KR101106711B1 - 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치 - Google Patents

발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101106711B1
KR101106711B1 KR1020100008324A KR20100008324A KR101106711B1 KR 101106711 B1 KR101106711 B1 KR 101106711B1 KR 1020100008324 A KR1020100008324 A KR 1020100008324A KR 20100008324 A KR20100008324 A KR 20100008324A KR 101106711 B1 KR101106711 B1 KR 101106711B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light emitting
emitting diode
emitting diodes
taping
grade
Prior art date
Application number
KR1020100008324A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20110088701A (ko
Inventor
주재철
박춘용
허영철
권오철
Original Assignee
(주)에이피텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)에이피텍 filed Critical (주)에이피텍
Priority to KR1020100008324A priority Critical patent/KR101106711B1/ko
Publication of KR20110088701A publication Critical patent/KR20110088701A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101106711B1 publication Critical patent/KR101106711B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2894Aspects of quality control [QC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

본 발명은 발광 다이오드(LED)의 검사 및 포장 통합장치에 관한 것으로, 더욱 상세히는 제조가 완료된 발광 다이오드를 등급별로 분류하고, 동일 등급별로 효율적으로 포장할 수 있는 장치에 관한 것으로, 투입된 발광 다이오드를 전극 방향으로 정렬시키는 진동체를 포함하여 발광 다이오드가 하나씩 순차적으로 가이드 레일을 따라 이동되도록 하는 대략 반구 형상의 공급부와, 상기 가이드 레일을 따라 일렬로 공급되는 발광 다이오드를 진공흡입에 의해 하나씩 안착홈에 플레이싱하는 제1플레이싱수단과, 상기 제1플레이싱수단에 의해 상기 안착홈에 플레이싱된 발광 다이오드를 이송시키는 인덱스 레일과, 상기 인덱스 레일에 의해 이송된 발광 다이오드에 전기 신호를 인가함으로써 상기 발광 다이오드의 상태를 판단하여 등급을 분류하는 등급 분류부와, 상기 등급 분류부에서 확정된 등급 중 소정 등급의 발광 다이오드에 대해 각 등급별로 포장(taping)을 실시하는 하나 이상의 테이핑부 및 상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드를 배출하는 잔여배출부를 포함하여 구성된다.
본 발명을 이용하면, 복수의 등급으로 분류되는 발광 다이오드 중에서 빈도수가 많은 등급의 발광 다이오드에 대해서는 하나의 장치에서 테이핑(포장)까지 할 수 있도록 하는 장치를 제공할 수 있으므로, 발광 다이오드 검사장치를 정지하지 않고 지속적으로 작동을 계속하면서 테이핑까지 할 수 있도록 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치를 제공하여 장치 이용의 효율성을 제고하여 단가를 절감하고 불량품의 발생을 최소화할 수 있다.

Description

발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치{LED testing and taping apparatus}
본 발명은 발광 다이오드(LED)의 검사 및 포장 통합장치에 관한 것으로, 더욱 상세히는 제조가 완료된 발광 다이오드를 등급별로 분류하고, 동일 등급별로 효율적으로 포장할 수 있는 장치에 관한 것이다.
종래, 1개의 발광 다이오드를 순차적으로 검사하는 장치와 관련해서는 대한민국 특허출원 제2000-0056052호 '발광 다이오드의 검사장치' 이외에 다수 출원 및 등록된 상태이다.
도 1 에 도시된 바와 같이, 상기 종래의 발광 다이오드의 검사장치는 전방과 후방에 각각 조작부(4)와 계기함(8)이 구비되어 있고 중앙에는 다수의 수납홈(22)을 지닌 회전판이 설치되어 있으며 일측에는 받침대(10) 및 경사대(16)가 구비되어 있는 본체(2)와, 상기 받침대(10)상에 배치되며 원심력에 의해 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(24)을 따라 이송되도록 하는 원심분리기(12)와, 상기 가이드 레일(24)을 따라 이송되는 다이오드(1)의 유입상태를 검출하는 유입검출센서(32)를 지닌 공급량 조절부(30)와, 상기 가이드 레일(24)을 따라 유입된 다이오드가 1개씩 상기 회전판(20)의 수납홈(22)으로 공급되도록 이송을 단속적으로 제지하는 제 1이송 제지부(40)와, 상기 수납홈(22)에 수납된 다이오드(1)의 리드와 접촉하여 저항값을 검출해 내는 저항검출센서(52)를 지니고, 다이오드(1)의 리드(1a)에 대응하는 2개의 접점 스위치(54)가 구비되어 있는 저항 검출부(50)와, 상기 저항 검출부(50)에 의해 불량품으로 판정된 다이오드(1)를 취출해 내는 제1스텝모터(62)를 지닌 불량품 취출부(60)와, 상기 저항 검출부(50)에 의해 정품으로 판정된 다이오드(1)를 낙하 레일(14)을 통해 경사대(16)로 낙하시키는 제 2스텝모터(72)를 지닌 정품 취출부(70)와, 차단판(84)을 돌출시켜 상기 경사대(16)로 낙하된 다이오드(1)의 이송을 선택적으로 제지하는 솔레노이드(82)를 지닌 제2이송 제지부(80)와, 상기 경사대(16)를 따라 이송되는 다이오드(1)를 검출하여 수량을 측정하기 위한 카운팅센서(92)를 지닌 카운팅부(90)와, 상기 카운팅부(90)에서의 측정 수량에 따라 밀판(104)을 가압하여 충진된 케이스를 가압하는 케이스 가압부(100)와, 상기 조작부(4)로부터의 조작신호를 비롯하여, 상기 유입검출센서(32)로부터의 입력신호, 상기 저항검출센서(52)로부터의 입력신호를 바탕으로 상기 제 1스텝모터(62)와 제 2스텝모터(72)중 어느 하나를 선택적으로 구동시켜 발광 다이오드를 양부에 따라 선별적으로 배출시키며, 상기 카운팅센서(92)로부터의 계수량을 바탕으로 각종 구동 모터 및 솔레노이드에 제어신호를 출력하는 제어유닛을 포함하는 것을 특징으로 한다.
그러나, 상기 종래의 발광 다이오드의 검사장치는 발광 다이오드의 공급, 이송, 검사 및 분류 공정이 one-by-one 방식에 의해 이루어지기 때문에, 이러한 일련의 공정을 수행함에 있어 생산성이 떨어지는 문제점이 있다는 점을 지적하면서, 등록특허 제0686376호가 출원되어 등록되었다.
도 2에서 보듯이, 이는 상기 특허출원 제2000-0056052호의 문제점을 해결하기 위한 것으로, two-by-two 방식으로 발광 다이오드의 공급, 이송, 검사 및 분류공정을 수행함으로써 생산량을 증대시킬 수 있는 복식 발광 다이오드 검사장치를 제공하고 있다.
하지만, 상기 출원 및 등록 발명은 발광 다이오드를 단순히 양호 또는 불량으로만 분류하여 불량품을 골라낼 수 있을 뿐, 발광 다이오드를 여러 등급으로 분류하는 것은 포함하고 있지 않아 문제되었다.
즉, 발광 다이오드는 LED판넬, 네온사인 등 다양한 용도로 사용이 가능하며 한번에 복수 개의 발광 다이오드가 동시에 사용되는 것이 일반적이므로, 발광 다이오드의 밝기 및 저항이 일정한 것들을 동시에 사용해야만 한다.
하지만, 제조과정에서 발광 다이오드의 밝기, 저항 등에 미세하게 차이가 나는 것들이 생길 수 있으며 이러한 점을 감안하여 등급을 분류하고 동일한 등급을 가진 발광 다이오드를 동시에 사용하도록 하는 것이 바람직하다.
이에, 발광 다이오드를 복수의 등급으로 분류할 수 있는 장치를 추가로 구비하고, 발광 다이오드의 양호 상태를 파악하는 과정에서 발광 다이오드의 등급을 분류할 요인을 선택하여 각 요인에 따라(저항값, 광도 등) 등급을 분류하여 등급별로 발광 다이오드를 모을 수 있도록 했다.
하지만, 등급별로 발광 다이오드를 분류하게 되면, 발광 다이오드를 적재하는 빈은 동일한 크기로 구비되는데, 일반적으로 가장 많이 제조되는 상태의 발광 다이오드는 도 5의 정규분포도에서 보듯이 어느 한 등급에 편중되게 된다. 이는 제조장비에 따라 차이는 있으나, 대략 이러게 중앙 부분이 볼록한 곡선을 그리는 것이 일반적이다.
그러므로, 등급별로 분류를 하게 되면 상기 도 5에서 볼록 부분에 해당하는 등급의 발광 다이오드를 적재하는 빈이 가득 차게 되면 장치를 정지하고 빈을 바꿔야 하므로, 다른 빈들은 아직 여유가 많음에도 불구하고 장치의 정지를 반복해야 하는 단점이 있었다.
또한, 상기 빈에 적재된 발광 다이오드는 고객에게 공급되기 위해서는 다시 테이핑(포장) 과정을 거쳐야하므로 별도의 발광 다이오드 테이핑 장치에 투입되어야 하는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 복수의 등급으로 분류되는 발광 다이오드 중에서 빈도수가 많은 등급의 발광 다이오드에 대해서는 하나의 장치에서 테이핑(포장)까지 할 수 있도록 하는 장치를 제공하고자 한다.
즉, 발광 다이오드 검사장치를 정지하지 않고 지속적으로 작동을 계속하면서 테이핑까지 할 수 있도록 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치를 제공하여 장치 이용의 효율성을 제고하여 단가를 절감하고 불량품의 발생을 최소화하고자 한다.
본 발명은 투입된 발광 다이오드(1)를 전극 방향으로 정렬시키는 진동체(11)를 포함하여 발광 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(13)을 따라 이동되도록 하는 대략 반구 형상의 공급부(10);와, 상기 가이드 레일(13)을 따라 일렬로 공급되는 발광 다이오드(1)를 진공흡입에 의해 하나씩 안착홈(31)에 플레이싱하는 제1플레이싱수단(20);과, 상기 제1플레이싱수단(20)에 의해 상기 안착홈(31)에 플레이싱된 발광 다이오드(1)를 이송시키는 인덱스 레일(30);과, 상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 발광 다이오드(1)에 전기 신호를 인가함으로써 상기 발광 다이오드(1)의 상태를 판단하여 등급을 분류하는 등급 분류부(40);와, 상기 등급 분류부(40)에서 확정된 등급 중 소정 등급의 발광 다이오드(1)에 대해 각 등급별로 포장(taping)을 실시하는 하나 이상의 테이핑부(50); 및 상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 배출하는 잔여배출부(60);를 포함하여 구성되는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치를 제공한다.
여기서, 상기 등급 분류부(40)는, 전류 또는 전압을 인가하여 측정된 저항별로 등급(x)을 분류하는 저항측정부(41)와, 전기 신호를 인가하여 측정된 광도별로 등급(y)을 분류하는 광학측정부(43)를 포함하여 구성되어, '저항등급(x)×광도등급(y)'의 수만큼의 등급(z)으로 발광 다이오드(1)가 등급분류되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 인덱스 레일(30)는, 직선으로 배치되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 테이핑부(50)는, 안착홈(51)을 구비하는 캐리어(52)를 공급하는 캐리어롤(53);과, 상기 안착홈(31)에 플레이싱되어 상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 소정 등급의 발광 다이오드(1)를 하나씩 상기 캐리어(52)의 안착홈(51)에 플레이싱하는 제2플레이싱수단(54);과, 상기 안착홈(51)에 발광 다이오드(1)가 플레이싱된 후에 안착홈(51)을 순차적으로 테이핑하는 테잎(55)을 공급하여 캐리어(52)를 포장하는 테잎롤(56); 및 상기 테잎(55)이 테이핑된 캐리어(52)가 되감기는 제품롤(57);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제2플레이싱수단(54)은, 상기 인덱스 레일(30)과 상기 캐리어(52)를 연결하는 컨베이어(54b); 및 상기 안착홈(31)에 플레이싱된 발광 다이오드(1)에 순간적인 공기압을 가하여 상기 컨베이어(54b)에 안착시키는 에어젯부(54a);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 잔여배출부(60)는, 상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 인덱스 레일(30)에서 공기압으로 불어내는 제3플레이싱수단(미도시);과, 상기 제3플레이싱수단(미도시)에 의해 배출된 발광 다이오드(1)를 상기 등급 분류부(40)에서 분류된 등급별로 구분하는 등급분류시스템(63); 및 상기 등급분류시스템(63)이 각 발광 다이오드(1)의 등급을 구분하여 해당 등급별로 적재하는 등급별 적재 빈(65);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 테이핑부(50)는, 상기 발광 다이오드(1)의 빈도수가 가장 많은 상위 6개 등급에 대해 포장(taping)을 실시하도록 6개가 구비되는 것을 특징으로 한다.
본 발명을 이용하면,
하나의 장치로 발광 다이오드의 등급을 분류할 수 있을 뿐 아니라 테이핑(포장)까지 한번에 해결할 수 있으므로 장치 이용의 효율성이 높아 단가가 절감된다.
또한, 한번의 이송라인을 따라 모든 공정이 진행되므로, 종래 기술에서처럼 별도의 테이핑(포장) 라인으로 발광 다이오드를 옮기지 않아도 되므로 불량품의 발생을 낮출 수 있다.
도 1은 종래의 발광 다이오드 검사장치에 관한 개략적인 사시도이고,
도 2는 종래의 듀얼 발광 다이오드 검사장치에 관한 개략적인 사시도이며,
도 3는 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치의 평면도이고,
도 4은 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치의 정면도이며,
도 5은 본 발명에서 발광 다이오드가 등급별로 분류된 것의 빈도를 개략적으로 나타내는 분포도이고,
도 6는 본 발명에 사용되는 안착홈을 구비하는 캐리어의 사시도를 나타낸 것이며,
도 7은 본 발명의 구성요소인 제1플레이싱수단의 일례를 나타내는 단면도이고,
도 8은 본 발명의 구성요소인 제2플레이싱수단의 일례를 나타내는 단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서, 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해해야 한다.
도 3는 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치의 평면도이고, 도 4은 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치의 정면도이며, 도 5은 본 발명에서 발광 다이오드가 등급별로 분류된 것의 빈도를 개략적으로 나타내는 분포도이고, 도 6는 본 발명에 사용되는 안착홈을 구비하는 캐리어의 사시도를 나타낸 것이며, 도 7은 본 발명의 구성요소인 제1플레이싱수단의 일례를 나타내는 단면도이며, 도 8은 본 발명의 구성요소인 제2플레이싱수단의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 3 내지 도 4에서 보듯이, 본 발명은 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치에 관한 것으로, 공급부(10), 제1플레이싱수단(20), 인덱스 레일(30), 등급 분류부(40), 테이핑부(50) 및 잔여배출부(60)를 포함하여 구성된다.
즉, 종래기술에서 발광 다이오드(1)의 등급 분류와 테이핑(taping, 포장)을 별도의 장치로 진행하던 것을 하나의 장치에서 한번에 가능하도록 장치를 고안한 것이다.
즉, 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치는, 투입된 발광 다이오드(1)를 전극 방향으로 정렬시키는 진동체(11)를 포함하여 발광 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(13)을 따라 이동되도록 하는 대략 반구 형상의 공급부(10);와, 상기 가이드 레일(13)을 따라 일렬로 공급되는 발광 다이오드(1)를 진공흡입에 의해 하나씩 안착홈(31)에 플레이싱하는 제1플레이싱수단(20);과, 상기 제1플레이싱수단(20)에 의해 상기 안착홈(31)에 플레이싱된 발광 다이오드(1)를 이송시키는 인덱스 레일(30);과, 상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 발광 다이오드(1)에 전기 신호를 인가함으로써 상기 발광 다이오드(1)의 상태를 판단하여 등급을 분류하는 등급 분류부(40);와, 상기 등급 분류부(40)에서 확정된 등급 중 소정 등급의 발광 다이오드(1)에 대해 각 등급별로 포장(taping)을 실시하는 하나 이상의 테이핑부(50); 및 상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 배출하는 잔여배출부(60);를 포함하여 구성된다.
상기 공급부(10)는 도 3에 도시된 바와 같이 진동체(11, Feeder)가 검사하고자 하는 발광 다이오드(LED, 1)를 외부로부터 투입받아 전극 방향으로 정렬시켜 가이드 레일(13)로 이송하게 된다.
상기 발광 다이오드(1)는 이하 설명할 등급 분류부(40)에서 전기 신호를 인가해야 하므로 발광 다이오드(1)의 방향이 일정하게 정렬되어 전기 신호를 인가할 수 있도록 해야 하므로 공급부(10)에서 진동체(11)의 진동에 의해 전극 방향으로 정렬하게 된다.
상기 가이드 레일(13)을 따라 이송된 발광 다이오드(1)는 제1플레이싱수단(20)에 의해 인덱스 레일(30)에 구비된 안착홈(31)에 플레이싱하게 된다. 즉, 인덱스 레일(30)에는 발광 다이오드(1)의 플레이싱이 용이하도록 적당한 크기의 안착홈(31)이 구비되어 제1플레이싱수단(20)이 발광 다이오드(1)를 위치시키면 적당히 끼워져 움직이지 않도록 하는 것이 바람직하다.
본 발명에서 사용되는 제1,2,3플레이싱수단은 다양한 방식으로 발광 다이오드(1)를 옮길 수 있는 장치면 가능하며, 압력으로 집는 방식(공기압 등으로 밀거나 당기는 방식), 쓸어 내는 방식, 집게로 집는 방식 등 다양한 방식을 활용하는 것이 가능하다.
도 7은 본 발명에 따른 장치의 제1플레이싱수단(20)의 일례를 도시한 것으로, 이는 진공발생부(21) 및 스토퍼(22)를 포함하여 진공에 의해 끌어 당기는 방식을 이용한 것이다.
상기 진공발생부(21)는 상기 가이드 레일(13)을 따라 이송되는 발광 다이오드(1)를 진공에 의해 끌어당겨 안착홈(31)에 플레이싱하는 장치에 해당한다. 또한, 상기 스토퍼(22)는 상기 끌어당겨지는 발광 다이오드(1)가 소정 위치에 안착할 수 있도록 막아주는 브레이크 역할을 하게 된다.
즉, 진공발생부(21)에서 발광 다이오드(1)를 진공흡입에 의해 끌어당기면, 스토퍼(22)가 상기 발광 다이오드(1)를 소정 위치에 안착하도록 막아주는 것이다.
아울러, 본 발명에서 특징적인 부분은 상기 인덱스 레일(30)이 직선으로 구비될 수 있다는 것이다. 종래기술에서는 발광 다이오드(1)를 이송시키는 도구로 턴테이블 방식으로 회전되는 것을 사용했으나, 본 발명에서는 발명의 특성상 직선으로 구비되는 인덱스 레일(30)을 사용한다.
즉, 이하 설명하겠지만, 발광 다이오드(1) 중에서 소정 등급의 것들에 대해서는 장치의 정지 없이 바로 테이핑(taping, 포장)을 진행하게 되므로 테이핑부(50)가 설치된 부분으로 발광 다이오드(1)를 공급하기 위해서는 종래기술과는 달리 다소 거리가 있는 부분까지 발광 다이오드(1)를 이송해야 하기 때문이다.
또한, 본 발명에서는 상기 인덱스 레일(30) 라인을 따라 이하 설명할 등급 분류부(40), 테이핑부(50) 및 잔여배출부(60)가 구비되게 된다. 여기서 배치 순서는 우선 발광 다이오드(1)의 등급이 분류되어야 하므로 등급 분류부(40)가 공급부(10) 쪽에서 가장 가까운 곳에 위치한다.
다음으로, 테이핑(포장)을 진행하지 않을 발광 다이오드(1)를 먼저 배출하는 것이 바람직하므로 잔여배출부(60)가 위치하고, 마지막으로 각 등급별로 테이핑(포장)을 진행할 복수 개의 테이핑부(50)가 위치하는 것이 바람직하다. 다만, 테이핑을 먼저 진행한 후에 나머지 발광 다이오드(1)를 배출하는 것도 무방하므로 테이핑부(50)가 등급 분류부(40) 다음에 위치하는 것도 무관하다.
상기 등급 분류부(40)는 상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 발광 다이오드(1)에 전기 신호를 인가함으로써 상기 발광 다이오드(1)의 상태를 판단하여 등급을 분류하는 것이다. 여기서는 발광 다이오드(1)에서 중요시되는 다양한 것의 측정이 가능하며 일반적으로 저항값 및 광도를 측정한다.
이에 상기 등급 분류부(40)는 전류 또는 전압을 인가하여 측정된 저항별로 등급(x)을 분류하는 저항측정부(41)와, 전기 신호를 인가하여 측정된 광도별로 등급(y)을 분류하는 광학측정부(43)를 포함하여 구성되어, '저항등급(x)×광도등급(y)'의 수만큼의 등급(z)으로 발광 다이오드(1)가 등급분류되도록 하는 것이 가능하다. 즉, 저항등급을 10단계로 나누고, 광도등급을 10단계로 나누게 되면 전체적으로 등급은 10×10=100단계로 구분되게 된다.
그러므로, 다이오드(1)의 등급을 세분화하면 각 등급별로 거의 동일한 저항값 및 밝기를 갖는 발광 다이오드(1)가 분류되게 되므로, 이러한 각 등급별로 분류된 발광 다이오드(1)를 이용하여 LED판넬 또는 네온사인 등을 제조하게 되면 전체적으로 질이 좋은 것을 제조하는 것이 가능하다.
하지만, 이렇게 등급을 세분하게 되면 각 등급별로 구분되는 발광 다이오드의 수에 차이가 생기게 되며, 아주 적은 수만 분리되는 등급도 생기게 된다. 그러므로, 종래기술에서 등급별로 나누는 경우에 많은 수가 분리되는 등급을 기준으로 발광 다이오드(1)를 담는 적재 빈을 교체해주어야 하므로 장치의 정지가 잦을 수밖에 없었다.
이러한 등급별 발광 다이오드(1)의 빈도수를 개략적으로 나타내보면 도 5에 도시된 분포도와 같다. 즉, 평균에 가까운 빈도수를 보이는 등급을 기준으로 좌우로 급격하게 빈도수가 적어짐을 알 수 있다. 이에 본 발명에서는 빈도수가 많은 평균 부분에서 몇 개의 등급을 선정하여 이에 대해서는 장치를 정지하지 않고 테이핑(포장)까지 진행할 수 있도록 한 것이다.
즉, 본 발명에서는 빈도수가 많은 특정 등급의 발광 다이오드(1)에 대해서는 상기 인덱스 레일(30)을 타고 테이핑부(50)까지 이송되게 하여 바로 테이핑을 가능하게 한 것이다. 또한, 특정 등급 이외의 발광 다이오드(1)에 대해서는 잔여배출부(60)를 통해 배출되게 하여 별도의 과정을 거쳐 포장을 시행하도록 했다.
상기 테이핑부(50)는 상기 등급 분류부(40)에서 확정된 등급 중 소정 등급의 발광 다이오드(1)에 대해 각 등급별로 포장(taping)을 실시하는 것으로 하나 이상이 구비된다. 즉, 즉시 테이핑할 등급에 따라 하나 또는 그 이상을 구비하는 것이 가능하다. 대략, 지금까지의 장치의 사용 통계상 상기 발광 다이오드(1)의 빈도수가 가장 많은 상위 6개 등급에 대해 포장(taping)을 실시하도록 6개가 구비하는 것이 경제성 및 효율성 면에서 바람직하다.
여기서, 상기 테이핑부(50)는, 안착홈(51)을 구비하는 캐리어(52)를 공급하는 캐리어롤(53);과, 상기 안착홈(31)에 플레이싱되어 상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 소정 등급의 발광 다이오드(1)를 하나씩 상기 캐리어(52)의 안착홈(51)에 플레이싱하는 제2플레이싱수단(54);과, 상기 안착홈(51)에 발광 다이오드(1)가 플레이싱된 후에 안착홈(51)을 순차적으로 테이핑하는 테잎(55)을 공급하여 캐리어(52)를 포장하는 테잎롤(56); 및 상기 테잎(55)이 테이핑된 캐리어(52)가 되감기는 제품롤(57);을 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.
또한 여기서, 상기 제2플레이싱수단(54)은, 상기 인덱스 레일(30)과 상기 캐리어(52)를 연결하는 컨베이어(54b); 및 상기 안착홈(31)에 플레이싱된 발광 다이오드(1)에 순간적인 공기압을 가하여 상기 컨베이어(54b)에 안착시키는 에어젯부(54a);를 포함하여 구성되는 것이 바람직하다. 물론, 상기 컨베이어(54b)는 안착된 발광 다이오드(1)를 캐리어(52)의 안착홈(51)으로 이송하여 상부에서 놓아주게 된다(도 8 참조).
즉, 상기 캐리어롤(53)에서 캐리어(52)가 풀리면서 캐리어(52)의 안착홈(51)에 발광 다이오드(1)가 플레이싱되면, 상부가 테잎롤(56)에서 풀려진 테잎(55)에 의해 테이핑되어 다시 제품롤(57)에 감겨진 상태로 고객에게 판매되게 되는 것이다.
상기 잔여배출부(60)는 상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 배출하는 구성으로, 상기 잔여배출부(60)는, 상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 인덱스 레일(30)에서 공기압으로 불어내는 제3플레이싱수단(미도시);과, 상기 제3플레이싱수단(미도시)에 의해 배출된 발광 다이오드(1)를 상기 등급 분류부(40)에서 분류된 등급별로 구분하는 등급분류시스템(63); 및 상기 등급분류시스템(63)이 각 발광 다이오드(1)의 등급을 구분하여 해당 등급별로 적재하는 등급별 적재 빈(65);을 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.
즉, 잔여배출부(60)는 복수 개 등급 수에 상응하도록 파이프를 구비하여 각 파이프에 각 등급에 해당하는 발광 다이오드(1)를 상기 제3플레이싱수단(미도시)에 의해 공기압으로 불어내면 상기 등급분류시스템(63)이 구분하여 집어넣게 되고 각 파이프에 연결된 각 등급별 적재 빈(65)에 동일한 등급별로 발광 다이오드(1)가 분류되어 적재되게 된다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 물론이다.
1 : 발광 다이오드(LED)
10 : 공급부 11 : 진동체
13 : 가이드 레일 20 : 제1플레이싱수단
21 : 진공발생부 22 : 스토퍼
30 : 인덱스 레일
31 : 안착홈 40 : 등급 분류부
41 : 저항측정부 43 : 광학측정부
50 : 테이핑부 51 : 안착홈
52 : 캐리어 53 : 캐리어롤
54 : 제2플레이싱수단
54a : 에어젯부 54b : 컨베이어
55 : 테잎 56 : 테잎롤
57 : 제품롤 60 : 잔여배출부
63 : 등급분류시스템 65 : 등급별 적재 빈

Claims (7)

  1. 투입된 발광 다이오드(1)를 전극 방향으로 정렬시키는 진동체(11)를 포함하여 발광 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(13)을 따라 이동되도록 하는 반구 형상의 공급부(10);
    상기 가이드 레일(13)을 따라 일렬로 공급되는 발광 다이오드(1)를 진공흡입에 의해 하나씩 안착홈(31)에 플레이싱하는 제1플레이싱수단(20);
    상기 제1플레이싱수단(20)에 의해 상기 안착홈(31)에 플레이싱된 발광 다이오드(1)를 이송시키는 인덱스 레일(30);
    상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 발광 다이오드(1)에 전기 신호를 인가함으로써 상기 발광 다이오드(1)의 저항값 및 강도를 포함하는 상태를 판단하는 저항측정부(41)와 광학측정부(43)를 포함하고, 상기 발광 다이오드(10)의 상태에 따라 적어도 두 개의 등급으로 분류하는 등급 분류부(40);
    상기 등급 분류부(40)에서 확정된 등급 중 소정 등급의 발광 다이오드(1)에 대해 각 등급별로 포장(taping)을 실시하는 하나 이상의 테이핑부(50); 및
    상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 배출하는 잔여배출부(60);를 포함하여 구성되는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 등급 분류부(40)는,
    저항측정부(41), 광학측정부(43)를 포함하여 구성되고,
    상기 저항측정부(41)는 전류 또는 전압을 인가하여 측정된 저항별로 등급(x)을 분류하고,
    상기 광학측정부(43)는 전기 신호를 인가하여 측정된 광도별로 등급(y)을 분류하며,
    '저항등급(x)×광도등급(y)'의 수만큼의 등급(z)으로 발광 다이오드(1)가 등급분류되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 인덱스 레일(30)는,
    직선으로 배치되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 테이핑부(50)는,
    안착홈(51)을 구비하는 캐리어(52)를 공급하는 캐리어롤(53);
    상기 안착홈(31)에 플레이싱되어 상기 인덱스 레일(30)에 의해 이송된 소정 등급의 발광 다이오드(1)를 하나씩 상기 캐리어(52)의 안착홈(51)에 플레이싱하는 제2플레이싱수단(54);
    상기 안착홈(51)에 발광 다이오드(1)가 플레이싱된 후에 안착홈(51)을 순차적으로 테이핑하는 테잎(55)을 공급하여 캐리어(52)를 포장하는 테잎롤(56); 및
    상기 테잎(55)이 테이핑된 캐리어(52)가 되감기는 제품롤(57);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제2플레이싱수단(54)은,
    상기 인덱스 레일(30)과 상기 캐리어(52)를 연결하는 컨베이어(54b); 및
    상기 안착홈(31)에 플레이싱된 발광 다이오드(1)에 순간적인 공기압을 가하여 상기 컨베이어(54b)에 안착시키는 에어젯부(54a);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 잔여배출부(60)는,
    상기 포장(taping)을 실시하는 등급 이외 등급의 발광 다이오드(1)를 인덱스 레일(30)에서 공기압으로 불어내는 제3플레이싱수단(미도시);
    상기 제3플레이싱수단(미도시)에 의해 배출된 발광 다이오드(1)를 상기 등급 분류부(40)에서 분류된 등급별로 구분하는 등급분류시스템(63); 및
    상기 등급분류시스템(63)이 각 발광 다이오드(1)의 등급을 구분하여 해당 등급별로 적재하는 등급별 적재 빈(65);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.
  7. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테이핑부(50)는,
    상기 발광 다이오드(1)의 빈도수가 가장 많은 상위 6개 등급에 대해 포장(taping)을 실시하도록 6개가 구비되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사 및 포장 통합장치.







KR1020100008324A 2010-01-29 2010-01-29 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치 KR101106711B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100008324A KR101106711B1 (ko) 2010-01-29 2010-01-29 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100008324A KR101106711B1 (ko) 2010-01-29 2010-01-29 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110088701A KR20110088701A (ko) 2011-08-04
KR101106711B1 true KR101106711B1 (ko) 2012-01-18

Family

ID=44927115

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100008324A KR101106711B1 (ko) 2010-01-29 2010-01-29 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101106711B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108995870A (zh) * 2018-06-07 2018-12-14 浙江古灵蛙电子有限公司 一种led元件包装机

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102101228B1 (ko) * 2018-06-20 2020-04-22 (주)에이피텍 Led 모듈 검사 및 포장 시스템
CN117092472B (zh) * 2023-07-06 2024-02-09 江苏富坤光电科技有限公司 一种led封装用测试装置及其使用方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990080582A (ko) * 1998-04-18 1999-11-15 장영환 램프 검사시스템 및 그 검사방법
KR20010000374A (ko) * 2000-09-23 2001-01-05 정운환 발광 다이오드의 검사장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990080582A (ko) * 1998-04-18 1999-11-15 장영환 램프 검사시스템 및 그 검사방법
KR20010000374A (ko) * 2000-09-23 2001-01-05 정운환 발광 다이오드의 검사장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108995870A (zh) * 2018-06-07 2018-12-14 浙江古灵蛙电子有限公司 一种led元件包装机

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110088701A (ko) 2011-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100686376B1 (ko) 복식 발광 다이오드 검사장치
TWI402108B (zh) 用於測試和分類電子元件的系統
KR101400817B1 (ko) 태양 에너지 실리콘 칩 테스터
CN201235348Y (zh) 电子元件检测包装机
KR20110132572A (ko) 전자 디바이스의 개선된 테스트를 위한 시스템 및 방법
KR101106711B1 (ko) 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치
KR101264399B1 (ko) 솔라 셀 웨이퍼 분류 장치
TW201325740A (zh) 分類多個組件之分類裝置及方法
KR101084606B1 (ko) 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치를 이용한 발광 다이오드 포장방법
KR101960662B1 (ko) 물품분류장치 및 그 운전방법
KR100914219B1 (ko) 테스트 핸들러
CN103886674B (zh) 纸币高速清分输入装置及其方法
KR101090688B1 (ko) 엘이디 모듈 분류용 빈 설치 조립체
KR101098265B1 (ko) 발광 다이오드 포장장치를 이용한 발광 다이오드 연속포장방법
KR20100115677A (ko) 대형필름 검사 및 적재장치
CN206935829U (zh) 一种ic芯片测试分选设备
CN108453051A (zh) 分拣送料装置
KR20100067844A (ko) 반도체 패키지 검사장치
KR101342699B1 (ko) 엘이디 패키지 테스트 핸들러
KR100500917B1 (ko) 반도체패키지 튜브적재장치
KR20080102745A (ko) 반도체 소자 테스트 장치 및 이를 이용한 테스트 완료된반도체 소자 이송 방법
KR102272469B1 (ko) 전지셀 분류장치
CN114436010B (zh) 电子组件包装卷带的检测设备及方法
CN216375127U (zh) 一种物料分离装置及物料自动化处理设备
CN218925384U (zh) 一种分选装置和发光二极管分光机

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150109

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160108

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170111

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180110

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190107

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191226

Year of fee payment: 9