JP7059240B2 - Conductive paste for laser etching, conductive thin film and conductive laminate - Google Patents
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Description
本発明は、平面方向の配置密度が高い導電性パターンを製造することができる導電性パターンの製造方法およびこの製造方法に好適に用いることのできる導電性ペーストに関する。本発明の導電性パターンは、典型的には透明タッチパネルの電極回路配線に用いることができる。 The present invention relates to a method for producing a conductive pattern capable of producing a conductive pattern having a high arrangement density in the plane direction, and a conductive paste that can be suitably used for this production method. The conductive pattern of the present invention can typically be used for electrode circuit wiring of a transparent touch panel.
近年、携帯電話や、ノートパソコン、電子書籍などに代表される透明タッチパネルを搭載する電子機器の高性能化と小型化が急激に進んでいる。これらの電子機器の高性能化と小型化には、搭載される電子部品の小型化、高性能化、集積度の向上に加え、これら電子部品相互を接合する電極回路配線の高密度化が求められている。透明タッチパネルの方式として電極回路配線の数が少ない抵抗膜方式に加え、電極回路配線の数が飛躍的に多い静電容量方式の普及が近年急速に進んでおり、このような観点から電極回路配線の高密度化が強く求められている。また、ディスプレイ画面をより大きくするために、また商品デザイン上の要求により、電極回路配線が配置される額縁部をより狭くしたいとの要求があり、このような観点からも電極回路配線の高密度化が求められている。以上のような要求を満たすために、従来以上の電極回路配線の高密度配置を行うことができる技術が求められている。 In recent years, the performance and miniaturization of electronic devices equipped with transparent touch panels such as mobile phones, notebook computers, and electronic books have been rapidly advancing. In order to improve the performance and miniaturization of these electronic devices, in addition to miniaturization, high performance, and improvement of the degree of integration of the mounted electronic components, it is required to increase the density of the electrode circuit wiring that joins these electronic components to each other. Has been done. In recent years, in addition to the resistance film method, which has a small number of electrode circuit wirings, as a transparent touch panel method, the capacitance method, which has a dramatically large number of electrode circuit wirings, has rapidly become widespread. There is a strong demand for higher density. In addition, in order to make the display screen larger and due to product design requirements, there is a demand to make the frame where the electrode circuit wiring is arranged narrower, and from this point of view, the high density of the electrode circuit wiring is also required. Is required. In order to satisfy the above requirements, there is a demand for a technique capable of arranging electrode circuit wiring at a higher density than before.
抵抗膜方式の透明タッチパネルの額縁部分の電極回路配線の配置密度は、平面方向のラインとスペースの幅が各々200μm(以下、L/S=200/200μmというように略記する)以上程度であり、これを導電性ペーストのスクリーン印刷によって形成することが従来から行われている。静電容量方式のタッチパネルでは、L/Sの要求は100/100μm程度以下となっており、さらにはL/Sが50/50μm以下を求められる場合もあり、スクリーン印刷による電極回路配線形成技術では対応困難な状況になりつつある。 The arrangement density of the electrode circuit wiring in the frame portion of the resistance film type transparent touch panel is such that the width of the line and the space in the plane direction are each 200 μm (hereinafter, abbreviated as L / S = 200/200 μm) or more. It has been conventionally performed to form this by screen printing of a conductive paste. In the capacitive touch panel, the L / S requirement is about 100/100 μm or less, and in some cases, the L / S is required to be 50/50 μm or less. The situation is becoming difficult to deal with.
スクリーン印刷に替わる電極回路配線形成技術の候補の一例として、フォトリソグラフィ法が挙げられる。フォトリソグラフィ法を用いれば、L/Sが50/50μm以下の細線を形成することも十分に可能である。しかしながらフォトリソグラフィ法にも課題がある。フォトリソグラフィ法の最も典型的な事例は感光性レジストを用いる手法であり、一般的には、銅箔層を形成した表面基板の銅箔部位に感光性レジストを塗布し、フォトマスクあるいはレーザー光の直接描画等の方法により所望のパターンを露光し、感光性レジストの現像を行ない、その後、所望のパターン以外の銅箔部位を薬品で溶解・除去することにより、銅箔の細線パターンを形成させる。このため、廃液処理による環境負荷が大きく、さらには工程が煩雑であり、生産効率の観点、コスト的観点を含め多くの課題を抱えている。 A photolithography method is an example of a candidate for an electrode circuit wiring forming technique that replaces screen printing. By using the photolithography method, it is sufficiently possible to form thin lines having an L / S of 50/50 μm or less. However, the photolithography method also has a problem. The most typical example of the photolithography method is a method using a photosensitive resist, and generally, a photosensitive resist is applied to a copper foil portion of a surface substrate on which a copper foil layer is formed, and a photomask or laser light is used. A desired pattern is exposed by a method such as direct drawing, a photosensitive resist is developed, and then a copper foil portion other than the desired pattern is dissolved and removed with a chemical to form a fine line pattern of the copper foil. For this reason, the environmental load due to the waste liquid treatment is large, the process is complicated, and there are many problems from the viewpoint of production efficiency and cost.
フォトリソグラフィ法には、感光性レジストを用いない方式もあり、例えば特許文献1、2には、導電性ペーストを用いて乾燥塗膜を形成し、これにレーザー光で直接描画を行い、レーザー光が照射された部分を基材に定着させ、未照射部分を現像除去し、所望のパターン形成する技術が開示されている。このような方法であれば、一般的なフォトリソグラフィ法に比べれば、感光性レジストを用いていない分、工程が簡略化されるが、従来から知られている感光性レジストを用いるフォトリソグラフィ法と同様に現像廃液処理の問題があり、また導電性ペーストの成分としてガラスフリットやナノサイズの銀粉を用いているので焼成工程で400℃以上の高温が必要であり多大なエネルギーが必要となるといった問題点や、用いることのできる基材が400℃以上の高温での焼成工程に耐えるものに限られるという問題点がある。さらには工程が煩雑であり、生産効率的にも不適であるといわざるを得ない。
In the photolithography method, there is also a method that does not use a photosensitive resist. For example, in
本発明の目的は、スクリーン印刷法では対応困難とされているL/Sが50/50μm以下の高密度電極回路配線を、低コストかつ低い環境負荷で製造することができる製造方法を提供することにある。また、このような製造方法に好適に用いることのできる導電性ペーストを提供することにある。 An object of the present invention is to provide a manufacturing method capable of manufacturing high-density electrode circuit wiring having an L / S of 50/50 μm or less, which is difficult to handle by a screen printing method, at low cost and with a low environmental load. It is in. Another object of the present invention is to provide a conductive paste that can be suitably used for such a production method.
本発明者らは平面方向に高密度で電極回路配線を配置する製造方法について鋭意検討した結果、バインダ樹脂と導電粉体からなる層を絶縁性基材上に形成し、その一部をレーザー光照射により絶縁性基材上から除去することにより、スクリーン印刷法では実現困難なL/Sが50/50μm以下の高密度電極回路配線を製造することができることを見出した。また、このような製造方法に適するバインダ樹脂と導電粉体からなる層を形成するのに適する導電性ペーストを見出した。すなわち、本願発明は以下の構成からなるものである。
(1) ポリウレタン樹脂、フェノキシ樹脂、塩化ビニル樹脂、繊維素誘導体樹脂からなる群から選ばれる1種又は2種以上の混合物からなるバインダ樹脂(A)、金属粉(B)および有機溶剤(C)を含有し、前記バインダ樹脂が(A)が、数平均分子量が5,000~60,000であり、なおかつ、ガラス転移温度が60~100℃である熱可塑性樹脂であり、前記有機溶剤(C)は沸点が100℃以上、300℃未満であり、レーザーエッチング加工により、平面方向のラインおよびスペースの幅がいずれも50μm以下である電極回路配線を、全面または一部に透明導電性層を有する基材の前記透明導電性層上に、形成するために用いられ、ビーム径30μmのレーザー光を用いたレーザーエッチング加工により平面方向のライン幅が25~31μmであり、平面方向のスペース幅が25~31μmである電極回路配線を形成することが可能な、レーザーエッチング加工用導電性ペースト。
(2) 更にレーザー光吸収剤(D)を含有することを特徴とする(1)に記載のレーザーエッチング加工用導電性ペースト。
(3) 前記(1)~(2)のいずれかに記載のレーザーエッチング加工用導電性ペーストから形成された導電性薄膜。
(4) 前記(3)に記載の導電性薄膜と、全面または一部に透明導電性層を有する基材とが積層されている導電性積層体。
(5) 前記(3)に記載の導電性薄膜、または、(4)に記載の導電性積層体、を用いてなる電気回路。
(6) 前記(3)に記載の導電性薄膜の一部に、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー、ファイバーレーザーおよび半導体レーザーから選ばれるレーザー光を照射して、前記導電性薄膜の一部を除去することによって形成された配線部位を有する電気回路。
(7) 前記導電性薄膜が透明導電性層上に形成されていることを特徴とする(6)に記載の電気回路。
(8) 前記(6)~(7)のいずれかに記載の電気回路を構成部材として含むタッチパネル。
As a result of diligent studies on a manufacturing method for arranging electrode circuit wiring at high density in the plane direction, the present inventors have formed a layer composed of a binder resin and a conductive powder on an insulating base material, and a part of the layer is laser light. It has been found that by removing from the insulating substrate by irradiation, it is possible to manufacture a high-density electrode circuit wiring having an L / S of 50/50 μm or less, which is difficult to realize by the screen printing method. Further, they have found a conductive paste suitable for forming a layer composed of a binder resin and a conductive powder suitable for such a production method. That is, the invention of the present application has the following configuration.
(1) Binder resin (A), metal powder (B) and organic solvent (C) consisting of one or a mixture of two or more selected from the group consisting of polyurethane resin, phenoxy resin, vinyl chloride resin and fibrous derivative resin. The binder resin (A) is a thermoplastic resin having a number average molecular weight of 5,000 to 60,000 and a glass transition temperature of 60 to 100 ° C., and the organic solvent (C) . ) Has a boiling point of 100 ° C. or higher and lower than 300 ° C., and has a transparent conductive layer on the entire surface or a part of the electrode circuit wiring having a width of both the line and the space in the plane direction of 50 μm or less by laser etching. Used for forming on the transparent conductive layer of the base material, the line width in the plane direction is 25 to 31 μm and the space width in the plane direction is 25 by laser etching processing using a laser beam having a beam diameter of 30 μm. A conductive paste for laser etching that can form electrode circuit wiring with a thickness of ~ 31 μm.
(2) The conductive paste for laser etching processing according to (1), which further contains a laser light absorber (D).
(3) A conductive thin film formed from the conductive paste for laser etching processing according to any one of (1) to (2) above.
(4) A conductive laminate in which the conductive thin film according to (3) above and a base material having a transparent conductive layer on the entire surface or a part thereof are laminated.
(5) An electric circuit using the conductive thin film according to (3) or the conductive laminate according to (4).
(6) A part of the conductive thin film according to (3) is irradiated with a laser beam selected from a carbon dioxide laser, a YAG laser, a fiber laser and a semiconductor laser to remove a part of the conductive thin film. An electric circuit having a wiring portion formed by the laser.
(7) The electric circuit according to (6), wherein the conductive thin film is formed on a transparent conductive layer.
(8) A touch panel including the electric circuit according to any one of (6) to ( 7 ) above as a constituent member.
本発明の導電性ペーストは、熱可塑性樹脂からなるバインダ樹脂(A)、金属粉(B)および有機溶剤(C)を含有する導電性ペーストであり、このような構成をとることによって、レーザーエッチング加工適性に優れ、なおかつレーザーエッチング加工後においても基材に対する初期および湿熱環境負荷後の密着性に優れる導電性薄膜を形成することができる。なおここで、レーザーエッチング加工適性に優れるとは、レーザーエッチング加工により導電性薄膜の少なくとも一部を基材から剥離させ、L/S=30/30μm程度の細線を形成させたときに、1)細線両端間の導通が確保され、2)隣接細線間の絶縁が確保され、3)細線形状が良好であること、の3条件を満たすことを指す。また、本発明の実施態様であるレーザー光吸収剤(D)を含有する導電性ペーストは、レーザー光吸収剤(D)を含有しない導電性ペーストよりもレーザー光照射による対する感度が高くなるので、レーザー走査速度の向上、レーザー出力の低減等が可能となる、との更に優れた効果をも発揮する。 The conductive paste of the present invention is a conductive paste containing a binder resin (A) made of a thermoplastic resin, a metal powder (B) and an organic solvent (C), and by adopting such a configuration, laser etching is performed. It is possible to form a conductive thin film having excellent processability and excellent adhesion to the substrate at the initial stage and after being loaded with a moist heat environment even after laser etching. Here, "excellent in laser etching processing suitability" means that at least a part of the conductive thin film is peeled off from the substrate by laser etching processing to form a fine wire having an L / S = 30/30 μm 1). It means that the three conditions of 3) that the continuity between both ends of the thin film is secured, 2) the insulation between the adjacent thin wires is secured, and 3) the shape of the thin wire is good. Further, the conductive paste containing the laser light absorber (D) according to the embodiment of the present invention is more sensitive to laser light irradiation than the conductive paste not containing the laser light absorber (D). It also exerts an even better effect of improving the laser scanning speed and reducing the laser output.
<<本発明の導電性ペーストを構成する成分>>
本発明におけるレーザーエッチング加工用導電性ペーストは、熱可塑性樹脂からなるバインダ樹脂(A)、金属粉(B)および有機溶剤(C)を必須成分として含有する。
<< Components constituting the conductive paste of the present invention >>
The conductive paste for laser etching processing in the present invention contains a binder resin (A) made of a thermoplastic resin, a metal powder (B), and an organic solvent (C) as essential components.
<バインダ樹脂(A)>
バインダ樹脂(A)の種類は熱可塑性樹脂であれば特に限定されないが、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリウレタン樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、ポリスチレン、スチレンーアクリル樹脂、スチレンーブタジエン共重合体、フェノール樹脂、ポリエチレン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、フェノール樹脂、アルキッド樹脂、スチレンーアクリル樹脂、スチレンーブタジエン共重合樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、塩化ビニル-酢酸ビニル共重合樹脂、エチレン-酢酸ビニル共重合、ポリスチレン、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂等を挙げることができ、これらの樹脂は単独で、あるいは2種以上の混合物として、使用することができる。ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、塩化ビニル樹脂、繊維素誘導体樹脂からなる群から選ばれる1種又は2種以上の混合物であることが好ましい。また、これらの樹脂の中でも、ポリエステル樹脂および/またはポリエステル成分を共重合成分として含有するポリウレタン樹脂(以下ポリエステルポリウレタン樹脂と呼ぶ場合がある)が、バインダ樹脂(A)として好ましい。
<Binder resin (A)>
The type of the binder resin (A) is not particularly limited as long as it is a thermoplastic resin, but it is not particularly limited, but it is a polyester resin, a phenoxy resin, a polyamide resin, a polyamide imide resin, a polycarbonate resin, a polyurethane resin, a phenol resin, an acrylic resin, a polystyrene, or a styrene-acrylic resin. , Styrene-butadiene copolymer, phenol resin, polyethylene resin, polycarbonate resin, phenol resin, alkyd resin, styrene-acrylic resin, styrene-butadiene copolymer resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, vinyl chloride-vinyl acetate Examples thereof include a copolymer resin, an ethylene-vinyl acetate copolymer, a polystyrene, a silicone resin, a fluororesin, and the like, and these resins can be used alone or as a mixture of two or more kinds. It is preferably one or a mixture of two or more selected from the group consisting of polyester resin, polyurethane resin, vinyl chloride resin, and fibrous derivative resin. Further, among these resins, a polyester resin and / or a polyurethane resin containing a polyester component as a copolymerization component (hereinafter, may be referred to as a polyester polyurethane resin) is preferable as the binder resin (A).
本発明におけるバインダ樹脂(A)としてポリエステル樹脂を用いることの利点の一つとして、分子設計の自由度の高さにある。ポリエステル樹脂を構成するジカルボン酸およびグリコール成分を選定し、共重合成分を自在に変化させることができ、また、分子鎖中、もしくは分子末端への官能基の付与も容易である。このため、得られるポリエステル樹脂のガラス転移温度や基材および導電性ペーストに配合される他の成分との親和性等の樹脂の特性を適宜調整することができる。 One of the advantages of using the polyester resin as the binder resin (A) in the present invention is the high degree of freedom in molecular design. The dicarboxylic acid and glycol components constituting the polyester resin can be selected and the copolymerization component can be freely changed, and it is easy to add a functional group in the molecular chain or to the end of the molecule. Therefore, the characteristics of the resin such as the glass transition temperature of the obtained polyester resin and the affinity with the base material and other components blended in the conductive paste can be appropriately adjusted.
本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いられるポリエステル樹脂の共重合成分として使用することのできるジカルボン酸の例としては、テレフタル酸、イソフタル酸、オルソフタル酸、2,6-ナフタレンジカルボン酸等の芳香族ジカルボン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジカルボン酸、アゼライン酸等の脂肪族ジカルボン酸、ダイマー酸等の炭素数12~28の二塩基酸、1,4-シクロヘキサンジカルボン酸、1,3-シクロヘキサンジカルボン酸、1,2-シクロヘキサンジカルボン酸、4-メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、3-メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、2-メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、ジカルボキシ水素添加ビスフェノールA、ジカルボキシ水素添加ビスフェノールS、ダイマー酸、水素添加ダイマー酸、水素添加ナフタレンジカルボン酸、トリシクロデカンジカルボン酸等の脂環族ジカルボン酸、ヒドロキシ安息香酸、乳酸等のヒドロキシカルボン酸を挙げることができる。また、発明の効果を損なわない範囲で、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸等の三価以上のカルボン酸、フマール酸等の不飽和ジカルボン酸、および/または、5-スルホイソフタル酸ナトリウム塩等のスルホン酸金属塩基含有ジカルボン酸を共重合成分として併用してもよい。 Examples of the dicarboxylic acid that can be used as a copolymerization component of the polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention include aromatic acids such as terephthalic acid, isophthalic acid, orthophthalic acid, and 2,6-naphthalenedicarboxylic acid. Dicarboxylic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanedicarboxylic acid, aliphatic dicarboxylic acid such as azelaic acid, dibasic acid having 12 to 28 carbon atoms such as dimer acid, 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,3-Cyclohexanedicarboxylic acid, 1,2-Cyclohexanedicarboxylic acid, 4-Methylhexahydrohydride phthalic acid, 3-methylhexahydrochloride phthalic acid, 2-methylhexahydrohydride phthalic acid, dicarboxyhydrogenated bisphenol A, Examples thereof include alicyclic dicarboxylic acids such as dicarboxyhydrogenated bisphenol S, dimer acid, hydrogenated dimer acid, hydrogenated naphthalenedicarboxylic acid and tricyclodecanedicarboxylic acid, and hydroxycarboxylic acids such as hydroxybenzoic acid and lactic acid. Further, as long as the effects of the present invention are not impaired, trivalent or higher carboxylic acids such as trimellitic anhydride and pyromellitic anhydride, unsaturated dicarboxylic acids such as fumaric acid, and / or 5-sulfoisophthalic acid sodium salts and the like. Dicarboxylic acid containing a metal sulfonate metal base may be used in combination as a copolymerization component.
本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いられるポリエステル樹脂の共重合成分として使用することのできるポリオールの例としては、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3-プロパンジオール、1,4-ブタンジオール、1,5-ペンタンジオール、ネオペンチルグリコール、1,6-ヘキサンジオール、3-メチル-1,5-ペンタンジオール、2-メチル-1,5-ペンタンジオール、2-メチル-1,3-プロパンジオール、2,2-ジエチル-1,3-プロパンジオール、2-ブチル-2-エチル-1,3-プロパンジオール、1,9-ノナンジオール、1,10-デカンジオール等の脂肪族ジオール、1,4-シクロヘキサンジメタノール、1,3-シクロヘキサンジメタノール、1,2-シクロヘキサンジメタノール、ダイマージオール等の脂環族ジオールが挙げられる。また、発明の効果を損なわない範囲でトリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、グリセリン、ペンタエリスリトール、ポリグリセリン等の三価以上のポリオールを共重合成分として併用してもよい。 Examples of polyols that can be used as a copolymerization component of the polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention include ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, and 1, , 5-Pentanediol, Neopentyl Glycol, 1,6-Hexanediol, 3-Methyl-1,5-Pentanediol, 2-Methyl-1,5-Pentanediol, 2-Methyl-1,3-Propanediol, Aliphatic diols such as 2,2-diethyl-1,3-propanediol, 2-butyl-2-ethyl-1,3-propanediol, 1,9-nonanediol, and 1,10-decanediol, 1,4 Examples thereof include alicyclic diols such as -cyclohexanedimethanol, 1,3-cyclohexanedimethanol, 1,2-cyclohexanedimethanol, and dimerdiol. Further, a trivalent or higher-valent polyol such as trimethylolethane, trimethylolpropane, glycerin, pentaerythritol, and polyglycerin may be used in combination as a copolymerization component as long as the effects of the invention are not impaired.
本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いられるポリエステル樹脂は、強度や耐熱性、耐湿性、及び耐熱衝撃性等の耐久性等の観点から、前記ポリエステル樹脂を構成する全酸成分のうち芳香族ジカルボン酸が60モル%以上共重合されていることが好ましく、より好ましくは80モル%以上、さらに好ましくは90モル%以上、特に好ましくは98モル%以上である。全酸成分が芳香族ジカルボン酸からなることは好ましい実施態様である。芳香族ジカルボン酸成分の共重合比率が低すぎると、得られるポリエステル樹脂のガラス転移温度が60℃より低くなり、得られる導電性薄膜の耐湿熱性、耐久性が低下する傾向にある。 The polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention is an aromatic dicarboxylic acid component among all acid components constituting the polyester resin from the viewpoints of strength, heat resistance, moisture resistance, durability such as heat impact resistance, and the like. The acid is preferably copolymerized in an amount of 60 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, still more preferably 90 mol% or more, and particularly preferably 98 mol% or more. It is a preferred embodiment that the total acid component consists of an aromatic dicarboxylic acid. If the copolymerization ratio of the aromatic dicarboxylic acid component is too low, the glass transition temperature of the obtained polyester resin becomes lower than 60 ° C., and the moist heat resistance and durability of the obtained conductive thin film tend to decrease.
本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いられるポリエステル樹脂は、強度や耐熱性、耐湿性、及び耐熱衝撃性等の耐久性等の観点から、前記ポリエステル樹脂を構成する全ポリオールのうち主鎖の炭素数が4以下であるグリコールが60モル%以上であることが好ましく、80モル%以上であることがより好ましく、95モル%以上であることがさらに好ましい。全ポリオール成分の内、主鎖の炭素数が4以下であるグリコールの共重合比率が低すぎると得られるポリウレタン樹脂のガラス転移温度が60℃より低くなり、得られる導電性薄膜の耐湿熱性、耐久性が低下する傾向にある。 The polyester resin used as the binder resin (A) in the present invention is the carbon of the main chain among all the polyols constituting the polyester resin from the viewpoints of strength, heat resistance, moisture resistance, durability such as heat impact resistance, and the like. The amount of glycol having a number of 4 or less is preferably 60 mol% or more, more preferably 80 mol% or more, still more preferably 95 mol% or more. If the copolymerization ratio of the glycol having 4 or less carbon atoms in the main chain among all the polyol components is too low, the glass transition temperature of the obtained polyurethane resin becomes lower than 60 ° C., and the obtained conductive thin film has moisture resistance and durability. The sex tends to decrease.
本発明におけるバインダ樹脂(A)としてポリウレタン樹脂を用いることも好ましい実施態様である。ポリエステル樹脂の場合と同様、ポリウレタン樹脂に関しても、ポリウレタン樹脂を構成する共重合成分として適切な成分を選定し、また、分子鎖中、もしくは分子末端への官能基の付与をおこなうことにより、ガラス転移温度や基材および導電性ペーストに配合される他の成分との親和性等の樹脂の特性を適宜調整することができる。 It is also a preferred embodiment to use a polyurethane resin as the binder resin (A) in the present invention. As in the case of polyester resin, for polyurethane resin, glass transition is performed by selecting an appropriate component as a copolymerization component constituting the polyurethane resin and by imparting a functional group in the molecular chain or to the end of the molecule. The characteristics of the resin such as the temperature and the affinity with the base material and other components blended in the conductive paste can be appropriately adjusted.
ポリウレタン樹脂の共重合成分に関しても特に限定はされないが、設計の自由度や耐湿熱性、耐久性の維持といった観点から、ポリエステルポリオールを共重合成分として用いるポリエステルポリウレタン樹脂であることが好ましい。前記ポリエステルポリオールの好適な例としては、前述の本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いることのできるポリエステル樹脂のうちポリオールであるものを挙げることができる。 The copolymerization component of the polyurethane resin is also not particularly limited, but a polyester polyurethane resin using a polyester polyol as a copolymerization component is preferable from the viewpoint of design freedom, moisture and heat resistance, and maintenance of durability. As a preferable example of the polyester polyol, among the polyester resins that can be used as the binder resin (A) in the above-mentioned invention, those which are polyols can be mentioned.
本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いられるポリウレタン樹脂は、例えばポリオールとポリイソシアネートの反応によって得ることができる。前記ポリウレタン樹脂の共重合成分として用いることのできるポリイソシアネートとしては、2,4-トリレンジイソシアネート、2,6-トリレンジイソシアネート、p-フェニレンジイソシアネート、4,4’-ジフェニルメタンジイソシアネート、m-フェニレンジイソシアネート、3,3’-ジメトキシ-4,4’-ビフェニレンジイソシアネート、2,6-ナフタレンジイソシアネート、3,3’-ジメチル-4,4’-ビフェニレンジイソシアネート、4,4’-ジフェニレンジイソシアネート、4,4’-ジイソシアネートジフェニルエーテル、1,5-ナフタレンジイソシアネート、m-キシレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、テトラメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、トルエンジイソシアネート等を挙げることがで、芳香族ジイソシアネート、脂肪族ジイソシアネートおよび脂環族ジイソシアネートのいずれであっても良い。また、本発明の効果を損なわない範囲で、三価以上のイソシアネート化合物を共重合成分として併用しても良い。 The polyurethane resin used as the binder resin (A) in the present invention can be obtained, for example, by reacting a polyol with a polyisocyanate. Examples of the polyisocyanide that can be used as a copolymerization component of the polyurethane resin include 2,4-toluene diisocyanate, 2,6-toluene diisocyanate, p-phenylene diisocyanate, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, and m-phenylene diisocyanate. , 3,3'-dimethoxy-4,4'-biphenylene diisocyanate, 2,6-naphthalene diisocyanate, 3,3'-dimethyl-4,4'-biphenylene diisocyanate, 4,4'-diphenylene diisocyanate, 4,4 '-Diisocyanide diphenyl ether, 1,5-naphthalenediocyanide, m-xylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, toluene diisocyanate, etc. It may be either. Further, as long as the effect of the present invention is not impaired, an isocyanate compound having a trivalent or higher valence may be used in combination as a copolymerization component.
本発明におけるバインダ樹脂(A)として用いられるポリウレタン樹脂には、イソシアネートと反応し得る官能基を有する化合物を必要に応じて共重合することができる。イソシアネートと反応し得る官能基としては、水酸基及びアミノ基が好ましく、いずれか一方を有するものでも双方を有するものであっても良い。その具体的な例としては、ジメチロールブタン酸、ジメチロールプロピオン酸、1,2-プロピレングリコール、1,2-ブチレングリコール、1,3-ブチレングリコール、2,3-ブチレングリコール、2,2-ジメチル-1,3-プロパンジオール、3-メチル-1,5-ペンタンジオール、2,2,4-トリメチル-1,3-ペンタンジオール、2-エチル-1,3-ヘキサンジオール、2,2-ジメチル-3-ヒドロキシプロピル-2’,2’-ジメチル-3’-ヒドロキシプロパネート、2-ノルマルブチル-2-エチル-1,3-プロパンジオール、3-エチル-1,5-ペンタンジオール、3-プロピル-1,5-ペンタンジオール、2,2-ジエチル-1,3-プロパンジオール、3-オクチル-1,5-ペンタンジオール、3-フェニル-1,5-ペンタンジオール、2,5-ジメチル-3-ナトリウムスルホ-2,5-ヘキサンジオール、ダイマージオール(たとえば、ユニケマ・インターナショナル社製PRIPOOL-2033)等の1分子中に2個の水酸基を有する化合物、トリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、グリセリン、ペンタエリスリトール、ポリグリセリン等の1分子中に3個以上の水酸基を有するアルコール、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン等の1分子に1個以上の水酸基とアミノ基を有するアミノアルコール、エチレンジアミン、1,6-ヘキサンジアミン、1,8-オクタンジアミン、1,9-ノナンジアミン、1,10-デカンジアミン、1,11-ウンデカンジアミン、1,12-ドデカンジアミンなどの脂肪族ジアミンやメタキシレンジアミン、4,4'-ジアミノジフェニルメタン、3,4'-ジアミノジフェニルエーテル、4,4'-ジアミノジフェニルエーテル等の芳香族ジアミンなどの1分子中に2個のアミノ基を有する化合物が挙げられる。上記の数平均分子量1,000未満の1分子に2個以上のイソシアネートと反応し得る官能基を有する化合物は単独で用いてもよいし複数を併用しても何ら問題はない。 The polyurethane resin used as the binder resin (A) in the present invention can be copolymerized with a compound having a functional group capable of reacting with isocyanate, if necessary. As the functional group capable of reacting with isocyanate, a hydroxyl group and an amino group are preferable, and those having either one or both may be used. Specific examples thereof include dimethylolbutanoic acid, dimethylolpropionic acid, 1,2-propylene glycol, 1,2-butylene glycol, 1,3-butylene glycol, 2,3-butylene glycol, and 2,2-. Dimethyl-1,3-propanediol, 3-methyl-1,5-pentanediol, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol, 2-ethyl-1,3-hexanediol, 2,2- Dimethyl-3-hydroxypropyl-2', 2'-dimethyl-3'-hydroxypropanol, 2-normalbutyl-2-ethyl-1,3-propanediol, 3-ethyl-1,5-pentanediol, 3 -Propyl-1,5-pentanediol, 2,2-diethyl-1,3-propanediol, 3-octyl-1,5-pentanediol, 3-phenyl-1,5-pentanediol, 2,5-dimethyl Compounds having two hydroxyl groups in one molecule such as -3-sodiumsulfo-2,5-hexanediol, dimerdiol (for example, PRIPOOL-2033 manufactured by Unichema International), trimethylol ethane, trimethylol propane, glycerin , Pentaerythritol, polyglycerin and other alcohols having three or more hydroxyl groups in one molecule, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine and other alcohols having one or more hydroxyl groups and amino groups in one molecule, ethylenediamine, Alibo diamines and metaxylenedamines such as 1,6-hexanediamine, 1,8-octanediamine, 1,9-nonanediamine, 1,10-decanediamine, 1,11-undecanediamine, and 1,12-dodecanediol. Examples thereof include compounds having two amino groups in one molecule such as aromatic diamines such as 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenyl ether and 4,4'-diaminodiphenyl ether. The above-mentioned compound having a functional group capable of reacting with two or more isocyanates in one molecule having a number average molecular weight of less than 1,000 may be used alone or in combination of two or more without any problem.
本発明におけるバインダ樹脂(A)の数平均分子量は特に限定はされないが、数平均分子量が5,000~60,000であることが好ましい。数平均分子量が低すぎると、形成された導電性薄膜の耐久性、耐湿熱性の面で好ましくない。一方、数平均分子量が高すぎると、樹脂の凝集力が増し、導電性薄膜としての耐久性等は向上するものの、レーザーエッチング加工適性が顕著に悪化する。 The number average molecular weight of the binder resin (A) in the present invention is not particularly limited, but the number average molecular weight is preferably 5,000 to 60,000. If the number average molecular weight is too low, it is not preferable in terms of durability and moisture heat resistance of the formed conductive thin film. On the other hand, if the number average molecular weight is too high, the cohesive force of the resin is increased and the durability as a conductive thin film is improved, but the suitability for laser etching processing is significantly deteriorated.
本発明におけるバインダ樹脂(A)のガラス転移温度は60℃以上であることが好ましく、65℃以上であることがより好ましい。ガラス転移温度が低いと、レーザーエッチング加工適性が向上する場合があるが、導電性薄膜としての湿熱環境信頼性が低下するおそれがあり、また、表面硬度の低下を誘発しタック性により製造工程及び/又は使用の際に接触相手側へのペースト含有成分の移行が生じて導電性薄膜信頼性が低下するおそれがある。一方、本発明に用いるバインダ樹脂(A)のガラス転移温度は、印刷性、密着性、溶解性、ペースト粘度、及びレーザーエッチング加工適性等を考慮すると、150℃以下が好ましく、120℃以下がより好ましく、100℃以下が更に好ましい。 The glass transition temperature of the binder resin (A) in the present invention is preferably 60 ° C. or higher, more preferably 65 ° C. or higher. If the glass transition temperature is low, the suitability for laser etching processing may be improved, but the reliability of the moist heat environment as a conductive thin film may decrease, and the surface hardness may decrease due to the tackiness of the manufacturing process. / Or, during use, the paste-containing component may be transferred to the contact side, and the reliability of the conductive thin film may be lowered. On the other hand, the glass transition temperature of the binder resin (A) used in the present invention is preferably 150 ° C. or lower, more preferably 120 ° C. or lower, in consideration of printability, adhesion, solubility, paste viscosity, suitability for laser etching processing, and the like. It is preferably 100 ° C. or lower, and more preferably 100 ° C. or lower.
本発明におけるバインダ樹脂(A)の酸価は特に限定されないが、特定の範囲の酸価を有していることで、基材に対する密着性を著しく向上させることができる場合がある。導電性薄膜のレーザーエッチング加工時において、レーザー照射部位周辺の温度が上昇し導電性薄膜と基材との密着性が低下する場合があるが、バインダ樹脂(A)として、特定範囲の酸価を有するバインダ樹脂を用いることにより、密着性の低下を抑制することができる場合がある。バインダ樹脂(A)の酸価は、50~350eq/tonであることが好ましく、100~250eq/tonであることがより好ましい。酸価が低すぎると、形成される導電性薄膜と基材との密着性が低くなる傾向がある。一方、酸価が高すぎると、形成される導電性薄膜の吸水性が高くなる上、カルボキシル基による触媒作用によりバインダ樹脂の加水分解が促進される可能性があり、導電性薄膜の信頼性の低下につながる傾向がある。 The acid value of the binder resin (A) in the present invention is not particularly limited, but having an acid value in a specific range may significantly improve the adhesion to the substrate. During the laser etching process of the conductive thin film, the temperature around the laser irradiation site may rise and the adhesion between the conductive thin film and the base material may decrease. By using the binder resin, it may be possible to suppress the decrease in adhesion. The acid value of the binder resin (A) is preferably 50 to 350 eq / ton, more preferably 100 to 250 eq / ton. If the acid value is too low, the adhesion between the formed conductive thin film and the substrate tends to be low. On the other hand, if the acid value is too high, the water absorption of the formed conductive thin film becomes high, and the hydrolysis of the binder resin may be promoted by the catalytic action of the carboxyl group, so that the reliability of the conductive thin film is high. It tends to lead to a decline.
<金属粉(B)>
本発明に用いられる金属粉(B)としては、銀粉、金粉、白金粉、パラジウム粉等の貴金属粉、銅粉、ニッケル粉、アルミ粉、真鍮粉等の卑金属粉、銀等の貴金属でめっき又は合金化した卑金属粉等を挙げることができる。これらの金属粉は、単独で用いてもよく、また、併用してもよい。これらの中でも導電性、安定性、コスト等を考慮すると銀粉単独又は銀粉を主体とするものが好ましい。
<Metal powder (B)>
The metal powder (B) used in the present invention includes precious metal powder such as silver powder, gold powder, platinum powder and palladium powder, base metal powder such as copper powder, nickel powder, aluminum powder and brass powder, and noble metal such as silver. Examples thereof include alloyed base metal powders. These metal powders may be used alone or in combination. Among these, in consideration of conductivity, stability, cost and the like, silver powder alone or mainly silver powder is preferable.
本発明に用いられる金属粉(B)の形状は特に限定されない。従来から知られている金属粉の形状の例としては、フレーク状(リン片状)、球状、樹枝状(デンドライト状)、特開平9-306240号公報に記載されている球状の1次粒子が3次元状に凝集した形状(凝集状)等があり、これらの中で、球状、凝集状およびフレーク状の金属粉を用いることが好ましい。 The shape of the metal powder (B) used in the present invention is not particularly limited. Examples of conventionally known metal powder shapes include flake-like (flint-like), spherical, dendrite-like, and spherical primary particles described in JP-A-9-306240. There are three-dimensionally aggregated shapes (aggregated) and the like, and among these, it is preferable to use spherical, aggregated and flake-shaped metal powders.
本発明に用いられる金属粉(B)の中心径(D50)は4μm以下であることが好ましい。中心径が4μm以下の金属粉(B)を用いることで、レーザーエッチング加工部位の細線形状が良好となる傾向にある。中心径が4μmより大きい金属粉を用いた場合には、レーザーエッチング加工後の細線形状が悪くなり、結果として細線同士が接触を起こし、短絡を招く可能性がある。さらには、レーザーエッチング加工で、一旦剥離・除去した導電性薄膜が再度加工部位に付着する可能性がある。金属粉(B)の中心径の下限は特に限定されないが、コスト的観点ならびに、粒径が細かくなると凝集し易く、結果として分散が困難となるため中心径は80nm以上であることが好ましい。中心径が80nmより小さくなると、金属粉の凝集力が増し、レーザーエッチング加工適正が悪化する他、コスト的観点からも好ましくない。 The center diameter (D50) of the metal powder (B) used in the present invention is preferably 4 μm or less. By using the metal powder (B) having a center diameter of 4 μm or less, the fine line shape of the laser-etched portion tends to be good. When a metal powder having a center diameter larger than 4 μm is used, the shape of the fine wires after the laser etching process deteriorates, and as a result, the fine wires may come into contact with each other, resulting in a short circuit. Furthermore, there is a possibility that the conductive thin film once peeled off and removed by laser etching processing will adhere to the processed portion again. The lower limit of the center diameter of the metal powder (B) is not particularly limited, but it is preferable that the center diameter is 80 nm or more because it is easy to aggregate when the particle size is small and it becomes difficult to disperse as a result. When the center diameter is smaller than 80 nm, the cohesive force of the metal powder increases, the laser etching processing suitability deteriorates, and it is not preferable from the viewpoint of cost.
なお、中心径(D50)とは、何らかの測定方法によって得られた累積分布曲線(体積)において、その累積値が50%となる粒径(μm)のことである。本発明においては、累積分布曲線をレーザー回折散乱式粒度分布測定装置(日機装(株)製、MICROTRAC HRA)を用い全反射モードで測定することとする。 The center diameter (D50) is a particle size (μm) at which the cumulative value is 50% in the cumulative distribution curve (volume) obtained by some measuring method. In the present invention, the cumulative distribution curve is measured in the total reflection mode using a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device (MICROTRAC HRA manufactured by Nikkiso Co., Ltd.).
金属粉(B)の含有量は、形成された導電性薄膜の導電性が良好であるという観点から、熱可塑性樹脂(A)100質量部に対して、400質量部以上が好ましく、560質量部以上がより好ましい。また、(B)成分の含有量は、基材とのとの密着性において良好であるという観点から、熱可塑性樹脂(A)100質量部に対して、1,900質量部以下が好ましく、1,230質量部以下がより好ましい。 The content of the metal powder (B) is preferably 400 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the thermoplastic resin (A), preferably 560 parts by mass, from the viewpoint of good conductivity of the formed conductive thin film. The above is more preferable. Further, the content of the component (B) is preferably 1,900 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the thermoplastic resin (A) from the viewpoint of good adhesion to the substrate. , 230 parts by mass or less is more preferable.
<有機溶剤(C)>
本発明に用いることのできる有機溶剤(C)は、とくに限定されないが、有機溶剤の揮発速度を適切な範囲に保つ観点から、沸点が100℃以上、300℃未満であることが好ましく、より好ましくは沸点が150℃以上、280℃未満である。本発明の導電性ペーストは、典型的には熱可塑性樹脂(A)、金属粉(B)、有機溶剤(C)および必要に応じてその他の成分を三本ロールミル等で分散して作製するが、その際に有機溶剤の沸点が低すぎると、分散中に溶剤が揮発し、導電性ペーストを構成する成分比が変化する懸念がある。一方で、有機溶剤の沸点が高すぎると、乾燥条件によっては溶剤が塗膜中に多量に残存する可能性があり、塗膜の信頼性低下を引き起こす懸念がある。
<Organic solvent (C)>
The organic solvent (C) that can be used in the present invention is not particularly limited, but the boiling point is preferably 100 ° C. or higher and lower than 300 ° C., more preferably, from the viewpoint of keeping the volatilization rate of the organic solvent in an appropriate range. Has a boiling point of 150 ° C. or higher and lower than 280 ° C. The conductive paste of the present invention is typically prepared by dispersing a thermoplastic resin (A), a metal powder (B), an organic solvent (C) and, if necessary, other components with a three-roll mill or the like. At that time, if the boiling point of the organic solvent is too low, the solvent may volatilize during dispersion and the component ratio constituting the conductive paste may change. On the other hand, if the boiling point of the organic solvent is too high, a large amount of the solvent may remain in the coating film depending on the drying conditions, which may cause a decrease in the reliability of the coating film.
また、本発明に用いることのできる有機溶剤(C)としては、熱可塑性樹脂(A)が可溶であり、かつ、金属粉(B)を良好に分散させることができるものが好ましい。具体例としては、エチルジグリコールアセテート(EDGAC)、ブチルグリコールアセテート(BMGAC)、ブチルジグリコールアセテート(BDGAC)、シクロヘキサノン、トルエン、イソホロン、γ-ブチロラクトン、ベンジルアルコール、エクソン化学製のソルベッソ100,150,200、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、アジピン酸、こはく酸およびグルタル酸のジメチルエステルの混合物(例えば、デュポン(株)社製DBE)、ターピオネール等が挙げられるが、これらの中で、熱可塑性樹脂(A)の配合成分の溶解性に優れ、連続印刷時の溶剤揮発性が適度でありスクリーン印刷法等による印刷に対する適性が良好であるという観点から、EDGAC、BMGAC、BDGACおよびそれらの混合溶剤が好ましい。
Further, as the organic solvent (C) that can be used in the present invention, it is preferable that the thermoplastic resin (A) is soluble and the metal powder (B) can be satisfactorily dispersed. Specific examples include ethyl diglycol acetate (EDGAC), butyl glycol acetate (BMGAC), butyl diglycol acetate (BDGAC), cyclohexanone, toluene, isophorone, γ-butyrolactone, benzyl alcohol,
有機溶剤(C)の含有量としては、ペースト全重量100重量部に対して5重量部以上、40重量部以下であることが好ましく、10重量部以上、35重量部以下であることがさらに好ましい。有機溶剤(C)の含有量が高すぎるとペースト粘度が低くなりすぎ、細線印刷の際にダレを生じやすくなる傾向にある。一方で有機溶剤(C)の含有量が低すぎると、ペーストとしての粘度が極めて高くなり、導電性薄膜を形成させる際の例えばスクリーン印刷性が顕著に低下する他、形成された導電性薄膜の膜厚が厚くなり、レーザーエッチング加工性が低下する場合がある。 The content of the organic solvent (C) is preferably 5 parts by weight or more and 40 parts by weight or less, more preferably 10 parts by weight or more and 35 parts by weight or less with respect to 100 parts by weight of the total weight of the paste. .. If the content of the organic solvent (C) is too high, the paste viscosity becomes too low, and there is a tendency that sagging is likely to occur during fine line printing. On the other hand, if the content of the organic solvent (C) is too low, the viscosity of the paste becomes extremely high, and for example, the screen printability when forming the conductive thin film is remarkably lowered, and the formed conductive thin film is formed. The film thickness may increase and the laser etching processability may decrease.
<レーザー光吸収剤(D)>
本発明の導電ペーストには、レーザー光吸収剤(D)を配合しても良い。ここでレーザー光吸収剤(D)とは、レーザー光の波長に強い吸収を有する添加剤のことであり、レーザー光吸収剤(D)自身は導電性であっても非導電性であってもよい。例えば、基本波の波長が1064nmであるYAGレーザーを光源として用いる場合には、波長1064nmに強い吸収を有する染料および/又は顔料を、レーザー光吸収剤(D)として用いることができる。レーザー光吸収剤(D)を配合するとにより、本発明の導電性薄膜はレーザー光を高効率に吸収し、発熱によるバインダ樹脂(A)の揮散や熱分解が促進され、その結果レーザーエッチング加工適性が向上する。
<Laser light absorber (D)>
The laser light absorber (D) may be blended in the conductive paste of the present invention. Here, the laser light absorber (D) is an additive having strong absorption at the wavelength of the laser light, and the laser light absorber (D) itself may be conductive or non-conductive. good. For example, when a YAG laser having a wavelength of the fundamental wave of 1064 nm is used as a light source, a dye and / or a pigment having a strong absorption at a wavelength of 1064 nm can be used as the laser light absorber (D). By blending the laser light absorber (D), the conductive thin film of the present invention absorbs the laser light with high efficiency, and the volatilization and thermal decomposition of the binder resin (A) due to heat generation are promoted, resulting in suitability for laser etching processing. Is improved.
本発明に用いることのできるレーザー光吸収剤(D)のうち、導電性を有するものの例としては、カーボンブラック、グラファイト粉などの炭素系のフィラーを挙げることができる。炭素系のフィラーの配合は、本発明の導電性薄膜導電性を高める効果もあるが、例えばカーボンブラックは1060nm近傍に吸収波長を有しているので、YAGレーザー、ファイバーレーザーなどの1064nmの波長のレーザー光を照射すれば導電性薄膜がレーザー光を高効率で吸収するのでレーザー光照射に対する感度が高まり、レーザー照射の走査速度を上げた場合および/またはレーザー光源が低出力な場合においても良好なレーザーエッチング加工適性が得られる、との効果が期待できる。前記炭素系フィラーの含有量としては金属粉(B)100重量部に対し、0.1~5重量部であることが好ましく、0.3~2重量部であることがより好ましい。炭素系フィラーの配合比率が低すぎる場合は、導電性を高める効果およびレーザー光照射に対する感度を上げる効果が小さい。一方で炭素系フィラーの配合比率が高すぎる場合は、導電性薄膜の導電性が低下する傾向にあり、更に、カーボンの空隙部位へ樹脂が吸着し、基材との密着性が低下するという問題点が生じる場合もある。 Among the laser light absorbers (D) that can be used in the present invention, examples of those having conductivity include carbon-based fillers such as carbon black and graphite powder. The formulation of a carbon-based filler also has the effect of enhancing the conductivity of the conductive thin film of the present invention. For example, since carbon black has an absorption wavelength in the vicinity of 1060 nm, it has a wavelength of 1064 nm such as a YAG laser and a fiber laser. When irradiated with laser light, the conductive thin film absorbs the laser light with high efficiency, which increases the sensitivity to laser light irradiation, which is good even when the scanning speed of laser irradiation is increased and / or when the laser light source has a low output. The effect of obtaining laser etching processing suitability can be expected. The content of the carbon-based filler is preferably 0.1 to 5 parts by weight, more preferably 0.3 to 2 parts by weight, based on 100 parts by weight of the metal powder (B). If the blending ratio of the carbon-based filler is too low, the effect of increasing the conductivity and the effect of increasing the sensitivity to laser light irradiation are small. On the other hand, if the blending ratio of the carbon-based filler is too high, the conductivity of the conductive thin film tends to decrease, and further, the resin is adsorbed to the void portion of the carbon, and the adhesion to the base material decreases. Points may occur.
本発明に用いることのできるレーザー光吸収剤(D)のうち、非導電性のものの例としては、従来公知の染料、顔料および赤外線吸収剤を挙げることができる。より具体的には、アゾ染料、金属錯塩アゾ染料、ピラゾロンアゾ染料、ナフトキノン染料、アントラキノン染料、フタロシアニン染料、カルボニウム染料、キノンイミン染料、メチン染料、シアニン染料、スクワリリウム色素、ピリリウム塩、金属チオレート錯体等の染料、顔料としては、黒色顔料、黄色顔料、オレンジ色顔料、褐色顔料、赤色顔料、紫色顔料、青色顔料、緑色顔料、蛍光顔料、金属粉顔料、その他、ポリマー結合色素が挙げられる。具体的には、不溶性アゾ顔料、アゾレーキ顔料、縮合アゾ顔料、キレートアゾ顔料、フタロシアニン系顔料、アントラキノン系顔料、ペリレンおよびペリノン系顔料、チオインジゴ系顔料、キナクリドン系顔料、ジオキサジン系顔料、イソインドリノン系顔料、キノフタロン系顔料、染付けレーキ顔料、アジン顔料、ニトロソ顔料、ニトロ顔料、天然顔料、蛍光顔料、無機顔料、が使用できる。赤外線吸収剤の例としてはジイモニウム塩タイプの赤外線吸収剤であるNIR-IM1、アミニウム塩タイプのNIR-AM1(ともにナガセケムテックス社製)を挙げることができる。これらの非導電性のレーザー光吸収剤(D)は0.01~5重量部、好ましくは0.1~2重量部含むことが好ましい。非導電性のレーザー光吸収剤(D)の配合比率が低すぎる場合は、レーザー光照射に対する感度を上げる効果が小さい。非導電性のレーザー光吸収剤(D)の配合比率が高すぎる場合は、導電性薄膜の導電性が低下するおそれがあり、またレーザー光吸収剤の色目が顕著となり、用途によっては好ましくない場合がある。 Among the laser light absorbers (D) that can be used in the present invention, examples of non-conductive ones include conventionally known dyes, pigments, and infrared absorbers. More specifically, azo dyes, metal complex salt azo dyes, pyrazolone azo dyes, naphthoquinone dyes, anthraquinone dyes, phthalocyanine dyes, carbonium dyes, quinoneimine dyes, methine dyes, cyanine dyes, squarylium dyes, pyrylium salts, metal thiolate complexes and the like. Examples of dyes and pigments include black pigments, yellow pigments, orange pigments, brown pigments, red pigments, purple pigments, blue pigments, green pigments, fluorescent pigments, metal powder pigments, and other polymer-bound pigments. Specifically, insoluble azo pigments, azolake pigments, condensed azo pigments, chelate azo pigments, phthalocyanine pigments, anthraquinone pigments, perylene and perinone pigments, thioindigo pigments, quinacridone pigments, dioxazine pigments, isoindolinone pigments. , Kinoftalone pigments, dyed lake pigments, azine pigments, nitroso pigments, nitro pigments, natural pigments, fluorescent pigments, and inorganic pigments can be used. Examples of the infrared absorber include NIR-IM1 which is a diimonium salt type infrared absorber and NIR-AM1 which is an aminium salt type (both manufactured by Nagase ChemteX Corporation). These non-conductive laser light absorbers (D) are preferably contained in an amount of 0.01 to 5 parts by weight, preferably 0.1 to 2 parts by weight. If the blending ratio of the non-conductive laser light absorber (D) is too low, the effect of increasing the sensitivity to laser light irradiation is small. If the blending ratio of the non-conductive laser light absorber (D) is too high, the conductivity of the conductive thin film may decrease, and the color of the laser light absorber becomes remarkable, which is not preferable depending on the application. There is.
本発明の導電性ペーストには、下記の無機物を添加することができる。無機物としては、炭化ケイ素、炭化ホウ素、炭化チタン、炭化ジルコニウム、炭化ハフニウム、炭化バナジウム、炭化タンタル、炭化ニオブ、炭化タングステン、炭化クロム、炭化モリブテン、炭化カルシウム、ダイヤモンドカーボンラクタム等の各種炭化物;窒化ホウ素、窒化チタン、窒化ジルコニウム等の各種窒化物、ホウ化ジルコニウム等の各種ホウ化物;酸化チタン(チタニア)、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、酸化銅、酸化アルミニウム、シリカ、コロイダルシリカ等の各種酸化物;チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ストロンチウム等の各種チタン酸化合物;二硫化モリブデン等の硫化物;フッ化マグネシウム、フッ化炭素等の各種フッ化物;ステアリン酸アルミニウム、ステアリン酸カルシウム、ステアリン酸亜鉛、ステアリン酸マグネシウム等の各種金属石鹸;その他、滑石、ベントナイト、タルク、炭酸カルシウム、ベントナイト、カオリン、ガラス繊維、雲母等を用いることができる。これらの無機物を添加することによって、印刷性や耐熱性、さらには機械的特性や長期耐久性を向上させることが可能となる場合がある。中でも、本発明の導電性ペーストにおいては、耐久性、印刷適性、特にスクリーン印刷適性を付与するという観点でシリカが好ましい。 The following inorganic substances can be added to the conductive paste of the present invention. Inorganic substances include various carbides such as silicon carbide, boron carbide, titanium carbide, zirconium carbide, hafnium carbide, vanadium carbide, tantalum carbide, niobium carbide, tungsten carbide, chromium carbide, molybdenum carbide, calcium carbonate, and diamond carbon lactam; boron nitride. , Various nitrides such as titanium nitride and zirconium nitride, various borides such as zirconium borohydride; various oxidations such as titanium oxide (titania), calcium oxide, magnesium oxide, zinc oxide, copper oxide, aluminum oxide, silica and colloidal silica. Products; Various titanium acid compounds such as calcium titanate, magnesium titanate, and strontium titanate; Sulfurized compounds such as molybdenum disulfide; Various fluorides such as magnesium fluoride and carbon fluoride; Aluminum stearate, calcium stearate, stearic acid Various metal soaps such as zinc and magnesium stearate; in addition, talc, bentonite, talc, calcium carbonate, bentonite, kaolin, glass fiber, mica and the like can be used. By adding these inorganic substances, it may be possible to improve printability, heat resistance, mechanical properties, and long-term durability. Above all, in the conductive paste of the present invention, silica is preferable from the viewpoint of imparting durability, printability, and particularly screen printability.
また、本発明の導電性ペーストには、チキソ性付与剤、消泡剤、難燃剤、粘着付与剤、加水分解防止剤、レベリング剤、可塑剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、難燃剤、顔料、染料を配合することができる。さらには樹脂分解抑制剤としてカルボジイミド、エポキシ等を適宜配合することもできる。これらは単独でもしくは併用して用いることができる。 Further, the conductive paste of the present invention includes a thixo-imparting agent, a defoaming agent, a flame retardant, a tackifier, a hydrolysis inhibitor, a leveling agent, a plasticizer, an antioxidant, an ultraviolet absorber, a flame retardant, and a pigment. , Dyes can be blended. Further, carbodiimide, epoxy and the like can be appropriately blended as a resin decomposition inhibitor. These can be used alone or in combination.
<硬化剤(E)>
本発明の導電性ペーストには、バインダ樹脂(A)と反応し得る硬化剤を、本発明の効果を損なわない程度に配合してもよい。硬化剤を配合することにより、硬化温度が高くなり、生産工程の負荷が増す可能性はあるが、塗膜乾燥時あるいはレーザーエッチング時に発生する熱による架橋で塗膜の耐湿熱性の向上が期待できる。
<Curing agent (E)>
The conductive paste of the present invention may contain a curing agent capable of reacting with the binder resin (A) to the extent that the effect of the present invention is not impaired. By blending a curing agent, the curing temperature may increase and the load on the production process may increase, but it is expected that the moisture resistance of the coating film will be improved by cross-linking due to the heat generated during the drying of the coating film or laser etching. ..
本発明のバインダ樹脂(A)に反応し得る硬化剤は、種類は限定しないが密着性、耐屈曲性、硬化性等からイソシアネート化合物が特に好ましい。さらに、これらのイソシアネート化合物として、イソシアネート基をブロック化したものを使用すると、貯蔵安定性が向上し、好ましい。イソシアネート化合物以外の硬化剤としては、メチル化メラミン、ブチル化メラミン、ベンゾグアナミン、尿素樹脂等のアミノ樹脂、酸無水物、イミダゾール類、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等の公知の化合物が挙げられる。これらの硬化剤には、その種類に応じて選択された公知の触媒あるいは促進剤を併用することもできる。硬化剤の配合量としては、本発明の効果を損なわない程度に配合されるものであり、特に制限されるものではないが、バインダ樹脂(A)100質量部に対して、0.5~50質量部が好ましく、1~30質量部がより好ましく、2~20質量部がさらに好ましい。 The curing agent capable of reacting with the binder resin (A) of the present invention is not limited in type, but an isocyanate compound is particularly preferable in terms of adhesion, bending resistance, curability and the like. Further, as these isocyanate compounds, it is preferable to use one in which an isocyanate group is blocked because the storage stability is improved. Examples of the curing agent other than the isocyanate compound include amino resins such as methylated melamine, butylated melamine, benzoguanamine and urea resin, and known compounds such as acid anhydrides, imidazoles, epoxy resins and phenol resins. A known catalyst or accelerator selected according to the type can be used in combination with these curing agents. The amount of the curing agent to be blended is such that the effect of the present invention is not impaired and is not particularly limited, but is 0.5 to 50 with respect to 100 parts by mass of the binder resin (A). By mass is preferable, 1 to 30 parts by mass is more preferable, and 2 to 20 parts by mass is further preferable.
本発明の導電性ペーストに配合することができるイソシアネート化合物の例としては、芳香族又は脂肪族のジイソシアネート、3価以上のポリイソシアネート等があり、低分子化合物、高分子化合物のいずれでもよい。例えば、テトラメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート等の脂肪族ジイソシアネート、トルエンジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、等の芳香族ジイソシアネート、水素化ジフェニルメタンジイソシアネート、水素化キシリレンジイソシアネート、ダイマー酸ジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート等の脂環族ジイソシアネート、あるいはこれらのイソシアネート化合物の3量体、及びこれらのイソシアネート化合物の過剰量と例えばエチレングリコール、プロピレングリコール、トリメチロールプロパン、グリセリン、ソルビトール、エチレンジアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン等の低分子活性水素化合物又は各種ポリエステルポリオール類、ポリエーテルポリオール類、ポリアミド類の高分子活性水素化合物等と反応させて得られる末端イソシアネート基含有化合物が挙げられる。また、イソシアネート基のブロック化剤としては、例えばフェノール、チオフェノール、メチルチオフェノール、エチルチオフェノール、クレゾール、キシレノール、レゾルシノール、ニトロフェノール、クロロフェノール等のフェノール類;アセトキシム、メチルエチルケトオキシム、シクロヘキサノンオキシム等のオキシム類;メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール等のアルコール類;エチレンクロルヒドリン、1,3-ジクロロ-2-プロパノール等のハロゲン置換アルコール類;t-ブタノール、t-ペンタノール等の第三級アルコール類;ε-カプロラクタム、δ-バレロラクタム、γ-ブチロラクタム、β-プロピロラクタム等のラクタム類が挙げられ、その他にも芳香族アミン類、イミド類、アセチルアセトン、アセト酢酸エステル、マロン酸エチルエステル等の活性メチレン化合物、メルカプタン類、イミン類、イミダゾール類、尿素類、ジアリール化合物類、重亜硫酸ソーダ等も挙げられる。このうち、硬化性よりオキシム類、イミダゾール類、アミン類が特に好ましい。 Examples of the isocyanate compound that can be blended in the conductive paste of the present invention include aromatic or aliphatic diisocyanates, trivalent or higher polyisocyanates, and may be either low molecular weight compounds or high molecular weight compounds. For example, aliphatic diisocyanates such as tetramethylene diisocyanate and hexamethylene diisocyanate, aromatic diisocyanates such as toluene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate and xylylene diisocyanate, hydride diphenylmethane diisocyanate, hydride xylylene diisocyanate, dimerate diisocyanate, isophorone diisocyanate and the like. Alicyclic diisocyanates, or trimerics of these isocyanate compounds, and excess amounts of these isocyanate compounds and, for example, ethylene glycol, propylene glycol, trimethylolpropane, glycerin, sorbitol, ethylenediamine, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine. Examples thereof include terminal isocyanate group-containing compounds obtained by reacting with low-molecular-weight active hydrogen compounds such as, various polyester polyols, polyether polyols, and high-molecular-weight active hydrogen compounds of polyamides. Examples of the isocyanate group blocking agent include phenols such as phenol, thiophenol, methylthiophenol, ethylthiophenol, cresol, xylenol, resorcinol, nitrophenol, and chlorophenol; oximes such as acetoxime, methylethylketooxime, and cyclohexanone oxime. Classes; alcohols such as methanol, ethanol, propanol and butanol; halogen-substituted alcohols such as ethylene chlorhydrin and 1,3-dichloro-2-propanol; tertiary alcohols such as t-butanol and t-pentanol. Examples include lactams such as ε-caprolactam, δ-valerolactam, γ-butyrolactam, β-propyrolactam, and other aromatic amines, imides, acetylacetones, acetoacetate esters, malonic acid ethyl esters, etc. Examples thereof include active methylene compounds, mercaptans, imines, imidazoles, ureas, diaryl compounds, sodium bisulfite and the like. Of these, oximes, imidazoles, and amines are particularly preferable because of their curability.
<<本発明の導電性ペーストに求められる物性>>
本発明の導電性ペーストの粘度は特に限定されず、塗膜の形成方法に応じて適切に調整すればよい。例えば、導電性ペーストの基材への塗布をスクリーン印刷によって行う場合には、導電性ペーストの粘度は、印刷温度において100dPa・s以上、さらに好ましくは150dPa・s以上であることが好ましい。上限は特には限定しないが、粘度が高すぎると導電性薄膜の膜厚が厚くなりすぎ、レーザーエッチング加工適性が低下する場合がある。
<< Physical characteristics required for the conductive paste of the present invention >>
The viscosity of the conductive paste of the present invention is not particularly limited and may be appropriately adjusted according to the method for forming the coating film. For example, when the conductive paste is applied to the substrate by screen printing, the viscosity of the conductive paste is preferably 100 dPa · s or more, more preferably 150 dPa · s or more at the printing temperature. The upper limit is not particularly limited, but if the viscosity is too high, the film thickness of the conductive thin film becomes too thick, and the laser etching process suitability may decrease.
本発明の導電性ペーストは、F値が60~95%であることが好ましく、より好ましくは75~95%である。F値とはペースト中に含まれる全固形分100質量部に対するフィラー質量部を示す数値であり、F値=(フィラー質量部/固形分質量部)×100で表される。ここで言うフィラー質量部とは導電性粉末の質量部、固形分質量部とは溶剤以外の成分の質量部であり、導電性粉末、バインダ樹脂、その他の硬化剤や添加剤を全て含む。F値が低すぎると良好な導電性を示す導電性薄膜が得られず、F値が高すぎると導電性薄膜と基材との密着性及び/又は導電性薄膜の表面硬度が低下する傾向にあり、印刷性の低下も避けられない。尚、ここで導電性粉末とは、金属粉(B)および非金属からなる導電性粉末の双方を指す。 The conductive paste of the present invention preferably has an F value of 60 to 95%, more preferably 75 to 95%. The F value is a numerical value indicating a filler mass part with respect to 100 parts by mass of the total solid content contained in the paste, and is represented by F value = (filler mass part / solid content mass part) × 100. The filler mass portion referred to here is a mass portion of the conductive powder, and the solid content mass portion is a mass portion of a component other than the solvent, and includes all the conductive powder, the binder resin, and other curing agents and additives. If the F value is too low, a conductive thin film showing good conductivity cannot be obtained, and if the F value is too high, the adhesion between the conductive thin film and the substrate and / or the surface hardness of the conductive thin film tends to decrease. Therefore, deterioration of printability is inevitable. Here, the conductive powder refers to both a metal powder (B) and a non-metal conductive powder.
<<本発明の導電性ペーストの製造方法>>
本発明の導電性ペーストは前述したように熱可塑性樹脂(A)、金属粉(B)、有機溶剤(C)および必要に応じてその他の成分を三本ロール等で分散して作製することができる。ここで、より具合的な作製手順の例を示す。熱可塑性樹脂(A)をまずは有機溶剤(C)に溶解する。その後、金属粉(B)ならびに、必要に応じて添加剤を添加し、ダブルプラネタリーやディゾルバー、遊星式の攪拌機等で予備分散を実施する。その後、三本ロールミルで分散して、導電性ペーストを得る。このようにして得られた導電性ペーストは必要に応じて濾過することができる。その他の分散機、例えばビーズミル、ニーダー、エクストルーダーなどを用いて分散しても何ら問題はない。
<< Method for producing conductive paste of the present invention >>
As described above, the conductive paste of the present invention can be prepared by dispersing the thermoplastic resin (A), the metal powder (B), the organic solvent (C) and, if necessary, other components with a three-roll or the like. can. Here, an example of a more specific manufacturing procedure is shown. First, the thermoplastic resin (A) is dissolved in the organic solvent (C). After that, the metal powder (B) and, if necessary, additives are added, and pre-dispersion is carried out with a double planetary, a dissolver, a planetary stirrer or the like. Then, it is dispersed with a three-roll mill to obtain a conductive paste. The conductive paste thus obtained can be filtered as needed. There is no problem in dispersing using other dispersers such as a bead mill, a kneader, and an extruder.
<<本発明の導電性薄膜、導電性積層体およびこれらの製造方法>>
本発明の導電性ペーストを基材上に塗布または印刷して塗膜を形成し、次いで塗膜に含まれる有機溶剤(C)を揮散させ塗膜を乾燥させることにより、本発明の導電性薄膜を形成することができる。導電性ペーストを基材上に塗布または印刷する方法はとくに限定されないが、スクリーン印刷法により印刷することが工程の簡便さおよび導電性ペーストを用いて電気回路を形成する業界で普及している技術である点から好ましい。また、導電性ペーストは、最終的に電気回路として必要とされる導電性薄膜部位よりも幾分広い部位に塗布または印刷することが、レーザーエッチング工程の負荷を下げ効率よく本発明の電気回路を形成するとの観点から、好ましい。
<< The conductive thin film of the present invention, the conductive laminate, and the method for producing these >>
The conductive thin film of the present invention is formed by applying or printing the conductive paste of the present invention on a substrate to form a coating film, and then volatilizing the organic solvent (C) contained in the coating film to dry the coating film. Can be formed. The method of applying or printing the conductive paste on the substrate is not particularly limited, but printing by the screen printing method is a technique widely used in the industry for forming an electric circuit using the conductive paste and the simplicity of the process. It is preferable from the viewpoint of. Further, the conductive paste can be applied or printed on a portion slightly wider than the conductive thin film portion finally required as an electric circuit to reduce the load of the laser etching process and efficiently obtain the electric circuit of the present invention. It is preferable from the viewpoint of forming.
本発明の導電性ペーストを塗布する基材としては、寸法安定性に優れた材料が好ましく用いられる。例えばポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート或いはポリカーボネート等の可撓性に優れる材料からなるフィルムを挙げることができる。また、ガラス等の無機材料も基材として使用することができる。基材の厚みはとくに限定されないが、50~350μmであることが好ましくは、100~250μmがパターン形成材料の機械的特性、形状安定性あるいは取り扱い性等から更に好ましい。 As the base material to which the conductive paste of the present invention is applied, a material having excellent dimensional stability is preferably used. For example, a film made of a material having excellent flexibility such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, or polycarbonate can be mentioned. Further, an inorganic material such as glass can also be used as a base material. The thickness of the base material is not particularly limited, but is preferably 50 to 350 μm, and more preferably 100 to 250 μm from the viewpoint of mechanical properties, shape stability, handleability, and the like of the pattern forming material.
また、本発明の導電性ペーストを塗布する基材の表面に物理的処理および/または化学的処理を行うことにより、導電性薄膜と基材との密着性を向上させることができる。物理的処理方法の例としては、サンドブラスト法、微粒子を含有した液体を噴射するウエットブラスト法、コロナ放電処理法、プラズマ処理法、紫外線あるいは真空紫外線照射処理法などを挙げることができる。また、化学的処理方法の例としては、強酸処理法、強アルカリ処理法、酸化剤処理法、カップリング剤処理法などを挙げることができる。 Further, by physically and / or chemically treating the surface of the base material to which the conductive paste of the present invention is applied, the adhesion between the conductive thin film and the base material can be improved. Examples of the physical treatment method include a sandblast method, a wet blast method for injecting a liquid containing fine particles, a corona discharge treatment method, a plasma treatment method, an ultraviolet ray or a vacuum ultraviolet irradiation treatment method, and the like. Further, as an example of the chemical treatment method, a strong acid treatment method, a strong alkali treatment method, an oxidizing agent treatment method, a coupling agent treatment method and the like can be mentioned.
また、前記基材は透明導電性層を有するものであってもよい。本発明の導電性薄膜を透明導電性層上に積層することができる。前記透明導電性層の素材は特に限定されず、例えば、酸化インジウム・スズを主成分としてなるITO膜を挙げることができる。また、透明導電性層は基材全面に形成されたものだけでなく、エッチング等により透明導電性層の一部が除去されたものを使用することもできる。 Further, the base material may have a transparent conductive layer. The conductive thin film of the present invention can be laminated on the transparent conductive layer. The material of the transparent conductive layer is not particularly limited, and examples thereof include an ITO film containing indium tin oxide as a main component. Further, as the transparent conductive layer, not only the one formed on the entire surface of the base material but also the one in which a part of the transparent conductive layer is removed by etching or the like can be used.
有機溶剤(C)を揮散させる工程は、常温下および/または加熱下で行うことが好ましい。加熱する場合、乾燥後の導電性薄膜の導電性や密着性、表面硬度が良好となることから、加熱温度は80℃以上が好ましく、100℃以上がより好ましく、110℃以上がさらに好ましい。また、下地の透明導電性層の耐熱性、及び生産工程における省エネルギーの観点から、加熱温度は150℃以下が好ましく、135℃以下がより好ましく、130℃以下がさらに好ましい。本発明の導電性ペーストに硬化剤が配合されている場合には、有機溶剤(C)を揮散させる工程を加熱下で行うと、硬化反応が進行する。 The step of volatilizing the organic solvent (C) is preferably performed at room temperature and / or under heating. In the case of heating, the heating temperature is preferably 80 ° C. or higher, more preferably 100 ° C. or higher, still more preferably 110 ° C. or higher, because the conductivity, adhesion and surface hardness of the dried conductive thin film are good. Further, from the viewpoint of heat resistance of the transparent conductive layer of the base and energy saving in the production process, the heating temperature is preferably 150 ° C. or lower, more preferably 135 ° C. or lower, still more preferably 130 ° C. or lower. When the curing agent is blended in the conductive paste of the present invention, the curing reaction proceeds when the step of volatilizing the organic solvent (C) is performed under heating.
本発明の導電性薄膜の厚さは、用いられる用途に従って適切な厚さに設定すればよい。但し、乾燥後の導電性薄膜の導電性が良好であるという観点と、レーザーエッチング加工適性が良好であるという観点から、導電性薄膜の膜厚は3μm以上、30μm以下が好ましく、より好ましくは5μm以上、20μm以下である。導電性薄膜の膜厚が薄すぎると、回路としての所望の導電性が得られない可能性がある。膜厚が厚すぎると、レーザーエッチング加工に要する照射量が過大に必要になり、基材にダメージを与える場合がある。また、膜厚のばらつきが大きいと、導電性薄膜のエッチングされやすさにばらつきが生じ、エッチング不足による線間の短絡やエッチング過剰による断線が生じやすくなる傾向にある。このため、膜厚のばらつきは小さい方がよい。 The thickness of the conductive thin film of the present invention may be set to an appropriate thickness according to the intended use. However, from the viewpoint of good conductivity of the conductive thin film after drying and good laser etching processing suitability, the film thickness of the conductive thin film is preferably 3 μm or more, 30 μm or less, and more preferably 5 μm. As mentioned above, it is 20 μm or less. If the film thickness of the conductive thin film is too thin, the desired conductivity as a circuit may not be obtained. If the film thickness is too thick, the irradiation amount required for the laser etching process becomes excessive, which may damage the substrate. Further, if the film thickness varies widely, the ease of etching of the conductive thin film varies, and short circuits between lines due to insufficient etching and disconnection due to excessive etching tend to occur easily. Therefore, it is better that the variation in film thickness is small.
<<本発明の電気回路およびその製造方法>>
本発明の電気回路は、本発明の導電性ペーストによって基材上に形成された導電性薄膜の少なくとも一部にレーザー光を照射して、前記導電性薄膜の一部を基材上から除去することによって形成された配線部位を有する電気回路である。このような電気回路の形成方法を採れば、フォトリソグラフィ法と違ってパターン形成工程をドライプロセスとすることができ、金属成分を含有する廃液も発生しないので廃液処理等が必要なく、環境に優しいプロセスであると言える。また、工程的にも単純なので、製造設備に関する投資を抑えられ、製造設備の稼動後の維持管理も容易である。なお、導電性ペーストによって基材上に導電性薄膜を形成する方法は特に限定されないが、印刷または塗装によって行うことができる。
<< The electric circuit of the present invention and its manufacturing method >>
In the electric circuit of the present invention, at least a part of the conductive thin film formed on the substrate by the conductive paste of the present invention is irradiated with laser light, and a part of the conductive thin film is removed from the substrate. It is an electric circuit having a wiring portion formed by the above. If such an electric circuit forming method is adopted, unlike the photolithography method, the pattern forming process can be a dry process, and no waste liquid containing a metal component is generated, so that waste liquid treatment is not required and it is environmentally friendly. It can be said that it is a process. In addition, since the process is simple, investment in manufacturing equipment can be suppressed, and maintenance after operation of manufacturing equipment is easy. The method of forming the conductive thin film on the substrate by the conductive paste is not particularly limited, but it can be performed by printing or painting.
レーザー光の照射方法はとくに限定されないが、近年普及が進んでいるレーザーエッチング加工装置、あるいはこれの寸法精度をさらに向上させたものを使うことができる。レーザーエッチング加工装置は、CADなどの画像処理アプリケーションソフトウェアで制作したデータをそのままレーザー加工に用いることができるので、製造パターンの切り替えが極めて容易である。このことは、従来から行われているスクリーン印刷法でのパターン形成に対する優位点の一つとしてとして挙げることができる。 The method of irradiating the laser beam is not particularly limited, but a laser etching processing device that has become widespread in recent years or a device with further improved dimensional accuracy can be used. Since the laser etching processing apparatus can use the data produced by image processing application software such as CAD as it is for laser processing, it is extremely easy to switch the manufacturing pattern. This can be mentioned as one of the advantages over the pattern formation in the conventional screen printing method.
レーザー光が照射され吸収された部位においては、レーザー光のエネルギーが熱へと変換され、温度上昇により熱分解および/または揮散が生じ、照射部位が剥離・除去される。本発明の導電性薄膜のレーザー光を照射された部位が効率よく基材から除去されるためには、本発明の導電性薄膜が照射レーザー光の波長に強い吸収を有することが好ましい。よって、レーザー種としては、本発明の導電性薄膜を構成するいずれかの成分が強い吸収を有する波長領域にエネルギーを有するレーザー種を選択することが好ましい。 In the portion where the laser beam is irradiated and absorbed, the energy of the laser beam is converted into heat, and thermal decomposition and / or volatilization occurs due to the temperature rise, and the irradiated portion is peeled off and removed. In order to efficiently remove the portion of the conductive thin film of the present invention irradiated with the laser beam from the substrate, it is preferable that the conductive thin film of the present invention has strong absorption at the wavelength of the irradiation laser beam. Therefore, as the laser type, it is preferable to select a laser type having energy in a wavelength region in which any component constituting the conductive thin film of the present invention has strong absorption.
一般的なレーザー種としては、エキシマレーザ(基本波の波長が193~308nm)、YAGレーザ(基本波の波長が1064nm)、ファイバーレーザー(基本波の波長が1060nm)、CO2レーザー(基本波の波長が10600nm)、半導体レーザーなどが挙げられ、基本的にはどのような方式、どのような波長のレーザー種を用いても何ら問題はない。導電性薄膜のいずれかの構成成分の吸収波長領域と一致し、なおかつ基材が強い吸収を有さない波長を照射することのできるレーザー種を選択することにより、レーザー光照射部位の導電性薄膜の除去を効率的に行い、なおかつ基材のダメージを避けることができる。このような観点から、照射するレーザー種としては、基本波の波長が、532~10700nmの範囲が好ましい。例えば、ポリエステルフィルム、ポリエステルフィルム上にITO層を形成した透明導電性積層体、または、ポリエステルフィルム上にITO層を形成しその一部をエッチングにより除去された積層体を基材として用いる場合には、YAGレーザーまたはファイバーレーザーを使用することが、基本波の波長に基材が吸収を有さないので基材にダメージを与えにくい点で特に好ましい。 Common laser types include excima laser (wavelength of fundamental wave is 193 to 308 nm), YAG laser (wavelength of fundamental wave is 1064 nm), fiber laser (wavelength of fundamental wave is 1060 nm), CO2 laser (wavelength of fundamental wave). 10600nm), semiconductor lasers, etc., and basically there is no problem even if a laser type of any method and wavelength is used. By selecting a laser type that matches the absorption wavelength region of any of the constituents of the conductive thin film and can irradiate a wavelength at which the substrate does not have strong absorption, the conductive thin film at the laser beam irradiation site is selected. Can be efficiently removed and damage to the base material can be avoided. From this point of view, the wavelength of the fundamental wave is preferably in the range of 532 to 10700 nm as the laser type to be irradiated. For example, when a polyester film, a transparent conductive laminate having an ITO layer formed on a polyester film, or a laminate having an ITO layer formed on a polyester film and a part thereof removed by etching is used as a base material. , YAG laser or fiber laser is particularly preferable in that the substrate does not absorb the wavelength of the fundamental wave and therefore does not easily damage the substrate.
レーザー出力、Q変調周波数は特に限定されないが、レーザー光照射部位の導電性薄膜を除去でき、かつ下地の基材が損傷しないように調節する。一般的には、レーザー出力は、0.5~100W、Q変調周波数10~400kHzの範囲で適宜調節することが好ましい。レーザー出力が低すぎると、導電性薄膜の除去が不十分となる傾向にあるが、レーザーの走査速度を低くしたり走査回数を増やしたりすることにより園そのような傾向はある程度回避できる。レーザー出力が高すぎると、照射部分からの熱の拡散によって導電性薄膜が剥離される部位がレーザービーム径よりも極端に大きくなり、線幅が細くなりすぎたり断線したりする可能性がある。 The laser output and the Q modulation frequency are not particularly limited, but are adjusted so that the conductive thin film at the laser beam irradiation site can be removed and the underlying substrate is not damaged. In general, it is preferable to appropriately adjust the laser output in the range of 0.5 to 100 W and the Q modulation frequency of 10 to 400 kHz. If the laser output is too low, the removal of the conductive thin film tends to be insufficient, but such a tendency can be avoided to some extent by reducing the scanning speed of the laser or increasing the number of scannings. If the laser output is too high, the portion where the conductive thin film is peeled off due to the diffusion of heat from the irradiated portion becomes extremely larger than the laser beam diameter, and the line width may become too narrow or the wire may be broken.
レーザー光の走査速度は、タクトタイムの減少による生産効率向上の観点からは高いほどよく、具体的には、1000mm/s以上が好ましく、1500mm/s以上がより好ましく、さらに好ましくは2000mm/s以上である。走査速度が遅すぎると、生産効率が低下するのみならず、導電性薄膜および基材が熱履歴によりダメージを受けるおそれがある。加工速度の上限は特には定めないが、走査速度が高すぎると、レーザー光照射部位の導電性薄膜の除去が不完全となり回路が短絡する可能性がある。また、走査速度が速すぎると、形成するパターンのコーナー部位において、直線部位と比較して走査速度を減速させることが避けられなくなるため、コーナー部位の熱履歴が直線部位にくらべて高くなり、コーナー部位のレーザーエッチング加工部位周辺の導電性薄膜の物性が顕著に低下するおそれがある。 The higher the scanning speed of the laser beam is, the better from the viewpoint of improving the production efficiency by reducing the tact time. Specifically, 1000 mm / s or more is preferable, 1500 mm / s or more is more preferable, and 2000 mm / s or more is more preferable. Is. If the scanning speed is too slow, not only the production efficiency is lowered, but also the conductive thin film and the substrate may be damaged by the thermal history. The upper limit of the processing speed is not particularly set, but if the scanning speed is too high, the removal of the conductive thin film at the laser beam irradiation site may be incomplete and the circuit may be short-circuited. Further, if the scanning speed is too fast, it is unavoidable to reduce the scanning speed at the corner portion of the formed pattern as compared with the straight portion, so that the thermal history of the corner portion becomes higher than that of the straight portion, and the corner Laser etching of the part The physical properties of the conductive thin film around the part may be significantly deteriorated.
レーザー光の走査は、レーザー光の発射体を動かす、レーザー光を照射される被照射体を動かす、あるいは双方を組み合わせる、のいずれでも良く、例えばXYステージを用いることにより実現できる。また、ガルバノミラー等を用いてレーザー光の照射方向を変更することによりレーザー光を走査することもできる。 The scanning of the laser beam may be performed by moving the projectile of the laser beam, moving the irradiated object irradiated with the laser beam, or a combination of both, and can be realized by using, for example, an XY stage. It is also possible to scan the laser beam by changing the irradiation direction of the laser beam using a galvano mirror or the like.
レーザー光の照射に際して、集光レンズ(アクロマティックレンズ等)を使用することにより、単位面積あたりのエネルギー密度を高めることができる。この方法の利点としては、マスクを使用する場合と比較して、単位面積当たりのエネルギー密度を大きくすることができるため、小さな出力のレーザー発振器であっても高い走査速度でレーザーエッチング加工を行うことが可能になる点が挙げられる。集光したレーザー光を導電性薄膜へ照射する場合、焦点距離を調節する必要がある。焦点距離の調節は、特に基材に塗布されている膜厚によって調節する必要があるが、基材に損傷を与えず、かつ所定の導電性薄膜パターンを剥離・除去できるように調節することが好ましい。 By using a condenser lens (achromatic lens or the like) when irradiating the laser beam, the energy density per unit area can be increased. The advantage of this method is that the energy density per unit area can be increased compared to the case of using a mask, so even a laser oscillator with a small output can perform laser etching at a high scanning speed. Is possible. When irradiating a conductive thin film with focused laser light, it is necessary to adjust the focal length. The focal length needs to be adjusted especially by the film thickness applied to the substrate, but it can be adjusted so as not to damage the substrate and to peel off / remove a predetermined conductive thin film pattern. preferable.
レーザー光の走査を複数回同一パターンで繰り返し行うことは、好ましい実施態様のひとつである。1回目の走査において除去不完全な導電性薄膜部位があった場合、もしくは除去した導電性薄膜を構成する成分が再度基材に付着した場合であっても、複数回の走査でレーザー光照射部位の導電性薄膜を完全に除去することが可能となる。走査回数の上限は特には限定されないが、加工部位周辺が熱履歴を複数回受けることで、ダメージを受け、変色したり、塗膜物性が低下する可能性があるため、注意が必要となる。また、生産効率の点からは、走査回数は少ないほど良いのは当然である。 It is one of the preferred embodiments that the scanning of the laser beam is repeated a plurality of times in the same pattern. Even if there is a conductive thin film part that is incompletely removed in the first scan, or if the components that make up the removed conductive thin film adhere to the substrate again, the laser light irradiation part is detected in multiple scans. It is possible to completely remove the conductive thin film of. The upper limit of the number of scans is not particularly limited, but care must be taken because the area around the processed portion may be damaged, discolored, or the physical characteristics of the coating film deteriorate due to the heat history received multiple times. Further, from the viewpoint of production efficiency, it is natural that the smaller the number of scans is, the better.
レーザー光の走査を複数回同一パターンで繰り返し行なわないことも、好ましい実施態様のひとつである。得られる導電性薄膜、導電性積層体および電気回路の特性に悪影響を及ぼさない限り、走査回数は少ないほど生産効率的に優れることは当然である。 It is also one of the preferred embodiments that the scanning of the laser beam is not repeated a plurality of times in the same pattern. As long as the characteristics of the obtained conductive thin film, conductive laminate and electric circuit are not adversely affected, it is natural that the smaller the number of scans is, the better the production efficiency is.
本発明の導電性薄膜は、高価な導電性粉体を高濃度で含有しているので、製造される電気回路製造に要するトータルコストを考えると、基材から除去される導電性薄膜に含まれる導電性粉体を回収し再利用することが重要である。レーザー光照射部位近傍に高性能な集塵機を備え付け、導電性粉体を効率よく回収するシステムを構築することで、十分に採算性のある加工法とすることができる。 Since the conductive thin film of the present invention contains an expensive conductive powder in a high concentration, it is included in the conductive thin film removed from the base material in consideration of the total cost required for manufacturing the electric circuit to be manufactured. It is important to collect and reuse the conductive powder. By installing a high-performance dust collector near the laser beam irradiation site and constructing a system that efficiently recovers the conductive powder, it is possible to make the processing method sufficiently profitable.
<<本発明のタッチパネル>>
本発明の導電性薄膜、導電性積層体および/または電気回路はタッチパネルの構成部材としてを用いることができる。前記タッチパネルは、抵抗膜方式であっても静電容量方式であってもよい。いずれのタッチパネルにも適用が可能であるが、本ペーストは、細線形成に好適であるため、静電容量方式のタッチパネルの電極配線用に特に好適に用いることができる。尚、前記タッチパネルを構成する基材としては、ITO膜等の透明導電性層を有している基材、もしくはそれらがエッチングによって一部除去された基材を用いることが好ましい。
<< Touch panel of the present invention >>
The conductive thin film, the conductive laminate and / or the electric circuit of the present invention can be used as a component of a touch panel. The touch panel may be of a resistance film type or a capacitance type. Although it can be applied to any touch panel, since this paste is suitable for forming fine wires, it can be particularly preferably used for electrode wiring of a capacitive touch panel. As the base material constituting the touch panel, it is preferable to use a base material having a transparent conductive layer such as an ITO film, or a base material having some of them removed by etching.
本発明をさらに詳細に説明するために以下に実施例、比較例を挙げるが、本発明は実施例によってなんら限定されるものではない。尚、実施例、比較例に記載された各測定値は次の方法によって測定したものである。 Examples and comparative examples are given below to explain the present invention in more detail, but the present invention is not limited to the examples. The measured values described in Examples and Comparative Examples were measured by the following methods.
1.数平均分子量
試料樹脂を、樹脂濃度が0.5重量%程度となるようにテトラヒドロフランに溶解し、孔径0.5μmのポリ四フッ化エチレン製メンブランフィルターで濾過し、GPC測定試料とした。テトラヒドロフランを移動相とし、島津製作所社製のゲル浸透クロマトグラフ(GPC)Prominenceを用い、示差屈折計(RI計)を検出器として、カラム温度30℃、流量1ml/分にて樹脂試料のGPC測定を行なった。尚、数平均分子量は標準ポリスチレン換算値とし、分子量1000未満に相当する部分を省いて算出した。GPCカラムは昭和電工(株)製のshodex KF-802、804L、806Lを用いた。
1. 1. The sample resin having a number average molecular weight was dissolved in tetrahydrofuran so that the resin concentration was about 0.5% by weight, and filtered through a membrane filter made of polytetrafluoride ethylene having a pore size of 0.5 μm to prepare a GPC measurement sample. GPC measurement of a resin sample at a column temperature of 30 ° C. and a flow rate of 1 ml / min using a gel permeation chromatograph (GPC) Prominence manufactured by Shimadzu Corporation as a mobile phase and a differential refractometer (RI meter) as a detector. Was done. The number average molecular weight was calculated by using a standard polystyrene conversion value and omitting a portion corresponding to a molecular weight of less than 1000. As the GPC column, shodex KF-802, 804L, 806L manufactured by Showa Denko KK was used.
2.ガラス転移温度(Tg)
試料樹脂5mgをアルミニウム製サンプルパンに入れて密封し、セイコーインスツルメンツ(株)製の示差走査熱量分析計(DSC)DSC-220を用いて、200℃まで、昇温速度20℃/分にて測定し、ガラス転移温度以下のベースラインの延長線と遷移部における最大傾斜を示す接線との交点の温度で求めた。
2. 2. Glass transition temperature (Tg)
5 mg of the sample resin was placed in an aluminum sample pan, sealed, and measured using a differential scanning calorimetry (DSC) DSC-220 manufactured by Seiko Instruments Co., Ltd. at a heating rate of 20 ° C / min up to 200 ° C. Then, it was determined by the temperature of the intersection of the extension line of the baseline below the glass transition temperature and the tangent line showing the maximum inclination at the transition part.
3.酸価
試料樹脂0.2gを精秤し20mlのクロロホルムに溶解した。ついで、指示薬にフェノールフタレイン溶液を用い、0.01Nの水酸化カリウム(エタノール溶液)で滴定を行った。酸価の単位はeq/ton、すなわち試料1トン当たりの当量とした。
3. 3. Acid value 0.2 g of the sample resin was precisely weighed and dissolved in 20 ml of chloroform. Then, a phenolphthalein solution was used as an indicator, and titration was performed with 0.01 N potassium hydroxide (ethanol solution). The unit of acid value was eq / ton, that is, equivalent per ton of sample.
4.樹脂組成
クロロホルム-dに試料樹脂を溶解し、VARIAN製400MHz-NMR装置を用い、1H-NMR分析により樹脂組成を求めた。
4. Resin composition The sample resin was dissolved in chloroform-d, and the resin composition was determined by 1 H-NMR analysis using a 400 MHz-NMR device manufactured by VARIAN.
5.ペースト粘度
粘度の測定はサンプル温度25℃において、BH型粘度計(東機産業社製,)を用い、20rpmにおいて測定を実施した。
5. Paste Viscosity The viscosity was measured at a sample temperature of 25 ° C. using a BH type viscometer (manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.) at 20 rpm.
6.導電性ペーストの貯蔵安定性
導電性ペーストをポリ容器に入れ、密栓したものを40℃で1ヶ月貯蔵した。貯蔵後に粘度測定及び上記5.導電性積層体テストピースにより作製したテストピースの評価を行った。
○:著しい粘度変化はなく、初期の比抵抗、鉛筆硬度および密着性を維持している。
×:著しい粘度上昇(初期粘度の2倍以上)または著しい粘度低下(初期粘度の1/2以下)、および/または、比抵抗、鉛筆硬度および/または密着性の低下、のいずれかが認められる。
6. Storage stability of the conductive paste The conductive paste was placed in a plastic container and sealed at 40 ° C. for 1 month. Viscosity measurement after storage and 5. above. The test piece manufactured by the conductive laminated body test piece was evaluated.
◯: There is no significant change in viscosity, and the initial resistivity, pencil hardness and adhesion are maintained.
X: Either a significant increase in viscosity (more than twice the initial viscosity) or a significant decrease in viscosity (less than 1/2 of the initial viscosity) and / or a decrease in resistivity, pencil hardness and / or adhesion is observed. ..
7.導電性積層体テストピースの作成
厚み100μmのアニール処理をしたPETフィルム(東レ社製ルミラーS)およびITO膜(尾池工業(株)製、KH300)のそれぞれに、200メッシュのポリエステルスクリーンを用いてスクリーン印刷法により導電性ペーストを印刷し、幅25mm、長さ450mmのべた塗りパターンを形成し、次いで熱風循環式乾燥炉にて120℃で30分加熱したものを導電性積層体テストピースとした。なお、乾燥膜厚が6~10μmになるように印刷時の塗布厚を調整した。
7. Preparation of Conductive Laminated Test Piece A 200-mesh polyester screen was used for each of the 100 μm-thick annealed PET film (Toray Industries, Inc. Lumirror S) and ITO film (Oike Kogyo Co., Ltd., KH300). A conductive paste was printed by a screen printing method to form a solid coating pattern with a width of 25 mm and a length of 450 mm, and then heated at 120 ° C. for 30 minutes in a hot air circulation type drying furnace to obtain a conductive laminate test piece. .. The coating thickness at the time of printing was adjusted so that the dry film thickness was 6 to 10 μm.
8.密着性
前記導電性積層体テストピースを用いてJIS K-5400-5-6:1990に従って、セロテープ(登録商標)(ニチバン(株)製)を用い、剥離試験により評価した。但し、格子パターンの各方向のカット数は11個、カット間隔は1mmとした。100/100は剥離がなく密着性が良好なことを示し、0/100は全て剥離してしまったことを表す。
8. Adhesion The conductive laminate test piece was evaluated by a peeling test using cellophane tape (registered trademark) (manufactured by Nichiban Co., Ltd.) according to JIS K-5400-5-6: 1990. However, the number of cuts in each direction of the grid pattern was 11, and the cut interval was 1 mm. 100/100 indicates that there is no peeling and the adhesion is good, and 0/100 indicates that all have peeled off.
9.比抵抗
前記導電性積層体テストピースのシート抵抗と膜厚を測定し、比抵抗を算出した。膜厚はゲージスタンドST-022(小野測器社製)を用い、PETフィルムの厚みをゼロ点として硬化塗膜の厚みを5点測定し、その平均値を用いた。シート抵抗はMILLIOHMMETER4338B(HEWLETT PACKARD社製)を用いてテストピース4枚について測定し、その平均値を用いた。尚、本ミリオームメーターで検出できる範囲は1×10-2以下(Ω・cm)であり、1×10-2(Ω・cm)以上の比抵抗は測定限界外となる。
9. Specific resistance The sheet resistance and film thickness of the conductive laminate test piece were measured, and the specific resistance was calculated. As the film thickness, a gauge stand ST-022 (manufactured by Ono Sokki Co., Ltd.) was used, the thickness of the cured coating film was measured at 5 points with the thickness of the PET film as the zero point, and the average value was used. The sheet resistance was measured for four test pieces using MILLIOHMMETER4338B (manufactured by Hewlett-Packard), and the average value thereof was used. The range that can be detected by this milliohm meter is 1 × 10 −2 (Ω · cm) or less, and the specific resistance of 1 × 10 −2 (Ω · cm) or more is out of the measurement limit.
10.鉛筆硬度
導電性積層体テストピースを厚さ2mmのSUS304板上に置き、JIS K 5600-5-4:1999に従って鉛筆硬度を測定した。
10. Pencil hardness A conductive laminate test piece was placed on a SUS304 plate having a thickness of 2 mm, and the pencil hardness was measured according to JIS K 5600-5-4: 1999.
11.耐湿熱性試験:
導電性積層体テストピースを、80℃で300時間加熱し、次いで85℃、85%RH(相対湿度)で300時間加熱し、その後24時間常温で放置した後、各種評価を行った。
11. Moisture resistance test:
The conductive laminate test piece was heated at 80 ° C. for 300 hours, then heated at 85 ° C. and 85% RH (relative humidity) for 300 hours, and then left at room temperature for 24 hours, and then various evaluations were performed.
12.レーザーエッチング加工適性の評価
スクリーン印刷法により、ポリエステル基材(東レ社製ルミラーS(厚み100μm))上に、導電性ペーストを2.5×10cmの長方形に印刷塗布した。スクリーン版としてT400ステンレスメッシュ(乳剤厚10μm、線径23μm(東京プロセスサービス社製))を用い、スキージ速度150mm/sで印刷した。印刷塗布後、熱風循環式乾燥炉にて120℃で30分間の乾燥を行って導電性薄膜を得た。尚、膜厚は5~12μmとなるようにペーストを希釈調整した。次いで、上記方法にて作成した導電性薄膜にレーザーエッチング加工を行い、図1に示す長さ50mmの4本の直線部分を有するパターンを作製し、レーザーエッチング加工適性評価試験片とした。上記直線部分の線間のレーザーエッチング加工は、ビーム径30μmのレーザー光を60μmピッチで各2回走査することによって行った。レーザー光源にはファイバーレーザーを用い、Q変調周波数200kHz、出力10W、走査速度2700mm/sとした。
12. Evaluation of Laser Etching Appropriateness A conductive paste was printed and applied to a 2.5 × 10 cm rectangle on a polyester substrate (Toray Industries, Inc. Lumirror S (
評価項目、測定条件は以下の通りである。 The evaluation items and measurement conditions are as follows.
(レーザーエッチング加工幅評価)
前記レーザーエッチング加工適性評価試験片において、導電性薄膜が除去された部位の線幅を測定した。測定は、レーザー顕微鏡(キーエンスVHX-1000)を用いて行い、下記の評価判断基準で判定した。
○;導電性薄膜が除去された部位のライン幅が28~32μm
△;導電性薄膜が除去された部位のライン幅が24~27μmもしくは33~36μm
×;導電性薄膜が除去された部位のライン幅が23μm以下、もしくは37μm以上
(Laser etching width evaluation)
In the laser etching processing aptitude evaluation test piece, the line width of the portion where the conductive thin film was removed was measured. The measurement was performed using a laser microscope (KEYENCE VHX-1000), and the judgment was made according to the following evaluation criteria.
◯; The line width of the part where the conductive thin film was removed is 28 to 32 μm.
Δ; The line width of the portion where the conductive thin film was removed is 24-27 μm or 33-36 μm.
X; The line width of the part where the conductive thin film was removed is 23 μm or less, or 37 μm or more.
(レーザーエッチング加工適性評価(1)細線両端間導通性)
前記レーザーエッチング加工適性評価試験片において、細線1b、2b、3b、4bの両端の間の導通が確保されているかにより評価した。具体的には、端子1a-端子1c間、端子2a-端子2c間、端子3a-端子3c間、端子4a-端子4c間、のそれぞれについてテスターを当てて導通の有無を確認し、下記評価基準で判定した。
○;4本の細線の全てについて細線の両端間に導通がある
△;4本の細線のうち、1~3本について細線の両端間に導通がない
×;4本の細線の全てについて細線の両端間に導通がない
(レーザーエッチング加工適性評価(2)隣接細線間絶縁性)
前記レーザーエッチング加工適性評価試験片において、隣接する細線の間の絶縁が確保されているかにより評価した。具体的には、端子1a-端子2a間、端子2a-端子3a間、端子3a-端子4a間、のそれぞれについてテスターを当てて導通の有無を確認し、下記評価基準で判定した。
○;すべての隣接細線間が絶縁されている
△;一部の隣接細線間が絶縁されている
×;すべての隣接細線間が絶縁されていない
(Laser etching aptitude evaluation (1) Conductivity between both ends of thin wire)
In the laser etching processing aptitude evaluation test piece, evaluation was made based on whether conduction between both ends of the
○; There is continuity between both ends of the thin wire for all four thin wires Δ; There is no continuity between both ends of the thin wire for 1 to 3 of the four thin wires ×; There is no continuity between both ends (laser etching aptitude evaluation (2) insulation between adjacent fine wires)
In the laser etching process aptitude evaluation test piece, it was evaluated based on whether the insulation between the adjacent thin wires was secured. Specifically, the presence or absence of continuity was confirmed by applying a tester to each of the
○; All adjacent thin wires are insulated △; Some adjacent thin wires are insulated ×; All adjacent thin wires are not insulated
(導電性薄膜が除去された部位の残渣の評価)
前記レーザーエッチング加工適性評価試験片において、導電性薄膜が除去された部位をレーザー顕微鏡で観察し、残渣の付着有無を下記評価基準により判定した。
○:導電性薄膜が除去された部位に残渣がない。
△:導電性薄膜が除去された部位に残渣が多少ある。
×:導電性薄膜が除去された部位に残渣が多く見られる。
(Evaluation of the residue at the site where the conductive thin film was removed)
In the laser etching process aptitude evaluation test piece, the portion from which the conductive thin film was removed was observed with a laser microscope, and the presence or absence of residue adhesion was determined according to the following evaluation criteria.
◯: There is no residue at the site where the conductive thin film was removed.
Δ: There is some residue in the portion where the conductive thin film is removed.
X: A large amount of residue is observed at the site where the conductive thin film has been removed.
(レーザーエッチング後の導電性薄膜と基材との密着性の評価)
前記レーザーエッチング加工適性評価試験片における導電性薄膜が除去された部位に挟まれている導電性薄膜が残存している部位の、基材に対する密着性を、セロテープ(登録商標)(ニチバン(株)製)を用いたテープ剥離テストにより、評価した。この評価は、試験片作成の24時間後直後(初期)とその後さらに85℃、85%RH(相対湿度)の湿熱環境下に120時間静置しさらに24時間常温で静置した後(耐湿熱試験後)に行った。
○:剥離がない。 △:一部剥離する。×:全て剥離する。
(Evaluation of adhesion between conductive thin film and base material after laser etching)
Cellotape (registered trademark) (Nichiban Co., Ltd.) determines the adhesion of the part where the conductive thin film remains, which is sandwiched between the parts where the conductive thin film is removed in the laser etching aptitude evaluation test piece, to the substrate. It was evaluated by a tape peeling test using (manufactured by). This evaluation was carried out immediately after 24 hours after the preparation of the test piece (initial stage), and after that, it was allowed to stand in a moist heat environment at 85 ° C. and 85% RH (relative humidity) for 120 hours, and then left at room temperature for another 24 hours (moisture resistant heat resistance). After the test).
◯: There is no peeling. Δ: Partially peeled off. X: All peel off.
樹脂の製造例
ポリエステル樹脂P-1の製造例
攪拌機、コンデンサー、及び温度計を具備した反応容器にテレフタル酸700部、イソフタル酸700部、無水トリメリット酸16.9部、エチレングリコール983部、2-メチル-1,3-プロパンジオール154部を仕込み、窒素雰囲気2気圧加圧下、160℃から230℃まで3時間かけて昇温し、エステル化反応を行った。放圧後、テトラブチルチタネート0.92部を仕込み、次いで系内を徐々に減圧していき、20分かけて5mmHgまで減圧し、さらに0.3mmHg以下の真空下、260℃にて40分間重縮合反応を行った。次いで、窒素気流下、220℃まで冷却し、無水トリメリット酸を50.6部投入し、30分間反応を行いポリエステル樹脂を得た。得られた共重合ポリエステル樹脂P-1の組成及び物性を表1に示した。
Example of resin production Example of production of polyester resin P-1 In a reaction vessel equipped with a stirrer, condenser, and thermometer, 700 parts of terephthalic acid, 700 parts of isophthalic acid, 16.9 parts of trimellitic anhydride, 983 parts of ethylene glycol, 2 154 parts of -methyl-1,3-propanediol was charged, and the temperature was raised from 160 ° C. to 230 ° C. over 3 hours under a pressure of 2 atm in a nitrogen atmosphere to carry out an esterification reaction. After the pressure is released, 0.92 parts of tetrabutyl titanate is charged, then the pressure inside the system is gradually reduced, the pressure is reduced to 5 mmHg over 20 minutes, and the weight is further reduced to 5 mmHg under a vacuum of 0.3 mmHg or less at 260 ° C. for 40 minutes. A condensation reaction was carried out. Next, the mixture was cooled to 220 ° C. under a nitrogen stream, 50.6 parts of trimellitic anhydride was added, and the reaction was carried out for 30 minutes to obtain a polyester resin. The composition and physical properties of the obtained copolymerized polyester resin P-1 are shown in Table 1.
ポリエステル樹脂P-2~P-11の製造例
ポリエステル樹脂P-1の製造例においてモノマーの種類と配合比率を変更し、ポリエステル樹脂P-2~P-11を製造した。得られた共重合ポリエステル樹脂の組成及び樹脂物性を表1~2に示した。
Production Examples of Polyester Resins P-2 to P-11 In the production examples of polyester resin P-1, the types and blending ratios of the monomers were changed to produce polyester resins P-2 to P-11. The composition and physical characteristics of the obtained copolymerized polyester resin are shown in Tables 1 and 2.
BPE-20F:ビスフェノールAのエチレンオキサイド付加物(三洋化成工業社製)
BPX-11 :ビスフェノールAのプロピレンオキサイド付加物(旭電化社製)
BPE-20F: Ethylene oxide adduct of bisphenol A (manufactured by Sanyo Chemical Industries, Ltd.)
BPX-11: Propylene oxide adduct of bisphenol A (manufactured by Asahi Denka Co., Ltd.)
ポリウレタン樹脂U-1の製造例
攪拌機、コンデンサー、温度計を具備した反応容器にポリエステル樹脂P-7を1000部、ネオペンチルグリコール(NPG)を80部、ジメチロールブタン酸(DMBA)を90部投入した後、エチルジグリコールアセテート(EDGAC)1087部仕込み、85℃において溶解した。その後、4,4’-ジフェニルメタンジイソシアネート(MDI)を460部加え、85℃、2時間反応を行った後、触媒としてジブチルチンジラウレートを0.5部添加し、85℃でさらに4時間反応させた。ついで、EDGAC1940部で溶液を希釈し、ポリウレタン樹脂U-1の溶液を得た。得られたポリウレタン樹脂溶液の固形分濃度は35質量%であった。このようにして得た樹脂溶液をポリプロピレンフィルム上に滴下し、ステンレス鋼製のアプリケーターを用いて延展し、樹脂溶液の薄膜を得た。これを120℃に調整した熱風乾燥機内に3時間静置して溶剤を揮散させ、次いでポリプロピレンフィルムから樹脂薄膜を剥がし、フィルム状の乾燥樹脂薄膜を得た。乾燥樹脂薄膜の厚みは約30μmであった。左記乾燥樹脂薄膜をポリウレタン樹脂U-1の試料樹脂として、各種樹脂物性の評価結果を表3に示した。
Production example of polyurethane resin U-1 1000 parts of polyester resin P-7, 80 parts of neopentyl glycol (NPG), and 90 parts of dimethylolbutanoic acid (DMBA) are put into a reaction vessel equipped with a stirrer, condenser, and thermometer. After that, 1087 parts of ethyl diglycol acetate (EDGAC) was charged and dissolved at 85 ° C. Then, 460 parts of 4,4'-diphenylmethane diisocyanate (MDI) was added, and the reaction was carried out at 85 ° C. for 2 hours. Then, 0.5 part of dibutyltin dilaurate was added as a catalyst, and the reaction was carried out at 85 ° C. for another 4 hours. .. Then, the solution was diluted with 1940 parts of EDGAC to obtain a solution of polyurethane resin U-1. The solid content concentration of the obtained polyurethane resin solution was 35% by mass. The resin solution thus obtained was dropped onto a polypropylene film and spread using an applicator made of stainless steel to obtain a thin film of the resin solution. This was allowed to stand in a hot air dryer adjusted to 120 ° C. for 3 hours to volatilize the solvent, and then the resin thin film was peeled off from the polypropylene film to obtain a film-shaped dry resin thin film. The thickness of the dry resin thin film was about 30 μm. Table 3 shows the evaluation results of various resin properties using the dry resin thin film on the left as the sample resin of the polyurethane resin U-1.
ポリウレタン樹脂U-2~U-8の製造例
ポリウレタン樹脂U-2~U-8は、ポリエステルポリオール、イソシアネートと反応する基を有する化合物及びポリイソシアネートを表3に示すものに代えた以外は、ポリウレタン樹脂U-1の製造例と同様の方法にて製造した。ポリウレタン樹脂U-2~U-8の樹脂物性の評価結果を表3に示した。
Production Examples of Polyurethane Resins U-2 to U-8 Polyurethane resins U-2 to U-8 are polyurethane except that polyester polyols, compounds having a group that reacts with isocyanates, and polyisocyanates are replaced with those shown in Table 3. It was produced by the same method as in the production example of the resin U-1. Table 3 shows the evaluation results of the resin physical properties of the polyurethane resins U-2 to U-8.
DMBA:ジメチロールブタン酸
NPG:ネオペンチルグリコール
DMH:2-ブチル-2-エチル-1,3-プロパンジオール
MDI:4,4’-ジフェニルメタンジイイソシアネート
IPDI:イソホロンジイソシアネート
DMBA: Dimethylolbutanoic acid NPG: Neopentyl glycol DMH: 2-Butyl-2-ethyl-1,3-propanediol MDI: 4,4'-diphenylmethane diisocyanate IPDI: Isophorone diisocyanate
実施例1
ポリエステル樹脂P-1を固形分濃度が35質量%となるようにEDGACに溶解した溶液2860部(固形部換算1000部)、フレーク状銀粉1を7,888部、レベリング剤として共栄社化学(株)製のMKコンクを71部、分散剤としてビックケミー・ジャパン(株)製のDisperbyk130を30部、溶剤としてEDGACを300部を配合し、チルド三本ロール混練り機に3回通して分散した。その後、得られた導電性ペーストを所定のパターンに印刷後、120℃×30分間乾燥し、導電性薄膜を得た。本導電性薄膜を用いて基本物性を測定し、次いで、レーザーエッチング加工の検討を行った。ペーストおよびペースト塗膜、レーザーエッチング加工性の評価結果を表4に示した。
Example 1
2860 parts of a solution of polyester resin P-1 dissolved in EDGAC so that the solid content concentration is 35% by mass (1000 parts in terms of solid part), 7,888 parts of flake-like silver powder 1, and Kyoeisha Chemical Co., Ltd. as a leveling agent. 71 parts of MK Conch manufactured by MK, 30 parts of Disperbyk 130 manufactured by Big Chemy Japan Co., Ltd. as a dispersant, and 300 parts of EDGAC as a solvent were mixed and dispersed by passing through a chilled three-roll kneader three times. Then, the obtained conductive paste was printed on a predetermined pattern and dried at 120 ° C. for 30 minutes to obtain a conductive thin film. The basic physical properties were measured using this conductive thin film, and then laser etching processing was examined. Table 4 shows the evaluation results of the paste, the paste coating film, and the laser etching processability.
実施例2~8、参考例1~8
導電性ペーストの樹脂および配合を変えて実施例2~8、参考例1~8を実施した。導電性ペーストの配合および評価結果を表4~表6に示した。実施例においてはオーブン120℃×30分という比較的低温かつ短時間の加熱により良好な塗膜物性を得ることができた。またITO膜への密着性、湿熱環境試験後の密着性も良好であった。
Examples 2 to 8, Reference Examples 1 to 8
Examples 2 to 8 and Reference Examples 1 to 8 were carried out by changing the resin and the composition of the conductive paste. The formulation and evaluation results of the conductive paste are shown in Tables 4 to 6. In the examples, good coating film physical characteristics could be obtained by heating at a relatively low temperature of 120 ° C. × 30 minutes in an oven for a short time. In addition, the adhesion to the ITO film and the adhesion after the moist heat environment test were also good.
なお、表4~表7において、バインダ樹脂、導電粉末、添加剤及び溶剤は以下のものを用いた。
バインダ樹脂PH-1:InChem製PKKH(フェノキシ樹脂、数平均分子量14000、Tg=71℃)
銀粉1:フレーク状銀粉(D50:2μm)
銀粉2:球状銀粉(D50:1μm)
カーボンブラック:東海カーボン(株)製♯4400
ケッチェンブラック:ライオン(株)製ケッチェンECP600JD
グラファイト粉:(株)中越黒鉛工業所製のグラファイトBF
硬化剤:旭化成ケミカルズ(株)製MF-K60X
硬化触媒:共同薬品(株)製KS1260
レベリング剤:共栄社化学(株)MKコンク
分散剤1:ビックケミー・ジャパン(株)社製のDisperbyk130
分散剤2:ビックケミー・ジャパン(株)社製Disperbyk2155
分散剤3:ビックケミー・ジャパン(株)社製のDisperbyk180
添加剤1:日本アエロジル(株)製シリカR972
添加剤2:ナガセケムテックス(株)製 NIR-AM1
添加剤3:共栄社化学(株)製 ライトアクリレートPE-3A(ペンタエリスリトールトリアクリレート)
EDGAC:(株)ダイセル製エチルジグリコールアセテート
BMGAC:(株)ダイセル製ブチルグリコールアセテート
BDGAC:(株)ダイセル製ブチルジグリコールアセテート
TPOL :日本テルペン化学(株)製ターピネオール
In Tables 4 to 7, the following binder resins, conductive powders, additives and solvents were used.
Binder resin PH-1: InChem PKKH (phenoxy resin, number average molecular weight 14000, Tg = 71 ° C)
Silver powder 1: Flaky silver powder (D50: 2 μm)
Silver powder 2: Spherical silver powder (D50: 1 μm)
Carbon black: # 4400 manufactured by Tokai Carbon Co., Ltd.
Ketjen Black: Ketjen ECP600JD manufactured by Lion Corporation
Graphite powder: Graphite BF manufactured by Chuetsu Graphite Industry Co., Ltd.
Hardener: MF-K60X manufactured by Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd.
Curing catalyst: KS1260 manufactured by Kyodo Yakuhin Co., Ltd.
Leveling agent: Kyoeisha Chemical Co., Ltd. MK Conch Dispersant 1: Disperbyk 130 manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.
Dispersant 2: Disperbyk2155 manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.
Dispersant 3: Disperbyk 180 manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.
Additive 1: Silica R972 manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.
Additive 2: NIR-AM1 manufactured by Nagase ChemteX Corporation
Additive 3: Light Acrylate PE-3A (Pentaerythritol Triacrylate) manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.
EDGAC: Ethyl diglycol acetate manufactured by Daicel Co., Ltd. BMGAC: Butyl glycol acetate manufactured by Daicel Co., Ltd. BDGAC: Butyl diglycol acetate manufactured by Daicel Co., Ltd. TPOL: Tarpineol manufactured by Nippon Terpen Chemical Co., Ltd.
比較例1
ラウリルカルボン酸銀(1000g)とブチルアミン(480g)とをトルエン(10L)に溶解させた。次いで、蟻酸(150g)を滴下し、そのまま室温で1.5時間攪拌した。大量のメタノールを加えると銀ナノ粒子の凝集物が沈殿するのでこれをデカンテーションした。デカンテーションを3回繰り返したのち、沈殿物を減圧下で乾燥させた。次いで、得られた沈殿物1000g(うち920g銀、カルボン酸銀アミン錯体80g)をターピネオール1860g中へ再分散させ、銀ナノ粒子(銀粉3)を含んだ導電性ペーストを得た。得られた銀粉3は透過型電子顕微鏡写真より粒子径が約10nmであった。導電性ペーストの固形分濃度は35質量%であった。得られた導電性ペーストを用いて実施例と同様に導電性積層体テストピースおよびレーザーエッチング加工適性評価試験片を作成し、実施例と同様に評価を行った。評価結果を表7に示した。本導電性銀ペースト組成物は初期塗膜物性が顕著に劣り、特には密着性に乏しく、実用には耐えないものであった。
Comparative Example 1
Silver lauryl carboxylate (1000 g) and butylamine (480 g) were dissolved in toluene (10 L). Then, formic acid (150 g) was added dropwise, and the mixture was stirred as it was at room temperature for 1.5 hours. When a large amount of methanol was added, agglomerates of silver nanoparticles were precipitated, which was decanted. After repeating the decantation 3 times, the precipitate was dried under reduced pressure. Then, 1000 g of the obtained precipitate (of which 920 g of silver and 80 g of a silver carboxylate amine complex) was redistributed in 1860 g of tarpineol to obtain a conductive paste containing silver nanoparticles (silver powder 3). The obtained silver powder 3 had a particle size of about 10 nm from a transmission electron micrograph. The solid content concentration of the conductive paste was 35% by mass. Using the obtained conductive paste, a conductive laminate test piece and a laser etching aptitude evaluation test piece were prepared in the same manner as in Examples, and evaluated in the same manner as in Examples. The evaluation results are shown in Table 7. The present conductive silver paste composition was remarkably inferior in the physical characteristics of the initial coating film, particularly poor in adhesion, and could not be put into practical use.
比較例2
ターピネオールにドデシルアミンを溶解し、固形分濃度12重量%の溶液とした。この溶液1000部(固形120重量部)に、銀粉4(球状銀粉(D50=1μm)を8083部、さらに平均粒径1.5μmとなるようにビーズミルで粉砕したガラスフリット((酸化ビスマス(Bi2O3)を主成分するガラス粉末(酸化ビスマス含有量80.0~99.9%)を250部加えて混合を継続し、均一となってから、この溶液を三本ロールミルで分散し、ガラスフリット含有導電性ペーストを作製した。得られた導電性ペーストを用いて実施例と同様に導電性積層体テストピースおよびレーザーエッチング加工適性評価試験片を作成し、実施例と同様に評価を行った。評価結果を表7に示した。本導電性銀ペースト組成物は初期塗膜物性が顕著に劣り、特には密着性に乏しく、実用には耐えないものであった。また、レーザーエッチング加工性が顕著に劣り、照射部位よりも広い範囲で照射したレーザービームの幅よりも大幅に広い巾の塗膜が剥離されてしまい、所定の線幅を加工することはできなかった。また、レーザーエッチング加工後の細線部分の密着性および耐湿熱性にも乏しかった。
Comparative Example 2
Dodecylamine was dissolved in tarpineol to prepare a solution having a solid content concentration of 12% by weight. A glass frit ((bismuth oxide (Bi 2 )) obtained by crushing silver powder 4 (spherical silver powder (D50 = 1 μm) into 8083 parts with a bead mill so as to have an average particle size of 1.5 μm in 1000 parts (solid 120 parts by weight) of this solution). Add 250 parts of glass powder (bismuth oxide content 80.0-99.9%) containing O 3 ) as the main component and continue mixing. After becoming uniform, disperse this solution with a three-roll mill to make the glass frit-containing conductive. A paste was prepared. Using the obtained conductive paste, a conductive laminate test piece and a laser etching process suitability evaluation test piece were prepared in the same manner as in the examples, and the evaluation results were evaluated in the same manner as in the examples. As shown in Table 7, the present conductive silver paste composition was remarkably inferior in the physical properties of the initial coating film, particularly poor in adhesion, and was not practically usable. In addition, the laser etching processability was remarkably inferior. In addition, it was not possible to process a predetermined line width because the coating film with a width significantly wider than the width of the laser beam irradiated in a wider range than the irradiation site was peeled off. The adhesion and moisture resistance of the part were also poor.
本発明のレーザーエッチング加工用導電性ペーストは、レーザーエッチング加工適性を保持しながら、湿熱環境信頼性に優れ、導電性薄膜としての塗膜耐久性を維持することができる導電性薄膜を提供することができ、例えば、携帯電話、ノートパソコン、電子書籍等に搭載されるタッチパネルに用いられる導電性ペーストとして有用である。 The conductive paste for laser etching processing of the present invention provides a conductive thin film capable of maintaining the suitability for laser etching processing, excellent reliability in a moist heat environment, and maintaining the durability of a coating film as a conductive thin film. For example, it is useful as a conductive paste used for a touch panel mounted on a mobile phone, a notebook computer, an electronic book, or the like.
1a、2a、3a、4a : 端子1a、2a、3a、4a
1b、2b、3b、4b : 細線1b、2b、3b、4b
1c、2c、3c、4c : 端子1c、2c、3c、4c
5 : レーザーエッチング加工適性評価試験片上に形成されるパターン
1a, 2a, 3a, 4a:
1b, 2b, 3b, 4b:
1c, 2c, 3c, 4c:
5: Pattern formed on the laser etching aptitude evaluation test piece
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