도이고, 이것을 도전성 페이스트의 스크린 인쇄에 의해 형성하는 것이 종래부터 행해지고 있다. 정전 용량 방식의 터치 패널에서는, L/S의 요구는 100/100 ㎛ 정도 이하가 되었고, 게다가 L/S가 50/50 ㎛ 이하로 요구되는 경우도 있어, 스크린 인쇄에 의한 전극 회로 배선 형성 기술로는 대응하기 곤란한 상황이 되고 있다.The arrangement density of the electrode circuit wirings in the frame portion of the resistive transparent touch panel is about 200 µm or more in the plane direction of the line and space in the plane direction (hereinafter abbreviated as L / S = 200/200 µm). It is conventionally performed to form this by screen printing of an electrically conductive paste. In the capacitive touch panel, the L / S requirement is about 100/100 μm or less, and the L / S may be required to be 50/50 μm or less. Has become a difficult situation to respond to.

스크린 인쇄를 대신할 전극 회로 배선 형성 기술의 후보의 일례로서, 포토리소그래피법을 들 수 있다. 포토리소그래피법을 이용하면, L/S가 50/50 ㎛ 이하인 세선을 형성하는 것도 충분히 가능하다. 그러나 포토리소그래피법에도 과제가 있다. 포토리소그래피법의 가장 전형적인 사례는 감광성 레지스트를 이용하는 수법으로, 일반적으로는, 동박층을 형성한 표면 기판의 동박 부위에 감광성 레지스트를 도포하고, 포토마스크 혹은 레이저광의 직접 묘화 등의 방법에 의해 원하는 패턴을 노광하고, 감광성 레지스트의 현상을 행하고, 그 후, 원하는 패턴 이외의 동박 부위를 약품으로 용해·제거함으로써, 동박의 세선 패턴을 형성시킨다. 이 때문에, 폐액 처리에 의한 환경 부하가 크고, 게다가 공정이 번거로워, 생산 효율의 관점, 용적 관점을 포함하여 많은 과제를 안고 있다.The photolithography method is mentioned as an example of a candidate of the electrode circuit wiring formation technique which replaces screen printing. If the photolithography method is used, it is also possible to form a thin wire having an L / S of 50/50 µm or less. However, there is also a problem in the photolithography method. The most typical example of the photolithography method is a method using a photosensitive resist. Generally, a photosensitive resist is applied to a copper foil portion of a surface substrate on which a copper foil layer is formed, and a desired pattern is obtained by a method such as direct drawing of a photomask or a laser beam. Is exposed, and the photosensitive resist is developed, and the copper foil thin line pattern is formed by melt | dissolving and removing copper foil parts other than a desired pattern with chemical | medical agent after that. For this reason, the environmental load by waste liquid treatment is large, and a process is cumbersome, and there exist many subjects including a viewpoint of a production efficiency and a volume.

<<선행기술문헌>><< prior art document >>

(특허문헌 1) 특허문헌 1 : 일본 특허 공개 제2010-237573호 공보(Patent Document 1) Patent Document 1: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-237573

(특허문헌 2) 특허문헌 2 : 일본 특허 공개 제2011-181338호 공보(Patent Document 2) Patent Document 2: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-181338

본 발명의 목적은, 스크린 인쇄법으로는 대응이 곤란한 L/S가 50/50 ㎛ 이하인 고밀도 전극 회로 배선을, 저비용 또한 낮은 환경 부하로 제조할 수 있는 제조방법을 제공하는 것에 있다. 또한, 이러한 제조방법에 적합하게 이용할 수 있는 도전성 페이스트를 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide a manufacturing method capable of producing a high-density electrode circuit wiring having a L / S of 50/50 µm or less, which is difficult to cope with a screen printing method, at low cost and with low environmental load. Moreover, it is providing the electrically conductive paste which can be used suitably for such a manufacturing method.

본 발명자들은 평면 방향으로 고밀도로 전극 회로 배선을 배치하는 제조방법에 관해 예의 검토한 결과, 바인더 수지와 도전 분체를 포함하는 층을 절연성 기재 상에 형성하고, 그 일부를 레이저광 조사에 의해 절연성 기재 상에서 제거함으로써, 스크린 인쇄법으로는 실현이 곤란한 L/S가 50/50 ㎛ 이하인 고밀도 전극 회로 배선을 제조할 수 있는 것을 알아냈다. 또한, 이러한 제조방법에 적합한 바인더 수지와 도전 분체를 포함하는 층을 형성하기에 적합한 도전성 페이스트를 알아냈다. 즉, 본원 발명은 이하의 구성을 포함하는 것이다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly examining the manufacturing method which arrange | positions an electrode circuit wiring at high density in a planar direction, the layer which consists of a binder resin and electrically conductive powder is formed on an insulating base material, and a part of this is made into an insulating base material by a laser beam irradiation. By removing the phase, it was found that a high-density electrode circuit wiring having a L / S of 50/50 µm or less, which is difficult to realize by the screen printing method, can be manufactured. Moreover, the electrically conductive paste suitable for forming the layer containing binder resin and electrically conductive powder suitable for such a manufacturing method was found. That is, this invention includes the following structures.

(1) 열가소성 수지를 포함하는 바인더 수지(A), 금속 가루(B) 및 유기 용제(C)를 함유하는 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트.(1) Electroconductive paste for laser etching processing containing binder resin (A) containing a thermoplastic resin, metal powder (B), and an organic solvent (C).

(2) 상기 바인더 수지(A)가, 수평균 분자량이 5,000∼60,000이며, 또한, 유리 전이 온도가 60∼100℃인 열가소성 수지인 것을 특징으로 하는, (1)에 기재된 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트.(2) The conductive paste for laser etching processing according to (1), wherein the binder resin (A) is a thermoplastic resin having a number average molecular weight of 5,000 to 60,000 and a glass transition temperature of 60 to 100 ° C.

(3) 상기 바인더 수지(A)가, 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 에폭시 수지, 염화비닐 수지, 섬유소 유도체 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합물인 것을 특징으로 하는 (1) 또는 (2)에 기재된 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트.(3) The binder resin (A) is one or a mixture of two or more selected from the group consisting of polyester resins, polyurethane resins, epoxy resins, vinyl chloride resins and fibrin derivative resins (1) Or the electrically conductive paste for laser etching processes as described in (2).

(4) 상기 바인더 수지(A)가, 산가 50∼300 당량/106 g인 폴리에스테르 수지 및 산가 50∼300 당량/106 g인 폴리우레탄 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합물인 것을 특징으로 하는 (1) 또는 (2)에 기재된 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트.(4) The binder resin (A), an acid value of 50 to 300 equivalents / 10 6 g of polyester resin, and an acid value of 50 to 300 equivalents / 10 6 g of polyester of one or more selected from the group consisting of urethane resin It is a mixture, The electrically conductive paste for laser etching processes as described in (1) or (2).

(5) 레이저광 흡수제(D)를 더 함유하는 것을 특징으로 하는 (1)∼(4) 중 어느 하나에 기재된 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트.(5) The conductive paste for laser etching processing according to any one of (1) to (4), further comprising a laser light absorbing agent (D).

(6) (1)∼(5) 중 어느 하나에 기재된 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트로부터 형성된 도전성 박막.(6) A conductive thin film formed from the conductive paste for laser etching processing according to any one of (1) to (5).

(7) (6)에 기재된 도전성 박막과 기재가 적층되어 있는 도전성 적층체.(7) The electroconductive laminated body by which the electroconductive thin film and base material as described in (6) are laminated | stacked.

(8) 상기 기재가 투명 도전성층을 갖는 것을 특징으로 하는 (7)에 기재된 도전성 적층체.(8) The electroconductive laminate according to (7), wherein the base material has a transparent conductive layer.

(9) (6)에 기재된 도전성 박막, 또는, (7) 또는 (8)에 기재된 도전성 적층체를 이용하여 이루어지는 전기 회로.(9) An electric circuit formed by using the conductive thin film as described in (6) or the conductive laminate as described in (7) or (8).

(10) (6)에 기재된 도전성 박막의 일부에, 탄산 가스 레이저, YAG 레이저, 파이버 레이저 및 반도체 레이저로부터 선택되는 레이저광을 조사하여, 상기 도전성 박막의 일부를 제거함으로써 형성된 배선 부위를 갖는 전기 회로.(10) An electric circuit having wiring portions formed by irradiating a portion of the conductive thin film described in (6) with a laser beam selected from a carbon dioxide gas laser, a YAG laser, a fiber laser, and a semiconductor laser, and removing a portion of the conductive thin film. .

(11) 상기 도전성 박막이 투명 도전성층 상에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 (9)에 기재된 전기 회로.(11) The electrical circuit according to (9), wherein the conductive thin film is formed on a transparent conductive layer.

(12) (9)∼(11) 중 어느 하나에 기재된 전기 회로를 구성 부재로서 포함하는 터치 패널. (12) The touch panel which contains the electrical circuit in any one of (9)-(11) as a structural member.

본 발명의 도전성 페이스트는, 열가소성 수지를 포함하는 바인더 수지(A), 금속 가루(B) 및 유기 용제(C)를 함유하는 도전성 페이스트이고, 이러한 구성을 취함으로써, 레이저 에칭 가공 적성이 우수하며, 또한 레이저 에칭 가공 후에 있어서도 기재에 대한 초기 및 습열 환경 부하 후의 밀착성이 우수한 도전성 박막을 형성할 수 있다. 또 여기서, 레이저 에칭 가공 적성이 우수하다란, 레이저 에칭 가공에 의해 도전성 박막의 적어도 일부를 기재로부터 박리시켜, L/S=30/30 ㎛ 정도의 세선을 형성시켰을 때에, 1) 세선 양끝 사이의 도통이 확보될 것, 2) 인접 세선 사이의 절연이 확보될 것, 3) 세선 형상이 양호할 것의 3조건을 만족하는 것을 가리킨다. 또한, 본 발명의 실시양태인 레이저광 흡수제(D)를 함유하는 도전성 페이스트는, 레이저광 흡수제(D)를 함유하지 않는 도전성 페이스트보다 레이저광 조사에 대한 감도가 높아지기 때문에, 레이저 주사 속도의 향상, 레이저 출력의 저감 등이 가능해진다는 더욱 우수한 효과도 발휘한다.The electrically conductive paste of this invention is an electrically conductive paste containing binder resin (A), a metal powder (B), and an organic solvent (C) containing a thermoplastic resin, and by taking such a structure, it is excellent in laser etching processability, Moreover, even after a laser etching process, the electroconductive thin film excellent in the adhesiveness after the initial stage and wet heat environment load with respect to a base material can be formed. Here, the laser etching processability is excellent, when at least a part of the conductive thin film is peeled off from the substrate by a laser etching process to form a thin wire of about L / S = 30/30 μm, 1) between both ends of the thin wire It means to satisfy the 3 conditions of conduction to be secured, 2) insulation between adjacent fine wires, and 3) good fine wire shape. Moreover, since the electrically conductive paste containing the laser beam absorber (D) which is embodiment of this invention becomes more sensitive to laser beam irradiation than the electrically conductive paste containing no laser beam absorber (D), the improvement of a laser scanning speed, It also exhibits a further superior effect of reducing the laser output.

도 1은, 본 발명의 실시예, 비교예에서 이용한 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편에 레이저광을 조사하는 패턴을 나타내는 모식도이다. 백색 부위에 레이저광이 조사되어, 기재 상에 형성된 도전성 박막이 제거된다. 망점 부위에는 레이저광이 조사되지 않는다. 도면 중의 치수 표시의 단위는 mm이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram which shows the pattern which irradiates a laser beam to the laser etching processability evaluation test piece used by the Example and comparative example of this invention. Laser light is irradiated to the white site, and the conductive thin film formed on the substrate is removed. The laser beam is not irradiated to the halftone spot. The unit of the dimension display in a figure is mm.

<<본 발명의 도전성 페이스트를 구성하는 성분>> << component >> which comprises the electrically conductive paste of this invention

본 발명에서의 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트는, 열가소성 수지를 포함하는 바인더 수지(A), 금속 가루(B) 및 유기 용제(C)를 필수 성분으로서 함유한다.The electrically conductive paste for laser etching processes in this invention contains binder resin (A), metal powder (B), and the organic solvent (C) containing a thermoplastic resin as an essential component.

<바인더 수지(A)> <Binder Resin (A)>

바인더 수지(A)의 종류는 열가소성 수지이면 특별히 한정되지 않지만, 폴리에스테르 수지, 에폭시 수지, 페녹시 수지, 폴리아미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리우레탄 수지, 페놀 수지, 아크릴 수지, 폴리스티렌, 스티렌-아크릴 수지, 스티렌-부타디엔 공중합체, 페놀 수지, 폴리에틸렌계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 페놀 수지, 알키드 수지, 스티렌-아크릴 수지, 스티렌-부타디엔 공중합 수지, 폴리술폰 수지, 폴리에테르술폰 수지, 염화비닐-초산비닐 공중합 수지, 에틸렌-초산비닐 공중합, 폴리스티렌, 실리콘 수지, 불소계 수지 등을 들 수 있고, 이들 수지는 단독으로 혹은 2종 이상의 혼합물로서 사용할 수 있다. 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 에폭시 수지, 염화비닐 수지, 섬유소 유도체 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합물인 것이 바람직하다. 또한, 이들 수지 중에서도, 폴리에스테르 수지 및/또는 폴리에스테르 성분을 공중합 성분으로서 함유하는 폴리우레탄 수지(이하 폴리에스테르폴리우레탄 수지라고 하는 경우가 있음)가, 바인더 수지(A)로서 바람직하다.The kind of binder resin (A) is not particularly limited as long as it is a thermoplastic resin, but polyester resin, epoxy resin, phenoxy resin, polyamide resin, polyamideimide resin, polycarbonate resin, polyurethane resin, phenol resin, acrylic resin, Polystyrene, styrene-acrylic resin, styrene-butadiene copolymer, phenol resin, polyethylene resin, polycarbonate resin, phenol resin, alkyd resin, styrene-acrylic resin, styrene-butadiene copolymer resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin And vinyl chloride-vinyl acetate copolymer resin, ethylene-vinyl acetate copolymer, polystyrene, silicone resin, fluorine resin, and the like, and these resins may be used alone or as a mixture of two or more thereof. It is preferable that it is 1 type, or 2 or more types of mixtures chosen from the group which consists of a polyester resin, a polyurethane resin, an epoxy resin, a vinyl chloride resin, and a cellulose derivative resin. Among these resins, a polyurethane resin (hereinafter sometimes referred to as a polyester polyurethane resin) containing a polyester resin and / or a polyester component as a copolymerization component is preferable as the binder resin (A).

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 폴리에스테르 수지를 이용하는 것의 이점 중 하나로서, 분자 설계의 자유도가 높다는 점이 있다. 폴리에스테르 수지를 구성하는 디카르복실산 및 글리콜 성분을 선정하여, 공중합 성분을 자유롭게 변화시킬 수 있고, 또한, 분자쇄 중, 혹은 분자 말단에 대한 작용기의 부여도 용이하다. 이 때문에, 얻어지는 폴리에스테르 수지의 유리 전이 온도나 기재 및 도전성 페이스트에 배합되는 다른 성분과의 친화성 등의 수지의 특성을 적절히 조정할 수 있다.One of the advantages of using a polyester resin as the binder resin (A) in the present invention is that the degree of freedom in molecular design is high. By selecting the dicarboxylic acid and glycol component constituting the polyester resin, the copolymerization component can be freely changed, and the provision of a functional group to the molecular chain or to the molecular terminal is also easy. For this reason, the characteristics of resin, such as the glass transition temperature of the polyester resin obtained, affinity with the other component mix | blended with a base material, and an electrically conductive paste, can be adjusted suitably.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용되는 폴리에스테르 수지의 공중합 성분으로서 사용할 수 있는 디카르복실산의 예로는, 테레프탈산, 이소프탈산, 오르토프탈산, 2,6-나프탈렌디카르복실산 등의 방향족 디카르복실산, 호박산, 글루타르산, 아디프산, 세바스산, 도데칸디카르복실산, 아젤라산 등의 지방족 디카르복실산, 다이머산 등의 탄소수 12∼28의 이염기산, 1,4-시클로헥산디카르복실산, 1,3-시클로헥산디카르복실산, 1,2-시클로헥산디카르복실산, 4-메틸헥사히드로무수프탈산, 3-메틸헥사히드로무수프탈산, 2-메틸헥사히드로무수프탈산, 디카르복시 수소첨가 비스페놀 A, 디카르복시 수소첨가 비스페놀 S, 다이머산, 수소첨가 다이머산, 수소첨가 나프탈렌디카르복실산, 트리시클로데칸디카르복실산 등의 지환족 디카르복실산, 히드록시벤조산, 젖산 등의 히드록시카르복실산을 들 수 있다. 또한, 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서, 무수트리멜리트산, 무수피로멜리트산 등의 3가 이상의 카르복실산, 푸마르산 등의 불포화 디카르복실산, 및/또는, 5-술포이소프탈산나트륨염 등의 술폰산 금속염기 함유 디카르복실산을 공중합 성분으로서 병용해도 좋다.Examples of the dicarboxylic acid that can be used as a copolymerization component of the polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention include aromatics such as terephthalic acid, isophthalic acid, orthophthalic acid, and 2,6-naphthalenedicarboxylic acid. Aliphatic dicarboxylic acids such as dicarboxylic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanedicarboxylic acid, azelaic acid, dicarboxylic acid, etc. Cyclohexanedicarboxylic acid, 1,3-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid, 4-methylhexahydrophthalic anhydride, 3-methylhexahydrophthalic anhydride, 2-methylhexahydro Alicyclic dicarboxylic acids, hydrides such as phthalic anhydride, dicarboxy hydrogenated bisphenol A, dicarboxy hydrogenated bisphenol S, dimer acid, hydrogenated dimer acid, hydrogenated naphthalenedicarboxylic acid, tricyclodecanedicarboxylic acid Oxybenzoic acid, milk And hydroxycarboxylic acids such as acid. Moreover, in the range which does not impair the effect of this invention, trivalent or more carboxylic acids, such as trimellitic anhydride and pyromellitic anhydride, unsaturated dicarboxylic acids, such as fumaric acid, and / or sodium 5-sulfoisophthalate You may use together sulfonic-acid metal base containing dicarboxylic acid, such as a salt, as a copolymerization component.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용되는 폴리에스테르 수지의 공중합 성분으로서 사용할 수 있는 폴리올의 예로는, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 1,3-프로판디올, 1,4-부탄디올, 1,5-펜탄디올, 네오펜틸글리콜, 1,6-헥산디올, 3-메틸-1,5-펜탄디올, 2-메틸-1,5-펜탄디올, 2-메틸-1,3-프로판디올, 2,2-디에틸-1,3-프로판디올, 2-부틸-2-에틸-1,3-프로판디올, 1,9-노난디올, 1,10-데칸디올 등의 지방족 디올, 1,4-시클로헥산디메탄올, 1,3-시클로헥산디메탄올, 1,2-시클로헥산디메탄올, 다이머디올 등의 지환족 디올을 들 수 있다. 또한, 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 트리메틸올에탄, 트리메틸올프로판, 글리세린, 펜타에리스리톨, 폴리글리세린 등의 3가 이상의 폴리올을 공중합 성분으로서 병용해도 좋다.Examples of the polyol which can be used as a copolymerization component of the polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention include ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,5- Pentanediol, neopentylglycol, 1,6-hexanediol, 3-methyl-1,5-pentanediol, 2-methyl-1,5-pentanediol, 2-methyl-1,3-propanediol, 2,2 Aliphatic diols such as diethyl-1,3-propanediol, 2-butyl-2-ethyl-1,3-propanediol, 1,9-nonanediol, 1,10-decanediol, and 1,4-cyclohexane Alicyclic diols such as dimethanol, 1,3-cyclohexanedimethanol, 1,2-cyclohexanedimethanol, dimerdiol, and the like. Moreover, you may use together a trivalent or more polyol, such as trimethylol ethane, a trimethylol propane, a glycerin, pentaerythritol, and a polyglycerol, as a copolymerization component in the range which does not impair the effect of this invention.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용되는 폴리에스테르 수지는, 강도나 내열성, 내습성, 및 내열충격성 등의 내구성 등의 관점에서, 상기 폴리에스테르 수지를 구성하는 전산 성분 중 방향족 디카르복실산이 60 몰% 이상 공중합되어 있는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 80 몰% 이상, 더욱 바람직하게는 90 몰% 이상, 특히 바람직하게는 98 몰% 이상이다. 전산 성분이 방향족 디카르복실산을 포함하는 것은 바람직한 실시양태이다. 방향족 디카르복실산 성분의 공중합 비율이 지나치게 낮으면, 얻어지는 폴리에스테르 수지의 유리 전이 온도가 60℃보다 낮아져, 얻어지는 도전성 박막의 내습열성, 내구성이 저하되는 경향이 있다.As for the polyester resin used as binder resin (A) in this invention, in terms of durability, such as intensity | strength, heat resistance, moisture resistance, and thermal shock resistance, aromatic dicarboxylic acid is mentioned among the computer components which comprise the said polyester resin. It is preferable to copolymerize 60 mol% or more, More preferably, it is 80 mol% or more, More preferably, it is 90 mol% or more, Especially preferably, it is 98 mol% or more. It is a preferred embodiment that the computing component comprises an aromatic dicarboxylic acid. When the copolymerization ratio of an aromatic dicarboxylic acid component is too low, the glass transition temperature of the polyester resin obtained will become lower than 60 degreeC, and there exists a tendency for the moisture heat resistance and durability of the electroconductive thin film obtained to fall.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용되는 폴리에스테르 수지는, 강도나 내열성, 내습성, 및 내열충격성 등의 내구성 등의 관점에서, 상기 폴리에스테르 수지를 구성하는 전폴리올 중 주쇄의 탄소수가 4 이하인 글리콜이 60 몰% 이상인 것이 바람직하고, 80 몰% 이상인 것이 보다 바람직하고, 95 몰% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 전폴리올 성분 중, 주쇄의 탄소수가 4 이하인 글리콜의 공중합 비율이 지나치게 낮으면 얻어지는 폴리우레탄 수지의 유리 전이 온도가 60℃보다 낮아져, 얻어지는 도전성 박막의 내습열성, 내구성이 저하되는 경향이 있다.The polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention has 4 carbon atoms in the main chain of all the polyols constituting the polyester resin in view of durability, such as strength, heat resistance, moisture resistance, and thermal shock resistance. It is preferable that the following glycol is 60 mol% or more, It is more preferable that it is 80 mol% or more, It is further more preferable that it is 95 mol% or more. When the copolymerization ratio of the glycol having 4 or less carbon atoms in the main chain is too low, the glass transition temperature of the polyurethane resin obtained becomes lower than 60 ° C, and the heat and moisture resistance and durability of the resulting conductive thin film tend to be lowered.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 폴리우레탄 수지를 이용하는 것도 바람직한 실시양태이다. 폴리에스테르 수지의 경우와 마찬가지로, 폴리우레탄 수지에 관해서도, 폴리우레탄 수지를 구성하는 공중합 성분으로서 적절한 성분을 선정하고, 또한, 분자쇄 중, 혹은 분자 말단에 대한 작용기의 부여를 행함으로써, 유리 전이 온도나 기재 및 도전성 페이스트에 배합되는 다른 성분과의 친화성 등의 수지의 특성을 적절히 조정할 수 있다.It is also a preferred embodiment to use a polyurethane resin as the binder resin (A) in the present invention. As in the case of the polyester resin, the polyurethane resin also has a glass transition temperature by selecting an appropriate component as a copolymerization component constituting the polyurethane resin and providing a functional group to the molecular chain or to the molecular terminal. The properties of the resin such as affinity with other components blended with the base material and the conductive paste can be appropriately adjusted.

폴리우레탄 수지의 공중합 성분에 관해서도 특별히 한정은 되지 않지만, 설계의 자유도나 내습열성, 내구성의 유지라는 관점에서, 폴리에스테르폴리올을 공중합 성분으로서 이용하는 폴리에스테르폴리우레탄 수지인 것이 바람직하다. 상기 폴리에스테르폴리올의 적합한 예로는, 상술한 본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용할 수 있는 폴리에스테르 수지 중 폴리올인 것을 들 수 있다.Although it does not specifically limit also about the copolymerization component of a polyurethane resin, It is preferable that it is a polyester polyurethane resin which uses a polyester polyol as a copolymerization component from a viewpoint of freedom of design, heat-and-moisture resistance, and durability maintenance. As a suitable example of the said polyester polyol, what is a polyol among the polyester resins which can be used as binder resin (A) in this invention mentioned above is mentioned.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용되는 폴리우레탄 수지는, 예컨대 폴리올과 폴리이소시아네이트의 반응에 의해 얻을 수 있다. 상기 폴리우레탄 수지의 공중합 성분으로서 이용할 수 있는 폴리이소시아네이트로는, 2,4-톨릴렌디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌디이소시아네이트, p-페닐렌디이소시아네이트, 4,4'-디페닐메탄디이소시아네이트, m-페닐렌디이소시아네이트, 3,3'-디메톡시-4,4'-비페닐렌디이소시아네이트, 2,6-나프탈렌디이소시아네이트, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐렌디이소시아네이트, 4,4'-디페닐렌디이소시아네이트, 4,4'-디이소시아네이트디페닐에테르, 1,5-나프탈렌디이소시아네이트, m-크실렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트, 테트라메틸렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 톨루엔디이소시아네이트 등을 들 수 있고, 방향족 디이소시아네이트, 지방족 디이소시아네이트 및 지환족 디이소시아네이트 중 어느것이어도 좋다. 또한, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서, 3가 이상의 이소시아네이트 화합물을 공중합 성분으로서 병용해도 좋다.The polyurethane resin used as binder resin (A) in this invention can be obtained by reaction of a polyol and polyisocyanate, for example. As polyisocyanate which can be used as a copolymerization component of the said polyurethane resin, 2, 4- tolylene diisocyanate, 2, 6- tolylene diisocyanate, p-phenylenedi isocyanate, 4,4'- diphenylmethane diisocyanate, m -Phenylenediisocyanate, 3,3'-dimethoxy-4,4'-biphenylenediisocyanate, 2,6-naphthalene diisocyanate, 3,3'-dimethyl-4,4'-biphenylenediisocyanate, 4, 4'-diphenylene diisocyanate, 4,4'- diisocyanate diphenyl ether, 1,5-naphthalene diisocyanate, m-xylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, toluenedi Isocyanate etc. are mentioned and any of aromatic diisocyanate, aliphatic diisocyanate, and alicyclic diisocyanate may be sufficient. Moreover, you may use together a trivalent or more isocyanate compound as a copolymerization component in the range which does not impair the effect of this invention.

본 발명에서의 바인더 수지(A)로서 이용되는 폴리우레탄 수지에는, 이소시아네이트와 반응할 수 있는 작용기를 갖는 화합물을 필요에 따라 공중합할 수 있다. 이소시아네이트와 반응할 수 있는 작용기로는, 수산기 및 아미노기가 바람직하고, 어느 한쪽을 갖는 것이어도 좋고 양쪽을 갖는 것이어도 좋다. 그 구체적인 예로는, 디메틸올부탄산, 디메틸올프로피온산, 1,2-프로필렌글리콜, 1,2-부틸렌글리콜, 1,3-부틸렌글리콜, 2,3-부틸렌글리콜, 2,2-디메틸-1,3-프로판디올, 3-메틸-1,5-펜탄디올, 2,2,4-트리메틸-1,3-펜탄디올, 2-에틸-1,3-헥산디올, 2,2-디메틸-3-히드록시프로필-2',2'-디메틸-3'-히드록시프로파네이트, 2-노르말부틸-2-에틸-1,3-프로판디올, 3-에틸-1,5-펜탄디올, 3-프로필-1,5-펜탄디올, 2,2-디에틸-1,3-프로판디올, 3-옥틸-1,5-펜탄디올, 3-페닐-1,5-펜탄디올, 2,5-디메틸-3-나트륨술포-2,5-헥산디올, 다이머디올(예컨대, 유니케마·인터내셔널사 제조의 PRIPOOL-2033) 등의 1분자 중에 2개의 수산기를 갖는 화합물, 트리메틸올에탄, 트리메틸올프로판, 글리세린, 펜타에리스리톨, 폴리글리세린 등의 1분자 중에 3개 이상의 수산기를 갖는 알콜, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민 등의 1분자에 1개 이상의 수산기와 아미노기를 갖는 아미노알콜, 에틸렌디아민, 1,6-헥산디아민, 1,8-옥탄디아민, 1,9-노난디아민, 1,10-데칸디아민, 1,11-운데칸디아민, 1,12-도데칸디아민 등의 지방족 디아민이나 메타크실렌디아민, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,4'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐에테르 등의 방향족 디아민 등의 1분자 중에 2개의 아미노기를 갖는 화합물을 들 수 있다. 상기한 수평균 분자량 1,000 미만의 1분자에 2개 이상의 이소시아네이트와 반응할 수 있는 작용기를 갖는 화합물은 단독으로 이용해도 좋고 복수를 병용해도 전혀 문제는 없다.In the polyurethane resin used as binder resin (A) in this invention, the compound which has a functional group which can react with an isocyanate can be copolymerized as needed. As a functional group which can react with an isocyanate, a hydroxyl group and an amino group are preferable, and may have either, or may have both. Specific examples thereof include dimethylol butanoic acid, dimethylol propionic acid, 1,2-propylene glycol, 1,2-butylene glycol, 1,3-butylene glycol, 2,3-butylene glycol, 2,2-dimethyl- 1,3-propanediol, 3-methyl-1,5-pentanediol, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol, 2-ethyl-1,3-hexanediol, 2,2-dimethyl- 3-hydroxypropyl-2 ', 2'-dimethyl-3'-hydroxypropanoate, 2-normalbutyl-2-ethyl-1,3-propanediol, 3-ethyl-1,5-pentanediol, 3-propyl-1,5-pentanediol, 2,2-diethyl-1,3-propanediol, 3-octyl-1,5-pentanediol, 3-phenyl-1,5-pentanediol, 2,5 Compound which has two hydroxyl groups in 1 molecule, such as -dimethyl-3- sodium sulfo-2, 5- hexanediol and dimerdiol (for example, PRIPOOL-2033 by Unichema International Co., Ltd.), trimethylol ethane, and trimethylol propane Alcohols having three or more hydroxyl groups in one molecule such as glycerin, pentaerythritol, polyglycerin, monoethanolamine, diethanolamine, Amino alcohol, ethylenediamine, 1,6-hexanediamine, 1,8-octanediamine, 1,9-nonanediamine, 1,10-decanediamine, 1 having one or more hydroxyl groups and amino groups in one molecule such as ethanolamine Aliphatic diamines such as, 11-undecanediamine and 1,12-dodecanediamine, methacrylene diamine, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'- The compound which has two amino groups in 1 molecule, such as aromatic diamine, such as diamino diphenyl ether, is mentioned. The compound which has a functional group which can react with 2 or more isocyanate in 1 molecule of said number average molecular weight less than 1,000 may be used independently, or there is no problem at all using it together.

본 발명에서의 바인더 수지(A)의 수평균 분자량은 특별히 한정은 되지 않지만, 수평균 분자량이 5,000∼60,000인 것이 바람직하다. 수평균 분자량이 지나치게 낮으면, 형성된 도전성 박막의 내구성, 내습열성의 면에서 바람직하지 않다. 한편, 수평균 분자량이 지나치게 높으면, 수지의 응집력이 증가하고, 도전성 박막으로서의 내구성 등은 향상되지만, 레이저 에칭 가공 적성이 현저히 악화된다.Although the number average molecular weight of binder resin (A) in this invention is not specifically limited, It is preferable that number average molecular weights are 5,000-60,000. If the number average molecular weight is too low, it is not preferable in view of durability and moisture-heat resistance of the formed conductive thin film. On the other hand, when the number average molecular weight is too high, the cohesion force of the resin increases and the durability as the conductive thin film is improved, but the laser etching processability is significantly deteriorated.

본 발명에서의 바인더 수지(A)의 유리 전이 온도는 60℃ 이상인 것이 바람직하고, 65℃ 이상인 것이 보다 바람직하다. 유리 전이 온도가 낮으면, 레이저 에칭 가공 적성이 향상되는 경우가 있지만, 도전성 박막으로서의 습열 환경 신뢰성이 저하될 우려가 있고, 또한, 표면 경도의 저하를 유발하고 점착성에 의해 제조 공정 및/또는 사용시에 접촉 상대측으로의 페이스트 함유 성분의 이행이 발생하여 도전성 박막 신뢰성이 저하될 우려가 있다. 한편, 본 발명에 이용하는 바인더 수지(A)의 유리 전이 온도는, 인쇄성, 밀착성, 용해성, 페이스트 점도, 및 레이저 에칭 가공 적성 등을 고려하면, 150℃ 이하가 바람직하고, 120℃ 이하가 보다 바람직하고, 100℃ 이하가 더욱 바람직하다.It is preferable that it is 60 degreeC or more, and, as for the glass transition temperature of binder resin (A) in this invention, it is more preferable that it is 65 degreeC or more. When the glass transition temperature is low, the laser etching processability may be improved, but there is a fear that the wet heat environmental reliability as the conductive thin film may be lowered, and the surface hardness may be lowered and the adhesiveness may be caused during the manufacturing process and / or use. There exists a possibility that transfer of the paste containing component to a contact counterpart may generate | occur | produce, and electroconductive thin film reliability may fall. On the other hand, when the glass transition temperature of the binder resin (A) used for this invention considers printability, adhesiveness, solubility, paste viscosity, a laser etching processability, etc., 150 degrees C or less is preferable, and 120 degrees C or less is more preferable. And 100 degrees C or less is more preferable.

본 발명에서의 바인더 수지(A)의 산가는 특별히 한정되지 않지만, 특정한 범위의 산가를 갖고 있음으로써, 기재에 대한 밀착성을 현저히 향상시킬 수 있는 경우가 있다. 도전성 박막의 레이저 에칭 가공시에 있어서, 레이저 조사 부위 주변의 온도가 상승하여 도전성 박막과 기재의 밀착성이 저하되는 경우가 있지만, 바인더 수지(A)로서, 특정 범위의 산가를 갖는 바인더 수지를 이용함으로써, 밀착성의 저하를 억제할 수 있는 경우가 있다. 바인더 수지(A)의 산가는, 50∼350 eq/ton인 것이 바람직하고, 100∼250 eq/ton인 것이 보다 바람직하다. 산가가 지나치게 낮으면, 형성되는 도전성 박막과 기재의 밀착성이 낮아지는 경향이 있다. 한편, 산가가 지나치게 높으면, 형성되는 도전성 박막의 흡수성이 높아지는 데다가, 카르복실기에 의한 촉매 작용에 의해 바인더 수지의 가수분해가 촉진될 가능성이 있어, 도전성 박막의 신뢰성의 저하로 이어지는 경향이 있다.Although the acid value of binder resin (A) in this invention is not specifically limited, The adhesiveness with respect to a base material can be remarkably improved by having an acid value of a specific range. At the time of laser etching of a conductive thin film, the temperature around the laser irradiation site | part may rise and the adhesiveness of a conductive thin film and a base material may fall, but by using binder resin which has an acid value of a specific range as binder resin (A), And the fall of adhesiveness may be suppressed. It is preferable that it is 50-350 eq / ton, and, as for the acid value of binder resin (A), it is more preferable that it is 100-250 eq / ton. When the acid value is too low, there is a tendency for the adhesion between the conductive thin film to be formed and the substrate to be lowered. On the other hand, when the acid value is too high, the absorbency of the conductive thin film to be formed increases, and there is a possibility that the hydrolysis of the binder resin may be promoted by the catalytic action of the carboxyl group, leading to a decrease in the reliability of the conductive thin film.

<금속 가루(B)> <Metal powder (B)>

본 발명에 이용되는 금속 가루(B)로는, 은가루, 금가루, 백금 가루, 팔라듐 가루 등의 귀금속 가루, 구리 가루, 니켈 가루, 알루미늄 가루, 놋쇠 가루 등의 비(卑)금속 가루, 은 등의 귀금속으로 도금 또는 합금화한 비금속 가루 등을 들 수 있다. 이들 금속 가루는, 단독으로 이용해도 좋고, 또한 병용해도 좋다. 이들 중에서도 도전성, 안정성, 비용 등을 고려하면 은가루 단독 또는 은가루를 주체로 하는 것이 바람직하다.As metal powder (B) used for this invention, precious metal powders, such as silver powder, gold powder, platinum powder, palladium powder, copper powder, nickel powder, nonmetal powder, such as aluminum powder, brass powder, precious metals, such as silver And nonmetal powder powdered or alloyed. These metal powders may be used independently and may be used together. Among these, in consideration of conductivity, stability, cost and the like, it is preferable to use silver powder alone or silver powder as the main component.

본 발명에 이용되는 금속 가루(B)의 형상은 특별히 한정되지 않는다. 종래부터 알려져 있는 금속 가루의 형상의 예로는, 플레이크형(인편형), 구형, 나뭇가지형(덴드라이트형), 일본 특허 공개 평9-306240호 공보에 기재되어 있는 구형의 1차 입자가 3차원형으로 응집한 형상(응집형) 등이 있고, 이들 중에서, 구형, 응집형 및 플레이크형의 금속 가루를 이용하는 것이 바람직하다.The shape of the metal powder (B) used for this invention is not specifically limited. Examples of the shape of a conventionally known metal powder include a flake type (flake type), a spherical shape, a twig type (dendrite type), and a spherical primary particle described in Japanese Patent Laid-Open No. 9-306240. There are dimensional aggregates (aggregates) and the like, and among them, spherical, aggregated and flake metal powders are preferably used.

본 발명에 이용되는 금속 가루(B)의 중심 직경(D50)은 4 ㎛ 이하인 것이 바람직하다. 중심 직경이 4 ㎛ 이하인 금속 가루(B)를 이용함으로써, 레이저 에칭 가공 부위의 세선 형상이 양호해지는 경향이 있다. 중심 직경이 4 ㎛보다 큰 금속 가루를 이용한 경우에는, 레이저 에칭 가공 후의 세선 형상이 나빠지고, 결과적으로 세선끼리가 접촉을 일으키고, 단락을 초래할 가능성이 있다. 게다가, 레이저 에칭 가공에서, 일단 박리·제거한 도전성 박막이 재차 가공 부위에 부착될 가능성이 있다. 금속 가루(B)의 중심 직경의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 비용적 관점 및, 입경이 미세해지면 응집되기 쉽고, 결과적으로 분산이 곤란해지기 때문에 중심 직경은 80 nm 이상인 것이 바람직하다. 중심 직경이 80 nm보다 작아지면, 금속 가루의 응집력이 증가하고, 레이저 에칭 가공 적정이 악화되는 것 외에, 비용적 관점에서도 바람직하지 않다.It is preferable that the center diameter (D50) of the metal powder (B) used for this invention is 4 micrometers or less. There exists a tendency for the thin wire shape of a laser etching process site | part to become favorable by using the metal powder (B) whose center diameter is 4 micrometers or less. When the metal powder with a central diameter larger than 4 micrometers is used, the thin wire shape after a laser etching process will worsen, and as a result, a thin wire may contact and may cause a short circuit. In addition, in the laser etching process, there exists a possibility that the conductive thin film which peeled and removed once may adhere to a process site | part again. The lower limit of the center diameter of the metal powder (B) is not particularly limited. However, the center diameter is preferably 80 nm or more because it is easy to aggregate when the cost point and the particle diameter becomes fine, and consequently, the dispersion becomes difficult. If the central diameter is smaller than 80 nm, the cohesion force of the metal powder increases, and the laser etching processing titration deteriorates, which is not preferable from the viewpoint of cost.

또, 중심 직경(D50)이란, 어떠한 측정 방법에 의해 얻어진 누적 분포 곡선(체적)에 있어서, 그 누적치가 50%가 되는 입경(㎛)을 말한다. 본 발명에 있어서는, 누적 분포 곡선을 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치(니키소(주) 제조, MICROTRAC HRA)를 이용하여 전반사 모드로 측정하기로 한다.In addition, center diameter D50 means the particle diameter (micrometer) whose cumulative value becomes 50% in the cumulative distribution curve (volume) obtained by some measuring method. In the present invention, the cumulative distribution curve is measured in the total reflection mode using a laser diffraction scattering particle size distribution analyzer (manufactured by Nikkiso Co., Ltd., MICROTRAC HRA).

금속 가루(B)의 함유량은, 형성된 도전성 박막의 도전성이 양호하다는 관점에서, 열가소성 수지(A) 100 질량부에 대하여, 400 질량부 이상이 바람직하고, 560 질량부 이상이 보다 바람직하다. 또한, (B) 성분의 함유량은, 기재와의 밀착성에 있어서 양호하다는 관점에서, 열가소성 수지(A) 100 질량부에 대하여, 1,900 질량부 이하가 바람직하고, 1,230 질량부 이하가 보다 바람직하다.From a viewpoint that the electroconductivity of the formed conductive thin film is favorable, 400 mass parts or more are preferable with respect to 100 mass parts of thermoplastic resin (A), and, as for content of metal powder (B), 560 mass parts or more are more preferable. Moreover, from a viewpoint that content of (B) component is favorable in adhesiveness with a base material, 1,900 mass parts or less are preferable with respect to 100 mass parts of thermoplastic resin (A), and 1,230 mass parts or less are more preferable.

<유기 용제(C)> <Organic Solvent (C)>

본 발명에 이용할 수 있는 유기 용제(C)는, 특별히 한정되지 않지만, 유기 용제의 휘발 속도를 적절한 범위로 유지하는 관점에서, 비점이 100℃ 이상, 300℃ 미만인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 비점이 150℃ 이상, 280℃ 미만이다. 본 발명의 도전성 페이스트는, 전형적으로는 열가소성 수지(A), 금속 가루(B), 유기 용제(C) 및 필요에 따라 그 밖의 성분을 3본 롤밀 등으로 분산시켜 제작하는데, 그 때에 유기 용제의 비점이 지나치게 낮으면, 분산중에 용제가 휘발하여, 도전성 페이스트를 구성하는 성분비가 변화될 우려가 있다. 한편, 유기 용제의 비점이 지나치게 높으면, 건조 조건에 따라서는 용제가 도포막 중에 다량으로 잔존할 가능성이 있어, 도포막의 신뢰성 저하를 야기할 우려가 있다.Although the organic solvent (C) which can be used for this invention is not specifically limited, From a viewpoint which keeps the volatilization rate of an organic solvent in an appropriate range, it is preferable that boiling point is 100 degreeC or more and less than 300 degreeC, More preferably, it is a boiling point It is 150 degreeC or more and less than 280 degreeC. The conductive paste of the present invention is typically produced by dispersing a thermoplastic resin (A), a metal powder (B), an organic solvent (C) and other components in a three roll mill or the like as necessary, and at that time, If the boiling point is too low, the solvent may volatilize during dispersion and the component ratio constituting the conductive paste may change. On the other hand, when the boiling point of an organic solvent is too high, there exists a possibility that a solvent may remain in a large amount in a coating film depending on dry conditions, and there exists a possibility of causing the fall of the reliability of a coating film.

또한, 본 발명에 이용할 수 있는 유기 용제(C)로는, 열가소성 수지(A)가 가용이며, 또한, 금속 가루(B)를 양호하게 분산시킬 수 있는 것이 바람직하다. 구체예로는, 에틸디글리콜아세테이트(EDGAC), 부틸글리콜아세테이트(BMGAC), 부틸디글리콜아세테이트(BDGAC), 시클로헥사논, 톨루엔, 이소포론, γ-부티로락톤, 벤질알콜, 엑손 화학 제조의 솔벳소 100, 150, 200, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 아디프산, 호박산 및 글루타르산의 디메틸에스테르의 혼합물(예컨대, 듀퐁(주)사 제조의 DBE), 타피오넬 등을 들 수 있지만, 이들 중에서, 열가소성 수지(A)의 배합 성분의 용해성이 우수하고, 연속 인쇄시의 용제 휘발성이 적당하여 스크린 인쇄법 등에 의한 인쇄에 대한 적성이 양호하다는 관점에서, EDGAC, BMGAC, BDGAC 및 이들의 혼합 용제가 바람직하다.Moreover, as an organic solvent (C) which can be used for this invention, it is preferable that a thermoplastic resin (A) is soluble and can disperse | distribute a metal powder (B) favorably. Specific examples include ethyl diglycol acetate (EDGAC), butyl glycol acetate (BMGAC), butyl diglycol acetate (BDGAC), cyclohexanone, toluene, isophorone, γ-butyrolactone, benzyl alcohol, and exon chemicals. Solvetso 100, 150, 200, propylene glycol monomethyl ether acetate, adipic acid, a mixture of dimethyl esters of succinic acid and glutaric acid (e.g., DBE manufactured by DuPont Co., Ltd.), tapionel, and the like can be mentioned. Among them, EDGAC, BMGAC, BDGAC and mixtures thereof from the viewpoint of excellent solubility of the blending component of the thermoplastic resin (A), good solvent volatility during continuous printing, and good suitability for printing by screen printing or the like. Solvents are preferred.

유기 용제(C)의 함유량으로는, 페이스트 전중량 100 중량부에 대하여 5 중량부 이상, 40 중량부 이하인 것이 바람직하고, 10 중량부 이상, 35 중량부 이하인 것이 더욱 바람직하다. 유기 용제(C)의 함유량이 지나치게 높으면 페이스트 점도가 지나치게 낮아져, 세선 인쇄시에 늘어짐을 발생시키기 쉬워지는 경향이 있다. 한편으로 유기 용제(C)의 함유량이 지나치게 낮으면, 페이스트로서의 점도가 매우 높아져, 도전성 박막을 형성시킬 때의 예컨대 스크린 인쇄성이 현저히 저하되는 것 외에, 형성된 도전성 박막의 막두께가 두꺼워지고, 레이저 에칭 가공성이 저하되는 경우가 있다.As content of the organic solvent (C), it is preferable that they are 5 weight part or more and 40 weight part or less with respect to 100 weight part of paste total weight, and it is more preferable that they are 10 weight part or more and 35 weight part or less. When content of the organic solvent (C) is too high, paste viscosity will become low too much and there exists a tendency which becomes easy to produce sagging at the time of fine wire printing. On the other hand, when the content of the organic solvent (C) is too low, the viscosity as a paste becomes very high, and for example, the screen printability at the time of forming the conductive thin film remarkably decreases, and the film thickness of the formed conductive thin film becomes thick, and the laser Etch processability may fall.

<레이저광 흡수제(D)> <Laser light absorber (D)>

본 발명의 도전 페이스트에는, 레이저광 흡수제(D)를 배합해도 좋다. 여기서 레이저광 흡수제(D)란, 레이저광의 파장에 강한 흡수를 갖는 첨가제를 말하며, 레이저광 흡수제(D) 자신은 도전성이어도 좋고 비도전성이어도 좋다. 예컨대, 기본파의 파장이 1064 nm인 YAG 레이저를 광원으로서 이용하는 경우에는, 파장 1064 nm에 강한 흡수를 갖는 염료 및/또는 안료를, 레이저광 흡수제(D)로서 이용할 수 있다. 레이저광 흡수제(D)를 배합함으로써, 본 발명의 도전성 박막은 레이저광을 고효율로 흡수하여, 발열에 의한 바인더 수지(A)의 휘산이나 열분해가 촉진되고, 그 결과 레이저 에칭 가공 적성이 향상된다.You may mix | blend a laser beam absorber (D) with the electrically conductive paste of this invention. The laser beam absorber (D) refers to an additive having strong absorption in the wavelength of the laser beam, and the laser beam absorbent (D) itself may be either conductive or nonconductive. For example, when using the YAG laser whose wavelength of a fundamental wave is 1064 nm as a light source, the dye and / or pigment which have strong absorption in wavelength 1064 nm can be used as a laser beam absorber (D). By mix | blending a laser beam absorbent (D), the electroconductive thin film of this invention absorbs a laser beam with high efficiency, the volatilization and thermal decomposition of the binder resin (A) by heat generation are accelerated | stimulated, and a laser etching processability improves as a result.

본 발명에 이용할 수 있는 레이저광 흡수제(D) 중, 도전성을 갖는 것의 예로는, 카본 블랙, 그래파이트 가루 등의 탄소계의 필러를 들 수 있다. 탄소계의 필러의 배합은, 본 발명의 도전성 박막의 도전성을 높이는 효과도 있지만, 예컨대 카본 블랙은 1060 nm 근방에 흡수 파장을 갖고 있기 때문에, YAG 레이저, 파이버 레이저 등의 1064 nm의 파장의 레이저광을 조사하면 도전성 박막이 레이저광을 고효율로 흡수하기 때문에 레이저광 조사에 대한 감도가 높아져, 레이저 조사의 주사 속도를 높인 경우 및/또는 레이저 광원이 저출력인 경우에 있어서도 양호한 레이저 에칭 가공 적성이 얻어진다는 효과를 기대할 수 있다. 상기 탄소계 필러의 함유량으로는 금속 가루(B) 100 중량부에 대하여, 0.1∼5 중량부인 것이 바람직하고, 0.3∼2 중량부인 것이 보다 바람직하다. 탄소계 필러의 배합 비율이 지나치게 낮은 경우에는, 도전성을 높이는 효과 및 레이저광 조사에 대한 감도를 높이는 효과가 작다. 한편으로 탄소계 필러의 배합 비율이 지나치게 높은 경우에는, 도전성 박막의 도전성이 저하되는 경향이 있고, 또한, 카본의 공극 부위에 수지가 흡착되고, 기재와의 밀착성이 저하된다는 문제점이 생기는 경우도 있다.As an example of what has electroconductivity among the laser beam absorbents (D) which can be used for this invention, carbon-based fillers, such as carbon black and graphite powder, are mentioned. The compounding of the carbon-based filler also has the effect of enhancing the conductivity of the conductive thin film of the present invention. However, since carbon black has an absorption wavelength in the vicinity of 1060 nm, for example, a laser beam having a wavelength of 1064 nm, such as a YAG laser or a fiber laser, is used. Irradiation of the conductive thin film absorbs the laser light with high efficiency, so that the sensitivity to the laser light irradiation is increased, so that even when the scanning speed of the laser irradiation is increased and / or when the laser light source is low power, good laser etching processing aptitude is obtained. You can expect the effect. As content of the said carbon-type filler, it is preferable that it is 0.1-5 weight part with respect to 100 weight part of metal powder (B), and it is more preferable that it is 0.3-2 weight part. When the blending ratio of the carbon-based filler is too low, the effect of increasing the conductivity and the effect of increasing the sensitivity to laser light irradiation are small. On the other hand, when the blending ratio of the carbon-based filler is too high, the conductivity of the conductive thin film tends to be lowered, and the resin may be adsorbed to the void portion of the carbon, resulting in a problem that the adhesion to the substrate is lowered. .

본 발명에 이용할 수 있는 레이저광 흡수제(D) 중, 비도전성인 것의 예로는, 종래 공지된 염료, 안료 및 적외선 흡수제를 들 수 있다. 보다 구체적으로는, 아조 염료, 금속 착염 아조 염료, 피라졸론 아조 염료, 나프토퀴논 염료, 안트라퀴논 염료, 프탈로시아닌 염료, 카르보늄 염료, 퀴논이민 염료, 메틴 염료, 시아닌 염료, 스쿠아릴륨 색소, 피릴륨염, 금속 티오레이트 착체 등의 염료, 안료로는, 흑색 안료, 황색 안료, 오렌지색 안료, 갈색 안료, 적색 안료, 보라색 안료, 청색 안료, 녹색 안료, 형광 안료, 금속 가루 안료, 기타, 폴리머 결합 색소를 들 수 있다. 구체적으로는, 불용성 아조 안료, 아조 레이크 안료, 축합 아조 안료, 킬레이트 아조안료, 프탈로시아닌계 안료, 안트라퀴논계 안료, 페릴렌 및 페리논계 안료, 티오인디고계 안료, 퀴나크리돈계 안료, 디옥사진계 안료, 이소인돌리논계 안료, 퀴노프탈론계 안료, 염색 레이크 안료, 아진 안료, 니트로소 안료, 니트로 안료, 천연 안료, 형광 안료, 무기 안료를 사용할 수 있다. 적외선 흡수제의 예로는 디이모늄염 타입의 적외선 흡수제인 NIR-IM1, 아미늄염 타입의 NIR-AM1(모두 나가세 켐텍스사 제조)을 들 수 있다. 이들 비도전성의 레이저광 흡수제(D)는 0.01∼5 중량부, 바람직하게는 0.1∼2 중량부 포함하는 것이 바람직하다. 비도전성의 레이저광 흡수제(D)의 배합 비율이 지나치게 낮은 경우에는, 레이저광 조사에 대한 감도를 높이는 효과가 작다. 비도전성의 레이저광 흡수제(D)의 배합 비율이 지나치게 높은 경우에는, 도전성 박막의 도전성이 저하될 우려가 있고, 또한 레이저광 흡수제의 색조가 현저해져, 용도에 따라서는 바람직하지 않은 경우가 있다.Among the laser light absorbers (D) that can be used in the present invention, examples of the nonconductive ones include conventionally known dyes, pigments, and infrared absorbers. More specifically, azo dye, metal complex salt azo dye, pyrazolone azo dye, naphthoquinone dye, anthraquinone dye, phthalocyanine dye, carbonium dye, quinone imine dye, methine dye, cyanine dye, squarylium pigment, pyril As dyes and pigments, such as a cerium salt and a metal thiolate complex, a black pigment, a yellow pigment, an orange pigment, a brown pigment, a red pigment, a purple pigment, a blue pigment, a green pigment, a fluorescent pigment, a metal powder pigment, the other, a polymer binding pigment Can be mentioned. Specifically, insoluble azo pigments, azo lake pigments, condensed azo pigments, chelate azo pigments, phthalocyanine pigments, anthraquinone pigments, perylene and perinone pigments, thioindigo pigments, quinacridone pigments, dioxazine pigments, Isoindolinone pigments, quinophthalone pigments, dyeing lake pigments, azine pigments, nitroso pigments, nitro pigments, natural pigments, fluorescent pigments and inorganic pigments can be used. Examples of the infrared absorber include NIR-IM1, which is an infrared absorber of dimonium salt type, and NIR-AM1 (all manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd.) of an aluminum salt type. These nonconductive laser light absorbers (D) preferably contain 0.01 to 5 parts by weight, preferably 0.1 to 2 parts by weight. When the compounding ratio of a nonelectroconductive laser beam absorber (D) is too low, the effect which raises the sensitivity with respect to laser beam irradiation is small. When the compounding ratio of a nonelectroconductive laser beam absorber (D) is too high, there exists a possibility that the electroconductivity of a conductive thin film may fall, and the color tone of a laser beam absorber may become remarkable, and it may be undesirable depending on a use.

본 발명의 도전성 페이스트에는, 하기의 무기물을 첨가할 수 있다. 무기물로는, 탄화규소, 탄화붕소, 탄화티탄, 탄화지르코늄, 탄화하프늄, 탄화바나듐, 탄화탄탈, 탄화니오븀, 탄화텅스텐, 탄화크롬, 탄화몰리부덴, 탄화칼슘, 다이아몬드 카본 락탐 등의 각종 탄화물 ; 질화붕소, 질화티탄, 질화지르코늄 등의 각종 질화물, 붕화지르코늄 등의 각종 붕화물 ; 산화티탄(티타니아), 산화칼슘, 산화마그네슘, 산화아연, 산화구리, 산화알루미늄, 실리카, 콜로이달 실리카 등의 각종 산화물 ; 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산스트론튬 등의 각종 티탄산 화합물 ; 이황화몰리브덴 등의 황화물 ; 불화마그네슘, 불화탄소 등의 각종 불화물 ; 스테아르산알루미늄, 스테아르산칼슘, 스테아르산아연, 스테아르산마그네슘 등의 각종 금속 비누 ; 기타, 활석, 벤토나이트, 탈크, 탄산칼슘, 카올린, 유리 섬유, 운모 등을 이용할 수 있다. 이들 무기물을 첨가함으로써, 인쇄성이나 내열성, 나아가 기계적 특성이나 장기 내구성을 향상시키는 것이 가능해지는 경우가 있다. 그 중에서도, 본 발명의 도전성 페이스트에 있어서는, 내구성, 인쇄 적성, 특히 스크린 인쇄 적성을 부여한다는 관점에서 실리카가 바람직하다.The following inorganic substance can be added to the electrically conductive paste of this invention. Examples of the inorganic substance include various carbides such as silicon carbide, boron carbide, titanium carbide, zirconium carbide, hafnium carbide, vanadium carbide, tantalum carbide, niobium carbide, tungsten carbide, chromium carbide, molybdenum carbide, calcium carbide, and diamond carbon lactam; Various borides such as various nitrides such as boron nitride, titanium nitride and zirconium nitride, and zirconium boride; Various oxides such as titanium oxide (titania), calcium oxide, magnesium oxide, zinc oxide, copper oxide, aluminum oxide, silica and colloidal silica; Various titanate compounds such as calcium titanate, magnesium titanate and strontium titanate; Sulfides such as molybdenum disulfide; Various fluorides such as magnesium fluoride and carbon fluoride; Various metal soaps such as aluminum stearate, calcium stearate, zinc stearate and magnesium stearate; Others, talc, bentonite, talc, calcium carbonate, kaolin, glass fibers, mica and the like can be used. By adding these inorganic substances, it may become possible to improve printability, heat resistance, and also mechanical characteristics and long-term durability. Especially, in the electrically conductive paste of this invention, a silica is preferable from a viewpoint of providing durability, printing aptitude, especially screen printing aptitude.

또한, 본 발명의 도전성 페이스트에는, 틱소성 부여제, 소포제, 난연제, 점착 부여제, 가수분해 방지제, 레벨링제, 가소제, 산화 방지제, 자외선 흡수제, 난연제, 안료, 염료를 배합할 수 있다. 또한 수지 분해 억제제로서 카르보디이미드, 에폭시 등을 적절히 배합할 수도 있다. 이들은 단독으로 혹은 병용하여 이용할 수 있다.In addition, a thixotropic imparting agent, an antifoamer, a flame retardant, a tackifier, a hydrolysis inhibitor, a leveling agent, a plasticizer, antioxidant, a ultraviolet absorber, a flame retardant, a pigment, and a dye can be mix | blended with the electrically conductive paste of this invention. Moreover, carbodiimide, an epoxy, etc. can also be mix | blended suitably as a resin decomposition inhibitor. These may be used alone or in combination.

<경화제(E)> <Hardener (E)>

본 발명의 도전성 페이스트에는, 바인더 수지(A)와 반응할 수 있는 경화제를, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 정도로 배합해도 좋다. 경화제를 배합함으로써, 경화 온도가 높아지고, 생산 공정의 부하가 증가할 가능성은 있지만, 도포막 건조시 혹은 레이저 에칭시에 발생하는 열에 의한 가교로 도포막의 내습열성의 향상을 기대할 수 있다.You may mix | blend the hardening | curing agent which can react with binder resin (A) to the electrically conductive paste of this invention to the extent which does not impair the effect of this invention. By mix | blending a hardening | curing agent, although hardening temperature may increase and the load of a production process may increase, the improvement of the moisture-heat resistance of a coating film can be anticipated by crosslinking by the heat which arises at the time of coating film drying or laser etching.

본 발명의 바인더 수지(A)에 반응할 수 있는 경화제는, 종류는 한정되지 않지만, 밀착성, 내굴곡성, 경화성 등으로부터 이소시아네이트 화합물이 특히 바람직하다. 또한, 이들 이소시아네이트 화합물로서, 이소시아네이트기를 블록화한 것을 사용하면, 저장 안정성이 향상되어 바람직하다. 이소시아네이트 화합물 이외의 경화제로는, 메틸화멜라민, 부틸화멜라민, 벤조구아나민, 요소 수지 등의 아미노 수지, 산무수물, 이미다졸류, 에폭시 수지, 페놀 수지 등의 공지된 화합물을 들 수 있다. 이들 경화제에는, 그 종류에 따라 선택된 공지된 촉매 혹은 촉진제를 병용할 수도 있다. 경화제의 배합량으로는, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 정도로 배합되는 것으로, 특별히 제한되는 것은 아니지만, 바인더 수지(A) 100 질량부에 대하여, 0.5∼50 질량부가 바람직하고, 1∼30 질량부가 보다 바람직하고, 2∼20 질량부가 더욱 바람직하다.Although the kind of hardening | curing agent which can react with the binder resin (A) of this invention is not limited, The isocyanate compound is especially preferable from adhesiveness, bending resistance, curability, etc. Moreover, when these isocyanate compounds use what blocked the isocyanate group, storage stability improves and it is preferable. As hardening agents other than an isocyanate compound, well-known compounds, such as amino resin, such as methylated melamine, butylated melamine, benzoguanamine, and urea resin, an acid anhydride, imidazole, an epoxy resin, and a phenol resin, are mentioned. In these hardening | curing agents, the well-known catalyst or promoter chosen according to the kind can also be used together. As a compounding quantity of a hardening | curing agent, it mix | blends to the extent which does not impair the effect of this invention, Although it does not restrict | limit especially, 0.5-50 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of binder resin (A), and 1-30 mass parts is more Preferably, 2-20 mass parts is more preferable.

본 발명의 도전성 페이스트에 배합할 수 있는 이소시아네이트 화합물의 예로는, 방향족 또는 지방족의 디이소시아네이트, 3가 이상의 폴리이소시아네이트 등이 있고, 저분자 화합물, 고분자 화합물의 어느 것이어도 좋다. 예컨대, 테트라메틸렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트 등의 지방족 디이소시아네이트, 톨루엔디이소시아네이트, 디페닐메탄디이소시아네이트, 크실릴렌디이소시아네이트 등의 방향족 디이소시아네이트, 수소화디페닐메탄디이소시아네이트, 수소화크실릴렌디이소시아네이트, 다이머산디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트 등의 지환족 디이소시아네이트, 혹은 이들 이소시아네이트 화합물의 3량체, 및 이들 이소시아네이트 화합물의 과잉량과 예컨대 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 트리메틸올프로판, 글리세린, 소르비톨, 에틸렌디아민, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민 등의 저분자 활성수소 화합물 또는 각종 폴리에스테르폴리올류, 폴리에테르폴리올류, 폴리아미드류의 고분자 활성수소 화합물 등과 반응시켜 얻어지는 말단 이소시아네이트기 함유 화합물을 들 수 있다. 또한, 이소시아네이트기의 블록화제로는, 예컨대 페놀, 티오페놀, 메틸티오페놀, 에틸티오페놀, 크레졸, 크실레놀, 레조르시놀, 니트로페놀, 클로로페놀 등의 페놀류 ; 아세톡심, 메틸에틸케토옥심, 시클로헥사논옥심 등의 옥심류 ; 메탄올, 에탄올, 프로판올, 부탄올 등의 알콜류 ; 에틸렌클로르히드린, 1,3-디클로로-2-프로판올 등의 할로겐 치환 알콜류 ; t-부탄올, t-펜탄올 등의 제3급 알콜류 ; ε-카프로락탐, δ-발레로락탐, γ-부티로락탐, β-프로피오락탐 등의 락탐류를 들 수 있고, 그 외에도 방향족 아민류, 이미드류, 아세틸아세톤, 아세트초산에스테르, 말론산에틸에스테르 등의 활성 메틸렌 화합물, 메르캅탄류, 이민류, 이미다졸류, 요소류, 디아릴 화합물류, 중아황산소다 등도 들 수 있다. 이 중, 경화성 면에서 옥심류, 이미다졸류, 아민류가 특히 바람직하다.As an example of the isocyanate compound which can be mix | blended with the electrically conductive paste of this invention, there exist aromatic or aliphatic diisocyanate, trivalent or more polyisocyanate, etc., Any of a low molecular weight compound and a high molecular compound may be sufficient. For example, aromatic diisocyanates, such as aliphatic diisocyanate, such as tetramethylene diisocyanate and hexamethylene diisocyanate, toluene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, and xylylene diisocyanate, hydrogenated diphenylmethane diisocyanate, hydrogenated xylylene diisocyanate, Alicyclic diisocyanates such as dimer diisocyanate, isophorone diisocyanate, or trimers of these isocyanate compounds, and excess amounts of these isocyanate compounds, such as ethylene glycol, propylene glycol, trimethylolpropane, glycerin, sorbitol, ethylenediamine, mono Low molecular weight active hydrogen compounds such as ethanolamine, diethanolamine and triethanolamine, or polymer active hydrogen compounds of various polyester polyols, polyether polyols and polyamides, etc. It can be obtained by a terminal isocyanate group-containing compound. Moreover, as a blocking agent of an isocyanate group, For example, Phenols, such as a phenol, thiophenol, methylthiophenol, ethylthiophenol, cresol, xylenol, resorcinol, nitrophenol, chlorophenol; Oximes such as acetoxime, methyl ethyl keto oxime and cyclohexanone oxime; Alcohols such as methanol, ethanol, propanol and butanol; Halogen-substituted alcohols such as ethylene chlorhydrin and 1,3-dichloro-2-propanol; tertiary alcohols such as t-butanol and t-pentanol; and lactams such as ε-caprolactam, δ-valerolactam, γ-butyrolactam, and β-propiolactam, and other aromatic amines, imides, acetylacetone, acetic acid ester, and malonic acid ethyl ester. And other active methylene compounds, mercaptans, imines, imidazoles, urea, diaryl compounds, sodium bisulfite, and the like. Among them, oximes, imidazoles, and amines are particularly preferable in view of curability.

<<본 발명의 도전성 페이스트에 요구되는 물성>><< physical property required for the electrically conductive paste of this invention >>

본 발명의 도전성 페이스트는, F치가 60∼95%인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 75∼95%이다. F치란 페이스트 중에 포함되는 전고형분 100 질량부에 대한 필러 질량부를 나타내는 수치로, F치=(필러 질량부/고형분 질량부)×100으로 표시된다. 여기서 말하는 필러 질량부란 도전성 분말의 질량부, 고형분 질량부란 용제 이외의 성분의 질량부로, 도전성 분말, 바인더 수지, 그 밖의 경화제나 첨가제를 전부 포함한다. F치가 지나치게 낮으면 양호한 도전성을 나타내는 도전성 박막이 얻어지지 않고, F치가 지나치게 높으면 도전성 박막과 기재의 밀착성 및/또는 도전성 박막의 표면 경도가 저하되는 경향이 있고, 인쇄성의 저하도 피할 수 없다. 또한, 여기서 도전성 분말이란, 금속 가루(B) 및 비(非)금속을 포함하는 도전성 분말의 양쪽을 가리킨다.As for the electrically conductive paste of this invention, it is preferable that F value is 60 to 95%, More preferably, it is 75 to 95%. F value is a numerical value which shows the filler mass part with respect to 100 mass parts of total solids contained in a paste, and is represented by F value = (filler mass part / solid content mass part) x100. The filler mass part here is the mass part of electroconductive powder, and solid content mass part is the mass part of components other than a solvent, and contains all electroconductive powder, binder resin, another hardening | curing agent, and an additive. When F value is too low, the electroconductive thin film which shows favorable electroconductivity will not be obtained, and when F value is too high, the adhesiveness of a conductive thin film and a base material, and / or the surface hardness of a conductive thin film will fall, and printability fall also cannot be avoided. In addition, electroconductive powder refers to both the electroconductive powder containing a metal powder (B) and a nonmetal here.

<<본 발명의 도전성 페이스트의 제조방법>> << manufacturing method of the electrically conductive paste of this invention >>

본 발명의 도전성 페이스트는 상술한 바와 같이 열가소성 수지(A), 금속 가루(B), 유기 용제(C) 및 필요에 따라 그 밖의 성분을 3본 롤 등으로 분산시켜 제작할 수 있다. 여기서, 보다 구체적인 제작 순서의 예를 나타낸다. 열가소성 수지(A)를 우선은 유기 용제(C)에 용해시킨다. 그 후, 금속 가루(B) 및, 필요에 따라 첨가제를 첨가하고, 더블 플래니터리나 디졸버, 유성식의 교반기 등으로 예비 분산을 실시한다. 그 후, 3본 롤밀로 분산시켜, 도전성 페이스트를 얻는다. 이와 같이 하여 얻어진 도전성 페이스트는 필요에 따라 여과할 수 있다. 그 밖의 분산기, 예컨대 비드 밀, 니더, 익스트루더 등을 이용하여 분산시켜도 전혀 문제는 없다.As described above, the conductive paste of the present invention can be produced by dispersing the thermoplastic resin (A), the metal powder (B), the organic solvent (C), and other components in three rolls or the like as necessary. Here, an example of a more specific manufacturing procedure is shown. The thermoplastic resin (A) is first dissolved in an organic solvent (C). Thereafter, the metal powder (B) and an additive are added as necessary, and preliminary dispersion is performed by a double planetary, a dissolver, a planetary stirrer, or the like. Then, it disperse | distributes with three roll mills and obtains an electrically conductive paste. The electrically conductive paste obtained in this way can be filtered as needed. Dispersion using other dispersers such as bead mills, kneaders, extruders and the like is not a problem at all.

<<본 발명의 도전성 박막, 도전성 적층체 및 이들의 제조방법>> << conductive thin film, conductive laminated body of this invention, and manufacturing method thereof >>

본 발명의 도전성 페이스트를 기재 상에 도포 또는 인쇄하여 도포막을 형성하고, 계속해서 도포막에 포함되는 유기 용제(C)를 휘산시키고 도포막을 건조시킴으로써, 본 발명의 도전성 박막을 형성할 수 있다. 도전성 페이스트를 기재 상에 도포 또는 인쇄하는 방법은 특별히 한정되지 않지만, 스크린 인쇄법에 의해 인쇄하는 것이 공정의 간편함 및 도전성 페이스트를 이용하여 전기 회로를 형성하는 업계에서 보급하고 있는 기술인 점에서 바람직하다. 또한, 도전성 페이스트는, 최종적으로 전기 회로로서 필요한 도전성 박막 부위보다 얼마쯤 넓은 부위에 도포 또는 인쇄하는 것이, 레이저 에칭 공정의 부하를 낮추고 효율적으로 본 발명의 전기 회로를 형성한다는 관점에서 바람직하다.The conductive thin film of this invention can be formed by apply | coating or printing the electroconductive paste of this invention on a base material, forming a coating film, then volatilizing the organic solvent (C) contained in a coating film, and drying a coating film. Although the method of apply | coating or printing a conductive paste on a base material is not specifically limited, Printing by the screen printing method is preferable at the point of the simplicity of a process, and the technique prevalent in the industry which forms an electric circuit using a conductive paste. In addition, it is preferable to apply | coat or print the electrically conductive paste to the site | part which is a little wider than the electrically conductive thin film site | part finally required as an electric circuit from a viewpoint of reducing the load of a laser etching process and forming the electric circuit of this invention efficiently.

본 발명의 도전성 페이스트를 도포하는 기재로는, 치수 안정성이 우수한 재료가 바람직하게 이용된다. 예컨대 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트 혹은 폴리카보네이트 등의 가요성이 우수한 재료를 포함하는 필름을 들 수 있다. 또한, 유리 등의 무기 재료도 기재로서 사용할 수 있다. 기재의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 50∼350 ㎛인 것이 바람직하고, 100∼250 ㎛가 패턴 형성 재료의 기계적 특성, 형상 안정성 혹은 취급성 등으로부터 더욱 바람직하다.As a base material which apply | coats the electrically conductive paste of this invention, the material excellent in dimensional stability is used preferably. For example, the film containing the material excellent in flexibility, such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, or polycarbonate, is mentioned. Moreover, inorganic materials, such as glass, can also be used as a base material. Although the thickness of a base material is not specifically limited, It is preferable that it is 50-350 micrometers, and 100-250 micrometers is more preferable from the mechanical characteristic, shape stability, handleability, etc. of a pattern forming material.

또한, 본 발명의 도전성 페이스트를 도포하는 기재의 표면에 물리적 처리 및/또는 화학적 처리를 행함으로써, 도전성 박막과 기재의 밀착성을 향상시킬 수 있다. 물리적 처리 방법의 예로는, 샌드 블라스트법, 미립자를 함유한 액체를 분사하는 웨트 블라스트법, 코로나 방전 처리법, 플라즈마 처리법, 자외선 혹은 진공 자외선 조사 처리법 등을 들 수 있다. 또한, 화학적 처리 방법의 예로는, 강산 처리법, 강알칼리 처리법, 산화제 처리법, 커플링제 처리법 등을 들 수 있다.Moreover, the adhesiveness of a conductive thin film and a base material can be improved by performing physical treatment and / or chemical treatment on the surface of the base material apply | coating the electrically conductive paste of this invention. Examples of the physical treatment include a sand blast method, a wet blast method for injecting a liquid containing fine particles, a corona discharge treatment method, a plasma treatment method, an ultraviolet or vacuum ultraviolet irradiation treatment method, and the like. In addition, examples of the chemical treatment method include a strong acid treatment method, a strong alkali treatment method, an oxidizing agent treatment method and a coupling agent treatment method.

또한, 상기 기재는 투명 도전성층을 갖는 것이어도 좋다. 본 발명의 도전성 박막을 투명 도전성층 상에 적층할 수 있다. 상기 투명 도전성층의 소재는 특별히 한정되지 않고, 예컨대, 산화인듐·주석을 주성분으로 하여 이루어지는 ITO 막을 들 수 있다. 또한, 투명 도전성층은 기재 전면에 형성된 것뿐만 아니라, 에칭 등에 의해 투명 도전성층의 일부가 제거된 것을 사용할 수도 있다.Moreover, the said base material may have a transparent conductive layer. The conductive thin film of this invention can be laminated | stacked on a transparent conductive layer. The raw material of the said transparent conductive layer is not specifically limited, For example, the ITO membrane which consists of indium tin oxide as a main component is mentioned. In addition, the transparent conductive layer may not only be formed on the entire surface of the substrate, but also may be used in which a part of the transparent conductive layer is removed by etching or the like.

유기 용제(C)를 휘산시키는 공정은, 상온하 및/또는 가열하에서 행하는 것이 바람직하다. 가열하는 경우, 건조 후의 도전성 박막의 도전성이나 밀착성, 표면 경도가 양호해지는 점에서, 가열 온도는 80℃ 이상이 바람직하고, 100℃ 이상이 보다 바람직하고, 110℃ 이상이 더욱 바람직하다. 또한, 기초인 투명 도전성층의 내열성, 및 생산 공정에서의 에너지 절약의 관점에서, 가열 온도는 150℃ 이하가 바람직하고, 135℃ 이하가 보다 바람직하고, 130℃ 이하가 더욱 바람직하다. 본 발명의 도전성 페이스트에 경화제가 배합되어 있는 경우에는, 유기 용제(C)를 휘산시키는 공정을 가열하에서 행하면, 경화 반응이 진행된다.It is preferable to perform the process which volatilizes an organic solvent (C) under normal temperature and / or heating. When heating, since the electroconductivity, adhesiveness, and surface hardness of the conductive thin film after drying become favorable, 80 degreeC or more is preferable, 100 degreeC or more is more preferable, and 110 degreeC or more is more preferable. Moreover, from a viewpoint of the heat resistance of the transparent conductive layer which is a base, and energy saving in a production process, 150 degrees C or less is preferable, 135 degrees C or less is more preferable, and 130 degrees C or less is still more preferable. When the hardening | curing agent is mix | blended with the electrically conductive paste of this invention, when a process which volatilizes the organic solvent (C) is performed under heating, hardening reaction advances.

본 발명의 도전성 박막의 두께는, 이용되는 용도에 따라 적절한 두께로 설정하면 된다. 다만, 건조 후의 도전성 박막의 도전성이 양호하다는 관점과, 레이저 에칭 가공 적성이 양호하다는 관점에서, 도전성 박막의 막두께는 3 ㎛ 이상, 30 ㎛ 이하가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5 ㎛ 이상, 20 ㎛ 이하이다. 도전성 박막의 막두께가 지나치게 얇으면, 회로로서의 원하는 도전성이 얻어지지 않을 가능성이 있다. 막두께가 지나치게 두꺼우면, 레이저 에칭 가공에 요하는 조사량이 과대하게 필요해져, 기재에 손상을 주는 경우가 있다. 또한, 막두께의 변동이 크면, 도전성 박막의 에칭 용이성에 변동이 생겨, 에칭 부족에 의한 선 사이의 단락이나 에칭 과잉에 의한 단선이 생기기 쉬워지는 경향이 있다. 이 때문에, 막두께의 변동은 작은 것이 좋다.What is necessary is just to set the thickness of the electroconductive thin film of this invention to an appropriate thickness according to the use used. However, from the viewpoint of the good electrical conductivity of the conductive thin film after drying and the good laser etching processability, the thickness of the conductive thin film is preferably 3 μm or more and 30 μm or less, more preferably 5 μm or more and 20 It is micrometer or less. If the film thickness of the conductive thin film is too thin, there is a possibility that desired conductivity as a circuit cannot be obtained. If the film thickness is too thick, an excessive amount of irradiation required for laser etching processing may be required, which may damage the substrate. In addition, when the variation in the film thickness is large, variations occur in the ease of etching of the conductive thin film, and there is a tendency that short circuits between lines due to insufficient etching and disconnection due to excessive etching occur. For this reason, the change of film thickness should be small.

<<본 발명의 전기 회로 및 그 제조방법>><< electrical circuit of this invention and its manufacturing method >>

레이저광이 조사되어 흡수된 부위에 있어서는, 레이저광의 에너지가 열로 변환되고, 온도 상승에 의해 열분해 및/또는 휘산이 생겨, 조사 부위가 박리·제거된다. 본 발명의 도전성 박막의 레이저광이 조사된 부위가 효율적으로 기재로부터 제거되기 위해서는, 본 발명의 도전성 박막이 조사 레이저광의 파장에 강한 흡수를 갖는 것이 바람직하다. 따라서, 레이저종으로는, 본 발명의 도전성 박막을 구성하는 어느 성분이 강한 흡수를 갖는 파장 영역에 에너지를 갖는 레이저종을 선택하는 것이 바람직하다.In the site where the laser light is irradiated and absorbed, the energy of the laser light is converted into heat, pyrolysis and / or volatilization occurs due to the temperature rise, and the irradiation site is peeled off and removed. In order to remove the site | part irradiated with the laser beam of the conductive thin film of this invention efficiently from a base material, it is preferable that the conductive thin film of this invention has strong absorption in the wavelength of an irradiation laser beam. Therefore, as a laser species, it is preferable to select the laser species which has energy in the wavelength range in which the component which comprises the conductive thin film of this invention has strong absorption.

일반적인 레이저종으로는, 엑시머 레이저(기본파의 파장이 193∼308 nm), YAG 레이저(기본파의 파장이 1064 nm), 파이버 레이저(기본파의 파장이 1060 nm), CO2 레이저(기본파의 파장이 10600 nm), 반도체 레이저 등을 들 수 있고, 기본적으로는 어떠한 방식, 어떠한 파장의 레이저종을 이용해도 전혀 문제는 없다. 도전성 박막 중 어느 구성 성분의 흡수 파장 영역과 일치하며, 또한 기재가 강한 흡수를 갖지 않는 파장을 조사할 수 있는 레이저종을 선택함으로써, 레이저광 조사 부위의 도전성 박막의 제거를 효율적으로 행하며, 또한 기재의 손상을 피할 수 있다. 이러한 관점에서, 조사하는 레이저종으로는, 기본파의 파장이 532∼10700 nm의 범위가 바람직하다. 예컨대, 폴리에스테르 필름, 폴리에스테르 필름 상에 ITO 층을 형성한 투명 도전성 적층체, 또는, 폴리에스테르 필름 상에 ITO 층을 형성하고 그 일부가 에칭에 의해 제거된 적층체를 기재로서 이용하는 경우에는, YAG 레이저 또는 파이버 레이저를 사용하는 것이, 기본파의 파장에 기재가 흡수를 갖지 않기 때문에 기재에 손상을 잘 주지 않는 점에서 특히 바람직하다.Common laser species include excimer laser (wavelength of fundamental wave 193-308 nm), YAG laser (wavelength of fundamental wave 1064 nm), fiber laser (wavelength of fundamental wave is 1060 nm), CO2 laser (of fundamental wave) 10600 nm in wavelength), a semiconductor laser, etc. are mentioned, There is no problem basically even if a laser species of any wavelength is used in any system. By selecting a laser species that matches the absorption wavelength region of any of the constituent components of the conductive thin film and which can irradiate a wavelength at which the substrate does not have strong absorption, the conductive thin film of the laser light irradiation site can be efficiently removed and the substrate Damage can be avoided. From such a viewpoint, as the laser species to be irradiated, the wavelength of the fundamental wave is preferably in the range of 532 to 10700 nm. For example, when using as a base material the polyester film, the transparent conductive laminated body which formed the ITO layer on the polyester film, or the laminated body in which the ITO layer was formed on the polyester film and one part was removed by the etching, It is particularly preferable to use a YAG laser or a fiber laser in that it does not damage the substrate well because the substrate does not have absorption in the wavelength of the fundamental wave.

레이저 출력, Q 변조 주파수는 특별히 한정되지 않지만, 레이저광 조사 부위의 도전성 박막을 제거할 수 있으며, 또한 기초의 기재가 손상되지 않도록 조절한다. 일반적으로는, 레이저 출력은, 0.5∼100 W, Q 변조 주파수 10∼400 kHz의 범위에서 적절히 조절하는 것이 바람직하다. 레이저 출력이 지나치게 낮으면, 도전성 박막의 제거가 불충분해지는 경향이 있지만, 레이저의 주사 속도를 낮게 하거나 주사 횟수를 늘리거나 함으로써 그와 같은 경향은 어느 정도 회피할 수 있다. 레이저 출력이 지나치게 높으면, 조사 부분으로부터의 열의 확산에 의해 도전성 박막이 박리되는 부위가 레이저빔 직경보다 극단적으로 커져, 선폭이 지나치게 가늘어지거나 단선되거나 할 가능성이 있다.Although the laser output and Q modulation frequency are not specifically limited, the conductive thin film of a laser beam irradiation site | part can be removed, and it adjusts so that a base base material may not be damaged. Generally, it is preferable to adjust a laser output suitably in the range of 0.5-100 W and Q modulation frequency 10-400 kHz. If the laser power is too low, the removal of the conductive thin film tends to be insufficient, but such a tendency can be avoided to some extent by lowering the scanning speed of the laser or increasing the number of scanning. If the laser output is too high, the portion where the conductive thin film is peeled off due to diffusion of heat from the irradiated portion becomes extremely larger than the laser beam diameter, and the line width may be too thin or disconnected.

레이저광의 주사 속도는, 택트 타임의 감소에 의한 생산 효율 향상의 관점에서는 높을수록 좋고, 구체적으로는, 1000 mm/s 이상이 바람직하고, 1500 mm/s 이상이 보다 바람직하고, 더욱 바람직하게는 2000 mm/s 이상이다. 주사 속도가 지나치게 느리면, 생산 효율이 저하될 뿐만 아니라, 도전성 박막 및 기재가 열이력에 의해 손상을 받을 우려가 있다. 가공 속도의 상한은 특별히 정하지 않지만, 주사 속도가 지나치게 높으면, 레이저광 조사 부위의 도전성 박막의 제거가 불완전해져 회로가 단락될 가능성이 있다. 또한, 주사 속도가 지나치게 빠르면, 형성하는 패턴의 코너 부위에 있어서, 직선 부위와 비교하여 주사 속도를 감속시키는 것을 피할 수 없게 되기 때문에, 코너 부위의 열이력이 직선 부위에 비해 높아져, 코너 부위의 레이저 에칭 가공 부위 주변의 도전성 박막의 물성이 현저히 저하될 우려가 있다.The scanning speed of a laser beam is so good that it is high from a viewpoint of the productive efficiency improvement by reduction of tact time, Specifically, 1000 mm / s or more is preferable, 1500 mm / s or more is more preferable, More preferably, 2000 mm / s or more. If the scanning speed is too slow, not only the production efficiency is lowered but also the conductive thin film and the substrate may be damaged by the thermal history. Although the upper limit of a processing speed is not specifically determined, When a scanning speed is too high, removal of the conductive thin film of a laser beam irradiation site | part may become incomplete, and a circuit may short circuit. In addition, if the scanning speed is too fast, in the corner portion of the pattern to be formed, it is inevitable to reduce the scanning speed as compared with the linear portion, so that the thermal history of the corner portion is higher than that of the linear portion, and the laser of the corner portion is increased. There is a fear that the physical properties of the conductive thin film around the etching process site may be significantly reduced.

레이저광의 주사는, 레이저광의 발사체를 움직이거나, 레이저광이 조사되는 피조사체를 움직이거나, 혹은 양쪽을 조합하는 것의 어느 것이어도 좋고, 예컨대 XY 스테이지를 이용함으로써 실현할 수 있다. 또한, 갈바노 미러 등을 이용하여 레이저광의 조사 방향을 변경함으로써 레이저광을 주사할 수도 있다.The scanning of the laser beam may be either of moving the projectile of the laser beam, moving of the irradiated object to which the laser beam is irradiated, or combining both, for example, by using the XY stage. The laser beam can also be scanned by changing the irradiation direction of the laser beam using a galvano mirror or the like.

레이저광의 조사시에, 집광 렌즈(애크로매틱 렌즈 등)를 사용함으로써, 단위 면적당의 에너지 밀도를 높일 수 있다. 이 방법의 이점으로는, 마스크를 사용하는 경우와 비교하여, 단위 면적당의 에너지 밀도를 크게 할 수 있기 때문에, 작은 출력의 레이저 발진기라도 높은 주사 속도로 레이저 에칭 가공을 행할 수 있게 되는 점을 들 수 있다. 집광한 레이저광을 도전성 박막에 조사하는 경우, 초점 거리를 조절할 필요가 있다. 초점 거리의 조절은, 특히 기재에 도포되어 있는 막두께에 따라 조절할 필요가 있지만, 기재에 손상을 주지 않으며, 또한 소정의 도전성 박막 패턴을 박리·제거할 수 있도록 조절하는 것이 바람직하다.At the time of irradiation of a laser beam, an energy density per unit area can be raised by using a condensing lens (achromatic lens or the like). As an advantage of this method, since the energy density per unit area can be increased as compared with the case of using a mask, laser etching processing can be performed at a high scanning speed even with a small output laser oscillator. have. When irradiating the collected laser light to the conductive thin film, it is necessary to adjust the focal length. In particular, the focal length needs to be adjusted depending on the film thickness applied to the substrate, but it is preferable to adjust the focal length so as not to damage the substrate and to remove and remove a predetermined conductive thin film pattern.

레이저광의 주사를 복수회 동일 패턴으로 반복 행하는 것은, 바람직한 실시양태의 하나이다. 1회째의 주사에 있어서 제거가 불완전한 도전성 박막 부위가 있었던 경우, 혹은 제거한 도전성 박막을 구성하는 성분이 재차 기재에 부착된 경우라도, 복수회의 주사로 레이저광 조사 부위의 도전성 박막을 완전히 제거하는 것이 가능해진다. 주사 횟수의 상한은 특별히 한정되지 않지만, 가공 부위 주변이 열이력을 복수회 받음으로써, 손상을 받아, 변색되거나, 도포막 물성이 저하될 가능성이 있기 때문에, 주의가 필요하다. 또한, 생산 효율의 면에서는, 주사 횟수는 적을수록 좋은 것은 당연하다.Repeating scanning of a laser beam in the same pattern a plurality of times is one of the preferred embodiments. Even when there is a conductive thin film portion which is incompletely removed in the first scan, or when a component constituting the removed conductive thin film is attached to the substrate again, the conductive thin film of the laser light irradiation portion can be completely removed by a plurality of scans. Become. Although the upper limit of the frequency | count of scanning is not specifically limited, Caution is necessary because the periphery of a process part may receive a heat history multiple times, and may be damaged, discolored, or a coating film physical property may fall. In addition, in view of production efficiency, it is natural that the smaller the number of injections, the better.

레이저광의 주사를 복수회 동일 패턴으로 반복 행하지 않는 것도, 바람직한 실시양태의 하나이다. 얻어지는 도전성 박막, 도전성 적층체 및 전기 회로의 특성에 악영향을 미치지 않는 한, 주사 횟수는 적을수록 생산 효율적으로 우수한 것은 당연하다.It is also one of the preferred embodiments that the laser beam is not repeatedly scanned in the same pattern a plurality of times. Unless adversely affects the characteristics of the obtained conductive thin film, the conductive laminate and the electrical circuit, it is natural that the fewer the number of scanning is, the more excellent the production efficiency is.

<<본 발명의 터치 패널>><< touch panel of this invention >>

본 발명의 도전성 박막, 도전성 적층체 및/또는 전기 회로는 터치 패널의 구성 부재로서 이용할 수 있다. 상기 터치 패널은, 저항막 방식이어도 좋고 정전 용량 방식이어도 좋다. 어느 터치 패널에도 적용이 가능하지만, 본 페이스트는, 세선 형성에 적합하기 때문에, 정전 용량 방식의 터치 패널의 전극 배선용에 특히 적합하게 이용할 수 있다. 또한, 상기 터치 패널을 구성하는 기재로는, ITO 막 등의 투명 도전성층을 갖고 있는 기재, 혹은 이들이 에칭에 의해 일부 제거된 기재를 이용하는 것이 바람직하다.The electroconductive thin film, electroconductive laminated body, and / or electric circuit of this invention can be used as a structural member of a touchscreen. The touch panel may be a resistive film type or a capacitive type. Although it is applicable to any touch panel, since this paste is suitable for thin wire formation, it can be used especially suitably for the electrode wiring of a capacitive touch panel. Moreover, as a base material which comprises the said touchscreen, it is preferable to use the base material which has transparent conductive layers, such as an ITO film | membrane, or the base material in which these were removed partially by etching.

실시예Example

본 발명을 더욱 상세히 설명하기 위해 이하에 실시예, 비교예를 들지만, 본 발명은 실시예에 의해 전혀 한정되는 것은 아니다. 또한, 실시예, 비교예에 기재된 각 측정치는 다음 방법에 의해 측정한 것이다.In order to demonstrate this invention further in detail, an Example and a comparative example are given to the following, but this invention is not limited at all by the Example. In addition, each measured value described in the Example and the comparative example is measured by the following method.

1. 수평균 분자량1. Number average molecular weight

시료 수지를, 수지 농도가 0.5 중량% 정도가 되도록 테트라히드로푸란에 용해시키고, 구멍 직경 0.5 ㎛의 폴리4불화에틸렌제의 멤브레인 필터로 여과하여, GPC 측정 시료로 했다. 테트라히드로푸란을 이동상으로 하고, 시마즈 제작소사 제조의 겔 침투 크로마토그래프(GPC) Prominence를 이용하고, 시차 굴절계(RI 계)를 검출기로 하여, 컬럼 온도 30℃, 유량 1 ml/분으로 수지 시료의 GPC 측정을 행했다. 또한, 수평균 분자량은 표준 폴리스티렌 환산치로 하고, 분자량 1000 미만에 상당하는 부분을 생략하여 산출했다. GPC 컬럼은 쇼와 덴꼬(주) 제조의 shodex KF-802, 804L, 806L을 이용했다.The sample resin was dissolved in tetrahydrofuran so that the resin concentration was about 0.5% by weight, and filtered with a membrane filter made of polytetrafluoroethylene having a pore diameter of 0.5 µm to obtain a GPC measurement sample. Using tetrahydrofuran as a mobile phase and using a gel permeation chromatograph (GPC) Prominence manufactured by Shimadzu Corporation, using a differential refractometer (RI system) as a detector, the resin sample was subjected to a column temperature of 30 ° C. and a flow rate of 1 ml / min. GPC measurement was performed. In addition, the number average molecular weight was made into the standard polystyrene conversion value, and was computed by omitting the part corresponding to less than 1000 molecular weight. The GPC column used shodex KF-802, 804L, and 806L by Showa Denko Corporation.

2. 유리 전이 온도(Tg)2. Glass transition temperature (Tg)

시료 수지 5 mg을 알루미늄제 샘플 팬에 넣어 밀봉하고, 세이코 인스트루먼트(주) 제조의 시차 주사 열량 분석계(DSC) DSC-220을 이용하여, 200℃까지, 승온 속도 20℃/분으로 측정하여, 유리 전이 온도 이하의 베이스라인의 연장선과 천이부에서의 최대 경사를 나타내는 접선과의 교점의 온도로 구했다.5 mg of sample resin was put in an aluminum sample pan and sealed, and measured using a differential scanning calorimetry (DSC) DSC-220 manufactured by Seiko Instruments Co., Ltd. It calculated | required by the temperature of the intersection of the extension line of the baseline below transition temperature, and the tangent which shows the largest inclination in a transition part.

3. 산가3. Acid value

시료 수지 0.2 g을 정밀 칭량하여 20 ml의 클로로포름에 용해시켰다. 이어서, 지시약에 페놀프탈레인 용액을 이용하고, 0.01 N의 수산화칼륨(에탄올 용액)으로 적정을 행했다. 산가의 단위는 eq/ton, 즉 시료 1톤당의 당량으로 했다.0.2 g of sample resin was precisely weighed and dissolved in 20 ml of chloroform. Subsequently, the phenolphthalein solution was used for the indicator, and it titrated with 0.01 N potassium hydroxide (ethanol solution). The unit of acid value was eq / ton, ie, the equivalent per ton of sample.

4. 수지 조성4. Resin Composition

클로로포름-d에 시료 수지를 용해시키고, VARIAN 제조의 400 MHz-NMR 장치를 이용하여, 1H-NMR 분석에 의해 수지 조성을 구했다.The sample resin was dissolved in chloroform-d, and the resin composition was determined by 1 H-NMR analysis using a 400 MHz-NMR apparatus manufactured by VARIAN.

5. 페이스트 점도5. Paste Viscosity

점도의 측정은 샘플 온도 25℃에 있어서, BH형 점도계(도키 산업사 제조)를 이용하여, 20 rpm으로 측정을 실시했다.The viscosity was measured at 20 rpm using a BH viscometer (manufactured by Toki Kogyo Co., Ltd.) at a sample temperature of 25 ° C.

6. 도전성 페이스트의 저장 안정성6. Storage stability of conductive paste

도전성 페이스트를 폴리 용기에 넣고, 밀봉한 것을 40℃에서 1개월 저장했다. 저장 후에 점도 측정 및 상기 5. 도전성 적층체 테스트 피스에 의해 제작한 테스트 피스의 평가를 행했다.The electrically conductive paste was put into the poly container, and the sealed thing was stored for 1 month at 40 degreeC. After storage, a viscosity measurement and a test piece produced by the 5. conductive laminate test piece were evaluated.

○ : 현저한 점도 변화는 없고, 초기의 비저항, 연필 경도 및 밀착성을 유지하고 있다.(Circle): There is no remarkable viscosity change, and initial stage specific resistance, pencil hardness, and adhesiveness are maintained.

× : 현저한 점도 상승(초기 점도의 2배 이상) 또는 현저한 점도 저하(초기 점도의 1/2 이하), 및/또는, 비저항, 연필 경도 및/또는 밀착성의 저하, 중 어느 것이 확인된다.X: The remarkable viscosity rise (2 times or more of initial viscosity) or the remarkable viscosity fall (half or less of initial viscosity), and / or the fall of specific resistance, pencil hardness, and / or adhesiveness are confirmed.

7. 도전성 적층체 테스트 피스의 작성7. Preparation of conductive laminate test pieces

두께 100 ㎛의 어닐링 처리를 한 PET 필름(도레사 제조의 루미라 S) 및 ITO 막(오이케 공업(주) 제조, KH300)의 각각에, 200 메시의 폴리에스테르 스크린을 이용하여 스크린 인쇄법에 의해 도전성 페이스트를 인쇄하여, 폭 25 mm, 길이 450 mm의 솔리드 코팅 패턴을 형성하고, 계속해서 열풍 순환식 건조로에서 120℃에서 30분 가열한 것을 도전성 적층체 테스트 피스로 했다. 또, 건조막 두께가 6∼10 ㎛가 되도록 인쇄시의 도포 두께를 조정했다.Each of PET film (Lumira S made by Toraya Corporation) and ITO film (KH300, made by Oike Industries Co., Ltd.) with an annealing treatment having a thickness of 100 µm was used for screen printing using a 200-mesh polyester screen. The conductive paste was printed to form a solid coating pattern having a width of 25 mm and a length of 450 mm, and then heated at 120 ° C. for 30 minutes in a hot air circulation drying furnace to form a conductive laminate test piece. Moreover, the coating thickness at the time of printing was adjusted so that dry film thickness might be 6-10 micrometers.

8. 밀착성 8. Adhesiveness

상기 도전성 적층체 테스트 피스를 이용하여 JIS K-5400-5-6 : 1990에 따라, 셀로 테이프(등록 상표)(니치반(주) 제조)를 이용하여, 박리 시험에 의해 평가했다. 다만, 격자 패턴의 각 방향의 커트수는 11개, 커트 간격은 1 mm로 했다. 100/100은 박리가 없이 밀착성이 양호한 것을 나타내고, 0/100은 전부 박리되어 버린 것을 나타낸다.Using the said electroconductive laminated body test piece, it evaluated by the peeling test using the cello tape (trademark) (made by Nichiban Co., Ltd.) according to JISK-5400-5-6: 1990. In addition, the number of cuts in each direction of the grid pattern was 11, and the cut space | interval was 1 mm. 100/100 indicates good adhesion without peeling, and 0/100 indicates that all peeled off.

9. 비저항9. Resistivity

상기 도전성 적층체 테스트 피스의 시트 저항과 막두께를 측정하고, 비저항을 산출했다. 막두께는 게이지 스탠드 ST-022(오노소키사 제조)를 이용하고, PET 필름의 두께를 제로점으로 하여 경화 도포막의 두께를 5점 측정하고, 그 평균치를 이용했다. 시트 저항은 MILLIOHMMETER4338B(HEWLETT PACKARD사 제조)를 이용하여 테스트 피스 4장에 관해 측정하고, 그 평균치를 이용했다. 또한, 본 밀리옴미터로 검출할 수 있는 범위는 1×10-2 이하(Ω·cm)이고, 1×10-2(Ω·cm) 이상의 비저항은 측정 한계 밖이 된다.The sheet resistance and film thickness of the said electroconductive laminated body test piece were measured, and the specific resistance was computed. The film thickness used gauge stand ST-022 (made by Onosoki Co., Ltd.), measured the thickness of 5 times of cured coating films using the thickness of PET film as zero point, and used the average value. Sheet resistance was measured about four test pieces using MILLIOHMMETER4338B (made by HEWLETT PACKARD), and used the average value. In addition, the range which can be detected by this milli-ohm meter is 1 * 10 <-2> (ohm * cm), and the specific resistance of 1 * 10 <-2> (ohm * cm) or more falls outside a measurement limit.

10. 연필 경도10. Pencil Hardness

도전성 적층체 테스트 피스를 두께 2 mm의 SUS304판 상에 놓고, JIS K 5600-5-4 : 1999에 따라 연필 경도를 측정했다.The conductive laminate test piece was placed on a SUS304 plate having a thickness of 2 mm, and the pencil hardness was measured according to JIS K 5600-5-4: 1999.

11. 내습열성 시험 11. Moisture and heat resistance test

도전성 적층체 테스트 피스를, 80℃에서 300시간 가열하고, 계속해서 85℃, 85% RH(상대 습도)로 300시간 가열하고, 그 후 24시간 상온에서 방치한 후, 각종 평가를 행했다.The conductive laminate test piece was heated at 80 ° C for 300 hours, then heated at 85 ° C and 85% RH (relative humidity) for 300 hours, and then left at room temperature for 24 hours, and then various evaluations were performed.

12. 레이저 에칭 가공 적성의 평가12. Evaluation of laser etching processing aptitude

스크린 인쇄법에 의해, 폴리에스테르 기재(도레사 제조의 루미라 S(두께 100 ㎛)) 상에, 도전성 페이스트를 2.5×10 cm의 직사각형으로 인쇄 도포했다. 스크린판으로서 T400 스테인리스 메시(유제 두께 10 ㎛, 선직경 23 ㎛(도쿄 프로세스 서비스사 제조))를 이용하여, 스퀴지 속도 150 mm/s로 인쇄했다. 인쇄 도포 후, 열풍 순환식 건조로에서 120℃에서 30분간의 건조를 행하여 도전성 박막을 얻었다. 또한, 막두께는 5∼12 ㎛가 되도록 페이스트를 희석 조정했다. 계속해서, 상기 방법으로 작성한 도전성 박막에 레이저 에칭 가공을 행하여, 도 1에 도시한 길이 50 mm의 4개의 직선 부분을 갖는 패턴을 제작하여, 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편으로 했다. 상기 직선 부분의 선 사이의 레이저 에칭 가공은, 빔 직경 30 ㎛의 레이저광을 60 ㎛ 피치로 각 2회 주사함으로써 행했다. 레이저 광원에는 파이버 레이저를 이용하고, Q 변조 주파수 200 kHz, 출력 10 W, 주사 속도 2700 mm/s로 했다.By the screen printing method, the electrically conductive paste was printed and apply | coated in the rectangle of 2.5x10 cm on the polyester base material (Lumiera S (100 micrometers thickness) by Toray Corporation). It printed by 150 mm / s of squeegee speeds using T400 stainless steel mesh (oil thickness of 10 micrometers, line diameter of 23 micrometers (made by Tokyo Process Service)) as a screen board. After printing application | coating, drying was performed for 30 minutes at 120 degreeC in the hot air circulation type drying furnace, and the electroconductive thin film was obtained. In addition, the paste was diluted and adjusted so that a film thickness might be 5-12 micrometers. Subsequently, laser etching was performed on the conductive thin film produced by the above method, a pattern having four straight portions having a length of 50 mm shown in FIG. 1 was produced, and a laser etching processing aptitude evaluation test piece was prepared. The laser etching process between the lines of the said linear part was performed by scanning the laser beam of 30 micrometers of beam diameters twice each at 60 micrometer pitch. A fiber laser was used for the laser light source, and the Q modulation frequency was 200 kHz, the output was 10 W, and the scanning speed was 2700 mm / s.

평가 항목, 측정 조건은 이하와 같다.Evaluation items and measurement conditions are as follows.

(레이저 에칭 가공폭 평가)(Laser etching processing width evaluation)

상기 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편에 있어서, 도전성 박막이 제거된 부위의 선폭을 측정했다. 측정은, 레이저 현미경(키엔스 VHX-1000)을 이용하여 행하고, 하기 평가 판단 기준으로 판정했다.In the said laser etching processability evaluation test piece, the line width of the site | part from which the conductive thin film was removed was measured. The measurement was performed using the laser microscope (Keyence VHX-1000), and it determined on the following evaluation judgment criteria.

○ ; 도전성 박막이 제거된 부위의 라인폭이 28∼32 ㎛○; The line width of the site where the conductive thin film is removed is 28 to 32 μm

△ ; 도전성 박막이 제거된 부위의 라인폭이 24∼27 ㎛ 혹은 33∼36 ㎛?; The line width of the portion where the conductive thin film is removed is 24 to 27 μm or 33 to 36 μm

× ; 도전성 박막이 제거된 부위의 라인폭이 23 ㎛ 이하, 혹은 37 ㎛ 이상×; The line width of the portion where the conductive thin film is removed is 23 μm or less, or 37 μm or more

(레이저 에칭 가공 적성 평가(1) 세선 양끝 사이 도통성)(Conductivity between both ends of laser etching processing aptitude evaluation (1))

상기 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편에 있어서, 세선 1b, 2b, 3b, 4b의 양끝 사이의 도통이 확보되어 있는가에 의해 평가했다. 구체적으로는, 단자 1a-단자 1c 사이, 단자 2a-단자 2c 사이, 단자 3a-단자 3c 사이, 단자 4a-단자 4c 사이의 각각에 관해 테스터를 대어 도통의 유무를 확인하고, 하기 평가 기준에 의해 판정했다.The said laser etching processability evaluation test piece WHEREIN: It evaluated by the conduction between the both ends of the thin wire | line 1b, 2b, 3b, 4b being ensured. Specifically, the presence or absence of conduction is confirmed by applying a tester for each of terminals 1a to 1c, between terminals 2a to 2c, between terminals 3a to 3c and between terminals 4a to 4c. Judging.

○ ; 4개 세선의 전부에 관해 세선의 양끝 사이에 도통이 있음○; There is conduction between both ends of all four thin wires

△ ; 4개 세선 중, 1∼3개에 관해 세선의 양끝 사이에 도통이 없음?; No conduction between the two ends of one of the four thin wires

× ; 4개 세선의 전부에 관해 세선의 양끝 사이에 도통이 없음×; No conduction between both ends of all four thin wires

(레이저 에칭 가공 적성 평가(2) 인접 세선 사이 절연성)(Laser etching processability evaluation (2) insulation between adjacent fine wires)

상기 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편에 있어서, 인접하는 세선 사이의 절연이 확보되어 있는가에 의해 평가했다. 구체적으로는, 단자 1a-단자 2a 사이, 단자 2a-단자 3a 사이, 단자 3a-단자 4a 사이의 각각에 관해 테스터를 대어 도통의 유무를 확인하고, 하기 평가 기준으로 판정했다.In the said laser etching processability evaluation test piece, it evaluated by whether the insulation between adjacent thin wires is ensured. Specifically, the presence or absence of conduction was confirmed by applying a tester to each of the terminals 1a-terminal 2a, the terminals 2a-terminal 3a, and the terminals 3a-terminal 4a, and determined the following evaluation criteria.

○ ; 모든 인접 세선 사이가 절연되어 있음○; Insulation between all adjacent thin wires

△ ; 일부의 인접 세선 사이가 절연되어 있음?; Some adjacent fine wires are insulated

× ; 모든 인접 세선 사이가 절연되어 있지 않음×; Not isolated between all adjacent thin wires

(도전성 박막이 제거된 부위의 잔사의 평가)(Evaluation of residues at the sites where the conductive thin film was removed)

상기 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편에 있어서, 도전성 박막이 제거된 부위를 레이저 현미경으로 관찰하고, 잔사의 부착 유무를 하기 평가 기준에 의해 판정했다.In the said laser etching processability evaluation test piece, the site | part from which the conductive thin film was removed was observed with the laser microscope, and the presence or absence of residue adhered was determined by the following evaluation criteria.

○ : 도전성 박막이 제거된 부위에 잔사가 없음.(Circle): There is no residue in the site | part from which the conductive thin film was removed.

△ : 도전성 박막이 제거된 부위에 잔사가 다소 있음.(Triangle | delta): There exists some residue in the site | part from which the conductive thin film was removed.

× : 도전성 박막이 제거된 부위에 잔사가 많이 보임.X: A lot of residue is seen in the site | part from which the conductive thin film was removed.

(레이저 에칭 후의 도전성 박막과 기재의 밀착성의 평가)(Evaluation of adhesiveness between the conductive thin film and the substrate after laser etching)

상기 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편에서의 도전성 박막이 제거된 부위에 끼워져 있는 도전성 박막이 잔존하고 있는 부위의, 기재에 대한 밀착성을, 셀로 테이프(등록 상표)(니치반(주) 제조)를 이용한 테이프 박리 테스트에 의해 평가했다. 이 평가는, 시험편 작성의 24시간 후 직후(초기)와 그 후 더욱 85℃, 85% RH(상대 습도)의 습열 환경하에서 120시간 정치하고 더욱 24시간 상온에서 정치한 후(내습열 시험 후)에 행했다.Tape using cello tape (registered trademark) (manufactured by Nichiban Co., Ltd.) for adhesion to a substrate of a portion where the conductive thin film sandwiched between the conductive thin film from the laser etching processing aptitude evaluation test piece remains. It evaluated by the peel test. Immediately after 24 hours of the test piece preparation (initial stage), and after that, after standing still in a humid heat environment of 85 degreeC and 85% RH (relative humidity) for 120 hours, and further still standing at room temperature for 24 hours (after a moisture proof test) Done to.

○ : 박리가 없음. △ : 일부 박리됨. × : 전부 박리됨.(Circle): There is no peeling. (Triangle | delta): It peels in part. X: All peeled.

수지의 제조예 Production Example of Resin

폴리에스테르 수지 P-1의 제조예Production Example of Polyester Resin P-1

교반기, 컨덴서, 및 온도계를 구비한 반응 용기에 테레프탈산 700부, 이소프탈산 700부, 무수트리멜리트산 16.9부, 에틸렌글리콜 983부, 2-메틸-1,3-프로판디올 154부를 주입하고, 질소 분위기 2기압 가압하에, 160℃로부터 230℃까지 3시간에 걸쳐 승온시키고, 에스테르화 반응을 행했다. 방압 후, 테트라부틸티타네이트 0.92부를 주입하고, 계속해서 계 내를 서서히 감압해 나가, 20분에 걸쳐 5 mmHg까지 감압하고, 또한 0.3 mmHg 이하의 진공하에, 260℃에서 40분간 중축합 반응을 행했다. 계속해서, 질소 기류하에, 220℃까지 냉각시키고, 무수트리멜리트산을 50.6부 투입하고, 30분간 반응을 행하여 폴리에스테르 수지를 얻었다. 얻어진 공중합 폴리에스테르 수지 P-1의 조성 및 물성을 표 1에 나타냈다.Into a reaction vessel equipped with a stirrer, a condenser, and a thermometer, 700 parts of terephthalic acid, 700 parts of isophthalic acid, 16.9 parts of trimellitic anhydride, 983 parts of ethylene glycol, and 154 parts of 2-methyl-1,3-propanediol were charged. Under 2 atmospheres of pressurization, the temperature was raised from 160 ° C to 230 ° C over 3 hours, and the esterification reaction was performed. 0.92 parts of tetrabutyl titanate was injected | poured after pressure_release, the pressure inside the system was gradually depressurized, it decompressed to 5 mmHg over 20 minutes, and the polycondensation reaction was performed at 260 degreeC for 40 minutes under the vacuum of 0.3 mmHg or less. . Then, it cooled to 220 degreeC under nitrogen stream, 50.6 parts of trimellitic anhydrides were thrown in, and it reacted for 30 minutes, and obtained polyester resin. Table 1 shows the composition and physical properties of the obtained copolymerized polyester resin P-1.

폴리에스테르 수지 P-2∼P-11의 제조예 Manufacturing example of polyester resin P-2-P-11

폴리에스테르 수지 P-1의 제조예에 있어서 모노머의 종류와 배합 비율을 변경하여, 폴리에스테르 수지 P-2∼P-11을 제조했다. 얻어진 공중합 폴리에스테르 수지의 조성 및 수지 물성을 표 1∼2에 나타냈다.In the manufacture example of polyester resin P-1, the kind and compounding ratio of a monomer were changed and polyester resin P-2-P-11 were manufactured. The composition and resin physical properties of the obtained copolyester resin are shown in Tables 1-2.

Figure 112018027810270-pat00001
Figure 112018027810270-pat00001

Figure 112018027810270-pat00002
Figure 112018027810270-pat00002

BPE-20F : 비스페놀 A의 에틸렌옥사이드 부가물(산요 카세이 공업사 제조)BPE-20F: Ethylene oxide adduct of bisphenol A (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd.)

BPX-11 : 비스페놀 A의 프로필렌옥사이드 부가물(아사히 덴카사 제조)BPX-11: Propylene oxide adduct of bisphenol A (manufactured by Asahi Denka Co., Ltd.)

폴리우레탄 수지 U-1의 제조예Production Example of Polyurethane Resin U-1

교반기, 컨덴서, 온도계를 구비한 반응 용기에 폴리에스테르 수지 P-7을 1000부, 네오펜틸글리콜(NPG)을 80부, 디메틸올부탄산(DMBA)을 90부 투입한 후, 에틸디글리콜아세테이트(EDGAC) 1087부 주입하고, 85℃에서 용해시켰다. 그 후, 4,4'-디페닐메탄디이소시아네이트(MDI)를 460부 첨가하고, 85℃, 2시간 반응을 행한 후, 촉매로서 디부틸틴디라우레이트를 0.5부 첨가하고, 85℃에서 더욱 4시간 반응시켰다. 이어서, EDGAC 1940부로 용액을 희석하여, 폴리우레탄 수지 U-1의 용액을 얻었다. 얻어진 폴리우레탄 수지 용액의 고형분 농도는 35 질량%였다. 이와 같이 하여 얻은 수지 용액을 폴리프로필렌 필름 상에 적하하고, 스테인리스강제의 애플리케이터를 이용하여 연신하여, 수지 용액의 박막을 얻었다. 이것을 120℃로 조정한 열풍 건조기 내에 3시간 정치하여 용제를 휘산시키고, 계속해서 폴리프로필렌 필름으로부터 수지 박막을 박리하여, 필름형의 건조 수지 박막을 얻었다. 건조 수지 박막의 두께는 약 30 ㎛였다. 상기 건조 수지 박막을 폴리우레탄 수지 U-1의 시료 수지로 하여, 각종 수지 물성의 평가 결과를 표 3에 나타냈다.1000 parts of polyester resin P-7, 80 parts of neopentyl glycol (NPG) and 90 parts of dimethylol butanoic acid (DMBA) were added to a reaction vessel equipped with a stirrer, a condenser and a thermometer, followed by ethyl diglycol acetate (EDGAC). ) 1087 parts were injected and dissolved at 85 ° C. Thereafter, 460 parts of 4,4'-diphenylmethane diisocyanate (MDI) was added, and the reaction was carried out at 85 ° C. for 2 hours, and then 0.5 part of dibutyl tin dilaurate was added as a catalyst. The reaction was time. Subsequently, the solution was diluted with 1940 parts of EDGAC, and the solution of polyurethane resin U-1 was obtained. Solid content concentration of the obtained polyurethane resin solution was 35 mass%. The resin solution obtained in this way was dripped on the polypropylene film, and it extended | stretched using the stainless steel applicator, and obtained the thin film of the resin solution. This was left to stand in a hot air dryer adjusted to 120 ° C for 3 hours to volatilize the solvent, and then the resin thin film was peeled off from the polypropylene film to obtain a film-shaped dry resin thin film. The thickness of the dry resin thin film was about 30 micrometers. Table 3 shows the evaluation results of various resin physical properties using the dried resin thin film as sample resin of polyurethane resin U-1.

폴리우레탄 수지 U-2∼U-8의 제조예Production Example of Polyurethane Resins U-2 to U-8

폴리우레탄 수지 U-2∼U-8은, 폴리에스테르폴리올, 이소시아네이트와 반응하는 기를 갖는 화합물 및 폴리이소시아네이트를 표 3에 나타내는 것으로 대신한 것 이외에는, 폴리우레탄 수지 U-1의 제조예와 동일한 방법으로 제조했다. 폴리우레탄 수지 U-2∼U-8의 수지 물성의 평가 결과를 표 3에 나타냈다.Polyurethane resins U-2 to U-8 are the same methods as in Production Example of Polyurethane Resin U-1 except for replacing the polyester polyol, the compound having a group reacting with isocyanate, and the polyisocyanate as shown in Table 3. Manufactured. Table 3 shows the evaluation results of the resin physical properties of the polyurethane resins U-2 to U-8.

Figure 112018027810270-pat00003
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DMBA : 디메틸올부탄산 DMBA: Dimethylolbutanoic Acid

NPG : 네오펜틸글리콜 NPG: Neopentylglycol

DMH : 2-부틸-2-에틸-1,3-프로판디올 DMH: 2-butyl-2-ethyl-1,3-propanediol

MDI : 4,4'-디페닐메탄디이소시아네이트MDI: 4,4'-diphenylmethane diisocyanate

IPDI : 이소포론디이소시아네이트IPDI: isophorone diisocyanate

실시예 1 Example 1

폴리에스테르 수지 P-1을 고형분 농도가 35 질량%가 되도록 EDGAC에 용해시킨 용액 2860부(고형부 환산 1000부), 플레이크형 은가루 1을 7,888부, 레벨링제로서 교에이샤 화학(주) 제조의 MK 콩크를 71부, 분산제로서 빅케미·재팬(주) 제조의 Disperbyk130을 30부, 용제로서 EDGAC를 300부 배합하고, 칠드 3본 롤 혼련기에 3회 통과시켜 분산시켰다. 그 후, 얻어진 도전성 페이스트를 소정의 패턴으로 인쇄 후, 120℃×30분간 건조시켜, 도전성 박막을 얻었다. 본 도전성 박막을 이용하여 기본 물성을 측정하고, 계속해서, 레이저 에칭 가공의 검토를 행했다. 페이스트 및 페이스트 도포막, 레이저 에칭 가공성의 평가 결과를 표 4에 나타냈다.Kyoeisha Chemical Co., Ltd. make 2860 parts (1000 parts conversion) of the solution which melt | dissolved polyester resin P-1 in EDGAC so that solid content concentration might be 35 mass%, and flake type silver powder 1 as 7,888 parts, and a leveling agent. 30 parts of BK Chem Japan Japan Co., Ltd. make and 300 parts of EDGAC were mix | blended with 71 parts and MK beans as a dispersing agent, and it disperse | distributed by passing through three chilled roll kneaders three times. Thereafter, the obtained conductive paste was printed in a predetermined pattern, and then dried at 120 ° C for 30 minutes to obtain a conductive thin film. Basic physical properties were measured using this electroconductive thin film, and the laser etching process was then examined. Table 4 shows the evaluation results of the paste, the paste coating film, and the laser etching workability.

실시예 2∼13Examples 2 to 13

도전성 페이스트의 수지 및 배합을 바꾸어 실시예 2∼17을 실시했다. 도전성 페이스트의 배합 및 평가 결과를 표 4∼표 6에 나타냈다. 실시예에 있어서는 오븐 120℃×30분이라는 비교적 저온 또한 단시간의 가열에 의해 양호한 도포막 물성을 얻을 수 있었다. 또한 ITO 막에 대한 밀착성, 습열 환경 시험 후의 밀착성도 양호했다.Examples 2 to 17 were implemented by changing the resin and the formulation of the conductive paste. The blending and evaluation results of the conductive paste are shown in Tables 4 to 6. In the Example, favorable coating film physical properties were obtained by the comparatively low temperature and short time heating of oven 120 degreeC * 30 minutes. Moreover, the adhesiveness to the ITO membrane and the adhesiveness after a wet heat environment test were also favorable.

또, 표 4∼표 7에 있어서, 바인더 수지, 도전 분말, 첨가제 및 용제는 이하의 것을 이용했다.In addition, in Tables 4-7, the binder resin, the conductive powder, the additive, and the solvent used the following.

바인더 수지 PH-1 : InChem 제조 PKKH(페녹시 수지, 수평균 분자량 14000, Tg=71℃)Binder Resin PH-1: PKKH manufactured by InChem (Phenoxy resin, number average molecular weight 14000, Tg = 71 ° C)

은가루 1 : 플레이크형 은가루(D50 : 2 ㎛)Silver powder 1: Flake type silver powder (D50: 2 ㎛)

은가루 2 : 구형 은가루(D50 : 1 ㎛)Silver powder 2: Spherical silver powder (D50: 1 μm)

카본 블랙 : 도카이 카본(주) 제조의 #4400Carbon black: # 4400 manufactured by Tokai Carbon Co., Ltd.

케첸 블랙 : 라이온(주) 제조의 케첸 ECP600JD Ketjen Black: Ketjen ECP600JD manufactured by Lion Co., Ltd.

그래파이트 가루 : (주)츄에츠 흑연 공업소 제조의 그래파이트 BF Graphite Powder: Graphite BF manufactured by Chuets Graphite Industrial Co., Ltd.

경화제 : 아사히카세이 케미컬즈(주) 제조의 MF-K60X Hardener: MF-K60X manufactured by Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd.

경화 촉매 : 교도 약품(주) 제조의 KS1260Curing catalyst: KS1260 manufactured by Kyodo Pharmaceutical Co., Ltd.

레벨링제 : 교에이샤 화학(주) 제조의 MK 콩크Leveling agent: MK Conk, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.

분산제 1 : 빅케미·재팬(주)사 제조의 Disperbyk130Dispersant 1: Disperbyk130 manufactured by BIC Chemi Japan Co., Ltd.

분산제 2 : 빅케미·재팬(주)사 제조의 Disperbyk2155Dispersant 2: Disperbyk2155 manufactured by BIC Chemi Japan Co., Ltd.

분산제 3 : 빅케미·재팬(주)사 제조의 Disperbyk180Dispersant 3: Disperbyk180 manufactured by Big Chemi Japan Co., Ltd.

첨가제 1 : 닛폰 아에로질(주) 제조의 실리카 R972Additive 1: Silica R972 by Nippon Aerosil Co., Ltd.

첨가제 2 : 나가세 켐텍스(주) 제조의 NIR-AM1Additive 2: NIR-AM1 manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd.

첨가제 3 : 교에이샤 화학(주) 제조의 라이트아크릴레이트 PE-3A(펜타에리스리톨트리아크릴레이트) Additive 3: Light acrylate PE-3A (pentaerythritol triacrylate) by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.

EDGAC : (주)다이셀 제조의 에틸디글리콜아세테이트 EDGAC: Ethyl diglycol acetate of Daicel Co., Ltd.

BMGAC : (주)다이셀 제조의 부틸글리콜아세테이트 BMGAC: Butyl glycol acetate of Daicel Co., Ltd.

BDGAC : (주)다이셀 제조의 부틸디글리콜아세테이트 BDGAC: Butyl diglycol acetate produced by Daicel Co., Ltd.

TPOL : 닛폰 테르펜 화학(주) 제조의 타피네올TPOL: Tapineol manufactured by Nippon Terpene Chemical Co., Ltd.

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비교예 1Comparative Example 1

라우릴카르복실산은(1000 g)과 부틸아민(480 g)을 톨루엔(10 L)에 용해시켰다. 계속해서, 포름산(150 g)을 적하하고, 그대로 실온에서 1.5시간 교반했다. 대량의 메탄올을 첨가하면 은 나노입자의 응집물이 침전하기 때문에 이것을 데칸테이션했다. 데칸테이션을 3회 반복한 후, 침전물을 감압하에서 건조시켰다. 계속해서, 얻어진 침전물 1000 g(이 중 920 g 은, 카르복실산은아민 착체 80 g)을 타피네올 1860 g 중에 재분산시켜, 은 나노입자(은가루 3)를 포함한 도전성 페이스트를 얻었다. 얻어진 은가루 3은 투과형 전자 현미경 사진으로부터 입자경이 약 10 nm였다. 도전성 페이스트의 고형분 농도는 35 질량%였다. 얻어진 도전성 페이스트를 이용하여 실시예와 동일하게 도전성 적층체 테스트 피스 및 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편을 작성하고, 실시예와 동일하게 평가를 행했다. 평가 결과를 표 7에 나타냈다. 본 도전성 은페이스트 조성물은 초기 도포막 물성이 현저히 뒤떨어지고, 특히 밀착성이 부족하여, 실용에는 견디지 못하는 것이었다.Silver laurylcarboxylic acid (1000 g) and butylamine (480 g) were dissolved in toluene (10 L). Formic acid (150 g) was then added dropwise and stirred at room temperature for 1.5 hours as it was. This was decanted because the addition of large amounts of methanol precipitates aggregates of silver nanoparticles. After repeating the decantation three times, the precipitate was dried under reduced pressure. Subsequently, the obtained precipitate 1000g (of which 920g silver and carboxylic acid silver amine complex 80g) was redispersed in 1860g of tapineol, and the electrically conductive paste containing silver nanoparticles (silver powder 3) was obtained. Silver powder 3 obtained had a particle diameter of about 10 nm from a transmission electron micrograph. Solid content concentration of the electrically conductive paste was 35 mass%. Using the obtained electrically conductive paste, the electroconductive laminate test piece and the laser etching processability evaluation test piece were created like Example, and it evaluated similarly to the Example. The evaluation results are shown in Table 7. This electroconductive silver paste composition was inferior to initial stage coating film physical property especially, adhesiveness was lacking, and it was the thing which cannot endure practically.

비교예 2Comparative Example 2

타피네올에 도데실아민을 용해시켜, 고형분 농도 12 중량%의 용액으로 했다. 이 용액 1000부(고형 120 중량부)에, 은가루 4(구형 은가루(D50=1 ㎛)를 8083부, 또한 평균 입경 1.5 ㎛가 되도록 비드 밀로 분쇄한 유리 프릿((산화비스무트(Bi2O3)를 주성분으로 하는 유리 분말(산화비스무트 함유량 80.0∼99.9%)을 250부 첨가하여 혼합을 계속하고, 균일해지고 나서, 이 용액을 3본 롤밀로 분산시켜, 유리 프릿 함유 도전성 페이스트를 제작했다. 얻어진 도전성 페이스트를 이용하여 실시예와 동일하게 도전성 적층체 테스트 피스 및 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편을 작성하고, 실시예와 동일하게 평가를 행했다. 평가 결과를 표 7에 나타냈다. 본 도전성 은페이스트 조성물은 초기 도포막 물성이 현저히 뒤떨어지고, 특히 밀착성이 부족하여, 실용에는 견디지 못하는 것이었다. 또한, 레이저 에칭 가공성이 현저히 뒤떨어지고, 조사 부위보다 넓은 범위로 조사한 레이저빔의 폭보다 대폭 넓은 폭의 도포막이 박리되어 버려, 소정의 선폭을 가공할 수는 없었다. 또한, 레이저 에칭 가공 후의 세선 부분의 밀착성 및 내습열성도 부족했다.Dodecylamine was dissolved in tapineol to obtain a solution having a solid content concentration of 12% by weight. Glass frit ((bismuth oxide (Bi 2 O 3 )) pulverized with silver powder 4 (spherical silver powder (D50 = 1 μm) in a bead mill so as to have 8083 parts of an average particle diameter of 1.5 μm) in 1000 parts of this solution (120 parts by weight of solid). 250 parts of glass powder (bismuth oxide content 80.0 to 99.9%) containing as a main component was added, mixing continued, and after uniformizing, this solution was disperse | distributed with three roll mills and the glass frit containing conductive paste was produced. Using the paste, a conductive laminate test piece and a laser etching processability evaluation test piece were prepared in the same manner as in Example, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 7. The evaluation results are shown in Table 7. The present conductive silver paste composition was initially applied. The film properties were remarkably inferior, in particular, the adhesiveness was insufficient, and practically unacceptable, and the laser etching processability was remarkably inferior and wider than the irradiation site. The coating film of the width | variety wider than the width | variety of the laser beam irradiated in the silver range peeled, and the predetermined | prescribed line | wire width was not able to be processed.

Figure 112018027810270-pat00007
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산업상 이용 가능성Industrial availability

본 발명의 레이저 에칭 가공용 도전성 페이스트는, 레이저 에칭 가공 적성을 유지하면서, 습열 환경 신뢰성이 우수하고, 도전성 박막으로서의 도포막 내구성을 유지할 수 있는 도전성 박막을 제공할 수 있어, 예컨대, 휴대 전화, 노트북, 전자 서적 등에 탑재되는 터치 패널에 이용되는 도전성 페이스트로서 유용하다.The electrically conductive paste for laser etching processing of this invention can provide the electrically conductive thin film which is excellent in wet heat environment reliability, and can maintain the coating film durability as a conductive thin film, maintaining a laser etching processability, For example, a mobile telephone, a notebook, It is useful as a conductive paste used for a touch panel mounted on an electronic book or the like.

1a, 2a, 3a, 4a : 단자 1a, 2a, 3a, 4a
1b, 2b, 3b, 4b : 세선 1b, 2b, 3b, 4b
1c, 2c, 3c, 4c : 단자 1c, 2c, 3c, 4c
5 : 레이저 에칭 가공 적성 평가 시험편 상에 형성되는 패턴
1a, 2a, 3a, 4a: terminals 1a, 2a, 3a, 4a
1b, 2b, 3b, 4b: thin wires 1b, 2b, 3b, 4b
1c, 2c, 3c, 4c: Terminals 1c, 2c, 3c, 4c
5: Pattern formed on laser etching processability evaluation test piece

Claims (12)

열가소성 수지를 포함하는 바인더 수지(A), 금속 가루(B) 및 유기 용제(C)를 함유하는 도전성 페이스트로 형성된 도전성 박막을, 레이저 에칭 가공함으로써 형성된 L/S(여기서, L과 S는 평면 방향의 라인과 스페이스의 폭을 각각 의미한다)가 50/50 μm이하인 회로 배선으로서, 상기 바인더 수지(A)가, 수평균 분자량이 5,000∼60,000이며, 또한, 유리 전이 온도가 60∼100℃인 열가소성 수지이고, 상기 금속 가루(B)는 중심 직경(D50)이 4 ㎛ 이하이며, 상기 유기 용제(C)는 비점이 100℃ 이상 300℃ 미만인 것을 특징으로 하는 회로 배선.L / S formed by laser etching a conductive thin film formed of a conductive resin containing a binder resin (A) containing a thermoplastic resin, a metal powder (B), and an organic solvent (C), where L and S are planar directions The width of the line and the space of respectively) is 50/50 μm or less circuit wiring, the binder resin (A) has a number average molecular weight of 5,000 to 60,000, and a glass transition temperature of 60 to 100 ℃ Resin, The said metal powder (B) has a center diameter (D50) of 4 micrometers or less, The said organic solvent (C) has a boiling point of 100 degreeC or more and less than 300 degreeC, The circuit wiring. 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 바인더 수지(A)가, 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 에폭시 수지, 페녹시 수지, 염화비닐 수지, 섬유소 유도체 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합물인 것을 특징으로 하는 회로 배선.The said binder resin (A) is 1 type, or 2 or more types of mixtures chosen from the group which consists of a polyester resin, a polyurethane resin, an epoxy resin, a phenoxy resin, a vinyl chloride resin, and a cellulose derivative resin. Circuit wiring, characterized in that. 제1항에 있어서, 상기 바인더 수지(A)가, 산가 50∼300 당량/106 g인 폴리에스테르 수지 및 산가 50∼300 당량/106 g인 폴리우레탄 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 혼합물인 것을 특징으로 하는 회로 배선.The method of claim 1, wherein the binder resin (A), an acid value of 50 to 300 equivalents / 10 6 g of polyester resin, and an acid value of 50 to 300 equivalents / 10 6 g of polyester of one or selected from the group consisting of urethane resin Circuit wiring characterized by the mixture of 2 or more types. 제1항, 제3항 및 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 레이저광 흡수제(D)를 더 함유하는 것을 특징으로 하는 회로 배선.The circuit wiring according to any one of claims 1, 3, and 4, further comprising a laser light absorbing agent (D). 삭제delete 제1항에 기재된 회로 배선이 기재 상에 형성되어 이루어지는 도전성 적층체.The electrically conductive laminated body formed by the circuit wiring of Claim 1 formed on a base material. 제7항에 있어서, 상기 기재가 투명 도전성층을 갖는 것을 특징으로 하는 도전성 적층체.8. The conductive laminate according to claim 7, wherein the base material has a transparent conductive layer. 제7항 또는 제8항에 기재된 도전성 적층체를 이용하여 이루어지는 전기 회로.An electrical circuit comprising the conductive laminate according to claim 7 or 8. 도전성 박막의 일부에, 탄산 가스 레이저, YAG 레이저, 파이버 레이저 및 반도체 레이저로부터 선택되는 레이저광을 조사하여, 상기 도전성 박막의 일부를 제거함으로써 형성된 제1항에 기재된 회로 배선 부위를 갖는 전기 회로.The electric circuit which has a circuit wiring site | part of Claim 1 formed by irradiating the laser beam selected from a carbon dioxide gas laser, a YAG laser, a fiber laser, and a semiconductor laser to a part of conductive film, and removing a part of said conductive thin film. 삭제delete 제9항에 기재된 전기 회로를 구성 부재로서 포함하는 터치 패널.A touch panel comprising the electric circuit according to claim 9 as a constituent member.
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