KR100783309B1 - System for testing a flat panel display device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 정확히 검출하기 위한 평판 표시 장치의 검사 시스템에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명의 평판 표시 장치의 검사 시스템은 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛과, 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원과, 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛과, 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛과, 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서와, 그리고 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.The present invention relates to an inspection system of a flat panel display device for accurately detecting a defect of an image displayed on a flat panel display device. To this end, the inspection system of the flat panel display device of the present invention is in contact with the electrode portion of the display panel assembly to drive the display panel assembly, a light source that scans light toward the display panel assembly, and the transmission panel assembly A focusing unit for focusing light, a separation unit for separating the focused light by wavelength, and a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged to absorb the light separated by the wavelength and change the wavelength of the light into electrical signals, respectively. And a controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to an electrical signal.
평판, 표시, 화상, 불량, 검사 Flatbed, markings, burns, defects, inspection
Description
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view schematically showing an inspection system of a flat panel display device according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 II-II 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 1.
도 3은 도 1의 "A"부 확대도이다.3 is an enlarged view of a portion “A” of FIG. 1.
도 4는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 다른 형태의 센서를 구체적으로 나타낸 사시도이다.4 is a perspective view illustrating a sensor in another form as a modification of the first embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 센서를 이송시키는 이송 유닛을 구체적으로 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view specifically showing a transfer unit for transferring a sensor as a modification of the first embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.6 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a second exemplary embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.7 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a third exemplary embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 제4 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.8 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.
도 9는 도 8의 IX-IX 단면도이다.9 is a cross-sectional view taken along line IX-IX of FIG. 8.
도 10은 본 발명의 제5 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.10 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a fifth exemplary embodiment of the present invention.
도 11은 본 발명의 제6 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다. 11 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a sixth embodiment of the present invention.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings
100: 구동 유닛 200: 광원100: drive unit 200: light source
300: 집속 유닛 400: 분리 유닛300: focusing unit 400: separation unit
500: 센서 510: 광 다이오드 어레이500: sensor 510: photodiode array
600: 제어부 700: 편광판600: control unit 700: polarizing plate
800: 이송 유닛800: transfer unit
본 발명은 평판 표시 장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 검출하는 평판 표시 장치의 검사 시스템에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display, and more particularly, to an inspection system of a flat panel display that detects a defect of an image displayed on a flat panel display.
일반적으로, 평판 표시 장치는, 액정 표시 장치(LCD, liquid crystal display)와, 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel)과, 유기 전계 발광 표시 장치(OLED, organic electroluminescence display)와, 그리고 전계방출 표시 장치(FED, field emission display) 등 여러 종류가 있다.In general, flat panel displays include liquid crystal displays (LCDs), plasma display panels (PDPs), organic electroluminescence displays (OLEDs), and field emission displays. There are various types of devices (FED, field emission display).
이 중, 액정 표시 장치는, 공통 전극과 컬러 필터(color filter) 등이 형성되어 있는 컬러 필터 표시 패널과 화소 전극과 박막 트랜지스터 등이 형성되어 있는 박막 트랜지스터 표시 패널 사이에 액정 물질을 주입해 놓고, 공통 전극과 화소 전극에 서로 다른 전위를 인가함으로써 전계를 형성하여 액정 분자들의 배열을 변경시키고, 이를 통해 빛의 투과율을 조절함으로써 화상을 디스플레이하는 장치이다.Among these, the liquid crystal display device injects a liquid crystal material between a color filter display panel in which a common electrode and a color filter are formed, and a thin film transistor display panel in which a pixel electrode and a thin film transistor are formed, A device for displaying an image by forming an electric field by applying different potentials to a common electrode and a pixel electrode to change an arrangement of liquid crystal molecules, and thereby controlling light transmittance.
특히, 컬러 필터 표시 패널과 박막 트랜지스터 표시 패널은 진공 중에 어셈블리된 후 단위 패널로 절단된다. 이러한 단위 패널을 "표시 패널 어셈블리"라 부른다.In particular, the color filter display panel and the thin film transistor display panel are assembled into a vacuum and then cut into unit panels. Such unit panels are called "display panel assemblies".
한편, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 검출하기 위해, 일반적으로 육안 검사 방법이 사용된다. On the other hand, in order to detect the defect of the image displayed on a flat panel display apparatus, the visual inspection method is generally used.
하지만, 육안 검사 방법은 검사자의 주간적 기준에 의해 판단되므로 그 수율에 차이가 발생할 수 있다.However, since the visual inspection method is determined by the inspector's weekly standard, the yield may be different.
또한, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 검출하기 위해, 종래의 평판 표시 장치의 검사 장치로는 전하 결합 장치(CCD, Charge Coupled Device)가 사용된다.In addition, a charge coupled device (CCD) is used as an inspection apparatus of a conventional flat panel display to detect a defect of an image displayed on the flat panel display.
하지만, 전하 결합 장치는 고가이고, 화상 불량 중 얼룩을 검출하는데 한계가 있을 수 있다.However, the charge coupling device is expensive and there may be a limit in detecting spots during image defects.
본 발명은 종래기술에 대한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 기 술적 과제는, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 정확히 검출하기 위한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and the technical problem of the present invention is to provide an inspection system of a flat panel display device for accurately detecting a defect of an image displayed on the flat panel display device.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛, 상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, 상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.In order to achieve the above object, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention is in contact with the electrode portion of the display panel assembly to drive the display panel assembly, the light toward the display panel assembly A light source for scanning, a focusing unit for focusing the light passing through the display panel assembly, a separation unit for separating the focused light for each wavelength, and absorbing the light separated for each wavelength and changing the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. And a sensor including a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged, and a controller for determining whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리는 액정 표시 패널 어셈블리일 수 있다.In addition, the display panel assembly may be a liquid crystal display panel assembly.
또한, 상기 광원은 상기 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트일 수 있다.In addition, the light source may be a backlight mounted on the rear surface of the liquid crystal panel assembly.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 어셈블리 사이에 위치되어 상기 표시 패널 어셈블리에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention may further include a polarizing plate positioned between the light source and the display panel assembly to polarize the light scanned by the display panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하여 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 집속 유닛은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고 상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.In addition, the focusing unit may include a plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of focusing apparatuses in order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and simultaneously inspect the plurality of setting regions. And a body integrating a lens, and the sensor may further include a case in which the photodiode array is densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is located at the other end of the display panel assembly, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is The display panel assembly may be positioned at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며 상기 복수개의 광 다이오드 어레이가 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며 상기 복수개의 광 다이오드 어레이가 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows thereto.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the first exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor as another example.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 분리 유닛은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고 상기 프리즘을 고정시키는 브라켓을 포함할 수 있다.In addition, the separation unit may include a prism for separating the focused light for each wavelength, and a bracket for fixing the prism.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the first embodiment of the present invention may further include a plurality of optical fibers which are respectively provided in the plurality of focusing lenses and extend to the separation unit.
한편, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널을 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널을 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛, 상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, 상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention is a light source for scanning the light toward the display panel with a color filter, a focusing unit for focusing the light transmitted through the display panel, the focused light A sensor comprising: a separation unit for separating wavelengths, a photodiode array including a plurality of photodiodes for absorbing the light separated for each wavelength and changing the wavelengths of the light into electrical signals, the display panel according to the electrical signals. It includes a control unit for determining whether or not.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 사이에 위치되어 상기 표시 패널에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display according to the second exemplary embodiment of the present invention may further include a polarizer positioned between the light source and the display panel to polarize the light scanned on the display panel.
또한, 상기 표시 패널을 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 집속 유닛은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고 상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.The focusing unit may include a plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting areas, and the plurality of focusing points, in order to divide the display panel into a plurality of setting areas and to simultaneously inspect the plurality of setting areas. And a body integrating a lens, and the sensor may further include a case in which the photodiode array is densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단 은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel, the other end is located at the other end of the display panel, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel, and the other end thereof is the display panel. It may be located at the other end of the.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널을 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the second exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit may include first and second rails provided at both ends of the display panel at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grips one end of the display panel. And a first motor configured to move the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail, and a second grip configured to hold the other end of the display panel, and a second motor configured to move the second grip. Can be.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 분리 유닛은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고 상기 프리즘을 고정시키는 브라켓을 포함할 수 있다.In addition, the separation unit may include a prism for separating the focused light for each wavelength, and a bracket for fixing the prism.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널을 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel may be determined to be defective.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention may further include a plurality of optical fibers which are respectively provided in the plurality of focusing lenses and extend to the separation unit.
다른 한편, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리에서 발광된 빛을 집속시키는 집속 유닛, 상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, 상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention is a driving unit in contact with the electrode of the self-emission display panel assembly to drive the display panel assembly, the light emitted from the display panel assembly A focusing unit for focusing, a separation unit for separating the focused light for each wavelength, and a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged to absorb the light separated for each wavelength and convert the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. A sensor and a controller to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be a plasma display panel (PDP) assembly.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리 중 어느 하나일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be any one of an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly and a field emission display (FED) panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 집속 유닛은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고 상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.The focusing unit may include a plurality of focusing lenses respectively corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of focusing lenses to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions, and to simultaneously inspect the plurality of setting regions. And a body integrating a focusing lens, and the sensor may further include a case in which a plurality of photodiode arrays are densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case may be located at one end of the display panel assembly and the other end thereof may be located at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예 로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the third exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 분리 유닛은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고 상기 프리즘을 고정시키는 브라켓을 포함할 수 있다.In addition, the separation unit may include a prism for separating the focused light for each wavelength, and a bracket for fixing the prism.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display according to the third exemplary embodiment of the present invention may further include a plurality of optical fibers which are respectively provided in the plurality of focusing lenses and extend to the separation unit.
다른 한편, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울, 상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, 상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention includes a driving unit in contact with an electrode of the display panel assembly to drive the display panel assembly, a light source for scanning light toward the display panel assembly; A concave mirror for focusing light transmitted through the display panel assembly, a diffraction unit for selecting light having a predetermined wavelength among the light reflected from the concave mirror, and absorbing the selected light and changing the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. And a sensor including a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged, and a controller for determining whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리는 액정 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)일 수 있다.In addition, the display panel assembly may be a liquid crystal panel assembly.
또한, 상기 광원은 상기 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트일 수 있다.In addition, the light source may be a backlight mounted on the rear surface of the liquid crystal panel assembly.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 어셈블리 사이에 위치되어 상기 표시 패널 어셈블리에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention may further include a polarizer positioned between the light source and the display panel assembly to polarize the light scanned by the display panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 오목 거울은 상기 복수개의 설 정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 회절 유닛은 상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고 상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.In addition, in order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time, a plurality of concave mirrors may be provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of concave portions. A plurality of diffraction gratings each having a mirror-integrated body, and wherein the diffraction unit receives light reflected from each of the plurality of concave mirrors, and transmits only light of a predetermined wavelength to the photodiode array, and the plurality of diffraction And a plurality of grating motors each rotating the grating, and the sensor may further include a case in which the plurality of photodiode arrays are densely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is located at the other end of the display panel assembly, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is The display panel assembly may be positioned at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예 로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the fourth exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 상기 제어부는 상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 것일 수 있다.The controller may control the plurality of grating motors individually so that the photodiode array absorbs only light having the set wavelength.
다른 한편, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널을 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널을 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울, 상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, 상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention is a light source for scanning the light toward the display panel with a color filter, a concave mirror for focusing the light transmitted through the display panel, the concave mirror A sensor comprising a diffraction unit for selecting light of a set wavelength among reflected light, a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged to absorb the selected light and change the wavelength of the light into an electrical signal, and the electrical And a controller for determining whether the display panel assembly is defective according to a signal.
또한, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 사이에 위치되어 상기 표시 패널에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention may further include a polarizing plate positioned between the light source and the display panel to polarize the light scanned on the display panel.
또한, 상기 표시 패널을 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 오목 거울은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 상기 회절 유닛은 상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고 상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.In addition, in order to divide the display panel into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time, a plurality of concave mirrors may be provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of concave mirrors may be provided. And a diffraction grating, each of which receives the light reflected from each of the plurality of concave mirrors, and transmits only a light having a predetermined wavelength to the photodiode array, and the plurality of diffraction gratings, respectively. And a plurality of grating motors for rotating, and the sensor may further include a case in which the photodiode array is densely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀 (sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel, the other end is located at the other end of the display panel, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel, and the other end thereof is the display panel. It may be located at the other end of the.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널을 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit may include first and second rails provided at both ends of the display panel at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grips one end of the display panel. And a first motor configured to move the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail, and a second grip configured to hold the other end of the display panel, and a second motor configured to move the second grip. Can be.
또한, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널을 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel may be determined to be defective.
또한, 상기 제어부는 상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 것일 수 있다.The controller may control the plurality of grating motors individually so that the photodiode array absorbs only light having the set wavelength.
다른 한편, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울, 상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, 상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention is a driving unit in contact with the electrode of the self-emission display panel assembly to drive the display panel assembly, the light transmitted through the display panel assembly A condensation mirror for focusing, a diffraction unit for selecting light having a set wavelength among the light reflected from the concave mirror, and a photodiode arranged with a plurality of photodiodes for absorbing the selected light and changing the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. And a sensor including an array, and a controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 플라즈마 디스플레이 패널 (PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be a plasma display panel (PDP) assembly.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리 중 어느 하나일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be any one of an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly and a field emission display (FED) panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 오목 거울은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 상기 회절 유닛은 상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고 상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.Further, in order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time, a plurality of concave mirrors are respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of concave mirrors. A diffraction grating for receiving light reflected from each of the plurality of concave mirrors and transmitting only light having a predetermined wavelength to the photodiode array, and the plurality of diffraction gratings. And a plurality of grating motors each rotating, and the sensor may further include a case in which the plurality of photodiode arrays are densely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case may be located at one end of the display panel assembly and the other end thereof may be located at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth exemplary embodiment may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하 고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.In addition, the controller receives the electrical signal, compares the electrical signal with a pre-stored reference signal, determines whether the electrical signal is included in the reference signal, and the electrical signal is not included in the reference signal. In this case, the display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 상기 제어부는 상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 것일 수 있다.The controller may control the plurality of grating motors individually so that the photodiode array absorbs only light having the set wavelength.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 도 1의 II-II 단면도이며, 그리고 도 3은 도 1의 "A"부 확대도이다. 1 is a perspective view schematically illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a first exemplary embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG. 1, and FIG. to be.
도 4는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 다른 형태의 센서를 구체적으로 나타낸 사시도이고, 도 5는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 센서를 이송시키는 이송 유닛을 구체적으로 나타낸 사시도이다.4 is a perspective view showing in detail a different type of sensor as a modification of the first embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a perspective view showing a transport unit for transferring a sensor as a modification of the first embodiment of the present invention. to be.
본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표지 장치 검사 시스템은 자기발광이 되지 않는 평판 표시 장치에 적용되는 검사 시스템으로서, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(100)과, 광원(200)과, 집속 유닛(300)과, 분리 유닛(400)과, 센서(500)와, 그리고 제어부(600)를 포함한다.The flat panel display device inspection system according to the first exemplary embodiment of the present invention is an inspection system applied to a flat panel display device that does not emit light. As shown in FIGS. 1 and 2, the driving
상기 구동 유닛(100)은 표시 패널 어셈블리(10)의 공통 전극(11)과 화소 전극(12)에 각각 접촉되어 표시 패널 어셈블리(10)를 구동시킨다.The driving
상기 광원(200)은 표시 패널 어셈블리(10)를 향해 빛(L)을 주사한다. 구체적으로, 이러한 광원(200)은 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)로부터 디스플레이 가능한 모든 색의 파장을 포함하기 위해 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다. 또한, 상기 표시 패널 어셈블리(10)가 액정 표시 패널 어셈블리(10)일 경우, 상기 광원(200)으로 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트(미도시)를 사용할 수도 있다.The
상기 집속 유닛(300)은 표시 패널 어셈블리(10)를 투과한 빛을 집속시킨다.The focusing unit 300 focuses light transmitted through the
상기 분리 유닛(400)은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리한다. 구체적으로, 분리 유닛(400)은 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘(410)과, 그리고 프리즘(410)을 고정시키는 브라켓(420)을 포함할 수 있다. 특히, 브라켓(420)으로는 후술하는 센서(500)의 케이스(520)가 그대로 사용될 수 있다. The separation unit 400 separates the focused light for each wavelength. Specifically, the separation unit 400 may include a prism 410 for separating the focused light for each wavelength, and a bracket 420 for fixing the prism 410. In particular, the
상기 센서(500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(511)(512)(513)가 배열된 광 다이오드 어레이(510)를 포함한다.The
상기 제어부(600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(10)의 불량 여부를 판단한다.The
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 1에 도시된 바와 같이, 광원(200)과 표시 패널 어셈블리(10) 사이에 위치되어 표시 패널 어셈블리(10)에 주사되는 빛(L)을 편광시키는 편광판(700)을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first exemplary embodiment of the present invention is positioned between the
한편, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 복수개의 설정 영역으로 구분하여 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 다음과 같은 구체적인 구성을 포함할 수 있다.Meanwhile, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention has the following specific configuration in order to divide the
먼저, 상술한 집속 유닛(300)은 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈(310)와, 그리고 복수개의 집속 렌즈(310)를 일체로 하는 바디(320)를 포함할 수 있다. 여기서, 바디(320)는 후술하는 센서의 케이스(520)를 그대로 사용할 수 있다. First, the focusing unit 300 described above may include a plurality of focusing lenses 310 respectively provided corresponding to a plurality of setting regions, and a body 320 integrating the plurality of focusing lenses 310. . Here, the body 320 may use the
그리고, 상술한 센서(500)는 복수개의 집속 렌즈(310)에 각각 상응하도록 광 다이오드 어레이(PDA, photo diode array)가 복수개 촘촘히 배열된 케이스(520)를 더 포함할 수 있다.The
또한, 상술한 복수개의 설정 영역 각각은, 도 3에 도시된 바와 같이, 적어도 하나의 서브 픽셀(SP)(sub-pixel)일 수 있고, 적어도 하나의 픽셀(P)(pixel)일 수도 있다. 여기서, 서브 픽셀(SP)은 컬러 필터(CF)에서 개별 R, G, B 중 어느 하나를 가리키는 것이다. 또한, 픽셀(P)은 컬러 필터(CF)에서 개별 R, G, B 한 쌍을 가리키는 것이다. 특히, 이러한 복수개의 집속 렌즈(310) 및 복수개의 광 다이오드 어레이(510)는 그 수가 많으면 많을 수록, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 보다 정확히 측정할 수 있다. 따라서, 복수개의 설정 영역 각각은 하나의 서브 픽셀(SP) 또는 하나의 픽셀(P)일 때가 가장 바람직할 것이다. Each of the plurality of setting regions described above may be at least one sub-pixel (SP) or at least one pixel (P) as shown in FIG. 3. Here, the subpixel SP refers to any one of individual R, G, and B in the color filter CF. In addition, the pixel P indicates an individual pair of R, G, and B in the color filter CF. In particular, the larger the number of the plurality of focusing lenses 310 and the plurality of
또한, 케이스(520)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 케이스(520)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 그리 고, 편광판(700)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 편광판(700)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 따라서, 표시 패널 어셈블리(10)의 적어도 하나의 세로 라인을 검사할 수 있다.In addition, one end of the
구체적으로, 일예로서, 상기 케이스(520)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 바 형상(bar shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(510)가 이에 일렬로 배열될 수 있다. 이 경우, 표시 패널 어셈블리(10) 중 하나의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다.Specifically, as an example, as shown in FIG. 1, the
또한, 다른 예로서, 상기 케이스(520)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 사각 박스 형상(rectangular box shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(510)가 이에 다중 열로 배열될 수 있다. 이 경우, 열의 수의 따라 표시 패널 어셈블리(10) 중 적어도 2개의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다. As another example, as shown in FIG. 4, the
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 이송시키는 이송 유닛(800)을 더 포함할 수 있다. 이하, 상기 이송 유닛(800)에 대해 구체적으로 설명한다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 1, to inspect all the regions of the
상기 이송 유닛(800)은 제1 레일(810)과, 제2 레일(820)과, 제1 그립(830)과, 제2 그립(840)과, 제1 모터(850)와, 그리고 제2 모터(860)를 포함할 수 있다.The
보다 구체적으로, 상기 제1 레일(810)은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 설정 간격 이격되어 구비되고, 상기 제2 레일(820)은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 설정 간격 이격되어 구비된다. 상기 제1 그립(830)은 제1 레일(810)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단을 파지하고, 상기 제2 그립(840)은 제2 레일(820)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단을 파지한다. 상기 제1 모터(850)는 제1 그립(830)을 이동시키고, 상기 제2 모터(860)는 제2 그립(840)을 이동시킨다.More specifically, the
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 도 5에 도시된 바와 같이, 다른 예로서, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 그대로 고정하고 상기 센서(500)를 이송시킬 수 있다. 이하, 상기 센서(500)를 이송시키는 이송 유닛(1800)에 대해 구체적으로 설명한다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5 to inspect all the regions of the
상기 이송 유닛(1800)은 제3 레일(1810)과, 제4 레일(1820)과, 제3 그립(1830)과, 제4 그립(1840)과, 제3 모터(1850)와, 그리고 제4 모터(1860)를 포함할 수 있다.The
보다 구체적으로, 상기 제3 레일(1810)은 센서(500)의 일측 단에 설정 간격 이격되어 구비되고, 상기 제4 레일(1820)은 센서(500)의 타측 단에 설정 간격 이격되어 구비된다. 상기 제3 그립(1830)은 제3 레일(1810)을 따라 이동 가능하게 구비되며 센서(500)의 일측 단을 파지하고, 상기 제4 그립(1840)은 제4 레일(1820)을 따라 이동 가능하게 구비되며 센서(500)의 타측 단을 파지한다. 상기 제3 모터(1850)는 제3 그립(1830)을 이동시키고, 상기 제4 모터(1860)는 제4 그립(1840)을 이동시킨다.More specifically, the
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 2 에 도시된 바와 같이, 복수개의 집속 렌즈(310)에 각각 구비되며 분리 유닛(400)까지 연장되어 집속된 빛을 각각 전달하는 복수개의 광 섬유(900)를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, is provided in each of the plurality of focusing lenses 310 and extends to the separation unit 400 to collect focused light. It may further include a plurality of
또한, 상기 제어부(600)는 설정된 프로그램에 의해 동작하는 하나 이상의 마이크로 프로세서로 구현될 수 있다. 이하 제어부(600)를 구체적으로 설명한다.In addition, the
상기 제어부(600)는 전기 신호를 수신하고, 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정한다.The
따라서, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템에 의하면, 표시 패널 어셈블리(10)의 불량을 정확히 검출할 수 있다. 특히, 복수개의 집속 렌즈(310)을 각각 통과한 빛(L)이 프리즘(410)에 의해 파장 별로 분리되어 복수개의 광 다이오드 어레이(510)에 흡수되므로, 표시 패널 어셈블리(10)에서 디스플레이되는 화상의 불량 중 얼룩까지 정확히 검출할 수 있게 된다.Therefore, according to the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, the defect of the
이하, 도 1 및 도 2를 참조하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템의 동작을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, an operation of the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2.
이전 공정에서 백 라이터(미도시)가 장착되지 않은 표시 패널 어셈블리(10)를 검사 공정으로 이송한다. 이송된 표시 패널 어셈블리(10)에 구동 유닛(100)을 체결한다.In the previous process, the
이 후, 광원(200)이 켜지고, 200nm 내지 2100nm의 빛(L)이 광원(200)으로부 터 방사된다.Thereafter, the
방사된 빛(L)은 편광판(700)에 의해 편광된 후, 구동되고 있는 표시 패널 어셈블리(10) 중 복수개의 설정 영역에 입사된다.The emitted light L is polarized by the
입사된 빛의 파장은 표시 패널 어셈블리(10)로부터 디스플레이되는 색에 따라 그 강도가 변화된다. 일예로, 표시 패널 어셈블리(10)에 디스플레이되는 색이 빨간색일 경우, 빛의 파장 중 빨간색에 해당하는 파장은 이에 흡수되어 그 파장의 강도(intensity)가 약해진다.The intensity of the incident light varies depending on the color displayed from the
이후, 각 파장의 강도가 변화된 빛은 복수개의 집속 렌즈(310)에 각각 집속되어 프리즘(410)에 전달된다. 이때, 전달 매개체로서 상술한 복수개의 광 섬유(900)가 사용될 수 있다. Thereafter, the light whose intensity of each wavelength is changed is focused on the plurality of focusing lenses 310 and transmitted to the prism 410. In this case, the plurality of
프리즘(410)에서는 복수개의 광 섬유(900)로부터 각각 전달된 빛을 파장별로 분리한다. 이렇게 분리된 빛은 파장별로 복수개의 광 다이오드(511)(512)(513)에 각각 흡수되며, 나아가, 복수개의 광 다이오드 어레이(510)에 각각 흡수된다.The prism 410 separates the light transmitted from the plurality of
이후, 복수개의 광 다이오드 어레이(510)는 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환하여 제어부(600)에 인가한다.Thereafter, the plurality of
이렇게 제어부(600)에 인가된 전기 신호는 제어부(600)에 기 저장된 참조 신호와 비교된 후, 전기 신호가 참조 신호에 포함되지 않은 경우, 제어부(600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되면, 제어부(600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 정상으로 판정한다.The electrical signal applied to the
또한, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 검출하기 위해 표시 패널 어셈블 리(10)(또는 센서)는 이송 유닛(800 또는 1800)에 의해 이송되면서 상술한 과정을 반복하게 된다.In addition, in order to detect the entire area of the
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.6 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a second exemplary embodiment of the present invention.
이하, 도 6을 참조하여, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a second exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 6.
본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 6에 도시된 바와 같이, 광원(1200)과, 집속 유닛(1300)과, 분리 유닛(1400)과, 센서(1500)와, 그리고 제어부(1600)를 포함한다.As illustrated in FIG. 6, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention includes a
구체적으로, 상기 광원(1200)은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)을 향해 빛을 주사한다. 상기 집속 유닛(1300)은 표시 패널(20)을 투과한 빛(L)을 집속시킨다. 상기 분리 유닛(1400)은 집속된 빛을 파장별로 분리한다. 상기 센서(1500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(1511)(1512)(1513)가 배열된 광 다이오드 어레이(1510)를 포함한다. 상기 제어부(1600)는 상기 전기 신호에 따라 표시 패널(20)의 불량 여부를 판단한다. In detail, the
나아가, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)만을 검사하는 시스템이므로, 상술한 제1 실시예의 검사 시스템 중 구동 유닛(100)을 제외하면 동일하다. 따라서, 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, since the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention is a system for inspecting only the
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.7 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a third exemplary embodiment of the present invention.
이하, 도 7을 참조하여, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다.Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a third exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 7.
본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 7에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(도 1의 "100"참조)과, 이송 유닛(도 1의 "800" 참조)과, 집속 유닛(2300)과, 분리 유닛(2400)과, 센서(2500)와, 그리고 제어부(2600)를 포함한다.As shown in FIG. 7, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention includes a driving unit (see “100” in FIG. 1), a transfer unit (see “800” in FIG. 1), , A focusing
구체적으로, 상기 구동 유닛(2100)은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)의 전극부에 접촉되어 표시 패널 어셈블리(30)를 구동시킨다. 상기 이송 유닛(도 1의 "800"참조)은 표시 패널 어셈블리(30)를 이송시킨다. 상기 집속 유닛(2300)은 표시 패널 어셈블리(30)에서 발광된 빛(L)을 집속시킨다. 상기 분리 유닛(2400)은 집속된 빛을 파장별로 분리한다. 상기 센서(2500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드(2511)(2512)(2513)가 배열된 광 다이오드 어레이(2510)를 포함한다. 상기 제어부(2600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(30)의 불량 여부를 판단한다.In detail, the driving unit 2100 contacts the electrode of the self-emission
특히, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수도 있고, 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리일 수도 있다. 나아가, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 또한 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리일 수 있다.In particular, the self-emission
나아가, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)를 검사하는 시스템으로서, 상술한 제1 실시예의 검사 시스템 중 광원(200)과 편광판(700)을 제외하면 동일하다. 따라서 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention is a system for inspecting the self-emission
도 8은 본 발명의 제4 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이고, 도 9는 도 8의 IX-IX 단면도이다.8 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a fourth exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a cross-sectional view taken along line IX-IX of FIG. 8.
이하, 도 8 및 도 9를 참조하여, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다.Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a fourth exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 8 and 9.
본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표지 장치 검사 시스템은 자기발광이 되지 않는 평판 표시 장치에 적용되는 검사 시스템으로서, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(3100)과, 광원(3200)과, 오목 거울(3300)과, 회절 유닛(3400)과, 센서(3500)와, 그리고 제어부(3600)를 포함한다.The flat panel display device inspection system according to the fourth exemplary embodiment of the present invention is an inspection system applied to a flat panel display device that does not emit light. As shown in FIGS. 1 and 2, the
상기 구동 유닛(3100)은 표시 패널 어셈블리(10)의 공통 전극(11)과 화소 전극(12)에 각각 접촉되어 표시 패널 어셈블리(10)를 구동시킨다.The
상기 광원(3200)은 표시 패널 어셈블리(10)를 향해 빛(L)을 주사한다. 구체적으로, 이러한 광원(3200)은 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)로부터 디스플레이 가능한 모든 색의 파장을 포함하기 위해 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다. 또한, 상기 표시 패널 어셈블리(10)가 액정 표시 패널 어셈블리(10)일 경우, 상기 광원(3200)으로 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트(미도시)를 사용할 수도 있다.The
상기 오목 거울(3300)은 표시 패널 어셈블리(10)를 투과한 빛을 집속시킨다.The concave mirror 3300 focuses light transmitted through the
상기 회절 유닛(3400)은 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별한다. 구체적으로, 회절 유닛(400)은 오목 거울(3300)에서 반사된 빛을 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이(510)에 전달하는 회절 격자(3410)와, 그리고 회절 격자(3410)를 회전시키는 격자 모터(3430)를 포함할 수 있다. 특히, 회절 격자(3410)는 후술하는 센서(3500)의 케이스(3520)에 회동 가능하게 구비될 수 있다. The
상기 센서(3500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(3511)(3512)(3513)가 배열된 광 다이오드 어레이(3510)를 포함한다.The
상기 제어부(3600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(10)의 불량 여부를 판단한다.The
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 8 및 도 8에 도시된 바와 같이, 광원(3200)과 표시 패널 어셈블리(10) 사이에 위치되어 표시 패널 어셈블리(10)에 주사되는 빛(L)을 편광시키는 편광판(3700)을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention is positioned between the
한편, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 복수개의 설정 영역으로 구분하여 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 다음과 같은 구체적인 구성을 포함할 수 있다.Meanwhile, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention has the following specific configuration in order to divide the
먼저, 상술한 오목 거울(3300)은 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 복수개의 오목 거울(3310)를 일체로 하는 바디(3320)가 구비될 수 있다. 여기서, 바디(3320)는 후술하는 센서의 케이스(3520)를 그대로 사용할 수 있다.First, a plurality of the concave mirrors 3300 described above may be provided corresponding to a plurality of setting regions, and a body 3320 may be provided to integrate the plurality of concave mirrors 3310. Here, the body 3320 may use the case 3520 of the sensor, which will be described later.
그리고, 상술한 회절 유닛(3400)의 회절 격자(3410)는 상기 복수개의 오목 거울(3310) 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이(3510)에 전달하기 위해 복수개가 구비되고, 그리고 격자 모터(3430)는 상기 복수개의 회절 격자(3410)를 각각 회전시키기 위해 복수개가 구비된다,In addition, the
그리고, 상술한 센서(500)는 복수개의 회절 격자(3410)에 각각 상응하도록 광 다이오드 어레이(3510)(PDA, photo diode array)가 복수개 촘촘히 배열된 케이스(3520)를 더 포함할 수 있다.The
또한, 상술한 복수개의 설정 영역 각각은, 상술한 제1 실시예에 언급된 설정 영역과 동일하므로 상세한 설명을 생략한다(도 3 참조). 특히, 이러한 복수개의 오목 거울(3310), 복수개의 회절 격자(3410) 및 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)는 그 수가 많으면 많을 수록, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 보다 정확히 측정할 수 있다. 따라서, 복수개의 설정 영역 각각은 하나의 서브 픽셀(SP) 또는 하나의 픽셀(P)일 때가 가장 바람직할 것이다. In addition, since each of the plurality of setting areas described above is the same as the setting area mentioned in the above-described first embodiment, detailed description thereof is omitted (see FIG. 3). In particular, the larger the number of the plurality of concave mirrors 3310, the plurality of
또한, 케이스(3520)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 케이스(3520)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 그리고, 편광판(3700)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 편광 판(3700)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 따라서, 표시 패널 어셈블리(10)의 적어도 하나의 세로 라인을 검사할 수 있다.In addition, one end of the case 3520 may be located at one end of the
구체적으로, 일예로서, 상기 케이스(3520)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 바 형상(bar shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)가 이에 일렬로 배열될 수 있다. 이 경우, 표시 패널 어셈블리(10) 중 하나의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다.Specifically, as an example, the case 3520 may have a bar shape as illustrated in FIG. 8, and a plurality of
또한, 다른 예로서, 상기 케이스(3520)는, 상술한 제1 실시예에 언급된 바와 같이, 사각 박스 형상(rectangular box shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)가 이에 다중 열로 배열될 수 있다(도 4 참조). 이 경우, 열의 수의 따라 표시 패널 어셈블리(10) 중 적어도 2개의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다. As another example, the case 3520 may have a rectangular box shape as described in the above-described first embodiment, and a plurality of
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 이송시키는 이송 유닛(3800)을 더 포함할 수 있다. 이하, 상기 이송 유닛(3800)에 대해 구체적으로 설명한다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention, as shown in FIG. 4, to inspect all the regions of the
상기 이송 유닛(3800)은 제1 레일(3810)과, 제2 레일(3820)과, 제1 그립(3830)과, 제2 그립(3840)과, 제1 모터(3850)와, 그리고 제2 모터(3860)를 포함할 수 있다.The
보다 구체적으로, 상기 제1 레일(3810)은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 설정 간격 이격되어 구비되고, 상기 제2 레일(3820)은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 설정 간격 이격되어 구비된다. 상기 제1 그립(3830)은 제1 레일 (3810)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단을 파지하고, 상기 제2 그립(3840)은 제2 레일(3820)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단을 파지한다. 상기 제1 모터(3850)는 제1 그립(3830)을 이동시키고, 상기 제2 모터(3860)는 제2 그립(3840)을 이동시킨다.More specifically, the
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 그대로 고정하고 상기 센서(3500)를 이송시킬 수 있다. 상기 센서(3500)를 이송시키는 이송 유닛은 상술한 제1 실시예와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다(도 5참조).In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention fixes the
또한, 상기 제어부(3600)는 설정된 프로그램에 의해 동작하는 하나 이상의 마이크로 프로세서로 구현될 수 있다. 이하 제어부(3600)를 구체적으로 설명한다.In addition, the
상기 제어부(3600)는 전기 신호를 수신하고, 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정한다. 또한, 상기 제어부(3600)는 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 복수개의 격자 모터(3430)를 개별적으로 제어할 수 있다. The
따라서, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템에 의하면, 표시 패널 어셈블리(10)의 불량을 정확히 검출할 수 있다. 특히, 복수개의 오목 거울(3310)에서 각각 반사된 빛(L)의 파장은 회절 유닛(3400)에 의해 선별되어(예를 들어, 표시 패널 어셈블리에서 디스플레이 되는 색이 빨간색이면 빨간색의 파 장만이 선별되고, 파란색이면 파란색의 파장만이 선별되어) 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)에 흡수되므로, 광 다이오드 어레이(3510) 내에서 광 다이오드(3511)(3512)(3513)의 수를 줄일 수 있다. 또한 상술한 제1 실시예와 같이, 표시 패널 어셈블리(10)에서 디스플레이되는 화상의 불량 중 얼룩까지 정확히 검출할 수 있게 된다. 나아가, 색을 선별하기 위해서는 표시 패널 어셈블리(10)에서 디스플레이되는 색을 이미 제어부(3600)가 인식하고(특히, 디스플레이되는 색의 데이터는 제어부에 포함된 메모리에 기 저장됨), 제어부에서는 그 색에 따라 격자 모터(3430)를 제어하게 된다. 결국, 회절 격자(3410)에 의해 빛의 파장이 선별된다. Therefore, according to the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention, the defect of the
이하, 도 8 및 도 9를 참조하여, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템의 동작을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, an operation of the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 8 and 9.
이전 공정에서 백 라이터(미도시)가 장착되지 않은 표시 패널 어셈블리(10)를 검사 공정으로 이송한다. 이송된 표시 패널 어셈블리(10)에 구동 유닛(3100)을 체결한다.In the previous process, the
이 후, 광원(3200)이 켜지고, 200nm 내지 2100nm의 빛(L)이 광원(3200)으로부터 방사된다.Thereafter, the
방사된 빛(L)은 편광판(3700)에 의해 편광된 후, 구동되고 있는 표시 패널 어셈블리(10) 중 복수개의 설정 영역에 입사된다.The emitted light L is polarized by the
입사된 빛의 파장은 표시 패널 어셈블리(10)로부터 디스플레이되는 색에 따라 그 강도가 변화된다. 일예로, 표시 패널 어셈블리(10)에 디스플레이되는 색이 빨간색일 경우, 빛의 파장 중 빨간색에 해당하는 파장은 이에 흡수되어 그 파장의 강도(intensity)가 약해진다.The intensity of the incident light varies depending on the color displayed from the
이후, 각 파장의 강도가 변화된 빛은 복수개의 오목 거울(3310)에 각각 집속되어 회절 격자(3410)를 향해 반사된다. Thereafter, the light whose intensity of each wavelength is changed is focused on each of the plurality of concave mirrors 3310 and reflected toward the
회절 격자(3410)에서는 상술한 바와 같이 빛의 파장을 선별한다. 이렇게 선별된 빛의 파장은은 복수개의 광 다이오드(3511)(3512)(3513)에 각각 흡수되며, 나아가, 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)에 각각 흡수된다.The
이후, 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)는 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환하여 제어부(3600)에 인가한다.Thereafter, the plurality of
이렇게 제어부(3600)에 인가된 전기 신호는 제어부(3600)에 기 저장된 참조 신호와 비교된 후, 전기 신호가 참조 신호에 포함되지 않은 경우, 제어부(3600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되면, 제어부(3600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 정상으로 판정한다.The electrical signal applied to the
또한, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 검출하기 위해 표시 패널 어셈블리(10)(또는 센서)는 이송 유닛(3800)에 의해 이송되면서 상술한 과정을 반복하게 된다.In addition, in order to detect the entire area of the
도 10은 본 발명의 제5 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.10 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a fifth exemplary embodiment of the present invention.
이하, 도 10을 참조하여, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a fifth exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 10.
본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 10에 도 시된 바와 같이, 광원(4200)과, 오목 거울(4300)과, 회절 유닛(4400)과, 센서(4500)와, 그리고 제어부(4600)를 포함한다.As shown in FIG. 10, the inspection system of the flat panel display according to the fifth embodiment of the present invention includes a
구체적으로, 상기 광원(4200)은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)을 향해 빛을 주사한다. 상기 오목 거울(4300)은 표시 패널(20)을 투과한 빛(L)을 집속시킨다. 상기 회절 유닛(4400)은 오목 거울(4300)에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별한다. 상기 센서(4500)는 선별된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(4511)(4512)(4513)가 배열된 광 다이오드 어레이(4510)를 포함한다. 상기 제어부(4600)는 상기 전기 신호에 따라 표시 패널(20)의 불량 여부를 판단한다. In detail, the
나아가, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)만을 검사하는 시스템이므로, 상술한 제4 실시예의 검사 시스템 중 구동 유닛(3100)을 제외하면 동일하다. 따라서, 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, since the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention is a system for inspecting only the
도 11은 본 발명의 제6 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다. 11 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a sixth embodiment of the present invention.
이하, 도 11을 참조하여, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다.Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 11.
본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 11에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(도 4의 "3100"참조)과, 이송 유닛(도 4의 "3800" 참조)과, 오목 거울(5300)과, 회절 유닛(5400)과, 센서(5500)와, 그리고 제어부(5600)를 포함한다.The inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention includes a driving unit (see "3100" in FIG. 4), a transfer unit (see "3800" in FIG. 4), and the like. And a
구체적으로, 상기 구동 유닛(도 4의 "3100" 참조)은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)의 전극부에 접촉되어 표시 패널 어셈블리(30)를 구동시킨다. 상기 이송 유닛(도 4의 "3800"참조)은 표시 패널 어셈블리(30)를 이송시킨다. 상기 오목 거울(5300)은 표시 패널 어셈블리(30)에서 발광된 빛(L)을 집속시킨다. 상기 회절 유닛(5400)은 상기 오목 거울(5300)에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별한다. 상기 센서(5500)는 선별된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드(5511)(5512)(5513)가 배열된 광 다이오드 어레이(5510)를 포함한다. 상기 제어부(5600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(30)의 불량 여부를 판단한다.In detail, the driving unit (refer to “3100” in FIG. 4) contacts the electrode of the self-emission
특히, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수도 있고, 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리일 수도 있다. 나아가 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리일 수 있다.In particular, the self-emission
나아가, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)를 검사하는 시스템으로서, 상술한 제4 실시예의 검사 시스템 중 광원(3200)과 편광판(3700)을 제외하면 동일하다. 따라서 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention is a system for inspecting the self-emission
이상에서와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템은 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the inspection system of the flat panel display according to the embodiment of the present invention has the following effects.
본 발명의 실시예에 의하면, 평판 표시 장치의 불량을 정확히 검출할 수 있다. 특히, 복수개의 집속 렌즈를 각각 통과한 빛이 프리즘에 의해 파장 별로 분리되어 복수개의 광 다이오드 어레이에 흡수되므로, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량 중 얼룩까지 정확히 검출할 수 있게 된다.According to the embodiment of the present invention, the defect of the flat panel display can be detected accurately. In particular, since light passing through each of the plurality of focusing lenses is separated by wavelength by a prism and absorbed by the plurality of photodiode arrays, defects in an image displayed on the flat panel display can be accurately detected.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.
Claims (91)
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060014568A KR100783309B1 (en) | 2006-02-15 | 2006-02-15 | System for testing a flat panel display device |
PCT/KR2007/000814 WO2007094627A1 (en) | 2006-02-15 | 2007-02-15 | System for testing a flat panel display device and method thereof |
US12/279,066 US7859274B2 (en) | 2006-02-15 | 2007-02-15 | System for testing a flat panel display device and method thereof |
TW096105771A TWI418778B (en) | 2006-02-15 | 2007-02-15 | System for testing a flat panel display device and method thereof |
CN2007800057493A CN101384948B (en) | 2006-02-15 | 2007-02-15 | System for testing flat panel display device and method thereof |
JP2008555157A JP5260320B2 (en) | 2006-02-15 | 2007-02-15 | Inspection system and inspection method for flat panel display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060014568A KR100783309B1 (en) | 2006-02-15 | 2006-02-15 | System for testing a flat panel display device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070082143A KR20070082143A (en) | 2007-08-21 |
KR100783309B1 true KR100783309B1 (en) | 2007-12-10 |
Family
ID=38611869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060014568A KR100783309B1 (en) | 2006-02-15 | 2006-02-15 | System for testing a flat panel display device |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100783309B1 (en) |
CN (1) | CN101384948B (en) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013257208A (en) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Sharp Corp | Defect causing stage analyzing device and defect causing stage analyzing method |
CN102736282B (en) * | 2012-06-21 | 2014-12-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | Method and equipment for inspecting liquid crystal panel |
CN102866520B (en) * | 2012-10-10 | 2015-12-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | A kind of method of smooth alignment liquid crystal display panel optical detection and checkout equipment thereof |
CN103257465B (en) * | 2013-04-17 | 2015-11-11 | 合肥京东方光电科技有限公司 | A kind of pick-up unit and detection method |
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CN105044127A (en) * | 2015-07-31 | 2015-11-11 | 深圳市星火辉煌系统工程有限公司 | OLED micro-display defect detection device and detection method |
CN106782233B (en) * | 2015-11-20 | 2020-12-18 | 宁波舜宇光电信息有限公司 | OLED display screen detection system and application thereof |
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CN109141822B (en) * | 2018-08-02 | 2020-07-03 | 凌云光技术集团有限责任公司 | Screen defect detection device and method based on four-piece type color filter |
CN108983456B (en) * | 2018-08-09 | 2021-07-20 | 珠海格力智能装备有限公司 | Method and device for detecting light leakage of display screen |
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2006
- 2006-02-15 KR KR1020060014568A patent/KR100783309B1/en not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-02-15 CN CN2007800057493A patent/CN101384948B/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101384948A (en) | 2009-03-11 |
CN101384948B (en) | 2011-05-18 |
KR20070082143A (en) | 2007-08-21 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130904 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150909 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |