KR101156875B1 - 화소 구동 장치, 발광 장치 및 그 구동 제어 방법과 전자 기기 - Google Patents

Abstract

복수의 화소 PIX를 구동하는 화소 구동 장치에 있어서, 복수의 화소 PIX의 각각은 발광 소자와, 전류로의 일단이 발광 소자의 일단에 접속되고, 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고, 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의, 복수의 화소 PIX의 각각에 접속되는 복수의 데이터선 Ld의 각각의 전압값에 의거하여, 각 화소 PIX의 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하는 보정 데이터 취득 기능 회로를 컨트롤러내에 구비한다. 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 각 데이터선 Ld의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고, 소정의 타이밍은 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 각 데이터선 Ld에 제 1 검출용 전압을 인가하고, 각 데이터선 Ld를 통해 구동 제어 소자의 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이다. 초기 전압은 전원 전압과 동일 전압, 또는 전원 전압보다 저전위이고, 전원 전압과의 전위차가 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정되어 있다.

Description

화소 구동 장치, 발광 장치 및 그 구동 제어 방법과 전자 기기{PIXEL DRIVING DEVICE, LIGHT EMITTING DEVICE, DRIVING/CONTROLLING METHOD THEREOF, AND ELECTRONIC DEVICE}

본 출원은 2009년 12월 28일에 출원된 명세서, 특허청구의 범위, 도면, 및 요약서를 포함하는 일본국 특허청 출원번호 제2009-298555호에 의거하는 우선권을 주장하는 것이다. 이 특허출원의 개시 내용은 이 참조에 의해 전체로서 본 출원에 포함된다.

본 발명은 화소 구동 장치, 해당 화소 구동 장치를 구비한 발광 장치 및 그 구동 제어 방법과 해당 발광 장치를 구비한 전자 기기에 관한 것이다.

최근, 차세대의 표시 디바이스로서, 전류 구동형의 발광 소자를 매트릭스 형상으로 배열한 표시 패널(화소 어레이)을 구비한 발광 소자형의 표시 장치(발광 장치)가 주목 받고 있다. 여기서, 전류 구동형의 발광 소자로서는 예를 들면 유기 전계 발광 소자(유기 EL 소자)나 무기 전계 발광 소자(무기 EL 소자), 발광 다이오드(LED) 등이 알려져 있다.

특히, 액티브 매트릭스형의 구동 방식을 적용한 발광 소자형의 표시 장치는 주지의 액정 표시 장치에 비교해서, 표시 응답 속도가 빠르고, 또 시야각 의존성도 거의 없고, 고(高)휘도ㆍ고(高)콘트라스트화, 표시 화질의 고(高)정밀화 등이 가능하다고 하는 뛰어난 표시 특성을 갖고 있다. 발광 소자형의 표시 장치는 액정 표시 장치와 같이 백라이트나 도광판을 필요로 하지 않으므로, 일층의 박형 경량화가 가능하다고 하는 극히 우위한 특징을 갖고 있다. 그 때문에, 표시 장치가 이후 다양한 전자 기기에 적용되는 것이 기대되고 있다.

예를 들면, 일본국 특허공개공보 H8-330600호에는 전압 신호에 의해서 전류 제어되는 액티브 매트릭스 구동 표시 장치인 유기 EL 디스플레이 장치가 개시되어 있다. 이 유기 EL 디스플레이 장치에 있어서는, 전류 제어용 박막 트랜지스터와 스위치용 박막 트랜지스터를 갖는 회로(편의적으로, 「화소 구동 회로」라고 기재함)가 화소마다 설치되어 있다. 여기서, 전류 제어용 박막 트랜지스터는 화상 데이터에 따른 전압 신호가 게이트에 인가되는 것에 의해, 발광 소자인 유기 EL 소자에 소정의 전류를 흘린다. 또, 스위치용 박막 트랜지스터는 전류 제어용 박막 트랜지스터의 게이트에 화상 데이터에 따른 전압 신호를 공급하기 위한 스위칭 동작을 실행한다.

그렇지만, 이러한 전압 신호에 의해서 발광 소자의 휘도 계조를 제어하는 유기 EL 디스플레이 장치에 있어서는, 전류 제어용 박막 트랜지스터 등의 임계값 전압의 경시(經時)적인 변화에 의해서, 유기 EL 소자에 흐르는 전류의 전류값이 변동되어 버리는 일이 있다.

또, 매트릭스 형상으로 배치된 복수의 화소의 각각에 대한 화소 구동 회로에 있어서, 만약 전류 제어용 박막 트랜지스터의 임계값 전압이 동일하다고 해도, 박막 트랜지스터의 게이트 절연막이나 채널 길이, 이동도의 편차의 영향을 받기 위해, 구동 특성에 편차가 생기는 일이 있다.

이동도의 편차는 특히, 저온 폴리 실리콘 박막 트랜지스터에 있어서 현저에 생기는 것이 알려져 있다. 어모퍼스 실리콘 박막 트랜지스터를 이용하면, 이동도를 균일화할 수 있지만, 제조 프로세스에 기인하는 편차의 영향은 피할 수 없다.

본 발명은 화소 구동 회로의 특성 파라미터를 정확하게 취득할 수 있고, 특성 파라미터에 의거해서 화상 데이터를 보정하여 원하는 휘도 계조로 발광 소자를 발광 동작시킬 수 있는 화소 구동 장치, 발광 장치 및 그 구동 제어 방법과 해당 발광 장치를 구비하는 전자 기기를 제공할 수 있는 이점을 갖는다.

상기 이점을 얻기 위한 본 발명의 화소 구동 장치는 복수의 화소를 구동하는 화소 구동 장치로서, 복수의 화소의 각각은 발광 소자와, 전류로의 일단이 발광 소자의 일단에 접속되고, 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고, 화소 구동 장치는 또한 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의 복수의 화소의 각각에 접속되는 복수의 데이터선의 각각의 전압값에 의거하여, 각 화소의 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하는 보정 데이터 취득 기능 회로를 구비하고, 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고, 소정의 타이밍은 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하고, 각 데이터선을 통해 구동 제어 소자의 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이고, 초기 전압은 전원 전압과 동(同) 전압, 또는 전원 전압보다 저(低)전위로 전원 전압과의 전위차가 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정된다.

상기 이점을 얻기 위한 본 발명의 발광 장치는 복수의 화소 및 복수의 데이터선을 갖고, 각 데이터선이 각 화소에 접속되어 있는 발광 패널과, 보정 데이터 취득 기능 회로를 구비하고, 각 화소는 발광 소자와, 전류로의 일단이 발광 소자의 일단에 접속되고, 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고, 보정 데이터 취득 기능 회로는 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 각 화소의 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하고, 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고, 소정의 타이밍은 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하고, 각 데이터선을 통해 구동 제어 소자의 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이고, 초기 전압은 전원 전압과 동일 전압, 또는 전원 전압보다 저전위이고, 전원 전압과의 전위차가 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정된다.

상기 이점을 얻기 위한 본 발명의 전자 기기는 전자 기기 본체부와, 전자 기기 본체부로부터 화상 데이터가 공급되고, 해당 화상 데이터에 따라 구동되는 발광 장치를 구비하고, 발광 장치는 복수의 화소 및 복수의 데이터선을 갖고, 각 데이터선이 각 화소에 접속되어 있는 발광 패널과, 보정 데이터 취득 기능 회로를 구비하고, 각 화소는 발광 소자와, 전류로의 일단이 발광 소자의 일단에 접속되고, 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고, 보정 데이터 취득 기능 회로는 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 각 화소의 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하고, 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고, 소정의 타이밍은 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하고, 각 데이터선을 통해 구동 제어 소자의 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이고, 초기 전압은 전원 전압과 동일 전압, 또는 전원 전압보다 저전위이고, 전원 전압과의 전위차가 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정된다.

상기 이점을 얻기 위한 본 발명의 발광 장치의 구동 제어 방법에 있어서, 발광 장치는 복수의 화소 및 복수의 데이터선을 갖고, 각 데이터선이 각 화소에 접속되어 있는 발광 패널을 구비하고, 각 화소는 발광 소자와, 전류로의 일단이 발광 소자의 일단에 접속되고, 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고, 발광 장치의 구동 제어 방법은 각 화소의 발광 소자의 타단의 전압을 초기 전압으로 설정하고, 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하고, 각 데이터선을 통해 구동 제어 소자의 전류로에 전류를 흘린 후의, 소정의 타이밍에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 설정 전압의 전압값을 취득하고, 초기 전압은 전원 전압과 동일 전압, 또는 전원 전압보다 저전위이고, 전원 전압과의 전위차가 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정되는 설정 전압 취득 스텝과, 각 화소의 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 각 화소의 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하는 보정 데이터 취득 스텝을 구비한다.

본 발명에 관한 화소 구동 장치, 발광 장치 및 그 구동 제어 방법과 전자 기기에 따르면, 원하는 휘도 계조로 발광소자를 발광 동작할 수 있고, 양호하고 또한 균일한 발광 상태를 실현할 수 있다.

도 1은 본 발명에 관한 발광 장치를 적용한 표시 장치의 일례를 나타내는 개략 구성도이다.
도 2는 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 적용되는 데이터 드라이버의 일례를 나타내는 개략 블럭도이다.
도 3은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 적용되는 데이터 드라이버의 주요부 구성예를 나타내는 개략 회로 구성도이다.
도 4의 (a)는 제 1 실시형태에 관한 데이터 드라이버에 적용되는 디지털-아날로그 변환 회로 및 아날로그-디지털 변환 회로의 입출력 특성을 나타내는 도면이다.
도 4의 (b)는 제 1 실시형태에 관한 데이터 드라이버에 적용되는 디지털-아날로그 변환 회로 및 아날로그-디지털 변환 회로의 입출력 특성을 나타내는 도면이다.
도 5는 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 적용되는 컨트롤러의 기능을 나타내는 기능 블럭도이다.
도 6은 제 1 실시형태에 관한 표시 패널에 적용되는 화소(화소 구동 회로 및 발광 소자), 및 전압 제어 회로의 1실시형태를 나타내는 회로 구성도이다.
도 7은 제 1 실시형태에 관한 화소 구동 회로를 적용한 화소에 있어서의 화상 데이터의 기입시의 동작 상태를 나타내는 도면이다.
도 8은 제 1 실시형태에 관한 화소 구동 회로를 적용한 화소에 있어서의 기입 동작시의 전압-전류 특성을 나타내는 도면이다.
도 9는 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 수법(오토 제로법)에 있어서의 데이터 라인 전압의 변화를 나타내는 도면이다.
도 10은 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작(오토 제로법)에 있어서의 유기 EL 소자의 캐소드로부터의 리크(leak) 현상을 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 처리 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 12는 도 11에 나타낸 처리 동작을 설명하기 위한 데이터 라인 전압의 변화(과도 곡선)의 일례를 나타내는 도면이다.
도 13은 표시 장치의 경시 상태에 있어서, 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 처리 동작의 개략을 나타내는 흐름도이다.
도 14는 표시 장치의 경시 상태에 있어서의 처리 동작을 적용한 경우의, 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 있어서의 데이터 라인 전압의 변화(과도 곡선)의 일례를 나타내는 도면이다.
도 15의 (a)는 표시 장치의 경시 상태에 있어서의 처리 동작을 적용한 경우의, 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 있어서의 검출 데이터의 전압 분포를 나타내는 히스토그램이다.
도 15의 (b)는 표시 장치의 경시 상태에 있어서의 처리 동작을 적용한 경우의, 제 1 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 있어서의 검출 데이터의 전압 분포를 나타내는 히스토그램이다.
도 16은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 특성 파라미터 취득 동작을 나타내는 타이밍 차트이다.
도 17은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 검출용 전압 인가 동작을 나타내는 동작 개념도이다.
도 18은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 자연 완화 동작을 나타내는 동작 개념도이다.
도 19는 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 전압 검출 동작을 나타내는 동작 개념도이다.
도 20은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 검출 데이터 송출 동작을 나타내는 동작 개념도이다.
도 21은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 보정 데이터 산출 동작을 나타내는 기능 블럭도이다.
도 22는 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 발광 동작을 나타내는 타이밍 차트이다.
도 23은 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 화상 데이터의 보정 동작을 나타내는 기능 블럭도이다.
도 24는 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 보정 후의 화상 데이터의 기입 동작을 나타내는 동작 개념도이다.
도 25는 제 1 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 발광 동작을 나타내는 동작 개념도이다.
도 26의 (a)는 제 2 실시형태에 관한 디지털 카메라의 구성예를 나타내는 사시도이다.
도 26의 (b)는 제 2 실시형태에 관한 디지털 카메라의 구성예를 나타내는 사시도이다.
도 27은 제 2 실시형태에 관한 모바일형의 PC의 구성예를 나타내는 사시도이다.
도 28은 제 2 실시형태에 관한 휴대전화의 구성예를 나타내는 도면이다.

<제 1 실시형태>

이하, 본 발명의 제 1 실시형태에 관한 화소 구동 장치, 발광 장치 및 그 구동 제어 방법과 전자 기기에 대해 설명한다.

여기서는, 본 발명에 관한 발광 장치를 표시 장치로서 적용한 경우에 대해 설명한다.

(표시 장치)

도 1은 본 발명에 관한 발광 장치를 적용한 표시 장치의 일례를 나타내는 개략 구성도이다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 제 1 실시형태에 관한 표시 장치(발광 장치)(100)는 개략적으로, 표시 패널(발광 패널)(110)과, 선택 드라이버(120)와, 전원 드라이버(130)와, 데이터 드라이버(140)와, 전압 제어 회로(150)와, 컨트롤러(160)를 구비하고 있다. 본 발명에 있어서의 화소 구동 장치는 선택 드라이버 (120)와 전원 드라이버(130)와 데이터 드라이버(140)와 전압 제어 회로(150)와 컨트롤러(160)를 포함해서 구성된다.

표시 패널(110)은 도 1에 나타내는 바와 같이, 행방향(도면 좌우 방향) 및 열방향(도면 상하 방향)에 2차원 배열(예를 들면, p행×q열; p, q는 정(正)의 정수 (整數))된 복수의 화소 PIX와, 각각 행방향에 배열된 화소 PIX에 접속하도록 배설된 복수의 선택 라인 Ls 및 복수의 전원 라인 La와, 전체 화소 PIX에 공통으로 설치된 공통 전극 Ec와, 열방향에 배열된 화소 PIX에 접속하도록 배설된 복수의 데이터 라인 Ld를 갖고 있다. 여기서, 각 화소 PIX는 후술하는 바와 같이, 화소 구동 회로와 발광 소자를 갖고 있다.

선택 드라이버(120)는 표시 패널(110)에 배치된 각 선택 라인 Ls에 접속되어 있다. 선택 드라이버(120)는 후술하는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 선택 제어 신호(예를 들면, 주사 클록 신호 및 주사 스타트 신호)에 의거하여, 각 행의 선택 라인 Ls에 소정의 타이밍으로 소정의 전압 레벨(선택 레벨; Vgh 또는 비선택 레벨; Vgl)의 선택 신호 Ssel을 순차 인가한다.

또한, 선택 드라이버(120)에 관한 상세한 구성의 도시는 생략하지만, 선택 드라이버(120)는 예를 들면, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 선택 제어 신호에 의거하여, 각 행의 선택 라인 Ls에 대응하는 시프트 신호를 순차 출력하는 시프트 레지스터와, 해당 시프트 신호를 소정의 신호 레벨(선택 레벨; 예를 들면, 하이(high)레벨)으로 변환하고, 각 행의 선택 라인 Ls에 선택 신호 Ssel로서 순차 출력하는 출력 버퍼를 구비한다.

전원 드라이버(130)는 표시 패널(110)에 배치된 각 전원 라인 La에 접속되어 있다. 전원 드라이버(130)는 후술하는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전원 제어 신호(예를 들면, 출력 제어 신호)에 의거하여, 각 행의 전원 라인 La에 소정의 타이밍으로 소정의 전압 레벨(발광 레벨; ELVDD 또는 비(非)발광 레벨; DVSS)의 전원 전압 Vsa를 인가한다.

전압 제어 회로(150)는 표시 패널(110)에 2차원 배열된 각 화소 PIX에 공통으로 접속된 공통 전극 Ec에 접속되어 있다. 전압 제어 회로(150)는 후술하는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전압 제어 신호에 의거하여, 각 화소 PIX에 설치된 유기 EL 소자(발광 소자)(OEL)의 예를 들면 캐소드에 접속된 공통 전극 Ec에, 소정의 타이밍으로 소정의 전압 레벨(예를 들면, 접지 전위 GND, 또는 부극성(負極性)의 전압 레벨을 갖고, 절대값이 후술하는 검출 데이터 n_meas(t_c)의 평균값 또는 최대값에 의거하는 값을 갖는 전압값)의 전압(설정 전압) ELVSS를 인가한다.

데이터 드라이버(140)는 표시 패널(110)의 각 데이터 라인 Ld에 접속되고, 후술하는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호에 의거하여, 표시 동작(기입 동작)시에, 화상 데이터에 따른 계조 신호(계조 전압 Vdata)를 생성하고, 각 데이터 라인 Ld를 통해 화소 PIX로 공급한다. 또, 데이터 드라이버(140)는 후술하는 특성 파라미터 취득 동작시에는 미리 설정된 전압값의 검출용 전압 Vdac를, 각 데이터 라인 Ld를 통해, 특성 파라미터 취득 동작의 대상이 되어 있는 화소 PIX에 인가한다. 그리고, 데이터 드라이버(140)는 검출용 전압 Vdac를 인가한 후의, 소정의 완화 시간 t의 경과 후의 데이터 라인 Ld의 전압 Vd(이하, 데이터 라인 전압 Vd라고 함)를 검출 전압 Vmeas(t)로서 받아들이고, 검출 데이터 n_meas(t)로 변환하여 출력한다.

즉, 데이터 드라이버(140)는 데이터 드라이버 기능과 전압 검출 기능의 양쪽을 구비하고, 후술하는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호에 의거하여, 이들의 기능을 전환하도록 구성되어 있다. 데이터 드라이버 기능은 컨트롤러 (160)를 통해 공급되는 디지털 데이터로 이루어지는 화상 데이터를 아날로그 신호 전압으로 변환하고, 데이터 라인 Ld에 계조 신호(계조 전압 Vdata)로서 출력하는 동작을 실행한다. 또, 전압 검출 기능은 데이터 라인 전압 Vd를 검출 전압 Vmeas(t)으로서 받아들이고, 디지털 데이터로 변환하여, 검출 데이터 n_meas(t)로서 컨트롤러(160)에 출력하는 동작을 실행한다.

도 2는 본 실시형태에 관한 표시 장치에 적용되는 데이터 드라이버의 일례를 나타내는 개략 블럭도이다. 도 3은 도 2에 나타내는 데이터 드라이버의 주요부 구성예를 나타내는 개략 회로 구성도이다. 여기서는, 표시 패널(110)에 배열된 화소 PIX의 열수(列數) (q) 중, 일부만을 나타내고 도시를 간략화한다. 이하의 설명에서는, j열째(j는 1≤j≤q로 되는 정의 정수)의 데이터 라인 Ld에 설치되는 데이터 드라이버(140) 내부의 구성에 대해 자세하게 설명한다. 도 3에서는 도 2에 나타내는 시프트 레지스터 회로와 데이터 레지스터 회로는 간략화하여 나타나 있다.

데이터 드라이버(140)는 예를 들면 도 2에 나타내는 바와 같이, 시프트 레지스터 회로(141)와, 데이터 레지스터 회로(142)와, 데이터 래치(latch) 회로(143)와, DAC/ADC 회로(144)와, 출력 회로(145)를 구비하고 있다. 시프트 레지스터 회로(141)와 데이터 레지스터 회로(142)와 데이터 래치 회로(143)를 포함하는 내부 회로(140A)는 로직(logic) 전원(146)으로부터 공급되는 전원 전압 LVSS 및 LVDD에 의거하여, 후술하는 화상 데이터의 받아들임 동작 및 검출 데이터의 송출 동작을 실행한다. DAC/ADC 회로(144)와 출력 회로(145)를 포함하는 내부 회로(140B)는 아날로그 전원(147)으로부터 공급되는 전원 전압 DVSS 및 VEE에 의거하여, 후술하는 계조 신호의 생성 출력 동작 및 데이터 라인 전압의 검출 동작을 실행한다.

시프트 레지스터 회로(141)는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(스타트 펄스 신호 SP, 클록 신호 CLK)에 의거하여 시프트 신호를 생성하고, 데이터 레지스터 회로(142)에 순차 출력한다. 데이터 레지스터 회로(142)는 상술한 표시 패널(110)에 배열된 화소 PIX의 열수 (q)분의 레지스터(도시를 생략)를 구비하고, 시프트 레지스터 회로(141)로부터 공급되는 시프트 신호의 입력 타이밍에 의거하여, 1행분의 화상 데이터 Din(1)～Din(q)를 순차 받아들인다. 여기서, 화상 데이터 Din(1)～Din(q)는 디지털 신호로 이루어지는 시리얼 데이터이다.

데이터 래치 회로(143)는 표시 동작시(화상 데이터의 받아들임 동작, 및 계조 신호의 생성 출력 동작)에 있어서는, 데이터 레지스터 회로(142)에 받아들여진 1행분의 화상 데이터 Din(1)～Din(q)를 데이터 제어 신호(데이터 래치 펄스 신호 LP)에 의거하여, 각 열에 대응하여 유지한다. 그 후, 데이터 래치 회로(143)는 소정의 타이밍으로 해당 화상 데이터 Din(1)～Din(q)를 후술하는 DAC/ADC 회로(144)에 송출한다. 또, 데이터 래치 회로(143)는 특성 파라미터 취득 동작시(검출 데이터의 송출 동작, 및 데이터 라인 전압의 검출 동작)에 있어서는, 후술하는 DAC/ADC 회로(144)를 통해 받아들이는 각 검출 전압 Vmeas(t)에 따른 검출 데이터 n_meas(t)를 유지한다. 그 후, 데이터 래치 회로(143)는 소정의 타이밍으로 해당 검출 데이터 n_meas(t)를 시리얼 데이터로서 컨트롤러(160)에 출력한다. 출력된 검출 데이터 n_meas(t)는 컨트롤러(160)내의 메모리에 기억된다.

데이터 래치 회로(143)는 구체적으로는 도 3에 나타내는 바와 같이, 데이터 출력용의 스위치 SW3과, 각 열에 대응하여 설치된 데이터 래치 41(j)와, 접속 전환용의 스위치 SW4(j), SW5(j)를 구비하고 있다. 데이터 래치 41(j)는 데이터 래치 펄스 신호 LP의 예를 들면 상승 타이밍에서, 스위치 SW5(j)를 통해 공급되는 디지털 데이터(화상 데이터 Din(1)～Din(q))를 유지(래치)한다.

스위치 SW5(j)는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(변경 제어 신호 S5)에 의거하여, 접점 Na측의 데이터 레지스터 회로(142), 또는 접점 Nb측의 DAC/ADC 회로(144)의 ADC43(j), 또는 접점 Nc측의 인접하는 열 (j＋1)의 데이터 래치 41(j＋1) 중의 어느 하나를, 데이터 래치 41(j)에 선택적으로 접속하도록 전환 제어된다. 이것에 의해, 스위치 SW5(j)가 접점 Na측에 접속 설정되어 있는 경우에는, 데이터 레지스터 회로(142)로부터 공급되는 화상 데이터 Din(j)가 데이터 래치 41(j)에 유지된다. 스위치 SW5(j)가 접점 Nb측에 접속 설정되어 있는 경우에는, 데이터 라인 Ld(j)로부터 DAC/ADC 회로(144)의 ADC43(j)에 받아들여진 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))에 따른 검출 데이터 n_meas(t)가 데이터 래치 41(j)에 유지된다. 스위치 SW5(j)가 접점 Nc측에 접속 설정되어 있는 경우에는, 인접하는 열 (j＋1)의 스위치 SW4(j＋1)을 통해 데이터 래치 41(j＋1)에 유지되어 있는 검출 데이터 n_meas(t)가 데이터 래치 41(j)에 유지된다. 또한, 최종열 (q)에 설치되는 스위치 SW5(q)는 접점 Nc에 로직 전원(146)의 전원 전압 LVSS가 접속되어 있다.

스위치 SW4(j)는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(전환 제어 신호 S4)에 의거하여, 접점 Na측의 DAC/ADC 회로(144)의 DAC42(j), 또는 접점 Nb측의 스위치 SW3(또는, 인접하는 열 (j－1)의 스위치 SW5(j－1); 도시를 생략) 중의 어느 하나를, 데이터 래치 41(j)에 선택적으로 접속하도록 전환 제어된다. 이것에 의해, 스위치 SW4(j)가 접점 Na측에 접속 설정되어 있는 경우에는, 데이터 래치 41(j)에 유지된 화상 데이터 Din(j)가 DAC/ADC 회로(144)의 DAC42(j)에 공급된다. 스위치 SW4(j)가 접점 Nb측에 접속 설정되어 있는 경우에는, 데이터 래치 41(j)에 유지된 검출 전압 Vmeas(t)에 따른 검출 데이터 n_meas(t)가 스위치 SW3을 통해, 컨트롤러(160)에 출력된다. 출력된 검출 데이터 n_meas(t)는 컨트롤러(160)내의 메모리에 기억된다.

스위치 SW3은 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(전환 제어 신호 S4, S5)에 의거하여, 데이터 래치 회로(143)의 스위치 SW4(j), SW5(j)가 전환 제어되고, 인접하는 열의 데이터 래치 41(1)～41(q)가 상호로 직렬로 접속된 상태에서, 데이터 제어 신호(전환 제어 신호 S3, 데이터 래치 펄스 신호 LP)에 의거하여, 도통 상태로 되도록 제어된다. 이것에 의해, 각 열의 데이터 래치 41(1)～41(q)에 유지된 검출 전압 Vmeas(t)에 따른 검출 데이터 n_meas(t)가, 스위치 SW3을 통해 시리얼 데이터로서 순차 꺼내어져, 컨트롤러(160)에 출력된다.

도 4의 (a), (b)는 본 실시형태에 관한 데이터 드라이버에 적용되는 디지털-아날로그 변환 회로(DAC) 및 아날로그-디지털 변환 회로(ADC)의 입출력 특성을 나타내는 도면이다. 도 4의 (a)는 본 실시형태에 적용되는 DAC의 입출력 특성을 나타내는 도면이고, 도 4의 (b)는 본 실시형태에 적용되는 ADC의 입출력 특성을 나타내는 도면이다. 여기서는, 디지털 신호의 입출력 비트수를 10비트로 한 경우의 디지털-아날로그 변환 회로 및 아날로그-디지털 변환 회로의 입출력 특성의 일례를 제시한다.

DAC/ADC 회로(144)는 도 3에 나타내는 바와 같이, 각 열에 대응하여 리니어 (linear) 전압 디지털-아날로그 변환 회로(DAC; 전압 인가 회로) 42(j)와, 아날로그-디지털 변환 회로(ADC: 전압 취득 회로) 43(j)를 구비하고 있다. DAC42(j)는 데이터 래치 회로(143)에 유지된 디지털 데이터로 이루어지는 화상 데이터 Din(j)를 아날로그 신호 전압 Vpix로 변환해서 출력 회로(145)에 출력한다.

각 열에 설치되는 DAC42(j)는 도 4의 (a)에 나타내는 바와 같이, 입력되는 디지털 데이터에 대해 출력되는 아날로그 신호 전압의 변환 특성(입출력 특성)이 선형성을 갖고 있다. 즉, DAC42(j)는 예를 들면 도 4의 (a)에 나타내는 바와 같이, 10비트(즉, 1024 계조)의 디지털 데이터(0, 1, … 1023)를, 선형성을 가지고 설정된 아날로그 신호 전압(V₀, V₁, … V₁₀₂₃)으로 변환한다. 이 아날로그 신호 전압 (V₀～V₁₀₂₃)은 후술하는 아날로그 전원(147)으로부터 공급되는 전원 전압 DVSS～VEE의 범위내에서 설정된다. 또한, DVSS>VEE이다. 예를 들면, 입력되는 디지털 데이터의 값이 “0”(0 계조)일 때로 변환되는 아날로그 신호 전압값 V₀이 전원 전압 DVSS로 되도록 설정되고, 디지털 데이터의 값이 “1023”(1023 계조; 최대 계조)일 때로 변환되는 아날로그 신호 전압값 V₁₀₂₃이 전원 전압 VEE보다 높고, 또한 해당 전원 전압 VEE 근방의 전압값이 되도록 설정되어 있다.

또, ADC43(j)는 데이터 라인 Ld(j)로부터 받아들여진 아날로그 신호 전압으로 이루어지는 검출 전압 Vmeas(t)를, 디지털 데이터로 이루어지는 검출 데이터 n_meas(t)로 변환하여 데이터 래치 41(j)에 송출한다. 여기서, 각 열에 설치되는 ADC43(j)는 도 4의 (b)에 나타내는 바와 같이, 입력되는 아날로그 신호 전압에 대한 출력되는 디지털 데이터의 변환 특성(입출력 특성)이 선형성을 갖고 있다. 또, ADC43(j)는 전압 변환시의 디지털 데이터의 비트 폭이 상술한 DAC42(j)와 동일하게 되도록 설정되어 있다. 즉, ADC43(j)는 최소 단위 비트(1LSB; 아날로그 분해능)에 대응하는 전압폭이 DAC42(j)와 동일하게 설정되어 있다.

ADC43(j)는 예를 들면 도 4의 (b)에 나타내는 바와 같이, 전원 전압 DVSS～VEE의 범위내에서 설정된 아날로그 신호 전압(V₀, V₁, … V₁₀₂₃)을, 선형성을 가지고 설정된 10비트(1024 계조)의 디지털 데이터(0, 1, … 1023)로 변환한다. ADC43(j)는 예를 들면, 입력되는 아날로그 신호 전압의 전압값이 V₀(=DVSS)일 때에 디지털 데이터의 값이 “0”(0 계조)으로 변환되도록 설정되고, 아날로그 신호 전압의 전압값이 전원 전압 VEE보다 높고, 또한 해당 전원 전압 VEE 근방의 전압값인 아날로그 신호 전압 V₁₀₂₃일 때에 디지털 신호값 “1023”(1023 계조; 최대 계조)으로 변환되도록 설정되어 있다.

또한, 본 실시형태에 있어서는 시프트 레지스터 회로(141), 데이터 레지스터 회로(142), 및 데이터 래치 회로(143)를 포함하는 내부 회로(140A)가 저(低)내압 회로를 구성하고, DAC/ADC 회로(144) 및 후술하는 출력 회로(145)를 포함하는 내부 회로(140B)가 고(高)내압 회로를 구성하고 있다. 그 때문에, 데이터 래치 회로 (143)(스위치 SW4(j))와 DAC/ADC 회로(144)의 DAC42(j)의 사이에는, 저내압의 내부 회로(140A)로부터 고내압의 내부 회로(140B)로의 전압 조정 회로로서 레벨 시프터 (shifter) LS1(j)가 설치되어 있다. 또, DAC/ADC 회로(144)의 ADC43(j)와 데이터 래치 회로(143)(스위치 SW5(j))의 사이에는, 고내압의 내부 회로(140B)로부터 저내압의 내부 회로(140A)로의 전압 조정 회로로서 레벨 시프터 LS2(j)가 설치되어 있다.

출력 회로(145)는 도 3에 나타내는 바와 같이, 각 열에 대응하는 데이터 라인 Ld(j)에 계조 신호를 출력하기 위한 버퍼 44(j) 및 스위치 SW1(j)(접속 전환 회로)와, 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))를 받아들이기 위한 스위치 SW2(j) 및 버퍼 45(j)를 구비하고 있다.

버퍼 44(j)는 DAC42(j)에 의해 화상 데이터 Din(j)를 아날로그 변환하여 생성된 아날로그 신호 전압 Vpix(j)를, 소정의 신호 레벨로 증폭하여 계조 전압 Vdata(j)를 생성한다. 스위치 SW1(j)는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(전환 제어 신호 S1)에 의거하여, 데이터 라인 Ld(j)으로의 계조 전압 Vdata(j)의 인가를 제어한다.

또, 스위치 SW2(j)는 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(전환 제어 신호 S2)에 의거하여, 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))의 받아들임을 제어한다. 버퍼 45(j)는 스위치 SW2(j)를 통해 받아들여진 검출 전압 Vmeas(t)를 소정의 신호 레벨로 증폭하여 ADC43(j)에 송출한다.

로직 전원(146)은 데이터 드라이버(140)의 시프트 레지스터 회로(141), 데이터 레지스터 회로(142), 및 데이터 래치 회로(143)를 포함하는 내부 회로(140A)를 구동하기 위한, 로직 전압으로 이루어지는 저전위측의 전원 전압 LVSS 및 고전위측의 전원 전압 LVDD를 공급한다. 아날로그 전원(147)은 DAC/ADC 회로(144)의 DAC42(j) 및 ADC43(j), 출력 회로(145)의 버퍼 44(j), 45(j)를 포함하는 내부 회로 (140B)를 구동하기 위한, 아날로그 전압으로 이루어지는 고전위측의 전원 전압 DVSS 및 저전위측의 전원 전압 VEE를 공급한다.

또한, 도 2, 도 3에 나타낸 데이터 드라이버(140)에 있어서는 도시의 형편상, 각 부의 동작을 제어하기 위한 제어 신호가 j열째(도면 중에서는 1열째에 상당함)의 데이터 라인 Ld(j)에 대응하여 설치된 데이터 래치 41, 및 스위치 SW1～SW5에 입력된 구성을 나타냈다. 그렇지만, 본 실시형태에 있어서는, 각 열의 구성에 이들 제어 신호가 공통되어 입력되어 있는 것은 말할 것도 없다.

도 5는 본 실시형태에 관한 표시 장치에 적용되는 컨트롤러의 기능을 나타내는 기능 블럭도이다. 또한, 도 5에 있어서는 도시의 형편상, 각 기능 블록 사이의 데이터의 흐름을 전부 실선의 화살표로 나타냈다. 실제로는 후술하는 바와 같이, 컨트롤러(160)의 동작 상태에 따라 이들 중의 어느 하나의 데이터의 흐름이 유효하게 된다.

컨트롤러(160)는 적어도 상술한 선택 드라이버(120) 및 전원 드라이버(130), 데이터 드라이버(140), 전압 제어 회로(150)의 동작 상태를 제어한다. 그 때문에, 컨트롤러(160)는 표시 패널(110)에 있어서의 소정의 구동 제어 동작을 실행하기 위한 선택 제어 신호, 전원 제어 신호, 데이터 제어 신호, 및 전압 제어 신호를 생성하고, 각 드라이버(120, 130, 140) 및 전압 제어 회로(150)에 출력한다.

특히, 본 실시형태에 있어서는, 컨트롤러(160)는 선택 제어 신호 및 전원 제어 신호, 데이터 제어 신호, 전압 제어 신호를 공급하는 것에 의해, 선택 드라이버 (120), 전원 드라이버(130), 데이터 드라이버(140), 및 전압 제어 회로(150)의 각각을 소정의 타이밍으로 동작시키고, 표시 패널(110)의 각 화소 PIX의 특성 파라미터를 취득하는 동작(특성 파라미터 취득 동작)을 제어한다. 또, 컨트롤러(160)는 각 화소 PIX의 특성 파라미터에 의거하여 보정된 화상 데이터에 따른 화상 정보를 표시 패널(110)에 표시하는 동작(표시 동작)을 제어한다.

구체적으로는, 컨트롤러(160)는 특성 파라미터 취득 동작에 있어서, 데이터 드라이버(140)를 통해 검출한 각 화소 PIX의 특성 변화에 관련되는 검출 데이터(자세한 내용은 후술함)에 의거하여, 각종의 보정 데이터를 취득한다. 또, 컨트롤러 (160)는 표시 동작에 있어서, 외부로부터 공급되는 화상 데이터를, 특성 파라미터 취득 동작에 있어서 취득한 보정 데이터에 의거해서 보정하고, 보정 화상 데이터로서 데이터 드라이버(140)에 공급한다.

본 실시형태에 적용되는 컨트롤러(160)의 화상 데이터 보정 회로는, 구체적으로는 예를 들면 도 5에 나타내는 바와 같이, 개략, 참조 테이블(LUT)(161)을 구비한 전압 진폭 설정 기능 회로(162)와, 승산 기능 회로(화상 데이터 보정 회로)(163)와, 가산 기능 회로(화상 데이터 보정 회로)(164)와, 메모리(메모리 회로)(165)와, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)를 갖고 있다.

전압 진폭 설정 기능 회로(162)는 외부로부터 공급되는 디지털 데이터로 이루어지는 화상 데이터에 대해, 참조 테이블(161)을 참조하는 것에 의해, 적(R), 녹 (G), 청(B)의 각 색에 대응하는 전압 진폭을 변환한다. 여기서, 변환된 화상 데이터의 전압 진폭의 최대값은 상술한 데이터 드라이버(140)의 DAC42에 있어서의 입력 범위의 최대값으로부터, 각 화소의 특성 파라미터에 의거하는 보정량을 감산한 값 이하로 설정된다.

승산 기능 회로(163)는 각 화소 PIX의 특성 변화에 관련되는 검출 데이터에 의거해서 취득된 전류 증폭률 β의 보정 데이터를 화상 데이터에 곱셈한다. 가산 기능 회로(164)는 각 화소 PIX의 특성 변화에 관련되는 검출 데이터에 의거해서 취득된 구동 트랜지스터의 임계값 전압 Vth의 보정 데이터를 화상 데이터에 가산하고, 보정 화상 데이터로서 데이터 드라이버(140)에 공급한다.

보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 각 화소 PIX의 특성 변화에 관련되는 검출 데이터에 의거하여, 전류 증폭률 β 및 임계값 전압 Vth의 보정 데이터를 규정하는 파라미터를 취득한다.

메모리(165)는 상술한 데이터 드라이버(140)로부터 송출된 각 화소 PIX의 검출 데이터를 각 화소 PIX에 대응하여 기억한다. 그리고, 가산 기능 회로(164)에 있어서의 가산 처리 시, 및 보정 데이터 취득 기능 회로(166)에 있어서의 보정 데이터 취득 처리 시에, 메모리(165)로부터 검출 데이터가 판독된다. 또, 메모리 (165)는 보정 데이터 취득 기능 회로(166)에 있어서 취득된 보정 데이터를 각 화소 PIX에 대응하여 기억한다. 그리고, 승산 기능 회로(163)에 있어서의 곱셈 처리 시, 및 가산 기능 회로(164)에 있어서의 가산 처리 시에, 메모리(165)로부터 보정 데이터가 판독된다.

또한, 도 5에 나타낸 컨트롤러(160)에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로 (166)는 컨트롤러(160)의 외부에 설치된 연산 장치(예를 들면, PC, CPU)라도 좋다. 또, 도 5에 나타낸 컨트롤러(160)에 있어서, 메모리(165)는 검출 데이터 및 보정 데이터가 각 화소 PIX에 관련지어 기억되어 있는 것이라면, 별개의 메모리라도 좋다. 또, 이 메모리(165)는 컨트롤러(160)의 외부에 설치된 기억 장치라도 좋다.

컨트롤러(160)에 공급되는 화상 데이터는, 예를 들면 영상 신호로부터 휘도 계조 신호 성분을 추출하고, 표시 패널(110)의 1행분마다 해당 휘도 계조 신호 성분을 디지털 신호로 변환하는 것에 의해 얻어지는 시리얼 데이터로서 형성된 것이다.

(화소)

다음에, 본 실시형태에 관한 표시 패널에 배열되는 화소, 및 전압 제어 회로에 대해 구체적으로 설명한다. 도 6은 본 실시형태에 관한 표시 패널에 적용되는 화소(화소 구동 회로 및 발광 소자), 및 전압 제어 회로의 예를 나타내는 회로 구성도이다.

본 실시형태에 관한 표시 패널(110)에 적용되는 화소 PIX는 도 6에 나타내는 바와 같이, 선택 드라이버(120)에 접속된 선택 라인 Ls와, 데이터 드라이버(140)에 접속된 데이터 라인 Ld의 교점 근방에 배치되어 있다. 각 화소 PIX는 전류 구동형의 발광 소자인 유기 EL 소자 OEL과, 해당 유기 EL 소자 OEL을 발광 구동하기 위한 전류를 생성하는 화소 구동 회로 DC를 구비하고 있다.

도 6에 나타내는 화소 구동 회로 DC는 트랜지스터 Tr11～Tr13과, 커패시터(용량 소자) Cs를 구비한다. 트랜지스터(제 2 트랜지스터) Tr11은 게이트 단자가 선택 라인 Ls에 접속되고, 드레인 단자와 소스 단자의 한쪽이 전원 라인 La에 접속되고, 드레인 단자와 소스 단자의 다른쪽이 접점 N11에 접속되어 있다. 트랜지스터 Tr12는 게이트 단자가 선택 라인 Ls에 접속되고, 드레인 단자와 소스 단자의 한쪽이 데이터 라인 Ld에 접속되고, 드레인 단자와 소스 단자의 다른쪽이 접점 N12에 접속되어 있다. 트랜지스터(구동 제어 소자, 제 1 트랜지스터) Tr13은 게이트 단자가 접점 N11에 접속되고, 드레인 단자와 소스 단자의 한쪽이 전원 라인 La에 접속되고, 드레인 단자와 소스 단자의 다른쪽이 접점 N12에 접속되어 있다. 커패시터(용량 소자) Cs는 트랜지스터 Tr13의 게이트 단자(접점 N11) 및 드레인 단자와 소스 단자의 다른쪽(접점 N12) 사이에 접속되어 있다. 커패시터 Cs는 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이에 형성되는 기생 용량이라도 좋고, 해당 기생 용량에 부가해서 접점 N11 및 접점 N12 사이에 별개의 용량 소자를 병렬로 접속한 것이라도 좋다.

또, 유기 EL 소자 OEL은 애노드(애노드 전극)가 화소 구동 회로 DC의 접점 N12에 접속되고, 캐소드(캐소드 전극)가 공통 전극 Ec에 접속되어 있다. 공통 전극 Ec는 도 6에 나타내는 바와 같이, 전압 제어 회로(150)에 접속되고, 화소 PIX의 동작 상태에 따라 소정의 전압값의 전압 ELVSS가 설정되어 인가된다. 또한, 도 6에 나타내는 화소 PIX에 있어서는, 커패시터 Cs 이외에 유기 EL 소자 OEL에 화소 용량 Cel이 존재하고, 또 데이터 라인 Ld에 배선 기생 용량 Cp가 존재하고 있다.

전압 제어 회로(150)는 예를 들면, 전압 생성용의 D/A 컨버터(도면 중, 「DAC(C)」로 표기)(151)와, D/A 컨버터(151)의 출력 단자에 접속된 폴로워 앰프 (follower amplifier)(152)를 갖고 있다. D/A 컨버터(151)는 후술하는 특성 파라미터 취득 동작시에는, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 각 화소 PIX의 특성 파라미터에 의거하는 디지털 값(검출 데이터 n_meas(t_c))을 아날로그 신호 전압으로 변환한다. 폴로워 앰프(152)는 D/A 컨버터(151)의 출력에 대한 극성 반전 회로 및 버퍼 회로로서 동작한다. 이것에 의해, D/A 컨버터(151)로부터 출력되는 아날로그 신호 전압이 폴로워 앰프(152)에 의해, 절대값이 D/A 컨버터(151)로부터 출력되는 아날로그 신호 전압에 상당하는 값을 갖고, 부극성의 전압 레벨을 갖는 전압 ELVSS로 변환되고, 표시 패널(110)의 각 화소 PIX에 접속된 공통 전극 Ec에 인가된다. 또, 표시 패널(110)의 표시 동작(기입 동작 및 발광 동작)시에는 전압 제어 회로(150)를 통해, 또는 도시를 생략한 정전압원(定電壓源)으로부터 직접, 예를 들면 접지 전위 GND로 이루어지는 전압 ELVSS가 공통 전극 Ec에 인가된다.

여기서, 본 실시형태에 관한 화소 PIX의 표시 동작(기입 동작 및 발광 동작)시에는, 상술한 전원 드라이버(130)로부터 전원 라인 La에 인가되는 전원 전압 Vsa(ELVDD, DVSS)와, 공통 전극 Ec에 인가되는 전압 ELVSS와, 아날로그 전원(147)으로부터 데이터 드라이버(140)에 공급되는 전원 전압 VEE의 관계는 예를 들면, 다음의 (1)식에 나타내는 조건을 만족하도록 설정되어 있다. 이때, 공통 전극 Ec에 인가되는 전압 ELVSS는, 예를 들면 접지 전위 GND에 설정되어 있다.

또한, (1)식에 있어서는, 공통 전극 Ec에 인가되는 전압 ELVSS는 전원 전압 DVSS와 동 전위로서, 예를 들면 접지 전위 GND로 설정되어 있다고 했지만, 이것에 한정하는 것이 아니고, 전압 ELVSS가 전원 전압 DVSS보다 낮은 전위를 갖고, 전원 전압 DVSS와 전압 ELVSS의 전위차가, 유기 EL 소자 OEL이 발광을 개시하는 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압값으로 설정되어 있어도 좋다.

또, 도 6에 나타낸 화소 PIX에 있어서, 트랜지스터 Tr11～Tr13에 대해서는, 예를 들면 동일한 채널형을 갖는 박막 트랜지스터(TFT)를 적용할 수 있다. 트랜지스터 Tr11～Tr13은 어모퍼스 실리콘 박막 트랜지스터라도 좋고, 폴리 실리콘 박막 트랜지스터라도 좋다.

특히, 도 6에 나타내는 바와 같이, 트랜지스터 Tr11～Tr13로서 n채널형의 박막 트랜지스터를 적용하고, 또한 트랜지스터 Tr11～Tr13으로서 어모퍼스 실리콘 박막 트랜지스터를 적용한 경우에는, 이미 확립된 어모퍼스 실리콘 제조 기술을 적용하여, 다결정형이나 단결정형의 실리콘 박막 트랜지스터에 비해, 간이한 제조 프로세스에서 동작 특성(전자 이동도 등)이 비교적 균일하고 안정된 트랜지스터를 실현할 수 있다.

또, 상술한 화소 PIX는 화소 구동 회로 DC로서 3개의 트랜지스터 Tr11～Tr13을 구비하고, 발광 소자로서 유기 EL 소자 OEL을 적용한 회로 구성예가 채용되어 있다. 본 발명은 이 예에 한정되는 것이 아니고, 3개 이상의 트랜지스터를 구비한 다른 회로 구성을 갖는 것이라도 좋다. 또, 화소 구동 회로 DC에 의해 구동되는 발광 소자는 전류 구동형의 발광 소자이면 좋고, 예를 들면 발광 다이오드 등의 다른 발광 소자라도 좋다.

(표시 장치의 구동 제어 방법)

다음에, 본 실시형태에 관한 표시 장치(100)에 있어서의 구동 제어 방법에 대해 설명한다. 본 실시형태에 관한 표시 장치(100)의 구동 제어 동작은 특성 파라미터 취득 동작이라고 표시 동작을 구비한다.

특성 파라미터 취득 동작에 있어서, 표시 장치(100)는 표시 패널(110)에 배열된 각 화소 PIX에 있어서의 전기적 특성의 변동을 보상하기 위한 파라미터를 취득한다. 더욱 구체적으로는, 표시 장치(100)는 각 화소 PIX의 화소 구동 회로 DC에 설치된 트랜지스터(구동 트랜지스터) Tr13의 임계값 전압 Vth의 변동을 보정하기 위한 파라미터와, 각 화소 PIX에 있어서의 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 파라미터를 취득하는 동작을 실행한다.

표시 동작에 있어서는, 표시 장치(100)는 상술한 특성 파라미터 취득 동작에 의해 화소 PIX마다 취득한 보정 파라미터에 의거하여, 디지털 데이터로 이루어지는 화상 데이터를 보정한 보정 화상 데이터를 생성하고, 해당 보정 화상 데이터에 대응하는 계조 전압 Vdata를 생성하여 각 화소 PIX에 기입한다(기입 동작). 이것에 의해, 각 화소 PIX(유기 EL 소자 OEL)는 각 화소 PIX에 있어서의 전기적 특성(트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth, 전류 증폭률 β)의 변동이나 편차를 보상한, 화상 데이터에 따른 본래의 휘도 계조로 발광한다(발광 동작).

이하, 각 동작에 대해 구체적으로 설명한다.

(특성 파라미터 취득 동작)

여기서는, 처음에 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 있어서 적용되는 특유한 수법에 대해 설명한다. 그 후, 해당 수법을 이용해서 각 화소 PIX의 임계값 전압 Vth 및 전류 증폭률 β를 보상하기 위한 특성 파라미터를 취득하는 동작을 설명한다.

우선, 도 6에 나타낸 화소 구동 회로 DC를 갖는 화소 PIX에, 데이터 드라이버(140)로부터 데이터 라인 Ld를 통해 화상 데이터가 기입되는(화상 데이터에 대응한 계조 전압 Vdata가 인가됨) 경우의, 화소 구동 회로 DC의 전압-전류(V-I) 특성에 대해 설명한다.

도 7은 본 실시형태에 관한 화소 구동 회로를 적용한 화소에 있어서의 화상 데이터의 기입시의 동작 상태도이다. 또, 도 8은 본 실시형태에 관한 화소 구동 회로를 적용한 화소에 있어서의 기입 동작시의 전압-전류 특성을 나타내는 도면이다.

본 실시형태에 관한 화소 PIX로의 화상 데이터의 기입 동작에 있어서는 도 7에 나타내는 바와 같이, 선택 드라이버(120)가 선택 라인 Ls를 통해 선택 레벨(하이 레벨; Vgh)의 선택 신호 Ssel을 인가하는 것에 의해, 화소 PIX가 선택 상태로 설정된다. 이때, 화소 구동 회로 DC의 트랜지스터 Tr11, Tr12가 온(on) 동작하는 것에 의해, 트랜지스터 Tr13은 게이트ㆍ드레인 단자 사이가 단락(短絡)되어, 다이오드 접속 상태로 설정된다. 이 선택 상태에 있어서는, 전원 라인 La에는 전원 드라이버(130)로부터 비발광 레벨의 전원 전압 Vsa(=DVSS; 예를 들면, 접지 전위 GND)가 인가된다. 또, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에 접속되는 공통 전극 Ec에는 전압 제어 회로(150) 또는 도시를 생략한 정전압원으로부터, 전원 전압 DVSS와 동 전위의, 예를 들면 접지 전위 GND로 설정된 전압 ELVSS가 인가된다. 또한, 전압 ELVSS는 전원 전압 DVSS와 동 전위의 전압에 한정하는 것이 아니고, 전압 ELVSS가 전원 전압 DVSS보다 낮은 전위를 갖고, 전원 전압 DVSS와 전압 ELVSS의 전위차가, 유기 EL 소자 OEL이 발광을 개시하는 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압값으로 설정되어 있어도 좋다.

그리고, 이 상태에서, 데이터 라인 Ld에 대해 데이터 드라이버(140)로부터 화상 데이터에 따른 전압값의 계조 전압 Vdata가 인가된다. 여기서, 계조 전압 Vdata는 전원 드라이버(130)로부터 전원 라인 La에 인가되는 전원 전압 DVSS보다 낮은 전압값으로 설정되어 있다. 즉, 기입 동작시에 있어서는 (1)식에 나타내는 예에서는, 전원 전압 DVSS는 공통 전극 Ec에 인가되는 전압 ELVSS와 동일한 전위(접지 전위 GND)로 설정되어 있으므로, 계조 전압 Vdata는 부극성의 전압 레벨로 설정된다.

그 결과, 도 7에 나타내는 바와 같이, 전원 드라이버(130)로부터 전원 라인 La, 화소 PIX(화소 구동 회로 DC)의 트랜지스터 Tr13, Tr12를 통해, 데이터 라인 Ld 방향에 계조 전압 Vdata에 따른 드레인 전류 Id가 흐른다. 이때, 유기 EL 소자 OEL에는 발광 임계값 전압보다 낮은 전압 또는 역(逆) 바이어스 전압이 인가되므로, 발광 동작은 실행되지 않는다.

이 경우의 화소 구동 회로 DC에 있어서의 회로 특성은 이하와 같다. 화소 구동 회로 DC에 있어서, 구동 트랜지스터인 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth의 변동이 생기고 있지 않고, 또한 화소 구동 회로 DC에 있어서의 전류 증폭률 β에 편차가 없는 초기 상태의 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압을 Vth₀이라고 하고, 전류 증폭률을 β라고 했을 때, 도 7에 나타낸 드레인 전류 Id의 전류값은 다음 (2)식으로 나타낼 수 있다.

Id=β(V₀－Vdata－Vth₀)² … (2)

여기서, 화소 구동 회로 DC에 있어서의 설계값 또는 표준값의 전류 증폭률 β, 및 트랜지스터 Tr13의 초기 임계값 전압 Vth₀은 모두 정수이다. 또, V₀은 전원 드라이버(130)로부터 인가되는 비발광 레벨의 전원 전압 Vsa(=DVSS)로서, 전압(V₀－Vdata)은 트랜지스터 Tr13 및 Tr12의 각 전류로가 직렬 접속된 회로 구성에 인가되는 전위차에 상당한다. 이때의 화소 구동 회로 DC에 인가되는 전압(V₀－Vdata)의 값과, 화소 구동 회로 DC에 흐르는 드레인 전류 Id의 전류값의 관계(V-I 특성)는 도 8 중에 특성선 SP1로 나타난다.

경시 변화에 의해 트랜지스터 Tr13의 소자 특성에 변동(임계값 전압 시프트; 임계값 전압 Vth의 변동량을 ΔVth라고 함)이 생긴 후의 임계값 전압을 Vth(=Vth_{0 ＋}ΔVth)라고 했을 때, 화소 구동 회로 DC의 회로 특성은 다음의 (3)식과 같이 변화된다. 여기서, Vth는 정수이다. 이때의 화소 구동 회로 DC의 전압-전류(V-I) 특성은 도 8 중에 특성선 SP3으로 나타난다.

Id=β(V₀－Vdata－Vth)² … (3)

또, (2)식에 나타낸 초기 상태에 있어서, 전류 증폭률 β에 편차가 생긴 경우의 전류 증폭률을 β′라고 했을 때, 화소 구동 회로 DC의 회로 특성은 다음의 (4)식으로 나타낼 수 있다.

Id=β′(V₀－Vdata－Vth₀)² … (4)

여기서, β′는 정수이다. 이때의 화소 구동 회로 DC의 전압-전류(V-I) 특성은 도 8 중에 특성선 SP2로 나타난다. 또한, 도 8 중에 나타낸 특성선 SP2는 (4)식에 있어서의 전류 증폭률 β′가 (2)식에 나타낸 전류 증폭률 β보다 작은 경우(β′<β)의 화소 구동 회로 DC의 전압-전류(V-I) 특성을 나타내고 있다.

(2)식 및 (4)식에 있어서, 설계값 또는 표준값의 전류 증폭률을 βtyp라고 한 경우, 전류 증폭률 β′가 βtyp의 값이 되도록 보정하기 위한 파라미터(보정 데이터)를 Δβ라고 한다. 이때, 전류 증폭률 β′와 보정 데이터 Δβ의 곱셈값이 설계값의 전류 증폭률 βtyp로 되도록(즉, β′×Δβ=βtyp가 되도록), 각각의 화소 구동 회로 DC에 대해 보정 데이터 Δβ가 주어진다.

그리고, 본 실시형태에 있어서는, 표시 장치(100)는 상술한 화소 구동 회로 DC의 전압-전류 특성((2)～(4)식 및 도 8)에 의거하여, 이하와 같은 특유의 수법으로 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth, 및 전류 증폭률 β′를 보정하기 위한 특성 파라미터를 취득한다. 또한, 본 명세서에 있어서는 이하에 나타내는 수법을 편의적으로 「오토 제로법」이라고 호칭한다.

본 실시형태에 있어서의 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 수법(오토 제로법)에서는, 도 6에 나타낸 화소 구동 회로 DC를 갖는 화소 PIX에 대해, 선택 상태에서 상술한 데이터 드라이버(140)가 데이터 드라이버 기능을 이용하여, 데이터 라인 Ld에 검출용 전압 Vdac를 인가한다. 그 후, 데이터 라인 Ld를 하이 임피던스 (HZ) 상태로 하여, 데이터 라인 Ld의 전위를 자연 완화시킨다. 그리고, 데이터 드라이버(140)는 일정 시간(완화 시간 t)의 자연 완화가 실행된 후의 데이터 라인 전압 Vd를, 전압 검출 기능을 이용해서 검출 전압 Vmeas(t)로서 받아들이고, 디지털 데이터로 이루어지는 검출 데이터 n_meas(t)로 변환한다. 여기서, 본 실시형태에 있어서는, 데이터 드라이버(140)는 컨트롤러(160)로부터의 데이터 제어 신호에 따라서, 이 완화 시간 t를 다른 시간(타이밍; t₀, t₁, t₂, t₃)으로 설정하고, 검출 전압 Vmeas(t)의 받아들임 및 검출 데이터 n_meas(t)로의 변환을 복수회 실행한다.

우선, 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 오토 제로법의 기본적인 사고 방식에 대해 설명한다. 도 9는 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 수법(오토 제로법)에 있어서의 데이터 라인 전압의 변화를 나타내는 도면(과도 곡선)이다.

오토 제로법을 이용한 특성 파라미터 취득 동작에서는 데이터 드라이버(140)는 우선 화소 PIX를 선택 상태로 설정한 상태에서, 화소 구동 회로 DC의 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이(접점 N11과 N12 사이)에 해당 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압을 넘는 전압이 인가되도록, 데이터 라인 Ld에 대해 검출용 전압 Vdac를 인가한다.

이때, 화소 PIX로의 기입 동작에 있어서는 전원 드라이버(130)는 전원 라인 La에 대해, 비발광 레벨의 전원 전압 DVSS(=V₀; 접지 전위 GND)를 인가하고, 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이에는 (V₀－Vdac)의 전위차가 인가된다. 따라서, 검출용 전압 Vdac는 V₀－Vdac>Vth의 조건을 만족시키는 전압으로 설정된다. 덧붙여서, 검출용 전압 Vdac는 전원 전압 DVSS보다 낮은 부극성의 전압 레벨로 설정된다. 여기서, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에 접속되는 공통 전극 Ec에 인가되는 전압 ELVSS는, 트랜지스터 Tr13의 소스 단자에 인가되는 검출용 전압 Vdac와의 사이에 생기는 전위차에 의해, 해당 유기 EL 소자 OEL이 발광 동작하지 않는 전압값으로 설정된다. 더욱 구체적으로는, 전압 ELVSS는 유기 EL 소자 OEL이 발광 동작할 정도의 순(順) 바이어스 전압, 및 후술하는 보정 동작에 영향을 끼칠 정도의 전류 리크를 수반하는 역 바이어스 전압 중의 어느 것에도 해당하지 않는 전압값(또는, 전압 범위)으로 설정된다. 또한, 이 전압 ELVSS의 설정에 대해서는 후술한다.

그 결과, 전원 드라이버(130)로부터 전원 라인 La, 트랜지스터 Tr13의 드레인ㆍ소스 단자 사이, Tr12의 드레인ㆍ소스 단자 사이를 통해, 데이터 라인 Ld 방향에 검출용 전압 Vdac에 따른 드레인 전류 Id가 흐른다. 이때, 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이(접점 N11과 N12사이)에 접속된 커패시터 Cs는 검출용 전압 Vdac에 대응한 전압에 충전된다.

이어서, 데이터 드라이버(140)는 데이터 라인 Ld의 데이터 입력측(데이터 드라이버(140)측)을 하이 임피던스(HZ) 상태로 설정한다. 데이터 라인 Ld를 하이 임피던스 상태로 설정한 직후에 있어서는 커패시터 Cs에 충전된 전압은 검출용 전압 Vdac에 따른 전압에 유지된다. 그 때문에, 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이 전압 Vgs는 커패시터 Cs에 충전된 전압에 유지된다.

그 결과, 데이터 라인 Ld가 하이 임피던스 상태로 설정된 직후에 있어서는 트랜지스터 Tr13은 온 상태를 유지하고, 트랜지스터 Tr13의 드레인ㆍ소스 단자 사이에 드레인 전류 Id가 흐른다. 여기서, 트랜지스터 Tr13의 소스 단자(접점 N12)의 전위는 시간의 경과와 함께 드레인 단자측의 전위에 근접하도록 서서히 상승하고, 트랜지스터 Tr13의 드레인ㆍ소스 단자 사이에 흐르는 드레인 전류 Id의 전류값이 감소해 간다.

이 상황에 따라서, 커패시터 Cs에 축적된 전하의 일부가 방전되어 가는 것에 의해, 커패시터 Cs의 양단간 전압(트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이 전압 Vgs)이 서서히 저하된다. 그 결과, 데이터 라인 전압 Vd는 도 9에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac로부터, 트랜지스터 Tr13의 드레인 단자측의 전압(전원 라인 La의 전원 전압 DVSS(=V₀))으로부터 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth분을 뺀 전압(V₀－Vth)에 집속(收束)하도록 서서히 상승한다(자연 완화).

이러한 자연 완화에 있어서, 최종적으로 트랜지스터 Tr13의 드레인ㆍ소스 단자 사이에 드레인 전류 Id가 흐르지 않게 되면, 커패시터 Cs에 축적된 전하의 방전이 정지된다. 이때의 트랜지스터 Tr13의 게이트 전압(게이트ㆍ소스 단자 사이 전압 Vgs)이 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth가 된다.

화소 구동 회로 DC의 트랜지스터 Tr13의 드레인ㆍ소스 단자 사이에 드레인 전류 Id가 흐르지 않는 상태에서는 트랜지스터 Tr12의 드레인ㆍ소스 단자 사이 전압은 대략 0V가 되므로, 자연 완화의 종료시에는 데이터 라인 전압 Vd는 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 대략 동등하게 된다.

또한, 도 9에 나타낸 과도 곡선에 있어서, 데이터 라인 전압 Vd는 시간(완화 시간 t)의 경과와 함께, 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth(=|V₀－Vth|; V₀=0V)에 집속해 간다. 여기서, 데이터 라인 전압 Vd는 완화 시간 t의 경과와 함께, 임계값 전압 Vth에 끝없이 점점 가까워져 간다. 그렇지만, 완화 시간 t를 충분히 길게 설정했다고 해도, 이론적으로는 임계값 전압 Vth에 완전히 동등하게는 되지 않는다. 이러한 과도 곡선(자연 완화에 의한 데이터 라인 전압 Vd의 거동)은 다음의 (11)식으로 나타낼 수 있다.

(11)식에 있어서, C는 도 6에 나타낸 화소 PIX의 회로 구성에 있어서의 데이터 라인 Ld에 부가되는 용량성분의 총합이고, C=Cel＋Cs＋Cp(Cel; 화소 용량, Cs; 커패시터 용량, Cp; 배선 기생 용량)로 나타난다. 또한, 검출용 전압 Vdac는 다음의 (12)식의 조건을 만족시키는 전압값으로 정의된다.

(12)식에 있어서, Vth_max는 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth의 보상 임계값을 나타낸다. n_d는 데이터 드라이버(140)의 DAC/ADC 회로(144)에 있어서, DAC42에 입력되는 초기의 디지털 데이터(검출용 전압 Vdac를 규정하기 위한 디지털 데이터)라고 정의되고, 해당 디지털 데이터 n_d가 10비트의 경우, d에 대해 1～1023 중 (12)식의 조건을 만족시키는 임의의 값이 선택된다. 또, ΔV는 디지털 데이터의 비트 폭(1비트에 대응하는 전압폭)이고, 디지털 데이터 n_d가 10비트의 경우, 다음의 (13)식과 같이 나타난다.

(11)식이 있어서, 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t)), 해당 데이터 라인 전압 Vd의 집속값 V₀－Vth, 및 전류 증폭률 β와 용량 성분의 총합 C로 이루어지는 파라미터 β/C에 관한 ξ가, 각각 다음의 (14), (15)식과 같이 정의된다. 여기서, 완화 시간 t에 있어서의 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))에 대한 ADC43의 디지털 출력(검출 데이터)은 n_meas(t)라고 정의되고, 임계값 전압 Vth의 디지털 데이터는 n_th라고 정의된다.

(14)식 및 (15)식에 나타낸 정의에 의거하여, (11)식을 데이터 드라이버 (140)의 DAC/ADC 회로(144)에 있어서, DAC42에 입력되는 실제의 디지털 데이터(화상 데이터) n_d와, ADC43에 의해 아날로그-디지털 변환되어 실제로 출력되는 디지털 데이터(검출 데이터) n_meas(t)의 관계로 바꿔 놓으면, (11)식은 다음의 (16)식과 같이 나타낼 수 있다.

(15) 및 (16)식에 있어서, ξ가 아날로그 값에 있어서의 파라미터 β/C의 디지털 표현이고, ξㆍt는 무차원이 된다. 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 변동(Vth 시프트)이 생기고 있지 않는 초기의 임계값 전압 Vth₀은 1V 정도라고 한다.

이때, ξㆍtㆍ(n_d－n_th)≫1의 조건을 만족하도록, 다른 2개의 완화 시간 t=t₁, t₂를 설정하는 것에 의해, 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 변동에 따른 보상 전압 성분(오프셋 전압) Voffset(t₀)은 다음의 (17)식과 같이 나타낼 수 있다.

(17)식에 있어서, n₁, n₂는 각각 (16)식에 있어서 완화 시간 t를 t₁, t₂로 설정한 경우에, ADC43으로부터 출력되는 디지털 데이터(검출 데이터) n_meas(t₁), n_meas(t₂)이다.

트랜지스터의 임계값 전압 Vth의 디지털 데이터 n_th는 (16)식 및 (17)식에 의거하여, 완화 시간 t= t₀에 있어서 ADC43으로부터 출력되는 디지털 데이터 n_meas(t₀)을 이용하여, 다음의 (18)식과 같이 나타낼 수 있다. 또, 오프셋 전압 Voffset의 디지털 데이터 digital Voffset는 다음의 (19)식과 같이 나타낼 수 있다. (18)식 및 (19)식에 있어서, <ξ>는 파라미터 β/C의 디지털 값인 ξ의 전체 화소 평균값이다. 여기서, <ξ>는 소수점 이하를 고려하지 않는 것으로 한다.

따라서, (18)식으로부터 임계값 전압 Vth를 보정하기 위한 디지털 데이터(보정 데이터)인 n_th가 전체 화소분 구해진다.

전류 증폭률 β의 편차는 완화 시간 t를 도 9의 과도 곡선에 나타내는 t₃으로 설정한 경우에, ADC43으로부터 출력되는 디지털 데이터(검출 데이터) n_meas(t₃)에 의거하여, (16)식을 ξ에 관해 답을 내는 것에 의해, 다음의 (20)식과 같이 나타난다. 여기서, t₃은 (17)식 및 (18)식에 있어서 이용되는 t₀, t₁, t₂에 비해 충분히 짧은 시간으로 설정된다.

(20)식의 ξ에 관해, 각 데이터 라인 Ld의 용량 성분의 총합 C가 동등하게 되도록 표시 패널(발광 패널)을 설계하고, 또한, (13)식에 나타내는 바와 같이, 디지털 데이터의 비트 폭 ΔV를 미리 결정해 두는 것에 의해, ξ를 정의하는 (15)식의 ΔV 및 C는 정수로 된다.

그리고, ξ 및 β의 원하는 설정값을 각각 ξtyp 및 βtyp라고 하면, 표시 패널(110)내의 각 화소 구동 회로 DC의 ξ의 편차를 보정하기 위한 곱셈 보정값 Δξ, 즉, 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 디지털 데이터(보정 데이터) Δβ는 편차의 2승항을 무시하면, 다음의 (21)식과 같이 정의할 수 있다.

따라서, 화소 구동 회로 DC의 임계값 전압 Vth의 변동을 보정하기 위한 보정 데이터 n_th(제 1 특성 파라미터), 및 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ(제 2 특성 파라미터)는 (18)식 및 (21)식에 의거하여, 상술한 일련의 오토 제로법에 있어서의 완화 시간 t를 바꾸고, 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))를 복수회 검출함으로써 구할 수 있다. 또한, 상술한 바와 같은 보정 데이터 n_th, Δβ의 취득 처리는 도 5에 나타낸 바와 같은 컨트롤러(160)의 보정 데이터 취득 기능 회로(166)에 있어서 실행된다.

(18)식에 의해 산출된 보정 데이터 n_th는 후술하는 표시 동작에 있어서, 본 실시형태에 관한 표시 장치(100)의 외부로부터 입력되는 화상 데이터 n_d에 대해, 전류 증폭률 β의 편차 보정(Δβ 곱셈 보정)과 임계값 전압 Vth의 변동 보정(n_th 가산 보정)을 실시하여 보정 화상 데이터 n_{d _ comp}를 생성할 때에 이용된다. 이 보정 화상 데이터의 생성에 의해, 데이터 드라이버(140)로부터 보정 화상 데이터 n_{d _ comp}에 따른 아날로그 전압값의 계조 전압 Vdata가 데이터 라인 Ld를 통해 각 화소 PIX에 공급되므로, 각 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL을, 전류 증폭률 β의 편차나 구동 트랜지스터의 임계값 전압 Vth의 변동의 영향을 받을 일 없고, 원하는 휘도 계조로 발광 동작할 수 있고, 양호하고 또한 균일한 발광 상태를 실현할 수 있다.

상술한 일련의 오토 제로법에 있어서, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드(공통 전극 Ec)에 인가되는 전압 ELVSS에 대해 설명한다. 구체적으로는, 상술한 일련의 오토 제로법에 있어서, 각 화소 PIX(화소 구동 회로 DC)의 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth 및 전류 증폭률 β를 산출하기 위해 검출되는 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))로의 전압 ELVSS의 영향은 구체적으로는 이하와 같다.

도 10은 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작(오토 제로법)에 있어서의 유기 EL 소자의 캐소드로부터의 리크 현상을 설명하기 위한 도면이다. 상술한 오토 제로법을 이용한 특성 파라미터 취득 동작으로 있어서는 데이터 라인 Ld에 검출용 전압 Vdac를 인가할 때에, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드(공통 전극 Ec)에 유기 EL 소자 OEL이 발광 동작할 정도의 순 바이어스 전압, 및 후술하는 보정 동작에 영향을 끼칠 만큼의 전류 리크를 수반하는 역 바이어스 전압 중의 어느 것에도 해당하지 않는 전압값(또는, 전압 범위)의 전압 ELVSS가 인가되는 것을 설명했다.

이하에서는, 우선 도 10에 나타내는 바와 같이, 전압 ELVSS로서, 도 7에 나타낸 화상 데이터의 기입시와 마찬가지로, 유기 EL 소자 OEL이 발광 동작하지 않는 전압값이고, 또한 전원 전압 DVSS와 동일한 전압값인, 예를 들면 접지 전위 GND를 초기 전압으로서 공통 전극 Ec에 인가하고, 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압을 인가한 경우의 화소 구동 회로 DC의 거동에 대해 설명한다. 또한, 이 전압 ELVSS의 초기 전압은 전원 전압 DVSS와 동 전위의 전압에 한정하는 것이 아니고, 전압 ELVSS가 전원 전압 DVSS보다 낮은 전위를 갖고, 전원 전압 DVSS와 전압 ELVSS의 전위차가, 유기 EL 소자 OEL이 발광을 개시하는 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압값으로 설정되어 있어도 좋다.

이 경우, 도 10에 나타내는 바와 같이, 전원 라인 La에 인가된 전원 전압 DVSS(접지 전위 GND)와, 데이터 라인 Ld에 인가된 검출용 전압 Vdac의 사이의 전위차에 따라, 트랜지스터 Tr13에 드레인 전류 Id가 흐른다. 또, 드레인 전류 Id와 함께, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드(공통 전극 Ec)에 인가된 전압 ELVSS(접지 전위 GND)와, 데이터 라인 Ld에 인가된 검출용 전압 Vdac의 사이의 전위차에 따라, 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류 Ilk가 흐른다.

이때, 각 유기 EL 소자 OEL에 있어서의 역 바이어스 전압의 인가 시의 전류 특성의 영향(구체적으로는, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류 Ilk의 전류값)이 매우 작고, 또한 균일할 경우에는 검출된 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))는, 실질적으로 각 화소 PIX의 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth나 전류 증폭률 β에 밀접하게 대응(관련)한 전압값을 나타낸다.

그렇지만, 유기 EL 소자 OEL에서는 소자 구조나 제조 프로세스, 구동 이력(발광 이력) 등에 기인하여 소자 특성의 변화나 편차가 생기는 것은 피할 수 없다. 그 때문에, 각 유기 EL 소자 OEL에 있어서의 역 바이어스 전압의 인가 시의 전류 특성에 편차가 생기고, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류 Ilk의 전류값이 비교적 큰 유기 EL 소자 OEL이 존재하면, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류에 의한 전압 성분이 검출 전압 Vmeas(t)에 포함되고, 또한 그 전압 성분이 불균일한 것에 의해, 검출 전압 Vmeas(t)와 각 화소 PIX의 전류 증폭률 β의 관련성을 크게 해치게 된다. 즉, 검출 전압 Vmeas(t)로부터는, 유기 EL 소자 OEL에 있어서의 리크 전류 Ilk에 의한 전압 성분과, 트랜지스터 Tr13에 흐르는 드레인 전류 Id에 의한 전압 성분을 구별할 수 없다.

이러한 상태에서 취득한 각 화소 PIX의 특성 파라미터에 의거하여, 후술하는 바와 같은 화상 데이터의 보정 동작을 실행하면, 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류 Ilk가 있을 경우, 검출 전압 Vmeas(t)에 이 리크 전류에 의한 전압 성분이 포함되어 버리기 때문에, 외관상, 트랜지스터 Tr13의 전류 구동 능력(즉, 전류 증폭률 β)이 크다고 판단되게 된다. 그 때문에, 보정된 화상 데이터에 의거하여 발광 동작을 실행할 때에, 트랜지스터 Tr13에 의해 생성되는 발광 구동 전류 Iem의 전류값이, 본래의 트랜지스터 Tr13의 특성에 의거하는 전류값보다 작게 설정되게 된다. 이것에 의해, 리크 전류 Ilk가 생긴 화소 PIX, 또는 리크 전류 Ilk의 전류값이 큰 화소 PIX는 보정 동작에 의해 발광 휘도가 저하되게 되므로, 휘도 불균일이 강조되게 되고, 표시 화질의 열화를 초래할 가능성이 있다.

이것에 대해, 본 실시형태는 각 화소 PIX의 특성 파라미터의 취득에 있어서, 상술한 바와 같은 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류 Ilk의 영향을 배제할 수 있도록 한 것이다.

즉, 본 실시형태에 있어서는, 표시 장치(100)는 상술한 특성 파라미터 취득 동작에 앞서, 오토 제로법을 이용하여, 유기 EL 소자 OEL에 인가하는 전압 ELVSS의 전압값을 설정하기 위한 처리를 실행한다(전압 취득 동작). 이것에 의해 각 화소 PIX의 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ을 취득하기 위한 특성 파라미터 취득 동작시에 적용하는 전압 ELVSS의 전압값을 취득한다. 그 후, 전압 ELVSS를 전압 취득 동작에 의해 취득한 전압값으로 설정한 상태에서, 상술한 일련의 오토 제로법을 이용한 특성 파라미터 취득 동작을 실행한다. 이것에 의해, 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 배제하고, 적어도 각 화소 PIX의 트랜지스터 Tr13 본래의 임계값 전압 Vth 및 전류 증폭률 β의 보정 데이터를 산출한다.

본 실시형태에 있어서는, 표시 장치(100)는 이러한 전압 취득 동작 및 특성 파라미터 취득 동작으로 이루어지는 일련의 처리 동작을, 예를 들면 표시 장치 (100)의 공장 출하시 등의 소자 특성의 경시 열화가 생기고 있지 않는 초기 상태, 및 표시 장치의 사용에 의해 구동 이력(발광 이력) 등에 기인해서 소자 특성이 경시 변화한 상태(경시 상태)에 있어서 개별로 실행한다.

도 11은 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 처리 동작을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 12는, 도 11에 나타낸 처리 동작을 설명하기 위한, 전압 ELVSS를 바꾸었을 때의 데이터 라인 전압의 변화(과도 곡선)의 일례를 나타내는 도면이다.

본 처리 동작에서는 데이터 드라이버(140)는 도 11에 나타내는 바와 같이, 우선 스텝S101에 있어서, 전압 취득 동작을 위한 미리 설정된 완화 시간 t_c에서, 상술한 오토 제로법을 이용해서 데이터 라인 전압 Vd의 검출 동작을 실행한다. 즉, 데이터 드라이버(140)는 선택 상태로 설정된 화소 PIX에 접속된 데이터 라인 Ld에 소정의 검출용 전압 Vdac를 인가한다. 이때, 해당 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에는 전압 ELVSS의 초기값으로서, 예를 들면 전원 전압 DVSS와 동일한 전압인 접지 전위 GND가 인가된다. 그리고, 데이터 드라이버(140)는 해당 데이터 라인 Ld를 하이 임피던스(HZ) 상태로 해서, 완화 시간 t_c만 데이터 라인 Ld의 전위를 자연 완화시킨 후, 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t_c))에 따른, 디지털 데이터로 이루어지는 검출 데이터 n_meas(t_c)를 취득한다. 이러한 검출 데이터 n_meas(t_c)의 취득 동작을 표시 패널(110)의 모든 화소 PIX에 대해 실행한다. 여기서, 본 처리 동작에 적용되는 완화 시간 t_c는 (11)식 및 (12)식에 의거하여, 다음의 (22)식에 나타내는 바와 같은 관계를 갖는 값으로 설정된다.

t_c≫(β/C)(V₀－Vdac－Vth) … (22)

이어서, 스텝S102에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 전체 화소 PIX에 대해 취득된 검출 데이터 n_meas(t_c)의 도수 분포로부터, 그 평균값(또는 피크값), 또는 최대값, 또는 평균값과 최대값의 사이의 값인 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_c)를 추출한다. 여기서, 검출 데이터 n_meas(t_c)의 도수 분포는 전체 화소 PIX 중, 극히 일부의 화소 PIX만이 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 크게 받지만, 그 외의 대부분의 화소 PIX에서는 그 영향이 비교적 작으므로, 극히 좁은 검출 데이터의 범위(즉, 전압 범위)에 도수가 집중된다. 이 때문에, 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_c)는 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 거의 받고 있지 않는 값으로 된다.

이어서, 스텝S103에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 스텝S102에 의해 추출된 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_c)를 도 6에 나타낸 전압 제어 회로(150)에 입력한다. 이것에 의해, D/A 컨버터(151)에 의해서, 해당 디지털 값으로 이루어지는 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_c)가 아날로그 신호 전압으로 변환되고, 또한, 폴로워 앰프(152)에 의해, 소정의 전압 레벨로 증폭되어 공통 전극 Ec에 인가된다. 이것에 의해, 전압 ELVSS의 전압이 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_c)에 대응하는 전압값을 갖는 부극성의 전압 레벨로 설정된다. 즉, 전압 ELVSS의 전압은 검출 전압 Vmeas(t_c)와 동일한 극성을 갖고, 전원 라인 La와 공통 전극 Ec의 사이의 전위차의 절대값이, 전원 라인 La와 데이터 라인 Ld의 데이터 드라이버(140)측의 일단의 사이의 전위차의 절대값의 평균값, 또는 최대값, 또는 평균값과 최대값의 사이로 되는 값으로 설정되어 있다.

이어서, 스텝S104에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 데이터 드라이버(140)를 통해, 상술한 오토 제로법을 이용한 특성 파라미터 취득 동작에 의거하여, 각 화소 PIX의 특성 파라미터(적어도, 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ)를 취득한다. 즉, 우선, 데이터 드라이버(140)는 선택 상태로 설정된 화소 PIX에 접속된 데이터 라인 Ld에 소정의 검출용 전압 Vdac를 인가한다. 이때, 해당 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에는 상술한 스텝S102에 의해 추출된 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_c)에 대응하는 전압이 인가된다. 이것에 의해, 데이터 라인 전압 Vd를 검출할 때에, 각 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL에는 거의 역 바이어스 전압이 인가되지 않게 된다. 그 후, 데이터 드라이버(140)는 해당 데이터 라인 Ld를 하이 임피던스(HZ) 상태로 해서, 소정의 완화 시간 t₃에서 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t₃))를 검출하고, 검출 데이터 n_meas(t₃)을 취득하는 동작을 실행한다. 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 이와 같이 해서 취득된 검출 데이터 n_meas(t₃)을 이용해서, (11)식～(21)식에 의거하여, 각 화소 PIX의 특성 파라미터(보정 데이터 Δβ)를 산출한다.

여기서, 스텝S101, S102로 이루어지는 전압 취득 동작은 표시 장치의 소자 특성이 경시 열화를 생기고 있지 않는 초기 상태에 있어서 실행된다. 그리고, 스텝S104에 있어서의 특성 파라미터의 취득에서는, 각 화소 PIX에 관한 취득 가능한 특성 파라미터(보정 데이터 n_th 및 Δβ) 중, 적어도 보정 데이터 Δβ(전류 증폭률 β의 편차 보정용)를 취득하는 특성 파라미터 취득 동작 시에, 스텝S103에 나타낸 전압값이 전압 ELVSS로서 설정되어 있으면 좋다.

여기서, 도 11에 나타낸 바와 같은 처리 동작을 실행한 경우에 있어서, 전압 ELVSS를 바꾸었을 때의 데이터 라인 전압 Vd의 변화에 대해, 도 12를 참조해서 설명한다. 도 12는 특성 파라미터 취득 동작에 있어서, 검출용 전압 Vdac으로서, 예를 들면 －4.7V를 데이터 라인 Ld에 인가한 후, 하이 임피던스 상태로 한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화를 나타내는 과도 곡선이다. 여기서, 도 12에 나타내는 데이터 라인 전압 측정 기간은 그 기간내에서 상기의 완화 시간 t_c가 설정되는 기간을 나타낸다.

도 12에 있어서 점선에서 나타낸 곡선 SPA0은 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 없는 상태의 데이터 라인 전압 Vd의 변화(이상값)를 나타낸다. 즉, 곡선 SPA0은 도 9에 나타낸 과도 곡선에 대응한다. 이 경우의 데이터 라인 전압 Vd는 도 12에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac으로부터 서서히 상승하고, 대체로 2.0msec이 경과한 시점에서, 트랜지스터 Tr13의 드레인측의 전압(전원 라인 La의 전원 전압 DVSS(=V₀=GND))으로부터 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth분을 뺀 전압(V₀－Vth; 예를 들면, 대체로 －1.8V)에 집속한다(자연 완화). 여기서, 이러한 자연 완화에 의해, 데이터 라인 전압 Vd가 집속하는 전압값은 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 대략 동등하다.

한편, 도 12에 있어서 실세선(實細線, thin solid line)으로 나타낸 곡선 SPA1은 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 있을 때에, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에 접지 전위 GND(=0V)로 이루어지는 전압 ELVSS를 인가한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화를 나타낸다. 즉, 곡선 SPA1은 유기 EL 소자 OEL에 대체로 －4.7V의 역 바이어스 전압이 인가된 경우의 과도 곡선을 나타내고 있다.

이 경우의 데이터 라인 전압 Vd는 도 12에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac로부터 서서히 상승하고, 곡선 SPA0에 있어서의 집속 전압(≒임계값 전압 Vth)보다 높은 전압에 집속하는 경향을 나타낸다. 구체적으로는 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 관한 드레인 전류 Id에 부가해서, 유기 EL 소자 OEL에 인가되는 역 바이어스 전압에 수반하는 리크 전류 Ilk가 데이터 라인 Ld에 흐르기 때문에, 데이터 라인 전압 Vd는 곡선 SPA0에 있어서의 집속 전압보다 리크 전류 Ilk에 기인하는 전압 성분만큼 높은 전압에 집속한다. 또한, 도 12에 있어서, 전압 ELVSS를 접지 전위 GND(=0V)로 설정한 경우의 리크 전류 Ilk는 10A/m²이다. 스텝S101에 있어서 검출되는 데이터 라인 전압 Vd는 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 없을 때(곡선 SPA0)의 데이터 라인 전압 Vd와, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 있을 때(곡선 SPA1)의 데이터 라인 전압 Vd를 포함하는 것으로 된다. 그리고, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 있을 때의 데이터 라인 전압 Vd의 전압값의 절대값은, 리크 전류가 없을 때의 데이터 라인 전압 Vd의 전압값의 절대값보다 작아진다.

한편, 도 12에 있어서 두꺼운 실선으로 나타낸 곡선 SPA2는 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 있을 때에, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에 －2V의 전압 ELVSS를 인가한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화를 나타낸다. 여기서, 전압 ELVSS에 설정되는 －2V는 스텝S102에서 추출된 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(tc)에 대응하는 전압값이다. 즉, 곡선 SPA2는 유기 EL 소자 OEL에 대체로 －2.7V의 역 바이어스 전압이 인가된 경우의 과도 곡선을 나타내고 있다.

이 경우의 데이터 라인 전압 Vd는 도 12에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac로부터 가파르게 상승하고, 곡선 SPA0에 있어서의 집속 전압(≒임계값 전압 Vth)과 대략 동등의 전압에 집속하는 경향을 나타낸다. 즉, 전압 ELVSS를, 특정 검출 데이터 n_meas(t_c)에 대응하는 값을 갖는 －2V로 설정하는 것에 의해, 데이터 라인 전압 Vd를 검출할 때에, 각 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL에 거의 역 바이어스 전압이 인가되지 않게 되기 때문에, 데이터 라인 전압 Vd으로의 리크 전류 Ilk의 영향이 배제된다.

도 13은 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 적용되는 처리 동작의 개략을 나타내는 흐름도이다. 도 14는 도 13에 나타낸 처리 동작을 적용한 경우의 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에서의 데이터 라인 전압의 변화 (과도 곡선)의 일례를 나타내는 도면이다. 여기서, 상술한 설명과 동등한 처리 동작이나 전압 변화에 대해서는 그 설명을 간략화 한다. 도 15의 (a), (b)는 도 13에 나타낸 처리 동작을 적용한 경우의 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에 있어서의 검출 데이터의 전압 분포를 나타내는 히스토그램이다. 도 15의 (a), (b)에 있어서, 가로축은 검출 전압 Vmeas(t)의 전압값을 나타내는 디지털 값이고, 세로축은 빈도를 나타낸다. 세로축은 로그 스케일(logarithmic scale)(대수 눈금)으로 되어 있다.

상술한 경시 상태에 있어서 실행되는 처리 동작에서는 도 13에 나타내는 바와 같이, 우선 스텝S201에 있어서, 데이터 드라이버(140)는 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ을 취득하기 위해, 통상의 특성 파라미터 취득 동작과 마찬가지로, 완화 시간 t_c와 동등의 완화 시간 t_d에서 오토 제로법을 이용하여 데이터 라인 전압 Vd의 검출 동작을 실행한다. 즉, 데이터 드라이버(140)는 선택 상태로 설정된 화소 PIX에 접속된 데이터 라인 Ld에 검출용 전압 Vdac를 인가한다. 이때, 전압 제어 회로(150)는 해당 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에, 전압 ELVSS의 초기값으로서, 예를 들면 전원 전압 DVSS와 동일한 전압인 접지 전위 GND를 인가한다. 그리고, 데이터 드라이버(140)는 해당 데이터 라인 Ld를 하이 임피던스(HZ) 상태로 해서, 완화 시간 t_d만큼 데이터 라인 Ld의 전위를 자연 완화시킨 후, 데이터 라인 Ld의 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t₃))에 따른 디지털 데이터로 이루어지는 검출 데이터 n_meas(t_d)를 취득한다. 이러한 검출 데이터 n_meas(t_d)의 취득 동작은 표시 패널(110)의 모든 화소 PIX에 대해 실행된다.

이어서, 스텝S202에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 전체 화소 PIX에 대해 취득된 검출 데이터 n_meas(t_d)의 도수 분포로부터, 그 평균값(피크값), 또는 최대값, 또는 평균값과 최대값의 사이의 값인 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_d)를 추출한다. 여기서, 극히 일부의 화소 PIX는 소자 특성의 편차에 의해, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 크게 받고, 검출 데이터 n_meas(t_d)의 도수 분포(검출 전압 Vmeas(t)의 디지털 값에 대한 빈도; 히스토그램)는, 예를 들면 도 15의 (a)에 나타내는 바와 같이, 상기 분포 중의 높은 도수 부분에 대응하는 디지털 값(검출 전압)의 범위보다 낮은 검출 전압 영역으로 분포가 확대되는 경향을 나타내지만, 대부분의 화소 PIX가 대체로 300 부근의 극히 좁은 디지털 값의 범위(즉, 전압 범위)에 집중하는 경향을 나타내기 때문에, 특정 검출 데이터 n_{meas_m}(t_d)는 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 거의 받고 있지 않는 값으로 된다.

이어서, 스텝S203에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 스텝S202에 의해 추출된 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_d)에 대응하는 전압값을 전압 ELVSS에 설정한다. 이어서, 스텝S204에 있어서, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 데이터 드라이버(140)를 통해, 오토 제로법을 이용한 특성 파라미터 취득 동작으로 의거하여, 완화 시간을 완화 시간 t₃으로 설정하고, 각 화소 PIX의 특성 파라미터(적어도, 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ)를 취득한다. 이때, 데이터 드라이버(140)가 다른 완화 시간 t(타이밍; t₀, t₁, t₂, t₃)에서 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))를 검출하는 것에 의해, 보정 데이터 취득 기능 회로 (166)는 오토 제로법을 이용하여, 각 화소 PIX의 다른 특성 파라미터(보정 데이터 n_th)를 동일한 처리 동작의 기간내에 취득할 수 있다.

여기서, 도 13에 나타낸 바와 같은 처리 동작을 실행한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화에 대해, 도 14를 참조해서 설명한다. 도 14는 특성 파라미터 취득 동작에 있어서, 검출용 전압 Vdac로서 예를 들면 －4.7V를 데이터 라인 Ld에 인가한 후, 하이 임피던스 상태로 한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화를 나타내는 과도 곡선이다. 여기서, 도 14에 나타내는 데이터 라인 전압 측정 기간은 완화 시간 t₃에 대응하는 것이다.

도 14에 있어서, 점선으로 나타낸 곡선 SPB0은 도 12에 나타낸 곡선 SPA0과 마찬가지로, 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 없는 상태의 데이터 라인 전압 Vd의 변화(이상값)를 나타낸다. 이 경우의 데이터 라인 전압 Vd는 도 14에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac로부터 서서히 상승하고, 대체로 0.33msec가 경과한 시점에서, 경시 변화한 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 대략 동등한 전압(예를 들면, 대체로 －2.7V)에 집속한다(자연 완화).

한편, 도 14에 있어서 두꺼운 실선으로 나타낸 곡선 SPB2는 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 있을 때에, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에 －3V의 전압 ELVSS를 인가한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화를 나타낸다. 여기서, 전압 ELVSS에 설정되는 －3V는 스텝S202에 의해 추출된 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_d)에 대응하는 전압값이다. 즉, 곡선 SPB2는 유기 EL 소자 OEL에 대체로 －1.7V의 역 바이어스 전압이 인가된 경우의 과도 곡선을 나타내고 있다. 또한, 도 14에 있어서, 유기 EL 소자 OEL의 리크 전류 Ilk는 전압 ELVSS를 접지 전위 GND(=0V)에 설정한 경우에 10A/m²이다. 이 경우의 데이터 라인 전압 Vd는 도 14에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac로부터 가파르게 상승하고, 곡선 SPB0에 있어서의 집속 전압(≒임계값 전압 Vth)과 대략 동등의 전압에 집속하는 경향을 나타낸다. 즉, 전압 ELVSS를, 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_d)에 대응하는 전압값인 －3V로 설정하는 것에 의해, 유기 EL 소자 OEL에 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류가 있어도 그 영향이 배제된다.

도 14에 있어서 실세선으로 나타낸 곡선 SPB1은 비교를 위해 나타낸 것이고, 도 12에 나타낸 곡선 SPA1과 마찬가지로, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드에 접지 전위 GND(=0V)로 이루어지는 전압 ELVSS를 인가한 경우의 데이터 라인 전압 Vd의 변화를 나타낸다. 즉, 곡선 SPB1은 유기 EL 소자 OEL에 대체로 －4.7V의 역 바이어스 전압이 인가된 경우의 과도 곡선을 나타내고 있다. 이 경우의 데이터 라인 전압 Vd는 도 14에 나타내는 바와 같이, 시간의 경과와 함께 검출용 전압 Vdac로부터 가파르게 상승하고, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향에 의해, 곡선 SPB0에 있어서의 집속 전압(≒임계값 전압 Vth)보다 높은 전압에 집속하는 경향을 나타낸다. 본 실시형태에 있어서는, 이러한 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향이 배제된다.

즉, 상술한 바와 같이, 도 12, 도 14는 오토 제로법을 이용해서 데이터 라인 전압 Vd를 검출할 때의, 완화 시간에 대한 캐소드 전위 의존성을 나타내고 있다. 그리고, 이 캐소드 전위 의존성으로부터 유기 EL 소자 OEL에 있어서의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류 Ilk가 클수록, 데이터 라인 전압 Vd는 전압 ELVSS를 향해 점점 가까워지는 경향을 나타낸다. 또, 이 경우, 리크 전류 Ilk가 클수록, 데이터 라인 전압 Vd는 빠르게 집속하는 경향을 나타낸다.

따라서, 화상 데이터의 보정 동작시(특히, 전류 증폭률 β의 편차 보정시)에, 각 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL에 인가하는 전압 ELVSS를, 절대값이 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth의 평균값, 또는 최대값, 또는 평균값과 최대값의 사이의 값을 갖는 부극성의 전압 레벨로 설정하는 것에 의해, 데이터 라인 전압 Vd를 취득할 때에, 각 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL에는 거의 역 바이어스 전압이 인가되지 않게 된다. 이것에 의해, 리크 전류의 영향을 배제한, 적절한 화상 데이터의 보정이 실현된다.

구체적으로는, 스텝S204의 특성 파라미터 취득 동작에 있어서, 스텝S202에 있어서 추출된 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_d)에 대응하는 전압값을 전압 ELVSS에 설정한 경우, 전체 화소 PIX에 대해 취득된 검출 데이터 n_meas(t₃)의 도수 분포는, 예를 들면 도 15의 (b)에 나타내는 히스토그램과 같이 된다. 즉, 도 15의 (b)에 나타내는 바와 같이, 도 15의 (a)의 A영역(대체로 260 이하의 디지털 값의 영역)에 나타낸 바와 같은, 각 화소 PIX의 전류 증폭률 β의 편차에 의해서 생기는, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류에 기인하는 분포가 배제되어, 대체로 300 부근의 극히 좁은 디지털 값(전압)의 범위에 도수 분포가 집중한다.

그래서, 본 실시형태에 있어서는, 표시 장치(100)의 초기 상태에 있어서의 특성 파라미터 취득 동작(적어도 보정 데이터 Δβ의 취득 동작)에서는, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 전압 ELVSS의 전압을, 해당 특성 파라미터 취득 동작에 앞서(사전에) 실행되는 전압 취득 동작에 의해 검출되는 전체 화소 PIX의 검출 데이터 n_meas(t)의 평균값 또는 최대값 또는 평균값과 최대값의 사이의 값에 대응하는 전압값으로 설정한다. 또, 마찬가지로, 표시 장치(100)의 경시 상태에 있어서의 특성 파라미터 취득 동작(적어도 보정 데이터 Δβ의 취득 동작)에서는, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 전압 ELVSS로서, 해당 특성 파라미터 취득 동작에 앞서 실행되는 전압 취득 동작에 의해 검출되는 전체 화소 PIX의 특정 검출 데이터 n_meas(t)의 평균값 또는 최대값 또는 평균값과 최대값의 사이의 값에 대응하는 전압값으로 설정한다.

그 결과, 표시 장치(100)의 표시 동작 시에, 각 화소 PIX의 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향이 배제되어, 화상 데이터의 적절한 보정이 가능하게 된다. 이렇게 해서 취득한 전체 화소 PIX의 검출 데이터 n_meas(t)의 도수 분포는 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향이 배제되기 때문에, 도 15의 (b)에 나타내는 바와 같이, 도 15의 (a)에 나타내는 바와 같은 히스토그램으로부터, 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 받은 값의 A영역을 대체로 제외한 것으로 된다. 그러나, 이 경우라도, 예를 들면 (구동 제어 소자) Tr13의 특성이 이상할 경우에는, 그것에 대응하는 이상값을 갖는 검출 데이터 n_meas(t)는 제외되지 않는다. 따라, 본 실시형태에 의하면, 표시 장치(100)는 유기 EL 소자 OEL의 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류의 영향을 받지 않고, (구동 제어 소자) Tr13의 특성이 정상인지 아닌지를 정확하게 판별할 수도 있다.

다음에, 오토 제로법을 적용한 전압 취득 동작 및 특성 파라미터 취득 동작에 대해, 본 실시형태에 관한 장치 구성에 관련지어 설명한다. 여기서, 특성 파라미터 취득 동작에 앞서 실행되는 전압 취득 동작은 특성 파라미터 취득 동작과 대략 동등의 처리 순서를 가지므로, 이하의 설명에 있어서는 특성 파라미터 취득 동작을 중심으로 구체적으로 설명한다.

특성 파라미터 취득 동작에 있어서는, 각 화소 PIX의 구동 트랜지스터인 트랜지스터 Tr13에 있어서의 임계값 전압 Vth의 변동을 보정하기 위한 보정 데이터 n_th와, 각 화소 PIX에 있어서의 전류 증폭률 β의 편차를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ이 취득된다.

도 16은 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 특성 파라미터 취득 동작을 나타내는 타이밍 차트이다. 도 17은 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 검출용 전압 인가 동작을 나타내는 동작 개념도이다. 도 18은 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 자연 완화 동작을 나타내는 동작 개념도이다. 도 19는 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 전압 검출 동작을 나타내는 동작 개념도이다. 도 20은 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 검출 데이터 송출 동작을 나타내는 동작 개념도이다. 여기서, 도 17～도 20에 있어서는, 데이터 드라이버 (140)의 구성으로서 도시의 형편상, 시프트 레지스터 회로(141)이 생략되어 있다. 또, 도 21은 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 보정 데이터 산출 동작을 나타내는 기능 블럭도이다.

본 실시형태에 관한 특성 파라미터(보정 데이터 n_th, Δβ) 취득 동작에 있어서는, 도 16에 나타내는 바와 같이, 소정의 특성 파라미터 취득 기간 Tcpr은 각 행의 화소 PIX마다 검출용 전압 인가 기간 T101과, 완화 기간 T102와, 전압 검출 기간 T103과, 검출 데이터 송출 기간 T104를 포함하도록 설정된다. 완화 기간 T102는 완화 시간 t(초기 상태에 있어서의 전압 취득 동작에 있어서는 시간 t_c)에 대응하고, 도 16은 도시의 형편상, 완화 시간 t를 1개의 시간으로 설정한 경우의 타이밍 차트를 나타낸다. 그렇지만, 상술한 바와 같이, 본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작은 완화 시간 t를 다른 값으로 해서, 데이터 라인 전압 Vd(검출 전압 Vmeas(t))를 각각 검출하는 것이다. 즉, 완화 기간 T102내의 다른 완화 시간 t(=t₀, t₁, t₂, t₃)마다, 전압 검출 동작(전압 검출 기간 T103에서의 동작) 및 검출 데이터 송출 동작(검출 데이터 송출 기간 T104에서의 동작)이 반복해서 실행된다.

우선, 검출용 전압 인가 기간 T101에 있어서는 도 16, 도 17에 나타내는 바와 같이, 특성 파라미터 취득 동작의 대상으로 되어 있는 화소 PIX(도면에서는 1행째의 화소 PIX)가 선택 상태로 설정된다. 즉, 해당 화소 PIX가 접속된 선택 라인 Ls에 대해, 선택 드라이버(120)로부터 선택 레벨(하이 레벨; Vgh)의 선택 신호 Ssel이 인가되는 동시에, 전원 라인 La에 대해, 전원 드라이버(130)로부터 로(low) 레벨(비발광 레벨; DVSS=접지 전위 GND)의 전원 전압 Vsa가 인가된다. 여기서, 적어도 각 화소 PIX의 전류 증폭률 β의 편차 보정용의 보정 데이터 Δβ를 취득하기 위한 특성 파라미터 취득 동작을 실행할 경우에는, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드가 접속된 공통 전극 Ec에, 사전에 실행된 전압 취득 동작에 의해 취득된 전체 화소 PIX에 대한 검출 데이터 n_meas(t_d)의 평균값 또는 최대값, 또는 평균값과 최대값의 사이의 값으로 되는 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t_d)에 대응하는 전압값의 전압 ELVSS가 전압 제어 회로(150)로부터 인가된다. 또한, 표시 장치(100)의 초기 상태에 있어서 실행되는 전압 취득 동작에 있어서는, 전압 제어 회로(150)로부터 전압 ELVSS로서 접지 전위 GND가 인가된다.

이 선택 상태에 있어서, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전환 제어 신호 S1에 의거하여, 데이터 드라이버(140)의 출력 회로(145)에 설치된 스위치 SW1이 온 동작하는 것에 의해, 데이터 라인 Ld(j)와 DAC/ADC 회로(144)의 DAC42(j)가 접속된다. 또, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전환 제어 신호 S2, S3에 의거하여, 출력 회로 (145)에 설치된 스위치 SW2가 오프(off) 동작하는 동시에, 스위치 SW4의 접점 Nb에 접속된 스위치 SW3이 오프 동작한다. 또, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전환 제어 신호 S4에 의거하여, 데이터 래치 회로(143)에 설치된 스위치 SW4는 접점 Na에 접속 설정되고, 전환 제어 신호 S5에 의거하여, 스위치 SW5는 접점 Na에 접속 설정된다.

그리고, 데이터 드라이버(140)의 외부로부터, 소정의 전압값의 검출용 전압(제 1 검출용 전압) Vdac를 생성하기 위한 디지털 데이터 n_d가 공급되고, 데이터 레지스터 회로(142)에 순차 받아들여진다. 그리고, 데이터 레지스터 회로(142)에 받아들여진 디지털 데이터 n_d가 각 열에 대응하는 스위치 SW5를 통해 데이터 래치 41(j)에 유지된다. 그 후, 데이터 래치 41(j)에 유지된 디지털 데이터 n_d는 스위치 SW4를 통해 DAC/ADC 회로(144)의 DAC42(j)에 입력되어 아날로그 변환되고, 검출용 전압 Vdac로서 각 열의 데이터 라인 Ld(j)에 인가된다.

검출용 전압 Vdac는 상술한 바와 같이, (12)식의 조건을 만족시키는 전압값으로 설정된다. 본 실시형태에 있어서는, 전원 드라이버(130)로부터 인가되는 전원 전압 DVSS가 접지 전위 GND에 설정되어 있는 것부터, 검출용 전압 Vdac는 부극성의 전압 레벨로 설정된다. 검출용 전압 Vdac를 생성하기 위해 디지털 데이터 n_d는, 예를 들면 컨트롤러(160) 등에 설치된 메모리에 미리 기억되어 있다.

그 결과, 화소 PIX를 구성하는 화소 구동 회로 DC에 설치된 트랜지스터 Tr11 및 Tr12가 온 동작하고, 로 레벨의 전원 전압 Vsa(=GND)가 트랜지스터 Tr11을 통해 트랜지스터 Tr13의 게이트 단자 및 커패시터 Cs의 일단측(접점 N11)에 인가된다. 또, 데이터 라인 Ld(j)에 인가된 상기 검출용 전압 Vdac가, 트랜지스터 Tr12를 통해 트랜지스터 Tr13의 소스 단자 및 커패시터 Cs의 타단측(접점 N12)에 인가된다.

트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이(즉, 커패시터 Cs의 양단)에 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth보다 큰 전위차가 인가되는 것에 의해, 트랜지스터 Tr13이 온 동작하고, 이 전위차(게이트ㆍ소스 단자 사이 전압 Vgs)에 따른 드레인 전류 Id가 흐른다. 이때, 트랜지스터 Tr13의 드레인 단자의 전위(접지 전위 GND)에 대해 소스 단자의 전위(검출용 전압 Vdac)는 낮게 설정되어 있으므로, 드레인 전류 Id는 전원 전압 라인 La로부터 트랜지스터 Tr13, 접점 N12, 트랜지스터 Tr12, 및 데이터 라인 Ld(j)를 통해, 데이터 드라이버(140) 방향으로 흐른다. 또, 이것에 의해 트랜지스터의 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이에 접속된 커패시터 Cs의 양단에는 해당 드레인 전류 Id에 의거하는 전위차에 대응하는 전압이 충전된다.

이때, 유기 EL 소자 OEL의 애노드(접점 N12)에는, 캐소드(공통 전극 Ec)에 인가되는 전압 ELVSS보다 낮은 전압이 인가되고 있으므로, 유기 EL 소자 OEL에는 전류가 흐르지 않고 발광 동작하지 않는다. 또, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드(공통 전극 Ec)에는 전압 제어 회로(150)로부터, 상술한 바와 같은 전압 취득 동작에 의해 취득된 전압값의 전압 ELVSS가 인가되므로, 유기 EL 소자 OEL에는 역 바이어스 전압이 인가되지만, 후술하는 보정 동작에 영향을 끼칠 만큼의 전류 리크는 흐르지 않는다.

이어서, 검출용 전압 인가 기간 T101 종료 후의 완화 기간 T102에 있어서는 도 16, 도 18에 나타내는 바와 같이, 화소 PIX를 선택 상태로 유지한 상태에서, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전환 제어 신호 S1에 의거하여, 데이터 드라이버(140)의 스위치 SW1을 오프 동작시키는 것에 의해, 데이터 라인 Ld(j)가 데이터 드라이버(140)로부터 분리되어, DAC42(j)로부터의 검출용 전압 Vdac의 출력이 정지된다. 또, 검출용 전압 인가 기간 T101과 마찬가지로, 스위치 SW2, SW3은 오프 동작하고, 스위치 SW4는 접점 Nb에 접속 설정되고, 스위치 SW5는 접점 Nb에 접속 설정된다.

이것에 의해, 트랜지스터 Tr11, Tr12는 온 상태를 유지하기 위해, 화소 PIX(화소 구동 회로 DC)와 데이터 라인 Ld(j)의 전기적인 접속 상태는 유지되지만, 해당 데이터 라인 Ld(j)로의 전압의 인가가 차단되므로, 커패시터 Cs의 타단측(접점 N12)은 하이 임피던스 상태로 설정된다.

이 완화 기간 T102에 있어서는, 검출용 전압 인가 기간 T101에 있어서 커패시터 Cs(트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이)에 충전된 전압에 의해, 트랜지스터 Tr13은 온 상태를 유지하므로, 드레인 전류 Id가 계속해서 흐른다. 그리고, 트랜지스터 Tr13의 소스 단자측(접점 N12; 커패시터 Cs의 타단측)의 전위가 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 근접하도록 서서히 상승해 간다. 그 결과, 도 9, 도 12, 도 14에 나타낸 바와 같이, 데이터 라인 Ld(j)의 전위도 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth에 집속하도록 변화된다.

또한, 이 완화 기간 T102에 있어서도, 유기 EL 소자 OEL의 애노드(접점 N12)의 전위는 캐소드(공통 전극 Ec)에 인가되는 전압 ELVSS보다 낮은 전압이 인가되므로, 유기 EL 소자 OEL에는 전류가 흐르지 않고, 유기 EL 소자 OEL은 발광 동작하지 않는다. 또, 유기 EL 소자 OEL에는 역 바이어스 전압이 인가되지만, 후술하는 보정 동작에 영향을 끼칠 정도의 전류 리크는 흐르지 않는다.

이어서, 전압 검출 기간 T103에 있어서는, 완화 기간 T102에 있어서 소정의 완화 시간 t(또는 시간 t_c)가 경과한 시점에서, 도 16, 도 19에 나타내는 바와 같이, 화소 PIX를 선택 상태로 유지한 상태에서, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전환 제어 신호 S2에 의해, 데이터 드라이버(140)의 스위치 SW2가 온 동작한다. 이때, 스위치 SW1, SW3은 오프 동작하고, 스위치 SW4는 접점 Nb에 접속 설정되고, 스위치 SW5는 접점 Nb에 접속 설정된다.

이것에 의해, 데이터 라인 Ld(j)와 DAC/ADC 회로(144)의 ADC43(j)가 접속되고, 완화 기간 T102에 있어서 소정의 완화 시간 t(또는 시간 t_c)가 경과한 시점의 데이터 라인 전압 Vd가 스위치 SW2 및 버퍼 45(j)를 통해, ADC43(j)에 받아들여진다. 여기서, ADC43(j)에 받아들여진 이때의 데이터 라인 전압 Vd는 (11)식에 나타낸 검출 전압 Vmeas(t)(또는 Vmeas(t_c))에 상당한다.

그리고, ADC43(j)에 받아들여진 아날로그 신호 전압으로 이루어지는 검출 전압 Vmeas(t)(또는 Vmeas(t_c))는 (14)식에 의거하여, ADC43(j)에 있어서 디지털 데이터로 이루어지는 검출 데이터 n_meas(t)(또는 n_meas(t_c))로 변환되고, 스위치 SW5를 통해 데이터 래치 41(j)에 유지된다.

이어서, 검출 데이터 송출 기간 T104에 있어서는 도 16, 도 20에 나타내는 바와 같이, 화소 PIX는 비선택 상태로 설정된다. 즉, 선택 라인 Ls에 대해, 선택 드라이버(120)로부터 비선택 레벨(로 레벨; Vgl)의 선택 신호 Ssel이 인가된다. 이 비선택 상태에 있어서, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 전환 제어 신호 S4, S5에 의거하여, 데이터 드라이버(140)의 데이터 래치 41(j)의 입력단에 설치된 스위치 SW5는 접점 Nc에 접속 설정되고, 데이터 래치 41(j)의 출력단에 설치된 스위치 SW4는 접점 Nb에 접속 설정된다. 또, 전환 제어 신호 S3에 의해, 스위치 SW3이 온 동작한다. 이때, 스위치 SW1, SW2는 전환 제어 신호 S1, S2에 의거해서 오프 동작한다.

이것에 의해, 서로 인접하는 열의 데이터 래치 41(j)RK 스위치 SW4, SW5를 통해 직렬로 접속되고, 스위치 SW3을 통해 외부 메모리(컨트롤러(160)에 설치된 메모리(165))에 접속된다. 그리고, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 데이터 래치 펄스 신호 LP에 의해, 각 열의 데이터 래치 41(j＋1)(도 3 참조)에 유지된 검출 데이터 n_meas(t)(또는 n_meas(t_c))가 순차 인접하는 데이터 래치 41(j)에 전송된다. 이것에 의해, 1행분의 화소 PIX의 검출 데이터 n_meas(t)(또는 n_meas(t_c))가 시리얼 데이터로서 컨트롤러(160)에 출력되고, 도 21에 나타내는 바와 같이, 컨트롤러(160)에 설치된 메모리(165)의 소정의 기억 영역에 각 화소 PIX에 대응하여 기억된다. 여기서, 각 화소 PIX의 화소 구동 회로 DC에 설치된 트랜지스터 Tr13의 임계값 전압 Vth는 각 화소 PIX에 있어서의 구동 이력(발광 이력) 등에 의해 변동량이 다르고, 또 전류 증폭률 β도 각 화소 PIX에 편차가 있기 때문에, 메모리(165)에는 각 화소 PIX에 고유의 검출 데이터 n_meas(t)(또는 n_meas(t_c))가 기억된다.

본 실시형태에 관한 특성 파라미터 취득 동작에서는 상술한 일련의 동작에 있어서, 전압 검출 동작 및 검출 데이터 송출 동작이 각 화소 PIX에 대해 복수회 다른 완화 시간 t(=t₀, t₁, t₂, t₃)에서 실행된다. 여기서, 다른 완화 시간 t에서 데이터 라인 전압을 검출하는 동작은 상술한 바와 같이, 1회만 검출용 전압 Vdac를 인가하여 자연 완화가 계속되고 있는 기간 중에, 전압 검출 동작 및 검출 데이터 송출 동작을 다른 타이밍(완화 시간 t= t₀, t₁, t₂, t₃)에서 실행하는 것이라도 좋고, 검출용 전압 인가, 자연 완화, 전압 검출 및 검출 데이터 송출의 일련의 동작을, 완화 시간 t를 다르게 하여 복수회 실행하는 것이라도 좋다.

본 실시형태에 있어서는, 상술한 바와 같은 각 행의 화소 PIX에 대한 특성 파라미터 취득 동작(전압 취득 동작을 포함함)을 반복하는 것에 의해, 표시 패널 (110)에 배열된 전체 화소 PIX에 대해 복수회분의 검출 데이터 n_meas(t)가 컨트롤러 (160)의 메모리(165)에 기억된다.

또한, 상술한 전압 취득 동작에 있어서는 컨트롤러(160)내의 연산 처리 회로에 의해, 메모리(165)에 기억된 전체 화소 PIX분의 검출 데이터 n_meas(t)의 평균값이 산출되고, 및 / 또는, 최대값이 추출된 후, 해당 평균값, 최대값, 또는 평균값과 최대값의 사이의 값으로 되는 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t)가 전압 제어 회로(150)에 송출된다. 이것에 의해, 전압 제어 회로(150)가 해당 특정 검출 데이터 n_{meas _m}(t)에 대응한 전압값의 전압 ELVSS를 생성하고, 공통 전극 Ec를 통해 각 화소 PIX에 인가한다.

이어서, 특성 파라미터 취득 동작에 있어서, 메모리(165)에 기억된 각 화소 PIX의 검출 데이터 n_meas(t)에 의거하여, 각 화소 PIX의 트랜지스터(구동 트랜지스터) Tr13의 임계값 전압 Vth를 보정하기 위한 보정 데이터 n_th, 및 전류 증폭률 β를 보정하기 위한 보정 데이터 Δβ의 산출 동작이 실행된다.

구체적으로는 도 21에 나타내는 바와 같이, 우선 컨트롤러(160)에 설치된 보정 데이터 취득 기능 회로(166)에, 메모리(165)에 기억된 각 화소 PIX의 검출 데이터 n_meas(t)가 판독된다. 그리고, 보정 데이터 취득 기능 회로(166)는 상술한 오토 제로법을 이용한 특성 파라미터 취득 동작에 따라서, (15)식～(21)식에 의거하여, 보정 데이터 n_th(구체적으로는, 보정 데이터 n_th를 규정하는 검출 데이터 n_meas(t₀) 및 오프셋 전압(－Voffset=－1/ξ·t₀)), 및 보정 데이터 Δβ를 산출한다. 산출된 보정 데이터 n_th 및 Δβ는 메모리(165)의 소정의 기억 영역에 각 화소 PIX에 대응하여 기억된다.

(표시 동작)

다음에, 본 실시형태에 관한 표시 장치(100)의 표시 동작(발광 동작)에 있어서는, 표시 장치(100)는 상기 보정 데이터 n_th, Δβ를 이용해서 화상 데이터를 보정하고, 각 화소 PIX를 원하는 휘도 계조로 발광 동작시킨다.

도 22는 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 발광 동작을 나타내는 타이밍 차트이다. 도 23은 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 화상 데이터의 보정 동작을 나타내는 기능 블럭도이다. 도 24는 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 보정 후의 화상 데이터의 기입 동작을 나타내는 동작 개념도이다. 도 25는 본 실시형태에 관한 표시 장치에 있어서의 발광 동작을 나타내는 동작 개념도이다. 여기서, 도 24, 도 25에 있어서는 도시의 형편상, 데이터 드라이버(140)의 구성 중 시프트 레지스터 회로(141)를 생략하고 있다.

본 실시형태에 관한 표시 동작의 기간은 도 22에 나타내는 바와 같이, 각 행의 화소 PIX에 대응해서 원하는 화상 데이터를 생성하고 기입하는 화상 데이터 기입 기간 T301과, 해당 화상 데이터에 따른 휘도 계조로 각 화소 PIX를 발광 동작시키는 화소 발광 기간 T302를 포함하도록 설정되어 있다.

화상 데이터 기입 기간 T301에 있어서는 보정 화상 데이터의 생성 동작과, 각 화소 PIX로의 보정 화상 데이터의 기입 동작이 실행된다. 보정 화상 데이터의 생성 동작에서는, 컨트롤러(160)는 디지털 데이터로 이루어지는 소정의 화상 데이터 n_d에 대해, 상술한 특성 파라미터 취득 동작에 의해 취득한 보정 데이터 Δβ 및 n_th를 이용해서 보정을 실행하고, 보정 처리한 화상 데이터(보정 화상 데이터) n_{d _ comp}를 데이터 드라이버(140)에 공급한다.

구체적으로는, 도 23에 나타내는 바와 같이, 외부로부터 컨트롤러(160)에 공급되는 RGB 각 색의 휘도 계조값을 포함하는 화상 데이터(제 2 화상 데이터) n_d에 대해, 전압 진폭 설정 기능 회로(162)는 참조 테이블(161)을 참조하는 것에 의해, RGB의 각 색성분에 대응하는 전압 진폭을 설정한다. 이어서, 승산 기능 회로(163)는 메모리(165)에 기억된 각 화소의 보정 데이터 Δβ를 판독하고, 전압 설정된 화상 데이터 n_d에 대해, 판독한 보정 데이터 Δβ를 곱셈 처리한다(n_d×Δβ). 이어서, 가산 기능 회로(164)는 메모리(165)에 기억된 보정 데이터 n_th를 규정하는 검출 데이터 n_meas(t₀) 및 오프셋 전압(－Voffset=－1/ξ·t₀)을 판독하고, 상기 곱셈 처리된 디지털 데이터(n_d×Δβ)에 대해, 판독한 검출 데이터 n_meas(t₀) 및 오프셋 전압(－Voffset)을 가산 처리한다((n_d×Δβ)＋ n_meas(t₀)－Voffset=(n_d×Δβ)＋n_th). 이상의 일련의 보정 처리를 실행하는 것에 의해, 보정 화상 데이터 n_{d _ comp}가 생성되어 데이터 드라이버(140)에 공급된다.

또, 각 화소 PIX로의 보정 화상 데이터 기입 동작에서는, 데이터 드라이버(140)는 기입 대상으로 되어 있는 화소 PIX를 선택 상태로 설정한 상태에서, 공급된 보정 화상 데이터 n_{d _ comp}에 따른 계조 전압 Vdata를 각 화소 PIX에 데이터 라인 Ld(j)를 통해 기입한다. 구체적으로는, 도 22, 도 24에 나타내는 바와 같이, 우선 화소 PIX에 접속된 선택 라인 Ls에 대해, 선택 레벨(하이 레벨; Vgh)의 선택 신호 Ssel이 인가되는 동시에, 전원 라인 La에 대해 로 레벨(비발광 레벨; DVSS=접지 전위 GND)의 전원 전압 Vsa가 인가된다. 또, 유기 EL 소자 OEL의 캐소드가 접속된 공통 전극 Ec에는, 예를 들면 전원 전압 Vsa(=DVSS)와 동일의 접지 전위 GND가 전압 ELVSS로서 인가된다.

이 선택 상태에 있어서, 스위치 SW1을 온 동작시키고, 스위치 SW4 및 SW5를 접점 Nb에 접속 설정하는 것에 의해, 컨트롤러(160)로부터 공급되는 보정 화상 데이터 n_{d_comp}가 순차 데이터 레지스터 회로(142)에 받아들여지고, 각 열의 데이터 래치 41(j)에 유지된다. 유지된 화상 데이터 n_{d _ comp}는 DAC42(j)에 의해 아날로그 변환되고, 계조 전압(제 3 전압) Vdata로서 각 열의 데이터 라인 Ld(j)에 인가된다. 여기서, 계조 전압 Vdata는 (14)식에 나타낸 정의에 대응시켜, 다음의 (23)식과 같이 정의된다.

Vdata: =V1－ΔV(n_{d _ comp}－1)) … (23)

이것에 의해, 화소 PIX를 구성하는 화소 구동 회로 DC에 있어서, 트랜지스터 Tr13의 게이트 단자 및 커패시터 Cs의 일단측(접점 N11)에 로 레벨의 전원 전압 Vsa(=GND)가 인가되고, 또 트랜지스터 Tr13의 소스 단자 및 커패시터 Cs의 타단측(접점 N12)에 상기 보정 화상 데이터 n_{d _ comp}에 대응한 계조 전압 Vdata가 인가된다.

따라서, 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이에 생긴 전위차(게이트ㆍ소스 단자 사이 전압 Vgs)에 따른 드레인 전류 Id가 흐르고, 커패시터 Cs의 양단에는 해당 드레인 전류 Id에 의거하는 전위차에 대응하는 전압(≒Vdata)이 충전된다. 이때, 유기 EL 소자 OEL의 애노드(접점 N12)에는 캐소드(공통 전극 Ec; 접지 전위 GND)보다 낮은 전압(계조 전압 Vdata)이 인가되고 있으므로, 유기 EL 소자 OEL에는 전류가 흐르지 않고 발광 동작하지 않는다.

이어서, 화소 발광 기간 T302에 있어서는 도 22에 나타내는 바와 같이, 각 행의 화소 PIX를 비선택 상태로 설정한 상태에서, 각 화소 PIX에 대해 일제히 발광 동작의 설정이 실시된다. 구체적으로는, 도 25에 나타내는 바와 같이, 표시 패널 (110)에 배열된 전체 화소 PIX에 접속된 선택 라인 Ls에 대해, 비선택 레벨(로 레벨; Vgl)의 선택 신호 Ssel이 인가되는 동시에, 전원 라인 La에 대해 하이 레벨(발광 레벨; ELVDD>GND)의 전원 전압 Vsa가 인가된다.

이것에 의해, 각 화소 PIX의 화소 구동 회로 DC에 설치된 트랜지스터 Tr11, Tr12가 오프 동작하고, 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이에 접속된 커패시터 Cs에 충전된 전압(≒Vdata; 게이트ㆍ소스 단자 사이 전압 Vgs)이 유지된다. 따라서, 트랜지스터 Tr13에 드레인 전류 Id가 흐르고, 트랜지스터 Tr13의 소스 단자(접점 N12)의 전위가 유기 EL 소자 OEL의 캐소드(공통 전극 Ec)에 인가되는 전압 ELVSS(=GND)보다 상승하면, 화소 구동 회로 DC로부터 유기 EL 소자 OEL에 발광 구동 전류 Iem이 흐른다. 이 발광 구동 전류 Iem은 상기 보정 화상 데이터의 기입 동작에 있어서 트랜지스터 Tr13의 게이트ㆍ소스 단자 사이에 유지된 전압(≒Vdata)의 전압값에 의거해서 규정되므로, 유기 EL 소자 OEL은 보정 화상 데이터 n_{d _ comp}에 따른 휘도 계조로 발광 동작한다.

또한, 상술한 실시형태에 있어서는 도 22에 나타내는 바와 같이, 표시 동작에 있어서, 소정의 행(예를 들면, 1행째)의 화소 PIX로의 보정 화상 데이터의 기입 동작의 종료 후, 다른 행(2행째 이후)의 화소 PIX로의 화상 데이터의 기입 동작이 종료할 때까지의 동안, 해당 행의 화소 PIX는 유지 상태로 설정된다. 여기서, 유지 상태에 있어서는, 해당 행의 선택 라인 Ls에 비선택 레벨의 선택 신호 Ssel이 인가되어 화소 PIX는 비선택 상태가 되는 동시에, 전원 라인 La에 비발광 레벨의 전원 전압 Vsa가 인가되어 비발광 상태로 설정된다. 이 유지 상태는 도 22에 나타낸 바와 같이, 행마다 설정 시간이 다르다. 또, 각 행의 화소 PIX로의 보정 화상 데이터의 기입 동작의 종료 후, 즉시 화소 PIX를 발광 동작시키는 구동 제어를 실행할 경우에는, 상기 유지 상태는 설정되지 않아도 좋다.

이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 관한 표시 장치(화소 구동 장치를 포함하는 발광 장치)(100) 및 그 구동 제어 방법은 본 발명에 특유의 오토 제로법을 적용하여, 데이터 라인 전압을 받아들이고, 디지털 데이터로 이루어지는 검출 데이터로 변환하는 일련의 특성 파라미터 취득 동작을 복수회, 다른 타이밍(완화 시간)에서 실행하는 수법을 갖고 있다. 특히, 본 실시형태에 있어서는, 특성 파라미터 취득 동작에 앞서, 오토 제로법을 이용한 전압 취득 동작이 실행되고, 특성 파라미터 취득 동작시의 캐소드 전압이 미리 소정의 전압값으로 설정된다. 그 결과, 본 실시형태에 따르면, 각 화소의 구동 트랜지스터의 임계값 전압의 변동, 및 각 화소 사이의 전류 증폭률의 편차를 보정하는 파라미터가 각 화소에 있어서의 유기 EL 소자 OEL의 전류 특성(특히, 역 바이어스 전압의 인가에 수반하는 리크 전류)에 영향주는 일 없이, 적절하게 취득되어 기억된다.

따라서, 본 실시형태에 따르면, 표시 장치(발광 장치)(100) 및 그 구동 제어 방법은 각 화소에 기입되는 화상 데이터에 대해, 각 화소의 임계값 전압의 변동, 및 전류 증폭률의 편차를 보상하는 보정 처리를 적절하게 실시할 수 있으므로, 각 화소의 특성 변화나 특성의 편차의 상태에 관계 없이, 화상 데이터에 따른 본래의 휘도 계조로 발광 소자(유기 EL 소자)를 발광 동작시킬 수 있고, 양호한 발광 특성 및 균일한 화질을 갖는 액티브 유기 EL 구동 시스템을 실현할 수 있다.

또, 표시 장치(발광 장치)(100) 및 그 구동 제어 방법은 전류 증폭률의 편차를 보정하는 보정 데이터를 산출하는 처리와, 구동 트랜지스터의 임계값 전압의 변동을 보상하는 보정 데이터를 산출하는 처리를, 단일의 보정 데이터 취득 기능 회로(166)을 구비한 컨트롤러(160)에 있어서의 일련의 시퀀스(sequence)에 의해 실행할 수 있으므로, 보정 데이터의 산출 처리의 내용에 따라 개별의 구성(기능 회로)을 설치할 필요가 없고, 표시 장치(발광 장치)의 장치 구성을 간소화할 수 있다.

<제 2 실시형태>

다음에, 제 1 실시형태에 있어서의 표시 장치(발광 장치)(100)를 전자 기기에 적용한 제 2 실시형태에 대해, 도면을 참조해서 설명한다. 제 1 실시형태에 나타내는 바와 같은 유기 EL 소자 OEL로 이루어지는 발광 소자를 각 화소 PIX에 갖는 표시 패널(110)을 구비하는 표시 장치(100)는 디지털 카메라, 모바일형의 PC, 휴대전화 등, 여러 가지의 전자 기기에 적용할 수 있다.

도 26의 (a), (b)는 제 2 실시형태에 관한 디지털 카메라의 구성예를 나타내는 사시도이다. 도 27은 제 2 실시형태에 관한 모바일형의 PC의 구성예를 나타내는 사시도이다. 도 28은 제 2 실시형태에 관한 휴대전화의 구성예를 나타내는 사시도이다. 모두, 제 1 실시형태에 관한 표시 장치(발광 장치)(100)를 구비한다.

도 26의 (a), (b)에 있어서, 디지털 카메라(200)는 본체부(201)와, 렌즈부 (202)와, 조작부(203)와, 본 실시형태의 표시 패널(110)을 구비하는 표시 장치 (100)로 이루어지는 표시부(204)와, 셔터 버튼(205)를 구비하고 있다. 이 경우, 표시부(204)에서는 표시 패널(110)의 각 화소의 발광 소자가 화상 데이터에 따른 적절한 휘도 계조로 발광 동작하므로, 표시부(204)는 양호하고 또한 균질한 화질을 실현할 수 있다.

또, 도 27에 있어서, PC(210)는 본체부(211)와, 키보드(212)와, 본 실시형태의 표시 패널(110)을 구비하는 표시 장치(100)로 이루어지는 표시부(213)를 구비하고 있다. 이 경우라도, 표시부(213)에서는 표시 패널(110)의 각 화소의 발광 소자가 화상 데이터에 따른 적절한 휘도 계조로 발광 동작하므로, 표시부(213)는 양호하고 또한 균질한 화질을 실현할 수 있다.

또, 도 28에 있어서, 휴대전화(220)는 조작부(221)와, 수화구(222)와, 송화구(223)와, 본 실시형태의 표시 패널(110)을 구비하는 표시 장치(100)로 이루어지는 표시부(224)를 구비하고 있다. 이 경우라도, 표시부(224)에서는 표시 패널 (110)의 각 화소의 발광 소자가 화상 데이터에 따른 적절한 휘도 계조로 발광 동작하므로, 표시부(224)는 양호하고 또한 균질한 화질을 실현할 수 있다.

또한, 상술한 실시형태에 있어서는, 본 발명을 유기 EL 소자 OEL로 이루어지는 발광 소자를 각 화소 PIX에 갖는 표시 패널(110)을 구비하는 표시 장치(발광 장치)(100)에 적용한 경우에 대해 설명했지만, 본 발명은 이것에 한정하는 것이 아니다. 본 발명은 예를 들면, 유기 EL 소자 OEL로 이루어지는 발광 소자를 갖는 복수의 화소가 한 방향에 배열된 발광 소자 어레이를 구비하고, 감광체 드럼에 화상 데이터에 따라 발광 소자 어레이로부터 출사(出射)된 광을 조사해서 노광하는 노광 장치에 적용해도 좋다. 이 경우, 발광 소자 어레이의 각 화소의 발광 소자를 화상 데이터에 따른 적절한 휘도로 발광 동작시킬 수 있고, 양호한 노광 상태를 얻을 수 있다.

상기 실시형태에 대해서는 발명의 넓은 취지, 범위로부터 벗어날 일 없이 그 변형이 가능하다. 상기 실시형태는 본 발명을 설명하기 위한 것이고, 본 발명의 범위를 한정하는 것을 의도한 것이 아니다. 본 발명의 범위 및 취지는 실시형태보다 첨부한 특허청구의 범위의 각 청구항에 의해서 나타난다. 각 청구항과 균등의 범위에서 이루어진 각종 변형은 본 발명의 범위에 포함된다.

1개 이상이 바람직한 실시형태를 참조하는 것에 의해, 본원의 원리를 기술해서 개시했으므로, 여기서 개시한 원리로부터 벗어날 일 없이 배치나 상세를 변경해도 좋고, 변경이나 변형이 여기에 개시된 주제의 범위와 취지의 범위에 있는 한, 이 출원은 명백하게 그러한 변경이나 변형 전체를 포함한다고 해석되는 것이 의도되어 있다.

100: 표시 장치(발광 장치) 110: 표시 패널(발광 패널)
120: 선택 드라이버 130: 전원 드라이버
140: 데이터 드라이버 143: 데이터 래치 회로
144: DAC/ADC 회로 145: 출력 회로
150: 전압 제어 회로 160: 컨트롤러
163: 승산 기능 회로(화상 데이터 보정 회로)
164: 가산 기능 회로(화상 데이터 보정 회로)
165: 메모리(메모리 회로)
166: 보정 데이터 취득 기능 회로 SW1～SW5: 스위치
PIX: 화소 DC: 화소 구동 회로
Tr11～Tr13: 트랜지스터 Cs: 커패시터
OEL: 유기 EL 소자(발광 소자)

Claims (19)

1. 복수의 화소를 구동하는 화소 구동 장치로서,
   상기 복수의 화소의 각각은 발광 소자와,
   전류로의 일단이 상기 발광 소자의 일단에 접속되고, 해당 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고,
   상기 화소 구동 장치는 또한,
   상기 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의, 상기 복수의 화소의 각각에 접속되는 복수의 데이터선의 각각의 전압값에 의거하여, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하는 보정 데이터 취득 기능 회로를 구비하고,
   상기 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고,
   상기 소정의 타이밍은 상기 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 상기 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하여, 해당 각 데이터선을 통해 상기 구동 제어 소자의 상기 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이며,
   상기 초기 전압은 상기 전원 전압과 동일 전압, 또는 상기 전원 전압보다 저전위이고 상기 전원 전압과의 전위차가 상기 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 하는 화소 구동 장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 복수의 데이터선의 각각의 전압값을 복수의 검출 전압으로서 취득하는 복수의 전압 취득 회로와,
   상기 각 화소의 상기 발광 소자의 타단의 전압을 설정하는 전압 제어 회로를 갖고,
   상기 보정 데이터 취득 기능 회로는 상기 복수의 검출 전압의 전압값에 의거하여, 상기 특성 파라미터를 취득하는 것을 특징으로 하는 화소 구동 장치.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 설정 전압은 상기 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압과 동일한 극성을 갖고, 상기 설정 전압의 절대값은 상기 소정의 타이밍에서 상기 복수의 전압 취득 회로에 의해 취득되는 상기 각 데이터선의 전압값의 절대값의 평균값, 최대값, 또는 상기 평균값과 상기 최대값의 사이의 값 중의 어느 하나의 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 화소 구동 장치.
4. 제 2 항에 있어서,
   상기 복수의 데이터선에 대응해서 설치되고, 소정의 전압을 출력하는 복수의 전압 인가 회로를 갖고,
   상기 각 전압 인가 회로는 상기 보정 데이터 취득 기능 회로가 상기 특성 파라미터를 취득할 때, 상기 각 데이터선에 접속되어, 해당 각 데이터선에, 상기 구동 제어 소자의 전류로의 양단 사이의 전압이 해당 구동 제어 소자의 임계값을 넘는 값으로 되는 제 2 검출용 전압을 인가하고,
   상기 각 전압 취득 회로는 상기 각 데이터선과 상기 각 전압 인가 회로의 접속이 차단된 후의 복수의 다른 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 복수의 전압값을 상기 복수의 검출 전압으로서 취득하고,
   상기 보정 데이터 취득 기능 회로는 상기 복수의 검출 전압의 전압값에 의거하여, 상기 특성 파라미터로서, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 상기 임계값 전압을 포함하는 상기 화소 구동 회로의 제 1 특성 파라미터, 및 상기 화소 구동 회로의 전류 증폭률에 관련된 제 2 특성 파라미터를 취득하는 것을 특징으로 하는 화소 구동 장치.
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 각 데이터선과 상기 각 전압 인가 회로의 접속 및 차단을 실행하고, 상기 각 데이터선과 상기 각 전압 인가 회로의 접속을 차단하는 것에 의해 상기 각 데이터선을 하이 임피던스 상태로 설정하는 접속 전환 회로를 갖고,
   상기 각 전압 취득 회로는 상기 접속 전환 회로가 상기 데이터선을 상기 하이 임피던스 상태로 설정한 후, 상기 복수의 다른 타이밍에 대응하는 시간이 경과한 시점의 상기 데이터선의 전압을 상기 복수의 검출 전압으로서 취득하는 것을 특징으로 하는 화소 구동 장치.
6. 제 4 항에 있어서,
   외부로부터 공급되는 화상 데이터를 상기 제 1 및 제 2 특성 파라미터에 의거하여 보정한 보정 화상 데이터를 생성하는 화상 데이터 보정 회로를 갖고,
   상기 각 전압 인가 회로는 상기 복수의 화소에 의해 상기 화상 데이터에 따른 화상 표시를 실행할 때에, 상기 화상 데이터 보정 회로에 의해 생성된 상기 보정 화상 데이터에 따른 계조 전압을 출력하는 것을 특징으로 하는 화소 구동 장치.
7. 발광 장치로서,
   복수의 화소 및 복수의 데이터선을 갖고, 상기 각 데이터선이 상기 각 화소에 접속된 발광 패널과,
   보정 데이터 취득 기능 회로를 구비하고,
   상기 각 화소는,
   일단이 접점에 접속되는 발광 소자와,
   전류로의 일단이 상기 접점에 접속되고, 해당 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고,
   상기 보정 데이터 취득 기능 회로는 상기 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하고,
   상기 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고,
   상기 소정의 타이밍은 상기 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 상기 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하여, 해당 각 데이터선을 통해 상기 구동 제어 소자의 상기 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이며,
   상기 초기 전압은 상기 전원 전압과 동일 전압, 또는 상기 전원 전압보다 저전위이고 상기 전원 전압과의 전위차가 상기 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
8. 제 7 항에 있어서,
   상기 복수의 데이터선의 각각의 전압값을 복수의 검출 전압으로서 취득하는 복수의 전압 취득 회로와,
   상기 각 화소의 상기 발광 소자의 타단의 전압을 설정하는 전압 제어 회로를 갖고,
   상기 보정 데이터 취득 기능 회로는 상기 복수의 검출 전압의 전압값에 의거하여, 상기 특성 파라미터를 취득하는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
9. 제 8 항에 있어서,
   상기 설정 전압은 상기 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압과 동일한 극성을 갖고, 상기 설정 전압의 절대값은 상기 소정의 타이밍에서 상기 복수의 전압 취득 회로에 의해 취득되는 상기 각 데이터선의 전압값의 절대값의 평균값, 최대값, 및 상기 평균값과 상기 최대값의 사이의 값 중의 어느 하나의 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
10. 제 8 항에 있어서,
    상기 복수의 데이터선에 대응해서 설치되고, 소정의 전압을 출력하는 복수의 전압 인가 회로를 갖고,
    상기 각 전압 인가 회로는 상기 보정 데이터 취득 기능 회로가 상기 특성 파라미터를 취득할 때, 상기 각 데이터선에 접속되어, 해당 각 데이터선에, 상기 구동 제어 소자의 전류로의 양단 사이의 전압값이 해당 구동 제어 소자의 임계값을 넘는 값으로 되는 제 2 검출용 전압을 인가하고,
    상기 각 전압 취득 회로는 상기 각 데이터선과 상기 각 전압 인가 회로의 접속이 차단된 후의 복수의 다른 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 복수의 전압값을 상기 복수의 검출 전압으로서 취득하고,
    상기 보정 데이터 취득 기능 회로는 상기 복수의 검출 전압의 전압값에 의거하여, 상기 특성 파라미터로서, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 상기 임계값 전압을 포함하는 상기 화소 구동 회로의 제 1 특성 파라미터, 및 상기 화소 구동 회로의 전류 증폭률에 관련된 제 2 특성 파라미터를 취득하는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
11. 제 10 항에 있어서,
    선택 드라이버를 구비하고,
    상기 발광 패널은 행방향으로 배치된 복수의 주사선을 갖고,
    상기 복수의 데이터선은 열방향으로 배치되고,
    상기 복수의 화소의 각각은 상기 복수의 주사선과 상기 복수의 데이터선의 각 교점 근방에 배치되고,
    상기 선택 드라이버는 상기 각 주사선에 선택 레벨의 선택 신호를 순차 인가하여, 각 행의 상기 각 화소를 선택 상태로 설정하고,
    상기 각 전압 취득 회로는 상기 선택 상태로 설정된 행의 상기 각 화소의 상기 접점의 전압에 대응하는 전압값을 상기 각 데이터선을 통해 취득하는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
12. 제 11 항에 있어서,
    상기 각 화소의 상기 화소 구동 회로는,
    적어도, 일단이 상기 접점에 접속되고, 타단에 상기 전원 전압이 인가되는 제 1 전류로를 갖는 제 1 트랜지스터와,
    제어 단자가 상기 주사선에 접속되고, 일단이 상기 제 1 트랜지스터의 제어 단자에 접속되고, 타단이 상기 제 1 트랜지스터의 상기 제 1 전류로의 타단에 접속되는 제 2 전류로를 갖는 제 2 트랜지스터를 구비하고,
    상기 구동 제어 소자는 상기 제 1 트랜지스터이고,
    상기 각 화소는 상기 선택 상태에 있어서, 상기 제 2 트랜지스터의 상기 제 2 전류로가 도통하고, 상기 제 1 트랜지스터의 상기 제 1 전류로의 타단측과 상기 제어 단자가 접속되고, 상기 접점에 상기 각 전압 인가 회로로부터 인가되는 상기 제 1 전압에 의거하는 상기 소정의 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
13. 제 10 항에 있어서,
    상기 각 데이터선과 상기 각 전압 인가 회로의 접속 및 차단을 실행하고, 상기 각 데이터선과 상기 각 전압 인가 회로의 접속을 차단하는 것에 의해 상기 각 데이터선을 하이 임피던스 상태로 설정하는 접속 전환 회로를 갖고,
    상기 각 전압 취득 회로는 상기 접속 전환 회로가 상기 각 데이터선을 상기 하이 임피던스 상태로 설정한 후, 상기 복수의 다른 타이밍에 대응하는 시간이 경과한 시점의 상기 각 데이터선의 복수의 전압을 상기 복수의 검출 전압으로서 취득하는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
14. 제 10 항에 있어서,
    외부로부터 공급되는 화상 데이터를 상기 제 1 및 제 2 특성 파라미터에 의거하여 보정한 보정 화상 데이터를 생성하는 화상 데이터 보정 회로를 갖고,
    상기 각 전압 인가 회로는 상기 발광 패널에 상기 복수의 화소에 의해 상기 화상 데이터에 따른 화상 표시를 실행할 때에, 상기 화상 데이터 보정 회로에 의해 생성된 상기 보정 화상 데이터에 따른 계조 전압을 출력하는 것을 특징으로 하는 발광 장치.
15. 전자 기기로서,
    전자 기기 본체부와,
    상기 전자 기기 본체부로부터 화상 데이터가 공급되고, 해당 화상 데이터에 따라 구동되는 발광 장치를 구비하고,
    상기 발광 장치는,
    복수의 화소 및 복수의 데이터선을 갖고, 상기 각 데이터선이 상기 각 화소에 접속되어 있는 발광 패널과,
    보정 데이터 취득 기능 회로를 구비하고,
    상기 각 화소는,
    발광 소자와,
    전류로의 일단이 상기 발광 소자의 일단에 접속되고, 해당 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고,
    상기 보정 데이터 취득 기능 회로는 상기 발광 소자의 타단의 전압을 설정 전압으로 설정한 상태에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하고,
    상기 설정 전압은 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하는 전압으로 설정되고,
    상기 소정의 타이밍은 상기 발광 소자의 타단을 초기 전압으로 설정하고, 상기 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하여, 해당 각 데이터선을 통해 상기 구동 제어 소자의 상기 전류로에 전류를 흘린 후의 타이밍이며,
    상기 초기 전압은 상기 전원 전압과 동일 전압, 또는 상기 전원 전압보다 저전위이고 상기 전원 전압과의 전위차가 상기 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정되는 것을 특징으로 하는 전자 기기.
16. 발광 장치의 구동 제어 방법으로서,
    상기 발광 장치는 복수의 화소 및 복수의 데이터선을 갖고, 상기 각 데이터선이 상기 각 화소에 접속되어 있는 발광 패널을 구비하고,
    상기 각 화소는 발광 소자와, 전류로의 일단이 상기 발광 소자의 일단에 접속되고 해당 전류로의 타단에 전원 전압이 인가되는 구동 제어 소자를 갖는 화소 구동 회로를 구비하고,
    상기 발광 장치의 구동 제어 방법은,
    상기 각 화소의 상기 발광 소자의 타단의 전압을 초기 전압으로 설정하고, 상기 각 데이터선에 제 1 검출용 전압을 인가하여, 해당 각 데이터선을 통해 상기 구동 제어 소자의 상기 전류로에 전류를 흘린 후의 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하여 설정 전압의 전압값을 취득하고, 상기 초기 전압은 상기 전원 전압과 동일 전압, 또는 상기 전원 전압보다 저전위이고 상기 전원 전압과의 전위차가 상기 발광 소자의 발광 임계값 전압보다 작은 값으로 되는 전압으로 설정되는 설정 전압 취득 스텝과,
    상기 각 화소의 상기 발광 소자의 타단의 전압을 상기 설정 전압으로 설정한 상태에서의 상기 각 데이터선의 전압값에 의거하여, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 임계값 전압을 포함하는 특성 파라미터를 취득하는 보정 데이터 취득 스텝을 구비하는 것을 특징으로 하는 발광 장치의 구동 제어 방법.
17. 제 16 항에 있어서,
    상기 설정 전압 취득 스텝은 상기 설정 전압을, 상기 소정의 타이밍에서 취득되는 상기 각 데이터선의 전압값과 동일한 극성을 갖고, 그 절대값을, 상기 소정의 타이밍에서의 상기 각 데이터선의 전압값의 절대값의 평균값, 최대값, 및 상기 평균값과 상기 최대값의 사이의 값 중의 어느 하나의 값으로 설정하는 전압 설정 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 장치의 구동 제어 방법.
18. 제 16 항에 있어서,
    상기 보정 데이터 취득 스텝은,
    복수의 전압 인가 회로의 각각을 상기 각 데이터선에 접속하고, 해당 각 전압 인가 회로에 의해 상기 각 데이터선에 제 2 검출용 전압을 인가한 후에, 상기 데이터선과 상기 전압 인가 회로의 접속을 차단한 후의 복수의 다른 타이밍에 대응하는 시간이 경과한 시점에서의 상기 데이터선의 복수의 전압값을, 상기 복수의 검출 전압으로서 취득하는 검출 전압 취득 스텝과,
    상기 검출 전압 취득 스텝에 의해 취득된 상기 복수의 검출 전압의 전압값에 의거하여, 상기 특성 파라미터로서, 상기 각 화소의 상기 구동 제어 소자의 상기 임계값 전압을 포함하는 상기 화소 구동 회로의 제 1 특성 파라미터를 취득하는 제 1 특성 파라미터 취득 스텝과,
    상기 검출 전압 취득 스텝에 의해 취득된 상기 복수의 검출 전압의 전압값에 의거하여, 상기 특성 파라미터로서, 상기 화소 구동 회로의 전류 증폭률에 관련된 제 2 특성 파라미터를 취득하는 제 2 특성 파라미터 취득 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 장치의 구동 제어 방법.
19. 제 18 항에 있어서,
    외부로부터 공급되는 화상 데이터를 상기 제 1 및 제 2 특성 파라미터에 의거하여 보정한 보정 화상 데이터를 생성하는 화상 데이터 보정 스텝과,
    상기 발광 패널에 상기 복수의 화소에 의해 상기 화상 데이터에 따른 화상표시를 실행할 때에, 상기 화상 데이터 보정 스텝에 있어서 생성된 상기 보정 화상 데이터에 따른 계조 전압을 상기 각 데이터선에 인가하는 보정 화상 데이터 인가 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 장치의 구동 제어 방법.

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