KR100783309B1 - System for testing a flat panel display device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 정확히 검출하기 위한 평판 표시 장치의 검사 시스템에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명의 평판 표시 장치의 검사 시스템은 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛과, 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원과, 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛과, 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛과, 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서와, 그리고 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.The present invention relates to an inspection system of a flat panel display device for accurately detecting a defect of an image displayed on a flat panel display device. To this end, the inspection system of the flat panel display device of the present invention is in contact with the electrode portion of the display panel assembly to drive the display panel assembly, a light source that scans light toward the display panel assembly, and the transmission panel assembly A focusing unit for focusing light, a separation unit for separating the focused light by wavelength, and a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged to absorb the light separated by the wavelength and change the wavelength of the light into electrical signals, respectively. And a controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to an electrical signal.
평판, 표시, 화상, 불량, 검사 Flatbed, markings, burns, defects, inspection

Description

평판 표시 장치의 검사 시스템{SYSTEM FOR TESTING A FLAT PANEL DISPLAY DEVICE}Inspection system for flat panel display {SYSTEM FOR TESTING A FLAT PANEL DISPLAY DEVICE}
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view schematically showing an inspection system of a flat panel display device according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 II-II 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 1.
도 3은 도 1의 "A"부 확대도이다.3 is an enlarged view of a portion “A” of FIG. 1.
도 4는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 다른 형태의 센서를 구체적으로 나타낸 사시도이다.4 is a perspective view illustrating a sensor in another form as a modification of the first embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 센서를 이송시키는 이송 유닛을 구체적으로 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view specifically showing a transfer unit for transferring a sensor as a modification of the first embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.6 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a second exemplary embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.7 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a third exemplary embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 제4 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.8 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.
도 9는 도 8의 IX-IX 단면도이다.9 is a cross-sectional view taken along line IX-IX of FIG. 8.
도 10은 본 발명의 제5 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.10 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a fifth exemplary embodiment of the present invention.
도 11은 본 발명의 제6 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다. 11 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a sixth embodiment of the present invention.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings
100: 구동 유닛 200: 광원100: drive unit 200: light source
300: 집속 유닛 400: 분리 유닛300: focusing unit 400: separation unit
500: 센서 510: 광 다이오드 어레이500: sensor 510: photodiode array
600: 제어부 700: 편광판600: control unit 700: polarizing plate
800: 이송 유닛800: transfer unit
본 발명은 평판 표시 장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 검출하는 평판 표시 장치의 검사 시스템에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display, and more particularly, to an inspection system of a flat panel display that detects a defect of an image displayed on a flat panel display.
일반적으로, 평판 표시 장치는, 액정 표시 장치(LCD, liquid crystal display)와, 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel)과, 유기 전계 발광 표시 장치(OLED, organic electroluminescence display)와, 그리고 전계방출 표시 장치(FED, field emission display) 등 여러 종류가 있다.In general, flat panel displays include liquid crystal displays (LCDs), plasma display panels (PDPs), organic electroluminescence displays (OLEDs), and field emission displays. There are various types of devices (FED, field emission display).
이 중, 액정 표시 장치는, 공통 전극과 컬러 필터(color filter) 등이 형성되어 있는 컬러 필터 표시 패널과 화소 전극과 박막 트랜지스터 등이 형성되어 있는 박막 트랜지스터 표시 패널 사이에 액정 물질을 주입해 놓고, 공통 전극과 화소 전극에 서로 다른 전위를 인가함으로써 전계를 형성하여 액정 분자들의 배열을 변경시키고, 이를 통해 빛의 투과율을 조절함으로써 화상을 디스플레이하는 장치이다.Among these, the liquid crystal display device injects a liquid crystal material between a color filter display panel in which a common electrode and a color filter are formed, and a thin film transistor display panel in which a pixel electrode and a thin film transistor are formed, A device for displaying an image by forming an electric field by applying different potentials to a common electrode and a pixel electrode to change an arrangement of liquid crystal molecules, and thereby controlling light transmittance.
특히, 컬러 필터 표시 패널과 박막 트랜지스터 표시 패널은 진공 중에 어셈블리된 후 단위 패널로 절단된다. 이러한 단위 패널을 "표시 패널 어셈블리"라 부른다.In particular, the color filter display panel and the thin film transistor display panel are assembled into a vacuum and then cut into unit panels. Such unit panels are called "display panel assemblies".
한편, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 검출하기 위해, 일반적으로 육안 검사 방법이 사용된다. On the other hand, in order to detect the defect of the image displayed on a flat panel display apparatus, the visual inspection method is generally used.
하지만, 육안 검사 방법은 검사자의 주간적 기준에 의해 판단되므로 그 수율에 차이가 발생할 수 있다.However, since the visual inspection method is determined by the inspector's weekly standard, the yield may be different.
또한, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 검출하기 위해, 종래의 평판 표시 장치의 검사 장치로는 전하 결합 장치(CCD, Charge Coupled Device)가 사용된다.In addition, a charge coupled device (CCD) is used as an inspection apparatus of a conventional flat panel display to detect a defect of an image displayed on the flat panel display.
하지만, 전하 결합 장치는 고가이고, 화상 불량 중 얼룩을 검출하는데 한계가 있을 수 있다.However, the charge coupling device is expensive and there may be a limit in detecting spots during image defects.
본 발명은 종래기술에 대한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 기 술적 과제는, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 정확히 검출하기 위한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and the technical problem of the present invention is to provide an inspection system of a flat panel display device for accurately detecting a defect of an image displayed on the flat panel display device.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛, 상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, 상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.In order to achieve the above object, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention is in contact with the electrode portion of the display panel assembly to drive the display panel assembly, the light toward the display panel assembly A light source for scanning, a focusing unit for focusing the light passing through the display panel assembly, a separation unit for separating the focused light for each wavelength, and absorbing the light separated for each wavelength and changing the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. And a sensor including a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged, and a controller for determining whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리는 액정 표시 패널 어셈블리일 수 있다.In addition, the display panel assembly may be a liquid crystal display panel assembly.
또한, 상기 광원은 상기 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트일 수 있다.In addition, the light source may be a backlight mounted on the rear surface of the liquid crystal panel assembly.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 어셈블리 사이에 위치되어 상기 표시 패널 어셈블리에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention may further include a polarizing plate positioned between the light source and the display panel assembly to polarize the light scanned by the display panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하여 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 집속 유닛은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고 상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.In addition, the focusing unit may include a plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of focusing apparatuses in order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and simultaneously inspect the plurality of setting regions. And a body integrating a lens, and the sensor may further include a case in which the photodiode array is densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is located at the other end of the display panel assembly, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is The display panel assembly may be positioned at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며 상기 복수개의 광 다이오드 어레이가 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며 상기 복수개의 광 다이오드 어레이가 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows thereto.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the first exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor as another example.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 분리 유닛은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고 상기 프리즘을 고정시키는 브라켓을 포함할 수 있다.In addition, the separation unit may include a prism for separating the focused light for each wavelength, and a bracket for fixing the prism.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the first embodiment of the present invention may further include a plurality of optical fibers which are respectively provided in the plurality of focusing lenses and extend to the separation unit.
한편, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널을 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널을 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛, 상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, 상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention is a light source for scanning the light toward the display panel with a color filter, a focusing unit for focusing the light transmitted through the display panel, the focused light A sensor comprising: a separation unit for separating wavelengths, a photodiode array including a plurality of photodiodes for absorbing the light separated for each wavelength and changing the wavelengths of the light into electrical signals, the display panel according to the electrical signals. It includes a control unit for determining whether or not.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 사이에 위치되어 상기 표시 패널에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display according to the second exemplary embodiment of the present invention may further include a polarizer positioned between the light source and the display panel to polarize the light scanned on the display panel.
또한, 상기 표시 패널을 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 집속 유닛은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고 상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.The focusing unit may include a plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting areas, and the plurality of focusing points, in order to divide the display panel into a plurality of setting areas and to simultaneously inspect the plurality of setting areas. And a body integrating a lens, and the sensor may further include a case in which the photodiode array is densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단 은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel, the other end is located at the other end of the display panel, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel, and the other end thereof is the display panel. It may be located at the other end of the.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널을 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the second exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit may include first and second rails provided at both ends of the display panel at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grips one end of the display panel. And a first motor configured to move the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail, and a second grip configured to hold the other end of the display panel, and a second motor configured to move the second grip. Can be.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 분리 유닛은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고 상기 프리즘을 고정시키는 브라켓을 포함할 수 있다.In addition, the separation unit may include a prism for separating the focused light for each wavelength, and a bracket for fixing the prism.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널을 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel may be determined to be defective.
또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention may further include a plurality of optical fibers which are respectively provided in the plurality of focusing lenses and extend to the separation unit.
다른 한편, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리에서 발광된 빛을 집속시키는 집속 유닛, 상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, 상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention is a driving unit in contact with the electrode of the self-emission display panel assembly to drive the display panel assembly, the light emitted from the display panel assembly A focusing unit for focusing, a separation unit for separating the focused light for each wavelength, and a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged to absorb the light separated for each wavelength and convert the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. A sensor and a controller to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be a plasma display panel (PDP) assembly.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리 중 어느 하나일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be any one of an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly and a field emission display (FED) panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 집속 유닛은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고 상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.The focusing unit may include a plurality of focusing lenses respectively corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of focusing lenses to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions, and to simultaneously inspect the plurality of setting regions. And a body integrating a focusing lens, and the sensor may further include a case in which a plurality of photodiode arrays are densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case may be located at one end of the display panel assembly and the other end thereof may be located at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예 로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the third exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 분리 유닛은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고 상기 프리즘을 고정시키는 브라켓을 포함할 수 있다.In addition, the separation unit may include a prism for separating the focused light for each wavelength, and a bracket for fixing the prism.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display according to the third exemplary embodiment of the present invention may further include a plurality of optical fibers which are respectively provided in the plurality of focusing lenses and extend to the separation unit.
다른 한편, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울, 상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, 상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention includes a driving unit in contact with an electrode of the display panel assembly to drive the display panel assembly, a light source for scanning light toward the display panel assembly; A concave mirror for focusing light transmitted through the display panel assembly, a diffraction unit for selecting light having a predetermined wavelength among the light reflected from the concave mirror, and absorbing the selected light and changing the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. And a sensor including a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged, and a controller for determining whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리는 액정 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)일 수 있다.In addition, the display panel assembly may be a liquid crystal panel assembly.
또한, 상기 광원은 상기 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트일 수 있다.In addition, the light source may be a backlight mounted on the rear surface of the liquid crystal panel assembly.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 어셈블리 사이에 위치되어 상기 표시 패널 어셈블리에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention may further include a polarizer positioned between the light source and the display panel assembly to polarize the light scanned by the display panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 오목 거울은 상기 복수개의 설 정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고 상기 회절 유닛은 상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고 상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.In addition, in order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time, a plurality of concave mirrors may be provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of concave portions. A plurality of diffraction gratings each having a mirror-integrated body, and wherein the diffraction unit receives light reflected from each of the plurality of concave mirrors, and transmits only light of a predetermined wavelength to the photodiode array, and the plurality of diffraction And a plurality of grating motors each rotating the grating, and the sensor may further include a case in which the plurality of photodiode arrays are densely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is located at the other end of the display panel assembly, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel assembly and the other end thereof is The display panel assembly may be positioned at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예 로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display apparatus according to the fourth exemplary embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 상기 제어부는 상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 것일 수 있다.The controller may control the plurality of grating motors individually so that the photodiode array absorbs only light having the set wavelength.
다른 한편, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널을 향해 빛을 주사하는 광원, 상기 표시 패널을 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울, 상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, 상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention is a light source for scanning the light toward the display panel with a color filter, a concave mirror for focusing the light transmitted through the display panel, the concave mirror A sensor comprising a diffraction unit for selecting light of a set wavelength among reflected light, a photodiode array in which a plurality of photodiodes are arranged to absorb the selected light and change the wavelength of the light into an electrical signal, and the electrical And a controller for determining whether the display panel assembly is defective according to a signal.
또한, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 상기 광원과 상기 표시 패널 사이에 위치되어 상기 표시 패널에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention may further include a polarizing plate positioned between the light source and the display panel to polarize the light scanned on the display panel.
또한, 상기 표시 패널을 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 오목 거울은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 상기 회절 유닛은 상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고 상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.In addition, in order to divide the display panel into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time, a plurality of concave mirrors may be provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of concave mirrors may be provided. And a diffraction grating, each of which receives the light reflected from each of the plurality of concave mirrors, and transmits only a light having a predetermined wavelength to the photodiode array, and the plurality of diffraction gratings, respectively. And a plurality of grating motors for rotating, and the sensor may further include a case in which the photodiode array is densely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀 (sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되고, 그리고 상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case is located at one end of the display panel, the other end is located at the other end of the display panel, and one end of the polarizing plate is located at one end of the display panel, and the other end thereof is the display panel. It may be located at the other end of the.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널을 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the display panel.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit may include first and second rails provided at both ends of the display panel at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grips one end of the display panel. And a first motor configured to move the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail, and a second grip configured to hold the other end of the display panel, and a second motor configured to move the second grip. Can be.
또한, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다.In addition, the light source may have a wavelength of 200nm to 2100nm.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널을 불량으로 판정하는 것일 수 있다.The controller may receive the electrical signal, compare the electrical signal with a pre-stored reference signal, determine whether the electrical signal is included in the reference signal, and when the electrical signal is not included in the reference signal. The display panel may be determined to be defective.
또한, 상기 제어부는 상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 것일 수 있다.The controller may control the plurality of grating motors individually so that the photodiode array absorbs only light having the set wavelength.
다른 한편, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛, 상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울, 상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, 상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부를 포함한다.On the other hand, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention is a driving unit in contact with the electrode of the self-emission display panel assembly to drive the display panel assembly, the light transmitted through the display panel assembly A condensation mirror for focusing, a diffraction unit for selecting light having a set wavelength among the light reflected from the concave mirror, and a photodiode arranged with a plurality of photodiodes for absorbing the selected light and changing the wavelength of the light into an electrical signal, respectively. And a sensor including an array, and a controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 플라즈마 디스플레이 패널 (PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be a plasma display panel (PDP) assembly.
또한, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리 중 어느 하나일 수 있다.In addition, the self-emission display panel assembly may be any one of an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly and a field emission display (FED) panel assembly.
또한, 상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 상기 오목 거울은 상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 상기 회절 유닛은 상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고 상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고, 그리고 상기 센서는 상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함할 수 있다.Further, in order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time, a plurality of concave mirrors are respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and the plurality of concave mirrors. A diffraction grating for receiving light reflected from each of the plurality of concave mirrors and transmitting only light having a predetermined wavelength to the photodiode array, and the plurality of diffraction gratings. And a plurality of grating motors each rotating, and the sensor may further include a case in which the plurality of photodiode arrays are densely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 일예로서, 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one sub-pixel as an example.
또한, 상기 복수개의 설정 영역 각각은, 다른 예로서, 적어도 하나의 픽셀(pixel)일 수 있다.In addition, each of the plurality of setting regions may be at least one pixel as another example.
또한, 상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치될 수 있다.In addition, one end of the case may be located at one end of the display panel assembly and the other end thereof may be located at the other end of the display panel assembly.
또한, 일예로서, 상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열될 수 있다.Also, as an example, the case may have a bar shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in a line.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열될 수 있다.As another example, the case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple columns thereto.
또한, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 일예로서, 상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth exemplary embodiment may further include a transfer unit for transferring the display panel assembly.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일, 상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립, 상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터, 상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고 상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터를 포함할 수 있다.The transfer unit may include first and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at predetermined intervals, and may be movable along the first rail, and grip the one end of the display panel assembly. A first grip, a first motor for moving the first grip, a second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly, and a second motor for moving the second grip. It may include.
또한, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 다른 예로서, 상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention may further include a transfer unit for transferring the sensor.
또한, 상기 이송 유닛은 상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일, 상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립, 상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터, 상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고 상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터를 포함할 수 있다.In addition, the transfer unit is provided on the third and fourth rails, which are provided at both ends of the sensor spaced apart from each other, the third grip is provided to be movable along the third rail, and grips one end of the sensor, the A third motor for moving the third grip, a fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor, and a fourth motor for moving the fourth grip.
또한, 상기 제어부는 상기 전기 신호를 수신하고, 상기 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되는지 판단하 고, 그리고 상기 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리를 불량으로 판정하는 것일 수 있다.In addition, the controller receives the electrical signal, compares the electrical signal with a pre-stored reference signal, determines whether the electrical signal is included in the reference signal, and the electrical signal is not included in the reference signal. In this case, the display panel assembly may be determined to be defective.
또한, 상기 제어부는 상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 것일 수 있다.The controller may control the plurality of grating motors individually so that the photodiode array absorbs only light having the set wavelength.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 도 1의 II-II 단면도이며, 그리고 도 3은 도 1의 "A"부 확대도이다. 1 is a perspective view schematically illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a first exemplary embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG. 1, and FIG. to be.
도 4는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 다른 형태의 센서를 구체적으로 나타낸 사시도이고, 도 5는 본 발명의 제1 실시예의 변형례로서, 센서를 이송시키는 이송 유닛을 구체적으로 나타낸 사시도이다.4 is a perspective view showing in detail a different type of sensor as a modification of the first embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a perspective view showing a transport unit for transferring a sensor as a modification of the first embodiment of the present invention. to be.
본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표지 장치 검사 시스템은 자기발광이 되지 않는 평판 표시 장치에 적용되는 검사 시스템으로서, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(100)과, 광원(200)과, 집속 유닛(300)과, 분리 유닛(400)과, 센서(500)와, 그리고 제어부(600)를 포함한다.The flat panel display device inspection system according to the first exemplary embodiment of the present invention is an inspection system applied to a flat panel display device that does not emit light. As shown in FIGS. 1 and 2, the driving unit 100 and the light source ( 200, a focusing unit 300, a separation unit 400, a sensor 500, and a controller 600.
상기 구동 유닛(100)은 표시 패널 어셈블리(10)의 공통 전극(11)과 화소 전극(12)에 각각 접촉되어 표시 패널 어셈블리(10)를 구동시킨다.The driving unit 100 contacts the common electrode 11 and the pixel electrode 12 of the display panel assembly 10 to drive the display panel assembly 10.
상기 광원(200)은 표시 패널 어셈블리(10)를 향해 빛(L)을 주사한다. 구체적으로, 이러한 광원(200)은 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)로부터 디스플레이 가능한 모든 색의 파장을 포함하기 위해 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다. 또한, 상기 표시 패널 어셈블리(10)가 액정 표시 패널 어셈블리(10)일 경우, 상기 광원(200)으로 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트(미도시)를 사용할 수도 있다.The light source 200 scans the light L toward the display panel assembly 10. Specifically, the light source 200 may have a wavelength of 200 nm to 2100 nm to include wavelengths of all colors displayable from the liquid crystal panel assembly. In addition, when the display panel assembly 10 is the liquid crystal display panel assembly 10, a backlight (not shown) mounted on the rear surface of the liquid crystal panel assembly may be used as the light source 200.
상기 집속 유닛(300)은 표시 패널 어셈블리(10)를 투과한 빛을 집속시킨다.The focusing unit 300 focuses light transmitted through the display panel assembly 10.
상기 분리 유닛(400)은 상기 집속된 빛을 파장별로 분리한다. 구체적으로, 분리 유닛(400)은 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘(410)과, 그리고 프리즘(410)을 고정시키는 브라켓(420)을 포함할 수 있다. 특히, 브라켓(420)으로는 후술하는 센서(500)의 케이스(520)가 그대로 사용될 수 있다. The separation unit 400 separates the focused light for each wavelength. Specifically, the separation unit 400 may include a prism 410 for separating the focused light for each wavelength, and a bracket 420 for fixing the prism 410. In particular, the case 520 of the sensor 500 described later may be used as the bracket 420 as it is.
상기 센서(500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(511)(512)(513)가 배열된 광 다이오드 어레이(510)를 포함한다.The sensor 500 includes a photodiode array 510 in which a plurality of photodiodes 511, 512, 513, which absorb light separated by wavelengths and change the wavelength of the light into electrical signals, are arranged.
상기 제어부(600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(10)의 불량 여부를 판단한다.The controller 600 determines whether the display panel assembly 10 is defective according to an electrical signal.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 1에 도시된 바와 같이, 광원(200)과 표시 패널 어셈블리(10) 사이에 위치되어 표시 패널 어셈블리(10)에 주사되는 빛(L)을 편광시키는 편광판(700)을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first exemplary embodiment of the present invention is positioned between the light source 200 and the display panel assembly 10 to scan the display panel assembly 10 as shown in FIG. 1. It may further include a polarizing plate 700 for polarizing the light (L).
한편, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 복수개의 설정 영역으로 구분하여 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 다음과 같은 구체적인 구성을 포함할 수 있다.Meanwhile, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention has the following specific configuration in order to divide the display panel assembly 10 into a plurality of setting regions and simultaneously inspect the plurality of setting regions. It may include.
먼저, 상술한 집속 유닛(300)은 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈(310)와, 그리고 복수개의 집속 렌즈(310)를 일체로 하는 바디(320)를 포함할 수 있다. 여기서, 바디(320)는 후술하는 센서의 케이스(520)를 그대로 사용할 수 있다. First, the focusing unit 300 described above may include a plurality of focusing lenses 310 respectively provided corresponding to a plurality of setting regions, and a body 320 integrating the plurality of focusing lenses 310. . Here, the body 320 may use the case 520 of the sensor, which will be described later.
그리고, 상술한 센서(500)는 복수개의 집속 렌즈(310)에 각각 상응하도록 광 다이오드 어레이(PDA, photo diode array)가 복수개 촘촘히 배열된 케이스(520)를 더 포함할 수 있다.The sensor 500 may further include a case 520 in which a plurality of photo diode arrays (PDAs) are densely arranged to correspond to the plurality of focusing lenses 310, respectively.
또한, 상술한 복수개의 설정 영역 각각은, 도 3에 도시된 바와 같이, 적어도 하나의 서브 픽셀(SP)(sub-pixel)일 수 있고, 적어도 하나의 픽셀(P)(pixel)일 수도 있다. 여기서, 서브 픽셀(SP)은 컬러 필터(CF)에서 개별 R, G, B 중 어느 하나를 가리키는 것이다. 또한, 픽셀(P)은 컬러 필터(CF)에서 개별 R, G, B 한 쌍을 가리키는 것이다. 특히, 이러한 복수개의 집속 렌즈(310) 및 복수개의 광 다이오드 어레이(510)는 그 수가 많으면 많을 수록, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 보다 정확히 측정할 수 있다. 따라서, 복수개의 설정 영역 각각은 하나의 서브 픽셀(SP) 또는 하나의 픽셀(P)일 때가 가장 바람직할 것이다. Each of the plurality of setting regions described above may be at least one sub-pixel (SP) or at least one pixel (P) as shown in FIG. 3. Here, the subpixel SP refers to any one of individual R, G, and B in the color filter CF. In addition, the pixel P indicates an individual pair of R, G, and B in the color filter CF. In particular, the larger the number of the plurality of focusing lenses 310 and the plurality of photodiode arrays 510, the more accurately the defect of the image displayed on the flat panel display can be measured. Therefore, it is most preferable that each of the plurality of setting regions is one sub-pixel SP or one pixel P.
또한, 케이스(520)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 케이스(520)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 그리 고, 편광판(700)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 편광판(700)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 따라서, 표시 패널 어셈블리(10)의 적어도 하나의 세로 라인을 검사할 수 있다.In addition, one end of the case 520 may be located at one end of the display panel assembly 10, and the other end of the case 520 may be located at the other end of the display panel assembly 10. One end of the polarizer 700 may be positioned at one end of the display panel assembly 10, and the other end of the polarizer 700 may be located at the other end of the display panel assembly 10. Therefore, at least one vertical line of the display panel assembly 10 may be inspected.
구체적으로, 일예로서, 상기 케이스(520)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 바 형상(bar shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(510)가 이에 일렬로 배열될 수 있다. 이 경우, 표시 패널 어셈블리(10) 중 하나의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다.Specifically, as an example, as shown in FIG. 1, the case 520 may have a bar shape and a plurality of photodiode arrays 510 may be arranged in a line. In this case, one vertical line of the display panel assembly 10 may be inspected at the same time.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스(520)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 사각 박스 형상(rectangular box shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(510)가 이에 다중 열로 배열될 수 있다. 이 경우, 열의 수의 따라 표시 패널 어셈블리(10) 중 적어도 2개의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다. As another example, as shown in FIG. 4, the case 520 may have a rectangular box shape and a plurality of photodiode arrays 510 may be arranged in multiple rows. In this case, at least two vertical lines of the display panel assembly 10 may be simultaneously examined according to the number of columns.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 이송시키는 이송 유닛(800)을 더 포함할 수 있다. 이하, 상기 이송 유닛(800)에 대해 구체적으로 설명한다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 1, to inspect all the regions of the display panel assembly 10, the display panel assembly 10. It may further include a transfer unit 800 for transferring. Hereinafter, the transfer unit 800 will be described in detail.
상기 이송 유닛(800)은 제1 레일(810)과, 제2 레일(820)과, 제1 그립(830)과, 제2 그립(840)과, 제1 모터(850)와, 그리고 제2 모터(860)를 포함할 수 있다.The transfer unit 800 includes a first rail 810, a second rail 820, a first grip 830, a second grip 840, a first motor 850, and a second It may include a motor 860.
보다 구체적으로, 상기 제1 레일(810)은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 설정 간격 이격되어 구비되고, 상기 제2 레일(820)은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 설정 간격 이격되어 구비된다. 상기 제1 그립(830)은 제1 레일(810)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단을 파지하고, 상기 제2 그립(840)은 제2 레일(820)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단을 파지한다. 상기 제1 모터(850)는 제1 그립(830)을 이동시키고, 상기 제2 모터(860)는 제2 그립(840)을 이동시킨다.More specifically, the first rail 810 is provided at one end of the display panel assembly 10 spaced apart from the set interval, and the second rail 820 is spaced at the other end of the display panel assembly 10. It is provided. The first grip 830 is provided to be movable along the first rail 810 and grips one end of the display panel assembly 10, and the second grip 840 is along the second rail 820. It is provided to be movable and grips the other end of the display panel assembly 10. The first motor 850 moves the first grip 830, and the second motor 860 moves the second grip 840.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 도 5에 도시된 바와 같이, 다른 예로서, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 그대로 고정하고 상기 센서(500)를 이송시킬 수 있다. 이하, 상기 센서(500)를 이송시키는 이송 유닛(1800)에 대해 구체적으로 설명한다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5 to inspect all the regions of the display panel assembly 10, as another example, the display panel assembly It is possible to fix the 10 as it is and to transport the sensor 500. Hereinafter, the transfer unit 1800 for transferring the sensor 500 will be described in detail.
상기 이송 유닛(1800)은 제3 레일(1810)과, 제4 레일(1820)과, 제3 그립(1830)과, 제4 그립(1840)과, 제3 모터(1850)와, 그리고 제4 모터(1860)를 포함할 수 있다.The transfer unit 1800 includes a third rail 1810, a fourth rail 1820, a third grip 1830, a fourth grip 1840, a third motor 1850, and a fourth It may include a motor 1860.
보다 구체적으로, 상기 제3 레일(1810)은 센서(500)의 일측 단에 설정 간격 이격되어 구비되고, 상기 제4 레일(1820)은 센서(500)의 타측 단에 설정 간격 이격되어 구비된다. 상기 제3 그립(1830)은 제3 레일(1810)을 따라 이동 가능하게 구비되며 센서(500)의 일측 단을 파지하고, 상기 제4 그립(1840)은 제4 레일(1820)을 따라 이동 가능하게 구비되며 센서(500)의 타측 단을 파지한다. 상기 제3 모터(1850)는 제3 그립(1830)을 이동시키고, 상기 제4 모터(1860)는 제4 그립(1840)을 이동시킨다.More specifically, the third rail 1810 is provided at one end of the sensor 500 spaced apart from the set interval, and the fourth rail 1820 is provided at the other end of the sensor 500 spaced apart from the set interval. The third grip 1830 is provided to be movable along the third rail 1810 and grips one end of the sensor 500, and the fourth grip 1840 is movable along the fourth rail 1820. It is provided to hold the other end of the sensor 500. The third motor 1850 moves the third grip 1830, and the fourth motor 1860 moves the fourth grip 1840.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 2 에 도시된 바와 같이, 복수개의 집속 렌즈(310)에 각각 구비되며 분리 유닛(400)까지 연장되어 집속된 빛을 각각 전달하는 복수개의 광 섬유(900)를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, is provided in each of the plurality of focusing lenses 310 and extends to the separation unit 400 to collect focused light. It may further include a plurality of optical fibers 900 for transmitting each.
또한, 상기 제어부(600)는 설정된 프로그램에 의해 동작하는 하나 이상의 마이크로 프로세서로 구현될 수 있다. 이하 제어부(600)를 구체적으로 설명한다.In addition, the controller 600 may be implemented as one or more microprocessors operated by a set program. Hereinafter, the control unit 600 will be described in detail.
상기 제어부(600)는 전기 신호를 수신하고, 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정한다.The controller 600 receives an electrical signal, compares the electrical signal with a pre-stored reference signal, determines whether the electrical signal is included in the reference signal, and the display panel assembly when the electrical signal is not included in the reference signal. (10) is determined to be defective.
따라서, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템에 의하면, 표시 패널 어셈블리(10)의 불량을 정확히 검출할 수 있다. 특히, 복수개의 집속 렌즈(310)을 각각 통과한 빛(L)이 프리즘(410)에 의해 파장 별로 분리되어 복수개의 광 다이오드 어레이(510)에 흡수되므로, 표시 패널 어셈블리(10)에서 디스플레이되는 화상의 불량 중 얼룩까지 정확히 검출할 수 있게 된다.Therefore, according to the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention, the defect of the display panel assembly 10 can be detected accurately. In particular, since the light L passing through each of the plurality of focusing lenses 310 is separated by wavelength by the prism 410 and absorbed by the plurality of photodiode arrays 510, the image displayed on the display panel assembly 10 may be reduced. It is possible to accurately detect stains among defects.
이하, 도 1 및 도 2를 참조하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템의 동작을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, an operation of the inspection system of the flat panel display device according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2.
이전 공정에서 백 라이터(미도시)가 장착되지 않은 표시 패널 어셈블리(10)를 검사 공정으로 이송한다. 이송된 표시 패널 어셈블리(10)에 구동 유닛(100)을 체결한다.In the previous process, the display panel assembly 10 on which the back lighter (not shown) is not mounted is transferred to the inspection process. The driving unit 100 is fastened to the transferred display panel assembly 10.
이 후, 광원(200)이 켜지고, 200nm 내지 2100nm의 빛(L)이 광원(200)으로부 터 방사된다.Thereafter, the light source 200 is turned on, and light L of 200 nm to 2100 nm is emitted from the light source 200.
방사된 빛(L)은 편광판(700)에 의해 편광된 후, 구동되고 있는 표시 패널 어셈블리(10) 중 복수개의 설정 영역에 입사된다.The emitted light L is polarized by the polarizer 700 and then incident on a plurality of setting regions of the display panel assembly 10 being driven.
입사된 빛의 파장은 표시 패널 어셈블리(10)로부터 디스플레이되는 색에 따라 그 강도가 변화된다. 일예로, 표시 패널 어셈블리(10)에 디스플레이되는 색이 빨간색일 경우, 빛의 파장 중 빨간색에 해당하는 파장은 이에 흡수되어 그 파장의 강도(intensity)가 약해진다.The intensity of the incident light varies depending on the color displayed from the display panel assembly 10. For example, when the color displayed on the display panel assembly 10 is red, a wavelength corresponding to red among the wavelengths of light is absorbed thereto and the intensity of the wavelength is weakened.
이후, 각 파장의 강도가 변화된 빛은 복수개의 집속 렌즈(310)에 각각 집속되어 프리즘(410)에 전달된다. 이때, 전달 매개체로서 상술한 복수개의 광 섬유(900)가 사용될 수 있다. Thereafter, the light whose intensity of each wavelength is changed is focused on the plurality of focusing lenses 310 and transmitted to the prism 410. In this case, the plurality of optical fibers 900 described above may be used as the transmission medium.
프리즘(410)에서는 복수개의 광 섬유(900)로부터 각각 전달된 빛을 파장별로 분리한다. 이렇게 분리된 빛은 파장별로 복수개의 광 다이오드(511)(512)(513)에 각각 흡수되며, 나아가, 복수개의 광 다이오드 어레이(510)에 각각 흡수된다.The prism 410 separates the light transmitted from the plurality of optical fibers 900 for each wavelength. The separated light is absorbed by the plurality of photodiodes 511, 512, and 513 for each wavelength, and further absorbed by the plurality of photodiode arrays 510, respectively.
이후, 복수개의 광 다이오드 어레이(510)는 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환하여 제어부(600)에 인가한다.Thereafter, the plurality of photodiode arrays 510 convert the wavelengths of light into electrical signals and apply them to the controller 600.
이렇게 제어부(600)에 인가된 전기 신호는 제어부(600)에 기 저장된 참조 신호와 비교된 후, 전기 신호가 참조 신호에 포함되지 않은 경우, 제어부(600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되면, 제어부(600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 정상으로 판정한다.The electrical signal applied to the controller 600 is compared with a reference signal previously stored in the controller 600, and when the electrical signal is not included in the reference signal, the controller 600 may fail the display panel assembly 10. If the electronic signal is included in the reference signal, the controller 600 determines the display panel assembly 10 to be normal.
또한, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 검출하기 위해 표시 패널 어셈블 리(10)(또는 센서)는 이송 유닛(800 또는 1800)에 의해 이송되면서 상술한 과정을 반복하게 된다.In addition, in order to detect the entire area of the display panel assembly 10, the display panel assembly 10 (or the sensor) is transferred by the transfer unit 800 or 1800 to repeat the above-described process.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.6 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a second exemplary embodiment of the present invention.
이하, 도 6을 참조하여, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a second exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 6.
본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 6에 도시된 바와 같이, 광원(1200)과, 집속 유닛(1300)과, 분리 유닛(1400)과, 센서(1500)와, 그리고 제어부(1600)를 포함한다.As illustrated in FIG. 6, the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention includes a light source 1200, a focusing unit 1300, a separation unit 1400, a sensor 1500, And a controller 1600.
구체적으로, 상기 광원(1200)은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)을 향해 빛을 주사한다. 상기 집속 유닛(1300)은 표시 패널(20)을 투과한 빛(L)을 집속시킨다. 상기 분리 유닛(1400)은 집속된 빛을 파장별로 분리한다. 상기 센서(1500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(1511)(1512)(1513)가 배열된 광 다이오드 어레이(1510)를 포함한다. 상기 제어부(1600)는 상기 전기 신호에 따라 표시 패널(20)의 불량 여부를 판단한다. In detail, the light source 1200 scans light toward the display panel 20 where the color filter is formed. The focusing unit 1300 focuses the light L passing through the display panel 20. The separation unit 1400 separates the focused light for each wavelength. The sensor 1500 includes a photodiode array 1510 in which a plurality of photodiodes 1511, 1512, and 1513, which absorb light separated for each wavelength and change the wavelength of light into electrical signals, are arranged. The controller 1600 determines whether the display panel 20 is defective according to the electrical signal.
나아가, 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)만을 검사하는 시스템이므로, 상술한 제1 실시예의 검사 시스템 중 구동 유닛(100)을 제외하면 동일하다. 따라서, 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, since the inspection system of the flat panel display device according to the second embodiment of the present invention is a system for inspecting only the display panel 20 on which the color filter is formed, except for the driving unit 100 among the inspection systems of the first embodiment described above. same. Therefore, detailed description is omitted.
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.7 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a third exemplary embodiment of the present invention.
이하, 도 7을 참조하여, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다.Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a third exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 7.
본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 7에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(도 1의 "100"참조)과, 이송 유닛(도 1의 "800" 참조)과, 집속 유닛(2300)과, 분리 유닛(2400)과, 센서(2500)와, 그리고 제어부(2600)를 포함한다.As shown in FIG. 7, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention includes a driving unit (see “100” in FIG. 1), a transfer unit (see “800” in FIG. 1), , A focusing unit 2300, a separation unit 2400, a sensor 2500, and a controller 2600.
구체적으로, 상기 구동 유닛(2100)은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)의 전극부에 접촉되어 표시 패널 어셈블리(30)를 구동시킨다. 상기 이송 유닛(도 1의 "800"참조)은 표시 패널 어셈블리(30)를 이송시킨다. 상기 집속 유닛(2300)은 표시 패널 어셈블리(30)에서 발광된 빛(L)을 집속시킨다. 상기 분리 유닛(2400)은 집속된 빛을 파장별로 분리한다. 상기 센서(2500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드(2511)(2512)(2513)가 배열된 광 다이오드 어레이(2510)를 포함한다. 상기 제어부(2600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(30)의 불량 여부를 판단한다.In detail, the driving unit 2100 contacts the electrode of the self-emission display panel assembly 30 to drive the display panel assembly 30. The transfer unit (see “800” in FIG. 1) transfers the display panel assembly 30. The focusing unit 2300 focuses the light L emitted from the display panel assembly 30. The separation unit 2400 separates the focused light for each wavelength. The sensor 2500 includes a photodiode array 2510 in which a plurality of photodiodes 2511, 2512, and 2513 are respectively arranged to absorb light separated by wavelengths and convert light wavelengths into electrical signals. The controller 2600 determines whether the display panel assembly 30 is defective according to an electrical signal.
특히, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수도 있고, 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리일 수도 있다. 나아가, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 또한 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리일 수 있다.In particular, the self-emission display panel assembly 30 may be a plasma display panel (PDP) assembly or an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly. Furthermore, the self emissive display panel assembly 30 may also be a field emission display (FED) panel assembly.
나아가, 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)를 검사하는 시스템으로서, 상술한 제1 실시예의 검사 시스템 중 광원(200)과 편광판(700)을 제외하면 동일하다. 따라서 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, the inspection system of the flat panel display device according to the third embodiment of the present invention is a system for inspecting the self-emission display panel assembly 30, and the light source 200 and the polarizer 700 of the inspection system of the first embodiment described above. The same is true except). Therefore, detailed description is omitted.
도 8은 본 발명의 제4 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이고, 도 9는 도 8의 IX-IX 단면도이다.8 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display device according to a fourth exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a cross-sectional view taken along line IX-IX of FIG. 8.
이하, 도 8 및 도 9를 참조하여, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다.Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a fourth exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 8 and 9.
본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표지 장치 검사 시스템은 자기발광이 되지 않는 평판 표시 장치에 적용되는 검사 시스템으로서, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(3100)과, 광원(3200)과, 오목 거울(3300)과, 회절 유닛(3400)과, 센서(3500)와, 그리고 제어부(3600)를 포함한다.The flat panel display device inspection system according to the fourth exemplary embodiment of the present invention is an inspection system applied to a flat panel display device that does not emit light. As shown in FIGS. 1 and 2, the driving unit 3100 and the light source ( 3200, a concave mirror 3300, a diffraction unit 3400, a sensor 3500, and a controller 3600.
상기 구동 유닛(3100)은 표시 패널 어셈블리(10)의 공통 전극(11)과 화소 전극(12)에 각각 접촉되어 표시 패널 어셈블리(10)를 구동시킨다.The driving unit 3100 contacts the common electrode 11 and the pixel electrode 12 of the display panel assembly 10 to drive the display panel assembly 10.
상기 광원(3200)은 표시 패널 어셈블리(10)를 향해 빛(L)을 주사한다. 구체적으로, 이러한 광원(3200)은 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)로부터 디스플레이 가능한 모든 색의 파장을 포함하기 위해 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 것일 수 있다. 또한, 상기 표시 패널 어셈블리(10)가 액정 표시 패널 어셈블리(10)일 경우, 상기 광원(3200)으로 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트(미도시)를 사용할 수도 있다.The light source 3200 scans light L toward the display panel assembly 10. Specifically, the light source 3200 may have a wavelength of 200 nm to 2100 nm to include wavelengths of all colors displayable from the liquid crystal panel assembly. In addition, when the display panel assembly 10 is the liquid crystal display panel assembly 10, a backlight (not shown) mounted on the rear surface of the liquid crystal panel assembly may be used as the light source 3200.
상기 오목 거울(3300)은 표시 패널 어셈블리(10)를 투과한 빛을 집속시킨다.The concave mirror 3300 focuses light transmitted through the display panel assembly 10.
상기 회절 유닛(3400)은 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별한다. 구체적으로, 회절 유닛(400)은 오목 거울(3300)에서 반사된 빛을 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이(510)에 전달하는 회절 격자(3410)와, 그리고 회절 격자(3410)를 회전시키는 격자 모터(3430)를 포함할 수 있다. 특히, 회절 격자(3410)는 후술하는 센서(3500)의 케이스(3520)에 회동 가능하게 구비될 수 있다. The diffraction unit 3400 selects light having a predetermined wavelength among the light reflected from the concave mirror. Specifically, the diffraction unit 400 receives the light reflected from the concave mirror 3300 and rotates the diffraction grating 3410 and only the light having a predetermined wavelength to the photodiode array 510, and rotates the diffraction grating 3410. The grid motor 3430 may be included. In particular, the diffraction grating 3410 may be rotatably provided in the case 3520 of the sensor 3500 described later.
상기 센서(3500)는 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(3511)(3512)(3513)가 배열된 광 다이오드 어레이(3510)를 포함한다.The sensor 3500 includes a photodiode array 3510 in which a plurality of photodiodes 3511, 3512, and 3313 each of which absorbs light separated by wavelengths and changes a wavelength of light into an electrical signal are arranged.
상기 제어부(3600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(10)의 불량 여부를 판단한다.The controller 3600 determines whether the display panel assembly 10 is defective according to an electrical signal.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 8 및 도 8에 도시된 바와 같이, 광원(3200)과 표시 패널 어셈블리(10) 사이에 위치되어 표시 패널 어셈블리(10)에 주사되는 빛(L)을 편광시키는 편광판(3700)을 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention is positioned between the light source 3200 and the display panel assembly 10 as shown in FIGS. 8 and 8. It may further include a polarizing plate 3700 to polarize the light (L) to be scanned.
한편, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 복수개의 설정 영역으로 구분하여 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 다음과 같은 구체적인 구성을 포함할 수 있다.Meanwhile, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention has the following specific configuration in order to divide the display panel assembly 10 into a plurality of setting regions and simultaneously inspect the plurality of setting regions. It may include.
먼저, 상술한 오목 거울(3300)은 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고 복수개의 오목 거울(3310)를 일체로 하는 바디(3320)가 구비될 수 있다. 여기서, 바디(3320)는 후술하는 센서의 케이스(3520)를 그대로 사용할 수 있다.First, a plurality of the concave mirrors 3300 described above may be provided corresponding to a plurality of setting regions, and a body 3320 may be provided to integrate the plurality of concave mirrors 3310. Here, the body 3320 may use the case 3520 of the sensor, which will be described later.
그리고, 상술한 회절 유닛(3400)의 회절 격자(3410)는 상기 복수개의 오목 거울(3310) 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이(3510)에 전달하기 위해 복수개가 구비되고, 그리고 격자 모터(3430)는 상기 복수개의 회절 격자(3410)를 각각 회전시키기 위해 복수개가 구비된다,In addition, the diffraction grating 3410 of the diffraction unit 3400 described above receives a light reflected from each of the plurality of concave mirrors 3310, respectively, and a plurality of diffraction gratings 3110 are used to transmit only a light having a predetermined wavelength to the photodiode array 3510. And, the grating motor 3430 is provided with a plurality for rotating the plurality of diffraction gratings 3410, respectively,
그리고, 상술한 센서(500)는 복수개의 회절 격자(3410)에 각각 상응하도록 광 다이오드 어레이(3510)(PDA, photo diode array)가 복수개 촘촘히 배열된 케이스(3520)를 더 포함할 수 있다.The sensor 500 may further include a case 3520 in which a plurality of photo diode arrays (PDAs) are closely arranged to correspond to the plurality of diffraction gratings 3410, respectively.
또한, 상술한 복수개의 설정 영역 각각은, 상술한 제1 실시예에 언급된 설정 영역과 동일하므로 상세한 설명을 생략한다(도 3 참조). 특히, 이러한 복수개의 오목 거울(3310), 복수개의 회절 격자(3410) 및 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)는 그 수가 많으면 많을 수록, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량을 보다 정확히 측정할 수 있다. 따라서, 복수개의 설정 영역 각각은 하나의 서브 픽셀(SP) 또는 하나의 픽셀(P)일 때가 가장 바람직할 것이다. In addition, since each of the plurality of setting areas described above is the same as the setting area mentioned in the above-described first embodiment, detailed description thereof is omitted (see FIG. 3). In particular, the larger the number of the plurality of concave mirrors 3310, the plurality of diffraction gratings 3410, and the plurality of photodiode arrays 3510, the more accurately the defects of the images displayed on the flat panel display can be measured. . Therefore, it is most preferable that each of the plurality of setting regions is one sub-pixel SP or one pixel P.
또한, 케이스(3520)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 케이스(3520)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 그리고, 편광판(3700)의 일단은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 위치되고 편광 판(3700)의 타단은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 위치될 수 있다. 따라서, 표시 패널 어셈블리(10)의 적어도 하나의 세로 라인을 검사할 수 있다.In addition, one end of the case 3520 may be located at one end of the display panel assembly 10, and the other end of the case 3520 may be located at the other end of the display panel assembly 10. One end of the polarizing plate 3700 may be located at one end of the display panel assembly 10, and the other end of the polarizing plate 3700 may be located at the other end of the display panel assembly 10. Therefore, at least one vertical line of the display panel assembly 10 may be inspected.
구체적으로, 일예로서, 상기 케이스(3520)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 바 형상(bar shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)가 이에 일렬로 배열될 수 있다. 이 경우, 표시 패널 어셈블리(10) 중 하나의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다.Specifically, as an example, the case 3520 may have a bar shape as illustrated in FIG. 8, and a plurality of photodiode arrays 3510 may be arranged in a line. In this case, one vertical line of the display panel assembly 10 may be inspected at the same time.
또한, 다른 예로서, 상기 케이스(3520)는, 상술한 제1 실시예에 언급된 바와 같이, 사각 박스 형상(rectangular box shape)을 하며 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)가 이에 다중 열로 배열될 수 있다(도 4 참조). 이 경우, 열의 수의 따라 표시 패널 어셈블리(10) 중 적어도 2개의 세로 라인을 동시에 검사할 수 있다. As another example, the case 3520 may have a rectangular box shape as described in the above-described first embodiment, and a plurality of photodiode arrays 3510 may be arranged in multiple rows thereto. (See FIG. 4). In this case, at least two vertical lines of the display panel assembly 10 may be simultaneously examined according to the number of columns.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 이송시키는 이송 유닛(3800)을 더 포함할 수 있다. 이하, 상기 이송 유닛(3800)에 대해 구체적으로 설명한다.In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention, as shown in FIG. 4, to inspect all the regions of the display panel assembly 10, the display panel assembly 10. The transfer unit 3800 may further include a transfer. Hereinafter, the transfer unit 3800 will be described in detail.
상기 이송 유닛(3800)은 제1 레일(3810)과, 제2 레일(3820)과, 제1 그립(3830)과, 제2 그립(3840)과, 제1 모터(3850)와, 그리고 제2 모터(3860)를 포함할 수 있다.The transfer unit 3800 includes a first rail 3810, a second rail 3820, a first grip 3830, a second grip 3840, a first motor 3850, and a second It may include a motor 3860.
보다 구체적으로, 상기 제1 레일(3810)은 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단에 설정 간격 이격되어 구비되고, 상기 제2 레일(3820)은 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단에 설정 간격 이격되어 구비된다. 상기 제1 그립(3830)은 제1 레일 (3810)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 일측 단을 파지하고, 상기 제2 그립(3840)은 제2 레일(3820)을 따라 이동 가능하게 구비되며 표시 패널 어셈블리(10)의 타측 단을 파지한다. 상기 제1 모터(3850)는 제1 그립(3830)을 이동시키고, 상기 제2 모터(3860)는 제2 그립(3840)을 이동시킨다.More specifically, the first rail 3810 is provided at one end of the display panel assembly 10 spaced apart from the set interval, and the second rail 3820 is spaced at the other end of the display panel assembly 10. It is provided. The first grip 3830 is provided to be movable along the first rail 3810, and grips one end of the display panel assembly 10, and the second grip 3840 is along the second rail 3820. It is provided to be movable and grips the other end of the display panel assembly 10. The first motor 3850 moves the first grip 3830, and the second motor 3860 moves the second grip 3840.
또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 모두 검사하기 위해, 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 그대로 고정하고 상기 센서(3500)를 이송시킬 수 있다. 상기 센서(3500)를 이송시키는 이송 유닛은 상술한 제1 실시예와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다(도 5참조).In addition, the inspection system of the flat panel display device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention fixes the display panel assembly 10 as it is and inspects the entire area of the display panel assembly 10. Can be transferred. Since the transfer unit for transferring the sensor 3500 is the same as in the above-described first embodiment, a detailed description thereof will be omitted (see FIG. 5).
또한, 상기 제어부(3600)는 설정된 프로그램에 의해 동작하는 하나 이상의 마이크로 프로세서로 구현될 수 있다. 이하 제어부(3600)를 구체적으로 설명한다.In addition, the controller 3600 may be implemented as one or more microprocessors operated by a set program. Hereinafter, the control unit 3600 will be described in detail.
상기 제어부(3600)는 전기 신호를 수신하고, 전기 신호를 기 저장된 참조 신호와 비교하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되는지 판단하고, 그리고 전기 신호가 상기 참조 신호에 포함되지 않은 경우 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정한다. 또한, 상기 제어부(3600)는 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 복수개의 격자 모터(3430)를 개별적으로 제어할 수 있다. The controller 3600 receives an electrical signal, compares the electrical signal with a pre-stored reference signal, determines whether the electrical signal is included in the reference signal, and the display panel assembly when the electrical signal is not included in the reference signal. (10) is determined to be defective. In addition, the controller 3600 may individually control the grating motors 3430 such that the photodiode array only absorbs light having a predetermined wavelength.
따라서, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템에 의하면, 표시 패널 어셈블리(10)의 불량을 정확히 검출할 수 있다. 특히, 복수개의 오목 거울(3310)에서 각각 반사된 빛(L)의 파장은 회절 유닛(3400)에 의해 선별되어(예를 들어, 표시 패널 어셈블리에서 디스플레이 되는 색이 빨간색이면 빨간색의 파 장만이 선별되고, 파란색이면 파란색의 파장만이 선별되어) 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)에 흡수되므로, 광 다이오드 어레이(3510) 내에서 광 다이오드(3511)(3512)(3513)의 수를 줄일 수 있다. 또한 상술한 제1 실시예와 같이, 표시 패널 어셈블리(10)에서 디스플레이되는 화상의 불량 중 얼룩까지 정확히 검출할 수 있게 된다. 나아가, 색을 선별하기 위해서는 표시 패널 어셈블리(10)에서 디스플레이되는 색을 이미 제어부(3600)가 인식하고(특히, 디스플레이되는 색의 데이터는 제어부에 포함된 메모리에 기 저장됨), 제어부에서는 그 색에 따라 격자 모터(3430)를 제어하게 된다. 결국, 회절 격자(3410)에 의해 빛의 파장이 선별된다. Therefore, according to the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention, the defect of the display panel assembly 10 can be detected accurately. In particular, the wavelengths of the light L respectively reflected by the plurality of concave mirrors 3310 are selected by the diffraction unit 3400 (for example, if the color displayed in the display panel assembly is red, only the red wavelength is selected). If only blue wavelengths are selected and absorbed by the plurality of photodiode arrays 3510, the number of photodiodes 3511, 3512 and 3313 may be reduced in the photodiode arrays 3510. In addition, as in the above-described first embodiment, it is possible to accurately detect unevenness of defects of the image displayed on the display panel assembly 10. Further, in order to select a color, the controller 3600 already recognizes the color displayed on the display panel assembly 10 (in particular, data of the displayed color is pre-stored in a memory included in the controller), and the controller controls the color. As a result, the grid motor 3430 is controlled. As a result, the wavelength of light is selected by the diffraction grating 3410.
이하, 도 8 및 도 9를 참조하여, 본 발명의 제4 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템의 동작을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, an operation of the inspection system of the flat panel display device according to the fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 8 and 9.
이전 공정에서 백 라이터(미도시)가 장착되지 않은 표시 패널 어셈블리(10)를 검사 공정으로 이송한다. 이송된 표시 패널 어셈블리(10)에 구동 유닛(3100)을 체결한다.In the previous process, the display panel assembly 10 on which the back lighter (not shown) is not mounted is transferred to the inspection process. The driving unit 3100 is fastened to the transferred display panel assembly 10.
이 후, 광원(3200)이 켜지고, 200nm 내지 2100nm의 빛(L)이 광원(3200)으로부터 방사된다.Thereafter, the light source 3200 is turned on, and light L of 200 nm to 2100 nm is emitted from the light source 3200.
방사된 빛(L)은 편광판(3700)에 의해 편광된 후, 구동되고 있는 표시 패널 어셈블리(10) 중 복수개의 설정 영역에 입사된다.The emitted light L is polarized by the polarizer 3700 and then incident on a plurality of setting regions of the display panel assembly 10 being driven.
입사된 빛의 파장은 표시 패널 어셈블리(10)로부터 디스플레이되는 색에 따라 그 강도가 변화된다. 일예로, 표시 패널 어셈블리(10)에 디스플레이되는 색이 빨간색일 경우, 빛의 파장 중 빨간색에 해당하는 파장은 이에 흡수되어 그 파장의 강도(intensity)가 약해진다.The intensity of the incident light varies depending on the color displayed from the display panel assembly 10. For example, when the color displayed on the display panel assembly 10 is red, a wavelength corresponding to red among the wavelengths of light is absorbed thereto and the intensity of the wavelength is weakened.
이후, 각 파장의 강도가 변화된 빛은 복수개의 오목 거울(3310)에 각각 집속되어 회절 격자(3410)를 향해 반사된다. Thereafter, the light whose intensity of each wavelength is changed is focused on each of the plurality of concave mirrors 3310 and reflected toward the diffraction grating 3410.
회절 격자(3410)에서는 상술한 바와 같이 빛의 파장을 선별한다. 이렇게 선별된 빛의 파장은은 복수개의 광 다이오드(3511)(3512)(3513)에 각각 흡수되며, 나아가, 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)에 각각 흡수된다.The diffraction grating 3410 selects the wavelength of light as described above. The wavelengths of the light thus selected are respectively absorbed by the plurality of photodiodes 3511, 3512 and 3513, and are further absorbed by the plurality of photodiode arrays 3510, respectively.
이후, 복수개의 광 다이오드 어레이(3510)는 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환하여 제어부(3600)에 인가한다.Thereafter, the plurality of photodiode arrays 3510 convert the wavelengths of light into electrical signals and apply them to the controller 3600.
이렇게 제어부(3600)에 인가된 전기 신호는 제어부(3600)에 기 저장된 참조 신호와 비교된 후, 전기 신호가 참조 신호에 포함되지 않은 경우, 제어부(3600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 불량으로 판정하고, 전기 신호가 참조 신호에 포함되면, 제어부(3600)는 상기 표시 패널 어셈블리(10)를 정상으로 판정한다.The electrical signal applied to the controller 3600 is compared with the reference signal pre-stored in the controller 3600, and when the electrical signal is not included in the reference signal, the controller 3600 fails the display panel assembly 10. If the electronic signal is included in the reference signal, the controller 3600 determines the display panel assembly 10 as normal.
또한, 표시 패널 어셈블리(10)의 전 영역을 검출하기 위해 표시 패널 어셈블리(10)(또는 센서)는 이송 유닛(3800)에 의해 이송되면서 상술한 과정을 반복하게 된다.In addition, in order to detect the entire area of the display panel assembly 10, the display panel assembly 10 (or the sensor) is transported by the transfer unit 3800 to repeat the above-described process.
도 10은 본 발명의 제5 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다.10 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a fifth exemplary embodiment of the present invention.
이하, 도 10을 참조하여, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a fifth exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 10.
본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 10에 도 시된 바와 같이, 광원(4200)과, 오목 거울(4300)과, 회절 유닛(4400)과, 센서(4500)와, 그리고 제어부(4600)를 포함한다.As shown in FIG. 10, the inspection system of the flat panel display according to the fifth embodiment of the present invention includes a light source 4200, a concave mirror 4300, a diffraction unit 4400, a sensor 4500, and the like. And a controller 4600.
구체적으로, 상기 광원(4200)은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)을 향해 빛을 주사한다. 상기 오목 거울(4300)은 표시 패널(20)을 투과한 빛(L)을 집속시킨다. 상기 회절 유닛(4400)은 오목 거울(4300)에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별한다. 상기 센서(4500)는 선별된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드(4511)(4512)(4513)가 배열된 광 다이오드 어레이(4510)를 포함한다. 상기 제어부(4600)는 상기 전기 신호에 따라 표시 패널(20)의 불량 여부를 판단한다. In detail, the light source 4200 scans light toward the display panel 20 having the color filter. The concave mirror 4300 focuses the light L transmitted through the display panel 20. The diffraction unit 4400 selects light having a predetermined wavelength among the light reflected by the concave mirror 4300. The sensor 4500 includes a photodiode array 4510 in which a plurality of photodiodes 4511, 4512, and 4513 are respectively arranged to absorb the selected light and change the wavelength of the light into an electrical signal. The controller 4600 determines whether the display panel 20 is defective according to the electrical signal.
나아가, 본 발명의 제5 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 컬러 필터가 형성된 표시 패널(20)만을 검사하는 시스템이므로, 상술한 제4 실시예의 검사 시스템 중 구동 유닛(3100)을 제외하면 동일하다. 따라서, 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, since the inspection system of the flat panel display device according to the fifth embodiment of the present invention is a system for inspecting only the display panel 20 on which the color filter is formed, except for the driving unit 3100 of the inspection system of the fourth embodiment. same. Therefore, detailed description is omitted.
도 11은 본 발명의 제6 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템을 나타낸 구성도이다. 11 is a configuration diagram illustrating an inspection system of a flat panel display according to a sixth embodiment of the present invention.
이하, 도 11을 참조하여, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템을 설명한다.Hereinafter, an inspection system of a flat panel display device according to a sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 11.
본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은, 도 11에 도시된 바와 같이, 구동 유닛(도 4의 "3100"참조)과, 이송 유닛(도 4의 "3800" 참조)과, 오목 거울(5300)과, 회절 유닛(5400)과, 센서(5500)와, 그리고 제어부(5600)를 포함한다.The inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention includes a driving unit (see "3100" in FIG. 4), a transfer unit (see "3800" in FIG. 4), and the like. And a concave mirror 5300, a diffraction unit 5400, a sensor 5500, and a controller 5600.
구체적으로, 상기 구동 유닛(도 4의 "3100" 참조)은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)의 전극부에 접촉되어 표시 패널 어셈블리(30)를 구동시킨다. 상기 이송 유닛(도 4의 "3800"참조)은 표시 패널 어셈블리(30)를 이송시킨다. 상기 오목 거울(5300)은 표시 패널 어셈블리(30)에서 발광된 빛(L)을 집속시킨다. 상기 회절 유닛(5400)은 상기 오목 거울(5300)에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별한다. 상기 센서(5500)는 선별된 빛을 흡수하고 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드(5511)(5512)(5513)가 배열된 광 다이오드 어레이(5510)를 포함한다. 상기 제어부(5600)는 전기 신호에 따라 표시 패널 어셈블리(30)의 불량 여부를 판단한다.In detail, the driving unit (refer to “3100” in FIG. 4) contacts the electrode of the self-emission display panel assembly 30 to drive the display panel assembly 30. The transfer unit (see “3800” in FIG. 4) transfers the display panel assembly 30. The concave mirror 5300 focuses the light L emitted from the display panel assembly 30. The diffraction unit 5400 selects light having a set wavelength from among light reflected by the concave mirror 5300. The sensor 5500 includes a photodiode array 5510 in which a plurality of photodiodes 5511, 5512, 5513 are respectively arranged to absorb the selected light and convert the wavelength of the light into an electrical signal. The controller 5600 determines whether the display panel assembly 30 is defective according to an electrical signal.
특히, 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리일 수도 있고, 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리일 수도 있다. 나아가 상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)는 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리일 수 있다.In particular, the self-emission display panel assembly 30 may be a plasma display panel (PDP) assembly or an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly. In addition, the self-emission display panel assembly 30 may be a field emission display (FED) panel assembly.
나아가, 본 발명의 제6 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 시스템은 자기 발광형 표시 패널 어셈블리(30)를 검사하는 시스템으로서, 상술한 제4 실시예의 검사 시스템 중 광원(3200)과 편광판(3700)을 제외하면 동일하다. 따라서 구체적인 설명은 생략한다.Furthermore, the inspection system of the flat panel display device according to the sixth embodiment of the present invention is a system for inspecting the self-emission display panel assembly 30, and the light source 3200 and the polarizing plate 3700 of the inspection system of the fourth embodiment described above. The same is true except). Therefore, detailed description is omitted.
이상에서와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 평판 표시 장치의 검사 시스템은 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the inspection system of the flat panel display according to the embodiment of the present invention has the following effects.
본 발명의 실시예에 의하면, 평판 표시 장치의 불량을 정확히 검출할 수 있다. 특히, 복수개의 집속 렌즈를 각각 통과한 빛이 프리즘에 의해 파장 별로 분리되어 복수개의 광 다이오드 어레이에 흡수되므로, 평판 표시 장치에서 디스플레이되는 화상의 불량 중 얼룩까지 정확히 검출할 수 있게 된다.According to the embodiment of the present invention, the defect of the flat panel display can be detected accurately. In particular, since light passing through each of the plurality of focusing lenses is separated by wavelength by a prism and absorbed by the plurality of photodiode arrays, defects in an image displayed on the flat panel display can be accurately detected.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.

Claims (91)

  1. 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛,A driving unit in contact with an electrode of the display panel assembly to drive the display panel assembly;
    상기 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원,A light source scanning light toward the display panel assembly;
    상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛,A focusing unit for focusing light transmitted through the display panel assembly;
    상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛, Separation unit for separating the focused light for each wavelength,
    상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고A sensor comprising a photodiode array in which a plurality of photodiodes for absorbing the light separated by the wavelengths and changing the wavelengths of the light into electrical signals are arranged;
    상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부A controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  2. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 표시 패널 어셈블리는 액정 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And the display panel assembly is a liquid crystal panel assembly.
  3. 제2항에 있어서,The method of claim 2,
    상기 광원은 상기 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And the light source is a backlight mounted on a rear surface of the liquid crystal panel assembly.
  4. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 광원과 상기 표시 패널 어셈블리 사이에 위치되어 상기 표시 패널 어셈블리에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a polarizing plate positioned between the light source and the display panel assembly to polarize the light scanned by the display panel assembly.
  5. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein
    상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, In order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time,
    상기 집속 유닛은,The focusing unit,
    상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고A plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and
    상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고A body integrating said plurality of focusing lenses, and
    상기 센서는,The sensor,
    상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 배열된 케이스를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a case in which a plurality of photodiode arrays are arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
  6. 제5항에 있어서,The method of claim 5,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting regions is at least one sub-pixel.
  7. 제5항에 있어서,The method of claim 5,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 픽셀(pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting areas is at least one pixel.
  8. 제5항에 있어서,The method of claim 5,
    상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되고, 그리고One end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end is located at the other end of the display panel assembly, and
    상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.One end of the polarizer is positioned at one end of the display panel assembly, and the other end thereof is located at the other end of the display panel assembly.
  9. 제8항에 있어서,The method of claim 8,
    상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case has a bar shape, and the plurality of photodiode arrays are arranged in a line thereon.
  10. 제8항에 있어서,The method of claim 8,
    상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows.
  11. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit configured to transfer the display panel assembly.
  12. 제11항에 있어서,The method of claim 11,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일,First and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at a predetermined interval from each other;
    상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립,A first grip provided to be movable along the first rail and holding one end of the display panel assembly;
    상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터,A first motor for moving said first grip,
    상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고A second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly;
    상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터A second motor for moving the second grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  13. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the sensor.
  14. 제13항에 있어서,The method of claim 13,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일,Third and fourth rails spaced apart from each other by setting intervals at both ends of the sensor,
    상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립,A third grip provided to be movable along the third rail and holding one end of the sensor;
    상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터,A third motor for moving the third grip,
    상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고A fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor; and
    상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터A fourth motor for moving the fourth grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  15. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 평판 표시 장치의 검사 시스템. And the light source has a wavelength of 200 nm to 2100 nm.
  16. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 분리 유닛은,The separation unit,
    상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고A prism for separating the focused light by wavelength, and
    상기 프리즘을 고정시키는 브라켓Bracket for fixing the prism
    을 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  17. 제5항에 있어서,The method of claim 5,
    상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a plurality of optical fibers respectively provided in the plurality of focusing lenses and extending to the separation unit.
  18. 컬러 필터가 형성된 표시 패널을 향해 빛을 주사하는 광원,A light source for scanning light toward the display panel in which the color filter is formed,
    상기 표시 패널을 투과한 빛을 집속시키는 집속 유닛,A focusing unit for focusing light passing through the display panel;
    상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛,Separation unit for separating the focused light for each wavelength,
    상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서,A sensor comprising a photodiode array having a plurality of photodiodes arranged to absorb light separated by the wavelengths and change the wavelengths of the light into electrical signals;
    상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널의 불량 여부를 판단하는 제어부A controller for determining whether the display panel is defective according to the electrical signal
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  19. 제18항에 있어서,The method of claim 18,
    상기 광원과 상기 표시 패널 사이에 위치되어 상기 표시 패널에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a polarizing plate positioned between the light source and the display panel to polarize the light that is scanned onto the display panel.
  20. 제19항에 있어서,The method of claim 19,
    상기 표시 패널을 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, In order to divide the display panel into a plurality of setting areas and to inspect the plurality of setting areas at the same time,
    상기 집속 유닛은,The focusing unit,
    상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고A plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and
    상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고A body integrating said plurality of focusing lenses, and
    상기 센서는,The sensor,
    상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 배열된 케이스를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a case in which a plurality of photodiode arrays are arranged to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
  21. 제20항에 있어서,The method of claim 20,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting regions is at least one sub-pixel.
  22. 제20항에 있어서,The method of claim 20,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 픽셀(pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting areas is at least one pixel.
  23. 제20항에 있어서,The method of claim 20,
    상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되고, 그리고One end of the case is located at one end of the display panel and the other end is located at the other end of the display panel, and
    상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.One end of the polarizing plate is positioned at one end of the display panel, and the other end thereof is located at the other end of the display panel.
  24. 제23항에 있어서,The method of claim 23, wherein
    상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case has a bar shape, and the plurality of photodiode arrays are arranged in a line thereon.
  25. 제23항에 있어서,The method of claim 23, wherein
    상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows.
  26. 제18항에 있어서,The method of claim 18,
    상기 표시 패널을 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the display panel.
  27. 제26항에 있어서,The method of claim 26,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 표시 패널의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일,First and second rails spaced at predetermined intervals from both ends of the display panel;
    상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 일측 단을 파지하는 제1 그립,A first grip provided to be movable along the first rail and holding one end of the display panel;
    상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터,A first motor for moving said first grip,
    상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고A second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel; and
    상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터A second motor for moving the second grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  28. 제18항에 있어서,The method of claim 18,
    상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the sensor.
  29. 제28항에 있어서,The method of claim 28,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일,Third and fourth rails spaced apart from each other by setting intervals at both ends of the sensor,
    상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립,A third grip provided to be movable along the third rail and holding one end of the sensor;
    상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터,A third motor for moving the third grip,
    상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고A fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor; and
    상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터A fourth motor for moving the fourth grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  30. 제18항에 있어서,The method of claim 18,
    상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 평판 표시 장치의 검사 시스템. And the light source has a wavelength of 200 nm to 2100 nm.
  31. 제18항에 있어서,The method of claim 18,
    상기 분리 유닛은,The separation unit,
    상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고A prism for separating the focused light by wavelength, and
    상기 프리즘을 고정시키는 브라켓Bracket for fixing the prism
    을 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  32. 제20항에 있어서,The method of claim 20,
    상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a plurality of optical fibers respectively provided in the plurality of focusing lenses and extending to the separation unit.
  33. 자기 발광형 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛,A driving unit in contact with an electrode of a self-emission display panel assembly to drive the display panel assembly;
    상기 표시 패널 어셈블리에서 발광된 빛을 집속시키는 집속 유닛,A focusing unit focusing light emitted from the display panel assembly;
    상기 집속된 빛을 파장별로 분리하는 분리 유닛,Separation unit for separating the focused light for each wavelength,
    상기 파장별로 분리된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변환시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고 A sensor comprising a photodiode array having a plurality of photodiodes arranged to absorb light separated by the wavelengths and convert the wavelengths of the light into electrical signals;
    상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부A controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  34. 제33항에 있어서,The method of claim 33, wherein
    상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리인 평판 표시 장치의 검사 시스템.The self-emission display panel assembly is a plasma display panel (PDP) assembly inspection system of a flat panel display device.
  35. 제33항에 있어서,The method of claim 33, wherein
    상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리 중 어느 하나인 평판 표시 장치의 검사 시스템.The self-emission display panel assembly may be any one of an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly and a field emission display (FED) panel assembly.
  36. 제33항에 있어서,The method of claim 33, wherein
    상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해, In order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time,
    상기 집속 유닛은,The focusing unit,
    상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 구비되는 복수개의 집속 렌즈, 그리고A plurality of focusing lenses respectively provided corresponding to the plurality of setting regions, and
    상기 복수개의 집속 렌즈를 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고A body integrating said plurality of focusing lenses, and
    상기 센서는,The sensor,
    상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a case in which the plurality of photodiode arrays are arranged closely to correspond to the plurality of focusing lenses, respectively.
  37. 제36항에 있어서,The method of claim 36,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting regions is at least one sub-pixel.
  38. 제36항에 있어서,The method of claim 36,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 픽셀(pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting areas is at least one pixel.
  39. 제36항에 있어서,The method of claim 36,
    상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And one end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end of the case is located at the other end of the display panel assembly.
  40. 제39항에 있어서,The method of claim 39,
    상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case has a bar shape, and the plurality of photodiode arrays are arranged in a line thereon.
  41. 제39항에 있어서,The method of claim 39,
    상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows.
  42. 제33항에 있어서,The method of claim 33, wherein
    상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit configured to transfer the display panel assembly.
  43. 제42항에 있어서,The method of claim 42, wherein
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일,First and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at a predetermined interval from each other;
    상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립,A first grip provided to be movable along the first rail and holding one end of the display panel assembly;
    상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터,A first motor for moving said first grip,
    상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고A second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly;
    상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터A second motor for moving the second grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  44. 제33항에 있어서,The method of claim 33, wherein
    상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the sensor.
  45. 제44항에 있어서,The method of claim 44,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일,Third and fourth rails spaced apart from each other by setting intervals at both ends of the sensor,
    상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립,A third grip provided to be movable along the third rail and holding one end of the sensor;
    상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터,A third motor for moving the third grip,
    상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고A fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor; and
    상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터A fourth motor for moving the fourth grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  46. 제33항에 있어서,The method of claim 33, wherein
    상기 분리 유닛은,The separation unit,
    상기 집속된 빛을 파장별로 분리시키는 프리즘, 그리고A prism for separating the focused light by wavelength, and
    상기 프리즘을 고정시키는 브라켓Bracket for fixing the prism
    을 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  47. 제36항에 있어서,The method of claim 36,
    상기 복수개의 집속 렌즈에 각각 구비되며 상기 분리 유닛까지 연장되는 복수개의 광 섬유를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a plurality of optical fibers respectively provided in the plurality of focusing lenses and extending to the separation unit.
  48. 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛,A driving unit in contact with an electrode of the display panel assembly to drive the display panel assembly;
    상기 표시 패널 어셈블리를 향해 빛을 주사하는 광원,A light source scanning light toward the display panel assembly;
    상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울,A concave mirror that focuses light transmitted through the display panel assembly,
    상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, A diffraction unit for selecting light having a predetermined wavelength among light reflected from the concave mirror;
    상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고A sensor comprising a photodiode array arranged with a plurality of photodiodes for absorbing the selected light and for varying the wavelength of the light into an electrical signal, and
    상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부A controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  49. 제48항에 있어서,The method of claim 48,
    상기 표시 패널 어셈블리는 액정 표시 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And the display panel assembly is a liquid crystal panel assembly.
  50. 제49항에 있어서,The method of claim 49,
    상기 광원은 상기 액정 패널 어셈블리의 후면에 장착되는 백라이트인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And the light source is a backlight mounted on a rear surface of the liquid crystal panel assembly.
  51. 제48항에 있어서,The method of claim 48,
    상기 광원과 상기 표시 패널 어셈블리 사이에 위치되어 상기 표시 패널 어셈블리에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a polarizing plate positioned between the light source and the display panel assembly to polarize the light scanned by the display panel assembly.
  52. 제51항에 있어서,The method of claim 51,
    상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해,In order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time,
    상기 오목 거울은,The concave mirror,
    상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고A plurality of corresponding to the plurality of setting regions are provided, and
    상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고A body incorporating said plurality of concave mirrors, and
    상기 회절 유닛은,The diffraction unit,
    상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고A plurality of diffraction gratings which receive light reflected from each of the plurality of concave mirrors and transmit only light having a predetermined wavelength to the photodiode array; and
    상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고,A plurality of grating motors each rotating the plurality of diffraction gratings,
    상기 센서는,The sensor,
    상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a case in which the plurality of photodiode arrays are arranged closely to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
  53. 제52항에 있어서,The method of claim 52, wherein
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting regions is at least one sub-pixel.
  54. 제52항에 있어서,The method of claim 52, wherein
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 픽셀(pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting areas is at least one pixel.
  55. 제52항에 있어서,The method of claim 52, wherein
    상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되고, 그리고One end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end is located at the other end of the display panel assembly, and
    상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.One end of the polarizer is positioned at one end of the display panel assembly, and the other end thereof is located at the other end of the display panel assembly.
  56. 제55항에 있어서,The method of claim 55,
    상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case has a bar shape, and the plurality of photodiode arrays are arranged in a line thereon.
  57. 제55항에 있어서,The method of claim 55,
    상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows.
  58. 제48항에 있어서,The method of claim 48,
    상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit configured to transfer the display panel assembly.
  59. 제58항에 있어서,The method of claim 58,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일,First and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at a predetermined interval from each other;
    상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립,A first grip provided to be movable along the first rail and holding one end of the display panel assembly;
    상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터,A first motor for moving said first grip,
    상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고A second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly;
    상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터A second motor for moving the second grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  60. 제48항에 있어서,The method of claim 48,
    상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the sensor.
  61. 제60항에 있어서,The method of claim 60,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일,Third and fourth rails spaced apart from each other by setting intervals at both ends of the sensor,
    상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립,A third grip provided to be movable along the third rail and holding one end of the sensor;
    상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터,A third motor for moving the third grip,
    상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고A fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor; and
    상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터A fourth motor for moving the fourth grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  62. 제48항에 있어서,The method of claim 48,
    상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 평판 표시 장치의 검사 시스템. And the light source has a wavelength of 200 nm to 2100 nm.
  63. 제52항에 있어서,The method of claim 52, wherein
    상기 제어부는,The control unit,
    상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And inspecting the plurality of grating motors individually so that the photodiode array only absorbs light of the set wavelength.
  64. 컬러 필터가 형성된 표시 패널을 향해 빛을 주사하는 광원,A light source for scanning light toward the display panel in which the color filter is formed,
    상기 표시 패널을 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울,A concave mirror that focuses light transmitted through the display panel,
    상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, A diffraction unit for selecting light having a predetermined wavelength among light reflected from the concave mirror;
    상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고A sensor comprising a photodiode array arranged with a plurality of photodiodes for absorbing the selected light and for varying the wavelength of the light into an electrical signal, and
    상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부A controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  65. 제64항에 있어서,65. The method of claim 64,
    상기 광원과 상기 표시 패널 사이에 위치되어 상기 표시 패널에 주사되는 빛을 편광시키는 편광판을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a polarizing plate positioned between the light source and the display panel to polarize the light that is scanned onto the display panel.
  66. 제65항에 있어서,66. The method of claim 65,
    상기 표시 패널을 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해,In order to divide the display panel into a plurality of setting areas and to inspect the plurality of setting areas at the same time,
    상기 오목 거울은,The concave mirror,
    상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고A plurality of corresponding to the plurality of setting regions are provided, and
    상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고A body incorporating said plurality of concave mirrors, and
    상기 회절 유닛은,The diffraction unit,
    상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고A plurality of diffraction gratings which receive light reflected from each of the plurality of concave mirrors and transmit only light having a predetermined wavelength to the photodiode array; and
    상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고,A plurality of grating motors each rotating the plurality of diffraction gratings,
    상기 센서는,The sensor,
    상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a case in which the plurality of photodiode arrays are arranged closely to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
  67. 제66항에 있어서,The method of claim 66,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting regions is at least one sub-pixel.
  68. 제66항에 있어서,The method of claim 66,
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 픽셀(pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting areas is at least one pixel.
  69. 제66항에 있어서,The method of claim 66,
    상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되고, 그리고One end of the case is located at one end of the display panel and the other end is located at the other end of the display panel, and
    상기 편광판의 일단은 상기 표시 패널의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널의 타측 단에 위치되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.One end of the polarizing plate is positioned at one end of the display panel, and the other end thereof is located at the other end of the display panel.
  70. 제69항에 있어서,The method of claim 69, wherein
    상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case has a bar shape, and the plurality of photodiode arrays are arranged in a line thereon.
  71. 제69항에 있어서,The method of claim 69, wherein
    상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows.
  72. 제64항에 있어서,65. The method of claim 64,
    상기 표시 패널을 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the display panel.
  73. 제72항에 있어서,The method of claim 72,
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 표시 패널의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일,First and second rails spaced at predetermined intervals from both ends of the display panel;
    상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 일측 단을 파지하는 제1 그립,A first grip provided to be movable along the first rail and holding one end of the display panel;
    상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터,A first motor for moving said first grip,
    상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고A second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel; and
    상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터A second motor for moving the second grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  74. 제64항에 있어서,65. The method of claim 64,
    상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the sensor.
  75. 제74항에 있어서,The method of claim 74, wherein
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일,Third and fourth rails spaced apart from each other by setting intervals at both ends of the sensor,
    상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립,A third grip provided to be movable along the third rail and holding one end of the sensor;
    상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터,A third motor for moving the third grip,
    상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고A fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor; and
    상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터A fourth motor for moving the fourth grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  76. 제64항에 있어서,65. The method of claim 64,
    상기 광원은 200nm 내지 2100nm의 파장을 갖는 평판 표시 장치의 검사 시스템. And the light source has a wavelength of 200 nm to 2100 nm.
  77. 제66항에 있어서,The method of claim 66,
    상기 제어부는,The control unit,
    상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And inspecting the plurality of grating motors individually so that the photodiode array only absorbs light of the set wavelength.
  78. 자기 발광형 표시 패널 어셈블리의 전극부에 접촉되어 상기 표시 패널 어셈블리를 구동시키는 구동 유닛,A driving unit in contact with an electrode of a self-emission display panel assembly to drive the display panel assembly;
    상기 표시 패널 어셈블리를 투과한 빛을 집속시키는 오목 거울,A concave mirror that focuses light transmitted through the display panel assembly,
    상기 오목 거울에서 반사되는 빛 중 설정 파장의 빛을 선별하는 회절 유닛, A diffraction unit for selecting light having a predetermined wavelength among light reflected from the concave mirror;
    상기 선별된 빛을 흡수하고 상기 빛의 파장을 전기 신호로 각각 변화시키는 복수개의 광 다이오드가 배열된 광 다이오드 어레이를 포함하는 센서, 그리고A sensor comprising a photodiode array arranged with a plurality of photodiodes for absorbing the selected light and for varying the wavelength of the light into an electrical signal, and
    상기 전기 신호에 따라 상기 표시 패널 어셈블리의 불량 여부를 판단하는 제어부A controller configured to determine whether the display panel assembly is defective according to the electrical signal
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  79. 제78항에 있어서,The method of claim 78,
    상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, plasma display panel) 어셈블리인 평판 표시 장치의 검사 시스템.The self-emission display panel assembly is a plasma display panel (PDP) assembly inspection system of a flat panel display device.
  80. 제78항에 있어서,The method of claim 78,
    상기 자기 발광형 표시 패널 어셈블리는 유기 전계 발광 디스플레이(OLED, organic electroluminescence display) 패널 어셈블리 또는 전계방출 디스플레이(FED, field emission display) 패널 어셈블리 중 어느 하나인 평판 표시 장치의 검사 시스템.The self-emission display panel assembly may be any one of an organic electroluminescence display (OLED) panel assembly and a field emission display (FED) panel assembly.
  81. 제78항에 있어서,The method of claim 78,
    상기 표시 패널 어셈블리를 복수개의 설정 영역으로 구분하고, 상기 복수개의 설정 영역을 동시에 검사하기 위해,In order to divide the display panel assembly into a plurality of setting regions and to inspect the plurality of setting regions at the same time,
    상기 오목 거울은,The concave mirror,
    상기 복수개의 설정 영역에 각각 상응하여 복수개가 구비되고, 그리고A plurality of corresponding to the plurality of setting regions are provided, and
    상기 복수개의 오목 거울을 일체로 하는 바디를 포함하고, 그리고A body incorporating said plurality of concave mirrors, and
    상기 회절 유닛은,The diffraction unit,
    상기 복수개의 오목 거울 각각에서 반사된 빛을 각각 전달 받아 설정 파장의 빛만을 광 다이오드 어레이에 전달하는 복수개의 회절 격자, 그리고A plurality of diffraction gratings which receive light reflected from each of the plurality of concave mirrors and transmit only light having a predetermined wavelength to the photodiode array; and
    상기 복수개의 회절 격자를 각각 회전시키는 복수개의 격자 모터를 포함하고,A plurality of grating motors each rotating the plurality of diffraction gratings,
    상기 센서는,The sensor,
    상기 복수개의 회절 격자에 각각 상응하도록 상기 광 다이오드 어레이가 복수개 촘촘히 배열된 케이스를 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a case in which the plurality of photodiode arrays are arranged closely to correspond to the plurality of diffraction gratings, respectively.
  82. 제81항에 있어서,82. The method of claim 81 wherein
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 서브 픽셀(sub-pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting regions is at least one sub-pixel.
  83. 제81항에 있어서,82. The method of claim 81 wherein
    상기 복수개의 설정 영역 각각은 적어도 하나의 픽셀(pixel)인 평판 표시 장치의 검사 시스템.And each of the plurality of setting areas is at least one pixel.
  84. 제81항에 있어서,82. The method of claim 81 wherein
    상기 케이스의 일단은 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단에 위치되고 그 타단은 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단에 위치되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And one end of the case is located at one end of the display panel assembly and the other end of the case is located at the other end of the display panel assembly.
  85. 제84항에 있어서,85. The method of claim 84,
    상기 케이스는 바 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 일렬로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case has a bar shape, and the plurality of photodiode arrays are arranged in a line thereon.
  86. 제84항에 있어서,85. The method of claim 84,
    상기 케이스는 사각 박스 형상을 하며, 상기 복수개의 광 다이오드 어레이는 이에 다중 열로 배열되는 평판 표시 장치의 검사 시스템.The case may have a rectangular box shape, and the plurality of photodiode arrays may be arranged in multiple rows.
  87. 제78항에 있어서,The method of claim 78,
    상기 표시 패널 어셈블리를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit configured to transfer the display panel assembly.
  88. 제87항에 있어서,88. The method of claim 87 wherein
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 표시 패널 어셈블리의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제1 및 제2 레일,First and second rails disposed at both ends of the display panel assembly at a predetermined interval from each other;
    상기 제1 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 일측 단을 파지하는 제1 그립,A first grip provided to be movable along the first rail and holding one end of the display panel assembly;
    상기 제1 그립을 이동시키는 제1 모터,A first motor for moving said first grip,
    상기 제2 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 표시 패널 어셈블리의 타측 단을 파지하는 제2 그립, 그리고A second grip provided to be movable along the second rail and holding the other end of the display panel assembly;
    상기 제2 그립을 이동시키는 제2 모터A second motor for moving the second grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  89. 제78항에 있어서,The method of claim 78,
    상기 센서를 이송시키는 이송 유닛을 더 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And a transfer unit for transferring the sensor.
  90. 제89항에 있어서,91. The method of claim 89 wherein
    상기 이송 유닛은,The transfer unit,
    상기 센서의 양측 단에 각각 설정 간격 이격되어 구비되는 제3 및 제4 레일,Third and fourth rails spaced apart from each other by setting intervals at both ends of the sensor,
    상기 제3 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 일측 단을 파지하는 제3 그립,A third grip provided to be movable along the third rail and holding one end of the sensor;
    상기 제3 그립을 이동시키는 제3 모터,A third motor for moving the third grip,
    상기 제4 레일을 따라 이동 가능하게 구비되며 상기 센서의 타측 단을 파지하는 제4 그립, 그리고A fourth grip provided to be movable along the fourth rail and holding the other end of the sensor; and
    상기 제4 그립을 이동시키는 제4 모터A fourth motor for moving the fourth grip
    를 포함하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.Inspection system of the flat panel display device comprising a.
  91. 제81항에 있어서,82. The method of claim 81 wherein
    상기 제어부는,The control unit,
    상기 설정 파장의 빛만을 상기 광 다이오드 어레이가 흡수하도록, 상기 복수개의 격자 모터를 개별적으로 제어하는 평판 표시 장치의 검사 시스템.And inspecting the plurality of grating motors individually so that the photodiode array only absorbs light of the set wavelength.
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