KR100808342B1 - 균열 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 판형상의 기판을 끼우도록 배치되고, 상기 기판의 이면을 가온하는 하부 플레이트 및 상기 기판의 표면을 가온하는 상부 플레이트와,상기 하부 플레이트와 상기 상부 플레이트의 외주부에 배치되어 상기 기판을 둘러싸는 공간을 형성하는 스페이서와,상기 하부 플레이트와 상기 기판의 이면 사이에 미소 공간을 유지하여 상기 하부 플레이트상에 상기 기판을 올려놓는 구동 재치 기구를 구비하고,상기 기판의 이면과 상기 하부 플레이트 사이의 공극 치수의 최소치와, 상기 기판의 표면과 상기 상부 플레이트 사이의 공극 치수의 최소치가 거의 동일하게 되도록 상기 하부 플레이트와 상부 플레이트를 평행하게 배치하도록 한 것을 특징으로 하는 균열 장치.
- 판형상의 기판을 끼우도록 배치되고, 상기 기판의 이면을 냉각하는 하부 플레이트 및 상기 기판의 표면을 냉각하는 상부 플레이트와,상기 하부 플레이트와 상기 상부 플레이트의 외주부에 배치되어 상기 기판을 둘러싸는 공간을 형성하는 스페이서와,상기 하부 플레이트와 상기 기판의 이면 사이에 미소 공간을 유지하여 상기 하부 플레이트상에 상기 기판을 올려놓는 구동 재치 기구를 구비하고,상기 기판의 이면과 상기 하부 플레이트 사이의 공극 치수의 최소치와, 상기 기판의 표면과 상기 상부 플레이트 사이의 공극 치수의 최소치가 거의 동일하게 되도록 상기 하부 플레이트와 상부 플레이트를 평행하게 배치하도록 한 것을 특징으로 하는 균열 장치.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 스페이서가 상기 기판의 이면과 상기 하부 플레이트 사이의 공극 치수의 최소치와, 상기 기판의 표면과 상기 상부 플레이트 사이의 공극 치수의 최소치를 거의 동일하게 되도록 상기 하부 플레이트와 상기 상부 플레이트를 대향시켜서 배치시키는 기능을 갖는 것을 특징으로 하는 균열 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 하부 플레이트 또는 상기 상부 플레이트의 적어도 한쪽에, 그 내부에 유체가 유통되는 유통 공간로를 가지며,상기 유통 공간로와 연통하는 연통부와, 상기 연통부와 연통하는 열원이 배치된 액저장부를 구비하고,상기 유통 공간로, 상기 연통부 및 상기 액저장부의 내부를 진공 배기한 후에 상기 액저장부에 가열에 의해 휘발하고 상기 유통 공간에서 응축되는 작동액의 소정량을 충전하도록 한 것을 특징으로 하는 균열 장치.
- 제 2항에 있어서,상기 하부 플레이트 또는 상기 상부 플레이트의 적어도 한쪽에, 그 내부에 유체가 유통되는 유통 공간로를 가지며,상기 유통 공간로의 내부를 진공 배기한 후에 상기 유통 공간 내에 소정량의 냉각매체를 충전하도록 한 것을 특징으로 하는 균열 장치.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 상부 플레이트 또는 상기 하부 플레이트의 적어도 한쪽의 플레이트에, 상기 기판을 둘러싸는 공간으로부터 외부로 관통하는 복수의 통기구멍을 상기 적어도 한쪽의 플레이트의 면에 균일하게 분산 배치한 것을 특징으로 하는 균열 장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005345083A JP2007150132A (ja) | 2005-11-30 | 2005-11-30 | 均熱装置 |
JPJP-P-2005-00345083 | 2005-11-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070056946A KR20070056946A (ko) | 2007-06-04 |
KR100808342B1 true KR100808342B1 (ko) | 2008-02-27 |
Family
ID=38211140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060110855A KR100808342B1 (ko) | 2005-11-30 | 2006-11-10 | 균열 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007150132A (ko) |
KR (1) | KR100808342B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3916482A1 (en) * | 2020-05-27 | 2021-12-01 | ASML Netherlands B.V. | Conditioning device and corresponding object handler, stage apparatus and lithographic apparatus |
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0747865Y2 (ja) * | 1989-11-10 | 1995-11-01 | 三菱電機株式会社 | ウエハ貼付装置 |
JP3191316B2 (ja) * | 1991-05-17 | 2001-07-23 | 日本電気株式会社 | ベーク処理装置 |
JP3738494B2 (ja) * | 1996-09-18 | 2006-01-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 枚葉式の熱処理装置 |
JP3527032B2 (ja) * | 1996-04-11 | 2004-05-17 | 三菱電機株式会社 | 均熱装置 |
US20030173346A1 (en) * | 2002-03-18 | 2003-09-18 | Renken Wayne Glenn | System and method for heating and cooling wafer at accelerated rates |
JP2004031750A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
-
2005
- 2005-11-30 JP JP2005345083A patent/JP2007150132A/ja active Pending
-
2006
- 2006-11-10 KR KR1020060110855A patent/KR100808342B1/ko active IP Right Grant
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JP2004200666A (ja) * | 2002-12-03 | 2004-07-15 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理方法及び基板処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007150132A (ja) | 2007-06-14 |
KR20070056946A (ko) | 2007-06-04 |
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