KR20080060027A - Test apparatus for liquid crystal display - Google Patents

Test apparatus for liquid crystal display Download PDF

Info

Publication number
KR20080060027A
KR20080060027A KR1020060134085A KR20060134085A KR20080060027A KR 20080060027 A KR20080060027 A KR 20080060027A KR 1020060134085 A KR1020060134085 A KR 1020060134085A KR 20060134085 A KR20060134085 A KR 20060134085A KR 20080060027 A KR20080060027 A KR 20080060027A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
cameras
camera
light
inspection
Prior art date
Application number
KR1020060134085A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김정한
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020060134085A priority Critical patent/KR20080060027A/en
Publication of KR20080060027A publication Critical patent/KR20080060027A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/58Arrangements comprising a monitoring photodetector
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/69Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Abstract

A test apparatus for an LCD(Liquid Crystal Display) is provided to prevent light leakage at an inverse pattern by adding a barrel in a front end of an existing VAP(Vision Auto Probe) camera, thereby detecting faults by testing all of nine test patterns necessary for detection force. An auto probe unit is for applying a test signal to an LC panel. A light source irradiates light to the LC panel. Plural cameras(110a~110d) receive the test signal and the light, and obtain information about an image implemented on the LC panel. Light interference removing units(120a~120d) are respectively fastened with the plural cameras and remove light interference between the plural cameras.

Description

액정 표시장치용 검사 장치 {Test apparatus for liquid crystal display}Test apparatus for liquid crystal display {Test apparatus for liquid crystal display}

도 1은 종래의 기술에 따른 4대의 카메라를 구비한 비전 오토 프로브 검사 장치의 외형을 나타내는 도면이다.1 is a view showing the appearance of a vision auto probe inspection device having four cameras according to the prior art.

도 2는 도 1의 검사 장치로 검사한 화면을 나타내는 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating a screen inspected by the inspection apparatus of FIG. 1. FIG.

도 3a 내지 도 3c는 검사 패턴 중에서 빛샘 빛 반사 현상이 나타나는 것을 예시하는 도면이다. 3A to 3C are diagrams illustrating the appearance of light leakage light reflection in a test pattern.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 4대의 카메라를 구비한 비전 오토 프로브 검사 장치의 외형을 나타내는 도면이다.4 is a view showing the appearance of a vision auto probe inspection device having four cameras according to an embodiment of the present invention.

도 5는 비전 오토 프로브 검사 장치를 나타내는 도면이다.5 is a diagram illustrating a vision auto probe inspection device.

도 6은 도 5의 광정보 처리부를 나타내는 도면이다.FIG. 6 is a diagram illustrating an optical information processor of FIG. 5.

도 7은 액정 패널의 불량 검출 원리를 설명하기 위한 도면이다.7 is a view for explaining the principle of failure detection of the liquid crystal panel.

도 8은 9가지 비전 오토 프로브 검사 패턴을 나타내는 도면이다.8 is a diagram illustrating nine vision auto probe test patterns.

도 9a 내지 도 9c는 본 발명의 실시예에 따른 빛샘 빛 반사 현상이 제거된 것을 예시하는 도면이다.9A to 9C are diagrams illustrating that light leakage light reflection is removed according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>

100: 비전 오토 프로브 검사장치 110a, 110b, 110d, 110d: CCD 카메라100: vision auto probe inspection device 110a, 110b, 110d, 110d: CCD camera

120a, 120b, 120c, 120d: 경통 200: 오토 프로브 검사기120a, 120b, 120c, 120d: Tube 200: Auto probe checker

본 발명은 액정 표시장치용 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for a liquid crystal display device.

일반적으로, 액정 표시장치(Liquid Crystal Display: LCD)는 영상신호에 대응하도록 광빔의 투과량을 조절함으로써, 화상을 표시하는 평판 표시장치이다.In general, a liquid crystal display (LCD) is a flat panel display that displays an image by adjusting a transmission amount of a light beam to correspond to an image signal.

액정표시장치를 제조하기 위한 제조공정은, 기판 세정 공정, 기판 패터닝 공정, 배향막 형성 및 러빙 공정, 기판 합착 및 액정 주입 공정, 검사 공정, 리페어(Repair) 공정 및 실장 공정 등으로 나뉘어진다.The manufacturing process for manufacturing the liquid crystal display device is divided into a substrate cleaning process, a substrate patterning process, an alignment film forming and rubbing process, a substrate bonding and liquid crystal injection process, an inspection process, a repair process and a mounting process.

기판 세정 공정에서는 액정 표시장치의 기판 표면에 오염된 이물질을 세정액으로 제거하게 된다.In the substrate cleaning process, foreign substances contaminated on the substrate surface of the liquid crystal display device are removed with the cleaning liquid.

기판 패터닝 공정에서는 상부 기판판인 컬러필터 기판의 패터닝과 하부 기판인 TFT 어레이 기판의 패터닝으로 나뉘어진다. 상판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호 배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성되며, TFT의 소스 전극에 접속되는 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소 영역에 화소전극이 형성된다.In the substrate patterning process, the patterning is divided into the patterning of the color filter substrate, which is the upper substrate, and the patterning of the TFT array substrate, which is the lower substrate. On the upper plate, a color filter, a common electrode, a black matrix, and the like are formed. A signal line such as a data line and a gate line is formed on the lower plate, a TFT is formed at an intersection of the data line and the gate line, and a pixel electrode is formed in the pixel region between the data line and the gate line connected to the source electrode of the TFT. do.

배향막 형성 및 러빙 공정에서는 상부 기판과 하부 기판 각각에 배향막을 도포하고 그 배향막을 러빙포 등으로 러빙하게 된다.In the alignment film forming and rubbing process, an alignment film is applied to each of the upper substrate and the lower substrate, and the alignment film is rubbed with a rubbing cloth or the like.

기판 합착 및 액정 주입 공정에서는 시일재(Sealant)를 이용하여 상부 기판과 하부 기판을 합착하고, 액정 주입구를 통하여 액정을 주입한 다음, 그 액정 주 입구를 봉지하는 공정으로 진행된다.In the substrate bonding and liquid crystal injection process, the upper substrate and the lower substrate are bonded using a sealant, the liquid crystal is injected through the liquid crystal injection hole, and then the liquid crystal main inlet is sealed.

또한, 검사 공정은 하부 기판에 각종 신호 배선과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 검사가 있고, 기판 합착 및 액정 주입 공정 후에 실시되는 전기적 검사 및 육안 검사가 있다.In addition, the inspection process includes an electrical inspection performed after various signal wires and pixel electrodes are formed on the lower substrate, and electrical inspection and visual inspection performed after the substrate bonding and liquid crystal injection processes.

리페어 공정은 전술한 검사 공정에 의해 리페어가 가능한 것으로 판정된 기판에 대한 복구을 실시하는 한편, 검사 공정에서 리페어가 불가능한 불량 기판들에 대하여는 폐기 처분한다.The repair process repairs a substrate determined to be repairable by the inspection process described above, while discarding defective substrates that cannot be repaired in the inspection process.

액정 패널의 실장 공정에서는 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package: TCP)를 기판 상의 패드부에 접속시키게 된다.In the liquid crystal panel mounting process, a tape carrier package (TCP) in which integrated circuits such as a gate drive integrated circuit and a data drive integrated circuit are mounted is connected to a pad portion on a substrate.

한편, 오토 프로브 검사기를 사용한 종래의 액정패널 검사 방법에서, 육안으로 액정패널의 불량화소를 측정하기 때문에, 작업자의 건강상태 및 눈의 상태에 따라 검사 결과에 오차가 발생하는 문제점이 있었다. 특히, 육안을 통한 검사 방법은 직사 광선에 대한 피로도가 높아서 액정패널 검사시 백 라이트로부터 발생하는 광은 작업자의 시각 피로도를 증가시킨다. 이에 따라, 검사 결과가 일률적이지 못하여 검사 결과의 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있었다.On the other hand, in the conventional liquid crystal panel inspection method using an auto probe tester, since the defective pixel of the liquid crystal panel is visually measured, an error occurs in the inspection result depending on the health state of the operator and the eye state. In particular, the visual inspection method has a high degree of fatigue with respect to direct sunlight, so that the light generated from the backlight during the liquid crystal panel inspection increases the visual fatigue of the operator. Accordingly, there is a problem that the test results are not uniform and the reliability of the test results is lowered.

이를 해결하기 위해서 오토 프로브 장치와 비전 시스템이 결합한 비전 오토 프로브 검사(Vision Auto Probe: VAP)가 도입되었다.To address this, Vision Auto Probe (VAP), which combines an auto probe device and a vision system, has been introduced.

도 1은 종래의 기술에 따른 4대의 카메라를 구비한 비전 오토 프로브 검사 장치의 외형을 나타내는 도면이다. 1 is a view showing the appearance of a vision auto probe inspection device having four cameras according to the prior art.

현재 적용 중인 비전 오토 프로브 검사의 경우, 도 1에 도시된 바와 같이, 4대의 카메라(11a, 11b, 11c, 11d)를 사용할 경우, 반전휘점 검출을 위한 패턴 검사를 실시할 수 없다는 문제점이 있다. 즉, 기존의 비전 오토 프로브 검사의 경우, 4대의 카메라(11a, 11b, 11c, 11d)를 사용시, 검사용 분할 패턴에서 패턴의 화이트(White) 부분이 카메라에 반사되거나, 빛샘 현상이 발생하여 9가지 패턴 검사를 모두 실시할 수 없다는 문제점이 있다.In the case of the currently applied vision auto probe inspection, as shown in FIG. 1, when four cameras 11a, 11b, 11c, and 11d are used, there is a problem in that a pattern inspection for inverted bright point detection cannot be performed. That is, in the case of the conventional vision auto probe inspection, when four cameras 11a, 11b, 11c, and 11d are used, the white portion of the pattern is reflected by the camera in the inspection split pattern, or light leakage occurs. There is a problem that not all the pattern checks can be performed.

구체적으로, 도 2는 도 1의 검사 장치로 검사한 화면을 나타내는 도면으로서, 화면(20) 상에 도면부호 A로 도시된 바와 같이 반사 현상이 발생하고, 또한, 도면부호 B로 도시된 바와 같이 빛샘 현상이 발생하게 된다.Specifically, FIG. 2 is a diagram illustrating a screen inspected by the inspection apparatus of FIG. 1, in which a reflection phenomenon occurs on the screen 20 as indicated by reference numeral A, and as shown by reference numeral B. As shown in FIG. Light leakage occurs.

도 3a는 반전휘점 검사를 위한 상반전 화면을 나타내고, 도 3b는 도면부호 C로 도시된 바와 같은 빛샘 현상이 발생하는 것을 나타내며, 도 3c는 도면부호 D로 도시된 바와 같이 반사 현상을 나타내고 있다. 따라서, 기존의 비전 오토 프로브 검사는 빛샘 빛 반사 현상이 나타나기 때문에 9가지 패턴 검사를 모두 실시할 수 없다는 문제점이 있다.FIG. 3A shows the phase inversion screen for the inversion bright point inspection, FIG. 3B shows the light leakage phenomenon as shown by reference numeral C, and FIG. 3C shows the reflection phenomenon as indicated by reference numeral D. FIG. Therefore, the conventional vision auto probe test has a problem in that all nine pattern tests cannot be performed because light leakage occurs.

전술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 반전휘점 검출을 위한 패턴 검사를 실시함으로써, 9가지 패턴 검사를 모두 실시할 수 있는 액정 표시장치용 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention for solving the above-described problems is to provide an inspection apparatus for a liquid crystal display device capable of performing all nine pattern inspections by performing a pattern inspection for inverting bright point detection.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것 이다.The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects that are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시장치용 검사 장치는, 액정 패널에 검사신호를 인가하기 위한 오토 프로브 유닛; 상기 액정 패널에 광을 조사하는 광원; 상기 검사신호와 상기 광을 조사받아 상기 액정 패널 상에 구현된 화상에 대한 정보를 획득하는 복수의 카메라; 및 상기 복수의 카메라에 각각 체결되어, 상기 복수의 카메라간의 광 간섭을 제거하는 광 간섭 제거부를 포함하여 구성된다.In order to achieve the above technical problem, an inspection apparatus for a liquid crystal display device according to the present invention, the automatic probe unit for applying a test signal to the liquid crystal panel; A light source for irradiating light onto the liquid crystal panel; A plurality of cameras receiving the inspection signal and the light to obtain information about an image implemented on the liquid crystal panel; And an optical interference canceling unit coupled to each of the plurality of cameras to remove optical interference between the plurality of cameras.

여기서, 상기 광 간섭 제거부는 상기 카메라 앞단의 렌즈부를 에워싸도록 체결된 것을 특징으로 한다.Here, the optical interference canceling unit is fastened to surround the lens unit of the front end of the camera.

여기서, 상기 광 간섭 제거부는 경통일 수 있고, 상기 경통은 상기 카메라 앞단의 렌즈부를 에워싸며, 상기 카메라의 촬상 방향으로 소정 길이만큼 연장된 것을 특징으로 한다.The optical interference canceling unit may be a barrel, and the barrel surrounds the lens unit of the front end of the camera and extends by a predetermined length in the imaging direction of the camera.

여기서, 상기 카메라는 컬러 전하결합소자(Charge Coupled Device) 카메라일 수 있고, 상기 복수의 카메라는 상하에 2대씩 4대가 설치된 것을 특징으로 한다.Here, the camera may be a color charge coupled device (Charge Coupled Device) camera, the plurality of cameras are characterized in that four units are installed, two each up and down.

여기서, 상기 경통은 상기 4대의 카메라 중 적어도 2대 이상과 결합하는 것을 특징으로 한다.Here, the barrel is coupled to at least two or more of the four cameras.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있을 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be embodied in various forms, and the present embodiments are merely provided to make the disclosure of the present invention complete and the general knowledge in the art to which the present invention belongs. It is provided to fully inform the person having the scope of the invention, the invention is defined only by the scope of the claims.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시장치용 검사 장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, an inspection apparatus for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 4대의 카메라를 구비한 비전 오토 프로브 검사 장치의 외형을 나타내는 도면이다.4 is a view showing the appearance of a vision auto probe inspection device having four cameras according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시장치용 검사 장치는, 오토 프로브 유닛(도시되지 않음), 광원(도시되지 않음), 복수의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d) 및 광 간섭 제거부(120a, 120b, 120c, 120d)를 포함한다. Referring to FIG. 4, an inspection apparatus for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention may include an auto probe unit (not shown), a light source (not shown), a plurality of cameras 110a, 110b, 110c, and 110d. And optical interference canceling parts 120a, 120b, 120c, and 120d.

오토 프로브 유닛은, 액정 패널에 검사신호를 인가하고, 광원은 백라이트 유닛으로서, 액정 패널에 광을 조사한다. 또한, 상기 광원과 액정 패널 사이에 적층되어, 상기 광원으로부터 발생된 광을 확산시키고 확산된 광의 출사각을 변환시키는 광 시트를 구비할 수 있다.The auto probe unit applies an inspection signal to the liquid crystal panel, and the light source is a backlight unit, and emits light to the liquid crystal panel. In addition, a light sheet stacked between the light source and the liquid crystal panel may diffuse the light generated from the light source and convert the emission angle of the diffused light.

복수의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)는 상기 검사신호와 상기 광을 조사받아 상기 액정 패널 상에 구현된 화상에 대한 정보를 획득하게 된다. 본 발명의 실시예에서, 상기 복수의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)는 컬러 전하결합소자(Charge Coupled Device) 카메라로서, 검사 장치의 평면 상에서 상하에 2대씩 4 대가 설치된다. 전술한 바와 같이, 4대의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)가 설치됨으로써, 각 카메라(110a, 110b, 110c, 110d) 간에 광 간섭이 발생할 수 있고, 이에 따라 반사 및 빛샘 현상이 발생할 수 있다. 따라서, 상기 복수의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)는 광 간섭 제거부(120a, 120b, 120c, 120d)와 체결된다.The plurality of cameras 110a, 110b, 110c, and 110d receive information about the image implemented on the liquid crystal panel by receiving the inspection signal and the light. In the embodiment of the present invention, the plurality of cameras 110a, 110b, 110c, and 110d are color charge coupled device cameras, and four of them are installed on the plane of the inspection apparatus. As described above, since four cameras 110a, 110b, 110c, and 110d are installed, optical interference may occur between the cameras 110a, 110b, 110c, and 110d, and thus reflection and light leakage may occur. . Accordingly, the plurality of cameras 110a, 110b, 110c, and 110d are fastened to the optical interference cancellers 120a, 120b, 120c, and 120d.

광 간섭 제거부(120a, 120b, 120c, 120d)는 상기 복수의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)에 각각 체결되어, 상기 복수의 카메라 복수의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)간의 광 간섭을 제거하게 된다. 이때, 상기 광 간섭 제거부(120a, 120b, 120c, 120d)는 상기 카메라(110a, 110b, 110c, 110d) 앞단의 렌즈부를 에워싸도록 체결된 경통일 수 있다. 상기 경통(120a, 120b, 120c, 120d)은 상기 카메라(110a, 110b, 110c, 110d) 앞단의 렌즈부를 에워싸며, 상기 카메라(110a, 110b, 110c, 110d)의 촬상 방향으로 소정 길이만큼 연장되도록 형성된다.The optical interference cancellers 120a, 120b, 120c, and 120d are fastened to the plurality of cameras 110a, 110b, 110c, and 110d, respectively, to provide light between the plurality of cameras 110a, 110b, 110c, and 110d. This will eliminate interference. In this case, the optical interference removing unit 120a, 120b, 120c, or 120d may be a barrel that is fastened to surround the lens unit in front of the cameras 110a, 110b, 110c, and 110d. The barrels 120a, 120b, 120c, and 120d surround the lens portion in front of the cameras 110a, 110b, 110c, and 110d and extend by a predetermined length in the imaging direction of the cameras 110a, 110b, 110c, and 110d. Is formed.

여기서, 상기 경통(120a, 120b, 120c, 120d)은 상기 4대의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d) 중 적어도 2대 이상과 체결될 수 있고, 본 발명의 실시예에서는 4대의 카메라(110a, 110b, 110c, 110d) 모두와 체결된 것을 나타낸다.Here, the barrels 120a, 120b, 120c, and 120d may be coupled to at least two or more of the four cameras 110a, 110b, 110c, and 110d, and in the embodiment of the present invention, four cameras 110a, 110b, 110c, and 110d).

도 5는 비전 오토 프로브 검사 장치를 나타내는 도면이고, 도 6은 도 5의 광정보 처리부를 나타내는 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating a vision auto probe inspection device, and FIG. 6 is a diagram illustrating the optical information processor of FIG. 5.

도 5를 참조하면, 액정표시장치용 검사장치는 대상물 대한 정보를 획득하여 처리하는 광정보 처리부(100)와, 광정보 처리부(100)에 대향되어 대상물을 장착하고 신호를 인가하는 오토 프로브 검사기(200)를 구비한다.Referring to FIG. 5, an inspection apparatus for a liquid crystal display device includes an optical information processing unit 100 for acquiring and processing information about an object, and an auto probe inspector for mounting an object and applying a signal to face the optical information processing unit 100. 200).

광정보 처리부(100)는 도 6에 도시된 바와 같이, 액정 패널에 대한 정보를 획득하는 CCD(Charge Coupled Device) 카메라(110), 상기 CCD 카메라(110)를 상하 좌우로 이동시키는 이동 제어수단(130)과, CCD 카메라(110)로부터 얻어진 정보를 처리하는 정보 처리부(140)를 구비한다.As shown in FIG. 6, the optical information processing unit 100 includes a CCD (Charge Coupled Device) camera 110 for acquiring information on the liquid crystal panel and a movement control means for moving the CCD camera 110 up, down, left, and right ( 130 and an information processing unit 140 for processing information obtained from the CCD camera 110.

CCD 카메라(110)는 검사를 위한 액정 패널을 라인별로 스캐닝하는 라인 카메라(Line Camera)와 액정 패널을 일정 면적별로 스캐닝할 수 있는 영역 카메라(Area Camera)가 선택적으로 사용될 수 있다.The CCD camera 110 may selectively use a line camera that scans a liquid crystal panel for each line for inspection and an area camera that can scan a liquid crystal panel for a predetermined area.

이러한 CCD 카메라(110)는 1000 프레임/sec 단위로 대상물인 액정 패널을 촬상하게 된다.The CCD camera 110 captures an image of a liquid crystal panel in 1000 frame / sec units.

이동 제어수단(130)의 상하이동은 대상물과 CCD 카메라(110)의 초점(focus)을 조절하고, 이동 제어수단(130)의 좌우이동은 CCD 카메라(110)가 작동되어 대상물을 스캐닝할 때 CCD 카메라(110)를 좌우로 이동시킨다.Shanghaidong of the movement control means 130 adjusts the focus of the object and the CCD camera 110, the left and right movement of the movement control means 130 is a CCD when the CCD camera 110 is operated to scan the object The camera 110 is moved left and right.

정보 처리부(140)은 CCD 카메라(110)로부터 전달된 정보를 작업자가 확인할 수 있는 화상으로 처리하는 비전 하드웨어(Vision H/W: 141), 상기 비전 하드웨어(141)를 통해 처리된 화상이 표시되는 화상표시부(142) 및 검사되는 액정패널 상의 결함을 표시하는 디펙트 맵(Defect Map: 143)을 구비할 수 있다.The information processing unit 140 displays vision hardware (Vision H / W) 141 for processing the information transmitted from the CCD camera 110 into an image that can be checked by an operator, and displays an image processed through the vision hardware 141. The image display unit 142 and a defect map 143 for displaying a defect on the liquid crystal panel to be inspected may be provided.

한편, 도 7은 액정 패널의 불량 검출 원리를 설명하기 위한 도면이다.On the other hand, Figure 7 is a view for explaining the principle of failure detection of the liquid crystal panel.

도 7을 참조하면, 액정 패널의 불량 검출은 액정 패널의 점 결함(PD), 이물, 라인 결함을 무인으로 검출하기 위한 것으로, 불량부와 정상부의 국부적인 휘도차를 감지해 후보점으로 표시하게 된다. 즉, 기준 휘도값(Threadhold)을 중심으로, 주변대비 높은 휘도값을 갖는 휘점과 주변대비 낮은 휘도값을 갖는 암점 간의 휘도 차를 감지해서 후보점으로 표시하게 된다.Referring to FIG. 7, the defect detection of the liquid crystal panel is to detect spot defects (PD), foreign objects, and line defects of the liquid crystal panel unattended, and detects the local luminance difference between the defective part and the normal part and displays them as candidate points. do. That is, the luminance difference between the bright point having a higher luminance value relative to the surroundings and the dark point having a lower luminance value than the surroundings is detected and displayed as a candidate point based on the reference luminance value (Threadhold).

도 8은 9가지 비전 오토 프로브 검사 패턴을 나타내는 도면이다.8 is a diagram illustrating nine vision auto probe test patterns.

도 8을 참조하면, 불량을 검출 하기 위해 사용되는 비전 오토 프로브 검사 패턴은 총 9가지 패턴이 있다. 즉, 블랙 패턴, 제1 상반전 패턴(141), 제2 상반전 패턴(142), 레드 패턴, 그린 패턴, 블루 패턴, 전면측광 패턴, 제1 후면측광 패턴 및 제2 후면측광 패턴으로 이루어진다.Referring to FIG. 8, there are a total of nine patterns of the vision auto probe test pattern used to detect a defect. That is, the pattern includes a black pattern, a first upper inversion pattern 141, a second upper inversion pattern 142, a red pattern, a green pattern, a blue pattern, a front side metering pattern, a first back side metering pattern, and a second back side metering pattern.

이러한 검사 패턴 중에서 두가지 반점휘점 패턴(141, 142) 검사시 종래의 경우, 빛샘 현상이나 반사 현상이 발생하여 불량 검출을 불가능하였지만, 본 발명의 실시예의 경우, 기존의 VAP 카메라 앞단에 경통을 추가하여 반전 패턴에서 빛이 새는 현상을 방지함으로써, 검출력에 필요한 9가지 검사 패턴을 모두 검사하여 불량을 검출할 수 있다.In the inspection of the two spot pattern (141, 142) of the inspection pattern, in the conventional case, it was impossible to detect the defect due to the light leakage phenomenon or reflection phenomenon, in the case of the embodiment of the present invention, by adding a barrel to the front end of the existing VAP camera By preventing light leaks in the inversion pattern, defects can be detected by inspecting all nine inspection patterns required for detection power.

도 9a 내지 도 9c는 본 발명의 실시예에 따른 빛샘 빛 반사 현상이 제거된 것을 예시하는 도면이다.9A to 9C are diagrams illustrating that light leakage light reflection is removed according to an embodiment of the present invention.

도 9a는 전술한 9가지 패턴 중에서 상반전 패턴(141)을 나타내며, 도 9b는 빛샘 현상이 제거된 것을 나타내며, 도 9c는 반사 현상이 제거된 것을 각각 나타낸다. 즉, 기존의 4대의 영역 카메라(Area Camera)를 장착한 VAP의 경우, 화이트 패턴이 카메라에 반사되어 영상으로 검출됨으로써, 이로 인하여 분할 패턴, 즉, 반전휘점 검출을 위한 70% 블랙, 30% 화이트인 패턴 검사를 실시하지 못지만, 본 발명의 실시예의 경우, VAP의 카메라 앞단에 경통을 추가함으로써, 9가지 모든 패턴에서 검사할 수 있다. FIG. 9A illustrates the phase inversion pattern 141 among the nine patterns described above. FIG. 9B illustrates that light leakage is removed, and FIG. 9C illustrates that reflection is removed. That is, in the case of a VAP equipped with four existing area cameras, the white pattern is reflected by the camera and detected as an image, thereby resulting in a split pattern, that is, 70% black and 30% white for inverted bright spot detection. Although the in-pattern inspection is not performed, in the embodiment of the present invention, by adding a barrel to the front end of the camera of the VAP, the inspection can be performed in all nine patterns.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해되어야만 한다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. I can understand that. Therefore, the embodiments described above are to be understood in all respects as illustrative and not restrictive.

본 발명에 따르면, 빛샘 및 반사 현상을 제거함으로써, 반전휘점 검출을 위한 패턴 검사를 실시함으로써, 9가지 패턴 검사를 모두 실시할 수 있다.According to the present invention, by removing the light leakage and reflection phenomenon, all nine pattern inspections can be performed by performing the pattern inspection for the inversion bright point detection.

Claims (7)

액정 패널에 검사신호를 인가하기 위한 오토 프로브 유닛;An auto probe unit for applying a test signal to the liquid crystal panel; 상기 액정 패널에 광을 조사하는 광원;A light source for irradiating light onto the liquid crystal panel; 상기 검사신호와 상기 광을 조사받아 상기 액정 패널 상에 구현된 화상에 대한 정보를 획득하는 복수의 카메라; 및A plurality of cameras receiving the inspection signal and the light to obtain information about an image implemented on the liquid crystal panel; And 상기 복수의 카메라에 각각 체결되어, 상기 복수의 카메라간의 광 간섭을 제거하는 광 간섭 제거부An optical interference canceling unit coupled to the plurality of cameras to remove optical interference between the plurality of cameras 를 포함하는 액정 표시장치용 검사 장치.Inspection device for a liquid crystal display comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광 간섭 제거부는 상기 카메라 앞단의 렌즈부를 에워싸도록 체결된 것을 특징으로 하는 액정 표시장치용 검사 장치.And the optical interference canceling unit is coupled to surround the lens unit at the front end of the camera. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광 간섭 제거부는 경통인 것은 특징으로 하는 액정 표시장치용 검사 장치.And said optical interference canceling portion is a barrel. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 경통은 상기 카메라 앞단의 렌즈부를 에워싸며, 상기 카메라의 촬상 방 향으로 소정 길이만큼 연장된 것을 특징으로 하는 액정 표시장치용 검사 장치.And the barrel surrounds the lens portion of the front end of the camera and extends by a predetermined length in the imaging direction of the camera. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 카메라는 컬러 전하결합소자(Charge Coupled Device) 카메라인 것을 특징으로 하는 액정 표시장치용 검사 장치.And the camera is a color charge coupled device camera. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 복수의 카메라는 상하에 2대씩 4대가 설치된 것을 특징으로 하는 액정 표시장치용 검사 장치.And a plurality of cameras, two each of which is provided at an upper side and a lower side of the plurality of cameras. 제6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 경통은 상기 4대의 카메라 중 적어도 2대 이상과 결합하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치용 검사 장치.And the barrel is coupled to at least two or more of the four cameras.
KR1020060134085A 2006-12-26 2006-12-26 Test apparatus for liquid crystal display KR20080060027A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060134085A KR20080060027A (en) 2006-12-26 2006-12-26 Test apparatus for liquid crystal display

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060134085A KR20080060027A (en) 2006-12-26 2006-12-26 Test apparatus for liquid crystal display

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20080060027A true KR20080060027A (en) 2008-07-01

Family

ID=39812721

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060134085A KR20080060027A (en) 2006-12-26 2006-12-26 Test apparatus for liquid crystal display

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20080060027A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150077905A (en) * 2013-12-30 2015-07-08 엘지디스플레이 주식회사 Setting system for driving voltage of liquid crystal display device and method for setting the same
KR20210116812A (en) * 2020-03-17 2021-09-28 (주)소닉스 Module and apparatus for inspecting screen of display device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150077905A (en) * 2013-12-30 2015-07-08 엘지디스플레이 주식회사 Setting system for driving voltage of liquid crystal display device and method for setting the same
KR20210116812A (en) * 2020-03-17 2021-09-28 (주)소닉스 Module and apparatus for inspecting screen of display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101068364B1 (en) inspection equipment of LCD and method for inspecting the same
US5734158A (en) LCD panel test apparatus
US7586323B2 (en) Apparatus and method for inspecting liquid crystal display
US20100157297A1 (en) Apparatus and method of testing liquid crystal display device
JP6104016B2 (en) LCD panel inspection equipment
US7800568B2 (en) Apparatus and method for inspecting liquid crystal display
WO2008126988A1 (en) Inspecting method using an electro optical detector
KR101367078B1 (en) Mura test method for liquid crystal display
JP3273973B2 (en) Inspection apparatus for active matrix liquid crystal display substrate, inspection method thereof, and electro-optical element for inspection apparatus
US7202695B2 (en) Apparatus and method for inspecting a liquid crystal display panel
KR20080060027A (en) Test apparatus for liquid crystal display
KR20070006480A (en) Apparatus for detecting the badness of the seal line and method for detecting the badness of the seal line using the apparatus
KR20150000580A (en) Optical imaging inspection system of inferior liquid crystal display panel using led backlight system
KR20080076152A (en) System for testing a flat panel display device and mehtod thereof
KR20100107175A (en) Auto probe inspection devise for liquid crystal panel and inpecting method for the same
KR101034923B1 (en) Test apparatus of auto probe and method of testing using the same
US6983544B2 (en) Method of manufacturing optical device and inspection gauge used for the same
KR20140058710A (en) Vision testing system for display device and inspecting method thereof
KR101073330B1 (en) auto probe inspection appratus and the inspecting method for LCD panel
KR101414273B1 (en) Method and Apparatus for Inspecting Substrate with High Efficiency Reflection and Transmission
KR20080061739A (en) Test method of liquid crystal display panel
KR101343500B1 (en) Auto probe apparatus of detecting defect of liquid crystal display panel and method for detecting defect using the apparatus
KR20070001434A (en) Inspection equipment of lcd and method for inspecting
US20230153977A1 (en) Panel design to improve accurate defect location report
JP3932873B2 (en) Inspection apparatus and inspection method for liquid crystal panel

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination