KR100919407B1 - Liquid crystal dispensing apparatus - Google Patents

Liquid crystal dispensing apparatus

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Abstract

본 발명은 액정 적하 장치를 개시한다. 본 발명에 따르면, 적재된 기판에 대해 상대 이동하는 적어도 하나의 노즐; 노즐로부터 기판 위에 액정이 방울져 떨어지도록 노즐로 액정을 공급하는 액정 공급부; 노즐이 이동하면서 액정 공급부에 의해 액정 적하가 진행되는 동안, 노즐의 하측에서 액정 적하 불량 여부를 검출하는 불량 검출용 센서; 액정 적하가 종료된 후, 불량 검출용 센서에 의해 액정 적하 불량이 검출된 위치로 이동해서, 액정 적하 불량인지 여부를 판별하고, 액정 부족량을 산출하는 보수용 센서; 및 보수용 센서에 의해 산출된 액정 부족량만큼 노즐로부터 액정 적하가 이루어지도록 액정 공급부를 제어하는 제어부;를 구비한다. The present invention discloses a liquid crystal dropping device. According to the invention, at least one nozzle moving relative to the loaded substrate; A liquid crystal supply unit supplying a liquid crystal to the nozzle so that the liquid crystal drops from the nozzle onto the substrate; A defect detection sensor that detects whether the liquid crystal dropping is poor at the lower side of the nozzle while the liquid crystal dropping is in progress by the liquid crystal supplying unit while the nozzle is moving; A maintenance sensor which moves to a position where the liquid crystal dropping failure is detected by the failure detecting sensor after the liquid crystal dropping is finished, determines whether the liquid crystal dropping failure is defective, and calculates a liquid crystal shortage amount; And a control unit controlling the liquid crystal supply unit so that the liquid crystal dropping occurs from the nozzle by the liquid crystal shortage amount calculated by the repairing sensor.

Description

액정 적하 장치{Liquid crystal dispensing apparatus}Liquid crystal dropping apparatus

본 발명은 액정 표시 장치를 제조함에 있어서 액정층 형성을 위해 기판 위에 액정을 적하하는 액정 적하 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a liquid crystal dropping apparatus for dropping a liquid crystal onto a substrate to form a liquid crystal layer in manufacturing a liquid crystal display device.

액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 음극선관(Cathode Ray Tube; CRT)에 비해 시인성이 우수하고, 동일한 화면 크기의 CRT에 비해 평균 소비전력도 작을 뿐만 아니라 발열량도 적다. 이에 따라, LCD는 플라즈마 표시 장치(Plasma Display Panel; PDP)나 전계방출 표시 장치(Field Emission Display; FED)와 함께, 휴대폰, 컴퓨터용 모니터, 텔레비전 분야 등에서, 차세대 표시 장치로서 각광받고 있다. Liquid crystal displays (LCDs) have better visibility than cathode ray tubes (CRTs) and have lower average power consumption and lower heat generation than CRTs of the same screen size. Accordingly, LCDs, along with Plasma Display Panels (PDPs) and Field Emission Display Devices (FEDs), have been spotlighted as next-generation display devices in mobile phones, computer monitors, and television fields.

일반적으로, TFT(Thin Film Transister) LCD 패널은 TFT 어레이 기판과 칼라 필터 어레이 기판을 구비한다. 상기 두 기판은 대략 4∼5㎛ 정도로 이격되며, 그 사이에 액정층이 형성된다. 그리고, 화면 표시 영역의 주위에서, 실런트가 두 기판을 접합하는 한편, 액정층으로 수분이나 오염 물질이 유입되는 것을 방지한다. In general, TFT (Thin Film Transister) LCD panels include a TFT array substrate and a color filter array substrate. The two substrates are separated by approximately 4 to 5 μm, and a liquid crystal layer is formed therebetween. In the periphery of the screen display area, the sealant bonds the two substrates while preventing the inflow of moisture or contaminants into the liquid crystal layer.

한편, 액정층을 형성하는 여러 방식 중에 액정 적하 방식이 있다. 액정 적하 방식이란 기판 위의 실런트에 의해 한정된 공간 내에 액정을 적하하여 액정층을 형성한 다음, 기판들 사이를 합착한 후, 실런트를 경화시켜 접합하는 방식이다. 액정 적하 방식에 의해 액정층을 형성하기 위해, 액정 적하 장치가 이용되고 있다. On the other hand, there are a liquid crystal dropping method among various methods of forming a liquid crystal layer. The liquid crystal dropping method is a method of dropping a liquid crystal in a space defined by a sealant on a substrate to form a liquid crystal layer, then bonding the substrates together, and curing the sealant to bond the same. In order to form a liquid crystal layer by a liquid crystal dropping system, the liquid crystal dropping apparatus is used.

액정 적하 장치는 액정이 저장된 시린지(syringe)로부터 액정을 공급받는 노즐을 기판에 대해 상대 이동시켜가면서, 기판 위에 노즐로부터 액정을 방울져 떨어뜨리도록 동작한다. 이때, 액정 적하 장치는 설정된 총 적하량으로 액정을 적하하여 액정층을 형성하게 된다. The liquid crystal dropping device operates to drop the liquid crystal from the nozzle on the substrate while moving the nozzle supplied with the liquid crystal from the syringe in which the liquid crystal is stored relative to the substrate. At this time, the liquid crystal dropping device forms a liquid crystal layer by dropping the liquid crystal to the set total drop amount.

그런데, 액정을 적하하는 과정에서, 노즐로 공급되는 액정에 기포가 혼입되는 등의 이유로 인해, 미스 드롭(miss drop)이 발생할 수 있다. 미스 드롭은 액정 적하가 종료된 후, 실제로 액정이 적하된 총 적하량이 설정된 양보다 적게 되는 액정 적하 불량을 야기한다. However, in the process of dropping the liquid crystal, a miss drop may occur due to the mixing of bubbles in the liquid crystal supplied to the nozzle. The miss drop causes a liquid crystal dropping failure in which after the liquid crystal dropping is finished, the total drop amount actually dropped is less than the set amount.

종래에 따르면, 미스 드롭을 작업자가 육안으로 확인한 다음, 작업자의 판단에 의해 액정 적하 장치를 수작업으로 동작시켜 보수(repair)하고 있다. 그러나, 미스 드롭을 육안으로 확인하고 수작업으로 보수하는 경우, 숙련된 작업자를 필요로 한다. 아울러, 작업자가 부재일 경우, 작업자가 현장에 돌아와서 미스 드롭을 보수하기 전까지 후속 공정이 진행되지 못하므로, 생산성이 떨어질 수 있다. According to the related art, after a miss drop is visually confirmed by the operator, the liquid crystal dropping device is manually operated and repaired by the operator's judgment. However, in the case of visually confirming the miss drop and repairing by hand, a skilled worker is required. In addition, if the worker is absent, since the subsequent process does not proceed until the worker returns to the site to repair the miss drop, productivity may be reduced.

또한, 미스 드롭은 아니나, 한 방울의 액정 적하량이 정량보다 적은 정량미달 드롭인 경우, 작업자는 액정 적하량이 얼마나 부족한지 육안으로 판단하기 어렵다. 이에 따라, 액정 적하 불량을 정확하게 보수하기 힘든 문제가 있을 수 있다. In addition, if it is not a miss drop, but the drop of the liquid crystal drop of less than the amount of liquid crystal drop is less than the quantitative drop, it is difficult for the operator to visually determine how much liquid crystal dropping amount is insufficient. Accordingly, there may be a problem that it is difficult to accurately repair the liquid crystal dropping failure.

본 발명의 과제는 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 액정 적하 불량 여부를 검출하는 과정에서부터 보수 과정에 이르는 모든 과정이 자동화될 수 있는 액정 적하 장치를 제공함에 있다. An object of the present invention is to solve the above problems, to provide a liquid crystal dropping device that can be automated from the process of detecting whether the liquid crystal dropping failure to repair process.

상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 적하 장치는, 적재된 기판에 대해 상대 이동하는 적어도 하나의 노즐; 상기 노즐로부터 상기 기판 위에 액정이 방울져 떨어지도록 상기 노즐로 액정을 공급하는 액정 공급부; 상기 노즐이 이동하면서 상기 액정 공급부에 의해 액정 적하가 진행되는 동안, 상기 노즐의 하측에서 액정 적하 불량 여부를 검출하는 불량 검출용 센서; 액정 적하가 종료된 후, 상기 불량 검출용 센서에 의해 액정 적하 불량이 검출된 위치로 이동해서, 액정 적하 불량인지 여부를 판별하고, 액정 부족량을 산출하는 보수용 센서; 및 상기 보수용 센서에 의해 산출된 액정 부족량만큼 상기 노즐로부터 액정 적하가 이루어지도록 상기 액정 공급부를 제어하는 제어부;를 구비한다. Liquid crystal dropping apparatus according to the present invention for achieving the above object is at least one nozzle relative to the loaded substrate; A liquid crystal supply unit supplying liquid crystals to the nozzles such that liquid crystals drop from the nozzles onto the substrate; A defect detection sensor for detecting a liquid crystal dropping failure at the lower side of the nozzle while the liquid crystal dropping is in progress by the liquid crystal supply unit while the nozzle is moved; A maintenance sensor which moves to a position where the liquid crystal dropping failure is detected by the failure detecting sensor after the liquid crystal dropping is finished, determines whether the liquid crystal dropping failure is defective, and calculates a liquid crystal shortage amount; And a control unit controlling the liquid crystal supply unit so that liquid crystal dropping occurs from the nozzle by the amount of liquid crystal deficiency calculated by the repairing sensor.

본 발명에 따르면, 액정 적하 불량 여부를 검출하는 과정에서부터 보수 과정에 이르는 모든 과정이 자동화될 수 있다. 이에 따라, 숙련된 작업자가 필요치 않게 되며, 작업자가 부재이더라도, 액정 적하 불량이 자동으로 보수될 수 있다. 그 결과, 후속 공정이 원활히 진행될 수 있으며, 생산성 저하가 발생하지 않을 수 있다. According to the present invention, all the processes from the detection of the liquid crystal dropping failure to the maintenance process can be automated. Accordingly, no skilled worker is required, and even if the worker is absent, the liquid crystal dropping failure can be repaired automatically. As a result, the subsequent process may proceed smoothly, and productivity may not decrease.

또한, 본 발명에 따르면, 정량미달 드롭이 경우 액정량이 얼마나 부족한지 육안으로 판단하기 어렵더라도, 액정 부족량이 정확히 산출되어 액정 부족량만큼 액정 적하가 이루어질 수 있다. 이에 따라, 액정 적하 불량이 손쉽게 보수될 수 있는 효과가 있다. Further, according to the present invention, even if it is difficult to visually determine how much the amount of liquid crystal is insufficient in the case of under-quantity drop, the amount of liquid crystal deficiency may be accurately calculated and the liquid crystal dropping may be performed by the amount of liquid crystal deficiency. Accordingly, there is an effect that the liquid crystal dropping failure can be easily repaired.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정적하장치에 대한 구성도. 1 is a block diagram of a liquid crystal dropping apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 있어서, 헤드 유닛에 장착된 불량 검출용 센서와 보수용 센서를 도시한 사시도. FIG. 2 is a perspective view of the failure detecting sensor and the repairing sensor mounted on the head unit in FIG. 1; FIG.

도 3a 및 도 3b는 도 2에 도시된 불량 검출용 센서에 의해, 노즐로부터 액정 방울이 떨어지는지 여부를 검출하는 과정을 설명하기 위한 도면. 3A and 3B are diagrams for explaining a process of detecting whether a liquid crystal droplet falls from a nozzle by the defect detecting sensor shown in FIG. 2;

도 4a 및 도 4b는 도 2에 도시된 보수용 센서에 의해 액정 적하 불량을 판별한 후, 액정 적하 불량을 보수하는 과정을 설명하기 위한 도면. 4A and 4B are views for explaining a process of repairing a liquid crystal dropping failure after determining a liquid crystal dropping failure by the repairing sensor shown in FIG. 2;

〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉<Brief description of the major symbols in the drawings>

111..노즐 120..액정 공급부111. Nozzle 120. Liquid crystal supply

130..불량 검출용 센서 140..보수용 센서130. Defective sensor 140. Repair sensor

150..제어부150..Control

이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 적하 장치에 대한 구성도이다. 1 is a block diagram of a liquid crystal dropping apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 액정 적하 장치(100)는 적어도 하나의 노즐(111)과, 액정 공급부(120)와, 불량 검출용 센서(130)와, 보수용 센서(140), 및 제어부(150)를 포함하여 구성된다. Referring to FIG. 1, the liquid crystal dropping apparatus 100 includes at least one nozzle 111, a liquid crystal supply unit 120, a failure detecting sensor 130, a repairing sensor 140, and a controller 150. It is configured to include.

노즐(111)은 적재된 기판(10)에 대해 상대 이동 가능하도록 동작한다. 노즐(111)은 액정 공급부(120)에 의해 액정을 공급받아 기판(10) 위에 토출함으로써, 기판(10) 위에 액정층을 형성할 수 있게 한다. The nozzle 111 operates to be relatively movable with respect to the loaded substrate 10. The nozzle 111 receives liquid crystal by the liquid crystal supply unit 120 and discharges the liquid crystal onto the substrate 10, thereby forming a liquid crystal layer on the substrate 10.

액정 공급부(120)는 노즐(111)로부터 기판(10) 위에 액정이 방울져 떨어지도록 노즐(111)로 액정을 공급한다. 액정 공급부(120)는 노즐(111)로부터 액정이 설정된 양으로 방울져 떨어질 수 있게 제어부(150)에 의해 제어될 수 있다. The liquid crystal supply unit 120 supplies the liquid crystal to the nozzle 111 so that the liquid crystal drops on the substrate 10 from the nozzle 111. The liquid crystal supply unit 120 may be controlled by the controller 150 to allow the liquid crystal to drop from the nozzle 111 in a set amount.

불량 검출용 센서(130)는 노즐(111)이 이동하면서 액정 공급부(120)에 의해 노즐(111)로부터 기판(10) 위로 액정 적하가 진행되는 동안, 액정 적하 불량 여부를 검출한다. 즉, 불량 검출용 센서(130)는 노즐(111)이 일정 간격으로 이동할 때마다 노즐(111)로부터 액정이 설정된 양으로 정확하게 방울져 떨어지고 있는지 여부를 검출한다. The failure detection sensor 130 detects whether the liquid crystal dropping is poor while the liquid crystal dropping is progressed from the nozzle 111 to the substrate 10 by the liquid crystal supply unit 120 while the nozzle 111 moves. That is, the failure detection sensor 130 detects whether or not the liquid crystal is accurately dropped from the nozzle 111 in a set amount every time the nozzle 111 moves at a predetermined interval.

액정 적하 불량은 노즐(111)로 공급되는 액정에 기포가 혼입되는 등의 이유로 인해 발생할 수 있다. 그 예로는, 액정이 적하될 위치에 액정이 전혀 적하되지 않는 미스 드롭이나, 한 방울의 액정 적하량이 정량보다 적은 정량미달 드롭이 있다. The dropping of the liquid crystal may occur due to the mixing of bubbles in the liquid crystal supplied to the nozzle 111. For example, there is a miss drop in which the liquid crystal is not dropped at all in the position where the liquid crystal is to be dropped, or a subquant drop in which one drop of the liquid crystal is less than quantitative.

불량 검출용 센서(130)로부터 검출된 액정 적하 불량에 대한 정보는 제어부(150)로 제공될 수 있다. 제어부(150)는 불량 검출용 센서(130)로부터 액정 적하 불량에 대한 정보를 제공받은 시점에 해당하는 노즐(111)의 위치를 액정 적하 불량 위치로 인식하고, 액정 적하 불량 위치를 저장한다. Information about the liquid crystal dropping failure detected by the failure detecting sensor 130 may be provided to the controller 150. The controller 150 recognizes the position of the nozzle 111 corresponding to the point in time at which the information on the liquid crystal drop failure is received from the failure detection sensor 130 as the liquid crystal drop failure position, and stores the liquid crystal drop failure position.

보수용 센서(140)는 액정 적하가 종료된 후, 불량 검출용 센서(130)에 의해 액정 적하 불량이 검출된 위치로 이동해서, 액정 적하 불량인지 여부를 판별한다. 상기 보수용 센서(140)의 이동은 액정 적하 불량 위치를 저장하고 있는 제어부(150)에 의해 제어될 수 있다. 만일, 액정 적하 불량이라면, 보수용 센서(140)는 액정 부족량을 산출한다. 액정 부족량에 대한 정보는 제어부(150)로 제공될 수 있다. After completion of liquid crystal dropping, the repairing sensor 140 moves to the position where the liquid crystal dropping failure is detected by the failure detecting sensor 130, and determines whether or not the liquid crystal dropping failure is performed. The movement of the repairing sensor 140 may be controlled by the controller 150 storing the liquid crystal dropping failure position. If the liquid crystal dropping is poor, the repairing sensor 140 calculates the amount of liquid crystal shortage. Information about the lack of liquid crystal may be provided to the controller 150.

제어부(150)는 보수용 센서(140)에 의해 산출된 액정 부족량만큼 노즐(111)로부터 기판(10) 위에 액정 적하가 이루어져 보수될 수 있게 액정 공급부(120)를 제어한다. 이 과정에서, 제어부(150)는 노즐(111)을 액정 적하 불량이 검출된 위치로 이동시키도록 제어할 수 있다. 이 밖에, 제어부(150)는 액정 적하 장치(100) 전반을 제어하여 기판(10) 위에 액정이 설정된 양으로 적하될 수 있게 한다. The controller 150 controls the liquid crystal supply unit 120 so that liquid crystal dropping may be performed on the substrate 10 from the nozzle 111 by the amount of liquid crystal shortage calculated by the repairing sensor 140. In this process, the controller 150 may control the nozzle 111 to move to the position where the liquid crystal dropping failure is detected. In addition, the controller 150 controls the entire liquid crystal dropping apparatus 100 to allow the liquid crystal to be dropped in a set amount on the substrate 10.

상기와 같이 구성된 액정 적하 장치(100)의 작용 예를 설명하면 다음과 같다. An example of the operation of the liquid crystal dropping device 100 configured as described above is as follows.

노즐(111)로부터 액정 적하가 진행되는 동안, 미스 드롭이나 정량미달 드롭과 같은 액정 적하 불량이 발생하면, 불량 검출용 센서(130)는 액정 적하 불량 여부를 검출해서 제어부(150)로 제공한다. 제어부(150)는 액정 적하 불량 위치를 인식해서 저장하고 있다가, 액정 적하가 종료되면, 액정 적하 불량 위치로 보수용 센서(140)를 이동시킨다. If liquid crystal dropping failure such as miss drop or under-quantification drop occurs while the liquid crystal dropping is in progress from the nozzle 111, the defect detection sensor 130 detects whether the liquid crystal dropping failure is provided to the controller 150. The controller 150 recognizes and stores the liquid crystal dropping failure position. When the liquid crystal dropping is finished, the controller 150 moves the repairing sensor 140 to the liquid crystal dropping failure position.

보수용 센서(140)는 액정 적하 불량인지 여부를 판별하고, 액정 적하 불량이면 액정 부족량을 산출해서 제어부(150)로 제공한다. 제어부(150)는 액정 공급부(120)를 제어해서 액정 부족량만큼 노즐(111)로부터 기판(10) 위에 액정 적하가 이루어지게 한다. 이에 따라, 액정 적하 불량이 보수되어, 액정층은 기판(10) 위에 설정된 적하량으로 형성될 수 있다. The repairing sensor 140 determines whether the liquid crystal dropping is poor, and calculates and provides the amount of liquid crystal shortage to the controller 150 when the liquid crystal dropping is poor. The controller 150 controls the liquid crystal supply unit 120 to cause liquid crystal dropping from the nozzle 111 to the substrate 10 by the amount of liquid crystal shortage. As a result, the liquid crystal dropping failure is repaired, and the liquid crystal layer may be formed with a dropping amount set on the substrate 10.

전술한 것처럼, 액정 적하 불량 여부를 검출하는 과정에서부터 보수 과정에 이르는 모든 과정이 자동화된다. 따라서, 액정 적하 불량 여부를 작업자가 육안으로 확인한 다음, 작업자의 판단에 의해 액정 적하 장치를 수작업으로 동작시켜 보수하는 과정과 비교하여, 숙련된 작업자가 필요치 않게 된다. 또한, 작업자가 부재이더라도, 액정 적하 불량이 자동으로 보수되므로, 후속 공정이 원활히 진행될 수 있다. 이에 따라, 생산성 저하가 발생하지 않을 수 있다. 게다가, 정량미달 드롭이 경우 액정량이 얼마나 부족한지 육안으로 판단하기 어렵더라도, 액정 부족량이 정확히 산출되어 액정 부족량만큼 액정 적하가 이루어질 수 있다. 이에 따라, 액정 적하 불량이 손쉽게 보수될 수 있다. As described above, all processes from the detection of the liquid crystal dropping failure to the repairing process are automated. Therefore, the operator visually checks whether the liquid crystal dropping is poor, and then, compared to the process of manually operating and repairing the liquid crystal dropping apparatus at the operator's discretion, no skilled worker is required. In addition, even if the worker is absent, since the liquid crystal dropping defect is automatically repaired, the subsequent process can proceed smoothly. As a result, productivity decrease may not occur. In addition, even if it is difficult to visually determine how much the amount of liquid crystal is insufficient in the case of under-quantity drop, the amount of liquid crystal deficiency can be accurately calculated and liquid crystal dropping can be performed by the amount of liquid crystal deficiency. Accordingly, poor liquid crystal dropping can be easily repaired.

한편, 노즐(111)은 기판(10)에 대해 상대 이동할 수 있게 헤드 유닛(110)의 노즐 장착블록(112)에 장착될 수 있다. 여기서, 헤드 유닛(110)은 헤드 지지부(102)에 지지가 되고, 헤드 지지부(102)는 프레임(101)에 일 방향으로 수평 이동 가능하게 설치된다. 이와 함께, 헤드 유닛(110)은 헤드 지지부(102)의 이동 방향과 수직인 방향으로 수평 이동 가능하게 설치된다. 이에 따라, 헤드 유닛(110)에 장착된 노즐(111)이 기판(10)에 대해 상대 이동 가능할 수 있다. Meanwhile, the nozzle 111 may be mounted to the nozzle mounting block 112 of the head unit 110 to move relative to the substrate 10. Here, the head unit 110 is supported by the head support portion 102, the head support portion 102 is installed in the frame 101 to be horizontally movable in one direction. In addition, the head unit 110 is installed to be horizontally movable in a direction perpendicular to the moving direction of the head support part 102. Accordingly, the nozzle 111 mounted on the head unit 110 may be relatively moved relative to the substrate 10.

대면적의 상,하부 글라스 기판에 단위 패널을 다수 개로 형성하여 생산성을 도모하는 경우, 노즐(111)은 복수 개로 구비될 수 있다. 단위 패널은 LCD마다 하나씩 채용되는 LCD 패널에 상응하는 것이다. 복수 개의 노즐(111)들은 단위 패널별로 적어도 하나씩 배치되어 액정이 적하되게 한다. 이에 따라, 다수 개의 단위 패널에 액정층이 동시에 형성될 수 있으므로, 생산성이 향상될 수 있다. When a plurality of unit panels are formed on the upper and lower glass substrates of a large area to increase productivity, the nozzles 111 may be provided in plural numbers. The unit panel corresponds to an LCD panel that is employed one for each LCD. The plurality of nozzles 111 are disposed at least one unit per unit panel so that the liquid crystal is dropped. Accordingly, since a liquid crystal layer may be simultaneously formed on a plurality of unit panels, productivity may be improved.

액정 공급부(120)는 노즐(111)로 액정을 공급하기 위해 액정이 저장된 시린지(syringe, 121)와 펌프 모듈(122)을 구비할 수 있다. 펌프 모듈(122)은 시린지(121)로부터 노즐(111)로 액정이 공급될 때, 액정에 토출 압력을 가할 수 있게 구성됨으로써, 노즐(111)로부터 액정이 토출될 수 있게 한다. 그리고, 펌프 모듈(122)은 시린지(121)와 노즐(111) 사이에서 액정의 흐름을 개폐하는 밸브 기능을 갖도록 구성됨으로써, 설정된 양만큼씩 시린지(121)로부터 노즐(111)로 액정이 공급될 수 있게 한다. The liquid crystal supply unit 120 may include a syringe 121 in which the liquid crystal is stored and a pump module 122 to supply the liquid crystal to the nozzle 111. The pump module 122 is configured to apply a discharge pressure to the liquid crystal when the liquid crystal is supplied from the syringe 121 to the nozzle 111, thereby enabling the liquid crystal to be discharged from the nozzle 111. In addition, the pump module 122 is configured to have a valve function of opening and closing the flow of liquid crystal between the syringe 121 and the nozzle 111, so that the liquid crystal is supplied from the syringe 121 to the nozzle 111 by a set amount. To be able.

다른 예로, 액정 공급부(120)는 펌프 모듈(122) 대신, 공기압 공급기를 구비하는 것도 가능하다. 공기압 공급기는 시린지(121) 내로 소정 압력을 갖는 공기나 가스를 공급하여 액정에 토출 압력을 가할 수 있게 구성됨으로써, 노즐(111)로부터 액정이 토출될 수 있게 한다. As another example, the liquid crystal supply unit 120 may be provided with an air pressure supply instead of the pump module 122. The pneumatic pressure supply unit is configured to apply the discharge pressure to the liquid crystal by supplying air or gas having a predetermined pressure into the syringe 121, thereby allowing the liquid crystal to be discharged from the nozzle 111.

한편, 불량 검출용 센서(130)는 노즐(111)의 하측에 배치되어 액정 적하가 진행되는 동안 액정 적하 불량을 검출할 수 있다. 불량 검출용 센서(130)는 레이저 센서일 수 있다. 레이저 센서는 도 2에 도시된 바와 같이, 레이저 빔을 발산하는 발광부(131)와, 발광부(131)로부터 발산한 광을 받아 수광 신호를 처리하는 수광부(132)를 구비한다. The failure detecting sensor 130 may be disposed under the nozzle 111 to detect a liquid crystal dropping failure while the liquid crystal dropping is in progress. The defect detection sensor 130 may be a laser sensor. As illustrated in FIG. 2, the laser sensor includes a light emitter 131 that emits a laser beam, and a light receiver 132 that receives light emitted from the light emitter 131 and processes a received signal.

발광부(131)와 수광부(132)는 노즐(111)의 하측에서 노즐(111)을 사이에 두고 양측에 나뉘어 배치된다. 그리고, 발광부(131)는 발산한 광이 노즐(111)의 하측을 통과하도록 배치되며, 수광부(132)는 발광부(131)로부터 발산한 광을 받을 수 있게 배치된다. The light emitting unit 131 and the light receiving unit 132 are disposed on both sides of the light emitting unit 131 with the nozzle 111 interposed therebetween. The light emitting unit 131 is disposed so that the emitted light passes through the lower side of the nozzle 111, and the light receiving unit 132 is arranged to receive the light emitted from the light emitting unit 131.

발광부(131)는 검출 영역을 넓히기 위해 다수의 발광 부위들을 구비할 수 있다. 이를 위해, 발광 부위들은 수평 방향을 따라 일정 간격으로 떨어져 배열될 수 있다. 다수의 발광 부위들은 노즐(111)로부터 방울져 떨어지는 액정 방울이 아래로 바로 떨어지지 않고 경사져 떨어지더라도, 액정 방울의 낙하가 검출될 수 있게 한다. The light emitter 131 may include a plurality of light emitting regions to widen the detection area. To this end, the light emitting regions may be arranged spaced apart at regular intervals along the horizontal direction. The plurality of light emitting portions allow the drop of the liquid crystal droplet to be detected even if the liquid crystal droplet falling from the nozzle 111 is inclined to fall down rather than directly falling down.

수광부(132)는 노즐(111)이 액정 적하 위치로 이동한 시점부터 어느 한 시점까지 설정된 시간 동안 획득된 수광 신호가 일정한 값을 갖는다고 판단되면, 미스 드롭과 같은 액정 적하 불량으로 인식할 수 있다. When the light receiving unit 132 determines that the light receiving signal acquired for a predetermined time from the time when the nozzle 111 moves to the liquid crystal dropping position has a constant value, the light receiving unit 132 may recognize the liquid crystal dropping failure such as a miss drop. .

즉, 설정된 시간 동안, 도 3a에 도시된 바와 같이, 노즐(111)로부터 액정이 방울져 발광부(131)와 수광부(132) 사이를 통과하지 않을 수 있다. 그러면, 발광부(131)로부터 발산한 광은 그대로 진행해서 수광부(132)로 입사된다. 따라서, 설정된 시간 동안 획득된 수광 신호는 허용 오차 범위 내에서 일정한 값을 갖게 된다. 이러한 경우, 수광부(132)는 설정된 시간 동안 획득된 수광 신호가 일정한 값을 갖는다고 판단하여 액정 방울이 낙하하지 않은 미스 드롭으로 인식한다. That is, during the set time, as illustrated in FIG. 3A, liquid crystal may be dropped from the nozzle 111 and may not pass between the light emitting unit 131 and the light receiving unit 132. Then, the light emitted from the light emitting portion 131 proceeds as it is and enters the light receiving portion 132. Therefore, the received light signal acquired during the set time has a constant value within the tolerance range. In this case, the light receiving unit 132 determines that the received light signal has a constant value for a predetermined time and recognizes that the liquid crystal drop is a miss drop without falling.

반면, 설정된 시간 동안, 도 3b에 도시된 바와 같이, 노즐(111)로부터 액정이 방울져 발광부(131)와 수광부(132) 사이를 통과할 수 있다. 그러면, 발광부(131)로부터 발산한 광은 액정 방울이 통과하는 동안 액정 방울에 의해 반사되어 수광부(132)로 입사되지 않는다. 따라서, 액정 방울이 발광부(131)와 수광부(132) 사이를 통과하기 전후에 획득된 수광 신호 값과, 액정 방울이 발광부(131)와 수광부(132) 사이로 통과하는 동안 획득된 수광 신호 값이 달라진다. 이러한 경우, 수광부(132)는 액정 방울이 낙하한 것으로 인식한다. On the other hand, during the set time, as shown in FIG. 3B, the liquid crystal may be dropped from the nozzle 111 and may pass between the light emitter 131 and the light receiver 132. Then, the light emitted from the light emitting unit 131 is reflected by the liquid crystal droplets while the liquid crystal droplets pass, and is not incident to the light receiving unit 132. Therefore, the light reception signal value obtained before and after the liquid crystal droplet passes between the light emitting unit 131 and the light receiving unit 132 and the light reception signal value obtained while the liquid crystal droplet passes between the light emitting unit 131 and the light receiving unit 132 are different. . In this case, the light receiving unit 132 recognizes that the liquid crystal drops have fallen.

수광부(132)는 설정된 시간 동안 획득된 수광 신호 파형과 기준 신호 파형과 비교해서 차이가 있으면, 액정 적하 불량으로 인식할 수 있다. The light receiving unit 132 may recognize the liquid crystal dropping failure if there is a difference in comparison with the received signal waveform and the reference signal waveform acquired during the set time.

즉, 설정된 시간 동안, 노즐(111)로부터 떨어지는 한 방울의 액정 적하량이 정량보다 적거나 많은 불량인 경우, 불량인 액정 방울의 형상은 정량인 액정 방울의 형상과 차이가 있게 된다. 이에 따라, 불량인 액정 방울에 대해 수광부(132)로부터 획득되는 수광 신호 파형은 정량인 액정 방울에 대해 수광부(132)로부터 획득되는 수광 신호 파형과 차이가 있게 된다. That is, during the set time, if the drop of liquid crystal falling from the nozzle 111 is less than or more than the quantity of defect, the shape of the liquid crystal drop that is defective is different from the shape of the liquid crystal droplet that is the quantity. Accordingly, the received signal waveform obtained from the light receiver 132 with respect to the defective liquid crystal droplet is different from the received signal waveform obtained from the light receiver 132 with respect to the liquid crystal droplet which is defective.

수광부(132)는 정량인 액정 방울에 대해 획득된 수광 신호 파형을 기준 신호 파형으로 저장해 둔다. 수광부(132)는 노즐(111)로부터 떨어지는 액정 방울에 대해 획득된 수광 신호 파형을 기준 신호 파형과 비교해서, 동일하다고 판단된다면, 정량의 액정 방울인 것으로 인식한다. 수광부(132)는 두 파형의 차이 값이 허용 오차 범위를 만족하면 두 파형이 동일하다고 판단한다. The light receiving unit 132 stores the received signal waveform obtained with respect to the liquid crystal droplet as the reference signal waveform. The light receiving unit 132 compares the light receiving signal waveform obtained for the liquid crystal drop falling from the nozzle 111 with the reference signal waveform, and if it is determined to be the same, recognizes that the liquid crystal droplet is a quantitative liquid crystal. The light receiver 132 determines that the two waveforms are the same when the difference value between the two waveforms satisfies the tolerance range.

만일, 수광부(132)는 획득된 수광 신호 파형과 기준 신호 파형을 비교해서 차이가 있다고 판단되면, 불량의 액정 방울인 것으로 인식한다. 수광부(132)는 두 파형의 차이 값이 허용 오차 범위를 벗어나면 두 파형이 다르다고 판단한다. 한편, 수광부(132)는 광을 받아서 전기적 신호로 변환하기만 하고, 변환된 전기적 신호를 처리하는 신호 처리부가 제어부(150)에 구비되는 것도 가능하다. If the light receiving unit 132 compares the obtained light receiving signal waveform with the reference signal waveform and judges that there is a difference, the light receiving unit 132 recognizes that the defective liquid crystal droplet is defective. The light receiver 132 determines that the two waveforms are different when the difference value between the two waveforms is outside the tolerance range. On the other hand, the light receiving unit 132 only receives the light and converts it into an electrical signal, the signal processing unit for processing the converted electrical signal may be provided in the controller 150.

전술한 것처럼, 발광부(131)는 광을 발산하고 수광부(132)는 수광 신호를 처리해서 액정 적하 불량을 검출하므로, 액정 적하 불량은 비접촉 방식으로 검출될 수 있다. 따라서, 액정 적하 불량을 검출하는 과정에서 노즐(111)로부터 적하되는 액정에 아무런 영향이 가해지지 않으므로, 검출 과정에 의한 액정 적하 불량이 발생하지 않을 수 있다. 다른 예로, 불량 검출용 센서(130)는 다른 비접촉 방식인 비전 센서로 이루어지는 것도 가능하다. As described above, since the light emitting unit 131 emits light and the light receiving unit 132 processes the light receiving signal to detect the liquid crystal dropping failure, the liquid crystal dropping failure can be detected in a non-contact manner. Therefore, since no influence is applied to the liquid crystal dropped from the nozzle 111 in the process of detecting the liquid crystal drop failure, the liquid crystal drop failure due to the detection process may not occur. As another example, the failure detecting sensor 130 may be formed of another non-contact vision sensor.

한편, 불량 검출용 센서(130)는 액정 튐 방지 커버(136)를 더 구비할 수 있다. 액정 튐 방지 커버(136)는 노즐(111)로부터 낙하된 액정이 기판(10)에 부딪혀 노즐(111) 쪽으로 다시 튀어서, 발광부(131)와 수광부(132) 사이로 유입되는 것을 방지할 수 있게 한다. 이에 따라, 액정 적하 불량이 정확히 검출될 수 있다. Meanwhile, the defect detection sensor 130 may further include a liquid crystal splash prevention cover 136. The liquid crystal splash prevention cover 136 prevents the liquid crystal dropped from the nozzle 111 to bounce back toward the nozzle 111 by hitting the substrate 10, thereby preventing the liquid crystal from flowing between the light emitting unit 131 and the light receiving unit 132. . Thus, the liquid crystal dropping failure can be detected accurately.

액정 튐 방지 커버(136)는 발광부(131)와 수광부(132)의 하측에 배치되고, 노즐(111)의 하부와 대응되는 부위에 구멍(136a)이 형성된 구조로 이루어질 수 있다. The liquid crystal splash prevention cover 136 may be disposed under the light emitting part 131 and the light receiving part 132, and may have a structure in which a hole 136a is formed in a portion corresponding to the lower part of the nozzle 111.

한편, 보수용 센서(140)는 비전 센서로 이루어져, 도 4a에 도시된 바와 같이, 액정 적하 불량이 검출된 위치(EP)에서 이미지를 획득하고 획득된 이미지를 처리하여, 액정 적하 불량 여부를 판별할 수 있다. 여기서, 보수용 센서(140)는 미스 드롭인 것으로 판단되면, 한 방울의 액정량을 액정 부족량으로 하여 제어부(150)로 출력할 수 있다. 만일, 액정 적하가 종료된 후, 제어부(150)는 미스 드롭만 있는 것으로 인식한다면, 노즐(1111)을 도 4b에 도시된 바와 같이, 미스 드롭이 발생한 위치(EP)로 이동시키고, 노즐(111)로부터 한 방울의 액정량이 토출되게 한다. On the other hand, the repair sensor 140 is composed of a vision sensor, as shown in Figure 4a, to acquire the image at the position (EP) where the liquid crystal drop failure is detected and to process the obtained image, to determine whether the liquid crystal drop failure can do. Here, when it is determined that the repair sensor 140 is a miss drop, the maintenance sensor 140 may output the amount of liquid crystal of one drop to the controller 150 as a lack of liquid crystal. If after the liquid crystal dropping is finished, if the controller 150 recognizes that there is only a miss drop, the control unit 150 moves the nozzle 1111 to the position EP at which the miss drop has occurred, as shown in FIG. 4B, and the nozzle 111. A drop of liquid crystal is discharged from

보수용 센서(140)는 정량미달 드롭 또는 정량초과 드롭인 것으로 판단되면, 획득된 이미지로부터 정량미달 방울 부피 또는 정량초과 방울 부피를 측정한다. 이후, 보수용 센서(140)는 측정 값과 기준 값을 비교해서 액정 부족량 또는 액정 초과량을 계산하여 제어부(150)로 출력할 수 있다. 여기서, 기준 값은 정량 방울 부피 값에 해당한다. If it is determined that the repair sensor 140 is an under-quantity drop or an over-quantity drop, the under-quantity drop volume or over-quantity drop volume is measured from the acquired image. Thereafter, the repair sensor 140 may compare the measured value with the reference value, calculate the amount of liquid crystal shortage or the amount of liquid crystal excess, and output the calculated amount to the controller 150. Here, the reference value corresponds to the volumetric drop volume value.

보수용 센서(140)가 획득된 이미지로부터 정량미달 방울 부피 또는 정량초과 방울 부피를 측정하는 방법은 다양할 수 있다. 측정 방법의 일 예를 설명하면 다음과 같다. 획득된 이미지는 적하된 액정 방울의 표면 높이에 따라 다른 색상 정보를 포함할 수 있다. 이를 이용하여, 보수용 센서(140)는 획득된 이미지의 색상 데이터를 토대로, 적하된 액정 방울의 표면 높이 데이터로 변환한 후, 적하된 액정 방울의 부피를 산출할 수 있다. The method for measuring the subquantitative drop volume or the excess volume of the drop volume from the image obtained by the repair sensor 140 may vary. An example of the measuring method is as follows. The obtained image may include different color information according to the surface height of the dropped liquid crystal droplets. Using this, the repairing sensor 140 may calculate the volume of the dropped liquid crystal droplets after converting the surface height data of the dropped liquid crystal droplets based on the acquired color data of the image.

한편, 미스 드롭 또는 정량미달 드롭이 있은 후, 노즐(111) 끝에 액정이 잔류하기도 한다. 이 경우, 잔류 액정이 후속 적하 과정에서 함께 적하되어 정량초과 드롭이 있을 수 있다. 이처럼 미스 드롭 또는 정량미달 드롭과 정량초과 드롭이 함께 있을 경우, 액정 적하가 종료된 후, 제어부(150)는 입력된 액정 부족량에 액정 초과량을 반영한 값과 설정된 액정 적하량 값을 비교해서 액정 부족량을 산출한다. On the other hand, after the miss drop or under-quantity drop, the liquid crystal may remain at the end of the nozzle 111. In this case, the residual liquid crystals may be dropped together in a subsequent dropping process, and there may be a drop in quantity. When there is a miss drop or under-quantity drop and an over-quantity drop as described above, after the dropping of the liquid crystal is finished, the controller 150 compares the value of the liquid crystal excess amount to the input liquid crystal deficit amount and the set liquid crystal drop amount value. To calculate.

만일, 제어부(150)는 액정이 부족하다고 판단한다면, 노즐(111)을 미스 드롭 또는 정량미달 드롭이 발생한 위치로 이동시키고, 노즐(111)로부터 액정 부족량만큼 액정이 토출되게 한다. If the controller 150 determines that the liquid crystal is insufficient, the controller 150 moves the nozzle 111 to a position where a miss drop or under-quantity drop occurs, and discharges the liquid crystal from the nozzle 111 by the liquid crystal shortage amount.

여기서, 제어부(150)는 미스 드롭 또는 정량미달 드롭이 발생한 위치의 바로 위로 노즐(111)을 이동시켜 액정 적하가 이루어지게 할 수 있다. 다른 예로, 제어부(150)는 미스 드롭 또는 정량미달 드롭이 발생한 위치 옆으로 노즐(111)을 이동시켜 액정 적하가 이루어지게 할 수도 있다. 이 경우, 미스 드롭 또는 정량미달 드롭이 발생한 위치에서 기포가 잔존해 있더라도, 액정이 잔존 기포 위에 바로 적하되지 않고 잔존 기포 옆에 적하될 수 있다. 따라서, 액정이 잔존 기포 위에 적하됨으로 인해, 잔존 기포가 액정층 내에 혼입되는 현상이 방지될 수 있다. Here, the controller 150 may move the nozzle 111 directly above the position where the miss drop or under-quantity drop occurs to allow the liquid crystal dropping to occur. As another example, the controller 150 may move the nozzle 111 next to a position where a miss drop or under-quantity drop occurs so that the liquid crystal drop may be performed. In this case, even if bubbles remain at a position where a miss drop or underquantity drop occurs, the liquid crystal may be dropped next to the remaining bubbles instead of directly dropping on the remaining bubbles. Therefore, since the liquid crystal is dropped on the remaining bubbles, the phenomenon in which the remaining bubbles are mixed in the liquid crystal layer can be prevented.

한편, 보수용 센서(140)는 획득된 이미지와 미리 입력된 이미지들과 비교해서 동일하다고 판단되는 이미지를 추출하고, 추출된 이미지에 해당하는 액정 부족량 또는 액정 초과량을 제어부(150)로 출력할 수 있다. Meanwhile, the repair sensor 140 extracts an image determined to be the same as compared with the acquired image and the previously input images, and outputs the liquid crystal shortage or liquid crystal excess corresponding to the extracted image to the controller 150. Can be.

여기서, 미리 입력된 이미지들은 정량의 액정 방울에 대한 이미지를 기준으로, 액정 부족량 또는 액정 초과량이 설정된 이미지들이다. 그리고, 보수용 센서(140)는 비교 대상인 두 이미지들의 차이가 허용 오차 범위를 만족하면 두 이미지들이 서로 동일하다고 판단한다. 한편, 보수용 센서(140)는 이미지를 획득하기만 하고, 획득된 이미지를 처리하는 이미지 처리부가 제어부(150)에 구비되는 것도 가능하다. Here, the pre-input images are images in which the amount of liquid crystal shortage or the amount of liquid crystal excess is set based on the image of the liquid crystal drop of quantity. In addition, the repair sensor 140 determines that the two images are the same when the difference between the two images to be compared satisfies the tolerance range. Meanwhile, the repair sensor 140 only acquires an image, and the image processing unit for processing the acquired image may be provided in the controller 150.

본 발명은 기판 위에 액정 적하가 종료된 후, 액정 적하 불량을 보수할 필요가 있는 분야에 적용될 수 있다. INDUSTRIAL APPLICABILITY After the liquid crystal dropping is finished on the substrate, the present invention can be applied to a field in which it is necessary to repair the liquid crystal dropping failure.

Claims (9)

적재된 기판에 대해 상대 이동하는 적어도 하나의 노즐; At least one nozzle moving relative to the loaded substrate; 상기 노즐로부터 상기 기판 위에 액정이 방울져 떨어지도록 상기 노즐로 액정을 공급하는 액정 공급부; A liquid crystal supply unit supplying liquid crystals to the nozzles such that liquid crystals drop from the nozzles onto the substrate; 상기 노즐이 이동하면서 상기 액정 공급부에 의해 액정 적하가 진행되는 동안, 상기 노즐의 하측에서 액정 적하 불량 여부 및 불량 위치를 검출하는 불량 검출용 센서; A defect detection sensor that detects whether a liquid crystal drop is defective and a defective position at the lower side of the nozzle while the liquid crystal is dropped by the liquid crystal supply unit while the nozzle is moved; 액정 적하가 종료된 후, 상기 불량 검출용 센서에 의해 액정 적하 불량이 검출된 위치로 이동해서, 액정 적하 불량인지 여부를 판별함과 아울러, 액정 부족량을 산출하는 보수용 센서; 및 A maintenance sensor which moves to a position where the liquid crystal dropping defect is detected by the failure detecting sensor after the liquid crystal dropping is finished, and determines whether the liquid crystal dropping defect is defective and calculates the amount of liquid crystal shortage; And 상기 보수용 센서에 의해 산출된 액정 부족량만큼 상기 노즐로부터 액정 적하가 이루어지도록 상기 액정 공급부를 제어하는 제어부; A control unit which controls the liquid crystal supply unit such that liquid crystal dropping occurs from the nozzle by the amount of liquid crystal shortage calculated by the repairing sensor; 를 구비하는 액정 적하 장치. Liquid crystal dropping device having a. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 불량 검출용 센서는 레이저 센서로 이루어지고, The defect detection sensor is made of a laser sensor, 상기 레이저 센서는 발산한 레이저 광이 상기 노즐의 하측을 통과하도록 배치된 발광부와, 상기 발광부로부터 발산한 광을 받아 수광 신호를 처리하는 수광부를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. And the laser sensor includes a light emitting portion arranged so that the emitted laser light passes through the lower side of the nozzle, and a light receiving portion which receives light emitted from the light emitting portion and processes a light receiving signal. 제 2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 수광부는 상기 노즐이 액정 적하 위치로 이동한 시점부터 어느 한 시점까지 설정된 시간 동안 획득된 수광 신호가 일정한 값을 갖는다고 판단하거나, 획득된 수광 신호 파형과 기준 신호 파형과 비교해서 차이가 있다고 판단되면, 액정 적하 불량으로 인식하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. The light receiving unit determines that the received light signal has a constant value for a predetermined time from the time when the nozzle is moved to the liquid crystal dropping position, or the difference is compared with the obtained light receiving signal waveform and the reference signal waveform. And a liquid crystal dropping device, the liquid crystal dropping device being recognized. 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 보수용 센서는 비전 센서로 이루어져, 액정 적하 불량이 검출된 위치에서 이미지를 획득하고 획득된 이미지를 처리하여, 액정 적하 불량 여부를 판별하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. The repair sensor is a liquid crystal dropping device comprising a vision sensor, to obtain an image at the position where the liquid crystal drop failure is detected and to process the obtained image, to determine whether the liquid crystal drop failure. 제 4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 보수용 센서는 미스 드롭(miss drop)인 것으로 판단되면, 한 방울의 액정량을 액정 부족량으로 하여 상기 제어부로 출력하고; If it is determined that the repair sensor is a miss drop, outputting one drop of liquid crystal as an insufficient liquid crystal to the controller; 상기 보수용 센서는 정량미달 드롭 또는 정량초과 드롭인 것으로 판단되면, 획득된 이미지로부터 정량미달 방울 부피 또는 정량초과 방울 부피를 측정한 후, 측정 값과 기준 값을 비교해서 액정 부족량 또는 액정 초과량을 계산하여 상기 제어부로 출력하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. If it is determined that the repair sensor is an under-quantity drop or an over-quantity drop, the under-quantity drop volume or over-quantity drop volume is measured from the acquired image, and then the measured value and the reference value are compared to determine the amount of liquid crystal deficiency or liquid crystal excess. The liquid crystal dropping apparatus, which is calculated and output to the control unit. 제 5항에 있어서, The method of claim 5, 미스 드롭 또는 정량미달 드롭과 정량초과 드롭이 함께 있을 경우, If you have a miss drop or under drop drop and an over drop drop, 상기 제어부는 입력된 액정 부족량에 액정 초과량을 반영한 값과 설정된 액정 적하량 값을 비교해서 액정 부족이라 판단되면 액정 부족량을 산출하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치.And the control unit compares a value reflecting the liquid crystal excess amount to the input liquid crystal deficit amount and the set liquid crystal drop amount value, and calculates the liquid crystal shortage amount when it is determined that the liquid crystal is insufficient. 제 4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 보수용 센서는 획득된 이미지와 미리 입력된 이미지들과 비교해서 동일하다고 판단되는 이미지를 추출하고, 추출된 이미지에 해당하는 액정 부족량 또는 액정 초과량을 상기 제어부로 출력하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. The repair sensor extracts an image which is determined to be the same as compared with the acquired image and the previously input images, and outputs a liquid crystal shortage or liquid crystal excess corresponding to the extracted image to the controller. Device. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 미스 드롭 또는 정량미달 드롭과 정량초과 드롭이 함께 있을 경우, If you have a miss drop or under drop drop and an over drop drop, 상기 제어부는 입력된 액정 부족량에 액정 초과량을 반영한 값과 설정된 액정 적하량 값을 비교해서 액정 부족이라 판단되면 액정 부족량을 산출하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. And the control unit compares a value reflecting the liquid crystal excess amount to the input liquid crystal deficit amount and the set liquid crystal drop amount value, and calculates the liquid crystal shortage amount when it is determined that the liquid crystal is insufficient. 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 제어부는 액정 적하 불량이 검출된 위치의 바로 위나 그 옆으로 상기 노즐을 이동시켜 액정 적하가 이루어지게 하는 것을 특징으로 하는 액정 적하 장치. The control unit is a liquid crystal dropping device, characterized in that the liquid crystal dropping is made by moving the nozzle directly above or next to the position where the liquid crystal dropping failure is detected.
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