KR100840415B1 - 화상 형성 장치 - Google Patents

Abstract

화상 형성 장치는 좌표를 변환하여 1화소 단위의 화상 위치를 보정하는 좌표 변환기와, 계조치를 변환하여 1화소 단위 미만의 화상 위치를 보정하는 계조치 변환기와, 토너상을 담지할 수 있는 화상 담지 부재에 중간 계조 화소를 포함하는 검출용 토너상을 형성하는 화상 출력 유닛과, 검출용 토너상의 광반사 특성을 검출하는 광 반사 특성 검출기를 포함한다. 계조치 변환기는 광 반사 특성 검출기의 검출 출력에 따라 조정된다.

보정, 화상 위치, 계조치, 토너상, 담지, 광반사, 출력

Description

화상 형성 장치{IMAGE FORMING APPARATUS}

도1은 본 발명의 제1 실시예를 따른 화상 형성 장치의 단면도.

도2는 제1 실시예를 따른 농도 센서의 구성을 도시하는 도면.

도3은 제1 실시예를 따른 농도 센서의 특성을 설명하는 도면.

도4는 제1 실시예를 따른 계조치 변환 보정 계수의 산출 순서를 설명하는 플로우차트.

도5는 제1 실시예를 따른 토너 패치 배열을 설명하는 도면.

도6a 및 도6b는 제1 실시예를 따른 토너 패치 패턴을 설명하는 도면.

도7은 제1 실시예를 따른 불균형 보정을 설명하는 도면.

도8a 내지 도8g는 불균형의 보정 방법의 상세를 나타내는 도면.

도9는 제1 실시예를 다른 계조치 변환 보정을 설명하는 그래프.

도10은 제2 실시예를 따른 계조치 변환 보정 계수의 산출 순서를 설명하는 플로우차트.

도11은 제2 실시예를 따른 테스트 패턴을 설명하는 도면.

도12는 제3 실시예를 따른 시스템 구성을 설명하는 블럭도.

도13은 제3 실시예를 따른 계조치 변환 보정 계수의 산출 순서를 설명하는 플로우차트.

도14는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 설명하는 도면

도15는 칼라 화상 형성 장치의 기본 구성 설명도.

도16은 불균형 보정의 기본 구성을 설명하는 도면.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

110: 화상 처리부

111: 비트맵 전개 유닛

112: 좌표 변환기

113: 계조치 변환기

120: 화상 형성부

121: 화상 출력부

122: 광반사 특성 검출기

본 발명은 프린터 또는 칼라 복사기 등의 전자 사진 방식 화상 형성 장치에 관한 것이다.

최근 전자 사진 방식 칼라 화상 형성 장치에 있어서의 화상 형성 속도의 고속화를 위해서 탠덤 방식의 칼라 화상 형성 장치가 증가하고 있다. 탠덤 방식 칼라 화상 형성 장치는 감광 드럼과 현상 장치를 포함하며, 상이한 칼라의 화상을 기록재나 화상 반송 벨트에 차례차례 전사한다. 현상 장치의 개수는 착색제의 개수 와 동일하다. 탠덤 방식 칼라 화상 형성 장치는 불균형을 일으키게 하는 복수의 요인이 있는 것이 이미 알려져 있다. 따라서, 각각의 요인에 대해서 여러가지 대처 방법이 제안되고 있다.

그 중 하나의 요인은 편향 스캐너의 렌즈의 불균일성이나 설치 위치 어긋남, 그리고 편향 스캐너가 칼라 화상 형성 장치 본체에 장착될 때 위치 차이이다. 이 경우, 주사선에 기울기나 곡선이 생긴다. 기울기나 곡선은 칼라마다 달라서, 불균형이 발생된다.

일본특허공개 제2002－116394호(특허 문헌 1)는 불균형을 극복하기 위한 방법을 제안하고 있다. 이 방법에서, 편향 스캐너의 조립 공정에 대해 광학 센서를 이용해 주사선의 곡선의 크기를 측정하여, 렌즈를 기계적으로 회전시켜 주사선의 곡선을 조정한 후, 편향 스캐너를 화상 형성 장치 본체에 접착제로 고정한다.

일본특허공개 제2003－241131호(특허 문헌 2)는 다른 방법을 개시한다. 이 방법에서, 편향 스캐너를 칼라 화상 형성 장치 본체에 조립하는 공정에 대해서 광학 센서를 이용해 주사선의 기울기의 크기를 측정하고, 편향 스캐너를 기계적으로 기울여 주사선의 기울기를 조정한 다음, 칼라 화상 형성 장치 본체에 편향 스캐너를 조립한다.

일본특허공개 제2004－170755호(특허 문헌 3)는 다른 방법을 개시한다. 이 방법에서, 광학 센서를 이용해 주사선의 기울기와 곡선의 크기를 측정하고, 보정된 데이터를 기초로 화상을 형성하기 위해 기울기와 곡선을 상쇄하도록 비트 맵 화상 데이터가 보정된다. 이러한 방법은 화상 데이터 처리 결과로써 불균형이 전기적으 로 보정되도록 하기 때문에, 기계적인 조정기나 조립시의 조정 공정이 불필요하다. 이러한 두 가지 관점에서 볼 때, 상기 방법은 특허 문헌 1 및 특허 문헌 2에 기재되어 있는 방법과 비교하여 낮은 비용으로 불균형을 보정할 수 있다. 전기적으로 불균형을 보정하는 두 가지 방법이 있다. 한 가지 방법은 1 화소 단위로 수행하는 방법과, 다른 방법은 1 화소 미만 단위의 단위로 수행하는 방법이다. 1 화소 단위의 보정에서, 기울기와 곡선의 보정량에 따라 화소를 1 화소 단위로 부주사 방향으로 옮긴다. 1 화소 미만 단위의 보정에서, 비트 맵 화상 데이터의 계조치를 부주사 방향의 전후의 화소로 조정한다. 이러한 보정에 의해, 1 화소 단위의 보정에 의해 옮겨진 경계에 있어서의 부자연스러운 공정을 제거하여 화상이 평활화될 수 있다.

그렇지만, 상기 특허 문헌 3의 방법을 이용한 불균형 보정은 정밀 화상의 농도 얼룩짐이 발생시킨다. 도14를 참조하여 정밀 화상의 농도 얼룩짐에 대해 설명한다. 입력 화상(601)은 1 도트의 가는 라인이다. 입력 화상(601)에 대해서 칼라 불균형 보정을 실시하여 생성된 화상(602)을 실제로 형성할 때, 입력 화상(601)이 일정 농도의 가는 라인 화상임에도 불구하고, 칼라 불균형 보정으로 인한 출력 화상은 불균일인 농도의 가는 라인 화상이 된다. 이것은 일반적으로 전자 사진 방식의 화상 형성 장치가 화상 계조치와 실제의 화상 농도치의 비례 관계를 유지한 다음 고립 화소를 형성하는 것을 잘하지 못하기 때문이다. 이러한 약점으로 인해 가는 라인으로 형성되는 정밀 화상에서 농도 얼룩짐이 현저하게 나타난다.

본 발명은 불균형이 전기적으로 보정되는 경우에 발생되는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지할 수 있다.

본 발명을 따르면, 기울기가 적어도 하나의 계조치로 형성되는 화상의 기울기를 조정하여 구성된 화상 형성 장치가 제공된다. 화상 형성 장치는 계조치를 산출하여 1 화소 미만 단위의 적어도 하나의 화상 기울기를 보정하는 제1 변환기와, 변환기에 의해 보정된 화상 정보에 기초하여 화상 담지 부재에 적어도 하나의 토너상을 형성하는 화상 형성부와, 화상 형성부를 이용하여 중간 계조 화소를 포함하는 테스트 토너상을 형성하도록 구성된 콘트롤러와, 화상 형성부에 의해 형성된 테스트 토너상의 광 반사 특성을 검출하는 검출기와, 검출기의 출력에 따라 변환기를 조정하는 조정기를 포함한다.

본 발명은 (1) 화상 담지 부재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 검출용 토너상의 농도를 광학 센서로 검출하여, 그 검출 결과에 따라서 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하거나, 혹은 (2) 전사재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 테스트 패턴상의 테스트 패턴을 사용자가 가시적으로 평가한 후, 평가 결과에 따라서 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하거나, 또는 (3) 화상 형성부에 의해 전사재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 테스트 패턴상을 형성한 결과로써 원고 판독 수단으로 판독한 테스트 패턴의 화상 정보를 기초로하여 계조치 변환 수단을 조정하여 전기적으로 화상 위치 보정을 실시하는 경우에 발생되는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지할 수 있는 방법을 제공한다.

본 발명의 다른 목적, 구성 및 효과는 이하의 상세한 설명 및 도면으로부터 명확해질 것이다.

제1 실시예

본 실시예는 화상 담지 부재 상에 (중간 계조의 화소를 포함한) 검출용 토너상의 농도를 광학 센서로 검출해, 그 검출 결과에 따라서, 불균형을 보정을 위해 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하여, 전기적으로 불균형 보정을 실시하는 경우에 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지하는 방법에 관한 것이다.

도15는 제1 실시예에 이용되는 칼라 화상 형성 장치의 기본 구성을 도시한다. 칼라 화상 형성 장치는 화상 형성부(120)와, 프린터 콘트롤러 등의 화상 처리부(110)를 포함한다.

도16은 레지스터 보정을 위한 기본 구조를 도시한다.

도16에서, 도면 부호 111은 비트맵에 따라 인쇄 데이터를 전개하는 비트맵 전개 유닛을 의미한다. 도면 부호 112는 1 화소 단위로 부주사 방향으로 화상 위치 보정하는 좌표 변환기를 나타낸다. 도면 부호 113은 1 화소 미만 단위의 부주사 방향으로 화상 위치 보정을 실시하는 계조치 변환기를 나타내고 있다. 비트 맵 전개부(111), 좌표 변환기(112) 및 계조치 변환기(113)는 화상 처리부(110) 내에 형성되어 있다. 도면 부호 121은 화상을 형성하기 위해 현상 동작, 전사 동작, 정착 동작 등을 실시하는 화상 출력부이다. 도면 부호 122는 후술하는 농도 센서 및 농도 변환 처리 유닛을 포함하는 광반사 특성 검출부를 의미한다. 화상 출력 부(121) 및 광반사 특성 검출기(122)는 화상 형성부(120)의 내부에 형성되어 있다. 광반사 특성 검출기(122)의 검출 결과는 계조치 변환기(113)의 조정에 사용된다.

전술된 구성은 레지스터 보정의 기본 구성에 해당한다. 레지스터 보정에 관한 상세한 설명은 후술될 것이다.

도1은 제1 실시예에 있어서의 칼라 화상 형성 장치의 화상 형성부에 대한 단면도이다. 칼라 화상 형성 장치는 화상 형성부(도1 참조)와 화상 처리부(미도시)를 포함한다. 화상 처리부는 비트 맵 화상 정보를 생성하고, 생성된 화상 정보에 기초하여 화상 형성부(도1 참조)가 기록 매체 상에 화상을 형성한다.

본 실시예를 따른 화상 형성 장치는 전자 사진 칼라 화상 형성 장치이며, 중간 전사 부재(28)를 이용한 텐덤 방식의 칼라 화상 형성 장치이다. 이하, 화상 형성부의 동작을 설명한다.

화상 형성부는 화상 처리부가 처리 동작을 수행하는 노광 시간에 따라 노광빛을 구동하고, 정전 잠상을 형성하고, 이 정전 잠상을 현상하여 단색 토너상을 형성하고, 이 단색 토너상을 겹쳐서 다색 토너상을 형성하며, 이 다색 토너상을 기록 매체(11)에 전사하고, 기록 매체(11)에 다색 토너상을 정착시킨다.

대전기는 옐로우(Y) 스테이션, 마젠다(M) 스테이션, 시안(C) 스테이션, 블랙(K) 스테이션마다 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)를 대전시키기 위한 4개의 주입 대전기(23Y, 23M, 23C, 23K)를 포함한다. 주입 대전기(23Y, 23M, 23C, 23K)는 슬리브(23YS, 23MS, 23CS, 23KS)를 각각 구비한다.

감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)는 알루미늄 실린더의 외주에 유기 광도전층 을 적용하고 형성되며, 구동 모터(미도시)의 구동력이 전달되어 회전된다. 구동 모터는 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)를 화상 형성 동작에 따라 반시계 방향으로 회전시킨다.

노광 유닛은 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)에 스캐너부(24Y, 24M, 24C, 24K)로 노광 빛을 조사하고, 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)의 표면을 선택적으로 노광하여 정전하 잠상을 형성한다.

현상기는 정전 잠상을 가시화하기 위해서 옐로우(Y) 스테이션, 마젠타(M) 스테이션, 시안(C) 스테이션, 블랙(K) 스테이션을 따라 화상의 현상을 위한 4개의 현상부(26Y, 26M, 26C, 26K)를 포함한다. 현상부(26Y, 26M, 26C, 26K)는 슬리브(26YS, 26MS, 26CS, 26KS)가 각각 구비되어 있으며, 제거가 가능하다.

전사 유닛에서, 중간 전사 부재(28)를 시계 방향으로 회전시키고, 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)를 회전시키며, 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)에 대향하는 일차 전사 롤러(27Y, 27M, 27C, 27K)의 회전시켜 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)로부터 중간 전사 부재(28)에 단색 토너상을 전사한다. 일차 전사 롤러(27Y, 27M, 27C, 27K)에 일차 전사 전압을 인가함과 동시에, 감광 부재(22Y, 22M, 22C, 22K)의 회전 속도와 중간 전사 부재(28)의 회전 속도에 차이를 내어, 좋은 효율로 단색 토너상을 중간 전사 부재(28) 상에 전사한다.

또한, 전사 유닛에서 스테이션마다 단색 토너상이 중간 전사 부재(28) 상에 겹쳐지고, 단색 토너상을 겹쳐서 형성된 다색 토너상을 중간 전사 부재(28)의 회전에 의해 2차 전사 롤러(29)까지 반송한다. 그런 다음, 기록 매체(11)를 급지 트레 이(21)에서 2차 전사 롤러(29)에 협지 반송하여 기록 매체(11)에 중간 전사 부재(28) 상의 다색 토너상을 전사한다. 2차 전사 롤러(29)에 2차 전사 전압을 인가해 토너상을 정전적으로 전사한다. 이것을 2차 전사라고 한다. 2차 전사 롤러(29)는 기록 매체(11) 상에 다색 토너상을 전사하는 동안, 위치(29a)에서 기록 매체(11)와 접촉하고, 인쇄 후에는 위치(29b)에서 기록 매체(11)로부터 이격된다.

정착 유닛은 기록 매체(11)에 전사된 다색 토너상을 기록 매체(11)에 용해 정착하기 위한 정착 롤러(32)와 가압 롤러(33)를 포함한다. 정착 롤러(32)는 기록 매체(11)를 가열한다. 가압 롤러(33)는 기록 매체(11)를 정착 롤러(32)에 압접시킨다. 정착 롤러(32)와 가압 롤러(33)는 중공 형상의 롤러이며, 내부에 각각 히터(34, 35)를 포함한다. 정착부(31)는 다색 토너상을 보유한 기록 매체(11)를 정착 롤러(32)와 가압 롤러(33)에 의해 반송하며, 기록 매체(11)에 열과 압력을 인가하여 토너를 기록 매체(11)에 정착시킨다.

토너 정착 후에 기록 매체(11)는 시트 배출 롤러(미도시)에 의해서 배지

트레이(미도시)에 배출되어, 화상 형성 동작을 종료한다.

클리너(30)는 중간 전사 부재(28) 상에 남은 토너를 세척한다. 중간 전사 부재(28) 상에 형성되고, 4색인 토너상을 기록 매체(11)에 전사 한 후에 남은 폐토너는 클리너 용기에 축적된다.

농도 센서(41)는 중간 전사 부재(28)에 대향하는 위치에 배치되어 있어, 중간 전사 부재(28) 상에 형성된 검출용 토너 패치(64)의 농도를 검출한다.

도2는 농도 센서(41)의 구성을 도시한다. 농도 센서(41)는 발광 다이오 드(LED) 등의 적외 발광소자(51)와, 포토 다이오드 등의 수광 소자(52)와, 수광 데이터를 처리하는데 사용되는 집적 회로(IC)(미도시)와, 이들을 수용하는 홀더(미도시)를 포함한다. 수광 소자(52)는 토너 패치(64)로부터의 반사광 강도를 검출한다. 본 실시예의 농도 센서(41)는 정반사광을 검출하도록 구성되지만, 농도 검출의 방법은 여기에 한정되지 않는다. 예를 들어, 농도 센서(41)는 난반사 빛을 검출하도록 형성될 수 있다. 발광 소자(51)와 수광 소자(52)의 결합에 렌즈 등의 광학 소자(미도시)가 이용되기도 한다.

본 실시예에 있어서, 중간 전사 부재(28)는 외주 길이가 880 mm이며, 폴리이미드제의 단층 수지 벨트이다. 벨트의 저항을 조정하기 위해서, 적당량의 카본 미립자가 수지 내에 분산된다. 중간 전사 부재(28)의 표면 흑색이며, 평활하고, [호리바 제작소(Horiba, Ltd.)에서 제작된 광택계 IG－320으로 측정했을 때] 약 100%의 광택성을 갖는다.

중간 전사 부재(28)의 표면이 노출될 때(토너량이 0)에는, 농도 센서(41)의 수광 소자(52)가 반사광을 검출한다. 이유는, 전술된 바와 같이 중간 전사 부재(28)의 표면이 광택성을 가지기 때문이다. 중간 전사 부재(28)에 토너상이 형성되었을 경우, 토너 패치의 농도(토너량)가 증가함에 따라서 정반사 출력은 점차 감소한다. 이것은, 토너가 중간 전사 부재(28)의 표면을 덮을 때, 벨트 표면으로부터의 정반사광이 감소하기 때문이다. 도3은 농도 센서의 검출치와 토너량과의 관계를 나타내는 그래프이다. 도3에서 수직축은 농도 센서의 출력 전압을 나타내고, 수평축은 (토너량에 대응하는) 화상 농도를 나타낸다. 도3의 관계에 따라서, 농도 센서의 출력 전압치를 농도치로 변환하여 토너 패치의 농도를 검출한다.

다음에, (불균형을 보정하는데 사용되는) 계조치 변환 값을 보정하는 방법으로 대해서 도4의 플로우차트를 참조하여 설명한다.

우선, 중간 전사 부재 상에 검출용 토너상으로서 토너 패치를 형성한다(단계 S301). 도5는 중간 전사 부재 상에 형성되는 토너 패치를 나타낸다. 농도 센서(41)의 위치에 따라 Y, M, C 및 K마다 측방향 길이가 8 mm인 사각 패치가 각각 2 mm간격으로 총32개 형성된다. 8종류의 Y, M, C 및 K가 구비된다. 이들 토너상의 형성은 콘트롤러에 의해 제어된다. 각 패치의 패턴이 도6a 및 도6b를 참고로 설명될 것이다. Y1, M1, C1 및 K1는 (2 도트 간격으로 형성된) 1 도트 라인의 반복 패턴이며, 라인의 도트 화상 데이터(노광 광량)는 100%이다(도6a 참조). 그런 후에, 100% 풀 노광의 도트를 1로 나타내고, 0% 내지 100% 미만의 노광량을 갖는 중간 계조 도트를 0 내지 1 미만의 범위의 수로 나타낸다.

Y2 내지 Y7, M2 내지 M7, C2 내지 C7, 및 K2 내지 K7는 각각 도6b와 같은 패턴이다. 1 라인은 2 중간 계조 도트로 형성된다. 도6a에 도시된 패턴(Y1, M1, C1, K1)과 비교하면, 라인의 중심 좌표가 0.5 도트 아래로 이동되었다. 각각의 중간 계조 도트의 노광량은 0. 5×γ이다. 예를 들어,γ=1의 경우, 노광량 0.5인 2 도트를 더해 1 라인을 형성하게 되므로 도6a에 도시된 패턴(Y1, M1, C1, K1)의 노광량과 동일한 노광량을 가진다. Y2, M2, C2 및 K2를 위한 γ의 값은 0.9이다. Y3, M3, C3 및 K3를 위한 γ의 값은 1.0이다. Y4, M4, C4 및 K4를 위한 γ의 값은 1.1이다. Y5, M5, C5 및 K5를 위한 γ의 값은 1.2이다. Y6, M6, C6 및 K6를 위한 γ의 값은 1.3이다. Y7, M7, C7 및 K7를 위한 γ의 값은 1.4이다. Y8, M8, C8 및 K8를 위한 γ의 값은 1.5이다.

다음에, 각각의 토너 패치의 농도를 농도 센서(41)로 검출한다(단계 S302). 농도는 다음과 같이 산출된다.

다음에, 계조치 변환 보정 계수(G)를 산출한다(단계 S303).

계조치 변환 보정 계수(G)의 산출은 풀 노광 1 도트 라인과 농도가 동일해지는 중간 계조 라인의 γ값을 산출하는 것에 의해서 행해진다.

도7은 계조치 변환 보정 계수(G)의 산출 방법을 도시한다. 도7에서, 수평축은γ값을 나타내고, 수직축은 농도 센서가 산출한 패치 농도를 나타낸다. 또한, 실선(A)은 중간 계조 도트 라인 패턴 농도를 나타내고, 점선(T)은 풀 노광 라인 패턴의 농도를 나타낸다. 실선(A)과 점선(T)이 교차하는 γ값은 1.35이므로, 계조치 변환 보정 계수(G)는 1.35로 산출된다. 즉, 0.5×1.35=0.675로 노광을 하여 2개의 도트로 형성된 라인의 농도가 풀 노광 라인 패턴의 농도와 동일해지게 된다. 조치 변환 보정 계수(G)의 산출은 각각의 칼라마다 행해진다. 계조치 변환 보정 계수(G)는 후술의 전기적인 불균형 보정 방법에 사용된다.

따라서, 불균형 보정을 위한 계조치 변환 보정 계수(G)의 산출이 후술된다.

본 실시예를 따른 불균형의 보정 방법이 도8a 내지 도8g를 참고로 설명된다. 우선, 장치의 제조 공정에 있어서 화상 형성 장치에서 불균형량이 미리 측정되어 불균형량을 상쇄하기 위한 불균형 보정량(△y)이 미리 판단된다. 불균형 보정량(△y)을 취득하는 방법은 이러한 방법에 한정되지 않는다. 예를 들어, 중간 전사 부재에 형성된 레지스터 검출 패턴의 검출 결과로부터 취득할 수 있다. 여기서, 검출 결과는 레지스터 검출 센서로 얻어진다. 이와 달리, 불균형 측정 차트를 화상 형성 장치로 출력하여 (예를 들어, 시중에서 구입 가능한 화상 스캐너 등으로) 화상을 전자 데이터로 변환하여 얻어진 전자 정보로 산출할 수 있다.

도8a는 좌측 상방으로 커지는 기울기를 가지는 주사선의 화상이다. 본실시예에서, 노광 유닛의 주주사 방향으로 매 5 도트 마다 1 도트의 기울기가 생긴다. 도8b는 계조치 변환 전의 수평인 직선의 비트 맵 화상의 예시이며, 2 도트 라인을 나타낸다. 도8c는 도8a에 도시된 주사선의 기울기에 의한 불균형을 상쇄하기 위한 도8b의 보정된 화상이다. 도8c에 도시된 보정된 화상을 실현하기 위해서, 부주사 방향의 전후 화소의 화상 데이터 조정을 수행한다. 도8d는 불균형 보정량(△y)과 계조치 변환 파라미터와의 관계를 나타낸 표이다. k는 불균형 보정량(△y)의 (소수점 이하가 생략된) 첫 부분의 숫자를 나타낸다. 첫 부분의 숫자는 1 화소 단위로 부주사 방향의 보정량을 나타낸다. 1 화소 단위의 보정으로서, 제1 변환기는 보정량에 따라 화소를 1 화소 단위로 부주사 방향으로 화소를 옮긴다.

α과 β는 1 화소 미만 단위의 부주사 방향으로 보정을 행하기 위한 화상 데이터 조정 분배율을 의미한다. 소수점 이하의 불균형 보정량(△y) 값에 대한 정보로부터, 부주사 방향으로 전후의 화소의 화소 계조치의 분배율을 나타내어지고, 아래와 같이 산출된다.

β=△y－k

α=1－β

α는 선행 화소의 분배 계수를, β는 후행 화소의 분배 계수를 나타낸다.

다음에, 전술의 설명으로 산출된 계조치 변환 보정 계수(G)를 이용해 화상 분배 계수가 보정될 것이다. 화상 분배 계수는 하기 식에 의해서 보정된다. 보정 후의 화상 분배 계수는 α＇ 및 β＇이다. 0≤α≤0.5일 때, α＇=G×α이다. 0.5＜α≤1.0일 때, α＇=(2－G)×α＋G－1이다. 0≤β≤0.5일 때, β＇=G×β이다. 0.5＜β≤1.0일 때, β＇=(2－G)×β＋G－1이다.

도9는 G=1.35일 때 보정전의 화상 분배 계수(α,β)와 보정 후의 화상 분배 계수(α',β＇)와의 관계를 도시한다.

도8e는 계조치 변환 보정 계수(G)를 이용하여 보정을 실시한 후의 계조치 변환 파라미터를 도시한다.

예를 들어, α와 β가 0.25일 때, α'와 β＇는 0.338이다.

도8f는 도8e에 도시된 화상 보정 파라미터에 따라서 제2 변환기가 부주사 방향의 전후의 화소의 계조치를 변환한 후의 비트 맵 화상이다. 도8g는 계조치가 보정된 비트 맵 화상의 화상 담지 부재의 노광 화상을 도시한다. 주주사 라인의 기울기가 상쇄되어 수평인 직선이 형성된다. 계조치 변환 파라미터의 보정을 실시하여, 불균형이 전기적으로 보정되는 경우에 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐도 방지될 수 있다.

본 실시예에는 화상 담지 부재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 검출용 토너상의 농도를 광학 센서로 검출하여, 그 검출 결과에 따라서 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하여, 뷸균형을 전기적으로 보정을 실시하여 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지하는 방법에 대해 설명하였다.

제2 실시예 본 실시예에는 전사재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 테스트 패턴상을 사용자가 가시적으로 평가한 평가 결과에 따라서, 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정함으로써, 불균형을 전기적으로 보정하여 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지하는 방법에 대해 설명한다.

제2 실시예를 따라서 화상 형성 장치의 전체 구성과 불균형의 보정 방법이 제1 실시예를 따라 설명한 화상 형성 장치와 동일하므로 설명은 생략한다. 제2 실시예와 제1 실시예의 차이는 계조치 변환 보정 계수(G)의 산출 방법뿐이다. 이하 이러한 방법에 대해 도10의 플로우차트를 이용해 설명한다.

우선, 전사재(전사지) 상에 테스트 패턴을 인쇄한다(단계 S401). 도11은 전사재 상에 형성되는 테스트 패턴을 도시한다. 측면 길이가 30 mm인 각각 사각 패치가 2 mm 간격으로 Y, M, C 및 K 마다 총 32개 형성된다. 8 종류의 Y, M, C 및 K가 제공된다. 각 패치의 패턴은 제1 실시예의 도6a 및 도6b에 설명한 것과 동일하다. Y1, M1, C1 및 K1는 (2 도트 간격으로 형성된) 1 도트 수평 라인의 반복 패턴이며, 라인의 도트의 화상 데이터는 100%이다. Y2 내지 Y7, M2 내지 M7, C2 내지 C7, 및 K2 내지 K7는 1 라인이 2 중간 계조 도트로 형성된 패턴이다.

사용자는 패치 패턴(Y1, M1, C1, K1)과 가장 농도가 가까운 패턴을 Y2 내지 Y7, M2 내지 M7, C2 내지 C7, 및 K2 내지 K7 중에서 선택하고, 장치 본체의 작동 패널(미도시)을 사용하여, (Y2 내지 Y7, M2 내지 M7, C2 내지 C7, 및 K2 내지 K7 중에서 각각 하나의 칼라를 선택하여) 선택된 패턴의 번호를 입력한다(단계 S402).

다음에, 장치 본체의 제어 CPU(미도시)는 입력된 패턴의 번호에 대응하는 계치 변환 보정 계수(G)를 산출한다(단계 S403).

전술된 단계는 불균형을 보정하기 위해 계조치 변환 보정 계수(G)를 산출하기 위한 단계이다.

산출된 계조치 변환 보정 계수(G)를 이용해 불균형이 보정된다. 불균형을 보정하는 방법은 제1 실시예와 동일하다.

본 실시예는 전사재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 테스트 패턴상을 사용자가 가시적으로 평가한 평가 결과에 따라서, 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하여, 불균형을 전기적으로 보정하여 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지하는 방법에 대해 설명했다.

제3 실시예

본 실시예는 전사재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 테스트 패턴상의 테스트 패턴의 화상 정보인 화상 농도를 원고 판독부로 판독하여, 판독된 농도 정보에 기초하여 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하여, 불균형을 전기적으로 보정하여 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지하는 방법에 대해 설명한다.

제3 실시예를 따르는 화상 형성 장치의 전체 구성과 불균형의 보정 방법은 제1 실시예와 동일하므로 설명은 생략한다. 제3 실시예와 제1 실시예 및 제2 실시예의 차이는 계조치 변환 보정 계수(G)의 산출 방법이다. 계조치 변환 보정 계수 (G)를 산출하기 위해서 원고 판독 장치와 PC를 사용한다.

도12는 제3 실시예에 있어서의 시스템 구성을 도시한다. 화상 형성 장치 본체(100)에 제어용 PC(200)가 접속된다. 제어용 PC(200)에는 평판 스캐너(원고 판독 장치)(300)가 접속된다.

계조치 변환 보정 계수(G)의 산출 방법이 도13의 플로우차트를 이용해 설명된다.

우선, 전사재(전사지) 상에 테스트 패턴을 인쇄한다(단계 S501). 테스트 패턴의 화상은 제2 실시예에서 도11로 설명한 것과 동일하다.

다음에, 평판 스캐너(300)로 테스트 차트의 화상 정보(RGB 화상 데이터)를 판독한다(단계 S502). 화상 정보는 제어용 PC(200)에 전송된다.

다음에, 제어용 PC(200)는 평판 스캐너(300)로부터 보내진 화상 정보로부터 테스트 차트의 패치 위치를 판별하고(단계 S503), 각 패치마다 평균 출력치(RGB 데이터)를 산출한다. 평균 출력치는 각 패치마다 농도 정보 데이터로 변환된다.

다음에, 계조치 변환 보정 계수(G)를 산출한다(단계 S504). 산출 방법은 제1 실시예와 같다.

전술된 단계는 불균형 보정을 위한 계조치 변환 보정 계수(G)의 산출을 위한 것이다.

산출된 계조치 변환 보정 계수(G)는 불균형을 보정할 때 사용된다 . 불균형 보정 방법은 제1 실시예와 동일하다.

본 실시예는 전사재 상에 형성된 (중간 계조의 화소를 포함한) 테스트 패턴상의 테스트 패턴의 화상 정보인 화상 농도를 원고 판독부로 판독하여, 판독된 농 도 정보를 기초로, 불균형을 보정할 때 사용되는 계조치 변환 파라미터를 조정하여서, 불균형을 전기적으로 보정하여 발생하는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지하는 방법에 대해 설명했다.

본 실시예에서는 원고 판독 장치로서 외부 접속된 평한 스캐너를 사용했지만, 복사기와 같이 원고 판독 장치를 갖는 화상 형성 장치를 이용할 수 있다.

제1 실시예 내지 제3 실시예에서, 계조치 변환 보정 계수(G)가 산출된다. 이 산출은 화상 농도의 얼룩짐에 따라 최적 타이밍에 실시하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 어느 일정한 프린트 매수마다 감광 부재 등의 소모품이 교환되었을 경우, 혹은 장치의 사용 환경(온도, 습도 등)이 크게 바뀌었을 경우에 계조치 변환 보정 계수(G)를 산출하는 것이 매우 적합하다.

제1 실시예 내지 제3 실시예에서, 불균형의 보정을 예로 들어 설명했으나, 본 발명은 다른 화상 위치 보정에도 적용 가능하다. 예를 들면, 어떤 실시예는 화상의 굴곡 보정이나 배율 보정에 사용하는 것이 가능하다. 즉, 화상의 위치를 전기적으로 보정하는 것이 본 발명의 적용 범위에 포함된다.

이상, 본 발명을 바람직한 실시예를 들어 설명했지만, 본 발명은 이러한 실시예로 한정되는 아니다. 청구항의 범위 내에서 여러 가지의 변형이나 응용이 가능하다.

본 발명은 불균형이 전기적으로 보정되는 경우에 발생되는 정밀 화상의 농도 얼룩짐을 방지할 수 있는 효과를 제공한다.

Claims (6)

1. 기울기가 적어도 하나의 계조치로 형성되는 화상의 기울기를 조정하도록 구성된 화상 형성 장치이며,

   계조치를 산출하여 1 화소 미만 단위의 적어도 하나의 화상 기울기를 보정하는 제1 변환기와,

   제1 변환기에 의해 보정된 화상 정보를 기초로 화상 담지 부재에 적어도 하나의 토너상을 형성하는 화상 형성부와,

   화상 형성부를 이용하여 중간 계조 화소를 포함하는 테스트 토너상을 형성하도록 구성된 콘트롤러와,

   화상 형성부에 의해 형성된 테스트 토너상의 광반사 특성을 검출하는 검출기와,

   검출기의 출력에 따라 제1 변환기를 조정하는 조정기를 포함하는 화상 형성 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 화상 기울기는 복수의 화상 기울기를 포함하며, 상기 적어도 하나의 토너상은 상이한 칼라의 복수의 단색 토너상을 포함하고, 화상 형성부는 단색 토너상을 형성하는 복수의 단색 토너상 형성 수단을 포함하며, 화상 형성부는 복수의 단색 토너상 형성 수단에 의해 형성된 단색 토너상을 겹쳐서 다색 토너상을 형성하고, 제1 변환기는 단색 토너상들 사이의 불균형에 대한 정보에 기초하여 화상 기울기를 보정하는 화상 형성 장치.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 적어도 하나의 화상 좌표를 변환하여 1 화소 단위의 적어도 하나의 화상 기울기를 보정하는 제2 변환기를 더 포함하는 화상 형성 장치.
4. 제3항에 있어서, 제1 변환기와 제2 변환기는 단일의 변환기로 구현될 수 있는 화상 형성 장치.
5. 제3항에 있어서, 테스트 토너상은 중간 계조 화소를 포함하는 테스트 패턴 화상이며, 화상 형성 장치는 테스트 패턴 화상의 평과 결과를 입력하기 위한 입력 장치를 포함하는 화상 형성 장치.
6. 제3항에 있어서, 검출기는 화상 형성부에 의해 형성된 테스트 패턴 화상을 판독하는 원고 판독기인 화상 형성 장치.

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