KR101012045B1 - 감압 장치 및 이것에 이용하는 무기 재료질 다공체 - Google Patents
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- 진공 챔버와, 이 진공 챔버 내를 감압하는 배기 기구를 갖춘 감압 장치에 있어서,상기 배기 기구는일단이 상기 진공 챔버에 연통(連通)하고, 타단이 진공 펌프에 연통하는 주 배기로와,상기 주 배기로에 설치한 제 1의 개폐변과,일단이 상기 주 배기로를 통하여 혹은 직접 상기 진공 챔버에 연통하고, 타단이 상기 주 배기로를 통하여 혹은 직접 상기 진공 펌프에 연통하는 슬로 배기로와,상기 슬로 배기로에, 상기 슬로 배기로의 내면과 간격을 설치하여 배치되는, 축 방향 일단에 저부(底部)를 가지고, 축 방향 타단에 개구부를 가지는 유저(有底) 원통 모양의 무기 재료질 다공체와,상기 슬로 배기로에 설치한 제 2의 개폐변을 가지며,상기 무기 재료질 다공체의 저부가 상기 배기 기구의 상류 측에 위치하도록 상기 슬로 배기로 내에 배치하고,상기 제 2의 개폐변을 상기 무기 재료질 다공체의 하류 측에 설치하며,상기 무기 재료질 다공체의 개구부에, 상기 무기 재료질 다공체와 동일 재질로 이루어지는 가스 불투과성의 링 모양의 플랜지(flange)부가 설치되는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
- 진공 챔버와, 이 진공 챔버 내를 감압하는 배기 기구를 갖춘 감압 장치에 있어서,상기 배기 기구는일단이 상기 진공 챔버에 연통(連通)하고, 타단이 진공 펌프에 연통하는 주 배기로와,상기 주 배기로에 설치한 제 1의 개폐변과,일단이 상기 주 배기로를 통하여 혹은 직접 상기 진공 챔버에 연통하고, 타단이 상기 주 배기로를 통하여 혹은 직접 상기 진공 펌프에 연통하는 슬로 배기로와,상기 슬로 배기로에, 상기 슬로 배기로의 내면과 간격을 설치하여 배치되는, 양단이 개구하는 원통 모양의 무기 재료질 다공체와,상기 슬로 배기로에 설치한 제 2의 개폐변을 가지며,상기 무기 재료질 다공체의 원통 모양의 외주면에 통기구(通氣口)를 가지는 중공(中空)모양의 금속 통기 파이프가, 상기 무기 재료질 다공체의 내측에, 상기 무기 재료질 다공체의 내측과 상기 금속 통기 파이프의 외주면의 사이에 공극(空隙)이 형성되도록 설치되며,상기 금속 통기 파이프의 일단은 이 일단에 나착(螺着)되는 폐색 부재에 의해 폐색 되며,상기 무기 재료질 다공체의 일단은 상기 폐색 부재에 의해 폐색되는 한편 연질 개스킷(gasket)을 통하여 압압(押壓)되며,상기 금속 통기 파이프의 타단은 이 타단에 고착(固着)되는 금속제 부착 링을 기밀적으로 관통하고,상기 무기 재료질 다공체의 타단은 상기 금속제 부착 링에 압압(押壓)되는 연질 개스킷을 통하여 압압(押壓)되는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
- 제 4항에 있어서,상기 무기 재료질 다공체는 이 무기 재료질 다공체의 일단에 설치되는 폐색 부재를 상류 측으로 향하여 설치하고, 제 2의 개폐변은 상기 무기 재료질 다공체의 하류 측으로 설치하는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
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- 제 3항에 있어서,상기 링 모양의 플랜지부는, 실리카 글라스로 이루어지는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 링 모양의 플랜지부는, SiC로 이루어지는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
- 삭제
- 진공 챔버 내를 감압하는 배기 기구를 갖춘 감압 장치의 상기 배기 기구에 배치되며, 원통 모양의 무기 재료질 다공체로 이루어지며,상기 무기 재료질 다공체 및 이 개구부에 이것과 동일 재료로 이루어지는 가스 불투과성의 링 모양의 플랜지부가 일체적으로 형성되는 것을 특징으로 하는 무기 재료질 다공체.
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- 진공 챔버와, 이 진공 챔버 내를 감압하는 배기 기구를 갖춘 감압 장치에 있어서,상기 배기 기구는일단이 상기 진공 챔버에 연통(連通)하고, 타단이 진공 펌프에 연통하는 주 배기로와,상기 주 배기로에 설치한 제 1의 개폐변과,일단이 상기 주 배기로를 통하여 혹은 직접 상기 진공 챔버에 연통하고, 타단이 상기 주 배기로를 통하여 혹은 직접 상기 진공 펌프에 연통하는 슬로 배기로와,상기 슬로 배기로에 설치되는, 축 방향 양단에 개구부를 가지는 무저(無底) 원통 모양의 무기 재료질 다공체와,상기 무기 재료질 다공체와 공극을 형성하도록 외감하는 다공체 유닛(unit)과,상기 슬로 배기로에 설치한 제 2의 개폐변을 가지며,상기 제 2의 개폐변을 상기 무기 재료질 다공체의 하류 측에 설치하며,상기 무기 재료질 다공체의 일단에, 금속제의 링 모양의 플랜지(flange)부가 설치되는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
- 제 14항에 있어서,상기 다공체 유닛의 주위에 통기구를 설치한 중공 모양의 금속 통기 파이프와, 상기 무기 재료질 다공체의 일단 및 상기 금속 통기 파이프의 일단을 폐색하는 폐색 부재와, 상기 무기 재료질 다공체의 양단을 압압하는 폴리 테트라 플루오르 에틸렌(PTFE) 제의 연질 개스킷(gasket)과, 상기 금속 통기 파이프의 타단에 기밀적으로 관통하여 용착되는 금속제 부착 링을 갖추고,상기 폐색 부재의 원판상의 부착 돌부의 외주에 설치한 수 나사부와 상기 금속 통기 파이프의 일단의 내측에 형성되는 암 나사부를 나합(螺合)하는 것으로, 상기 금속 통기 파이프와 상기 금속제 부착 링으로 양(兩) 연질 개스킷을 상기 무기 재료질 다공체 방향으로 압압하여 조립하는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
- 제 15항에 있어서,상기 무기 재료질 다공체는 이 무기 재료질 다공체의 일단에 설치되는 폐색 부재를 상류 측으로 향하여 설치하고, 제 2의 개폐변은 상기 무기 재료질 다공체의 하류 측으로 설치하는 것을 특징으로 하는 감압 장치.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007190462A JP2009022916A (ja) | 2007-07-23 | 2007-07-23 | 減圧装置 |
JPJP-P-2007-00190462 | 2007-07-23 | ||
JPJP-P-2007-00279283 | 2007-10-26 | ||
JP2007279283A JP5044362B2 (ja) | 2007-10-26 | 2007-10-26 | 減圧装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090010901A KR20090010901A (ko) | 2009-01-30 |
KR101012045B1 true KR101012045B1 (ko) | 2011-01-31 |
Family
ID=40337004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080070861A KR101012045B1 (ko) | 2007-07-23 | 2008-07-21 | 감압 장치 및 이것에 이용하는 무기 재료질 다공체 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8186380B2 (ko) |
KR (1) | KR101012045B1 (ko) |
TW (1) | TWI386998B (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5379101B2 (ja) * | 2010-09-13 | 2013-12-25 | 住友重機械工業株式会社 | クライオポンプ及びフィルタ装置 |
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-
2008
- 2008-07-21 KR KR1020080070861A patent/KR101012045B1/ko active IP Right Grant
- 2008-07-22 TW TW97127837A patent/TWI386998B/zh active
- 2008-07-22 US US12/177,630 patent/US8186380B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
TWI386998B (zh) | 2013-02-21 |
TW200929353A (en) | 2009-07-01 |
KR20090010901A (ko) | 2009-01-30 |
US8186380B2 (en) | 2012-05-29 |
US20090032127A1 (en) | 2009-02-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140107 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180103 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
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