CN102110411A - 像素驱动装置、发光装置及其驱动控制方法以及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供像素驱动装置、发光装置及其驱动控制方法以及电子设备。在像素驱动装置中多个像素分别具有:发光元件和具有驱动控制元件的像素驱动电路;在控制器内具有校正数据取得功能电路,基于将发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的多条数据线各自的电压值取得包含各像素的驱动控制元件的阈值电压的特性参数。设定电压设定为基于各数据线在规定的定时的电压值的电压,规定的定时是将发光元件的另一端设定为初始电压并在各数据线上施加第1检测用电压而电流经由各数据线流过驱动控制元件的电流路径后的定时。初始电压设定为与电源电压相同的电压或电位比上述电源电压低且与电源电压的电位差成为小于发光元件的发光阈值电压的值的电压。
Description
本申请要求基于2009年12月28日提出的包括说明书、权利要求书、说明书附图和说明书摘要的日本专利申请号2009-298555的优先权。该专利申请的公开内容以引用的方式整体包含在本申请中。
技术领域
本发明涉及像素驱动装置、具有该像素驱动装置的发光装置及其驱动控制方法、以及具有该发光装置的电子设备。
背景技术
近年来,作为下一代的显示设备,具有将电流驱动型的发光元件排列成矩阵状的显示面板(像素阵列)的发光元件型的显示装置(发光装置)受到关注。其中,作为电流驱动型的发光元件,已知例如有有机电致发光元件(有机EL元件)、无机电致发光元件(无机EL元件)、发光二极管(LED)等。
特别是,应用了有源矩阵型的驱动方式的发光元件型的显示装置,与众所周知的液晶显示装置相比,显示响应速度快,并且,几乎没有视场角依赖性,具有能够实现高亮度·高对比度、显示画质高精细度等优秀的显示特性。发光元件型的显示装置由于不需要液晶显示装置那样的背光和导光板,所以,具有能够进一步轻薄化的非常优秀的特征。因此,人们期待这样的显示装置用于今后各种电子设备。
例如在日本公开公报H8-330600中,公开了作为通过电压信号进行电流控制的有源矩阵驱动显示装置的有机EL显示器装置。在该有机EL显示器装置中,具有电流控制用薄膜晶体管和开关用薄膜晶体管的电路(为了方便,记做“像素驱动电路”)按照像素设置。在这里,电流控制用薄膜晶体管通过在栅极上施加对应于图像数据的电压信号,使规定的电流流过作为发光元件的有机EL元件。另外,开关用薄膜晶体管进行用于将与图像数据对应的电压信号供给到电流控制用薄膜晶体管的栅极的开关动作。
但是,在通过这样的电压信号控制发光元件的亮度等级(階調)的有机EL显示器装置中,由于电流控制用薄膜晶体管等的阈值电压随时间变化,存在流过有机EL元件的电流的电流值变动的情况。
另外,在与配置成矩阵状的多个像素分别相对应的像素驱动电路中,即使假设电流控制用薄膜晶体管的阈值电压相同,由于受到薄膜晶体管的栅极绝缘膜和沟道长度、移动度的不均匀的影响,驱动特性产生不均匀。
已知移动度的不均匀特别是在低温多晶硅薄膜晶体管中显著发生。如果使用非晶硅薄膜晶体管,虽然能够使移动度均匀化,但是无法避免制造工艺引起的不均匀的影响。
发明内容
本发明的优点在于,能够提供一种像素驱动装置、发光装置及其驱动控制方法、以及具有该发光装置的电子设备,能够正确地取得像素驱动电路的特性参数并基于特性参数校正图像数据从而以所期望的亮度等级使发光元件进行发光动作。
为了获得上述优点,本发明的像素驱动装置是驱动多个像素的像素驱动装置,多个像素分别具有发光元件和像素驱动电路,该像素驱动电路具有电流路径的一端连接于上述发光元件的一端并且电源电压施加于电流路径的另一端的驱动控制元件,像素驱动装置另外具有校正数据取得功能电路,该校正数据取得功能电路基于将发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的、连接于多个像素的每一个上的多条数据线的各自的电压值,取得包含各像素的驱动控制元件的阈值电压的特性参数,设定电压设定为基于规定的定时的各数据线的电压值的电压,规定的定时是将发光元件的另一端设定为初始电压,在各数据线上施加第1检测用电压,并且电流经由各数据线流过驱动控制元件的电流路径后的定时,初始电压设定为与电源电压相同的电压,或者,设定为电位比电源电压低并且与电源电压的电位差成为小于发光元件的发光阈值电压的值的电压。
为了获得上述优点,本发明的发光装置具有发光面板和校正数据取得功能电路,上述发光面板具有多个像素及多条数据线并且各数据线连接于各像素,各像素具有发光元件和像素驱动电路,该像素驱动电路具有驱动控制元件,该驱动控制元件的电流路径的一端连接于发光元件的一端,电流路径的另一端上施加有电源电压,校正数据取得功能电路基于将发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的各数据线的电压值,取得包含各像素的驱动控制元件的阈值电压的特性参数,设定电压设定为基于规定的定时的各数据线的电压值的电压,规定的定时是将发光元件的另一端设定为初始电压,在各数据线上施加第1检测用电压,并且电流经由各数据线流过驱动控制元件的电流路径后的定时,初始电压设定为与电源电压相同的电压,或者,设定为电位比电源电压低并且与电源电压的电位差成为小于发光元件的发光阈值电压的值的电压。
为了获得上述优点,本发明的电子设备具有电子设备主体部和发光装置,该发光装置从电子设备主体部被供给图像数据,对应于该图像数据被驱动,发光装置具有发光面板和校正数据取得功能电路,上述发光面板具有多个像素及多条数据线并且各数据线连接于各像素,各像素具有发光元件和像素驱动电路,该像素驱动电路具有驱动控制元件,该驱动控制元件的电流路径的一端连接于发光元件的一端,电流路径的另一端上施加有电源电压,校正数据取得功能电路基于将发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的各数据线的电压值,取得包含各像素的驱动控制元件的阈值电压的特性参数,设定电压设定为基于规定的定时的各数据线的电压值的电压,规定的定时是将发光元件的另一端设定为初始电压,在各数据线上施加第1检测用电压,并且电流经由各数据线流过驱动控制元件的电流路径后的定时,初始电压设定为与电源电压相同的电压,或者,设定为电位比电源电压低并且与电源电压的电位差成为小于发光元件的发光阈值电压的值的电压。
为了获得上述优点,在本发明的发光装置的驱动控制方法中,发光装置具有发光面板,上述发光面板具有多个像素及多条数据线并且各数据线连接于各像素,各像素具有发光元件和像素驱动电路,该像素驱动电路具有驱动控制元件,该驱动控制元件的电流路径的一端连接于发光元件的一端,电流路径的另一端上施加有电源电压,发光装置的驱动控制方法具有设定电压取得步骤和校正数据取得步骤,上述设定电压取得步骤将各像素的发光元件的另一端的电压设定为初始电压,在各数据线上施加第1检测用电压,基于电流经由各数据线流过驱动控制元件的电流路径之后的、规定的定时的各数据线的电压值,取得设定电压的电压值,初始电压设定为与电源电压相同的电压,或者,设定为电位比电源电压低并且与电源电压的电位差成为小于发光元件的发光阈值电压的值的电压,上述校正数据取得步骤基于将各像素的发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的各数据线的电压值,取得包含各像素的驱动控制元件的阈值电压的特性参数。
附图说明
图1是表示使用了本发明的发光装置的显示装置的一个例子的概略结构图。
图2是表示适用于第1实施方式的显示装置的数据驱动器的一个例子的概略模块图。
图3是表示适用于第1实施方式的显示装置的数据驱动器的主要结构例子的概略电路结构图。
图4A是表示适用于第1实施方式的数据驱动器的数字-模拟转换电路及模拟-数字转换电路的输入输出特性的附图。
图4B是表示适用于第1实施方式的数据驱动器的数字-模拟转换电路及模拟-数字转换电路的输入输出特性的附图。
图5是表示适用于第1实施方式的显示装置的控制器的功能的功能模块图。
图6是表示适用于第1实施方式的显示面板的像素(像素驱动电路及发光元件)及电压控制电路的一个实施方式的电路结构图。
图7是适用了第1实施方式的像素驱动电路的像素中的图像数据的写入时的动作状态的附图。
图8是表示适用了第1实施方式的像素驱动电路的像素中的写入动作时的电压-电流特性的附图。
图9是表示适用了第1实施方式的特性参数取得动作的方法(自动调零法)的数据线电压的变化的附图。
图10是用于说明第1实施方式的特性参数取得动作(自动调零法)中从有机EL元件的阴极产生的漏泄现象的附图。
图11是适用于说明用于第1实施方式的特性参数取得动作的处理动作的流程图。
图12是用于说明图11所示的处理动作的、表示数据线电压的变化(过渡曲线)的一个例子的附图。
图13是表示在显示装置的老化状态下,适用于第1实施方式的特性参数取得动作的处理动作的大致情况流程图。
图14是表示适用了显示装置的老化状态下的处理动作的情况下的、第1实施方式的特性参数取得动作中的数据线电压的变化(过渡曲线)的一个例子的附图。
图15A是表示适用了显示装置的老化状态下的处理动作的情况下的、第1实施方式的特性参数取得动作中的检测数据的电压分布的直方图。
图15B是表示适用了显示装置的老化状态下的处理动作的情况下的、第1实施方式的特性参数取得动作中的检测数据的电压分布的直方图。
图16是表示第1实施方式的显示装置的特性参数取得动作的定时图。
图17是表示第1实施方式的显示装置的检测用电压施加动作的动作示意图。
图18是表示第1实施方式的显示装置的自然衰减动作的动作示意图。
图19是表示第1实施方式的显示装置的电压检测动作的动作示意图。
图20是表示第1实施方式的显示装置的检测数据送出动作的动作示意图。
图21是表示第1实施方式的显示装置的校正数据算出动作的功能模块图。
图22是表示第1实施方式的显示装置的发光动作的定时图。
图23是表示第1实施方式的显示装置的图像数据的校正动作的功能模块图。
图24是表示第1实施方式的显示装置的校正后的图像数据的写入动作的动作示意图。
图25是表示第1实施方式的显示装置的发光动作的动作示意图。
图26A是表示第2实施方式的数字照相机(camera)的结构例的立体图。
图26B是表示第2实施方式的数字照相机的结构例的立体图。
图27是表示第2实施方式的移动型的个人计算机的结构例的立体图。
图28是表示第2实施方式的便携电话的结构例的附图。
具体实施方式
<第1实施方式>
以下,对本发明的第1实施方式的像素驱动装置、发光装置及其驱动控制方法、以及电子设备进行说明。
在这里,对将本发明的发光装置作为显示装置使用的情况进行说明。
(显示装置)
图1是表示适用了本发明的发光装置的显示装置的一个例子的概略结构图。如图1所示,第1实施方式的显示装置(发光装置)100大致具有显示面板(发光面板)110、选择驱动器120、电源驱动器130、数据驱动器140、电压控制电路150和控制器160。本发明的像素驱动装置构成为包含选择驱动器120、电源驱动器130、数据驱动器140、电压控制电路150和控制器160。
显示面板110如图1所示,具有:在行方向(图左右方向)及列方向(图上下方向)上2维排列(例如p行×q列;p、q为正整数)的多个像素PIX、以与各个排列在行方向上的像素PIX连接的方式设置的多个选择线Ls及多个电源线La;与所有像素PIX共通设置的共通电极Ec、以及以与排列在列方向上的像素PIX连接的方式配置的多条数据线Ld。在这里,各像素PIX如后述那样,具有像素驱动电路和发光元件。
选择驱动器120连接于设置在显示面板110上的各选择线Ls。选择驱动器120根据从后述的控制器160供给的选择控制信号(例如扫描时钟信号及扫描开始信号),在各行的选择线Ls上在规定的定时依次施加规定的电压电平(选择电平:Vgh,或者非选择电平:Vgl)的选择信号Ssel。
另外,省略了选择驱动器120的详细的结构的图示,选择驱动器120例如具有:根据从控制器160供给的选择控制信号,依次输出与各行的选择线Ls对应的移位信号的移位寄存器,以及将该移位信号转换为规定的信号电平(选择电平:例如高电平)并作为选择信号Ssel依次输出到各行的选择线Ls的输出缓冲器。
电源驱动器130连接于设置在显示面板110上的各电源线La。电源驱动器130根据从后述的控制器160供给的电源控制信号(例如输出控制信号),在各行的电源线La上在规定的定时施加规定的电压电平(发光电平:ELVDD或者非发光电平:DVSS)的电源电压Vsa。
电压控制电路150连接于共通电极Ec,该共通电极Ec共通地连接于在显示面板110上2维排列的各像素PIX。电压控制电路150,根据从后述的控制器160供给的电压控制信号,在与设置于各像素PIX的有机EL元件(发光元件)OEL的例如阴极连接的共通电极Ec上,在规定的定时施加规定的电压电平(例如,接地电位GND,或者具有负极性的电压电平且绝对值具有基于后述的检测数据nmeas(tc)的平均值或者最大值的值的电压值)的电压(设定电压)ELVSS。
数据驱动器140连接于显示面板110的各数据线Ld,根据从后述控制器160供给的数据控制信号,在显示动作(写入动作)时,生成与图像数据对应的灰度信号(灰度电压Vdata),经由各数据线Ld供给到像素PIX。另外,数据驱动器140在后述的特性参数取得动作时,将预先设定的电压值的检测用电压Vdac,经由各数据线Ld施加于作为特性参数取得动作的对象的像素PIX。然后,数据驱动器140将施加检测用电压Vdac之后的、经过规定的衰减时间t之后的数据线Ld的电压Vd(以下作为数据线电压Vd)作为检测电压Vmeas(t)取入,转换为检测数据nmeas(t)并输出。
即,数据驱动器140构成为具有数据驱动器功能和电压检测功能双方,根据从后述的控制器160供给的数据控制信号,切换这些功能。数据驱动器功能执行如下动作,即,将经由控制器160供给的数字数据构成的图像数据转换为模拟信号电压,在数据线Ld上作为灰度信号(灰度电压Vdata)输出。另外,电压检测功能执行如下动作,即,将数据线电压Vd作为检测电压Vmeas(t)取入,转换为数字数据,作为检测数据nmeas(t)输出到控制器160。
图2是表示适用于本实施方式的显示装置的数据驱动器的一个例子的概略模块图。图3是表示图2所示的数据驱动器的主要结构的例子的概略电路结构图。在这里,在排列于显示面板110的像素PIX的列数(q)中,仅表示一部分而将图示省略化。在以下的说明中,对设置于第j列(j为1≤j≤q的正整数)的数据线Ld的数据驱动器140内部的结构进行详细说明。在图3中,将图2所示的移位寄存器电路和数据寄存器电路简略化表示。
数据驱动器140例如如图2所示,具有移位寄存器电路141、数据寄存器电路142、数据闩锁电路143、DAC/ADC电路144和输出电路145。包含移位寄存器电路141、数据寄存器电路142和数据闩锁电路143的内部电路140A根据从逻辑电源146供给的电源电压LVSS及LVDD,执行后述图像数据的取入动作及检测数据的送出动作。包含DAC/ADC电路144和输出电路145的内部电路140B根据从模拟电源147供给的电源电压DVSS及VEE,执行后述灰度信号的生成输出动作及数据线电压的检测动作。
移位寄存器电路141根据从控制器160供给的数据控制信号(开始脉冲信号SP、时钟信号CLK)生成移位信号,依次输出到数据寄存器电路142。数据寄存器电路142具有排列于上述显示面板110的像素PIX的列数(q)的量的寄存器(图示省略),根据从移位寄存器电路141供给的移位信号的输入定时,依次读取1行的量的图像数据Din(1)~Din(q)。在这里,图像数据Din(1)~Din(q)是由数字信号构成的串行数据(serial data)。
数据闩锁电路143在显示动作时(图像数据的取入动作以及灰度信号的生成输出动作),根据数据控制信号(数据闩锁脉冲信号LP),对应于各列保持将读取到数据寄存器电路142的1行的量的图像数据Din(1)~Din(q)。之后,数据闩锁电路143在规定的定时将该图像数据Din(1)~Din(q)送出至后述DAC/ADC电路144。另外,数据闩锁电路143在进行特性参数取得动作时(检测数据的送出动作及数据线电压的检测动作),保持经由后述DAC/ADC电路144读取的各检测电压Vmeas(t)对应的检测数据nmeas(t)。之后,数据闩锁电路143在规定的定时将该检测数据nmeas(t)作为串行数据输出到控制器160。输出的检测数据nmeas(t)存储在控制器160内的存储器中。
数据闩锁电路143具体来说如图3所示,具有数据输出用的开关SW3、对应于各列设置的数据闩锁41(j)、以及连接切换用的开关SW4(j)、SW5(j)。数据闩锁41(j)在数据闩锁脉冲信号LP的例如上升定时,保持(闩锁)经由开关SW5(j)供给的数字数据(图像数据Din(1)~Din(q))。
开关SW5(j)根据从控制器160供给的数据控制信号(切换控制信号S5),以将接点Na侧的数据寄存器电路142、或者接点Nb侧的DAC/ADC电路144的ADC43(j)、或者接点Nc侧的相邻的列(j+1)的数据闩锁41(j+1)中的任意一个选择地连接于数据闩锁41(j)的方式进行切换控制。由此,在开关SW5(j)连接设定于接点Na侧的情况下,从数据寄存器电路142供给的图像数据Din(j)被数据闩锁41(j)保持。在开关SW5(j)连接设定于接点Nb侧的情况下,从数据线Ld(j)读取到DAC/ADC电路144的ADC43(j)的数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))所对应的检测数据nmeas(t)被数据闩锁41(j)保持。在开关SW5(j)连接设定于接点Nc侧的情况下,经由相邻的列(j+1)的开关SW4(j+1)保持于数据闩锁41(j+1)的检测数据nmeas(t)被数据闩锁41(j)保持。另外,设置于最终列(q)的开关SW5(q)将逻辑电源146的电源电压LVSS连接于接点Nc。
开关SW4(j)根据从控制器160供给的数据控制信号(切换控制信号S4),以将接点Na侧的DAC/ADC电路144的DAC42(j)或者接点Nb侧的开关SW3(或者相邻的列(j-1)的开关SW5(j-1);省略图示)中的任意一个选择性地连接于数据闩锁41(j)的方式进行切换控制。由此,在开关SW4(j)连接设定于接点Na侧的情况下,被数据闩锁41(j)保持的图像数据Din(j)被供给到DAC/ADC电路144的DAC42(j)。在开关SW4(j)连接设定于接点Nb侧的情况下,被数据闩锁41(j)保持的检测电压Vmeas(t)所对应的检测数据nmeas(t)经由开关SW3输出到控制器160。输出的检测数据nmeas(t)存储于控制器160内的存储器中。
开关SW3根据从控制器160供给的数据控制信号(切换控制信号S4、S5),对数据闩锁电路143的开关SW4(j)、SW5(j)进行切换控制,在相邻的列的数据闩锁41(1)~41(q)相互串联地连接的状态下,根据数据控制信号(切换控制信号S3、数据闩锁脉冲信号LP),控制为成为导通状态。由此,被各列的数据闩锁41(1)~41(q)保持的检测电压Vmeas(t)所对应的检测数据nmeas(t)经由开关SW3作为串行数据被依次读取,并输出到控制器160。
图4A、4B是表示适用于本实施方式的数据驱动器的数字-模拟转换电路(DAC)及模拟-数字转换电路(ADC)的输入输出特性的附图。图4A是表示适用于本实施方式的DAC的输入输出特性的附图,图4B是表示适用于本实施方式的ADC的输入输出特性的附图。在这里,表示出数字信号的输入输出比特数为10比特的情况下的、数字-模拟转换电路及模拟-数字转换电路的输入输出特性的一个例子。
DAC/ADC电路144如图3所示,对应于各列具有线性电压数字-模拟转换电路(DAC:电压施加电路)42(j)和模拟-数字转换电路(ADC:电压取得电路)43(j)。DAC42(j)将由数据闩锁电路143保持的数字数据构成的图像数据Din(j)转换为模拟信号电压Vpix并输出到输出电路145。
设置于各列的DAC42(j)如图4A所示,被输出的模拟信号电压相对于输入的数字数据的转换特性(输入输出特性)具有线性。即,DAC42(j)例如如图4A所示,将10比特(即1024等级)的数字数据(0,1,…1023)转换为具有线性地设定的模拟信号电压(V0,V1,…V1023)。该模拟信号电压(V0~V1023)设定在从后述模拟电源147供给的电源电压DVSS~VEE的范围内。另外,DVSS>VEE。例如,以输入的数字数据的值为“0”(0等级)时被转换的模拟信号电压值V0成为电源电压DVSS的方式进行设定,数字数据的值为“1023”(1023等级:最大等级)时被转换的模拟信号电压值V1023比电源电压VEE高并且成为该电源电压VEE附近的电压值的方式进行设定。
另外,ADC43(j)将由从数据线Ld(j)读取的模拟信号电压构成的检测电压Vmeas(t)转换为由数字数据构成的检测数据nmeas(t)并送出到数据闩锁41(j)。在这里,设置于各列的ADC43(j)如图4B所示,被输出的数字数据相对于被输入的模拟信号电压的转换特性(输入输出特性)具有线性。另外,ADC43(j)的电压转换时的数字数据的比特幅度设定为与上述DAC42(j)相同。即,ADC43(j)的最小单位比特(1LSB:模拟分辨率)所对应的电压幅度设定得与DAC42(j)相同。
ADC43(j)例如如图4B所示,将设定在电源电压DVSS~VEE的范围内的模拟信号电压(V0,V1,…V1023)转换为设定为具有线性的10比特(1024等级)的数字数据(0,1,…1023)。以ADC43(j)例如在输入的模拟信号电压的电压值为V0(=DVSS)时将数字数据的值转换为“0”(0等级)的方式设定,以在模拟信号电压的电压值比电源电压VEE高并且为作为该电源电压VEE附近的电压值的模拟信号电压V1023时转换为数字信号值“1023”(1023等级:最大等级)的方式设定。
另外,在本实施方式中,包括移位寄存器电路141、数据寄存器电路142及数据闩锁电路143的内部电路140A构成低耐压电路,包括DAC/ADC电路144及后述输出电路145的内部电路140B构成高耐压电路。因此,在数据闩锁电路143(开关SW4(j))与DAC/ADC电路144的DAC42(j)之间,作为从低耐压的内部电路140A向着高耐压的内部电路140B的电压调整电路,设置有电平移位器LS1(j)。另外,在DAC/ADC电路144的ADC43(j)与数据闩锁电路143(开关SW5(j))之间,作为从高耐压的内部电路140B向着低耐压的内部电路140A的电压调整电路,设置有电平移位器LS2(j)。
输出电路145如图3所示,具有用于向与各列对应的数据线Ld(j)输出灰度信号的缓冲器44(j)及开关SW1(j)(连接切换电路)、用于读取数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))的开关SW2(j)及缓冲器45(j)。
缓冲器44(j)将通过DAC42(j)对图像数据Din(j)进行模拟转换而生成的模拟信号电压Vpix(j)放大为规定的信号电平,生成灰度电压Vdata(j)。开关SW1(j)根据从控制器160供给的数据控制信号(切换控制信号S1),控制灰度电压Vdata(j)向数据线Ld(j)的施加。
另外,开关SW2(j)根据从控制器160供给的数据控制信号(切换控制信号S2),控制数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))的读取。缓冲器45(j)将经由开关SW2(j)读取的检测电压Vmeas(t)放大为规定的信号电平并送出至ADC43(j)。
逻辑电源146供给用于驱动含有数据驱动器140的移位寄存器电路141、数据寄存器电路142及数据闩锁电路143的内部电路140A的、由逻辑电压构成的低电位侧的电源电压LVSS及高电位侧的电源电压LVDD。模拟电源147供给用于驱动含有DAC/ADC电路144的DAC42(j)及ADC43(j)、输出电路145的缓冲器44(j)、45(j)的内部电路140B的、由模拟电压构成的高电位侧的电源电压DVSS及低电位侧的电源电压VEE。
另外,在图2、图3所示的数据驱动器140中,为了图示方便,表示如下结构,即,用于控制各部的动作的控制信号仅输入至对应于第j列(在图中相当于第1列)的数据线Ld(j)设置的数据闩锁41及开关SW1~SW5。但是,在本实施方式中,显而易见,这些控制信号共通地输入到各列的结构中。
图5是表示适用于本实施方式的显示装置的控制器的功能的功能模块图。另外,在图5中,为了图示方便,各功能模块间的数据的流动全部以实线的箭头表示。事实上,如后面所述,对应于控制器160的动作状态,任意的数据的流动都是有效的。
控制器160至少控制上述选择驱动器120及电源驱动器130、数据驱动器140、电压控制电路150的动作状态。因此,控制器160生成用于执行显示面板110的规定的驱动控制动作的选择控制信号、电源控制信号、数据控制信号、及电压控制信号,输出到上述各驱动器120、130、140及控制电路150。
特别是,在本实施方式中,控制器160通过供给选择控制信号及电源控制信号、数据控制信号、电压控制信号,在规定的定时使选择驱动器120、电源驱动器130、数据驱动器140及电压控制电路150分别动作,并控制取得显示面板110的各像素PIX的特性参数的动作(特性参数取得动作)。另外,控制器160控制将图像信息显示于显示面板110的动作(显示动作),上述图像信息与根据各像素PIX的特性参数校正的图像数据对应。
具体来说,控制器160在特性参数取得动作中,根据与经由数据驱动器140检测的各像素PIX的特性变化相关联的检测数据(具体在下文中说明),取得各种校正数据。另外,控制器160在显示动作中,根据在特性参数取得动作中取得的校正数据校正从外部供给的图像数据,作为校正图像数据供给到数据驱动器140。
用于本实施方式的控制器160的图像数据校正电路具体来说例如图5所示,大致具有:具有参照表(LUT)161的电压振幅设定功能电路162、乘法计算功能电路(图像数据校正电路)163、加法计算功能电路(图像数据校正电路)164、存储器(存储电路)165、校正数据取得功能电路166。
电压振幅设定功能电路162对由从外部供给的数字数据构成的图像数据,通过参照参照表161,转换为与红(R)、绿(G)、蓝(B)各种颜色相对应的电压振幅。在这里,转换后的图像数据的电压振幅的最大值设定为从上述数据驱动器140的DAC42的输入范围的最大值减去基于各像素的特性参数的校正量所得到的值以下。
乘法计算功能电路163将基于与各像素PIX的特性变化相关联的检测数据取得的电流放大率β的校正数据与图像数据进行乘法计算。加法计算功能电路164将基于与各像素PIX的特性变化相关联的检测数据而取得的驱动晶体管的阈值电压Vth的校正数据与图像数据相加,作为校正图像数据供给到数据驱动器140。
校正数据取得功能电路166基于与各像素PIX的特性变化相关联的检测数据,取得对电流放大率β及阈值电压Vth的校正数据进行规定的参数。
存储器165将从上述数据驱动器140送出的各像素PIX的检测数据与各像素PIX对应来存储。然后,在加法计算功能电路164的加法计算处理时以及在校正数据取得功能电路166的校正数据取得处理时,从存储器165读出检测数据。另外,存储器165将在校正数据取得功能电路166中取得的校正数据对应于各像素PIX进行存储。然后,在上述乘法计算功能电路163的乘法计算处理时以及在加法计算功能电路164的加法计算处理时,从存储器165读出校正数据。
另外,在图5所示的控制器160中,校正数据取得功能电路166也可以是设置于控制器160的外部的运算装置(例如个人计算机、CPU)。另外,在图5所示的控制器160中,如果检测数据和校正数据与各像素PIX相关联地被存储,则存储器165可以是单独的存储器。另外,该存储器165也可以是设置于控制器160的外部的存储装置。
供给到控制器160的图像数据例如从映像信号提取亮度等级信号成分,按照显示面板110的1行的量,形成为串行数据,该串行数据通过将该亮度等级信号成分转换为数字信号而得到。
(像素)
接下来,对排列于本实施方式的显示面板的像素及电压控制电路进行具体说明。图6是表示适用于本实施方式的显示面板的像素(像素驱动电路及发光元件)及电压控制电路的例子的电路结构图。
适用于本实施方式的显示面板110的像素PIX如图6所示,配置在连接于选择驱动器120的选择线Ls与连接于数据驱动器140的数据线Ld的交点附近。各像素PIX具有作为电流驱动型的发光元件的有机EL元件OEL和生成用于对该有机EL元件OEL进行发光驱动的电流的像素驱动电路DC。
图6所示的像素驱动电路DC具有晶体管Tr11~Tr13和电容器(电容元件)Cs。晶体管(第2晶体管)Tr11的栅极端子连接于选择线Ls,漏极端子和源极端子的一方连接于电源线La,漏极端子和源极端子的另一方连接于接点N11。晶体管Tr12的栅极端子连接于选择线Ls,漏极端子和源极端子的一方连接于数据线Ld,漏极端子和源极端子的另一方连接于接点N12。晶体管(驱动控制元件,第1晶体管)Tr13的栅极端子连接于接点N11,漏极端子和源极端子的一方连接于电源线La,漏极端子和源极端子的另一方连接于接点N12。电容器(电容元件)Cs连接于晶体管Tr13的栅极端子(接点N11)及漏极端子和源极端子的另一方(接点N12)之间。电容器Cs既可以是形成于晶体管Tr13的栅极·源极端子间的寄生电容,也可以是在该寄生电容之外还在接点N11及接点N12之间并联连接单独的电容元件所得到的结构。
另外,有机EL元件OEL的阳极(阳极电极)连接于像素驱动电路DC的接点N12,阴极(阴极电极)连接于共通电极Ec。共通电极Ec如图6所示,连接于电压控制电路150,对应于像素PIX的动作状态设定并施加规定的电压值的电压ELVSS。另外,在图6所示的像素PIX中,除了电容器Cs以外,在有机EL元件OEL上还存在像素电容Cel,另外,在数据线Ld上存在布线寄生电容Cp。
电压控制电路150例如具有电压生成用的D/A转换器(图中,以「DAC(C)」表示)151和连接于D/A转换器151的输出端子的跟随放大器152。D/A转换器151在后述特性参数取得动作时,将从控制器160供给的、基于各像素PIX的特性参数的数字值(检测数据nmeas(tc))转换为模拟信号电压。跟随放大器152作为与D/A转换器151的输出相对应的极性反转电路及缓冲器电路而工作。由此,从D/A转换器151输出的模拟信号电压,通过跟随放大器152转换为电压ELVSS,电压ELVSS的绝对值具有与从D/A转换器151输出的模拟信号电压相当的值,并具有负极性的电压电平,电压ELVSS施加于与显示面板110的各像素PIX连接的共通电极Ec。另外,在显示面板110的显示动作(写入动作及发光动作)时,例如由接地电位GND构成的电压ELVSS经由电压控制电路150或者从省略图示的定电压源直接施加于共通电极Ec。
在这里,在本实施方式的像素PIX的显示动作(写入动作及发光动作)时,从上述电源驱动器130施加于电源线La的电源电压Vsa(ELVDD,DVSS)、施加于共通电极Ec的电压ELVSS、从模拟电源147供给到数据驱动器140的电源电压VEE之间的关系例如以满足如下(1)式所示的条件的方式设定。此时,施加于共通电极Ec的电压ELVSS例如设定为接地电位GND。
【数学式1】
另外,在(1)式中,施加于共通电极Ec的电压ELVSS与电源电压DVSS同电位,例如设定为接地电位GND,但是不仅限定于此,也可以电压ELVSS与电源电压DVSS相比具有低电位,电源电压DVSS和电压ELVSS的电位差设定为如下电压值,该电压值成为比有机EL元件OEL开始发光的发光阈值电压小的值。
另外,在图6所示的像素PIX中,对于晶体管Tr11~Tr13,可以使用例如具有相同的沟道类型的薄膜晶体管(TFT)。晶体管Tr11~Tr13可以是非晶硅薄膜晶体管,也可以是多晶硅薄膜晶体管。
特别是如图6所示,在作为晶体管Tr11~Tr13使用n沟道类型的薄膜晶体管并且作为晶体管Tr11~Tr13使用非晶硅薄膜晶体管的情况下,使用已经确立了的非晶硅制造技术,与多晶型或单晶型的硅薄膜晶体管相比,能够以简单的制造工艺实现动作特性(电子移动性等)比较均匀稳定的晶体管。
另外,上述像素PIX采用了如下电路结构例,该电路结构例作为像素驱动电路DC具有3个晶体管Tr11~Tr13,作为发光元件使用有机EL元件OEL。但本发明不仅限定于该例子,也可以具有其它的电路结构,该电路结构具有3个以上的晶体管。另外,被像素驱动电路DC驱动的发光元件只要是电流驱动型的发光元件即可,例如也可以是发光二极管等其它的发光元件。
(显示装置的驱动控制方法)
接下来,对本实施方式的显示装置100的驱动控制方法进行说明。本实施方式的显示装置100的驱动控制动作具有特性参数取得动作和显示动作。
在特性参数取得动作中,显示装置100取得用于补偿排列于显示面板110的各像素PIX的电气特性的变动的参数。更具体来说,显示装置100执行取得如下参数的动作,即,用于校正设置于各像素PIX的像素驱动电路DC的晶体管(驱动晶体管)Tr13的阈值电压Vth的变动的参数,以及用于校正各像素PIX的电流放大率β的不均匀的参数。
在显示动作中,显示装置100根据通过上述特性参数取得动作按照像素PIX取得的校正参数,生成对由数字数据构成的图像数据进行了校正的校正图像数据,生成该校正图像数据所对应的灰度电压Vdata并写入各像素PIX(写入动作)。由此,各像素PIX(有机EL元件OEL)以补偿各像素PIX的电气特性(晶体管Tr13的阈值电压Vth、电流放大率β)的变动或不均匀的、与图像数据对应的本来的亮度等级发光(发光动作)。
以下,对各动作进行具体说明。
(特性参数取得动作)
在这里,首先对本实施方式的特性参数取得动作中使用的特有的方法进行说明。之后,对使用该方法取得用于补偿各像素PIX的阈值电压Vth及电流放大率β的特性参数的动作进行说明。
首先,对在具有图6所示的像素驱动电路DC的像素PIX上从数据驱动器140经由数据线Ld写入图像数据(施加与图像数据对应的灰度电压Vdata)的情况下的、像素驱动电路DC的电压-电流(V-I)特性进行说明。
图7是适用了本实施方式的像素驱动电路的像素的图像数据的写入时的动作状态图。另外,图8是表示适用了本实施方式的像素驱动电路的像素的写入动作时的电压-电流特性的附图。
在向本实施方式的像素PIX写入图像数据的动作中,如图7所示,选择驱动器120经由选择线Ls施加选择电平(高电平:Vgh)的选择信号Ssel,从而将像素PIX设定为选择状态。此时,像素驱动电路DC的晶体管Tr11、Tr12进行导通动作,从而晶体管Tr13的栅极·漏极端子间被短路,设定为二极管连接状态。在该选择状态下,在电源线La上从电源驱动器130施加有非发光电平的电源电压Vsa(=DVSS:例如接地电位GND)。另外,在连接于有机EL元件OEL的阴极的共通电极Ec上,从电压控制电路150或者省略图示的定电压源,施加有设定为与电源电压DVSS同电位的、例如设定为接地电位GND的电压ELVSS。另外,电压ELVSS不仅限于与电源电压DVSS同电位的电压,也可以设定为电压ELVSS具有比电源电压DVSS低的电位且电源电压DVSS和电压ELVSS的电位差成为比有机EL元件OEL开始发光的发光阈值电压小的值的电压值。
然后,在该状态下,对数据线Ld从数据驱动器140施加与图像数据对应的电压值的灰度电压Vdata。在这里,灰度电压Vdata设定为比从电源驱动器130施加于电源线La的电源电压DVSS低的电压值。即,在写入动作时,在(1)式所示的例子中,电源电压DVSS设定为与施加于共通电极Ec的电压ELVSS相同的电位(接地电位GND),所以,灰度电压Vdata设定为负极性的电压电平。
其结果是,如图7所示,从电源驱动器130经由电源线La、像素PIX(像素驱动电路DC)的晶体管Tr13、Tr12,在数据线Ld方向上流过与灰度电压Vdata对应的漏电流Id。此时,在有机EL元件OEL上施加有比发光阈值电压低的电压或者逆偏压,所以不进行发光动作。
该情况下的像素驱动电路DC的电路特性如下所述。在像素驱动电路DC中,设作为驱动晶体管的晶体管Tr13的阈值电压Vth不产生变动并且像素驱动电路DC的电流放大率β没有不均匀的初始状态的、晶体管Tr13的阈值电压为Vth0,设电流放大率作为β,此时,图7所示的漏电流Id的电流值可以以如下的(2)式表示。
Id=β(V0-Vdata-Vth0)2…(2)
在这里,像素驱动电路DC的设计值或标准值的电流放大率β、以及晶体管Tr13的初始阈值电压Vth0都为常数。另外,V0为从电源驱动器130施加的非发光电平的电源电压Vsa(=DVSS),电压(V0-Vdata)与施加于串联连接晶体管Tr13及Tr12的各电流路径的电路结构上的电位差相当。此时的施加于像素驱动电路DC的电压(V0-Vdata)的值和像素驱动电路DC中流动的漏电流Id的电流值的关系(V-I特性)如图8中的特性线SP1所示。
设晶体管Tr13的元件特性由于老化而产生变动(阈值电压移位;阈值电压Vth的变动量为ΔVth)后的阈值电压为Vth(=Vth0+ΔVth),此时,像素驱动电路DC的电路特性如以下的(3)式那样变化。在这里,Vth为常数。此时的像素驱动电路DC的电压-电流(V-I)特性如图8中的特性线SP3所示。
Id=β(V0-Vdata-Vth)2…(3)
另外,在(2)式所示的初始状态下,在设电流放大率β产生不均匀的情况下的电流放大率为β′时,像素驱动电路DC的电路特性可以以(4)式表示。
Id=β′(V0-Vdata-Vth0)2…(4)
在这里,β′为常数。此时的像素驱动电路DC的电压-电流(V-I)特性如图8中的特性线SP2所示。另外,图8中所示的特性线SP2表示(4)式的电流放大率β′比(2)式所示的电流放大率β小的情况(β′<β)的像素驱动电路DC的电压-电流(V-I)特性。
在(2)式及(4)式中,在以设计值或标准值的电流放大率为βtyp的情况下,设用于以电流放大率β′成为βtyp的值的方式进行校正的参数(校正数据)为Δβ。此时,以电流放大率β′和校正数据Δβ的乘积值成为设计值的电流放大率βtyp的方式(即,以β′×Δβ=βtyp的方式),对各个像素驱动电路DC赋予校正数据Δβ。
然后,在本实施方式中,显示装置100根据上述像素驱动电路DC的电压-电流特性((2)~(4)式及图8),以以下的特有的方法取得用于校正晶体管Tr13的阈值电压Vth及电流放大率β′的特性参数。另外,在本说明书中,将以下所示的方法简称为“自动调零法”。
在适用于本实施方式的特性参数取得动作的方法(自动调零法)中,对于具有图6所示像素驱动电路DC的像素PIX,在选择状态下,上述数据驱动器140使用数据驱动器功能在数据线Ld上施加检测用电压Vdac。之后,使数据线Ld成为高阻抗(HZ)状态,使数据线Ld的电位自然衰减。然后,数据驱动器140使用电压检测功能将进行了一定时间(衰减时间t)的自然衰减后的数据线电压Vd作为检测电压Vmeas(t)取入,转换为由数字数据构成的检测数据nmeas(t)。在这里,在本实施方式中,数据驱动器140根据来自控制器160的数据控制信号,将该衰减时间t设定为不同的时间(定时:t0、t1、t2、t3),多次执行检测电压Vmeas(t)的取入以及向检测数据nmeas(t)的转换。
首先,对适用于本实施方式的特性参数取得动作的自动调零法的基本的想法进行说明。图9是表示适用于本实施方式的特性参数取得动作的方法(自动调零法)的数据线电压的变化的附图(过渡曲线)。
在使用自动调零法的特性参数取得动作中,数据驱动器140首先在将像素PIX设定为选择状态的状态下,在像素驱动电路DC的晶体管Tr13的栅极·源极端子间(接点N11和N12间),以施加超过该晶体管Tr13的阈值电压的电压的方式,对数据线Ld施加检测用电压Vdac。
此时,在向像素PIX进行写入动作时,电源驱动器130对电源线La施加非发光电平的电源电压DVSS(=V0;接地电位GND),在晶体管Tr13的栅极·源极端子间施加(V0-Vdac)的电位差。因此,检测用电压Vdac设定为满足V0-Vdac>Vth的条件的电压。此外,检测用电压Vdac设定为比电源电压DVSS低的负极性的电压电平。在这里,施加在连接于有机EL元件OEL的阴极的共通电极Ec上的电压ELVSS设定为如下电压值,即,该有机EL元件OEL不通过其与施加在晶体管Tr13的源极端子上的检测用电压Vdac之间产生的电位差而进行发光动作的电压值。更具体来说,电压ELVSS设定为与有机EL元件OEL进行发光动作的程度的正偏压和伴随着对后述校正动作产生影响的程度的电流漏泄的逆偏压中的任意一个都不相符的电压值(或电压范围)。另外,对于该电压ELVSS的设定在后面进行说明。
其结果是,从电源驱动器130经由电源线La、晶体管Tr13的漏极·源极端子间、Tr12的漏极·源极端子间,在数据线Ld方向上流过与检测用电压Vdac对应的漏电流Id。此时,连接于晶体管Tr13的栅极·源极端子间(接点N11和N12间)的电容器Cs被充电到与检测用电压Vdac对应的电压。
然后,数据驱动器140将数据线Ld的数据输入侧(数据驱动器140侧)设定为高阻抗(HZ)状态。在刚将数据线Ld设定为高阻抗状态之后,将对电容器Cs进行充电的电压保持为与检测用电压Vdac对应的电压。因此,晶体管Tr13的栅极·源极端子间电压Vgs保持为对电容器Cs充电的电压。
其结果是,在刚将数据线Ld设定为高阻抗状态之后,晶体管Tr13维持导通状态,晶体管Tr13的漏极·源极端子间流过漏电流Id。在这里,晶体管Tr13的源极端子(接点N12)的电位随着时间的经过而以接近漏极端子侧的电位的方式渐渐上升,在晶体管Tr13的漏极·源极端子间流过的漏电流Id的电流值减少。
伴随着该状況,蓄积于电容器Cs的电荷的一部分被放电,从而,电容器Cs的两端间电压(晶体管Tr13的栅极·源极端子间电压Vgs)渐渐降低。其结果是,数据线电压Vd如图9所示,随着时间的经过而从检测用电压Vdac以收敛到从晶体管Tr13的漏极端子侧的电压(电源线La的电源电压DVSS(=V0))减去晶体管Tr13的阈值电压Vth的量的电压(V0-Vth)的方式渐渐上升(自然衰减)。
在这样的自然衰减中,最终,当晶体管Tr13的漏极·源极端子间不流过漏电流Id时,蓄积于电容器Cs的电荷的放电停止。此时的晶体管Tr13的栅极电压(栅极·源极端子间电压Vgs)成为晶体管Tr13的阈值电压Vth。
在像素驱动电路DC的晶体管Tr13的漏极·源极端子间不流过漏电流Id的状态下,晶体管Tr12的漏极·源极端子间电压大致成为0V,所以,在自然衰减结束时,数据线电压Vd与晶体管Tr13的阈值电压Vth大致相等。
另外,在图9所示的过渡曲线中,数据线电压Vd随着时间(衰减时间t)的经过而收敛于晶体管Tr13的阈值电压Vth(=|V0-Vth|;V0=0V)。在这里,数据线电压Vd随着衰减时间t的经过而无限地逐渐接近阈值电压Vth。但是,即使将衰减时间t设定得足够长,理论上,也不能够与阈值电压Vth完全相等。这样的过渡曲线(自然衰减导致的数据线电压Vd的动作)可以以如下的(11)式表示。
【数学式2】
在(11)式中,C是附加在图6所示的像素PIX的电路结构的数据线Ld上的电容成分的总和,以C=Cel+Cs+Cp(Cel:像素电容,Cs:电容器电容,Cp:布线寄生电容)表示。另外,检测用电压Vdac被定义为满足如下的(12)式的条件的电压值。
【数学式3】
在(12)式中,Vth_max表示晶体管Tr13的阈值电压Vth的补偿界限值。nd被定义为在数据驱动器140的DAC/ADC电路144中输入DAC42的初始的数字数据(用于规定检测用电压Vdac的数字数据),在该数字数据nd为10比特的情况下,对于d选择1~1023中满足(12)式的条件的任意的值。另外,ΔV是数字数据的比特幅度(与1比特对应的电压幅度),在数字数据nd为10比特的情况下,以下面的(13)式表示。
【数学式4】
在(11)式中,数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))、该数据线电压Vd的收敛值V0-Vth、以及与由电流放大率β与电容成分的总和C构成的参数β/C相关的ξ分别如以下的(14)式及(15)式那样被定义。在这里,衰减时间t的数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))所对应的ADC43的数字输出(检测数据)被定义为nmeas(t),阈值电压Vth的数字数据被定义为nth。
【数学式5】
【数学式6】
ξ:=(β/C)·ΔV …(15)
根据(14)式及(15)式所示的定义,在将(11)式置换成在数据驱动器140的DAC/ADC电路144中输入DAC42的实际的数字数据(图像数据)nd与通过ADC43进行模拟-数字转换并实际输出的数字数据(检测数据)nmeas(t)之间的关系时,(11)式可以如以下的(16)式那样表示。
【数学式7】
在(15)式及(16)式中,设ξ是模拟值的参数β/C的数字表现,ξ·t变成量纲为1。晶体管Tr13的阈值电压Vth不产生变动(Vth移位)的初始的阈值电压Vth0为1V左右。
此时,以满足ξ·t·(nd-nth)>>1的条件的方式,设定不同的2个衰减时间t=t1、t2,从而,晶体管Tr13的阈值电压变动所对应的补偿电压成分(偏置电压)Voffset(t0)可以如以下的(17)式那样表示。
【数学式8】
在(17)式中,在各个(16)式中将衰减时间t设定为t1、t2的情况下,n1、n2为从ADC43输出的数字数据(检测数据)nmeas(t1)、nmeas(t2)。
晶体管的阈值电压Vth的数字数据nth,根据(16)式及(17)式,可以使用衰减时间t=t0时从ADC43输出的数字数据nmeas(t0)以如下的(18)式那样表示。另外,偏置电压Voffset的数字数据digital Voffset可以如以下的(19)式那样表示。在(18)式及(19)式中,<ξ>是作为参数β/C的数字值的ξ的全部像素平均值。在这里,<ξ>不考虑小数点以下。
【数学式9】
【数学式10】
因此,由(18)式对全部像素求得作为用于校正阈值电压Vth的数字数据(校正数据)的nth。
在将衰减时间t设定为图9的过渡曲线所示的t3的情况下,根据从ADC43输出的数字数据(检测数据)nmeas(t3),通过将(16)式对ξ求解,电流放大率β的不均匀以如下的(20)式表示。在这里,t3设定为与(17)式及(18)式中使用的t0、t1、t2相比足够短的时间。
【数学式11】
关于(20)式的ξ,以各数据线Ld的电容成分的总和C相等的方式设计显示面板(发光面板),进而,如(13)式所示,通过预先决定数字数据的比特幅度ΔV,定义ξ的(15)式的ΔV及C成为常数。
然后,当使ξ及β的所期望的设定值分别为ξtyp及βtyp时,用于校正显示面板110内的各像素驱动电路DC的ξ的不均匀的乘法计算校正值Δξ,即,用于校正电流放大率β的不均匀的数字数据(校正数据)Δβ,如果无视不均匀的平方项,则能够如以下的(21)式那样定义。
【数学式12】
因此,用于校正像素驱动电路DC的阈值电压Vth的变动的校正数据nth(第1特性参数)及用于校正电流放大率β的不均匀的校正数据Δβ(第2特性参数),能够根据(18)式及(21)式并通过改变上述一系列的自动调零法的衰减时间t来多次检测数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))而求出。另外,上述校正数据nth、Δβ的取得处理在图5所示的控制器160的校正数据取得功能电路166中进行。
通过(18)式算出的校正数据nth在后述显示动作中,对于从本实施方式的显示装置100的外部输入的图像数据nd,实施电流放大率β的不均匀校正(Δβ乘法计算校正)和阈值电压Vth的变动校正(nth加法计算校正)并生成校正图像数据nd_comp时使用。通过该校正图像数据的生成,从数据驱动器140经由数据线Ld向各像素PIX供给与校正图像数据nd_comp对应的模拟电压值的灰度电压Vdata,所以,能够使各像素PIX的有机EL元件OEL不受电流放大率β的不均匀和驱动晶体管的阈值电压Vth的变动的影响,而以所期望的亮度等级进行发光动作,实现良好且均匀的发光状态。
对上述一系列的自动调零法中有机EL元件OEL的阴极(共通电极Ec)上施加的电压ELVSS进行说明。具体为,在上述一系列的自动调零法中,对于为了计算出各像素PIX(像素驱动电路DC)的晶体管Tr13的阈值电压Vth及电流放大率β而检测的数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t)),电压ELVSS的影响具体来说如下所述。
图10是用于说明本实施方式的特性参数取得动作(自动调零法)中从有机EL元件的阴极的漏泄现象的附图。在使用上述自动调零法的特性参数取得动作中,对以下情况进行了说明:当在数据线Ld上施加检测用电压Vdac时,在有机EL元件OEL的阴极(共通电极Ec)上,施加有具有与有机EL元件OEL进行发光动作的程度的正偏压以及与对后述校正动作产生影响的程度的电流漏泄相伴的逆偏压中的任意一个都不相符的电压值(或者电压范围)的电压ELVSS。
以下,首先对如下情况下的像素驱动电路DC的动作进行说明,该情况为:如图10所示,作为电压ELVSS,与图7所示的图像数据的写入时相同地,将例如有机EL元件OEL不进行发光动作的电压值并且是与电源电压DVSS相同的电压值的接地电位GND作为初始电压施加于共通电极Ec,并在有机EL元件OEL上施加逆偏压。另外,该电压ELVSS的初始电压不仅限于与电源电压DVSS同电位的电压,还可以设定为电压ELVSS具有比电源电压DVSS低的电位,并且电源电压DVSS和电压ELVSS的电位差成为比有机EL元件OEL开始发光的发光阈值电压小的值的电压值。
在该情况下,如图10所示,对应于施加在电源线La上的电源电压DVSS(接地电位GND)和施加在数据线Ld上的检测用电压Vdac之间的电位差,在晶体管Tr13上流过漏电流Id。另外,与漏电流Id一起,对应于施加于有机EL元件OEL的阴极(共通电极Ec)上的电压ELVSS(接地电位GND)与施加于数据线Ld的检测用电压Vdac之间的电位差,在有机EL元件OEL上流过与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流Ilk。
此时,在各有机EL元件OEL的逆偏压的施加时的电流特性的影响(具体来说,与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流Ilk的电流值)很小并且均匀的情况下,检测到的数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))表示实质上与各像素PIX的晶体管Tr13的阈值电压Vth和电流放大率β紧密对应(关联)的电压值。
但是,在有机EL元件OEL中,由于元件结构和制造工序、驱动履历(发光履历)等,不可避免地产生元件特性的变化和不均匀的情况。因此,当存在各有机EL元件OEL的逆偏压的施加时的电流特性产生不均匀并且与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流Ilk的电流值比较大的有机EL元件OEL时,与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流所产生的电压成分包含于检测电压Vmeas(t)并且该电压成分不均匀,从而,检测电压Vmeas(t)和各像素PIX的电流放大率β的关联性大幅受损。即,不能从检测电压Vmeas(t)中区分有机EL元件OEL的漏泄电流Ilk产生的电压成分和流过晶体管Tr13的漏电流Id所产生的电压成分。
根据在这样的状态下取得的各像素PIX的特性参数,当进行后述的图像数据的校正动作时,在存在与在有机EL元件OEL上施加逆偏压相伴随的漏泄电流Ilk的情况下,由于检测电压Vmeas(t)中含有该漏泄电流产生的电压成分,所以,乍看起来,判断为晶体管Tr13的电流驱动能力(即电流放大率β)较大。因此,在根据校正了的图像数据进行发光动作时,通过晶体管Tr13生成的发光驱动电流Iem的电流值设定得比基于本来的晶体管Tr13的特性的电流值小。由此,产生漏泄电流Ilk的像素PIX或漏泄电流Ilk的电流值大的像素PIX通过校正动作而发光亮度降低,所以,存在亮度不均被强调而导致显示画质恶化的可能性。
与之相对,本实施方式在各像素PIX的特性参数的取得过程中,能够排除上述那样的、与有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴的漏泄电流Ilk的影响。
即,在本实施方式中,显示装置100在进行上述特性参数取得动作之前,使用自动调零法,执行用于设定施加于有机EL元件OEL的电压ELVSS的电压值的处理(电压取得动作)。由此,取得适用于用于取得各像素PIX的电流放大率β的不均匀校正用的校正数据Δβ的特性参数取得动作时的电压ELVSS的电压值。之后,在将电压ELVSS设定为通过电压取得动作取得的电压值的状态下,执行使用上述一系列的自动调零法的特性参数取得动作。由此,排除与有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响,至少计算出各像素PIX的晶体管Tr13本来的阈值电压Vth和电流放大率β的校正数据。
在本实施方式中,显示装置100例如在显示装置100的工厂出库时等的没有产生元件特性的老化的初始状态下、以及通过显示装置的使用而由驱动履历(发光履历)等引起的元件特性的随时间变化的状态(老化状态)下,分别执行由上述那样的电压取得动作及特性参数取得动作构成的一系列的处理动作。
图11是用于说明用于本实施方式的特性参数取得动作的处理动作的流程图。图12是表示用于说明图11所示的处理动作的、使电压ELVSS变化时的数据线电压的变化(过渡曲线)的一个例子的附图。
在本处理动作中,数据驱动器140如图11所示,首先,在步骤S101中,在用于电压取得动作的预先设定的衰减时间tc,使用上述自动调零法执行数据线电压Vd的检测动作。即,数据驱动器140在数据线Ld上施加规定的检测用电压Vdac,上述数据线Ld与设定为选择状态的像素PIX连接。此时,在该像素PIX的有机EL元件OEL的阴极上,作为电压ELVSS的初始值,例如施加有与电源电压DVSS相同电压的接地电位GND。然后,数据驱动器140使该数据线Ld成为高阻抗(HZ)状态,使数据线Ld的电位自然衰减衰减时间tc之后,取得与数据线电压Vd(检测电压Vmeas(tc))相对应的、由数字数据构成的检测数据nmeas(tc)。这样的检测数据nmeas(tc)的取得动作对显示面板11的全部像素PIX执行。在这里,适用于本处理动作的衰减时间tc根据(11)式及(12)式设定为具有如下的(22)式所示的关系的值。
tc>>(β/C)(V0-Vdac-Vth)…(22)
接下来,在步骤S102中,校正数据取得功能电路166根据对于全部像素PIX取得的检测数据nmeas(tc)的频数分布,提取其平均值(或者峰值)、或最大值、或作为平均值与最大值之间的值的特定检测数据nmeas_m(tc)。在这里,检测数据nmeas(tc)的频数分布为,只有全部像素PIX中的极少一部分的像素PIX受到伴随着逆偏压的施加的漏泄电流的较大影响,其它的大多数像素PIX受到其影响较小,所以,频数集中于极小的检测数据的范围(即电压范围)。因此,特定检测数据nmeas_m(tc)是几乎不受与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响的值。
接下来,在步骤S103中,校正数据取得功能电路166将通过步骤S102提取的特定检测数据nmeas_m(tc)输入到图6所示的电压控制电路150。由此,通过D/A转换器151,由该数字值构成的特定检测数据nmeas_m(tc)转换为模拟信号电压,进而,通过跟随放大器152,放大为规定的电压电平并施加于共通电极Ec。由此,电压ELVSS的电压设定为具有对应于特定检测数据nmeas_m(tc)的电压值的负极性的电压电平。即,电压ELVSS的电压具有与检测电压Vmeas(tc)相同的极性,电源线La和共通电极Ec之间的电位差的绝对值设定为电源线La与数据线Ld的数据驱动器140侧的一端之间的电位差的绝对值的平均值或者最大值或者平均值与最大值之间的值。
接下来,在步骤S104中,校正数据取得功能电路166经由数据驱动器140并基于使用上述自动调零法的特性参数取得动作,取得各像素PIX的特性参数(至少为用于校正电流放大率β的不均匀的校正数据Δβ)。即,首先,数据驱动器140向数据线Ld施加规定的检测用电压Vdac,上述数据线Ld连接于设定为选择状态的像素PIX。此时,在该像素PIX的有机EL元件OEL的阴极上,施加有通过上述步骤S102而被提取的特定检测数据nmeas_m(tc)所对应的电压。由此,在检测数据线电压Vd时,在各像素PIX的有机EL元件OEL上,几乎不施加逆偏压。之后,数据驱动器140执行使该数据线Ld成为高阻抗(HZ)状态,在规定的衰减时间t3检测数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t3))并取得检测数据nmeas(t3)的动作。校正数据取得功能电路166使用这样取得的检测数据nmeas(t3),根据(11)~(21)式算出各像素PIX的特性参数(校正数据Δβ)。
在这里,由步骤S101、S102构成的电压取得动作在显示装置的元件特性为不产生老化的初始状态下执行。而且,在步骤S104中的特性参数的取得中,在取得对于各像素PIX的能够取得的特性参数(校正数据nth和Δβ)中的、至少校正数据Δβ(电流放大率β的不均匀校正用)的特性参数取得动作时,步骤S103所示的电压值也可以设定为电压ELVSS。
在这里,参照图12,对在执行图11所示的处理动作的情况下使电压ELVSS变化时的数据线电压Vd的变化进行说明。图12是表示在特性参数取得动作中,在作为检测用电压Vdac在数据线Ld上施加例如-4.7V之后,成为高阻抗状态的情况下的数据线电压Vd的变化的过渡曲线。在这里,图12所示的数据线电压测定期间表示在该期间内设定上述衰减时间tc的期间。
图12中以虚线表示的曲线SPA0表示在像素PIX的有机EL元件OEL上没有与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的状态的数据线电压Vd的变化(理想值)。即,曲线SPA0对应于图9所示的过渡曲线。该情况下的数据线电压Vd如图12所示,随着时间的经过而从检测用电压Vdac渐渐上升,在经过大概2.0msec的时刻,收敛(自然衰减)于从晶体管Tr13的漏极侧的电压(电源线La的电源电压DVSS(=V0=GND))减去晶体管Tr13的阈值电压Vth的量的电压(V0-Vth:例如大概-1.8V)。在这里,通过这样的自然衰减,数据线电压Vd所收敛的电压值与晶体管Tr13的阈值电压Vth大致相等。
另一方面,图12中以实细线所示的曲线SPA1表示,当在有机EL元件OEL上有与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流时,在有机EL元件OEL的阴极上施加由接地电位GND(=0V)构成的电压ELVSS的情况下的数据线电压Vd的变化。即,曲线SPA1表示在有机EL元件OEL上施加有大概为-4.7V的逆偏压的情况下的过渡曲线。
该情况下的数据线电压Vd如图12所示,表现出如下倾向,即,随着时间的经过而从检测用电压Vdac渐渐上升,收敛于比曲线SPA0的收敛电压(≈阈值电压Vth)高的电压。具体来说,由于除了与晶体管Tr13的阈值电压Vth相关联的漏电流Id,与施加于有机EL元件OEL上的逆偏压相伴随的漏泄电流Ilk流过数据线Ld,所以,数据线电压Vd收敛于比曲线SPA0的收敛电压高出漏泄电流Ilk引起的电压成分的量的电压。另外,在图12中,将电压ELVSS设定为接地电位GND(=0V)的情况下的漏泄电流Ilk为10A/m2。在步骤S101中检测的数据线电压Vd包含:与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流不存在时(曲线SPA0)的数据线电压Vd、以及与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流存在时(曲线SPA1)的数据线电压Vd。然后,与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流存在时的数据线电压Vd的电压值的绝对值比没有漏泄电流时的数据线电压Vd的电压值的绝对值小。
另一方面,在图12中以粗实线表示的曲线SPA2表示在有机EL元件OEL上存在与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流时,在有机EL元件OEL的阴极上施加有-2V的电压ELVSS的情况下的数据线电压Vd的变化。在这里,设定为电压ELVSS的-2V是在步骤S102中提取的特定检测数据nmeas_m(tc)所对应的电压值。即,曲线SPA2表示在有机EL元件OEL上施加大概为-2.7V的逆偏压的情况下的过渡曲线。
该情况下的数据线电压Vd如图12所示,表现出如下倾向,即,随着时间的经过,从检测用电压Vdac急剧上升,收敛于与曲线SPA0的收敛电压(≈阈值电压Vth)大致相等的电压。即,通过将电压ELVSS设定为具有与特定检测数据nmeas_m(tc)相对应的值的-2V,在检测数据线电压Vd时,由于在各像素PIX的有机EL元件OEL上几乎不施加逆偏压,所以,漏泄电流Ilk对数据线电压Vd的影响被排除。
图13是表示适用于本实施方式的特性参数取得动作的处理动作的大概情况的流程图。图14是表示适用了图13所示的处理动作的情况下的、本实施方式的特性参数取得动作中的数据线电压的变化(过渡曲线)的一个例子的附图。在这里,对于与上述说明相同的处理动作和电压变化,使其说明简略化。图15A、15B是表示适用了图13所示的处理动作情况下的、本实施方式的特性参数取得动作中的检测数据的电压分布的直方图。在图15A、15B中,横轴是表示检测电压Vmeas(t)的电压值的数字值,纵轴表示频度。纵轴成为log标度(对数刻度)。
在上述老化状态下执行的处理动作中,图13所示,首先,在步骤S201中,数据驱动器140为了取得用于校正电流放大率β的不均匀的校正数据Δβ,与通常的特性参数取得动作相同地,在与衰减时间tc同等的衰减时间td,使用自动调零法执行数据线电压Vd的检测动作。即,数据驱动器140在数据线Ld上施加检测用电压Vdac,数据线Ld连接于设定为选择状态的像素PIX。此时,电压控制电路150在该像素PIX的有机EL元件OEL的阴极上,作为电压ELVSS的初始值,施加有例如与电源电压DVSS的电压相同的接地电位GND。然后,数据驱动器140使该数据线Ld成为高阻抗(HZ)状态,使数据线Ld的电位自然衰减衰减时间td,之后,取得与数据线Ld的电压Vd(检测电压Vmeas(t3))相对应的、由数字数据构成的检测数据nmeas(td)。这样的检测数据nmeas(td)的取得动作对显示面板11的全部像素PIX执行。
接下来,在步骤S202中,校正数据取得功能电路166根据对于全部像素PIX取得的检测数据nmeas(td)的频数分布,提取其平均值(峰值)、或最大值、或作为平均值与最大值之间的值的特定检测数据nmeas_m(td)。在这里,极少一部分的像素PIX由于元件特性的不均匀而受到伴随着逆偏压的施加的漏泄电流的较大影响,检测数据nmeas(td)的频数分布(与检测电压Vmeas(t)的数字值相对频度:直方图)表现出如下倾向,即,例如如图15A所示,与上述分布中的高频数部分所对应的数字值(检测电压)的范围相比,在低检测电压区域中的分布广,但是,由于表现出大部分的像素PIX大致集中于300附近的极小的数字值的范围(即电压范围)内的倾向,所以,特定检测数据nmeas_m(td)是基本不受与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响的值。
接下来,在步骤S203中,校正数据取得功能电路166将通过步骤S202提取的特定检测数据nmeas_m(td)所对应的电压值设定为电压ELVSS。接下来,在步骤S204中,校正数据取得功能电路166经由数据驱动器140并基于使用上述自动调零法的特性参数取得动作,将衰减时间设定为衰减时间t3,取得各像素PIX的特性参数(至少用于校正电流放大率β的不均匀的校正数据Δβ)。此时,数据驱动器140在不同的衰减时间t(定时:t0、t1、t2、t3)检测数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t)),从而,校正数据取得功能电路166能够使用自动调零法在同一处理动作的期间内取得各像素PIX的其它的特性参数(校正数据nth)。
在这里,参照图14,对在执行图13所示的处理动作的情况下的数据线电压Vd的变化进行说明。图14是表示在特性参数取得动作中,在作为检测用电压Vdac在数据线Ld上施加例如-4.7V之后,成为高阻抗状态的情况下的数据线电压Vd的变化的过渡曲线。在这里,图14所示的数据线电压测定期间与衰减时间t3对应。
图14中以虚线表示的曲线SPB0表示与图12所示的曲线SPA0一样地,在像素PIX的有机EL元件OEL上没有与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的状态的数据线电压Vd的变化(理想值)。该情况下的数据线电压Vd如图14所示,随着时间的经过而从检测用电压Vdac渐渐上升,在经过大概0.33msec的时刻,收敛(自然衰减)于与老化后的晶体管Tr13的阈值电压Vth大致相等的电压(例如-2.7V)。
另一方面,在图14中以粗实线表示的曲线SPB2与表示在有机EL元件OEL上存在与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流时,在有机EL元件OEL的阴极上施加有-3V的电压ELVSS的情况下的数据线电压Vd的变化。在这里,设定为电压ELVSS的-3V是在上述步骤S202中提取的特定检测数据nmeas_m(td)所对应的电压值。即,曲线SPB2表示在有机EL元件OEL上施加大概为-1.7V的逆偏压的情况下的过渡曲线。另外,在图14中,有机EL元件OEL的漏泄电流Ilk在将电压ELVSS设定为接地电位GND(=0V)的情况下为10A/m2。该情况下的数据线电压Vd如图14所示,随着时间的经过而从检测用电压Vdac急剧上升,表现出收敛于与曲线SPB0的收敛电压(≈阈值电压Vth)大致相等的电压的倾向。即,通过将电压ELVSS设定为与特定检测数据nmeas_m(td)对应的电压值的-3V,即使在有机EL元件OEL上存在与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流,其影响也被排除。
图14中以实细线表示的曲线SPB1用于比较而示出,与图12所示的曲线SPA1同样,表示在有机EL元件OEL的阴极上施加由接地电位GND(=0V)构成的电压ELVSS的情况下的数据线电压Vd的变化。即,曲线SPB1表示在有机EL元件OEL上施加大概为-4.7V的逆偏压的情况下的过渡曲线。该情况下的数据线电压Vd如图14所示,随着时间的经过而从检测用电压Vdac急剧上升,由于与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响,表现出收敛于比曲线SPB0的收敛电压(≈阈值电压Vth)高的电压的倾向。在本实施方式中,与这样的有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响被排除。
即,如上所述,图12、图14表示使用自动调零法检测数据线电压Vd时的、阴极电位对衰减时间的依赖性。然后,由于该阴极电位依赖性,与有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流Ilk越大,数据线电压Vd表现出向着电压ELVSS逐渐接近的倾向。另外,在该情况下,漏泄电流Ilk越大,数据线电压Vd表现出越快地收敛的倾向。
因此,在图像数据的校正动作时(特别是电流放大率β的不均匀校正时),通过将施加于各像素PIX的有机EL元件OEL的电压ELVSS设定为绝对值具有晶体管Tr13的阈值电压Vth的平均值或者最大值、或者平均值和最大值之间的值的负极性的电压电平,从而,在取得数据线电压Vd时,在各像素PIX的有机EL元件OEL上,几乎不施加逆偏压。由此,实现排除了漏泄电流的影响的、适当的图像数据的校正。
具体来说,在步骤S204的特性参数取得动作中,在将步骤S202中提取的特定检测数据nmeas_m(td)所对应的电压值设定为电压ELVSS的情况下,对全部像素PIX取得的检测数据nmeas(t3)的频数分布例如如图15B所示的直方图那样。即,如图15B所示,图15A的A区域(大概260以下的数字值的区域)所示那样的、由于各像素PIX的电流放大率β的不均匀产生的、与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流引起的分布被排出,频数分布大致集中于300附近的极小的数字值(电压)范围内。
因此,在本实施方式中,在显示装置100的初始状态下的特性参数取得动作(至少是校正数据Δβ的取得动作)中,校正数据取得功能电路166将电压ELVSS的电压设定为如下电压值,即,通过在该特性参数取得动作之前(事先)执行的电压取得动作而检测出的全部像素PIX的检测数据nmeas(t)的平均值或者最大值或者平均值与最大值之间的值所对应的电压值。另外,同样地,在显示装置100的老化的状态下的特性参数取得动作(至少是校正数据Δβ的取得动作)中,校正数据取得功能电路166作为电压ELVSS,设定为如下电压值,即,通过在该特性参数取得动作之前(事先)执行的电压取得动作而检测出的全部像素PIX的特定检测数据nmeas(t)的平均值或者最大值或者平均值与最大值之间的值所对应的电压值。
其结果是,在显示装置100的显示动作时,与各像素PIX的有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响被排除,能够进行图像数据的适当的校正。由于与有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响被排除,这样取得的全部像素PIX的检测数据nmeas(t)的频数分布如图15B所示,从图15A所示的直方图,大致除去受到与有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响的值的A区域。但是,即使在该情况下,在例如(驱动控制元件)Tr13的特性异常的情况下,具有与之对应的异常值的检测数据nmeas(td)没有被除去。因此,根据本实施方式,显示装置100能够不受与有机EL元件OEL的逆偏压的施加相伴随的漏泄电流的影响,正确地判断(驱动控制元件)Tr13的特性是否正常。
接下来,对于适用了自动调零法的电压取得动作以及特性参数取得动作,与本实施方式的装置结构相关联地进行说明。在这里,在特定参数取得动作之前执行的电压取得动作具有与特性参数取得动作大致相同的处理顺序,以下,以特性参数取得动作为中心具体说明。
在特性参数取得动作中,取得校正数据nth和校正数据Δβ,上述校正数据nth用于校正作为各像素PIX的驱动晶体管的晶体管Tr13的阈值电压Vth的变动,上述校正数据Δβ用于校正各像素PIX的电流放大率β的不均匀。
图16是表示本实施方式的显示装置的特性参数取得动作的定时图。图17是表示本实施方式的显示装置的检测用电压施加动作的动作示意图。图18是表示本实施方式的显示装置的自然衰减动作的动作示意图。图19是表示本实施方式的显示装置的电压检测动作的动作示意图。图20是表示本实施方式的显示装置的检测数据送出动作的动作示意图。在这里,在图17~图20中,作为数据驱动器140的结构,为了图示方便,省略移位寄存器电路141。另外,图21是表示本实施方式的显示装置的校正数据算出动作的功能模块图。
在本实施方式的特性参数(校正数据nth、Δβ)取得动作中,如图16所示,规定的特性参数取得期间Tcpr设定为按照各行的像素PIX包含检测用电压施加期间T101、衰减期间T102、电压检测期间T103、检测数据送出期间T104。衰减期间T102对应于衰减时间t(初始状态下的电压取得动作中为tc),图16是为了图示方便,表示将衰减时间t设定为1个时间的情况下的定时图。但是,如上所述,本实施方式的特性参数取得动作使衰减时间t为不同的值,分别检测出数据线电压Vd(检测电压Vmeas(t))。即,按照衰减期间T102内的不同的衰减时间t(=t0、t1、t2、t3),反复执行电压检测动作(电压检测期间T103中的动作)以及检测数据送出动作(检测数据送出期间T104中的动作)
首先,在检测用电压施加期间T101中,如图16、图17所示,成为特性参数取得动作的对象的像素PIX(在图中为第1行的像素PIX)设定为选择状态。即,对于连接了该图像PIX的选择线Ls,从选择驱动器120施加选择电平(高电平:Vgh)的选择信号Ssel,并且对于电源线La,从电源驱动器130施加低电平(非发光电平:DVSS=接地电位GND)的电源电压Vsa。在这里,在执行用于取得至少各像素PIX的电流放大率β的不均匀校正用的校正数据Δβ的特性参数取得动作的情况下,通过事前执行的电压取得动作取得的、成为与全部像素PIX相对应的检测数据nmeas(td)的平均值或最大值或者成为平均值与最大值之间的值的特定检测数据nmeas_m(td)所对应的电压值的电压ELVSS,从电压控制电路150施加于连接了有机EL元件OEL的阴极的共通电极Ec。另外,在显示装置100的初始状态中执行的电压取得动作中,从电压控制电路150作为电压ELVSS施加接地电位GND。
在该选择状态中,根据从控制器160供给的切换控制信号S1,设置于数据驱动器140的输出电路145的开关SW1进行导通(ON)动作,从而,数据线Ld(j)和DAC/ADC144的DAC42(j)被连接。另外,根据从控制器160供给的切换控制信号S2、S3,设置于输出电路145的开关SW2进行断开(OFF)动作,并且连接于开关SW4的接点Nb的开关SW3进行断开动作。另外,根据从控制器160供给的切换控制信号S4,设置于数据闩锁电路143的开关SW4连接设定于接点Na,根据切换控制信号S5,开关SW5连接设定于接点Na。
然后,从数据驱动器140的外部供给用于生成规定的电压值的检测用电压(第1检测用电压)Vdac的数字数据nd,依次取入到数据寄存器电路142。然后,取入到数据寄存器电路142的数字数据nd经由与各列对应的开关SW5保持于数据闩锁41(j)。之后,保持于数据闩锁41(j)的数字数据nd经由开关SW4输入到DAC/ADC电路144的DAC42(j)并进行模拟转换,作为检测用电压Vdac施加于各列的数据线Ld(j)。
检测用电压Vdac如上所述,设定为满足(12)式的条件的电压值。在本实施方式中,由于从电源驱动器130施加的电源电压DVSS设定为接地电位GND,所以检测用电压Vdac设定为负极性的电压电平。用于生成检测用电压Vdac的数字数据nd例如预先存储于设置于控制器160等的存储器中。
其结果是,设置于构成像素PIX的像素驱动电路DC的晶体管Tr11及Tr12进行导通动作,低电平的电源电压Vsa(=GND)经由晶体管Tr11施加于晶体管Tr13的栅极端子及电容器Cs的一端侧(接点N11)。另外,施加于数据线Ld(j)上的上述检测用电压Vdac经由晶体管Tr12施加于晶体管Tr13的源极端子及电容器Cs的另一端侧(接点N12)。
在晶体管Tr13的栅极·源极端子之间(即电容器Cs的两端),施加比晶体管Tr13的阈值电压Vth大的电位差,从而,晶体管Tr13进行导通动作,流过与该电位差(栅极·源极端子间电压Vgs)对应的漏电流Id。此时,由于相对于晶体管Tr13的漏极端子的电位(接地电位GND),源极端子的电位(检测用电压Vdac)设定得较低,所以漏极Id从电源电压线La经由晶体管Tr13、接点N12、晶体管Tr12及数据线Ld(j),向数据驱动器140方向流动。另外,由此,在连接于晶体管的Tr13的栅极·源极端子间的电容器Cs的两端,基于该漏电流Id的电位差所对应的电压被充电。
此时,在有机EL元件OEL的阳极(接点N12)上,施加有比施加于阴极(共通电极Ec)的电压ELVSS低的电压,所以,在有机EL元件OEL上不流过电流并且不进行发光动作。另外,由于在有机EL元件OEL的阴极(共通电极)上,从电压控制电路150施加通过上述电压取得动作而取得的电压值的电压ELVSS,所以,虽然在有机EL元件OEL上施加有逆偏压,但是,不流过影响后述的校正动作的程度的电流漏泄。
接下来,在检测用电压施加期间T101结束后的衰减期间T102中,如图16、图18所示,在使像素PIX保持选择状态的状态下,根据从控制器160供给的切换控制信号S1,使数据驱动器140的开关SW1进行断开动作,从而,数据线Ld(j)从数据驱动器140分离,来自DAC42(j)的检测用电压Vdac的输出停止。另外,与检测用电压施加期间T101同样地,开关SW2、SW3进行断开动作,开关SW4连接设定于接点Nb,开关SW5连接设置于接点Nb。
由此,由于晶体管Tr11、Tr12保持导通状态,所以像素PIX(像素驱动电路DC)和数据线Ld(j)的电连接状态被保持,但是,因为向着该数据线Ld(j)的电压的施加被切断,所以,电容器Cs的另一端侧(接点N12)设定为高阻抗状态。
在该衰减期间T102中,由于通过在检测用电压施加期间T101中充电于电容器Cs(晶体管Tr13的栅极·源极端子间)的电压,晶体管Tr13保持导通状态,所以,漏电流Id持续流动。而且,晶体管Tr13的源极端子侧(接点N12:电容器Cs的另一端侧)的电位以接近晶体管Tr13的阈值电压Vth的方式渐渐上升。其结果是,如图9、图12、图14所示,数据线Ld(j)的电位也以收敛于晶体管Tr13的阈值电压Vth的方式变化。
另外,在该衰减期间T102中,由于有机EL元件OEL的阳极(接点N12)的电位施加比施加于阴极(共通电极Ec)上的电压ELVSS低的电压,所以,在有机EL元件OEL中不流过电流,有机EL元件OEL不进行发光动作。另外,虽然在有机EL元件OEL上施加逆偏压,但是,不流过影响后述的校正动作的程度的电流。
接下来,在电压检测期间T103中,在衰减期间T102中经过了规定的衰减时间t(或者时间tc)的时刻,如图16、图19所示,在将像素PIX保持为选择状态的状态下,通过从控制器160供给的切换控制信号S2,数据驱动器140的开关SW2进行导通动作。此时,开关SW1、SW3进行断开动作,开关SW4连接设定于接点Nb,开关SW5连接设定于接点Nb。
由此,数据线Ld(j)和DAC/ADC144的ADC43(j)被连接,在衰减期间T102中经过规定的衰减时间t(或者时间tc)的时刻的数据线电压Vd,经由开关SW2及缓冲器45(j)被ADC43(j)取入。在这里,被ADC43(j)取入的、此时的数据线电压Vd与(11)式所示的检测电压Vmeas(t)(或Vmeas(tc))相当。
然后,取入到ADC43(j)的、由模拟信号电压构成的检测电压Vmeas(t)(或者Vmeas(tc))基于(14)式在ADC43(j)中被转换为由数字数据构成的检测数据nmeas(t)(或者nmeas(tc)),经由开关SW5保持于数据闩锁41(j)。
接下来,在检测数据送出期间T104中,如图16、图20所示,像素PIX设定为非选择状态。即,对选择线Ls从选择驱动器120施加非选择电平(低电平:Vgl)的选择信号Ssel。在该非选择状态中,基于从控制器160供给的切换控制信号S4,S5,设置于数据驱动器140的数据闩锁41(j)的输入段的开关SW5连接设置于接点Nc,设置于数据闩锁41(j)的输出段的开关SW4连接设定于接点Nb。另外,通过切换控制信号S3,开关SW3进行导通动作。此时,开关SW1、S2根据切换控制信号S1、S2进行断开动作。
由此,相互相邻的列的数据闩锁41(j)经由开关SW4、SW5串联地连接,经由开关SW3连接于外部存储器(设置于控制器160的存储器165)。然后,通过从控制器160供给的数据闩锁脉冲信号LP,保持于各列的数据闩锁41(j+1)(参照图3)的检测数据nmeas(t)(或者nmeas(tc))被转发到依次相邻的数据闩锁41(j)。由此,1行的量的像素PIX的检测数据nmeas(t)(或者nmeas(tc))作为串行数据输出到控制器160,并如图21所示那样,在设置于控制器160的存储器165的规定的存储区域对应于各像素PIX地存储。在这里,设置于各像素PIX的像素驱动电路DC的晶体管Tr13的阈值电压Vth由于各像素PIX的驱动履历(发光履历)等而变动量不同,另外,由于电流放大率β在各像素PIX上存在不均匀,所以在存储器165中,存储各像素PIX固有的检测数据nmeas(t)(或者nmeas(tc))。
在本实施方式的特性参数取得动作中,在上述一系列的动作中,电压检测动作以及检测数据送出动作对各像素PIX在多次不同的衰减时间t(=t、t0、t1、t2、t3)中执行。在这里,在不同的衰减时间t检测数据线电压的动作如上所述,在仅施加一次检测用电压Vdac并且自然衰减持续进行的期间,可以在不同的定时(衰减时间t=t0、t1、t2、t3)执行电压检测动作以及检测数据送出动作,也可以使衰减时间t不同地多次执行检测用电压施加、自然衰减、电压检测以及检测数据送出的一系列动作。
在本实施方式中,通过重复进行上述那样的、与各行的像素PIX相对应的特性参数取得动作(包含电压取得动作),对于排列于显示面板110上的全部像素PIX,多次的量的检测数据nmeas(t)存储于控制器160的存储器165。
另外,在上述电压取得动作中,通过控制器160内的运算处理电路,计算出存储于存储器165的全部像素PIX的检测数据nmeas(t)的平均值以及/或者提取最大值,之后,成为该平均值、最大值、或者平均值与最大值之间的值的特定检测数据nmeas_m(t)被送出到电压控制电路150。由此,电压控制电路150生成与该特定检测数据nmeas_m(t)对应的电压值的电压ELVSS,经由共通电极Ec施加于各像素PIX。
接下来,在特性参数取得动作中,基于存储于存储器165的各像素PIX的检测数据nmeas(t),执行校正数据nth及校正数据Δβ的计算动作,上述校正数据nth用于校正各像素PIX的晶体管(驱动晶体管)Tr13的阈值电压Vth,上述校正数据Δβ用于校正电流放大率β。
具体来说,如图21所示,首先,在设置于控制器160的校正数据取得功能电路166中,读出存储于存储器165的各像素PIX的检测数据nmeas(t)。然后,随着校正数据取得功能电路166进行使用上述自动调零法的特性参数取得动作,基于(15)~(21)式,计算出校正数据nth(具体来说,规定校正数据nth的检测数据nmeas(t0)以及偏置电压(-Voffset=-1/ξ·t0))及校正数据Δβ。将算出的校正数据Vth及Δβ对应于各像素PIX存储于存储器165的规定的存储区域。
(显示动作)
接下来,在本实施方式的显示装置100的显示动作(发光动作)中,显示装置100使用上述校正数据nth、Δβ,校正图像数据,使各像素PIX以所期望的亮度等级进行发光动作。
图22是表示本实施方式的显示装置的发光动作的定时图。图23是表示本实施方式的显示装置的图像数据的校正动作的功能模块图。图24是表示本实施方式的显示装置的校正后的图像数据的写入动作的动作示意图。图25是表示本实施方式的显示装置的发光动作的动作示意图。在这里,在图24、图25中,为了图示方便,在数据驱动器140的结构中,省略移位寄存器电路141。
本实施方式的显示动作的期间如图22所示,以如下方式设定,即,包含:对应于各行的像素PIX生成并写入所期望的图像数据的图像数据写入期间T301、以及以该图像数据所对应的亮度等级使各像素PIX进行发光动作的像素发光期间T302。
在图像数据写入期间T301中,执行校正图像数据的生成动作和向各像素PIX写入校正图像数据的动作。在校正图像数据的生成动作中,控制器160对于由数字数据构成的规定的图像数据nd,使用通过上述特性参数取得动作取得的校正数据Δβ及nth进行校正,将校正处理后的图像数据(校正图像数据)nd_comp供给到数据驱动器140。
具体来说,如图23所示,对于从外部供给到控制器160的包含RGB各色的亮度等级值的图像数据(第2图像数据)nd,电压振幅设定功能电路162通过参照参照表161,设定RGB的各色成分所对应的电压振幅。接下来,乘法计算功能电路163读出存储于存储器165的各像素的校正数据Δβ,对进行了电压设定的图像数据nd和读出的校正数据Δβ进行乘法计算处理(nd×Δβ)。接下来,加法计算功能电路164读取存储于存储器165的规定校正数据nth的检测数据nmeas(t0)和偏置电压(-Voffset=-1/ξ·t0)),对经过上述乘法计算处理后的数字数据(nd×Δβ),将其与读取的检测数据nmeas(t0)和偏置电压(-Voffset)相加,即((nd×Δβ)+nmeas(t0)-Voffset=(nd×Δβ)+nth)。通过执行以上一系列的校正处理,生成校正图像数据nd_comp并供给到数据驱动器140。
另外,在向各像素PIX写入校正图像数据的动作中,数据驱动器140在将作为写入对象的像素PIX设定为选择状态的状态下,将与供给的校正图像数据nd_comp对应的灰度电压Vdata经由数据线Ld(j)写入各像素PIX。具体来说,如图22、图24所示,首先,对连接于图像PIX的选择线Ls施加选择电平(高电平:Vgh)的选择信号Ssel,并且,对电源线La施加低电平(非发光电平:DVSS=接地电位GND)的电源电压Vsa。另外,在连接有机EL元件OEL的阴极的共通电极Ec上,作为电压ELVSS施加例如与电源电压Vsa(=DVSS)相同的接地电位GND。
在该选择状态中,开关SW1进行导通动作,将开关SW4及SW5连接设定于接点Nb,从而,从控制器160供给的校正图像数据nd_comp依次被数据寄存器电路142取入,保持于各列的数据闩锁41(j)。被保持的图像数据nd_comp通过DAC42(j)被模拟转换,作为灰度电压(第3电压)Vdata施加于各列的数据线Ld(j)。在这里,灰度电压Vdata与上述(14)式所示的定义对应,以如下的(23)式定义。
Vdata:=V1-ΔV(nd_comp-1))…(23)
由此,在构成像素PIX的像素驱动电路DC中,在晶体管Tr13的栅极端子及电容器Cs的一端侧(接点N11)施加低电平的电源电压Vsa(=GND),另外,在晶体管Tr13的源极端子及电容器Cs的另一端侧(接点N12),施加有与上述校正图像数据nd_comp对应的灰度电压Vdata。
因此,在晶体管Tr13的栅极·源极端子间产生的电位差(栅极·源极端子间电压Vgs)所对应的漏电流Id流过,在电容器Cs的两端充电有基于该漏电流Id的电位差所对应的电压(≈Vdata)。此时,在有机EL元件OEL的阳极(接点N12)上,施加有比阴极(共通电极Ec:接地电位GND)低的电压(灰度电压Vdata),所以,在有机EL元件OEL中电流不流过而不进行发光动作。
接下来,在像素发光期间T302中,如图22所示,在将各行的像素PIX设定为非选择状态的状态下,对各像素PIX进行一起进行发光动作的设定。具体来说,如图25所示,对于与排列于显示面板110的全部图像PIX相连接的选择线Ls,施加非选择电平(低电平:Vgl)的选择信号Sse1,并且,对于电源线La,施加高电平(发光电平:ELVDD>GND)的电源电压Vsa。
由此,设置于各像素PIX的像素驱动电路DC的晶体管Tr11、Tr12进行断开动作,在连接于晶体管Tr13的栅极·源极端子间的电容器Cs上充电的电压(≈Vdata:栅极·源极端子间电压Vgs)被保持。因此,当在晶体管Tr13中漏电流Id流过,晶体管Tr13的源极端子(接点N12)的电位相比施加于有机EL元件OEL的阴极(共通电极Ec)的电压ELVSS(=GND)上升时,发光驱动电流Iem从像素驱动电路DC向有机EL元件OEL流动。该发光驱动电流Iem基于在上述校正图像数据的写入动作中保持于晶体管Tr13的栅极·源极端子间的电压(≈Vdata)的电压值而被规定,有机EL元件OEL以与校正图像数据nd_comp对应的亮度等级进行发光动作。
另外,在上述实施方式中,如图22所示,在显示动作中,在向规定的行(例如第1行)的像素PIX写入校正图像数据的写入动作结束后,到向其它行(第2行以后)的像素PIX写入图像数据的写入动作结束为止,在此期间该行的像素PIX设定为保持状态。在这里,在保持状态中,在该行的选择线Ls上施加非选择电平的选择信号Ssel,像素PIX成为非选择状态,并且,在电源线La上施加有非发光电平的电源电压Vsa并设定为非发光状态。该保持状态如图22所示,设定时间按照行而不同。另外,在向各行的像素PIX写入校正图像数据的写入动作结束后,在立即进行使像素PIX进行发光动作的驱动控制的情况下,也可以不设定上述保持状态。
如以上说明的那样,本实施方式的显示装置(包含像素驱动装置的发光装置)110及其驱动控制方法具有如下手法,即,使用本发明特有的自动调零法,在不同的定时(衰减时间)多次执行取入数据线电压并转换为由数字数据构成的检测数据的一系列的特性参数取得动作。特别是,在本实施方式中,在进行特性参数取得动作之前,执行使用自动调零法的电压取得动作,将特性参数取得动作时的阴极电压设定为预先规定的电压值。其结果是,根据本实施方式,对各像素的驱动晶体管的阈值电压的变动以及各像素间的电流放大率的不均匀进行校正的参数不被各像素的有机EL元件OEL的电流特性(特别是与逆偏压的施加相伴随的漏泄电流)影响,能够适当地取得并存储。
因此,根据本实施方式,显示装置(发光装置)100及其驱动控制方法能够对写入各像素的图像数据适当地实施对各像素的阈值电压的变动及电流放大率的不均匀进行补偿的校正处理,无论各像素的特性变化和特性的不均匀的状态如何,都能够以图像数据所对应的本来的亮度等级使发光元件(有机EL元件)进行发光动作,能够实现具有良好的发光特性及均匀的画质的有源有机EL驱动系统。
另外,显示装置(发光装置)100及其驱动控制方法能够通过具有单一的校正数据取得功能电路166的控制器160的一系列的程序来执行计算出对电流放大率的不均匀进行校正的校正数据的处理以及计算出对驱动晶体管的阈值电压的变动进行补偿的校正数据的处理,所以,不需要对应于校正数据的算出处理的内容设置单独的结构(功能电路),能够使显示装置(发光装置)的装置结构简单化。
<第2实施方式>
接下来,参照附图说明将第1实施方式的显示装置(发光装置)100用于电子设备的第2实施方式。具有显示面板110的显示装置100可以用于数字照相机、移动型个人计算机、便携电话等各种电子设备,上述显示面板110在各像素PIX上具有如第1实施方式所示那样的、由有机EL元件OEL构成的发光元件。
图26A、26B是表示第2实施方式的数字照相机的结构例的立体图。图27是表示第2实施方式的移动型的个人计算机的结构例的立体图。图28是表示第2实施方式的便携电话的结构例的立体图。任意一个都具有第1实施方式的显示装置(发光装置)100。
在图26A、26B中,数字照相机200具有主体部201、透镜部202、操作部203、由具有本实施方式的显示面板110的显示装置100构成的显示部204、快门按钮205。在该情况下,在显示部204中,由于显示面板110的各像素的发光元件以对应于图像数据的适当的亮度等级进行发光动作,所以,显示部204能够实现良好且质量均匀的画质。
另外,在图27中,个人计算机210具有主体部211、键盘212、由具有本实施方式的显示面板110的显示装置100构成的显示部213。在该情况下,在显示部213中,由于显示面板110的各像素的发光元件以对应于图像数据的适当的亮度等级进行发光动作,所以,显示部213能够实现良好且质量均匀的画质。
另外,在图28中,便携电话220具有操作部221、受话口222、送话口223、由具有本实施方式的显示面板110的显示装置100构成的显示部224。在该情况下,在显示部224中,由于显示面板110的各像素的发光元件以对应于图像数据的适当的亮度等级进行发光动作,所以,显示部224能够实现良好且质量均匀的画质。
另外,在上述实施方式中,对将本发明用于具有显示面板110的显示装置(发光装置)100的情况进行了说明,其中,显示面板110在各像素PIX上具有由有机EL元件OEL构成的发光元件,但是,本发明不仅限定于此。本发明例如还可以用于曝光装置,该曝光装置具有将多个像素排列在一个方向上的发光元件阵列,在感光体鼓上对应于图像数据照射从发光元件阵列射出的光并曝光,其中,所述多个像素具有由有机EL元件OEL构成的发光元件。在该情况下,由于发光元件阵列的各像素的发光元件以对应于图像数据的适当的亮度进行发光动作,所以能够得到良好的曝光状态
对于上述实施方式,可以在不脱离发明的主旨的范围内对其进行变形。上述实施方式是用于说明本发明的,不对本发明的范围进行限定。本发明的范围及主旨如实施方式和权利要求书所示。与各权利要求均等的范围内的各种变形都包含于本发明的范围内。
通过参照1个以上的优选实施方式,公开了本发明的原理,所以,不脱离这里公开的原理,可以改变配置和细节,变更和变形只要在这里公开的主体的范围和主旨的范围内,本申请显然可以解释为包含所有的这样的变更和变形。
Claims (19)
1.一种像素驱动装置,驱动多个像素,
上述多个像素的各像素具备:
发光元件;以及
像素驱动电路,具有电流路径的一端与上述发光元件的一端连接而该电流路径的另一端被施加电源电压的驱动控制元件;
上述像素驱动装置还具备校正数据取得功能电路,该校正数据取得功能电路基于在将上述发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的、与上述多个像素的各像素连接的多条数据线的各数据线的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的阈值电压在内的特性参数;
上述设定电压设定为基于上述各数据线在规定的定时的电压值的电压;
上述规定的定时是将上述发光元件的另一端设定为初始电压并在上述各数据线上施加第1检测用电压来使电流经由该各数据线流过上述驱动控制元件的上述电流路径后的定时;
上述初始电压设定为与上述电源电压相同的电压、或电位比上述电源电压低且与上述电源电压的电位差成为比上述发光元件的发光阈值电压小的值的电压。
2.如权利要求1记载的像素驱动装置,其特征在于,具有:
多个电压取得电路,取得上述多条数据线的各数据线的电压值,来作为多个检测电压;以及
电压控制电路,设定上述各像素的上述发光元件的另一端的电压;
上述校正数据取得功能电路基于上述多个检测电压的电压值,取得上述特性参数。
3.如权利要求2记载的像素驱动装置,其特征在于,
上述设定电压具有与上述各数据线在上述规定的定时的电压相同的极性,上述设定电压的绝对值设定为在上述规定的定时通过上述多个电压取得电路取得的上述各数据线的电压值的绝对值的平均值、最大值或上述平均值与上述最大值之间的值中的某一个值。
4.如权利要求2记载的像素驱动装置,其特征在于,
该像素驱动装置具有多个电压施加电路,该多个电压施加电路与上述多条数据线对应设置,输出规定的电压;
各电压施加电路在上述校正数据取得功能电路取得上述特性参数时,与上述各数据线连接,在该各数据线上,施加使上述驱动控制元件的电流路径的两端间的电压成为超过该驱动控制元件的阈值的值的第2检测用电压;
上述各电压取得电路取得上述各数据线在上述各数据线与上述各电压施加电路的连接被断开后的多个不同的定时的多个电压值,来作为上述多个检测电压;
上述校正数据取得功能电路基于上述多个检测电压的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的上述阈值电压在内的上述像素驱动电路的第1特性参数、以及与上述像素驱动电路的电流放大率相关联的第2特性参数,来作为上述特性参数。
5.如权利要求4记载的像素驱动装置,其特征在于,
该像素驱动装置具有连接切换电路,该连接切换电路进行上述各数据线与上述各电压施加电路的连接及断开,通过断开上述各数据线与上述各电压施加电路的连接,从而将上述各数据线设定为高阻抗状态;
上述各电压取得电路在上述连接切换电路将上述数据线设定为上述高阻抗状态之后,取得经过了与上述多个不同的定时对应的时间后的时刻的上述数据线的电压,来作为上述多个检测电压。
6.如权利要求4记载的像素驱动装置,其特征在于,
该像素驱动装置具有图像数据校正电路,该图像数据校正电路生成基于上述第1特性参数及第2特性参数对从外部供给的图像数据进行了校正的校正图像数据;
在通过上述多个像素进行与上述图像数据相应的图像显示时,上述各电压施加电路输出与通过上述图像数据校正电路生成的上述校正图像数据相应的灰度电压。
7.一种发光装置,具备:
发光面板,具有多个像素及多条数据线,各数据线与各像素连接;以及
校正数据取得功能电路;
上述各像素具备:
发光元件,一端与接点连接;以及,
像素驱动电路,具有电流路径的一端与上述接点连接而该电流路径的另一端被施加电源电压的驱动控制元件;
上述校正数据取得功能电路基于将上述发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的上述各数据线的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的阈值电压在内的特性参数;
上述设定电压设定为基于上述各数据线在规定的定时的电压值的电压;
上述规定的定时是将上述发光元件的另一端设定为初始电压并在上述各数据线上施加第1检测用电压来使电流经由该各数据线流过上述驱动控制元件的上述电流路径后的定时;
上述初始电压设定为与上述电源电压相同的电压、或电位比上述电源电压低且与上述电源电压的电位差成为比上述发光元件的发光阈值电压小的值的电压。
8.如权利要求7记载的发光装置,其特征在于,具有:
多个电压取得电路,取得上述多条数据线的各数据线的电压值,来作为多个检测电压;以及,
电压控制电路,设定上述各像素的上述发光元件的另一端的电压;
上述校正数据取得功能电路基于上述多个检测电压的电压值,取得上述特性参数。
9.如权利要求8记载的发光装置,其特征在于,
上述设定电压具有与上述各数据线在上述规定的定时的电压相同的极性,上述设定电压的绝对值设定为在上述规定的定时通过上述多个电压取得电路取得的上述各数据线的电压值的绝对值的平均值、最大值及上述平均值与上述最大值之间的值中的某一个值。
10.如权利要求8记载的发光装置,其特征在于,
该发光装置具有多个电压施加电路,该多个电压施加电路与上述多条数据线对应设置,输出规定的电压;
各电压施加电路在上述校正数据取得功能电路取得上述特性参数时,与上述各数据线连接,在该各数据线上,施加使上述驱动控制元件的电流路径的两端间的电压值成为超过该驱动控制元件的阈值的值的第2检测用电压;
上述各电压取得电路取得上述各数据线在上述各数据线与上述各电压施加电路的连接被断开后的多个不同的定时的多个电压值,来作为上述多个检测电压;
上述校正数据取得功能电路基于上述多个检测电压的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的上述阈值电压在内的上述像素驱动电路的第1特性参数、以及与上述像素驱动电路的电流放大率相关联的第2特性参数,来作为上述特性参数。
11.如权利要求10记载的发光装置,其特征在于,
该发光装置具备选择驱动器;
上述发光面板具有沿行方向配置的多条扫描线;
上述多条数据线沿列方向配置;
上述多个像素的各像素配置在上述多条扫描线与上述多条数据线的各交点附近;
上述选择驱动器在各扫描线上依次施加选择电平的选择信号,来将各行的上述各像素设定为选择状态;
上述各电压取得电路经由上述各数据线,取得与被设定为上述选择状态的行的上述各像素的上述接点的电压对应的电压值。
12.如权利要求11记载的发光装置,其特征在于,
上述各像素的上述像素驱动电路至少具备:
第1晶体管,具有一端与上述接点连接而另一端被施加上述电源电压的第1电流路径;以及
第2晶体管,控制端子与上述扫描线连接,具有一端与上述第1晶体管的控制端子连接而另一端与上述第1晶体管的上述第1电流路径的另一端连接的第2电流路径;
上述驱动控制元件是上述第1晶体管;
上述各像素在上述选择状态下,上述第2晶体管的上述第2电流路径导通,上述第1晶体管的上述第1电流路径的另一端侧与上述控制端子连接,在上述接点,施加基于从上述各电压施加电路施加的上述第1电压的上述规定的电压。
13.如权利要求10记载的发光装置,其特征在于,
该发光装置具有连接切换电路,该连接切换电路进行上述各数据线与上述各电压施加电路的连接及断开,通过断开上述各数据线与上述各电压施加电路的连接,将上述各数据线设定为高阻抗状态;
上述各电压取得电路在上述连接切换电路将上述各数据线设定为上述高阻抗状态之后,取得与经过了上述多个不同的定时对应的时间后的时刻的上述各数据线的多个电压,来作为上述多个检测电压。
14.如权利要求10记载的发光装置,其特征在于,
该发光装置具有图像数据校正电路,该图像数据校正电路生成基于上述第1特性参数及第2特性参数对从外部供给的图像数据进行了校正的校正图像数据;
在上述发光面板上通过上述多个像素进行与上述图像数据相应的图像显示时,上述各电压施加电路输出与通过上述图像数据校正电路生成的上述校正图像数据相应的灰度电压。
15.一种电子设备,具备:
电子设备主体部;以及
发光装置,被从上述电子设备主体部供给图像数据,并与该图像数据相应地被驱动;
上述发光装置具备:
发光面板,具有多个像素及多条数据线,各数据线与各像素连接;以及
校正数据取得功能电路;
上述各像素具有:
发光元件;以及
像素驱动电路,具有电流路径的一端与上述发光元件的一端连接而该电流路径的另一端被施加电源电压的驱动控制元件;
上述校正数据取得功能电路基于将上述发光元件的另一端的电压设定为设定电压的状态下的上述各数据线的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的阈值电压在内的特性参数;
上述设定电压设定为基于上述各数据线在规定的定时的电压值的电压;
上述规定的定时是将上述发光元件的另一端设定为初始电压并在上述各数据线上施加第1检测用电压来使电流经由该各数据线流过上述驱动控制元件的上述电流路径后的定时;
上述初始电压设定为与上述电源电压相同的电压、或电位比上述电源电压低且与上述电源电压的电位差成为比上述发光元件的发光阈值电压小的值的电压。
16.一种发光装置的驱动控制方法,其中,
上述发光装置具备发光面板,该发光面板具有多个像素及多条数据线,各数据线与各像素连接;
上述各像素具备发光元件和像素驱动电路,该像素驱动电路具有电流路径的一端与上述发光元件的一端连接而该电流路径的另一端被施加电源电压的驱动控制元件;
上述发光装置的驱动控制方法包括:
设定电压取得步骤,基于将上述各像素的上述发光元件的另一端的电压设定为初始电压并在上述各数据线上施加第1检测用电压来使电流经由该各数据线流过上述驱动控制元件的上述电流路径后的、上述各数据线在规定的定时的电压值,取得设定电压的电压值,上述初始电压设定为与上述电源电压相同的电压、或电位比上述电源电压低且与上述电源电压的电位差成为比上述发光元件的发光阈值电压小的值的电压;以及
校正数据取得步骤,基于将上述各像素的上述发光元件的另一端的电压设定为上述设定电压的状态下的上述各数据线的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的阈值电压在内的特性参数。
17.如权利要求16记载的发光装置的驱动控制方法,其特征在于,
上述设定电压取得步骤包括电压设定步骤,该电压设定步骤将上述设定电压设定为具有与在上述规定的定时取得的上述各数据线的电压值相同的极性,且其绝对值为上述各数据线在上述规定的定时的电压值的绝对值的平均值、最大值及上述平均值与上述最大值之间的值中的某一个值。
18.如权利要求16记载的发光装置的驱动控制方法,其特征在于,
上述校正数据取得步骤包括:
检测电压取得步骤,在将多个电压施加电路的各电压施加电路与上述各数据线连接,并通过该各电压施加电路在上述各数据线上施加上述第2检测用电压之后,取得上述数据线在经过了与断开上述数据线与上述电压施加电路的连接后的多个不同的定时对应的时间后的时刻的多个电压值,来作为上述多个检测电压;
第1特性参数取得步骤,基于通过上述检测电压取得步骤取得的上述多个检测电压的电压值,取得包含上述各像素的上述驱动控制元件的上述阈值电压在内的上述像素驱动电路的第1特性参数,来作为上述特性参数;以及
第2特性参数取得步骤,基于通过上述检测电压取得步骤取得的上述多个检测电压的电压值,取得与上述像素驱动电路的电流放大率相关联的第2特性参数,来作为上述特性参数。
19.如权利要求18记载的发光装置的驱动控制方法,其特征在于,包括:
图像数据校正步骤,生成基于上述第1特征参数及第2特性参数对从外部供给的图像数据进行了校正的校正图像数据;以及
校正图像数据施加步骤,在上述发光面板上通过上述多个像素进行与上述图像数据相应的图像显示时,将与上述图像数据校正步骤中生成的上述校正图像数据相应的灰度电压,施加在上述各数据线上。
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Effective date of registration: 20170215 Address after: Irish Ross Kang Wangjun Patentee after: Soras OLED Address before: Tokyo, Japan Patentee before: CASIO COMPUTER Co.,Ltd. |
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CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20131120 Termination date: 20211228 |