KR101775125B1 - Method and device for inspecting injection condition of liquid crystal - Google Patents

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Abstract

본 발명은 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 변화되는 액정셀의 눌림량을 통해 액정의 주입 상태를 검사할 수 있는 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 관한 것이다.
이를 위해 액정 주입 상태 검사방법은 액정셀에 기설정된 가압력을 제공하는 가압단계와, 가압단계를 거쳐 기설정된 가압력이 제공되는 가압위치에서 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정단계와, 액정셀의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교하는 검사단계를 포함한다. 검사단계를 거쳐 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 검사단계를 거쳐 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.The present invention relates to a liquid crystal injection state inspection method which can check an injection state of a liquid crystal through a pressing amount of a liquid crystal cell which is changed by locally pressing a liquid crystal cell injected with liquid crystal between an upper substrate and a lower substrate, ≪ / RTI >
To this end, a method for inspecting a liquid crystal injection state includes: a pressing step of providing a predetermined pressing force to a liquid crystal cell; a measurement step of measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at a pressing position where a predetermined pressing force is provided through a pressing step; And comparing the amount of the reference deformation with a predetermined reference deformation amount. If the amount of the liquid crystal cell to be pressed is within the error range of the predetermined reference strain amount through the inspection step, it is determined that the liquid crystal is normally injected. If the amount of the liquid crystal cell to be pressed exceeds the error range of the predetermined reference strain amount through the inspection step, It is determined that the injection state of the fuel injection valve 10 is defective.

Description

액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치{METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING INJECTION CONDITION OF LIQUID CRYSTAL}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a method of inspecting a liquid crystal injection state,

본 발명은 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 변화되는 액정셀의 눌림량을 통해 액정의 주입 상태를 검사할 수 있는 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a liquid crystal injection state inspection method and an apparatus for inspecting a liquid crystal injection state, and more particularly, To a liquid crystal injection state inspecting method and an apparatus for inspecting a liquid crystal injection state which can inspect liquid crystal injection state.

일반적으로, 액정 디스플레이(LCD: Liquid Crystal Display) 장치들은 광원 및 액정셀을 포함하고, 액정의 복굴절 특성을 이용하여 광의 전달을 제어함으로써, 다양한 이미지들을 표시한다. 액정셀을 만드는 프로세스에서, 액정 물질이 기판 상에 산포되고, 다른 기판이 그 위에 덮히는 기술이 제공되고 있다. 이러한 기술은 액정셀을 형성하는 프로세스의 단계들을 매우 감소시키고 제조 효율을 개선한다.Generally, liquid crystal display (LCD) devices include a light source and a liquid crystal cell, and use a birefringence characteristic of a liquid crystal to control transmission of light to display various images. In the process of making a liquid crystal cell, a technique has been provided in which a liquid crystal material is scattered on a substrate, and another substrate is covered thereon. This technique greatly reduces the steps of the process of forming the liquid crystal cell and improves the manufacturing efficiency.

특히, 원 드롭 필(ODF: One Drop Fill) 방법은 다음 단계들을 포함한다. 우선, 밀봉 부재를 형성하기 위하여 밀폐제가 한 쌍의 기판들 중 하나의 전체 주변에 발라진 후, 액정 물질이 기판쌍 중 하나에 산포된다. 산포 단계 이후에, 한 기판이 다른 기판 위에 겹쳐 놓아진 후, 밀봉 부재가 경화된다.In particular, the One Drop Fill (ODF) method includes the following steps. First, the sealant is applied to the entire periphery of one of the pair of substrates to form the sealing member, and then the liquid crystal material is scattered on one of the pair of substrates. After the scattering step, after one substrate is superimposed on another substrate, the sealing member is cured.

이러한 원 드롭 필(ODF) 방법은 종래의 진공 주입 방법에 비해 액정 물질의 사용량 및 액정 물질의 주입 시간을 감소시켜 액정셀의 제조 비용을 상당히 감소시킬 수 있고, 수율을 개선시킨다.The ODF method reduces the amount of the liquid crystal material and the injection time of the liquid crystal material compared with the conventional vacuum injection method, thereby significantly reducing the manufacturing cost of the liquid crystal cell and improving the yield.

이때, 유리기판의 두께가 얇아지고, 유리기판의 면적이 대형화되며, 액정셀에서의 해상도가 높아짐에 따라 액정셀의 구동 불량을 방지하기 위해 액정의 주입 상태 검사는 더욱 중요한 요소로 작용하게 된다.At this time, as the thickness of the glass substrate becomes thinner, the area of the glass substrate becomes larger, and as the resolution of the liquid crystal cell becomes higher, inspection of the liquid crystal injection state becomes more important factor to prevent the driving failure of the liquid crystal cell.

대한민국 등록특허공보 제10-0279260호(발명의 명칭 : 액정 셀의 액정 주입 및 액정주입구 봉입검사 시스템, 2000. 01. 15. 공고)Korean Patent Registration No. 10-0279260 (entitled Liquid Crystal Injection and Liquid Crystal Inlet Filling Inspection System for Liquid Crystal Cell, 2000. 01. 15. Announcement)

본 발명의 목적은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 변화되는 액정셀의 눌림량을 통해 액정의 주입 상태를 검사할 수 있는 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device capable of inspecting an injection state of a liquid crystal through a pressing amount of a liquid crystal cell which is changed by locally pressing a liquid crystal cell injected with liquid crystal between an upper substrate and a lower substrate A liquid crystal injection state inspection method and an apparatus for inspecting liquid crystal injection state.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사방법이고, 상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압단계; 상기 가압단계를 거치면서 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정단계; 및 상기 액정셀의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교하는 검사단계;를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a liquid crystal injection state, including: injecting a liquid crystal into a liquid crystal cell between a top substrate and a bottom substrate, A pressing step of pressing the pressing position of the liquid crystal cell at a preset pressing force; A measuring step of measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at the pressing position while the pressing step is performed; And an inspection step of comparing a pressing amount of the liquid crystal cell with a predetermined reference deformation amount.

여기서, 상기 검사단계는, 상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.If it is determined that the liquid crystal has been injected normally and the amount of pressing of the liquid crystal cell is out of the predetermined error range of the reference deformation amount , It is determined that the injection state of the liquid crystal is defective.

본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 위치조정단계;를 더 포함한다.The method of inspecting a liquid crystal injection state according to the present invention further includes a position adjusting step of changing the pressing position in the liquid crystal cell.

여기서, 상기 측정단계는, 상기 가압단계와 더불어 상기 가압위치가 가압될 때, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정하는 제1측정단계; 상기 가압단계에 앞서, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서의 상기 액정셀의 표면 위치를 측정하는 제2측정단계; 및 상기 제1측정단계에서의 측정값과 상기 제2측정단계에서의 측정값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산단계;를 포함한다.Here, the measuring step may include: a first measuring step of measuring a recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed together with the pressing step; A second measuring step of measuring a surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position prior to the pressing step; And a displacement calculating step of calculating a pressing amount of the liquid crystal cell by a difference between the measured value in the first measuring step and the measured value in the second measuring step.

본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사장치이고, 상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압유닛; 상기 가압유닛이 가압하는 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정유닛; 및 상기 액정셀의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교하는 검사유닛;을 포함한다.The apparatus for inspecting a liquid crystal injection state according to the present invention is an apparatus for inspecting a liquid crystal injection state of a liquid crystal cell in which a liquid crystal is injected between an upper substrate and a lower substrate and inspects the liquid crystal injection state of the liquid crystal cell, A pressurizing unit which pressurizes; A measuring unit for measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at the pressing position where the pressing unit is pressed; And an inspection unit comparing the amount of pressing of the liquid crystal cell with a predetermined reference deformation amount.

여기서, 상기 검사유닛은, 상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.Here, when the amount of the liquid crystal cell to be pressed is within the error range of the predetermined reference strain amount, the inspection unit determines that the liquid crystal is normally injected, and when the amount of pressing of the liquid crystal cell is out of the error range of the preset reference strain amount , It is determined that the injection state of the liquid crystal is defective.

본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 측정제어부;를 더 포함한다.The apparatus for inspecting a liquid crystal injection state according to the present invention further includes a measurement controller for changing the pressure position in the liquid crystal cell.

여기서, 상기 측정유닛은, 상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되고, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정부; 상기 액정셀의 상측에서 상기 가압위치에 대응하여 상기 측정부와 상기 가압유닛을 이동시키는 위치조정부; 및 상기 가압위치가 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산부;를 포함한다.Here, the measurement unit may include: a measurement unit arranged at an upper side of the liquid crystal cell, for measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at the pressing position; A position adjusting unit for moving the measuring unit and the pressing unit corresponding to the pressing position from above the liquid crystal cell; And a measuring unit for measuring a recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed and a value obtained by measuring the surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position And a displacement gauging unit for calculating a pressing amount of the liquid crystal cell by a difference of one value.

여기서, 상기 측정유닛은, 상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되고, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정부; 상기 액정셀의 상측에서 상기 가압위치에 대응하여 상기 측정부를 이동시키는 위치조정부; 및 상기 가압위치가 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산부;를 포함하고, 상기 가압유닛은, 다수의 상기 가압위치에 대응하여 상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되는 측정지지부에 상호 이격된 상태로 결합된다.Here, the measurement unit may include: a measurement unit arranged at an upper side of the liquid crystal cell, for measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at the pressing position; A position adjusting unit for moving the measuring unit from the upper side of the liquid crystal cell to the pressing position; And a measuring unit for measuring a recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed and a value obtained by measuring the surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position And a displacement gauge part for calculating a pressing amount of the liquid crystal cell by a difference of one value, wherein the pressing unit includes a plurality of pressure holding parts which are spaced apart from each other by a measurement supporting part spaced upward from the liquid crystal cell Lt; / RTI >

여기서, 상기 측정유닛은, 상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되는 측정지지부; 다수의 상기 가압위치에 대응하여 상기 측정지지부에 상호 이격된 상태로 결합되고, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 다수의 측정부; 및 상기 가압위치가 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산부;를 포함하고, 상기 가압유닛은, 다수의 상기 가압위치에 대응하여 다수개가 상기 측정부와 함께 상기 측정지지부에 상호 이격된 상태로 결합되거나, 다수의 상기 가압위치에 대응하여 위치조정부를 통해 상기 액정셀의 상측에서 이동된다.Here, the measurement unit may include: a measurement supporting part disposed above the liquid crystal cell; A plurality of measurement units coupled to the measurement support unit so as to be spaced apart from each other in correspondence to the plurality of pressure application positions and measuring the amount of pressing of the liquid crystal cell at the pressure application position; And a measuring unit for measuring a recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed and a value obtained by measuring the surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position And a displacement gauging unit for calculating a pressing amount of the liquid crystal cell by a difference of a predetermined value, wherein the pressing unit includes a plurality of pressure gauges corresponding to the plurality of pressure gauges, Or moved from the upper side of the liquid crystal cell through the position adjusting unit corresponding to a plurality of the pressing positions.

본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 따르면, 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 변화되는 액정셀의 눌림량을 통해 액정의 주입 상태를 검사할 수 있다.According to the liquid crystal injection state inspecting method and the liquid crystal injection state inspecting apparatus according to the present invention, the amount of liquid crystal injected through the liquid crystal cell, which is changed by locally pressing the liquid crystal cell injected between the upper substrate and the lower substrate, . ≪ / RTI >

또한, 본 발명은 액정셀의 가압위치를 변경하면서 기설정된 가압력에 따라 변화되는 액정셀의 눌림량을 측정할 수 있고, 액정셀의 전체 표면에 대하여 액정의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다.In addition, the present invention can measure the pressing amount of the liquid crystal cell which changes according to a predetermined pressing force while changing the pressing position of the liquid crystal cell, and can confirm the uniform injection state of the liquid crystal with respect to the entire surface of the liquid crystal cell.

또한, 본 발명은 액정셀의 가압 전후에 대한 액정셀의 표면 위치를 측정함으로써, 액정셀의 표면이 평면 형태가 될 때는 물론 곡면 형태가 되어도 액정의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다.Further, by measuring the surface position of the liquid crystal cell before and after the pressurization of the liquid crystal cell, the liquid crystal cell can be uniformly injected even when the surface of the liquid crystal cell has a planar shape or a curved shape.

특히, 본 발명은 평면 형태의 액정셀에 대하여 액정셀의 눌림량 측정을 간소화하고, 액정의 주입 상태를 신속하게 검사할 수 있다.Particularly, the present invention simplifies the measurement of the amount of pressing of the liquid crystal cell with respect to the planar liquid crystal cell, and can promptly check the injection state of the liquid crystal.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따라 액정셀에 액정이 주입된 상태를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에서 가압위치에서의 액정셀의 표면 위치 변화를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 변형예를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 도시한 도면이다.1 is a view showing a state in which liquid crystal is injected into a liquid crystal cell according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view showing a change in surface position of a liquid crystal cell at a pressing position in the liquid crystal injection state inspection method and the liquid crystal injection state inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a view illustrating an apparatus for inspecting a liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention.
4 is a view showing a modification of the liquid crystal injection state testing apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 is a view illustrating a method of inspecting a liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치의 일 실시예를 설명한다. 이때, 본 발명은 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 대해 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명확하게 하기 위해 생략될 수 있다.Hereinafter, embodiments of a liquid crystal injection state inspection method and an apparatus for inspecting liquid crystal injection state according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Here, the present invention is not limited or limited by the examples. Further, in describing the present invention, a detailed description of well-known functions or constructions may be omitted for clarity of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따라 액정셀에 액정이 주입된 상태를 나타내는 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에서 가압위치에서의 액정셀의 표면 위치 변화를 나타내는 도면이다.FIG. 1 is a view illustrating a state in which a liquid crystal is injected into a liquid crystal cell according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal injection state inspection method and the liquid crystal injection state inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Of the liquid crystal cell.

도 1과 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에서 액정셀(SG)은 상부기판(GT)과 하부기판(GB)이 다수의 메인스페이서(MC)에 의해 일정 간격으로 이격되고, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에 액정(LC)을 주입하여 완성된다. 이때, 상기 메인스페이서(MC) 사이에는 서브스페이서(SC)가 구비되어 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이의 이격 상태를 보완할 수 있다.1 and 2, in an embodiment of the present invention, the upper substrate GT and the lower substrate GB of the liquid crystal cell SG are separated by a plurality of main spacers MC at regular intervals, And is completed by injecting a liquid crystal (LC) between the upper substrate GT and the lower substrate GB. At this time, a sub-spacer SC is provided between the main spacers MC to compensate the gap between the upper substrate GT and the lower substrate GB.

정상적인 상기 액정(LC)의 주입 상태를 살펴보면, 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이 상기 메인스페이서(MC)의 양단이 각각 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB)에 지지된다. 또한, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에는 별도의 빈공간이 없이 상기 액정(LC)이 충진된다.As shown in FIG. 1 (a), both ends of the main spacer MC are supported on the upper substrate GT and the lower substrate GB, respectively. In addition, the liquid crystal LC is filled between the upper substrate GT and the lower substrate GB without a separate empty space.

정상을 초과하는 상기 액정(LC)의 주입 상태를 살펴보면, 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 상기 메인스페이서(MC)의 일단은 상기 하부기판(GB)에 지지되지만, 상기 메인스페이서(MC)의 타단은 상기 액정(LC)의 과다 주입으로 인해 상기 상부기판(GT)에서 이격된다. 이때, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에는 별도의 빈공간이 없으나, 상기 메인스페이서(MC)의 타단과 상기 상부기판(GT) 사이에도 상기 액정(LC)이 충진될 수 있다.One end of the main spacer MC is supported on the lower substrate GB as shown in FIG. 1 (b), but the main spacer MC Is spaced apart from the upper substrate GT due to excessive injection of the liquid crystal LC. At this time, there is no separate space between the upper substrate GT and the lower substrate GB, but the liquid crystal LC may be filled between the other end of the main spacer MC and the upper substrate GT have.

정상보다 적은 상기 액정(LC)의 주입 상태를 살펴보면, 도 1의 (c)에 도시된 바와 같이 상기 메인스페이서(MC)의 양단이 각각 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB)에 지지된다. 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에 상기 액정(LC)이 충진되지만, 상기 액정(LC)의 주입량 부족으로 인해 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에는 빈공간이 형성될 수 있다.As shown in FIG. 1C, both ends of the main spacer MC are supported on the upper substrate GT and the lower substrate GB, respectively, do. The liquid crystal LC is filled between the upper substrate GT and the lower substrate GB but a gap is formed between the upper substrate GT and the lower substrate GB due to insufficient injection amount of the liquid crystal LC. A space can be formed.

후술하는 가압유닛(10)이 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 액정셀(SG)을 가압하는 경우, 상기 액정셀(SG)은 가압력(Pp)에 의해 움푹 들어가는 현상이 나타난다.When the pressing unit 10 described later presses the liquid crystal cell SG with a predetermined pressing force Pp, the liquid crystal cell SG appears to be depressed by the pressing force Pp.

일예로, 정상적인 상기 액정(LC)의 주입 상태에서는 상기 가압위치(P)에 따라 미차가 있을 수 있으나, 상기 액정셀(SG)의 눌림량(Pa)은 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재한다.For example, in a normal injection state of the liquid crystal LC, there may be a difference depending on the pressing position P, but the pressing amount Pa of the liquid crystal cell SG is within an error range of a predetermined reference deformation amount .

여기서, Pa는 후술하는 가압유닛(10)이 상기 가압위치(P)를 가압할 때, 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)이 움푹 들어간 부분이고, Pb는 상기 가압위치(P)를 가압하기 전에 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 표면 위치이다.Here, Pa is a depressed portion of the liquid crystal cell SG at the pressing position P and Pb is a depressed portion at the pressing position P when the pressing unit 10, which will be described later, presses the pressing position P, Is the surface position of the liquid crystal cell (SG) at the pressure position (P) before the liquid crystal cell (SG) is pressed.

다시 말해, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입된 상태라면, 도 2의 (a)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량(Pa-Pb)은 기설정된 기준변형량의 최대값(Ph)과 같거나 작고, 기설정된 기준변형량의 최소값(Ps)과 같거나 큰 값을 나타낸다.In other words, if the liquid crystal LC is normally injected, the pressing amount Pa-Pb of the liquid crystal cell SG at the pressing position P as shown in FIG. 2 (a) Is equal to or smaller than the maximum value Ph of the reference deformation amount, and is equal to or larger than the minimum value Ps of the predetermined reference deformation amount.

하지만, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량(Pa-Pb)은 기설정된 기준변형량의 최대값(Ph)보다 큰 값을 나타낸다. 또한, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 2의 (c)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량(Pa-Pb)은 기설정된 기준변형량의 최소값(Ps)보다 작은 값을 나타낸다.If the liquid crystal LC is in an injected state exceeding the normal state or the liquid crystal LC is injected less than the normal state, as shown in FIG. 2 (b) (Pa-Pb) of the load SG is larger than the maximum value Ph of the predetermined reference deformation amount. If the liquid crystal LC is in an injected state exceeding the normal state or the liquid crystal LC is injected less than the normal state, as shown in FIG. 2C, (Pa-Pb) of the load SG is smaller than the minimum value Ps of the predetermined reference deformation amount.

상술한 설명에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량은 상기 가압위치(P)가 가압될 때 상기 가압위치(P)에서 후술하는 측정유닛(30)이 상기 액정셀(SG)의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치(P)를 가압하기 전에 상기 가압위치(P)에서 상기 측정유닛(30)이 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 계산한다.The pressing amount of the liquid crystal cell SG in the above description is set such that the measuring unit 30 described later at the pressing position P when the pressing position P is pressed against the recessed portion of the liquid crystal cell SG And calculates the difference between the measured value and the measured value of the surface position of the liquid crystal cell SG at the pressing position P before the pressing position P is pressed.

이와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정(LC)의 주입 상태에 따라 상기 액정셀(SG)의 눌림량에 차이가 발생하는 것을 이용한다. 본 발명의 일 실시예에서는 액정 주입 상태 검사장치를 먼저 설명하고, 이것을 이용하여 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 설명하기로 한다.As described above, according to the liquid crystal injection state inspecting method and the liquid crystal injection state inspecting apparatus according to an embodiment of the present invention, a difference in the amount of pressing of the liquid crystal cell SG varies depending on the injection state of the liquid crystal LC. In an embodiment of the present invention, a liquid crystal injection state checking apparatus will be described first, and a liquid crystal injection state checking method according to an embodiment of the present invention will be described.

지금부터는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치에 대하여 설명한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치를 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 변형예를 도시한 도면이다.Hereinafter, an apparatus for inspecting liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 is a view showing an apparatus for inspecting a liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a view showing a modification of the liquid crystal injection state inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다.Referring to FIGS. 1 to 4, an apparatus for inspecting a liquid crystal injection state according to an exemplary embodiment of the present invention can check the injection state of the liquid crystal LC by measuring a pressing amount of the liquid crystal cell SG.

본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 가압유닛(20)과, 측정유닛(30)과, 검사유닛(40)을 포함한다.The apparatus for inspecting a liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention includes a pressure unit 20, a measurement unit 30, and an inspection unit 40.

상기 가압유닛(20)은 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압한다. 일예로, 상기 가압유닛(20)은 간접 가압 방식으로써, 상기 가압위치(P)에 유체를 분사하는 다양한 형태의 분사장치를 포함할 수 있다. 다른 예로, 상기 가압유닛(20)은 직접 가압 방식으로써, 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 가압위치(P)를 가압하는 팁이 구비된 다양한 형태의 압력장치를 포함할 수 있다. 상기 가압유닛(20)은 상기 가압위치(P)를 계속 가압하는 것이 아니고, 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 가압위치(P)를 일정 시간만 가압하는 것이 바람직하다.The pressing unit 20 presses the pressing position P of the liquid crystal cell SG to a preset pressing force Pp. For example, the pressurizing unit 20 may include various types of injectors for injecting fluid to the pressurization position P as indirect pressurization. As another example, the pressurizing unit 20 may include various types of pressure devices having a tip which presses the pressurizing position P with a predetermined pressing force Pp in a direct pressurizing manner. It is preferable that the pressing unit 20 does not pressurize the pressing position P but press the pressing position P for a predetermined time with a predetermined pressing force Pp.

상기 가압유닛(20)은 후술하는 가압단계(S2)를 수행하는 데 이용될 수 있다.The pressurizing unit 20 can be used to carry out the pressing step S2 described later.

상기 측정유닛(30)은 상기 가압유닛(20)이 가압하는 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정한다. 여기서, 상기 측정유닛(30)을 한정하는 것은 아니고, 간섭계, 카메라 등과 같은 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정할 수 있다.The measurement unit 30 measures a pressing amount of the liquid crystal cell SG at the pressing position P at which the pressing unit 20 presses. Here, the measurement unit 30 is not limited, and the pressing amount of the liquid crystal cell SG at the pressing position P can be measured through various forms such as an interferometer, a camera, and the like.

상기 측정유닛(30)은 후술하는 측정단계(S3)를 수행하는 데 이용될 수 있다.The measurement unit 30 may be used to perform the measurement step S3 described below.

일예로, 상기 측정유닛(30)은 측정부(31)와, 위치조정부(32)와, 변위계산부(33)를 포함할 수 있다.For example, the measurement unit 30 may include a measurement unit 31, a position adjustment unit 32, and a displacement measurement unit 33.

상기 측정부(31)는 상기 액정셀(SG)의 상측으로 이격 배치된다. 상기 측정부(31)는 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀*SG)의 눌림량을 측정한다. 상기 측정부(31)는 간섭계, 카메라 등과 같은 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정할 수 있다.The measuring unit 31 is disposed above the liquid crystal cell SG. The measuring unit 31 measures the amount of pressing of the liquid crystal cell * SG at the pressing position (P). The measuring unit 31 may measure the amount of pressing of the liquid crystal cell SG at the pressing position P through various forms such as an interferometer, a camera, and the like.

상기 측정부(31)는 후술하는 측정단계(S3)를 수행하는 데 이용될 수 있다.The measurement unit 31 may be used to perform the measurement step S3 described later.

상기 위치조정부(32)는 상기 액정셀(SG)의 상측에서 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 이동시킨다. 상기 위치조정부(32)는 여기에 한정하는 것은 아니고, 다양한 형태를 통해 상기 측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 이동시킬 수 있다.The position adjusting unit 32 moves the measuring unit 31 and the pressing unit 20 corresponding to the pressing position P from above the liquid crystal cell SG. The position adjusting unit 32 is not limited to this, and the measuring unit 31 and the pressing unit 20 can be moved through various forms.

상기 변위계산부(33)는 상기 가압위치(P)가 가압될 때 상기 가압위치(P)에서 상기 측정부(31)가 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정한 값과, 상기 가압위치(P)를 가압하기 전에 상기 가압위치(P)에서 상기 측정부(31)가 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 계산한다.The displacement gauging part 33 calculates the displacement of the liquid crystal cell SG by measuring the surface position of the liquid crystal cell SG at the pressing position P when the pressing position P is pressed, The pressing amount of the liquid crystal cell SG is calculated by the difference between the measured value of the surface position of the liquid crystal cell SG at the pressing position P before the measuring unit 31 presses the liquid crystal cell SG.

이때, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시키는 측정제어부(35)를 더 포함할 수 있다. 그러면, 상기 측정제어부(35)는 상기 위치조정부(32)를 동작시켜 상기 측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 해당 가압위치(P)로 이동시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.The apparatus for inspecting the liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention may further include a measurement control unit 35 for changing the pressing position P in the liquid crystal cell SG. The measurement control unit 35 operates the position adjusting unit 32 to move the measuring unit 31 and the pressing unit 20 to the pressing position P so that the liquid crystal cell SG The pressing position P can be changed.

다른 예로, 상기 측정유닛(30)은 상기 측정부(31)와, 상기 위치조정부(32)와, 상기 변위계산부(33)를 포함할 수 있다. 다만, 상기 위치조정부(32)는 상기 측정부(31)만을 이동시킨다. 이에 따라, 상기 가압유닛(20)은 다수의 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 액정셀(SG)의 상측으로 이격 배치되는 측정지지부(34)에 상호 이격된 상태로 결합되도록 한다.As another example, the measuring unit 30 may include the measuring unit 31, the position adjusting unit 32, and the displacement measuring unit 33. However, the position adjusting unit 32 moves only the measuring unit 31. Accordingly, the pressing unit 20 is spaced apart from the measurement supporting part 34, which is spaced apart from the liquid crystal cell SG, corresponding to the plurality of pressing positions P.

이때, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시키는 측정제어부(35)를 더 포함할 수 있다. 그러면, 상기 측정제어부(35)는 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 측정지지부(34)에 지지된 상기 가압유닛(20)을 동작시키고, 상기 위치조정부(32)를 동작시켜 상기 측정부(31)를 해당 가압위치(P)로 이동시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.The apparatus for inspecting the liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention may further include a measurement control unit 35 for changing the pressing position P in the liquid crystal cell SG. The measurement control unit 35 operates the pressure unit 20 supported by the measurement support unit 34 corresponding to the pressurization position P and operates the position adjustment unit 32 to move the measurement unit 31) to the pressurization position (P), it is possible to change the pressurization position (P) in the liquid crystal cell (SG).

또 다른 예로, 상기 측정유닛(30)은 측정지지부(34)와, 측정부(31)와, 변위계산부(33)를 포함할 수 있다.As another example, the measurement unit 30 may include a measurement support 34, a measurement unit 31, and a displacement measurement unit 33.

상기 측정지지부(34)는 상기 액정셀(SG)의 상측으로 이격 배치된다.The measurement support part 34 is disposed above the liquid crystal cell SG.

상기 측정부(31)는 다수의 상기 가압위치(P)에 대응하여 다수 개가 상기 측정지지부(34)에 상호 이격된 상태로 결합된다. 상기 측정부(31)는 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정한다. 상기 측정부(31)는 간섭계, 카메라 등과 같은 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정할 수 있다.A plurality of the measurement units 31 are coupled to the measurement support unit 34 in a state where the measurement support units 34 are spaced apart from each other corresponding to the plurality of pressure positions P. The measuring unit 31 measures the amount of pressing of the liquid crystal cell SG at the pressing position P. [ The measuring unit 31 may measure the amount of pressing of the liquid crystal cell SG at the pressing position P through various forms such as an interferometer, a camera, and the like.

상기 변위계산부(33)는 상기 가압위치(P)가 가압될 때 상기 가압위치(P)에서 상기 측정부(31)가 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정한 값과, 상기 가압위치(P)를 가압하기 전에 상기 가압위치(P)에서 상기 측정부(31)가 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 계산한다.The displacement gauging part 33 calculates the displacement of the liquid crystal cell SG by measuring the surface position of the liquid crystal cell SG at the pressing position P when the pressing position P is pressed, The pressing amount of the liquid crystal cell SG is calculated by the difference between the measured value of the surface position of the liquid crystal cell SG at the pressing position P before the measuring unit 31 presses the liquid crystal cell SG.

이에 따라, 상기 가압유닛(20)은, 다수의 상기 가압위치(P)에 대응하여 다수개가 상기 측정부(31)와 함께 상기 측정지지부(34)에 상호 이격된 상태로 결합될 수 있다. 그러면, 상기 측정제어부(35)는 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 측정지지부(34)에 지지된 상기 측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 동작시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.Accordingly, a plurality of the pressing units 20 can be coupled to the measurement supporting unit 34 with the measuring unit 31 being spaced apart from each other corresponding to a plurality of the pressing positions P, respectively. The measurement control unit 35 operates the measuring unit 31 and the pressing unit 20 supported by the measurement support unit 34 corresponding to the pressing position P so that the liquid crystal cell SG, The pressing position P can be changed.

또한, 상기 가압유닛(20)은 다수의 상기 가압위치(P)에 대응하여 위치조정부(32)를 통해 상기 액정셀(SG)의 상측에서 이동될 수 있다. 그러면, 상기 측정제어부(35)는 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 측정지지부(34)에 지지된 상기 측정부(31)를 동작시키고, 상기 위치조정부(32)를 동작시켜 상기 가압유닛(20)을 해당 가압위치(P)로 이동시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.The pressing unit 20 can be moved from the upper side of the liquid crystal cell SG through the position adjusting unit 32 corresponding to the plurality of pressing positions P. [ The measurement control unit 35 operates the measuring unit 31 supported by the measurement support unit 34 corresponding to the pressing position P and operates the position adjusting unit 32 to move the pressing unit 20 to the corresponding pressing position P, the pressing position P in the liquid crystal cell SG can be changed.

상기 검사유닛(40)은 상기 액정셀(SG)의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교한다.The inspection unit (40) compares the amount of depression of the liquid crystal cell (SG) with a predetermined reference deformation amount.

상기 검사유닛(40)은 후술하는 검사단계(S4)를 수행하는 데 이용될 수 있다.The inspection unit 40 may be used to perform the inspection step S4 described below.

그러면, 상기 검사유닛(40)은 상기 액정셀(SG)의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입되었다고 판단한다. 또한, 상기 검사유닛(40)은 상기 액정셀(SG)의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.Then, the inspection unit 40 determines that the liquid crystal LC is normally injected when the amount of depression of the liquid crystal cell SG is within the error range of the predetermined reference deformation amount. The inspection unit 40 determines that the injection state of the liquid crystal LC is defective when the amount of pressing of the liquid crystal cell SG is out of the error range of the predetermined reference deformation amount.

미설명부호 10은 상기 액정셀(SG)이 안착되는 스테이지이다. 상기 스테이지(10)는 후술하는 배치단계(S1)를 수행하는 데 이용될 수 있다.Reference numeral 10 denotes a stage where the liquid crystal cell SG is seated. The stage 10 can be used to carry out the following placement step S1.

지금부터는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법에 대하여 설명한다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 도시한 도면이다.Hereinafter, a liquid crystal injection state inspection method according to an embodiment of the present invention will be described. 5 is a view illustrating a method of inspecting a liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다.Referring to FIGS. 1 to 5, the method for inspecting the liquid crystal injection state according to an embodiment of the present invention can check the injection state of the liquid crystal LC by measuring a pressing amount of the liquid crystal cell SG.

본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 가압단계(S2)와, 측정단계(S3)와, 검사단계(S4)를 포함한다.The liquid crystal injection state inspection method according to an embodiment of the present invention includes a pressing step S2, a measuring step S3, and an inspection step S4.

상기 가압단계(S2)는 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압한다. 상기 가압단계(S2)는 상기 가압유닛(20)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압할 수 있다.The pressing step S2 presses the pressing position P of the liquid crystal cell SG to a predetermined pressing force Pp. The pressing step S2 may press the pressing position P of the liquid crystal cell SG to a predetermined pressing force Pp in accordance with the operation of the pressing unit 20. [

상기 측정단계(S3)는 상기 가압단계(S2)를 거치면서 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정한다. 상기 측정단계(S3)는 상기 측정유닛(30)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정할 수 있다.The measuring step S3 measures the pressing amount of the liquid crystal cell SG at the pressing position P through the pressing step S2. The measuring step S3 may measure the amount of pressing of the liquid crystal cell SG at the pressing position P in accordance with the operation of the measuring unit 30. [

일예로, 상기 측정단계(S3)는상기 가압단계(S2)와 더불어 상기 가압위치(P)가 가압될 때, 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 움푹 들어간 부분을 측정하는 제1측정단계(S31)와, 상기 가압단계(S2)에 앞서, 상기 가압위치(P)를 가압하기 전에 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정하는 제2측정단계(S32)와, 상기 제1측정단계(S31)에서의 측정값(Pa)과 상기 제2측정단계(S32)에서의 측정값(Pb)의 차이로 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 계산하는 변위계산단계(S33)를 포함한다.For example, the measuring step S3 may include a step of measuring a recessed portion of the liquid crystal cell SG at the pressing position P when the pressing position P is pressed together with the pressing step S2 A first measurement step S31 of measuring the surface position of the liquid crystal cell SG at the pressing position P before the pressing position P is pressed before the pressing step S2, And the difference between the measured value Pa in the first measuring step S31 and the measured value Pb in the second measuring step S32 is set to be smaller than the pressing amount of the liquid crystal cell SG And a displacement calculation step S33 for calculating the displacement.

상기 제1측정단계(S31)는 상기 가압위치(P)가 가압될 때, 상기 측정부(31)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)의 움푹 들어간 부분을 측정하고, 상기 제2측정단계(S32)는 상기 가압단계(S2)에 앞서, 상기 가압위치(P)를 가압하기 전에 상기 측정부(31)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정하며, 상기 변위계산단계(S33)는 상기 변위계산부(33)의 동작에 따라 상기 제1측정단계(S31)에서의 측정값(Pa)과 상기 제2측정단계(S32)에서의 측정값(Pb)의 차이로 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 계산할 수 있다.The first measuring step S31 measures a recessed portion of the liquid crystal cell SG at the pressing position P according to the operation of the measuring unit 31 when the pressing position P is pressed , The second measuring step S32 may be performed before the pressing step S2 by pressing the liquid crystal cell at the pressing position P in accordance with the operation of the measuring part 31 before pressing the pressing position P, The displacement calculating step S33 is a step of measuring the surface position of the load SG on the basis of the measured value Pa in the first measuring step S31 and the measured value Pa in the second measuring step The pressing amount of the liquid crystal cell SG can be calculated by the difference of the measured value Pb in the liquid crystal cell SG.

상기 검사단계(S4)는 상기 액정셀(SG)의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교한다. 상기 검사단계(S4)는 상기 검사유닛(40)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교할 수 있다.The inspecting step S4 compares the amount of pressing of the liquid crystal cell SG with a preset reference strain amount. The inspecting step S4 may compare the amount of pressing of the liquid crystal cell SG with the predetermined reference strain amount according to the operation of the inspection unit 40. [

본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 위치조정단계(S5)를 더 포함할 수 있다.The liquid crystal injection state checking method according to an embodiment of the present invention may further include a position adjusting step (S5).

상기 위치조정단계(S5)는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시킨다. 상기 위치조정단계(S5)는 상기 측정제어부(35)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시킬 수 있다. 상기 위치조정단계(S5)를 거침에 따라 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.The position adjusting step (S5) changes the pressing position (P) in the liquid crystal cell (SG). The position adjustment step S5 may change the pressing position P in the liquid crystal cell SG according to the operation of the measurement control part 35. [ The liquid crystal injection state can be checked at the other pressing position P among the plurality of pressing positions P through the position adjusting step S5.

이때, 상기 검사단계(S4)는, 상기 액정셀(SG)의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단할 수 있다. 또한, 상기 검사단계(S4)는, 상기 액정셀(SG)의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단할 수 있다.At this time, in the inspecting step S4, it can be determined that the liquid crystal is normally injected when the amount of depression of the liquid crystal cell SG is within the error range of the predetermined reference strain amount. In addition, the inspecting step S4 may determine that the injection state of the liquid crystal is defective when the amount of pressing of the liquid crystal cell SG deviates from the error range of the preset reference strain amount.

이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 정상단계(S41) 또는 불량단계(S42)를 더 포함할 수 있다.Accordingly, the liquid crystal injection state checking method according to an embodiment of the present invention may further include a normal step S41 or a defective step S42.

상기 정상단계(S41)는 상기 검사단계(S4)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 실시한다. 상기 정상단계(S41)는 상기 액정(LC)의 주입 상태가 정상이다라고 판단한다.The normal step S41 is carried out when the pressing amount of the liquid crystal cell SG is within the error range of the predetermined reference deformation amount in the inspecting step S4. The normal step S41 determines that the injection state of the liquid crystal LC is normal.

여기서, 상기 정상단계(S41)를 거친 다음에는, 상기 위치조정단계(S5)를 거치고, 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.Here, after the normal step S41, the liquid crystal injection state can be inspected at the other pressing position P among the plurality of pressing positions P through the position adjusting step S5.

또한, 다수의 상기 가압위치(P)를 모두 검사하여 상기 정상단계(S41)를 거친 다음에는, 교체단계(S43)를 더 포함하고, 배치단계(S1)를 더 포함할 수 있다.Further, after all of the plurality of pressing positions P have been inspected and after the normal step S41, there is further included a replacing step S43, and may further include a placing step S1.

상기 교체단계(S43)는 상기 정상단계(S41)에 따른 상기 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에서 배출시키고, 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)로 이동시킨다. 상기 교체단계(S43)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.The replacing step S43 discharges the liquid crystal cell SG according to the normal step S41 from the stage 10 and moves the new liquid crystal cell SG to the stage 10. [ After the replacement step S43, the liquid crystal injection state of the new liquid crystal cell SG can be inspected.

상기 배치단계(S1)는 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에 정위치시킨다. 상기 배치단계(S1)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.The placement step S1 places a new liquid crystal cell SG in the stage 10. [ After the arrangement step S1, the liquid crystal injection state of the new liquid crystal cell SG can be inspected.

상기 불량단계(S42)는 상기 검사단계(S4)에서 상기 액정셀(SG)의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 실시한다. 상기 불량단계(S42)는 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.The defective step S42 is performed when the amount of pressing of the liquid crystal cell SG deviates from the error range of the predetermined reference deformation amount in the inspecting step S4. In the defective step S42, it is determined that the injection state of the liquid crystal LC is defective.

여기서, 상기 불량단계(S42)를 거친 다음에는, 상기 위치조정단계(S5)를 거치고, 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다. 또한, 상기 불량단계(S42)를 거친 다음에는, 교체단계(S43)를 더 포함하고, 배치단계(S1)를 더 포함할 수 있다.Here, after the defective step (S42), the liquid crystal injection state can be inspected at the other pressing position (P) among the plurality of pressing positions (P) through the position adjusting step (S5). Further, after the defective step (S42), further comprising a replacement step (S43), and may further include a placement step (S1).

상기 교체단계(S43)는 상기 불량단계(S42)에 따른 상기 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에서 배출시키고, 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)로 이동시킨다. 상기 교체단계(S43)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.The replacing step S43 discharges the liquid crystal cell SG according to the defective step S42 from the stage 10 and moves the new liquid crystal cell SG to the stage 10. [ After the replacement step S43, the liquid crystal injection state of the new liquid crystal cell SG can be inspected.

상기 배치단계(S1)는 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에 정위치시킨다. 상기 배치단계(S1)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.The placement step S1 places a new liquid crystal cell SG in the stage 10. [ After the arrangement step S1, the liquid crystal injection state of the new liquid crystal cell SG can be inspected.

상술한 액정 주입 상태 검사장치와 액정 주입 상태 검사방법에 따르면, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에 상기 액정(LC)이 주입된 상기 액정셀(SG)을 국부적으로 가압함에 따라 변화되는 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 통해 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다. 또한, 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 변경하면서 기설정된 가압력(Pp)에 따라 변화되는 상기 액정셀(SG)의 눌림량을 측정할 수 있고, 상기 액정셀(SG)의 전체 표면에 대하여 상기 액정(LC)의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다.According to the liquid crystal injection state inspecting apparatus and the liquid crystal injection state inspecting method described above, the liquid crystal cell SG injected with the liquid crystal LC is locally pressurized between the upper substrate GT and the lower substrate GB The injection state of the liquid crystal LC can be inspected through the amount of the liquid crystal cell SG being pressed. It is also possible to measure the pressing amount of the liquid crystal cell SG which changes according to a predetermined pressing force Pp while changing the pressing position P of the liquid crystal cell SG, The uniformly injected state of the liquid crystal LC can be confirmed with respect to the surface.

또한, 상기 액정셀(SG)의 가압 전후에 대한 상기 액정셀(SG)의 표면 위치를 측정함으로써, 상기 액정셀(SG)의 표면이 평면 형태가 될 때는 물론 곡면 형태가 되어도 상기 액정(LC)의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다. 특히, 평면 형태의 상기 액정셀(SG)에 대하여 상기 액정셀(SG)의 눌림량 측정을 간소화하고, 상기 액정(LC)의 주입 상태를 신속하게 검사할 수 있다.By measuring the surface position of the liquid crystal cell SG before and after the pressurization of the liquid crystal cell SG, even when the surface of the liquid crystal cell SG becomes flat or curved, Can be confirmed. Particularly, it is possible to simplify measurement of the amount of pressing of the liquid crystal cell SG with respect to the liquid crystal cell SG in plan view, and to quickly check the injection state of the liquid crystal LC.

상술한 바와 같이 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면, 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 또는 변경시킬 수 있다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, Modify or modify the Software.

GT: 상부기판 GB: 하부유판 LC:액정
MC: 메인스페이서 SC: 서브스페이서 SG: 액정셀
S1: 배치단계 S2: 가압단계 S3: 측정단계
S31: 제1측정단계 S32: 제2측정단계 S33: 변위계산단계
S4: 검사단계 S41: 정상단계 S42: 불량단계
S43: 교체단계 S5: 위치조정단계
10: 스테이지 20:가압유닛 30: 측정유닛
31: 측정부 32: 위치조정부 33: 변위계산부
34: 측정지지부 35: 측정제어부 40: 검사유닛GT: upper substrate GB: lower floating plate LC: liquid crystal
MC: Main spacer SC: Sub spacer SG: Liquid crystal cell
S1: batch step S2: pressurization step S3: measurement step
S31: First measurement step S32: Second measurement step S33: Displacement calculation step
S4: Inspection step S41: Normal step S42: Bad step
S43: Replace step S5: Position adjustment step
10: stage 20: pressure unit 30: measuring unit
31: measuring unit 32: position adjusting unit 33: displacement meter
34: measurement support section 35: measurement control section 40: inspection unit

Claims (10)

상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사방법이고,
상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압단계;
상기 가압단계를 거치면서 가압될 때의 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 표면 위치와 가압 전의 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 표면 위치의 차이인 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정단계; 및
상기 액정셀의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교하는 검사단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.A liquid crystal injection state inspection method for inspecting an injection state of a liquid crystal in a liquid crystal cell into which liquid crystal is injected between an upper substrate and a lower substrate,
A pressing step of pressing the pressing position of the liquid crystal cell at a predetermined pressing force;
A measuring step of measuring a pressing amount of the liquid crystal cell which is a difference between a surface position of the liquid crystal cell and a surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing at the pressing position when the liquid crystal cell is pressed while being pressed through the pressing step; And
And comparing the pressed amount of the liquid crystal cell with a predetermined reference strain amount. 제1항에 있어서,
상기 검사단계는,
상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고,
상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.The method according to claim 1,
Wherein,
When the amount of the liquid crystal cell to be pressed is within the error range of the predetermined reference strain amount, it is determined that the liquid crystal is normally injected,
Wherein the controller determines that the injection state of the liquid crystal is defective when the pressing amount of the liquid crystal cell is out of the error range of the predetermined reference strain amount. 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 위치조정단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.3. The method according to claim 1 or 2,
Further comprising: a position adjusting step of changing the pressing position in the liquid crystal cell. 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 측정단계는,
상기 가압단계와 더불어 상기 가압위치가 가압될 때, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정하는 제1측정단계;
상기 가압단계에 앞서, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서의 상기 액정셀의 표면 위치를 측정하는 제2측정단계; 및
상기 제1측정단계에서의 측정값과 상기 제2측정단계에서의 측정값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the measuring step comprises:
A first measuring step of measuring a recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed together with the pressing step;
A second measuring step of measuring a surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position prior to the pressing step; And
And calculating a pressing amount of the liquid crystal cell based on a difference between the measured value in the first measuring step and the measured value in the second measuring step. 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사장치이고,
상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압유닛;
상기 가압유닛에 의하여 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 표면 위치와 가압 전의 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 표면 위치의 차이인 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정유닛; 및
상기 액정셀의 눌림량과 기설정된 기준변형량을 비교하는 검사유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.An apparatus for inspecting a liquid crystal injection state for inspecting an injection state of a liquid crystal in a liquid crystal cell into which liquid crystal is injected between an upper substrate and a lower substrate,
A pressing unit for pressing the pressing position of the liquid crystal cell at a predetermined pressing force;
A measuring unit for measuring a pressing amount of the liquid crystal cell which is a difference between a surface position of the liquid crystal cell at the pressing position and a surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing at the pressing position when the pressing unit is pressed by the pressing unit; And
And an inspection unit for comparing the amount of pressing of the liquid crystal cell with a preset reference deformation amount. 제5항에 있어서,
상기 검사유닛은,
상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고,
상기 액정셀의 눌림량이 기설정된 기준변형량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.6. The method of claim 5,
The inspection unit includes:
When the amount of the liquid crystal cell to be pressed is within the error range of the predetermined reference strain amount, it is determined that the liquid crystal is normally injected,
And determines that the injection state of the liquid crystal is defective when the amount of pressing of the liquid crystal cell deviates from an error range of a predetermined reference strain amount. 제5항 또는 제6항에 있어서,
상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 측정제어부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.The method according to claim 5 or 6,
And a measurement control unit for changing the pressing position in the liquid crystal cell. 제5항에 있어서,
상기 측정유닛은,
상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되고, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정부;
상기 액정셀의 상측에서 상기 가압위치에 대응하여 상기 측정부와 상기 가압유닛을 이동시키는 위치조정부; 및
상기 가압위치가 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.6. The method of claim 5,
Wherein the measuring unit comprises:
A measurement unit disposed above the liquid crystal cell and measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at the pressing position;
A position adjusting unit for moving the measuring unit and the pressing unit corresponding to the pressing position from above the liquid crystal cell; And
Wherein the measuring unit measures the recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed and the value obtained by measuring the surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position And a displacement gauging unit for calculating a pressing amount of the liquid crystal cell based on a difference between the measured values. 제7항에 있어서,
상기 측정유닛은,
상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되고, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 측정부;
상기 액정셀의 상측에서 상기 가압위치에 대응하여 상기 측정부를 이동시키는 위치조정부; 및
상기 가압위치가 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산부;를 포함하고,
상기 가압유닛은,
다수의 상기 가압위치에 대응하여 상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되는 측정지지부에 상호 이격된 상태로 결합되는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.8. The method of claim 7,
Wherein the measuring unit comprises:
A measurement unit disposed above the liquid crystal cell and measuring a pressing amount of the liquid crystal cell at the pressing position;
A position adjusting unit for moving the measuring unit from the upper side of the liquid crystal cell to the pressing position; And
Wherein the measuring unit measures the recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed and the value obtained by measuring the surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position And a displacement calculator for calculating the amount of the liquid crystal cell to be pressed by a difference in value,
The pressure unit includes:
Wherein the liquid crystal cell is coupled to the measurement support portion spaced apart from the liquid crystal cell in a spaced relation to the plurality of pressure application positions. 제7항에 있어서,
상기 측정유닛은,
상기 액정셀의 상측으로 이격 배치되는 측정지지부;
다수의 상기 가압위치에 대응하여 상기 측정지지부에 상호 이격된 상태로 결합되고, 상기 가압위치에서 상기 액정셀의 눌림량을 측정하는 다수의 측정부; 및
상기 가압위치가 가압될 때 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 움푹 들어간 부분을 측정한 값과, 상기 가압위치를 가압하기 전에 상기 가압위치에서 상기 측정부가 상기 액정셀의 표면 위치를 측정한 값의 차이로 상기 액정셀의 눌림량을 계산하는 변위계산부;를 포함하고,
상기 가압유닛은,
다수의 상기 가압위치에 대응하여 다수개가 상기 측정부와 함께 상기 측정지지부에 상호 이격된 상태로 결합되거나,
다수의 상기 가압위치에 대응하여 위치조정부를 통해 상기 액정셀의 상측에서 이동되는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.8. The method of claim 7,
Wherein the measuring unit comprises:
A measurement supporting part disposed above the liquid crystal cell;
A plurality of measurement units coupled to the measurement support unit so as to be spaced apart from each other in correspondence to the plurality of pressure application positions and measuring the amount of pressing of the liquid crystal cell at the pressure application position; And
Wherein the measuring unit measures the recessed portion of the liquid crystal cell at the pressing position when the pressing position is pressed and the value obtained by measuring the surface position of the liquid crystal cell at the pressing position before pressing the pressing position And a displacement calculator for calculating the amount of the liquid crystal cell to be pressed by a difference in value,
The pressure unit includes:
Wherein a plurality of the plurality of pressing portions are coupled to the measurement supporting portion with the measuring portion being spaced apart from each other corresponding to the plurality of pressing positions,
Wherein the liquid crystal cell is moved from the upper side of the liquid crystal cell through the position adjusting unit corresponding to a plurality of the pressing positions.
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