KR100881077B1 - 이온 주입기용 벌크 가스 이송 시스템 - Google Patents
이온 주입기용 벌크 가스 이송 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100881077B1 KR100881077B1 KR1020037003230A KR20037003230A KR100881077B1 KR 100881077 B1 KR100881077 B1 KR 100881077B1 KR 1020037003230 A KR1020037003230 A KR 1020037003230A KR 20037003230 A KR20037003230 A KR 20037003230A KR 100881077 B1 KR100881077 B1 KR 100881077B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- gas
- source
- ion
- ion source
- voltage potential
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/36—Gas-filled discharge tubes for cleaning surfaces while plating with ions of materials introduced into the discharge, e.g. introduced by evaporation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/317—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
- H01J37/3171—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for ion implantation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/08—Ion sources; Ion guns
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
Claims (26)
- 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템(100)에 있어서:제1 전압 전위의 가스 소스(102);제1 전압 전위보다 더 큰 제2 전압 전위의 이온 소스; 및상기 가스 소스 및 상기 이온 소스 사이에 접속된 전기적 절연 커넥터(108)를 포함하며,상기 전기적 절연 커넥터(108)는 제1 전기적 절연 튜브(150, 160), 및 상기 제1 전기적 절연 튜브 (150, 160)를 감싸고 상기 제1 전기적 절연 튜브와 망원경식 배열이 되는 제2 전기적 절연 튜브(158, 162)를 포함하고, 상기 망원경식 배열은 상기 제1 전기적 절연 튜브 및 제2 전기적 절연 튜브 사이에 스페이싱(spacing)(172)을 형성하여 상기 스페이싱(172) 내에서 가압 가스의 이송을 용이하게 하며,상기 전기적 절연 커넥터(108)는 다수의 가스 이송 고전압 아이솔레이터를 포함하고, 상기 이이솔레이터 각각은:원료 가스를 상기 가스 소스로부터 원료 가스를 상기 이온 소스에 이송시키도록 적응된 긴 내부 튜브(150, 160); 및상기 내부 튜브(150, 160)와 망원경식 배열이 되는 긴 외부 튜브 (158, 162)를 더 포함하고, 상기 망원경식 배열은 내부 튜브(150, 160)와 외부 튜브(158, 162) 사이에 스페이싱(172)을 각각 형성하여 상기 스페이싱(172) 내의 비활성 보호 가스를 수용하도록 적응되는, 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제1 항에 있어서,상기 제1 전압 전위는 회로 접지 전위를 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제1 항에 있어서,상기 가스 소스는 가압 가스(pressuried gas)를 제공하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제1 항에 있어서,상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160)는 붕규산 유리, 규산 알루미늄 유리, 석영, 또는 세라믹 재료를 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제1 항에 있어서,상기 스페이싱(172) 내의 가스의 압력은 상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160) 내의 가스의 압력보다 커서, 상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160)로부터 상기 스페이싱(172)으로의 가스의 누출을 방지하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제5항에 있어서,상기 제2 전기적 절연 튜브(158, 162)와 연관된 포트에 접속된 압력 감시 장치(128)를 더 포함하고, 상기 압력 감시 장치(128)는 스페이싱(172) 내의 압력 변화를 검출하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제6항에 있어서,상기 압력 감시 장치(128)와 연관된 안전 제어기를 더 포함하고, 상기 안전 제어기는 상기 압력 감시 장치(128)에 의해서 제공된 압력 정보에 근거하여 상기 전기적 절연 커넥터(108)로부터 가스 소스를 접속해제하도록 적응되는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제1 항에 있어서,상기 스페이싱(172) 내의 가스 압력은 상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160) 내의 가스 압력과 상이하며, 상기 전기적 절연 커넥터(108)와 연관된 감시 장치 (128)를 더 포함하고, 상기 감시 장치(128)는 상기 전기적 절연 커넥터(108)와 연관된 누출을 검출하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 삭제
- 제1 항에 있어서,상기 아이솔레이터 각각은 다른 아이솔레이터의 원료 가스와 상이한 원료 가스를 이송하도록 적응됨으로써, 이온 소스에서 원료 가스의 신속한 변경을 용이하게 하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제1 항에 있어서,상기 아이솔레이터의 제1 단부를 감싸고 가스 소스에 접속된 제1 배기 용기(110a), 및 상기 아이솔레이터의 제2 단부에 있고 이온 소스에 접속된 제2 배기 용기(110b)를 더 포함하고, 상기 제1 배기 용기(110a)는 제1 전압 전위에서 유지되고 상기 제2 배기 용기(110b)는 제2 전압 전위에서 유지되는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 제11항에 있어서,제1 구성에서 가스 소스를 향한 제1 방향에서의 원료 가스의 세정을 제공하고 제2 구성에서 이온 소스를 향한 제2 방향에서의 원료 가스의 세정을 제공하도록 적응되는, 상기 제1 및 제2 배기 용기(110a, 110b)에 연관된 밸브 장치(121, 124, 138)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 주입 시스템용 가스 이송 시스템.
- 이온 주입 시스템에 가스를 이송시키는 방법(200)에 있어서:저장 위치에서의 원료 가스의 전압 전위를 이온 주입 시스템의 이온 소스에서의 제2 전압 전위보다 작은 제1 전압 전위로 유지하는 단계(202); 및상기 원료 가스를 상기 저장 위치로부터 상기 이온 소스에 이송시키는 단계(204)를 포함하며,상기 저장된 원료 가스 이송 단계(204)는:상기 원료 가스가 가스 이송 시스템을 통해서 이온 소스를 향해 흐르게 하는 밸브 장치를 맞물리는 단계(206)로서, 상기 가스 이송 시스템이 제1 전압 전위에 있는, 밸브 장치를 맞물리는 단계;상기 가스 이송 시스템을 고전압 아이솔레이터를 통해서 상기 이온 소스에 접속시키는 단계(208)를 포함하며,상기 고전압 아이솔레이터는 상기 고전압 아이솔레이터 양단의 전압에 견디는 길이를 갖는 제1 전기적 절연 튜브(150, 160)를 포함하며, 상기 고전압 아이솔레이트 양단의 전압은 제1 전압 전위와 제2 전압 전위 간의 차이며,상기 고전압 아이솔레이터는 제2 전기적 절연 튜브(158, 162)를 더 포함하며, 상기 제2 전기적 절연 튜브(158, 162)는 상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160)와 망원경식 배열이고 상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160)를 감싸며, 상기 망원경식 배열은 상기 제1 전기적 절연 튜브 튜브 및 상기 제2 전기적 절연 튜브 사이에 스페이싱(172)을 형성하고,상기 원료 가스를 상기 저장 위치로부터 이온 소스에 이송시키는 단계는:상기 제1 전기적 절연 튜브(150, 160) 내의 제1 압력의 원료 가스를 이송시키는 단계; 및제1 및 제2 전기적 절연 튜브 사이의 스페이싱(172) 내에서 제1 압력보다 큰 제2 압력의 비활성 가스를 이송시킴으로써, 원료 가스가 스페이싱에 누출되는 것을 방지하는 단계를 포함하는, 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,상기 저장된 원료 가스는 가압되는 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,상기 제1 전압 전위는 접지 회로 전위인 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,상기 제2 전압 전위는 80KV인 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,상기 가스 이송 시스템을 상기 고전압 아이솔레이터를 통해서 이온 소스에 접속시키는 상기 단계는:상기 고전압 아이솔레이터의 제1 단부를 가스 이송 시스템에 접속시키는 단계로서, 상기 제1 단부가 제1 전압 전위에 있는, 접속 단계; 및상기 고전압 아이솔레이터의 제2 단부를 이온 소스에 접속시키는 단계로서, 상기 제2 단부가 제2 전압 전위에 있는, 접속 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,누출을 검출하기 위하여 상기 스페이싱(172) 내에서 비활성 가스의 제2 압력을 감시하는 단계(210)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,가스 소스를 향한 제1 방향에서 상기 고전압 아이솔레이터를 세정시키는 단계를 더 포함하며, 상기 원료 가스는 가스 이송 시스템으로부터 배기되는 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 제13항에 있어서,이온 소스를 향한 제2 방향에서 상기 고전압 아이솔레이터를 세정시키는 단계를 더 포함하며, 상기 원료 가스는 이온 소스 부근의 영역으로부터 배기되는 것을 특징으로 하는 가스 이송 방법.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/654,958 | 2000-09-05 | ||
US09/654,958 US6515290B1 (en) | 2000-09-05 | 2000-09-05 | Bulk gas delivery system for ion implanters |
PCT/GB2001/003755 WO2002021566A2 (en) | 2000-09-05 | 2001-08-21 | Bulk gas delivery system for ion implanters |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030029915A KR20030029915A (ko) | 2003-04-16 |
KR100881077B1 true KR100881077B1 (ko) | 2009-01-30 |
Family
ID=24626912
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020037003230A KR100881077B1 (ko) | 2000-09-05 | 2001-08-21 | 이온 주입기용 벌크 가스 이송 시스템 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6515290B1 (ko) |
EP (1) | EP1316104B1 (ko) |
JP (1) | JP5257562B2 (ko) |
KR (1) | KR100881077B1 (ko) |
CN (1) | CN100527346C (ko) |
AU (1) | AU2001282296A1 (ko) |
TW (1) | TW507246B (ko) |
WO (1) | WO2002021566A2 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20130124338A (ko) * | 2010-11-30 | 2013-11-13 | 어드밴스드 테크놀러지 머티리얼즈, 인코포레이티드 | 원격 도펀트 소스를 포함하는 이온 주입기 시스템 및 방법 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060043316A1 (en) * | 2003-06-10 | 2006-03-02 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Ion implanter having enhanced low energy ion beam transport |
US8110814B2 (en) | 2003-10-16 | 2012-02-07 | Alis Corporation | Ion sources, systems and methods |
DE102004052580B4 (de) * | 2004-10-29 | 2008-09-25 | Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale | Vorrichtung und Verfahren zum Zuführen von Vorstufengasen zu einer Implantationsanlage |
JP4355321B2 (ja) * | 2005-03-04 | 2009-10-28 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 気相成長装置 |
JP4695911B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2011-06-08 | 株式会社Sen | 絶縁配管部材、ガス供給装置およびイオンビーム装置 |
KR20080041285A (ko) * | 2005-08-30 | 2008-05-09 | 어드밴스드 테크놀러지 머티리얼즈, 인코포레이티드 | 저압 가스 이송 장치 및 방법 |
US7446326B2 (en) * | 2005-08-31 | 2008-11-04 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Technique for improving ion implanter productivity |
WO2007067296A2 (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-14 | Alis Corporation | Ion sources, systems and methods |
US8143604B2 (en) * | 2006-03-31 | 2012-03-27 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Insulator system for a terminal structure of an ion implantation system |
US7655928B2 (en) * | 2007-03-29 | 2010-02-02 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Ion acceleration column connection mechanism with integrated shielding electrode and related methods |
DE102007030106A1 (de) * | 2007-06-28 | 2009-01-02 | Intega Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln eines Halbleitersubstrats |
DE102008028136A1 (de) * | 2008-06-13 | 2009-12-17 | Intega Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Behandeln von Halbleitersubstraten |
WO2010132265A2 (en) * | 2009-05-12 | 2010-11-18 | Carl Zeiss Nts, Llc. | Gas delivery in a microscope system |
US9212785B2 (en) * | 2012-10-11 | 2015-12-15 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Passive isolation assembly and gas transport system |
EP3025366A1 (en) * | 2013-07-23 | 2016-06-01 | Entegris, Inc. | Remote delivery of chemical reagents |
WO2015100233A2 (en) | 2013-12-24 | 2015-07-02 | Waters Technologies Corporation | Atmospheric interface for electrically grounded electrospray |
US11062873B2 (en) * | 2018-05-11 | 2021-07-13 | Axcelis Technologies, Inc. | Hydrogen bleed gas for an ion source housing |
US11527380B2 (en) * | 2020-04-01 | 2022-12-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Ion implanter toxic gas delivery system |
TWI729801B (zh) * | 2020-05-08 | 2021-06-01 | 晨碩國際有限公司 | 遠端摻雜氣體供應系統之氣體傳輸適配裝置 |
US11569062B2 (en) | 2020-05-22 | 2023-01-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Gas delivery system for ion implanter |
US11651928B2 (en) * | 2021-06-30 | 2023-05-16 | Fei Company | Reentrant gas system for charged particle microscope |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5173623A (ja) * | 1974-12-24 | 1976-06-25 | Asahi Chemical Ind | Nijukanhoshikipaipurainni okeru ryutaiyusohoshiki |
JPS622442A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Fujitsu Ltd | イオン注入装置 |
JPS6298543A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-08 | Sony Corp | イオンビ−ム発生装置 |
JPH08980Y2 (ja) * | 1987-06-25 | 1996-01-17 | 日電アネルバ株式会社 | 有害・有毒ガス配管装置 |
US4977785A (en) * | 1988-02-19 | 1990-12-18 | Extrel Corporation | Method and apparatus for introduction of fluid streams into mass spectrometers and other gas phase detectors |
JPH0262039A (ja) * | 1988-08-29 | 1990-03-01 | Hitachi Ltd | 多層素子の微細加工方法およびその装置 |
JP2724503B2 (ja) * | 1989-06-29 | 1998-03-09 | 東京エレクトロン株式会社 | イオン注入装置 |
JPH0831369A (ja) * | 1994-07-13 | 1996-02-02 | Nissin Electric Co Ltd | ガス供給装置 |
US5518528A (en) | 1994-10-13 | 1996-05-21 | Advanced Technology Materials, Inc. | Storage and delivery system for gaseous hydride, halide, and organometallic group V compounds |
JPH09283821A (ja) * | 1996-04-12 | 1997-10-31 | Shibuya Kogyo Co Ltd | レーザガス循環装置を具備するレーザ発振器 |
KR980010094A (ko) | 1996-07-08 | 1998-04-30 | 김광호 | 가스 압력 상태 정보 검출 및 디스플레이 장치 |
JPH10275695A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-13 | Nissin Electric Co Ltd | プラズマ装置へのガス供給方法及びプラズマ処理装置並びにイオンビーム装置 |
JP3807057B2 (ja) * | 1997-11-13 | 2006-08-09 | 石川島播磨重工業株式会社 | イオン源ガス供給方法及びその装置 |
JP3533916B2 (ja) * | 1997-11-26 | 2004-06-07 | 日新電機株式会社 | イオンビーム照射装置 |
US6406519B1 (en) * | 1998-03-27 | 2002-06-18 | Advanced Technology Materials, Inc. | Gas cabinet assembly comprising sorbent-based gas storage and delivery system |
-
2000
- 2000-09-05 US US09/654,958 patent/US6515290B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-08-02 TW TW090118862A patent/TW507246B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-08-21 KR KR1020037003230A patent/KR100881077B1/ko active IP Right Grant
- 2001-08-21 AU AU2001282296A patent/AU2001282296A1/en not_active Abandoned
- 2001-08-21 EP EP01960905A patent/EP1316104B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-08-21 CN CNB018184995A patent/CN100527346C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-21 WO PCT/GB2001/003755 patent/WO2002021566A2/en active Application Filing
- 2001-08-21 JP JP2002525891A patent/JP5257562B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20130124338A (ko) * | 2010-11-30 | 2013-11-13 | 어드밴스드 테크놀러지 머티리얼즈, 인코포레이티드 | 원격 도펀트 소스를 포함하는 이온 주입기 시스템 및 방법 |
KR101953401B1 (ko) * | 2010-11-30 | 2019-02-28 | 엔테그리스, 아이엔씨. | 원격 도펀트 소스를 포함하는 이온 주입기 시스템 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1473348A (zh) | 2004-02-04 |
TW507246B (en) | 2002-10-21 |
JP2004508681A (ja) | 2004-03-18 |
EP1316104A2 (en) | 2003-06-04 |
CN100527346C (zh) | 2009-08-12 |
JP5257562B2 (ja) | 2013-08-07 |
EP1316104B1 (en) | 2011-06-15 |
US6515290B1 (en) | 2003-02-04 |
WO2002021566A2 (en) | 2002-03-14 |
AU2001282296A1 (en) | 2002-03-22 |
WO2002021566A3 (en) | 2002-08-01 |
KR20030029915A (ko) | 2003-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100881077B1 (ko) | 이온 주입기용 벌크 가스 이송 시스템 | |
CN103329252B (zh) | 包括远程掺杂剂源的离子注入器系统以及包含该系统的方法 | |
CN102597312A (zh) | 用于束处理系统的气体传输 | |
KR100466702B1 (ko) | 진공펌프용이중벽배기어셈블리,이온주입시스템및이중벽배기어셈블리를재구성하는방법 | |
US20080220596A1 (en) | Delivery of Low Pressure Dopant Gas to a High Voltage Ion Source | |
KR101687736B1 (ko) | 패시브 분리 어셈블리 및 가스 이송 시스템 | |
JP5096893B2 (ja) | マイクロ波イオン源装置 | |
JP3533916B2 (ja) | イオンビーム照射装置 | |
US20100187448A1 (en) | Arrangment and method for processing a substrate | |
TWI797540B (zh) | 離子佈植系統以及用於離子佈植之氣體運輸的方法 | |
US8181666B2 (en) | Switch valve | |
KR102570110B1 (ko) | 원격 도핑 가스 공급 시스템의 가스 전송 적응 장치 | |
KR102508752B1 (ko) | 이온 주입기 독가스 전달 시스템 | |
US20240047179A1 (en) | Plasma treatment apparatus | |
JPH11162397A (ja) | イオンビーム照射装置 | |
US5160825A (en) | Process and device for supplying processing gas to a reactor located in a zone subjected to intense electric and/or electromagnetic fields | |
TWI519671B (zh) | 氣體傳輸裝置及方法 | |
KR19990034511U (ko) | 반도체 이온주입장비의 가스공급장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121227 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131227 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141230 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160104 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161229 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171228 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181227 Year of fee payment: 11 |