KR100943002B1 - 엑스레이검사장치 - Google Patents
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Description
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- 일측으로 치우쳐서 통공되고 통공된 부분에 원형의 회전스테이지(110)가 회전 가능하도록 구비되고, 하부에 연결봉(510)이 구성되고 상기 연결봉(510)의 하단에 회전모터(520)가 구성되며, 고정프레임(530)에 의하여 스테이지(100)에 고정되어 상기 회전모터(520)의 회전구동에 의하여 회전되도록 구성되는 회전스테이지(110)가 구비되는 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)로 구성되어, 피측정물(10)을 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 피측정물을 검사하는 엑스레이검사장치에 있어서,상기 연결봉(510)은 중앙에 통공(511)이 형성되고, 상기 회전모터(520)는 중앙에 중공이 형성된 중공모터로 구성되어 상기 디텍터(300)가 상기 통공(511)을 통하여 상기 회전스테이지(110)의 피측정물(10)을 촬상할 수 있는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 스테이지(100)의 일측에 피측정물(10)을 고정시키기 위하여 바이스그립(121)이 구성되고 상기 바이스그립(121)을 회전가능하도록 모터(122)가 구성된 그립부(120)가 구성되는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 스테이지(100)의 상부에 놓여진 피측정물(10)의 위치를 미세조정하기 위하여 상기 스테이지(100)의 일측에 y축이동유닛(131)과 x축이동유닛(132)으로 구성된 수평이동유닛이 암(133)의 일단에 구성되고, 타단이 실린더(134)에 의하여 이동되는 파지부(135)가 형성되는 지그(130)가 상기 스테이지(100)의 일단에 구성되는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 스테이지(100)가 내부에 설치되는 케이스(1)의 측면의 상기 엑스레이튜브(200)의 단부측 높이에 측면을 향하도록 고정 구성되어, 상기 스테이지(100)의 수직이동시 상기 엑스레이튜브(200)와의 충돌을 방지하기 위하여 감지장치(600)가 구성되는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 스테이지(100)가 내부에 설치되는 케이스(1)의 측면에 하면을 향하도록 고정 구성되어, 상기 스테이지(100)의 수직이동시 상기 디텍터(300) 또는 가이드레일(310)과의 충돌을 방지하기 위하여 감지장치(700)가 구성되는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 8항에 있어서,상기 감지장치(600)는 감시카메라 또는 광센서인 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 9항에 있어서,상기 감지장치(700)는 감시카메라 또는 광센서인 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 엑스레이튜브(200)는 타이머(800)가 구성되어, 상기 타이머(800)의 작동에 의하여 일정시간 간격으로 상기 엑스레이튜브(200)가 작동되도록 하여 웜업(warm-up) 시간을 최소화하도록 하는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 스테이지(100)를 중심으로 상부에 엑스레이튜브(200)가 위치하고, 하부에 디텍터(300)가 위치하도록 구성하여, 상기 스테이지(100)를 수직상방으로 이동시 상기 엑스레이튜브(300)에 피측정물(10)에 최대한 근거리로 이동할 수 있는 것을 특징으로 하는 엑스레이검사장치.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090066702A KR100943002B1 (ko) | 2009-07-22 | 2009-07-22 | 엑스레이검사장치 |
CN2009101630214A CN101963587B (zh) | 2009-07-22 | 2009-08-19 | X射线检查装置 |
JP2010165356A JP5221604B2 (ja) | 2009-07-22 | 2010-07-22 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090066702A KR100943002B1 (ko) | 2009-07-22 | 2009-07-22 | 엑스레이검사장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100943002B1 true KR100943002B1 (ko) | 2010-02-18 |
Family
ID=42083535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090066702A KR100943002B1 (ko) | 2009-07-22 | 2009-07-22 | 엑스레이검사장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5221604B2 (ko) |
KR (1) | KR100943002B1 (ko) |
CN (1) | CN101963587B (ko) |
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A201 | Request for examination | ||
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